AT201319B - Gerät zur Auswertung von Röntgenogrammen der Werkstoff-Feinstruktur - Google Patents

Gerät zur Auswertung von Röntgenogrammen der Werkstoff-Feinstruktur

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AT201319B
AT201319B AT201319DA AT201319B AT 201319 B AT201319 B AT 201319B AT 201319D A AT201319D A AT 201319DA AT 201319 B AT201319 B AT 201319B
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diffraction
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Frantisek Dr Khol
Jaroslav Talas
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Frantisek Dr Khol
Jaroslav Talas
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   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Gerät zur   Auswertung von Röntgenogrammen der Werkstoff-Feinstruktur   
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 



      Bei der AnalyseAuf der Messplatte3   ist ein System von zu der dem   WinkelS : =   0 entsprechenden   Grund- (Null-)   Stellung des Lineals parallelen Linien 11 aufgezeichnet. Der Abstand jeder dieser Parallellinien von der Grundstellung der imaginären Linealachse entspricht der Hälfte einer bestimmten Wellenlänge X der verwendeten charakteristischen Röntgenstrahlung. Dabei wird eine solche Vergrösserung   gewählt, dass l   dm der Länge eines   Angströms   entspricht. 



     Sobald das Röntgenogrammim Gerät   durchleuchtet wird, kann bei Drehung des Lineals im Visier die Beobachtung der einzelnen Diffraktionslinien erfolgen. Wird das Lineal so eingestellt, dass sich der Visierstrich mit der zu messenden Diffraktionslinie deckt und der Reiter am Lineal so verschoben, dass der Schnittpunkt 10 auf der der Wellenlänge der verwendeten Strahlung zur Röntgenogrammerstellung entsprechenden Geraden liegt, dann lässt sich am Linealmassstab unmittelbar der betreffende Parameter ablesen. 



   Das Gerät kann so ausgeführt werden, dass darauf Röntgenogramme ausgewertet werden können, welche in den verwendeten Kammern von verschiedenem Halbmesser und durch Röntgenstrahlung verschiedener Wellenlänge,   u. zw.   zugleich durch die charakteristische Strahlung Ka und Kss erstellt wurden. Ein weiterer Vorteil dieser Ausführung beruht darin, dass sich für jede Diffraktionslinie Kct leicht die entsprechende Linie Kss durch blosse Andrehung des Lineals   ohne Reiterverschiebung   auffinden lässt.

   Ist das Lineal so   angedreht, dass der Visierstrich die Linie Kcx   deckt und der Reiter so eingestellt, dass der Schnittpunkt 10 auf der Linie   XKot   liegt, findet man die betreffende Linie Kss'unter dem Visierstrich, wenn das Lineal so angedreht wird, dass sich der Schnittpunkt 10 auf der Linie   XKss   befindet.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH : Gerät für die Auswertung von Röntgenogrammen der Werkstoff-Feinstruktur, insbesondere von Aufnahmen nach Debye-Scherrer, mittels dessen die Gitterparameter d für jegliche Wellenlänge À der charakteristischen, für die Erstellung der Aufnahme verwendeten Röntgenstrahlung ermittelt wird, dadurch ge- EMI2.1 Diffraktionskammer und in deren Achse (4) ein Lineal (5) drehbar eingehängt ist, an welches eine Glühlampe (7), ein oder mehrere Visiere (6) mit Strichen angeschlossen sind, deren Geradeverlängerung durch die Achse (4) verläuft und die imaginäre Achse (8) des Lineals (5) darstellt, welches sich durch Andrehen auf eine beliebige, in den Visieren (6) sichtbare Diffraktionslinie einstellen lässt und auf dessen Massstab in dieser, von der Grundstellung um einen Winkele,
    welcher der beobachteten Diffraktionskurve zugeordnet ist, abweichenden Lage direkt ein bestimmtes wählbares Vielfaches des entsprechenden Parameters d als Entfernung der Drehachse des Lineals vom Schnittpunkt (10) der imaginären Linealsachse (8) mit einer parallel zur Grundstellung des Lineals in einem einem Vielfachen der Hälfte der Wellenlänge À der verwendeten charakteristischen Röntgenstrahlung gleichen Abstand verlaufenden Geraden (11), welche auf der in der Drehebene der unteren Linealfläche vorgesehenen Messplatte (3) angedeutet ist.
AT201319D 1956-04-12 1957-04-11 Gerät zur Auswertung von Röntgenogrammen der Werkstoff-Feinstruktur AT201319B (de)

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AT214174B (de) 1961-03-27

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