WO2019190129A1 - 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to an alignment inspection apparatus for an electrode assembly and an alignment inspection method for an electrode assembly using the same, and more particularly, an electrode for inspecting the alignment quality of an internal electrode sandwiched by a separator in a mono cell.
- the primary battery is a consumable battery, commonly referred to as a battery.
- the secondary battery is a rechargeable battery manufactured using a material that can be repeated a number of redox process between the current and the material, the power is charged when the reduction reaction to the material by the electric current, the oxidation reaction to the material When performed, the power is discharged. As the charge-discharge is repeatedly performed, electricity is generated.
- the lithium ion battery of the secondary battery is coated with a positive active foil and a negative electrode conductive foil in a predetermined thickness, and the separator is interposed between the two conductive foils, so that a plurality of times in a jelly roll or cylindrical form.
- the electrode assembly produced by winding is housed in a cylindrical or square can, a pouch, or the like, and is manufactured by sealing it.
- Republic of Korea Patent Publication No. 10-2017-0057778 discloses a conventional electrode assembly.
- One method of manufacturing a conventional electrode assembly is a method of producing a monocell after producing a monocell and laminating it.
- Monocells have two outermost electrodes with different polarities, and when a plurality of electrodes are stacked with a separator interposed therebetween, the inner electrode located in the middle layer has a separator stacked on the top and bottom surfaces thereof to inspect alignment (alignment) quality. There was a problem that was difficult to do.
- an object of the present invention is to provide an alignment inspection device of the electrode assembly that can inspect the alignment quality of the monocell and an alignment inspection method of the electrode assembly using the same. It is.
- an apparatus for inspecting an electrode assembly the apparatus for aligning an electrode assembly including a laminate stacked in a sequence of a separator, an internal electrode, a separator, and an upper electrode, wherein the electrode assembly is disposed above the center of the electrode assembly.
- a low illumination unit for irradiating light to the bottom of the electrode assembly.
- It may include a control unit for measuring the alignment (alignment) state of the electrode assembly through the photographing information of the electrode assembly observed through the camera unit.
- the controller may measure a distance between one end of the inner electrode tab of the inner electrode of the electrode assembly and one end of the upper electrode.
- the side illumination unit is symmetrical with each other about a central portion of the electrode assembly.
- the information observed through the camera unit may be transmitted to a controller, and the controller may further include a measuring step of measuring a distance between one end of the inner electrode tab and one end of the upper electrode.
- a method of inspecting an electrode assembly is an alignment inspection method of an electrode assembly through an inspection apparatus of an electrode assembly according to claim 1, wherein the side illumination unit is symmetrical with each other about a central portion of the electrode assembly.
- the information observed through the camera unit may be transmitted to a control unit, and the control unit may further include a measuring step of measuring a distance between one end of the inner electrode projected by the low illumination unit and the one end of the upper electrode.
- the both ends and the bottom surface of the mono-cell is irradiated with the effect of measuring the distance between the ends of each of the inner electrode and the upper electrode in the state that the inner electrode is projected on the separator to enable the internal electrode alignment inspection There is.
- FIG. 1 is a side view showing the inspection apparatus of the electrode assembly according to an embodiment of the present invention from the side.
- FIG. 2 is a plan view showing only the electrode assembly in FIG.
- Figure 3 is a side view showing the inspection apparatus of the electrode assembly according to another embodiment of the present invention from the side.
- FIG. 4 is a plan view of only the electrode assembly in FIG. 3.
- FIG. 5 is a flowchart sequentially illustrating a method of inspecting an electrode assembly according to an exemplary embodiment of the present invention.
- FIG. 6 is a flowchart sequentially illustrating a method of inspecting an electrode assembly according to another exemplary embodiment of the present invention.
- FIG. 1 is a side view showing an inspection apparatus of an electrode assembly according to an embodiment of the present invention from the side
- Figure 2 is a plan view showing only the electrode assembly in FIG.
- the inspection apparatus of the electrode assembly according to the exemplary embodiment of the present invention is laminated in the order of the separator 11, the internal electrode 13, the separator 11, and the upper electrode 15.
- the alignment inspection apparatus of the electrode assembly 10 containing the laminated body which concerns.
