WO2021111760A1 - 対象物を加熱及び冷却するためのステージ - Google Patents

対象物を加熱及び冷却するためのステージ Download PDF

Info

Publication number
WO2021111760A1
WO2021111760A1 PCT/JP2020/039995 JP2020039995W WO2021111760A1 WO 2021111760 A1 WO2021111760 A1 WO 2021111760A1 JP 2020039995 W JP2020039995 W JP 2020039995W WO 2021111760 A1 WO2021111760 A1 WO 2021111760A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
stage
heating
groove
cooling
conductive medium
Prior art date
Application number
PCT/JP2020/039995
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
増田 裕二
Original Assignee
株式会社アドバンテック
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社アドバンテック filed Critical 株式会社アドバンテック
Priority to CN202080091534.3A priority Critical patent/CN114902395A/zh
Priority to US17/782,929 priority patent/US20230002904A1/en
Priority to EP20895154.1A priority patent/EP4071429A4/en
Publication of WO2021111760A1 publication Critical patent/WO2021111760A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67103Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • C23C16/463Cooling of the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/541Heating or cooling of the substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68785Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by the mechanical construction of the susceptor, stage or support

Definitions

  • the present invention relates to a stage for heating and cooling an object.
  • Japanese Patent No. 5427365 describes a rectangular susceptor.
  • the susceptor is used as a stage in manufacturing, for example, semiconductor integrated circuits, flat display panels, and panels for photovoltaic power generation.
  • the susceptor heats, for example, a substrate in the manufacturing process. At that time, it is required to heat the substrate quickly and uniformly. It is also desirable to be able to cool the substrate.
  • the above problem can be solved by a stage provided with a cooling unit as well as a heating unit that heats the mounting surface of the stage. Further, the above problem can be solved by filling the gaps between the grooves accommodating the heating unit and the cooling unit with a heat conductive medium.
  • a first aspect of the invention relates to a stage installed in a chamber for heating and cooling an object.
  • An example of a chamber is a vacuum chamber.
  • objects are semiconductor integrated circuits, flat display panels, and panels for photovoltaic power generation, or substrates in the process of manufacturing them.
  • the stage 1 includes stage bodies 5 and 6 having a mounting surface on which the object is mounted, a heating unit 7 for heating the mounting surface, and a cooling unit 8 for cooling the mounting surface.
  • the cooling unit 8 may be used to cool the object mounted on the mounting surface, or may be used to heat the object at a lower temperature than the heating unit 7.
  • the heating unit 7 and the cooling unit 8 may be installed in a swirling manner so that the stage can be uniformly heated or cooled, for example.
  • the heating unit 7 and the cooling unit 8 are preferably designed so as to go around the stage.
  • the stage bodies 5 and 6 further have a first groove 10 into which the heating unit 7 is inserted and a second groove 10 into which the cooling unit 8 is inserted.
  • the first groove 10 and the second groove 10 are preferably provided inside the stage bodies 5 and 6.
  • the first groove 10 and the second groove may be in the shape of a tunnel (hole) for accommodating the heating unit 7 and the cooling unit 8.
  • the first groove 10 and the second groove 10 may have a size capable of accommodating a portion of the heating unit 7 and the cooling unit 8.
  • the preferred stage 1 has the heat conductive medium 13 in the gap between the first groove and the heating portion and the gap between the second groove and the cooling portion.
  • the heat conductive medium 13 is preferably filled in the above gap.
  • the heat conductive medium 13 is made of silver, grease, metal fiber, or gas.
  • the heat conductive medium 13 may be a rare gas.
  • the noble gas may be a helium gas having a pressure of 0.1 atm or more and 100 atm or less (1 atm or more and 100 atm or less, 0.1 atm or more and 10 atm or less, or 2 atm or more and 10 atm or less).
  • Silver is preferably a silver paste.
  • An example of grease is silicone grease.
  • Corrosive gases are used when the stage is used for heating, especially in the CVD and Etch processes. For this reason, aluminum, which has strong resistance to corrosive gases, is often used as the material for the stage.
  • the second aspect of the present invention relates to a vacuum apparatus having any of the above stages as a susceptor.
  • This vacuum device is, for example, a vacuum device used for manufacturing a semiconductor integrated circuit, a flat display panel, or a solar cell panel.
  • a vacuum device usually has a chamber and a vacuum pump for evacuating the chamber.
  • the vacuum apparatus may have an introduction part for introducing various samples into the chamber.
  • the vacuum device may appropriately have a sensor or a measuring device for performing various measurements.
  • An example of a chamber is a process chamber for manufacturing an object. Examples of flat display panels are organic EL displays, plasma displays and liquid crystal displays.
  • the third aspect of the present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor integrated circuit, a flat display panel, or a solar cell panel using the above-mentioned vacuum device.
