WO2020184075A1 - スイッチトキャパシタアンプ - Google Patents

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WO2020184075A1
WO2020184075A1 PCT/JP2020/006059 JP2020006059W WO2020184075A1 WO 2020184075 A1 WO2020184075 A1 WO 2020184075A1 JP 2020006059 W JP2020006059 W JP 2020006059W WO 2020184075 A1 WO2020184075 A1 WO 2020184075A1
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WO
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switch
input terminal
sampling
differential amplifier
inverting input
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PCT/JP2020/006059
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彰悟 川原
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株式会社デンソー
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Publication date
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    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
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    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
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    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45514Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more switched capacitors, and being coupled between the LC and the IC

Definitions

  • This disclosure relates to switched capacitor amplifiers.
  • a switched capacitor (Switched Capacitor Amplifier) amplifier has a configuration in which an electric charge is accumulated in a capacitor which is a sampling capacitance at the time of sampling and a voltage based on the electric charge accumulated in the capacitor is output at the time of holding.
  • the input terminal is connected to one terminal of the capacitor via the first switch, and the other terminals of the capacitor connected to the input terminal of the amplifier are connected to the output terminal of the amplifier by turning on the second switch. It becomes.
  • electric charge is accumulated in the capacitor by the voltage input from the input terminal.
  • the above-mentioned first to third switches are generally configured by using MOS transistors, and if both terminals of the capacitor are not sufficiently cut off when the switch is turned off, the charge of the capacitor leaks. For this reason, there is a problem that the terminal voltage of the capacitor changes significantly as the hold period becomes longer, and the accuracy of the output voltage of the amplifier deteriorates.
  • the sampling capacitance, the first switch connected between the signal input terminal and one terminal of the sampling capacitance, and the other terminal of the sampling capacitance are connected to the inverting input terminal.
  • the reference power supply that applies a predetermined voltage to the non-inverting input terminal of the differential amplifier, and the inverting input terminal of the differential amplifier and the signal output terminal.
  • the third switch connected between the common connection point of the first switch and the sampling capacitance, and the signal output terminal, and the first to third switches.
  • the second switch is connected between a series circuit of the first and second MOS transistors and a node and ground which are common connection points of the first and second MOS transistors.
  • the back gate of the first MOS transistor is connected to the node.
  • the first switch and the two second switches are turned on by the control unit at the time of sampling.
  • the input voltage causes the charge to be accumulated in the sampling capacitance through the first switch.
  • charges are also accumulated in the potential holding capacitance from the first MOS transistor constituting the second switch, and the terminal voltage of the potential holding capacitance becomes the same voltage as the sampling capacitance and the inverting input terminal of the differential amplifier.
  • the inverting input terminal of the differential amplifier has a predetermined voltage of the reference power supply connected to the non-inverting input terminal, the terminal voltage of the potential holding capacitance also has a predetermined voltage of the reference power supply.
  • the voltage based on the electric charge accumulated in the sampling capacitance is output to the signal output terminal.
  • both the source and drain of the first MOS transistor constituting the second switch are held at a predetermined voltage of the reference power supply, the occurrence of subthreshold leakage can be eliminated.
  • the back gate is held at a predetermined voltage of the reference power supply in addition to the source and drain, so that the occurrence of junction leakage can be eliminated. Therefore, the charge of the sampling capacitance does not leak through the second switch, and the output voltage can be output with high accuracy.
  • FIG. 1 is an electrical configuration diagram showing the first embodiment.
  • FIG. 2 is an operation explanatory diagram No. 1.
  • FIG. 3 is an operation explanatory diagram No. 2.
  • FIG. 4 is a time chart.
  • FIG. 5 is a time chart showing the second embodiment.
  • FIG. 6 is an electrical configuration diagram when incorporated into a DAC showing a third embodiment.
  • FIG. 7 is an operation explanatory view showing the fourth embodiment.
  • FIG. 8 is an electrical configuration diagram showing a fifth embodiment.
  • FIG. 9 is an operation explanatory diagram No. 1.
  • FIG. 10 is an operation explanatory diagram No. 2.
  • FIG. 11 is an operation explanatory view showing the sixth embodiment.
  • FIG. 12 is an electrical configuration diagram showing the seventh embodiment.
  • FIG. 13 is an electrical configuration diagram showing an eighth embodiment.
  • FIG. 14 is an electrical configuration diagram showing a ninth embodiment.
  • FIG. 15 is an electrical configuration diagram showing the tenth embodiment.
  • Switched Capacitor Amplifire (hereinafter abbreviated as "SC amplifier") 1 is formed on, for example, an SOI (Silicon On Insulator) substrate, and elements such as transistors formed inside are electrically connected. It is a configuration that can be provided in an insulated state.
  • the SC amplifier 1 takes in the input voltage Vin given to the input terminal A in the period of sampling ⁇ 1, and outputs the output voltage Vout to the output terminal B in the period of hold ⁇ 2.
  • the SC amplifier 1 includes a differential amplifier 2, a reference power supply 3, a control unit 4, a sampling capacity Cs, and switches S1, S2, and S3 corresponding to the first to third switches.
  • the switch S1 and the switch S3 are n-channel type MOS transistors.
  • the switch S2 includes switches S2A and S2B composed of n-channel type first and second MOS transistors, and a capacitor C1 as a potential holding capacitance.
  • the input terminal A of the SC amplifier 1 is connected to one terminal of the sampling capacitance Cs via the switch S1.
  • the substrate potential of switch S1 that is, the back gate, is connected to the ground.
  • the other terminals of the sampling capacitance Cs are connected to the inverting input terminals of the differential amplifier 2.
  • the non-inverting input terminal of the differential amplifier 2 is connected so that a reference voltage Vcm is applied from the reference power supply 3.
  • the output terminal of the differential amplifier 2 is connected to the output terminal B.
  • a series circuit of switches S2A and S2B is connected between the inverting input terminal and the output terminal of the differential amplifier 2.
  • the capacitor C1 is connected between the node N1 which is a common connection point of the switches S2A and S2B and the ground.
  • the bag gate of switch S2A is connected to node N1 together with the source.
  • the back gate of switch S2B is connected to ground.
  • the switch S3 is connected between the common connection point of the switch S1 and the sampling capacitance Cs and the output terminal B.
  • the control unit 4 gives a drive signal to the gates of the switches S1, S2A, S2B and S3 to control on / off.
  • the control unit 4 performs drive control of the switches S1, S2A, S2B, and S3 in each period of the sampling ⁇ 1 and the hold ⁇ 2 according to the sampling and hold signals given from the outside.
  • the control unit 4 drives and controls the switches S1, S2A, and S2B to turn on and the switch S3 to turn off.
  • the switch S1, S2A, and S2B are connected by a thick dotted line between the source and drain in the ON state.
  • the input voltage Vin is applied to the sampling capacitance Cs.
  • the output terminal of the differential amplifier 2 and the inverting input terminal are in a conductive state and have the same potential as the output terminal B.
  • the reference voltage Vcm is given to the non-inverting input terminal of the differential amplifier 2, the inverting input terminal also has the reference voltage Vcm.
  • an input voltage Vin and a reference voltage Vcm are applied between both terminals of the sampling capacitance Cs, and a charge corresponding to the difference voltage Vin ⁇ Vcm is accumulated in the sampling capacitance Cs.
  • a charge corresponding to the reference voltage Vcm is accumulated in the capacitor C1 connected to the nodes N1 of the switches S2A and S2B.
  • the control unit 4 drives and controls the switches S1, S2A, and S2B to turn off and the switch S3 to turn on.
  • the connection between the source and drain of the switch S3 with a thick dotted line indicates that the switch S3 is in the on state.
  • the inverting input terminal of the differential amplifier 2 has the same potential as the voltage Vcm of the non-inverting input terminal. Further, the inverting input terminal of the differential amplifier 2 is connected to the drain of the switch S2A in the off state.
  • the potential of the drain is Vcm
  • the potential of the source is also held at Vcm by the electric charge accumulated in the capacitor C1.
  • the potential is held at V cm because the back gate is connected to the source.
  • the switch S2 is provided as a single MOS transistor, so that a leakage current as described below occurs. To do.
  • the drain potential of the switch S2 is Vcm
  • the source potential is Vout
  • the back gate is ground while the switch S2 is off during the hold ⁇ 2 period. It is a level. Therefore, in the switch S2, a potential difference is generated between the drain connected to the differential amplifier 2 side and the back gate, and a junction leak occurs. Further, a potential difference is generated between the source and the drain connected to the differential amplifier 2 side, and a subthreshold leak occurs.
