WO2020202243A1 - 表示装置およびその駆動方法 - Google Patents

表示装置およびその駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2020202243A1
WO2020202243A1 PCT/JP2019/013971 JP2019013971W WO2020202243A1 WO 2020202243 A1 WO2020202243 A1 WO 2020202243A1 JP 2019013971 W JP2019013971 W JP 2019013971W WO 2020202243 A1 WO2020202243 A1 WO 2020202243A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
control
monitor
period
signal line
potential
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/013971
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
山本 薫
諒 米林
Original Assignee
シャープ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シャープ株式会社 filed Critical シャープ株式会社
Priority to US17/437,812 priority Critical patent/US11900872B2/en
Priority to PCT/JP2019/013971 priority patent/WO2020202243A1/ja
Publication of WO2020202243A1 publication Critical patent/WO2020202243A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3266Details of drivers for scan electrodes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0842Several active elements per pixel in active matrix panels forming a memory circuit, e.g. a dynamic memory with one capacitor
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264Details of driving circuits
    • G09G2310/0286Details of a shift registers arranged for use in a driving circuit
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/08Details of timing specific for flat panels, other than clock recovery
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/029Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
    • G09G2320/0295Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel by monitoring each display pixel
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element

Definitions

  • the following disclosure relates to a display device and its driving method, and more particularly to a display device including a pixel circuit including a display element driven by an electric current such as an organic EL element and its driving method.
  • organic EL display device including a pixel circuit including an organic EL element
  • the organic EL element is also called an OLED (Organic Light-Emitting Diode), and is a self-luminous display element that emits light with brightness corresponding to the current flowing through the organic EL element. Since the organic EL element is a self-luminous display element in this way, the organic EL display device is easily thinner, consumes less power, and has higher brightness than a liquid crystal display device that requires a backlight and a color filter. It can be changed.
  • each pixel circuit includes a drive transistor that controls the supply of current to the organic EL element.
  • a thin film transistor TFT
  • the threshold voltage changes due to deterioration.
  • a large number of drive transistors are provided in the display unit of the organic EL display device, and the degree of deterioration differs for each drive transistor, so that the threshold voltage varies.
  • the current efficiency decreases with the passage of time.
  • the external compensation method is known as one of the compensation processing methods. According to the external compensation method, the current flowing through the drive transistor or the organic EL element under predetermined conditions is measured by a circuit provided outside the pixel circuit. Then, the input image signal is corrected based on the measurement result. As a result, deterioration of the drive transistor and deterioration of the organic EL element are compensated.
  • a series of processes for measuring the current flowing in the pixel circuit outside the pixel circuit in order to compensate for the deterioration of the drive transistor or the organic EL element (display element) is referred to as “monitor process” and is called a monitor.
  • the period during which processing is performed is called the “monitoring period”.
  • a line that is subject to monitor processing during a unit period such as one frame period is called a “monitor line”
  • a line other than the monitor line is called a "non-monitor line”.
  • TFT characteristics characteristics
  • the characteristics of the organic EL element provided in the pixel circuit are referred to as "OLED characteristics”.
  • writing applying a desired potential (voltage) to the data signal line to charge the holding capacitance (capacitor) in the pixel circuit is called “writing", and a plurality of pixels included in the i-th line (i is an integer). Writing to the circuit is simply called “writing on line i”.
  • FIG. 31 is a circuit diagram showing a configuration of a unit circuit in a conventional organic EL display device that employs an external compensation method. Regarding the configuration shown in FIG.
  • the output signal Q1 output from the output terminal 57 is given to another unit circuit and is given to the scanning signal line as a scanning signal, and the output signal Q2 output from the output terminal 58 is a monitor. It is given to the monitor control line arranged in the display unit as a monitor control signal for controlling whether or not the processing can be executed.
  • the unit circuit includes a transistor T13 related to the control of the output signal Q1 and a transistor T16 related to the control of the output signal Q2, and controls the first internal node N1 and the transistor T16 connected to the control terminal of the transistor T13.
  • a transistor T15 is provided between the second internal node N2 connected to the terminal.
  • a high-level potential VDD which is a fixed potential, is given to the control terminal of the transistor T15 (see the portion designated by reference numeral 9 in FIG. 31).
  • VDD which is a fixed potential
  • the transistor T15 is maintained in the on state except when the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level.
  • a transistor that controls the output of an output signal according to the potential of the control terminal such as the transistor T13 and the transistor T16, is referred to as a “buffer transistor”.
  • FIG. 32 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the unit circuit of the i-th stage when the writing of the i-th line (writing for image display) is performed.
  • the set signal S reaches a high level during the period P900
  • the capacitor C11 is charged and the potential of the first internal node N1 rises.
  • the transistor T15 is in the ON state
  • the capacitor C12 is also charged and the potential of the second internal node N2 rises.
  • the first clock CKA changes from a low level to a high level.
  • the first internal node N1 is in a boosted state due to the presence of the capacitor C11, and the potential of the output signal Q1 rises sufficiently.
  • the pixel circuit on the i-th line is used for writing for image display. Since the enable signal EN is maintained at a low level during the period P901, the output signal Q2 is maintained at a low level. When the period P902 is reached, the reset signal R becomes a high level. As a result, the transistor T12 is turned on, and the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 become low level.
  • FIG. 33 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the unit circuit of the i-th stage when the monitor processing is performed. It is assumed that the i-th line is the monitor line.
  • the set signal S becomes high level in the period P910
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 rise in the same manner as in the period P900.
  • the first clock CKA changes from a low level to a high level.
  • the potential of the output signal Q1 rises sufficiently as in the above period P900.
  • the enable signal EN also changes from a low level to a high level.
  • the second internal node N2 is in a boosted state due to the presence of the capacitor C12, and the potential of the output signal Q2 rises sufficiently.
  • the monitor processing for the pixel circuit on the i-th row is performed.
  • the reset signal R becomes a high level.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 become low levels as in the above period P902.
  • the following disclosure aims to make the frame size smaller than before with respect to a display device having an external compensation function.
  • the display device includes a pixel circuit including a display element driven by an electric current and a drive transistor for controlling the drive current of the display element, and the drive transistor or the display element.
  • An n-row x m-column pixel matrix composed of n ⁇ m (n and m are integers of 2 or more) pixel circuits, scanning signal lines provided corresponding to each row of the pixel matrix, and the pixels.
  • a display unit having data signal lines provided so as to correspond to each column of the matrix, and A data signal line drive circuit that applies a data signal to the data signal line, A scanning signal line drive circuit that applies a scanning signal to the scanning signal line, Equipped with a first control signal line
  • the scanning signal line drive circuit is composed of a shift register composed of a plurality of unit circuits connected to each corresponding scanning signal line.
  • Each unit circuit A first internal node, a first output terminal connected to another unit circuit, a control terminal connected to the first internal node, a first conductive terminal, and a second conductive terminal connected to the first output terminal.
  • a first output control circuit including a first output control transistor having A second internal node, a second output terminal that outputs an on-level signal during at least a part of the monitoring period in which the monitoring process is performed, a control terminal connected to the second internal node, and a first unit.
  • a second output control circuit including a second output control transistor having a conductive terminal and a second conductive terminal connected to the second output terminal.
  • a first output circuit control having a control terminal connected to the first control signal line, a first conduction terminal connected to the first internal node, and a second conduction terminal connected to the second internal node. Including transistors
  • the potential applied to the first control signal line is switched between a first potential that turns on the first output circuit control transistor and a second potential that turns off the first output circuit control transistor. , Throughout the monitoring period, the first potential is applied to the first control signal line.
  • the drive method (of the display device) is a drive method of a display device having a pixel circuit including a display element driven by an electric current and a drive transistor for controlling the drive current of the display element.
  • the display device is An n-row x m-column pixel matrix composed of n ⁇ m (n and m are integers of 2 or more) pixel circuits, scanning signal lines provided corresponding to each row of the pixel matrix, and the pixels.
  • a display unit having data signal lines provided so as to correspond to each column of the matrix, and A data signal line drive circuit that applies a data signal to the data signal line, A scanning signal line drive circuit that applies a scanning signal to the scanning signal line, Equipped with a first control signal line
  • the driving method is A scanning step of scanning the scanning signal line in order to write an image display data signal applied to the data signal line by the data signal line driving circuit to each pixel circuit.
  • a monitor step of executing a monitor process which is a series of processes for measuring a current flowing in the pixel circuit outside the pixel circuit, in order to compensate for deterioration of the drive transistor or the display element.
  • the scanning signal line drive circuit is composed of a shift register composed of a plurality of unit circuits connected to each corresponding scanning signal line.
  • Each unit circuit A first internal node, a first output terminal connected to another unit circuit, a control terminal connected to the first internal node, a first conductive terminal, and a second conductive terminal connected to the first output terminal.
  • a first output control circuit including a first output control transistor having A second internal node, a second output terminal that outputs an on-level signal during at least a part of the monitoring period in which the monitoring process is performed, a control terminal connected to the second internal node, and a first unit.
  • a second output control circuit including a second output control transistor having a conductive terminal and a second conductive terminal connected to the second output terminal.
  • a first output circuit control having a control terminal connected to the first control signal line, a first conduction terminal connected to the first internal node, and a second conduction terminal connected to the second internal node.
  • the potential applied to the first control signal line is switched between a first potential that turns on the first output circuit control transistor and a second potential that turns off the first output circuit control transistor.
  • the first potential is applied to the first control signal line.
  • the unit circuit constituting the scanning signal line drive circuit of the display device having the external compensation function includes a first output control transistor having a control terminal connected to the first internal node. , A second output control transistor having a second conductive terminal connected to a second output terminal that outputs an on-level signal during at least a part of the monitoring period and a control terminal connected to a second internal node. And a first output circuit control transistor provided between the first internal node and the second internal node.
  • the control terminal of the first output circuit control transistor is given a first potential for turning the first output circuit control transistor on and a second potential for turning it off. That is, the first output circuit control transistor is not always maintained in the ON state. Therefore, the stress application to the second output control transistor that functions as the buffer transistor is suppressed. Therefore, the size of the second output control transistor can be reduced. From the above, the frame size of the display device having the external compensation function can be made smaller than that of the conventional one.
  • FIG. 5 is a block diagram showing an overall configuration of an organic EL display device in the first embodiment. It is a figure for demonstrating the function of the source driver in the said 1st Embodiment.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a part of a pixel circuit and a source driver in the first embodiment.
  • it is a block diagram which shows the structure of 5 stages of the shift register which constitutes a gate driver. It is a figure for demonstrating the schematic operation when the operation mode is set to a monitor mode in the said 1st Embodiment.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the unit circuit when the operation mode is set to the non-monitor mode in the first embodiment.
  • it is a signal waveform diagram of a continuous three-frame period when the operation mode is set to the monitor mode.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for demonstrating the operation of the unit circuit when the operation mode is set to the monitor mode in the 1st Embodiment above.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the pixel circuit and the current monitor unit when the monitor process is performed in the first embodiment.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a part of a pixel circuit and a source driver in the second embodiment. It is a circuit diagram which shows the structure of the pixel circuit in the modification of the 2nd Embodiment. In the second embodiment, it is a block diagram which shows the structure of 5 stages of the shift register which constitutes a gate driver. It is a figure for demonstrating the schematic operation when the operation mode is set to the 1st mode in the said 2nd Embodiment.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the unit circuit when the operation mode is set to the first mode in the second embodiment.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating the operation of a unit circuit when a shift pulse is given during a pause period in the case where the operation mode is set to the second mode.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating the operation of the unit circuit when the shift pulse is not given in the case where the operation mode is set to the second mode.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the pixel circuit and the current monitor unit when the monitor process is performed in the second embodiment.
  • FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of the pixel circuit and the current monitor unit when the monitor process is performed in the second embodiment.
  • the third embodiment it is a block diagram which shows the structure for 5 stages of the shift register which constitutes a gate driver. It is a circuit diagram which shows the structure of the unit circuit in a gate driver in the said 3rd Embodiment.
  • it is a signal waveform diagram for demonstrating the operation of the unit circuit when the 1st method is adopted as the monitor processing method, and the operation mode is set to the non-monitor mode.
  • the third embodiment it is a signal waveform diagram for demonstrating the operation of the unit circuit when the 1st method is adopted as the monitor processing method, and the operation mode is set to a monitor mode.
  • the operation of the unit circuit during the monitoring period during the pause period when the second method is adopted as the monitoring processing method and the operation mode is set to the third mode in the third embodiment.
  • It is a signal waveform diagram of.
  • It is a circuit diagram which shows the structure of the unit circuit in the gate driver in the conventional example.
  • It is a signal waveform diagram for demonstrating operation of a unit circuit at the time of writing for image display in a prior art example.
  • n and n are integers of 2 or more, i is an odd number of 3 or more (n-2) or less, and j is an integer of 1 or more and m or less.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the overall configuration of the active matrix type organic EL display device according to the first embodiment.
  • This organic EL display device includes a display control circuit 10, a gate driver (scanning signal line drive circuit) 20, a source driver (data signal line drive circuit) 30, and a display unit 40.
  • the display control circuit 10 includes a compensation processing unit 12 that compensates for deterioration of the drive transistor and the organic EL element. That is, the organic EL display device according to this embodiment has an external compensation function.
  • the gate driver 20 and the display unit 40 are integrally formed on the substrate constituting the display unit 40. That is, the gate driver 20 is monolithic.
  • the display unit 40 is provided with m data signal lines SL (1) to SL (m) and n scanning signal lines GL (1) to GL (n) orthogonal to these. Further, n monitor control lines ML (1) to ML (n) are arranged on the display unit 40 so as to have a one-to-one correspondence with n scanning signal lines GL (1) to GL (n). It is installed.
  • the scanning signal lines GL (1) to GL (n) and the monitor control lines ML (1) to ML (n) are typically parallel to each other.
  • the display unit 40 has (n ⁇ m) pieces corresponding to the intersections of the data signal lines SL (1) to SL (m) and the scanning signal lines GL (1) to GL (n).
  • a pixel circuit 410 is provided.
  • the display unit 40 is also provided with a power line (not shown) common to each pixel circuit 410. More specifically, a power supply line (hereinafter referred to as "high level power supply line”) for supplying a high-level power supply voltage EL VDD for driving the organic EL element and a low-level power supply voltage ELVSS for driving the organic EL element. A power supply line to be supplied (hereinafter referred to as "low level power supply line”) is arranged. The high level power supply voltage EL VDD and the low level power supply voltage ELVSS are supplied from a power supply circuit (not shown).
  • the scanning signals given to the scanning signal lines GL (1) to GL (n) are also assigned the reference numerals GL (1) to GL (n), and the monitor control line ML (
  • the monitor control signals given to each of 1) to ML (n) are also assigned the reference numerals ML (1) to ML (n), and the data signals given to the data signal lines SL (1) to SL (m) are also assigned.
  • the symbols SL (1) to SL (m) are attached.
  • the display control circuit 10 receives an input image signal DIN sent from the outside and a timing signal group (horizontal synchronization signal, vertical synchronization signal, etc.) TG, and receives a digital video signal VD and a source control signal that controls the operation of the source driver 30.
  • the SCTL and the gate control signal GCTL that controls the operation of the gate driver 20 are output.
  • the source control signal SCTL includes a source start pulse signal, a source clock signal, a latch strobe signal, and the like.
  • the gate control signal GCTL includes a gate start pulse signal, a gate clock signal, an enable signal, and the like.
  • the digital video signal VD for image display compensates the input image signal DIN according to the monitor data (data measured to obtain the TFT characteristics and OLED characteristics) MO given by the compensation processing unit 12 from the source driver 30. It is generated by performing arithmetic processing.
  • the gate driver 20 is connected to the scanning signal lines GL (1) to GL (n) and the monitor control lines ML (1) to ML (n). As will be described later, the gate driver 20 is composed of shift registers composed of a plurality of unit circuits. The gate driver 20 applies a scanning signal to the scanning signal lines GL (1) to GL (n) based on the gate control signal GCTL output from the display control circuit 10, and monitors the monitor control lines ML (1) to ML (n). A monitor control signal is applied to n).
  • the source driver 30 is connected to the data signal lines SL (1) to SL (m).
  • the source driver 30 selectively performs an operation of driving the data signal lines SL (1) to SL (m) and an operation of measuring the current flowing through the data signal lines SL (1) to SL (m). That is, as shown in FIG. 3, the source driver 30 functionally includes a portion that functions as a data signal line driving unit 310 that drives the data signal lines SL (1) to SL (m), and a pixel circuit 410. A portion that functions as a current monitor unit 320 for measuring the current output from the data signal lines SL (1) to SL (m) is included.
  • the current monitor unit 320 measures the current flowing through the data signal lines SL (1) to SL (m) and outputs the monitor data MO based on the measured value.
  • the data signal lines SL (1) to SL (m) are not only used for transmitting the data signal for image display, but also as a drive transistor or an organic EL during monitor processing. It is also used as a signal line for passing a current according to the characteristics of the element. It is also possible to adopt a drive system called "DEMUX" in which the output (that is, the data signal) from the source driver 30 is shared by a plurality of data signal lines SL.
  • the scanning signal is applied to the scanning signal lines GL (1) to GL (n)
  • the monitor control signal is applied to the monitor control lines ML (1) to ML (n)
  • the data signal line SL (1) To SL (m), an image based on the input image signal DIN is displayed on the display unit 40 by applying a data signal as a brightness signal. Further, since the monitor process is executed and the input image signal DIN is subjected to the compensation calculation process according to the monitor data MO, the deterioration of the drive transistor and the organic EL element is compensated.
  • the source driver 30 When the source driver 30 functions as the data signal line driving unit 310, the source driver 30 performs the following operations.
  • the source driver 30 receives the source control signal SCTL output from the display control circuit 10 and applies a voltage corresponding to the target luminance to each of the m data signal lines SL (1) to SL (m) as a data signal. ..
  • the source driver 30 sequentially holds the digital video signal VD indicating the voltage to be applied to each data signal line SL at the timing when the pulse of the source clock signal is generated, triggered by the pulse of the source start pulse signal.
  • the held digital video signal VD is converted into an analog voltage.
  • the converted analog voltage is applied to all the data signal lines SL (1) to SL (m) all at once as a data signal.
  • the source driver 30 functions as the current monitor unit 320, an appropriate voltage for monitoring processing is applied as a data signal to the data signal lines SL (1) to SL (m), whereby the data signal line SL (1) Each of the currents flowing through SL (m) is converted into a voltage.
  • the converted data is output from the source driver 30 as monitor data MO.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a part of the pixel circuit 410 and the source driver 30. Note that FIG. 4 shows the pixel circuit 410 in the i-th row and the j-th column, and the portion of the source driver 30 corresponding to the data signal line SL (j) in the j-th column.
  • the pixel circuit 410 includes one organic EL element L1, three transistors T1 to T3 (write control transistor T1 that controls writing to the capacitor C1, and a drive transistor that controls the supply of current to the organic EL element L1. It includes T2, a monitor control transistor T3) that controls whether or not to detect TFT characteristics or OLED characteristics, and one capacitor (capacitive element) C1.
  • the transistors T1 to T3 are n-channel thin film transistors.
  • an oxide TFT thin film transistor using an oxide semiconductor as a channel layer
  • an amorphous silicon TFT, or the like can be adopted.
  • the oxide TFT include a TFT containing InGaZnO (indium gallium zinc oxide).
  • the control terminal is connected to the scanning signal line GL (i), the first conduction terminal is connected to the data signal line SL (j), and the second conduction terminal is the control terminal and the capacitor of the drive transistor T2. It is connected to one end of C1.
  • the control terminal is connected to the second conductive terminal of the write control transistor T1 and one end of the capacitor C1, the first conductive terminal is connected to the other end of the capacitor C1 and the high level power supply line, and the second The conduction terminal is connected to the first conduction terminal of the monitor control transistor T3 and the anode terminal of the organic EL element L1.
  • the control terminal is connected to the monitor control line ML (i)
  • the first conduction terminal is connected to the second conduction terminal of the drive transistor T2 and the anode terminal of the organic EL element L1, and the second conduction terminal is connected.
  • the terminal is connected to the data signal line SL (j).
  • the capacitor C1 one end is connected to the second conduction terminal of the write control transistor T1 and the control terminal of the drive transistor T2, and the other end is connected to the first conduction terminal of the drive transistor T2 and the high level power supply line. ..
  • the anode terminal is connected to the second conductive terminal of the drive transistor T2 and the first conductive terminal of the monitor control transistor T3, and the cathode terminal is connected to the low level power supply line.
  • the organic EL element L1 corresponds to a display element
  • the anode terminal of the organic EL element L1 corresponds to the first terminal
  • the cathode terminal of the organic EL element L1 corresponds to the second terminal.
  • the current monitor unit 320 includes a D / A converter 306, an A / D converter 327, an operational amplifier 301, a capacitor 322, and three switches (switches 323, 324, and 325).
  • the operational amplifier 301 and the D / A converter 306 also function as components of the data signal line driving unit 310.
  • the current monitor unit 320 is given control signals S0, S1, and S2 for controlling the states of the three switches as source control signals SCTL.
  • the internal data line Sin (j) of the current monitor unit 320 is connected to the data signal line SL (j) via the switch 324.
  • the inverting input terminal is connected to the internal data line Sin (j), and the output from the D / A converter 306 is given to the non-inverting input terminal.
  • the capacitor 322 and the switch 323 are provided between the output terminal of the operational amplifier 301 and the internal data line Sin (j).
  • the control signal S2 is given to the switch 323.
  • An operational amplifier 301, a capacitor 322, and a switch 323 form an integrator circuit. Here, the operation of this integrator circuit will be described.
  • the switch 323 is in the ON state, the output terminal of the operational amplifier 301 and the inverting input terminal (that is, between the two electrodes of the capacitor 322) are in a short-circuit state.
  • the potentials of the output terminal of the operational amplifier 301 and the internal data line Sin (j) are equal to the output potentials from the D / A converter 306.
