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Magnetische Haltevorrichtung zum Prüfen kleiner Werkstücke
Die Erfindung betrifft eine Haltevorrichtung für Werkstücke, wie sie in der Feinwerktechnik üblich sind.
In der Industrie - besonders in der Uhrenindustrie - werden allgemein die zu kontrollierenden Kleinwerkstücke mit mechanischen Haltewerkzeugen vor die Kontrollapparaturen gebracht. Die Haltewerkzeuge sind jedoch vielfach beim Kontrollvorgang hinderlich und nicht beweglich. Besonders an den Stellen, an welchen das Werkstück eingeklemmt oder eingespannt werden muss, kann dieses nicht kontrolliert werden.
Es sind bereits magnetische oder pneumatische Haltewerkzeuge vorgeschlagen worden. Mit diesen, welche mit der Kontrollapparatur fest verbunden sind, können die Prüflinge während des Prüfvorganges in ihrer Lage nicht verändert werden, so dass nicht alle Oberflächenteile des Prüflings beobachtet werden können. Dies ist besonders dann der Fall, wenn Prüflinge mit nicht ebenen Flächen zu beobachten sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine magnetische Haltevorrichtung zu schaffen, bei welcher diese Nachteile nicht auftreten. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Haltevorrichtung aus einem U-förmig ausgebildeten, in seiner räumlichen Lage veränderbaren Magneten besteht und in einem vorzugsweise einen Mikroskop-Durchlichtstand darstellenden Gehäuse untergebracht ist, dessen Deckfläche als antimagnetische Werkstück-Auflageplatte ausgebildet ist und auf der die Werkstücke wäh- rend des Prüfvorganges durch Bewegen des Magneten in verschiedene Lagen zum Beobachter gebracht werden können.
Mit dem Magneten kann der Prüfling sowohl gehalten als auch in seiner Lage beliebig verändert werden.
Im nachfolgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 eine Seitenansicht des Durchlichtstandes eines Mikroskops mit eingebautem Magneten, Fig. 2 eine gleiche Seitenansicht wie Fig. 1 mit einer andern Stellung des Magneten, Fig. 3 eine Seitenansicht des Magneten, Fig. 4 eine als Stückauflage dienende antimagnetische Platte, Fig. 5 einen Prüfling in zwei Ansichten.
In der Fig. 1 stellt der Sockel 1 einen Durchlichtstand eines nicht gezeichneten Mikroskops dar.
Im Hohlraum la des Sockels 1 ist ein Magnet 2 angeordnet. Er ist mit einer Achse 3 fest oder aufsteckbar verbunden. Die Achse 3 ist durch eine Gehäusewand des Sockels 1 geführt und weist auf ihrem andern Ende einen Drehknopf 4 auf. Die Achse ist in der Gehäusewand des Sockels gleitend und drehbar gelagert, so dass sie nicht nur gedreht und axial verschoben, sondern auch vertikal zu sich selbst verschoben werden kann. An der Oberseite des Sockels ist eine antimagnetische Stückauflageplatte 5 in den Sockel eingelassen.
In der Stückauflageplatte befindet sich eine Vertiefung 5a für den Prüfling 6. Die Achse 3, mit deren Hilfe der Magnet 2 in seiner Lage verändert werden kann, ist im Sockel 1 so angeordnet, dass sie den Magneten 2 in jede beliebige Stellung bringen kann. Der Magnet kann also gedreht und in Axialrichtung der Achse 3 sowie vertikal zu ihr verschoben werden. Dies ist besonders wichtig, da der Abstand zwischen Prüfling 6 und Magnet 2 jedem Betriebsvorgang angepasst werden muss. Der Magnet 2 ist in der Fig. 1 so dargestellt, dass der Prüflung 6 von länglicher Form aufrecht in der Vertiefung 5a steht. Bei Verändern der Lage des Magneten ändert sich auch die Lage des Prüflings 6,
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ohne dass diese Lageveränderung von Hand vorgenommen zu werden braucht.
In der Fig. 2 ist der gleiche Durchlichtstand mit den gleichen Bezugszeichen dargestellt. Lediglich ist der Magnet 2 durch Betätigen des Drehknopies 4 über die Achse 3 in seiner Lage verändert worden, u. zw. um 900 verdreht. Der Prüfling 6 in der Vertiefung 5a der Stückauflageplatte 5 hat sich ebenfalls in seiner Lage geändert. An dieser Stelle sei bemerkt, dass der Magnet 2 in jeder gewünschten Lage ang-aalten werden kann, so dass der Prüfling entsprechend der Einwirkung des Magnetfeldes in der entsprechenden Lage ebenfalls stehen bleibt. Ein Prüfling, sei er nun länglich oder rund (Nagel oder Kugel), kann um 3600 gedreht werden. Axial dreht er sich ebenfalls um 3600. Der Abstand des Magneten 2 zum Prüfling 6 muss entsprechend des Gewichtes des Prüflings angepasst werden.
Ebenso ist der Magnet je nach Art des Prüflings in seiner Stärke zu verändern. Ersteres geschieht dadurch, dass mitHilfe der Achse 3 der Magnet in den drei Freiheitsgraden seine Lage zum Prüfling ändern kann.
Das Zweite erfolgt dadurch, dass der Magnet auswechselbar ist. Man kann sowohl einen Permanentagneten als auch einen Elektromagneten verwenden.
Fig. 3 zeigt eine Seitenansicht eines Permanentmagneten 2, wobei die Achse 3 im Zentrum dieses Magneten angeordnet ist. Es ist auch ohne weiteres möglich, die Achse 3 an jedem andern beliebigen Punkt des Magneten 2 anzuordnen.
Die Fig. 4 zeigt die Stückauflageplattc 5 mit der Vertiefung 5a, in welche der Prüfling eingebracht wird. Die Stückauflageplatte kann aus Glas oder Plexiglas bestehen. Im Zentrum der Stückauflageplatte 5 ist die dem Gesichtsfeld eines Mikroskops angepasste Vertiefung 5a ausgearbeitet, die entsprechend der geometrischen Form des Prüflings demselben angepasst sein kann. Diese Vertiefung kann z. B. nach unten konisch zulaufen. Die Stückauflageplatte 5 kann auf dem Sockel 1 je nachdem, welcher Prüfling kontrolliert werden soll, mit der entsprechenden Vertiefung 5a ausgewechselt werden.
Die Fig. 5 zeigt einen Prüfling 6 in zwei Ansichten. Die Länge des Prüflings beträgt ungefähr 1 bis 2 mm. Diese Zahlenangabe bedeutet aber nicht, dass nur Prüflinge von diesen kleinen Ausmessungen von der erfindungsgemässen Halterung gehalten werden können.
Die erfindungsgemässe Halterung eignet sich besonders zur Kontrolle von Uhrenbestandteilen mittels eines Mikroskops.
PATENTANSPRÜCHE :
1. Magnetische Haltevorrichtung zum Prüfen kleiner Werkstücke, dadurch gekennzeichnet, dass die Haltevorrichtung aus einem U-förmig ausgebildeten, in seiner räumlichen Lage veränderbaren Magneten besteht und in einem vorzugsweise einen Mikroskop-Durchlichtstand darstellenden Gehäuse untergebracht ist, dessen Deckfläche als antimagnetische Werkstück-Auflageplatte ausgebildet ist und auf der die Werkstücke während des Prüfvorganges durch Bewegen des Magneten in verschiedene Lagen zum Beobachter gebracht werden können.