WO2020213488A1 - 露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置 - Google Patents

露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置 Download PDF

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籍文 麻
芳幸 吉本
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株式会社ブイ・テクノロジー
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    • G03F7/70058Mask illumination systems
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    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor

Definitions

  • the present invention relates to an exposure mirror, a method for manufacturing an exposure mirror, and an exposure apparatus including the exposure mirror, and more specifically, can detect a state of the mirror such as damage and strain amount of the exposure mirror.
  • the present invention relates to an exposure mirror, a method for manufacturing an exposure mirror, and an exposure apparatus including the exposure mirror.
  • a mask on which an exposure pattern is formed is placed close to an exposed substrate coated with a photosensitive material with a gap of several tens of ⁇ m to several hundreds of ⁇ m, and the exposure light from the optical illumination device is irradiated through the mask.
  • the exposure pattern is transferred to the exposed substrate.
  • actuators capable of microdisplacement are provided at a plurality of locations on the back surface of the optical path reversing mirror, and the local curvature of the optical path reversing mirror is adjusted to adjust the parallelism of the illumination light for exposure and mask.
  • Proximity exposure methods and devices thereof have been proposed so as to correct local expansion and contraction.
  • the optical path reversing mirror is made of glass, if the actuator attempts to excessively change the local curvature of the optical path reversing mirror, damage such as cracking may occur in the optical path reversing mirror.
  • damage to the optical path reversing mirror affects the quality of the product to be exposed. Therefore, in the unlikely event that the optical path reversing mirror is damaged, it is required to immediately detect the damage to the optical path reversing mirror.
  • a method of detecting breakage from the broken sonic shape of the glass using sound waves and a method of detecting breakage by detecting the vibration waveform at the time of glass breakage directly from the glass surface can be considered. Be done.
  • the detection method using the broken sound wave shape of the glass or the vibration waveform at the time of breakage there are many malfunctions due to the influence of the operating sound and vibration of the device itself, and stable breakage detection is very difficult.
  • the configuration of the detector itself is complicated and expensive, and there is room for improvement.
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to manufacture an exposure mirror and an exposure mirror capable of detecting the state of the mirror such as damage and strain amount with an inexpensive configuration. , And an exposure apparatus including the exposure mirror.
  • An exposure mirror for reflecting light from a light source A reflective film formed on the surface side of the flat glass and capable of reflecting light from the light source, and A conductive film formation pattern that is thinner than the reflective film and is continuously formed from one end to the other end on the back surface side of the flat glass.
  • An exposure mirror (2) The exposure mirror according to (1), wherein the film-forming pattern is broken when the exposure mirror is damaged and damage to the exposure mirror can be detected.
  • a reflective film capable of reflecting light from the light source is formed on the front surface side of the plate glass, and the film forming pattern is formed on the back surface side of the plate glass.
  • the process of forming a film is provided.
  • a method for manufacturing an exposure mirror (9) The exposure mirror according to any one of (1) to (7), which comprises a light source, an integrator that uniformly emits light from the light source, and reflects the light emitted from the integrator.
  • Equipped with a lighting device that has An exposure device that irradiates a work with light from the lighting device through a mask and transfers the exposure pattern of the mask to the work.
  • the exposure mirror is provided on the back surface side thereof and includes a mirror bending mechanism capable of changing the curvature of the exposure mirror.
  • the exposure mirror of the present invention by checking the presence or absence of continuity of the film formation pattern formed on the back surface side of the plate glass, the state of the mirror such as damage and strain amount of the exposure mirror can be obtained with an inexpensive configuration. Can be reliably detected.
  • a reflective film on the front surface side of a plate glass and a film formation pattern on the back surface side of the plate glass are simultaneously formed by vapor deposition or sputtering of a metal material. It is possible to inexpensively manufacture an exposure mirror capable of detecting the state of the mirror.
  • the state of the mirror such as damage and the amount of distortion of the exposure mirror can be reliably detected, and high-precision exposure can be maintained.
  • FIG. 1 It is a front view of the proximity exposure apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is a side view which shows the structure of the light irradiation apparatus applied to the proximity exposure apparatus shown in FIG.
  • (A) is a back view of the exposure mirror shown in FIG. 2, and (b) is a back view showing a state in which the exposure mirror is damaged.
  • (A) is a conceptual diagram showing a method of producing an exposure mirror by sputtering, and (b) is a back view thereof.
  • (A) is a back view of the exposure mirror of the second embodiment, and (b) is a back view showing a state in which the exposure mirror is damaged. It is a back view of the exposure mirror of the 3rd embodiment.
  • (A) is a back view of the exposure mirror of the fourth embodiment, and (b) is a side view.
  • the proximity exposure apparatus PE uses a mask M smaller than the work W as the material to be exposed, holds the mask M on the mask stage (mask support portion) 1, and holds the work W on the work stage (work).
  • Pattern exposure from a light irradiation device for a proximity exposure device (hereinafter, also simply referred to as a light irradiation device) 3 in a state where the mask M and the work W are placed close to each other with a predetermined exposure gap while being held by the support portion) 2.
  • a light irradiation device for a proximity exposure device hereinafter, also simply referred to as a light irradiation device 3
  • the pattern of the mask M is exposed and transferred onto the work W.
  • the work stage 2 is step-moved with respect to the mask M in the biaxial directions of the X-axis direction and the Y-axis direction, and the exposure transfer is performed step by step.
  • an X-axis stage feed mechanism 5 for step-moving the X-axis feed base 5a in the X-axis direction is installed on the device base 4.
  • a Y-axis stage feed mechanism 6 for step-moving the Y-axis feed base 6a in the Y-axis direction is installed in order to move the work stage 2 in steps in the Y-axis direction.
  • a work stage 2 is installed on the Y-axis feed base 6a of the Y-axis stage feed mechanism 6.
  • the work W is held on the upper surface of the work stage 2 in a state of being vacuum-sucked by a work chuck or the like. Further, on the side portion of the work stage 2, a substrate side displacement sensor 15 for measuring the height of the lower surface of the mask M is arranged. Therefore, the substrate side displacement sensor 15 can move together with the work stage 2 in the X and Y axis directions.
  • a plurality of (four in the embodiment shown in the figure) guide rails 51 of the X-axis linear guides are arranged on the device base 4 in the X-axis direction, and each guide rail 51 has a lower surface of the X-axis feed base 5a.
  • a slider 52 fixed to is straddled.
  • the X-axis feed base 5a is driven by the first linear motor 20 of the X-axis stage feed mechanism 5 and can reciprocate in the X-axis direction along the guide rail 51.
  • a plurality of Y-axis linear guide guide rails 53 are arranged on the X-axis feed base 5a in the Y-axis direction, and each guide rail 53 has a slider 54 fixed to the lower surface of the Y-axis feed base 6a. Is straddled.
  • the Y-axis feed base 6a is driven by the second linear motor 21 of the Y-axis stage feed mechanism 6 and can reciprocate in the Y-axis direction along the guide rail 53.
  • the vertical coarse movement device 7 Since the work stage 2 is moved in the vertical direction between the Y-axis stage feed mechanism 6 and the work stage 2, the vertical coarse movement device 7 having a relatively coarse positioning resolution but a large movement stroke and movement speed and the vertical coarse movement A vertical fine movement device 8 is installed, which enables positioning with a higher resolution than the device 7 and finely adjusts the gap between the facing surfaces of the mask M and the work W to a predetermined amount by finely moving the work stage 2 up and down. ..
