WO2020039945A1 - 光学ユニット - Google Patents

Abstract

可動体の傾き角度を正常に検出し、可動体の傾き角度に応じた振れ補正を正しく行うことができる光学ユニットを提供する。　光学ユニットは、光学モジュールを備える可動体と、可動体を変位可能な状態で保持する固定体と、光学モジュールの光軸方向と交差する第１軸線周りと、光軸方向及び第１軸線と交差する第２軸線周りとに可動体を駆動させる振れ補正用駆動機構とを備え、振れ補正用駆動機構は、可動体及び固定体のいずれか一方に設けられたコイルと、他方に設けられた磁石と、一方に設けられ、可動体の傾きを検出する磁気センサとから成り、光軸と交差する方向において前記磁気センサは、可動体が固定体に対して傾く際、可動体の傾き角度に応じて出力される磁気センサの出力値の絶対値が可動体における一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たす距離をおいて前記磁石に対して配置される。

Description

光学ユニット

　本発明は、光学モジュールの傾きの補正に考慮した光学ユニットに関するものである。

　光学ユニットの一例として、特許文献１に記載されている光学ユニットが挙げられる。この光学ユニットは、光学モジュールの光軸と交差する平面において光学モジュールの振れを補正するための並進移動及び回転移動を可能とするアクチュエータを備えている。

特開２０１８－４８５９号公報 特開２０１４－６５２２号公報

　具体的には、光軸方向に距離をおいて対向配置された第１固定板１２ａと第２固定板１２ｂに対をなす第１駆動用マグネット２１、第２駆動用マグネット２２及び第３駆動用マグネット２３が配置されている。光軸方向において第１固定板１２ａと第２固定板１２ｂとの間には移動枠１４が設けられている。移動枠１４には第１駆動用マグネット２１、第２駆動用マグネット２２及び第３駆動用マグネット２３に対応する位置に第１駆動用コイル２０ａ、第２駆動用コイル２０ｂ、第３駆動用コイル２０ｃ、第１磁気センサ２４ａ、第２磁気センサ２４ｂ及び第２磁気センサ２４ｃが設けられている。

　この光学ユニットでは、第１固定板１２ａ及び第２固定板１２ｂに設けられた各マグネットは平面方向において距離をおいて、２つのマグネット２１、２２、２３、例えば２１ｂ１、２１ｂ２が配置されている。磁気センサ２０ａ、２０ｂ、２０ｃはこれらマグネットの磁極境界線上に配置されている。

　この光学ユニットでは、例えば、２つのマグネット２１ｂ１、２１ｂ２の距離を調整することで磁気センサ２０で得られる検出値、具体的には磁束密度の直線性を改善し、位置の測定精度を向上させている。

　しかしながら、特許文献１に記載の光学ユニットにおける前記アクチュエータは光軸と交差する平面上におけるレンズ位置の振れを並進移動あるいは回転移動により補正することを目的としている。このため、例えば特許文献２に記載されている光学ユニットのようにピッチング（縦振れ）やヨーイング（横振れ）等のように光学ユニットを揺動させて補正を行う構造とは、特許文献１に記載の光学ユニットは構造が異なる。

　特許文献２に記載の光学ユニットの場合、光学モジュールを備える可動体が固定体に対して傾いた際、磁気センサの配置条件やその他の諸条件を適切に設定しないと、磁気センサで検出される磁束密度の変化量と可動体の傾き角度とが一致しなくなることがあり、傾き補正に狂いが生じる場合がある。

　本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、可動体の傾き角度を正常に検出し、可動体の傾き角度に応じた振れ補正を正しく行うことができる光学ユニットを提供することを目的とする。

　上記課題を達成するため、本発明に係る光学ユニットは、光学モジュールを備える可動体と、前記可動体を変位可能な状態で保持する固定体と、前記光学モジュールの光軸方向と交差する第１軸線周りと、前記光軸方向及び前記第１軸線と交差する第２軸線周りとに前記可動体を駆動させる振れ補正用駆動機構と、を備え、前記振れ補正用駆動機構は、前記可動体及び前記固定体のいずれか一方に設けられたコイルと、他方に設けられた磁石と、前記一方に設けられ、前記可動体の傾きを検出する磁気センサとから成り、前記光軸と交差する方向において前記磁気センサは、前記可動体が前記固定体に対して傾く際、前記可動体の傾き角度に応じて出力される前記磁気センサの出力値の絶対値が前記可動体における一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たす距離をおいて前記磁石に対して配置される、ことを特徴とする。

　本明細書において「一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係」とは、一定の傾き角度毎に所定量ずつ増加する比例関係だけでなく、一定の傾き角度毎において増加する増加量がそれぞれ異なるものも含み、一方で、磁気センサの検出値の絶対値において直前の傾き角度における検出値の絶対値よりも減少するもの、すなわち一定の傾き角度と検出値との関係を表したグラフにおいて傾き角度の増大に伴って検出値が増加した後、検出値が減少するものは含まれないものとする。

　例えば、前記磁気センサと前記磁石との距離が近すぎると、前記可動体の傾き角度が大きくなった際、前記磁気センサを通る磁束の一部が前記磁気センサを通らなくなり、前記磁気センサにおける出力値の絶対値が減少することがある。この場合、ある傾き角度における前記磁気センサの出力値が、前記傾き角度よりも小さい傾き角度の出力値と略同じ値、あるいは近い値となり、前記可動体の傾き角度が大きい傾き角度であるか、小さい傾き角度であるかが正常に検出することができなくなり、前記可動体の傾き角度を正常に検出することができなくなる。

　本態様によれば、前記光軸と交差する方向において前記磁気センサは、前記可動体が前記固定体に対して傾く際、前記可動体の傾き角度に応じて出力される前記磁気センサの出力値の絶対値が前記可動体における一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たす距離をおいて前記磁石に対して配置されるので、前記可動体の傾き角度が正常に検出されるように前記磁気センサと前記磁石との距離を決定することができる。

　さらに、前記磁気センサと前記磁石との距離は一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たしているので、前記磁気センサの出力値の絶対値が減少することがなく、前記磁気センサにおける傾き角度を正常に検出できる。その結果、正常に検出された前記可動体の傾きにより、前記振れ補正用駆動機構を駆動させて前記可動体の傾きを補正できるので、前記光学モジュールの光学性能を維持できる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記所定量は、前記磁気センサにおける最小検出値である、ことを特徴とする。

