WO2019187088A1 - 表示デバイス及びその製造方法 - Google Patents

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WO2019187088A1
WO2019187088A1 PCT/JP2018/013844 JP2018013844W WO2019187088A1 WO 2019187088 A1 WO2019187088 A1 WO 2019187088A1 JP 2018013844 W JP2018013844 W JP 2018013844W WO 2019187088 A1 WO2019187088 A1 WO 2019187088A1
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light emitting
emitting element
light
control
display device
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宣彦 鈴木
久保田　靖
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a display device and a manufacturing method thereof.
  • a display device in which a light emitting element such as an organic EL element constitutes a pixel includes a control circuit that performs electrical control on the pixel in order to display an image.
  • Examples of the control circuit include a scanning line driving circuit, and these control circuits are required to operate precisely. Therefore, it has been necessary to inspect whether the control circuit is defective.
  • an inspection probe is penetrated from the sealing resin to a target internal node and directly contacted to measure an electrical signal (Patent Document 1).
  • the display device emits light from the display area, the frame area provided around the display area, and the first light emitting element provided in the display area.
  • a plurality of pixel circuits including the first light emitting elements provided at intersections of the lines and the plurality of control lines, and corresponding control lines are activated at a timing when the data signal is supplied to the data lines.
  • a control circuit is provided in the frame region for each of the control lines, and is provided in the frame region for each of the second and third light emitting elements that emit different colors, and for each of the control lines.
  • a determination circuit connected to a node provided in the control line or the control circuit, and the second light emitting element and the third light emitting element are connected to the control line or the via the determination circuit.
  • the determination circuit is connected to a node and causes the second light emitting element to emit light when the electric signal from the control line or the node is one of on and off, and does not cause the third light emitting element to emit light.
  • the second light emitting element is not caused to emit light and the third light emitting element is caused to emit light when an electrical signal from the control line or the node is on or off.
  • the operation of the determination circuit may include a case where the signal is on when the electric signal is at a high level and a case where the signal is off when the electric signal is at a low level.
  • each light emission from the second light emitting element and the third light emitting element achieves its purpose whether it is detected as a graph showing an optical spectrum using the apparatus or as a color mixture through human vision. be able to.
  • the determination circuit includes a first transistor having a first control terminal to which the control line or the node is connected, and a second control to which the control line or the node connected to the first control terminal is connected.
  • a second transistor having a terminal, wherein the first transistor has a first conduction terminal connected to one of an anode or a cathode of the second light-emitting element, and a second conduction terminal connected to the anode or the third light-emitting element.
  • a first conduction terminal is connected to the other of the anode or the cathode of the second light emitting element and the second constant voltage source; It is also preferable that the two conduction terminals are connected to the other of the anode and the cathode of the third light emitting element.
  • the determination circuit further includes a third transistor connected between the second conduction terminal of the first transistor and one of an anode or a cathode of the third light emitting element and the first constant voltage source. It is also preferable that a control signal line for controlling on / off of the third transistor is connected to the control terminal of the third transistor.
  • the light emission color of at least one of the second light emitting element and the third light emitting element connected to one determination circuit and the other determination circuit are connected.
  • the light emission color of at least one of the second light emitting element and the third light emitting element is preferably different from each other.
  • the second light emitting element and the third light emitting element are provided between the display region and the control circuit, and the light emitting layer of the first light emitting element, the second light emitting element, and the third light emitting element are provided.
  • the light emitting layer has the same shape and size, and the opening of the edge cover of the light emitting layer of the first light emitting element is formed by the edge cover of each light emitting layer of the second light emitting element and the third light emitting element. It is also preferable that it is larger than the opening.
  • the “same shape and size” means the same when the light emitting material of the light emitting layer is deposited on the display region and the frame region using a mask having the same shape and the same size mask pattern. This means that a light emitting layer having the same shape and size is formed in the display area and the frame area. Therefore, the light emitting layer of the light emitting element and the light emitting layers of the second light emitting element and the third light emitting element do not necessarily have the same shape and the same size.
  • a plurality of types of light emitting elements that emit different colors are used for the plurality of second light emitting elements respectively provided on the plurality of control lines, and a plurality of the plurality of the light emitting elements respectively provided on the plurality of control lines are used. It is also preferable that the third light emitting element uses a plurality of types of light emitting elements that emit different colors.
  • a plurality of the nodes are provided, and a plurality of types of light-emitting elements that emit different colors are used for the plurality of second light-emitting elements provided at the plurality of nodes, respectively, and provided at each of the plurality of nodes. It is also preferable that a plurality of types of light emitting elements that emit different colors are used for the plurality of third light emitting elements.
  • the control line is a scanning line and an emission line
  • the control circuit is a scanning line driving circuit and an emission driver
  • the plurality of second light emitting elements respectively provided on the scanning line and the emission line are different from each other.
  • a plurality of types of light-emitting elements that emit colors are used, and a plurality of types of light-emitting elements that emit different colors are used for the plurality of third light-emitting elements provided on the scanning line and the emission line, respectively. It is also preferable that
  • control line is a scanning line and the control circuit is a scanning line driving circuit. Further, it is preferable that the control line is an emission line and the control circuit is an emission driver.
  • the first light emitting element, the second light emitting element, and the third light emitting element are organic EL elements.
  • a method for manufacturing a display device includes a display area, a frame area provided around the display area, a display area, and a first display for displaying an image.
  • One light emitting element, a plurality of data lines to which a data signal for displaying the image is supplied, a plurality of control lines arranged to intersect the plurality of data lines, the plurality of data lines and the plurality of data lines A plurality of pixel circuits including the first light emitting elements provided at each intersection of the control lines, and a control circuit that activates the corresponding control lines at a timing when the data signal is supplied to the data lines,
  • a second light emitting element and a third light emitting element that emit light different from each other are provided in the frame area for each control line, and are provided in the frame area for each control line, and the control Or a determination circuit connected to a node provided in the control circuit, wherein the second light emitting element and the third light emitting element are connected to the determination circuit via
  • a defect of the corresponding control line is detected by using a mixed color of the emission color of the second light emitting element and the emission color of the third light emitting element.
  • the first light emitting element, the second light emitting element, and the third light emitting element are simultaneously formed.
  • the present invention it is not necessary to directly contact a probe with a node to be inspected in a control circuit, and an inspection apparatus that enables non-contact inspection of a node can be realized. Thereby, it is possible to eliminate the occurrence of damage to the metal wiring constituting the node and the sealing resin covering the surface of the metal wiring, and it is possible to prevent the occurrence of secondary defects accompanying the inspection process by the contact probe. it can.
  • the defect is also detected by visual recognition. It has the effect that it is easy to do and can test
  • the defect can be detected by the difference in the color mixture of the luminescent colors visually recognized within the measurement period from the inspection light-emitting element. Therefore, even if a special detection device is not used, The type can be determined.
  • Schematic diagram of a display device 2 including a display area 3 in which first light emitting elements 6 constitute pixels 4 together with a pixel circuit 5 and are arranged in a matrix, and a control circuit 1 having an electric control function for the display area 3.
  • An example of a circuit configuration in the case where the control circuit is a scanning line driving circuit is shown.
  • An outline of the determination circuit 10 connected to the control line 8 is shown.
  • 2 shows a circuit configuration of a determination circuit 10 according to the first embodiment. 2 is a diagram for explaining the principle of a determination method by a determination circuit 10.
  • a conceptual diagram (b) expressed along the time while dividing the time into four sections, and a table (c) showing the detection results from the determination circuit 10 are shown.
  • a timing chart (a) of the determination circuit 10 when the abnormality occurs in the control line 8 (n + 1), a conceptual diagram (b) of the appearance of light emission from the target node, and a table showing detection results from the determination circuit 10 (C) is shown.
  • the timing chart (a) of the determination circuit 10 when the other abnormality occurs in the control line 8 (n + 1), the conceptual diagram (b) of the appearance of visually confirming the light emission from the target node, and the detection result from the determination circuit 10 Table (c) shown is shown.
  • An example of color combinations when the emission colors of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are different for each control line 8 is shown.
  • (A) shows the schematic which matched the array of the light emitting element formed on the light emitting device 2, and the control line 8 to which the said array orthogonally crosses.
  • (B) is a table showing combinations of the second light emitting elements 9 and the third light emitting elements 9 ′ provided on each control line 8.
  • (A) shows a cross-sectional example around the first light-emitting element 6, and (b) shows a cross-sectional example around the second light-emitting element 9.
  • the top view (a) of the 1st light emitting element 6 and the top view (b) of the 2nd light emitting element 9 are shown.
  • the first light emitting element 6 is a pixel at each intersection of a plurality of data lines Da arranged along the vertical direction and a plurality of control lines 8 arranged to intersect the data lines Da.
  • 1 shows a schematic diagram of a display device 2 including a display region 3 in which a pixel 4 is configured together with a circuit 5.
  • the display device 2 is provided with control circuits 1 connected to the control lines 8 on both the left and right sides with a frame area 7 provided around the display area 3 interposed therebetween.
  • the display area 3 is an area where image content is displayed.
  • the frame area 7 provided outside the periphery of the display area 3 is not an area in which image content is displayed, but an area that can be covered with a frame when the display device 2 is commercialized.
  • the control circuit 1 is provided with a control function for activating the corresponding control line 8 at the timing when the data signal is supplied to the data line Da.
  • a plurality of control lines 8 are arranged from the control circuit 1 toward the display area 3.
  • the control lines are distinguished from the control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 1) from the lower side of the display device 2.
  • the control lines 8 may be collectively referred to. Note that n represents an integer.
  • control circuit 1 may be either a scanning line driving circuit or an emission driver.
  • the control line 8 functions as a scanning line when the control circuit 1 is a scanning line driving circuit, and functions as an emission line when the control circuit 1 is an emission driver.
  • An example of a circuit configuration when the control circuit 1 is a scanning line driving circuit is shown in FIG.
  • the scanning line driving circuit shown in FIG. 2 outputs a signal to the node n connected to the control terminal of the transistor TC and one end of the capacitor Cbst via the transistor TA turned on by the signal from the control line 8 (n ⁇ 1). Is retained.
  • the transistor TC is turned on by the signal held at the node n, and the control line 8 (n) is activated by receiving the input of the clock signal CKA at the first conduction terminal of the transistor TC.
  • the transistor TD holds the potential of the control line 8 (n). Thereafter, the transistor TD is turned on by the clock signal CKB in an inverted relationship with the clock signal CKA, and discharges the charge of the control line 8 (n) to the low-potential power supply VSS.
