WO2022202934A1 - 表示装置の製造方法 - Google Patents

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anisotropic conductive
conductive adhesive
substrate
display device
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大樹 野田
怜司 塚尾
俊紀 白岩
一夢 渡部
直樹 林
裕 山岡
悟基 仲田
剛 齋藤
信隆 植森
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デクセリアルズ株式会社
信越化学工業株式会社
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Definitions

  • the present technology relates to a method of manufacturing a display device in which light emitting elements are arranged.
  • the present invention relates to a method of manufacturing a display device in which LED elements such as mini LEDs and micro LEDs are arranged.
  • Patent Literature 1 discloses a method of bonding LEDs with an anisotropic conductive adhesive such as ACF (Anisotropic Conductive Film).
  • the ACF is attached to the element mounting surface of the substrate all at once, so the adhesive resin and conductive particles of the ACF remain between the LED pitches. Therefore, when the light emitting element array is required to have light transmittance, the light transmission is hindered, and excellent light transmittance cannot be obtained.
  • the present technology has been proposed in view of such conventional circumstances, and provides a method of manufacturing a display device capable of shortening the tact time.
  • an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate having transparency to laser light and a wiring substrate are opposed to each other, and a laser beam is irradiated from the substrate side.
  • an anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material transparent to laser light and light emitting elements arranged on a transfer substrate are opposed to each other.
  • individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer can be transferred and arranged with high precision and high efficiency by irradiating laser light, so the tact time can be shortened.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a state in which an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate and a wiring board are opposed to each other.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a state in which individual pieces of an anisotropic conductive adhesive layer are transferred to predetermined positions on a wiring substrate and arranged by irradiating a laser beam from the substrate side.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a state in which light-emitting elements are mounted on individual pieces arranged at predetermined positions on a wiring board.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a state in which individual pieces of an anisotropic conductive adhesive layer are transferred onto a wiring substrate at electrode positions and arranged by irradiating a laser beam from the substrate side.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a state in which light emitting elements are mounted on individual pieces arranged in electrode units on a wiring substrate.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing a state in which the anisotropic conductive adhesive layer provided on the base material and the light emitting elements arranged on the transfer substrate are opposed to each other.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing a state in which individual pieces of an anisotropic conductive adhesive layer are transferred onto light emitting elements arranged on a transfer substrate by irradiating a laser beam from the substrate side.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view schematically showing a state in which the light-emitting element to which the individual piece has been transferred is re-transferred onto the wiring substrate.
  • FIG. 10 is a metallurgical microscope photograph showing individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer arranged on the plain glass.
  • FIG. 11 is an enlarged photograph of the metallurgical microscope photograph shown in FIG.
  • an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate having transparency to laser light and a wiring substrate are opposed to each other, and laser light is emitted from the substrate side.
  • the mounting step (B) for mounting the light emitting element on the piece will be described.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a state in which an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate and a wiring board are opposed to each other. As shown in FIG. 1, first, in the transfer step (A), the anisotropic conductive adhesive layer substrate 10 and the wiring substrate 20 are opposed to each other.
  • the anisotropic conductive adhesive layer substrate 10 includes a substrate 11 and an anisotropic conductive adhesive layer 12, and the anisotropic conductive adhesive layer 12 is provided on the surface of the substrate 11.
  • the substrate 11 may be any material as long as it is transparent to laser light, and is preferably made of quartz glass, which has high light transmittance over all wavelengths.
  • the anisotropic conductive adhesive layer 12 contains, for example, conductive particles 13 in a binder.
  • the anisotropic conductive adhesive layer 12 is arranged so that the conductive particles 13 are aligned in the plane direction so that they are trapped so as to obtain conduction and short circuits can be avoided. preferably configured.
  • the arrangement of the conductive particles is preferably a regular arrangement.
  • binders include epoxy-based adhesives and acrylic-based adhesives. Among them, resins having a maximum absorption wavelength in the range of 180 nm to 360 nm, and epoxy-based adhesives containing high-purity bisphenol A-type epoxy resins are used.
  • the high-purity bisphenol A type epoxy resin for example, the trade name "YL980" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation can be mentioned.
  • a cationic polymerization initiator such as an aromatic sulfonium salt type or an anionic polymerization initiator can be preferably used.
  • a specific example of the aromatic sulfonium salt cationic polymerization initiator is “SI-60L” (trade name) manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.
  • Acrylic adhesives are adhesives that utilize radical polymerization reactions, and contain, for example, radically polymerizable substances such as (meth)acrylate compounds and radical polymerization initiators such as peroxides.
  • Epoxy-based adhesives are preferable from the viewpoint of heat resistance and adhesiveness that are required when the display device is used.
  • a thermosetting anisotropic conductive adhesive layer has been described, but a photocurable anisotropic conductive adhesive layer may be used if heat is to be avoided in subsequent steps. In that case, a photopolymerization initiator may be used in place of the thermal polymerization initiator described above.
  • conductive particles 13 those used in known anisotropic conductive films can be appropriately selected and used.
  • An insulating coating treatment can be performed by coating these conductive particles with, for example, a resin layer or insulating particles such as resin particles and inorganic particles.
  • the particle diameter of the conductive particles 13 is appropriately changed depending on the area of the optical element to be mounted, the electrode of the wiring board, or the bump, but it is preferably 1 to 30 ⁇ m, more preferably 1 to 10 ⁇ m, and 1 to 10 ⁇ m. 3 ⁇ m is particularly preferred.
  • the particle diameter is preferably 1 to 2.5 ⁇ m, more preferably 1 to 2.2 ⁇ m, because the area of electrodes and bumps is small. 1 to 2 ⁇ m is particularly preferred.
  • the particle size can be obtained by measuring 200 or more particles by microscopic observation (optical microscope, metallurgical microscope, electron microscope, etc.) and averaging the particle size.
  • the metal coating thickness of the conductive particles in which the metal is coated on the resin particles or inorganic particles as described above is preferably 0.005 ⁇ m or more, more preferably 0.01 ⁇ m or more, and preferably 10 ⁇ m or less, and more preferably. is 1 ⁇ m or less, more preferably 0.3 ⁇ m or less.
  • This coating thickness is the thickness of the entire metal coating, if the metal coating is multi-layered. When the thickness of the coating is at least the above lower limit and below the above upper limit, sufficient conductivity can be easily obtained, and the characteristics of the resin particles and inorganic particles described above can be easily utilized without the conductive particles becoming too hard.
  • the coating thickness can be measured, for example, by observing the cross section of the conductive particles using a transmission electron microscope (TEM). Regarding the coating thickness, it is preferable to calculate the average value of five arbitrary coating thicknesses as the coating thickness of one conductive particle, and the average value of the thickness of the entire coating portion is calculated as the coating thickness of one conductive particle. is more preferable.
  • the coating thickness is preferably obtained by calculating the average value of the coating thickness of each conductive particle for 10 arbitrary conductive particles.
  • the shape of the conductive particles includes spherical, ellipsoidal, spike-like, and irregular shapes.
  • conductive particles having a spherical shape are preferable because the particle size and particle size distribution can be easily controlled.
  • These conductive particles may have protrusions on their surfaces in order to improve connectivity.
  • the film thickness of the anisotropic conductive adhesive layer is appropriately changed depending on the height of the optical element to be mounted, the electrode of the wiring substrate, and the bumps, but it is preferably 1 to 30 ⁇ m, more preferably 1 to 10 ⁇ m. preferable.
  • the height of electrodes and bumps is low, so the film thickness is preferably 1 to 6 ⁇ m, more preferably 1 to 5 ⁇ m, and more preferably 1 to 4 ⁇ m. It is particularly preferred to have
  • the anisotropic conductive adhesive layer By forming the anisotropic conductive adhesive layer into a film, it becomes easier to provide the anisotropic conductive adhesive layer on the substrate. From the viewpoint of handleability, it is preferable that a release film such as a polyethylene terephthalate film is provided on one side or both sides of the anisotropic conductive adhesive layer.
  • the anisotropic conductive adhesive layer can be laminated on the substrate by transferring the anisotropic conductive adhesive layer of these film-like anisotropic conductive adhesive layers to the substrate, and the anisotropic conductive adhesive layer can be laminated on the substrate.
  • An anisotropic conductive adhesive layer can also be laminated on a substrate by manufacturing a conductive adhesive layer.
  • Methods for producing an anisotropic conductive adhesive layer on a substrate include, for example, a method in which a solution of an anisotropic conductive adhesive is applied onto the substrate and dried, and an adhesive layer containing no conductive particles on the substrate. and fixing conductive particles to the resulting adhesive layer.
  • the wiring board 20 includes a circuit pattern for the first conductivity type and a circuit pattern for the second conductivity type on the substrate 21, and the light emitting elements are arranged in units of sub-pixels constituting one pixel.
  • a first electrode 22 and a second electrode 23 are provided at positions corresponding to the p-side first conductivity type electrode and the n-side second conductivity type electrode, respectively.
  • the wiring board 20 forms circuit patterns such as data lines and address lines of matrix wiring, for example, and enables turning on/off of light emitting elements corresponding to each sub-pixel constituting one pixel.
  • One pixel may be composed of, for example, three sub-pixels of R (red), G (green) and B (blue), or may be composed of four sub-pixels of RGBW (white) and RGBY (yellow). , RG, and GB.
  • the wiring board 20 is preferably a light-transmitting board
  • the base material 21 is preferably glass, PET (Polyethylene Terephthalate), or the like
  • the circuit pattern, the first electrode 22 and the second electrode 23 are made of ITO.
  • ITO Indium-Tin-Oxide
  • IZO Indium-Zinc-Oxide
  • ZnO Zinc-Oxide
  • IGZO Indium-Gallium-Zinc-Oxide
  • other transparent conductive films are preferred.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a state in which individual pieces of an anisotropic conductive adhesive layer are transferred to predetermined positions on a wiring substrate by irradiating a laser beam from the substrate side and arranged.
  • a laser beam is irradiated from the substrate 11 side, and individual pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 are transferred to predetermined positions on the wiring substrate 21 and arranged.
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on the substrate is pretreated so that the individual pieces are arranged in a matrix.
  • a pretreatment for example, there is a method of providing an anisotropic conductive adhesive layer with grid-like cuts in which a plurality of vertical cuts and horizontal cuts intersect. This incision may be provided by a mechanical method or a chemical method. Of course, the cuts may be provided by burning them off with a laser beam.