　本実施形態における「前記所定量は、前記磁気センサにおける最小検出値である」とは、単に前記磁気センサにおける最小の検出値をいうだけではなく、例えば、前記磁気センサからの出力値を受けて、コイルを駆動させる制御回路において前記出力値を検出する際の前記制御回路の検出可能な最小の検出値も含むことを意味している。

　本態様によれば、前記所定量は前記磁気センサにおける最小検出値であるので、前記磁気センサにおける検出値が前記所定量以上に増加しているかを確実に確認することができる。その結果、前記可動体の傾きをより正確に検出することができる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記光軸と交差する方向における前記磁気センサと前記磁石との間の前記距離は、前記固定体に対する前記可動体の傾き角度が６度から－６度の範囲においてリニアリティ変化率が２０パーセント以下となる距離である、ことを特徴とする。

　本態様によれば、前記光軸と交差する方向における前記磁気センサと前記磁石との間の前記距離は、前記固定体に対する前記可動体の傾き角度が６度から－６度の範囲においてリニアリティ変化率が２０パーセント以下となる距離に設定されているので、前記可動体における傾き角度における前記磁気センサのリニアリティ（直線性）を高くすることができ、前記磁気センサの検出値に基づいた前記振れ補正用駆動機構の制御性を良好にすることができる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記磁石は、前記光軸方向において磁極が変化する磁極境界線を有し、前記磁気センサは、前記固定体に対して前記可動体の傾きがない状態において、前記磁極境界線と前記可動体の揺動中心とを通る直線上に配置されている、ことを特徴とする。

　本態様によれば、前記磁石は、前記光軸方向において磁極が変化する磁極境界線を有し、前記磁気センサは、前記固定体に対して前記可動体の傾きがない状態において、前記磁極境界線と前記可動体の揺動中心とを通る直線上に配置されているので、前記可動体の揺動中心を支点として揺動する前記磁石の動きを前記磁気センサの検出値から確認することができる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記コイルは前記固定体に設けられ、前記磁石は前記可動体に設けられ、前記固定体は前記光学モジュールを収容する筐体を備え、前記筐体の内側には前記コイルが配置される回路基板が配置され、前記基板において前記コイルが配置される側と反対の側に前記磁気センサが配置される、ことを特徴とする。

　本態様によれば、前記コイルは前記固定体に設けられ、前記磁石は前記可動体に設けられ、前記固定体は前記光学モジュールを収容する筐体を備え、前記筐体の内側には前記コイルが配置される回路基板が配置され、前記基板において前記コイルが配置される側と反対の側に前記磁気センサが配置されるので、前記筐体の内側の空間を利用して前記コイル及び前記回路基板を配置できる。さらに前記回路基板において前記コイルと反対側に前記磁気センサを配置するので、前記磁気センサと前記磁石との距離を離すことができる。その結果、前記コイル、前記回路基板及び前記磁気センサを前記光学ユニット内の空間内に有効に配置することができ、前記光学ユニットの装置サイズの小型化を図ることができる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記筐体において、前記回路基板が配置される位置には、切り欠き部が設けられ、前記切り欠き部内に前記磁気センサが配置されている、ことを特徴とする。

　本態様によれば、前記筐体において、前記回路基板が配置される位置には、切り欠き部が設けられ、前記切り欠き部内に前記磁気センサが配置されているので、前記磁気センサが前記筐体から当該筐体の外側に突出する突出量を小さくできる。例えば、前記磁気センサの大きさが前記筐体の厚みより小さい場合、前記磁気センサが前記筐体の外面から前記筐体の外側に向かって突出することを防止できる。その結果、前記磁気センサは前記筐体において切り欠き部内において前記筐体の外面から突出しないので前記磁気センサを前記筐体で保護することができる。

　本発明に掛かる光学ユニットは、前記筐体は非磁性体で形成されている、ことを特徴とする。

　ここで、前記筐体を磁性体で構成すると、前記光学ユニットを組み立てる際、前記可動体側の前記磁石に前記筐体が吸引され、組立作業の作業性が悪化し、加えて組立後に前記光学ユニットにおける振れ補正の動きを妨げることになる。本態様によれば、前記筐体は非磁性体で形成されているので、前記光学ユニットの組立作業の作業性を悪化させることはなく、前記光学ユニットにおける振れ補正の動きを妨げることを防止できる。

　本発明によれば、前記磁気センサと前記磁石との距離は一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たしているので、前記磁気センサの出力値の絶対値が減少することがなく、前記磁気センサにおける傾き角度の誤検出を低減できる。その結果、前記光学ユニットにおいて前記固定体に対する前記可動体の傾きを正確に検出でき、前記振れ補正用駆動機構により前記可動体の傾きを補正できるので、前記光学モジュールの光学性能を維持できる。

本発明に係る光学ユニットの外部ケーシングを透過して表す斜視図。 本発明に係る光学ユニットの外部ケーシングを透過して表す平面図。 本発明に係る光学ユニットの分解斜視図。 光学ユニットのジンバル機構、中間枠体、第１軸受部、第２軸受部及び弾性部材を表す斜視図。 固定体に対する可動体の傾きがない状態における振れ補正機構の側断面図。 固定体に対して可動体が揺動中心Ｃ１を支点として時計回り方向に揺動した状態における振れ補正機構の側断面図。 固定体に対して可動体が揺動中心Ｃ１を支点として反時計回り方向に揺動した状態における振れ補正機構の側断面図。 磁気センサと磁石との距離における可動体の傾き角度と磁気センサの出力値との関係を示す図。 磁気センサと磁石との距離が近い場合における可動体の傾き角度と磁気センサが検出する磁束密度との関係を示す図。 磁気センサと磁石との距離が遠い場合における可動体の傾き角度と磁気センサが検出する磁束密度との関係を示す図。 可動体の角度変化に伴う磁束密度の変化量を求める計算式を説明する図。 可動体の角度変化における磁石と磁気センサとの距離と磁束密度の関係を示す図。

　以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。尚、各実施例において同一の構成については、同一の符号を付し、最初の実施例においてのみ説明し、以後の実施例においてはその構成の説明を省略する。

