AT159749B - Elektrische Entladungsröhre. - Google Patents

Description

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  Elektrische   Entladungsröhre.   



   Die Erfindung bezieht sich auf eine elektrische Entladungsröhre, in der sich eine Sekundäremissionselektrode befindet, d. h. eine Elektrode, die auf wenigstens einem Teil der Oberfläche mit einem Stoff überzogen ist, aus dem, wenn er von Primärelektronen getroffen wird, sich leicht Sekundärelektronen auslösen können. 



   Es werden in der Literatur eine grosse Anzahl von Stoffen erwähnt, welche diese Eigenschaften besitzen. Meistens werden Metalle und Verbindungen von Alkali-und Erdalkalimetallen, z. B. an Cäsiumoxyd   adsorbiertes   metallisches Cäsium verwendet. 



   Anmelderin hat über diesen Gegenstand tiefgehende Untersuchungen angestellt und gefunden, dass, was die Grösse der Sekundäremission betrifft, es gar nicht   gleichgültig   ist, ob Verbindungen oder Metalle benutzt werden, sondern dass eine sehr hohe Sekundäremission erst erzielt wird, wenn eine elektrische Entladungsröhre benutzt wird, die gemäss der Erfindung eine Sekundäremissionselektrode aufweist, die wenigstens auf einem Teil ihrer Oberfläche mit einer Schicht überzogen ist, deren Dicke nicht grösser als 1 Mikron ist und die aus einer oder mehreren Verbindungen der Alkali-, Erdalkalioder Erdmetalle besteht, die praktisch kein freies Metall enthalten.

   Unter Alkalimetallen sind hier die Metalle : Lithium, Natrium, Kalium, Rubidium und Cäsium, unter den Erdalkalimetallen die Metalle Kalzium, Strontium, Barium und im vorliegenden Fall ausserdem Beryllium und Magnesium, und unter den Erdmetallen : Aluminium, Skandium, Yttrium, Lanthanium und die übrigen Metalle der Gruppe der Lanthanide (seltene Erdmetalle) und weiter Zirkonium, Titanium, Hafnium und Thorium zu verstehen. 



   Anmelderin hat   nämlich   gefunden, dass der allgemein eingenommene Standpunkt, dass Stoffe, die eine gute Primäremission besitzen, auch die beste Sekundäremission haben, falsch ist, aber dass die beste Sekundäremission erst bei Verwendung einer   Schicht   erzielt wird, die aus einer oder mehreren Verbindungen besteht, in denen sich praktisch kein. freies Metall befindet, d, h. eine Schicht, die als Primäremitter vollkommen ungeeignet sein würde. Auf diese Erkenntnis weiterbauend, besteht nun die Erfindung in der Verwendung von Schichten, die aus praktisch kein freies Metall enthaltenden Verbindungen bestehen und deren Dicke gering ist, was erforderlich ist, da die Leitfähigkeit derartiger Schichten geringer als die der mehr oder weniger freies Metall enthaltenden Schichten ist. 



   Für den oben beschriebenen Zweck kommen verschiedene Stoffe in Frage ; es werden aber vorzugsweise Oxyde oder Halogenide der Alkali-oder Erdalkalimetalle benutzt, z. B. Bariumoxyd, Cäsiumoxyd, Natriumchlorid, Kaliumchlorid,   Natriumfluorid,   Natriumbromid, Kaliumjodid, Aluminiumoxyd usw.

   In der folgenden Tabelle werden für die oben erwähnten Verbindungen, im Vergleich zu den 
 EMI1.1 
 ist zum Vergleich die notwendige Voltgeschwindigkeit der Primärelektronen angegeben. 
 EMI1.2 
 
<tb> 
<tb> Stoff <SEP> Sekundäremission <SEP> Voltgeschwindigkeit <SEP> der
<tb> Primärelektronen
<tb> BaO <SEP> 4-75 <SEP> 400 <SEP> Ti
<tb> Ba <SEP> 0-8 <SEP> 600 <SEP> V
<tb> Cs <SEP> ! <SEP> O <SEP> 4'2 <SEP> 200 <SEP> V
<tb> Cs <SEP> 0'72 <SEP> 400 <SEP> V
<tb> NaCI <SEP> 6'8 <SEP> 600 <SEP> V
<tb> NaBr <SEP> 5'fì <SEP> 300 <SEP> V
<tb> NaF <SEP> 5-7 <SEP> 300 <SEP> V
<tb> Na <SEP> 0. <SEP> 9 <SEP> 300 <SEP> y
<tb> KCI <SEP> 7-5 <SEP> 300 <SEP> r
<tb> KJ <SEP> 5-4 <SEP> 300 <SEP> r
<tb> K <SEP> 0-9 <SEP> 300 <SEP> V
<tb> Al203 <SEP> 3-0 <SEP> 300 <SEP> V
<tb> Al <SEP> 1'0 <SEP> 300 <SEP> V
<tb> 
 
 EMI1.3 
 als die der reinen Metalle.

   

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Claims (1)

1. PATENT-ANSPRUCH : Elektrische Entladungsröhre mit einer Sekundäremissionselektrode, von der wenigstens ein Teil der Oberfläche mit einer Schicht aus einer oder mehreren Verbindungen der Alkali-, Erdalkalioder Erdmetalle, insbesondere aus Oxyden oder Halogeniden der Alkali-oder Erdalkalimetalle überzogen ist, dadurch gekennzeichnet, dass diese Schicht, die nicht stärker als 1 Mikron ist, praktisch kein freies Metall enthält. **WARNUNG** Ende CLMS Feld Kannt Anfang DESC uberlappen**.