  • Methods for manufacturing semiconductor integrated circuits are known, for example, as described in Japanese Patent No. 3956697, Japanese Patent No. 3519589, and Japanese Patent No. 3064993.
  • a method for manufacturing a flat display panel is known, for example, as described in Japanese Patent No. 5173757, Japanese Patent No. 5169757, and Japanese Patent No. 4604752.
  • a method for manufacturing a solar cell panel is known, for example, as described in Japanese Patent No. 6555964, Japanese Patent No. 6498053, and Japanese Patent No. 5386044.
  • the present invention includes not only a heating unit for heating the mounting surface of the stage but also a cooling unit, the mounting surface of the stage can be heated and cooled. Further, in a preferred example of the present invention, since the heat conductive medium is provided in the gap between the groove for accommodating the heating portion and the cooling portion, the mounting surface can be uniformly heated (and cooled).
  • FIG. 1-1 is a conceptual diagram showing the installation status of the stage.
  • FIG. 1-2 is a conceptual diagram showing a state in the case of a CVD or etch process in which the stage is used for heating.
  • FIG. 2 is a conceptual diagram showing an example of the structure of the stage.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of a cross section of the stage.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram showing an example of a cross section of the stage.
  • FIG. 5 is a conceptual diagram showing an example of using a heat conductive medium.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing an example of using a fluid as a heat conductive medium.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram showing an example of a stage in which grooves are formed on both the upper surface table and the lower surface table constituting the stage main body.
  • FIG. 8 is a design drawing of an aluminum plate having a flow path.
  • FIG. 9 is a diagram showing a state of a stage to which a thermocouple is attached.
  • FIG. 10 is a graph that replaces the drawing showing the temperature change at each part of the stage.
  • FIG. 1-1 is a conceptual diagram showing the installation status of the stage.
  • the stage 1 is usually installed inside the process chamber 2 and controls the temperature of the substrate 3.
  • the process chamber 2 is shielded from the outside air and is maintained at a desired degree of vacuum.
  • the process chamber 2 may be filled with the process gas 4 to maintain the pressure.
  • Different types of process chambers such as physical vapor deposition (PVD) and sputtering chambers, ion metal injection (IMP) chambers, chemical vapor deposition (CVD) chambers, atomic layer deposition (ALD) chambers, plasma etching chambers, annealing
  • PVD physical vapor deposition
  • IMP ion metal injection
  • CVD chemical vapor deposition
  • ALD atomic layer deposition
  • plasma etching chambers annealing
  • the pressure of the process gas 4 differs depending on the chamber and other chambers.
  • 1-2 is a conceptual diagram showing a state in the case of a CVD or etch process in which the stage is used for heating. Since ordinary susceptors are produced in the atmosphere, the tensile strength and creep strength decrease in the high temperature region, and microscopically, they swell like balloons. In particular, when the substrate is heated to 400 degrees Celsius, the warp of the stage may be several mm, which causes a problem in temperature uniformity.
  • FIG. 2 is a conceptual diagram showing a structural example of the stage.
  • the heating unit 7 and the cooling unit 8 are sandwiched between an upper surface table 5 and a lower surface table 6 having a mounting surface on which an object is normally mounted.
  • a table support 9 is attached to the lower surface table 6, and the heating unit 7 and the cooling unit 8 communicate with the outside of the process chamber 2 through the inside of the table support 9.
  • the temperature of the stage 1 is, for example, about 500 degrees Celsius from room temperature, and when the temperature is low, the liquid can be flowed through the cooling unit (shown as an example of a tube) 8 without using the heating unit 7. When the temperature is high, it is possible to use only the heating unit 7 without using the cooling unit 8.
  • the material of stage 1 may be metal, quartz, Pyrex (registered trademark): heat-resistant glass, carbon fiber, or the like. Examples of metals are aluminum, copper, and stainless steel.
  • the heating unit 7 may be a resistance heater housed in the groove, a combination of a heating fluid and a pipe, a heat pump, or the like.
  • the cooling unit 8 may be a combination of a cooling fluid and a pipe housed in the groove, a heat pump, or the like. Grooves for accommodating the heating unit 7 and the cooling unit 8 may be provided in each of the upper surface table 5 and the lower surface table 6.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of a cross section of the stage.
  • the upper surface table 5 is provided with a groove 10 in order to improve the contact efficiency, and the lower surface table 6 sandwiches the heating unit 7 and the cooling unit 8 housed in the groove.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram showing an example of a cross section of the stage.
  • the heating unit 7, and the cooling unit 8 it has a crimped structure using plastic deformation.