  • the vertical roughing device 7 moves the work stage 2 up and down with respect to the fine movement stage 6b by an appropriate drive mechanism provided in the fine movement stage 6b described later.
  • the stage coarse movement shafts 14 fixed at four positions on the bottom surface of the work stage 2 engage with the linear motion bearings 14a fixed to the fine movement stage 6b and are guided in the vertical direction with respect to the fine movement stage 6b. It is desirable that the vertical coarsening device 7 has high repetitive positioning accuracy even if the resolution is low.
  • the vertical fine movement device 8 includes a fixing base 9 fixed to the Y-axis feed base 6a, and a guide rail 10 of a linear guide attached to the fixing base 9 with its inner end side inclined diagonally downward.
  • a ball screw nut (not shown) is connected to the slide body 12 that reciprocates along the guide rail 10 via the slider 11 straddling the guide rail 10, and the upper end surface of the slide body 12 is connected. Is slidably in contact with the flange 12a fixed to the fine movement stage 6b in the horizontal direction.
  • the vertical fine movement device 8 may drive the slide body 12 by a linear motor instead of driving the slide body 12 by the motor 17 and the ball screw.
  • a total of three vertical fine movement devices 8 are installed, one on one end side (left end side in FIG. 1) of the Z-axis feed base 6a in the Y-axis direction and two on the other end side, and each is independently driven and controlled. It has become so.
  • the vertical fine movement device 8 independently finely adjusts the heights of the flanges 12a at the three locations based on the measurement results of the gap amount between the mask M and the work W at the plurality of locations by the gap sensor 27, and the work stage 2 Fine-tune the height and tilt of. If the height of the work stage 2 can be sufficiently adjusted by the vertical fine movement device 8, the vertical coarse movement device 7 may be omitted.
  • a bar mirror (both not shown) facing the interferometer is installed.
  • the bar mirror 19 facing the Y-axis laser interferometer 18 is arranged along the X-axis direction on one side of the Y-axis feeder 6a, and the bar mirror facing the X-axis laser interferometer is the Y-axis feeder 6a. It is arranged along the Y-axis direction on one end side.
  • the Y-axis laser interferometer 18 and the X-axis laser interferometer are arranged so as to always face the corresponding bar mirrors and are supported by the device base 4.
  • Two Y-axis laser interferometers 18 are installed so as to be separated from each other in the X-axis direction.
  • the two Y-axis laser interferometers 18 detect the position of the Y-axis feed base 6a and, by extension, the work stage 2 in the Y-axis direction and the yawing error via the bar mirror 19.
  • the X-axis laser interferometer detects the position of the X-axis feed base 5a and, by extension, the work stage 2 in the X-axis direction via the opposing bar mirrors.
  • the mask stage 1 is inserted into the mask base frame 24 made of a substantially rectangular frame and the opening at the center of the mask base frame 24 through a gap in the X, Y, ⁇ directions (in the X, Y plane). It includes a mask frame 25 that is movably supported, and a plurality of mask drive units 28 that are provided so that the mask frame 25 can be moved in the X, Y, and ⁇ directions with respect to the mask base frame 24.
  • the mask base frame 24 is held in a fixed position above the work stage 2 by a support column 4a projecting from the device base 4.
  • a frame-shaped mask holder 26 is provided on the lower surface of the central opening of the mask frame 25. That is, a plurality of mask holder suction grooves connected to a vacuum suction device (not shown) are provided on the lower surface of the mask frame 25, and the mask holder 26 is sucked onto the mask frame 25 via the plurality of mask holder suction grooves. Be retained.
  • a plurality of mask suction grooves for sucking the peripheral portion on which the mask pattern of the mask M is not drawn are provided on the lower surface of the mask holder 26, and the mask M passes through the mask suction grooves. It is detachably held on the lower surface of the mask holder 26 by a vacuum suction device (not shown).
  • the light irradiation device 3 of the exposure device PE of the present embodiment includes a lamp unit 60 as a light source, a plane mirror 63 for changing the direction of the optical path EL, and an exposure control for opening and closing the irradiation optical path.
  • the lamp unit 60 includes, for example, a high-pressure mercury lamp 61 and a plurality of reflectors 62 that collect the light emitted from the high-pressure mercury lamp 61.
  • the light source may be composed of a single high-pressure mercury lamp 61 and a reflector 62, or may be composed of an LED.
  • the integrator 65 includes a plurality of lens elements (not shown) arranged in a matrix, and emits the light collected by the reflector 62 so as to have an illuminance distribution as uniform as possible in the irradiation region.
  • the plane mirror 63, the plane mirror 66, the collimation mirror 67, and the plane mirror 68 are reflectors capable of reflecting light of all wavelengths (substantially total reflection).
  • a reflector capable of reflecting light of all wavelengths (substantially total reflection).
  • an aluminum film is formed on the reflection surface. ..
  • substantially total reflection means that the reflectance is 90% or more.
  • the flat mirror 68 is provided with a mirror bending mechanism 70 on the back surface side.
  • the plane mirror 68 changes the shape of the plane mirror 68 and locally changes the curvature of the reflecting surface based on the command from the mirror control unit 80 connected to each mirror bending mechanism 70 by the signal line 81. By doing so, the declination angle of the plane mirror 68 can be corrected.
  • a polarizing filter and a bandpass filter may be arranged between the integrator 65 and the exposed surface.
  • the exposure control shutter unit 64 when the exposure control shutter unit 64 is open-controlled at the time of exposure in the light irradiation device 3, the light emitted from the high-pressure mercury lamp 61 is reflected by the flat mirror 63. It is incident on the incident surface of the integrator 65. Then, the traveling direction of the light emitted from the exit surface of the integrator 65 is changed by the plane mirror 66, the collimation mirror 67, and the plane mirror 68. Further, this light is irradiated as light for pattern exposure substantially perpendicular to the surface of the mask M held by the mask stage 1 and the work W held by the work stage 2, and the pattern of the mask M is the work. It is exposed and transferred onto W.
  • the exposure mirror (hereinafter, the plane mirror 63, the plane mirror 66, the collimation mirror 67, and the plane mirror 68 are collectively referred to as the exposure mirror 100) 100 will be described.
  • the exposure mirror 100 has a thickness of several microns by vapor deposition or sputtering of aluminum on the front surface 102 side of the rectangular plate glass 101 (the back surface side of the paper surface in FIG. 3A).
  • An aluminum thin film (not shown) is formed.
  • the aluminum thin film is formed over the entire surface 102 side of the plate glass 101 to form a reflective film 104 that totally reflects the light from the light source 60.
  • a conductive film formation pattern 106 having a thickness of several microns is formed of a thin film of aluminum by vapor deposition or sputtering of aluminum.
  • the film forming pattern 106 is formed continuously from one end 108 to the other 109 in a substantially square shape along the outer peripheral portions 107 of the four sides of the plate glass 101.
  • the thickness of the film forming pattern 106 formed on the back surface 103 side of the plate glass 101 is thinner than that of the reflective film 104 formed on the front surface 102 side. The reason will be described in the section of the manufacturing method of the exposure mirror 100.