  • the switch 323 is switched from the on state to the off state, the capacitor 322 is charged based on the current flowing through the internal data line Sin (j). That is, the time integral value of the current flowing through the internal data line Sin (j) is accumulated in the capacitor 322.
  • the potential of the output terminal of the operational amplifier 301 changes according to the magnitude of the current flowing through the internal data line Sin (j).
  • the output from the operational amplifier 301 is converted into a digital signal by the A / D converter 327, and the digital signal is sent to the display control circuit 10 as monitor data MO.
  • the switch 324 is provided between the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j).
  • the control signal S1 is given to the switch 324. By switching the state of the switch 324 based on the control signal S1, the electrical connection state between the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) is controlled. In the present embodiment, if the control signal S1 is at a high level, the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically connected, and the control signal S1 is at a low level. For example, the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically separated from each other.
  • the switch 325 is provided between the data signal line SL (j) and the control line CL.
  • the control signal S0 is given to the switch 325.
  • the electrical connection state between the data signal line SL (j) and the control line CL is controlled.
  • the control signal S0 is at a high level
  • the data signal line SL (j) and the control line CL are electrically connected
  • the control signal S0 is at a low level
  • the data signal The line SL (j) and the control line CL are electrically separated from each other.
  • the state of the data signal line SL (j) becomes high impedance.
  • the switch 324 when the switch 324 is turned off, the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically separated from each other. At this time, if the switch 323 is in the off state, the potential of the internal data line Sin (j) is maintained.
  • AD conversion is performed by the A / D converter 327 while the potential of the internal data line Sin (j) is maintained in this way.
  • the gate driver 20 is composed of shift registers composed of a plurality of stages (a plurality of unit circuits: at least n unit circuits). When a pixel matrix of n rows ⁇ m columns is formed in the display unit 40, each stage (each unit circuit) of a shift register is provided so as to have a one-to-one correspondence with each row of the pixel matrix.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a configuration for five stages of shift registers.
  • i is an odd number of 3 or more and (n-2) or less
  • a gate start pulse signal, a clock signal CK1, a clock signal CK2, an enable signal EN1, an enable signal EN2, and a control signal MON are given to the shift register as the gate control signal GCTL.
  • the gate start pulse signal is a signal given to the unit circuit 22 (1) of the first stage as a set signal S, and is omitted in FIG.
  • Each unit circuit 22 receives an input terminal for receiving the first clock CKA, the second clock CKB, the enable signal EN, the control signal MON, the set signal S, and the reset signal R, and the output signal Q1 and the output signal Q2, respectively. Includes an output terminal for output.
  • the clock signal CK1 is given as the first clock CKA
  • the clock signal CK2 is given as the second clock CKB
  • the enable signal EN1 is given as the enable signal EN.
  • the clock signal CK2 is given as the first clock CKA
  • the clock signal CK1 is given as the second clock CKB
  • the enable signal EN2 is given as the enable signal EN.
  • the control signal MON is commonly given to all unit circuits 22.
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 in the previous stage is given to the unit circuit 22 in each stage as a set signal S
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 in the next stage is given as a reset signal R.
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 of each stage is given to the unit circuit 22 of the previous stage as a reset signal R, is given to the unit circuit 22 of the next stage as a set signal S, and is given to the corresponding scanning signal line GL as a scanning signal.
  • the output signal Q2 from the unit circuit 22 of each stage is given to the corresponding monitor control line ML as a monitor control signal.
  • the scanning signal line GL is connected to the control terminal of the write control transistor T1 in the pixel circuit 410
  • the monitor control line ML is connected to the control terminal of the monitor control transistor T3 in the pixel circuit 410. Has been done.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the unit circuit 22 in this embodiment.
  • the unit circuit 22 includes seven transistors T11 to T17 and two capacitors C11 and C12. Further, the unit circuit 22 has an input terminal connected to a control signal line for transmitting a control signal MON and an input terminal connected to a power supply line (hereinafter, referred to as “reference potential line”) to which a low level potential VSS is given. In addition, it has five input terminals 51 to 55 and two output terminals 57 and 58.
  • a control signal line for transmitting a control signal MON
  • VSS power supply line
  • a reference numeral 51 is attached to an input terminal for receiving a set signal S
  • a reference numeral 52 is attached to an input terminal for receiving a reset signal R
  • a reference numeral 53 is attached to an input terminal for receiving the first clock CKA.
  • the code 54 is attached to the input terminal for receiving the second clock CKB
  • the code 55 is attached to the input terminal for receiving the enable signal EN
  • the code 57 is attached to the output terminal for outputting the output signal Q1.
  • the code 58 is attached to the output terminal for outputting the output signal Q2.
  • the output terminal 58 outputs a high-level (on-level) output signal Q2 during a part of the monitoring period (periods P11 and P13 in FIG. 10) in which the monitoring process is performed.
  • the second conductive terminal of the transistor T11, the first conductive terminal of the transistor T12, the control terminal of the transistor T13, the first conductive terminal of the transistor T15, and one end of the capacitor C11 are connected to each other.
  • the area (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a "first internal node".
  • the first internal node is designated by the reference numeral N1.
  • the second conductive terminal of the transistor T15, the control terminal of the transistor T16, and one end of the capacitor C12 are connected to each other.
  • the area (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a "second internal node".
  • the second internal node is designated by the reference numeral N2.
  • the unit circuit 22 includes a first output control circuit 221 that controls the output of the output signal Q1 and a second output control circuit 222 that controls the output of the output signal Q2.
  • the first output control circuit 221 includes a first internal node N1, a transistor T13, a transistor T14, an input terminal 53, an input terminal 54, and an output terminal 57.
  • the second output control circuit 222 includes a second internal node N2, a transistor T16, a transistor T17, an input terminal 55, and an output terminal 58.
  • the control terminal and the first conductive terminal are connected to the input terminal 51 (that is, a diode connection), and the second conductive terminal is connected to the first internal node N1.
  • the control terminal is connected to the input terminal 52, the first conductive terminal is connected to the first internal node N1, and the second conductive terminal is connected to the reference potential line.
  • the control terminal is connected to the first internal node N1, the first conductive terminal is connected to the input terminal 53, and the second conductive terminal is connected to the output terminal 57.
  • the control terminal is connected to the input terminal 54, the first conduction terminal is connected to the output terminal 57, and the second conduction terminal is connected to the reference potential line.
  • the control terminal is connected to the control signal line, the first conductive terminal is connected to the first internal node N1, and the second conductive terminal is connected to the second internal node N2.
  • the control terminal is connected to the second internal node N2, the first conductive terminal is connected to the input terminal 55, and the second conductive terminal is connected to the output terminal 58.
  • the control terminal is connected to the input terminal 54, the first conduction terminal is connected to the output terminal 58, and the second conduction terminal is connected to the reference potential line.
  • the capacitor C11 one end is connected to the first internal node N1 and the other end is connected to the output terminal 57.
  • the capacitor C12 one end is connected to the second internal node N2 and the other end is connected to the output terminal 58.
  • the transistor T15 During the period when the control signal MON given to the control signal line is at a high level, the transistor T15 is maintained in the on state except when the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level. Ru. The transistor T15 is turned off when the potential of the second internal node N2 becomes equal to or higher than a predetermined value, and electrically disconnects the first internal node N1 and the second internal node N2. As a result, the transistor T15 assists in raising the potential of the second internal node N2 when the second internal node N2 is in the boosted state.
  • the transistor T13 realizes the first output control transistor
  • the transistor T15 realizes the first output circuit control transistor
  • the transistor T16 realizes the second output control transistor
  • the output terminal 57 realizes the first output.
  • the terminals are realized, the second output terminal is realized by the output terminal 58, and the first control signal line is realized by the control signal line that transmits the control signal MON.
  • ⁇ 1.4 Drive method> The driving method in this embodiment will be described.
  • the period from the start of scanning of the scanning signal line GL (1) for image display to the next start of scanning of the scanning signal line GL (1) is referred to as a “frame period”. That is.
  • a monitor mode and a non-monitor mode are prepared as operation modes related to the monitor process.
  • the monitor process is performed at any time during the operation of the organic EL display device. Specifically, monitoring processing is performed for at least one row in each frame period. The monitoring process is performed during the normal display period. The monitor processing performed during the normal display period is called "real-time monitor”.
  • the operation mode is set to the non-monitor mode, the monitor process is not performed during the operation of the organic EL display device. In other words, the display based on the input image signal DIN is performed in all lines throughout the period in which the organic EL display device is in operation.
  • each mode will be described with reference to FIGS. 6 and 7. Note that in FIGS. 6 and 7, the state of sequentially scanning from the scanning signal line GL (1) on the first line to the scanning signal line GL (n) on the nth line for writing for image display is oblique. It is schematically shown by a thick line (the same applies to FIGS. 17 to 19).
  • each frame period includes the monitor period as shown in FIG.
  • the period other than the monitor period is the scanning period.
  • the scanning period is a period during which the scanning signal line GL is scanned for displaying an image.
  • the above-mentioned real-time monitor is performed.
  • the control signal MON is maintained at a low level during the scanning period and becomes a high level only during the monitoring period (however, strictly speaking, the control signal MON is slightly before the start of the monitoring period and slightly before the end of the monitoring period. It will be at a high level in the later period).
  • the transistor T15 see FIG.
  • the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level. It stays on except for the period when it is high.
  • the potential of the high-level control signal MON corresponds to the first potential
  • the potential of the low-level control signal MON corresponds to the second potential.
  • each frame period includes only the scanning period as shown in FIG. 7. That is, the operation for writing is continuously performed without the monitor processing being performed.
  • the control signal MON is maintained at a low level. Therefore, the transistor T15 in the unit circuit 22 is maintained in the off state throughout the period when the operation mode is set to the non-monitor mode.
  • the vertical period (the nth line from the scanning start time of the scanning signal line GL (1) of the first line) is higher than when the operation mode is set to the non-monitor mode.
  • the period until the end of scanning of the scanning signal line GL (n)) becomes longer.
  • the vertical period of the image display including the monitoring process is longer than the vertical period of the image display not including the monitoring process.
  • the scanning step is realized by the operation during the scanning period
  • the monitor step is realized by the operation during the monitoring period
  • the set signal S changes from low level to high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the potential of the first internal node N1 rises, and the transistor T13 is turned on.
  • the first clock CKA is maintained at a low level, so that the output signal Q1 is maintained at a low level.
  • the control signal MON is maintained at a low level, so that the transistor T15 is maintained in the off state. Therefore, the potential of the second internal node N2 does not rise.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the transistor T13 since the transistor T13 is in the ON state, the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) rises as the potential of the input terminal 53 rises.
  • the capacitor C11 since the capacitor C11 is provided between the first internal node N1-output terminal 57, the potential of the first internal node N1 also increases as the potential of the output terminal 57 increases (the first). 1 Internal node N1 is in the boost state).
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T13, and the potential of the output signal Q1 rises to a level sufficient to turn on the write control transistor T1 to which the output terminal 57 is connected.
  • writing is performed by the pixel circuit 410 on the i-th line.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) decreases as the potential of the input terminal 53 decreases.
  • the potential of the output terminal 57 decreases, the potential of the first internal node N1 also decreases via the capacitor C11.
  • the reset signal R changes from low level to high level.
  • the transistor T12 is turned on.
  • the potential of the first internal node N1 becomes low level.
  • FIG. 9 is a signal waveform diagram of consecutive three frame periods FR1 to FR3 when the operation mode is set to the monitor mode.
  • the frame period FR1 is monitored for the i-th line
  • the frame period FR2 is monitored for the (i + 1) line
  • the frame period FR3 is monitored for the (i + 2) line.
  • the monitoring process for one line is performed in each frame period.
  • monitoring processing for a plurality of lines may be performed during each frame period. As can be seen from FIG.
  • the scan signal GL corresponding to the non-monitored line is high level only once, but the scan signal GL corresponding to the monitor line is high level twice. ..
  • the scan signal line GL corresponding to the monitor line is given two scan pulses during each frame period.
  • the period from the rising point of the first scanning pulse to the falling point of the second scanning pulse is the monitoring period.
  • the control signal MON is maintained at a high level.
  • the monitor control signal ML corresponding to the non-monitoring line is maintained at a low level, but the monitor control signal ML corresponding to the monitor line becomes high level twice during the monitoring period.
  • the operation of the unit circuit 22 (i) in the i-th stage when the operation mode is set to the monitor mode will be described with reference to FIG. However, assuming that the i-th line is the monitor line, attention is paid to the operation when the monitor processing for the i-th line is performed.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 are low level, and the control signal MON is low level.
  • the control signal MON changes from low level to high level.
  • the transistor T15 is turned on.
  • the set signal S changes from a low level to a high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the capacitor C12 is also charged.
  • the potential of the first internal node N1 rises and the transistor T13 is turned on, and the potential of the second internal node N2 rises and the transistor T16 is turned on.
  • the first clock CKA and the enable signal EN are maintained at a low level, so that the output signals Q1 and Q2 are maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) rises as the potential of the input terminal 53 rises.
  • the potential of the first internal node N1 also rises via the capacitor C11.
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T13, and the potential of the output signal Q1 rises to a level sufficient to turn on the write control transistor T1 to which the output terminal 57 is connected.
  • the enable signal EN changes from a low level to a high level.
  • the potential of the output terminal 58 rises as the potential of the input terminal 55 rises.
  • the potential of the second internal node N2 also rises via the capacitor C12 (the second internal node N2 is in the boost state).
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T16, and the potential of the output signal Q2 rises to a level sufficient to turn on the monitor control transistor T3 to which the output terminal 58 is connected.
  • the enable signal EN changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) decreases as the potential of the input terminal 55 decreases.
  • the potential of the second internal node N2 also decreases via the capacitor C12.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) decreases as the potential of the input terminal 53 decreases.
  • the potential of the output terminal 57 decreases, the potential of the first internal node N1 also decreases via the capacitor C11.
  • the enable signal EN changes from low level to high level.
  • the potential of the second internal node N2 and the potential of the output signal Q2 rise as in the period P11.
  • the enable signal EN changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 58 decreases as the potential of the input terminal 55 decreases.
  • the potential of the second internal node N2 also decreases via the capacitor C12.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the output signal Q1 rise as in the period P11. Since the enable signal EN is maintained at a low level during the period P14, the potential of the second internal node N2 does not rise.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) decreases as the potential of the input terminal 53 decreases.
  • the potential of the first internal node N1 also decreases via the capacitor C11.
  • the reset signal R changes from low level to high level.
  • the transistor T12 is turned on.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level.
  • the control signal MON changes from high level to low level.
  • the transistor T15 is turned off.
  • the write control transistor T1 is turned on during the periods P11, P12, and P14, and the monitor control transistor T3 is turned on during the periods P11 and P13.
  • the monitoring process for the pixel circuit 410 on the i-th row is performed during the periods P11 to P14.
  • the periods P10 to P12 and P14 to P15 in FIG. 11 correspond to the periods P10 to P12 and P14 to P15 in FIG. 10, and the periods P13a to P13c in FIG. 11 correspond to the periods P13 in FIG.
  • writing is performed based on the data potential Vd (i-1) for image display in the (i-1) th line.
  • the scan signal GL (i) and the monitor control signal ML (i) are low level. Therefore, the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 are in the off state.
  • the control signals S2 and S1 are at a high level, and the control signals S0 are at a low level. Therefore, the switches 323 and 324 are in the on state, and the switch 325 is in the off state.
  • the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically connected.
  • the scanning signal GL (i) and the monitor control signal ML (i) change from low level to high level.
  • the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 are turned on.
  • an initialization potential Vpc that initializes the state of the pixel circuit 410 is applied to the data signal line SL (j).
  • the state of the capacitor C1 and the anode potential of the organic EL element L1 are initialized.
  • the monitor control signal ML (i) changes from high level to low level.
  • the monitor control transistor T3 is turned off.
  • the characteristic detection potential Vr_TFT or the characteristic detection potential Vr_OLED is applied to the data signal line SL (j).
  • the characteristic detection potential Vr_TFT is a potential set so that a current flows through the drive transistor T2 but no current flows through the organic EL element L1.
  • the characteristic detection potential Vr_OLED is a potential set so that a current flows through the organic EL element L1 but no current flows through the drive transistor T2.
  • the scanning signal GL (i) changes from high level to low level
  • the monitor control signal ML (i) changes from low level to high level.
  • the write control transistor T1 is turned off, and the monitor control transistor T3 is turned on.
  • the current measurement potential Vm_TFT or the current measurement potential Vm_OLED is applied to the data signal line SL (j).
  • the current flowing through the drive transistor T2 flows to the current monitor unit 320 via the monitor control transistor T3 and the data signal line SL (j), and the OLED characteristics are measured.
  • a current flows from the current monitor unit 320 to the organic EL element L1 via the data signal line SL (j) and the monitor control transistor T3.
  • the switch 323 is in the ON state, and no charge is accumulated in the capacitor 322.
  • the period P13a is set to a length sufficient for the measurement current flowing through the data signal line SL (j) to be stable.
  • the control signal S2 changes from a high level to a low level.
  • the switch 323 is turned off, and the operational amplifier 301 and the capacitor 322 function as an integrating circuit.
  • the output voltage of the operational amplifier 301 becomes a voltage corresponding to the current flowing through the data signal line SL (j).
  • the control signal S1 changes from a high level to a low level
  • the control signal S0 changes from a low level to a high level.
  • the switch 324 is turned off and the switch 325 is turned on.
  • the data signal line SL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically separated from each other.
  • the output voltage of the operational amplifier 301 (charging voltage of the capacitor 322) is converted into a digital signal by the A / D converter 327.
  • the digital signal is sent to the display control circuit 10 as monitor data MO and is used for correcting the input image signal DIN.
  • the control signals S2 and S1 change from the low level to the high level, and the control signal S0 changes from the high level to the low level.
  • the switches 323 and 324 are turned on, and the switch 325 is turned off.
  • the scanning signal GL (i) changes from a low level to a high level.
  • the write control transistor T1 is turned on.
  • the data potential Vd (i) for displaying an image is applied to the data signal line SL (j), and writing is performed based on the data potential Vd (i) in the pixel circuit 410 of the i-th row and the j-th column.
  • the scanning signal GL (i) changes from a high level to a low level.
  • the write control transistor T1 is turned off.
  • writing is performed on the (i + 1) th line based on the data potential Vd (i + 1) for displaying an image.
  • the organic EL element L1 emits light based on the writing in the period P14.
  • the period P11 corresponds to the initialization period
  • the period P12 corresponds to the first writing period
  • the period P13b corresponds to the measurement period
  • the period P14 corresponds to the second writing period.
  • the frame size of the organic EL display device having an external compensation function can be made smaller than that of the conventional one.
  • the display quality may be deteriorated due to a difference in the length of the light emitting period of the organic EL element L1 between the monitor row and the non-monitor row. Therefore, the following configuration may be adopted so that the length of the light emitting period of the organic EL element L1 is the same in all the rows.
  • a light emission control line is provided in the display unit 40 so as to correspond to each line. Further, a light emission control transistor for controlling the light emission of the organic EL element L1 is provided in the pixel circuit 410. As shown in FIG.
  • the control terminal is connected to the light emission control line EM (i), and the first conduction terminal is the second conduction terminal of the drive transistor T2 and the first conduction of the monitor control transistor T3. It is connected to the terminal, and the second conductive terminal is connected to the anode terminal of the organic EL element L1.
  • the i-th row is the monitor row
  • the light emission control transistor T4 is in the off state during the periods P11 to P13c in FIG. 11 and is in the on state in other periods.
  • the potential of the light emission control line EM (i) is controlled.
  • the organic EL display device is a display device capable of pause drive (also referred to as "low frequency drive") in which an operation of writing a data signal to the pixel circuit 410 is intermittently performed.
  • pause drive also referred to as "low frequency drive”
  • the period during which the operation of writing the data signal to the pixel circuit 410 is interrupted is referred to as a “pause period”.
  • pause period the period during which the operation of writing the data signal to the pixel circuit 410 is interrupted.
  • FIG. 13 is a block diagram showing the overall configuration of the organic EL display device according to the present embodiment.
  • the display unit 40 has scanning signal lines GL (1) to GL (n), data signal lines SL (1) to SL (m), and monitor control lines ML (1) to ML (1). n) and were arranged.
  • the display unit 40 has the scanning signal lines GL (1) to GL (n), the data signal lines SL (1) to SL (m), and the current monitor line MCL (1).
  • ⁇ MCL (m) is arranged.
  • the current monitor lines MCL (1) to MCL (m) are arranged so as to have a one-to-one correspondence with the data signal lines SL (1) to SL (m).
  • the current monitor lines MCL (1) to MCL (m) and the data signal lines SL (1) to SL (m) are typically parallel to each other.
  • the gate driver 20 is connected to the scanning signal lines GL (1) to GL (n). Similar to the first embodiment, the gate driver 20 is composed of shift registers including a plurality of unit circuits. The gate driver 20 applies a scanning signal to the scanning signal lines GL (1) to GL (n) based on the gate control signal GCTL output from the display control circuit 10.
  • the source driver 30 is connected to the data signal lines SL (1) to SL (m) and the current monitor lines MCL (1) to MCL (m).
  • the source driver 30 selectively performs an operation of driving the data signal lines SL (1) to SL (m) and an operation of measuring the current flowing through the current monitor lines MCL (1) to MCL (m). That is, the source driver 30 functionally includes a portion that functions as a data signal line driving unit 310 that drives the data signal lines SL (1) to SL (m), and a current monitor line MCL (1) from the pixel circuit 410. ) To a portion that functions as a current monitor unit 320 that measures the current output to the MCL (m) (see FIG. 3). The current monitor unit 320 measures the current flowing through the current monitor lines MCL (1) to MCL (m) and outputs monitor data MO based on the measured value.
  • the scanning signal is applied to the scanning signal lines GL (1) to GL (n), and the data signal as a brightness signal is applied to the data signal lines SL (1) to SL (m).