＜＜＜実施形態１＞＞＞
＜＜＜光学ユニットの全体構成の概略＞＞＞
　図１ないし図４において、本実施形態１に係る光学ユニット１０の構成について説明する。光学ユニット１０は、光学モジュール１２を備える可動体１４と、可動体１４を少なくともピッチング（縦振れ）方向Ｙとヨーイング（横振れ）方向Ｘに変位可能な状態で保持する固定体１６と、光学モジュール１２の光軸方向Ｚと交差する第１軸線Ｌ１周りに揺動可能に可動体１４を支持する第１支持部１８を備えると共に、光軸方向Ｚ及び第１軸線Ｌ１方向と交差する第２軸線Ｌ２周りに固定体１６側の部材に揺動可能に支持される第２支持部２０を備えるジンバル機構２２と、可動体１４を第１軸線Ｌ１周り及び第２軸線Ｌ２周りに駆動する振れ補正用駆動機構２４と、を備えている。

　本実施形態における光学ユニット１０は、光学モジュール１２のピッチング（縦振れ）、ヨーイング（横振れ）及びローリング（光軸Ｌ周りの振れ）の補正機能を備えた光学ユニットである。光学モジュール１２は、例えばカメラ付携帯電話機やタブレット型ＰＣ等に搭載される薄型カメラ等として用いられる。光学モジュール１２を保持して光学モジュール１２に生じたピッチング方向Ｙ、ヨーイング方向Ｘ及びローリング方向Ｒの補正を行うアクチュエータ部分が光学ユニット１０の主要な構成になっている。以下、光学ユニット１０の具体的構成について詳述する。

　＜＜＜固定体について＞＞＞
　図３に示すように、可動体１４はジンバル機構２２を介して固定体１６に取り付けられている。本実施形態において、固定体１６は、図１ないし図３に示すように、一例として「筐体」としての外部ケーシング２６と、外部ケーシング２６内に組付けられるコイル取付け用フレーム２８と、外部ケーシング２６の第２軸線Ｌ２方向のコーナー部の内面に取付けられる第２軸受部材３０とを備えている。

　外部ケーシング２６は、被写体側＋Ｚとなる前面に窓部２６ａを有し、被写体と反対側－Ｚとなる後面が開放されている構造であり、光学モジュール１２より一回り大きな矩形容器状の部材として構成されている。本実施形態において外部ケーシング２６は、一例として非磁性体で構成されている。

　コイル取付け用フレーム２８は、図１及び図３に示すように、被写体側＋Ｚに中央部が開口された矩形枠状の平板部２８ａを有し、平板部２８ａの３辺に光軸方向Ｚに沿うよう、被写体と反対側－Ｚに９０°折り曲げた３枚のコイル取付け板２８ｂを形成することによって構成されている。

　３枚のコイル取付け板２８ｂの内面には、ピッチング補正用及びヨーイング補正用の二組のコイル３２Ａ、３２Ｂ（図２）と、ローリング補正用のコイル３２Ｃ（図２及び図３）が取り付けられている。本実施形態においてコイル３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃとしてコイルをパターンとして基板配線内に取り込んだパターン基板（コイル基板）を採用している。本実施形態では、パターン基板は回路基板３３（図１及び図３）の一部を構成しており、一例としてＦＰＣ（フレキシブルプリント基板）として構成されている。尚、コイル３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃとしては、このようなパターン基板に代えて巻線コイルを使用することも可能であり、回路基板３３もＦＰＣではなく、ガラスエポキシ基板等で構成することも可能である。

　本実施形態において、外部ケーシング２６は、コイル取付け用フレーム２８の３枚のコイル取付け板２８ｂに対応する位置に切り欠き部２６ｂ（図１及び図３）が形成されている。

　三組のコイル３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃの近傍、具体的には３枚のコイル取付け板２８ｂの外面、すなわち回路基板３３においてコイル３２が設けられた側と反対の側において、外部ケーシング２６の切り欠き部２６ｂ内には、磁束密度の変化を検出する３つの磁気センサ（ホール素子）３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃ（図１ないし図３）が設けられている。本実施形態において、図２に示すように外部ケーシング２６の切り欠き部２６ｂ内に配置された磁気センサ３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃは、光軸と交差する方向、例えばＸ軸方向又はＹ軸方向において外部ケーシング２６の外面より突出しないようにコイル取付け板２８ｂに取り付けられている。尚、本実施形態において磁気センサ３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃを外部ケーシング２６の外面より突出しないように構成したが、この構成に限定されるものではなく、磁気センサ３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃが外部ケーシング２６の外面より突出する構成であってもよい。

　コイル３２Ａの近傍に設けられる磁気センサ３４Ａの近くにはコイル３２Ａの温度変化を検出し、検出した温度変化に基づいて各磁気センサ３４Ａ、３４Ｂ、３４Ｃの検出値の補正に利用するサーミスター３６が設けられている。

　第２軸受部材３０は、光軸方向Ｚに長い台形断面のブロック状の部材で、その径方向の内周面には、第２支持部２０を受け入れて係合する凹部３０ａ（図３）が形成されている。

＜＜＜ジンバル機構について＞＞＞
　図３及び図４において、ジンバル機構２２は、光学モジュール１２の被写体側＋Ｚと被写体の反対側－Ｚの内の一方側に配置されるジンバルフレーム部２２ａと、ジンバルフレーム部２２ａから光軸方向Ｚに延設されて第１支持部１８を有する第１支持部用延設部２２ｂと、ジンバルフレーム部２２ａから光軸方向Ｚに延設されて第２支持部２０を有する第２支持部用延設部２２ｃと、を備えている。

　ジンバルフレーム部２２ａは、一例として光学モジュール１２の被写体側の＋Ｚに配置されている。光学モジュール１２の入光部側のジンバルフレーム部２２ａの中央部には開口部２２ｄが形成されている。

　ジンバルフレーム部２２ａは、中央に円形の開口部２２ｄが形成された矩形枠状のベースフレーム２２ｅと、ベースフレーム２２ｅの四方のコーナー部から光軸Ｌを中心にして第１軸線Ｌ１方向に延在する第１延在部２２ｆと、第２軸線Ｌ２方向に延在する第２延在部２２ｇと、を備えてＸ字状に形成されている。