  • Lead wires 110 and 111 are connected to one end 108 and the other end 109 of the film forming pattern 106, respectively. Then, by passing a current between the pair of lead wires 110 and 111, damage to the exposure mirror 100 can be detected.
  • the film forming pattern 106 is formed of a thin film having a thickness of several microns, which is thinner than the reflective film 104, only the thin film does not remain connected even though the exposure mirror 100 is broken. .. Therefore, damage to the exposure mirror 100 can be reliably detected by the occurrence of cracks 120.
  • the film formation pattern 106 has a minute electric resistance, instead of passing a current between the pair of lead wires 110 and 111 to measure the current value, the pair of lead wires is used with a resistance meter or the like. By measuring the resistance value between 110 and 111, it is possible to confirm whether or not the exposure mirror 100 is damaged.
  • the exposure mirror 100 forms a reflective film 104 on the front surface 102 side of the plate glass 101 by vapor deposition or sputtering aluminum, which is a metal material, from the surface 102 side of the plate glass 101, and at the same time, forms a film on the back surface 103 side of the plate glass 101.
  • the film pattern 106 is formed by forming a film.
  • a film formation pattern 106 is formed on the back surface 103 side of the plate glass 101, which is continuous from one end 108 to the other end 109 along the outer peripheral portion 107 of the plate glass 101. Is masked with masking 130. Then, aluminum, which is a base material 131, is arranged on the surface 102 side of the plate glass 101, and the aluminum is vapor-deposited or sputtered to form a reflective film 104 on the surface 102 side of the plate glass 101, and at the same time, the plate glass 101 The film formation pattern 106 is formed on the back surface 103 side. Then, after the film formation, the masking 130 is removed from the back surface 103 of the plate glass 101.
  • Thin-film deposition is a method in which an electron beam or heat is applied to a base material (aluminum in this embodiment) 131 in a vacuum to form a film of decomposed aluminum molecules on a plate glass 101, and sputtering is filled in a chamber.
  • This is a method in which electricity is passed through an Ar gas to ionize the gas, and the gas is made to collide with the base material 131 to form aluminum molecules protruding from the base metal 131 on the plate glass 101.
  • reference numeral 132 is an arrow indicating the direction in which the aluminum molecule moves.
  • the aluminum molecules When the aluminum molecules are formed on the plate glass 101, the aluminum molecules wrap around from the front surface 102 to the back surface 103 of the plate glass 101 facing which the base material (aluminum) 131 faces, and an aluminum thin film is formed on the back surface 103 as well. Be filmed. The thickness of the thin film formed is thicker on the surface 102 of the plate glass 101 close to the base material 131 than on the thin film on the back surface 103 formed around the plate glass 101. Tends to be filmed.
  • a masking 130 having a desired pattern is applied to the back surface 103 of the plate glass 101, and aluminum is deposited from the front surface 102 by vapor deposition or sputtering to form a reflective film 104 on the front surface 102 at the same time.
  • the film formation pattern 106 is formed by the thin film formed on the back surface 103 by utilizing the phenomenon that the aluminum molecules wrap around to the back surface 103.
  • the conductive thin film pattern as the film forming pattern 106 can be formed at a very low cost without performing any special treatment other than masking the back surface 103.
  • the mirror bending mechanism 70 when the mirror bending mechanism 70 is arranged on the back surface 103 of the exposure mirror 100 as in the plane mirror 68 shown in FIG. 2, it is not necessary to avoid the film forming pattern 106 at the arrangement position of the mirror bending mechanism 70. It can be mounted on the film pattern 106 without any trouble. Therefore, the arrangement position of the mirror bending mechanism 70 is not restricted by the film forming pattern 106. It is more preferable to form a protective film on the film forming pattern 106 and dispose the mirror bending mechanism 70 on the protective film.
  • the same base material 131 is used to simultaneously form the reflective film 104 on the front surface 102 of the exposure mirror 100 and the film forming pattern 106 on the back surface 103, but the reflective film 104 is formed.
  • the film pattern 106 may be formed in a separate step using metals different from each other.
  • examples of the metal used for the reflective film 104 on the surface 102 include silver in addition to the aluminum.
  • examples of the metal used for the reflective film 104 on the surface 102 include silver in addition to the aluminum.
  • aluminum is preferable because the reflectance in the ultraviolet region is high.
  • a dielectric mirror may be used in addition to the metal mirror.
  • examples of the metal used for the film forming pattern 106 on the back surface 103 include silver, copper, and the like in addition to the aluminum.
  • aluminum is preferable from the viewpoint of ease of film formation and low price. In either case, the film formation pattern 106 on the back surface 103 is formed thinner than the reflection film 104 on the front surface 102.
  • the reflective film formed on the front surface side of the plate glass and capable of reflecting the light from the light source and the back surface side of the plate glass are thinner than the reflective film and have one end.
  • the film is formed so as to be continuous from one portion to the other end, and includes a conductive film-forming pattern capable of detecting damage to the exposure mirror by breaking when the exposure mirror is damaged.
  • the film formation pattern is formed along the outer peripheral portion of the flat glass, it is possible to detect the damage generated on the outer peripheral portion of the exposure mirror.
  • the reflective film and the film forming pattern are formed of the same metal material, the reflective film and the film forming pattern can be formed at the same time, and an exposure mirror can be produced at low cost.
  • the back surface side of the flat glass is continuous from one end to the other end, and when the exposure mirror is damaged, it breaks to damage the exposure mirror.
  • a film forming pattern and a step of forming a film are provided on the back surface side of the flat glass.
  • the reflective film on the front surface side of the plate glass and the film formation pattern on the back surface side of the plate glass can be simultaneously formed without any special treatment other than masking on the back surface of the plate glass.
  • An exposure mirror capable of detecting the state can be manufactured at low cost.
  • an illuminating apparatus having a light source, an integrator that uniformly emits light from the light source, and an exposure mirror that reflects the light emitted from the integrator. Since the light from the lighting device is irradiated onto the work through the mask and the exposure pattern of the mask is exposed and transferred to the work, damage to the exposure mirror can be reliably detected and high accuracy is achieved. Can maintain a good exposure.
  • the exposure mirror is provided on the back surface side thereof and includes a mirror bending mechanism capable of changing the curvature of the exposure mirror, the local curvature of the exposure mirror can be changed to change the parallelism of the exposure illumination light. And corrections such as local expansion and contraction of the mask can be performed. In particular, the exposure mirror can more reliably detect cracks in the mirror caused by curvature correction by the film formation pattern.
  • FIG. 5A is a back view of the exposure mirror of the second embodiment
  • FIG. 5B is a back view of the partially damaged exposure mirror.
  • the film formation pattern 106 made of a thin film of aluminum passes through the outer peripheral portion 107 of the plate glass 101 and the inner 113 inside the outer peripheral portion 107. Then, it is formed on the back surface 103 of the exposure mirror 100A continuously from one end 108 to the other end 109.
  • the molding pattern 106 is formed in a substantially square shape along the outer peripheral portion 107 of the plate glass 101, and is formed in a substantially zigzag shape so as to pass through substantially the entire surface of the inner 113 inside the outer peripheral portion 107. ing.
