CH332875A - Verfahren zur Einstellung eines Röntgen-Diffraktionsgoniometers und Visiereinrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Einstellung eines Röntgen-Diffraktionsgoniometers und Visiereinrichtung zur Durchführung dieses VerfahrensInfo
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Description
Verfahren zur Einstellung eines Röntgen-Diffraktionsgoniometers und Visiereinrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens Geräte zur Durchführung von Messungen zur Bestimmung der Gitterstruktur kristallischer Stoffe mittels Röntgenstrahlen sind be kannt und werden als Röntgen-Diffraktions- goniometer bezeichnet. Sie bestehen aus einer lest angeordneten Teilskala, längs der das Strahlenmesswerk bewegt wird. Die aufzu- fangenden Strahlen stammen von dem Gegenstand, der auf einem drehbar angeordneten Träger angebracht ist. Das Objekt wird von einem Bündel von Primär-Röntgenstrahlen ge troffen ; diese Strahlen werden von den Gitter flachen der Kristallkörper reflektiert, und der Winkel zwischen den Primärstrahlen und den reflektierten Strahlen sowie die gemessene Intensität schaffen einen Hinweis für die Struktur des kristallixschen Stoffes. Die Erfin dung bezieht, sich auf Massnahmen zur genauen Eiinstellung des Goniometers gegenüber der Vorderfläehe der Anode der Röntgenröhre. Die Einstellung des Goniometers wird durci den Winkel bedingt, den die nützlichen Röntgenstrahlen mit der Anodenfläehe der Röntgenröhre einschliessen. Dieser Winkel ist sehr gering und beträgt etwa 3 . Es muss dafür gesorgt werden, dass der Randstrahl, der die Anodenfläche unter diesem Winkel verlässt, mit der Drehachse des Trägers des Objektes und der Messstelle des Strahlenmes sers bündig ist, wenn der Ablenkwinkel 2 0 gleich 0 ist. Um das Röntgen-Diffraktions goniometer gemäss der Erfindung auf die Fläche der Anode der Röntgenröhre, auf wel- cher der Brennfleck erzeugt wird, einzustellen, wird von dem zur Verwendung im Goniometer erforderlichen nützlichen Strahlenbün- del mit vorgeschriebenem Öffnungswinkel ein diesen Winkel mit der Anodenfläche ein- sehliessender Randstrahl durch Anwendung eines Schlitzes und eines Auffangschirmes einer Visiereinrichtung ermittelt, wobei der Randstrahl durch den Schlitz hindurchtritt und auf den Schirm einen Lichtflecli erzeugt und der Schlitz zusammen mit dem Leucht- schirm auf einer am Röhrennmantel entlang be weglichen Stütze des Goniometers angeordnet ist und in bezug auf die Anodenfläche in eine Lage gebracht wird, in welcher der Lichtfleek sich mit einer auf dem Schirm markierten Stelle deckt und dann die Stütze am Mantel befestigt wird. Vorzugsweise wird dann die Visiereinrich- tung durch einen Richtkörper ersetzt, der aus einem Metallstreifen mit rechtwinklig abgebogenem Rand besteht, dessen aufrechtste- hende Seite eine Höhe hat, die gleich dem Abstand des durch die Visiereinrichtung markierten Strahls von der Oberfläche des von dem Röhrenmantel vorstehenden Sehenkels der Eckstütze ist. Mit Hilfe dieses Richtkörpers erfolgt die Einstellung des Goniometers z. B. auf eine Weise, die nachstehend unter Hinweis auf die beiliegende Zeichnung erläutert wird. Die Zeichnung enthält eine Anzahl Figuren, von denen Fig. 1 die Visiereinrichtung und Fig. 2 die Gesamtheit der verwendeten Hilfsmittel zeigen, Fig. 3 zur Erläuterung der Einstellung des Strahlenmeters dient, und Fig. 4 zeigt, in