  • An image based on the input image signal DIN is displayed on the display unit 40. Further, since the monitor process is executed and the input image signal DIN is subjected to the compensation calculation process according to the monitor data MO, the deterioration of the drive transistor and the organic EL element is compensated.
  • FIG. 14 is a circuit diagram showing a part of the pixel circuit 410 and the source driver 30. Note that FIG. 14 shows the pixel circuit 410 in the i-th row and the j-th column, and the portion of the source driver 30 corresponding to the data signal line SL (j) in the j-th column. Similar to the first embodiment, the pixel circuit 410 includes one organic EL element L1, three transistors T1 to T3 (write control transistor T1, drive transistor T2, and monitor control transistor T3), and one. It includes a capacitor (capacitive element) C1.
  • the control terminal is connected to the scanning signal line GL (i), and the first conductive terminal is connected to the second conductive terminal of the drive transistor T2 and the anode terminal of the organic EL element L1.
  • the two conduction terminals are connected to the current monitor line MCL (j).
  • the light emission control transistor T4 may be provided in the pixel circuit 410 as shown in FIG. 15 for the same purpose as the modification of the first embodiment.
  • the source driver 30 is separated into a portion that functions as a data signal line drive unit 310 and a portion that functions as a current monitor unit 320.
  • the data signal line drive unit 310 includes an operational amplifier 311 and a D / A converter 316.
  • the current monitor unit 320 is composed of a D / A converter 326, an A / D converter 327, an operational amplifier 321 and a capacitor 322, and three switches (switches 323, 324 and 325).
  • the operational amplifier 321 and the D / A converter 326 correspond to the operational amplifier 301 and the D / A converter 306 in the first embodiment (see FIG. 4, respectively). Since the operation of the current monitor unit 320 is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted. However, the current monitor unit 320 in this embodiment measures the current flowing through the current monitor line MCL.
  • FIG. 16 is a block diagram showing a configuration for five stages of shift registers.
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 of each stage is given to the unit circuit 22 of the previous stage as a reset signal R, and is given to the unit circuit 22 of the next stage as a set signal S.
  • the output signal Q2 from the unit circuit 22 of each stage is given as a scanning signal to the corresponding scanning signal line GL. Other than that, it is the same as that of the first embodiment.
  • the configuration of the unit circuit 22 is the same as that of the first embodiment (see FIG. 1).
  • a normal mode and a pause mode are prepared as operation modes related to the drive frequency.
  • the operation mode is set to the normal mode, the normal image display is repeatedly performed during the operation of the organic EL display device without interrupting the operation for writing.
  • the operation mode is set to the hibernate mode, the hibernate drive is performed to intermittently perform the operation for writing.
  • a monitor mode and a non-monitor mode are prepared. In the present embodiment, when the operation mode is set to the monitor mode, the monitor process for at least one row is performed during the pause period.
  • the combination of the normal mode and the non-monitoring mode is referred to as the "first mode”
  • the combination of the hibernation mode and the non-monitoring mode is referred to as the “second mode”
  • the combination of the hibernation mode and the monitor mode is referred to as “the second mode”. It is called "third mode”. Normal mode and monitor mode are not combined. That is, in the present embodiment, the monitor processing is performed only when the pause drive is performed.
  • the operation of each mode will be described with reference to FIGS. 17 to 19.
  • the frame period (frame period including only the scanning period) in which the normal image display is performed is continuous without the pause period being provided.
  • the monitor process is not performed when the operation mode is set to the first mode.
  • the control signal MON is maintained at a high level. Therefore, when the operation mode is set to the first mode, the transistor T15 in the unit circuit 22 excludes a part period (the period when the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level). It is kept on.
  • each frame period includes only the scanning period. That is, during each frame period, only the operation for writing is performed without performing the monitor processing. During the pause period, only the shift operation in the shift register is performed without scanning the scanning signal line GL. From the above, the monitor process is not performed when the operation mode is set to the second mode. Note that in FIG. 18, the shift operation from the first-stage unit circuit 22 (1) to the n-th stage unit circuit 22 (n) is performed diagonally in the shift register without scanning the scanning signal line GL. It is schematically shown by a thick dotted line (the same applies to FIG. 19).
  • the control signal MON is maintained at a high level during the frame period (scanning period) and at a low level during the rest period.
  • the transistor T15 in the unit circuit 22 is in the ON state during the frame period (scanning period) except for a part period (the period when the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level). It is maintained at and is kept off during the rest period.
  • a pause period appears between the two frame periods as when the operation mode is set to the second mode.
  • the monitoring period during which the monitoring process is performed is included in the rest period.
  • the pause period other than the monitor period only the shift operation in the shift register is performed without scanning the scanning signal line GL.
  • the control signal MON is maintained at a high level during the frame period (scanning period), becomes a high level only during the monitoring period during the pause period, and is maintained at a low level during periods other than the monitoring period.
  • the transistor T15 in the unit circuit 22 is turned on during the frame period (scanning period) except for a part of the period (the period when the potential of the second internal node N2 is higher than the normal high level). It is maintained in the on state only during the monitoring period during the rest period, and is maintained in the off state during the period other than the monitoring period.
  • the pause period is longer than when the operation mode is set to the second mode.
  • the pause period that includes monitor processing is longer than the pause period that does not include monitor processing.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 are at low levels.
  • the set signal S changes from a low level to a high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the transistor T15 since the transistor T15 is in the ON state, the capacitor C12 is also charged.
  • the potential of the first internal node N1 rises and the transistor T13 is turned on, and the potential of the second internal node N2 rises and the transistor T16 is turned on.
  • the first clock CKA and the enable signal EN are maintained at a low level, so that the output signals Q1 and Q2 are maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) rises as the potential of the input terminal 53 rises.
  • the potential of the first internal node N1 also rises via the capacitor C11.
  • the enable signal EN changes from a low level to a high level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) rises as the potential of the input terminal 55 rises.
  • the potential of the second internal node N2 also rises via the capacitor C12.
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T16, and the potential of the output signal Q2 is raised to a level sufficient to turn on the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 to which the output terminal 58 is connected. To rise.
  • writing is performed by the pixel circuit 410 on the i-th line.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) decreases as the potential of the input terminal 53 decreases.
  • the potential of the first internal node N1 also decreases via the capacitor C11.
  • the enable signal EN changes from a high level to a low level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) decreases as the potential of the input terminal 55 decreases.
  • the potential of the output terminal 58 decreases, the potential of the second internal node N2 also decreases via the capacitor C12.
  • the reset signal R changes from low level to high level.
  • the transistor T12 is turned on.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level.
  • the pulse of the set signal S is not input to the unit circuit 22 (i) of the i-th stage, so that the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2
  • the potential of the output signal Q1, the potential of the output signal Q1, and the potential of the output signal Q2 are maintained at low levels (see the portion of the arrow with reference numeral 62 in FIG. 20).
  • the set signal S changes from low level to high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the potential of the first internal node N1 rises, and the transistor T13 is turned on.
  • the first clock CKA is maintained at a low level, so that the output signal Q1 is maintained at a low level.
  • the control signal MON is maintained at a low level, so that the transistor T15 is maintained in the off state. Therefore, the potential of the second internal node N2 does not rise.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the output signal Q1 rises sufficiently as in the above period P21.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (potential of the output signal Q1) and the potential of the first internal node N1 decrease as in the end of the period P21.
  • the reset signal R changes from a low level to a high level.
  • the potential of the first internal node N1 becomes low level as in the above period P22.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential The potential of the second internal node N2 is maintained at a low level, and the potentials of the output signals Q1 and Q2 are also maintained at a low level.
  • the operation of the unit circuit 22 (i) in the i-th stage of the monitor period in the pause period in this case will be described.
  • the i-th line is the monitor line
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 are at a low level, and the control signal MON is at a low level.
  • the control signal MON changes from low level to high level.
  • the transistor T15 is turned on.
  • the set signal S changes from a low level to a high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the capacitor C12 is also charged.
  • the potential of the first internal node N1 rises and the transistor T13 is turned on, and the potential of the second internal node N2 rises and the transistor T16 is turned on.
  • the first clock CKA and the enable signal EN are maintained at a low level, so that the output signals Q1 and Q2 are maintained at a low level.
  • the first clock CKA and the enable signal EN change from low level to high level.
  • the potential of the output signal Q1 rises sufficiently as in the above period P21, and the level is sufficient for the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 to which the output terminal 58 is connected to be turned on.
  • the potential of the output signal Q2 rises.
  • the first clock CKA and the enable signal EN change from high level to low level.
  • the potential of the output signal Q1 and the potential of the output signal Q2 decrease as in the end of the period P21.
  • the potential of the first internal node N1 and the potential of the second internal node N2 decrease.
  • the reset signal R changes from low level to high level.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level as in the above period P22.
  • the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 are turned on during the period P41.
  • the monitoring process for the pixel circuit 410 on the i-th row is performed.
  • the periods P40 and P42 in FIG. 24 correspond to the periods P40 and P42 in FIG. 23, and the periods P41a to P41d in FIG. 24 correspond to the periods P41 in FIG. 23.
  • the scanning signal GL (i) changes from a low level to a high level.
  • the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 are turned on.
  • the control signals S2 and S1 change from a low level to a high level, and the control signal S0 changes from a high level to a low level.
  • the switches 323 and 324 are turned on, and the switch 325 is turned off.
  • the current monitor line MCL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically connected.
  • the characteristic detection potential Vr_TFT or the characteristic detection potential Vr_OLED is applied to the data signal line SL (j) in the above state, and the current measurement potential Vm_TFT or the current measurement potential Vm_OLED is a current monitor line. It is applied to MCL (j).
  • the characteristic detection potential Vr_TFT and the current measurement potential Vm_TFT are potentials set so that a current flows through the drive transistor T2 but no current flows through the organic EL element L1.
  • the characteristic detection potential Vr_OLED and the current measurement potential Vm_OLED are potentials set so that a current flows through the organic EL element L1 but no current flows through the drive transistor T2.
  • the period P41a is set to a length sufficient for the measured current flowing through the current monitor line MCL (j) to be stable.
  • the control signal S2 changes from a high level to a low level.
  • the switch 323 is turned off, and the operational amplifier 321 and the capacitor 322 function as an integrating circuit.
  • the output voltage of the operational amplifier 321 becomes a voltage corresponding to the current flowing through the current monitor line MCL (j).
  • the control signal S1 changes from a high level to a low level, and the control signal S0 changes from a low level to a high level.
  • the switch 324 is turned off and the switch 325 is turned on.
  • the current monitor line MCL (j) and the internal data line Sin (j) are electrically disconnected.
  • the output voltage of the operational amplifier 321 (charging voltage of the capacitor 322) is converted into a digital signal by the A / D converter 327.
  • the digital signal is sent to the display control circuit 10 as monitor data MO and is used for correcting the input image signal DIN.
  • the data potential Vd (i) for image display is applied to the data signal line SL (j).
  • the write control transistor T1 is in the ON state. Therefore, writing is performed based on the data potential Vd (i) in the pixel circuit 410 of the i-th row and the j-th column.
  • the scanning signal GL (i) changes from a high level to a low level.
  • the write control transistor T1 and the monitor control transistor T3 are turned off.
  • writing is performed based on the data potential Vd (i + 1) for image display in the (i + 1) th line.
  • the organic EL element L1 emits light based on the writing in the period P41d.
  • the transistor T15 in the unit circuit 22 is maintained in the off state. Further, when the operation mode is set to the second mode, the transistor T15 is maintained in the off state throughout the pause period. Further, when the operation mode is set to the third mode, the transistor T15 is maintained in the off state during the pause period other than the monitor period. From the above, the stress application to the transistor T16 which functions as a buffer transistor is remarkably suppressed. Therefore, the size of the transistor T16 can be reduced as compared with the conventional one. As described above, as in the first embodiment, the frame size of the organic EL display device having an external compensation function can be made smaller than before.
  • third embodiment will be described.
  • real-time monitoring was performed.
  • the monitoring process is performed during the pause period when the pause drive is being performed.
  • the organic EL display device according to the present embodiment can perform real-time monitoring, or can adopt pause drive to perform monitor processing during the pause period. That is, in the present embodiment, as the monitoring processing method, a first method of performing real-time monitoring and a second method of performing monitoring processing during the pause period are prepared, and the monitoring processing is performed by a method selected from these two methods. Is possible.
  • the overall configuration of the organic EL display device is the same as that of the first embodiment. That is, as shown in FIG. 2, on the display unit 40, in addition to the scanning signal lines GL (1) to GL (n) and the data signal lines SL (1) to SL (m), the monitor control line ML (1) ⁇ ML (n) is arranged.
  • the configuration of the pixel circuit 410 and the current monitor unit 320 is the same as that of the first embodiment (see FIG. 4).
  • FIG. 25 is a block diagram showing a configuration for five stages of shift registers included in the gate driver 20.
  • gate start pulse signal clock signal CK1, clock signal CK2, enable signal ENA1, enable signal ENA2, enable signal ENB1, enable signal ENB2, control signal MON1, and control signal MON2 are stored as gate control signal GCTL.
  • the gate start pulse signal is a signal given to the unit circuit 22 (1) of the first stage as a set signal S, and is omitted in FIG. 25.
  • Each unit circuit 22 has an input terminal and an output for receiving the first clock CKA, the second clock CKB, the enable signal ENA, the enable signal ENB, the control signal MON1, the control signal MON2, the set signal S, and the reset signal R, respectively. It includes an output terminal for outputting the signal Q1, the output signal Q2, and the output signal Q3, respectively.
  • the clock signal CK1 is given as the first clock CKA
  • the clock signal CK2 is given as the second clock CKB
  • the enable signal ENA1 is given as the enable signal ENA
  • the enable signal ENB1 is enabled. It is given as a signal ENB.
  • the clock signal CK2 is given as the first clock CKA
  • the clock signal CK1 is given as the second clock CKB
  • the enable signal ENA2 is given as the enable signal ENA
  • the enable signal ENB2 is enabled. It is given as a signal ENB.
  • the control signals MON1 and MON2 are commonly given to all unit circuits 22.
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 in the previous stage is given to the unit circuit 22 in each stage as a set signal S, and the output signal Q1 from the unit circuit 22 in the next stage is given as a reset signal R.
  • the output signal Q1 from the unit circuit 22 of each stage is given to the unit circuit 22 of the previous stage as a reset signal R, and is given to the unit circuit 22 of the next stage as a set signal S.
  • the output signal Q2 from the unit circuit 22 of each stage is given as a scanning signal to the corresponding scanning signal line GL.
  • the output signal Q3 from the unit circuit 22 of each stage is given to the corresponding monitor control line ML as a monitor control signal. As shown in FIG.
  • the scanning signal line GL is connected to the control terminal of the write control transistor T1 in the pixel circuit 410, and the monitor control line ML is connected to the control terminal of the write monitor control transistor T3 in the pixel circuit 410. It is connected.
  • the signal line for transmitting the control signal MON1 is referred to as a "first control signal line”
  • the signal line for transmitting the control signal MON2 is referred to as a "second control signal line”.
  • FIG. 26 is a circuit diagram showing the configuration of the unit circuit 22 in this embodiment.
  • the unit circuit 22 in the present embodiment has three transistors T18 to T20, one capacitor C13, an input terminal 56, and an output terminal in addition to the components (see FIG. 1) provided in the first embodiment. It is equipped with 59.
  • An enable signal ENB is given to the input terminal 56, and an output signal Q3 is output from the output terminal 59.
  • the enable signal ENA and the control signal MON1 in the present embodiment correspond to the enable signal EN and the control signal MON1 in the first embodiment.
  • the second conductive terminal of the transistor T18, the control terminal of the transistor T19, and one end of the capacitor C13 are connected to each other.
  • the area (wiring) in which these are connected to each other is referred to as a "third internal node".
  • the third internal node is designated by the symbol N3.
  • the unit circuit 22 in the present embodiment includes a third output control circuit 223 that controls the output of the output signal Q3 in addition to the first output control circuit 221 and the second output control circuit 222.
  • the third output control circuit 223 includes a third internal node N3, a transistor T19, a transistor T20, an input terminal 56, and an output terminal 59.
  • the control terminal is connected to the second control signal line, the first conduction terminal is connected to the first internal node N1, and the second conduction terminal is connected to the third internal node N3.
  • the control terminal is connected to the third internal node N3, the first conductive terminal is connected to the input terminal 56, and the second conductive terminal is connected to the output terminal 59.
  • the control terminal is connected to the input terminal 54, the first conduction terminal is connected to the output terminal 59, and the second conduction terminal is connected to the reference potential line.
  • the capacitor C13 one end is connected to the third internal node N3 and the other end is connected to the output terminal 59.
  • the control terminal of the transistor T15 is connected to the first control signal line.
  • the transistor T13 realizes the first output control transistor
  • the transistor T15 realizes the first output circuit control transistor
  • the transistor T16 realizes the second output control transistor
  • the transistor T18 realizes the second output circuit.
  • the control transistor is realized
  • the third output control transistor is realized by the transistor T19
  • the first output terminal is realized by the output terminal 57
  • the second output terminal is realized by the output terminal 58
  • the third output terminal is realized by the output terminal 59. Has been realized.
  • a first method of performing real-time monitoring and a second method of performing monitoring processing during the pause period are prepared.
  • the operation mode is set to either the monitor mode or the non-monitor mode as in the first embodiment.
  • the operation mode is set to any one of the first mode, the second mode, and the third mode as in the second embodiment.
  • the potential of the high-level control signal MON1 corresponds to the first potential
  • the potential of the low-level control signal MON1 corresponds to the second potential
  • the potential of the high-level control signal MON2 corresponds to the third potential
  • the potential of the low-level control signal MON2 corresponds to the fourth potential.
  • each frame period includes a monitor period, and a period other than the monitor period is a scanning period (see FIG. 6).
  • the control signal MON1 is maintained at a high level throughout the period in which the operation mode is set to the monitor mode, and the control signal MON2 is maintained at a low level during the scanning period and is maintained at a high level only during the monitor period. (However, strictly speaking, the control signal MON2 becomes a high level in the period from a little before the start of the monitor period to a little after the end of the monitor period).
  • a high level fixed potential may be applied to the first control signal line as the control signal MON1.
  • the set signal S changes from low level to high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the capacitor C12 is also charged.
  • the transistor T18 is in the off state, the capacitor C13 is not charged.
  • the potential of the first internal node N1 rises and the transistor T13 is turned on, and the potential of the second internal node N2 rises and the transistor T16 is turned on.
  • the first clock CKA and the enable signal ENA are maintained at a low level, so that the output signals Q1 and Q2 are maintained at a low level.
  • the output signal Q3 is also maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) rises as the potential of the input terminal 53 rises.
  • the potential of the first internal node N1 also rises via the capacitor C11.
  • the enable signal ENA changes from a low level to a high level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) rises as the potential of the input terminal 55 rises.
  • the potential of the second internal node N2 also rises via the capacitor C12.
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T16, and the potential of the output signal Q2 rises to a level sufficient to turn on the write control transistor T1 to which the output terminal 58 is connected.
  • writing is performed by the pixel circuit 410 on the i-th line.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (the potential of the output signal Q1) decreases as the potential of the input terminal 53 decreases.
  • the potential of the first internal node N1 also decreases via the capacitor C11.
  • the enable signal ENA changes from a high level to a low level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) decreases as the potential of the input terminal 55 decreases.
  • the potential of the output terminal 58 decreases, the potential of the second internal node N2 also decreases via the capacitor C12.
  • the reset signal R changes from low level to high level.
  • the transistor T12 is turned on.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level.
  • the control signal MON2 changes from a low level to a high level.
  • the transistor T18 is turned on.
  • the set signal S changes from a low level to a high level.
  • the pulse of the set signal S turns on the transistor T11 and charges the capacitor C11.
  • the transistors T15 and T18 are in the ON state, the capacitors C12 and C13 are also charged. From the above, the potentials of the first internal node N1, the second internal node N2, and the third internal node N3 rise, and the transistors T13, T16, and T19 are turned on.
  • the first clock CKA, the enable signal ENA, and the enable signal ENB are maintained at a low level, so that the output signals Q1, Q2, and Q3 are maintained at a low level.
  • the enable signal ENA changes from low level to high level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) rises as the potential of the input terminal 55 rises.
  • the potential of the second internal node N2 also rises via the capacitor C12.
  • the enable signal ENB changes from a low level to a high level.
  • the potential of the output terminal 59 (the potential of the output signal Q3) rises as the potential of the input terminal 56 rises.
  • the potential of the third internal node N3 also rises via the capacitor C13.
  • a large voltage is applied to the control terminal of the transistor T19, and the potential of the output signal Q3 rises to a level sufficient to turn on the monitor control transistor T3 to which the output terminal 59 is connected.
  • the enable signal ENB changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 59 (the potential of the output signal Q3) decreases as the potential of the input terminal 56 decreases.
  • the potential of the output terminal 59 decreases, the potential of the third internal node N3 also decreases via the capacitor C13.
  • the enable signal ENA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 58 (the potential of the output signal Q2) decreases as the potential of the input terminal 55 decreases.
  • the potential of the output terminal 58 decreases, the potential of the second internal node N2 also decreases via the capacitor C12.
  • the enable signal ENB changes from low level to high level.
  • the potential of the third internal node N3 and the potential of the output signal Q3 rise as in the period P61.
  • the enable signal ENB changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 59 (the potential of the output signal Q3) decreases as the potential of the input terminal 56 decreases.
  • the potential of the third internal node N3 also decreases via the capacitor C13.
  • the clock signal CKA and the enable signal ENA change from low level to high level.
  • the potential of the first internal node N1, the potential of the second internal node N2, the potential of the output signal Q1, and the potential of the output signal Q2 increase as in the period P51.
  • the enable signal ENB is maintained at a low level during the period P64, the potential of the third internal node N3 does not rise.
  • the first clock CKA and the enable signal ENA change from high level to low level.
  • the potential of the first internal node N1, the potential of the second internal node N2, the potential of the output signal Q1, and the potential of the output signal Q2 decrease, as at the end of the period P51.