　本実施形態におけるジンバル機構２２は、一例として金属板によって形成されており、Ｘ字状のジンバルフレーム部２２ａの第１延在部２２ｆと第２延在部２２ｇを延設方向に長く形成して、これらの先端部を折り曲げることによって第１支持部用延設部２２ｂと第２支持部用延設部２２ｃが形成されている。

　第１支持部用延設部２２ｂの可動体１４に対向する内側の面に第１支持部１８が設けられている。第１支持部１８は、凸曲面に形成されている金属製の部材によって構成されている。第１支持部１８は、一例として第１支持部用延設部２２ｂにプレス等で凸部が形成されている。または、第１支持部用延設部２２ｂに直接、溶接することによって取り付けられている。

　第２支持部用延設部２２ｃの固定体１６に対向する外側の面に第２支持部２０が設けられている。第２支持部２０は、凸曲面に形成されている金属製の部材によって構成されている。第２支持部２０は、一例として第２支持部用延設部２２ｃにプレス等で凸部が形成されている。または、第２支持部用延設部２２ｃに直接、溶接することによって取り付けられている。

＜＜＜可動体について＞＞＞
　本実施系形態において可動体１４は、光学モジュール１２と、ホルダ枠３８と、中間枠体４０とを備えている。光学モジュール１２は、被写体側＋Ｚにレンズ１２ａを備え、矩形筐体状のハウジング１２ｂの内部に撮像を行うための光学機器等が内蔵されている。ホルダ枠３８は、光学モジュール１２のレンズ１２ａが設けられる前面と、反対側の後面を除く、残りの４面を取り囲むように設けられる矩形枠状の部材（図６）として構成されている。ホルダ枠３８の３面を利用してピッチング及びヨーイング検出用及び補正用の二組の磁石４２Ａ、４２Ｂと、ローリング検出用及び補正用の一組の磁石４２Ｃがこれらの外面側に取り付けられている。

　本実施形態において、コイル３２Ａと磁石４２Ａの対、及びコイル３２Ｂと磁石４２Ｂとの対は、可動体１４の姿勢を補正するための振れ補正用駆動機構２４を構成している。振れ補正用駆動機構２４により、可動体１４のピッチングとヨーイングの補正が行われる。

　本実施形態において、コイル３２Ｃと磁石４２Ｃの対は、ローリング駆動機構４６を構成している。ローリング駆動機構４６により、可動体１４のローリングの補正が行われる。

　中間枠体４０は、ホルダ枠３８を被写体側＋Ｚから包むように設けられる金属製の平板を折り曲げて形成される部材として構成されている（図３）。本実施形態における中間枠体４０は、被写体側＋Ｚに中央部が矩形状に大きく開口された開口部４０ａを有する矩形枠状の平板部４０ｂを有する。中間枠体４０は、平板部４０ｂのコーナー部に光軸方向Ｚに沿うよう被写体と反対側－Ｚに９０°折り曲げた４枚の側板部４０ｃを設けた構造である。

　本実施形態において、４枚の側板部４０ｃのうち、第１軸線Ｌ１方向に位置する側板部４０ｃの外面には、一例として矩形平板状の第１軸受部材４８が取り付けられている。第１軸受部材４８の外面には、第１支持部１８を受け入れて係合する凹部４８ａ（図４）が形成されている。

　本実施形態において、ジンバル機構２２は、凸曲面状の第１支持部１８が、可動体１４の中間枠体４０の第１軸受部材４８の凹部４８ａと接触して可動体１４を支持している。一方、ジンバル機構２２は、凸曲面状の第２支持部２０が、固定体１６の第２軸受部材３０の凹部３０ａと接触して固定体１６に支持されている。したがって、本実施形態において、固定体１６に対してジンバル機構２２は、第２軸線Ｌ２周りに回動可能であり、可動体１４は、ジンバル機構２２、ひいては固定体１６に対して第１軸線Ｌ１周りに回動可能である。

＜＜＜ローリング駆動機構及びローリング支持機構について＞＞＞
　本実施形態において、光学ユニット１０は、固定体１６に対して可動体１４を光学モジュール１２の光軸Ｌ周りに回転可能に支持するローリング支持機構５０（図４）と、可動体１４を光軸Ｌ周りに回動させるローリング駆動機構４６（図２）とを備えている。本実施形態において、ローリング支持機構５０は、光軸Ｌと交差する方向Ｘ、Ｙにおける可動体１４と固定体１６との間であって光軸Ｌ周りにおける所定半径の円周Ｃ（図４）上の複数箇所に配置され、可動体１４を光軸Ｌ周りに回転可能に支持する弾性部材５２（図４）を備えることによって構成されている。

　弾性部材５２は、光軸Ｌ周りに撓み変形する板バネ５２（弾性部材と同じ符号を用いる）によって構成されている。本実施形態において中間枠体４０は、可動体１４と固定体１６の間で可動体１４のローリング方向Ｒの移動（回転）を許容した状態で両者を接続している。本実施形態において板バネ５２は、一端部５２ａと、他端部５２ｂと、自由撓み部５２ｃとを備えている。

　より具体的には、板バネ５２は、全体としてＵ字状の部材として構成され、光軸方向（Ｚ方向）において－Ｚ方向側に一端部５２ａ及び他端部５２ｂが配置され、自由撓み部５２ｃは一端部５２ａから＋Ｚ方向に延びてＵ字状に折り返し、他端部５２ｂと繋がっている。尚、本実施形態において、一端部５２ａと他端部５２ｂとが円周Ｃ上に相対的に変位することで、自由撓み部５２ｃ、ひいては弾性部材５２に弾性力が生じる構成となっている。

　尚、板バネ５２の自由撓み部５２ｃの形状は、図示の実施形態のようなＵ字形状の他、Ｖ字形状、Ｉ字形状あるいはＮ字形状等、他の形状であっても構わない。Ｉ字形状及びＮ字形状の場合は、一端部５２ａと他端部５２ｂの位置が光軸の沿う方向において反対側に位置することになる。