  • the transistor TB is turned on by a signal from the control line 8 (n + 1) after a lapse of a predetermined period after the control line 8 (n) becomes active, and charges corresponding to the signal held at the node n are supplied to a low potential power source. Discharge to VSS.
  • the control line 8 is introduced into the display area 3 via the frame area 7.
  • the second light emission is formed so as to be able to emit light separately corresponding to each electrical signal.
  • An element 9 and a third light emitting element 9 ′ are provided.
  • the determination circuit 10 determines the difference between the electric signals from the control line 8 and emits either the second light emitting element 9 or the third light emitting element 9 ′ corresponding to each different electric signal. Can be possible.
  • the determination circuit 10 performs the second light emission when the electrical signal from the control line 8 or a node provided in the control circuit 1 is one of a high voltage (high level) and a low voltage (low level).
  • the element 9 is caused to emit light
  • the third light emitting element 9 ′ is not caused to emit light.
  • the electrical signal from the node provided in the control line 8 or the control circuit 1 is the other of the high voltage (high level) and the low voltage (low level)
  • the second light emitting element 9 does not emit light
  • the third light emitting element 9 ′ is caused to emit light.
  • FIG. 3 shows an example in which an electric signal flowing through the control line 8 that is an output signal of the scanning line driving circuit 1 is input to the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ via the determination circuit 10.
  • the present invention is not limited to this, and an electric signal flowing through an arbitrary node may be input.
  • it may be connected to the conduction terminal or control terminal of the transistor TB in FIG. 2, the conduction terminal or control terminal of the transistor TD, or the like.
  • a plurality of second light emitting elements and third light emitting elements may be provided so that electric signals of a plurality of nodes can be input.
  • the color of light emitted is changed for each node, it can be easily inspected because it is possible to know which node has a defect by observing the color. Further, if the output signal of the scanning line driving circuit and the output signal of the emission driver are input to the second light emitting element and the third light emitting element that emit different colors, it is possible to know whether there is a problem in the circuit by observing the color. Therefore, it can be easily inspected.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are formed in the same process as the first light emitting element 6 constituting the pixel 4 in the display region 3.
  • the first light emitting element 6, the second light emitting element 9, and the third light emitting element 9 ' are organic EL elements.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are also formed in light emitting elements of different colors so that the first light emitting element 6 is separately formed as red, blue, and green light emitting elements that are the three primary colors. . Accordingly, when different electrical signals are received from the control line 8, the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ emit light separately corresponding to the respective electrical signals, and light emission from the second light emitting element 9 occurs.
  • the color and the color emitted from the third light emitting element 9 ′ can be different from each other.
  • Light emitted from the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ can be received by the light receiving unit 11 provided outside the display device 2.
  • the light receiving unit 11 can detect the light spectrum or the emission color by receiving light over the inspection period t1.
  • a photodiode can be used for the light receiving unit 11, and it is also preferable to analyze a light spectrum with a spectrophotometer connected to the light receiving unit 11.
  • the eyes of the person who performs the inspection can be used as the light receiving unit 11. It is possible to determine whether or not a predetermined electric signal is output to the control line 8 by visually observing the light emitted from the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ with the eyes. Specifically, since the inspection period t1 is very short, the light emitted from the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 'is visually recognized as a mixed color by the afterimage effect.
  • the determination circuit 10 causes the second light emitting element 9 to emit light and the third light emitting element 9 ′ to emit light when an electrical signal from a node provided in the control line 8 or the control circuit 1 is at a high level. It is assumed that the configuration is not allowed. In this case, when the electrical signal from the node provided in the control line 8 or the control circuit 1 is at a low level, the second light emitting element 9 does not emit light and the third light emitting element 9 'emits light. In the present embodiment, the second light emitting element 9 emits red light and the third light emitting element 9 'emits green light.
  • FIG. 5B shows the timing chart of the determination circuit 10 as shown in the upper part of FIG. Waveform.
  • FIG. 5C shows the color of light emission obtained from the second light emitting element 9 or the third light emitting element 9 ′ during the detection period shown in FIG. 5B as a color mixture through human vision.
  • the yellow emission color represented by the ellipse symbol Y1 which is a mixed color of red light and green light, can be confirmed as a detection result.
  • An ellipse symbol Y1 hatched with crossed stripes represents a yellow emission color.
  • the timing chart of the determination circuit 10 is constant as shown in the lower part of FIG.
  • an elliptic symbol R representing a light emission image per unit time is shown. line up.
  • the oval symbol R filled in black represents a red emission color.
  • FIG. 5C which is shown next to FIG. 5B, shows the detection result from the determination circuit 10.
  • the detection result also has a red emission color.
  • an electric signal input from the control line 8 or a node provided in the control circuit 1 to the second light emitting element 9 or the third light emitting element 9 ′ is used as an electric signal from the control line 8. To be included.
  • FIG. 4 shows a circuit configuration of the determination circuit 10 according to the first embodiment.
  • the control line 8 connects the first control terminal g1 of the first transistor T1 and the second control terminal g2 of the second transistor T2.
  • the first transistor T1 is an NMOS transistor
  • the second transistor T2 is a PMOS transistor.
  • the cathode 9c of the second light emitting element 9 is connected to the first conduction terminal s1 of the first transistor T1, and the anode 9a of the second light emitting element 9 is connected to the driving power supply ELVDD that is the second constant voltage source.
  • the driving power source ELVDD is connected to the first conduction terminal s2 of the second transistor T2, and the second conduction terminal d2 is connected to the anode 9'a of the third light emitting element 9 '.
  • the drive power supply ELVDD can be replaced with an external power supply other than the drive power supply ELVDD.
  • the cathode 9′c of the third light emitting element 9 ′ and the second conduction terminal d2 of the first transistor T1 are connected to the cathode power supply ELVSS as the first constant voltage source via the third transistor T3 connected in series. Become connected.
  • a control signal line INSB for controlling on / off of the third transistor is connected to the third control terminal g3 of the third transistor.
  • the first conduction terminal s3 of the third transistor T3 is connected to the second conduction terminal d2 of the first transistor T1 and the cathode 9′c of the third light emitting element 9 ′, while the second conduction terminal d3 is connected to the cathode power supply ELVSS. Being done.
  • the determination circuit 10 is a portion surrounded by an alternate long and short dash line in FIG.
  • the second light emitting element 9 When an electrical signal is applied to the control line 8 during the inspection period t1 during which the control signal for turning on the third transistor T3 is input from the control signal line INSB to the control terminal g3, the second light emitting element 9, Alternatively, a signal for causing any one of the third light emitting elements 9 ′ to emit light can be input.
  • the voltage applied to the control line 8 as an electrical signal is inverted, so that only one of the first transistor T1 and the second transistor T2 can be turned on.
  • either the second light emitting element 9 or the third light emitting element 9 ′ that emits light by the current from the power source ELVDD is selected based on the difference between the electrical signals received from the control circuit 1 via the control line 8. be able to.
  • Embodiment 1 when a high voltage is applied to the control line 8, the first transistor T1 is turned on and the second light emitting element 9 emits light.
  • the emission color of the second light emitting element 9 is red.
  • the second transistor T2 when a low voltage is applied to the control line 8, the second transistor T2 is turned on and the third light emitting element 9 'emits light.
  • the emission color of the third light emitting element 9 ' is green.
  • the second conduction terminal d1 of the first transistor T1 and the cathode 9'c of the third light emitting element 9 ' may be directly connected to the cathode power source ELVSS by omitting the third transistor T3.
  • the inspection period t1 can be arbitrarily set, and an electric signal may be input to the determination circuit 10 within the time set in the inspection period t1.
  • the control circuit 1 in FIG. 1 is a scanning line circuit. A plurality of scanning lines extending in the horizontal direction from the control circuit 1 are set as target control lines 8. Of these, an inspection method for checking whether there is an abnormal electric signal input from the control lines 8 (n ⁇ 1) to 8 (n + 2) will be described.
  • FIG. 6 shows a timing chart (a) of the determination circuit 10 when the control lines 8 (n ⁇ 1) to 8 (n + 2) all operate normally.
  • a conceptual diagram (b) in which the state in which the light emission of the determination circuit 10 is visually recognized is divided along the time period before and after the inspection period t1.
  • the oval symbol R painted black represents a red emission color
  • the oval symbol G with vertical hatching represents a green emission color.
  • the light receiving unit 11 is the eyes of a person performing the inspection. 6A and 6B, the time advances from the left to the right.
  • FIG. 6C shown further next to FIG. 6B is a table showing the detection results from the determination circuit 10.
  • FIG. 6C shows a color mixture of light emission obtained from the second light emitting element 9 or the third light emitting element 9 ′ during the inspection period t1 shown in FIG. It expressed how it was detected.
  • an ellipse symbol Y1 with hatching made of crossed stripes represents a yellow emission color.
  • FIG. 6 (c) When the state of the inspection from the determination circuit 10 is visually observed and observed as shown in FIG. 6 (c), columnar light emission is actually observed, so that the mixed color of the abnormal control line is other normal. Compared with color mixing, it can be easily discriminated.
  • a plurality of control lines can be inspected at the same time by observing light emission in a row from the plurality of determination circuits 10.
  • the second transistor T2 of the determination circuit 10 connected to the control line 8 (n ⁇ 1) is turned on at the leftmost side of the four divided times in the inspection period t1 in FIG. Since the light emitting element 9 ′ emits green light, an ellipse symbol G is indicated. On the other hand, since the high voltage is still applied to the control lines 8 (n) to 8 (n + 2) at the leftmost time in the inspection period t1, the first transistor T1 of the determination circuit 10 is turned on and the second light emission is performed. The ellipse symbol R is shown because the element 9 emits red light.
  • the voltage of the control line 8 (n) changes to a low voltage and the corresponding third light emitting element 9 is changed. Since 'emits green light, the ellipse symbol G is shown.
  • the voltages of the control line 8 (n ⁇ 1), the control line 8 (n + 1), and the control line 8 (n + 2) are high voltages, the corresponding second light emitting element 9 emits red light, and thus the oval symbol R is shown.
  • the emission color from the determination circuit 10 similarly changes in the control line 8 (n-1), the control line 8 (n + 1), and the control line 8 (n + 2).
  • the green light emission time ratio in the inspection period t1 becomes the same by sequentially changing the voltage from the control lines 8 (n-1) to 8 (n + 2) to a low voltage for a certain period of time.
  • inspection period t1 into four is a short time which cannot be discerned by a human eye, the 2nd light emitting element 9 and 3rd in the test
  • the obtained detection result is an elliptic symbol Y1 representing yellow of the same color mixed in all of the control lines 8 (n ⁇ 1) to 8 (n + 2).