  • a plurality of individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer can be arranged in a matrix on the substrate, and the individual pieces can be easily transferred by laser light.
  • the cut does not necessarily have to be deep enough to expose the substrate, and even if the cut does not expose the substrate, the transferability by the laser beam is improved. Even if such a pretreatment is performed after the anisotropic conductive adhesive layer is formed on the substrate, it may be performed before the anisotropic conductive adhesive layer is formed on the substrate, that is, at the stage of the film-like anisotropic conductive adhesive layer. good too.
  • the individual pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 can be arranged in units of one pixel (for example, one pixel of one set of RGB), and sub-pixels constituting one pixel (for example, any They can also be arranged in units of RGB). This makes it possible to deal with light emitting element arrays with high PPI (Pixels Per Inch) to light emitting element arrays with low PPI.
  • PPI Pixel Per Inch
  • the transfer step (A) it is preferable to arrange the individual pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 in units of one pixel or a plurality of pixels.
  • the light-emitting elements are arranged as a set of 3 pixels or a set of 6 pixels including 3 pixels of the redundant circuit of RGB. may be transferred in units of one pixel, or may be arranged in units of electrodes.
  • the anisotropic conductive film may be transferred within a range that does not impair transparency, for example, within a range of 1 mm ⁇ 1 mm.
  • the film-like anisotropic conductive adhesive layer is made into a tape shape, and the width of the tape is set to one pixel, so that the above-described incision is made. It can be in only one direction (the width direction of the tape).
  • the tape width for one pixel does not mean a length equal to the size of one pixel, but means a length that does not interfere with adjacent pixels, although it depends on the spacing between pixels.
  • the distance between pieces arranged at predetermined positions on the wiring substrate 20 is preferably 3 ⁇ m or more, more preferably 5 ⁇ m or more, and still more preferably 10 ⁇ m or more.
  • the upper limit of the distance between pieces is preferably 3000 ⁇ m or less, more preferably 1000 ⁇ m or less, and even more preferably 500 ⁇ m or less. If the distance between the pieces is too small, the method of attaching the anisotropic conductive film to the entire surface of the wiring board 20 is preferable. A method of sticking to the The distance between individual pieces can be measured using microscopic observation (optical microscope, metallurgical microscope, electron microscope, etc.).
  • a lift (LIFT: Laser Induced Forward Transfer) device For transferring the individual pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12, for example, a lift (LIFT: Laser Induced Forward Transfer) device can be used.
  • the lift device includes, for example, a telescope that converts the pulsed laser light emitted from the laser device into parallel light, a shaping optical system that uniformly shapes the spatial intensity distribution of the pulsed laser light that has passed through the telescope, and a shaping optical system.
  • a mask that passes shaped pulsed laser light in a predetermined pattern, a field lens positioned between the shaping optical system and the mask, and a projection lens that reduces and projects the laser light that has passed through the pattern of the mask onto a donor substrate.
  • an anisotropic conductive adhesive layer substrate 10 as a donor substrate is held on the donor stage, and a wiring substrate 21 as a receptor substrate is held on the receptor stage.
  • the distance between the anisotropic conductive adhesive layer 12 and the wiring board 20 is preferably 10-1000 ⁇ m, more preferably 50-500 ⁇ m, and even more preferably 80-200 ⁇ m.
  • an excimer laser that oscillates laser light with a wavelength of 180 nm to 360 nm can be used.
  • the excimer laser has oscillation wavelengths of, for example, 193, 248, 308, and 351 nm, and can be suitably selected from among these oscillation wavelengths according to the light absorption of the material of the anisotropic conductive adhesive layer 12 .
  • a pattern is used in which an array of windows of a predetermined size is formed at a predetermined pitch so that projection on the interface between the base material 11 and the anisotropic conductive adhesive layer 12 results in a desired array of laser light.
  • the substrate 11 is patterned by, for example, chromium plating, and the window portions not plated with chrome transmit the laser light, and the portions plated with chrome block the laser light.
  • the emitted light from the laser device enters the telescope optical system and propagates to the shaping optical system beyond that.
  • the laser light immediately before entering the shaping optical system is adjusted by the telescope optical system so that it is generally parallel light at any position within the X-axis movement range of the donor stage. They are generally incident on the optical system at the same size and at the same angle (perpendicular).
  • the laser light that has passed through the shaping optical system enters the mask through a field lens that forms an image-side telecentric reduction projection optical system in combination with the projection lens.
  • the laser light that has passed through the mask pattern changes its propagation direction vertically downward by the epi-illumination mirror and enters the projection lens.
  • the laser light emitted from the projection lens is incident from the side of the substrate 11, and is accurately applied to a predetermined position of the anisotropic conductive adhesive layer 12 formed on the surface (lower surface) of the substrate 11 by reducing the size of the mask pattern. projected onto.
  • the pulse energy of the image-forming laser light irradiated to the interface between the anisotropic conductive adhesive layer and the substrate is preferably 0.001 to 2 J, more preferably 0.01 to 1.5 J, and even more preferably. is between 0.1 and 1 J.
  • the fluence is preferably 0.001 to 2 J/cm 2 , more preferably 0.01 to 1 J/cm 2 , still more preferably 0.05 to 0.5 J/cm 2 .
  • the pulse width (irradiation time) is preferably 0.01 to 1 ⁇ 10 9 picoseconds, more preferably 0.1 to 1 ⁇ 10 7 picoseconds, still more preferably 1 to 1 ⁇ 10 5 picoseconds. is.
  • the pulse frequency is preferably 0.1 to 10000 Hz, more preferably 1 to 1000 Hz, still more preferably 1 to 100 Hz.
  • the number of irradiation pulses is preferably 1 to 30,000,000.
  • a shock wave is generated in the anisotropic conductive adhesive layer 12 irradiated with laser light at the interface between the base material 11 and the anisotropic conductive adhesive layer 12, and a plurality of individual pieces are produced.
  • 12 a can be peeled off from the base material 11 and lifted toward the wiring board 20 , and the plurality of individual pieces 12 a can be landed on predetermined positions of the wiring board 20 .
  • Such a transfer method is called laser lift-off, and is, for example, a method using laser ablation.
  • the individual pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 can be transferred and arranged on the wiring substrate 20 with high precision and high efficiency, and the tact time can be shortened.
  • the reaction rate of the pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 after the transfer step (A) is preferably 25% or less, more preferably 20% or less, and even more preferably 15% or less.
  • the reaction rate of the piece 12a is 25% or less, it becomes possible to thermocompress the light emitting element in the mounting step (B). Measurement of the reaction rate can be obtained using, for example, FT-IR.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a state in which light-emitting elements are mounted on individual pieces arranged at predetermined positions on a wiring board. As shown in FIG. 3, in the mounting step (B), the light emitting elements 30 are mounted on the pieces 12a arranged at predetermined positions on the wiring substrate 20. As shown in FIG. 3, in the mounting step (B), the light emitting elements 30 are mounted on the pieces 12a arranged at predetermined positions on the wiring substrate 20. As shown in FIG.
  • the light emitting element 30 includes a main body 31, a first conductivity type electrode 32, and a second conductivity type electrode 33.
  • the first conductivity type electrode 32 and the second conductivity type electrode 33 are arranged on the same side. It has a horizontal structure.
  • the main body 31 includes a first conductivity type clad layer made of, for example, n-GaN, an active layer made of, for example, an In x Al y Ga 1-xy N layer, and a second conductivity type clad layer made of, for example, p-GaN. and has a so-called double heterostructure.
  • the first-conductivity-type electrode 32 is formed on a portion of the first-conductivity-type clad layer by the passivation layer, and the second-conductivity-type electrode 33 is formed on a portion of the second-conductivity-type clad layer.
  • a voltage is applied between the first-conductivity-type electrode 32 and the second-conductivity-type electrode 33, carriers concentrate in the active layer and recombine to generate light emission.
  • the method of mounting the light emitting element 30 on the wiring board 20 is not particularly limited, but for example, a method of directly transferring and arranging the light emitting element 30 from the wafer substrate to the wiring board 20 by a laser lift-off method (LLO method), or , a method of transferring and arranging the light emitting elements 30 from the transfer substrate to the wiring substrate 20 using a transfer substrate to which the light emitting elements 30 are adhered in advance.
  • LLO method laser lift-off method
  • a method for thermocompression bonding the light emitting element 30 to the wiring substrate 20 a connection method used in a known anisotropic conductive film can be appropriately selected and used.
  • the light emitting elements 30 can be anisotropically connected on the wiring board 20 in a state where the wiring board 20 is exposed without an anisotropic conductive adhesive layer between the light emitting elements 30 .
  • the wiring substrate 20 as a light-transmitting substrate, it is possible to obtain superior light transmittance compared to the case where the anisotropic conductive film is attached to the entire surface of the wiring substrate 20 .
  • the pieces 12a of the anisotropic conductive adhesive layer 12 are precisely and efficiently attached to the wiring board 20 by irradiation with laser light. Since the patterns can be transferred and arranged, the tact time can be shortened.
  • a method for manufacturing a display device as a display is taken as an example, but the present technology is not limited to this, and can be applied to a method for manufacturing a light-emitting device as a light source, for example. can.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a state in which a laser beam is irradiated from the substrate side, and individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer are transferred onto the wiring substrate at the electrode positions and arranged
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a state in which light-emitting elements are mounted on pieces arranged in electrode units on a wiring board;
  • the first individual piece 14 and the second individual piece 15 are respectively transferred, and as shown in FIG. A light emitting element 30 may be mounted. Thereby, the transparency of the display device can be improved.
  • an anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material having transparency to laser light and light emitting elements arranged on a transfer substrate are opposed to each other,
  • a transfer step in which individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer are transferred onto the light-emitting elements arranged on the transfer substrate by irradiating laser light from the substrate side, and the light-emitting elements to which the individual pieces have been transferred are re-transferred onto the wiring substrate. It has a retransfer step of transferring and a mounting step of mounting the light emitting elements arranged at predetermined positions on the wiring substrate via the individual pieces. Since individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer can be transferred and arranged with high precision and high efficiency by irradiation with laser light, the tact time can be shortened.
  • a transfer step (A1) for transferring individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer onto light emitting elements arranged on a transfer substrate, and a light emitting element to which the individual pieces have been transferred are transferred.
