WO2019069935A1 - 集積回路装置及び電子機器 - Google Patents

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WO2019069935A1
WO2019069935A1 PCT/JP2018/036904 JP2018036904W WO2019069935A1 WO 2019069935 A1 WO2019069935 A1 WO 2019069935A1 JP 2018036904 W JP2018036904 W JP 2018036904W WO 2019069935 A1 WO2019069935 A1 WO 2019069935A1
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WO
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resin film
pattern
integrated circuit
circuit device
projecting
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Application number
PCT/JP2018/036904
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
和浩 岡村
大久保 剛
中込 祐一
剛史 瀬納
Original Assignee
シナプティクス・ジャパン合同会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Priority to CN201880064882.4A priority patent/CN111448650A/zh
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15172Fan-out arrangement of the internal vias
    • H01L2924/15173Fan-out arrangement of the internal vias in a single layer of the multilayer substrate

Definitions

  • the present invention relates to techniques for protecting integrated circuit devices from various events that cause abnormal operation of integrated circuits.
  • EMI electromagnetic interference
  • ESD electro-static discharge
  • temperature rise due to heat generation of integrated circuits
  • light incidence on integrated circuits and application to integrated circuits.
  • Mechanical force In particular, in mobile terminals, the occurrence of abnormal operation due to these events has been a problem due to the difficulty of implementation.
  • the integrated circuit device is joined to the flexible resin film, a plurality of wires joined to the surface of the resin film and arranged in a specific direction, and the surface of the resin film And the IC chip connected to the wiring, the IC chip and the wiring area being formed on the surface of the resin film, the IC chip and / or the wiring being arranged. It has a protective pattern located in the direction and formed of the same material as the wiring.
  • the electronic device is joined to the flexible resin film, the plurality of wires arranged in the specific direction and bonded to the surface of the resin film, and the surface of the resin film to the wires. And an IC chip which is offset in a direction perpendicular to the specific direction and connected to the wiring.
  • the resin film includes a main portion where the wiring and the IC chip are joined, and a protruding portion which protrudes from the main portion. The resin film is bent so that the projecting portion faces the main body portion.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing the structure of the COF package taken along the line AA of FIG. 3;
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing another structure of the COF package in the AA cross section of FIG. 3;
  • FIG. 5 is a plan view showing the configuration of the integrated circuit device in which the high speed interface of the IC chip is located apart from the protection pattern.
  • FIG. 14 illustrates the structure of the COF package of Fig. 13 when the resin film is bent at the position of the root of the protruding part. 13 further illustrates the structure of the COF package of FIG. 13 when the protruding portion is bent. It is a top view which shows the structure of the integrated circuit device in further another embodiment.
  • FIG. 18 is an enlarged plan view showing the structure of the projecting portion of the integrated circuit device of FIG. 17;
  • FIG. 18 is an enlarged plan view showing the arrangement of protection patterns in the protruding portion of the integrated circuit device of FIG. 17;
  • FIG. 22 in the state in which the resin film was bend
  • FIG. 24 It is a top view which shows the structure of the integrated circuit device of other embodiment.
  • FIG. 27 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a cross section BB of FIG. 26.
  • FIG. 29 is a plan view showing the structure of a COF package obtained by cutting the integrated circuit device of FIG. 28 at a cut line.
  • FIG. 29 is a plan view showing the structure of a COF package obtained by cutting the integrated circuit device of FIG. 28 at a cut line.
  • FIG. 26 is a plan view showing the layout of the FPC in the case where the protection pattern of the COF package shown in FIG. 25 is used as an electromagnetic shield that suppresses the application of noise to the wirings and / or circuit elements included in the FPC.
  • FIG. 31 is a plan view showing a structure of a COF package in a state in which a resin film is bent in mounting the COF package and the FPC illustrated in FIG. 30 on an electronic device.
  • FIG. 32 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a CC cross section of FIG. 31. It is a top view which shows the structure of the COF package in one modification. It is a top view which shows the structure of the COF package in another modification.
  • FIG. 45 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a DD cross section of FIG. 44.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example of the structure of the COF package when the stiffener is directly bonded to the body portion. It is a top view which shows the structure of the COF package in one modification. It is a top view which shows the structure of the COF package of FIG. 47 when a resin film is bend
  • FIG. 49 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a EE cross section of FIG. 48.
  • FIG. 52 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a cross section FF of FIG. 51.
  • FIG. 52 is a cross sectional view showing a structure of a COF package in a GG cross section of FIG. 51. It is a top view which shows the structure of the COF package in one modification.
  • COF chip on film
  • FIG. 1 is a plan view showing the structure of an integrated circuit device 10 according to an embodiment.
  • the integrated circuit device 10 includes a resin film 1, an IC chip 2, a plurality of wires 3, and a plurality of wires 4.
  • the resin film 1 is formed to be flexible and foldable.
  • the resin film 1 is formed of polyimide.
  • the wires 3 and 4 are formed of metal, for example, copper (Cu).
  • the IC chip 2 is bonded to the surface of the resin film 1 by surface mounting technology.
  • the IC chip 2 is integrated with an application specific IC (ASIC), for example, a display driver for driving a display panel.
  • ASIC application specific IC
  • wires 3 and 4 are bonded to the surface of the resin film 1 and connected to external connection pads (not shown) formed on the IC chip 2 through bumps (not shown).
  • Wires 3 are arranged side by side in the X axis direction in a region located in the -Y direction of IC chip 2
  • wires 4 are arranged side by side in the X axis direction in a region located in the + Y direction of IC chip 2.
  • the IC chip 2 is offset from the plurality of wires 3 in the + Y direction, and is offset from the plurality of wires 4 in the ⁇ Y direction.
  • the structure illustrated in FIG. 1 is repeated in the Y-axis direction to form a tape-like structure, which is wound on a reel.
  • the integrated circuit device 10 is cut along the cut line 5 defined in the resin film 1 while the tape-like structure is conveyed in a predetermined conveyance direction (in one embodiment, a direction parallel to the Y-axis direction), and IC
  • the portion 6 containing the chip 2 is removed as a COF package.
  • Conveying holes 7 are arranged in the conveying direction at both ends of the resin film 1, and the resin film 1 is conveyed in the conveying direction using the conveying holes 7.
  • the portion 6 including the IC chip 2 may be described as a COF package 6.
  • the extracted COF package 6 is finally mounted on an electronic device such as a portable device.
  • a high speed interface 2 a is integrated in the IC chip 2.
  • an interface compliant with MIPI-DSI mobile industry processor interface-digital serial interface
  • TIA / EIA-644 standard TIA / EIA-644-A standard
  • TIA / EIA-899 standard Low voltage differential signaling (LVDS) interface As an example of the high-speed interface 2a, an interface compliant with MIPI-DSI (mobile industry processor interface-digital serial interface), TIA / EIA-644 standard, TIA / EIA-644-A standard or TIA / EIA-899 standard Low voltage differential signaling (LVDS) interface.
  • the reference numeral 3a indicates one of the wires 3 connected to the high speed interface 2a.
  • the electromagnetic shield is installed to reduce the noise applied to the wiring 3.
  • a protection pattern 9 is formed at a position shifted in the + X direction with respect to the wiring arrangement region 8 in which the wiring 3 is arranged, and this protection pattern 9 is used as an electromagnetic shield.
  • the protective pattern 9 is simultaneously formed in the process of forming the wirings 3 and 4 on the surface of the resin film 1.
  • a conductive thin film such as a copper thin film is formed on the surface of the resin film 1 and the conductive thin film is etched to form the wirings 3 and 4.
  • the protection pattern 9 is formed simultaneously with the wires 3 and 4 in this process.
  • the protective pattern 9 is formed of the same material as the wires 3 and 4. When the wires 3 and 4 are formed of copper, the protective pattern 9 is also formed of copper.
  • the resin film 1 is cut along with the wires 3 and 4 at the cut line 5, and the COF package 6 is taken out as shown in FIG.
  • the resin film 1 of the COF package 6 includes a main body portion 11 and a protruding portion 12 which protrudes from the main body portion 11 in the + X direction.
  • An IC chip 2 and wires 3 and 4 are formed in the main body portion 11.
  • the body portion 11 comprises a pair of edges 11a, 11b parallel to the X axis and facing each other.
  • One end of each of the wires 3 is positioned close to the edge 11 a, and the other end is connected to the IC chip 2.
  • the wires 3 are arranged in the X-axis direction along the edge 11 a.
  • one end of each of the wires 4 is positioned close to the edge 11 b, and the other end is connected to the IC chip 2.
  • the wires 4 are arranged side by side in the X-axis direction along the edge 11 b.
  • the protective pattern 9 is formed on the projecting portion 12 of the resin film 1.
  • the COF package 6 taken out is bent at the position of the root of the projecting portion 12 of the resin film 1.
  • the position of the root of the protruding portion 12 is indicated by a broken line 13 as a position where the protruding portion 12 is joined to the main body portion 11.
  • the protection pattern 9 faces at least a part of the wiring 3.
  • the protection pattern 9 functions as an electromagnetic shield of the wiring 3 and noise applied to the wiring 3 is reduced.
  • the reduction of noise applied to the wiring 3a connected to the high speed interface 2a is effective for improving the reliability of data transfer.
  • the protection pattern 9 is formed on the discarded portion of the resin film 1, and the protection pattern 9 can be simultaneously formed in the process of forming the wirings 3 and 4. Therefore, noise reduction can be realized at low cost by bending the resin film 1 so that the protection pattern 9 faces the wiring 3 and using the protection pattern 9 as an electromagnetic shield.
  • the protection pattern 9 may face all the wires 3 or may face only a part of the wires 3. In one embodiment, after the resin film 1 is bent, the protection pattern 9 does not face all the wires 3 but may be disposed to face some of the wires 3 including the wires 3a. .
  • At least a part of the protective pattern 9 and / or the wiring 3 is covered with a resin film, for example, a solder resist 14.
  • the resin film prevents the contact between the protective pattern 9 and the wiring 3.
  • the wiring 3 is covered with the solder resist 14 except for a portion connected to another electronic component, for example, a flexible printed circuit board (FPC).
  • the entire wiring 3 may be coated with the solder resist 14.
  • the maximum allowable width dimension of the protective pattern 9 and the projecting portion 12 of the resin film 1 in the X-axis direction depends on the dimension of the wiring arrangement area 8 in the X-axis direction. For example, when many wires 3 are arranged in the X-axis direction in the wiring arrangement region 8, the dimension in the X-axis direction of the wiring arrangement region 8 is increased, and the protruding portions of the protection pattern 9 and the resin film 1 are increased. The maximum allowable dimension in the X-axis direction of 12 decreases.