  • the change in emission color from the determination circuit 10 during the inspection period t1 occurs in the same manner as in FIG. 6 for the control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 2).
  • the control line 8 (n + 1) there is no change in the emission color during the inspection period t1 (FIG. 7B).
  • control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 2) have an elliptic symbol Y1 representing yellow that is a normal color mixture.
  • the control line 8 (n + 1) remains the ellipse symbol R indicating red, and an abnormality that a predetermined electrical signal is not output to the control line 8 (n + 1) can be detected.
  • an unexpected voltage change occurs in one control line 8 (n + 1) among the target control lines 8 (n ⁇ 1) to 8 (n + 2). Will be described.
  • the change in emission color from the determination circuit 10 during the inspection period t1 occurs in the same manner as in FIG. 6 for the control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 2).
  • the emission color changes to green in a longer period than the control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 2) (FIG. 8B).
  • control lines 8 (n ⁇ 1), 8 (n), and 8 (n + 2) have an elliptic symbol Y1 representing yellow that is a normal color mixture.
  • the control line 8 (n + 1) can be shown as an ellipse symbol Y2 with an oblique hatching indicating a color greener than normal yellow.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are formed in the same process as the first light emitting element 6, they are connected to each other on the same substrate until the middle of the manufacturing process. Before the step of individually dividing the plurality of display devices 2 formed in the above state, it is possible to detect and evaluate a change in the light spectrum or emission color from the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′. It becomes possible.
  • the structure from which the light emission color of 2nd light emitting element 9 and 3rd light emitting element 9 'differs for every control line 8 may be sufficient.
  • the emission color of the first light emitting element 6 in the display region 3 is the first emission color
  • the colors can be the second emission color and the third emission color.
  • the light emission colors of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ provided on the control line 8 (n) are the fourth light emission color and the fifth light emission color, either the fourth light emission color or the fifth light emission color is selected.
  • One of them is preferably an emission color different from the second emission color or the third emission color.
  • FIG. 9 shows an example of color combinations when the emission colors of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are different for each control line 8.
  • FIG. 9A shows an arrangement of light emitting elements formed along the vertical direction in the frame region 7 of the light emitting device 2.
  • the light emitting element columns are formed by repeatedly forming red (R), green (G), and blue (B) emission colors in the left-right direction.
  • a rectangular symbol R painted black represents a light emitting element that emits red light
  • a rectangular symbol G that is vertically hatched represents a light emitting element that emits green light
  • a white rectangular symbol B represents a light emitting element that emits blue light.
  • control lines 8 (n ⁇ 1) to 8 (n + 2)... 8 (n + m) are arranged orthogonal to the row of light emitting elements.
  • n and m are integers.
  • the determination circuit 10 can be configured so that each control line 8 has a combination of the light emission colors of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ as indicated by a two-dot chain line.
  • the second emission color of the control line 8 (n-1) is red R
  • the third emission color is green G
  • the fourth emission color of the control line 8 (n) is green G
  • the fifth emission color is blue B. It can be set as a combination. According to this, as shown in the table of FIG.
  • any one of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ of the adjacent control line 8 can be combined so as to be different, When a plurality of control lines 8 are inspected, it can be easily inspected because the corresponding control lines 8 can be identified by observing the color of each control line 8.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are provided for each control line 8, but the second light emitting element and the third light emitting element 9 ′ are provided for each control line 8 of all the control lines 8. It may be provided, and may be provided for each of some control lines 8 among the plurality of control lines 8. For example, the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ may be provided for every two or every three control lines 8.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ can be formed and arranged in the frame region 7 so as to be clearly distinguished from the first light emitting element formed in the display region 3. Further, when the display area 3 including the pixels 5 including the first light emitting elements is formed, the light emitting elements included in the dummy pixels formed slightly outside the outer edge of the display area 3 are replaced with the second light emitting elements and the second light emitting elements. It can also be used as a three light emitting element.
  • FIG. 10A shows a cross-sectional example of the periphery of the sub-pixel SPA showing one emission color of the first light emitting element 6, and FIG. 10B shows one emission color as the second light emitting element 9.
  • An example of a cross section around the subpixel SPB shown is shown.
  • the sub-pixel SPB using the second light-emitting element 9 will be described as an example.
  • the sub-pixel using the third light-emitting element 9 ′ is the same as the sub-pixel SPB, and the description thereof will be omitted. .
  • 10A and 10B are a top emission type that emits light upward, and in order from the lower side, a base material 12, a resin layer 13, a barrier layer 14 (base coat layer), and a TFT layer. 15, a light emitting element layer 16, a sealing layer 17, an adhesive layer 18 and a functional film 19.
  • the TFT layer 15 is formed on the semiconductor film 20, the inorganic insulating film 21 formed above the semiconductor film 20, the gate electrode G formed above the inorganic insulating film 21, and the layer above the gate electrode G.
  • the inorganic insulating film 22 is formed; the capacitive electrode C formed above the inorganic insulating film 22; the inorganic insulating film 23 formed above the capacitive electrode C; and the upper layer than the inorganic insulating film 23.
  • a thin film transistor Tr (light emission control transistor) is configured to include the semiconductor film 20, the inorganic insulating film 21 (gate insulating film), and the gate electrode G.
  • the source electrode S is connected to the source region of the semiconductor film 20, and the drain electrode D is connected to the drain region of the semiconductor film 20.
  • the semiconductor film 20 is made of, for example, low-temperature polysilicon (LTPS) or an oxide semiconductor.
  • LTPS low-temperature polysilicon
  • FIG. 10 a TFT having the semiconductor film 20 as a channel is shown in a top gate structure.
  • the light emitting element layer 16 is an organic light emitting diode layer in the present embodiment, and the anode electrode 25 formed above the planarizing film 24 and the subpixel SPA in the active region (the region overlapping the light emitting element layer 16) or It includes an edge cover 26 that is a planarizing film that defines SPB, a light emitting layer 27 formed above the anode electrode 25, and a cathode electrode 28 formed above the light emitting layer 27.
  • An organic light emitting diode (OLED) is configured to include the anode electrode 25, the light emitting layer 27, and the cathode electrode 28.
  • the edge cover 26 surrounds the end of the anode electrode 25.
  • the light emitting layer 27 is formed in a region surrounded by the edge cover 26 by an evaporation method or an ink jet method.
  • the anode electrode 25 is composed of, for example, a laminate of ITO (Indium Tin Oxide) and an alloy containing Ag, and has light reflectivity.
  • the cathode electrode 28 can be made of a light-transmitting conductive material such as ITO or IZO (Indium Zinc Oxide).
  • the cathode electrode 28 is translucent and the anode electrode 25 is light reflective, the light emitted from the light emitting layer 27 is directed upward and becomes top emission.
  • the sealing layer 17 is translucent, and includes an inorganic sealing film 29 that covers the cathode electrode 28, an organic sealing film 30 that is formed above the inorganic sealing film 29, and an organic that covers the organic sealing film 30. And a sealing film 31.
  • the sealing layer 17 covers the light emitting element layer 16 and prevents penetration of foreign substances such as water and oxygen into the light emitting element layer 16.
  • the functional film 19 has, for example, an optical compensation function, a touch sensor function, a protection function, and the like.
  • FIG. 11 is a plan view showing a structural example of the sub-pixels SPA and SPB.
  • the sub-pixel SPA includes at least an edge cover 26 having an opening HA and a light emitting layer 27 disposed above the edge cover 26. Yes.
  • the edge cover 26 surrounds the entire periphery of the opening HA.
  • the light emitting layer 27 is formed so as to completely fill at least the opening HA.
  • the area of the light emitting layer 27 is larger than the area of the opening HA.
  • a range of the light emitting layer 27 that overlaps the opening HA contributes to light emission of the first light emitting element 6.
  • the sub-pixel SPB has an edge cover 26 having an opening HB, an upper layer than the edge cover 26, and a light-emitting layer 27 of the sub-pixel SPA. At least a light emitting layer 27 having the same shape and the same size is provided.
  • the edge cover 26 surrounds the entire periphery of the opening HB.
  • the light emitting layer 27 is formed so as to completely fill at least the opening HB.
  • the area of the light emitting layer 27 is larger than the area of the opening HB.
  • the range of the light emitting layer 27 that overlaps the opening HB contributes to the light emission of the second light emitting element 9 (or the light emission of the third light emitting element 9 ').
  • the opening HA of the edge cover 26 of the light emitting layer 27 of the first light emitting element 6 is larger than the opening HB of the edge cover 26 of the light emitting layer 27 of the second light emitting element 9.
  • the opening HB of the edge cover 26 of the light emitting layer 27 of the second light emitting element 9 is thus obtained.
  • the light emitting layer 27 can be formed so as to cover the opening HB of the edge cover 26, and light can be reliably emitted in a desired light emitting region (the same applies to the third light emitting element 9 ′). ).
  • the second and third light emitting elements 9 and 9 ′ are formed not at the end of the vapor deposition mask but at the center side, or by vapor deposition different from the first light emitting element 6.
  • the second and third light emitting elements 9 and 9 ′ are formed using a mask, the light emitting area of the first light emitting element 6 and the light emitting areas of the second and third light emitting elements 9 and 9 ′ are the same.
  • size may be sufficient.
  • the above-mentioned “same shape and size” means that the light emitting material of the light emitting layer 27 is deposited on the display region 3 and the outer edge region of the display region 3 using a mask having the same shape and the same size mask pattern. In this case, it means that the light emitting layer 27 having the same shape and the same size is formed as a result in the display area 3 and the outer edge area of the display area 3 (hereinafter referred to as a dummy area). Therefore, when using the vapor deposition technique, even if a mask having the same size mask pattern is used, the light emitting layer 27 of the subpixel SPA and the light emitting layer 27 of the subpixel SPB are not necessarily completely the same in shape and the same. The case where the size is not formed is also included.
  • the dummy area 7a is formed using one mask when the display area 3 is formed. However, the dummy area 7a is formed slightly outside the area where the image content is displayed, as shown by a one-dot chain line in FIG. Therefore, it belongs to the frame area 7 in the present invention.
  • the pixels formed in the dummy area 7a are referred to as dummy pixels.
  • the light emitting elements constituting the dummy pixels can be formed at the same time as the first light emitting element 6, and can be the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 '.
  • the opening HA opening the inner side of the anode electrode 25 formed in the display area 3 is larger than the opening HB opening the inner side of the anode electrode 25 formed in the dummy area 7a.