- An apparatus for inspecting an electrode assembly according to an exemplary embodiment of the present invention is positioned above the center of the electrode assembly 10, and includes a camera unit 20 and the electrode assembly 10 for photographing and inspecting the electrode assembly 10. It includes a side lighting unit 30 for irradiating light obliquely to both ends of the upper electrode 15 which are symmetrical with respect to the center of the center.
- the electrode assembly 10 may be a mono cell, the internal electrode 13 may be a cathode, and the upper electrode 15 may be an anode having a polarity opposite to that of the internal electrode 13. On the other hand, if the internal electrode 13 is a positive electrode, the upper electrode 15 may be a negative electrode of the opposite polarity of the internal electrode.
- the inner electrode 13 may be disposed between the separators 11 in a sandwich form by stacking the separators 11 on the top and bottom surfaces thereof, and the size of the separator 11 is larger than that of the internal electrodes 13. In the same flat view, the internal electrode 13 may be completely covered by the separator 11 on the top and bottom surfaces.
- the upper electrode 15 may be formed smaller in size than the internal electrode 13.
- the internal electrode 13 and the upper electrode 15 may form electrode tabs extending from the end portions at opposite ends thereof.
- the camera unit 20 may be installed to be spaced apart from the electrode assembly 10 by a predetermined distance in the upper center portion of the electrode assembly 10 to photograph the electrode assembly 10 in the upper center portion of the electrode assembly 10.
- the side lighting unit 30 is installed on both ends of the electrode assembly 10 above the electrode assembly 10 so as to be spaced apart from the electrode assembly 10, respectively, at a distance between the camera unit 20 and the electrode assembly 10. In comparison, the separation distance between the side lighting unit 30 and the electrode assembly 10 may be shorter.
- the camera 20 may be installed to have a longer distance from the electrode assembly 10 than the side lighting unit 30 may be to photograph the overall shape of the electrode assembly 10.
- the side lighting unit 30 is formed in a pair so as to be symmetrical with respect to the center of the electrode assembly 10 at the ends of the electrode assembly 10 in which electrode tabs are not formed among the respective ends of the electrode assembly 10, and thus the upper electrode ( Light can be irradiated obliquely at predetermined angles toward both ends of 15).
- the side lighting unit 30 is spaced apart from the electrode assembly 10 by a predetermined distance, and is symmetrical with each other about the center of the electrode assembly 10 so as to illuminate the pair of side lighting units at an angle toward both ends of the upper electrode 15.
- the electrode assembly 10 can be projected to the overlapping area A of the illumination irradiated from the 30 so that the shaded portion by the illumination can be removed from the electrode assembly 10 photographed by the camera photographed from the upper center.
- the brightness of the light illuminating the assembly 10 may be maximized.
- the camera unit 20 may transmit the photographed image information to the controller 50 by capturing the electrode assembly 10.
- the controller 50 may be, for example, a central information processing unit (cpu).
- the controller 50 may measure a length between one end of the inner electrode tab 13a of the inner electrode 13 of the electrode assembly 10 and one end of the upper electrode 15 in the image information transmitted from the camera unit 20. d1) can be measured. Through this measured value, the alignment (alignment) state of the upper electrode 15 and the internal electrode 13 may be inspected.
- the inner electrode tab 13a Since the inner electrode tab 13a is attached to the inner electrode 13, when the inner electrode moves, the inner electrode tab 13a also moves. Therefore, the position of the internal electrode 13 can also be grasped through the position of the internal electrode tab 13a.
- Figure 3 is a side view showing the inspection apparatus of the electrode assembly according to another embodiment of the present invention
- Figure 4 is a plan view showing only the electrode assembly in Figure 3 in a plan view.
- the inspection apparatus of the electrode assembly according to another embodiment of the present invention is installed on the lower side of the electrode assembly 10, the low illumination unit for irradiating light to the bottom of the electrode assembly 10 ( 40).
- the low illumination unit 40 may be for projecting the internal electrode 13 sandwiched between the two separators 11 to the separator 11 by illuminating the separator 11, which is the bottom surface of the electrode assembly 10. have. Due to the low illumination unit 40, the boundary line of the inner electrode that is hidden by the separator may be visible on the upper surface of the separator.