  • the protective pattern 9 is electromagnetic It may occur that it is not arranged to cover the wiring 3 for which it is desirable to provide a shield. For example, as shown in FIG. 6, when the high speed interface 2a is positioned away from the protection pattern 9, even if the resin film 1 is bent at the root of the projecting portion 12, the high speed interface 2a is In some cases, it may not be possible to cover the wiring 3 a connected to the protective pattern 9.
  • the wiring 3 for which it is desirable to provide an electromagnetic shield is disposed at a position near the protection pattern 9.
  • the high speed interface 2 a and the wiring 3 a are disposed at a position near the protection pattern 9.
  • the high speed interface 2 a and the wiring 3 a are disposed at a position near the protection pattern 9.
  • the high speed interface 2 a are located in the first half 2 b close to the protection pattern 9.
  • the wiring 3a connected to the high-speed interface 2a is also arranged near the protection pattern 9, and the protection pattern 9 is used as an electromagnetic shield of the wiring 3a.
  • a protective pattern 9 1 located in the + X direction of the wiring arrangement region 8 a protection pattern 9 2 is provided which is located in the -X direction. Cut line 5, the protective pattern 9 1, 9 2 are defined to be included in the COF package 6A.
  • the resin film 1, the main body portion 11 includes a protrusion 12 1 projecting from the body portion 11 in the + X direction, and a projecting portion 12 2 projecting from the body portion 11 in the -X direction .
  • the protective patterns 9 1 and 9 2 are formed on the projecting portions 12 1 and 12 2 of the resin film 1.
  • the resin film 1 is bent at the positions of the roots of the protruding portions 12 1 and 12 2 to face the wiring 3 as shown in FIG.
  • the root positions of the projecting portions 12 1, 12 2, the protruding portions 12 1, 12 2 as the position of joining to the body portion 11 are indicated by respective dashed lines 13 1, 13 2.
  • more wires 3 can be provided with an electromagnetic shield as compared with the structure of FIG.
  • the protective pattern 9 1, 9 faces the at least one of the two, which makes it possible to reduce noise for all wires 3.
  • 11-16B illustrate one embodiment of bifurcating the protruding portion 12.
  • the cut line 5 provided in the integrated circuit device 10B of FIG. 11 is defined in a shape that matches the shape of the protection pattern 9B.
  • the protection pattern 9B includes a first pattern portion 21 extending in the + X direction, a second pattern portion 22 projecting in the + Y direction from the end of the first pattern portion 21 in the + X direction, and a second pattern And a third pattern portion 23 protruding in the ⁇ X direction from a position (in this embodiment, an end in the + Y direction of the second pattern portion 22 in the present embodiment) distant from the first pattern portion 21 of the portion 22.
  • the COF package 6B obtained by cutting the integrated circuit device 10B of FIG. 11 along the cut line 5 is a projecting portion in which the resin film 1 projects from the body portion 11 and the body portion 11 in the + X direction, as shown in FIG. It is equipped with 12B.
  • the protruding portion 12B is configured in a shape corresponding to the protection pattern 9B. Specifically, as shown in FIG. 14, the protruding portion 12B is joined to the main body portion 11 and the first portion 31 protruding from the main body portion 11 in the + X direction and the + Y direction from the + X direction end of the first portion 31 And a third portion 33 projecting in the ⁇ X direction from a position (in the present embodiment, the end in the + Y direction of the second portion 32) of the second portion 32 which is separated from the first portion 31 have.
  • the protective pattern 9B has a portion to be joined to the first portion 31 of the projecting portion 12B, a portion to be joined to the second portion 32, and a portion to be joined to the third portion 33. doing.
  • the first pattern portion 21 of the protection pattern 9B is joined to the first portion 31 of the protruding portion 12B.
  • the second pattern portion 22 of the protection pattern 9B has an end located in the -Y direction joined to the first portion 31 of the projecting portion 12B, and the remaining portion is joined to the second portion 32 of the projecting portion 12B.
  • the third pattern portion 23 of the protection pattern 9B is joined at its end located in the + X direction to the second portion 32 of the projecting portion 12B, and the remaining portion is joined to the third portion 33 of the projecting portion 12B.
  • the resin film 1 is diffracted twice. First, the resin film 1 is bent at the position of the root of the protruding portion 12B. In FIG. 13, the position of the root of the protruding portion 12B is indicated by a broken line 13B as a position where the protruding portion 12B is joined to the main body portion 11. FIG. 16A shows this folded state.
  • the protruding portion 12B of the resin film 1 is bonded to the third portion 33 of the protection pattern 9B at the position where the second portion 32 and the third portion 33 are bonded.
  • the portion where it is located is bent so as to face the wiring 3.
  • the end of the third portion 33 of the protection pattern 9B is farther from the position of the root of the projection 12B than the second portion 32 of the projection 12B, and the end of the projection 12B from the end of the protection pattern 9B
  • the distance to the position can be increased.
  • the protective pattern 9B can be made to face many wires 3, for example, the wires 3 located at a distance from the root of the projecting portion 12 in the -X direction. Can be provided with an electromagnetic shield.
  • the protection pattern 9C includes a first pattern portion 21 extending in the + X direction, a second pattern portion 22 projecting in the + Y direction from the end of the first pattern portion 21 in the + X direction, and a second pattern
  • the third pattern portion 23 protruding in the -X direction from the position (in this embodiment, the end in the + Y direction of the second pattern portion 22 in the present embodiment) of the portion 22 away from the first pattern portion 21
  • a fifth pattern portion 25 projecting in the + X direction.
  • the COF package 6C obtained by cutting the integrated circuit device 10C of FIG. 17 at the cut line 5 is, as shown in FIG. 19, a projecting portion in which the resin film 1 projects from the body portion 11 and the body portion 11 in the + X direction. It is equipped with 12C.
  • the protruding portion 12C is configured in a shape corresponding to the protection pattern 9C. Specifically, the protruding portion 12C is joined to the main body portion 11, and a first portion 31 which protrudes from the main body portion 11 in the + X direction, and a second portion 32 which protrudes from the end of the first portion 31 in the + X direction.
  • a third portion 33 projecting in the -X direction from a position (in this embodiment, an end in the + Y direction of the second portion 32 in the present embodiment) of the second portion 32 remote from the first portion 31;
  • the fourth portion 34 projecting in the + Y direction from the end in the X direction and a position away from the third portion 33 of the fourth portion 34 (in this embodiment, the end in the + Y direction of the fourth portion 34) protrudes in the + X direction And a fifth portion 35.
  • the protection pattern 9C is disposed across the first to fifth portions 31 to 35 of the projecting portion 12C, and is joined to the first to fifth portions 31 to 35 of the projecting portion 12C. It has a part.
  • the resin film 1 is diffracted three times.
  • the resin film 1 is bent at the position of the root of the protruding portion 12C.
  • the projecting portion 12C is bent at the position where the second portion 32 and the third portion 33 join, and the projecting portion 12C is bent at the position where the fourth portion 34 and the fifth portion 35 join.
  • the distance from the end of the protection pattern 9C to the position of the root of the protruding portion 12C can be increased, and the protection pattern 9C can be opposed to the many wirings 3. This means that many wires 3 can be provided with an electromagnetic shield.
  • the protection patterns 9, 9 1 , 9 2 , 9 B, 9 C are used as the electromagnetic shields of the wiring 3, but the protection patterns may be used to protect the IC chip 2.
  • the protection pattern can also be used as an electromagnetic shield of the IC chip 2.
  • the protective pattern is formed of metal, it has good thermal conductivity. By utilizing this property, the protection pattern can be used as a heat dissipation body for releasing the heat generated by the IC chip 2.
  • the protective pattern is formed of metal, the light shielding property is high. Using this property, the protection pattern can also be used as a light shield that suppresses the incidence of external light on the IC chip 2.
  • the protection pattern 9 is formed at a position shifted in the + X direction with respect to the IC placement area 20 in which the IC chip 2 is disposed.
  • the shape of the cut line 5 is changed in accordance with the position of the protection pattern 9.
  • the protection pattern 9 is an electromagnetic shield for suppressing the application of noise to the IC chip 2, a radiator for releasing heat generated by the IC chip 2, and external light for the IC chip 2. It is used as at least one of a light shield that suppresses incidence.
  • the COF package 6D obtained by cutting the integrated circuit device 10D of FIG. 21 at the cut line 5 is, as shown in FIG. 22, a projecting portion in which the resin film 1 projects from the body portion 11 and the body portion 11 in the + X direction. 12 and the protective pattern 9 is bonded to the projecting portion 12 of the resin film 1.
  • the resin film 1 is bent so that the protective pattern 9 faces the IC chip 2 at a broken line 13 shown in FIG.
  • FIG. 23 shows the state after bending, in which the IC chip 2 is covered with the protection pattern 9.
  • the protective pattern 9 is at least one of an electromagnetic shield of the IC chip 2, a heat sink for releasing heat generated by the IC chip 2, and a light shield for suppressing incidence of external light to the IC chip 2. Function.
  • the protection pattern 9 1 located in the + X direction of the IC placement area 20 is located in the -X direction protection pattern 9 2 and may be provided. Cut line 5, the protective pattern 9 1, 9 2 are defined to be included in the COF package 6E.
  • the COF package 6E obtained by cutting the integrated circuit device 10E of FIG. 24 at the cut line 5 is, as shown in FIG. 25, a projecting portion in which the resin film 1 protrudes from the body portion 11 and the body portion 11 in the + X direction. 12 1, and a projecting portion 12 2 projecting from the body portion 11 in the -X direction.
  • the protection patterns 9 1 and 9 2 are formed on the protruding portions 12 1 and 12 2 respectively.
  • the resin film 1 is bent at the positions of the roots of the protruding portions 12 1 and 12 2 .
  • the base of the position of the projecting portion 12 1, 12 2, protrusions 12 1, 12 2 as the position of joining to the body portion 11 are indicated by respective dashed lines 13 1, 13 2.
  • the resin film 1 is bent so that the protection patterns 9 1 and 9 2 face the IC chip 2.
  • the entire IC chip 2 is covered by at least one of the protection patterns 9 1 and 92 2 , whereby the electromagnetic shield of the IC chip 2 and the IC chip 2 are generated for the entire IC chip 2.