  • Lead wires 110 and 111 are connected to one end 108 and the other end 109 of the film forming pattern 106, respectively. As a result, it is possible to detect the presence or absence of damage to the exposure mirror 100 by passing a current between the pair of lead wires 110 and 111.
  • the film formation pattern 106 formed by the thin film of aluminum passes through the outer peripheral portion 107 and the inner 113 of the back surface 103.
  • the inner 113 is formed in a substantially zigzag shape. Therefore, even if the damage of the exposure mirror 100A does not reach the outer peripheral portion 107 and the partial crack 120 remains in the inner 113, the damage of the exposure mirror 100A does not reach the inner 113 and the outer circumference is 113. Even if there is a partial crack 120 that stays in the portion 107, the film forming pattern 106 is cut at a position where the crack 120 passes through the film forming pattern 106, and the pair of lead wires 110 and 111 become non-conducting.
  • the film forming pattern 106 formed on the inner 113 is not limited to a substantially zigzag shape, and may have any shape as long as it is formed by vapor deposition or sputtering, such as a spiral shape.
  • FIG. 6 is a back view of the exposure mirror of the third embodiment.
  • the exposure mirror 100B of the third embodiment is formed on the first film formation pattern 106A formed by the thin film formed on the outer peripheral portion 107 of the plate glass 101 and the inside 113 of the plate glass 101. It includes a second film forming pattern 106B formed by the filmed thin film.
  • the resistance values of the first film forming pattern 106A and the second film forming pattern 106B are set to different resistance values.
  • first film formation pattern 106A and the second film formation pattern 106B one ends 108a and 108b are connected to each other at one end 108, and the other ends 109a and 109b are connected to each other at the other end 109.
  • Lead wires 110 and 111 are connected to 108 and the other end 109, respectively. That is, the first film forming pattern 106A and the second film forming pattern 106B are connected in parallel.
  • the resistance values of the first film forming pattern 106A and the second film forming pattern 106B are measured in advance, at least one of the first film forming pattern 106A and the second film forming pattern 106B will be broken.
  • it occurs by detecting the resistance value between the lead wires 110 and 111, it is possible to recognize which of the first and second film forming patterns 106A and 106B is broken. it can. That is, it is possible to determine whether the damage of the exposure mirror 100B has occurred in the outer peripheral portion 107 of the plate glass 101 or in the inner 113, and it is possible to know the outline of the damaged position.
  • the resistance value between the lead wires 110 and 111 becomes the insulation level, it can be detected that both the film forming patterns 106A and 106B are broken, that is, the exposure mirror 100B is greatly damaged.
  • FIG. 7A is a back view of the exposure mirror of the fourth embodiment
  • FIG. 7B is a side view.
  • the exposure mirror 100C of the fourth embodiment has a shape similar to that of a strain gauge (that is, a grid length, a grid width, and the number of grids) on its back surface 103.
  • the film formation pattern 106C configured in the shape) is formed.
  • the film formation pattern 106C is continuously formed by a thin film made of a material whose resistance value changes when the exposure mirror 100C is curved and stress acts on the film formation pattern 106C, and one end portion 108 thereof.
  • Lead wires 110 and 111 are connected to the other end 109, respectively.
  • the amount of strain of the exposure mirror 100C can be known from a minute change in the resistance value between the lead wires 110 and 111.