  • the light emitting layer 27 formed in the display region 3 has the same shape and the same size as the light emitting layer 27 formed in the dummy region 7a.
  • the light emitting layer 27 is formed so as to completely cover the opening HB in the dummy region 7a even if the accuracy of the vapor deposition pattern when the light emitting material is deposited on the dummy region 7a is low. . Therefore, the normally functioning sub-pixel SPB can be formed in the dummy region 7a.
  • the contact hole of the thin film transistor Tr is formed at a position that does not overlap with the opening HA.
  • the contact hole of the capacitor electrode C is also formed at a position that does not overlap with the opening HA.
  • the contact hole of the thin film transistor Tr is formed in a portion of the light emitting layer 27 that does not overlap the opening HB (a portion that overlaps the opening HA in the display region 3). be able to.
  • the contact hole of the capacitor electrode C can also be formed in a portion of the light emitting layer 27 that does not overlap the opening HB.
  • the light emitting elements constituting the dummy pixels are used for the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′, and the determination circuit 10 is provided in the dummy region 7a.
  • No special space is required to form the three light emitting elements 9 ′ and the determination circuit 10, and the display device 2 can be easily narrowed.
  • the region 32 can also be used as another circuit arrangement space.
  • a defect in a scanning line driving circuit or an emission driver can be detected. It is possible to assign a driver failure earlier than the inspection.
  • the corresponding control line or the corresponding node is defective.
  • a method of manufacturing a display device to detect is preferred. Thereby, the display device 2 can be manufactured while clarifying at an earlier stage than before.
  • the case where the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ are provided for each control line 8 has been described.
  • the control lines of all the control lines 8 are described.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ may be provided every 8, and may be provided for each of some control lines 8 among the plurality of control lines 8.
  • the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ may be provided for every two or every three control lines 8.
  • the first and second transistors T 1 and T 2 are configured by NMOS transistors and PMOS transistors, respectively. Only the second light emitting element 9 connected to one transistor (NMOS transistor) T1 emits light, and only the third light emitting element 9 'connected to the second transistor (PMOS transistor) T2 emits light when the electric signal is low voltage.
  • the present invention is not limited to this. When the electrical signal is on including a high level and when the electrical signal is off including a low level, and when the other is the other In addition, only one of the second light emitting element 9 and the third light emitting element 9 ′ and only the other may emit light.
  • the display according to the present embodiment is not particularly limited as long as the display panel includes a display element.
  • the display element is a display element whose luminance and transmittance are controlled by current.
  • an organic EL (Electro Luminescence) having an OLED (Organic Light Emitting Diode) is used.
  • OLED Organic Light Emitting Diode
  • a display, or an EL display QLED (Quantum ⁇ dot ⁇ ⁇ Light Emitting Diode) such as an inorganic EL display provided with an inorganic light emitting diode, or the like.

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Abstract

第１発光素子が画素回路と共に画素を構成してマトリクス状に配置されてなる表示領域と前記表示領域への電気制御機能を有する制御回路とを備える表示デバイスにおいて、制御線又は制御回路内に設けられたノードに接続された判定回路及び当該判定回路に接続されるとともに、互いに異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子が額縁領域に設けられ、判定回路は第２発光素子及び第３発光素子のいずれか一方のみを交互に発光させる。

Description

表示デバイス及びその製造方法
　本発明は、表示デバイス及びその製造方法に関する。
　有機ＥＬ素子等の発光素子が画素を構成する表示デバイスは、画像を表示するために画素への電気制御を行う制御回路を備える。制御回路には、例えば走査線駆動回路が挙げられ、これらの制御回路には精密な動作が求められる。そこで、制御回路に不具合が生じていないかを検査する必要があった。従来の検査手段としては、検査プローブを、封止樹脂の上から対象となる内部ノードへ貫通させて直接接触させて、電気信号を測定するものであった（特許文献１）。
特開平０９－０６１４５８号公報
　しかし、近年は表示デバイスの薄型化が著しく、また柔軟性を有する基板上に構築される表示デバイスも開発されているため、検査時における表示装置の平坦化が乏しくなってきていることから、正確に検査プローブを対象となるノードへ接触させることが困難となってきていた。
　そこで、上記課題を解決する手段として本発明に係る表示デバイスは、表示領域と、表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、表示領域に設けられた第１発光素子を発光させることにより、画像を表示する表示デバイスであって、前記画像を表示するデータ信号が供給される複数のデータ線と、前記複数のデータ線と交差するように配設された複数の制御線と、前記複数のデータ線及び前記複数の制御線の各交点に設けられた前記第１発光素子を備えた複数の画素回路と、前記データ線に前記データ信号が供給されるタイミングで、対応する制御線をアクティブにする制御回路と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、互いに異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、前記制御線又は前記制御回路内に設けられたノードに接続された判定回路と、を備え、前記第２発光素子及び前記第３発光素子は、前記判定回路を介して前記制御線又は前記ノードに接続され、前記判定回路は、前記制御線又は前記ノードからの電気信号がオン及びオフの一方のときに、前記第２発光素子を発光させ、かつ、前記第３発光素子を発光させず、前記制御線又は前記ノードからの電気信号がオン及びオフの他方のときに、前記第２発光素子を発光させず、かつ、前記第３発光素子を発光させることを特徴とする。なお、前記判定回路の動作は、電気信号がハイレベルのときにオンであり、電気信号がローレベルのときにオフである場合を含めることができる。
　なお、第２発光素子及び第３発光素子からの各発光は、装置を用いて光スペクトルを示すグラフとして検知することとしても、人間の視覚を通じて混色として検知することとしても、その目的を達成することができる。
　また、前記判定回路は、前記制御線又は前記ノードが接続された第１制御端子を有する第１トランジスタと、前記第１制御端子に接続された前記制御線又は前記ノードが接続された第２制御端子を有する第２トランジスタと、を備え、前記第１トランジスタでは、第１導通端子が前記第２発光素子の陽極又は陰極の一方に接続され、第２導通端子が前記第３発光素子の陽極又は陰極の一方と第１の定電圧源とに接続され、前記第２トランジスタでは、第１導通端子が前記第２発光素子の陽極又は陰極の他方と第２の定電圧源とに接続され、第２導通端子が前記第３発光素子の陽極又は陰極の他方に接続されていることとしても好ましい。
　さらに、前記判定回路は、前記第１トランジスタの第２導通端子及び前記第３発光素子の陽極又は陰極の一方と前記第１の定電圧源との間に接続された第３トランジスタを、更に備え、前記第３トランジスタの制御端子に、当該第３トランジスタのオン／オフを制御するための制御信号線が接続されていることとしても好ましい。