  • a heat dissipating member for releasing heat
  • a light blocking member for suppressing the incidence of external light on the IC chip 2.
  • in order to prevent the protection pattern 9 1, 9 2 contacts the IC chip 2 is protected pattern 9 1, 9 2 at least partially the resin film, for example, , And may be coated with a solder resist.
  • Protection pattern 9, 9 1, 9 2, 9B, 9C, the region and the wiring 3 IC chip 2 is disposed is formed so as to cover the both region arranged when the resin film 1 is folded May be
  • the protection pattern 9 is formed at a position shifted in the + X direction with respect to the IC wiring arrangement region 30 in which the IC chip 2 and the wiring 3 are arranged.
  • the shape of the cut line 5 is changed in accordance with the shape and position of the protection pattern 9.
  • the protection pattern 9 is used as an electromagnetic shield for suppressing the application of noise to the wiring 3, and further, an electromagnetic shield for suppressing the application of noise to the IC chip 2 and the IC chip 2 are generated. It is used as at least one of a heat dissipating member for releasing heat and a light blocking member for suppressing the incidence of external light to the IC chip 2.
  • the COF package 6F obtained by cutting the integrated circuit device 10F of FIG. 28 at the cut line 5 is, as shown in FIG. 29, a projecting portion in which the resin film 1 protrudes from the body portion 11 and the body portion 11 in the + X direction. 12 and the protective pattern 9 is bonded to the projecting portion 12 of the resin film 1.
  • the resin film 1 is bent so that the protection pattern 9 faces the IC chip 2 and the wiring 3.
  • the position of the root of the projecting portion 12, that is, the position where the resin film 1 is bent is indicated by a broken line 13.
  • the protective patterns 9, 9 1 , 9 2 , 9B, 9C are wirings and / or circuit elements included in the FPC It may be used as an electromagnetic shield that suppresses the application of noise to the sensor. If protection pattern 9 1 of the COF package 6E depicted in Figure 25, 9 2, used for suppressing electromagnetic shielding wiring and / or the application of noise to the circuit elements included in the FPC 40, as shown in FIG. 30 Then, the resin film 1 is bent at the positions of the roots of the protruding portions 12 1 and 12 2 . In Figure 30, the base of the position of the projecting portion 12 1, projecting portions 12 1, 12 2 as the position of joining to the body portion 11 are indicated by respective dashed lines 13 1, 13 2.
  • the resin film 1 is bent so that the protection patterns 9 1 and 9 2 face the IC chip 2 and / or the wiring 3 with the FPC 40 interposed therebetween, as shown in FIGS.
  • the protective pattern 9 1, 9 2 covers at least a portion of the FPC 40, it is possible to effectively suppress the application of noise to the wiring and / or circuit elements included in the FPC 40.
  • the resin film 1 is formed with a holding structure for holding the projecting portions 12, 12 1 , 12 2 , 12B, 12C when the resin film 1 is bent.
  • an insertion hole may be formed in the resin film 1 into which the tip end of the projecting portions 12, 12B, 12C is inserted when the resin film 1 is bent.
  • the protruding portions 12, 12B and 12C are inserted into the insertion holes and held at their tips.
  • Such a structure is particularly suitable for the protective patterns 9, 9B, 9C and the projecting portions 12, 12B, 12C of the resin film 1 with respect to the regions 8, 20, 30 in which the IC chip 2 and / or the wiring 3 are disposed. It is disposed only in a specific direction, and is effective when the tip of the protruding portion reaches the position in the opposite direction of the IC chip 2 and the wiring 3 when the resin film 1 is bent.
  • the COF package 6G corresponds to three folds, similar to the COF package 6C shown in FIG.
  • a protective pattern 9C located in the + X direction with respect to the IC wiring arrangement region 30 is formed on the projecting portion 12C of the resin film 1.
  • the structure of the protective pattern 9C is illustrated in FIG. 18, and the structure of the projecting portion 12C of the resin film 1 is illustrated in FIGS. 20A and 20B.
  • the insertion hole 41 is formed in the resin film 1.
  • the insertion hole 41 has a shape in which the tip of the protruding portion 12C can be inserted.
  • the resin film 1 is diffracted three times. Specifically, the resin film 1 is bent at the position of the root of the protruding portion 12C, and the protruding portion 12C is bent at the position where the second portion 32 and the third portion 33 join, and further, the fourth portion 34 and It is bent at the position where the fifth portion 35 is joined. After the protruding portion 12C is bent at the position where the fourth portion 34 and the fifth portion 35 join, the tip end of the protruding portion 12C is inserted into the insertion hole 41. Thereby, the tip of the protruding portion 12C is held.
  • the tip of the projection is formed with a retaining structure for preventing the tip of the projection from coming out of the insertion hole.
  • the COF package 6G has a structure similar to that of the COF package 6G shown in FIG. 33, but a retaining structure is formed at the tip of the projecting portion 12C.
  • a wide portion 42 is formed at the tip of the protruding portion 12C, and when the tip of the protruding portion 12C is inserted into the insertion hole 41, the wide portion 42 is caught in the insertion hole 41, whereby the tip of the protruding portion 12C is held. Ru. According to such a structure, the tip end of the protruding portion 12C can be held more reliably.
  • the structure for holding the tip of the projecting portion of the resin film 1 by the insertion hole It can be adopted.
  • Two protective pattern 9 1, 9 2 and two projecting parts 12 1, 12 2 are disposed to face each other across a region 8,20,30 which the IC chip 2 and / or the wiring 3 is disposed If present, in one embodiment, the two projecting portions may be configured to fit and hold each other when the resin film 1 is folded.
  • the protruding portions 12 1, 12 2, mateable fitting structure 43 1, 43 2 are respectively provided with each other. Recess provided in the projecting portion 12 1 of the -Y direction of the edge as the mating structure 431 which is formed, fitting structure 43 1 constitutes the first hook. Recess provided in the projecting portion 12 2 of the + Y direction of the edge as the mating structure 43 2 and is formed to constitute the second hook.
  • the resin film 1, the main body portion 11 and the projecting portions 12 1, 12 2 is bent at the position of joining. Furthermore, the protruding portions 12 1, 12 2 first hook and hooked provided with mating structure second hook mutually provided in each of the 43 1, 43 2 are fitted to each other, thereby, the protruding portions 12 1 , 12 2 is retained.
  • the portion to be connected to the main body portion of the protruding portion is formed thin. May be
  • COF package 6J the portion bonded to the main body portion 11 of the projecting portions 12 1, 12 2, the width in the Y-axis direction is formed thin.
  • the projecting portion 12 1 has a root portion 12a to be bonded to the main body portion 11 of the resin film 1, and a protruding body portion 12b joined to the base portion 12a in the + X direction.
  • the width in the Y-axis direction of the root portion 12a is narrower than the width in the Y-axis direction of the protruding main portion 12b.
  • the resin film 1 projecting portion 12 1 and the body portion 11, 12 2 can be easily be folded in a position to be joined. This is preferable to reduce the number of steps.
  • the structure which thinly forms the part joined to the main-body part of a protrusion part is applicable also to another embodiment.
  • the protection patterns may be connected to the ground line.
  • it is connected to a ground line 3b with the protective pattern 9 1 wiring 44 1 of the COF package 6J
  • protection pattern 9 2 is connected to the ground line 3c by a wiring 44 2. According to this structure, since the protection pattern 9 1, 9 2 is grounded, protection pattern 9 1, 9 2 functions more effectively as an electromagnetic shield.
  • the protection patterns 9, 9 1 , 9 2 , 9B, 9C can be implemented in various forms.
  • at least a portion of the protection pattern 9 is covered by a resin film, for example, a solder resist 45. According to such a structure, the protection pattern 9 can be prevented from being in direct contact with the IC chip 2 or the wiring 3.
  • an opening 45a may be provided in the solder resist 45.
  • the protection pattern 9 can directly contact the object to be protected via the opening 45a.
  • the protective pattern 9 may be in direct contact with the IC chip 2.
  • the protection patterns 9, 9 1 , 9 2 , 9B, 9C may be formed as an assembly of a plurality of conductors 46 which are separated from one another and extend in a specific direction.
  • the protective pattern 9, 9 1, 9 2, 9B, at least a portion of 9C, the resin film, for example, may be coated with a solder resist 45.
  • the resin film 1 of the COF package 6K includes the main body portion 11 and the projecting portion 12 which protrudes in the + X direction from the IC placement area 20 where the IC chip 2 of the main body portion 11 is disposed.
  • FIG. 43 is a view of the COF package 6K as viewed from the back surface of the resin film 1, that is, the surface opposite to the surface to which the IC chip 2 is bonded. Is indicated by a dotted line.
  • the protruding portion 12 is located in the + X direction with respect to the IC chip 2.
  • the resin film 1 faces the back surface 11a of the main body portion 11 at the position of the base of the projection portion 12. Is bent. Furthermore, the stiffener 51 is joined to the projecting portion 12 at a position facing the IC chip 2.
  • the stiffener 51 is a protective structure provided to prevent damage to the IC chip 2 when a mechanical force is applied, and in one embodiment is formed as a metal plate.
  • the protruding portion 12 is bonded to the back surface 11 a of the main body portion 11 with the adhesive 52, and the stiffener 51 is bonded to the surface of the protruding portion 12 opposite to the surface to be bonded to the back surface 11 a of the main body portion 11. It is adhered by the agent 53.
  • Such a structure is effective to suppress the influence of damage that may occur in the process of mounting the stiffener 51 on the COF package 6K.
  • the burrs 51a formed on the edge of the stiffener 51 can penetrate the resin film 1 There is sex. This can cause damage that affects the operation of the electronic device.
  • the burrs 51a formed on the edges of the stiffeners 51 do not easily penetrate the main body portion 11 of the resin film 1 and damage affecting the operation of the electronic device The occurrence can be suppressed.
  • the projecting portion 12 may be provided with an opening 54.
  • the resin film 1 is bent at the position of the root of the protruding portion 12 and the stiffener 51 is joined to the protruding portion 12 so as to close the opening 54.
  • Providing the openings 54 is effective for facilitating the alignment of the stiffeners 51 and suppressing the displacement of the stiffeners 51.
  • the resin film 1 of the COF package 6L is a body portion 11, a protrusion 12 1 projecting from the IC placement area 20 of the body portion 11 in the + X direction, -X from the IC placement area 20 and a projecting portion 12 2 projecting direction.