　本実施形態において、板バネ５２の一端部５２ａは、中間枠体４０において側板部４０ｃの下端部に固定されている。一方、板バネ５２の他端部５２ｂは、光学モジュール１２を保持して光学モジュール１２と一体に移動するホルダ枠３８に固定されている。尚、板バネ５２の中間枠体４０及びホルダ枠３８への固定は、両者の接着、嵌合、係止等によって行われている。本実施形態において、板バネ５２の一端部５２ａと他端部５２ｂは、一例として矩形板状に形成されているが、この他、円板状、球体状、棒状等、他の種々の形状に形成することが可能である。

　本実施形態において、板バネ５２は、光軸Ｌを中心とする所定半径の円周Ｃ（図４）を等分割した少なくとも３か所に配置されている。本実施形態では、図４に示すように、光軸Ｌを中心とする円周Ｃを９０°ずつ４分割した４か所に一例として金属製の板バネ５２を４つ設けている。ここで、等分割とは厳密に等しく分割されていることまでは要しないで、ほぼ等分割でもよい意味で使われている。

　本実施形態、板バネ５２は、中間枠体４０とホルダ枠３８の間に組み付けられた状態で板厚の方向が可動体１４の光軸Ｌ周りの回転方向、即ちローリング方向Ｒに向くように配置されている。ここで、「板厚の方向が光学モジュール１２の光軸Ｌ周りの回転方向、即ちローリング方向Ｒに向く」における「ローリング方向Ｒに向く」とは、本明細書では厳密に時々刻々変化するローリング方向Ｒを正確に向いていることを要しない。具体的には、光学モジュール１２を光軸Ｌ周りに回転可能に支持する機能が不安定にならない範囲で、その向きには幅があり、その幅の範囲で多少、板厚の方向がローリング方向Ｒから傾いていても構わない。

＜＜＜光学ユニットの振れ補正について＞＞＞
　光学ユニット１０におけるピッチング及びヨーイングの補正とローリングの補正について説明する。

＜＜＜ピッチング及びヨーイングの補正＞＞＞
　本実施形態では、光学ユニット１０にピッチング方向Ｙとヨーイング方向Ｘの両方向又はいずれか一方向に振れが発生すると、磁気センサ（ホール素子）３４Ａ、３４Ｂが磁束密度の変化から光学ユニット１０の振れを検出する。磁気センサ（ホール素子）３４Ａ、３４Ｂの検出結果に基づいて、振れ補正用駆動機構２４がその振れを補正するように作用する。具体的には、光学ユニット１０の振れを打ち消す方向に可動体１４を動かすようにコイル３２Ａ、３２Ｂに電流を流し、振れ補正用駆動機構２４を駆動させる。

＜＜＜ローリングの補正＞＞＞
　光学ユニット１０にローリング方向Ｒに振れが発生すると、磁気センサ（ホール素子）３４Ｃとローリング検出用及び補正用の磁石４２Ｃとの対により、その磁束密度の変化から、光学ユニット１０のローリング方向Ｒの振れが検出される。この振れの検出結果に基づいて、ローリング駆動機構４６がその振れを補正するように作用する。即ち、光学ユニット１０の振れを打ち消す方向に可動体１４を動かすようにコイル３２Ｃに電流が流され、ローリング駆動機構４６が駆動させられ、ローリング方向Ｒの振れが補正される。

　振れを補正する動作のための駆動源としては、振れ補正用駆動機構２４及びローリング駆動機構４６のようなコイル３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃと磁石４２Ａ、４２Ｂ、４２Ｃとの各対により構成されるボイスコイルモーターに限定されない。他の駆動源としてステッピングモーターやピエゾ素子等を利用したものを使用することも可能である。　
　ピッチング方向Ｙ、ヨーイング方向Ｘ、ローリング方向Ｒの振れ補正後、駆動源への電力の提供が停止されると、ピッチング方向Ｙ、ヨーイング方向Ｘは磁気バネによる姿勢復帰機構と、ローリング方向Ｒは弾性部材（板バネ）５２のバネ性によりそれぞれ振れ補正が解除された初期位置の状態に戻る。　
　ここでピッチング方向Ｙ、ヨーイング方向Ｘの姿勢復帰機構は、図示は省くが、固定体１６側と可動体１４側に別々に配設された磁性体と磁石の間に生じる磁気吸引力を利用する構造である。前記振れのない初期位置の姿勢にあるとき、前記磁気吸引力はその初期位置の姿勢を保持するように作用し、前記振れにより初期位置からずれると前記磁気吸引力は、元の初期位置の姿勢に戻す方向に働くように前記磁性体と前記磁石が配置されている。

＜＜＜振れ補正用駆動機構について＞＞＞
　図５ないし図１２において振れ補正用駆動機構２４における磁気センサ３４Ａ、３４Ｂ、コイル３２Ａ、３２Ｂ及び磁石４２Ａ、４２Ｂの関係について説明する。尚、以下の説明では、一例として、磁気センサ３４Ａ、コイル３２Ａ及び磁石４２Ａの関係について説明するが、磁気センサ３４Ｂ、コイル３２Ｂ及び磁石４２Ｂも同様の関係を有している。

　図５において、磁石４２Ａは可動体１４のホルダ枠３８に取り付けられている。本実施形態において、ホルダ枠３８に取り付けられた磁石４２Ａは一例として、光軸方向、つまりＺ軸方向において極性が磁極境界線Ｓ１で反転するように着磁されている。具体的には、磁石４２Ａにおいて磁極境界線Ｓ１の下方側（－Ｚ軸方向側）では、光学ユニット１０の内側方向の磁極がＮであり、外側方向（コイル３２Ａと対向する側）の磁極がＳとなるように着磁されている。一方で、磁極境界線Ｓ１の上方側（＋Ｚ軸方向側）では、光学ユニット１０の内側方向の磁極がＳであり、外側方向の磁極がＮとなるように着磁されている。

　本実施形態において、磁石４２Ａの磁極境界線Ｓ１が可動体１４の揺動中心Ｃ１を通るように磁石４２Ａはホルダ枠３８に配置されている。尚、可動体１４が傾いた際、磁極境界線Ｓ１も揺動中心Ｃ１周りに変位する。この際、磁極境界線Ｓ１が傾いても揺動中心Ｃ１が通るように磁石４２はホルダ枠３８に取り付けられている。

