DE3151582C2 - - Google Patents
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- G01B5/28—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
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Description
Die Erfindung betrifft eine Ebenheitsmeßeinrichtung zur
Messung der Abweichungen einer Oberfläche eines Werkstückes
von einer durch drei Bezugspunkte dieser Oberfläche
aufgespannten Ebene, die ihrerseits durch eine Abstützung
des Werkstückes mittels dreier Stützen parallel zu einer
geometrisch idealen Bezugsebene in Form einer
Richtplattenoberfläche angeordnet ist, mit einer auf der
Richtplattenoberfläche verschiebbaren Meßvorrichtung mit
einem federnd abgestützten, die zu vermessende
Werkstückoberfläche abtastenden Tastorgan und
Übertragungsmitteln zur Übertragung von den Meßausschlägen
des Tastorgans entsprechenden Meßgrößen an ein Anzeigegerät.
Eine derartige Einrichtung ist aus der US-PS 33 25 904
bekannt. Hierbei sind die drei Stützen und eine die zu
vermessende Werkstückoberfläche abtastende Meßvorrichtung
jeweils mittels eines Fußes auf der Oberfläche einer
Richtplatte verschiebbar.
Das Werkstück ist mit seiner der zu vermessenden
Werkstückoberfläche gegenüberliegenden Unterseite auf
justierbaren Auflagen der Stützen gelagert. Die hierzu
vorgesehenen Justiermittel der Stützen sind notwendig, um
die zu vermessende Werkstückoberfläche parallel zur
Richtplattenoberfläche auszurichten. Die zur Abtastung der
Werkstückoberfläche vorgesehene Meßvorrichtung besteht im
wesentlichen aus dem bereits genannten Fuß, einer darauf
befestigten Tragsäule und einem daran angeordneten Arm, der
an seinem Ende den eigentlichen Meßkopf trägt.
Für den praktischen Einsatz ist die Tragsäule mit solcher
Höhe vorzusehen, daß sowohl die Höhe der Stützen, als auch
alle in der Praxis vorkommenden Abstände zwischen der
Werkstückunter- und -oberseite überbrückt werden. Der
Tragarm ist entsprechend lang auszuführen, um bei kleinen
zu vermessenden Werkstückoberflächen eine gegenseitige
Behinderung der genannten Füße zu verhindern und um bei
größeren Werkstückoberflächen deren gesamten Bereich
abtasten zu könen. Dies ergibt ein leicht zu Schwingungen
anregbares Gebilde aus Tragsäule und Tragarm. Zur
Ausrichtung der zu vermessenden Werkstückoberfläche müssen
wenigstens drei Fixpunkte auf dieser Oberfläche mehrfach
abgetastet und die Justiermittel feinfühlig verstellt
werden. Der eigentliche Vorgang der Vermessung der
Werkstückoberfläche zur Ermittlung evtl. Unebenheiten
derselben verzögert sich also um nicht unerhebliche
Rüstzeiten.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine
gattungsgemäße Ebenheitsmeßeinrichtung dahingehend zu
verbessern, daß sie im praktischen Einsatz nicht zu
störenden Schwingungen angeregt wird und daß dem
eigentlichen Meßvorgang relativ kurze Rüstzeiten
vorausgehen können. Diese Aufgabe wird mit einer
Einrichtung gemäß Anspruch 1 gelöst.
Aus der DE-PS 4 25 145 ist zwar ein Gerät zum Messen von
Eindrucktiefen bekannt, mit welchem bei entsprechendem
Meßaufwand auch eine Aussage über die Ebenheit einer
Werkstückoberfläche gewonnen werden kann. Die hiermit
erfaßbare Oberfläche eines Werkstückes beschränkt sich
jedoch auf die Verfahrwege der kreuzweise angeordneten
Schlitten, mit denen das Tiefenfeinmeßgerät verfahren
werden kann. Ein Umsetzen des Gerätes zur Erfassung eines
Bereiches einer Werkstückoberfläche, der an einem ersten
Standort des Gerätes nicht bestrichen werden kann, ist
jedoch nicht möglich, da hierbei die durch den Dreifuß des
bekannten Gerätes festgelegte Bezugsebene verlassen würde.
Diesen Nachteil weist auch eine andere, aus der
CH-PS 2 59 491 bekannte Vorrichtung zum Prüfen von
Oberflächen auf. Diese Vorrichtung ist, vergleichbar mit
dem Dreifuß des vorgenannten Gerätes, mit Füßen auf die zu
vermessende Werkstückoberfläche aufgesetzt, so daß an
jedem neuen Standort eine neue Bezugsebene definiert wird.