  • the switches S1, S2A, and S2B are controlled to be on and the switch S3 is controlled to be off, as shown in FIGS. 4B and 4C.
  • the sampling capacitance Cs is charged by the input voltage Vin, and the output voltage Vout is held at Vcm as shown in FIG. 4D.
  • the switches S1, S2A, and S2B are turned off and the switch S3 is controlled to be on, as shown in FIG.
  • the electric charge accumulated by charging the sampling capacitance Cs is retained, and the input voltage Vin, which is the terminal voltage of the sampling capacitance Cs, becomes the output voltage Vout. Therefore, as shown in FIG. 4D, the output voltage Vout is 0.6V.
  • the 0.6V of Vout can be held unchanged.
  • FIG. 4D shows the waveform of the hold ⁇ 2 period in the conventional configuration in which the leak current I leak is generated by the broken line.
  • the potential difference ⁇ V shown in the above equation (1) is generated, at the time t2 when the time Th of the hold ⁇ 2 period has elapsed, for example, the voltage in mV units is generated as an error. Even if such a potential difference ⁇ V is a small value in the sample hold operation for one stage, it may cause a cumulative large error by repeating it a plurality of times.
  • the sampling capacitance Cs is charged with the input voltage Vin and the potential rises, and when the switches S2A and S2B are turned on, the output voltage Vout of the output terminal B reaches V cm as shown in FIG. 4D. It rises and 0.7V is output.
  • a capacitor C1 is connected to the node N1
  • the back gate of the switch S2A is connected to the node N1.
  • the switch S2A when the switch S2A is turned off, the source / drain and the back gate can all be set to the reference potential Vcm which is the same potential, and the junction leak and the subthreshold leak can be eliminated.
  • Vcm the reference potential
  • the parasitic bipolar transistor structure is eliminated from the adjacent elements, so that the parasitic bipolar transistor is eliminated even when the back gate potential of the MOS transistor fluctuates. It is possible to avoid malfunctions caused by transistors. As a result, it is not necessary to widen the interval between adjacent MOS transistors in order to avoid malfunction, and space can be saved.
  • the SC amplifier 1 applied to the single-ended type is shown, but the present invention is not limited to this, and the SC amplifier 1 can also be applied to a differential type configuration.
  • FIG. 5 shows the second embodiment, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • the configuration is the same as that in the first embodiment, but the control content by the control unit 4 is different. That is, the control unit 4 is configured to turn on / off the switches S1, S2A, S2B and the switch S3 at different timings.
  • the switches S1, S2A, S2B and the switch S3 are switched as follows. (1) Control at the time of transition from the sampling ⁇ 1 period to the hold ⁇ 2 period (a) Switch S2A off: time t1a ⁇ (b) Switch S2B off: time t1b ⁇ (c) Switch S1 off: time t1c ⁇ (d) ) Switch S3 on: Time t1d (2) Control at the time of transition from the hold ⁇ 2 period to the sampling ⁇ 1 period (a) Switch S3 off: time t2a ⁇ (b) Switch S2B on: time t2b ⁇ (c) Switch S2A on: time t2c ⁇ (d) ) Switch S1 on: Time t2d
  • the control unit 4 controls the switches S1, S2A, and S2B to be on and the switch S3 to be off in the same manner as described above.
  • the sampling capacitance Cs is charged by the input voltage Vin, and the output voltage Vout is maintained at Vcm, that is, 0.7V, as shown in FIG. 5 (f).
  • the control unit 4 first switches in the ON state. S2A is turned off, blocking the path through which the charge of the sampling capacitance Cs flows. At this time, the capacitor C1 is charged to a voltage at which the potential of the node N1 becomes V cm. In this state, since the voltage between the source and drain of the switch S2A is Vcm and the back gate is Vcm, the switch S2A does not generate a leak current.
  • the control unit 4 turns off the on switch S2B as shown in FIG. 5D.
  • the node N1 is cut off from the output terminal B, and the electric charge is retained.
  • the switches S2A and S2B are turned off at different timings in this way, the effect of reducing the channel charge injection error and the ripple noise at the time of switching can be expected.
  • the control unit 4 turns off the switch S1 in the on state.
  • the sampling capacitance Cs is cut off from the input terminal A. In this state, the charge charged by the input voltage Vin is held in the sampling capacitance Cs.
  • the control unit 4 turns on the switch S3 in the off state.
  • the voltage Vin generated by the electric charge accumulated in the sampling capacitance Cs can be output to the output terminal B as the output voltage Vout.
  • the state in which the output voltage Vout becomes the input voltage Vin is maintained regardless of the length of the hold ⁇ 2 period.
  • the electric charge accumulated in the sampling capacitance Cs is retained, and the input voltage Vin, which is the terminal voltage of the sampling capacitance Cs, becomes the output voltage Vout, so that the output voltage Vout becomes 0.6V.
  • the switch S2B in the off state is turned on by the control unit 4 at the time t2b slightly delayed after the time t2a, and then in the off state at the time t2c slightly delayed.
  • Switch S2A is turned on.
  • the inverting input terminal of the differential amplifier 2 becomes the same potential as the output terminal B
  • the output voltage Vout becomes the reference voltage Vcm
  • the voltage of the capacitor C1 of the node N1 is also charged to Vcm.
  • the control unit 4 turns on the switch S1 in the off state.
  • the sampling capacitance Cs is connected to the input terminal A and charged by the input voltage Vin.
  • the sampling capacitance Cs is charged with the input voltage Vin and the potential rises, and when the switches S2A and S2B are turned on, the output voltage Vout of the output terminal B reaches V cm as shown in FIG. 5 (f). It rises and 0.7V is output.
  • the off timings of the switches S2A and S2B are shifted at the time of transition from the sampling ⁇ 1 period to the hold ⁇ 2 period. Therefore, in addition to the effect of the first embodiment, the channel charge It is possible to reduce injection error and ripple noise during switching.
  • FIG. 5 shows a third embodiment.
  • This embodiment shows a circuit example using the SC amplifier 1 described in the second embodiment.
  • the circuit shown is an intermediate buffer circuit of a two-stage 6-bit string ladder provided inside the DAC10, which is a D / A conversion circuit, to which two SC amplifiers 1A and 1B having the same configuration are applied.
  • the DAC 10 is configured to include a 6-bit front voltage ladder 20, two SC amplifiers 1A and 1B, a 6-bit rear voltage ladder 30, a sampling hold circuit 40, a gain amplifier 50 which is an output stage circuit, and the like.
  • the front stage resistor ladder 20 is connected to a circuit in which a plurality of resistors 22 for outputting 6 bits from the DC power supply VDD via the MOS transistor 21 are connected in series.
  • the drains of the two MOS transistors 23 and 24 are connected to the common connection points of the plurality of resistors 22, respectively.
  • the sources of the plurality of MOS transistors 23 are commonly connected and connected to the input terminal of the SC amplifier 1A. Further, the sources of the plurality of MOS transistors 24 are commonly connected and connected to the input terminal of the SC amplifier 1B.
  • the DC power supply VDD is divided by a plurality of resistors 22, and the divided voltage is output to each common connection point.
  • the voltage dividing voltage of the common connection point in which any one of the plurality of MOS transistors 23 is selectively turned on is selected and output to the SC amplifier 1A on the high voltage side. Further, the divided voltage of the common connection point in which any one of the plurality of MOS transistors 24 is selectively turned on is selected and output to the SC amplifier 1B on the low voltage side.
  • Each SC amplifier 1A and 1B samples the input voltage Vin of the input terminal to the sampling capacitance Cs during the period of sampling ⁇ 1, and outputs the output voltage Vout to the output terminal during the subsequent hold ⁇ 2 period.
  • the latter stage resistor ladder 30 has a circuit in which a plurality of resistors 31 for 6-bit output are connected in series between the output terminals of the two SC amplifiers 1A and 1B.
  • the drain of the MOS transistor 32 is connected to each of the common connection points of the plurality of resistors 31.
  • the sources of the plurality of MOS transistors 32 are commonly connected and connected to the input terminal of the sample hold circuit 40.
  • the voltage output between the output terminals of the two SC amplifiers 1A and 1B is divided by a plurality of resistors 32, and the divided voltage is output to each common connection point.
  • the voltage dividing voltage generated by the resistor 32 at the common connection point is output to the sample hold circuit 40 in the post-stage resistance ladder 30.
  • the sample hold circuit 40 includes a switch 41 and a sampling capacity 42.
  • the sample hold circuit 40 charges the sampling capacity 42 with the voltage input from the post-stage resistance ladder 30 by turning on the switch 41, and outputs the sampled voltage to the gain amplifier 50.