  • the resistance value between the lead wires 110 and 111 indicates the insulator level, it is determined that the film formation pattern 106C is cut, that is, the exposure mirror 100C is damaged.
  • the curvature of the flat mirror 68 can be detected by forming the film forming pattern 106C for detecting the strain amount of the present embodiment on the flat mirror 68 provided with the mirror bending mechanism 70.
  • the mirror bending mechanism 70 The local curvature of the plane mirror 68 including the above may be detected.
  • the material for forming the reflective film 104 on the front surface 102 side of the exposure mirror 100C and the material for forming the film forming pattern 106C capable of detecting the amount of strain on the back surface 103 side are different, the material is formed with the reflective film 104.
  • the film pattern 106C may be formed in separate steps.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately modified, improved, and the like.

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Abstract

安価な構成で、損傷やひずみ量等のミラーの状態を検出することができる露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置を提供する。露光用ミラーは、板ガラスの表面側に形成され、光源からの光を反射可能な反射膜と、板ガラスの裏面側に、反射膜よりも薄く、一端部から他端部まで連続するように成膜され、露光用ミラーが損傷したときに破断して露光用ミラーの損傷を検出可能な導電性の成膜パターンと、を備える。

Description

露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置
 本発明は、露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置に関し、より詳細には、露光用ミラーの損傷やひずみ量等のミラーの状態を検出することができる露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置に関する。
 近接露光装置では、感光材が塗布された被露光基板に、露光パターンが形成されたマスクを数10μm~数100μmのギャップで近接配置し、光照明装置からの露光光をマスクを介して照射して露光パターンを被露光基板に転写する。
 また、特許文献1には、光路反転ミラーの裏面の複数個所に微小変位可能なアクチュエータを配備し、光路反転ミラーの局部的な曲率を調整して露光用照明光の平行度の調整およびマスクの局部的な伸縮等の補正を行うようにした近接露光方法及びその装置が提案されている。
日本国特開平7-201711号公報
 ところで、光路反転ミラーはガラス製であるため、アクチュエータが光路反転ミラーの局部的な曲率を過度に変更しようとした場合、光路反転ミラーに割れなどの損傷が発生する可能性がある。露光装置において、光路反転ミラーの損傷は露光される製品品質に影響を与えるため、万一、光路反転ミラーが損傷した場合には、直ちに光路反転ミラーの損傷を検知することが求められている。
 反転ミラーの破損を検出する方法としては、音波を利用してガラスの破損音波形から破損検出を行う方法や、ガラス破損時の振動波形を直接ガラス面から検出することで破損検出する方法が考えられる。しかしながら、ガラスの破損音波形や破損時の振動波形を用いた検出方法では、装置自身の動作音や振動に影響されて誤作動が多く、安定した破損検出が非常に困難である。加えて、検出器自体の構成が複雑かつ高価となり、改善の余地があった。
 本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、安価な構成で、損傷やひずみ量等のミラーの状態を検出することができる露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置を提供することにある。
 本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1) 光源からの光を反射するための露光用ミラーであって、
 板ガラスの表面側に形成され、前記光源からの光を反射可能な反射膜と、
 前記板ガラスの裏面側に、前記反射膜よりも薄く、一端部から他端部まで連続するように成膜される導電性の成膜パターンと、
を備える、露光用ミラー。
(2) 前記成膜パターンは、前記露光用ミラーが損傷したときに破断して前記露光用ミラーの損傷を検出可能である、(1)に記載の露光用ミラー。
(3) 前記成膜パターンは、前記板ガラスの外周部に沿って成膜される、(1)又は(2)に記載の露光用ミラー。
(4) 前記成膜パターンは、前記一端部から前記板ガラスの外周部と内部とを通過して前記他端部まで連続するように成膜される、(1)又は(2)に記載の露光用ミラー。
(5) 前記成膜パターンは、前記一端部から前記他端部までの間に、抵抗値がそれぞれ異なる複数のパターンが並列に接続されている、(1)又は(2)に記載の露光用ミラー。
(6) 前記成膜パターンは、前記成膜パターンに応力が作用したとき、抵抗値が変化することで、前記露光用ミラーのひずみ量を検出可能な、(1)又は(2)に記載の露光用ミラー。
(7) 前記反射膜と前記成膜パターンとは、同一の金属材料によって成膜される、(1)~(6)のいずれかに記載の露光用ミラー。
(8) 光源からの光を反射するための露光用ミラーの製造方法であって、
 板ガラスの裏面側に、一端部から他端部まで連続する導電性の成膜パターンの周囲をマスキングする工程と、
 前記板ガラスの表面側から金属材料を蒸着またはスパッタリングすることで、前記板ガラスの表面側に、前記光源からの光を反射可能な反射膜と、前記板ガラスの裏面側に、前記成膜パターンと、を成膜する工程と、を備える、
露光用ミラーの製造方法。
(9) 光源と、該光源からの光を均一にして出射するインテグレータと、前記インテグレータから出射された前記光を反射する、(1)~(7)のいずれかに記載の露光用ミラーと、を有する照明装置を備え、
 該照明装置からの光を、マスクを介してワーク上に照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写する露光装置。
(10) 前記露光用ミラーは、その裏面側に設けられ、前記露光用ミラーの曲率を変更可能なミラー曲げ機構を備える、(9)に記載の露光装置。
 本発明の露光用ミラーによれば、板ガラスの裏面側に成膜された成膜パターンの導通の有無をチェックすることで、安価な構成で、露光用ミラーの損傷やひずみ量等のミラーの状態を確実に検出することができる。
 また、本発明の露光用ミラーの製造方法によれば、金属材料を蒸着またはスパッタリングすることで、板ガラスの表面側の反射膜と、板ガラスの裏面側の成膜パターンとを、同時に成膜することができ、該ミラーの状態を検出可能な露光用ミラーを安価に製造することができる。
 また、本発明の露光装置によれば、露光用ミラーの損傷やひずみ量等のミラーの状態を確実に検出することができ、高精度な露光を維持することができる。
本発明の第1実施形態に係る近接露光装置の正面図である。 図1に示す近接露光装置に適用される光照射装置の構成を示す側面図である。 (a)は、図2に示す露光用ミラーの裏面図であり、(b)は、露光用ミラーが破損した状態を示す裏面図である。 (a)は、スパッタによる露光用ミラーの作成方法を示す概念図であり、(b)は、その裏面図である。 (a)は、第2実施形態の露光用ミラーの裏面図であり、(b)は、露光用ミラーが破損した状態を示す裏面図である。 第3実施形態の露光用ミラーの裏面図である。 (a)は、第4実施形態の露光用ミラーの裏面図であり、(b)は、側面図である。
 以下、本発明の各実施形態に係る露光用ミラー、露光用ミラーの製造方法、および該露光用ミラーを備える露光装置を図面に基づいて詳細に説明する。