  • FIG. 47 is a view of the COF package 6L as viewed from the back surface of the resin film 1.
  • Such a structure is also effective for suppressing the influence of damage that may occur in the process of mounting the stiffener 51 on the COF package 6K.
  • the structure of the COF package 6L of the present embodiment in which two projecting portions 12 1 and 12 2 are provided is effective when the maximum allowable dimension of the projecting portions 12 1 and 12 2 in the X-axis direction is small. is there.
  • the resin film 1 has the main body portion 11 and the projecting portions 12 , 121 , 12 In order to facilitate bending at the joining position of 2 and 3, the portion to be joined to the main portion of the projecting portion may be formed thin.
  • the portion of the projecting portion 12 to be joined to the main body portion 11 is formed to have a narrow width in the Y-axis direction.
  • the projecting portion 12 has a root portion 12a joined to the main body portion 11 of the resin film 1 and a projecting main portion 12b joined to the root portion 12a in the + X direction.
  • the width in the Y-axis direction of the root portion 12a is narrower than the width in the Y-axis direction of the protruding main portion 12b.
  • the width in the Y axis direction of the root portion 12a is the Y axis direction of the projecting main portion 12b. It is narrower than the width of the However, only one of the recesses 15a and 15b may be formed. According to such a structure, it becomes easy to bend the resin film 1 at the position where the main body portion 11 and the protruding portion 12 are joined.
  • Embodiments of the present disclosure may also be expressed as follows.
  • an integrated circuit device is bonded to a flexible resin film, a plurality of wires bonded to the surface of the resin film, and arranged in a first direction, and the surface of the resin film.
  • An IC chip which is offset from the plurality of wires in a direction perpendicular to the first direction and is connected to the plurality of wires, and is bonded to the surface of the resin film, the IC chip and / or A first protection pattern is provided, which is located in the first direction with respect to the arrangement region in which the plurality of wirings are arranged, and is formed of the same material as the plurality of wirings.
  • the resin film may include a main body portion in which the plurality of wirings and the IC chip are joined, and a first protruding portion which protrudes from the main body portion in the first direction.
  • the first protective pattern may be bonded to the first projecting portion of the resin film.
  • a recess may be formed at a position where the main body portion of the resin film and the first projecting portion are joined.
  • the first protective pattern may be covered by a resin film.
  • an opening may be formed in the resin film.
  • the first protection pattern may include a plurality of conductors extending in a specific direction.
  • an electronic device is joined to a flexible resin film, a plurality of wires joined to the surface of the resin film and arranged in the first direction, and the surface of the resin film, And an IC chip which is offset from the plurality of wires in the direction perpendicular to the first direction and connected to the plurality of wires.
  • the resin film includes a main body portion in which the plurality of wires and the IC chip are joined, and a first projecting portion which protrudes from the main body portion.
  • the first protective pattern is joined to the first projecting portion of the resin film, and the resin film is bent so that the first projecting portion faces the main body portion.
  • the electronic device may further include a first protection pattern bonded to the surface of the resin film and formed of the same material as the plurality of wires.
  • the resin film may be bent such that the first protective pattern faces at least a part of the plurality of wirings and / or the IC chip.
  • the electronic device may further include a second protection pattern bonded to the surface of the resin film and formed of the same material as the plurality of wires.
  • the resin film may further include a second protruding portion protruding from the main body portion.
  • the second projecting portion may be joined to the main body portion at a position opposite to a position where the first projecting portion is joined to the main body portion, and the second protection pattern may be joined to the second projecting portion .
  • the resin film may be bent such that the first protection pattern and the second protection pattern face at least a part of the plurality of wirings and / or the IC chip.
  • the electronic device may further include a flexible wiring substrate disposed to face the main body portion of the resin film, and the resin film includes the first protection pattern and the first protection pattern.
  • the protection pattern may be bent so as to face the at least a part of the wiring and / or the IC chip with the flexible wiring board interposed therebetween.
  • the first protection pattern includes a first pattern portion extending in a second direction, and a second protrusion extending in a direction perpendicular to the second direction from an end of the first pattern portion in the second direction.
  • the semiconductor device may include a pattern portion, and a third pattern portion protruding in a third direction opposite to the second direction from a position separated from the first pattern portion of the second pattern portion.
  • the first projecting portion is joined to the main body portion, and a first portion protruding from the main body portion in the second direction and a direction perpendicular to the second direction from an end of the first portion in the second direction And a third portion projecting in the third direction from a position distant from the first portion of the second portion.
  • the first pattern portion of the first protective pattern is bonded to the first portion of the first projecting portion, and the second pattern portion of the first protective pattern is bonded to the second portion of the first projecting portion