  • a part of the heating unit 7, the cooling unit 8 and the upper surface table 5 is plastically deformed to improve the contact efficiency between the upper surface table 5 and the lower surface table 6.
  • the plastic deformation of the top table 5 is shown at the portion 11.
  • the heating unit 7 and the cooling unit 8 may be plastically deformed at the time of caulking, and are shown at the portion 12.
  • FIG. 5 is a conceptual diagram showing an example of using a heat conductive medium.
  • the heat conductive medium 13 may be a solid such as carbon fiber, a grease-like substance, a liquid such as silver, or a gas such as hydrogen or helium. In the case of grease, liquid or gas, it can be sealed to prevent outflow.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing an example of using a fluid as a heat conductive medium.
  • the heat conductive medium 13 is a fluid such as a grease-like material, a liquid, or a gas
  • FIG. 6 shows only the heating unit 7 in the left half and only the cooling unit 8 in the right half.
  • a sealing plate 14 is attached to the end of the table support 9, and the heating portion 7 and the cooling portion 8 are completely sealed by the sealing portion 15.
  • the heat conduction medium 13 is a gas
  • the heat conduction efficiency can be dramatically increased by press-fitting the gas into the gap.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram showing an example of a stage in which grooves are formed on both the upper surface table and the lower surface table constituting the stage body. As shown in FIG. 7, grooves for accommodating the heating unit 7 and the cooling unit 8 may be provided in each of the upper surface table 5 and the lower surface table 6.
  • the stage can be manufactured as follows, for example. Grooves (flow paths) are machined into two rectangular (for example, square) plates having a thickness of 30 to 100 mm and a side length of 1500 to 4000 mm.
  • the material of the stage body is not limited to aluminum and may be metal.
  • a stainless steel pipe having an outer diameter of ⁇ 5 to ⁇ 20 is inserted into the groove (flow path) thus obtained. After inserting the pipe into the groove, the two aluminum plates are put together and the outer circumference is friction stir welded (FSW welding). When two aluminum plates are put together, there is a gap between the groove of the aluminum plate and the stainless steel pipe. If this gap is left unattended, the heat conduction efficiency will deteriorate.
  • a heat conductive medium between the groove of the aluminum plate and the stainless steel pipe to improve the heat conduction efficiency.
  • a fluid as a heat conductive medium may be applied to the groove before installing a heating part or a cooling part such as a pipe in the groove, or after FSW welding, the groove is filled with gas and sealed. You may.
  • the stage can be manufactured in this way.
  • the susceptor was manufactured as follows. It was decided to process a flow path in an aluminum plate made of material A6061 and to control the temperature by flowing a heater or a heat conductive medium through it.
  • FIG. 8 is a design drawing of an aluminum plate having a flow path.
  • the stage susceptor
  • the stage was originally used inside the vacuum system, but here, in order to measure the temperature change, the temperature change was measured in the atmosphere.
  • the heat conductive medium can be a solid (metal, metal fiber, cement, fiber, etc.), a liquid (gris, silver paste, etc.), or a gas (helium, etc.). By inserting them, the heat conduction efficiency can be improved.
  • FIG. 9 is a diagram showing a state of a stage to which a thermocouple is attached. The right part of FIG. 9 is a photograph.
  • Example 2 A stage was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except that a heat conductive medium was not used, and the temperature change was measured.
  • Example 3 A stage was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except that silicon grease was used as a heat conductive medium, and the temperature change was measured. Silicone grease was applied to the groove before inserting the SUS pipe into the groove.
  • Example 4 A stage was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except that silver paste was used as a heat conductive medium, and the temperature change was measured. The silver paste was applied to the groove before inserting the SUS pipe into the groove.
  • Results Figure 10 is a graph that replaces the drawings showing temperature changes at each part of the stage.
  • FIG. 10 shows the temperature changes in Experimental Example 2 (FIG. 10 (a)), Experimental Example 3 (FIG. 10 (b)), and Experimental Example 4 (FIG. 10 (c)).
  • the vertical axis shows the temperature and the horizontal axis shows the elapsed time.
  • the thermal resistance of the silicon grease and silver paste was about 1/2 that of the case without the heat conductive medium, and it was found that the heat conduction efficiency was improved. Moreover, since the thermal resistance of helium gas is the lowest and is less than 1/2, it is presumed that the thermal conduction efficiency is improved.
  • the present invention relates to a stage that is also used as a susceptor used in a vacuum chamber, for example, it can be used in the semiconductor manufacturing industry, the panel manufacturing industry, and the solar panel manufacturing industry.