(第1実施形態)
 図1に示すように、近接露光装置PEは、被露光材としてのワークWより小さいマスクMを用い、マスクMをマスクステージ(マスク支持部)1で保持すると共に、ワークWをワークステージ(ワーク支持部)2で保持し、マスクMとワークWとを近接させて所定の露光ギャップで対向配置した状態で、近接露光装置用光照射装置(以下、単に光照射装置とも言う)3からパターン露光用の光をマスクMに向けて照射することにより、マスクMのパターンをワークW上に露光転写する。また、ワークステージ2をマスクMに対してX軸方向とY軸方向の二軸方向にステップ移動させて、ステップ毎に露光転写が行われる。
 ワークステージ2をX軸方向にステップ移動させるため、装置ベース4上には、X軸送り台5aをX軸方向にステップ移動させるX軸ステージ送り機構5が設置されている。X軸ステージ送り機構5のX軸送り台5a上には、ワークステージ2をY軸方向にステップ移動させるため、Y軸送り台6aをY軸方向にステップ移動させるY軸ステージ送り機構6が設置されている。Y軸ステージ送り機構6のY軸送り台6a上には、ワークステージ2が設置されている。ワークステージ2の上面には、ワークWがワークチャック等で真空吸引された状態で保持される。また、ワークステージ2の側部には、マスクMの下面高さを測定するための基板側変位センサ15が配設されている。従って、基板側変位センサ15は、ワークステージ2と共にX、Y軸方向に移動可能である。
 装置ベース4上には、複数(図に示す実施形態では4本)のX軸リニアガイドのガイドレール51がX軸方向に配置され、それぞれのガイドレール51には、X軸送り台5aの下面に固定されたスライダ52が跨架されている。これにより、X軸送り台5aは、X軸ステージ送り機構5の第1リニアモータ20で駆動され、ガイドレール51に沿ってX軸方向に往復移動可能である。また、X軸送り台5a上には、複数のY軸リニアガイドのガイドレール53がY軸方向に配置され、それぞれのガイドレール53には、Y軸送り台6aの下面に固定されたスライダ54が跨架されている。これにより、Y軸送り台6aは、Y軸ステージ送り機構6の第2リニアモータ21で駆動され、ガイドレール53に沿ってY軸方向に往復移動可能である。
 Y軸ステージ送り機構6とワークステージ2の間には、ワークステージ2を上下方向に移動させるため、比較的位置決め分解能は粗いが移動ストローク及び移動速度が大きな上下粗動装置7と、上下粗動装置7と比べて高分解能での位置決めが可能でワークステージ2を上下に微動させてマスクMとワークWとの対向面間のギャップを所定量に微調整する上下微動装置8が設置されている。
 上下粗動装置7は後述の微動ステージ6bに設けられた適宜の駆動機構によりワークステージ2を微動ステージ6bに対して上下動させる。ワークステージ2の底面の4箇所に固定されたステージ粗動軸14は、微動ステージ6bに固定された直動ベアリング14aに係合し、微動ステージ6bに対し上下方向に案内される。なお、上下粗動装置7は、分解能が低くても、繰り返し位置決め精度が高いことが望ましい。
 上下微動装置8は、Y軸送り台6aに固定された固定台9と、固定台9にその内端側を斜め下方に傾斜させた状態で取り付けられたリニアガイドの案内レール10とを備えており、該案内レール10に跨架されたスライダ11を介して案内レール10に沿って往復移動するスライド体12にボールねじのナット(図示せず)が連結されると共に、スライド体12の上端面は微動ステージ6bに固定されたフランジ12aに対して水平方向に摺動自在に接している。
 そして、固定台9に取り付けられたモータ17によってボールねじのねじ軸を回転駆動させると、ナット、スライダ11及びスライド体12が一体となって案内レール10に沿って斜め方向に移動し、これにより、フランジ12aが上下微動する。
 なお、上下微動装置8は、モータ17とボールねじによってスライド体12を駆動する代わりに、リニアモータによってスライド体12を駆動するようにしてもよい。
 この上下微動装置8は、Z軸送り台6aのY軸方向の一端側(図1の左端側)に1台、他端側に2台、合計3台設置されてそれぞれが独立に駆動制御されるようになっている。これにより、上下微動装置8は、ギャップセンサ27による複数箇所でのマスクMとワークWとのギャップ量の計測結果に基づき、3箇所のフランジ12aの高さを独立に微調整してワークステージ2の高さ及び傾きを微調整する。
 なお、上下微動装置8によってワークステージ2の高さを十分に調整できる場合には、上下粗動装置7を省略してもよい。
 また、Y軸送り台6a上には、ワークステージ2のY方向の位置を検出するY軸レーザ干渉計18に対向するバーミラー19と、ワークステージ2のX軸方向の位置を検出するX軸レーザ干渉計に対向するバーミラー(共に図示せず)とが設置されている。Y軸レーザ干渉計18に対向するバーミラー19は、Y軸送り台6aの一側でX軸方向に沿って配置されており、X軸レーザ干渉計に対向するバーミラーは、Y軸送り台6aの一端側でY軸方向に沿って配置されている。
 Y軸レーザ干渉計18及びX軸レーザ干渉計は、それぞれ常に対応するバーミラーに対向するように配置されて装置ベース4に支持されている。なお、Y軸レーザ干渉計18は、X軸方向に離間して2台設置されている。2台のY軸レーザ干渉計18により、バーミラー19を介してY軸送り台6a、ひいてはワークステージ2のY軸方向の位置及びヨーイング誤差を検出する。また、X軸レーザ干渉計により、対向するバーミラーを介してX軸送り台5a、ひいてはワークステージ2のX軸方向の位置を検出する。
 マスクステージ1は、略長方形状の枠体からなるマスク基枠24と、該マスク基枠24の中央部開口にギャップを介して挿入されてX,Y,θ方向(X,Y平面内)に移動可能に支持されたマスクフレーム25と、マスクフレーム25をマスク基枠24に対してX,Y,θ方向に移動可能となるように設けられた複数のマスク駆動部28と、を備えており、マスク基枠24は装置ベース4から突設された支柱4aによってワークステージ2の上方の定位置に保持されている。
 マスクフレーム25の中央部開口の下面には、枠状のマスクホルダ26が設けられている。即ち、マスクフレーム25の下面には、図示しない真空式吸着装置に接続される複数のマスクホルダ吸着溝が設けられており、マスクホルダ26が複数のマスクホルダ吸着溝を介してマスクフレーム25に吸着保持される。
 マスクホルダ26の下面には、マスクMのマスクパターンが描かれていない周縁部を吸着するための複数のマスク吸着溝(図示せず)が開設されており、マスクMは、マスク吸着溝を介して図示しない真空式吸着装置によりマスクホルダ26の下面に着脱自在に保持される。
 図2に示すように、本実施形態の露光装置PEの光照射装置3は、光源としてのランプユニット60と、光路ELの向きを変えるための平面ミラー63と、照射光路を開閉制御する露光制御用シャッターユニット64と、露光制御用シャッターユニット64の下流側に配置され、ランプユニット60からの光を均一にして出射するインテグレータ65と、インテグレータ65の下流側に配置されインテグレータ65から出射された光路ELの向きを変えるための平面ミラー66と、高圧水銀ランプ61からの光を平行光として照射するコリメーションミラー67と、該コリメーションミラー67からの光をマスクMに向けて照射する平面ミラー68と、を備える。
 ランプユニット60は、例えば高圧水銀ランプ61と、この高圧水銀ランプ61から出射された光を集光するリフレクタ62をそれぞれ複数有する。なお、光源としては、単一の高圧水銀ランプ61とリフレクタ62の構成であってもよく、或いは、LEDによって構成されてもよい。
 インテグレータ65は、マトリックス状に配列された複数の不図示のレンズ素子を備え、リフレクタ62で集光された光を照射領域においてできるだけ均一な照度分布となるようにして出射する。
 平面ミラー63、平面ミラー66、コリメーションミラー67、及び平面ミラー68は、全波長の光を反射可能(実質的に全反射)な反射鏡であり、例えば、反射面にはアルミニウム膜が形成される。なお、「実質的に全反射」とは、反射率が90%以上であることを意味する。
 また、平面ミラー68には、ミラー曲げ機構70が裏面側に配設されている。これにより、平面ミラー68は、信号線81により各ミラー曲げ機構70に接続されたミラー制御部80からの指令に基づいて、平面ミラー68の形状を変更し、反射面の曲率を局部的に変更することで、平面ミラー68のデクリネーション角を補正することができる。
 その他、光照射装置3では、インテグレータ65と露光面との間には、偏光フィルタ、バンドパスフィルタが配置されてもよい。
 このように構成された露光装置PEでは、光照射装置3において、露光時に露光制御用シャッターユニット64が開制御されると、高圧水銀ランプ61から出射された光が、平面ミラー63で反射されてインテグレータ65の入射面に入射する。そして、インテグレータ65の出射面から発せられた光は、平面ミラー66、コリメーションミラー67、及び平面ミラー68によってその進行方向が変えられる。さらに、この光は、マスクステージ1に保持されるマスクM、さらにはワークステージ2に保持されるワークWの表面に対して略垂直にパターン露光用の光として照射され、マスクMのパターンがワークW上に露光転写される。