- the camera unit 20 photographs the electrode assembly 10 from the upper center portion of the electrode assembly 10 and transmits the captured image information to the controller 50.
- the distance d2 between one end of the 13 and one end of the upper electrode 15 may be measured.
- d2 is a distance measured based on the width direction, it is also possible to measure d3 measured based on the longitudinal direction.
- the alignment (alignment) state of the upper electrode 15 and the internal electrode 13 may be inspected.
- more accurate measurement may be possible than in the exemplary embodiment measured through the internal electrode tab 13a.
- FIG. 5 is a flowchart sequentially illustrating a method of inspecting an electrode assembly according to an exemplary embodiment of the present invention.
- the method of inspecting an electrode assembly includes an upper light irradiation step S1 and an imaging step S2.
- the upper light irradiation step S1 may be a step of irradiating light using the side lighting unit 30 spaced apart from the upper side of the electrode assembly 10.
- the side lighting units 30 may be installed at both end portions of the electrode assembly 10 which are symmetrical with respect to the center portion of the electrode assembly 10 to irradiate light obliquely to both end portions of the upper electrode 15.
- the camera unit 20 positioned above the center of the electrode assembly 10 is disposed in the electrode assembly. It may be a step of photographing (10).
- the image information captured by the camera unit 20 is transmitted to the controller 50, and the controller 50 ends one end of the internal electrode tab 13a in the image information transmitted from the camera unit 20. And measuring a distance d1 between the one end of the upper electrode 15.
- FIG. 6 is a flowchart sequentially illustrating a method of inspecting an electrode assembly according to another exemplary embodiment of the present invention.
- the method of inspecting an electrode assembly includes an upper light irradiation step S1, a lower light irradiation step S1-1, and an imaging step S2.
- the upper light irradiation step S1 may be a step of irradiating light using the side lighting unit 30 spaced apart from the upper side of the electrode assembly 10.
- the side lighting units 30 may be installed at both end portions of the electrode assembly 10 which are symmetrical with respect to the center of the electrode assembly 10, respectively, to irradiate light obliquely to both end portions of the upper electrode 15.
- the lower light irradiation step (S1-1) may be a step of irradiating light to the bottom surface of the electrode assembly 10 using the low illumination unit 40 installed in the lower center portion of the electrode assembly 10.
- the illumination of the side lighting unit 30 is irradiated to the electrode assembly 10 in the upper light irradiation step S1, and the low illumination unit is disposed on the bottom surface of the electrode assembly 10 in the lower light irradiation step S1-1.
- the camera unit 20 positioned above the center of the electrode assembly 10 may be photographing the electrode assembly 10. .
- the image information captured by the camera unit 20 is transmitted to the controller 50, and the controller 50 projects the internal electrode projected on the separator 11 from the image information transmitted from the camera unit 20.
- the method may further include a measuring step of measuring a distance d2 between one end of the side 13 and one end of the upper electrode 15.
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Abstract
본 발명은 모노셀(mono cell)에서 분리막으로 샌드위치 적층된 내부 전극의 얼라인 품질을 검사하기 위한 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 분리막, 내부 전극, 분리막, 상부 전극의 순서대로 적층된 적층체를 포함하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치에 있어서, 상기 전극조립체의 중앙부 상측에 위치되어, 상기 전극조립체를 촬영하여 검사하기 위한 카메라부 및 상기 전극조립체의 상기 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 상기 상부 전극의 양단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 사이드 조명부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
관련출원과의 상호인용
본 출원은 2018년 03월 29일자 한국 특허 출원 제10-2018-0036851호에 기초한 우선권의 이익을 주장하며, 해당 한국 특허 출원의 문헌에 개시된 모든 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다.
기술분야
본 발명은 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 모노셀(mono cell)에서 분리막으로 샌드위치 적층된 내부 전극의 얼라인 품질을 검사하기 위한 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 관한 것이다.
물질의 물리적 반응이나 화학적 반응을 통해 전기에너지를 생성시켜 외부로 전원을 공급하게 되는 전지(cell, battery)는 각종 전기전자 기기로 둘러싸여 있는 생활환경에 따라, 건물로 공급되는 교류 전원을 획득하지 못할 경우나 직류전원이 필요할 경우 사용하게 된다.