Zum Bestreichen größerer Meßbereiche müssen bei diesen
bekannten Vorrichtungen die darin integrierten
Verschiebeeinrichtungen entsprechend biegesteif ausgeführt
werden, so daß ein erhebliches Gewicht der Meßeinrichtung
und alle damit verbundenen Nachteile in Kauf genommen
werden müssen.
Die erfindungsgemäße Ebenheitsmeßvorrichtung weist zwar in
gewisser Weise mit dem Dreifuß des aus der DE-PS 4 25 145
bekannten Gerätes vergleichbare Stützen auf, diese müssen
jedoch zum Vermessen einer größeren Werkstückoberfläche
nicht umgesetzt werden.
Aus der Zeitschrift Feingerätetechnik, 8. Jahrgang, Heft
5/1959, Seiten 225 bis 229 ist es insbesondere zur
Ebenheitsprüfung von Richtplatten zwar bekannt, den
örtlichen Abstand der Richtplattenoberfläche zu einem
darüber auf Stützen aufliegenden Bezugsnormal mittels einer
Abtastvorrichtung zu bestimmen, die einerseits am
Bezugsnormal und andererseits an der Richtplattenoberfläche
entlang geführt wird. Dem liegt das Problem zugrunde,
zunächst eine geometrisch ideal ebene Bezugsfläche
herzustellen, die für spätere Vermessungsarbeiten unter
Zuhilfenahme einer Richtplatte wie beispielsweise für eine
Vermessung mit der eingangs genannten
Ebenheitsmeßeinrichtung herangezogen werden kann. Zur
Herstellung einer geometrisch ideal ebenen Bezugsfläche in
Form einer Richtplattenoberfläche wird diese im allgemeinen
relativ große Fläche unter Zuhilfenahme eines Richtlineals
topographisch vermessen. Das Bezugsnormal wird hierbei von
dem Richtlineal dargestellt, welches abwechselnd über die
Diagonalen und über Rasterlinien der Richtplattenoberfläche
mittels einer ersten Stütze mit fester Höhe und einer
zweiten Stütze mit justierbarer Höhe ausgerichtet wird. Zur
Abwicklung der Meßvorgänge entlang der einzelnen
Rasterlinien sind diese Stützen jeweils in einander
gegenüberliegenden Rasterpunkten im Bereich der einen und
der gegenüberliegenden Berandung der Richtplattenoberfläche
zu plazieren und das Richtlineal auf diesen Stützen
auszurichten. Im Ergebnis wird mit Hilfe des jeweils über
die Diagonalen ausgerichteten Richtlineals eine künstliche
geometrisch ideale Bezugsebene geschaffen, die oberhalb der
zu vermessenden Fläche liegt.
Mit dem Anmeldungsgegenstand wird nun, in Abkehr von der
seit 1959 bekannten Meßanordnung zur topographischen
Vermessung einer Werkstückoberfläche eine leicht zu
handhabende Ebenheitsmeßeinrichtung geschaffen, die im
vergleich zu gattungsgemäßen Einrichtungen wesentlich
verkürzte Rüstzeiten verlangt und durch die Möglichkeit
ihrer äußerst stabilen Ausführung den Meßvorgang störende
Schwingungen vermeidet.
Im praktischen Einsatz erweist sich die erfindungsgemäße
Ebenheitsmeßeinrichtung gegenüber einer bekannten
gattungsgemäßen Einrichtung insbesondere auch dadurch als
vorteilhaft, daß mit einem Wechsel der zu vermessenden
Werkstücke weder an den Stützen noch an der eigentlichen
Meßvorrichtung irgendwelche Justierungen vorgenommen werden
müssen. Beim Vermessen einer bis zu den
Werkstückberandungen reichenden Werkstückoberfläche kann die
Meßvorrichtung ohne besondere Vorkehrungen durch einfaches
Unterschieben in eine Meßstellung verbracht werden, da das
im allgemeinen kugelförmig ausgebildete Ende des
Tastorgans ein für allemal auf eine derartige Höhe
einstellbar ist, daß die Kugelkrümmung als Einlaufphase
dienen kann.
In vorteilhafter Ausgestaltung der Übertragungsmittel in
Form von gleicharmigen Hebeln kann zudem ein
handelsübliches Anzeigegerät in Form eines sogenannten
"Nullinstrumentes" verwendet werden.
Weiterhin besteht die vorteilhafte Möglichkeit, die
Meßvorrichtung an ihren Enden mittels dreier Standfüße
abzustützen, und dadurch ein äußerst schwingungsarmes
System zu erhalten.
Die Bedienung der erfindungsgemäßen Ebenheitsmeßeinrichtung
ist damit insgesamt einfach und sicher, wobei Meßfehler
allein aufgrund der geringen Anzahl von
Übertragungsgliedern weitestgehend ausgeschlossen sind.