　さらにまた、隣接する二つの前記判定回路において、一方の判定回路に接続された前記第２発光素子及び前記第３発光素子の少なくとも一方の発光素子の発光色と、他方の判定回路に接続された前記第２発光素子及び前記第３発光素子の少なくとも一方の発光素子の発光色とは、互いに異なることとしても好ましい。
　また、前記第２発光素子及び前記第３発光素子が前記表示領域と前記制御回路との間に設けられ、前記第１発光素子の発光層と前記第２発光素子及び前記第３発光素子の各発光層とは、同一の形状及び大きさであって、前記第１発光素子の発光層のエッジカバーの開口は、前記第２発光素子及び前記第３発光素子の各発光層の各エッジカバーの開口よりも大きいものとしても好ましい。
　なお、「同一の形状及び大きさ」とは、発光層の発光材料を同一の形状かつ同一の大きさのマスクパターンを有するマスクを用いて表示領域及び額縁領域にそれぞれ蒸着した場合に、同一の形状かつ同一の大きさの発光層が表示領域及び額縁領域に結果的に形成されることを意味する。したがって、前記発光素子の発光層と第２発光素子及び第３発光素子の各発光層とは、必ずしも完全に同一の形状かつ同一の大きさである必要はない。
　また、複数の前記制御線にそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、複数の前記制御線にそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられているものとしても好ましい。
　前記ノードは複数設けられ、複数の前記ノードにそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、複数の前記ノードにそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられていることとしても好ましい。
　前記制御線が走査線及びエミッション線であり、前記制御回路が走査線駆動回路及びエミッションドライバであり、前記走査線と前記エミッション線にそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、前記走査線と前記エミッション線にそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられていることとしても好ましい。
　さらに、前記制御線が走査線であり、前記制御回路が走査線駆動回路であっても好ましい。また、前記制御線がエミッション線であり、前記制御回路がエミッションドライバであっても好ましい。
　さらにまた、前記第１発光素子、前記第２発光素子、及び前記第３発光素子は、有機ＥＬ素子であっても好ましい。
　また、上記課題を解決する手段として本発明に係る表示デバイスの製造方法は、表示領域と、表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、表示領域に設けられるとともに、画像を表示するための第１発光素子と、前記画像を表示するデータ信号が供給される複数のデータ線と、前記複数のデータ線と交差するように配設された複数の制御線と、前記複数のデータ線及び前記複数の制御線の各交点に設けられた前記第１発光素子を備えた複数の画素回路と、前記データ線に前記データ信号が供給されるタイミングで、対応する制御線をアクティブにする制御回路と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、互いに異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、前記制御線又は前記制御回路内に設けられたノードに接続された判定回路と、を備えた表示デバイスの製造方法であって、前記第２発光素子及び前記第３発光素子に対して、前記判定回路を介して前記制御線を流れる電気信号又は前記制御回路内に設けられたノードを流れる電気信号を入力し、前記第２発光素子及び前記第３発光素子からの発光を検出して評価することにより、前記制御回路を検査することを特徴とする。
　さらに、前記制御回路の検査では、前記第２発光素子の発光色と前記第３発光素子の発光色との混色を用いて、対応する制御線の不良を検出することとしても好ましい。
　さらにまた、前記第１発光素子と前記第２発光素子及び前記第３発光素子とは、同時に形成されることとしても好ましい。
　本発明によれば、制御回路における検査対象となるノードに対して直接プローブを接触させる必要がなく、非接触でのノードの検査を可能とする検査装置を実現することができる。これにより、ノードを構成する金属配線及び当該金属配線の表面を被覆する封止樹脂へのダメージ発生も解消することができ、接触型プローブによる検査工程に伴う二次不良の発生も防止することができる。
　また、対象ノードに不良があった場合、検査用発光素子からの発光の光スペクトル、又は発光色が他の正常な検査用発光素子からの発光のものとは異なるため、視認によっても不良を検知し易く、検査を容易かつ迅速に行うことができる効果を有する。視認によって不良検知ができれば、特別な検知用装置が不要だからである。
　さらに、不良によっては検査用発光素子からの測定期間内に視認される発光色の混色の違いで不良を検知することができるため、特別な検知用装置が用いなくとも発光色の視認によって不良の種類を判別することができる。
第１発光素子６が画素回路５と共に画素４を構成してマトリクス状に配置されてなる表示領域３と、表示領域３への電気制御機能を有する制御回路１とを備える表示デバイス２の概略図を示す。 制御回路が走査線駆動回路である場合の回路構成の例を示す。 制御線８に接続された判定回路１０の概略を示す。 実施形態１における判定回路１０の回路構成を示す。 判定回路１０による判定方法の原理を説明するための図である。 制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）が全て正常に動作した場合の、判定回路１０のタイミングチャート（ａ）、対象ノードからの発光を視認した様子を、検査期間ｔ１の前後にわたって一定時間ずつ４区分に区切りながら時間に沿って表した概念図（ｂ）、判定回路１０からの検出結果を示す表（ｃ）を示す。 制御線８（ｎ＋１）に異常が発生した場合の、判定回路１０のタイミングチャート（ａ）、対象ノードからの発光を視認した様子の概念図（ｂ）、判定回路１０からの検出結果を示す表（ｃ）を示す。 制御線８（ｎ＋１）に他の異常が発生した場合の、判定回路１０のタイミングチャート（ａ）、対象ノードからの発光を視認した様子の概念図（ｂ）、判定回路１０からの検出結果を示す表（ｃ）を示す。 制御線８ごとに第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色が異なる場合の色の組み合わせ例を示す。（ａ）は、発光デバイス２上に形成された発光素子の配列、及び当該配列の直交する制御線８を対応させた概略図を示す。（ｂ）は、各制御線８に設けられた第２発光素子９及び第３発光素子９’の組み合わせを表にしたものである。 （ａ）は、第１発光素子６周辺の断面例を示し、（ｂ）は、第２発光素子９周辺の断面例を示す。 第１発光素子６の平面図（ａ）及び第２発光素子９の平面図（ｂ）を示す。
　以下、本発明に係る実施の形態を、図を参照しながら詳しく説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
　図１には、上下方向に沿って配設された複数のデータ線Ｄａと、データ線Ｄａと交差するように配設された複数の制御線８との各交点において第１発光素子６が画素回路５と共に画素４が構成されてなる表示領域３を備える表示デバイス２の概略図を示す。
　また、表示デバイス２には、表示領域３の周囲に設けられた額縁領域７を挟んで、制御線８と接続する制御回路１が左右両側に設けられてなる。表示領域３は、画像コンテンツが表示される領域である。表示領域３の周縁よりも外側に設けられた額縁領域７は、画像コンテンツが表示される領域ではなく、表示デバイス２が製品化された際に枠体によって被覆することができる領域である。
　制御回路１は、データ線Ｄａにデータ信号が供給されるタイミングで、対応する制御線８をアクティブにする制御機能が設けられる。制御線８は、制御回路１から表示領域３に向かって複数配設されてなる。本実施の形態においては、図１に示すように、表示デバイス２の下方から、制御線を、・・・制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋１）と区別して示すことがあり、また、合わせて制御線８ということがある。なお、ｎは整数を示す。
　制御回路１は、具体的には、走査線駆動回路、若しくはエミッションドライバのいずれであってもよい。また制御線８は、制御回路１が走査線駆動回路の場合には走査線として機能し、エミッションドライバの場合にはエミッション線として機能する。制御回路１が走査線駆動回路である場合の回路構成の例を図２に示す。
　図２に示される走査線駆動回路は、制御線８（ｎ－１）からの信号によってオンされたトランジスタＴＡを介して、トランジスタＴＣの制御端子および容量Ｃｂｓｔの一端に接続されたノードｎに信号が保持される。このノードｎに保持された信号によってトランジスタＴＣがオンされ、当該トランジスタＴＣの第１導通端子にクロック信号ＣＫＡの入力を受けて制御線８（ｎ）がアクティブとなる。なお、トランジスタＴＤは制御線８（ｎ）の電位を保持する。その後、トランジスタＴＤは、クロック信号ＣＫＡとは反転関係にあるクロック信号ＣＫＢによってオンされ、制御線８（ｎ）の電荷を低電位の電源ＶＳＳへ放電する。また、トランジスタＴＢは制御線８（ｎ）がアクティブになった所定期間経過後に、制御線８（ｎ＋１）からの信号によってオンされ、ノードｎに保持された信号に対応する電荷を低電位の電源ＶＳＳへ放電する。
　制御線８は、額縁領域７を経由して表示領域３に導入されてなる。額縁領域７には、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードから異なった電気信号が入力されると、それぞれの電気信号に対応して別個に発光可能に接続されてなる第２発光素子９及び第３発光素子９’が設けられてなる。
　判定回路１０は、図３に示すように、制御線８からの電気信号の差異を判定して、異なる電気信号ごとに対応する第２発光素子９若しくは第３発光素子９’のいずれかを発光可能とすることができる。
　具体的には、判定回路１０は、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードからの電気信号が高電圧（ハイレベル）及び低電圧（ローレベル）の一方のときに、第２発光素子９を発光させ、かつ、第３発光素子９’を発光させない。また、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードからの電気信号が高電圧（ハイレベル）及び低電圧（ローレベル）の他方のときに、第２発光素子９を発光させず、かつ、第３発光素子９’を発光させる。
　図３では、走査線駆動回路１の出力信号である制御線８を流れる電気信号が判定回路１０を介して第２発光素子９及び第３発光素子９’に入力される例を示しているが、これに限らず、任意のノードに流れる電気信号を入力してよい。例えば、図２のトランジスタＴＢの導通端子や制御端子、トランジスタＴＤの導通端子や制御端子などに接続してよい。第２発光素子及び第３発光素子が各々複数設けられ、複数のノードの電気信号を入力できるように形成してもよい。その際、ノード毎に発光する色を変えておけば、色を観察することによってどのノードに不具合があるかわかるため、簡便に検査できる。また、走査線駆動回路の出力信号、およびエミッションドライバの出力信号をそれぞれ異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子に入力すれば、色を観察することによって回路に不具合があるかわかるため、簡便に検査できる。
　ここで、以下の実施形態の説明において、第２発光素子９及び第３発光素子９’は、表示領域３の画素４を構成する第１発光素子６と同一の工程で形成される。
　また、本実施の形態において、第１発光素子６、第２発光素子９及び第３発光素子９’は有機ＥＬ素子とする。
　なお、第１発光素子６が三原色である赤色、青色、緑色の発光素子として作り分けられるように、第２発光素子９及び第３発光素子９’も、それぞれ異なる色の発光素子に形成される。これにより、制御線８から異なる電気信号を受けた場合に第２発光素子９及び第３発光素子９’がそれぞれの電気信号に対応して別個に発光すると共に、第２発光素子９からの発光色と、第３発光素子９’からの発光色とを異なった色とすることができる。
　第２発光素子９及び第３発光素子９’からの発光は、表示デバイス２の外部に設けた受光部１１によって受光することができる。受光部１１は、検査期間ｔ１にわたって受光して光スペクトル又は発光色を検知することができる。受光部１１で第２発光素子９及び第３発光素子９’からの発光を検知することで、制御回路１から制御線８に所定の電気信号が出力されたか否かを判定することができる。なお、受光部１１には、フォトダイオードを用いることができ、受光部１１に接続された分光光度計で光スペクトルを分析することとしても好ましい。