Abstract

【解決課題】 基板を均一に加熱(又は冷却)できるステージを提供する 【解決手段】 チャンバ1内に設置され,であって,対象物を搭載する搭載表面を有するステージ本体5,6と,搭載表面を加熱するための加熱部7と,搭載表面を冷却するための冷却部8を有し,ステージ本体5,6は,加熱部が挿入される第1の溝10と,冷却部が挿入される第2の溝10をさらに有し,第1の溝と加熱部の隙間,及び第2の溝と冷却部の隙間に,熱伝導媒体を有し,対象物を加熱及び冷却するためのステージ。

Description

対象物を加熱及び冷却するためのステージ
 この発明は,対象物を加熱及び冷却するためのステージに関する。
 特許第5427367号公報には,矩形サセプタが記載されている。サセプタは,例えば,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,及び太陽光発電用パネルを製造する際にステージとして用いられる。サセプタは,製造工程において例えば基板を加熱する。その際に,基板を迅速かつ均一に加熱することが求められる。また,基板を冷却することができるようにすることも望ましい。
特許第5427367号公報
 この発明は,基板を加熱のみならず冷却できるステージを提供することを目的とする。また,この発明は,基板を均一に加熱(又は冷却)できるステージを提供することを目的とする。
 上記の課題は,ステージの搭載表面を加熱する加熱部のみならず冷却部を備えるステージにより解決できる。また,上記の課題は,加熱部や冷却部を収容する溝の隙間に熱伝導媒体を充填させることにより,解決できる。
 本発明の第1の側面は,チャンバ内に設置され,対象物を加熱及び冷却するためのステージに関する。
 チャンバの例は,真空チャンバである。対象物の例は,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,及び太陽光発電用パネルであるか,又はそれらを製造する途中の基板である。このステージ1は,対象物を搭載する搭載表面を有するステージ本体5,6と,搭載表面を加熱するための加熱部7と,搭載表面を冷却するための冷却部8と,を有する。冷却部8は,搭載表面に搭載された対象物を冷却するものであってもよいし,加熱部7より低温で対象物を加熱するために用いられてもよい。加熱部7及び冷却部8は,例えば,ステージを均一に加熱又は冷却できるように,渦を巻くように設置されてもよい。例えば,流体をステージ中央の下方から加熱部7及び冷却部8内を循環させる場合,加熱部7及び冷却部8は,ステージを巡るように設計されることが好ましい。
 このステージの好ましい態様は,ステージ本体5,6が,加熱部7が挿入される第1の溝10と,冷却部8が挿入される第2の溝10をさらに有するものである。第1の溝10及び第2の溝10は,ステージ本体5,6の内部に設けられることが好ましい。この場合,第1の溝10及び第2の溝は,加熱部7及び冷却部8を収容するトンネル(穴)状のものであってもよい。第1の溝10及び第2の溝10は,加熱部7及び冷却部8のある部分を収容することができる大きさのものであればよい。そして,好ましいステージ1は,第1の溝と加熱部の隙間,及び第2の溝と冷却部の隙間に,熱伝導媒体13を有するものである。熱伝導媒体13は,好ましくは,上記の隙間に充填される。
 このステージの好ましい態様は, 熱伝導媒体13が,銀,グリース,金属繊維,又はガスのものである。熱伝導媒体13は,希ガスであってもよい。希ガスは,圧力は0.1気圧以上100気圧以下(1気圧以上100気圧以下,0.1気圧以上10気圧以下又は2気圧以上10気圧以下)のヘリウムガスであってもよい。銀は銀ペーストであることが好ましい。グリースの例は,シリコングリスである。ステージが加熱に使用される場合,特にCVDやEtchのプロセスの場合,腐食性のガスが使用される。ことのため,ステージの材質は,腐食性ガスに対して耐性が強いアルミがよく使われる。ところが,アルミは,高温において,強度が下がるので,希ガスの圧力を上げると,ステージがミクロ的に見ると風船のように膨らみ,基板との距離が端の部分が大きくなり,基板の温度均一性に問題を生ずる。従い,CVDやEtchの加熱プロセスでは,希ガスの圧力を真空に近い0.1気圧~0.5気圧にコントロールすることにより,加熱性能と温度均一性の両方を満足できる領域が存在する。
 本発明の第2の側面は,上記したいずれかのステージをサセプタとして有する真空装置に関する。この真空装置は,例えば,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造するために用いられる真空装置である。真空装置は,通常チャンバと,チャンバを真空にするための真空ポンプとを有する。また,真空装置は,各種の試料をチャンバ内に導入するための導入部を有していてもよい。また,真空装置は,各種測定を行うためのセンサや測定機器を適宜有していてもよい。チャンバの例は,目的物を製造するためのプロセスチャンバである。フラットディスプレイパネルの例は,有機ELディスプレイ,プラズマディスプレイ及び液晶ディスプレイである。