  • a retransfer step (A2) of retransferring onto the wiring board and a mounting step (BB) of mounting the light emitting elements arranged at predetermined positions on the wiring board through the individual pieces will be described.
  • symbol is attached
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing a state in which an anisotropic conductive adhesive layer provided on a substrate and light emitting elements arranged on a transfer substrate are opposed to each other
  • FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing an anisotropic conductive adhesive layer formed thereon; As shown in FIG. 6, first, in the transfer step (A1), the anisotropic conductive adhesive layer substrate 10 and the transfer substrate 40 are opposed to each other.
  • the transfer substrate 40 includes a base material 41 and the light emitting elements 30 arranged on the base material 41 .
  • the base material 41 is appropriately selected according to the transfer method of the retransfer step (A2) described later.
  • the substrate 41 may be any material as long as it has transparency to the laser beam, and among others, it is quartz glass having high light transmittance over all wavelengths. is preferred.
  • a silicone rubber layer may be provided.
  • a transfer method using laser ablation called laser lift-off can be used.
  • ablation as shown in FIG. 7, conductive particles should not be present in a region X of 0 to 0.05 ⁇ m in the thickness direction from the surface of the anisotropic conductive adhesive layer 12 on which the base material 11 is provided. is preferred.
  • the anisotropic conductive adhesive layer 12 has a strong effect of ablation in a region X of 0 to 0.05 ⁇ m in the thickness direction from the surface on which the base material 11 is provided. Therefore, it is preferable that no conductive particles are present in this region X. In other words, it is preferable that all the conductive particles are present in the anisotropic conductive adhesive layer except for the region X without protruding.
  • the state in which no conductive particles are present in a certain region means, for example, not only the state in which the entire conductive particles are not present in the region, but also the state in which a portion of the conductive particles is not included.
  • the number of conductive particles mixed in the region X is the total number of conductive particles contained in the anisotropic conductive adhesive layer. It is preferably 5% or less of the number, more preferably 1% or less.
  • the thickness t of the region X of the anisotropic conductive adhesive layer 12 may be 0 to 0.05 ⁇ m in the thickness direction from the surface on which the base material 11 is provided, so that deterioration of the conductive particles due to abrasion can be suppressed more reliably.
  • the thickness t is 0 to 0.1 ⁇ m, more preferably 0 to 0.15 ⁇ m, particularly preferably 0 to 0.2 ⁇ m, and no conductive particles are present in this region.
  • the number of conductive particles mixed in the regions is not included in the anisotropic conductive adhesive layer. It is preferably 5% or less, more preferably 1% or less, of the total number of conductive particles contained.
  • the conductive particles are composed of a metal containing a metal having a melting point of 1400° C. or higher among the metals constituting the conductive particles.
  • the upper limit of the melting point is preferably about 3500° C. from the standpoint of availability.
  • the metal constituting the conductive particles preferably contains nickel, palladium, or ruthenium.
  • the thickness of the metal coating is preferably 0.08 ⁇ m or more, more preferably 0.1 ⁇ m or more, particularly preferably 0.15 ⁇ m or more, and most preferably 0.2 ⁇ m or more. Most preferred. Although the upper limit of the coating thickness depends on the diameter of the conductive particles, it is preferably about 20% of the diameter of the conductive particles or about 0.5 ⁇ m.
  • Such an anisotropic conductive adhesive layer can be applied not only to the second embodiment, but also to the first embodiment, its modifications, and other forms.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing a state in which individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer are transferred onto the light emitting elements arranged on the transfer substrate by irradiating laser light from the substrate side.
  • a laser beam is irradiated from the base material 11 side to transfer the individual pieces 16 of the anisotropic conductive adhesive layer 12 to predetermined positions on the wiring board 21 and arrange them.
  • a laser beam is irradiated from the base material 11 side to transfer the pieces 16 of the anisotropic conductive adhesive layer 12 onto the light emitting elements 30 arranged on the transfer substrate.
  • a lift device can be used to transfer the piece 16 of the anisotropic conductive adhesive layer 12, as in the first embodiment described above.
  • a shock wave is generated in the anisotropic conductive adhesive layer 12 irradiated with laser light at the boundary surface between the base material 11 and the anisotropic conductive adhesive layer 12, and the plurality of pieces 16 are separated from each other.
  • the individual pieces 16 can be lifted toward the light emitting elements 30 separated from the material 11 and arranged on the transfer substrate, and can be landed on the light emitting elements 30 with high accuracy, thereby shortening the tact time.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view schematically showing a state in which the light-emitting element to which the individual piece has been transferred is re-transferred onto the wiring substrate.
  • the light emitting elements 30 to which the pieces 16 have been transferred are retransferred onto the wiring board.
  • the retransfer method is not particularly limited, but for example, a method of directly transferring and arranging the light emitting elements 30 having the individual pieces 16 transferred from the transfer substrate 40 to the wiring substrate 20 by a laser lift-off method (LLO method). , a method of transferring and arranging the light emitting elements 30 from the transfer substrate 40 to the wiring substrate 20 using a transfer substrate to which the light emitting elements 30 to which the pieces 16 have been transferred are adhered in advance.
  • LLO method laser lift-off method
  • the retransfer step (A2) it is preferable to transfer the light emitting element 30 in units of sub-pixels constituting one pixel. This makes it possible to deal with light emitting element arrays with high PPI (Pixels Per Inch) to light emitting element arrays with low PPI.
  • PPI Pixel Per Inch
  • the light emitting elements 30 arranged at predetermined positions on the wiring substrate 20 are mounted via the piece 16 .
  • the state in which the light emitting element 30 is mounted is the same as in FIG.
  • a connection method such as thermocompression bonding used in a known anisotropic conductive film can be appropriately selected and used.
  • the light emitting elements 30 can be anisotropically connected on the wiring board 20 in a state where the wiring board 20 is exposed without an anisotropic conductive adhesive layer between the light emitting elements 30 .
  • the wiring substrate 20 as a light-transmitting substrate, it is possible to obtain superior light transmittance compared to the case where the anisotropic conductive film is attached to the entire surface of the wiring substrate 20 .
  • the individual pieces 16 of the anisotropic conductive adhesive layer 12 are accurately and efficiently formed into the light emitting elements 30 by irradiation with laser light. Since the patterns can be transferred and arranged, the tact time can be shortened.
  • Example> an anisotropic conductive adhesive layer provided on quartz glass and plain glass are opposed to each other, and a laser beam is irradiated from the base material side so that individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer are attached to predetermined positions of the plain glass. were transcribed and sequenced. Then, the individual pieces arranged on the plain glass were evaluated by visual observation with a metallurgical microscope.
  • the present embodiment is not limited to these.
  • anisotropic conductive adhesive layer An anisotropic conductive adhesive layer in which conductive particles with an average particle size of 2.2 ⁇ m are aligned is laminated on quartz glass to prepare an anisotropic conductive adhesive layer substrate in which an anisotropic conductive adhesive layer with a thickness of 4 ⁇ m is provided on the quartz glass. did.
  • the binder of the anisotropic conductive adhesive layer is 42 parts by mass of phenoxy resin (trade name: PKHH, manufactured by Tomoe Chemical Industry Co., Ltd.) and high-purity bisphenol A type epoxy resin (trade name: YL-980, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).
  • the lift device includes a telescope that converts the pulsed laser beam emitted from the laser device into parallel beams, a shaping optical system that uniformly shapes the spatial intensity distribution of the pulsed laser beam that has passed through the telescope, and a shaping optical system.
  • An anisotropic conductive adhesive layer substrate as a donor substrate is held on a donor stage, a plain glass as a receptor substrate is held on a receptor stage, and an anisotropic conductive adhesive layer and raw glass are held on a receptor stage.
  • the distance between them was set to 100 ⁇ m.
  • An excimer laser having an oscillation wavelength of 248 nm was used as a laser device.
  • the pulse energy of the laser light was 600 J
  • the fluence was 150 J/cm 2
  • the pulse width (irradiation time) was 30000 picoseconds
  • the pulse frequency was 0.01 kHz
  • the number of irradiation pulses was 1 pulse for each ACF piece.
  • the pulse energy of the imaged laser light irradiated to the interface between the anisotropic conductive adhesive layer and the substrate is 0.001 to 2 J
  • the fluence is 0.001 to 2 J/cm 2 .
  • the pulse width (irradiation time) was 0.01 to 1 ⁇ 10 9 picoseconds
  • the pulse frequency was 0.1 to 10000 Hz
  • the number of irradiation pulses was 1 to 30,000,000. .
  • the mask projected on the interface between the anisotropic conductive adhesive layer of the anisotropic conductive adhesive layer substrate as the donor substrate and the quartz glass was an array of laser beams of 30 ⁇ m long ⁇ 40 ⁇ m wide with a pitch of 120 ⁇ m long and 160 ⁇ m wide.
  • a pattern in which an array of windows of a predetermined size is formed at a predetermined pitch is used.
  • FIG. 10 is a metallographic photograph showing individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer arranged on the plain glass
  • FIG. 11 is an enlarged photograph of the metallographic photograph shown in FIG.
  • FIGS. 10 and 11 it was confirmed that the pieces of the anisotropic conductive adhesive layer were transferred onto the plain glass according to the pattern of the mask. That is, it was found that individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer can be transferred and arranged with high accuracy and high efficiency by irradiating laser light, and the tact time can be shortened.
  • the embodiments of the present invention have been described in detail above.
  • the present invention can be expressed from different viewpoints as follows (1) to (29) and (U1) to (U18).
  • (1) An anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material having transparency to laser light and a wiring board are opposed to each other, and the anisotropic conductive adhesive layer is formed by irradiating a laser beam from the base material side.
  • the method of manufacturing a display device according to any one of (9) to (12), wherein the metal forming the conductive particles includes a metal having a melting point of 1400° C. or higher.
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material transparent to laser light and the light emitting elements arranged on the transfer substrate are opposed to each other, and the laser light is irradiated from the base material side to obtain the above-described a transfer step of transferring individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer onto the light emitting elements arranged on the transfer substrate; a re-transfer step of re-transferring the light-emitting element to which the individual pieces have been transferred onto the wiring substrate; and a mounting step of mounting the light emitting elements arranged at predetermined positions on the wiring board through the individual pieces.
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on the substrate and the light emitting elements arranged on the transfer substrate are opposed to each other, and the anisotropic conductive adhesive layer is individually irradiated with a laser beam from the substrate side. onto the light emitting elements arranged on the transfer substrate.