 次に、露光用ミラー(以後、平面ミラー63、平面ミラー66、コリメーションミラー67、及び平面ミラー68を総称して露光用ミラー100とも言う)100について説明する。
 図3(a)に示すように、露光用ミラー100には、矩形状の板ガラス101の表面102側(図3(a)では紙面の裏面側)にアルミニウムの蒸着、あるいはスパッタにより厚さ数ミクロンの不図示のアルミニウムの薄膜が成膜されている。該アルミニウムの薄膜は、板ガラス101の表面102側の全面に亘って形成されて、光源60からの光を全反射する反射膜104を形成する。
 また、露光用ミラー100の裏面103側には、アルミニウムの蒸着、あるいはスパッタにより、厚さ数ミクロンの導電性の成膜パターン106が、アルミニウムの薄膜で形成されている。成膜パターン106は、板ガラス101の四辺の外周部107に沿って略ロの字形に、一端部108から他端部109まで連続して成膜されている。
 板ガラス101の裏面103側に成膜された成膜パターン106の厚さは、表面102側に成膜された反射膜104より薄く成膜されている。その理由については、露光用ミラー100の製造方法の部分で説明する。
 成膜パターン106の一端部108及び他端部109には、それぞれリード線110,111が接続されている。そして、一対のリード線110,111間に電流を流すことで露光用ミラー100の損傷を検出することが可能となる。
 すなわち、成膜パターン106の一対のリード線110,111間に電流を流すことで、露光用ミラー100に損傷がない場合、一対のリード線110,111間の導通を図示しない電流計で検出することができ、露光用ミラー100に損傷がなく正常状態にあることが確認できる。
 一方、図3(b)に示すように、露光用ミラー100に、外周部107にまで達する割れ120が発生すると、割れ120により成膜パターン106の一部が破断して、一対のリード線110,111間の通電が遮断される。従って、一対のリード線110,111間の通電の遮断を検出することで、露光用ミラー100の損傷が直ちに、かつ確実に検出される。
 成膜パターン106は、反射膜104より薄い、厚さ数ミクロンの薄膜で形成されているので、露光用ミラー100が割れているにも拘わらず、薄膜だけが繋がっているままとなることがない。従って、露光用ミラー100の損傷は、割れ120の発生により確実に検出できる。
 なお、成膜パターン106には、微小ながら電気抵抗が存在するので、一対のリード線110,111間に電流を流して電流値を測定する代わりに、抵抗計などを用いて該一対のリード線110,111間の抵抗値を測定することによっても、露光用ミラー100の損傷の有無を確認することができる。
 次に、図4(a)、(b)を参照して露光用ミラー100の製造方法について説明する。
 露光用ミラー100は、板ガラス101の表面102側から金属材料であるアルミニウムを蒸着またはスパッタリングすることで、板ガラス101の表面102側に反射膜104を製膜すると同時に、板ガラス101の裏面103側に成膜パターン106を成膜して形成される。
 具体的には、図4(b)に示すように、板ガラス101の裏面103側に、板ガラス101の外周部107に沿って一端部108から他端部109まで連続する成膜パターン106となる以外の部分をマスキング130でマスキングする。そして、板ガラス101の表面102側に母材131であるアルミニウムを配置して、該アルミニウムを蒸着またはスパッタリングすることで、板ガラス101の表面102側に反射膜104を成膜し、同時に、板ガラス101の裏面103側に成膜パターン106を成膜する。そして、成膜後に、マスキング130は板ガラス101の裏面103から除去される。
 蒸着は、真空中で母材(本実施形態ではアルミニウム)131に電子ビームや熱を加え、分解したアルミニウムの分子を板ガラス101上に成膜する方法であり、スパッタは、チャンバー内に充填されているArガスに電気を通してイオン化し、これらを母材131に衝突させて、そこから飛び出したアルミニウムの分子を板ガラス101上に成膜する方法である。図4(a)中、符号132は、アルミニウムの分子が移動する方向を表す矢印である。
 アルミニウムの分子を板ガラス101上に成膜する際、アルミニウムの分子は、母材(アルミニウム)131が対向する板ガラス101の表面102から裏面103にも回り込んで、裏面103にもアルミニウムの薄膜が成膜される。成膜される薄膜の厚さは、板ガラス101を回り込んで成膜される裏面103の薄膜の厚さより、母材131に近い板ガラス101の表面102に成膜される薄膜の方が、厚く成膜される傾向がある。
 本実施形態の露光用ミラー100は、板ガラス101の裏面103に所望のパターンのマスキング130を施しておき、表面102からアルミニウムを蒸着やスパッタにより成膜して表面102に反射膜104を形成すると同時に、アルミニウム分子の裏面103への回り込み現象を利用して、裏面103に成膜される薄膜により、成膜パターン106を形成する。
 これにより、裏面103へのマスキング以外に特別な処理を施すことなく、成膜パターン106としての導電性薄膜パターンを非常に安価に形成することができる。
 また、図2に示す平面ミラー68のように、露光用ミラー100の裏面103にミラー曲げ機構70を配設する場合、ミラー曲げ機構70の配置位置は成膜パターン106を避ける必要はなく、成膜パターン106の上に支障なく取り付けることができる。従って、ミラー曲げ機構70の配置位置が、成膜パターン106によって制約を受けることはない。なお、成膜パターン106上に保護膜を形成し、該保護膜上にミラー曲げ機構70を配設すれば、より好ましい。
 なお、上記説明では、同一の母材131により、露光用ミラー100の表面102の反射膜104と、裏面103の成膜パターン106とを同時に成膜するように説明したが、反射膜104と成膜パターン106とは、互いに異なる金属を用いて別工程で成膜してもよい。
 例えば、表面102の反射膜104に用いられる金属の例としては、前記アルミニウムの他に銀が挙げられる。ただし、近接露光装置のような紫外線を光源とする露光装置では、紫外線域の反射率が高いため、アルミニウムが好ましい。また、表面102としては、金属鏡の他に、誘電体鏡を用いることもできる。
 裏面103の成膜パターン106に用いられる金属の例としては、前記アルミニウムの他に、銀、銅などが挙げられる。ただし、成膜の容易さや価格の安さなどの点から、アルミニウムが好ましい。いずれの場合においても、裏面103の成膜パターン106は、表面102の反射膜104より薄く成膜される。
 以上説明したように、本実施形態の露光用ミラーによれば、板ガラスの表面側に形成され、光源からの光を反射可能な反射膜と、板ガラスの裏面側に、反射膜よりも薄く、一端部から他端部まで連続するように成膜され、露光用ミラーが損傷したときに破断して露光用ミラーの損傷を検出可能な導電性の成膜パターンと、を備える。これにより、成膜パターンの導通の有無をチェックすることで、露光用ミラーの損傷の有無を確実に検出することができる。
 また、成膜パターンは、板ガラスの外周部に沿って成膜されるので、露光用ミラーの外周部に生じた損傷を検出することができる。
 さらに、反射膜と成膜パターンとは、同一の金属材料によって成膜されるので、反射膜と成膜パターンを同時に成膜することができ、露光用ミラーを安価に作成できる。
 さらに、本実施形態の露光用ミラーの製造方法によれば、板ガラスの裏面側に、一端部から他端部まで連続し、露光用ミラーが損傷したときに破断して前記露光用ミラーの損傷を検出可能な導電性の成膜パターンの周囲をマスキングする工程と、板ガラスの表面側から金属材料を蒸着またはスパッタリングすることで、板ガラスの表面側に、光源からの光を反射可能な反射膜と、板ガラスの裏面側に、成膜パターンと、を成膜する工程と、を備える。これにより、板ガラスの裏面へのマスキング以外に特別な処理を施すことなく、板ガラスの表面側の反射膜と、板ガラスの裏面側の成膜パターンとを、同時に成膜することができ、該ミラーの状態を検出可能な露光用ミラーを安価に製造することができる。
 また、本実施形態の露光装置によれば、光源と、該光源からの光を均一にして出射するインテグレータと、インテグレータから出射された光を反射する、上記露光用ミラーと、を有する照明装置を備え、該照明装置からの光を、マスクを介してワーク上に照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写するので、露光用ミラーの損傷を確実に検出することができ、高精度な露光を維持することができる。
 さらに、露光用ミラーは、その裏面側に設けられ、露光用ミラーの曲率を変更可能なミラー曲げ機構を備えるので、露光用ミラーの局部的な曲率を変更して、露光用照明光の平行度の調整およびマスクの局部的な伸縮等の補正を行うことができる。特に、上記露光用ミラーは、曲率補正によって生じるミラーの割れを成膜パターンによってより確実に検出することができる。