 本発明の第3の側面は,上記した真空装置を用いる,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造する方法に関する。半導体集積回路の製造方法は,例えば特許3956697号公報,特許3519589号公報,及び特許3064993号公報に記載されているとおり公知である。フラットディスプレイパネルの製造方法は,例えば特許5173757号公報,特許5169757号公報,及び特許4604752号公報に記載されているとおり公知である。太陽電池パネルの製造方法は,例えば特許6555964号公報,特許6498053号公報,及び特許5386044号公報に記載されているとおり公知である。
 この発明は,ステージの搭載表面を加熱する加熱部のみならず冷却部をも備えるので,ステージの搭載表面を加熱及び冷却できる。また,この発明の好ましい例は,加熱部や冷却部を収容する溝の隙間に熱伝導媒体を有するので,搭載表面を均一に加熱(及び冷却)できる。
図1-1は,ステージの設置の状況を示す概念図である。 図1-2は,ステージが加熱に使用されるCVDやエッチ(Etch)のプロセスの場合の様子を示す概念図である。 図2は,ステージの構造例を示す概念図である。 図3は,ステージの断面の例を示す概念図である。 図4は,ステージの断面の例を示す概念図である。 図5は,熱伝導媒体の使用例を示す概念図である。 図6は,熱伝導媒体として流体を用いたものの例を示す概念図である。 図7は,ステージ本体を構成する上面テーブル及び下面テーブルの双方に溝が形成されたステージの例を示す概念図である。 図8は,流路を有するアルミ板の設計図である。 図9は,熱電対を取り付けたステージの様子を示す図である。 図10は,ステージの各部位における温度変化を示す図面に代わるグラフである。
 以下,図面を用いて本発明を実施するための形態について説明する。本発明は,以下に説明する形態に限定されるものではなく,以下の形態から当業者が自明な範囲で適宜修正したものも含む。 
 図1-1は,ステージの設置の状況を示す概念図である。ステージ1は通常プロセスチャンバ2の内部に設置され,基板3の温度管理をおこなう。プロセスチャンバ2は外気と遮断されており,所望の真空度に保たれている。プロセスチャンバ2はプロセスガス4でみたされて,圧力を保っていてもよい。異なるタイプのプロセスチャンバ,例えば,物理気相堆積(PVD)チャンバやスパッタリングチャンバ,イオン金属注入(IMP)チャンバ,化学気相堆積(CVD)チャンバ,原子層堆積(ALD)チャンバ,プラズマエッチングチャンバ,アニーリングチャンバ,他のチャンバによって,プロセスガス4の圧力は異なる。図1-2は,ステージが加熱に使用されるCVDやエッチ(Etch)のプロセスの場合の様子を示す概念図である。通常のサセプタは大気中で制作されるため,高温の領域では,引張強度やクリープ強度が下がり,ミクロ的には,風船状に膨らむ。とくに基板を摂氏400度に加熱する場合,ステージの反りは数mmになることもあり,温度均一性に問題が生ずる。
 図2は,ステージの構造例を示す概念図である。図2に示されるように,ステージ1は,通常対象物を搭載する搭載表面を有する上面テーブル5と下面テーブル6により加熱部7及び冷却部8をサンドイッチ状にはさんでいる。下面テーブル6にはテーブルサポート9が取り付けられており,加熱部7及び冷却部8はテーブルサポート9の内部を通じてプロセスチャンバ2の外に通じている。ステージ1の温度は,例えば室温から摂氏500度程度で,温度が低い場合は,加熱部7を使わず,冷却部(管の例を示す)8に液体を流すこともできる。温度が高い場合は,冷却部8を使わず,加熱部7のみを使うこともできる。ステージ1の材質は金属,クォーツ,パイレックス(登録商標):耐熱ガラス,及び炭素繊維などが考えられる。金属の例は,アルミニウム,銅,及びステンレスである。加熱部7は,溝内に収納される抵抗ヒーター,加熱流体と管の組み合わせ,ヒートポンプなどが考えられる。冷却部8は,溝内に収納される冷却流体と管の組み合わせ,ヒートポンプなどが考えられる。加熱部7及び冷却部8を収容するための溝は,上面テーブル5と下面テーブル6のそれぞれに設けられてもよい。
 図3は,ステージの断面の例を示す概念図である。通常上面テーブル5には接触効率を向上させるため溝10が設置されており,下面テーブル6により溝内に収納された加熱部7及び冷却部8をサンドイッチ状にはさんでいる。
 図4は,ステージの断面の例を示す概念図である。上面テーブル5と加熱部7及び,冷却部8の接触効率をあげるため,塑性変形を利用し,かしめた構造になっている。加熱部7,冷却部8及び上面テーブル5の一部が塑性変形して上面テーブル5と下面テーブル6への接触効率を向上させる。上面テーブル5の塑性変形を部位11で示す。かしめ時に加熱部7及び,冷却部8が塑性変形することもあり部位12で示されている。 