  • the conductive particles are metal-coated resin particles obtained by coating the surfaces of resin particles with metal, or metal-coated inorganic particles obtained by coating the surfaces of resin inorganic particles with metal,
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material having transparency to laser light and the wiring substrate are opposed to each other, and the anisotropic conductive adhesive layer is formed by irradiating the laser light from the base material side.
  • a transfer mechanism for transferring and arranging the individual pieces of the wiring board at a predetermined position A manufacturing system for a display device, comprising: a mounting mechanism for mounting light-emitting elements on individual pieces arranged at predetermined positions on the wiring substrate.
  • U2 The display device manufacturing system according to (U1), wherein the transfer mechanism arranges the individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer in units of one pixel.
  • (U3) The display device manufacturing system according to (U1), wherein the transfer mechanism arranges the individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer in units of sub-pixels constituting one pixel.
  • (U4) The display device manufacturing system according to (U1), wherein the transfer mechanism arranges the individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer in units of a plurality of pixels.
  • (U5) The display device manufacturing system according to (U1), wherein the transfer mechanism arranges individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer in units of electrodes of the light emitting elements.
  • (U6) The display device manufacturing system according to any one of (U1) to (U5), wherein a distance between pieces arranged at predetermined positions on the wiring substrate is 3 ⁇ m or more.
  • (U7) The display device manufacturing system according to any one of (U1) to (U6), wherein the reaction rate of the piece after transfer by the transfer mechanism is 25% or less.
  • the laser light has a wavelength of 180 nm to 360 nm;
  • (U9) The display device manufacturing system according to any one of (U1) to (U8), wherein the anisotropic conductive adhesive layer contains conductive particles.
  • (U10) The display device manufacturing system according to (U9), wherein the anisotropic conductive adhesive layer is configured by aligning the conductive particles in a plane direction.
  • Equipment manufacturing system. The conductive particles are metal-coated resin particles obtained by coating the surface of resin particles with a metal, or metal-coated inorganic particles obtained by coating the surfaces of inorganic particles with a metal, The display device manufacturing system according to any one of (U9) to (U11), wherein the metal coating has a thickness of 0.15 ⁇ m or more.
  • the display device manufacturing system according to any one of (U9) to (U12), wherein the metal forming the conductive particles includes a metal having a melting point of 1400° C. or higher.
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on a base material transparent to laser light and the light emitting elements arranged on the transfer substrate are opposed to each other, and the laser light is irradiated from the base material side to form the above-mentioned a transfer mechanism for transferring individual pieces of the anisotropic conductive adhesive layer onto the light emitting elements arranged on the transfer substrate; a re-transfer mechanism for re-transferring the light-emitting elements to which the individual pieces have been transferred onto the wiring substrate;
  • a manufacturing system for a display device comprising: a mounting mechanism for mounting light-emitting elements arranged at predetermined positions on the wiring substrate through the individual pieces.
  • the anisotropic conductive adhesive layer provided on the substrate and the light-emitting elements arranged on the transfer substrate are opposed to each other, and the anisotropic conductive adhesive layer is individually formed by irradiating laser light from the substrate side. onto the light emitting elements arranged on the transfer substrate.
  • Substrate 11 Base Material 12 Anisotropic Conductive Adhesive Layer 12a Piece 13 Conductive Particle 20 Wiring Board 21 Base Material 22 First Electrode 23 Second Electrode 30 Light Emitting Element 31 , 32 First First conductivity type electrode 33 second conductivity type electrode 40 transfer substrate 41 base material

Landscapes

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Abstract

タクトタイムの短縮化を図ることができる表示装置の製造方法を提供する。レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、基材側からレーザー光を照射して異方性導電接着層の個片を配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程と、配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程とを有する。レーザー光の照射により異方性導電接着層の個片を高精度及び高効率に転写、配列させることができる。

Description

表示装置の製造方法
　本技術は、発光素子が配列してなる表示装置の製造方法に関する。特にミニＬＥＤ、マイクロＬＥＤ等のＬＥＤ素子が配列してなる表示装置の製造方法に関する。本出願は、日本国において２０２１年３月２６日に出願された日本特許出願番号特願２０２１－０５４１３８を基礎として優先権を主張するものであり、この出願は参照されることにより、本出願に援用される。
　従来、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）などの発光素子を複数個配列させて発光素子アレイを構成する表示装置が提案されている。特許文献１には、ＬＥＤをＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film）などの異方導電性接着剤で接合する工法が開示されている。
　特許文献１に記載の工法では、ＡＣＦを基板の素子搭載面に一括で貼り付けるため、ＡＣＦの接着樹脂及び導電粒子が各ＬＥＤピッチ間に残存してしまう。このため、発光素子アレイに光透過性が求められる場合、光の透過を妨げてしまい、優れた光透過性を得ることができない。
　一方、ＡＣＦをＬＥＤの直下のみに貼り付ける場合は、貼付だけでかなりの時間が必要となってしまい、タクトタイムが悪化してしまう。
米国特許出願公開第２０１５／０２５５５０５号明細書
　本技術は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、タクトタイムの短縮化を図ることができる表示装置の製造方法を提供する。
　本技術に係る表示装置の製造方法は、レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程と、前記配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程とを有する。
　本技術に係る表示装置の製造方法は、レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程と、前記個片が転写された発光素子を前記配線基板上に再転写させる再転写工程と、前記個片を介して前記配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装工程とを有する。
　本技術によれば、レーザー光の照射により異方性導電接着層の個片を高精度及び高効率に転写、配列させることができるため、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