  • the third pattern portion of the first protection pattern may be bonded to the third portion of the first projecting portion.
  • the resin film includes the body portion and the first portion and the third pattern portion of the first protection pattern so as to face at least a portion of the plurality of wires and / or the IC chip. It may be bent at a position where the first projecting portion is joined to the first portion, and a position where the second portion and the third portion of the first projecting portion are joined.

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Abstract

集積回路装置が、柔軟性がある樹脂フィルムと、樹脂フィルムの表面に接合され特定方向に並んで配置された複数の配線と、樹脂フィルムの表面に接合され、該配線に対して該特定方向に垂直な方向にずれて位置し、該配線に接続されたICチップと、樹脂フィルムの表面に形成され、ICチップ及び/又は該配線が配置されている配置領域に対して該特定方向に位置しており、該配線と同一の材料で形成された保護パターンとを具備している。

Description

集積回路装置及び電子機器
 本発明は、集積回路の異常動作を誘起する様々な事象から集積回路装置を保護する技術に関する。
 集積回路の異常動作を誘起する様々な事象が当業者に知られている。集積回路の異常動作を誘起する事象の例としては、例えば、EMI(electromagnetic interference)、ESD(electro-static discharge)、集積回路の発熱による温度上昇、集積回路への光入射、集積回路に印加される機械的力が挙げられる。特に、携帯端末では、実装の困難性により、これらの事象による異常動作の発生が課題になっている。
 一の観点では、集積回路装置が、柔軟性がある樹脂フィルムと、樹脂フィルムの表面に接合され特定方向に並んで配置された複数の配線と、樹脂フィルムの表面に接合され、該配線に対して該特定方向に垂直な方向にずれて位置し、該配線に接続されたICチップと、樹脂フィルムの表面に形成され、ICチップ及び/又は配線が配置されている配置領域に対して該特定方向に位置しており、該配線と同一の材料で形成された保護パターンとを具備している。
 他の観点では、電子機器が、柔軟性がある樹脂フィルムと、樹脂フィルムの表面に接合され、特定方向に並んで配置された複数の配線と、樹脂フィルムの表面に接合され、該配線に対して該特定方向に垂直な方向にずれて位置し、該配線に接続されたICチップとを具備する。樹脂フィルムは、配線とICチップとが接合された本体部分と、本体部分から突出する突出部分とを含む。樹脂フィルムは、突出部分が本体部分に対向するように折り曲げられている。
一実施形態の集積回路装置の構造を示す平面図である。 一実施形態におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが折り曲げられた状態でのCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図3のA-A断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 図3のA-A断面におけるCOFパッケージの他の構造を示す断面図である。 ICチップの高速インターフェースが保護パターンから離れて位置している集積回路装置の構成を示す平面図である。 高速インターフェースが、ICチップの保護パターンに近い半分に位置している集積回路装置の構成を示す平面図である。 他の実施形態の集積回路装置の構造を示す平面図である。 図8の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが折り曲げられた状態における図9のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムを2回折りする集積回路装置の構造を示す平面図である。 図11の集積回路装置の保護パターンの構造を示す平面図である。 図11の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図11の集積回路装置の突出部分の構造を示す拡大平面図である。 図11の集積回路装置の突出部分における保護パターンの配置を示す拡大平面図である。 樹脂フィルムが突出部分の根元の位置で折り曲げられたときの図13のCOFパッケージの構造を図示している。 更に突出部分が折り曲げられたときの図13のCOFパッケージの構造を図示している。 更に他の実施形態における集積回路装置の構造を示す平面図である。 図17の集積回路装置の保護パターンの構造を示す拡大平面図である。 図17の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図17の集積回路装置の突出部分の構造を示す拡大平面図である。 図17の集積回路装置の突出部分における保護パターンの配置を示す拡大平面図である。 更に他の実施形態の集積回路装置の構造を示す平面図である。 図21の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが折り曲げられた状態での図22のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 更に他の実施形態の集積回路装置の構造を示す平面図である。 図24の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが折り曲げられた状態での図25のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図26のB-B断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 更に他の実施形態の集積回路装置の構造を示す平面図である。 図28の集積回路装置をカットラインで切断して得られるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図25に図示されているCOFパッケージの保護パターンが、FPCに含まれる配線及び/又は回路素子へのノイズの印加を抑制する電磁シールドとして用いられる場合のFPCの配置を示す平面図である。 図30に図示されているCOFパッケージ及びFPCの電子機器への実装において樹脂フィルムが折り曲げられた状態のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図31のC-C断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 一変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 他の変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 更に他の変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 更に他の変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図36のCOFパッケージの樹脂フィルムの突出部分の構造を示す平面図である。 更に他の変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 一変形例における保護パターンの実装を示す平面図である。 他の変形例における保護パターンの実装を示す平面図である。 更に他の変形例における保護パターンの実装を示す平面図である。 更に他の変形例における保護パターンの実装を示す平面図である。 更に他の実施形態におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが突出部分の根元の位置で折り曲げられたときの図43のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図44のD-D断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 スティフナーが本体部分に直接に接合されたときのCOFパッケージの構造の例を示す断面図である。 一変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが突出部分の根元の位置で折り曲げられたときの図47のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図48のE-E断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 更に他の実施形態におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。 樹脂フィルムが突出部分の根元の位置で折り曲げられたときの図50のCOFパッケージの構造を示す平面図である。 図51のF-F断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 図51のG-G断面におけるCOFパッケージの構造を示す断面図である。 一変形例におけるCOFパッケージの構造を示す平面図である。
 以下では、添付図面を参照しながら、一実施形態の集積回路装置及び電子機器について説明する。なお、図面において、同一又は類似の構成要素は、同一又は対応する参照番号で参照されることがある。また、添付図面においては、以下の開示の技術的内容を理解しやすくするために、各部材の寸法が正確な縮尺で描かれていないことがある。
 以下では、COF(chip on film)技術が適用されている集積回路装置及び電子機器の実施形態が説明される。なお、COFは、柔軟性がある樹脂フィルムの表面に配線とICチップとを実装する技術の一例であり、ここに開示される技術は、他の実装技術にも適用可能であることに留意されたい。
 図1は、一実施形態の集積回路装置10の構造を示す平面図である。集積回路装置10は、樹脂フィルム1と、ICチップ2と、複数の配線3と、複数の配線4とを備えている。樹脂フィルム1は、柔軟性があり、折りたたむことが可能である(foldable)ように形成される。一実施形態では、樹脂フィルム1は、ポリイミドで形成される。配線3、4は、金属、例えば、銅(Cu)で形成される。
 ICチップ2は、樹脂フィルム1の表面に表面実装技術によって接合されている。一実施形態では、ICチップ2には、ASIC(application specific IC)、例えば、表示パネルを駆動する表示ドライバが集積化される。
 配線3、4は、樹脂フィルム1の表面に接合されており、バンプ(図示されない)を介してICチップ2に形成された外部接続パッド(図示されない)に接続されている。配線3は、ICチップ2の-Y方向に位置する領域にX軸方向に並んで配置されており、配線4は、ICチップ2の+Y方向に位置する領域にX軸方向に並んで配置されている。ICチップ2は、複数の配線3に対して+Y方向にずれて位置しており、複数の配線4に対して-Y方向にずれて位置していることになる。
 例えば、図1に図示されている構造は、Y軸方向に繰り返されてテープ状構造体を形成し、これがリールに巻回される。当該テープ状構造体は、所定の搬送方向(一実施形態では、Y軸方向に平行な方向)に搬送されながら、樹脂フィルム1に規定されたカットライン5で集積回路装置10が切断され、ICチップ2を含む部分6が、COFパッケージとして取り出される。樹脂フィルム1の両端には、搬送穴7が搬送方向に並んで配置されており、樹脂フィルム1は、搬送穴7を用いて当該搬送方向に搬送される。以下では、ICチップ2を含む部分6を、COFパッケージ6と記述することがある。取り出されたCOFパッケージ6が、最終的に携帯機器等の電子機器に実装される。
 ICチップ2には、高速インターフェース2aが集積化されている。高速インターフェース2aの例としては、MIPI-DSI(mobile industry processor interface-digital serial interface)に準拠したインターフェース、TIA/EIA-644規格、TIA/EIA-644-A規格又はTIA/EIA-899規格に準拠したLVDS(low voltage differential signaling)インターフェースが挙げられる。符号3aは、配線3のうち、高速インターフェース2aに接続されているものを示している。
 本実施形態では、電磁シールドを設置して配線3に印加されるノイズが低減される。詳細には、配線3が配置されている配線配置領域8に対して+X方向にずれた位置に保護パターン9が形成され、この保護パターン9が電磁シールドとして用いられる。保護パターン9は、樹脂フィルム1の表面に配線3、4を形成するプロセスにおいて同時に形成される。一実施形態では、樹脂フィルム1の表面に、銅薄膜等の導電体薄膜が形成され、その導電体薄膜がエッチングされることにより、配線3、4が形成される。保護パターン9は、このプロセスにおいて配線3、4と同時に形成される。この場合、保護パターン9は、配線3、4と同一の材料で形成されることになる。配線3、4が銅で形成される場合、保護パターン9も銅で形成される。
 この集積回路装置10を電子機器に実装する場合、まず、樹脂フィルム1が配線3、4と共にカットライン5で切断され、図2に示すようにCOFパッケージ6が取り出される。