  • the gain amplifier 50 is mainly composed of the differential amplifier 51 and the MOS transistors 52a and 52b, and the voltage input from the sample hold circuit 40 is amplified by the differential amplifier 51 and the like and output to the output terminal OUT. It is a thing.
  • the output voltage Vout can be reduced during the hold ⁇ 2 period. It can be eliminated.
  • the D / A conversion process it is possible to perform the conversion process with higher accuracy than when the SC amplifier having the conventional configuration is used.
  • FIG. 7 shows the fourth embodiment, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • the reset operation is a process for preventing a malfunction from occurring due to the residual charge of the capacitor C1 when the power supply is momentarily interrupted or at the time of startup.
  • the control unit 4 performs a reset operation as follows prior to performing operations during the sampling ⁇ 1 and hold ⁇ 2b periods. As shown in FIG. 7, the switch S1 is held in the off state, and the switches S2A, S2B and S3 are turned on.
  • the sampling capacitance Cs is in a short-circuited state between both terminals, so that the electric charge is discharged and the potential difference disappears. Further, since the potential of the node N1 is the same as the voltage Vcm of the non-inverting input terminal, the voltage of the capacitor C1 is also Vcm. As a result, the sampling operation by the control unit 4 in the subsequent sampling ⁇ 1 period can be performed with high accuracy.
  • (Fifth Embodiment) 8 to 10 show the fifth embodiment, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • This embodiment shows a configuration when the application target is an integral type SC amplifier 11.
  • the SC amplifier 11 includes a differential amplifier 12, a reference power supply 13, a control unit 14, sampling capacities Cs, and switches S1 to S3.
  • the switches S1 and S3 are n-channel type MOS transistors.
  • the switch S2 includes switches S2A and S2B composed of n-channel type MOS transistors and a capacitor C11.
  • the input terminal A of the SC amplifier 11 is connected to one terminal of the sampling capacitance Cs via the switch S1.
  • the substrate potential of switch S1 that is, the back gate, is connected to the ground.
  • the other terminals of the sampling capacitance Cs are connected to the inverting input terminals of the differential amplifier 12.
  • the output terminal of the differential amplifier 2 is connected to the output terminal B and is also connected to the inverting input terminal via a capacitor Ch as an integrated capacitance.
  • the non-inverting input terminal of the differential amplifier 12 is connected so that a reference voltage Vcm is applied from the reference power supply 13.
  • a series circuit of switches S2A and S2B is connected between the inverting input terminal of the differential amplifier 12 and the ground.
  • the capacitor C1 is connected between the nodes N1 of the switches S2A and S2B and the ground.
  • the bag gate of the switch S2A is connected to the node N1 together with the source.
  • the back gate of switch S2B is connected to ground.
  • the drain is connected to the common connection point between the switch S1 and the sampling capacitance Cs, and the source is connected to the ground.
  • the control unit 14 gives a drive signal to the gates of the switches S1, S2A, S2B and S3 to control on / off.
  • the control unit 14 performs drive control of the switches S1, S2A, S2B, and S3 in the sampling ⁇ 1 period and the hold ⁇ 2 period, respectively, in response to the sampling and hold signals given from the outside.
  • the drive control of the switches S1, S2A, S2B, and S3 by the control unit 14 can be performed in the same manner as in the first embodiment or the second embodiment.
  • the control unit 14 drives and controls the switches S1, S2A, and S2B to turn on and the switch S3 to turn off.
  • the connection between the source and drain of the switches S1, S2A, and S2B with a thick dotted line indicates that the switch is in the on state.
  • the input voltage Vin is applied to the sampling capacitance Cs.
  • the output terminal of the differential amplifier 12 and the inverting input terminal are in a conductive state and have the same potential as the output terminal B.
  • the reference voltage Vcm is given to the non-inverting input terminal of the differential amplifier 12, the inverting input terminal also has the reference voltage Vcm.
  • an input voltage Vin and a reference voltage Vcm are applied between both terminals of the sampling capacitance Cs, and a charge corresponding to the difference voltage Vin ⁇ Vcm is accumulated in the sampling capacitance Cs.
  • a charge corresponding to the reference voltage Vcm is accumulated in the capacitor C11 connected to the nodes N1 of the switches S2A and S2B.
  • the control unit 4 drives and controls the switches S1, S2A, and S2B to be turned off and the switch S3 to be turned on.
  • the connection between the source and drain of the switch S3 with a thick dotted line indicates that the switch S3 is in the on state.
  • the inverting input terminal of the differential amplifier 12 has the same potential as the voltage Vcm of the non-inverting input terminal. Further, the inverting input terminal of the differential amplifier 12 is connected to the drain of the switch S2A in the off state.
  • the potential of the drain is V cm
  • the potential of the source is also held at V cm by the charging charge of the capacitor C11.
  • the potential is held at V cm because the back gate is connected to the source.
  • the drain, the source, and the back gate all have the same potential Vcm, and the off state in which leakage does not occur is maintained. Therefore, even with such a fifth embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • FIG. 11 shows the sixth embodiment, and the parts different from the fifth embodiment will be described below.
  • the reset operation is a process for preventing a malfunction due to the residual charge of C11 when the power supply is momentarily interrupted or at the time of startup.
  • the control unit 14 performs a reset operation as follows prior to performing sampling and hold operations. As shown in FIG. 11, the switch S1 is held in the off state, and the switches S2A, S2B and S3 are turned on.
  • the sampling capacitance Cs is in a short-circuited state between both terminals, so that the electric charge is discharged and the potential difference disappears. Further, since the potential of the node N1 is the same as the voltage Vcm of the non-inverting input terminal, the voltage of the capacitor C11 is also Vcm. As a result, the sampling operation by the control unit 14 during the subsequent sampling ⁇ 1 period can be performed with high accuracy.
  • FIG. 12 shows the seventh embodiment, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • the back gate of the switch S2A of the SC amplifier 1 is connected to the node N1
  • the back gate of the switch S2A of the SC amplifier 1a is connected. It is configured to be connected to a terminal having a reference potential of V cm of the reference power supply 3.
  • the point that the SC amplifier 1a is formed on the SOI substrate is utilized, and wiring is provided so that the reference potential Vcm of the reference power supply 3 is given to the back gate of the switch S2A.
  • the back gate of the switch S2A is always held at the reference potential Vcm, so that the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • FIG. 13 shows the eighth embodiment, and the parts different from the fifth embodiment will be described below.
  • the back gate of the switch S2A of the SC amplifier 11 is connected to the node N1
  • the back gate of the switch S2A of the SC amplifier 11a is connected. It is configured to be connected to a terminal having a reference potential of V cm of the reference power supply 13.
  • the SC amplifier 11a is formed on the SOI substrate, and wiring is provided so that the reference potential Vcm of the reference power supply 13 is given to the back gate of the switch S2A.
  • the back gate of the switch S2A is always held at the reference potential Vcm, so that the same effect as that of the fifth embodiment can be obtained.
  • FIG. 14 shows a ninth embodiment, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • the SC amplifier 1b is configured to provide the switch S2x instead of the switch S2.
  • the switch S2x of the SC amplifier 1b uses four MOS transistors as switches S2A to S2D, and is provided with two capacitors C1 and C2. Further, the switches S1, S2x, and S3 are controlled to be turned on and off by the control unit 4x.
  • the switches S2A and S2B are n-channel type MOS transistors, and the switches S2C and S2D are p-channel type MOS transistors.
  • the switches S2A and S2B are connected between the inverting input terminal and the output terminal of the differential amplifier 2 in a series connection state as in the first embodiment.
  • the capacitor C1 is connected between the node N1 which is a common connection terminal of the switches S2A and S2B and the ground.
  • the back gate of the switch S2A is connected to the ground together with the back gate of the switch S2B.
  • the switches S2C and S2D are connected between the inverting input terminal and the output terminal of the differential amplifier 2 in a state of being connected in series.
  • the capacitor C2 is connected between the node N2, which is a common connection terminal of the switches S2C and S2D, and the ground.
  • the back gates of the switches S2C and S2D are both connected to the power supply terminals.
  • the switch S2A when the switch S2x is turned off during the hold ⁇ 2 period by the control unit 4x, that is, when the switches S2A to S2D are turned off, the switch S2A has a configuration equivalent to the conventional one, so that the drain to the back gate There is a junction leak to. Therefore, the electric charge escapes from the drain side of the switch S2A to the back gate side, which affects the voltage to be lowered.
  • the switch S2C although it is in the off state, since the back gate is connected to the power supply terminal, a junction leak occurs in the same manner, so that the electric charge flows from the back gate side to the drain side. As a result, the electric charge flowing out from the drain of the switch S2C flows into the drain side of the switch S2A, and the error due to the passage of time in the hold ⁇ 2 period due to the junction leak can be significantly reduced.