図１は、基材に設けられた異方性導電接着層と、配線基板とを対向させた状態を模式的に示す断面図である。 図２は、基板側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を配線基板の所定位置に転写し、配列させた状態を模式的に示す断面図である。 図３は、配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装させた状態を模式的に示す断面図である。 図４は、基板側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を配線基板上に電極位置で転写し、配列させた状態を模式的に示す断面図である。 図５は、配線基板に電極単位で配列した個片上に発光素子を実装させた状態を模式的に示す断面図である。 図６は、基材に設けられた異方性導電接着層と、転写基板に配列された発光素子とを対向させた状態を模式的に示す断面図である。 図７は、基材に設けられた異方性導電接着層を模式的に示す断面図である。 図８は、基材側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を転写基板に配列された発光素子上に転写させた状態を模式的に示す断面図である。 図９は、個片が転写された発光素子を配線基板上に再転写させる状態を模式的に示す断面図である。 図１０は、素ガラス上に配列された異方性導電接着層の個片を示す金属顕微鏡写真である。 図１１は、図４に示す金属顕微鏡写真の拡大写真である。
　以下、本技術の実施の形態について、図面を参照しながら下記順序にて詳細に説明する。
１．表示装置の製造方法
２．実施例
　＜１．表示装置の製造方法＞
　［第１の実施の形態］
　第１の実施の形態に係る表示装置の製造方法は、レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、基材側からレーザー光を照射して異方性導電接着層の個片を配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程と、配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程とを有する。レーザー光の照射により異方性導電接着層の個片を高精度及び高効率に転写、配列させることができるため、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
　以下、図１～図３を参照して、異方性導電接着層の個片を配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程（Ａ）、及び、配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程（Ｂ）について説明する。
　［転写工程（Ａ）］
　図１は、基材に設けられた異方性導電接着層と、配線基板とを対向させた状態を模式的に示す断面図である。図１に示すように、先ず、転写工程（Ａ）では、異方性導電接着層基板１０と配線基板２０とを対向させる。
　異方性導電接着層基板１０は、基材１１と異方性導電接着層１２とを備え、基材１１表面に異方性導電接着層１２が設けられている。基板１１は、レーザー光に対して透過性を有するものであればよく、中でも全波長に亘って高い光透過率を有する石英ガラスであることが好ましい。
　異方性導電接着層１２は、例えば、バインダー中に導電粒子１３を含有する。また、異方性導電接着層１２は、レーザーによる転写性の観点から、導電粒子１３を面方向に整列することで、導通が得られるように捕捉されることと、ショートの回避ができるように構成されていることが好ましい。導電粒子の整列は規則的な配列であることが好ましい。一例として、特許６１１９７１８号が挙げられる。バインダーとしては、例えば、エポキシ系接着剤やアクリル系接着剤が挙げられ、それらの中でも波長１８０ｎｍ～３６０ｎｍに極大吸収波長を持つ樹脂や、高純度ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂などを含むエポキシ系接着剤を好ましく用いることができる。高純度ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂の具体例としては、例えば三菱ケミカル社製の商品名「ＹＬ９８０」を挙げることができる。また、エポキシ系接着剤に含有されるエポキシ樹脂硬化剤としては、例えば、芳香族スルホニウム塩系などのカチオン重合開始剤やアニオン重合開始剤を好ましく用いることができる。芳香族スルホニウム塩系のカチオン重合開始剤の具体例としては、例えば三新化学工業株式会社製の商品名「ＳＩ－６０Ｌ」を挙げることができる。また、アクリル系接着剤は、ラジカル重合反応を利用した接着剤であり、例えば、（メタ）アクリレート化合物などのラジカル重合性物質と、過酸化物などのラジカル重合開始剤とを含有する。表示装置の使用時に求められる耐熱性や接着性の観点からは、エポキシ系接着剤であることが好ましい。なお、ここでは熱硬化系の異方性導電接着層を説明したが、後の工程で熱を避けたい場合などには光硬化系の異方性導電接着層を用いてもよい。その場合、前述した熱重合開始剤にかえて光重合開始剤を使用すればよい。
　導電粒子１３としては、公知の異方性導電フィルムにおいて使用されているものを適宜選択して使用することができる。例えば、ニッケル（融点　１４５５℃）、銅（融点　１０８５℃）、銀（融点　９６１．８℃）、金（融点　１０６４℃）、パラジウム（融点　１５５５℃）、錫（融点　２３１．９℃）、ホウ化ニッケル（融点　１２３０℃）、ルテニウム（融点　２３３４℃）、錫合金であるはんだ等の金属粒子、ポリアミド、ポリベンゾグアナミン、スチレン及びジビニルベンゼンから選ばれる少なくとも１種のモノマーをモノマー単位として含むポリマー等の樹脂粒子の表面をニッケル、銅、銀、金、パラジウム、錫、ホウ化ニッケル、ルテニウムなどの金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、シリカ、アルミナ、チタン酸バリウム、ジルコニア、カーボンブラック、ケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、鉛ガラス、ソーダ石灰ガラス及びアルミナシリケートガラス等の無機粒子の表面をニッケル、銅、銀、金、パラジウム、錫、ホウ化ニッケル、ルテニウムなどの金属で被覆した金属被覆無機粒子などを挙げることができる。上記金属粒子は、上述した金属により被覆されていてもよい。また、金属被覆樹脂粒子及び金属被覆無機粒子における金属層は単層でもよいし異種金属の複層から形成されていてもよい。
　これら導電粒子を、例えば、樹脂層や、樹脂粒子、無機粒子等の絶縁性粒子にて被覆することにより絶縁被覆処理を施すことができる。導電粒子１３の粒子径は、実装される光学素子や配線基板の電極やバンプの面積により適宜変更されるが、１～３０μｍであることが好ましく、１～１０μｍであることがより好ましく、１～３μｍであることが特に好ましい。マイクロＬＥＤ素子の実装に使用される場合には、電極やバンプの面積が小さいため、この粒子径は、１～２．５μｍであることが好ましく、１～２．２μｍであることがより好ましく、１～２μｍであることが特に好ましい。粒子径は、顕微鏡観察（光学顕微鏡、金属顕微鏡、電子顕微鏡など）で２００個以上を計測し、平均から粒子径を求めることができる。
　また、前述したような樹脂粒子又は無機粒子に金属を被覆した導電粒子における、金属の被覆厚みは、好ましくは０．００５μｍ以上、より好ましくは０．０１μｍ以上であり、好ましくは１０μｍ以下、より好ましくは１μｍ以下、さらに好ましくは０．３μｍ以下である。この被覆厚みは、金属被覆が複層である場合、金属被覆全体の厚みである。この被覆厚みが、上記下限以上及び上記上限以下であると、十分な導電性が得られやすく、また導電粒子が硬くなりすぎずに、前述した樹脂粒子や無機粒子の特性を活かしやすい。
　上記被覆厚みは、例えば、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いて、導電粒子の断面を観察することにより測定できる。上記被覆厚みについては、任意の被覆厚み５箇所の平均値を１個の導電粒子の被覆厚みとして算出することが好ましく、被覆部全体の厚みの平均値を１個の導電粒子の被覆厚みとして算出することがより好ましい。上記被覆厚みは、任意の導電粒子１０個について、各導電粒子の被覆厚みの平均値を算出することにより求めることが好ましい。
　また、導電粒子の形状としては、球状、楕円体状、スパイク状、不定形状等の形状が挙げられる。これらの中でも、粒子径や粒度分布の制御が容易であることから球状の形状である導電粒子が好ましい。これらの導電粒子は接続性を向上させるために、表面に突起を有していてもよい。
　異方性導電接着層の膜厚は、実装される光学素子や配線基板の電極やバンプの高さにより適宜変更されるが、１～３０μｍであることが好ましく、１～１０μｍであることがより好ましい。マイクロＬＥＤ素子の実装に使用される場合には、電極やバンプの高さが低いため、この膜厚は１～６μｍであることが好ましく、１～５μｍであることがより好ましく、１～４μｍであることが特に好ましい。
　異方性導電接着層は、フィルム状にすることで、前記基材に異方性導電接着層を設けることが容易となる。取り扱い性の観点からは、異方性導電接着層の片面又は両面にポリエチレンテレフタレートフィルム等の離型性フィルムを設けたものであることが好ましい。
　これらのフィルム状異方性導電接着層の異方性導電接着層を基材に転写することで基材上に異方性導電接着層を積層することもできるし、基材上で異方性導電接着層を製造することで基材上に異方性導電接着層を積層することもできる。基材上で異方性導電接着層を製造する方法としては、例えば、基材上に異方性導電接着剤の溶液を塗布、乾燥する方法や、基材上に導電粒子を含まない接着層を形成し、得られた接着層に導電粒子を固定する方法などが挙げられる。
　配線基板２０は、基材２１上に第１導電型用回路パターンと、第２導電型用回路パターンとを備え、発光素子が１画素を構成するサブピクセル（副画素）単位で配置されるように、例えばｐ側の第１導電型電極及びｎ側の第２導電型電極に対応する位置にそれぞれ第１電極２２及び第２電極２３を有する。また、配線基板２０は、例えばマトリクス配線のデータ線、アドレス線などの回路パターンを形成し、１画素を構成する各サブピクセルに対応する発光素子をオンオフ可能とする。１画素は、例えば、Ｒ（赤）Ｇ（緑）Ｂ（青）の３個のサブピクセルで構成しても、ＲＧＢＷ（白）、ＲＧＢＹ（黄）の４個のサブピクセルで構成しても、ＲＧ、ＧＢの２個のサブピクセルで構成してもよい。また、配線基板２０は、透光基板であることが好ましく、基材２１は、ガラス、ＰＥＴ（Polyethylene Terephthalate）などであることが好ましく、回路パターン、第１電極２２及び第２電極２３は、ＩＴＯ（Indium-Tin-Oxide）、ＩＺＯ（Indium-Zinc-Oxide）、ＺｎＯ（Zinc-Oxide）、ＩＧＺＯ（Indium-Gallium-Zinc-Oxide）などの透明導電膜であることが好ましい。
　図２は、基板側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を配線基板の所定位置に転写し、配列させた状態を模式的に示す断面図である。図２に示すように、転写工程（Ａ）では、基板１１側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層１２の個片１２ａを配線基板２１の所定位置に転写し、配列させる。
　ここで、異方性導電接着層の個片を基板から効率よく転写するために、基板上に設けた異方性導電接着層に前処理を行い、個片がマトリクス状に配列するように形成してもよい。このような前処理としては、例えば、異方性導電接着層に、複数の縦方向の切り込みと横方向の切り込みが交差した状態である格子状の切り込みを設ける方法がある。この切り込みは、機械的な方法で設けても、化学的な方法で設けてもよい。もちろん、レーザー光によって焼失させることで切り込みを設けてもよい。このような処理を行うことで、基板上に複数の異方性導電接着層の個片がマトリクス状に配列した状態にすることができ、個片をレーザー光により転写することが容易となる。なお、この切り込みは基板が露出するまで深い必要は必ずしもなく、基板が露出しない程度の切り込みであっても、レーザー光による転写性は向上する。このような前処理は基板に異方性導電接着層を形成した後に行っても、基板に異方性導電接着層を形成する前、すなわち、フィルム状異方性導電接着層の段階で行ってもよい。
　転写工程（Ａ）では、異方性導電接着層１２の個片１２ａを、１画素単位（例えばＲＧＢ１組みである１ピクセル）で配列させることができ、１画素を構成するサブピクセル（例えば任意のＲＧＢ）単位で配列させることもできる。これにより、高いＰＰＩ（Pixels Per Inch）の発光素子アレイから低いＰＰＩの発光素子アレイまで対応することができる。
　また、転写工程（Ａ）では、異方性導電接着層１２の個片１２ａを、１画素または複数画素単位で配列させることが好ましい。例えばＲＧＢの場合、発光素子は、３画素を１組、もしくはＲＧＢの冗長回路３画素を含む計６画素を１組として配列されるため、１組６画素に異方性導電膜を転写してもよいし、１画素単位で転写してもよいし、さらには電極単位で配列してもよい。一方、生産性を上げるため、透明性を損なわない範囲、例えば１ｍｍ×１ｍｍの範囲で、異方性導電膜を転写してもよい。
　なお、異方性導電接着層の個片を、１画素単位で配列させる場合には、フィルム状異方性導電接着層をテープ状とし、その幅を１画素分とすることで前述した切り込みを一方向（テープの幅方向）のみとすることができる。この１画素分のテープ幅は、画素間の間隔にもよるが、１画素のサイズと等しい長さを意味するものではなく、隣接する画素と干渉しない程度の長さであることを意味する。
　また、配線基板２０の所定位置に配列した個片間の距離は、好ましくは３μｍ以上、より好ましくは５μｍ以上、さらに好ましくは１０μｍ以上である。また、個片間の距離の上限は、好ましくは３０００μｍ以下、より好ましくは１０００μｍ以下、さらに好ましくは５００μｍ以下である。個片間の距離が小さ過ぎる場合、異方性導電フィルムを配線基板２０全面に貼り付ける方法が好ましくなり、個片間の距離が大き過ぎる場合、異方性導電フィルムを配線基板２０の所定位置に貼り付ける方法が好ましくなる。個片間の距離は、顕微鏡観察（光学顕微鏡、金属顕微鏡、電子顕微鏡など）を用いて計測することができる。