이와 같은 전지 중에서 화학적 반응을 이용하는 화학전지인 일차전지와 이차전지가 일반적으로 많이 사용되고 있는데, 일차전지는 건전지로 통칭되는 것으로 소모성 전지이다. 또한, 이차전지는 전류와 물질 사이의 산화환원과정이 다수 반복 가능한 소재를 사용하여 제조되는 재충전식 전지로서, 전류에 의해 소재에 대한 환원반응이 수행되면 전원이 충전되고, 소재에 대한 산화반응이 수행되면 전원이 방전되는데, 이와 같은 충전-방전이 반복적으로 수행되면서 전기가 생성되게 된다.
한편, 이차 전지 중 리튬 이온 전지는 양극 도전 포일과 음극 도전 포일에 각각 활물질을 일정한 두께로 코팅하고, 상기 양 도전 포일 사이에는 분리막이 개재되도록 하여 대략 젤리 롤(jelly roll) 내지는 원통 형태로 다수 회 권취하여 제작한 전극 조립체를 원통형 또는 각형 캔, 파우치 등에 수납하고 이를 밀봉 처리하여 제작된다.
대한민국 공개특허공보 제10-2017-0057778호에는 종래의 전극 조립체가 개시되어 있다.
종래의 전극 조립체를 제조하는 공법의 하나로 모노셀 생산한 후 이를 적층하여 완성 셀을 제작하는 방식이 있다.
모노셀은 최 외각 전극 두 개가 서로 다른 극성인 것인데, 복수 개의 전극들이 분리막을 사이에 두고 적층될 경우, 중간층에 위치한 내부 전극은 상면과 저면에 각각 분리막이 적층되어 얼라인(정렬) 품질을 검사하기 어렵다는 문제점이 있었다.
따라서 본 발명은 위와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 과제는 모노셀의 얼라인 품질을 검사할 수 있는 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치는 분리막, 내부 전극, 분리막, 상부 전극의 순서대로 적층된 적층체를 포함하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치에 있어서, 상기 전극조립체의 중앙부 상측에 위치되어, 상기 전극조립체를 촬영하여 검사하기 위한 카메라부 및 상기 전극조립체의 상기 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 상기 상부 전극의 양단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 사이드 조명부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 전극조립체의 하측에 위치되어, 상기 전극조립체의 저면에 빛을 조사하는 로우 조명부를 포함할 수 있다.
상기 카메라부를 통해 관측된 상기 전극조립체의 촬영 정보를 통해 상기 전극조립체의 얼라인(정렬) 상태를 측정하기 위한 제어부를 포함할 수 있다.
상기 제어부는 상기 전극조립체의 내부 전극의 내부 전극탭의 일측 단부와 상부 전극의 일측 단부 사이의 거리를 측정할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법은 청구항 1에 따른 전극조립체의 검사 장치를 통한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 있어서, 사이드 조명부를 사용하여 전극조립체의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 상측 빛 조사 단계 및 상기 전극조립체의 중앙부 상측에 위치된 카메라부를 통해 전극조립체를 촬영하는 촬영 단계를 포함하는 것을 특징한다.
상기 카메라부를 통해 관측된 정보는 제어부로 전송되고 제어부는 상기 내부 전극탭의 일측 단부와 상기 상부 전극의 일측 단부 사이의 거리를 측정하는 측정단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법은 청구항 1에 따른 전극조립체의 검사 장치를 통한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 있어서, 사이드 조명부를 사용하여 전극조립체의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 상측 빛 조사 단계, 로우 조명부를 사용하여 상기 전극조립체의 저면에 빛을 조사하는 하측 빛 조사 단계 및 상기 전극조립체의 중앙부 상측에 위치된 카메라부를 통해 상기 전극조립체를 촬영하는 촬영 단계를 포함하는 것을 특징 한다.
상기 카메라부를 통해 관측된 정보는 제어부로 전송되고 제어부는 상기 로우 조명부에 의해 분리막에 투영된 내부 전극의 일측 단부와 상부 전극의 일측 단부 사이의 거리를 측정하는 측정단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 내부 전극탭과 상부 전극 사이의 거리를 이용하여 모노셀의 내부 전극 얼라인 검사를 가능하게 하는 효과가 있다.