　さらにまた、本発明によれば、前記受光部１１として、検査を行う人の目を用いることができる。第２発光素子９及び第３発光素子９’からの発光を人が目を用いて視認することにより、制御線８への所定の電気信号が出力されたか否かを判定することができる。具体的には、検査期間ｔ１は非常に短時間であるため、第２発光素子９及び第３発光素子９’から放出された光が残像効果によって混色として視認される。そのため、第２発光素子９及び第３発光素子９’の動作に異常が生じると、正常時に想定される発光色とは異なる色への変化を目で感知して異常を検知することができ、制御線８に出力された電気信号の異常を判定することができる。
　次に、信号検出の方法について説明する。
　例えば、判定回路１０が、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードからの電気信号がハイレベルのときに、第２発光素子９を発光させ、かつ、第３発光素子９’を発光させない構成であるとする。この場合、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードからの電気信号がローレベルのときに、第２発光素子９を発光させず、かつ、第３発光素子９’を発光させる。なお、本実施の形態において、第２発光素子９は赤色に発光し、第３発光素子９’は緑色に発光するものとする。
　そうすると、検出期間ｔ１中の一定時間において、一時的に対象となる制御線８の電位がローレベルへ変化した場合には、図５（ａ）上段のように、判定回路１０のタイミングチャートは一時的に波形が変形する。これを図５（ｂ）の上段で見ると、黒塗りの楕円記号Ｒの配列の中に、前記ローレベルに変化した時間に対応して、縦方向のハッチングが付された楕円記号Ｇが出現する。これらの楕円信号Ｒ及び楕円記号Ｇは、それぞれ赤色の発光色及び緑色の発光色を表す。図５（ｃ）は、図５（ｂ）で表された検出期間中に第２発光素子９若しくは第３発光素子９’から得られた発光の色が、人間の視覚を通し、混色としてどのように検知されているかを表している。その結果、図５（ｃ）上段に示すように、検出結果として赤色の光と緑色の光の混色である楕円記号Ｙ１で表された黄色の発光色を確認することができる。交差した縞模様からなるハッチングが付された楕円記号Ｙ１は、黄色の発光色を表す。
　一方、検出対象となる制御線８の電位がハイレベルのまま変化しない場合には、図５（ａ）下段のように、判定回路１０のタイミングチャートは一定となる。また、判定回路１０からの発光を視認した様子を、検出期間を一定時間ずつ区切りながら時間に沿って表した概念図５（ｂ）下段によれば、単位時間ごと発光イメージを表す楕円記号Ｒが並ぶ。黒く塗りつぶされた楕円記号Ｒは、赤色の発光色を表す。これにより、図５（ｂ）下段は赤色の発光色が連続していることを示す。図５（ｂ）のさらに隣に示される図５（ｃ）は、判定回路１０からの検出結果を示すものである。図５（ｃ）下段によれば、検出期間中制御線８の電位が変化しなかったため、検出結果も赤色の発光色となる。
　以下、判定回路１０の具体的な実施形態について説明する。なお、以下の実施形態においては、制御線８又は制御回路１内に設けられたノードから第２発光素子９若しくは第３発光素子９’に入力される電気信号を、制御線８からの電気信号に含めて記載する。
　〔実施形態１〕
　（構造について）
　図４には、実施形態１における判定回路１０の回路構成を示す。実施形態１によれば、制御線８から第１トランジスタＴ１の第１制御端子ｇ１、及び第２トランジスタＴ２の第２制御端子ｇ２が接続されてなる。ここで、第１トランジスタＴ１はＮＭＯＳトランジスタであり、第２トランジスタＴ２はＰＭＯＳトランジスタである。
　第１トランジスタＴ１の第１導通端子ｓ１には第２発光素子９のカソード９ｃが接続され、第２発光素子９のアノード９ａは第２の定電圧源である駆動電源ＥＬＶＤＤに接続されてなる。第２トランジスタＴ２の第１導通端子ｓ２には駆動電源ＥＬＶＤＤが接続されてなり、第２導通端子ｄ２は第３発光素子９’のアノード９’ａに接続されてなる。なお、駆動電源ＥＬＶＤＤは、当該駆動電源ＥＬＶＤＤ以外の外部電源に置き換えることもできる。
　また、第３発光素子９’のカソード９’ｃと第１トランジスタＴ１の第２導通端子ｄ２は、直列に接続された第３トランジスタＴ３を介して第１の定電圧源であるカソード電源ＥＬＶＳＳに接続されてなる。
　前記第３トランジスタの第３制御端子ｇ３には、第３トランジスタのオン／オフを制御するための制御信号線ＩＮＳＢが接続されてなる。
　第３トランジスタＴ３の第１導通端子ｓ３は第１トランジスタＴ１の第２導通端子ｄ２及び第３発光素子９’のカソード９’ｃと接続され、一方、第２導通端子ｄ３はカソード電源ＥＬＶＳＳに接続されてなる。
　ここで、実施形態１の判定回路１０は、図４の一点鎖線で囲った部分となる。
　制御信号線ＩＮＳＢから制御端子ｇ３に、第３トランジスタＴ３をオンするための制御信号が入力されている検査期間ｔ１の間、制御線８に電気信号が印加されると、第２発光素子９、若しくは第３発光素子９’のいずれかを発光させるための信号を入力することができる。
　検査期間ｔ１において、電気信号として制御線８に印加される電圧が反転することによって、第１トランジスタＴ１若しくは第２トランジスタＴ２のいずれか一方のみをオンすることができる。これにより、制御回路１から制御線８を介して受けた電気信号の差異に基づいて、電源ＥＬＶＤＤからの電流により発光させる第２発光素子９、若しくは第３発光素子９’のいずれかを選択することができる。
　実施形態１においては、制御線８に高電圧をかけると第１トランジスタＴ１がオンとなり、第２発光素子９が発光する。ここで、第２発光素子９の発光色は赤色とする。一方、制御線８に低電圧をかけると第２トランジスタＴ２がオンとなり、第３発光素子９’が発光する。ここで、第３発光素子９’の発光色は緑色とする。
　なお、第１トランジスタＴ１の第２導通端子ｄ１及び第３発光素子９’のカソード９’ｃは第３トランジスタＴ３を省略して直接カソード電源ＥＬＶＳＳに接続されてもよい。この場合、検査期間ｔ１は任意に設定でき、検査期間ｔ１に設定された時間内において判定回路１０へ電気信号を入力すればよい。
　（機能について）
　次に判定回路１０を用いた制御回路１からの出力異常を検出する機能について説明する。例として、図１の制御回路１を走査線回路とする。制御回路１から水平方向に延出されている複数の走査線を対象の制御線８とする。このうち制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）から異常な電気信号の入力があるかどうかについての検査方法を挙げて説明する。
　（制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）が正常に機能した場合）
　図６には、制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）が全て正常に動作した場合の、判定回路１０のタイミングチャート（ａ）を示す。また、タイミングチャート（ａ）の隣には、判定回路１０の発光を視認した様子を、検査期間ｔ１の前後にわたって一定時間ずつ区切りながら時間に沿って表した概念図（ｂ）を示した。図６（ｂ）において、黒く塗りつぶされた楕円記号Ｒは赤色の発光色を表し、縦方向のハッチングが付された楕円記号Ｇは緑色の発光色を表す。なお、受光部１１は、検査を行う人の目とした。図６（ａ）、（ｂ）はいずれも、左から右へ向かって時間が進む。
　また、図６（ｂ）のさらに隣に示される図６（ｃ）は、判定回路１０からの検出結果を示す表である。図６（ｃ）は、図６（ｂ）で表された検査期間ｔ１中に第２発光素子９若しくは第３発光素子９’から得られた発光の色が、人間の視覚を通し、混色としてどのように検知されているかを表した。図６（ｃ）の表において、交差した縞模様からなるハッチングが付された楕円記号Ｙ１は黄色の発光色を表す。なお、楕円記号Ｒ，Ｇ，Ｙ１が示す発光色については以下においても同様とする。判定回路１０からの検査の様子を視認して観察した場合、図６（ｃ）に示すように、実際に列状の発光が観察されるため、異常がある制御線の混色が他の正常な混色と比較して容易に判別することができる。また、複数の判定回路１０からの列状の発光を観察することで複数の制御線を同時に検査することができる。
　また、当該混色の検知を、フォトダイオードを用いた受光部１１に接続された分光光度計等の装置を用いて光スペクトルとして検出することも可能である。
　図６（ａ）に示すタイミングチャートによれば、検査期間ｔ１において、制御回路１から制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）に対して、順次高電圧＋５．０Ｖから低電圧－８．０Ｖに電圧が変化するように電気信号を与えた。カソード電源ＥＬＶＳＳは－３．０Ｖに固定した。
　制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）が全て正常に動作した図６の場合、制御線８（ｎ－１）から８（ｎ＋２）にかけて、時間が経つごと順次一定時間ずつ低電圧が印加された（図６（ａ））。
　これにより、図６（ｂ）の検査期間ｔ１における４分割の時間のうち最も左側においては、制御線８（ｎ－１）に接続された判定回路１０の第２トランジスタＴ２がオンとなり、第３発光素子９’が緑色に発光するので楕円記号Ｇが示される。一方、同じく検査期間ｔ１におけるもっとも左側の時間において、制御線８（ｎ）～８（ｎ＋２）には高電圧が印加されたままなので、判定回路１０の第１トランジスタＴ１がオンとなり、第２発光素子９が赤色に発光するので楕円記号Ｒが示されている。
　次に、図６（ｂ）の検査期間ｔ１における４分割の時間のうち左から二番目の時間においては、制御線８（ｎ）の電圧が低電圧に変化して対応する第３発光素子９’が緑色に発光するので楕円記号Ｇが示される。一方で、制御線８（ｎ－１）、制御線８（ｎ＋１）、制御線８（ｎ＋２）の電圧は高電圧であるので、対応する第２発光素子９が赤色に発光するため、楕円記号Ｒが示されている。検査期間ｔ１の時間が進むごとに、制御線８（ｎ－１）、制御線８（ｎ＋１）、制御線８（ｎ＋２）においても判定回路１０からの発光色が同様に変化する。
　このように、図６においては制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）まで順次一定時間ずつ低電圧に変化することにより、検査期間ｔ１中における緑色の発光時間割合は同じとなる。そして、検査期間ｔ１を４つに分割した時間は、人間の目には識別できない程度の短時間であることから、視認する人の目には検査期間ｔ１中における第２発光素子９及び第３発光素子９’からの発光色の混色として感知される。その結果、得られる検出結果は図６（ｃ）の表に示すように、制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）の全てにおいて混色された同色の黄色を表す楕円記号Ｙ１となる。
　以上のとおり、制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）から検知される混色に変化がない場合は、制御回路１からの対象の制御線８への電気信号には異常はないと判定することができる。
　〔制御線の不良検出例〕
　〔検出例１〕
　次に、制御線８に異常がある場合について、図６と同様の手段に沿って説明する。
　１つの例として、図７に示すように、対象となる制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）のうち、一つの制御線８（ｎ＋１）について、所定の電圧変化が起こらなかった場合について説明する。
　この場合においても、図６の場合と同様の電圧変化が制御線８に対して生じるように、制御回路１から電気信号の出力が試みられたとする。その結果、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については図６の場合と同じタイミングで高電圧から低電圧への電圧変化が生じたが、制御線８（ｎ＋１）については制御回路１から電気信号が受けられず、電圧変化が生じなかった（図７（ａ））。
　この場合、検査期間ｔ１中における判定回路１０からの発光色の変化は、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については図６の場合と同じように起こるが、制御線８（ｎ＋１）については、検査期間ｔ１中において発光色の変化がない（図７（ｂ））。
　その結果、検出結果として図７（ｃ）の表に示される通り、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については正常な混色である黄色を表す楕円記号Ｙ１が示されているが、制御線８（ｎ＋１）については赤色を示す楕円記号Ｒのままであり、制御線８（ｎ＋１）に所定の電気信号が出力されていないという異常を検知することができる。