 COFパッケージ6の樹脂フィルム1は、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12とを備えている。本体部分11にはICチップ2と配線3、4が形成されている。詳細には、本体部分11は、X軸に平行で互いに対向する一組のエッジ11a、11bを備えている。配線3のそれぞれは、その一端がエッジ11aに近接して位置しており、他端がICチップ2に接続されている。配線3は、エッジ11aに沿ってX軸方向に並んで配置されている。また、配線4のそれぞれは、その一端がエッジ11bに近接して位置しており、他端がICチップ2に接続されている。配線4は、エッジ11bに沿ってX軸方向に並んで配置されている。保護パターン9は、樹脂フィルム1の突出部分12に形成されている。
 取り出されたCOFパッケージ6は、図3、図4に示すように、樹脂フィルム1の突出部分12がその根元の位置において折り曲げられる。図2では、突出部分12の根元の位置は、突出部分12が本体部分11に接合する位置として破線13で示されている。この折り曲げにより、図3に示すように、保護パターン9が配線3の少なくとも一部に対向する。このように、電子機器への実装時、保護パターン9が配線3に対向することにより、配線3の電磁シールドとして機能し、配線3に印加されるノイズが低減される。例えば、高速インターフェース2aに接続される配線3aに印加されるノイズの低減は、データ転送の信頼性の向上に有効である。
 更に、保護パターン9は、樹脂フィルム1の廃棄される部分に形成されており、また、保護パターン9は、配線3、4を形成するプロセスにおいて同時に形成可能である。したがって、保護パターン9を配線3に対向するように樹脂フィルム1を折り曲げ、保護パターン9を電磁シールドとして使用することにより、低コストでノイズ低減を実現できる。
 保護パターン9は、全ての配線3に対向してもよく、一部の配線3のみに対向していてもよい。一実施形態では、保護パターン9が、樹脂フィルム1が折り曲げられた後において、全ての配線3に対向していないが、配線3aを含む一部の配線3に対向するように配置されてもよい。
 図5の一実施形態では、保護パターン9及び/又は配線3の少なくとも一部が、樹脂皮膜、例えば、ソルダーレジスト14で被覆されている。この樹脂皮膜は、保護パターン9と配線3との接触を防ぐ。この場合、例えば、配線3は、他の電子部品、例えば、フレキシブル配線基板(FPC:flexible printed circuit board)に接続される部分を除き、ソルダーレジスト14で被覆される。配線3の全体がソルダーレジスト14で被覆されてもよい。
 保護パターン9及び樹脂フィルム1の突出部分12のX軸方向の許容される最大の幅寸法は、配線配置領域8のX軸方向の寸法に依存している。例えば、配線配置領域8に多くの配線3がX軸方向に並んで配置されている場合には、配線配置領域8のX軸方向の寸法が増大し、保護パターン9及び樹脂フィルム1の突出部分12のX軸方向の許容される最大の寸法は小さくなる。
 保護パターン9及び樹脂フィルム1の突出部分12のX軸方向の許容される最大の寸法が小さい場合には、樹脂フィルム1を突出部分12の根元の位置で折り曲げても、保護パターン9が、電磁シールドを設けることが望ましい配線3を覆うように配置されないことが生じ得る。例えば、図6に図示されているように、高速インターフェース2aが、保護パターン9から離れて位置している場合には、樹脂フィルム1を突出部分12の根元の位置で折り曲げても、高速インターフェース2aに接続されている配線3aを保護パターン9で覆うことができない場合が生じ得る。
 このような問題に対応するために、一実施形態では、電磁シールドを設けることが望ましい配線3が保護パターン9の近くの位置に配置される。例えば、高速インターフェース2a及び配線3aが、保護パターン9の近くの位置に配置される。一実施形態では、図7に示すように、ICチップ2について、ICチップ2のX軸方向における中心の位置を境界として第1半分部分2b及び第2半分部分2cを定義したとき、高速インターフェース2aは、保護パターン9に近い第1半分部分2bに位置している。これに伴い、高速インターフェース2aに接続される配線3aも保護パターン9の近くに配置され、保護パターン9が、配線3aの電磁シールドとして使用される。
 他の実施形態では、図8及び図9に図示されているように、配線配置領域8の+X方向に位置する保護パターン9と、-X方向に位置する保護パターン9とが設けられる。カットライン5は、保護パターン9、9がCOFパッケージ6Aに含まれるように規定される。
 このCOFパッケージ6Aでは、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12と、本体部分11から-X方向に突出する突出部分12とを備えている。保護パターン9、9は、樹脂フィルム1の突出部分12、12に形成されている。
 COFパッケージ6の電子機器への実装時、樹脂フィルム1が、突出部分12、12の根元の位置において折り曲げられ、図10に示すように配線3に対向する。図9では、突出部分12、12の根元の位置は、突出部分12、12が本体部分11に接合する位置として、それぞれ破線13、13で示されている。
 この構造では、図3の構造と比較して、より多くの配線3に電磁シールドを提供することができる。例えば、全ての配線3が、保護パターン9、9のうちの少なくとも一方に対向しており、これにより、全ての配線3についてノイズを低減することができる。
 図11~図16Bは、突出部分12を2回折りする一実施形態を示す。
 図11の集積回路装置10Bに設けられるカットライン5は、保護パターン9Bの形状に合わせた形状に規定される。保護パターン9Bは、図12に示すように、+X方向に延伸する第1パターン部分21と、第1パターン部分21の+X方向の端から+Y方向に突出する第2パターン部分22と、第2パターン部分22の第1パターン部分21から離れた位置(本実施形態では、第2パターン部分22の+Y方向の端)から-X方向に突出する第3パターン部分23とを有している。
 図11の集積回路装置10Bをカットライン5で切断して得られるCOFパッケージ6Bは、図13に示すように、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12Bを備えている。
 突出部分12Bは、保護パターン9Bに対応する形状に構成されている。詳細には、図14に示すように、突出部分12Bは、本体部分11に接合し、本体部分11から+X方向に突出する第1部分31と、第1部分31の+X方向の端から+Y方向に突出する第2部分32と、第2部分32の第1部分31から離れた位置(本実施形態では、第2部分32の+Y方向の端)から-X方向に突出する第3部分33とを有している。
 保護パターン9Bは、図15に示すように、突出部分12Bの第1部分31に接合される部分と、第2部分32に接合される部分と、第3部分33に接合される部分とを有している。詳細には、保護パターン9Bの第1パターン部分21は、突出部分12Bの第1部分31に接合されている。保護パターン9Bの第2パターン部分22は、-Y方向に位置する端部が突出部分12Bの第1部分31に接合され、残部は、突出部分12Bの第2部分32に接合されている。保護パターン9Bの第3パターン部分23は、+X方向に位置する端部が突出部分12Bの第2部分32に接合され、残部は、突出部分12Bの第3部分33に接合されている。
 図13に戻り、COFパッケージ6Bが電子機器に実装される場合、樹脂フィルム1が2回折りされる。まず、樹脂フィルム1が、突出部分12Bの根元の位置において折り曲げられる。図13では、突出部分12Bの根元の位置が、突出部分12Bが本体部分11に接合する位置として破線13Bで示されている。図16Aは、この折り曲げ状態を示す。
 更に、図16Bに図示されているように、樹脂フィルム1の突出部分12Bが、第2部分32と第3部分33とが接合する位置で、保護パターン9Bのうち第3部分33に接合されている部分が配線3に対向するように折り曲げられる。この状態では、保護パターン9Bの第3部分33の端は、突出部分12Bの第2部分32よりも突出部分12Bの根元の位置から離れており、保護パターン9Bの端から突出部分12Bの根元の位置までの距離を増大させることができる。このような構造によれば、保護パターン9Bを多くの配線3に、例えば突出部分12の根元から-X方向に離れた位置にある配線3にも対向させることができ、よって、多くの配線3に電磁シールドを設けることができる。
 樹脂フィルム1を3回以上折り畳むことで、保護パターンの端から突出部分の根元の位置までの距離を更に増大することも可能である。図17~図20Bは、樹脂フィルム1を3回折り畳む一実施形態を示す。
 図17に図示された集積回路装置10Cに設けられるカットライン5の形状も、図11と同様に、保護パターン9Cの形状に合わせて変更される。図18に示すように、保護パターン9Cは、+X方向に延伸する第1パターン部分21と、第1パターン部分21の+X方向の端から+Y方向に突出する第2パターン部分22と、第2パターン部分22の第1パターン部分21から離れた位置(本実施形態では、第2パターン部分22の+Y方向の端)から-X方向に突出する第3パターン部分23と、第3パターン部分23の-X方向の端から+Y方向に突出する第4パターン部分24と、第4パターン部分24の第3パターン部分23から離れた位置(本実施形態では、第4パターン部分24の+Y方向の端)から+X方向に突出する第5パターン部分25とを有している。
 図17の集積回路装置10Cをカットライン5で切断して得られるCOFパッケージ6Cは、図19に示すように、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12Cを備えている。
 図20Aに図示されているように、突出部分12Cは、保護パターン9Cに対応する形状に構成されている。詳細には、突出部分12Cは、本体部分11に接合し、本体部分11から+X方向に突出する第1部分31と、第1部分31の+X方向の端から+Y方向に突出する第2部分32と、第2部分32の第1部分31から離れた位置(本実施形態では、第2部分32の+Y方向の端)から-X方向に突出する第3部分33と、第3部分33の-X方向の端から+Y方向に突出する第4部分34と、第4部分34の第3部分33から離れた位置(本実施形態では、第4部分34の+Y方向の端)から+X方向に突出する第5部分35とを有している。
 保護パターン9Cは、図20Bに示すように、突出部分12Cの第1~第5部分31~35にまたがって配置されており、突出部分12Cの第1~第5部分31~35に接合される部分を有している。
 図19に戻り、COFパッケージ6Cが電子機器に実装される場合、樹脂フィルム1が3回折りされる。樹脂フィルム1が、突出部分12Cの根元の位置において折り曲げられる。更に、突出部分12Cが、第2部分32と第3部分33とが接合する位置において折り曲げられ、更に、突出部分12Cが、第4部分34と第5部分35とが接合する位置において折り曲げられる。このような構造では、保護パターン9Cの端から突出部分12Cの根元の位置までの距離を増大させることができ、保護パターン9Cを多くの配線3に対向させることができる。これは、多くの配線3に電磁シールドを設けることができることを意味している。
 上述の実施形態では、保護パターン9、9、9、9B、9Cが、配線3の電磁シールドとして用いられるが、保護パターンは、ICチップ2の保護のために用いられてもよい。例えば、保護パターンは、ICチップ2の電磁シールドとしても使用可能である。また、保護パターンは、金属で形成されているので熱伝導性がよい。この性質を利用して、保護パターンは、ICチップ2が発生する熱を放出するための放熱体として利用可能である。また、保護パターンは、金属で形成されているので遮光性が高い。この性質を利用して、保護パターンは、ICチップ2への外光の入射を抑制する遮光体としても利用可能である。
 図21に示す一実施形態では、保護パターン9が、ICチップ2が配置されているIC配置領域20に対して+X方向にずれた位置に形成されている。カットライン5の形状は、保護パターン9の位置に合わせて変更される。図21の構造では、保護パターン9は、ICチップ2へのノイズの印加を抑制するための電磁シールド、ICチップ2が発生する熱を放出するための放熱体、ICチップ2への外光の入射を抑制する遮光体の少なくとも一として用いられる。
 図21の集積回路装置10Dをカットライン5で切断して得られるCOFパッケージ6Dは、図22に示すように、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12とを備えており、保護パターン9は、樹脂フィルム1の突出部分12に接合される。
 COFパッケージ6Dを電子機器に実装する場合、図22に示されている破線13にて、樹脂フィルム1が、保護パターン9がICチップ2に対向するように折り曲げられる。
 図23は、折り曲げ後の状態を示し、ICチップ2が保護パターン9で覆われている。この実施形態では、保護パターン9が、ICチップ2の電磁シールド、ICチップ2が発生する熱を放出するための放熱体、ICチップ2への外光の入射を抑制する遮光体の少なくとも一として機能する。
 ICチップ2のうち保護パターンで覆われる部分を増大させるためには、図24に図示されているように、IC配置領域20の+X方向に位置する保護パターン9と、-X方向に位置する保護パターン9とを設けてもよい。カットライン5は、保護パターン9、9がCOFパッケージ6Eに含まれるように規定される。
 図24の集積回路装置10Eをカットライン5で切断して得られるCOFパッケージ6Eは、図25に示すように、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12と、本体部分11から-X方向に突出する突出部分12とを備えている。保護パターン9、9は、それぞれ突出部分12、12に形成される。
 COFパッケージ6Eを電子機器に実装する場合、樹脂フィルム1が、突出部分12、12の根元の位置において折り曲げられる。図25では、突出部分12、12の根元の位置が、突出部分12、12が本体部分11に接合する位置として、それぞれ破線13、13で示されている。