Durch entsprechende konstruktive Festlegung der verwendeten
Übertragungshebel ist die Reichweite einer solchen
Ebenheitsmeßeinrichtung auch in weiten Grenzen wählbar.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines in der
Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher
erläutert.
Dabei zeigt
Fig. 1 die Anordnung von Werkstück und Meßvorrichtung während des
Meßvorganges,
Fig. 2 eine Schnittdarstellung der Meßvorrichtung und
Fig. 3 eine Draufsicht der Vorrichtung gemäß Fig. 2.
Wie in Fig. 1 dargestellt, liegt das Werkstück 1 mit seiner zu vermessenden plan bearbeiteten
Fläche 2 nach unten auf vorzugsweise drei gleichhohen Stützen 3, welche
entsprechend der Form und Größe des Werkstückes 1 ungefähr gleichmäßig
verteilt auf der Meßplatte 4 angeordnet sind. Die Stützen 3 sind dabei
derart bemessen, daß der sich zwischen Werkstück 1 und Meßplatte 4
ergebende Zwischenraum 5 der Gesamthöhe 6 des unter das Werkstück 1
einfahrenden vorderen Bereiches der Meßvorrichtung 7 einschießlich des
Tastorgans 8 in Nullstellung entspricht.
Die Meßvorrichtung 7 kann dann, von Hand geführt, die Werkstückfläche 2
abtasten, wobei Ebenheitsabweichungen sowohl in positiver als auch in
negativer Richtung am Anzeigegerät 9 ablesbar sind.
Gemäß Fig. 2 wird der
Meßweg durch das aus der Oberseite der Meßvorrichtung 7 herausragende
Tastorgan 8 auf einen Übertragungshebel 10 übertragen, der an der Gelenk
stelle 11 drehbar gelagert ist. Am Gelenkpunkt 12 ist ein weiterer Übertra
gungshebel 13 drehbar gelagert, der die Schwenkbewegung des ersten Über
tragungshebels 10 an den sich federnd (nicht dargestellt) am Anzeigegerät 9
abstützenden Tastbolzen 14 weitergibt. Da die wirksamen Hebelarme jedes
Übertragungshebels 10, 13 gleich lang sind, läßt sich der Meßweg des Tast
organs 8 unmittelbar auf dem Anzeigegerät 9 ablesen.
Eine Klemmhülse 15 sowie eine aus Fig. 3 ersichtliche Klemmschraube 16
dient der Arretierung des Anzeigegerätes 9 nach dessen Justierung.
Die Schwenkbewegungen der Übertragungshebel 10, 13 bzw. der Meßweg des
Tastorganes 8 werden durch einen im Rahmen 17 angeordneten Sperrstift 18
begrenzt. Dieser ist durch eine Bohrung 19 im Übertragungshebel 10 hin
durchgeführt, deren Durchmesser größer als der Querschnitt des Sperr
stiftes 18 ist. Entsprechend den gegebenen Hebelarmverhältnissen ist dadurch
der Meßweg auf ein vorgegebenes Maß begrenzt.
Die vorzugsweise drei Standfüße 20 der Meßvorrichtung 7, deren Anordnung
auch aus Fig. 3 ersichtlich ist, gewährleisten einen fehlerfreien Meßvorgang.
Eine den zweiten Übertragungshebel 13 sowie den Tastbolzen 14 abdeckende
und am Rahmen 17 befestigte Abdeckplatte 21 verhindert die Verschmutzung
der abgedeckten Bauteile.
Die in Fig. 3 dargestellte Draufsicht des Meßgerätes 5 verdeutlicht weiter
deren äußere Konturen sowie die Lage der einzelnen Bauteile.
Durch entsprechende Ausgestaltung und Anordnung der, den abgetasteten
Meßweg auf das Anzeigegerät weiterleitenden Übertragungsmittel läßt sich
die beispielsweise gewählte Vorrichtung vielfältig modifizieren. Entsprechend
der getroffenen Wahl der gegebenenfalls auch nicht ausschließlich mecha
nischen Übertragungsmittel könnte die Anzeige des Meßwertes dann
zum Beispiel auch an einer vom Meßort entfernten Kontrollstelle
erfolgen.