(第2実施形態)
 図5(a)は、第2実施形態の露光用ミラーの裏面図であり、図5(b)は、部分的に破損した露光用ミラーの裏面図である。
 図5(a)に示すように、本実施形態の露光用ミラー100Aは、アルミニウムの薄膜による成膜パターン106が、板ガラス101の外周部107と、該外周部107より内側の内部113とを通過して、一端部108から他端部109まで連続して、露光用ミラー100Aの裏面103に形成されている。具体的に、成形パターン106は、板ガラス101の外周部107に沿って略ロの字形に形成されると共に、外周部107の内側である内部113のほぼ全面を通るように略ジグザグ状に形成されている。
 成膜パターン106の一端部108及び他端部109には、それぞれリード線110,111が接続されている。これにより、一対のリード線110,111間に電流を流すことで露光用ミラー100の損傷の有無を検出することができる。
 図5(b)に示すように、本実施形態の露光用ミラー100Aによれば、アルミニウムの薄膜によって形成された成膜パターン106が、裏面103の外周部107と内部113とを通過して、内部113は略ジグザグ状に形成されている。したがって、露光用ミラー100Aの損傷が外周部107にまで達せず、内部113に留まる程度の部分的な割れ120であっても、また、露光用ミラー100Aの損傷が内部113にまで達せず、外周部107に留まる程度の部分的な割れ120であっても、該割れ120が成膜パターン106を通る位置で成膜パターン106が切断されて、一対のリード線110,111間が非導通となる。これにより、露光用ミラー100Aの損傷が部分的な割れ120であっても直ちに、また確実に検出できる。
 なお、内部113に形成される成膜パターン106は、略ジグザグ状に限定されず、渦巻き状など、蒸着やスパッタによって成膜されるものであれば、任意の形状とすることができる。
(第3実施形態)
 図6は、第3実施形態の露光用ミラーの裏面図である。図6に示すように、第3実施形態の露光用ミラー100Bは、板ガラス101の外周部107に成膜された薄膜により形成された第1の成膜パターン106Aと、板ガラス101の内部113に成膜された薄膜により形成された第2の成膜パターン106Bとを備える。第1の成膜パターン106A及び第2の成膜パターン106Bの抵抗値は、互いに異なる抵抗値に設定される。
 第1の成膜パターン106Aと第2の成膜パターン106Bは、それぞれの一端108a,108b同士が一端部108で結合され、他端109a,109b同士が他端部109で結合されて、一端部108及び他端部109にリード線110,111がそれぞれ接続されている。即ち、第1の成膜パターン106Aと第2の成膜パターン106Bは、並列接続されている。
 従って、第1の成膜パターン106A及び第2の成膜パターン106Bの抵抗値を予め測定しておけば、第1の成膜パターン106A及び第2の成膜パターン106Bの少なくともいずれかに破断が生じた際、リード線110,111間の抵抗値を検出することで、第1、及び第2の成膜パターン106A、106Bのいずれの成膜パターン106A,106Bが破断したかを認識することができる。即ち、露光用ミラー100Bの破損が、板ガラス101の外周部107に発生したものか、内部113に発生したものかを判別することができ、損傷位置の概略を知ることができる。
 また、リード線110,111間の抵抗値が絶縁レベルとなることで、成膜パターン106A及び106Bが共に破断した、即ち、露光用ミラー100Bが大きく破損したことが検出できる。
(第4実施形態)
 図7(a)は、第4実施形態の露光用ミラーの裏面図であり、図7(b)は、側面図である。図7(a)、(b)に示すように、第4実施形態の露光用ミラー100Cは、その裏面103に、ひずみゲージと同様の形状(即ち、グリッド長、グリッド幅、及びグリッド本数で規定される形状)に構成された成膜パターン106Cが形成されている。
 すなわち、成膜パターン106Cは、露光用ミラー100Cが湾曲して成膜パターン106Cに応力が作用したとき、抵抗値が変化する材料からなる薄膜により連続して成膜されており、その一端部108及び他端部109にそれぞれリード線110,111が接続されている。
 従って、リード線110,111間の微小な抵抗値の変化により露光用ミラー100Cのひずみ量を知ることができる。また、リード線110,111間の抵抗値が絶縁体レベルを示す場合は、成膜パターン106Cの切断、即ち、露光用ミラー100Cに破損が生じたと判断される。これにより、露光用ミラー100Cに発生した損傷だけでなく、露光用ミラー100Cのひずみ量も検出することができる。
 特に、本実施形態では、本実施形態のひずみ量を検出する成膜パターン106Cを、ミラー曲げ機構70を備える平面ミラー68に成膜することで、平面ミラー68の曲率を検出することができる。
 また、ひずみ量を測定可能な形状で、抵抗値がそれぞれ異なる複数の成膜パターン106Cを領域ごとに分割して形成し、複数の成膜パターン106Cを並列に接続することで、ミラー曲げ機構70を備える平面ミラー68の局部的な曲率を検出するようにしてもよい。
 なお、露光用ミラー100Cの表面102側に反射膜104を形成する材料と、ひずみ量を検出することができる成膜パターン106Cを裏面103側に形成する材料が異なる場合は、反射膜104と成膜パターン106Cを、それぞれ別工程で成膜してもよい。
 尚、本発明は、前述した各実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。
 なお、本出願は、2019年4月17日出願の日本特許出願(特願2019-078690)に基づくものであり、その内容は本出願の中に参照として援用される。
M   マスク
PE  近接露光装置
W   ワーク
3   光照射装置(照明装置)
60  ランプユニット(光源)
65  インテグレータ
70  ミラー曲げ機構
100,100A,100B,100C 露光用ミラー
101    板ガラス
102    表面
103    裏面
104    反射膜
106,106A,106B,106C 成膜パターン
107    外周部
108    一端部
109    他端部
113    内部
131    母材(金属材料)

Claims (10)

  1.  光源からの光を反射するための露光用ミラーであって、
     板ガラスの表面側に形成され、前記光源からの光を反射可能な反射膜と、
     前記板ガラスの裏面側に、前記反射膜よりも薄く、一端部から他端部まで連続するように成膜される導電性の成膜パターンと、
    を備える、露光用ミラー。
  2.  前記成膜パターンは、前記露光用ミラーが損傷したときに破断して前記露光用ミラーの損傷を検出可能である、請求項1に記載の露光用ミラー。
  3.  前記成膜パターンは、前記板ガラスの外周部に沿って成膜される、請求項1又は2に記載の露光用ミラー。
  4.  前記成膜パターンは、前記一端部から前記板ガラスの外周部と内部とを通過して前記他端部まで連続するように成膜される、請求項1又は2に記載の露光用ミラー。
  5.  前記成膜パターンは、前記一端部から前記他端部までの間に、抵抗値がそれぞれ異なる複数のパターンが並列に接続されている、請求項1又は2に記載の露光用ミラー。
  6.  前記成膜パターンは、前記成膜パターンに応力が作用したとき、抵抗値が変化することで、前記露光用ミラーのひずみ量を検出可能な、請求項1又は2に記載の露光用ミラー。
  7.  前記反射膜と前記成膜パターンとは、同一の金属材料によって成膜される、請求項1~6のいずれか1項に記載の露光用ミラー。
  8.  光源からの光を反射するための露光用ミラーの製造方法であって、
     板ガラスの裏面側に、一端部から他端部まで連続する導電性の成膜パターンの周囲をマスキングする工程と、
     前記板ガラスの表面側から金属材料を蒸着またはスパッタリングすることで、前記板ガラスの表面側に、前記光源からの光を反射可能な反射膜と、前記板ガラスの裏面側に、前記成膜パターンと、を成膜する工程と、を備える、
    露光用ミラーの製造方法。
  9.  光源と、該光源からの光を均一にして出射するインテグレータと、前記インテグレータから出射された前記光を反射する、請求項1~7のいずれか1項に記載の露光用ミラーと、を有する照明装置を備え、
     該照明装置からの光を、マスクを介してワーク上に照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写する露光装置。
  10.  前記露光用ミラーは、その裏面側に設けられ、前記露光用ミラーの曲率を変更可能なミラー曲げ機構を備える、請求項9に記載の露光装置。
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