　異方性導電接着層１２の個片１２ａの転写には、例えば、リフト（ＬＩＦＴ：Laser Induced Forward Transfer）装置を用いることができる。リフト装置は、例えば、レーザー装置から出射されたパルスレーザ光を平行光にするテレスコープと、テレスコープを通過したパルスレーザ光の空間強度分布を均一に整形する整形光学系と、整形光学系により整形されたパルスレーザ光を所定のパターンにて通過させるマスクと、整形光学系とマスクとの間に位置するフィールドレンズと、マスクのパターンを通過したレーザー光をドナー基板に縮小投影する投影レンズとを備え、ドナー基板である異方性導電接着層基板１０をドナーステージに保持し、レセプター基板である配線基板２１をレセプターステージに保持する。異方性導電接着層１２と配線基板２０との間の距離は、好ましくは１０～１０００μｍ、より好ましくは５０～５００μｍ、さらに好ましくは８０～２００μｍである。
　レーザー装置としては、例えば波長１８０ｎｍ～３６０ｎｍのレーザー光を発振するエキシマレーザーを用いることができる。エキシマレーザーの発振波長は、例えば１９３、２４８、３０８、３５１ｎｍであり、これらの発振波長の中から異方性導電接着層１２の材料の光吸収性に応じて好適に選択することができる。
　マスクは、基材１１と異方性導電接着層１２との境界面における投影が、所望のレーザー光の配列となるように、所定ピッチで所定サイズの窓の配列が形成されたパターンを用いる。マスクには、基材１１に例えばクロムメッキにてパターンが施され、クロムメッキが施されていない窓部分はレーザー光を透過し、クロムメッキが施されている部分はレーザー光を遮断する。
　レーザー装置からの出射光はテレスコープ光学系に入射し、その先の整形光学系へと伝搬する。整形光学系に入射する直前におけるレーザー光は、このドナーステージのＸ軸の移動範囲内のいずれの位置においても、概ね平行光となるよう、テレスコープ光学系により調整されているため、常に、整形光学系に対し、概ね、同一サイズ、同一角度（垂直）により入射する。
　整形光学系を通過したレーザー光は、投影レンズとの組み合わせにおいて像側テレセントリック縮小投影光学系を構成するフィールドレンズを経てマスクに入射する。マスクパターンを通過したレーザー光は、その伝搬方向を落射ミラーにより鉛直下方に変え、投影レンズに入射する。投影レンズから出射されたレーザー光は、基材１１側から入射し、その表面（下面）に形成されている異方性導電接着層１２の所定の位置に対し、マスクパターンの縮小サイズにて正確に投影される。
　異方性導電接着層と基材との界面に照射される結像されるレーザー光のパルスエネルギーは、好ましくは０．００１～２Ｊ、より好ましくは０．０１～１．５Ｊであり、さらに好ましくは０．１～１Ｊである。フルーエンス（ｆｌｕｅｎｃｅ）は、好ましくは０．００１～２Ｊ／ｃｍ２であり、より好ましくは０．０１～１Ｊ／ｃｍ２であり、さらに好ましくは０．０５～０．５Ｊ／ｃｍ２である。パルス幅（照射時間）は、好ましくは０．０１～１×１０９ピコ秒であり、より好ましくは０．１～１×１０7ピコ秒であり、さらに好ましくは１～１×１０５ピコ秒である。パルス周波数は、好ましくは０．１～１００００Ｈｚ、より好ましくは１～１０００Ｈｚ、さらに好ましくは１～１００Ｈｚである。照射パルス数は、好ましくは１～３０，０００，０００である。
　このようなリフト装置を用いることにより、基材１１と異方性導電接着層１２との境界面において、レーザー光を照射された異方性導電接着層１２に衝撃波を発生させ、複数の個片１２ａを基材１１から剥離して配線基板２０に向けてリフトし、複数の個片１２ａを配線基板２０の所定位置に着弾させることができる。このような転写方式は、レーザーリフトオフと呼ばれ、例えば、レーザーによるアブレーションを利用した方式である。これにより、異方性導電接着層１２の個片１２ａを高精度及び高効率に配線基板２０に転写、配列させることができ、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
　転写工程（Ａ）後の異方性導電接着層１２の個片１２ａの反応率は、好ましくは２５％以下、より好ましくは２０％以下、さらに好ましくは１５％以下である。個片１２ａの反応率が２５％以下であることにより、実装工程（Ｂ）において、発光素子を熱圧着させることが可能となる。反応率の測定は、例えばＦＴ－ＩＲを用いて求めることができる。
　［実装工程（Ｂ）］
　図３は、配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装させた状態を模式的に示す断面図である。図３に示すように、実装工程（Ｂ）では、配線基板２０の所定位置に配列した個片１２ａ上に発光素子３０を実装させる。
　発光素子３０は、本体３１と、第１導電型電極３２と、第２導電型電極３３とを備え、第１導電型電極３２と第２導電型電極３３とが、同一面側に配置された水平構造を有する。本体３１は、例えばｎ－ＧａＮからなる第１導電型クラッド層と、例えばＩｎｘＡｌｙＧａ１－ｘ－ｙＮ層からなる活性層と、例えばｐ－ＧａＮからなる第２導電型クラッド層とを備え、いわゆるダブルヘテロ構造を有する。第１導電型電極３２は、パッシベーション層により第１導電型クラッド層の一部に形成され、第２導電型電極３３は、第２導電型クラッド層の一部に形成される。第１導電型電極３２と第２導電型電極３３との間に電圧が印加されると、活性層にキャリアが集中し、再結合することにより発光が生じる。
　発光素子３０を配線基板２０に搭載する方法としては、特に限定されるものではないが、例えばレーザーリフトオフ法（ＬＬＯ法）によりウェハ基板から配線基板２０に発光素子３０を直接転写、配置する方法や、発光素子３０を予め密着させた転写基板を用いて転写基板から配線基板２０に発光素子３０を転写、配置する方法が挙げられる。発光素子３０を配線基板２０に熱圧着する方法としては、公知の異方性導電フィルムにおいて用いられている接続方法を適宜選択して使用することができる。これにより、発光素子３０間に異方性導電接着層が存在せずに配線基板２０が露出した状態で、配線基板２０上に発光素子３０を異方性接続させることができる。また、配線基板２０を透光基板とすることにより、異方性導電フィルムを配線基板２０の全面に貼り付けた場合に比べて、優れた光透過性を得ることができる。
　以上説明したように、第１の実施の形態に係る表示装置の製造方法によれば、レーザー光の照射により異方性導電接着層１２の個片１２ａを高精度及び高効率に配線基板２０に転写、配列させることができるため、タクトタイムの短縮化を図ることができる。上述の実施の形態では、ディスプレイとしての表示装置の製造方法を例に挙げたが、本技術は、これに限られるものではなく、例えば、光源としての発光装置の製造方法にも適用することができる。
　［第１の実施の形態の変形例］
　前述した第１の実施の形態における転写工程（Ａ）では、図２に示すように、異方性導電接着層１２の個片１２ａを配線基板２１上に複数画素単位、１画素単位、又は１画素を構成するサブピクセル単位で配列させることとしたが、これらに限られるものではなく、例えば、電極単位で配列してもよい。
　図４は、基板側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を配線基板上に電極位置で転写し、配列させた状態を模式的に示す断面図であり、図５は、配線基板に電極単位で配列した個片上に発光素子を実装させた状態を模式的に示す断面図である。
　図４に示すように、転写工程（Ａ）において、発光素子３０の例えばｐ側の第１導電型電極３２及びｎ側の第２導電型電極３３にそれぞれ対応する第１電極２２及び第２電極２３に対し、それぞれ第１の個片１４及び第２の個片１５を転写し、図５に示すように、実装工程（Ｂ）において、配線基板２０上に電極単位で配列された個片上に発光素子３０を実装させてもよい。これにより、表示装置の透明性を向上させることができきる。
　［第２の実施の形態］
　第２の実施の形態に係る表示装置の製造方法は、レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、基材側からレーザー光を照射して異方性導電接着層の個片を転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程と、個片が転写された発光素子を配線基板上に再転写させる再転写工程と、個片を介して配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装工程とを有する。レーザー光の照射により異方性導電接着層の個片を高精度及び高効率に転写、配列させることができるため、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
　以下、図６～図９を参照して、異方性導電接着層の個片を転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程（Ａ１）と、個片が転写された発光素子を配線基板上に再転写させる再転写工程（Ａ２）と、個片を介して配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装工程（ＢＢ）について説明する。なお、第１の実施の形態と同一の構成には、同一の符号を付し、説明を省略する。
　［転写工程（Ａ１）］
　図６は、基材に設けられた異方性導電接着層と、転写基板に配列された発光素子とを対向させた状態を模式的に示す断面図であり、図７は、基材に設けられた異方性導電接着層を模式的に示す断面図である。図６に示すように、先ず、転写工程（Ａ１）では、異方性導電接着層基板１０と転写基板４０とを対向させる。
　転写基板４０は、基材４１と、基材４１上に配列された発光素子３０とを備える。
基材４１は、後述する再転写工程（Ａ２）の転写方式に応じて適宜選択される。例えば、レーザーによるアブレーションを利用した転写方式を用いる場合、基材４１は、レーザー光に対して透過性を有するものであればよく、中でも全波長に亘って高い光透過率を有する石英ガラスであることが好ましい。また、例えば、転写基板４０を配線基板２０に貼り合わせて発光素子３０を転着させる場合、例えばシリコーンゴム層を設けてもよい。
　転写工程（Ａ１）では、前述した第１の実施の形態と同様、例えばレーザーリフトオフと呼ばれるレーザーによるアブレーションを利用した転写方式を用いることができる。アブレーションを利用する場合、図７に示すように、異方性導電接着層１２の基材１１が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域Ｘには導電粒子が存在しないことが好ましい。
　異方性導電接着層１２の、基材１１が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域Ｘではアブレーションの強い影響がある。したがって、この領域Ｘには導電粒子が存在しないことが好ましい。言い換えると、前記領域Ｘを除いた異方性導電接着層の部分に全ての導電粒子がはみ出すことなく存在することが好ましい。ここで、ある領域に導電粒子が存在しない状態とは、例えば、導電粒子の粒子全体がその領域中に存在しない状態だけでなく、導電粒子の一部分も含まれない状態を意味する。
　異方性導電接着層の生産性の観点から、領域Ｘに導電粒子が混入してしまう場合には、領域Ｘに混入した導電粒子個数は、異方性導電接着層に含まれる全体の導電粒子個数の５％以下とすることが好ましく、１％以下とすることがより好ましい。
　ここで、異方性導電接着層１２の領域Ｘの厚みｔは、基材１１が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍとしてもよく、アブレーションによる導電粒子劣化の抑制をより確実にするためには、この厚みｔを０～０．１μｍ、より好ましくは０～０．１５μｍ、特に好ましくは０～０．２μｍとし、この領域に導電粒子が存在しないことが好ましい。同様に言い換えると、これらの領域を除いた異方性導電接着層の部分に全ての導電粒子がはみ出すことなく存在することが好ましい。また、同様に、異方性導電接着層の生産性の観点から、これらの領域に導電粒子が混入してしまう場合には、領域に混入した導電粒子個数は、異方性導電接着層に含まれる全体の導電粒子個数の５％以下とすることが好ましく、１％以下とすることがより好ましい。
　また、導電粒子のアブレーション耐性を高めるためには、前述した導電粒子を構成する金属の中でも、融点が１４００℃以上である金属を含む金属で構成されることが好ましい。入手容易性からは融点の上限は３５００℃程度であることが好ましい。同様の観点で、導電粒子を構成する金属は、ニッケル、パラジウム又はルテニウムを含むことが好ましい。
　前述した樹脂粒子の表面を金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、又は、無機粒子の表面を金属で被覆した金属被覆無機粒子を使用する場合、樹脂粒子や無機粒子へのアブレーションの影響を最小限にするために、前記金属による被覆厚みを０．０８μｍ以上とすることが好ましく、０．１μｍ以上とすることがより好ましく、０．１５μｍ以上とすることが特に好ましく、０．２μｍ以上とすることが最も好ましい。この被覆厚みの上限は、導電粒子の直径によるが、導電粒子直径の２０％又は０．５μｍ程度であることが好ましい。
　このような異方性導電接着層は、第２の実施の形態だけでなく、第１の実施の形態やその変形例、その他の形態にも適用可能である。
　図８は、基材側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層の個片を転写基板に配列された発光素子上に転写させた状態を模式的に示す断面図である。図８に示すように、転写工程（Ａ１）では、基材１１側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層１２の個片１６を配線基板２１の所定位置に転写し、配列させる。基材１１側からレーザー光を照射し、異方性導電接着層１２の個片１６を転写基板に配列された発光素子３０上に転写させる。