　さらに、本実施形態において、コイル取付け板２８ｂに取り付けられた磁気センサ３４Ａは、光軸方向（Ｚ軸方向）において磁極境界線Ｓ１が通る位置に配置されている。具体的には、磁気センサ３４は、固定体１６に対する可動体１４の傾きが無い状態、つまり傾き角度が０度の状態における磁極境界線Ｓ１上に配置されている。したがって、可動体１４の傾きが０度の場合、磁極境界線Ｓ１上に磁気センサ３４及び揺動中心Ｃ１が配置されている。

　本実施形態において、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとは、光軸と交差する方向（図５においてＹ軸方向）において距離Ｌ３分離れて配置されている。距離Ｌ３については後述する。

　図５において、符号Ｂ１が付されたループ状の複数の矢印は、磁石４２Ａが作る磁界を模式的に図示している。磁界Ｂ１の磁力線は、磁石４２Ａの磁極境界線Ｓ１の下方側のＳ極からコイル３２Ａ側に向けて延び、コイル３２Ａ、磁気センサ３４Ａを通って磁石４２Ａの磁極境界線Ｓ１の上方側のＮ極に入り、上方側のＳ極から下方側のＮ極に入るループを形成している。これにより、磁気センサ３４Ａは、磁石４２Ａが形成する磁界Ｂ１の磁力線、具体的には磁気センサ３４Ａを通る磁力線の磁束密度を検出している。

　次いで、図６及び図７は、固定体１６に対して可動体１４が傾いた状態を示している。図６に示すように、可動体１４が固定体１６に対して揺動中心Ｃ１を支点に図６における時計回り方向に揺動すると、磁石４２Ａも可動体１４の揺動中心Ｃ１を支点に図６における時計回り方向に揺動し、＋Ｚ軸方向側に変位する。その結果、磁石４２Ａの磁極境界線Ｓ１は、光軸方向において磁気センサ３４Ａの上方（＋Ｚ軸方向）側に変位する。

　その結果、磁界Ｂ１も揺動中心Ｃ１を支点に上方（＋Ｚ方向）側に移動する。これにより磁石４２Ａの－Ｚ方向側に位置するＳ極が磁気センサ３４Ａに接近する。その結果、一例として、図８における磁気センサ３４Ａのマイナス側の出力値が増大する。これにより、磁気センサ３４Ａは、磁束密度の変化量だけでなく、磁気センサ３４Ａに近づいた磁石４２Ａの極性を検出することができる。

　同様に、図７においても、可動体１４が固定体１６に対して揺動中心Ｃ１を支点に図７における反時計回り方向に揺動すると、磁石４２Ａも可動体１４の揺動中心Ｃ１を支点に図７における反時計回り方向に揺動し、－Ｚ軸方向側に変位する。その結果、磁石４２Ａの磁極境界線Ｓ１は、光軸方向において磁気センサ３４Ａの下方（－Ｚ軸方向）側に変位する。

　その結果、磁界Ｂ１も揺動中心Ｃ１を支点に下方（－Ｚ方向）側に移動する。これにより磁石４２Ａの－Ｚ方向側に位置するＮ極が磁気センサ３４Ａに接近する。その結果、一例として、図８における磁気センサ３４Ａのプラス側の出力値が増大する。これにより、磁気センサ３４Ａは、磁束密度の変化量だけでなく、磁気センサ３４Ａに近づいた磁石４２Ａの極性を検出することができる。

　本実施形態において、磁気センサ３４Ａは、可動体に傾きに応じて変化する磁束密度の変化量だけでなく、磁気センサ３４Ａに近づく磁石４２Ａの極性も検出できるので、固定体１６に対する可動体１４の傾き、具体的には、図６及び図７における揺動中心Ｃ１を支点に時計回り方向及び反時計回り方向のいずれかに揺動したのかを検出することができる。その結果、磁気センサ３４Ａの出力値により、振れ補正用駆動機構２４における振れ補正の精度を向上させることができる。尚、一例として磁気センサ３４ＡにＳ極が接近した場合、図８におけるマイナス側の出力値が増大し、Ｎ極が接近した場合、図８におけるプラス側の出力値が増大するように構成したが、逆の構成としてもよい。

＜＜＜磁石と磁気センサとの距離Ｌ３の決定について＞＞＞
　図６及び図７において固定体１６に対して可動体１４が揺動すると磁気センサ３４Ａにおいて検出される磁束密度が変化する。図８は、磁石４２Ａと磁気センサ３４Ａとの間の距離Ｌ３を変化させた場合における可動体１４の傾き角度と磁気センサ３４Ａにおける出力値の変化を示している。

　図８において距離Ｌ３が０．２ｍｍ及び０．６ｍｍである場合、可動体１４の傾き角度が６度または－６度を超えると、磁気センサ３４Ａの出力値の絶対値が減少する。その結果、例えば可動体１４の傾き角度が－８度の場合における出力値が可動体１４の傾き角度が－４度における出力値に略同じ値、あるいは近い値となり、磁気センサ３４Ａの出力値だけでは、可動体１４の傾き角度が－８度であるか、－４度であるかの判断ができなくなる場合がある。

　一方、距離Ｌ３が１．０ｍｍ以上である場合、可動体１４の傾き角度が６度または－６度を超えても磁気センサ３４Ａの出力値の絶対値は、一定量の角度毎の増加量には差が生じても増加する傾向にある。つまり、可動体１４の傾き角度の増加に伴って、磁気センサ３４Ａの出力値の絶対値も増加する。その結果、傾き角度が小さい場合における磁気センサ３４Ａの出力値と、傾き角度が大きい場合における磁気センサ３４Ａの出力値とが略同じ値になることを防ぐことができ、磁気センサ３４Ａの出力値により可動体１４の傾き角度の誤検出を低減できる。

　また、本実施形態において、距離Ｌ３が大きくなると、傾き角度毎の磁気センサ３４Ａの出力値の変化量が小さくなる。このまま、距離Ｌ３が大きくなると、磁気センサ３４Ａにおける出力値の変化量が、磁気センサ３４Ａにおける最小の検出値、すなわち分解能の値よりも小さくなり磁束密度の変化量を検出できなくなる。本実施形態では、所定量を磁気センサ３４Ａの最小検出値以上としたので、可動体１４の傾きを正確に検出できる。本実施形態では、所定量が磁気センサ３４Ａの最小検出値以上を満たす条件となるのは、一例として距離Ｌ３が３．０ｍｍ以下の場合である。尚、最小の検出値には、磁気センサ３４Ａの出力値を受信してコイル３２Ａの電流値を制御する不図示の制御回路における磁気センサ３４Ａからの出力値の最小の検出値も含まれる。