　〔検出例２〕
　さらに、制御線８に異常がある他の場合について、図６と同様の手段に沿って説明する。
　他の例として、図８に示すように、対象となる制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）のうち、一つの制御線８（ｎ＋１）について、想定外の電圧変化が生じた場合について説明する。
　この場合においても、図６の場合と同様の電圧変化が制御線８に対して生じるように、制御回路１から電気信号の出力が試みられたとする。その結果制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については図６の場合と同じタイミングで高電圧から低電圧への電圧変化が生じたが、制御線８（ｎ＋１）については制御線８（ｎ）の電圧変化が始まってから制御線８（ｎ＋２）の電圧変化が終了するまで継続的に、低電圧状態が継続していた（図８（ａ））。
　この場合、検査期間ｔ１中における判定回路１０からの発光色の変化は、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については図６の場合と同じように起こるが、制御線８（ｎ＋１）については、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）よりも長期間において発光色が緑色に変化している（図８（ｂ））。
　その結果、検出結果として図８（ｃ）の表に示される通り、制御線８（ｎ－１）、８（ｎ）、８（ｎ＋２）については正常な混色である黄色を表す楕円記号Ｙ１が示されているが、制御線８（ｎ＋１）については正常な黄色よりも緑がかった色を示す斜めのハッチングが付された楕円記号Ｙ２と示すことができる。これにより、制御線８（ｎ＋１）が、例えば制御線８（ｎ）及び８（ｎ＋２）と短絡している異常がある可能性を検知することができる。
　また、表示デバイス２の製造工程において、第２発光素子９及び第３発光素子９’を、第１発光素子６と同一の工程で形成した場合、製造工程の途中まで同一基板上において互いに連接された状態で形成される複数の表示デバイス２を個別に分断する工程の前に、第２発光素子９及び第３発光素子９’からの光スペクトル又は発光色の変化を検知して評価することが可能となる。
　〔実施形態２〕
　また、図９（ａ）に示すように、制御線８ごとに第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色が異なる構成であってもよい。例として、表示領域３の第１発光素子６の発光色を第１発光色とした場合、制御線８（ｎ－１）に設けられた第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色を第２発光色、第３発光色とすることができる。そして、制御線８（ｎ）に設けられた第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色を第４発光色、第５発光色とした場合、第４、第５発光色のいずれかひとつが、前記第２発光色、又は第３発光色とは異なる発光色であることが好ましい。
　これにより、制御線８ごとに正常に機能した場合の混色を区別することができるため、色によって制御線を特定することが容易にできるからである。
　つまり、実施形態２においては、制御線８ごとに第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色が異なる場合の色の組み合わせ例を図９に示す。図９（ａ）には、発光デバイス２の額縁領域７内において、上下方向に沿って形成された発光素子の配列を示した。発光素子の列は、左右方向に赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の発光色を有する列が繰り返し形成されている。
　なお黒く塗りつぶされた矩形記号Ｒは赤色に発光する発光素子を表し、縦方向のハッチングが付された矩形記号Ｇは緑色に発光する発光素子を表す。また、白抜きの矩形記号Ｂは青色に発光する発光素子を表す。
　また、発光素子の列と直交して制御線８（ｎ－１）～８（ｎ＋２）・・・８（ｎ＋ｍ）が配設されてなる。ここで、ｎ，ｍは整数を示す。各制御線８は、第２発光素子９及び第３発光素子９’の発光色を二点鎖線に示す組み合わせとなるように判定回路１０を構成することができる。例えば、制御線８（ｎ－１）の第２発光色は赤色Ｒ、第３発光色は緑色Ｇとし、制御線８（ｎ）の第４発光色は緑色Ｇ、第５発光色は青色Ｂの組み合わせとすることができる。これによれば、図９（ｂ）の表に示すように、隣り合う制御線８が有する第２発光素子９及び第３発光素子９’のうちいずれかひとつが異なるように組み合わせることができ、複数の制御線８の検査を行う場合に、各制御線８での色を観察することによって対応する制御線８に不具合があるかわかるため、簡便に検査できる。
　なお、制御線８毎に第２発光素子９及び第３発光素子９’を備える意味であるが、すべての制御線８の制御線８毎に第２発光素子及び第３発光素子９’が備えられていてもよく、複数の制御線８のうち、一部の制御線８毎に備えられていてもよい。例えば、２本毎又は３本毎の制御線８毎に第２発光素子９及び第３発光素子９’が備えられていてもよい。
　＜第２発光素子９及び第３発光素子９’の構造について＞
　第２発光素子９及び第３発光素子９’は、額縁領域７において、表示領域３に形成される第１発光素子とは明確に区別して形成して配置することができる。また、第１発光素子を含む画素５によって構成される表示領域３を形成する際に、表示領域３の外縁のわずか外側に形成されるダミー画素に含まれる発光素子を、第２発光素子及び第３発光素子として用いることもできる。
　図１０の（ａ）は、第１発光素子６の１つの発光色を示すサブ画素ＳＰＡの周辺の断面例を示し、図１０の（ｂ）は、第２発光素子９として１つの発光色を示すサブ画素ＳＰＢの周辺の断面例を示す。尚、以下の説明では、第２発光素子９を用いたサブ画素ＳＰＢを例示して説明するが、第３発光素子９’を用いたサブ画素は当該サブ画素ＳＰＢと同一なのでその説明は省略する。図１０（ａ）、（ｂ）に示される発光素子は上方に向けて発光するトップエミッション型であり、下側から順に、基材１２、樹脂層１３、バリア層１４（ベースコート層）、ＴＦＴ層１５、発光素子層１６、封止層１７、接着層１８および機能フィルム１９を備える。
　ＴＦＴ層１５は、半導体膜２０と、半導体膜２０よりも上層に形成される無機絶縁膜２１と、無機絶縁膜２１よりも上層に形成されるゲート電極Ｇと、ゲート電極Ｇよりも上層に形成される無機絶縁膜２２と、無機絶縁膜２２よりも上層に形成される容量電極Ｃと、容量電極Ｃよりも上層に形成される無機絶縁膜２３と、無機絶縁膜２３よりも上層に形成される、ソース電極Ｓおよびドレイン電極Ｄと、ソース電極Ｓおよびドレイン電極Ｄよりも上層に形成される平坦化膜２４とを含む。
　半導体膜２０、無機絶縁膜２１（ゲート絶縁膜）、ゲート電極Ｇを含むように薄膜トランジスタＴｒ（発光制御トランジスタ）が構成される。ソース電極Ｓは半導体膜２０のソース領域に接続され、ドレイン電極Ｄは半導体膜２０のドレイン領域に接続される。
　半導体膜２０は、例えば低温ポリシリコン（ＬＴＰＳ）あるいは酸化物半導体で構成される。図１０では、半導体膜２０をチャネルとするＴＦＴがトップゲート構造で示されている。
　発光素子層１６は本実施の形態においては有機発光ダイオード層であり、平坦化膜２４よりも上層に形成されるアノード電極２５と、アクティブ領域（発光素子層１６と重なる領域）のサブ画素ＳＰＡまたはＳＰＢを規定する平坦化膜であるエッジカバー２６と、アノード電極２５よりも上層に形成される発光層２７と、発光層２７よりも上層に形成されるカソード電極２８とを含む。アノード電極２５、発光層２７、およびカソード電極２８を含むように、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）が構成される。
　エッジカバー２６は、アノード電極２５の端部を囲っている。発光層２７は、蒸着法あるいはインクジェット法によって、エッジカバー２６で囲まれた領域に形成される。
　アノード電極２５は、例えばＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ）とＡｇを含む合金との積層によって構成され、光反射性を有する。カソード電極２８は、ＩＴＯ、ＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｚｉｎｃ　Ｏｘｉｄｅ）等の透光性の導電材で構成することができる。
　カソード電極２８が透光性であり、アノード電極２５が光反射性であるため、発光層２７から放出された光は上方に向かい、トップエミッションとなる。
　封止層１７は透光性であり、カソード電極２８を覆う無機封止膜２９と、無機封止膜２９よりも上層に形成される有機封止膜３０と、有機封止膜３０を覆う有機封止膜３１とを含む。封止層１７は、発光素子層１６を覆い、水、酸素等の異物の発光素子層１６への浸透を防いでいる。機能フィルム１９は、例えば、光学補償機能、タッチセンサ機能、保護機能等を有する。
　（サブ画素ＳＰＡおよびＳＰＢの構造例）
　図１１は、サブ画素ＳＰＡおよびＳＰＢの構造例を示す平面図である。図１０の（ａ）および図１１の（ａ）に示すように、サブ画素ＳＰＡは、開口ＨＡを有するエッジカバー２６と、エッジカバー２６よりも上層に配置される発光層２７とを少なくとも備えている。サブ画素ＳＰＡにおいて、開口ＨＡの周囲のすべてをエッジカバー２６が囲っている。発光層２７は、少なくとも開口ＨＡを完全に充填するように形成されている。発光層２７の面積は、開口ＨＡの面積よりも大きい。発光層２７のうち開口ＨＡに重畳する範囲が、第１発光素子６の発光に寄与する。
　図１０の（ｂ）および図１１の（ｂ）に示すように、サブ画素ＳＰＢは開口ＨＢを有するエッジカバー２６と、エッジカバー２６よりも上層に配置され、かつサブ画素ＳＰＡの発光層２７と同一の形状かつ同一の大きさの発光層２７とを少なくとも備えている。サブ画素ＳＰＢにおいて、開口ＨＢの周囲のすべてをエッジカバー２６が囲っている。発光層２７は、少なくとも開口ＨＢを完全に充填するように形成されている。発光層２７の面積は、開口ＨＢの面積よりも大きい。発光層２７のうち開口ＨＢに重畳する範囲が、第２発光素子９の発光（又は第３発光素子９’の発光）に寄与する。また、このように、第１発光素子６の発光層２７のエッジカバー２６の開口ＨＡは、第２発光素子９の発光層２７のエッジカバー２６の開口ＨＢよりも大きい。これにより、蒸着マスクの端の方で蒸着される第２発光素子９の発光層２７に蒸着ずれが生じても、このように、第２発光素子９の発光層２７のエッジカバー２６の開口ＨＢを小さくすることで、当該エッジカバー２６の開口ＨＢを覆うように発光層２７を形成でき、所望の発光領域で確実に発光させることが可能となる（第３発光素子９’においても、同様。）。
　なお、上記の説明以外に、例えば、蒸着マスクの端の方ではなく中央部側の部分で第２及び第３発光素子９及び９’を形成したり、第１発光素子６とは別の蒸着マスクを用いて第２及び第３発光素子９及び９’を形成したりした場合には、第１発光素子６の発光面積と第２及び第３発光素子９及び９’の発光面積とを同じ大きさとした構成でもよい。
　上述した「同一の形状及び大きさ」とは、発光層２７の発光材料を同一の形状かつ同一の大きさのマスクパターンを有するマスクを用いて表示領域３および表示領域３の外縁領域に蒸着した場合に、同一の形状かつ同一の大きさの発光層２７が表示領域３および表示領域３の外縁領域（以下、ダミー領域という。）に結果的に形成されることを意味する。したがって、蒸着技術を使用するにあたり、同一の大きさのマスクパターンを有するマスクを用いたとしてもサブ画素ＳＰＡの発光層２７とサブ画素ＳＰＢの発光層２７とは、必ずしも完全に同一の形状かつ同一の大きさには形成されない場合も含まれる。
　なお、ダミー領域７ａは、表示領域３を形成する際に一つのマスクを用いて形成されるが、図１の一点鎖線に示すように画像コンテンツが表示される領域のわずかに外側に形成されるため、本発明において額縁領域７に属する。また、ダミー領域７ａに形成される画素をダミー画素という。ダミー画素を構成する発光素子は、第１発光素子６と同時に形成することができ、第２発光素子９及び第３発光素子９’とすることができる。
　図１１に示すように、表示領域３に形成されるアノード電極２５の内方を開口する開口ＨＡは、ダミー領域７ａに形成されるアノード電極２５の内方を開口する開口ＨＢよりも大きい。さらに、表示領域３に形成される発光層２７は、ダミー領域７ａに形成される発光層２７と同一の形状かつ同一の大きさを有する。
