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Mikroskoptisch, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren
Der Gegenstand der Erfindung betrifft einen Mikroskoptisch für hohe Anforderungen an Genauigkeit, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, der'ein schnelles und genaues Spannen und Entspannen des Objektes zulässt und mit dem sowohl eine Drehung des Objektes um die optische Achse des Abbildungsstrahlenganges als auch eine geradlinige Bewegung des Objektes durchführbar ist.
Die bisher gebräuchlichen Mikroskoptische erfüllen in keiner Weise die Anforderungen, die an solche Tische bei der Auswertung von Kernspuren gestellt werden. Bisher ist es nicht oder sehr schwer möglich gewesen, ein Objekt nach Belieben abwechselnd in eine der Hauptrichtungen zu verschieben und dann dieses Objekt um einen bestimmten, genau festlegbaren Punkt, z. B. um die optische Achse, zu schwenken. Auch die bisher bekannten einfachen magnetischen Objekthalter konnten diese Forderungen nicht erfüllen.
Diese Nachteile werden gemäss der Erfindung dadurch beseitigt, dass einer den Objektträger tragenden ferromagnetischen Spannplatte zwei Elektromagnetsysteme zugeordnet sind, von denen das eine ringförmig und koaxial zum Mikroskopobjektiv messbar drehbar angeordnet ist, während das andere an dem Mikroskopkreuztisch befestigt und die Anordnung so getroffen ist, dass wahlweise das eine oder andere Magnetsystem zum Spannen benutzbar ist.
Da immer nur ein Magnetsystem in Wirkung sein darf, muss dafür Sorge getragen werden, dass der remanente Magnetismus des andern vorher eingeschaltet gewesenen Magnetsystems beseitigt wird. Andernfalls würden zu starke Widerstände bei Bewegung der Spannplatte zu überwinden sein. Hiefür sind Mittel bekannter Art vorgesehen, die bei Einschaltung des einen Elektromagnetsystems das andere Elektroma-
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Eine vorteilhafte Ausführung ergibt sich, wenn die Spannmagnete an vorzugsweise kurzhübigen Blattfedern befestigt sind, die diese im entmagnetisierten Zustand von der Spannplatte leicht abheben und damit das Reibungsmoment zwischen dem Spannmagnet und der Spannplatte beseitigt wird.
Zur Herabsetzung des Gewichtes der mit höchster Präzision geführten Spannplatte und aus Gründen der besseren Entmagnetisierung hat es sich als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn die Spannplatte aus leichtem und unmagnetischem Material mit ein-oder beidseitiger ferromagnetischer Auflage besteht.
Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung ist in der Zeichnung teilweise im Längsschnitt dargestellt.
Koaxial zu dem Objektiv 1, dem Kondensor 2 und dem Okular 3 eines Kernspurmikroskopes ist ein Radial-Kugellager angeordnet, an dessen innerem Ring mittels Blattfedern 5 ein ringförmiges Magnetsystem 6 befestigt ist. Innerhalb'dieses Magnetsystems befindet sich ein zweites Magnetsystem 7, welches mit einem Trä- ger fest verbunden und mittels Rollen 9 auf
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Mikroskoptisch 10 geradlinig verschiehbarist.
Diese beiden Magnetsystems 6 und 7 sind wahlweise einschaltbar und wirken auf eine als Träger eines zu betrachtenden Objektes 11 dienende Spannplatte 12, die auf der unteren Seite mit einer ferromagnetischen Auflage 13 versehen ist. Soll eine Drehung des auf der Spannplatte 12 befestigten'Objektes vorgenommen werden, was bei einer Richtungsänderung der zu vermessenden Kernspur erforderlich ist, so wird das vom Radiallager 4 geführte Magnetsystem 6 eingeschaltet. Infolge des dadurch entstehenden magnetischen Feldes und der Aufhängung dieses Magnetsystems mittels der Band-
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gegenSpannplatte 12 (13) und zwischen letzterer und diesem Magnetsystem 6 ist solange eine feste Kupplung hergestellt, wie der Strom eingeschaltet bleibt.
Durch Drehen dieses Magnetsystems 6 kann nun das Objekt 11 um die optische Achse des Mikroskopes um jeden beliebigen Winkel in die gewünschte Lage gedreht und das Mass der Drehung an einer nicht mitdargestellten. Skala direkt. oder im Gesichtsfeld des Okulares 3 abge- lesen werden.
Soll nun anschliessend die Kernspur in ihrer neuen Richtung verfolgt und ausgemessen werden, so muss das andere Magnetsystem 7 einge-
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schaltet werden. Dabei wird das bisher eingeschaltet gewesene Magnetsystem 6 durch Schaltmittel bekannter Art ausgeschaltet und nach einem kurzen Entmagnetisierungsstrom schnellt dieses bisher benutzte Magnetsystem 6 infolge der Blattfeder 5 in die in der Skizze mit übertriebenem Abstand von der Spannplatte dargestellten Ausgangslage zurück. Nunmehr ist das andere Magnetsystem 7 fest mit der Spannplatte 12 (13) gekuppelt und durch Verschieben des Trägers 8 auf dem Mikroskoptisch 10 mit einer in der Fig. 1 nicht mitdangestellten Mikrome- terschraube ist das Objekt 11 geradlinig im Gesichtsfeld des Mikroskops verschiebbar.
PATENTANSPRÜCHE :
1. Mikroskoptisch, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren, dadurch gekennzeichnet, dass einer den Objektträger tragenden ferromagnetischen Spannplatte zwei Elektromagnetsysteme zugeordnet sind, von denen das eine ring- förmig und koaxial zum Mikroskopobjektiv messbar, drehbar angeordnet ist, während das andere an dem Mikroskopkreuztisch befestigt unc die Anordnung so getroffen ist, dass wahlweise das eine oder andere Magnetsystem zum Spanner benutzbar ist.