　したがって、本実施形態における磁石４２Ａと磁気センサ３４Ａとの距離Ｌ３は、１．０ｍｍ以上３．０ｍｍ以下に設定されている。

＜＜＜リニアリティについて＞＞＞
　次いで、磁石４２Ａと磁気センサ３４Ａとの距離Ｌ３における可動体１４の傾きと磁気センサ３４Ａにより検出された磁束密度との関係について説明する。図９に示すように距離Ｌ３が小さい場合、可動体１４が揺動した場合において磁気センサ３４Ａにより検出される磁束密度の推移は、符号Ｂ２が付されたＳ字曲線となる。一方、図９におけるＳ２を付された一点鎖線は傾きと磁束密度変化の理想直線を示している。

　図９において、磁気センサ３４Ａにおける磁束密度の変化量の推移線Ｂ２はＳ字曲線となっていることから、可動体１４の傾き角度によっては、理想直線Ｓ２との間に差が生じる。この差により、可動体１４の実際の傾き角度と理想直線Ｓ２の傾き角度との間に差が生じ、振れ補正用駆動機構２４においてコイル３２Ａに流す電流の値に狂いが生じる。その結果、振れ補正用駆動機構２４における振れの補正量が十分でなくなる場合がある。言い換えると、コイル３２Ａに本来流さなければならない電流（電流値）と実際にコイル３２Ａに流される電流（電流値）との間に差が生じ、その差が振れ補正用駆動機構２４における振れ補正の精度低下につながる。

　一方、図１０において、距離Ｌ３が大きい場合、可動体１４が揺動した場合において磁気センサ３４Ａにより検出される磁束密度の推移は、符号Ｂ３が付された線となる。一方、図１０におけるＳ３を付された一点鎖線は傾きと磁束密度変化の理想直線を示している。

　距離Ｌ３が長くなると、磁束密度の推移線Ｂ３の磁束密度の変化が、理想直線Ｓ３に近づくことになる。つまり、振れ補正用駆動機構２４における振れの補正量がより正確になる。

　したがって、距離Ｌ３における磁束密度の変化量と理想直線における磁束密度の変化量とが近いほど、振れ補正用駆動機構２４における振れの補正量をより正確にできることから、距離Ｌ３を決定する際、リニアリティ（直進性）を考慮することが望ましい。

　本実施形態では、図１１に示すように符号Ｓ４が付された理想直線Ｓ４における基準感度と、距離Ｌ３における可動体１４の傾き角度とコイル３２Ａの電流値との関係、具体的には符号Ｂ４が付された傾き線における動作感度とからリニアリティ（直進性）の変化率を求める。

　ここで、リニアリティ（直進性）の変化率とは動作感度と基準感度との比率であり、比率が小さいほど、磁気センサ３４Ａにおける磁束密度の推移が理想直線に近づき、振れ補正用駆動機構２４における振れの補正量を正確にすることができる。

　具体的にリニアリティ（直進性）の求め方を説明する。リニアリティ変化率は、下記の数式１によって求まる。

　　（数１）

　　リニアリティ変化率＝{（±６度の動作感度／基準の動作感度）－１}×１００％

　図１２は、可動体１４の傾き角度毎におけるリニアリティの変化率を示している。尚、図１２中における網掛け領域は、距離Ｌ３におけるリニアリティ変化率が２０パーセント以下となる領域を模式的に図示している。一例としてリニアリティ変化率が２０パーセント以下であると、磁気センサ３４Ａにおける磁束密度の出力線と基準直線との差が小さくなり、製品としての適切な性能が得られることが分かっている。本実施形態では、基準の傾き角度を±６度とした場合において、リニアリティ変化率が２０パーセント以下となるのは、１．６ｍｍ以上である。したがって、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの距離Ｌ３は１．６ｍｍ以上が好ましいことが分かる。これにより、磁気センサ３４Ａの検出値に基づいた振れ補正用駆動機構２４の制御性を良好にできる。

　本実施形態において磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの距離Ｌ３は、第１条件である磁気センサ３４Ａにおける誤検出の低減を目的として、１．０ｍｍ以上に設定し、さらに、第２条件であるリニアリティ変化率を考慮する場合は１．６ｍｍ以上に設定される。

　尚、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの距離Ｌ３の上限値は、本実施形態において一例として３．０ｍｍを上限としているが、磁気センサ３４Ａの最小検出値（磁気センサ３４Ａの分解能）に応じて上限が設定される。

　本実施形態において、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの距離Ｌ３は１．０ｍｍ、望ましくは１．６ｍｍ以上離す必要がある。本実施形態では、磁石４２Ａと対向するコイル３２Ａ、具体的には回路基板３３においてコイル３２Ａが設けられた側と反対の側に磁気センサ３４Ａが設けられている。言い換えると、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの間にコイル３２Ａ及び回路基板３３を配置することができる。その結果、コイル３２Ａ、回路基板３３及び磁気センサ３４Ａを光学ユニット１０内の空間を有効に利用して配置することができるので、光学ユニット１０の装置サイズの小型化を図ることができる。

　本実施形態では、磁気センサ３４Ａを外部ケーシング２６の切り欠き部２６ｂ内に配置している。一例として、光軸と交差する方向（Ｘ軸方向又はＹ軸方向）において、磁気センサ３４Ａが外部ケーシング２６から突出しない、つまり、切り欠き部２６ｂから突出しないように配置されていると、光学ユニット１０が落下した場合や外部ケーシング２６の外面に物体が衝突した場合において、磁気センサ３４Ａは、外部ケーシング２６により保護され、破損することを低減できる。したがって、外部ケーシング２６が磁気センサ３４Ａを保護することになる。