 図26、図27に示すように、樹脂フィルム1は、保護パターン9、9がICチップ2に対向するように折り曲げられる。この構造では、図23の構造と比較して、ICチップ2の、より多くの部分を保護パターン9、9で被覆することができる。例えば、ICチップ2の全体が、保護パターン9、9のうちの少なくとも一方によって覆われており、これにより、ICチップ2の全体について、ICチップ2の電磁シールド、ICチップ2が発生する熱を放出するための放熱体、ICチップ2への外光の入射を抑制する遮光体のうちの少なくとも一の機能を提供することができる。なお、図5に図示されている構造と同様に、保護パターン9、9がICチップ2に接触することを防ぐためには、保護パターン9、9の少なくとも一部が樹脂皮膜、例えば、ソルダーレジストによって被覆されていてもよい。
 保護パターン9、9、9、9B、9Cは、樹脂フィルム1が折り曲げられたときにICチップ2が配置されている領域及び配線3が配置されている領域の両方を覆うように形成されてもよい。図28に示す一実施形態では、保護パターン9が、ICチップ2と配線3とが配置されているIC配線配置領域30に対して+X方向にずれた位置に形成されている。カットライン5の形状は、保護パターン9の形状及び位置に合わせて変更される。この構造では、保護パターン9は、配線3へのノイズの印加を抑制するための電磁シールドとして用いられ、更に、ICチップ2へのノイズの印加を抑制するための電磁シールド、ICチップ2が発生する熱を放出するための放熱体、ICチップ2への外光の入射を抑制する遮光体の少なくとも一として用いられる。
 図28の集積回路装置10Fをカットライン5で切断して得られるCOFパッケージ6Fは、図29に示すように、樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11から+X方向に突出する突出部分12とを備えており、保護パターン9は、樹脂フィルム1の突出部分12に接合される。
 COFパッケージ6Fを電子機器に実装する場合、樹脂フィルム1が、保護パターン9がICチップ2及び配線3に対向するように折り曲げられる。図29では、突出部分12の根元の位置、即ち、樹脂フィルム1が折り曲げられる位置が破線13で示されている。
 COFパッケージ6、6A~6Fの配線3がフレキシブル配線基板(FPC)に接合される場合には、保護パターン9、9、9、9B、9Cは、FPCに含まれる配線及び/又は回路素子へのノイズの印加を抑制する電磁シールドとして用いられてもよい。図25に図示されているCOFパッケージ6Eの保護パターン9、9が、FPC40に含まれる配線及び/又は回路素子へのノイズの印加を抑制する電磁シールドとして用いられる場合、図30に示すように、樹脂フィルム1が、突出部分12、12の根元の位置において折り曲げられる。図30では、突出部分12の根元の位置が、突出部分12、12が本体部分11に接合する位置として、それぞれ破線13、13で示されている。
 樹脂フィルム1は、図31、図32に示すように、保護パターン9、9がFPC40を挟んでICチップ2及び/又は配線3に対向するように折り曲げられる。このような構造では、保護パターン9、9が、FPC40の少なくとも一部を覆っており、FPC40に含まれる配線及び/又は回路素子へのノイズの印加を有効に抑制することができる。
 一実施形態では、上述されたCOFパッケージにおいて、樹脂フィルム1が折り曲げられたときに突出部分12、12、12、12B、12Cを保持するための保持構造が樹脂フィルム1に形成される。
 一実施形態では、樹脂フィルム1が折り曲げられたときに突出部分12、12B、12Cの先端が差し込まれる差込穴が樹脂フィルム1に形成されてもよい。突出部分12、12B、12Cは、その先端が差込穴に挿入されて保持される。このような構造は、特に、保護パターン9、9B、9C及び樹脂フィルム1の突出部分12、12B、12Cが、ICチップ2及び/又は配線3が配置される領域8、20、30に対して、特定方向にのみ配置されており、樹脂フィルム1が折り曲げられたときに突出部分の先端がICチップ2及び配線3の反対方向の位置に到達する場合に有効である。
 図33に示す一実施形態では、COFパッケージ6Gが、図19に図示されているCOFパッケージ6Cと同様に、3回折りに対応している。IC配線配置領域30に対して+X方向に位置する保護パターン9Cが樹脂フィルム1の突出部分12Cに形成されている。保護パターン9Cの構造は図18に図示されており、樹脂フィルム1の突出部分12Cの構造は図20A、20Bに図示されている。
 COFパッケージ6Gでは、樹脂フィルム1に差込穴41が形成されている。差込穴41は、突出部分12Cの先端が挿入可能な形状を有している。
 COFパッケージ6Gが電子機器に実装される場合、樹脂フィルム1が3回折りされる。詳細には、樹脂フィルム1が、突出部分12Cの根元の位置において折り曲げられ、突出部分12Cが、第2部分32と第3部分33とが接合する位置において折り曲げられ、更に、第4部分34と第5部分35とが接合する位置において折り曲げられる。突出部分12Cが、第4部分34と第5部分35とが接合する位置において折り曲げられた後、突出部分12Cの先端が差込穴41に挿入される。これにより、突出部分12Cの先端が保持される。
 突出部分の先端をより確実に保持するために、一実施形態では、突出部分の先端に、差込穴から突出部分の先端の抜けを防ぐための抜け止め構造が形成される。図34に示す一実施形態では、COFパッケージ6Gが、図33に図示されているCOFパッケージ6Gと類似した構造を有しているが、突出部分12Cの先端に抜け止め構造が形成されている。
 突出部分12Cの先端に幅広部分42が形成されており、突出部分12Cの先端が差込穴41に差し込まれると、幅広部分42が差込穴41に引っかかることで突出部分12Cの先端が保持される。このような構造によれば、突出部分12Cの先端をより確実に保持することができる。
 樹脂フィルム1が1回折りされる場合、2回折りされる場合、及び、4回又はそれ以上の回数折り曲げられる場合についても、樹脂フィルム1の突出部分の先端を差込穴で保持する構造は採用され得る。
 2つの保護パターン9、9及び2つの突出部分12、12が、ICチップ2及び/又は配線3が配置される領域8、20、30を挟んで互いに対向するように配置されている場合、一実施形態では、当該2つの突出部分が、樹脂フィルム1が折り曲げられたときに互いに嵌合して互いを保持するように構成されてもよい。
 図35に示す一実施形態では、COFパッケージ6Hは、突出部分12、12に、互いに嵌合可能な嵌合構造43、43がそれぞれ設けられている。嵌合構造43として突出部分12の-Y方向のエッジに設けられた凹部が形成されており、嵌合構造43は、第1のフックを構成している。嵌合構造43として突出部分12の+Y方向のエッジに設けられた凹部が形成されており、第2のフックを構成している。
 COFパッケージ6Hが電子機器に実装される場合、樹脂フィルム1が、本体部分11と突出部分121、12とが接合する位置で折り曲げられる。更に、突出部分121、12にそれぞれに設けられた第1のフックと第2のフックが互いに引っ掛けられて嵌合構造43、43が互いに嵌合され、これにより、突出部分121、12が保持される。
 樹脂フィルム1を本体部分11と突出部分12、121、12、12B、12Cとが接合する位置で折り曲げることを容易にするためには、突出部分の本体部分と接合する部分を細く形成してもよい。
 図36に示す一実施形態では、COFパッケージ6Jは、突出部分12、12の本体部分11と接合する部分が、Y軸方向における幅が細く形成されている。
 図37に示すように、突出部分12は、樹脂フィルム1の本体部分11と接合する根元部分12aと、根元部分12aに+X方向に接合する突出本体部分12bとを有している。根元部分12aのY軸方向の幅は、突出本体部分12bのY軸方向の幅よりも狭い。樹脂フィルム1の突出部分12の+Y方向の縁と-Y方向の縁にそれぞれ凹部15a、15bが形成されることで、根元部分12aのY軸方向の幅は、突出本体部分12bのY軸方向の幅より狭くされている。ただし、凹部15a、15bは、その一方のみが形成されてもよい。突出部分12についても、突出部分12と同様に構成されている。
 このような構造によれば、樹脂フィルム1を本体部分11と突出部分121、12とが接合する位置で折り曲げることが容易になる。これは、工数の低減のために好ましい。なお、突出部分の本体部分と接合する部分を細く形成する構造は、他の実施形態についても適用可能である。
 保護パターン9、9、9、9B、9Cの電磁シールドとしての機能を強化するためには、保護パターンが接地線と接続されてもよい。図38に示す一実施形態では、COFパッケージ6Jの保護パターン9が配線44によって接地線3bに接続され、保護パターン9が配線44によって接地線3cに接続される。このような構造によれば、保護パターン9、9が接地されるので、保護パターン9、9が電磁シールドとしてより有効に機能する。
 上述の実施形態において、保護パターン9、9、9、9B、9Cは、様々な形態で実装され得る。図39に示す一実施形態では、保護パターン9の少なくとも一部が、樹脂皮膜、例えば、ソルダーレジスト45によって被覆される。このような構造によれば、保護パターン9が、ICチップ2や配線3と直接に接触することを防ぐことができる。
 また、図40に示すように、ソルダーレジスト45に開口45aが設けられてもよい。このような構造では、保護パターン9が開口45aを介して保護対象に直接に接触可能である。例えば、保護パターン9をICチップ2の放熱体として用いる場合には、保護パターン9がICチップ2に直接に接してもよく。
 また、図41に図示されているように、保護パターン9、9、9、9B、9Cは、互いに分離され、特定方向に延伸する複数の導電体46の集合体として形成されてもよい。この場合も、図42に示すように、保護パターン9、9、9、9B、9Cの少なくとも一部が、樹脂皮膜、例えば、ソルダーレジスト45によって被覆されてもよい。
 図43に示す一実施形態では、COFパッケージ6Kの樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11のICチップ2が配置されているIC配置領域20から+X方向に突出する突出部分12とを備えている。なお、図43は、COFパッケージ6Kを、樹脂フィルム1の裏面、即ち、ICチップ2が接合されている面と反対の面から見た図であり、このため、ICチップ2、配線3、4が点線により示されている。突出部分12は、ICチップ2に対して+X方向に位置している。
 COFパッケージ6Kが電子機器に実装される場合、図44、図45に示すように、樹脂フィルム1が、突出部分12の根元の位置において、突出部分12が本体部分11の裏面11aに対向するように樹脂フィルム1が折り曲げられる。更に、スティフナー51がICチップ2に対向する位置において突出部分12に接合される。スティフナー51は、機械的力が作用したときにICチップ2の破損を防ぐために設けられる保護構造であり、一実施形態では、金属の板として形成される。一実施形態では、突出部分12が、本体部分11の裏面11aに接着材52により接着され、スティフナー51が、突出部分12の、本体部分11の裏面11aに接合する面と反対側の面に接着剤53により接着される。
 このような構造は、スティフナー51をCOFパッケージ6Kに搭載する工程で生じ得るダメージの影響を抑制するために有効である。例えば図46に図示されているような、本体部分11の裏面11cに金属製のスティフナー51が直接に接合される構造では、スティフナー51のエッジに形成されるバリ51aが、樹脂フィルム1を突き抜ける可能性がある。これは、電子機器の動作に影響するダメージを生じさせ得る。一方、図43~図45に示す本実施形態のCOFパッケージ6Kでは、スティフナー51のエッジに形成されるバリ51aが樹脂フィルム1の本体部分11を貫通しにくく、電子機器の動作に影響するダメージの発生を抑制できる。
 図47に示すように、突出部分12に開口54が設けられてもよい。この場合、図48、図49に示すように、突出部分12の根元の位置において樹脂フィルム1が折り曲げられ、スティフナー51は、開口54を塞ぐように突出部分12に接合される。開口54を設けることは、スティフナー51の位置合わせを容易化し、スティフナー51のズレを抑制するために有効である。
 図50に示す一実施形態では、COFパッケージ6Lの樹脂フィルム1が、本体部分11と、本体部分11のIC配置領域20から+X方向に突出する突出部分12と、IC配置領域20から-X方向に突出する突出部分12とを備えている。なお、図47は、COFパッケージ6Lを、樹脂フィルム1の裏面から見た図である。
 COFパッケージ6Lが電子機器に実装される場合、図51~図53に示すように、突出部分12、12が本体部分11の裏面11cに向けて折り曲げられ、スティフナー51が突出部分12に接合される。樹脂フィルム1は、突出部分12の根元の位置において、突出部分12が本体部分11の裏面11aに対向するように折り曲げられ、更に、スティフナー51が突出部分12、12に接合される。
 このような構造も、スティフナー51をCOFパッケージ6Kに搭載する工程で生じ得るダメージの影響を抑制するために有効である。加えて、2つの突出部分12、12が設けられる本実施形態のCOFパッケージ6Lの構造は、突出部分12、12のX軸方向の許容される最大の寸法が小さい場合に有効である。
 なお、図43~図45に示す実施形態、図47~図49に示す実施形態及び図50及び図51に示す実施形態においても、樹脂フィルム1を本体部分11と突出部分12、121、12とが接合する位置で折り曲げることを容易にするために、突出部分の本体部分と接合する部分を細く形成してもよい。
 例えば図54に示す一実施形態のCOFパッケージ6Mでは、突出部分12の本体部分11と接合する部分が、Y軸方向における幅が細く形成されている。突出部分12は、樹脂フィルム1の本体部分11と接合する根元部分12aと、根元部分12aに+X方向に接合する突出本体部分12bとを有している。根元部分12aのY軸方向の幅は、突出本体部分12bのY軸方向の幅よりも狭い。樹脂フィルム1の突出部分12の+Y方向の縁と-Y方向の縁にそれぞれ凹部15a、15bが形成されることで、根元部分12aのY軸方向の幅は、突出本体部分12bのY軸方向の幅より狭くされている。ただし、凹部15a、15bは、その一方のみが形成されてもよい。このような構造によれば、樹脂フィルム1を本体部分11と突出部分12とが接合する位置で折り曲げることが容易になる。
 本開示の実施形態は、下記のようにも表現され得る。