 図5は,熱伝導媒体の使用例を示す概念図である。接触効率を上げるため塑性変形を利用してかしめた構造でも,ミクロにみれば微小な隙間が空いており,真の接触面積は,例えばわずか数パーセントである。そのため熱伝導媒体13を使用することが効果的である。熱伝導媒体13は炭素繊維などの固体,グリース状のもの,銀のような液体,水素,ヘリウムのような気体が考えられる。グリース状のもの,液体,気体の場合は流出を防ぐためシールすることもできる。
 図6は,熱伝導媒体として流体を用いたものの例を示す概念図である。図6に示されるように,熱伝導媒体13が,グリース状のもの,液体,気体といった流体である場合,熱伝導媒体13が隙間に充填され,漏れないように密閉することが望ましい。簡単のため,図6では,左半分に,加熱部7のみを示し,右半分に冷却部8のみを示す。テーブルサポート9の端部にシール板14が取り付けられており,加熱部7と冷却部8は,シール部15で完全に密封されている。熱伝導媒体13をシールすることにより大気から遮断されており,流出防止になっている。熱伝導媒体13が気体の場合,隙間に気体を圧入することにより,熱伝導効率を飛躍的に上げることができる。
 図7は,ステージ本体を構成する上面テーブル及び下面テーブルの双方に溝が形成されたステージの例を示す概念図である。図7に示されるように,加熱部7及び冷却部8を収容するための溝は,上面テーブル5と下面テーブル6のそれぞれに設けられてもよい。
 ステージは,例えば,以下のように製造できる。厚み30~100mmのアルミの板,1辺の長さが1500~4000ミリメートルの矩形(例えば正方形)の2枚の板に溝(流路)を機械加工する。ステージ本体の材質は,アルミニウムに限定されず金属であればよい。そのようにして得られた溝(流路),に外形φ5~φ20のステンレス製のパイプを挿入する。溝にパイプを挿入した後,2枚のアルミの板を合わせて外周を摩擦攪拌接合(FSW溶接)する。2枚のアルミの板を併せた際に,アルミ板の溝とステンレス製のパイプには,隙間ができる。この隙間を放置すると,熱伝導効率が悪くなる。そのため,アルミ板の溝とステンレス製のパイプの間に熱伝導媒体を挿入し,熱伝導効率を向上させることが望ましい。例えば,パイプなどの加熱部や冷却部を溝に設置する前に溝に熱伝導媒体である流体を塗布しておいてもよいし,FSW溶接した後に,溝内にガスを充填し,密封してもよい。このようにしてステージを製造できる。
  [実験例1]
ガラス基板を温度制御するためのサセプタの製造
 ガラス基板の温度制御のためサセプタが用いられる。サセプタの温度制御時間によってプロセスの時間に影響が出る。温度制御の時間短縮やスループット向上のため温度制御機能を有するサセプタが望まれた。
 サセプタを以下のように製造した。
 材質A6061のアルミの板に流路を加工し,そこにヒーターや熱伝導媒体を流すことで温度制御を行うこととした。図8は,流路を有するアルミ板の設計図である。ステージ(サセプタ)は,本来真空装置に内において用いられるものの,ここでは温度変化を測定するため,大気中にて温度変化を測定した。
 熱伝導媒体は,固体(金属・金属繊維・セメント,ファイバーなど),液体(グリス,銀ペーストなど),気体(ヘリウムなど)になる。
それらを挿入することで熱伝導効率を向上することができる。
 400mm四方,厚み40mmの2枚のアルミ板の一方に溝を機械加工し,SUSパイプを挿入,その後外周をFSWにて接合した基板を作成した。SUSパイプと,アルミニウム板との隙間にヘリウムガスを圧入し,充填させた。そして,一方のアルミ板に熱電対を18か所取り付け,SUSパイプに80℃の熱湯を流して温度変化を測定した。図9は,熱電対を取り付けたステージの様子を示す図である。図9の右部分は,写真である。
 [実験例2] 熱伝導媒体を用いない以外は,実験例1と同様にしてステージを製造し,温度変化を測定した。
 [実験例3] 熱伝導媒体としてシリコングリスを用いた以外は,実験例1と同様にしてステージを製造し,温度変化を測定した。シリコングリスは,SUSパイプを溝に挿入する前に溝に塗布した。
 [実験例4] 熱伝導媒体として銀ペーストを用いた以外は,実験例1と同様にしてステージを製造し,温度変化を測定した。銀ペーストは,SUSパイプを溝に挿入する前に溝に塗布した。
 結果
 図10は,ステージの各部位における温度変化を示す図面に代わるグラフである。図10は,実験例2(図10(a)),実験例3(図10(b)),実験例4(図10(c))における温度変化を示す。縦軸は温度,横軸は経過時間を示す。シリコングリス,銀ペーストの熱抵抗は,熱伝導媒体無しの場合と比較し約1/2となっており,熱伝導効率向上することが分かった。また,ヘリウムガスの熱抵抗が最も低く,1/2未満となるので,熱伝導効率向上することが推測される。
 この発明は,例えば真空チャンバ内で用いられるサセプタとしても用いられるステージに関するので,半導体製造産業や,パネル製造産業及び太陽発電パネルの製造産業において利用され得る。 
1 ステージ
2 プロセスチャンバ
3 基板
4 プロセスガス
5 上面テーブル
6 下面テーブル
7 加熱部
8 冷却部
9 テーブルサポート
10 溝
11 塑性変形部位
12 塑性変形部位
13 熱伝導媒体
14 シール板
15 シール部