Claims (2)
1. Ebenheitsmeßeinrichtung zur Messung der Abweichungen
einer Oberfläche eines Werkstückes von einer durch drei
Bezugspunkte dieser Oberfläche aufgespannten Ebene, die
ihrerseits durch eine Abstützung des Werkstückes mittels
dreier Stützen parallel zu einer geometrisch idealen
Bezugsebene in Form einer Richtplattenoberfläche
angeordnet ist, mit einer auf der Richtplattenoberfläche
verschiebbaren Meßvorrichtung mit einem federnd
abgestützten, die zu vermessende Werkstückoberfläche
abtastenden Tastorgan und Übertragungsmitteln zur
Übertragung von den Meßausschlägen des Tastorgans
entsprechenden Meßgrößen an ein Anzeigegerät,
dadurch gekennzeichnet,
daß
die an sich bekanntermaßen auf der Richtplattenoberfläche freibeweglich verschiebbaren und in an sich bekannter Weise gleich hohen Stützen (3) das Werkstück (1) an dessen zu vermessender Oberfläche (2) abstützen,
die Meßvorrichtung (7) als im wesentlichen flacher, langgestreckter Rahmen (17) mit einer, der zu vermessenden Werkstückoberfläche zugewandten und von dieser beabstandeten oberen Begrenzungsfläche (22) ausgebildet ist, aus welcher an einem Ende des Rahmens das Tastorgan (8) in an sich bekannter Weise herausragt und
die Gesamtbauhöhe (6) des Rahmens einschließlich des Tastorgans in einer Nullstellung des Tastorgans der Höhe der Stützen (3) entspricht.
die an sich bekanntermaßen auf der Richtplattenoberfläche freibeweglich verschiebbaren und in an sich bekannter Weise gleich hohen Stützen (3) das Werkstück (1) an dessen zu vermessender Oberfläche (2) abstützen,
die Meßvorrichtung (7) als im wesentlichen flacher, langgestreckter Rahmen (17) mit einer, der zu vermessenden Werkstückoberfläche zugewandten und von dieser beabstandeten oberen Begrenzungsfläche (22) ausgebildet ist, aus welcher an einem Ende des Rahmens das Tastorgan (8) in an sich bekannter Weise herausragt und
die Gesamtbauhöhe (6) des Rahmens einschließlich des Tastorgans in einer Nullstellung des Tastorgans der Höhe der Stützen (3) entspricht.
2. Ebenheitsmeßeinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Rahmen (17) vorzugsweise drei an seinen jeweiligen
Enden angeordnete Standfüße (20) aufweist, mit denen er
auf die Richtplattenoberfläche aufsetzbar ist.
Priority Applications (4)
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|---|---|---|---|
| DE19813151582 DE3151582A1 (de) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | "verfahren zur ebenheitspruefung und zum messen der unebenheiten von werkstueckflaechen" |
| IT24825/82A IT1154646B (it) | 1981-12-28 | 1982-12-17 | Procedimento per la verifica della planarita' e per misurare gli errori di planarita' di superfici di pezzi d'opera |
| CH7386/82A CH659319A5 (de) | 1981-12-28 | 1982-12-17 | Verfahren zur ebenheitspruefung und zum messen der unebenheiten von werkstueckflaechen. |
| JP57222188A JPS58115302A (ja) | 1981-12-28 | 1982-12-20 | 加工物の面の平面度検査および表面あらさ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19813151582 DE3151582A1 (de) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | "verfahren zur ebenheitspruefung und zum messen der unebenheiten von werkstueckflaechen" |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3151582A1 DE3151582A1 (de) | 1983-07-14 |
| DE3151582C2 true DE3151582C2 (de) | 1987-06-19 |
Family
ID=6149855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19813151582 Granted DE3151582A1 (de) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | "verfahren zur ebenheitspruefung und zum messen der unebenheiten von werkstueckflaechen" |
Country Status (4)
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| CH (1) | CH659319A5 (de) |
| DE (1) | DE3151582A1 (de) |
| IT (1) | IT1154646B (de) |
Families Citing this family (1)
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Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| FR964293A (de) * | 1947-04-11 | 1950-08-09 | ||
| US3325904A (en) * | 1963-09-16 | 1967-06-20 | Mycalex Corp Of America | Method and apparatus for assisting in the measurement of surface flatness |
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1981
- 1981-12-28 DE DE19813151582 patent/DE3151582A1/de active Granted
-
1982
- 1982-12-17 CH CH7386/82A patent/CH659319A5/de not_active IP Right Cessation
- 1982-12-17 IT IT24825/82A patent/IT1154646B/it active
- 1982-12-20 JP JP57222188A patent/JPS58115302A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3151582A1 (de) | 1983-07-14 |
| JPS58115302A (ja) | 1983-07-09 |
| IT8224825A1 (it) | 1984-06-17 |
| IT1154646B (it) | 1987-01-21 |
| IT8224825A0 (it) | 1982-12-17 |
| CH659319A5 (de) | 1987-01-15 |
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