AT267905B - Vakuumkammer als Zubehör für Auflichtmikroskope - Google Patents
Vakuumkammer als Zubehör für AuflichtmikroskopeInfo
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Description
<Desc/Clms Page number 1> Vakuumkammer als Zubehör für Auflichtmikroskope EMI1.1 <Desc/Clms Page number 2> dieser Vakuumkammer befindlichen Beobachtungsfenster, einer in der Vakuumkammer befindlichen Haltevorrichtung für die Probe und einer um die zu untersuchenden Probe herum angeordneten von einem Hochfrequenzgenerator gespeisten Induktionsspule dadurch gelöst, dass erfindungsgemäss die Induktionsspule konisch gewickelt ist und die Durchmesser der Spulenwindungen sich in der Richtung der Spule vergrössern, wo die Erwärmung der Probe am niedrigsten sein soll. Das die Spule durchfliessende Kühlmedium nimmt die von der Probe abgestrahlte Wärmeenergie in hohem Masse auf und verringert dadurch die thermische Belastung der Vakuumkammer. Dadurch erhält man in der Probe ein in axialer Richtung verlaufendes Temperaturgefälle und man verhindert durch diese Massnahmen ein Anschmelzen der Probe auf ihrer Unterlage. Soll eine elektrisch nicht leitende Probe betrachtet werden, so ergibt sich eine vorteilhafte Ausführung, wenn der diese Probe möglichst weitgehend umschliessende Objektträger aus elektrisch leitendem Material besteht und die konisch gewickelte Induktionsspule vorzugsweise koaxial zur optischen Achse in der Vakuumkammer angeordnet ist. Bei Betrachtung einer aus elektrisch leitendem Material bestehenden Probe ist die Haltevorrichtung aus einem elektrisch nicht leitenden Material. Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt. Unter dem Objektiv-l-eines in den übrigen Teilen nicht mit dargestellten Auflichtmikroskops befindet sich eine aus einem Grundkörper-2-und einem Deckel-3- EMI2.1 befindet sich auf einer Unterlage --6-- aus einem Material mit geringer thermischer Leitfähigkeit. Die Probe-5-ist von einer konisch gewickelten Induktionsspule --7-- aus Kupferrohr umgeben. Die Verbindung dieser Spule zum nicht mit dargestellten Hochfrequenzgenerator ist durch eine EMI2.2 --7'-- zur Induktionsspule je eine Verschraubung --9-- nach Art einer Überwurfmutter, die über Schliffverbindungen sowohl eine gute elektrische Verbindung als auch eine dichte Zu-und Abführung eines die Induktionsspule durchfliessenden Kühlmittels gewährleistet. Hinter der Verschraubung-9in Richtung zum Hochfrequenzgenerator befindet sich in beiden Kupferleitungen je ein Metallfaltenbalg - -10--, der ein elastisches Zwischenglied zwischen der Vakuumkammer und dem Hochfrequenzgenerator darstellt und bei einer Bewegung des Mikroskoptisches entsprechend nachgiebig EMI2.3 Der mit einer Überwurfmutter-12-aufsetzbare Deckel-3-und der Grundkörper - der Vakuumkammer weisen Hohlräume-13 bzw. 14-auf, durch die bei Bedarf ein Kühlmittel geleitet werden kann. Die hiezu erforderlichen Rohrstutzen sind in der Zeichnung nicht sichtbar. Ein axial zum Grundkörper-2-der Vakuumkammer angeordneter Rohrstutzen --15-dient zur Einführung eines nicht mit dargestellten Thermoelementes, welches tief in die Probe-5- einführbar ist. Zwischen der Probe-5-und einem vakuumdichten Einblickfenster-16-im Deckel - der Vakuumkammer befindet sich ein in seinen Einzelheiten nicht mit dargestellter Schieber - -17--. Dieser Schieber enthält nebeneinander mehrere Gläser --18--, von denen nur eines in der Zeichnung erkennbar ist. Mit Hilfe dieses Schiebers kann bei Bedarf zwischen der Probe-5-und dem Einblickfenster-16-eines der Zwischengläser--18-eingeschaltet werden. Dadurch wird erreicht, dass eventuell aus der Probe verdampfendes Material sich nur auf dem jeweils im Strahlengang befindlichen Zwischenglas und nicht als störender Belag auf dem Einblickfenster-16-- niederschlagen kann. Dieser Schieber --17-- ist so eingerichtet, dass das jeweils im Strahlengang befindliche beschlagene Zwischenglas --18-- zur Wiederherstellung der guten Erkennbarkeit der Probe noch während der Beobachtung gegen ein anderes unbedampftes Zwischenglas austauschbar ist. EMI2.4 --19-Probenoberfläche--5'--liegt. Über einen nicht mit dargestellten Rohrstutzen mit entsprechendem Ventil ist es möglich, eine dosierbare Menge von Gasen oder andern Stoffen in den Vakuumraum zu geben.
Claims (1)
- PATENTANSPRÜCHE : 1. Vakuumkammer als Zubehör für Auflichtmikroskope zur mikroskopischen Untersuchung einer in ihr befindlichen Probe, mit einem an dieser Kammer befindlichen Beobachtungsfenster, einer in der Vakuumkammer befindlichen Haltevorrichtung für die Proben und einer um die zu untersuchende Probe herum angeordneten von einem Hochfrequenzgenerator gespeisten Induktionsspule, EMI3.1 Durchmesser der Spulenwindungen sich in der Richtung vergrössern, wo die Erwärmung der Probe am niedrigsten sein soll. EMI3.2
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE267905X | 1965-10-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| AT267905B true AT267905B (de) | 1969-01-27 |
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ID=5997642
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| AT674066A AT267905B (de) | 1965-10-26 | 1966-07-13 | Vakuumkammer als Zubehör für Auflichtmikroskope |
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| AT (1) | AT267905B (de) |
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1966
- 1966-07-13 AT AT674066A patent/AT267905B/de active
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