Claims (8)

  1.  チャンバ内に設置され,対象物を加熱及び冷却するためのステージであって,
     前記ステージは,
     対象物を搭載する搭載表面を有するステージ本体と,
     前記搭載表面を加熱するための加熱部と,
     前記搭載表面を冷却するための冷却部と,
     を有する,ステージ。
  2.  請求項1に記載のステージであって,
     前記ステージ本体は,前記加熱部が挿入される第1の溝と,
     前記冷却部が挿入される第2の溝をさらに有し,
     第1の溝と前記加熱部の隙間,及び第2の溝と前記冷却部の隙間に,熱伝導媒体を有する,
     ステージ。
  3.  請求項2に記載のステージであって,前記熱伝導媒体は,銀,グリース,金属繊維,又はガスである,ステージ。
  4.  請求項2に記載のステージであって,前記熱伝導媒体は,希ガスである,ステージ。
  5.  請求項4に記載のステージであって,前記希ガスは,圧力が0.1気圧以上100気圧以下のヘリウムガスである,ステージ。
  6.  請求項1~5のいずれかに記載のステージをサセプタとして有する真空装置。
  7.  請求項6に記載の真空装置であって,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造するために用いられる真空装置。
  8.  請求項6に記載の真空装置を用いる,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造する方法。
PCT/JP2020/039995 2019-12-06 2020-10-23 対象物を加熱及び冷却するためのステージ WO2021111760A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202080091534.3A CN114902395A (zh) 2019-12-06 2020-10-23 用来加热以及冷却对象物的工作台
US17/782,929 US20230002904A1 (en) 2019-12-06 2020-10-23 Stage for heating and cooling object
EP20895154.1A EP4071429A4 (en) 2019-12-06 2020-10-23 OBJECT HEATING AND COOLING STAGE

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019-221514 2019-12-06
JP2019221514A JP7401279B2 (ja) 2019-12-06 2019-12-06 対象物を加熱及び冷却するためのステージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021111760A1 true WO2021111760A1 (ja) 2021-06-10

Family

ID=76221189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/039995 WO2021111760A1 (ja) 2019-12-06 2020-10-23 対象物を加熱及び冷却するためのステージ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20230002904A1 (ja)
EP (1) EP4071429A4 (ja)
JP (1) JP7401279B2 (ja)
CN (1) CN114902395A (ja)
TW (1) TW202123367A (ja)
WO (1) WO2021111760A1 (ja)

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS519589B1 (ja) 1970-12-28 1976-03-27
JPH0255964B2 (ja) 1981-06-19 1990-11-28 Alpine Electronics Inc
JPH06260430A (ja) * 1993-03-08 1994-09-16 Eiko:Kk プレートヒータ及びその製法
JPH1050811A (ja) * 1996-03-16 1998-02-20 Miyata R Andei:Kk 半導体基板の温度調節機構
JP2000021890A (ja) * 1997-07-31 2000-01-21 Toshiba Ceramics Co Ltd カーボンヒータ
JP3064993B2 (ja) 1997-10-30 2000-07-12 日本電気株式会社 半導体集積回路の製造方法
JP2007043042A (ja) * 2005-07-07 2007-02-15 Sumitomo Electric Ind Ltd ウェハ保持体およびその製造方法、ならびにそれを搭載したウェハプローバ及び半導体加熱装置
JP3956697B2 (ja) 2001-12-28 2007-08-08 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路の製造方法
KR20100137795A (ko) * 2009-06-23 2010-12-31 (주)티티에스 서셉터 및 이의 제조 방법 및 이를 갖는 기판 처리 장치
JP4604752B2 (ja) 2005-02-14 2011-01-05 パナソニック株式会社 フラットディスプレイパネルの製造に用いるフォトマスクおよびフラットディスプレイパネルの製造方法
JP5169757B2 (ja) 2008-11-14 2013-03-27 Jsr株式会社 感光性組成物および焼成体の形成方法並びにフラットディスプレイパネルの製造方法
JP5173757B2 (ja) 2008-11-14 2013-04-03 株式会社ジャパンディスプレイセントラル フラットディスプレイパネル及びフラットディスプレイパネルの製造方法
JP5386044B2 (ja) 2009-10-23 2014-01-15 パナソニック株式会社 多結晶型太陽電池パネルの製造方法
JP5427367B2 (ja) 2007-05-03 2014-02-26 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 矩形サセプタの非対称な接地
JP6498053B2 (ja) 2015-06-22 2019-04-10 株式会社豊田自動織機 ソーラーパネルの製造方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070090516A1 (en) * 2005-10-18 2007-04-26 Applied Materials, Inc. Heated substrate support and method of fabricating same
JP6260430B2 (ja) 2014-04-22 2018-01-17 株式会社デンソー バルブ装置