　本実施形態において外部ケーシング２６は、非磁性体として構成されている。ここで、外部ケーシング２６を磁性体で構成した場合、光学ユニット１０を組み立てる際、可動体１４側の磁石４２に外部ケーシング２６が吸引され、組立作業の作業性が悪化し、加えて組立後に光学ユニット１０における振れ補正の動きを妨げることになる。本実施形態において外部ケーシング２６は非磁性体であるので、光学ユニット１０の組立作業の作業性を悪化させることはなく、光学ユニット１０における振れ補正の動きを妨げることを防止できる。

＜＜＜実施形態の変更形態＞＞＞
（１）本実施形態では、可動体１４側に磁石４２、固定体側にコイル３２及び磁気センサ３４を設ける構成としたが、この構成に代えて、可動体１４側にコイル３２及び磁気センサ３４を設け、固定体側に磁石４２を設ける構成としてもよい。尚、この構成では、可動体１４側において、一例としてコイル３２が取り付けられるホルダ枠３８は非磁性体として構成される。

（２）本実施形態において、磁気センサ３４Ａと磁石４２Ａとの距離Ｌ３は、リニアリティ変化率を考慮して１．６ｍｍ以上が望ましいが、距離Ｌ３を１．０ｍｍ以上１．６ｍｍ未満とする場合は、図９に示す理想直線Ｓ２に対する磁気センサ３４Ａにおける磁束密度の変化量の推移線Ｂ２との差を考慮してコイル３２の電流量を制御してもよい。このように構成しても振れ補正用駆動機構２４における振れ補正量の精度を向上させることができる。

　尚、本発明は上記実施例に限定されることなく、特許請求の範囲に記載した発明の範囲内で、種々の変形が可能であり、それらも本発明の範囲内に含まれるものであることは言うまでもない。

１０　光学ユニット、１２　光学モジュール、１２ａ　レンズ、１２ｂ　ハウジング、１４　可動体、１６　固定体、１８　第１支持部、２０　第２支持部、２２　ジンバル機構、２２ａ　ジンバルフレーム部、２２ｂ　第１支持部用延設部、２２ｃ　第２支持部用延設部、２２ｄ　開口部、２２ｅ　ベースフレーム、２２ｆ　第１延在部、２２ｇ　第２延在部、２４　補正用駆動機構、２６　外部ケーシング、２６ａ　窓部、２６ｂ　切り欠き部、２８　コイル取付け用フレーム、２８ａ　平板部、２８ｂ　コイル取付け板、３０　第２軸受部材、３０ａ　凹部、３２　コイル、３２Ａ　コイル、３２Ｂ　コイル、３２Ｃ　コイル、３３　回路基板、３４　磁気センサ、３４Ａ　磁気センサ、３４Ｂ　磁気センサ、３４Ｃ　磁気センサ、３６　サーミスター、３８　ホルダ枠、４０　中間枠体、４０ａ　開口部、４０ｂ　平板部、４０ｃ　側板部、４２　磁石、４２Ａ　磁石、４２Ｂ　磁石、４２Ｃ　磁石、４６　ローリング駆動機構、４８　第１軸受部材、４８ａ　凹部、５０　ローリング支持機構、５２　弾性部材（板バネ）、５２ａ　一端部、５２ｂ　他端部、５２ｃ　自由撓み部、Ｂ１　磁界、Ｂ２　磁束密度の推移線、Ｂ３　磁束密度の推移線、Ｂ４　コイル電流の推移線、Ｃ　円周、Ｃ１　揺動中心、Ｌ　光軸、Ｌ１　第１軸線、Ｌ２　第２軸線、Ｌ３　距離、Ｒ　ローリング方向、Ｓ１　磁極境界線、Ｓ２　理想直線、Ｓ３　理想直線、Ｓ４　理想直線、Ｘ　ヨーイング方向、Ｙ　ピッチング方向、Ｚ　光軸方向

Claims (7)

1. 　光学モジュールを備える可動体と、
   　前記可動体を変位可能な状態で保持する固定体と、
   　前記光学モジュールの光軸方向と交差する第１軸線周りと、前記光軸方向及び前記第１軸線と交差する第２軸線周りとに前記可動体を駆動させる振れ補正用駆動機構と、
   を備え、
   　前記振れ補正用駆動機構は、前記可動体及び前記固定体のいずれか一方に設けられたコイルと、他方に設けられた磁石と、前記一方に設けられ、前記可動体の傾きを検出する磁気センサとから成り、
   　前記光軸と交差する方向において前記磁気センサは、前記可動体が前記固定体に対して傾く際、前記可動体の傾き角度に応じて出力される前記磁気センサの出力値の絶対値が前記可動体における一定の傾き角度毎に所定量以上増加する関係を満たす距離をおいて前記磁石に対して配置される、
   ことを特徴とする光学ユニット。
2. 　請求項１に記載の光学ユニットにおいて、前記所定量は、前記磁気センサにおける最小検出値である、
   ことを特徴とする光学ユニット。
3. 　請求項２に記載の光学ユニットにおいて、前記光軸と交差する方向における前記磁気センサと前記磁石との間の前記距離は、前記固定体に対する前記可動体の傾き角度が６度から－６度の範囲においてリニアリティ変化率が２０パーセント以下となる距離である、
   ことを特徴とする光学ユニット。
4. 　請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の光学ユニットにおいて、前記磁石は、前記光軸方向において磁極が変化する磁極境界線を有し、
   　前記磁気センサは、前記固定体に対して前記可動体の傾きがない状態において、前記磁極境界線と前記可動体の揺動中心とを通る直線上に配置されている、
   ことを特徴とする光学ユニット。
5. 　請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の光学ユニットにおいて、前記コイルは前記固定体に設けられ、前記磁石は前記可動体に設けられ、
   　前記固定体は前記光学モジュールを収容する筐体を備え、
   　前記筐体の内側には前記コイルが配置される回路基板が配置され、
   　前記基板において前記コイルが配置される側と反対の側に前記磁気センサが配置される、
   ことを特徴とする光学ユニット。
6. 　請求項５に記載の光学ユニットにおいて、前記筐体において、前記回路基板が配置される位置には、切り欠き部が設けられ、
   　前記切り欠き部内に前記磁気センサが配置されている、
   ことを特徴とする光学ユニット。
7. 　請求項５または請求項６に記載の光学ユニットにおいて、前記筐体は非磁性体で形成されている、
   ことを特徴とする光学ユニット。

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