welcher Weise der Träger des Gegenstandes eingestellt wird. Im obern Teil der Röntgenröhre 1 ist der Brennfleck 2, der auf der Vorderfläche der Anode entsteht, schematisch angedeutet. Der übrige Teil der Röntgenröhre 1 befindet sich innerhalb des Mantels 4, was aus Fig. 2 ersicht- lich ist. Dieser Mantel dient ausserdem zur Abstützung des Goniometers 6 und ist dazu in Form einer starren Säule ausgebildet. Zum Goniometer gehört das Strahlenmesswerk 8, in diesem Falle ein Geiger-Müller-Zählrohr. Am Mantel 4 ist die Eckstütze 10 mit dem senkrechten Schenkel 12 befestigt. Der waag- rechte Schenkel 15 dient als Richtarm und besitzt eine Richtfläche 14, die mit der Träger- flache des senkrechten Schenkels 12 am Mantel 4 einen genau bestimmten Winkel von z. B. 87 einschliesst. Die Eckstütze ist in der Höhe mittels der Einstellsehraube 16 verschiebbar, und die Schraube 18 dient zum Fixieren des Sehenkels 12. Auf der Seite des Mantels 4, auf der die Röntgenstrahlen austreten, ist derselbe mit einer Passfläèche 20 versehen, die g bearbeitet und parallel zu einer durch die Achse der Röntgenröhre gehenden Ebene ist, die senkreeht zum zentralen Strahl des zur Untersuchung dienenden Röntgenstrahlenbün- dels ist. Zur Einstellung der Richtfläche 14 gegen über dem Brennfleck ist eine Visiereinrich- tung 22 vorgesehen (Fig. 1). Diese besteht aus einem längs der Riehtfläehe 14 verschiebbaren Schlitte mit zwei aufrecht stehenden Ohren 24 und 26. Das Ohr 24 hat eine Öffnmg 28, in die ein Einsatzstück 30 mit einem engen Schlitz 32 eingesetzt ist. Das andere Ohr 26 hat eine Öffnung, in die ein Leuchtschirm 34 eingesetzt ist, der mit Fadenkreuzdrähten 36 versehen ist. Der waagreehte Draht des verschiebbaren Fadenkreuzes 36 befindet sieh in einem gleiehen Abstand oberhalb der Richtfläche 14 wie der Schlitz 32 im Ohr 24. Die Eckstütze wird mittels der Stellsehraube 16 aufwärts und abwärts bewegt, bis das Rönt genstrahlenbündel, das vom Schlitz 32 durchgelasse wird, auf dem Leuehtschirm 34 einen Leuchtfleck erzeugt, der sich mit dem waag- rechten Draht des Fadenkreuzes 36 deekt. Nach dieser Einstellung ergibt sich die Gewähr, dass die dureh den Schlitz 32 gehenden Strahlen einen Winkel von 3 mit der Anodenfläehe einschliessen und parallel zur Rieht- fläche 14 verlaufen und in einem bestimmten Abstand von dieser Fläehe verlaufen. Die Visiereinrichtung wird darauf entfernt und durch den Richtkörper 38 (Fig. 2) ersetzt. Dieser besteht aus einer im Querschnitt rechtwinkligen Schiene, deren senkreeht zur Richtfläehe 14 stehende Seite 47 eine Ilöhe hat, die genau dem Abstand des durch die Vi siereinrichtung eingestellten Strahlenbündels von der Riehtfläehe 14 entsprieht. Auf der waagrechten obern Seite 40 des Riehtkörpers 38 ist eine U-förmige Konsole 44 mit einem Stellschraube 46 befestigt. In die öffnullg der Konsole 44 ragt das halbkreisförmige Ende 48 des Objekthalters 42, der im Gonio- meter 6 eine Lagerung'besitzt, die durch ge strichelte Linien dargestellt ist. Mit der Stellschraube 46 ist der Objekthalter und dadureh das Goniometer fixiert. Um Beschädigung des Objekthalters zu vermeiden, ist zwisehen der Stellschraube 46 und dem halbkreisförmige Teil 48 ein Metallstreifen 46'vorgesehen, der am einen Ende rechtwinklig umgebogen ist. Der Rand 49 der senkreehten Seite 47 des Riehtkörpers 38 ruht auf der Richtfläche 14 des waagrechten Schenkels der