  • the reset signal R changes from a low level to a high level.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level as in the above period P52.
  • the control signal MON2 changes from high level to low level.
  • the transistor T18 is turned off.
  • the write control transistor T1 is turned on during the periods P61, P62, and P64, and the monitor control transistor T3 is turned on during the periods P61 and P63.
  • the monitoring process for the pixel circuit 410 on the i-th row is performed during the periods P61 to P64.
  • the operation of the pixel circuit 410 and the current monitor unit 320 when the monitor process is performed is the same as that of the first embodiment, and thus the description thereof will be omitted.
  • a pause period appears between the two frame periods as in the case of the second mode of the second embodiment, but the monitoring process is performed during the pause period. Only the shift operation in the shift register is performed (see FIG. 18).
  • the control signal MON2 is maintained at a low level throughout the period when the operation mode is set to the second mode, and the control signal MON1 is maintained at a high level during the frame period (scanning period) and during the pause period. Is maintained at a low level.
  • a pause period including a monitor period for performing the monitor process appears between the two frame periods as in the case of the third mode of the second embodiment (see FIG. 19).
  • the control signal MON1 is maintained at a high level during the frame period (scanning period), becomes a high level only during the monitoring period during the pause period, and is maintained at a low level during periods other than the monitoring period.
  • the control signal MON2 is maintained at a low level during the frame period (scanning period), becomes a high level only during the monitoring period during the pause period, and is maintained at a low level during periods other than the monitoring period.
  • the unit circuit 22 uses the first method as the monitor processing method and the operation mode is set to the non-monitor mode. It operates in the same manner as (see FIG. 27).
  • the set signal S changes from low level to high level.
  • the potential of the first internal node N1 rises and the transistor T13 is turned on, as in the period P50.
  • the first clock CKA is maintained at a low level, so that the output signal Q1 is maintained at a low level. Since the transistors T15 and T18 are in the off state, the potential of the second internal node N2 and the potential of the third internal node N3 do not rise. Therefore, the output signals Q2 and Q3 are maintained at a low level.
  • the first clock CKA changes from low level to high level.
  • the potential of the output signal Q1 rises sufficiently as in the above period P51.
  • the first clock CKA changes from high level to low level.
  • the potential of the output terminal 57 (potential of the output signal Q1) and the potential of the first internal node N1 decrease as in the end of the period P51.
  • the reset signal R changes from a low level to a high level.
  • the potential of the first internal node N1 becomes low level as in the above period P52.
  • the unit circuit 22 uses the first method as the monitor processing method and the operation mode is set to the non-monitor mode. It operates in the same manner as (see FIG. 27). In this case, during the pause period other than the monitor period, the unit circuit 22 operates in the same manner as the pause period when the operation mode is set to the second mode (see FIG. 29).
  • the operation of the unit circuit 22 (i) in the i-th stage of the monitor period in the pause period in this case will be described.
  • the i-th line is the monitor line
  • the potential of each signal immediately before the start time of the period P80 is the same as that immediately before the start time of the period P70.
  • the control signals MON1 and MON2 change from low level to high level.
  • the transistors T15 and T18 are turned on.
  • the set signal S changes from a low level to a high level.
  • the potentials of the first internal node N1, the second internal node N2, and the third internal node N3 rise, and the transistors T13, T16, and T19 are turned on.
  • the reset signal R changes from a low level to a high level.
  • the potentials of the first internal node N1 and the second internal node N2 become low level as in the above period P65.
  • the control signals MON1 and MON2 change from high level to low level. As a result, the transistors T15 and T18 are turned off.
  • the write control transistor T1 is turned on during the periods P81, P82, and P84, and the monitor control transistor T3 is turned on during the periods P81 and P83.
  • the monitoring process for the pixel circuit 410 on the i-th row is performed during the periods P81 to P84.
  • the operation of the pixel circuit 410 and the current monitor unit 320 when the monitor process is performed is the same as that of the first embodiment, and thus the description thereof will be omitted.
  • the unit circuit 22 having the configuration shown in FIG. 26 is adopted as each stage of the shift register constituting the gate driver so that both real-time monitoring and pause driving can be performed. Then, when the real-time monitor is performed, the transistor T18 in the unit circuit 22 is maintained in the off state during the period other than the monitoring period. Further, in the pause period during the pause drive, the transistors T15 and T18 in the unit circuit 22 are maintained in the off state during the period other than the monitor period. From the above, the application of stress to the transistors T16 and T19 that function as buffer transistors is remarkably suppressed. Therefore, the size of the transistors T16 and T19 can be reduced. As described above, the frame size of the organic EL display device capable of both real-time monitoring and monitoring processing during the pause period can be made smaller than before.
  • monitor line sequentially transitions from the first line to the nth line one by one, but the description is not limited to this.
  • the monitor lines may be randomly transitioned.
  • an organic EL display device has been described as an example, but the present invention is not limited to this.
  • the present invention can be applied to any display device provided with a display element driven by an electric current (a display element whose brightness or transmittance is controlled by an electric current).
  • the present invention can be applied to an inorganic EL display device provided with an inorganic light emitting diode, a QLED display device provided with a quantum dot light emitting diode (QLED), and the like.
  • QLED quantum dot light emitting diode

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

外部補償機能を有する表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくする。 ゲートドライバを構成する単位回路は、他の単位回路に接続された第1出力端子(57)に接続された第2導通端子と第1内部ノード(N1)に接続された制御端子とを有する第1出力制御トランジスタ(T13)と、モニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子(58)に接続された第2導通端子と第2内部ノード(N2)に接続された制御端子とを有する第2出力制御トランジスタ(T16)と、第1内部ノード(N1)に接続された第1導通端子と第2内部ノード(N2)に接続された第2導通端子とを有する出力回路制御トランジスタ(T15)とを含む。出力回路制御トランジスタ(T15)の制御端子に与えられる電位は、ハイレベルの電位とローレベルの電位との間で切り替えられる。

Description

表示装置およびその駆動方法
 以下の開示は、表示装置およびその駆動方法に関し、より詳しくは、有機EL素子などの電流によって駆動される表示素子を含む画素回路を備える表示装置およびその駆動方法に関する。
 近年、有機EL素子を含む画素回路を備えた有機EL表示装置が実用化されている。有機EL素子は、OLED(Organic Light-Emitting Diode)とも呼ばれており、それに流れる電流に応じた輝度で発光する自発光型の表示素子である。このように有機EL素子は自発光型の表示素子であるので、有機EL表示装置は、バックライトおよびカラーフィルタなどを要する液晶表示装置に比べて、容易に薄型化・低消費電力化・高輝度化などを図ることができる。
 アクティブマトリクス型の有機EL表示装置には、複数の画素回路がマトリクス状に形成されている。各画素回路には、有機EL素子への電流の供給を制御する駆動トランジスタが含まれている。その駆動トランジスタとしては、典型的には、薄膜トランジスタ(TFT)が採用されている。しかしながら、薄膜トランジスタに関しては、劣化によって閾値電圧が変化する。有機EL表示装置の表示部には多数の駆動トランジスタが設けられており、劣化の程度は駆動トランジスタ毎に異なるので、閾値電圧にばらつきが生じる。その結果、輝度のばらつきが生じ、表示品位が低下する。また、有機EL素子に関しては、時間の経過とともに電流効率が低下する。すなわち、たとえ一定電流が有機EL素子に供給されたとしても、時間の経過とともに輝度が徐々に低下する。その結果、焼き付きが生じる。以上のようなことから、アクティブマトリクス型の有機EL表示装置では、駆動トランジスタの劣化や有機EL素子の劣化を補償する処理が従来より行われている。
 補償処理の方式の1つとして外部補償方式が知られている。外部補償方式によれば、所定条件下で駆動トランジスタあるいは有機EL素子を流れる電流が画素回路の外部に設けられた回路で測定される。そして、その測定結果に基づき、入力画像信号に補正が施される。これにより、駆動トランジスタの劣化や有機EL素子の劣化が補償される。
 なお、以下においては、駆動トランジスタまたは有機EL素子(表示素子)の劣化を補償するために画素回路内を流れる電流を画素回路外で測定する一連の処理のことを「モニタ処理」といい、モニタ処理が行われる期間のことを「モニタ期間」という。また、1フレーム期間などの単位期間中にモニタ処理の対象となっている行のことを「モニタ行」といい、モニタ行以外の行のことを「非モニタ行」という。また、画素回路内に設けられている駆動トランジスタの特性のことを「TFT特性」といい、画素回路内に設けられている有機EL素子の特性のことを「OLED特性」という。また、データ信号線に所望の電位(電圧)を印加して画素回路内の保持容量(コンデンサ)を充電することを「書き込み」といい、i行目(iは整数)に含まれる複数の画素回路に対する書き込みのことを単に「i行目の書き込み」という。
 外部補償方式を採用した有機EL表示装置に関する発明は、例えば国際公開2015/190407号パンフレットに開示されている。アクティブマトリクス型の有機EL表示装置は表示部に配設された複数の走査信号線を駆動するゲートドライバ(走査信号線駆動回路)を備えており、ゲートドライバは複数の走査信号線と1対1で対応する複数の段(複数の単位回路)からなるシフトレジスタによって構成されている。図31は、外部補償方式を採用する従来の有機EL表示装置における単位回路の構成を示す回路図である。図31に示す構成に関し、例えば、出力端子57から出力される出力信号Q1は他の単位回路に与えられるとともに走査信号として走査信号線に与えられ、出力端子58から出力される出力信号Q2はモニタ処理の実行の可否を制御するモニタ制御信号として表示部に配設されているモニタ制御線に与えられる。また、単位回路には出力信号Q1の制御に関わるトランジスタT13および出力信号Q2の制御に関わるトランジスタT16が含まれており、トランジスタT13の制御端子に接続された第1内部ノードN1とトランジスタT16の制御端子に接続された第2内部ノードN2との間にトランジスタT15が設けられている。そのトランジスタT15の制御端子には、固定電位であるハイレベル電位VDDが与えられている(図31で符号9を付した部分を参照)。これにより、トランジスタT15は、第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高いときを除いてオン状態で維持される。なお、以下、トランジスタT13やトランジスタT16のようにその制御端子の電位に応じて出力信号の出力を制御するトランジスタのことを「バッファトランジスタ」という。
 図32は、i行目の書き込み(画像表示用の書き込み)が行われる際のi段目の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。期間P900にセット信号Sがハイレベルになると、コンデンサC11が充電されて第1内部ノードN1の電位が上昇する。このとき、トランジスタT15はオン状態となっているので、コンデンサC12も充電されて第2内部ノードN2の電位が上昇する。期間P901になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、コンデンサC11の存在に起因して第1内部ノードN1がブースト状態となり、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。その結果、i行目の画素回路で画像表示用の書き込みが行われる。なお、期間P901には、イネーブル信号ENはローレベルで維持されるので、出力信号Q2はローレベルで維持される。期間P902になると、リセット信号Rがハイレベルとなる。これにより、トランジスタT12がオン状態となり、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位がローレベルとなる。
 図33は、モニタ処理が行われる際のi段目の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。なお、i行目がモニタ行であると仮定する。期間P910にセット信号Sがハイレベルになると、上記期間P900と同様に、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位が上昇する。期間P911になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P900と同様に、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。また、期間P911には、イネーブル信号ENもローレベルからハイレベルに変化する。これにより、コンデンサC12の存在に起因して第2内部ノードN2がブースト状態となり、出力信号Q2の電位が充分に上昇する。以上より、期間P911には、i行目の画素回路についてのモニタ処理が行われる。期間P912になると、リセット信号Rがハイレベルとなる。これにより、上記期間P902と同様に、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位がローレベルとなる。
 従来の有機EL表示装置では、以上のようにして画像表示用の書き込みやモニタ処理が行われ、モニタ処理の結果に基づき入力画像信号に補正を施すことによって駆動トランジスタの劣化や有機EL素子の劣化が補償されている。
国際公開2015/190407号パンフレット
 ところが、図31に示した従来の単位回路によれば、トランジスタT15の制御端子には常にハイレベル電位VDDが与えられているので、例えばi行目で通常の画像表示用の書き込みが行われる際にも、i段目の単位回路内の第2内部ノードN2の電位がハイレベルとなる(図32の期間P900,P901を参照)。これにより、トランジスタT16の制御端子-第2導通端子(出力端子58に接続されている端子)間に正の電圧(このような正の電圧を以下「ストレス」という。)が印加される。このように、出力信号Q2をハイレベルにする必要がない期間にもトランジスタT16にストレスが印加される。トランジスタにストレスが印加されると、当該トランジスタは劣化する。従って、従来例においては、ストレスの印加を考慮してトランジスタT16のサイズを大きくする必要があり、それに応じて額縁サイズが大きくなっていた。しかしながら、有機EL表示装置などの表示装置に関しては、小型化への要求が高まっている。
 そこで、以下の開示は、外部補償機能を有する表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくすることを目的とする。
 本開示のいくつかの実施形態に係る表示装置は、電流によって駆動される表示素子と前記表示素子の駆動電流を制御する駆動トランジスタとを含む画素回路を有し、前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の劣化を補償するために前記画素回路内を流れる電流を前記画素回路外で測定する一連の処理であるモニタ処理を実行する機能を有する表示装置であって、
 n×m個(nおよびmは2以上の整数)の前記画素回路からなるn行×m列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査信号線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ信号線とを有する表示部と、
 前記データ信号線にデータ信号を印加するデータ信号線駆動回路と、
 前記走査信号線に走査信号を印加する走査信号線駆動回路と、
 第1制御信号線と
を備え、
 前記走査信号線駆動回路は、それぞれが対応する走査信号線に接続された複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成され、
 各単位回路は、
  第1内部ノードと、他の単位回路に接続された第1出力端子と、前記第1内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第1出力端子に接続された第2導通端子とを有する第1出力制御トランジスタとを含む第1出力制御回路と、
  第2内部ノードと、前記モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子と、前記第2内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第2出力端子に接続された第2導通端子とを有する第2出力制御トランジスタとを含む第2出力制御回路と、
  前記第1制御信号線に接続された制御端子と、前記第1内部ノードに接続された第1導通端子と、前記第2内部ノードに接続された第2導通端子とを有する第1出力回路制御トランジスタと
を含み、
 前記第1制御信号線に印加される電位は、前記第1出力回路制御トランジスタをオン状態にする第1電位と前記第1出力回路制御トランジスタをオフ状態にする第2電位との間で切り替えられ、
 前記モニタ期間を通じて、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加される。
 本開示のいくつかの実施形態に係る(表示装置の)駆動方法は、電流によって駆動される表示素子と前記表示素子の駆動電流を制御する駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置の駆動方法であって、
 前記表示装置は、
  n×m個(nおよびmは2以上の整数)の前記画素回路からなるn行×m列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査信号線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ信号線とを有する表示部と、
  前記データ信号線にデータ信号を印加するデータ信号線駆動回路と、
  前記走査信号線に走査信号を印加する走査信号線駆動回路と、
  第1制御信号線と
を備え、
 前記駆動方法は、
  前記データ信号線駆動回路によって前記データ信号線に印加される画像表示用のデータ信号を各画素回路に書き込むために前記走査信号線の走査を行う走査ステップと、
  前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の劣化を補償するために、前記画素回路内を流れる電流を前記画素回路外で測定する一連の処理であるモニタ処理を実行するモニタステップと
を含み、
 前記走査信号線駆動回路は、それぞれが対応する走査信号線に接続された複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成され、
 各単位回路は、
  第1内部ノードと、他の単位回路に接続された第1出力端子と、前記第1内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第1出力端子に接続された第2導通端子とを有する第1出力制御トランジスタとを含む第1出力制御回路と、
  第2内部ノードと、前記モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子と、前記第2内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第2出力端子に接続された第2導通端子とを有する第2出力制御トランジスタとを含む第2出力制御回路と、
  前記第1制御信号線に接続された制御端子と、前記第1内部ノードに接続された第1導通端子と、前記第2内部ノードに接続された第2導通端子とを有する第1出力回路制御トランジスタと
を含み、
 前記第1制御信号線に印加される電位は、前記第1出力回路制御トランジスタをオン状態にする第1電位と前記第1出力回路制御トランジスタをオフ状態にする第2電位との間で切り替えられ、
 前記モニタステップでは、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加される。
 本開示のいくつかの実施形態によれば、外部補償機能を有する表示装置の走査信号線駆動回路を構成する単位回路は、第1内部ノードに接続された制御端子を有する第1出力制御トランジスタと、モニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子に接続された第2導通端子と第2内部ノードに接続された制御端子とを有する第2出力制御トランジスタと、第1内部ノードと第2内部ノードとの間に設けられた第1出力回路制御トランジスタとを含む。ここで、第1出力回路制御トランジスタの制御端子には、当該第1出力回路制御トランジスタをオン状態にする第1電位とオフ状態にする第2電位とが与えられる。すなわち、第1出力回路制御トランジスタは常にオン状態で維持されるわけではない。従って、バッファトランジスタとして機能する第2出力制御トランジスタへのストレス印加が抑制される。このため、第2出力制御トランジスタのサイズを小さくすることができる。以上より、外部補償機能を有する表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくすることができる。