  • FIG. 15 shows the tenth embodiment, and the parts different from the fifth embodiment will be described below.
  • the SC amplifier 11b is configured to provide the switch S2y instead of the switch S2.
  • the switch S2y of the SC amplifier 11b uses four MOS transistors as switches S2A to S2D, and is provided with two capacitors C11 and C12. Further, the switches S1, S2x, and S3 are controlled to be turned on and off by the control unit 14y.
  • the switches S2A and S2B are n-channel type MOS transistors, and the switches S2C and S2D as the third and fourth MOS transistors are p-channel type MOS transistors.
  • the switches S2A and S2B are connected between the inverting input terminal of the differential amplifier 2 and the ground in a state of being connected in series as in the fifth embodiment.
  • the capacitor C11 is connected between the node N1 which is a common connection terminal of the switches S2A and S2B and the ground.
  • the back gate of the switch S2A is connected to the ground together with the back gate of the switch S2B.
  • the switches S2C and S2D are connected between the inverting input terminal of the differential amplifier 2 and the ground in a state of being connected in series.
  • the capacitor C12 is connected between the node N2, which is a common connection terminal of the switches S2C and S2D, and the ground.
  • the back gates of the switches S2C and S2D are both connected to the power supply terminals.
  • the switch S2A when the switch S2x is turned off during the hold ⁇ 2 period by the control unit 14y, that is, when the switches S2A to S2D are turned off, the switch S2A has a configuration equivalent to the conventional one, so that the drain to the back gate There is a junction leak to. Therefore, the electric charge escapes from the drain side of the switch S2A to the back gate side, which affects the voltage to be lowered.
  • the switch S2C although it is in the off state, since the back gate is connected to the power supply terminal, a junction leak occurs in the same manner, so that the electric charge flows from the back gate side to the drain side. As a result, the electric charge flowing out from the drain of the switch S2C flows into the drain side of the switch S2A, and the error due to the passage of time in the hold ⁇ 2 period due to the junction leak can be significantly reduced.
  • the SC amplifiers 1 or 1A, 1B, 1a, 1b, 11, 11a, and 11b applied to the single-ended type are also shown in the configurations of the second and subsequent embodiments, but the present invention is not limited to this. , It can also be applied to an SC amplifier with a differential type configuration.

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Abstract

サンプリング容量(Cs)と、第1スイッチ(S1)と、差動アンプ(2)と、参照電源(3)と、第2スイッチ(S2)と、第3スイッチ(S3)と、前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(4)とを備え、前記第2スイッチは、第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)の直列回路と、前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点であるノード(N1)とグランドとの間に接続される電位保持容量(C1)を有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記ノードに接続されたスイッチトキャパシタアンプ。

Description

スイッチトキャパシタアンプ 関連出願の相互参照
 本開示は、2019年3月14日に出願された日本出願番号2019-047112号に基づくもので、ここにその記載内容を援用する。
 本開示は、スイッチトキャパシタアンプに関する。
 スイッチトキャパシタ(Switched Capacitor Amplifire)アンプにおいては、サンプリング時にサンプリング容量であるキャパシタに電荷を蓄積し、ホールド時にキャパシタに蓄積した電荷に基づいた電圧を出力する構成である。この場合、サンプリング時には入力端子から第1スイッチを介してキャパシタの一端子に接続し、アンプの入力端子に接続されるキャパシタの他端子は、第2スイッチのオンによりアンプの出力端子と接続した状態となる。これにより、入力端子から入力される電圧によりキャパシタに電荷が蓄積される。
 一方、ホールド時には第1スイッチおよび第2スイッチをオフし、キャパシタの一端子とアンプの出力端子とを接続する第3スイッチをオンにする。これにより、アンプの出力端子に入力電圧Vinを出力する。
 上記した第1~第3スイッチは一般的にMOSトランジスタを用いて構成しており、スイッチオフ時にキャパシタの両端子が充分に遮断されていない場合には、キャパシタの電荷がリークする。このため、ホールド期間が長くなるほどキャパシタの端子電圧が大きく変化してアンプの出力電圧の精度が低下する不具合があった。
米国特許第6850098号明細書 特許第3376977号明細書
 本開示は、ホールド期間中におけるキャパシタの電荷リークによる誤差のないスイッチトキャパシタアンプを提供することを目的とする。
 請求項1に記載のスイッチトキャパシタアンプは、サンプリング容量と、信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチと、前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプと、前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源と、前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続される第2スイッチと、前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点と前記信号出力端子との間に接続される第3スイッチと、前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部とを備え、前記第2スイッチは、第1および第2のMOSトランジスタの直列回路と、前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点であるノードとグランドとの間に接続される電位保持容量を有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記ノードに接続されている。
 上記構成によれば、まず、信号入力端子から入力電圧が入力された状態で、サンプリング時には、制御部により第1スイッチおよび2つの第2スイッチがオンされる。これにより、入力電圧により第1スイッチを通じてサンプリング容量に電荷が蓄積される。このとき、第2スイッチを構成する第1のMOSトランジスタから電位保持容量にも電荷が蓄積され、電位保持容量の端子電圧はサンプリング容量と差動アンプの反転入力端子と同じ電圧になる。また、差動アンプの反転入力端子は非反転入力端子に接続される参照電源の所定電圧になるので、電位保持容量の端子電圧も参照電源の所定電圧となる。