　前述した第１の実施の形態と同様、異方性導電接着層１２の個片１６の転写には、例えば、リフト装置を用いることができる。リフト装置を用いることにより、基材１１と異方性導電接着層１２との境界面において、レーザー光を照射された異方性導電接着層１２に衝撃波を発生させ、複数の個片１６を基材１１から剥離して転写基板に配列された発光素子３０に向けてリフトし、個片１６を発光素子３０に高精度に着弾させることができ、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
　［再転写工程（Ａ２）］
　図９は、個片が転写された発光素子を配線基板上に再転写させる状態を模式的に示す断面図である。図９に示すように、再転写工程（Ａ２）では、個片１６が転写された発光素子３０を配線基板上に再転写させる。再転写する方法としては、特に限定されるものではないが、例えばレーザーリフトオフ法（ＬＬＯ法）により転写基板４０から配線基板２０に個片１６が転写された発光素子３０を直接転写、配置する方法、個片１６が転写された発光素子３０を予め密着させた転写基板を用いて転写基板４０から配線基板２０に発光素子３０を転写、配置する方法などが挙げられる。
　また、再転写工程（Ａ２）では、発光素子３０を、１画素を構成するサブピクセル単位で転写させることが好ましい。これにより、高いＰＰＩ（Pixels Per Inch）の発光素子アレイから低いＰＰＩの発光素子アレイまで対応することができる。
　［実装工程（ＢＢ）］
　実装工程（ＢＢ）では、個片１６を介して配線基板２０の所定位置に配列した発光素子３０を実装させる。発光素子３０を実装させた状態は、図３と同様である。発光素子３０を配線基板２０に実装する方法としては、公知の異方性導電フィルムにおいて用いられている熱圧着等の接続方法を適宜選択して使用することができる。これにより、発光素子３０間に異方性導電接着層が存在せずに配線基板２０が露出した状態で、配線基板２０上に発光素子３０を異方性接続させることができる。また、配線基板２０を透光基板とすることにより、異方性導電フィルムを配線基板２０の全面に貼り付けた場合に比べて、優れた光透過性を得ることができる。
　以上説明したように、第２の実施の形態に係る表示装置の製造方法によれば、レーザー光の照射により異方性導電接着層１２の個片１６を高精度及び高効率に発光素子３０に転写、配列させることができるため、タクトタイムの短縮化を図ることができる。
　［第２の実施の形態の変形例］
　前述した第２の実施の形態における転写工程（Ａ１）では、図８に示すように、異方性導電接着層１２の個片１６を発光素子３０上に転写させることとしたが、これらに限られるものではなく、例えば、異方性導電接着層の個片を、発光素子上に電極単位で転写させてもよい。すなわち、発光素子３０の例えばｐ側の第１導電型電極３２及びｎ側の第２導電型電極３３にそれぞれ第１の個片及び第２の個片を転写させてもよい。これにより、表示装置の透明性を向上させることができきる。
　＜２．実施例＞
　本実施例では、石英ガラスに設けられた異方性導電接着層と素ガラスとを対向させ、基材側からレーザー光を照射して異方性導電接着層の個片を素ガラスの所定位置に転写し、配列させた。そして、素ガラス上に配列された個片を金属顕微鏡による目視により評価した。なお、本実施例は、これらに限定されるものではない。
　［異方性導電接着層の作製］
　平均粒径２．２μｍの導電粒子が整列した異方性導電接着層を石英ガラスにラミネートし、石英ガラス上に厚み４μｍの異方性導電接着層を設けた異方性導電接着層基板を作製した。異方性導電接着層のバインダーは、フェノキシ樹脂（商品名：ＰＫＨＨ、巴化学工業株式会社製）４２質量部、高純度ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂（商品名：ＹＬ－９８０、三菱ケミカル株式会社製）４０質量部、疎水性シリカ（商品名：Ｒ２０２、日本アエロジル株式会社製）１０質量部、アクリルゴム（商品名：ＳＧ８０Ｈ、ナガセケムテックス株式会社製）３質量部、及びカチオン重合開始剤（商品名：ＳＩ－６０Ｌ、三新化学工業株式会社製）５質量部を配合して、厚さ５０μｍのＰＥＴフィルム上に塗布、乾燥して樹脂層を調製した。得られた樹脂層から導電粒子（平均粒径２．２μｍ、樹脂コア金属被覆微粒子、Ｎｉメッキ０．２μｍ厚、積水化学工業株式会社製）を特許６１８７６６５号記載の方法により、樹脂層の一方の界面と導電粒子が略一致するように整列させた。異方性導電接着層の平面視における導電粒子の整列は、六方格子配列で導電粒子間距離が粒子径の２倍となるようにした。
　［異方性導電接着層の転写］
　リフト装置（ＭＴ－３０Ｃ２００）を用いて、異方性導電接着層の個片を素ガラスに転写した。前述のように、リフト装置は、レーザー装置から出射されたパルスレーザ光を平行光にするテレスコープと、テレスコープを通過したパルスレーザ光の空間強度分布を均一に整形する整形光学系と、整形光学系により整形されたパルスレーザ光を所定のパターンにて通過させるマスクと、整形光学系とマスクとの間に位置するフィールドレンズと、マスクのパターンを通過したレーザー光をドナー基板に縮小投影する投影レンズとを備えており、ドナー基板である異方性導電接着層基板をドナーステージに保持し、レセプター基板である素ガラスをレセプターステージに保持し、異方性導電接着層と素ガラスとの間の距離を１００μｍとした。
　レーザー装置は、発振波長を２４８ｎｍとするエキシマレーザーを用いた。レーザー光のパルスエネルギーは、６００Ｊ、フルーエンス（ｆｌｕｅｎｃｅ）は１５０Ｊ／ｃｍ２、パルス幅（照射時間）は３００００ピコ秒、パルス周波数は０．０１ｋＨｚ、照射パルス数は各ＡＣＦ１小片につき１パルスとした。異方性導電接着層と基材との界面に照射される結像されるレーザー光のパルスエネルギーは、０．００１～２Ｊであり、フルーエンス（ｆｌｕｅｎｃｅ）は、０．００１～２Ｊ／ｃｍ２であり、パルス幅（照射時間）は、０．０１～１×１０９ピコ秒であり、パルス周波数は、０．１～１００００Ｈｚであり、照射パルス数は、１～３０，０００，０００であった。
　マスクは、ドナー基板である異方性導電接着層基板の異方性導電接着層と石英ガラスとの境界面における投影が、縦１２０μｍピッチ及び横１６０μｍピッチで縦３０μｍ×横４０μｍのレーザー光の配列となるように、所定ピッチで所定サイズの窓の配列が形成されたパターンを用いた。
　［転写の評価］
　素ガラス上に配列された異方性導電接着層の個片の反応率を測定した結果、１７．４％であった。反応率は、ＦＴ－ＩＲを用いて異方性導電接着層の個片中のエポキシ基の減少率により求めた。すなわち、転写前の個片中のエポキシ基がレーザー光による転写によりどれだけ減少したかを、赤外吸収スペクトルの９１４ｃｍ－１の吸収を測定することで求めた。
　図１０は、素ガラス上に配列された異方性導電接着層の個片を示す金属顕微鏡写真であり、図１１は、図１０に示す金属顕微鏡写真の拡大写真である。図１０及び図１１に示すように、素ガラス上に異方性導電接着層の個片がマスクのパターン通りに転写されることが確認できた。すなわち、レーザー光の照射により異方性導電接着層の個片を高精度及び高効率に転写、配列させることができ、タクトタイムの短縮化を図ることができることが分かった。
　以上、本発明の実施形態について詳述したが、一方で本発明について異なる視点から表現すると下記（１）～（２９）及び（Ｕ１）～（Ｕ１８）のようになる。
（１）　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程と、
　前記配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程と
　を有する表示装置の製造方法。
（２）　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素単位で配列させる（１）記載の表示装置の製造方法。
（３）　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素を構成するサブピクセル単位で配列させる（１）記載の表示装置の製造方法。
（４）　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、複数画素単位で配列させる（１）記載の表示装置の製造方法。
（５）　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子の電極単位で配列させる（１）記載の表示装置の製造方法。
 
（６）　前記配線基板の所定位置に配列した個片間の距離が、３μｍ以上である（１）乃至（５）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（７）　前記転写工程後の個片の反応率が、２５％以下である（１）乃至（６）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（８）　前記レーザー光の波長が、１８０ｎｍ～３６０ｎｍであり、
　前記異方性導電接着層が、波長１８０ｎｍ～３６０ｎｍに極大吸収波長を持つ樹脂を含む（１）乃至（７）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（９）　前記異方性導電接着層は、導電粒子を含有する（１）乃至（８）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（１０）　前記異方性導電接着層が、前記導電粒子を面方向に整列して構成されている（１）乃至（９）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（１１）　前記異方性導電接着層の、前記基材が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域には前記導電粒子が存在しない（９）又は（１０）記載の表示装置の製造方法。
（１２）　前記導電粒子は、樹脂粒子の表面を金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、又は、樹脂無機粒子の表面を金属で被覆した金属被覆無機粒子であり、
　前記金属による被覆厚みは、０．１５μｍ以上である（９）乃至（１１）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（１３）　前記導電粒子を構成する金属は、融点が１４００℃以上である金属を含む（９）乃至（１２）のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
（１４）　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程と、
　前記個片が転写された発光素子を前記配線基板上に再転写させる再転写工程と、
　前記個片を介して前記配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装工程と
　を有する表示装置の製造方法。
（１５）　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子上に電極単位で転写させる（１４）記載の表示装置の製造方法。
（１６）　前記再転写工程では、前記発光素子を、１画素を構成するサブピクセル単位で転写させる（１４）又は（１５）記載の表示装置の製造方法。
（１７）　基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写する工程を有する異方性導電接着層付き配線基板の製造方法。
 
（１８）　基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程を有する異方性導電接着層付き発光素子の製造方法。
（１９）　レーザーリフトオフによる転写に用いられるフィルム状異方性導電接着層。
（２０）　導電粒子を含有する（１９）記載のフィルム状異方性導電接着層。
（２１）　前記レーザーリフトオフによる転写時に設けられる基材側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域には前記導電粒子が存在しない（２０）記載のフィルム状異方性導電接着層。
（２２）　前記導電粒子は、樹脂粒子の表面を金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、又は、樹脂無機粒子の表面を金属で被覆した金属被覆無機粒子であり、
　前記金属による被覆厚みは、０．１５μｍ以上である（２０）又は（２１）記載のフィルム状異方性導電接着層。
（２３）　前記導電粒子を構成する金属は、融点が１４００℃以上である金属を含む（２０）乃至（２２）のいずれか１項に記載のフィルム状異方性導電接着層。
（２４）　前記導電粒子を構成する金属は、ニッケル、パラジウム又はルテニウムを含む（２０）乃至（２３）のいずれか１項に記載のフィルム状異方性導電接着層。
（２５）　レーザーリフトオフによる転写に用いられる異方性導電接着層が積層された基材。
（２６）　異方性導電接着層の、レーザーリフトオフ転写用異方性導電接着層への応用。
（２７）　異方性導電接着層の、レーザーリフトオフ転写用異方性導電接着層の製造のための応用。
（２８）　異方性導電接着層の、レーザーリフトオフによる転写に用いられる異方性導電接着層が積層された基材の製造のための応用。
（２９）　異方性導電接着層の、レーザーリフトオフへの応用。
（Ｕ１）　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写機構と、
　前記配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装機構と
　を有する表示装置の製造システム。