第1の実施形態において、ゲートドライバ内の単位回路の構成を示す回路図である。 上記第1の実施形態において、有機EL表示装置の全体構成を示すブロック図である。 上記第1の実施形態において、ソースドライバの機能について説明するための図である。 上記第1の実施形態において、画素回路およびソースドライバの一部を示す回路図である。 上記第1の実施形態において、ゲートドライバを構成するシフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。 上記第1の実施形態において、動作モードがモニタモードに設定されているときの概略動作について説明するための図である。 上記第1の実施形態において、動作モードが非モニタモードに設定されているときの概略動作について説明するための図である。 上記第1の実施形態において、動作モードが非モニタモードに設定されているときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態において、動作モードがモニタモードに設定されているときの連続する3フレーム期間の信号波形図である。 上記第1の実施形態において、動作モードがモニタモードに設定されているときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態において、モニタ処理が行われる際の画素回路および電流モニタ部の動作について説明するための信号波形図である。 上記第1の実施形態の変形例における画素回路の構成を示す回路図である。 第2の実施形態に係る有機EL表示装置の全体構成を示すブロック図である。 上記第2の実施形態において、画素回路およびソースドライバの一部を示す回路図である。 上記第2の実施形態の変形例における画素回路の構成を示す回路図である。 上記第2の実施形態において、ゲートドライバを構成するシフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第1モードに設定されているときの概略動作について説明するための図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第2モードに設定されているときの概略動作について説明するための図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第3モードに設定されているときの概略動作について説明するための図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第1モードに設定されているときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第2モードに設定されているケースで休止期間中にシフトパルスが与えられたときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第2モードに設定されているケースでシフトパルスが与えられていないときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第2の実施形態において、動作モードが第3モードに設定されているときの休止期間のうちのモニタ期間の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第2の実施形態において、モニタ処理が行われる際の画素回路および電流モニタ部の動作について説明するための信号波形図である。 第3の実施形態において、ゲートドライバを構成するシフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。 上記第3の実施形態において、ゲートドライバ内の単位回路の構成を示す回路図である。 上記第3の実施形態において、モニタ処理の方式に第1方式が採用されていて動作モードが非モニタモードに設定されているときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第3の実施形態において、モニタ処理の方式に第1方式が採用されていて動作モードがモニタモードに設定されているときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第3の実施形態において、モニタ処理の方式に第2方式が採用されていて動作モードが第2モードに設定されているケースで休止期間中にシフトパルスが与えられたときの単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 上記第3の実施形態において、モニタ処理の方式に第2方式が採用されていて動作モードが第3モードに設定されているときの休止期間のうちのモニタ期間の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 従来例におけるゲートドライバ内の単位回路の構成を示す回路図である。 従来例において、画像表示用の書き込みが行われる際の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。 従来例において、モニタ処理が行われる際の単位回路の動作について説明するための信号波形図である。
 以下、添付図面を参照しつつ、実施形態について説明する。なお、以下において、mおよびnは2以上の整数、iは3以上(n-2)以下の奇数、jは1以上m以下の整数であると仮定する。
<1.第1の実施形態>
<1.1 全体構成>
 図2は、第1の実施形態に係るアクティブマトリクス型の有機EL表示装置の全体構成を示すブロック図である。この有機EL表示装置は、表示制御回路10とゲートドライバ(走査信号線駆動回路)20とソースドライバ(データ信号線駆動回路)30と表示部40とを備えている。表示制御回路10には、駆動トランジスタおよび有機EL素子の劣化を補償する補償処理部12が含まれている。すなわち、本実施形態に係る有機EL表示装置は外部補償機能を有している。ゲートドライバ20と表示部40とは、表示部40を構成する基板上に一体的に形成されている。すなわち、ゲートドライバ20はモノリシック化されている。
 表示部40には、m本のデータ信号線SL(1)~SL(m)およびこれらに直交するn本の走査信号線GL(1)~GL(n)が配設されている。また、表示部40には、n本の走査信号線GL(1)~GL(n)と1対1で対応するように、n本のモニタ制御線ML(1)~ML(n)が配設されている。走査信号線GL(1)~GL(n)とモニタ制御線ML(1)~ML(n)とは典型的には互いに平行になっている。さらにまた、表示部40には、データ信号線SL(1)~SL(m)と走査信号線GL(1)~GL(n)との交差部に対応して、(n×m)個の画素回路410が設けられている。これにより、n行×m列の画素マトリクスが表示部40に形成されている。表示部40には、また、各画素回路410に共通の図示しない電源線が配設されている。より詳細には、有機EL素子を駆動するためのハイレベル電源電圧ELVDDを供給する電源線(以下、「ハイレベル電源線」という。)および有機EL素子を駆動するためのローレベル電源電圧ELVSSを供給する電源線(以下、「ローレベル電源線」という。)が配設されている。ハイレベル電源電圧ELVDDおよびローレベル電源電圧ELVSSは、図示しない電源回路から供給される。
 なお、以下においては、必要に応じて、走査信号線GL(1)~GL(n)にそれぞれ与えられる走査信号にも符号GL(1)~GL(n)を付し、モニタ制御線ML(1)~ML(n)にそれぞれ与えられるモニタ制御信号にも符号ML(1)~ML(n)を付し、データ信号線SL(1)~SL(m)にそれぞれ与えられるデータ信号にも符号SL(1)~SL(m)を付している。
 表示制御回路10は、外部から送られる入力画像信号DINとタイミング信号群(水平同期信号、垂直同期信号など)TGとを受け取り、デジタル映像信号VDと、ソースドライバ30の動作を制御するソース制御信号SCTLと、ゲートドライバ20の動作を制御するゲート制御信号GCTLとを出力する。ソース制御信号SCTLには、ソーススタートパルス信号,ソースクロック信号,ラッチストローブ信号などが含まれている。ゲート制御信号GCTLには、ゲートスタートパルス信号,ゲートクロック信号,イネーブル信号などが含まれている。なお、画像表示用のデジタル映像信号VDは、補償処理部12がソースドライバ30から与えられるモニタデータ(TFT特性やOLED特性を求めるために測定されたデータ)MOに応じて入力画像信号DINに補償演算処理を施すことによって生成される。
 ゲートドライバ20は、走査信号線GL(1)~GL(n)およびモニタ制御線ML(1)~ML(n)に接続されている。後述するように、ゲートドライバ20は、複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成されている。ゲートドライバ20は、表示制御回路10から出力されたゲート制御信号GCTLに基づいて、走査信号線GL(1)~GL(n)に走査信号を印加し、モニタ制御線ML(1)~ML(n)にモニタ制御信号を印加する。
 ソースドライバ30は、データ信号線SL(1)~SL(m)に接続されている。ソースドライバ30は、データ信号線SL(1)~SL(m)を駆動する動作と、データ信号線SL(1)~SL(m)を流れる電流を測定する動作とを選択的に行う。すなわち、図3に示すように、ソースドライバ30には、機能的には、データ信号線SL(1)~SL(m)を駆動するデータ信号線駆動部310として機能する部分と、画素回路410からデータ信号線SL(1)~SL(m)に出力された電流を測定する電流モニタ部320として機能する部分とが含まれている。電流モニタ部320は、データ信号線SL(1)~SL(m)を流れる電流を測定し、測定値に基づくモニタデータMOを出力する。以上のように、本実施形態においては、データ信号線SL(1)~SL(m)は、画像表示用のデータ信号の伝達に用いられるだけでなく、モニタ処理の際に駆動トランジスタまたは有機EL素子の特性に応じた電流を流すための信号線としても用いられる。なお、ソースドライバ30からの出力(すなわちデータ信号)を複数のデータ信号線SLで共有する「DEMUX」と呼ばれる駆動方式を採用することもできる。
 以上のように、走査信号線GL(1)~GL(n)に走査信号が印加され、モニタ制御線ML(1)~ML(n)にモニタ制御信号が印加され、データ信号線SL(1)~SL(m)に輝度信号としてのデータ信号が印加されることによって、入力画像信号DINに基づく画像が表示部40に表示される。また、モニタ処理が実行され、モニタデータMOに応じて入力画像信号DINに補償演算処理が施されるので、駆動トランジスタや有機EL素子の劣化が補償される。
<1.2 画素回路およびソースドライバ>
 次に、画素回路410およびソースドライバ30について詳しく説明する。ソースドライバ30は、データ信号線駆動部310として機能するときには次のような動作を行う。ソースドライバ30は、表示制御回路10から出力されたソース制御信号SCTLを受け取り、m本のデータ信号線SL(1)~SL(m)にそれぞれ目標輝度に応じた電圧をデータ信号して印加する。このとき、ソースドライバ30では、ソーススタートパルス信号のパルスをトリガーとして、ソースクロック信号のパルスが発生するタイミングで、各データ信号線SLに印加すべき電圧を示すデジタル映像信号VDが順次に保持される。そして、ラッチストローブ信号のパルスが発生するタイミングで、上記保持されたデジタル映像信号VDがアナログ電圧に変換される。その変換されたアナログ電圧は、データ信号として全てのデータ信号線SL(1)~SL(m)に一斉に印加される。ソースドライバ30は、電流モニタ部320として機能するときには、モニタ処理用の適宜の電圧をデータ信号としてデータ信号線SL(1)~SL(m)に印加し、それによってデータ信号線SL(1)~SL(m)を流れる電流をそれぞれ電圧に変換する。その変換後のデータは、モニタデータMOとしてソースドライバ30から出力される。
 図4は、画素回路410およびソースドライバ30の一部を示す回路図である。なお、図4には、第i行第j列の画素回路410と、ソースドライバ30のうちのj列目のデータ信号線SL(j)に対応する部分とが示されている。この画素回路410は、1個の有機EL素子L1と、3個のトランジスタT1~T3(コンデンサC1への書き込みを制御する書き込み制御トランジスタT1、有機EL素子L1への電流の供給を制御する駆動トランジスタT2、およびTFT特性あるいはOLED特性を検出するか否かを制御するモニタ制御トランジスタT3)と、1個のコンデンサ(容量素子)C1とを備えている。本実施形態においては、トランジスタT1~T3は、nチャネル型の薄膜トランジスタである。なお、トランジスタT1~T3としては、酸化物TFT(酸化物半導体をチャネル層に用いた薄膜トランジスタ)やアモルファスシリコンTFTなどを採用することができる。酸化物TFTとしては、例えば、InGaZnO(酸化インジウムガリウム亜鉛)を含むTFTが挙げられる。酸化物TFTを採用することによって、例えば、高精細化や低消費電力化を図ることが可能となる。
 書き込み制御トランジスタT1については、制御端子は走査信号線GL(i)に接続され、第1導通端子はデータ信号線SL(j)に接続され、第2導通端子は駆動トランジスタT2の制御端子とコンデンサC1の一端とに接続されている。駆動トランジスタT2については、制御端子は書き込み制御トランジスタT1の第2導通端子とコンデンサC1の一端とに接続され、第1導通端子はコンデンサC1の他端とハイレベル電源線とに接続され、第2導通端子はモニタ制御トランジスタT3の第1導通端子と有機EL素子L1のアノード端子とに接続されている。モニタ制御トランジスタT3については、制御端子はモニタ制御線ML(i)に接続され、第1導通端子は駆動トランジスタT2の第2導通端子と有機EL素子L1のアノード端子とに接続され、第2導通端子はデータ信号線SL(j)に接続されている。コンデンサC1については、一端は書き込み制御トランジスタT1の第2導通端子と駆動トランジスタT2の制御端子とに接続され、他端は駆動トランジスタT2の第1導通端子とハイレベル電源線とに接続されている。有機EL素子L1については、アノード端子は駆動トランジスタT2の第2導通端子とモニタ制御トランジスタT3の第1導通端子とに接続され、カソード端子はローレベル電源線に接続されている。本実施形態においては、有機EL素子L1が表示素子に相当し、有機EL素子L1のアノード端子が第1端子に相当し、有機EL素子L1のカソード端子が第2端子に相当する。
 次に、ソースドライバ30のうち電流モニタ部320として機能する部分について説明する。図4に示すように、電流モニタ部320は、D/Aコンバータ306とA/Dコンバータ327とオペアンプ301とコンデンサ322と3つのスイッチ(スイッチ323,324,および325)とによって構成される。なお、オペアンプ301およびD/Aコンバータ306は、データ信号線駆動部310の構成要素としても機能する。電流モニタ部320には、ソース制御信号SCTLとして、3つのスイッチの状態を制御する制御信号S0,S1,およびS2が与えられる。電流モニタ部320の内部データ線Sin(j)は、スイッチ324を介して、データ信号線SL(j)に接続されている。オペアンプ301については、反転入力端子は内部データ線Sin(j)に接続され、非反転入力端子にはD/Aコンバータ306からの出力が与えられる。コンデンサ322およびスイッチ323は、オペアンプ301の出力端子と内部データ線Sin(j)との間に設けられている。スイッチ323には、制御信号S2が与えられる。オペアンプ301とコンデンサ322とスイッチ323とによって、積分回路が構成されている。ここで、この積分回路の動作について説明する。スイッチ323がオン状態になっている時には、オペアンプ301の出力端子-反転入力端子間(すなわち、コンデンサ322の2つの電極間)が短絡状態となっている。このとき、コンデンサ322に電荷は蓄積されず、オペアンプ301の出力端子および内部データ線Sin(j)の電位がD/Aコンバータ306からの出力電位と等しくなっている。スイッチ323がオン状態からオフ状態に切り替えられると、内部データ線Sin(j)を流れる電流に基づいてコンデンサ322への充電が行われる。すなわち、内部データ線Sin(j)を流れている電流の時間積分値がコンデンサ322に蓄積される。これにより、内部データ線Sin(j)を流れる電流の大きさに応じてオペアンプ301の出力端子の電位が変化する。そのオペアンプ301からの出力はA/Dコンバータ327によってデジタル信号に変換され、当該デジタル信号はモニタデータMOとして表示制御回路10に送られる。
 スイッチ324は、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)との間に設けられている。スイッチ324には、制御信号S1が与えられる。この制御信号S1に基づいてスイッチ324の状態が切り替えられることによって、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)との電気的な接続状態が制御される。本実施形態においては、制御信号S1がハイレベルであれば、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)とが電気的に接続された状態となり、制御信号S1がローレベルであれば、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)とが電気的に切り離された状態となる。
 スイッチ325は、データ信号線SL(j)と制御線CLとの間に設けられている。スイッチ325には、制御信号S0が与えられる。この制御信号S0に基づいてスイッチ325の状態が切り替えられることによって、データ信号線SL(j)と制御線CLとの電気的な接続状態が制御される。本実施形態においては、制御信号S0がハイレベルであれば、データ信号線SL(j)と制御線CLとが電気的に接続された状態となり、制御信号S0がローレベルであれば、データ信号線SL(j)と制御線CLとが電気的に切り離された状態となる。データ信号線SL(j)と制御線CLとが電気的に接続されると、データ信号線SL(j)の状態はハイ・インピーダンスとなる。
 上述したように、スイッチ324がオフ状態になると、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)とは電気的に切り離された状態となる。このとき、スイッチ323がオフ状態になっていれば、内部データ線Sin(j)の電位は維持される。本実施形態においては、このようにして内部データ線Sin(j)の電位が維持されている状態で、A/Dコンバータ327でのAD変換が行われる。
<1.3 ゲートドライバ>
 本実施形態におけるゲートドライバ20の詳細な構成について説明する。ゲートドライバ20は、複数段(複数の単位回路:少なくともn個の単位回路)からなるシフトレジスタによって構成されている。表示部40にはn行×m列の画素マトリクスが形成されているところ、それら画素マトリクスの各行と1対1で対応するようにシフトレジスタの各段(各単位回路)が設けられている。
 図5は、シフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。ここでは、iを3以上(n-2)以下の奇数と仮定して、(i-2)段目、(i-1)段目、i段目、(i+1)段目、および(i+2)段目の単位回路22(i-2)、22(i-1)、22(i)、22(i+1)、および22(i+2)に着目している。このシフトレジスタには、ゲート制御信号GCTLとして、ゲートスタートパルス信号、クロック信号CK1、クロック信号CK2、イネーブル信号EN1、イネーブル信号EN2、および制御信号MONが与えられる。なお、ゲートスタートパルス信号は、セット信号Sとして1段目の単位回路22(1)に与えられる信号であり、図5では省略している。
 各単位回路22は、第1クロックCKA、第2クロックCKB、イネーブル信号EN、制御信号MON、セット信号S、およびリセット信号Rをそれぞれ受け取るための入力端子と、出力信号Q1および出力信号Q2をそれぞれ出力するための出力端子とを含んでいる。
 奇数段目の単位回路22については、クロック信号CK1が第1クロックCKAとして与えられ、クロック信号CK2が第2クロックCKBとして与えられ、イネーブル信号EN1がイネーブル信号ENとして与えられる。偶数段目の単位回路22については、クロック信号CK2が第1クロックCKAとして与えられ、クロック信号CK1が第2クロックCKBとして与えられ、イネーブル信号EN2がイネーブル信号ENとして与えられる。制御信号MONについては、全ての単位回路22に共通的に与えられる。また、各段の単位回路22には、前段の単位回路22からの出力信号Q1がセット信号Sとして与えられ、次段の単位回路22からの出力信号Q1がリセット信号Rとして与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q1は、前段の単位回路22にリセット信号Rとして与えられ、次段の単位回路22にセット信号Sとして与えられ、対応する走査信号線GLに走査信号として与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q2は、対応するモニタ制御線MLにモニタ制御信号として与えられる。なお、図4に示したように、走査信号線GLは画素回路410内の書き込み制御トランジスタT1の制御端子に接続され、モニタ制御線MLは画素回路410内のモニタ制御トランジスタT3の制御端子に接続されている。
 図1は、本実施形態における単位回路22の構成を示す回路図である。図1に示すように、単位回路22は、7個のトランジスタT11~T17と2個のコンデンサC11,C12とを備えている。また、単位回路22は、制御信号MONを伝達する制御信号線に接続された入力端子およびローレベル電位VSSが与えられている電源線(以下、「基準電位線」という)に接続された入力端子のほか、5個の入力端子51~55および2個の出力端子57,58を有している。図1では、セット信号Sを受け取るための入力端子に符号51を付し、リセット信号Rを受け取るための入力端子に符号52を付し、第1クロックCKAを受け取るための入力端子に符号53を付し、第2クロックCKBを受け取るための入力端子に符号54を付し、イネーブル信号ENを受け取るための入力端子に符号55を付し、出力信号Q1を出力するための出力端子に符号57を付し、出力信号Q2を出力するための出力端子に符号58を付している。なお、後述するように、出力端子58からは、モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの一部の期間(図10の期間P11,P13)にハイレベル(オンレベル)の出力信号Q2が出力される。
 トランジスタT11の第2導通端子、トランジスタT12の第1導通端子、トランジスタT13の制御端子、トランジスタT15の第1導通端子、およびコンデンサC11の一端は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを「第1内部ノード」という。第1内部ノードには符号N1を付す。トランジスタT15の第2導通端子、トランジスタT16の制御端子、およびコンデンサC12の一端は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを「第2内部ノード」という。第2内部ノードには符号N2を付す。
 ところで、単位回路22には、出力信号Q1の出力を制御する第1出力制御回路221と、出力信号Q2の出力を制御する第2出力制御回路222とが含まれている。第1出力制御回路221は、第1内部ノードN1とトランジスタT13とトランジスタT14と入力端子53と入力端子54と出力端子57とを含んでいる。第2出力制御回路222は、第2内部ノードN2とトランジスタT16とトランジスタT17と入力端子55と出力端子58とを含んでいる。
 トランジスタT11については、制御端子および第1導通端子は入力端子51に接続され(すなわち、ダイオード接続となっている)、第2導通端子は第1内部ノードN1に接続されている。トランジスタT12については、制御端子は入力端子52に接続され、第1導通端子は第1内部ノードN1に接続され、第2導通端子は基準電位線に接続されている。トランジスタT13については、制御端子は第1内部ノードN1に接続され、第1導通端子は入力端子53に接続され、第2導通端子は出力端子57に接続されている。トランジスタT14については、制御端子は入力端子54に接続され、第1導通端子は出力端子57に接続され、第2導通端子は基準電位線に接続されている。トランジスタT15については、制御端子は制御信号線に接続され、第1導通端子は第1内部ノードN1に接続され、第2導通端子は第2内部ノードN2に接続されている。トランジスタT16については、制御端子は第2内部ノードN2に接続され、第1導通端子は入力端子55に接続され、第2導通端子は出力端子58に接続されている。トランジスタT17については、制御端子は入力端子54に接続され、第1導通端子は出力端子58に接続され、第2導通端子は基準電位線に接続されている。コンデンサC11については、一端は第1内部ノードN1に接続され、他端は出力端子57に接続されている。コンデンサC12については、一端は第2内部ノードN2に接続され、他端は出力端子58に接続されている。
 ここで、トランジスタT15に着目する。制御信号線に与えられている制御信号MONがハイレベルになっている期間には、トランジスタT15は、第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高いときを除いてオン状態で維持される。トランジスタT15は、第2内部ノードN2の電位が所定以上になるとオフ状態となり、第1内部ノードN1と第2内部ノードN2とを電気的に切り離す。これにより、トランジスタT15は、第2内部ノードN2がブースト状態になったときの当該第2内部ノードN2の電位の上昇を補助する。
 本実施形態においては、トランジスタT13によって第1出力制御トランジスタが実現され、トランジスタT15によって第1出力回路制御トランジスタが実現され、トランジスタT16によって第2出力制御トランジスタが実現され、出力端子57によって第1出力端子が実現され、出力端子58によって第2出力端子が実現され、制御信号MONを伝達する制御信号線によって第1制御信号線が実現されている。
<1.4 駆動方法>
 本実施形態における駆動方法について説明する。なお、ここでは、画像表示のために走査信号線GL(1)の走査が開始されてから当該走査信号線GL(1)の走査が次に開始されるまでの期間のことを「フレーム期間」という。
<1.4.1 概要>
 本実施形態においては、モニタ処理に関する動作モードとして、モニタモードと非モニタモードとが用意されている。動作モードがモニタモードに設定されているときには、有機EL表示装置の動作中、随時、モニタ処理が行われる。詳しくは、各フレーム期間に少なくとも1つの行についてのモニタ処理が行われる。そのモニタ処理は、通常の表示期間中に行われる。このように通常の表示期間中に行われるモニタ処理のことを「リアルタイムモニタ」という。動作モードが非モニタモードに設定されているときには、有機EL表示装置の動作中、モニタ処理は行われない。換言すれば、有機EL表示装置が動作している期間を通じて、全ての行で入力画像信号DINに基づく表示が行われている。
 図6および図7を参照しつつ、各モードの動作について説明する。なお、図6および図7では、画像表示用の書き込みのために1行目の走査信号線GL(1)からn行目の走査信号線GL(n)までを順次に走査する様子を斜めの太線で模式的に示している(図17~図19も同様)。
 動作モードがモニタモードに設定されているときには、図6に示すように、各フレーム期間にモニタ期間が含まれる。各フレーム期間に関し、モニタ期間以外の期間は走査期間となっている。走査期間は、画像表示のために走査信号線GLの走査が行われている期間である。このように、本実施形態においては、上述したリアルタイムモニタが行われる。制御信号MONについては、走査期間中にはローレベルで維持され、モニタ期間にのみハイレベルとなる(但し、厳密には、制御信号MONはモニタ期間開始時点の少し前からモニタ期間終了時点の少し後までの期間にハイレベルとなる)。これにより、単位回路22内のトランジスタT15(図1参照)は、走査期間にはオフ状態で維持され、モニタ期間には一部の期間(第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高くなっている期間)を除いてオン状態で維持される。なお、ハイレベルの制御信号MONの電位が第1電位に相当し、ローレベルの制御信号MONの電位が第2電位に相当する。
 動作モードが非モニタモードに設定されているときには、動作モードがモニタモードに設定されているときとは異なり、図7に示すように各フレーム期間には走査期間のみが含まれる。すなわち、モニタ処理が行われることなく、書き込みのための動作が連続して行われる。制御信号MONについては、ローレベルで維持される。従って、動作モードが非モニタモードに設定されている期間を通じて、単位回路22内のトランジスタT15はオフ状態で維持される。
 動作モードがモニタモードに設定されているときには、動作モードが非モニタモードに設定されているときよりも、垂直期間(1行目の走査信号線GL(1)の走査開始時点からn行目の走査信号線GL(n)の走査終了時点までの期間)が長くなる。換言すれば、モニタ処理を含む画像表示の垂直期間は、モニタ処理を含まない画像表示の垂直期間よりも長い。
 なお、本実施形態においては、走査期間の動作によって走査ステップが実現され、モニタ期間の動作によってモニタステップが実現される。
<1.4.2 動作モードが非モニタモードに設定されているときの動作>
 図8を参照しつつ、動作モードが非モニタモードに設定されているときのi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目の書き込みが行われる際の動作に着目する。期間P00の開始時点直前には、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなっている。
 期間P00になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。図1に示すようにトランジスタT11はダイオード接続となっているので、このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。これにより、第1内部ノードN1の電位は上昇し、トランジスタT13がオン状態となる。しかしながら、期間P00には、第1クロックCKAはローレベルで維持されるので、出力信号Q1はローレベルで維持される。また、期間P00には、制御信号MONはローレベルで維持されるので、トランジスタT15はオフ状態で維持される。このため、第2内部ノードN2の電位は上昇しない。
 期間P01になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT13はオン状態となっているので、入力端子53の電位の上昇とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が上昇する。ここで、図1に示すように第1内部ノードN1-出力端子57間にはコンデンサC11が設けられているので、出力端子57の電位の上昇とともに第1内部ノードN1の電位も上昇する(第1内部ノードN1がブースト状態となる)。その結果、トランジスタT13の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子57の接続先の書き込み制御トランジスタT1がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q1の電位が上昇する。これにより、i行目の画素回路410で書き込みが行われる。
 期間P01の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子53の電位の低下とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が低下する。出力端子57の電位が低下すると、コンデンサC11を介して、第1内部ノードN1の電位も低下する。