 この後、第1スイッチおよび第2スイッチがオフされ、第3スイッチがオンされると、サンプリング容量に蓄積された電荷に基づいた電圧が信号出力端子に出力される。このとき、第2スイッチを構成している第1のMOSトランジスタは、ソース、ドレインがともに参照電源の所定電圧に保持されるので、サブスレッショルドリークの発生を無くすことができる。さらに、第1のMOSトランジスタは、ソース、ドレインに加えてバックゲートも参照電源の所定電圧に保持されるので、ジャンクションリークの発生も無くすことができる。したがって、サンプリング容量の電荷が第2スイッチを通じてリークすることがなくなり、精度良く出力電圧を出力することができる。
 本開示についての上記目的およびその他の目的、特徴や利点は、添付の図面を参照しながら下記の詳細な記述により、より明確になる。その図面は、
図1は、第1実施形態を示す電気的構成図であり、 図2は、作用説明図その1であり、 図3は、作用説明図その2であり、 図4は、タイムチャートであり、 図5は、第2実施形態を示すタイムチャートであり、 図6は、第3実施形態を示すDACに組み込んだ場合の電気的構成図であり、 図7は、第4実施形態を示す作用説明図であり、 図8は、第5実施形態を示す電気的構成図であり、 図9は、作用説明図その1であり、 図10は、作用説明図その2であり、 図11は、第6実施形態を示す作用説明図であり、 図12は、第7実施形態を示す電気的構成図であり、 図13は、第8実施形態を示す電気的構成図であり、 図14は、第9実施形態を示す電気的構成図であり、 図15は、第10実施形態を示す電気的構成図である。
 (第1実施形態)
 以下、本開示の第1実施形態について、図1から図4を参照して説明する。
 スイッチトキャパシタアンプ(Switched Capacitor Amplifire :以下、「SCアンプ」と略称する)1は、例えばSOI(Silicon On Insulator)基板などに形成されるもので、内部に形成されるトランジスタなどの素子は電気的に絶縁された状態で設けることができる構成である。SCアンプ1は、入力端子Aに与えられる入力電圧Vinをサンプリングφ1の期間で取り込み、ホールドφ2の期間で出力端子Bに出力電圧Voutを出力する。
 SCアンプ1は、差動アンプ2、基準電源3、制御部4、サンプリング容量Cs、第1~第3スイッチに相当するスイッチS1、S2、S3を備える。スイッチS1およびスイッチS3はnチャンネル型のMOSトランジスタである。スイッチS2は、nチャンネル型の第1および第2のMOSトランジスタからなるスイッチS2A、S2Bおよび電位保持容量としてのコンデンサC1を備えている。
 SCアンプ1の入力端子Aは、スイッチS1を介してサンプリング容量Csの一端子に接続される。スイッチS1の基板電位すなわちバックゲートはグランドに接続されている。サンプリング容量Csの他端子は差動アンプ2の反転入力端子に接続される。差動アンプ2の非反転入力端子は基準電源3から基準電圧Vcmが与えられるように接続される。差動アンプ2の出力端子は出力端子Bに接続される。
 差動アンプ2の反転入力端子と出力端子との間にはスイッチS2AおよびS2Bの直列回路が接続される。コンデンサC1は、スイッチS2AおよびS2Bの共通接続点であるノードN1とグランドとの間に接続される。スイッチS2Aのバッグゲートはソースと共にノードN1に接続されている。スイッチS2Bのバックゲートはグランドに接続されている。スイッチS3は、スイッチS1およびサンプリング容量Csの共通接続点と出力端子Bとの間に接続されている。
 制御部4は、スイッチS1、S2A、S2BおよびS3のゲートに駆動信号を与えてオン・オフの制御を行う。制御部4は、外部から与えられるサンプリングおよびホールドの信号に応じて、サンプリングφ1およびホールドφ2の各期間においてそれぞれスイッチS1、S2A、S2B、S3の駆動制御を行う。
 次に、上記構成の作用について、図2~図4も参照して説明する。
 まず、図2に示すように、サンプリングφ1の期間では、入力端子Aに入力電圧Vinが与えられた状態で、これをサンプリング容量Csに取り込む。サンプリングφ1では、制御部4は、スイッチS1、S2A、S2Bをオンし、スイッチS3をオフするように駆動制御する。図2中、スイッチS1、S2A、S2Bのソース-ドレイン間を太い点線で結んでいるのがオン状態であることを示している。
 これにより、サンプリング容量Csには入力電圧Vinが印加される。このとき、差動アンプ2の出力端子と反転入力端子との間は導通状態となって出力端子Bと同電位である。また、差動アンプ2の非反転入力端子には基準電圧Vcmが与えられているので、反転入力端子も基準電圧Vcmとなる。
 この結果、サンプリング容量Csの両端子間には入力電圧Vinと基準電圧Vcmが印加された状態となり、サンプリング容量Csに差の電圧Vin-Vcmに相当する電荷が蓄積される。また、このとき、スイッチS2AとS2BのノードN1に接続されたコンデンサC1には基準電圧Vcmに相当する電荷が蓄積される。
 次に、図3に示すように、ホールドφ2の期間では、サンプリング容量Csに取り込まれた電荷による差の電圧Vin-Vcmを出力端子Voutに出力する。ホールドφ2では、制御部4は、スイッチS1、S2A、S2Bをオフし、スイッチS3をオンするように駆動制御する。図3中、スイッチS3のソース-ドレイン間を太い点線で結んでいるのがオン状態であることを示している。
 これにより、サンプリング容量Csに蓄積された電荷で入力電圧Vinに相当する電圧が出力端子Bに出力電圧Voutとして出力される。このとき、差動アンプ2の反転入力端子は、非反転入力端子の電圧Vcmと同電位となっている。また、差動アンプ2の反転入力端子は、オフ状態のスイッチS2Aのドレインに接続されている。
 ここで、オフ状態のスイッチS2Aは、ドレインの電位がVcmでありソースの電位もコンデンサC1に蓄積された電荷によって電位がVcmに保持されている。さらに、スイッチS2Aは、バックゲートがソースに接続されているから電位がVcmに保持されている。これにより、スイッチS2Aは、ドレイン、ソース、バックゲートの全てが同電位Vcmとなり、リークが発生しないオフ状態が保持されている。
 なお、上記のホールドφ2の期間において、スイッチS2A、S2BおよびコンデンサC1を備えない従来相当の構成では、スイッチS2が単独のMOSトランジスタとして設けられているので、以下に説明するようなリーク電流が発生する。
 すなわち、単独のMOSトランジスタで構成されるスイッチS2の場合には、ホールドφ2の期間でスイッチS2がオフの状態で、スイッチS2のドレインの電位がVcm、ソースの電位がVoutで、バックゲートがグランドレベルである。このため、スイッチS2は、差動アンプ2側に接続しているドレインとバックゲートとの間に電位差が発生しており、ジャンクションリークが発生する。またソースと差動アンプ2側に接続しているドレインとの間に電位差が発生しており、サブスレッショルドリークが発生する。
 このリーク電流Ileak は、ホールドφ2の期間の継続時間Thと共に増加し、電位差ΔVを生ずることとなる。この電位差ΔVは、単独の構成では僅かであっても、ホールドφ2の期間の長さや複数回繰り返す処理をすることで累積的に増大するため、結果的に精度の低下をもたらす。なお、電位差ΔVは、具体的には次式(1)のように求めることができる。
 ΔV=(Ileak × Th)/Cs …(1)
 次に、上記作用について、図4に示すタイムチャートを参照して、各部の電圧の具体的な数値を用いて説明する。ここでは、入力電圧Vinが0.7V、基準電圧Vcmが0.6Vに設定されている場合で説明する。
 まず、図4(a)に示すサンプリングφ1の期間では、図4(b)、(c)に示すように、スイッチS1、S2A、S2Bがオン、スイッチS3がオフ状態に制御されている。この状態で、サンプリング容量Csには入力電圧Vinによって充電され、出力電圧Voutは、図4(d)に示すように、Vcmに保持されている。
 この後、時刻t1でホールドφ2の期間になると、図3に示すように、スイッチS1、S2A、S2Bがオフされ、スイッチS3がオン状態に制御される。この状態では、サンプリング容量Csへの充電で蓄積された電荷が保持され、サンプリング容量Csの端子電圧である入力電圧Vinが出力電圧Voutとなるので、図4(d)に示すように、出力電圧Voutは0.6Vとなる。
 このとき、本実施形態においては、前述のようにスイッチS2Aでのジャンクションリークの発生はないので、図4(d)に実線で示しているように、ホールドφ2の時間Thの期間中、出力電圧Voutの0.6Vが変化することなく、保持させることができる。
 図4(d)には比較のためにリーク電流Ileak が発生する従来相当の構成におけるホールドφ2の期間での波形を破線で示している。この場合には、前記した式(1)に示す電位差ΔVが発生するので、ホールドφ2の期間の時間Thが経過した時刻t2では、例えばmV単位の電圧が誤差となって発生する。このような電位差ΔVは、1段分のサンプルホールド動作では小さい値であっても、複数回繰り返すことで累積的に大きな誤差となることがある。
 この後、ホールドφ2の期間が経過した時刻t2になると、再びサンプリングφ1の期間となり、図2および図4(b)、(c)に示すように、制御部4により、スイッチS1、S2A、S2Bがオン駆動され、スイッチS3がオフ駆動される。これにより、サンプリング容量Csは、スイッチS1を介して一端子に入力電圧Vinが与えられ、他端子は差動アンプ2の反転入力端子の電圧Vcmが与えられるようになる。
 これにより、サンプリング容量Csは入力電圧Vinで充電されて電位が上昇し、スイッチS2A、S2Bがオンされたことで出力端子Bの出力電圧Voutは、図4(d)に示すように、Vcmまで上昇して0.7Vが出力されるようになる。
 このように、第1実施形態ではスイッチS2として、2個のスイッチS2AおよびS2Bを直列接続すると共にそのノードN1にコンデンサC1を接続し、スイッチS2AのバックゲートをノードN1に接続する構成とした。
 これにより、スイッチS2Aのオフ時に、ソース・ドレイン間およびバックゲートをすべて同電位である基準電位Vcmに設定でき、ジャンクションリークおよびサブスレッショルドリークを無くすことができる。この結果、簡単な構成を採用しながら、サンプリング容量Csの電荷リークを無くし、これによってホールドφ2の期間の時間経過に伴う誤差の発生を無くすことができる。
 また、本実施形態においては、SOI基板を用いトレンチ絶縁分離構成とすることで、隣接する素子との間に寄生バイポーラトランジスタ構造が無くなるので、MOSトランジスタのバックゲート電位が変動した場合でも、寄生バイポーラトランジスタに起因した誤動作を回避することができる。これにより、隣接するMOSトランジスタ間の間隔を誤動作回避のために広くする必要がなくなり、省スペース化を図ることができる。
 なお、上記実施形態においては、シングルエンド型のものに適用したSCアンプ1を示したが、これに限らず、ディファレンシャル型の構成のSCアンプに適用することもできる。
 (第2実施形態)