　開口ＨＢが開口ＨＡよりも小さいので、ダミー領域７ａに発光材料を蒸着させる際の蒸着パターンの精度が低かったとしても、発光層２７はダミー領域７ａにおいて開口ＨＢを完全に覆うように形成される。したがって、正常に機能するサブ画素ＳＰＢを、ダミー領域７ａに形成することができる。
　表示領域３では、発光層２７を充分に発光させるために、発光層２７のうち開口ＨＡに充填された箇所に重畳するように、コンタクトホールを設けることができない。そのため表示領域３では、図１０の（ａ）に示すように、薄膜トランジスタＴｒのコンタクトホールは、開口ＨＡと重畳しない位置に形成されている。同様に、容量電極Ｃのコンタクトホールも、開口ＨＡと重畳しない位置に形成されている。
　ダミー領域７ａでは、発光層２７のうち開口ＨＢに重畳しない箇所は、有効な発光層２７として機能しない。そのためダミー領域７ａでは、図１０の（ｂ）に示すように、薄膜トランジスタＴｒのコンタクトホールを、発光層２７のうち開口ＨＢに重畳しない箇所（表示領域３では開口ＨＡに重畳する箇所）に形成することができる。同様に、容量電極Ｃのコンタクトホールも、発光層２７のうち開口ＨＢに重畳しない箇所に形成することができる。これにより、ダミー領域７ａでは、薄膜トランジスタＴｒおよび容量電極Ｃをいずれも開口ＨＢにより近づけて設けることができる。このように、ダミー画素を構成する発光素子を第２発光素子９及び第３発光素子９’に用いるとともに、ダミー領域７ａ内に判定回路１０を設置しているので、第２発光素子９、第３発光素子９’、及び判定回路１０を形成するために特別なスペースを必要とせず、表示デバイス２の狭額縁化を容易にはかることができる。なお、領域３２を他の回路配置スペースとして活用することもできる。
　＜表示デバイス２の製造方法について＞
　第２発光素子９及び第３発光素子９’に対して、制御線８を流れる電気信号又は制御回路１内に設けられたノードｎ等を流れる電気信号を入力し、第２発光素子９からの発光及び第３発光素子９’からの発光を検出して評価することにより、制御回路１を検査する検査工程を有する表示デバイス２の製造方法を実現することができる。
　この製造方法により、例えば発光素子を構成する材料蒸着工程後であってインクジェット薄膜封止（ＴＦＥ）行程前に、走査線駆動回路、若しくはエミッションドライバの不良を検出する事ができる為、従来のパネル検査時より早い段階でドライバー不良の振り分けを可能とすることができる。
　特に、上記検出例１及び２に例示したように、第２発光素子９の発光色と第３発光素子９’の発光色との混色を用いて、対応する制御線又は対応するノードの不良を検出する表示デバイスの製造方法が好ましい。これにより、従来よりも早い段階で明確にしつつ表示デバイス２を製造することができる。なお、上記の説明では、制御線８毎に第２発光素子９及び第３発光素子９’を備えた場合について説明したが、すべての制御線８（例えば、走査線及びエミッション線）の制御線８毎に第２発光素子９及び第３発光素子９’を設けていてもよく、複数の制御線８のうち、一部の制御線８毎に備えられていてもよい。例えば、２本毎又は３本毎の制御線８毎に第２発光素子９及び第３発光素子９’が備えられていてもよい。
　また、上記の説明では、図４に示したように、判定回路１０において、第１及び第２トランジスタＴ１及びＴ２をそれぞれＮＭＯＳトランジスタ及びＰＭＯＳトランジスタで構成して、電気信号が高電圧のときに第１トランジスタ（ＮＭＯＳトランジスタ）Ｔ１に接続された第２発光素子９のみを発光させ、電気信号が低電圧のときに第２トランジスタ（ＰＭＯＳトランジスタ）Ｔ２に接続された第３発光素子９’のみを発光させる場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、電気信号がハイレベルを含むオンのときと、電気信号がローレベルを含むオフのときとのいずれか一方及び他方のときに、第２発光素子９及び第３発光素子９’の一方のみ及び他方のみを発光させるものであればよい。
　本実施形態にかかるディスプレイは、表示素子を備えた表示パネルであれば、特に限定されるものではない。上記表示素子は、電流によって輝度や透過率が制御される表示素子であり、電流制御の表示素子としては、ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode：有機発光ダイオード）を備えた有機ＥＬ（Electro Luminescence：エレクトロルミネッセンス）ディスプレイ、又は無機発光ダイオードを備えた無機ＥＬディスプレイ等のＥＬディスプレイＱＬＥＤ（Quantum dot Light Emitting Diode：量子ドット発光ダイオード）を備えたＱＬＥＤディスプレイ等がある。
　１　制御回路
　２　表示デバイス
　３　表示領域
　４　画素
　５　画素回路
　６　第１発光素子
　７　額縁領域
　８　制御線
　９　第２発光素子
　９’　第３発光素子
　１０　判定回路
　１１　受光部
　Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３　トランジスタ

Claims (14)

  1. 　表示領域と、表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、表示領域に設けられた第１発光素子を発光させることにより、画像を表示する表示デバイスであって、
    　前記画像を表示するデータ信号が供給される複数のデータ線と、
    　前記複数のデータ線と交差するように配設された複数の制御線と、
    　前記複数のデータ線及び前記複数の制御線の各交点に設けられた前記第１発光素子を備えた複数の画素回路と、
    　前記データ線に前記データ信号が供給されるタイミングで、対応する制御線をアクティブにする制御回路と、
    　前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、互いに異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子と、
    　前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、前記制御線又は前記制御回路内に設けられたノードに接続された判定回路と、を備え、
    　前記第２発光素子及び前記第３発光素子は、前記判定回路を介して前記制御線又は前記ノードに接続され、
    　前記判定回路は、前記制御線又は前記ノードからの電気信号がオン及びオフの一方のときに、前記第２発光素子を発光させ、かつ、前記第３発光素子を発光させず、前記制御線又は前記ノードからの電気信号がオン及びオフの他方のときに、前記第２発光素子を発光させず、かつ、前記第３発光素子を発光させる
    ことを特徴とする表示デバイス。
  2. 　前記判定回路は、
    　前記制御線又は前記ノードが接続された第１制御端子を有する第１トランジスタと、
    　前記第１制御端子に接続された前記制御線又は前記ノードが接続された第２制御端子を有する第２トランジスタと、を備え、
    　前記第１トランジスタでは、第１導通端子が前記第２発光素子の陽極又は陰極の一方に接続され、第２導通端子が前記第３発光素子の陽極又は陰極の一方と第１の定電圧源とに接続され、
    　前記第２トランジスタでは、第１導通端子が前記第２発光素子の陽極又は陰極の他方と第２の定電圧源とに接続され、第２導通端子が前記第３発光素子の陽極又は陰極の他方に接続されている
    ことを特徴とする請求項１に記載の表示デバイス。
  3. 　前記判定回路は、
    　前記第１トランジスタの第２導通端子及び前記第３発光素子の陽極又は陰極の一方と前記第１の定電圧源との間に接続された第３トランジスタを、更に備え、
    　前記第３トランジスタの制御端子に、当該第３トランジスタのオン／オフを制御するための制御信号線が接続されている
    ことを特徴とする請求項２に記載の表示デバイス。
  4. 　隣接する二つの前記判定回路において、一方の判定回路に接続された前記第２発光素子及び前記第３発光素子の少なくとも一方の発光素子の発光色と、他方の判定回路に接続された前記第２発光素子及び前記第３発光素子の少なくとも一方の発光素子の発光色とは、互いに異なる
    ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  5. 　前記第２発光素子及び前記第３発光素子が前記表示領域と前記制御回路との間に設けられ、前記第１発光素子の発光層と前記第２発光素子及び前記第３発光素子の各発光層とは、同一の形状及び大きさであって、前記第１発光素子の発光層のエッジカバーの開口は、前記第２発光素子及び前記第３発光素子の各発光層のエッジカバーの開口よりも大きい
    ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  6. 　前記複数の制御線にそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、
    　前記複数の制御線にそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられている
    ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  7. 　前記ノードは複数設けられ、複数の前記ノードにそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、複数の前記ノードにそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられている
    ことを特徴とする請求項１から６のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  8. 　前記制御線が走査線及びエミッション線であり、前記制御回路が走査線駆動回路及びエミッションドライバであり、前記走査線と前記エミッション線にそれぞれ設けられた複数の前記第２発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられ、前記走査線と前記エミッション線にそれぞれ設けられた複数の前記第３発光素子には、互いに異なる色を発光する複数種類の発光素子が用いられている
    ことを特徴とする請求項１から７のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  9. 　前記制御線が走査線であり、前記制御回路が走査線駆動回路である
    ことを特徴とする請求項１から７のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  10. 　前記制御線がエミッション線であり、前記制御回路がエミッションドライバである
    ことを特徴とする請求項１から７のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  11. 　前記第１発光素子、前記第２発光素子、及び前記第３発光素子は、有機ＥＬ素子である
    ことを特徴とする請求項１から１０のいずれか１つに記載の表示デバイス。
  12. 　表示領域と、表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、表示領域に設けられるとともに、画像を表示するための第１発光素子と、前記画像を表示するデータ信号が供給される複数のデータ線と、前記複数のデータ線と交差するように配設された複数の制御線と、前記複数のデータ線及び前記複数の制御線の各交点に設けられた前記第１発光素子を備えた複数の画素回路と、前記データ線に前記データ信号が供給されるタイミングで、対応する制御線をアクティブにする制御回路と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、互いに異なる色を発光する第２発光素子及び第３発光素子と、前記制御線毎に前記額縁領域に設けられるとともに、前記制御線又は前記制御回路内に設けられたノードに接続された判定回路と、を備えた表示デバイスの製造方法であって、
    　前記第２発光素子及び前記第３発光素子に対して、前記判定回路を介して前記制御線を流れる電気信号又は前記制御回路内に設けられたノードを流れる電気信号を入力し、前記第２発光素子及び前記第３発光素子からの発光を検出して評価することにより、前記制御回路を検査する
    ことを特徴とする表示デバイスの製造方法。
  13. 　前記制御回路の検査では、前記第２発光素子の発光色と前記第３発光素子の発光色との混色を用いて、対応する制御線又は対応するノードの不良を検出する
    ことを特徴とする請求項１２に記載の表示デバイスの製造方法。
  14. 　前記第１発光素子と前記第２発光素子及び前記第３発光素子とは、同時に形成される
    ことを特徴とする請求項１２又は１３に記載の表示デバイスの製造方法。
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