 期間P02になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT12がオン状態となる。その結果、第1内部ノードN1の電位はローレベルとなる。
<1.4.3 動作モードがモニタモードに設定されているときの動作>
 図9は、動作モードがモニタモードに設定されているときの連続する3フレーム期間FR1~FR3の信号波形図である。フレーム期間FR1にはi行目についてのモニタ処理が行われ、フレーム期間FR2には(i+1)行目についてのモニタ処理が行われ、フレーム期間FR3には(i+2)行目についてのモニタ処理が行われる。このように、本実施形態においては、各フレーム期間に1行分についてのモニタ処理が行われる。但し、各フレーム期間に複数行分についてのモニタ処理が行われても良い。図9から把握されるように、各フレーム期間に、非モニタ行に対応する走査信号GLについては1回だけハイレベルとなるが、モニタ行に対応する走査信号GLについては2回ハイレベルとなる。このように、各フレーム期間に、モニタ行に対応する走査信号線GLには走査パルスが2回与えられる。1回目の走査パルスの立ち上がり時点から2回目の走査パルスの立ち下がり時点までの期間がモニタ期間である。モニタ期間には、制御信号MONはハイレベルで維持される。各フレーム期間において、非モニタ行に対応するモニタ制御信号MLはローレベルで維持されるが、モニタ行に対応するモニタ制御信号MLについてはモニタ期間中に2回ハイレベルとなる。
 図10を参照しつつ、動作モードがモニタモードに設定されているときのi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目がモニタ行であると仮定し、i行目についてのモニタ処理が行われる際の動作に着目する。期間P10の開始時点直前には、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなっており、制御信号MONはローレベルとなっている。
 期間P10になると、制御信号MONがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT15がオン状態となる。また、期間P10になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。このとき、トランジスタT15がオン状態となっているので、コンデンサC12も充電される。以上より、第1内部ノードN1の電位が上昇してトランジスタT13がオン状態になるとともに第2内部ノードN2の電位が上昇してトランジスタT16がオン状態になる。しかしながら、期間P10には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENはローレベルで維持されるので、出力信号Q1,Q2はローレベルで維持される。
 期間P11になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT13はオン状態となっているので、入力端子53の電位の上昇とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC11を介して第1内部ノードN1の電位も上昇する。その結果、トランジスタT13の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子57の接続先の書き込み制御トランジスタT1がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q1の電位が上昇する。また、期間P11になると、イネーブル信号ENがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT16はオン状態となっているので、入力端子55の電位の上昇とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC12を介して第2内部ノードN2の電位も上昇する(第2内部ノードN2がブースト状態となる)。その結果、トランジスタT16の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子58の接続先のモニタ制御トランジスタT3がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q2の電位が上昇する。
 期間P12になると、イネーブル信号ENがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子55の電位の低下とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が低下する。出力端子58の電位が低下すると、コンデンサC12を介して、第2内部ノードN2の電位も低下する。期間P12の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子53の電位の低下とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が低下する。出力端子57の電位が低下すると、コンデンサC11を介して、第1内部ノードN1の電位も低下する。
 期間P13になると、イネーブル信号ENがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、期間P11と同様、第2内部ノードN2の電位および出力信号Q2の電位が上昇する。期間P13の終了時点には、イネーブル信号ENがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子55の電位の低下とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が低下する。これに伴い、コンデンサC12を介して、第2内部ノードN2の電位も低下する。
 期間P14になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、期間P11と同様、第1内部ノードN1の電位および出力信号Q1の電位が上昇する。なお、期間P14には、イネーブル信号ENはローレベルで維持されるので、第2内部ノードN2の電位は上昇しない。期間P14の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子53の電位の低下とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が低下する。これに伴い、コンデンサC11を介して、第1内部ノードN1の電位も低下する。
 期間P15になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT12がオン状態となる。その結果、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。期間P15の開始時点から少しの時間の経過後、制御信号MONがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、トランジスタT15がオフ状態となる。
 以上のようにして、i行目の画素回路410では、期間P11,P12,およびP14に書き込み制御トランジスタT1がオン状態となり、期間P11,P13にモニタ制御トランジスタT3がオン状態となる。これにより、期間P11~P14に、i行目の画素回路410についてのモニタ処理が行われる。
 次に、図11を参照しつつ、モニタ処理が行われる際の画素回路410および電流モニタ部320の動作について説明する。ここでは、第i行第j列の画素回路410およびj列目に対応する電流モニタ部320に着目する。なお、図11における期間P10~P12,P14~P15は図10における期間P10~P12,P14~P15に対応し、図11における期間P13a~P13cは図10における期間P13に対応する。
 期間P10には、(i-1)行目で画像表示用のデータ電位Vd(i-1)に基づく書き込みが行われる。期間P10の終了時点直前には、走査信号GL(i)およびモニタ制御信号ML(i)はローレベルである。従って、書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3はオフ状態である。また、期間P10の終了時点直前には、制御信号S2,S1はハイレベルであり、制御信号S0はローレベルである。従って、スイッチ323,324はオン状態であり、スイッチ325はオフ状態である。このとき、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)とは電気的に接続されている。
 期間P11になると、走査信号GL(i)およびモニタ制御信号ML(i)はローレベルからハイレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3はオン状態となる。期間P11には、画素回路410の状態を初期化する初期化電位Vpcがデータ信号線SL(j)に印加される。これにより、コンデンサC1の状態および有機EL素子L1のアノード電位が初期化される。
 期間P12になると、モニタ制御信号ML(i)がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、モニタ制御トランジスタT3がオフ状態となる。この状態で、特性検出用電位Vr_TFTまたは特性検出用電位Vr_OLEDがデータ信号線SL(j)に印加される。特性検出用電位Vr_TFTは、駆動トランジスタT2には電流が流れるが有機EL素子L1には電流が流れないように設定された電位である。特性検出用電位Vr_OLEDは、有機EL素子L1には電流が流れるが駆動トランジスタT2には電流が流れないように設定された電位である。
 期間P13aになると、走査信号GL(i)はハイレベルからローレベルに変化し、モニタ制御信号ML(i)はローレベルからハイレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1はオフ状態となり、モニタ制御トランジスタT3はオン状態となる。このような状態で、電流測定用電位Vm_TFTまたは電流測定用電位Vm_OLEDがデータ信号線SL(j)に印加される。これにより、TFT特性の測定が行われているときには駆動トランジスタT2を流れる電流がモニタ制御トランジスタT3およびデータ信号線SL(j)を介して電流モニタ部320へと流れ、OLED特性の測定が行われているときには電流モニタ部320からデータ信号線SL(j)およびモニタ制御トランジスタT3を介して有機EL素子L1へと電流が流れる。このとき、制御信号S2はハイレベルであるので、スイッチ323はオン状態となっていて、コンデンサ322に電荷は蓄積されない。なお、期間P13aについては、データ信号線SL(j)を流れる測定電流が安定するのに充分な長さに設定されている。
 期間P13bになると、制御信号S2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、スイッチ323がオフ状態となり、オペアンプ301とコンデンサ322とが積分回路として機能する。その結果、オペアンプ301の出力電圧は、データ信号線SL(j)を流れている電流に応じた電圧となる。
 期間P13cになると、制御信号S1がハイレベルからローレベルに変化し、制御信号S0がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、スイッチ324がオフ状態となり、スイッチ325がオン状態となる。スイッチ324がオフ状態となることによって、データ信号線SL(j)と内部データ線Sin(j)とが電気的に切り離された状態となる。この状態で、オペアンプ301の出力電圧(コンデンサ322の充電電圧)がA/Dコンバータ327によってデジタル信号に変換される。そのデジタル信号は、モニタデータMOとして表示制御回路10に送られ、入力画像信号DINの補正に用いられる。
 期間P14になると、制御信号S2,S1がローレベルからハイレベルに変化し、制御信号S0がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、スイッチ323,324がオン状態となり、スイッチ325がオフ状態となる。また、期間P14には、走査信号GL(i)がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1がオン状態となる。この状態で画像表示用のデータ電位Vd(i)がデータ信号線SL(j)に印加され、第i行第j列の画素回路410において当該データ電位Vd(i)に基づく書き込みが行われる。
 期間P15になると、走査信号GL(i)がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1がオフ状態となる。なお、期間P15には、(i+1)行目で画像表示用のデータ電位Vd(i+1)に基づく書き込みが行われる。期間P15以降の期間には、第i行第j列の画素回路410では、期間P14における書き込みに基づいて有機EL素子L1が発光する。
 なお、期間P11が初期化期間に相当し、期間P12が第1書き込み期間に相当し、期間P13bが測定期間に相当し、期間P14が第2書き込み期間に相当する。
<1.5 効果>
 図31に示した従来の単位回路によれば、トランジスタT15の制御端子には常にハイレベル電位VDDが与えられていた。このため、上述したように、ストレスの印加を考慮してトランジスタT16のサイズを大きくする必要があり、それに応じて額縁サイズが大きくなっていた。これに対して、本実施形態によれば、動作モードが非モニタモードに設定されているときには、単位回路22内のトランジスタT15はオフ状態で維持される。また、動作モードがモニタモードに設定されているときには、トランジスタT15はモニタ期間にのみオン状態となる。これにより、バッファトランジスタとして機能するトランジスタT16へのストレス印加が顕著に抑制される。従って、従来と比較してトランジスタT16のサイズを小さくすることができる。以上のように、本実施形態によれば、外部補償機能を有する有機EL表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくすることができる。
<1.6 変形例>
 上記第1の実施形態によれば、モニタ行と非モニタ行とで有機EL素子L1の発光期間の長さに差が生じて表示品位が低下することが懸念される。そこで、有機EL素子L1の発光期間の長さが全ての行で同じになるよう、次のような構成を採用しても良い。表示部40内に、各行に対応するよう発光制御線を設ける。また、画素回路410内に、有機EL素子L1の発光を制御する発光制御トランジスタを設ける。図12に示すように、発光制御トランジスタT4については、制御端子は発光制御線EM(i)に接続され、第1導通端子は駆動トランジスタT2の第2導通端子とモニタ制御トランジスタT3の第1導通端子とに接続され、第2導通端子は有機EL素子L1のアノード端子に接続される。以上のような構成において、i行目がモニタ行であると仮定すると、例えば、発光制御トランジスタT4が図11における期間P11~P13cにはオフ状態となってそれ以外の期間にはオン状態となるよう、発光制御線EM(i)の電位を制御する。
<2.第2の実施形態>
 第2の実施形態について説明する。本実施形態に係る有機EL表示装置は、画素回路410にデータ信号を書き込む動作を間欠的に行う休止駆動(「低周波駆動」とも呼ばれる)が可能な表示装置である。なお、休止駆動に関し、画素回路410にデータ信号を書き込む動作が中断されている期間のことを「休止期間」という。以下、第1の実施形態と同様の点については、適宜、説明を省略する。
<2.1 全体構成>
 図13は、本実施形態に係る有機EL表示装置の全体構成を示すブロック図である。第1の実施形態においては、表示部40には、走査信号線GL(1)~GL(n)とデータ信号線SL(1)~SL(m)とモニタ制御線ML(1)~ML(n)とが配設されていた。これに対して、本実施形態においては、表示部40には、走査信号線GL(1)~GL(n)とデータ信号線SL(1)~SL(m)と電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)とが配設されている。電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)は、データ信号線SL(1)~SL(m)と1対1で対応するように配設されている。電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)とデータ信号線SL(1)~SL(m)とは典型的には互いに平行になっている。
 ゲートドライバ20は、走査信号線GL(1)~GL(n)に接続されている。第1の実施形態と同様、ゲートドライバ20は、複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成されている。ゲートドライバ20は、表示制御回路10から出力されたゲート制御信号GCTLに基づいて、走査信号線GL(1)~GL(n)に走査信号を印加する。
 ソースドライバ30は、データ信号線SL(1)~SL(m)と電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)とに接続されている。ソースドライバ30は、データ信号線SL(1)~SL(m)を駆動する動作と、電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)を流れる電流を測定する動作とを選択的に行う。すなわち、ソースドライバ30には、機能的には、データ信号線SL(1)~SL(m)を駆動するデータ信号線駆動部310として機能する部分と、画素回路410から電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)に出力された電流を測定する電流モニタ部320として機能する部分とが含まれている(図3参照)。電流モニタ部320は、電流モニタ線MCL(1)~MCL(m)を流れる電流を測定し、測定値に基づくモニタデータMOを出力する。
 以上のように、走査信号線GL(1)~GL(n)に走査信号が印加され、データ信号線SL(1)~SL(m)に輝度信号としてのデータ信号が印加されることによって、入力画像信号DINに基づく画像が表示部40に表示される。また、モニタ処理が実行され、モニタデータMOに応じて入力画像信号DINに補償演算処理が施されるので、駆動トランジスタや有機EL素子の劣化が補償される。
<2.2 画素回路およびソースドライバ>
 図14は、画素回路410およびソースドライバ30の一部を示す回路図である。なお、図14には、第i行第j列の画素回路410と、ソースドライバ30のうちのj列目のデータ信号線SL(j)に対応する部分とが示されている。第1の実施形態と同様、画素回路410は、1個の有機EL素子L1と、3個のトランジスタT1~T3(書き込み制御トランジスタT1、駆動トランジスタT2、およびモニタ制御トランジスタT3)と、1個のコンデンサ(容量素子)C1とを備えている。但し、モニタ制御トランジスタT3については、制御端子は走査信号線GL(i)に接続され、第1導通端子は駆動トランジスタT2の第2導通端子と有機EL素子L1のアノード端子とに接続され、第2導通端子は電流モニタ線MCL(j)に接続されている。なお、第1の実施形態の変形例と同様の趣旨で、図15に示すように画素回路410内に発光制御トランジスタT4を設けても良い。
 ソースドライバ30については、図14に示すように、データ信号線駆動部310として機能する部分と電流モニタ部320として機能する部分とが分離されている。データ信号線駆動部310には、オペアンプ311とD/Aコンバータ316とが含まれている。電流モニタ部320は、D/Aコンバータ326とA/Dコンバータ327とオペアンプ321とコンデンサ322と3つのスイッチ(スイッチ323,324,および325)とによって構成される。なお、オペアンプ321およびD/Aコンバータ326はそれぞれ第1の実施形態(図4参照)におけるオペアンプ301およびD/Aコンバータ306に相当する。電流モニタ部320の動作については第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。但し、本実施形態における電流モニタ部320は、電流モニタ線MCLを流れる電流を測定する。
<2.3 ゲートドライバ>
 本実施形態におけるゲートドライバ20の詳細な構成について説明する。図16は、シフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。各段の単位回路22からの出力信号Q1は、前段の単位回路22にリセット信号Rとして与えられ、次段の単位回路22にセット信号Sとして与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q2は、対応する走査信号線GLに走査信号として与えられる。それ以外の点については、第1の実施形態と同様である。単位回路22の構成についても第1の実施形態と同様である(図1参照)。
<2.4 駆動方法>
<2.4.1 概要>
 本実施形態においては、駆動周波数に関する動作モードとして、通常モードと休止モードとが用意されている。動作モードが通常モードに設定されているときには、有機EL表示装置の動作中、書き込みのための動作が中断されることなく、通常の画像表示が繰り返し行われる。動作モードが休止モードに設定されているときには、書き込みのための動作を間欠的に行う休止駆動が行われる。また、モニタ処理に関する動作モードとして、モニタモードと非モニタモードとが用意されている。本実施形態においては、動作モードがモニタモードに設定されているとき、休止期間中に少なくとも1つの行についてのモニタ処理が行われる。以下、便宜上、通常モードと非モニタモードとの組み合わせを「第1モード」といい、休止モードと非モニタモードとの組み合わせを「第2モード」といい、休止モードとモニタモードとの組み合わせを「第3モード」という。通常モードとモニタモードとが組み合わされることはない。すなわち、本実施形態においては、休止駆動が行われているときに限ってモニタ処理が行われる。
 以下、図17~図19を参照しつつ、各モードの動作について説明する。動作モードが第1モードに設定されているときには、図17に示すように、休止期間が設けられることなく、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間のみを含むフレーム期間)が連続する。このように、動作モードが第1モードに設定されているときにはモニタ処理は行われない。制御信号MONについては、ハイレベルで維持される。従って、動作モードが第1モードに設定されているときには、単位回路22内のトランジスタT15は一部の期間(第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高くなっている期間)を除いてオン状態で維持される。
 動作モードが第2モードに設定されているときには、図18に示すように、2つのフレーム期間の間に休止期間が現れる。各フレーム期間には走査期間のみが含まれる。すなわち、各フレーム期間には、モニタ処理が行われることなく、書き込みのための動作のみが行われる。休止期間には、走査信号線GLの走査が行われることなくシフトレジスタ内でのシフト動作のみが行われる。以上より、動作モードが第2モードに設定されているときにはモニタ処理は行われない。なお、図18では、走査信号線GLを走査することなくシフトレジスタにおいて1段目の単位回路22(1)からn段目の単位回路22(n)へのシフト動作が行われる様子を斜めの太点線で模式的に示している(図19も同様)。制御信号MONについては、フレーム期間(走査期間)にはハイレベルで維持され、休止期間にはローレベルで維持される。これにより、単位回路22内のトランジスタT15は、フレーム期間(走査期間)には一部の期間(第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高くなっている期間)を除いてオン状態で維持され、休止期間にはオフ状態で維持される。
 動作モードが第3モードに設定されているときには、動作モードが第2モードに設定されているときと同様、2つのフレーム期間の間に休止期間が現れる。但し、図19に示すように、モニタ処理を行うモニタ期間が休止期間に含まれている。休止期間のうちモニタ期間以外の期間には、走査信号線GLの走査が行われることなくシフトレジスタ内でのシフト動作のみが行われる。制御信号MONについては、フレーム期間(走査期間)にはハイレベルで維持され、休止期間にはモニタ期間にのみハイレベルとなりモニタ期間以外の期間にはローレベルで維持される。これにより、単位回路22内のトランジスタT15は、フレーム期間(走査期間)には一部の期間(第2内部ノードN2の電位が通常のハイレベルよりも高くなっている期間)を除いてオン状態で維持され、休止期間にはモニタ期間にのみオン状態となりモニタ期間以外の期間にはオフ状態で維持される。
 動作モードが第3モードに設定されているときには、動作モードが第2モードに設定されているときよりも、休止期間が長くなる。換言すれば、モニタ処理を含む休止期間は、モニタ処理を含まない休止期間よりも長い。
<2.4.2 動作モードが第1モードに設定されているときの動作>
 図20を参照しつつ、動作モードが第1モードに設定されているときのi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。図20で符号61を付した矢印の部分には、i行目の書き込みが行われる際の各信号の波形を示している。図20で符号62を付した矢印の部分には、i行目以外の行の書き込みが行われる際の各信号の波形を示している。図20に示すように、制御信号MONはハイレベルで維持されている。従って、単位回路22内のトランジスタT15はオン状態で維持される。
 期間P20の開始時点直前には、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなっている。期間P20になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。このとき、トランジスタT15がオン状態となっているので、コンデンサC12も充電される。以上より、第1内部ノードN1の電位が上昇してトランジスタT13がオン状態になるとともに第2内部ノードN2の電位が上昇してトランジスタT16がオン状態になる。しかしながら、期間P20には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENはローレベルで維持されるので、出力信号Q1,Q2はローレベルで維持される。
 期間P21になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT13はオン状態となっているので、入力端子53の電位の上昇とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC11を介して第1内部ノードN1の電位も上昇する。その結果、トランジスタT13の制御端子には大きな電圧が印加され、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。また、期間P21になると、イネーブル信号ENがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT16はオン状態となっているので、入力端子55の電位の上昇とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC12を介して第2内部ノードN2の電位も上昇する。その結果、トランジスタT16の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子58の接続先の書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q2の電位が上昇する。これにより、i行目の画素回路410で書き込みが行われる。
 期間P21の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子53の電位の低下とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が低下する。出力端子57の電位が低下すると、コンデンサC11を介して、第1内部ノードN1の電位も低下する。また、期間P21の終了時点には、イネーブル信号ENがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子55の電位の低下とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が低下する。出力端子58の電位が低下すると、コンデンサC12を介して、第2内部ノードN2の電位も低下する。
 期間P22になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT12がオン状態となる。その結果、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。
 i行目以外の行の書き込みが行われる際には、i段目の単位回路22(i)にはセット信号Sのパルスが入力されないので、第1内部ノードN1の電位、第2内部ノードN2の電位、出力信号Q1の電位、および出力信号Q2の電位はローレベルで維持される(図20で符号62を付した矢印の部分を参照)。
<2.4.3 動作モードが第2モードに設定されているときの動作>
 このケースにおいて、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間)(図18参照)には、単位回路22は、動作モードが第1モードに設定されているときと同様に動作する(図20参照)。
 図21を参照しつつ、このケースにおいて休止期間中にi段目の単位回路22(i)にシフトパルス(セット信号Sのパルス)が与えられた際の当該i段目の単位回路22(i)の動作について説明する。期間P30の開始時点直前には、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなっている。
 期間P30になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。これにより、第1内部ノードN1の電位は上昇し、トランジスタT13がオン状態となる。しかしながら、期間P30には、第1クロックCKAはローレベルで維持されるので、出力信号Q1はローレベルで維持される。また、期間P30には、制御信号MONはローレベルで維持されるので、トランジスタT15はオフ状態で維持される。このため、第2内部ノードN2の電位は上昇しない。
 期間P31になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P21と同様、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。期間P31の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、上記期間P21の終了時点と同様、出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)および第1内部ノードN1の電位が低下する。期間P32になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P22と同様、第1内部ノードN1の電位はローレベルとなる。
 なお、i段目の単位回路22(i)にシフトパルスが与えられない期間には、図22に示すように、i段目の単位回路22(i)では、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルで維持され、出力信号Q1,Q2の電位もローレベルで維持される。