 図5は第2実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、第1実施形態と構成は同じであるが、制御部4による制御内容が異なる。すなわち、制御部4は、スイッチS1、S2A、S2BおよびスイッチS3を全て異なるタイミングでオン・オフ制御するように構成されている。
 この実施形態においては、スイッチS1、S2A、S2BおよびスイッチS3の切り替えを次のように実施する。
(1)サンプリングφ1の期間からホールドφ2の期間への移行時の制御
 (a)スイッチS2Aオフ:時刻t1a→(b)スイッチS2Bオフ:時刻t1b→(c)スイッチS1オフ:時刻t1c→(d)スイッチS3オン:時刻t1d
(2)ホールドφ2の期間からサンプリングφ1の期間への移行時の制御
 (a)スイッチS3オフ:時刻t2a→(b)スイッチS2Bオン:時刻t2b→(c)スイッチS2Aオン:時刻t2c→(d)スイッチS1オン:時刻t2d
 以下、上記の動作について詳細に説明する。
 図5(a)に示すように、サンプリングφ1の期間では、制御部4により、前述同様にしてスイッチS1、S2A、S2Bがオン、スイッチS3がオフ状態に制御されている。この状態で、サンプリング容量Csには入力電圧Vinによって充電され、出力電圧Voutは、図5(f)に示すように、Vcmすなわち0.7Vに保持されている。
 (1)サンプリングφ1の期間からホールドφ2の期間への移行時の制御
 この後、時刻t1に相当する時刻t1aでは、図5(c)に示すように、制御部4により、まずオン状態のスイッチS2Aがオフされ、サンプリング容量Csの電荷が流れる経路を遮断する。このとき、コンデンサC1はノードN1の電位がVcmとなる電圧に充電されている。この状態では、スイッチS2Aのソース・ドレイン間が共に電圧Vcmとなっており、且つバックゲートがVcmであるから、スイッチS2Aは、リーク電流を発生することがない。
 時刻t1aの後、少し遅延させた時刻t1bで、図5(d)に示すように、制御部4によりオン状態のスイッチS2Bがオフされる。これにより、コンデンサC1は、ノードN1が出力端子Bとも遮断され、電荷が保持された状態となる。そして、このようにスイッチS2AおよびS2Bを異なるタイミングでオフさせることで、チャネルチャージインジェクション誤差や切り替え時のリップルノイズを低減する効果を期待できる。
 続いて、時刻t1bから少し遅延させた時刻t1cで、図5(b)に示すように、制御部4により、オン状態のスイッチS1がオフされる。これにより、サンプリング容量Csは入力端子Aとの間が遮断される。この状態では、サンプリング容量Csに入力電圧Vinにより充電された電荷が保持されている。
 そして、時刻t1cから少し遅延させた時刻t1dで、図5(e)に示すように、制御部4により、オフ状態のスイッチS3がオンされる。これにより、図5(f)に示すように、出力端子Bに出力電圧Voutとして、サンプリング容量Csに蓄積された電荷で発生している電圧Vinを出力することができる。
 また、この状態では、第1実施形態と同様に、スイッチS2Aがオフ状態で且つスイッチS2Aのソース、ドレインおよびバックゲートが共に電圧Vcmとなっているので、ジャンクションリークの発生が無く、サンプリング容量Csの電荷がスイッチS2Aから放電することが防止できている。
 したがって、ホールドφ2の期間の長さにかかわらず出力電圧Voutが入力電圧Vinとなる状態が保持されている。この状態では、サンプリング容量Csに蓄積された電荷が保持され、サンプリング容量Csの端子電圧である入力電圧Vinが出力電圧Voutとなるので、出力電圧Voutは0.6Vとなる。
(2)ホールドφ2の期間からサンプリングφ1の期間への移行時:時刻t2
 この後、ホールドφ2の期間が経過した時刻t2に相当する時刻t2aでは、再びサンプリングφ1の期間となり、図5(e)に示すように、制御部4により、まずオン状態のスイッチS3がオフされる。これにより、サンプリング容量Csの一端子側は出力端子Bと切り離された状態となるが、図5(f)に示すように、出力電圧Voutは入力電圧Vinの電圧0.6Vのレベルが保持されている。
 時刻t2aの後、少し遅延させた時刻t2bで、図5(d)に示すように、制御部4により、オフ状態のスイッチS2Bがオンされ、この後少し遅延させた時刻t2cで、オフ状態のスイッチS2Aがオンされる。これにより、差動アンプ2の反転入力端子は出力端子Bと同電位になり、出力電圧Voutは基準電圧Vcmとなり、さらにノードN1のコンデンサC1の電圧もVcmまで充電される。
 続いて、時刻t2cから少し遅延させた時刻t2dで、図5(b)に示すように、制御部4により、オフ状態のスイッチS1がオンされる。これにより、サンプリング容量Csは、入力端子Aと接続されて入力電圧Vinにより充電される。
 これにより、サンプリング容量Csは入力電圧Vinで充電されて電位が上昇し、スイッチS2A、S2Bがオンされたことで出力端子Bの出力電圧Voutは、図5(f)に示すように、Vcmまで上昇して0.7Vが出力されるようになる。
 このような第2実施形態によれば、サンプリングφ1の期間からホールドφ2の期間への移行時に、スイッチS2AおよびS2Bのオフタイミングをずらしているので、第1実施形態の効果に加えて、チャネルチャージインジェクション誤差および切り替え時のリップルノイズを低減することができる。
 (第3実施形態)
 図5は第3実施形態を示すものである。この実施形態は、第2実施形態で説明したSCアンプ1を用いた回路例を示している。図示の回路はD/A変換回路であるDAC10の内部に設けられる2段の6ビットストリングラダーの中間バッファ回路として同じ構成の2個のSCアンプ1A、1Bを適用したものである。
 以下、DAC10の構成と作用について簡単に説明する。DAC10は、6ビットの前段抵抗ラダー20、2個のSCアンプ1A、1B、6ビットの後段抵抗ラダー30、サンプリングホールド回路40、出力段回路であるゲインアンプ50などが設けられる構成である。
 前段抵抗ラダー20は、直流電源VDDからMOSトランジスタ21を介して6ビット出力をするための複数の抵抗22を直列に接続した回路が接続されている。複数の抵抗22の各共通接続点にはそれぞれ2個のMOSトランジスタ23、24のドレインが接続されている。複数のMOSトランジスタ23のソースは共通に接続してSCアンプ1Aの入力端子に接続される。また、複数のMOSトランジスタ24のソースは共通に接続してSCアンプ1Bの入力端子に接続されている。
 複数の抵抗22により直流電源VDDが分圧されており、各共通接続点には分圧電圧が出力される。高電圧側のSCアンプ1Aには、複数のMOSトランジスタ23中のいずれか1個が選択的にオンされた共通接続点の分圧電圧が選択して出力される。また、低電圧側のSCアンプ1Bには、複数のMOSトランジスタ24中の、いずれか1個が選択的にオンされた共通接続点の分圧電圧が選択して出力される。
 各SCアンプ1A、1Bは、サンプリングφ1の期間で入力端子の入力電圧Vinをサンプリング容量Csにサンプリングし、続くホールドφ2の期間で出力端子に出力電圧Voutとして出力する。
 後段抵抗ラダー30は、2つのSCアンプ1A、1Bの出力端子間に、6ビット出力をするための複数の抵抗31を直列に接続した回路が接続されている。複数の抵抗31共通接続点にはそれぞれMOSトランジスタ32のドレインが接続されている。複数のMOSトランジスタ32のソースは共通に接続してサンプルホールド回路40の入力端子に接続されている。
 後段抵抗ラダー30では、2つのSCアンプ1A、1Bの出力端子間に出力される電圧が、複数の抵抗32により分圧されており、各共通接続点には分圧電圧が出力される。後段抵抗ラダー30は、複数のMOSトランジスタ32中のいずれか1個が選択的にオンされると、共通接続点で抵抗32により発生している分圧電圧がサンプルホールド回路40に出力される。
 サンプルホールド回路40は、スイッチ41およびサンプリング容量42を備えている。サンプルホールド回路40は、後段抵抗ラダー30から入力される電圧を、スイッチ41をオン動作させてサンプリング容量42に充電してサンプリングした電圧をゲインアンプ50に出力する。
 ゲインアンプ50は、差動アンプ51およびMOSトランジスタ52a、52bなどを中心として構成されるもので、サンプルホールド回路40から入力される電圧を差動アンプ51などで増幅して出力端子OUTに出力するものである。
 上記構成により、前段抵抗ラダー20と後段抵抗ラダー30との間に、第2実施形態で説明した2個のSCアンプ1Aおよび1Bを設けることで、ホールドφ2の期間での出力電圧Voutの低下を無くすことができる。これにより、D/A変換処理において、従来構成のSCアンプを用いた場合に比べて、より精度の良い変換処理を実施することができる。
 (第4実施形態)
 図7は第4実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、SCアンプ1におけるリセット動作の制御内容について示している。リセット動作は、電源の瞬断があった場合や、起動時においてコンデンサC1の残存電荷で誤動作が発生しないようにするための処理である。
 起動時あるいは電源の瞬断が発生した場合には、サンプリングφ1やホールドφ2bの期間の動作を実施するに先立って、制御部4により、次のようにしてリセット動作を実施する。図7に示すように、スイッチS1をオフ状態に保持し、スイッチS2A、S2BおよびS3をオン動作させる。
 これにより、サンプリング容量Csは、両端子間が短絡状態となるので電荷は放電されて電位差はなくなる。また、ノードN1の電位は、非反転入力端子の電圧Vcmと同電位となるので、コンデンサC1の電圧もVcmとなる。
 これにより、続くサンプリングφ1の期間での制御部4によるサンプリング動作を精度良く実施することができる。
 (第5実施形態)
 図8から図10は第5実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態は、適用対象を積分形のSCアンプ11とした場合の構成を示している。
 図8に示すように、この実施形態においても、SCアンプ11は、差動アンプ12、基準電源13、制御部14、サンプリング容量Cs、スイッチS1~S3を備える。スイッチS1およびS3はnチャンネル型のMOSトランジスタである。スイッチS2は、nチャンネル型のMOSトランジスタからなるスイッチS2A、S2BおよびコンデンサC11を備えている。
 SCアンプ11の入力端子Aは、スイッチS1を介してサンプリング容量Csの一端子に接続される。スイッチS1の基板電位すなわちバックゲートはグランドに接続されている。サンプリング容量Csの他端子は差動アンプ12の反転入力端子に接続される。差動アンプ2の出力端子は出力端子Bに接続されると共に積分容量としてのコンデンサChを介して反転入力端子に接続されている。差動アンプ12の非反転入力端子は基準電源13から基準電圧Vcmが与えられるように接続される。