본 발명에 따르면, 모노셀의 양단부와 저면에 각각 조명을 조사하여 분리막에 내부 전극이 투영된 상태에서 내부 전극과 상부 전극 각각의 끝단 사이의 거리를 측정하여 내부 전극 얼라인 검사를 가능하게 하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치를 측면에서 도시한 측면도이다.
도 2는 도 1에서 전극조립체만을 평면에서 도시한 평면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치를 측면에서 도시한 측면도이다.
도 4는 도 3에서 전극조립체만을 평면에서 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전극조립체의 얼라인 검사 장치에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과하고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도면에서 각 구성요소 또는 그 구성요소를 이루는 특정 부분의 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 따라서, 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다. 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그러한 설명은 생략하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치를 측면에서 도시한 측면도이고, 도 2는 도 1에서 전극조립체만을 평면에서 도시한 평면도이다.
도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치는 분리막(11), 내부 전극(13), 분리막(11), 상부 전극(15)의 순서대로 적층된 적층체를 포함하는 전극조립체(10)의 얼라인 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치는 상기 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치되어, 상기 전극조립체(10)를 촬영하여 검사하기 위한 카메라부(20) 및 상기 전극조립체(10)의 상기 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 상기 상부 전극(15)의 양단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 사이드 조명부(30)를 포함한다.
전극조립체(10)는 모노 셀(mono cell)일 수 있으며, 내부 전극(13)은 음극 일 수 있고, 상부 전극(15)은 내부 전극(13)과 반대 극성인 양극일 수 있다. 한편, 내부 전극(13)이 양극이라면, 상부 전극(15)은 내부 전극의 반대 극성인 음극일 수 있다.
내부 전극(13)은 상면과 저면에 각각 분리막(11)이 적층되어 샌드위치 형상으로 분리막(11) 사이에 위치할 수 있고, 분리막(11)의 크기가 내부 전극(13)의 크기보다 커서 도 2와 같은 평명에서 보아 상면과 저면의 분리막(11)에 의해 내부 전극(13)은 완전히 가려질 수 있다.
상부 전극(15)은 내부 전극(13)에 비해 크기가 작게 형성될 수 있다.
내부 전극(13)과 상부 전극(15)은 서로 반대되는 단부에 각각 단부로부터 연장되는 전극탭을 형성할 수 있다.
카메라부(20)는 전극조립체(10)의 상측 중앙부에 전극조립체(10)와 소정의 거리로 이격되도록 설치되어 전극조립체(10)를 전극조립체(10)의 상측 중앙부에서 촬영할 수 있다.
사이드 조명부(30)는 전극조립체(10)의 상측에서 전극조립체(10)의 양단부 상측에 전극조립체(10)와 이격되도록 각각 설치되는데, 카메라부(20)와 전극조립체(10)와의 이격거리에 비해 사이드 조명부(30)와 전극조립체(10)와의 이격거리는 더 짧을 수 있다. 카메라부(20)가 사이드 조명부(30) 보다 전극조립체(10)로부터 이격거리가 길도록 설치되는 것은 전극조립체(10)의 전체 형상을 촬영하기 위함일 수 있다.
사이드 조명부(30)는 전극조립체(10)의 각 단부 중 전극탭이 형성되지 않은 전극조립체(10)의 단부에 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되도록 한 쌍으로 형성되어 상부전극(15)의 양단부를 향해 각각 소정의 각도로 비스듬하게 빛을 조사 할 수 있다.
사이드 조명부(30)가 전극조립체(10)로부터 소정 거리 이격되며 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되어 상부전극(15)의 양단부를 향해 비스듬하게 조명을 조사함에 의해 한 쌍의 사이드 조명부(30)로부터 조사되는 조명의 겹쳐지는 영역(A)으로 전극조립체(10)를 비출 수 있어 상측 중심부에서 촬영하는 카메라에 촬영되는 전극조립체(10)에서 조명에 의한 그늘진 부분을 제거할 수 있고 전극조립체(10)를 비추는 조명의 밝기를 극대화할 수 있다.
카메라부(20)는 전극조립체(10)를 촬영하여 촬영된 이미지 정보를 제어부(50)로 전송할 수 있다.