Eckstütze 10 0 auf. Die Seite 47 hat zwei Aussparungen 50 und 53, deren Zweek weiter unten erläutert wird. Weiter sind auf den Seiten 40 und 47 Markierlinien 51 und 52 und auf der End- fläche des Objekthalters 42 und auf der Sei- tenkante des waagrechten Schenkels 15 der Eekstütze 10 eine ähnliche Linie 56 angebracht. Bei der Befestigung des Richtkörpers 38 am Ende 48 des Objekthalters 42 wird Sorge getragen, dass die Markierlinie 54 am Objektlialter genau an die Markierlinie 51 anschliesst. Der er Riehtkörper 38 wird so weit über das Ende des Objekthalters geschoben, bis er gegen die senkrechte Fläche 55 einer Schulter des Objekthalters stösst. Darauf versehiebt man den Richtkorper 38 längs der Oberfläche 14, bis die Markierlinien 52 und 56 in Fluclit liegen und die Seite 47 des Richtkörpers mit der Seitenfläehe des Schenkels 15 bündig ist. Zur Begrenzung des Primär-Röntgenstrah- lenbündels dient in eintrittsschlitz, der in einem Halter 58 angebracht ist. Die Lage des lIalters 58 ist durch die Aussparung 50 im Richtkörper 38 bestimmt. Die Lage eines zweiten IIalters 60 mit einem Schlitz zum Durchlassen reflektierter Strahlen ist durch die Aus sparung 53 im Richtkorper bestimmt. Der Röntgen-Diifraktionsgoniometer nimmt dann die vorgeschriebene Lage gegenüber dem Brennfleck der Röntgenr hre ein, wobei die Mitte des Eintrittsschlitzes, die Mitte des Aus- 1 rittsschlitzes und die Objektfläehe des Objekthalters mit der Mitte des Brennfleckes in einer gemeinsamen Ebene liegen, die zur drehachse des Objekthalters senkrecht ist. Es wurde bisher nur die Anordnung des Goniometers behandelt. Der nächste Sehritt ist die Einstellung des Nullpunktes der Ska leneinteilung, wobei der Ablenkwinkel 2 @ gleieh 0 ist, wobei 0 den Braggsehen Winkel bezeichnet, Dazu wird der Objekthalter 42 durci eine Richtlehre 62 (Fig. 3) ersetzt. Diese besitzt eine schlitzförmige Öffnung 65 und eine ebene Seitenfläehe 64. Indem die Lehre 62 vorsichtig um ihre Achse gedreht und ausserdem das Strahlenmesswerk 8 über kleine Abstände versehoben wird, lässt sich die Lage finden, in der das Strahlenmesswerk die grösste Anzeige ergibt, wobei also die Einstellung gegenüber den durch den eintrittsschlitz im Halter 58 und den ustrittsschlitz im Halter 60 durchgelassenen Röntgenstrahlen am günstigsten ist. Diese Lage wird als die Nullein- stellung betrachtet vnd kann als solche auf einer Skaleneinteilung angegeben werden. Nachdem die Nullpunkteinstellung des Strahlenmesswerkes erzielt worden ist, muss noch die Einstellung der Objektfläche vorge nommen werden. Die Einstellung ist derart, dass die Objektfläehe mit der Ebene durch den Eintrittssehlitz, die Achse des Objekthalters und den austrittsschlit zusammenfällt. Zur Bestimmung der Lage der Objektfläche wird am Kopf des Objektträgers 42 ein Richtorgan 66 (Fig. 4) befestigt, das aus zwei aufeinander befestigten dünnen Platten 68-69 besteht, zwischen denen ein Schlitz 70 gebildet ist, wobei die dureh die Mitte des Schlitzes gehende Linie in der vObjektfgläche liegt und durch die Drehachse des Objektträgers 42 geht. Das Richtorgan 66 wird gemeinsam mit dem Objektträger in eine Lage gedreht, in der das Strahlenmesswerk die höchste Anzeige ergibt. Dann ist selbsttätig die Objektfläche, auf die vorgeschriebene Weise gegenüber dem Röntgenstrahlenbündel orientiert, und die Diffraktionsuntersuehung kann dann angefangen werden.