 差動アンプ12の反転入力端子とグランドとの間にはスイッチS2AおよびS2Bの直列回路が接続される。コンデンサC1は、スイッチS2AおよびS2BのノードN1とグランドとの間に接続される。また、スイッチS2Aのバッグゲートはソースと共にノードN1に接続されている。スイッチS2Bのバックゲートはグランドに接続されている。スイッチS3は、ドレインがスイッチS1とサンプリング容量Csとの共通接続点に接続され、ソースがグランドに接続されている。
 制御部14は、スイッチS1、S2A、S2BおよびS3のゲートに駆動信号を与えてオン・オフの制御を行う。制御部14は、外部から与えられるサンプリングおよびホールドの信号に応じて、サンプリングφ1の期間およびホールドφ2の期間においてそれぞれスイッチS1、S2A、S2B、S3の駆動制御を行う。
 次に、上記構成の作用について簡単に説明する。制御部14によるスイッチS1、S2A、S2B、S3の駆動制御は第1実施形態あるいは第2実施形態と同じように実施することができる。
 すなわち、まず、図9に示すように、サンプリングφ1の期間では、入力端子Aに入力電圧Vinが与えられた状態で、これをサンプリング容量Csに取り込む。サンプリングφ1の期間では、制御部14は、スイッチS1、S2A、S2Bをオンし、スイッチS3をオフするように駆動制御する。図中、スイッチS1、S2A、S2Bのソース-ドレイン間を太い点線で結んでいるのがオン状態であることを示している。
 これにより、サンプリング容量Csには入力電圧Vinが印加される。このとき、差動アンプ12の出力端子と反転入力端子との間は導通状態となって出力端子Bと同電位である。また、差動アンプ12の非反転入力端子には基準電圧Vcmが与えられているので、反転入力端子も基準電圧Vcmとなる。
 この結果、サンプリング容量Csの両端子間には入力電圧Vinと基準電圧Vcmが印加された状態となり、サンプリング容量Csに差の電圧Vin-Vcmに相当する電荷が蓄積される。また、このとき、スイッチS2AとS2BのノードN1に接続されたコンデンサC11には基準電圧Vcmに相当する電荷が蓄積される。
 次に、図10に示すように、ホールドφ2の期間では、サンプリング容量Csに取り込まれた電荷に基づいた電圧をコンデンサChに出力する。ホールドφ2の期間では、制御部4は、スイッチS1、S2A、S2Bをオフし、スイッチS3をオンするように駆動制御する。図中、スイッチS3のソース-ドレイン間を太い点線で結んでいるのがオン状態であることを示している。
 これにより、サンプリング容量Csに蓄積された電荷はコンデンサChに転送される。このとき、差動アンプ12の反転入力端子は、非反転入力端子の電圧Vcmと同電位となっている。また、差動アンプ12の反転入力端子は、オフ状態のスイッチS2Aのドレインに接続されている。
 オフ状態のスイッチS2Aは、ドレインの電位がVcmでありソースの電位もコンデンサC11の充電電荷によって電位がVcmに保持されている。さらに、スイッチS2Aは、バックゲートがソースに接続されているから電位がVcmに保持されている。これにより、スイッチS2Aは、ドレイン、ソース、バックゲートの全てが同電位Vcmとなり、リークが発生しないオフ状態が保持されている。
 したがって、このような第5実施形態によっても、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
 また、制御部14によるスイッチS1、S2A、S2B、S3のオン/オフの駆動制御を第2実施形態と同様に行うようにした場合には、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。
 (第6実施形態)
 図11は第6実施形態を示すもので、以下、第5施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、SCアンプ11におけるリセット動作の制御内容について示している。リセット動作は、電源の瞬断があった場合や、起動時においてC11の残存電荷で誤動作が発生しないようにするための処理である。
 起動時あるいは電源の瞬断が発生した場合には、サンプリングやホールドの動作を実施するに先立って、制御部14により、次のようにしてリセット動作を実施する。図11に示すように、スイッチS1をオフ状態に保持し、スイッチS2A、S2BおよびS3をオン動作させる。
 これにより、サンプリング容量Csは、両端子間が短絡状態となるので電荷は放電されて電位差はなくなる。また、ノードN1の電位は、非反転入力端子の電圧Vcmと同電位となるので、コンデンサC11の電圧もVcmとなる。
 これにより、続くサンプリングφ1の期間での制御部14によるサンプリング動作を精度良く実施することができる。
 (第7実施形態)
 図12は第7実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。第1実施形態では、SCアンプ1のスイッチS2AのバックゲートをノードN1に接続していたのに対して、この実施形態では、図12に示すように、SCアンプ1aのスイッチS2Aのバックゲートを基準電源3の基準電位Vcmの端子に接続する構成としている。
 すなわち、この実施形態では、SCアンプ1aがSOI基板に形成されている点を利用して、スイッチS2Aのバックゲートに基準電源3の基準電位Vcmが与えられるように配線を設ける構成としている。これにより、スイッチS2Aのバックゲートは常に基準電位Vcmに保持されるので、第1実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
 (第8実施形態)
 図13は第8実施形態を示すもので、以下、第5実施形態と異なる部分について説明する。第5実施形態では、SCアンプ11のスイッチS2AのバックゲートをノードN1に接続していたのに対して、この実施形態では、図13に示すように、SCアンプ11aのスイッチS2Aのバックゲートを基準電源13の基準電位Vcmの端子に接続する構成としている。
 すなわち、この実施形態では、SCアンプ11aがSOI基板に形成されている点を利用して、スイッチS2Aのバックゲートに基準電源13の基準電位Vcmが与えられるように配線を設ける構成としている。これにより、スイッチS2Aのバックゲートは常に基準電位Vcmに保持されるので、第5実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
 (第9実施形態)
 図14は第9実施形態を示すもので、以下、第1実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、SCアンプ1bにおいて、スイッチS2に代えてスイッチS2xを設ける構成としている。
 図14において、SCアンプ1bのスイッチS2xは、4個のMOSトランジスタをスイッチS2A~S2Dとして用いると共に、2個のコンデンサC1、C2を設ける構成としている。また、スイッチS1、S2x、S3は制御部4xによりオン・オフ駆動の制御がされる。なお、スイッチS2A、S2Bはnチャンネル型MOSトランジスタであり、スイッチS2C、S2Dはpチャンネル型MOSトランジスタである。
 スイッチS2A、S2Bは、第1実施形態と同様に、直列接続した状態で差動アンプ2の反転入力端子と出力端子との間に接続される。コンデンサC1は、スイッチS2A、S2Bの共通接続端子であるノードN1とグランドとの間に接続される。スイッチS2Aのバックゲートは、第1実施形態と異なり、スイッチS2Bのバックゲートと共にグランドに接続される。
 スイッチS2C、S2Dは、直列接続した状態で差動アンプ2の反転入力端子と出力端子との間に接続される。コンデンサC2は、スイッチS2C、S2Dの共通接続端子であるノードN2とグランドとの間に接続される。スイッチS2CおよびS2Dのバックゲートは、共に電源端子に接続される。
 上記構成においては、制御部4xによりホールドφ2の期間においてスイッチS2xをオフさせたとき、すなわちスイッチS2A~S2Dをオフさせたときに、スイッチS2Aにおいては、従来相当の構成であるのでドレインからバックゲートへのジャンクションリークの発生がある。したがって、スイッチS2Aのドレイン側から電荷がバックゲート側に抜けることで電圧を低下させるように影響する。
 これに対して、スイッチS2Cにおいては、オフ状態であるがバックゲートが電源端子に接続されることから同様にしてジャンクションリークが発生するのでバックゲート側からドレイン側に電荷が流れ出る。これにより、スイッチS2Cのドレインから流れ出る電荷がスイッチS2Aのドレイン側に流れ込むこととなり、ジャンクションリークに起因したホールドφ2の期間での時間経過による誤差を大幅に低減することができる。
 さらに、スイッチS2Cからドレイン側に流れ出る電荷量とスイッチS2Aに吸い込まれる電荷量とが均衡するように構成できれば、第1実施形態と略同様の効果を得ることができる。
 (第10実施形態)
 図15は第10実施形態を示すもので、以下、第5実施形態と異なる部分について説明する。この実施形態では、SCアンプ11bにおいて、スイッチS2に代えてスイッチS2yを設ける構成としている。
 図15において、SCアンプ11bのスイッチS2yは、4個のMOSトランジスタをスイッチS2A~S2Dとして用いると共に、2個のコンデンサC11、C12を設ける構成としている。また、スイッチS1、S2x、S3は制御部14yによりオン・オフ駆動の制御がされる。なお、スイッチS2A、S2Bはnチャンネル型MOSトランジスタであり、第3および第4MOSトランジスタとしてのスイッチS2C、S2Dは、pチャンネル型のMOSトランジスタである。
 スイッチS2A、S2Bは、第5実施形態と同様に、直列接続した状態で差動アンプ2の反転入力端子とグランドとの間に接続される。コンデンサC11は、スイッチS2A、S2Bの共通接続端子であるノードN1とグランドとの間に接続される。スイッチS2Aのバックゲートは、第5実施形態と異なり、スイッチS2Bのバックゲートと共にグランドに接続される。
 スイッチS2C、S2Dは、直列接続した状態で差動アンプ2の反転入力端子とグランドとの間に接続される。コンデンサC12は、スイッチS2C、S2Dの共通接続端子であるノードN2とグランドとの間に接続される。スイッチS2CおよびS2Dのバックゲートは、共に電源端子に接続される。
 上記構成においては、制御部14yによりホールドφ2の期間においてスイッチS2xをオフさせたとき、すなわちスイッチS2A~S2Dをオフさせたときに、スイッチS2Aにおいては、従来相当の構成であるのでドレインからバックゲートへのジャンクションリークの発生がある。したがって、スイッチS2Aのドレイン側から電荷がバックゲート側に抜けることで電圧を低下させるように影響する。