 一実施形態では、集積回路装置が、柔軟性がある樹脂フィルムと、前記樹脂フィルムの表面に接合され、第1方向に並んで配置された複数の配線と、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線に対して前記第1方向に垂直な方向にずれて位置し、前記複数の配線に接続されたICチップと、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記ICチップ及び/又は前記複数の配線が配置されている配置領域に対して前記第1方向に位置しており、前記複数の配線と同一の材料で形成された第1保護パターンとを備えている。
 一実施形態では、前記樹脂フィルムは、前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、前記本体部分から前記第1方向に突出する第1突出部分とを備えていてもよい。前記第1保護パターンは、前記樹脂フィルムの前記第1突出部分に接合されていてもよい。
 一実施形態では、前記樹脂フィルムの前記本体部分と前記第1突出部分とが接合する位置に凹部が形成されていてもよい。
 一実施形態では、前記第1保護パターンは、樹脂皮膜によって被覆されていてもよい。
 一実施形態では、前記樹脂皮膜に開口が形成されていてもよい。
 一実施形態では、前記第1保護パターンが、特定方向に延伸する複数の導電体を含んでいてもよい。
 一実施形態では、電子機器が、柔軟性がある樹脂フィルムと、前記樹脂フィルムの表面に接合され、第1方向に並んで配置された複数の配線と、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線に対して前記第1方向に垂直な方向にずれて位置し、前記複数の配線に接続されたICチップとを備えている。前記樹脂フィルムは、前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、前記本体部分から突出する第1突出部分とを備えている。前記第1保護パターンは、前記樹脂フィルムの前記第1突出部分に接合され、前記樹脂フィルムが、前記第1突出部分が前記本体部分に対向するように折り曲げられている。
 一実施形態では、当該電子機器が、更に、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線と同一の材料で形成された第1保護パターンを備えていてもよい。前記第1保護パターンが前記複数の配線の少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように前記樹脂フィルムが折り曲げられていてもよい。
 一実施形態では、当該電子機器が、更に、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線と同一の材料で形成された第2保護パターンを備えていてもよい。前記樹脂フィルムは、更に、前記本体部分から突出する第2突出部分を備えていてもよい。前記第2突出部分は、前記第1突出部分が前記本体部分に接合する位置に対向する位置で前記本体部分に接合され、前記第2保護パターンは、前記第2突出部分に接合されてもよい。前記樹脂フィルムが、前記第1保護パターン及び前記第2保護パターンが、前記複数の配線の少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように折り曲げられてもよい。
 一実施形態では、当該電子機器が、更に、前記樹脂フィルムの前記本体部分に対向するように配置されたフレキシブル配線基板を備えていてもよく、前記樹脂フィルムが、前記第1保護パターン及び前記第2保護パターンが前記フレキシブル配線基板を挟んで前記少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように折り曲げられていてもよい。
 一実施形態では、前記第1保護パターンが、第2方向に延伸する第1パターン部分と、前記第1パターン部分の前記第2方向の端から前記第2方向と垂直な方向に突出する第2パターン部分と、前記第2パターン部分の前記第1パターン部分から離れた位置から前記第2方向と反対の第3方向に突出する第3パターン部分とを備えていてもよい。前記第1突出部分は、前記本体部分に接合し、前記本体部分から前記第2方向に突出する第1部分と、前記第1部分の前記第2方向の端から前記第2方向と垂直な方向に突出する第2部分と、前記第2部分の前記第1部分から離れた位置から前記第3方向に突出する第3部分とを備えてもよい。前記第1保護パターンの前記第1パターン部分が前記第1突出部分の前記第1部分に接合され、前記第1保護パターンの前記第2パターン部分が前記第1突出部分の前記第2部分に接合され、前記第1保護パターンの前記第3パターン部分が前記第1突出部分の前記第3部分に接合されてもよい。前記第1保護パターンの前記第1パターン部分と前記第3パターン部分とが前記複数の配線の少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように、前記樹脂フィルムが、前記本体部分と前記第1突出部分の前記第1部分とが接合する位置、及び、前記第1突出部分の前記第2部分と前記第3部分とが接合する位置で折り曲げられてもよい。
 以上には、本開示の実施形態が具体的に記述されているが、本開示が種々の変更と共に実施され得ることは、当業者には理解されよう。上記の実施形態は、技術的な矛盾がない限り、組み合わせて実施され得る。

Claims (20)

  1.  柔軟性がある樹脂フィルムと、
     前記樹脂フィルムの表面に接合され、第1方向に並んで配置された複数の配線と、
     前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線に対して前記第1方向に垂直な方向にずれて位置し、前記複数の配線に接続されたICチップと、
     前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記ICチップ及び/又は前記複数の配線が配置されている配置領域に対して前記第1方向に位置しており、前記複数の配線と同一の材料で形成された第1保護パターン
    とを備える
     集積回路装置。
  2.  請求項1に記載の集積回路装置であって、
     前記樹脂フィルムは、
       前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、
       前記本体部分から前記第1方向に突出する第1突出部分
    とを備える、
     前記第1保護パターンは、前記樹脂フィルムの前記第1突出部分に接合された
     集積回路装置。
  3.  請求項1に記載の集積回路装置であって、
     更に、
     前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記配置領域に対して前記第1方向と反対の第2方向に位置しており、前記複数の配線と同一の材料で形成された第2保護パターン
    を備える
     集積回路装置。
  4.  請求項3に記載の集積回路装置であって、
     前記樹脂フィルムは、
       前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、
       前記本体部分から前記第1方向に突出する第1突出部分と、
       前記本体部分から前記第2方向に突出する第2突出部分
    とを備え、
     前記第1保護パターンは、前記樹脂フィルムの前記第1突出部分に接合され、
     前記第2保護パターンは、前記樹脂フィルムの前記第2突出部分に接合された
     集積回路装置。
  5.  請求項1に記載の集積回路装置であって、
     前記第1保護パターンは、
      前記第1方向に延伸する第1パターン部分と、
      前記第1パターン部分の前記第1方向の端から前記第1方向と垂直な方向に突出する第2パターン部分と、
      前記第2パターン部分の前記第1パターン部分から離れた位置から前記第1方向と反対の第2方向に突出する第3パターン部分
    とを備える
     集積回路装置。
  6.  請求項2に記載の集積回路装置であって、
     前記第1保護パターンは、
      前記第1方向に延伸する第1パターン部分と、
      前記第1パターン部分の前記第1方向の端から前記第1方向と垂直な方向に突出する第2パターン部分と、
      前記第2パターン部分の前記第1パターン部分から離れた位置から前記第1方向と反対の第2方向に突出する第3パターン部分
    とを備え、
     前記第1突出部分は、
      前記本体部分に接合し、前記本体部分から前記第1方向に突出する第1部分と、
      前記第1部分の前記第1方向の端から前記第1方向と垂直な方向に突出する第2部分と、
      前記第2部分の前記第1部分から離れた位置から前記第2方向に突出する第3部分
    とを備え、
     前記第1保護パターンの前記第1パターン部分が前記第1突出部分の前記第1部分に接合され、
     前記第1保護パターンの前記第2パターン部分が前記第1突出部分の前記第2部分に接合され、
     前記第1保護パターンの前記第3パターン部分が前記第1突出部分の前記第3部分に接合される
     集積回路装置。
  7.  請求項2又は6に記載の集積回路装置であって、
     前記樹脂フィルムに、前記第1突出部分の端が挿入可能な差込穴が形成された
     集積回路装置。
  8.  請求項7に記載の集積回路装置であって、
     前記第1突出部分の端に、前記差込穴から前記第1突出部分の端が抜けることを防止する抜け止め構造が形成された
     集積回路装置。
  9.  請求項4に記載の集積回路装置であって、
     前記第1突出部分に、第1嵌合構造が形成され、
     前記第2突出部分に、第2嵌合構造が形成され、
     前記第1嵌合構造と前記第2嵌合構造が、互いに嵌合可能に構成された
     集積回路装置。
  10.  請求項2に記載の集積回路装置であって、
     前記第1突出部分は、
      前記本体部分と接合する根元部分と、
      前記根元部分に前記第1方向に接合する突出本体部分
    とを備え、
     前記根元部分の前記第1方向に垂直な垂直方向の幅が、前記突出本体部分の前記垂直方向の幅よりも狭い
     集積回路装置。
  11.  請求項1乃至10のいずれか1項に記載の集積回路装置であって、
     前記複数の配線が、接地線を備え、
     前記第1保護パターンが前記接地線に接続された
     集積回路装置。
  12.  柔軟性がある樹脂フィルムと、
     前記樹脂フィルムの表面に接合され、第1方向に並んで配置された複数の配線と、
     前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線に対して前記第1方向に垂直な方向にずれて位置し、前記複数の配線に接続されたICチップ
    とを備え、
     前記樹脂フィルムが、
       前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、
       前記ICチップに対して前記第1方向に位置し、前記本体部分から前記第1方向に突出する第1突出部分
    とを含む
     集積回路装置。
  13.  請求項12に記載の集積回路装置であって、
     前記樹脂フィルムが、更に、前記ICチップに対して前記第1方向と反対の第2方向に位置し、前記本体部分から前記第2方向に突出する第2突出部分を含む
     集積回路装置。
  14.  請求項12に記載の集積回路装置であって、
     前記第1突出部分に開口が設けられた
     集積回路装置。
  15.  柔軟性がある樹脂フィルムと、
     前記樹脂フィルムの表面に接合され、第1方向に並んで配置された複数の配線と、
     前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線に対して前記第1方向に垂直な方向にずれて位置し、前記複数の配線に接続されたICチップとを備え、
     前記樹脂フィルムは、
      前記複数の配線と前記ICチップとが接合された本体部分と、
      前記本体部分から突出する第1突出部分
    とを備え、
     前記樹脂フィルムが、前記第1突出部分が前記本体部分に対向するように折り曲げられた
     電子機器。
  16.  請求項15に記載の電子機器であって、
     更に、前記樹脂フィルムの前記表面に接合され、前記複数の配線と同一の材料で形成された第1保護パターンを備え、
     前記第1保護パターンが前記複数の配線の少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように前記樹脂フィルムが折り曲げられた
     電子機器。
  17.  請求項16に記載の電子機器であって、
     更に、
     前記樹脂フィルムの前記本体部分に対向するように配置されたフレキシブル配線基板を備え、
     前記樹脂フィルムが、前記第1保護パターンが前記フレキシブル配線基板を挟んで前記少なくとも一部の配線及び/又は前記ICチップに対向するように折り曲げられた
     電子機器。
  18.  請求項15に記載の電子機器であって、
     更に、前記第1突出部分に前記ICチップと対向するように接合されたスティフナーを備える
     電子機器。
  19.  請求項15に記載の電子機器であって、
     更に、スティフナーを備え、
     前記樹脂フィルムが、更に、前記ICチップに対して前記第1方向と反対の第2方向に位置し、前記本体部分から前記第2方向に突出する第2突出部分を含み、
     前記スティフナーが、前記第1突出部分及び前記第2突出部分に前記ICチップと対向するように接合された
     電子機器。
  20.  請求項18に記載の電子機器であって、
     前記第1突出部分に開口が設けられ、
     前記スティフナーが前記開口を塞ぐように前記第1突出部分に接合された
     電子機器。
     
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