제어부(50)는 일예로 중앙정보처리장치(cpu) 등일 수 있다. 제어부(50)는 카메라부(20)로부터 전송된 이미지 정보에서 전극조립체(10)의 내부 전극(13)의 내부 전극탭(13a)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부 사이의 길이(d1)를 측정할 수 있다. 이렇게 측정된 값을 통해 상부 전극(15)과 내부 전극(13)의 얼라인(정렬) 상태를 검사할 수 있다.
내부 전극탭(13a)은 내부 전극(13)에 부착되어 있는 구성이기 때문에, 내부 전극이 움직이면 내부 전극탭(13a)도 움직이게 된다. 따라서 내부 전극탭(13a)의 위치를 통해 내부 전극(13)의 위치도 파악할 수 있는 것이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치를 측면에서 도시한 측면도이고, 도 4는 도 3에서 전극조립체만을 평면에서 도시한 평면도이다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 장치는 전극조립체(10)의 하측에 설치되어 전극조립체(10)의 저면에 빛을 조사하는 로우 조명부(40)를 포함할 수 있다.
로우 조명부(40)는 전극조립체(10)의 저면인 분리막(11)에 조명을 조사하여 두 개의 분리막(11) 사이에 샌드위치 적층된 내부 전극(13)을 분리막(11)에 투영하기 위한 것일 수 있다. 로우 조명부(40)로 인하여, 분리막에 가려져 안보이던 내부 전극의 경계선이 분리막 상부 표면 상으로 드러나 보일 수 있다.
이때, 카메라부(20)는 전극조립체(10)의 상측 중앙부에서 전극조립체(10)를 촬영하여 제어부(50)로 촬영된 이미지 정보를 전송하고 제어부(50)는 전송된 이미지 정보에서 내부 전극(13)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부 사이의 거리(d2)를 측정할 수 있다. d2는 폭방향을 기준으로 측정한 거리인데, 길이방향을 기준으로 측정한 d3를 측정하는 것도 가능하다.
이렇게 측정된 값을 통해 상부 전극(15)과 내부 전극(13)의 얼라인(정렬) 상태를 검사할 수 있다. 이와 같이 측정할 경우 내부 전극탭(13a)을 통해 측정했던 일 실시예에서 보다 더욱 정밀한 측정이 가능할 수도 있다.
이하 도면을 참고하여 전극조립체의 검사 방법에 대하여 상세히 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법은 상측 빛 조사 단계(S1) 및 촬영 단계(S2)를 포함한다.
상측 빛 조사 단계(S1)는 전극조립체(10)의 상측에 이격되게 설치된 사이드 조명부(30)를 사용하여 빛을 조사하는 단계일 수 있다. 구체적으로, 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부 측에 사이드 조명부(30)를 각각 설치하여 상부 전극(15)의 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 단계일 수 있다.
촬영 단계(S2)는 상측 빛 조사 단계(S1)에서 전극조립체(10)에 사이드 조명부(30)의 조명이 조사될 때 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치된 카메라부(20)가 전극조립체(10)를 촬영하는 단계일 수 있다.
촬영 단계(S2)에서 카메라부(20)가 촬영한 이미지 정보를 제어부(50)로 전송하고, 제어부(50)는 카메라부(20)로부터 전송된 이미지 정보에서 내부 전극탭(13a)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부의 사이 거리(d1)를 측정하는 측정단계를 더 포함 할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전극조립체의 검사 방법은 상측 빛 조사 단계(S1), 하측 빛 조사 단계(S1-1) 및 촬영 단계(S2)를 포함한다.
상측 빛 조사 단계(S1)는 전극조립체(10)의 상측에 이격되게 설치된 사이드 조명부(30)를 사용하여 빛을 조사하는 단계일 수 있다. 구체적으로, 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부에 사이드 조명부(30)를 각각 설치하여 상부 전극(15)의 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 단계일 수 있다.
하측 빛 조사 단계(S1-1)는 전극조립체(10)의 하측 중앙부에 설치된 로우 조명부(40)를 사용하여 전극조립체(10)의 저면에 빛을 조사하는 단계일 수 있다.