 これに対して、スイッチS2Cにおいては、オフ状態であるがバックゲートが電源端子に接続されることから同様にしてジャンクションリークが発生するのでバックゲート側からドレイン側に電荷が流れ出る。これにより、スイッチS2Cのドレインから流れ出る電荷がスイッチS2Aのドレイン側に流れ込むこととなり、ジャンクションリークに起因したホールドφ2の期間での時間経過による誤差を大幅に低減することができる。
 さらに、スイッチS2Cからドレイン側に流れ出る電荷量とスイッチS2Aに吸い込まれる電荷量とが均衡するように構成できれば、第5実施形態と略同様の効果を得ることができる。
 (他の実施形態)
 なお、本開示は、上述した実施形態のみに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能であり、例えば、以下のように変形または拡張することができる。
 上記実施形態においては、第2実施形態以降の構成においても、シングルエンド型のものに適用したSCアンプ1あるいは1A、1B、1a、1b、11、11a、11bを示したが、これに限らず、ディファレンシャル型の構成のSCアンプに適用することもできる。
 本開示は、実施例に準拠して記述されたが、本開示は当該実施例や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。

Claims (8)

  1.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(2)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(3)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続される第2スイッチ(S2)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点と前記信号出力端子との間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(4)とを備え、
     前記第2スイッチは、第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)の直列回路と、前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点であるノード(N1)とグランドとの間に接続される電位保持容量(C1)を有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記ノードに接続されたスイッチトキャパシタアンプ。
  2.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(12)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(13)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続された積分容量(Ch)と、
     前記差動アンプの反転入力端子とグランドとの間に接続された第2スイッチ(S2)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点とグランドとの間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(14)とを備え、
     前記第2スイッチ(S2)は、第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)の直列回路および前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点であるノードとグランドとの間に接続される電位保持容量(C11)とを有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記ノードに接続されたスイッチトキャパシタアンプ。
  3.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(2)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(3)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続される第2スイッチ(S2)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点と前記信号出力端子との間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(4)とを備え、
     前記第2スイッチは、第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)の直列回路と、前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される電位保持容量(C1)を有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記参照電源の所定電圧(Vcm)が与えられるスイッチトキャパシタアンプ。
  4.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(12)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(13)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続された積分容量(Ch)と、
     前記差動アンプの反転入力端子とグランドとの間に接続された第2スイッチ(S2)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点とグランドとの間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(14)とを備え、
     前記第2スイッチは、第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)の直列回路および前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される電位保持容量(C11)とを有し、前記第1のMOSトランジスタのバックゲートは前記参照電源の所定電圧(Vcm)が与えられるスイッチトキャパシタアンプ。
  5.  前記制御部(4、14)は、サンプリング状態およびホールド状態を切り替える動作において、
     前記サンプリング状態から前記ホールド状態に切り替えるときには、前記第1のMOSトランジスタをオフし、続いて前記第2のMOSトランジスタをオフし、続いて前記第1スイッチをオフした後に前記第3スイッチをオンし、
     前記ホールド状態から前記サンプリング状態に切り替えるときには、前記第3スイッチをオフし、続いて前記第2のMOSトランジスタをオンし、続いて前記第1のMOSトランジスタをオンした後に前記第1スイッチをオンする請求項1から4のいずれか一項に記載のスイッチトキャパシタアンプ。
  6.  前記制御部(4、14)は、リセット動作時には、前記第1、第2のMOSトランジスタおよび前記第3スイッチを全てオンさせる請求項1から5のいずれか一項に記載のスイッチトキャパシタアンプ。
  7.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(2)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(3)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続される第2スイッチ(S2x)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点と前記信号出力端子との間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(4x)とを備え、
     前記第2スイッチは、
     nチャンネル型の第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)を直列接続した第1直列回路と、
     前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される第1電位保持容量(C1)と、
     pチャンネル型の第3および第4のMOSトランジスタ(S2C、S2D)を直列接続した状態で前記第1直列回路と並列接続された第2直列回路と、
     前記第3および第4のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される第2電位保持容量(C2)とを有し、
     前記第1および第2のMOSトランジスタのバックゲートは共にグランドに接続され、前記第3および第4のMOSトランジスタのバックゲートは共に電源端子に接続されたスイッチトキャパシタアンプ。
  8.  サンプリング容量(Cs)と、
     信号入力端子と前記サンプリング容量の一端子との間に接続された第1スイッチ(S1)と、
     前記サンプリング容量の他端子が反転入力端子に接続され、出力端子が信号出力端子に接続される差動アンプ(12)と、
     前記差動アンプの非反転入力端子に所定電圧を与える参照電源(13)と、
     前記差動アンプの反転入力端子と前記信号出力端子との間に接続された積分容量(Ch)と、
     前記差動アンプの反転入力端子とグランドとの間に接続された第2スイッチ(S2y)と、
     前記第1スイッチおよび前記サンプリング容量の共通接続点であるノードとグランドとの間に接続される第3スイッチ(S3)と、
     前記第1~第3スイッチをオン・オフ制御する制御部(14y)とを備え、
     前記第2スイッチは、
     nチャンネル型の第1および第2のMOSトランジスタ(S2A、S2B)を直列接続した第1直列回路と、
     前記第1および第2のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される第1電位保持容量(C11)と、
     pチャンネル型の第3および第4のMOSトランジスタ(S2C、S2D)を直列接続した状態で前記第1直列回路と並列接続された第2直列回路と、
     前記第3および第4のMOSトランジスタの共通接続点とグランドとの間に接続される第2電位保持容量(C12)とを有し、
     前記第1および第2のMOSトランジスタのバックゲートは共にグランドに接続され、前記第3および第4のMOSトランジスタのバックゲートは共に電源端子に接続されたスイッチトキャパシタアンプ。
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