Claims (1)
- PATENTANSPRÜCHE I. Verfahren zur Einstellung eines Rönt- gen-Diffraktionsgoniometers in bezug auf die Fläche der Anode der Röntgenröhre, auf der der Brennfleek (2) erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet, dass von dem zur Verwendung im Goniometer (6) erforderlichen nützlichen Strahlenbündel mit vorgeschriebenem Öffnungswinkel ein diesen Winkel mit der Anodenfläche einsehliessender Randstrahl durch anwenkung eines Schlitzes (32) und eines Auffangsehirmes (34) einer Visiereinrichtung (22) ermittelt wird, wobei der Randstrahl durch den Schlitz hindurchtritt und auf den Schirm einen Lichtfleck erzeugt und der Schlitz (32) zusammen mit dem Leuchtsehirm (34)auf einer am Röhrenmantel (4) entlang beweglichen Stütze (10) des Goniometers angeordnet ist und in bezug auf die Anodenfläehe in eine Lage gebracht wird, in welcher der Lichtfleck sich mit einer auf dem Schirm (34) markierten Stelle (36) deckt und dann die Stütze am Mantel (4) befestigt wird.II. Visiereinrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Patentanspruch I, gekennzeichnet durch einen längs einer Richtfläche (14) der Stütze (10) des Goniometers versehiebbaren Schlitte mit zwei aufrecht stehenden Ohren (24, 26), von denen das eine ein Einsatzstück (30) mit einem Schlitz (32) und das andere einen Leuchtschirm (34) trägt.UNTERANSPRUCII Verfahren nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass an Stelle der Visierein- richtung (22) auf die Bichtfläche (14) der Stütze (10) ein im Quersehnitt rechtwinkliger schienenförmiger Richtkörper (38) angeordnet wird, dessen Höhe gleich dem Abstand des markierten Röntgenstrahlenbündelsvon der Riehtfläche (14) ist, wobei auf der Stütze und auf den Richtkörper (38) angebrachte Nlar kierlinien (56 bzw.52) miteinander zur Dek kung gebracht werden und der Goniometer in einer dureh den Richtkörper bedingten sowie mittels auf dem rcihtkörper (38) und der Vorderfläehe (48) des Objekthalters (42) vorgesehenen Markierlinien (51 bzw. 54) vorgeschriebenen Lage in bezug auf den Röh renbrennfleek (2) angeordnet ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US404518A US2709752A (en) | 1954-01-18 | 1954-01-18 | Method of aligning an X-ray diffraction goniometer and apparatus therefor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH332875A true CH332875A (de) | 1958-11-15 |
Family
ID=23599923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH332875D CH332875A (de) | 1954-01-18 | 1955-01-18 | Verfahren zur Einstellung eines Röntgen-Diffraktionsgoniometers und Visiereinrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2709752A (de) |
BE (1) | BE534930A (de) |
CH (1) | CH332875A (de) |
DE (1) | DE1096637B (de) |
FR (1) | FR1117963A (de) |
GB (1) | GB777275A (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2944153A (en) * | 1955-04-04 | 1960-07-05 | Philips Corp | Energy calibration source holder |
US3005098A (en) * | 1958-03-31 | 1961-10-17 | Gen Electric | X-ray emission analysis |
DE1140740B (de) * | 1960-10-04 | 1962-12-06 | Continental Elektro Ind Ag | Einrichtung zum Nachweis der Reflexionsrichtung eines nicht sichtbaren Strahlenbuendels, insbesondere eines Neutronenstrahlenbuendels |
US3331978A (en) * | 1962-05-28 | 1967-07-18 | Varian Associates | Electron beam x-ray generator with movable, fluid-cooled target |
US3489896A (en) * | 1966-11-01 | 1970-01-13 | Ashland Oil Inc | Alignment tool or device for cooling blade |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1589833A (en) * | 1923-12-21 | 1926-06-22 | Behnken Hermann | Measuring device for the examination of electromagnetic waves |
DE616314C (de) * | 1928-05-30 | 1935-07-31 | Siemens Reiniger Werke Akt Ges | Blendenvorrichtung fuer Roentgenroehren |
US2452045A (en) * | 1945-08-08 | 1948-10-26 | Friedman Herbert | X-ray apparatus and method for crystal analysis |
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-
1954
- 1954-01-18 US US404518A patent/US2709752A/en not_active Expired - Lifetime
-
1955
- 1955-01-17 BE BE534930A patent/BE534930A/fr unknown
- 1955-01-18 FR FR1117963D patent/FR1117963A/fr not_active Expired
- 1955-01-18 DE DEN10072A patent/DE1096637B/de active Pending
- 1955-01-18 GB GB1517/55A patent/GB777275A/en not_active Expired
- 1955-01-18 CH CH332875D patent/CH332875A/de unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BE534930A (fr) | 1955-07-18 |
US2709752A (en) | 1955-05-31 |
FR1117963A (fr) | 1956-05-30 |
DE1096637B (de) | 1961-01-05 |
GB777275A (en) | 1957-06-19 |
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