촬영 단계(S2)는 상측 빛 조사 단계(S1)에서 전극조립체(10)에 사이드 조명부(30)의 조명이 조사되고 하측 빛 조사 단계(S1-1)에서 전극조립체(10)의 저면에 로우 조명부(40)의 조명이 조사되어 분리막(11)으로 내부 전극(13)이 투영되면 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치된 카메라부(20)가 전극조립체(10)를 촬영하는 단계일 수 있다.
촬영 단계(S2)에서 카메라부(20)가 촬영한 이미지 정보를 제어부(50)로 전송하고, 제어부(50)는 카메라부(20)로부터 전송된 이미지 정보에서 분리막(11)에 투영된 내부 전극(13)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부의 사이 거리(d2)를 측정하는 측정단계를 더 포함 할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따르면, 내부 전극탭과 상부 전극과 거리를 이용하여 모노셀의 내부 전극 얼라인 검사를 가능하게 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 모노셀의 양단부 상측과 저면에 각각 조명을 조사하여 분리막에 내부 전극이 투영된 상태에서 내부 전극과 상부 전극 각각의 끝단 사이의 거리를 측정하여 내부 전극 얼라인 검사를 가능하게 하는 효과가 있다.
이상과 같이 본 발명에 따른 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법을 예시된 도면을 참고하여 설명하였으나, 본 발명은 이상에서 설명된 실시예와 도면에 의해 한정되지 않으며, 특허청구범위 내에서 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자들에 의해 다양한 실시가 가능하다.
Claims (8)
- 분리막(11), 내부 전극(13), 분리막(11), 상부 전극(15)의 순서대로 적층된 적층체를 포함하는 전극조립체(10)의 얼라인 검사 장치에 있어서,상기 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치되어, 상기 전극조립체(10)를 촬영하여 검사하기 위한 카메라부(20); 및상기 전극조립체(10)의 상기 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 상기 상부 전극(15)의 양단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 사이드 조명부(30); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 전극조립체(10)의 하측에 위치되어, 상기 전극조립체(10)의 저면에 빛을 조사하는 로우 조명부(40)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치.
- 청구항 1에 있어서,상기 카메라부(20)를 통해 관측된 상기 전극조립체(10)의 촬영 정보를 통해 상기 전극조립체(10)의 얼라인(정렬) 상태를 측정하기 위한 제어부(50)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치.
- 청구항 3에 있어서,상기 제어부(50)는 상기 전극조립체(10)의 내부 전극(13)의 내부 전극탭(13a)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부 사이의 거리를 측정하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 장치.
- 청구항 1에 따른 전극조립체의 검사 장치를 통한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 있어서,사이드 조명부(30)를 사용하여 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 상측 빛 조사 단계(S1); 및상기 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치된 카메라부(20)를 통해 전극조립체(10)를 촬영하는 촬영 단계(S2); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 방법.
- 청구항 5에 있어서,상기 카메라부(20)를 통해 관측된 정보는 제어부(50)로 전송되고 제어부(50)는 상기 내부 전극탭(13a)의 일측 단부와 상기 상부 전극(15)의 일측 단부 사이의 거리를 측정하는 측정단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 방법.
- 청구항 1에 따른 전극조립체의 검사 장치를 통한 전극조립체의 얼라인 검사 방법에 있어서,사이드 조명부(30)를 사용하여 전극조립체(10)의 중앙부를 중심으로 서로 대칭되는 양측 단부에 각각 비스듬하게 빛을 조사하는 상측 빛 조사 단계(S1);로우 조명부(40)를 사용하여 상기 전극조립체(10)의 저면에 빛을 조사하는 하측 빛 조사 단계(S1-1); 및상기 전극조립체(10)의 중앙부 상측에 위치된 카메라부(20)를 통해 상기 전극조립체를 촬영하는 촬영 단계(S2); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 방법.
- 청구항 7에 있어서,상기 카메라부(20)를 통해 관측된 정보는 제어부(50)로 전송되고 제어부(10)는 상기 로우 조명부(40)에 의해 분리막(11)에 투영된 내부 전극(13)의 일측 단부와 상부 전극(15)의 일측 단부 사이의 거리를 측정하는 측정단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 얼라인 검사 방법.
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