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS519589B1 (ja) 1970-12-28 1976-03-27
JPH0255964B2 (ja) 1981-06-19 1990-11-28 Alpine Electronics Inc
JPH06260430A (ja) * 1993-03-08 1994-09-16 Eiko:Kk プレートヒータ及びその製法
JPH1050811A (ja) * 1996-03-16 1998-02-20 Miyata R Andei:Kk 半導体基板の温度調節機構
JP2000021890A (ja) * 1997-07-31 2000-01-21 Toshiba Ceramics Co Ltd カーボンヒータ
JP3064993B2 (ja) 1997-10-30 2000-07-12 日本電気株式会社 半導体集積回路の製造方法
JP3956697B2 (ja) 2001-12-28 2007-08-08 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路の製造方法
JP4604752B2 (ja) 2005-02-14 2011-01-05 パナソニック株式会社 フラットディスプレイパネルの製造に用いるフォトマスクおよびフラットディスプレイパネルの製造方法
JP2007043042A (ja) * 2005-07-07 2007-02-15 Sumitomo Electric Ind Ltd ウェハ保持体およびその製造方法、ならびにそれを搭載したウェハプローバ及び半導体加熱装置
JP5427367B2 (ja) 2007-05-03 2014-02-26 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 矩形サセプタの非対称な接地
JP5169757B2 (ja) 2008-11-14 2013-03-27 Jsr株式会社 感光性組成物および焼成体の形成方法並びにフラットディスプレイパネルの製造方法
JP5173757B2 (ja) 2008-11-14 2013-04-03 株式会社ジャパンディスプレイセントラル フラットディスプレイパネル及びフラットディスプレイパネルの製造方法
KR20100137795A (ko) * 2009-06-23 2010-12-31 (주)티티에스 서셉터 및 이의 제조 방법 및 이를 갖는 기판 처리 장치
JP5386044B2 (ja) 2009-10-23 2014-01-15 パナソニック株式会社 多結晶型太陽電池パネルの製造方法
JP6498053B2 (ja) 2015-06-22 2019-04-10 株式会社豊田自動織機 ソーラーパネルの製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4071429A4

Also Published As

Publication number Publication date
EP4071429A4 (en) 2023-12-20
TW202123367A (zh) 2021-06-16
JP7401279B2 (ja) 2023-12-19
CN114902395A (zh) 2022-08-12
EP4071429A1 (en) 2022-10-12
US20230002904A1 (en) 2023-01-05
JP2021093399A (ja) 2021-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5347214B2 (ja) 載置台構造及び熱処理装置
WO2009113451A1 (ja) 載置台構造及び処理装置
JP6359669B2 (ja) 温度プローブ、基板温度測定用アセンブリ及び基板支持用プラテン
JP2001068538A (ja) 電極構造、載置台構造、プラズマ処理装置及び処理装置
US20070090516A1 (en) Heated substrate support and method of fabricating same
US8573836B2 (en) Apparatus and method for evaluating a substrate mounting device
JP2019205991A (ja) 有機膜形成装置、および有機膜の製造方法
KR102076643B1 (ko) 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
US7674338B2 (en) Heated substrate support and method of fabricating same
WO2021111760A1 (ja) 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
US20080230535A1 (en) Susceptor
JP7458337B2 (ja) 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
JP2009218301A (ja) 温度測定装置、載置台構造及び熱処理装置
JP2008205415A (ja) 静電チャック
JP5376023B2 (ja) 載置台構造及び熱処理装置
JP5048300B2 (ja) 基板載置装置の評価装置及びその評価方法
US10947619B2 (en) Processing arrangement and method for conditioning a processing arrangement
JP4165745B2 (ja) 半導体ウェハ保持装置
JP7106607B2 (ja) 有機膜形成装置
KR100929536B1 (ko) 퍼니스형 반도체 설비
JP2008187067A (ja) 熱処理装置、遮熱用真空バッファー体及び遮熱板
TW202331885A (zh) 具有減緩氧化的隔離環境的內部軸桿區域的基板支撐組件
JPH11102872A (ja) 反応炉
JP2006114638A (ja) 熱処理装置、熱処理方法及び昇温レートの算出方法
JPH10148584A (ja) 温度検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20895154

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2020895154

Country of ref document: EP

Effective date: 20220706