（Ｕ２）　前記転写機構では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素単位で配列させる（Ｕ１）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ３）　前記転写機構では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素を構成するサブピクセル単位で配列させる（Ｕ１）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ４）　前記転写機構では、前記異方性導電接着層の個片を、複数画素単位で配列させる（Ｕ１）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ５）　前記転写機構では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子の電極単位で配列させる（Ｕ１）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ６）　前記配線基板の所定位置に配列した個片間の距離が、３μｍ以上である（Ｕ１）乃至（Ｕ５）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ７）　前記転写機構による転写後の個片の反応率が、２５％以下である（Ｕ１）乃至（Ｕ６）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ８）　前記レーザー光の波長が、１８０ｎｍ～３６０ｎｍであり、
　前記異方性導電接着層が、波長１８０ｎｍ～３６０ｎｍに極大吸収波長を持つ樹脂を含む（Ｕ１）乃至（Ｕ７）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ９）　前記異方性導電接着層は、導電粒子を含有する（Ｕ１）乃至（Ｕ８）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１０）　前記異方性導電接着層が、前記導電粒子を面方向に整列して構成されている（Ｕ９）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１１）　前記異方性導電接着層の、前記基材が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域には前記導電粒子が存在しない（Ｕ９）又は（Ｕ１０）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１２）　前記導電粒子は、樹脂粒子の表面を金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、又は、無機粒子の表面を金属で被覆した金属被覆無機粒子であり、
　前記金属による被覆厚みは、０．１５μｍ以上である（Ｕ９）乃至（Ｕ１１）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１３）　前記導電粒子を構成する金属は、融点が１４００℃以上である金属を含む（Ｕ９）乃至（Ｕ１２）のいずれか１項に記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１４）　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写機構と、
　前記個片が転写された発光素子を前記配線基板上に再転写させる再転写機構と、
　前記個片を介して前記配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装機構と
　を有する表示装置の製造システム。
（Ｕ１５）　前記転写機構では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子上に電極単位で転写させる（Ｕ１４）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１６）　前記再転写機構では、前記発光素子を、１画素を構成するサブピクセル単位で転写させる（Ｕ１４）又は（Ｕ１５）記載の表示装置の製造システム。
（Ｕ１７）　基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写する機構を有する異方性導電接着層付き配線基板の製造システム。
（Ｕ１８）　基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写機構を有する異方性導電接着層付き発光素子の製造システム。
　前述した多くの実施形態における各構成要件を細分化し、細分化された構成要件を各々単独で、又は組み合わせて、これら（１）～（２９）及び（Ｕ１）～（Ｕ１８）に導入することができる。
　１０　基板、１１　基材、１２　異方性導電接着層、１２ａ　個片、１３　導電粒子、２０　配線基板、２１　基材、２２　第１電極、２３　第２電極、３０　発光素子、３１　、３２　第１導電型電極、３３　第２導電型電極、４０　転写基板、４１　基材
 

Claims (18)

  1. 　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写し、配列させる転写工程と、
    　前記配線基板の所定位置に配列した個片上に発光素子を実装する実装工程と
    　を有する表示装置の製造方法。
  2. 　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素単位で配列させる請求項１記載の表示装置の製造方法。
  3. 　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、１画素を構成するサブピクセル単位で配列させる請求項１記載の表示装置の製造方法。
  4. 　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、複数画素単位で配列させる請求項１記載の表示装置の製造方法。
  5. 　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子の電極単位で配列させる請求項１記載の表示装置の製造方法。
  6. 　前記配線基板の所定位置に配列した個片間の距離が、３μｍ以上である請求項１乃至５のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  7. 　前記転写工程後の個片の反応率が、２５％以下である請求項１乃至６のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  8. 　前記レーザー光の波長が、１８０ｎｍ～３６０ｎｍであり、
    　前記異方性導電接着層が、波長１８０ｎｍ～３６０ｎｍに極大吸収波長を持つ樹脂を含む請求項１乃至７のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  9. 　前記異方性導電接着層は、導電粒子を含有する請求項１乃至８のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  10. 　前記異方性導電接着層が、前記導電粒子を面方向に整列して構成されている請求項９記載の表示装置の製造方法。
  11. 　前記異方性導電接着層の、前記基材が設けられる側の面から厚み方向に０～０．０５μｍの領域には前記導電粒子が存在しない請求項９又は１０記載の表示装置の製造方法。
  12. 　前記導電粒子は、樹脂粒子の表面を金属で被覆した金属被覆樹脂粒子、又は、無機粒子の表面を金属で被覆した金属被覆無機粒子であり、
    　前記金属による被覆厚みは、０．１５μｍ以上である請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  13. 　前記導電粒子を構成する金属は、融点が１４００℃以上である金属を含む請求項９乃至１２のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
  14. 　レーザー光に対して透過性を有する基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程と、
    　前記個片が転写された発光素子を前記配線基板上に再転写させる再転写工程と、
    　前記個片を介して前記配線基板の所定位置に配列した発光素子を実装する実装工程と
    　を有する表示装置の製造方法。
  15. 　前記転写工程では、前記異方性導電接着層の個片を、前記発光素子上に電極単位で転写させる請求項１４記載の表示装置の製造方法。
  16. 　前記再転写工程では、前記発光素子を、１画素を構成するサブピクセル単位で転写させる請求項１４又は１５記載の表示装置の製造方法。
  17. 　基材に設けられた異方性導電接着層と配線基板とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記配線基板の所定位置に転写する工程を有する異方性導電接着層付き配線基板の製造方法。
  18. 　基材に設けられた異方性導電接着層と転写基板に配列された発光素子とを対向させ、前記基材側からレーザー光を照射して前記異方性導電接着層の個片を前記転写基板に配列された発光素子上に転写させる転写工程を有する異方性導電接着層付き発光素子の製造方法。
     
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013221104A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Dexerials Corp 異方性導電接着剤及びその製造方法、発光装置及びその製造方法
JP2014030026A (ja) * 2013-08-30 2014-02-13 Dexerials Corp 異方性導電接着剤及び発光装置
JP2015505736A (ja) * 2011-11-18 2015-02-26 ルクスビュー テクノロジー コーポレイション マイクロデバイスを転写する方法
US20150107667A1 (en) * 2012-01-24 2015-04-23 Michael A. Tischler Wafer-level flip chip device packages and related methods
US20150255505A1 (en) 2014-03-05 2015-09-10 Lg Electronics Inc. Display device using semiconductor light emitting device
JP6119718B2 (ja) 2013-11-19 2017-04-26 デクセリアルズ株式会社 異方導電性フィルム及び接続構造体
JP2020013954A (ja) * 2018-07-20 2020-01-23 株式会社ブイ・テクノロジー 基板接続構造、マイクロｌｅｄディスプレイ及び部品実装方法
US20200075560A1 (en) * 2017-06-15 2020-03-05 Goertek Inc. Method for transferring micro-light emitting diodes, micro-light emitting diode device and electronic device
US20200373473A1 (en) * 2018-01-29 2020-11-26 Lg Electronics Inc. Method for manufacturing display device using semiconductor light-emitting elements and display device
JP2021054138A (ja) 2019-09-27 2021-04-08 いすゞ自動車株式会社 制御装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015505736A (ja) * 2011-11-18 2015-02-26 ルクスビュー テクノロジー コーポレイション マイクロデバイスを転写する方法
US20150107667A1 (en) * 2012-01-24 2015-04-23 Michael A. Tischler Wafer-level flip chip device packages and related methods
JP2013221104A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Dexerials Corp 異方性導電接着剤及びその製造方法、発光装置及びその製造方法
JP2014030026A (ja) * 2013-08-30 2014-02-13 Dexerials Corp 異方性導電接着剤及び発光装置
JP6119718B2 (ja) 2013-11-19 2017-04-26 デクセリアルズ株式会社 異方導電性フィルム及び接続構造体
US20150255505A1 (en) 2014-03-05 2015-09-10 Lg Electronics Inc. Display device using semiconductor light emitting device
US20200075560A1 (en) * 2017-06-15 2020-03-05 Goertek Inc. Method for transferring micro-light emitting diodes, micro-light emitting diode device and electronic device
US20200373473A1 (en) * 2018-01-29 2020-11-26 Lg Electronics Inc. Method for manufacturing display device using semiconductor light-emitting elements and display device
JP2020013954A (ja) * 2018-07-20 2020-01-23 株式会社ブイ・テクノロジー 基板接続構造、マイクロｌｅｄディスプレイ及び部品実装方法
JP2021054138A (ja) 2019-09-27 2021-04-08 いすゞ自動車株式会社 制御装置

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