<2.4.3 動作モードが第3モードに設定されているときの動作>
 このケースにおいて、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間)(図19参照)には、単位回路22は、動作モードが第1モードに設定されているときと同様に動作する(図20参照)。このケースにおいて、休止期間のうちのモニタ期間以外の期間には、単位回路22は、動作モードが第2モードに設定されているときの休止期間と同様に動作する(図21および図22を参照)。
 図23を参照しつつ、このケースにおける休止期間のうちのモニタ期間のi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目がモニタ行であると仮定し、i行目についてのモニタ処理が行われる際の動作に着目する。期間P40の開始時点直前には、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなっており、制御信号MONはローレベルとなっている。
 期間P40になると、制御信号MONがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT15がオン状態となる。また、期間P40になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。このとき、トランジスタT15がオン状態となっているので、コンデンサC12も充電される。以上より、第1内部ノードN1の電位が上昇してトランジスタT13がオン状態になるとともに第2内部ノードN2の電位が上昇してトランジスタT16がオン状態になる。しかしながら、期間P40には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENはローレベルで維持されるので、出力信号Q1,Q2はローレベルで維持される。
 期間P41になると、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P21と同様、出力信号Q1の電位が充分に上昇し、また、出力端子58の接続先の書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q2の電位が上昇する。
 期間P41の終了時点には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、上記期間P21の終了時点と同様、出力信号Q1の電位および出力信号Q2の電位が低下する。これに伴い、第1内部ノードN1の電位および第2内部ノードN2の電位が低下する。
 期間P42になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P22と同様、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。
 以上のようにして、i行目の画素回路410では、期間P41に書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3がオン状態となる。これにより、期間P41に、i行目の画素回路410についてのモニタ処理が行われる。
 次に、図24を参照しつつ、モニタ処理が行われる際の画素回路410および電流モニタ部320の動作について説明する。ここでは、第i行第j列の画素回路410およびj列目に対応する電流モニタ部320に着目する。なお、図24における期間P40,P42は図23における期間P40,P42に対応し、図24における期間P41a~P41dは図23における期間P41に対応する。
 期間P40には、(i-1)行目で画像表示用のデータ電位Vd(i-1)に基づく書き込みが行われる。期間P40の終了時点直前には、走査信号GL(i)はローレベルである。従って、書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3はオフ状態である。また、期間P40の終了時点直前には、制御信号S2,S1はローレベルであり、制御信号S0はハイレベルである。従って、スイッチ323,324はオフ状態であり、スイッチ325はオン状態である。このとき、電流モニタ線MCL(j)と内部データ線Sin(j)とは電気的に切り離されている。
 期間P41aになると、走査信号GL(i)はローレベルからハイレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3はオン状態となる。また、期間P41aには、制御信号S2,S1はローレベルからハイレベルに変化し、制御信号S0はハイレベルからローレベルに変化する。これにより、スイッチ323,324はオン状態となり、スイッチ325はオフ状態となる。その結果、電流モニタ線MCL(j)と内部データ線Sin(j)とが電気的に接続される。期間P41aには、以上のような状態で、特性検出用電位Vr_TFTまたは特性検出用電位Vr_OLEDがデータ信号線SL(j)に印加され、電流測定用電位Vm_TFTまたは電流測定用電位Vm_OLEDが電流モニタ線MCL(j)に印加される。特性検出用電位Vr_TFTおよび電流測定用電位Vm_TFTは、駆動トランジスタT2には電流が流れるが有機EL素子L1には電流が流れないように設定された電位である。特性検出用電位Vr_OLEDおよび電流測定用電位Vm_OLEDは、有機EL素子L1には電流が流れるが駆動トランジスタT2には電流が流れないように設定された電位である。なお、期間P41aについては、電流モニタ線MCL(j)に流れる測定電流が安定するのに充分な長さに設定されている。
 期間P41bになると、制御信号S2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、スイッチ323がオフ状態となり、オペアンプ321とコンデンサ322とが積分回路として機能する。その結果、オペアンプ321の出力電圧は、電流モニタ線MCL(j)を流れている電流に応じた電圧となる。
 期間P41cになると、制御信号S1がハイレベルからローレベルに変化し、制御信号S0がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、スイッチ324がオフ状態となり、スイッチ325がオン状態となる。スイッチ324がオフ状態となることによって、電流モニタ線MCL(j)と内部データ線Sin(j)とが電気的に切り離された状態となる。この状態で、オペアンプ321の出力電圧(コンデンサ322の充電電圧)がA/Dコンバータ327によってデジタル信号に変換される。そのデジタル信号は、モニタデータMOとして表示制御回路10に送られ、入力画像信号DINの補正に用いられる。
 期間P41dになると、画像表示用のデータ電位Vd(i)がデータ信号線SL(j)に印加される。このとき、書き込み制御トランジスタT1はオン状態である。従って、第i行第j列の画素回路410において当該データ電位Vd(i)に基づく書き込みが行われる。
 期間P42になると、走査信号GL(i)がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、書き込み制御トランジスタT1およびモニタ制御トランジスタT3がオフ状態となる。なお、期間P42には、(i+1)行目で画像表示用のデータ電位Vd(i+1)に基づく書き込みが行われる。期間P42以降の期間には、第i行第j列の画素回路410では、期間P41dにおける書き込みに基づいて有機EL素子L1が発光する。
<2.5 効果>
 本実施形態によれば、動作モードが第1モードに設定されているときには、単位回路22内のトランジスタT15はオフ状態で維持される。また、動作モードが第2モードに設定されているときには、休止期間を通じてトランジスタT15はオフ状態で維持される。さらに、動作モードが第3モードに設定されているときには、休止期間のうちモニタ期間以外の期間にトランジスタT15はオフ状態で維持される。以上より、バッファトランジスタとして機能するトランジスタT16へのストレス印加が顕著に抑制される。従って、従来と比較してトランジスタT16のサイズを小さくすることができる。以上のように、第1の実施形態と同様、外部補償機能を有する有機EL表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくすることができる。
<3.第3の実施形態>
<3.1 構成の概略>
 第3の実施形態について説明する。第1の実施形態では、リアルタイムモニタが行われていた。第2の実施形態では、休止駆動が行われているときの休止期間中にモニタ処理が行われていた。これらに対して、本実施形態に係る有機EL表示装置は、リアルタイムモニタを行うこともできるし、休止駆動を採用して休止期間中にモニタ処理を行うこともできる。すなわち、本実施形態では、モニタ処理の方式としてリアルタイムモニタを行う第1方式と休止期間中にモニタ処理を行う第2方式とが用意され、それら2つの方式から選択した方式でモニタ処理を行うことが可能となっている。
 有機EL表示装置の全体構成については、第1の実施形態と同様である。すなわち、図2に示すように、表示部40には、走査信号線GL(1)~GL(n)およびデータ信号線SL(1)~SL(m)に加えてモニタ制御線ML(1)~ML(n)が配設されている。画素回路410および電流モニタ部320の構成についても、第1の実施形態と同様である(図4参照)。
<3.2 ゲートドライバ>
 本実施形態におけるゲートドライバ20の詳細な構成について説明する。図25は、ゲートドライバ20に含まれるシフトレジスタの5段分の構成を示すブロック図である。このシフトレジスタには、ゲート制御信号GCTLとして、ゲートスタートパルス信号、クロック信号CK1、クロック信号CK2、イネーブル信号ENA1、イネーブル信号ENA2、イネーブル信号ENB1、イネーブル信号ENB2、制御信号MON1、および制御信号MON2が与えられる。なお、ゲートスタートパルス信号は、セット信号Sとして1段目の単位回路22(1)に与えられる信号であり、図25では省略している。
 各単位回路22は、第1クロックCKA、第2クロックCKB、イネーブル信号ENA、イネーブル信号ENB、制御信号MON1、制御信号MON2、セット信号S、およびリセット信号Rをそれぞれ受け取るための入力端子と、出力信号Q1、出力信号Q2、および出力信号Q3をそれぞれ出力するための出力端子とを含んでいる。
 奇数段目の単位回路22については、クロック信号CK1が第1クロックCKAとして与えられ、クロック信号CK2が第2クロックCKBとして与えられ、イネーブル信号ENA1がイネーブル信号ENAとして与えられ、イネーブル信号ENB1がイネーブル信号ENBとして与えられる。偶数段目の単位回路22については、クロック信号CK2が第1クロックCKAとして与えられ、クロック信号CK1が第2クロックCKBとして与えられ、イネーブル信号ENA2がイネーブル信号ENAとして与えられ、イネーブル信号ENB2がイネーブル信号ENBとして与えられる。制御信号MON1,MON2については、全ての単位回路22に共通的に与えられる。また、各段の単位回路22には、前段の単位回路22からの出力信号Q1がセット信号Sとして与えられ、次段の単位回路22からの出力信号Q1がリセット信号Rとして与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q1は、前段の単位回路22にリセット信号Rとして与えられ、次段の単位回路22にセット信号Sとして与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q2は、対応する走査信号線GLに走査信号として与えられる。各段の単位回路22からの出力信号Q3は、対応するモニタ制御線MLにモニタ制御信号として与えられる。なお、図4に示したように、走査信号線GLは画素回路410内の書き込み制御トランジスタT1の制御端子に接続され、モニタ制御線MLは画素回路410内の書き込みモニタ制御トランジスタT3の制御端子に接続されている。以下、制御信号MON1を伝達する信号線を「第1制御信号線」といい、制御信号MON2を伝達する信号線を「第2制御信号線」という。
 図26は、本実施形態における単位回路22の構成を示す回路図である。本実施形態における単位回路22は、第1の実施形態において設けられている構成要素(図1参照)に加えて、3個のトランジスタT18~T20と1個のコンデンサC13と入力端子56と出力端子59とを備えている。入力端子56にはイネーブル信号ENBが与えられ、出力端子59からは出力信号Q3が出力される。なお、本実施形態におけるイネーブル信号ENAおよび制御信号MON1は、第1の実施形態におけるイネーブル信号ENおよび制御信号MONに相当する。
 トランジスタT18の第2導通端子、トランジスタT19の制御端子、およびコンデンサC13の一端は互いに接続されている。なお、これらが互いに接続されている領域(配線)のことを「第3内部ノード」という。第3内部ノードには符号N3を付す。
 ところで、本実施形態における単位回路22には、第1出力制御回路221および第2出力制御回路222に加えて、出力信号Q3の出力を制御する第3出力制御回路223が含まれている。第3出力制御回路223は、第3内部ノードN3とトランジスタT19とトランジスタT20と入力端子56と出力端子59とを含んでいる。
 トランジスタT18については、制御端子は第2制御信号線に接続され、第1導通端子は第1内部ノードN1に接続され、第2導通端子は第3内部ノードN3に接続されている。トランジスタT19については、制御端子は第3内部ノードN3に接続され、第1導通端子は入力端子56に接続され、第2導通端子は出力端子59に接続されている。トランジスタT20については、制御端子は入力端子54に接続され、第1導通端子は出力端子59に接続され、第2導通端子は基準電位線に接続されている。コンデンサC13については、一端は第3内部ノードN3に接続され、他端は出力端子59に接続されている。なお、トランジスタT15の制御端子は第1制御信号線に接続されている。
 本実施形態においては、トランジスタT13によって第1出力制御トランジスタが実現され、トランジスタT15によって第1出力回路制御トランジスタが実現され、トランジスタT16によって第2出力制御トランジスタが実現され、トランジスタT18によって第2出力回路制御トランジスタが実現され、トランジスタT19によって第3出力制御トランジスタが実現され、出力端子57によって第1出力端子が実現され、出力端子58によって第2出力端子が実現され、出力端子59によって第3出力端子が実現されている。
<3.3 駆動方法>
 上述したように、本実施形態においては、モニタ処理の方式として、リアルタイムモニタを行う第1方式と、休止期間中にモニタ処理を行う第2方式とが用意されている。モニタ処理の方式に第1方式が選択された場合には、第1の実施形態と同様、動作モードがモニタモードおよび非モニタモードのいずれかに設定される。モニタ処理の方式に第2方式が選択された場合には、第2の実施形態と同様、動作モードが第1モード、第2モード、および第3モードのいずれかに設定される。
 なお、以下に関し、ハイレベルの制御信号MON1の電位が第1電位に相当し、ローレベルの制御信号MON1の電位が第2電位に相当し、ハイレベルの制御信号MON2の電位が第3電位に相当し、ローレベルの制御信号MON2の電位が第4電位に相当する。
<3.3.1 モニタ処理の方式が第1方式であるときの動作>
 動作モードが非モニタモードに設定されているときには、第1の実施形態の非モニタモードの際と同様、モニタ処理が行われることなく、書き込みのための動作が連続して行われる。すなわち、走査期間のみを含むフレーム期間が連続する(図7参照)。なお、制御信号MON1についてはハイレベルで維持され、制御信号MON2についてはローレベルで維持される。
 動作モードがモニタモードに設定されているときには、第1の実施形態のモニタモードの際と同様、リアルタイムモニタが行われる。すなわち、各フレーム期間にモニタ期間が含まれ、モニタ期間以外の期間は走査期間となっている(図6参照)。なお、制御信号MON1については、動作モードがモニタモードに設定されている期間を通じてハイレベルで維持され、制御信号MON2については、走査期間中にはローレベルで維持され、モニタ期間にのみハイレベルとなる(但し、厳密には、制御信号MON2はモニタ期間開始時点の少し前からモニタ期間終了時点の少し後までの期間にハイレベルとなる)。
 なお、モニタ処理の方式に第1方式が採用されている場合には、第1制御信号線に制御信号MON1としてハイレベルの固定電位を印加するようにしても良い。
<3.3.1.1 動作モードが非モニタモードに設定されているときの動作>
 図27を参照しつつ、動作モードが非モニタモードに設定されているときのi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目の書き込みが行われる際の動作に着目する。期間P50の開始時点直前には、第1内部ノードN1、第2内部ノードN2、および第3ノードN3の電位はローレベルとなっており、制御信号MON1はハイレベルとなっており、制御信号MON2はローレベルとなっている。制御信号MON1がハイレベルとなっているのでトランジスタT15はオン状態となっており、制御信号MON2がローレベルとなっているのでトランジスタT18はオフ状態となっている。
 期間P50になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。このとき、トランジスタT15がオン状態となっているので、コンデンサC12も充電される。トランジスタT18はオフ状態となっているので、コンデンサC13への充電は行われない。以上より、第1内部ノードN1の電位が上昇してトランジスタT13がオン状態になるとともに第2内部ノードN2の電位が上昇してトランジスタT16がオン状態になる。しかしながら、期間P50には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENAはローレベルで維持されるので、出力信号Q1,Q2はローレベルで維持される。なお、出力信号Q3もローレベルで維持される。
 期間P51になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT13はオン状態となっているので、入力端子53の電位の上昇とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC11を介して第1内部ノードN1の電位も上昇する。その結果、トランジスタT13の制御端子には大きな電圧が印加され、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。また、期間P51になると、イネーブル信号ENAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT16はオン状態となっているので、入力端子55の電位の上昇とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC12を介して第2内部ノードN2の電位も上昇する。その結果、トランジスタT16の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子58の接続先の書き込み制御トランジスタT1がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q2の電位が上昇する。これにより、i行目の画素回路410で書き込みが行われる。
 期間P51の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子53の電位の低下とともに出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)が低下する。出力端子57の電位が低下すると、コンデンサC11を介して、第1内部ノードN1の電位も低下する。また、期間P51の終了時点には、イネーブル信号ENAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子55の電位の低下とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が低下する。出力端子58の電位が低下すると、コンデンサC12を介して、第2内部ノードN2の電位も低下する。
 期間P52になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT12がオン状態となる。その結果、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。
<3.3.1.2 動作モードがモニタモードに設定されているときの動作>
 図28を参照しつつ、動作モードがモニタモードに設定されているときのi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目がモニタ行であると仮定し、i行目についてのモニタ処理が行われる際の動作に着目する。期間P60の開始時点直前の各信号の電位は、上記期間P50の開始時点直前と同じである。
 期間P60になると、制御信号MON2がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT18がオン状態となる。また、期間P60になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。このセット信号SのパルスによってトランジスタT11がオン状態となり、コンデンサC11が充電される。このとき、トランジスタT15,T18がオン状態となっているので、コンデンサC12,C13も充電される。以上より、第1内部ノードN1、第2内部ノードN2、および第3内部ノードN3の電位が上昇してトランジスタT13,T16,およびT19がオン状態になる。しかしながら、期間P60には、第1クロックCKA、イネーブル信号ENA、およびイネーブル信号ENBはローレベルで維持されるので、出力信号Q1,Q2,およびQ3はローレベルで維持される。
 期間P61になると、イネーブル信号ENAがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT16はオン状態となっているので、入力端子55の電位の上昇とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC12を介して第2内部ノードN2の電位も上昇する。その結果、トランジスタT16の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子58の接続先の書き込み制御トランジスタT1がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q2の電位が上昇する。また、期間P61になると、イネーブル信号ENBがローレベルからハイレベルに変化する。このとき、トランジスタT19はオン状態となっているので、入力端子56の電位の上昇とともに出力端子59の電位(出力信号Q3の電位)が上昇する。これに伴い、コンデンサC13を介して第3内部ノードN3の電位も上昇する。その結果、トランジスタT19の制御端子には大きな電圧が印加され、出力端子59の接続先のモニタ制御トランジスタT3がオン状態となるのに充分なレベルにまで出力信号Q3の電位が上昇する。
 期間P62になると、イネーブル信号ENBがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子56の電位の低下とともに出力端子59の電位(出力信号Q3の電位)が低下する。出力端子59の電位が低下すると、コンデンサC13を介して、第3内部ノードN3の電位も低下する。期間P62の終了時点には、イネーブル信号ENAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子55の電位の低下とともに出力端子58の電位(出力信号Q2の電位)が低下する。出力端子58の電位が低下すると、コンデンサC12を介して、第2内部ノードN2の電位も低下する。
 期間P63になると、イネーブル信号ENBがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、期間P61と同様、第3内部ノードN3の電位および出力信号Q3の電位が上昇する。期間P63の終了時点には、イネーブル信号ENBがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、入力端子56の電位の低下とともに出力端子59の電位(出力信号Q3の電位)が低下する。これに伴い、コンデンサC13を介して、第3内部ノードN3の電位も低下する。
 期間P64になると、クロック信号CKAおよびイネーブル信号ENAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P51と同様、第1内部ノードN1の電位、第2内部ノードN2の電位、出力信号Q1の電位、および出力信号Q2の電位が上昇する。なお、期間P64には、イネーブル信号ENBはローレベルで維持されるので、第3内部ノードN3の電位は上昇しない。期間P64の終了時点には、第1クロックCKAおよびイネーブル信号ENAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、上記期間P51の終了時点と同様、第1内部ノードN1の電位、第2内部ノードN2の電位、出力信号Q1の電位、および出力信号Q2の電位が低下する。
 期間P65になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P52と同様、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。期間P65の開始時点から少しの時間の経過後、制御信号MON2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、トランジスタT18がオフ状態となる。
 以上のようにして、i行目の画素回路410では、期間P61,P62,およびP64に書き込み制御トランジスタT1がオン状態となり、期間P61,P63にモニタ制御トランジスタT3がオン状態となる。これにより、期間P61~P64に、i行目の画素回路410についてのモニタ処理が行われる。モニタ処理が行われる際の画素回路410および電流モニタ部320の動作については、第1の実施形態と同様であるので、説明を省略する。
<3.3.2 モニタ処理の方式が第2方式であるときの動作>
 動作モードが第1モードに設定されているときには、第2の実施形態の第1モードの際と同様、モニタ処理が行われることなく、書き込みのための動作が連続して行われる。すなわち、休止期間が設けられることなく、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間のみを含むフレーム期間)が連続する(図17参照)。なお、制御信号MON1についてはハイレベルで維持され、制御信号MON2についてはローレベルで維持される。
 動作モードが第2モードに設定されているときには、第2の実施形態の第2モードの際と同様、2つのフレーム期間の間に休止期間が現れるが、休止期間にはモニタ処理が行われることなくシフトレジスタ内でのシフト動作のみが行われる(図18参照)。なお、制御信号MON2については、動作モードが第2モードに設定されている期間を通じてローレベルで維持され、制御信号MON1については、フレーム期間(走査期間)にはハイレベルで維持され、休止期間にはローレベルで維持される。
 動作モードが第3モードに設定されているときには、第2の実施形態の第3モードの際と同様、モニタ処理を行うモニタ期間を含む休止期間が2つのフレーム期間の間に現れる(図19参照)。なお、制御信号MON1については、フレーム期間(走査期間)にはハイレベルで維持され、休止期間にはモニタ期間にのみハイレベルとなりモニタ期間以外の期間にはローレベルで維持される。また、制御信号MON2については、フレーム期間(走査期間)にはローレベルで維持され、休止期間にはモニタ期間にのみハイレベルとなりモニタ期間以外の期間にはローレベルで維持される。
<3.3.2.1 動作モードが第1モードに設定されているときの動作>
 このケースでは、単位回路22は、モニタ処理の方式に第1方式が採用されていて動作モードが非モニタモードに設定されているときと同様に動作する(図27参照)。
<3.3.2.2 動作モードが第2モードに設定されているときの動作>
 このケースにおいて、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間)には、単位回路22は、モニタ処理の方式に第1方式が採用されていて動作モードが非モニタモードに設定されているときと同様に動作する(図27参照)。
 図29を参照しつつ、このケースにおいて休止期間中にi段目の単位回路22(i)にシフトパルス(セット信号Sのパルス)が与えられた際の当該i段目の単位回路22(i)の動作について説明する。期間P70の開始時点直前には、第1内部ノードN1、第2内部ノードN2、および第3ノードN3の電位はローレベルとなっており、制御信号MON1,MON2はローレベルとなっている。制御信号MON1,MON2がローレベルとなっているのでトランジスタT15,T18はオフ状態となっている。
 期間P70になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P50と同様、第1内部ノードN1の電位が上昇してトランジスタT13がオン状態になる。しかしながら、期間P70には、第1クロックCKAはローレベルで維持されるので、出力信号Q1はローレベルで維持される。トランジスタT15,T18はオフ状態となっているので、第2内部ノードN2の電位および第3内部ノードN3の電位は上昇しない。従って、出力信号Q2,Q3はローレベルで維持される。
 期間P71になると、第1クロックCKAがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P51と同様、出力信号Q1の電位が充分に上昇する。期間P71の終了時点には、第1クロックCKAがハイレベルからローレベルに変化する。これにより、上記期間P51の終了時点と同様、出力端子57の電位(出力信号Q1の電位)および第1内部ノードN1の電位が低下する。期間P72になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P52と同様、第1内部ノードN1の電位はローレベルとなる。
<3.3.2.3 動作モードが第3モードに設定されているときの動作>
 このケースにおいて、通常の画像表示が行われるフレーム期間(走査期間)には、単位回路22は、モニタ処理の方式に第1方式が採用されていて動作モードが非モニタモードに設定されているときと同様に動作する(図27参照)。このケースにおいて、休止期間のうちのモニタ期間以外の期間には、単位回路22は、動作モードが第2モードに設定されているときの休止期間と同様に動作する(図29を参照)。
 図30を参照しつつ、このケースにおける休止期間のうちのモニタ期間のi段目の単位回路22(i)の動作について説明する。但し、i行目がモニタ行であると仮定し、i行目についてのモニタ処理が行われる際の動作に着目する。期間P80の開始時点直前の各信号の電位は、上記期間P70の開始時点直前と同じである。
 期間P80になると、制御信号MON1,MON2がローレベルからハイレベルに変化する。これにより、トランジスタT15,T18がオン状態となる。また、期間P80になると、セット信号Sがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P60と同様、第1内部ノードN1、第2内部ノードN2、および第3内部ノードN3の電位が上昇してトランジスタT13,T16,およびT19がオン状態になる。
 期間P81~P84には、上記期間P61~P64と同様の動作が行われる。期間P85になると、リセット信号Rがローレベルからハイレベルに変化する。これにより、上記期間P65と同様、第1内部ノードN1および第2内部ノードN2の電位はローレベルとなる。期間P85の開始時点から少しの時間の経過後、制御信号MON1,MON2がハイレベルからローレベルに変化する。これにより、トランジスタT15,T18がオフ状態となる。
 以上のようにして、i行目の画素回路410では、期間P81,P82,およびP84に書き込み制御トランジスタT1がオン状態となり、期間P81,P83にモニタ制御トランジスタT3がオン状態となる。これにより、期間P81~P84に、i行目の画素回路410についてのモニタ処理が行われる。モニタ処理が行われる際の画素回路410および電流モニタ部320の動作については、第1の実施形態と同様であるので、説明を省略する。
<3.4 効果>
 本実施形態によれば、リアルタイムモニタおよび休止駆動の双方を行うことができるよう、ゲートドライバを構成するシフトレジスタの各段として図26に示す構成の単位回路22が採用されている。そして、リアルタイムモニタが行われる際、モニタ期間以外の期間には、単位回路22内のトランジスタT18はオフ状態で維持される。また、休止駆動中の休止期間において、モニタ期間以外の期間には、単位回路22内のトランジスタT15,T18はオフ状態で維持される。以上より、バッファトランジスタとして機能するトランジスタT16,T19へのストレス印加が顕著に抑制される。従って、トランジスタT16,T19のサイズを小さくすることができる。以上のように、リアルタイムモニタおよび休止期間中のモニタ処理の双方が可能な有機EL表示装置に関し、従来よりも額縁サイズを小さくすることができる。
<4.その他>
 上記においてはモニタ行が1行目からn行目へと1行ずつ順次に遷移することを前提に説明しているが、これには限定されない。モニタ行がランダムに遷移するようにしても良い。
 上記各実施形態(変形例を含む)では有機EL表示装置を例に挙げて説明したが、これには限定されない。電流で駆動される表示素子(電流によって輝度または透過率が制御される表示素子)を備えた表示装置であれば、本発明を適用することができる。例えば、無機発光ダイオードを備えた無機EL表示装置や量子ドット発光ダイオード(Quantum dot Light Emitting Diode(QLED))を備えたQLED表示装置などにも本発明を適用することができる。
 10…表示制御回路
 20…ゲートドライバ
 22…単位回路
 30…ソースドライバ
 40…表示部
 221~223…第1~第3出力制御回路
 320…電流モニタ部
 410…画素回路
 GL、GL(1)~GL(n)…走査信号線
 ML、ML(1)~ML(n)…モニタ制御線
 SL、SL(1)~SL(m)…データ信号線
 MCL、MCL(1)~MCL(m)…電流モニタ線
 L1…有機EL素子
 T1…書き込み制御トランジスタ
 T2…駆動トランジスタ
 T3…モニタ制御トランジスタ
 T11~T19…単位回路内のトランジスタ
 N1~N3…第1~第3内部ノード
 MON、MON1、MON2…制御信号

Claims (31)

  1.  電流によって駆動される表示素子と前記表示素子の駆動電流を制御する駆動トランジスタとを含む画素回路を有し、前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の劣化を補償するために前記画素回路内を流れる電流を前記画素回路外で測定する一連の処理であるモニタ処理を実行する機能を有する表示装置であって、
     n×m個(nおよびmは2以上の整数)の前記画素回路からなるn行×m列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査信号線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ信号線とを有する表示部と、
     前記データ信号線にデータ信号を印加するデータ信号線駆動回路と、
     前記走査信号線に走査信号を印加する走査信号線駆動回路と、
     第1制御信号線と
    を備え、
     前記走査信号線駆動回路は、それぞれが対応する走査信号線に接続された複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成され、
     各単位回路は、
      第1内部ノードと、他の単位回路に接続された第1出力端子と、前記第1内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第1出力端子に接続された第2導通端子とを有する第1出力制御トランジスタとを含む第1出力制御回路と、
      第2内部ノードと、前記モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子と、前記第2内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第2出力端子に接続された第2導通端子とを有する第2出力制御トランジスタとを含む第2出力制御回路と、
      前記第1制御信号線に接続された制御端子と、前記第1内部ノードに接続された第1導通端子と、前記第2内部ノードに接続された第2導通端子とを有する第1出力回路制御トランジスタと
    を含み、
     前記第1制御信号線に印加される電位は、前記第1出力回路制御トランジスタをオン状態にする第1電位と前記第1出力回路制御トランジスタをオフ状態にする第2電位との間で切り替えられ、
     前記モニタ期間を通じて、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加されることを特徴とする、表示装置。
  2.  前記第1制御信号線は、前記複数の単位回路に共通の電位を与えることを特徴とする、請求項1に記載の表示装置。
  3.  前記モニタ処理の対象とされる行がランダムに遷移することを特徴とする、請求項1または2に記載の表示装置。
  4.  前記表示部は、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線を更に有し、
     前記走査信号線駆動回路は、前記モニタ制御線にモニタ制御信号を印加し、
     前記第1出力端子は、対応する走査信号線に接続され、
     前記第2出力端子は、対応するモニタ制御線に接続されていることを特徴とする、請求項1から3までのいずれか1項に記載の表示装置。
  5.  前記モニタ処理の対象が第i行であるとき、前記走査信号線駆動回路が第1行から第(i-1)行までの走査信号線を順次に駆動することによって画像表示が行われた後、第i行についての前記モニタ処理が行われ、当該モニタ処理の終了後、前記走査信号線駆動回路が第i行以降の走査信号線を順次に駆動することによって画像表示が行われることを特徴とする、請求項4に記載の表示装置。
  6.  前記モニタ処理を含む画像表示の垂直期間は、前記モニタ処理を含まない画像表示の垂直期間よりも長いことを特徴とする、請求項4または5に記載の表示装置。
  7.  前記モニタ期間以外の期間には、前記第1制御信号線に前記第2電位が印加されることを特徴とする、請求項4から6までのいずれか1項に記載の表示装置。
  8.  前記データ信号線は、前記モニタ処理の際に前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の特性に応じた電流を流すための信号線としても用いられ、
     前記モニタ処理の際、前記データ信号線を流れる電流の測定が行われることを特徴とする、請求項4から7までのいずれか1項に記載の表示装置。
  9.  前記画素回路は、
      第1端子と第2端子とを有する前記表示素子と、
      制御端子と第1導通端子と第2導通端子とを有する前記駆動トランジスタと、
      前記走査信号線に接続された制御端子と、前記データ信号線に接続された第1導通端子と、前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第2導通端子とを有する書き込み制御トランジスタと、
      前記モニタ制御線に接続された制御端子と、前記駆動トランジスタの第2導通端子と前記表示素子の第1端子とに接続された第1導通端子と、前記データ信号線に接続された第2導通端子とを有するモニタ制御トランジスタと、
      前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するために一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された容量素子と
    を含み、
     前記モニタ期間は、少なくとも、前記画素回路を初期化する初期化期間、前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の特性に応じた電流を流すためのデータ信号を前記画素回路に書き込む第1書き込み期間、前記画素回路外で電流を測定する測定期間、および画像表示用のデータ信号を前記画素回路に書き込む第2書き込み期間を含み、
     前記モニタ処理の対象となっている行では、
      前記初期化期間には、前記書き込み制御トランジスタがオン状態となるように前記走査信号線に前記走査信号が印加され、前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加され、前記駆動トランジスタがオフ状態となるように前記データ信号線に前記データ信号が印加され、
      前記第1書き込み期間には、前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加され、
      前記測定期間には、前記書き込み制御トランジスタがオフ状態となるように前記走査信号線に前記走査信号が印加され、前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加されることを特徴とする、請求項4から8までのいずれか1項に記載の表示装置。
  10.  前記モニタ期間の開始時点までに前記第1制御信号線に前記第1電位が印加され、
     前記モニタ期間の終了後に前記第1制御信号線に前記第2電位が印加されることを特徴とする、請求項4から9までのいずれか1項に記載の表示装置。
  11.  前記モニタ処理に関する動作モードとして、前記モニタ処理が随時行われるモニタモードと前記モニタ処理が行われない非モニタモードとが用意され、
     動作モードが前記非モニタモードに設定されている期間を通じて、前記第1制御信号線に前記第2電位が印加されることを特徴とする、請求項4から10までのいずれか1項に記載の表示装置。
  12.  前記表示部は、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられた電流モニタ線を更に有し、
     前記データ信号線駆動回路は、前記電流モニタ線を流れる電流を測定する機能を有し、
     前記画素回路は、
      第1端子と第2端子とを有する前記表示素子と、
      制御端子と第1導通端子と第2導通端子とを有する前記駆動トランジスタと、
      前記走査信号線に接続された制御端子と、前記データ信号線に接続された第1導通端子と、前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第2導通端子とを有する書き込み制御トランジスタと、
      前記走査信号線に接続された制御端子と、前記駆動トランジスタの第2導通端子と前記表示素子の第1端子とに接続された第1導通端子と、前記電流モニタ線に接続された第2導通端子とを有するモニタ制御トランジスタと、
      前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するために一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された容量素子と
    を含み、
     前記第2出力端子は、対応する走査信号線に接続されていることを特徴とする、請求項1から3までのいずれか1項に記載の表示装置。
  13.  前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作を間欠的に行う休止駆動が可能であって、
     前記休止駆動が行われるときの前記モニタ処理に関する動作モードとして、前記モニタ処理が行われるモニタモードと前記モニタ処理が行われない非モニタモードとが用意されていることを特徴とする、請求項12に記載の表示装置。
  14.  前記モニタ処理の対象が第i行であるとき、前記シフトレジスタで第1行に対応する単位回路から第(i-1)行に対応する単位回路まで順次にシフト動作が行われた後、第i行についての前記モニタ処理が行われ、当該モニタ処理の終了後、前記シフトレジスタで第i行以降に対応する単位回路で順次にシフト動作が行われることを特徴とする、請求項13に記載の表示装置。
  15.  前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作が中断されている休止期間に関し、前記モニタ処理を含む休止期間は、前記モニタ処理を含まない休止期間よりも長いことを特徴とする、請求項13または14に記載の表示装置。
  16.  前記休止駆動が行われている場合に、
      前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作が中断されている休止期間のうちの前記モニタ期間には、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加され、
      前記休止期間のうちの前記モニタ期間以外の期間には、前記第1制御信号線に前記第2電位が印加され、
      前記休止期間以外の期間を通じて、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加されることを特徴とする、請求項13から15までのいずれか1項に記載の表示装置。
  17.  第2制御信号線を更に備え、
     前記表示部は、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線を更に有し、
     前記走査信号線駆動回路は、前記モニタ制御線にモニタ制御信号を印加し、
     各単位回路は、
      第3内部ノードと、前記モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第3出力端子と、前記第3内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第3出力端子に接続された第2導通端子とを有する第3出力制御トランジスタとを含む第3出力制御回路と、
      前記第2制御信号線に接続された制御端子と、前記第1内部ノードに接続された第1導通端子と、前記第3内部ノードに接続された第2導通端子とを有する第2出力回路制御トランジスタと
    を更に含み、
     前記第2制御信号線に印加される電位は、前記第2出力回路制御トランジスタをオン状態にする第3電位と前記第2出力回路制御トランジスタをオフ状態にする第4電位との間で切り替えられ、
     前記モニタ期間を通じて、前記第2制御信号線に前記第3電位が印加されることを特徴とする、請求項1から3までのいずれか1項に記載の表示装置に記載の表示装置。
  18.  前記データ信号線は、前記モニタ処理の際に前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の特性に応じた電流を流すための信号線としても用いられ、
     前記モニタ処理の際、前記データ信号線を流れる電流の測定が行われることを特徴とする、請求項17に記載の表示装置。
  19.  前記第2出力端子は、対応する走査信号線に接続され、
     前記第3出力端子は、対応するモニタ制御線に接続されていることを特徴とする、請求項17または18に記載の表示装置。
  20.  前記画素回路は、
      第1端子と第2端子とを有する前記表示素子と、
      制御端子と第1導通端子と第2導通端子とを有する前記駆動トランジスタと、
      前記走査信号線に接続された制御端子と、前記データ信号線に接続された第1導通端子と、前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第2導通端子とを有する書き込み制御トランジスタと、
      前記モニタ制御線に接続された制御端子と、前記駆動トランジスタの第2導通端子と前記表示素子の第1端子とに接続された第1導通端子と、前記データ信号線に接続された第2導通端子とを有するモニタ制御トランジスタと、
      前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するために一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された容量素子と
    を含み、
      前記モニタ期間は、少なくとも、前記画素回路を初期化する初期化期間、前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の特性に応じた電流を流すためのデータ信号を前記画素回路に書き込む第1書き込み期間、前記画素回路外で電流を測定する測定期間、および画像表示用のデータ信号を前記画素回路に書き込む第2書き込み期間を含み、
     前記モニタ処理の対象となっている行では、
      前記初期化期間には、前記書き込み制御トランジスタがオン状態となるように前記走査信号線に前記走査信号が印加され、前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加され、前記駆動トランジスタがオフ状態となるように前記データ信号線に前記データ信号が印加され、
      前記第1書き込み期間には、前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加され、
      前記測定期間には、前記書き込み制御トランジスタがオフ状態となるように前記走査信号線に前記走査信号が印加され、前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるように前記モニタ制御線に前記モニタ制御信号が印加されることを特徴とする、請求項19に記載の表示装置。
  21.  前記モニタ期間の開始時点までに前記第2制御信号線に前記第3電位が印加され、
     前記モニタ期間の終了後に前記第2制御信号線に前記第4電位が印加されることを特徴とする、請求項19または20に記載の表示装置。
  22.  前記モニタ処理は、画像表示が行われている期間中に行われることを特徴とする、請求項19から21までのいずれか1項に記載の表示装置。
  23.  画像表示が行われている期間を通じて前記第1制御信号線に前記第1電位が印加されることを特徴とする、請求項22に記載の表示装置。
  24.  前記第1制御信号線に固定電位が印加されることを特徴とする、請求項23に記載の表示装置。
  25.  前記モニタ期間以外の期間には、前記第2制御信号線に前記第4電位が印加されることを特徴とする、請求項22から24までのいずれか1項に記載の表示装置。
  26.  前記モニタ処理に関する動作モードとして、前記モニタ処理が随時行われるモニタモードと前記モニタ処理が行われない非モニタモードとが用意され、
     動作モードが前記非モニタモードに設定されている期間を通じて、前記第2制御信号線に前記第4電位が印加されることを特徴とする、請求項22から25までのいずれか1項に記載の表示装置。
  27.  前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作を間欠的に行う休止駆動が可能であって、
     前記モニタ処理は、前記休止駆動が行われている期間中に行われることを特徴とする、請求項19から21までのいずれか1項に記載の表示装置。
  28.  前記休止駆動が行われるときの前記モニタ処理に関する動作モードとして、前記モニタ処理が行われるモニタモードと前記モニタ処理が行われない非モニタモードとが用意されていることを特徴とする、請求項27に記載の表示装置。
  29.  前記休止駆動が行われている場合に、
      前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作が中断されている休止期間のうちの前記モニタ期間には、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加され、
      前記休止期間のうちの前記モニタ期間以外の期間には、前記第1制御信号線に前記第2電位が印加され、
      前記休止期間以外の期間を通じて、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加されることを特徴とする、請求項27または28に記載の表示装置。
  30.  前記休止駆動が行われている場合に、
      前記画素回路に前記データ信号を書き込む動作が中断されている休止期間のうちの前記モニタ期間には、前記第2制御信号線に前記第3電位が印加され、
      前記休止期間のうちの前記モニタ期間以外の期間には、前記第2制御信号線に前記第4電位が印加され、
      前記休止期間以外の期間を通じて、前記第2制御信号線に前記第4電位が印加されることを特徴とする、請求項27から29までのいずれか1項に記載の表示装置。
  31.  電流によって駆動される表示素子と前記表示素子の駆動電流を制御する駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置の駆動方法であって、
     前記表示装置は、
      n×m個(nおよびmは2以上の整数)の前記画素回路からなるn行×m列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査信号線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ信号線とを有する表示部と、
      前記データ信号線にデータ信号を印加するデータ信号線駆動回路と、
      前記走査信号線に走査信号を印加する走査信号線駆動回路と、
      第1制御信号線と
    を備え、
     前記駆動方法は、
      前記データ信号線駆動回路によって前記データ信号線に印加される画像表示用のデータ信号を各画素回路に書き込むために前記走査信号線の走査を行う走査ステップと、
      前記駆動トランジスタまたは前記表示素子の劣化を補償するために、前記画素回路内を流れる電流を前記画素回路外で測定する一連の処理であるモニタ処理を実行するモニタステップと
    を含み、
     前記走査信号線駆動回路は、それぞれが対応する走査信号線に接続された複数の単位回路からなるシフトレジスタによって構成され、
     各単位回路は、
      第1内部ノードと、他の単位回路に接続された第1出力端子と、前記第1内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第1出力端子に接続された第2導通端子とを有する第1出力制御トランジスタとを含む第1出力制御回路と、
      第2内部ノードと、前記モニタ処理が行われるモニタ期間のうちの少なくとも一部の期間にオンレベルの信号を出力する第2出力端子と、前記第2内部ノードに接続された制御端子と第1導通端子と前記第2出力端子に接続された第2導通端子とを有する第2出力制御トランジスタとを含む第2出力制御回路と、
      前記第1制御信号線に接続された制御端子と、前記第1内部ノードに接続された第1導通端子と、前記第2内部ノードに接続された第2導通端子とを有する第1出力回路制御トランジスタと
    を含み、
     前記第1制御信号線に印加される電位は、前記第1出力回路制御トランジスタをオン状態にする第1電位と前記第1出力回路制御トランジスタをオフ状態にする第2電位との間で切り替えられ、
     前記モニタステップでは、前記第1制御信号線に前記第1電位が印加されることを特徴とする、駆動方法。
PCT/JP2019/013971 2019-03-29 2019-03-29 表示装置およびその駆動方法 WO2020202243A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US17/437,812 US11900872B2 (en) 2019-03-29 2019-03-29 Display device
PCT/JP2019/013971 WO2020202243A1 (ja) 2019-03-29 2019-03-29 表示装置およびその駆動方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/013971 WO2020202243A1 (ja) 2019-03-29 2019-03-29 表示装置およびその駆動方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020202243A1 true WO2020202243A1 (ja) 2020-10-08

Family

ID=72666601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/013971 WO2020202243A1 (ja) 2019-03-29 2019-03-29 表示装置およびその駆動方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11900872B2 (ja)
WO (1) WO2020202243A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023127168A1 (ja) * 2021-12-29 2023-07-06 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 表示装置およびその駆動方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015190407A1 (ja) * 2014-06-10 2015-12-17 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2015199051A1 (ja) * 2014-06-23 2015-12-30 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2016158745A1 (ja) * 2015-04-02 2016-10-06 シャープ株式会社 表示装置
US20170186363A1 (en) * 2015-12-29 2017-06-29 Samsung Display Co., Ltd. Gate driver and display device including the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015190407A1 (ja) * 2014-06-10 2015-12-17 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2015199051A1 (ja) * 2014-06-23 2015-12-30 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2016158745A1 (ja) * 2015-04-02 2016-10-06 シャープ株式会社 表示装置
US20170186363A1 (en) * 2015-12-29 2017-06-29 Samsung Display Co., Ltd. Gate driver and display device including the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023127168A1 (ja) * 2021-12-29 2023-07-06 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 表示装置およびその駆動方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20220199012A1 (en) 2022-06-23
US11900872B2 (en) 2024-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10593267B2 (en) Display device and method for driving same
CN110176213B (zh) 像素电路及其驱动方法、显示面板
US7868880B2 (en) Display apparatus and drive control method thereof
WO2020007054A1 (zh) 移位寄存器单元、栅极驱动电路及其驱动方法、显示装置
WO2012053462A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
US11030951B2 (en) Light-emitting display and method of driving the same
US9589528B2 (en) Display device
US11910671B2 (en) Display device and method for driving same
US11823623B2 (en) Display device including pixel circuits with different transistor types and method for driving same
JP2005331900A (ja) 表示装置
WO2020202243A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
US10796659B2 (en) Display device and method for driving the same
WO2020230260A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
JP2006017967A (ja) アクティブマトリクス型表示装置
JP4797555B2 (ja) 表示装置及びその駆動方法
WO2021161505A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
WO2021214855A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
WO2021161506A1 (ja) 表示装置およびその駆動方法
JP2004093774A (ja) 電流駆動装置及びその駆動制御方法並びに電流駆動装置を用いた表示装置
CN117275398A (zh) 一种显示面板及其驱动方法、显示装置
JP5792520B2 (ja) アクティブマトリクス型表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19922521

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19922521

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP