WO2019038860A1 - レーザ加工方法およびレーザ加工装置 - Google Patents

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WO2019038860A1
WO2019038860A1 PCT/JP2017/030138 JP2017030138W WO2019038860A1 WO 2019038860 A1 WO2019038860 A1 WO 2019038860A1 JP 2017030138 W JP2017030138 W JP 2017030138W WO 2019038860 A1 WO2019038860 A1 WO 2019038860A1
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WO
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laser beam
laser
hole
diameter
laminate
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PCT/JP2017/030138
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English (en)
French (fr)
Inventor
伊藤　健治
靖弘 滝川
Original Assignee
三菱電機株式会社
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36—Removing material
    • B23K26/38—Removing material by boring or cutting
    • B23K26/382—Removing material by boring or cutting by boring
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36—Removing material
    • B23K26/40—Removing material taking account of the properties of the material involved
    • B23K26/402—Removing material taking account of the properties of the material involved involving non-metallic material, e.g. isolators

Definitions

  • the present invention relates to a laser processing method and a laser processing apparatus for processing a workpiece by irradiation of a laser beam.
  • a drilling process by laser beam irradiation may be applied.
  • a laser beam is irradiated to the laminate which is the workpiece to form a hole penetrating the metal layer which is the upper layer of the laminate and the resin layer under the metal layer.
  • holes are formed to expose the lower metal layer by drilling from the upper metal layer.
  • a hole is formed to expose the inner metal layer by drilling from the upper metal layer.
  • the peak power of the pulse is less than 10 kW, and the ultraviolet light is used to reduce the peeling of the copper foil from the resin layer in the drilling process of the laminate of the copper foil and the resin layer which are metal layers.
  • a technique for irradiating a pulsed laser beam is proposed.
  • Peeling of the metal layer from the resin layer is caused by the vaporization and expansion of the resin layer under the metal layer before the portion of the metal layer irradiated with the laser beam is scattered, whereby the metal layer is pushed up from below Caused by. Even when the power and wavelength of the laser beam are set as in the technique of Patent Document 1, peeling of the metal layer may occur due to expansion of the resin layer.
  • This invention is made in view of the above, Comprising: It aims at obtaining the laser processing method which enables reduction of peeling of the metal layer in processing of the laminated body containing a metal layer and a resin layer.
  • a first laser beam is irradiated to a laminate having a metal layer on its surface and a resin layer.
  • the laminate is irradiated with a second laser beam to form a second hole having a diameter larger than the diameter of the first hole in a region including the first hole.
  • the laser processing method according to the present invention has the effect of being able to reduce the peeling of the metal layer in the processing of the laminate including the metal layer and the resin layer.
  • FIG. 1 shows the structure of the laser processing apparatus concerning embodiment of this invention Top view of the workpiece before processing by the laser processing device shown in FIG. 1 Sectional view of the workpiece before processing by the laser processing apparatus shown in FIG. 1 Top view of the workpiece after processing by the laser processing apparatus shown in FIG. 1 Sectional view of the workpiece after processing by the laser processing apparatus shown in FIG. 1 The figure explaining adjustment of the diameter of the laser beam by the mask shown in FIG.
  • a diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment A diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment
  • a diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment A diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment
  • a diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment A diagram for explaining a laser processing method according to an embodiment
  • Top view of the hole formed in the comparative example of the embodiment Plan view of the hole formed by the laser processing method according to the embodiment Flow chart showing the procedure of the laser processing method according to the embodiment
  • a block diagram showing an example of the hardware configuration of the controller shown in FIG. 1 The figure explaining adjustment of the diameter of the laser beam by the laser processing apparatus concerning the modification of embodiment.
  • FIGS. 7 to 12 A diagram for explaining the energy density of the first laser beam and the second laser beam shown in FIGS. 7 to 12
  • FIG. 1 is a view showing the configuration of a laser processing apparatus 1 according to an embodiment of the present invention.
  • the laser processing apparatus 1 performs a drilling process on a workpiece 9 which is a workpiece by irradiating a laser beam.
  • the work 9 is a plate of a laminate having a metal layer on the surface and including a resin layer.
  • the X axis and the Y axis are two axes parallel to the horizontal direction and perpendicular to each other.
  • the Z axis is an axis parallel to the vertical direction and perpendicular to the X axis and the Y axis.
  • the work 9 is placed on the stage 8 in a plane parallel to the X axis and the Y axis.
  • the direction indicated by the arrow in the drawing may be referred to as the plus Z direction, and the direction opposite to the direction indicated by the arrow may be referred to as the minus Z direction.
  • the plus Z direction is the vertically upward direction.
  • the negative Z direction is the vertically downward direction.
  • the laser processing apparatus 1 has a laser oscillator 2 for outputting a laser beam L by pulse laser oscillation, a collimator lens 3 for collimating the laser beam L, and a transmission area for transmitting the laser beam L, and around the transmission area And a mask 4 for shielding the laser beam L.
  • the laser oscillator 2 is a CO 2 laser that outputs infrared light.
  • the wavelength of the laser beam L oscillated from the laser oscillator 2 is 10.6 ⁇ m.
  • the laser oscillator 2 may be an infrared (Infrared, IR) laser which outputs infrared light having a wavelength other than 10.6 ⁇ m, or an ultraviolet (UltraViolet, UV) laser which outputs ultraviolet light.
  • the laser oscillator 2 adjusts the energy of the laser beam L irradiated to the work 9 by changing the energy of the oscillated laser beam L.
  • the cross section of the laser beam L collimated by the collimator lens 3 is shaped.
  • the laser processing apparatus 1 further includes galvano scanners 5 and 6 for deflecting the laser beam L, and an f ⁇ lens 7 as a focusing optical system for focusing the laser beam L.
  • the galvano scanner 5 changes the incident position of the laser beam L on the work 9 in the X-axis direction by the rotation of the reflecting surface that reflects the laser beam L.
  • the galvano scanner 6 changes the incident position of the laser beam L on the workpiece 9 in the Y-axis direction by the rotation of the reflecting surface that reflects the laser beam L.
  • the laser processing apparatus 1 causes the galvano scanners 5 and 6 to displace the laser beam L in the X axis direction and the Y axis direction.
  • the f ⁇ lens 7 converges the laser beam L at the position of f ⁇ obtained by multiplying the focal length f of the f ⁇ lens 7 by the deflection angle ⁇ of the galvano scanners 5 and 6. Further, the f ⁇ lens 7 is also a transfer optical system for transferring the image of the laser beam L shaped by the mask 4 to the work 9.
  • the transfer optical system may be a lens other than the f ⁇ lens 7 and may include a plurality of lenses.
  • the galvano scanners 5 and 6 and the f ⁇ lens 7 may be provided on the processing head. In FIG. 1, illustration of the processing head is omitted.
  • the laser processing apparatus 1 may include only one of the galvano scanners 5 and 6. Moreover, the laser processing apparatus 1 may displace the laser beam L using components other than the galvano scanners 5 and 6. For displacement of the laser beam L, an acousto-optic deflector (Acousto-Optic Deflector, AOD) that deflects light using an acousto-optic effect instead of the galvano scanners 5 and 6 or light using an electro-optic effect An electro-optical deflector (EOD) for deflecting the light may be used.
  • AOD acousto-optic Deflector
  • EOD electro-optical deflector
  • the controller 10 controls the entire laser processing apparatus 1.
  • the controller 10 controls the laser oscillation of the laser oscillator 2, the operation of the mask 4, and the drive of the galvano scanners 5 and 6.
  • the stage 8 may be movable in one of the X-axis direction and the Y-axis direction, or in both the X-axis direction and the Y-axis direction.
  • the processing head may be movable in one of the X-axis direction and the Y-axis direction, or in both the X-axis direction and the Y-axis direction.
  • the laser processing apparatus 1 changes the incident position of the laser beam L on the work 9 by controlling the movement of one or both of the stage 8 and the processing head together with the control of the drive of the galvano scanners 5 and 6 by the controller 10 You may
  • FIG. 2 is a top view of the work 9 before processing by the laser processing apparatus 1 shown in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the work 9 before processing by the laser processing apparatus 1 shown in FIG.
  • FIG. 4 is a top view of the work 9 after being processed by the laser processing apparatus 1 shown in FIG.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the work 9 after being processed by the laser processing apparatus 1 shown in FIG.
  • the work 9 shown in FIGS. 2 to 5 is placed on the stage 8 shown in FIG. 2 and 4 show the upper surface of the work 9 on the plus Z direction side. 3 and 5 show cross sections parallel to the X axis and the Z axis.
  • the work 9 which is a plate of the laminate is a resin provided between the copper foil 11 which is the upper layer of the laminate, the copper foil 12 which is the lower layer of the laminate and two copper foils 11 and 12 which is the metal layer. And a layer 13.
  • the resin layer 13 and the copper foils 11 and 12 are bonded to each other by inserting the unevenness formed on the surface of the copper foils 11 and 12 on the resin layer 13 side into the resin layer 13.
  • the resin layer 13 and the copper foils 11 and 12 may be bonded to each other by an adhesive. In FIGS. 2 to 5, the unevenness of the copper foils 11 and 12 and the adhesive are not shown.
  • the laser processing apparatus 1 applies the laser beam L to the surface of the work 9 on which the copper foil 11 is formed. As shown in FIG. 5, the laser processing apparatus 1 forms a hole 14 in the work 9 through the copper foil 11 and the resin layer 13 and having the copper foil 12 as a bottom surface. In the top view shown in FIG. 4, the holes 14 are circular. The laser processing apparatus 1 performs a drilling process to expose the copper foil 12 in the lower layer.
  • the laminated body to be subjected to the drilling process by the laser processing apparatus 1 may include a metal layer which is an inner layer provided in the resin layer between the upper layer and the lower layer.
  • the laser processing apparatus 1 may perform a drilling process for exposing the metal layer, which is the inner layer, in addition to the drilling process for exposing the metal layer, which is the lower layer.
  • the inner metal layer may be partially provided in the X-axis direction and the Y-axis direction.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the adjustment of the diameter of the laser beam L by the mask 4 shown in FIG.
  • the mask 4 is provided with a first transmission area 15 and a second transmission area 16 larger than the first transmission area 15, and the area other than the transmission area is a light shielding area.
  • the mask 4 has a state in which the center position of the first transmission area 15 is aligned with the center C of the laser beam L and a state in which the center position of the second transmission area 16 is aligned with the center C of the laser beam L. Change.
  • the movement or rotation of the mask 4 switches the first transmission area 15 and the second transmission area 16 disposed on the light path of the laser beam L.
  • the controller 10 controls the movement or rotation of the mask 4.
  • the first laser beam L1 is a laser beam L which has passed through the first transmission region 15 and has passed through the f ⁇ lens 7.
  • the f ⁇ lens 7 transfers the image of the first transmission area 15 of the mask 4 to the work 9.
  • the second laser beam L2 is a laser beam L which has been transmitted through the second transmission region 16 and has passed through the f ⁇ lens 7.
  • the f ⁇ lens 7 transfers the image of the second transmission area 16 of the mask 4 to the work 9.
  • the laser oscillator 2, the mask 4 and the f ⁇ lens 7 as a transfer optical system shown in FIG. 1 have a function of a laser beam emitting unit for emitting the first laser beam L 1 and the second laser beam L 2 to be advanced to the work 9 Play.
  • the beam cross section of the second laser beam L2 is larger than the beam cross section of the first laser beam L1.
  • the second beam diameter DB2 which is the diameter of the second laser beam L2 on the work 9 is larger than the first beam diameter DB1 which is the diameter of the first laser beam L1 on the work 9, and the relationship of DB1 ⁇ DB2 Is true.
  • the hole having a diameter smaller than the desired diameter is formed by the irradiation of the first laser beam L1 before the hole having the desired diameter is formed by the irradiation of the second laser beam L2.
  • the laser processing method according to the embodiment includes a first step of forming a first hole by irradiation of a first laser beam L1, and irradiation of a second laser beam L2 to a region including the first hole. And a second step of forming a second hole.
  • 7 to 12 are diagrams for explaining the laser processing method according to the embodiment. 7 to 12 show cross sections of the work 9 parallel to the X axis and the Z axis.
  • the upper surface of the work 9 on the copper foil 11 side is irradiated with the first laser beam L1 having the first beam diameter DB1.
  • the copper foil 11 is heated by the irradiation of the first laser beam L1.
  • the part 31 which became a molten state by temperature rising arises.
  • the resin layer 13 is heated by receiving heat transferred from the copper foil 11. Below the melted portion 31 of the copper foil 11, a melted portion 32 of the resin layer 13 is formed.
  • the boiling point of the resin is lower than the boiling point of copper, as shown in FIG. 8, the vapor 33 of the resin is generated in the resin layer 13 before the molten copper scatters. Then, as shown in FIG. 9, the steam 33 is released to the outside of the work 9, and the molten copper scatters to form the first hole 17.
  • the laser processing apparatus 1 forms the first hole 17 in the work 9 through the copper foil 11 and dug down to the resin layer 13 in the first process from FIG. 7 to FIG. 9.
  • the laser processing apparatus 1 forms a first hole 17 of a diameter DA1 smaller than the desired hole diameter in the first step.
  • the second laser beam L2 of the second beam diameter DB2 is irradiated to the area including the first hole 17 in the upper surface of the work 9.
  • the second laser beam L2 whose beam cross section is expanded by the first laser beam L1 is incident on a region including the region irradiated with the first laser beam L1.
  • a portion 31 which is melted by the irradiation of the second laser beam L 2 is generated.
  • a portion 32 which is melted by the irradiation of the second laser beam L 2 to the first hole 17 is generated.
  • the steam 33 is released from the first hole 17 to the outside of the work 9, and the molten copper scatters to form the second hole 18.
  • the laser processing apparatus 1 irradiates the workpiece 9 with the second laser beam L2 in the second process from FIG. 10 to FIG.
  • the diameter DA2 of the second hole 18 is expanded from the diameter DA1 of the first hole 17, and the relationship of DA1 ⁇ DA2 is established.
  • the laser processing apparatus 1 forms a second hole 18 of a diameter DA2 which is a desired hole diameter in the second step.
  • the laser processing apparatus 1 performs the additional process after the second process on the second hole of the laser beam L whose power is higher than the processing threshold of the resin layer 13 and lower than the processing threshold of the copper foils 11 and 12. Irradiate to 18.
  • the processing threshold is a threshold of power required to process a workpiece.
  • the resin layer 13 expands rapidly due to the generation of the steam 33, thereby generating a force stronger than the force required to scatter the molten copper.
  • the resin layer 13 may expand rapidly while the melting of copper is insufficient.
  • the copper foil 11 may be peeled from the resin layer 13. Peeling of the copper foil 11 is likely to occur when the bond between the resin layer 13 and the copper foil 11 is weak.
  • the difference in height between the unevenness becomes smaller as the copper foil 11 becomes thinner. Bonding between the foil 11 and the resin layer 13 tends to be weak.
  • the steam 33 generated in the second step is transferred to the first holes 17. Released.
  • the vapor 33 is discharged out of the workpiece 9 through the first hole 17.
  • the laser processing apparatus 1 can reduce peeling of the copper foil 11 by the drilling process for forming the holes 14 shown in FIGS. 4 and 5.
  • first holes 17 in the first step of the embodiment peeling of the copper foil 11 from the resin layer 13 may occur around the first holes 17.
  • the part of the copper foil 11 around the first hole 17 where peeling has occurred can be removed. For this reason, at the stage where the second hole 18 is formed, it is possible to reduce the remaining of the portion where the peeling of the copper foil 11 has occurred.
  • the first holes 17 formed in the first step are not limited to those reaching the resin layer 13.
  • the processing of the first hole 17 may be stopped before penetrating the copper foil 11. Also in this case, by forming the first holes 17, the impact received by the copper foil 11 can be mitigated when the second holes 18 are formed, and the peeling of the copper foil 11 can be reduced.
  • FIG. 13 is a plan view of the hole 34 formed in the comparative example of the embodiment.
  • FIG. 14 is a plan view of the hole 14 formed by the laser processing method according to the embodiment. In FIGS. 13 and 14, the shape of an ideal hole is shown by a broken line.
  • the holes 34 formed in the comparative example shown in FIG. 13 are formed by irradiating the copper foil 11 of the work 9 once with the laser beam L once. Peeling of the copper foil 11 is generated around the hole 34 due to the rapid expansion of the resin layer 13.
  • the shape of the hole 34 is compared with the shape of the ideal hole, the scraped-off portion of the copper foil 11 is irregularly generated.
  • the hole 14 formed in the embodiment shown in FIG. 14 has a circular shape close to the shape of an ideal hole.
  • the peeling of the copper foil 11 around the hole 14 is reduced compared to the case of the comparative example.
  • the peeling of the copper foil 11 is reduced, and the hole 14 having an ideal shape can be obtained.
  • FIG. 15 is a flowchart showing the procedure of the laser processing method according to the embodiment.
  • the controller 10 controls the laser oscillator 2 and the mask 4 that are laser beam emitting units to perform the processes of step S 1 and step S 2.
  • the laser processing apparatus 1 oscillates the laser beam L from the laser oscillator 2 with the position of the mask 4 as shown in FIG. 6 in which the center position of the first transmission region 15 coincides with the center C of the laser beam L.
  • step S1 the laser processing apparatus 1 irradiates the workpiece 9 with the first laser beam L1 to form the first hole 17 which penetrates the copper foil 11 and is dug down to the resin layer 13.
  • the laser processing apparatus 1 sets the position state of the mask 4 to a state in which the center position of the second transmission region 16 coincides with the center C of the laser beam L as shown in FIG. Make L oscillate.
  • the laser processing apparatus 1 irradiates the second laser beam L 2 to the area including the first hole 17 in the work 9 to form the copper foil 11 and the resin layer 13 as the first process.
  • the laser processing apparatus 1 appropriately processes the resin layer 13 so as to reach the copper foil 12 by an additional step after the formation of the second hole 18, whereby the hole 14 shown in FIGS. 4 and 5 is obtained. Form Thus, the laser processing apparatus 1 ends the procedure shown in FIG.
  • FIG. 16 is a block diagram showing an example of the hardware configuration of the controller 10 shown in FIG.
  • One example of a hardware configuration is a microcontroller.
  • the functions of the controller 10 are executed on a program analyzed and executed by a microcontroller. A part of the functions of the controller 10 may be executed on hardware by wired logic.
  • the controller 10 includes a processor 41 which executes various processes, and a memory 42 in which programs for various processes are stored.
  • the processor 41 and the memory 42 are connected to each other via a bus 43.
  • the processor 41 develops the loaded program and executes various processes for controlling the laser processing apparatus 1.
  • the processing executed by the processor 41 includes processing for operating the laser oscillator 2 and processing for operating the mask 4.
  • the laser processing apparatus 1 is not limited to one that adjusts the diameter of the laser beam L by operating the mask 4.
  • the laser processing apparatus 1 may adjust the diameter of the laser beam L by moving the f ⁇ lens 7 which is a condensing optical system.
  • FIG. 17 is a diagram for explaining the adjustment of the diameter of the laser beam L by the laser processing apparatus 1 according to the modification of the embodiment.
  • the laser processing apparatus 1 according to the modification includes a moving mechanism that moves the f ⁇ lens 7 in a direction parallel to the optical axis AX of the f ⁇ lens 7. In FIG. 17, the illustration of the moving mechanism is omitted.
  • the controller 10 controls the drive of the moving mechanism.
  • the focusing optical system may be a lens other than the f ⁇ lens 7.
  • the focusing optical system may include a plurality of lenses.
  • the moving mechanism may move one or more lenses of the focusing optical system.
  • the laser oscillator 2 shown in FIG. 1 and the f ⁇ lens 7 as a focusing optical system are laser beam emitting portions for emitting the first laser beam L1 and the second laser beam L2 to be advanced to the work 9 Perform the function of
  • the f ⁇ lens 7 is moved by the moving mechanism to the position of the first distance H1 from the work 9 and the position of the second distance H2 from the work 9.
  • the f ⁇ lens 7 emits the first laser beam L1 and the second laser beam L2.
  • the first laser beam L1 is a laser beam L transmitted through the f ⁇ lens 7 located at a first distance H1 from the work 9.
  • the second laser beam L2 is a laser beam L transmitted through the f ⁇ lens 7 located at a second distance H2 from the work 9.
  • the laser oscillator 2 and the f ⁇ lens 7 shown in FIG. 1 function as a laser beam emitting unit for emitting the first laser beam L1 and the second laser beam L2 to be advanced to the work 9.
  • the second distance H2 is shorter than the first distance H1, and the relationship of H1> H2 is established.
  • the second beam diameter DB2 which is the diameter of the second laser beam L2 on the work 9 is larger than the first beam diameter DB1 which is the diameter of the first laser beam L1 on the work 9, and the relationship of DB1 ⁇ DB2 Is true.
  • the position of the first distance H1 from the f ⁇ lens 7 is the focusing position of the laser beam L
  • the f ⁇ lens 7 from the position of the first distance H1 from the work 9 to the position of the second distance H2 from the work 9 Let's move the The position of the work 9 is a position closer to the f ⁇ lens 7 than the condensing position of the laser beam L.
  • the laser beam L diffuses at the work 9 as compared to the condensing position. Therefore, the second beam diameter DB2 is larger than the first beam diameter DB1.
  • the condensing position may coincide with a focal position at which light transmitted through the f ⁇ lens 7 condenses at one point when parallel light is incident on the f ⁇ lens 7.
  • the second distance H2 may be longer than the first distance H1, and the relationship of H1 ⁇ H2 may be established.
  • Lens 7 is moved from the position of the first distance H1 from the work 9 to the position of the second distance H2 from the work 9, the position of the work 9 is closer to the f ⁇ lens 7 than the condensing position of the laser beam L And the opposite position.
  • the second beam diameter DB2 is larger than the first beam diameter DB1, and the relationship of DB1 ⁇ DB2 holds.
  • the laser processing apparatus 1 may move the stage 8 in the Z-axis direction which is a direction parallel to the optical axis AX, instead of moving the f ⁇ lens 7.
  • the controller 10 controls the movement of the stage 8 in the Z-axis direction.
  • the work 9 is moved away from the f ⁇ lens 7 by moving the stage 8 in the negative Z direction.
  • the work 9 can be brought close to the f ⁇ lens 7 by moving the stage 8 in the plus Z direction.
  • the laser processing apparatus 1 can adjust the diameter of the laser beam L by moving the stage 8.
  • the laser processing apparatus 1 according to the modification may omit the shaping of the laser beam L by the mask 4.
  • FIG. 18 shows the relationship between the diameters DA1 and DA2 of the first holes 17 and the second holes 18 formed by the laser processing method according to the embodiment and the occurrence probability of peeling of the copper foil 11 by the processing of the holes 14.
  • the diameter DA1 of the first hole 17 is changed every 10 ⁇ m in the range from 10 ⁇ m to 90 ⁇ m, and the peeling of the copper foil 11 occurs when the diameter DA2 of the second hole 18 is 100 ⁇ m. Shows the result of observing the Further, the probability of peeling of the copper foil 11 when the hole 14 is processed with the diameter DA1 of the first hole 17 set to 100 ⁇ m and the formation of the second hole 18 is omitted is also shown.
  • the case where the diameter DA1 is 100 ⁇ m represents the case of processing according to the above-described comparative example.
  • peeling of the copper foil 11 occurs with a probability of 83% which is the highest value in the relationship shown in FIG.
  • the diameter DA1 of the first hole 17 is 90 ⁇ m and 80 ⁇ m
  • the peeling of the copper foil 11 due to the formation of the first hole 17 may remain even after the formation of the second hole 18
  • the peeling of the copper foil 11 occurs with a relatively high probability of 43% and 80%.
  • the laser processing apparatus 1 sets the diameter DA1 of the first hole 17 to 70% or less of the diameter DA2 of the second hole 18 to thereby form the copper foil 11 by forming the hole 14 in the work 9 It can be seen that the occurrence of peeling can be reduced.
  • the first beam diameter DB1 that is the diameter of the first laser beam L1 on the workpiece 9 is 70% or less of the second beam diameter DB2 that is the diameter of the second laser beam L2 on the workpiece 9.
  • the laser processing apparatus 1 can reduce peeling of the copper foil 11 in processing of the work 9 by setting the diameter DA1 and the diameter DA2 so that the relationship of DA1 ⁇ 0.7 ⁇ DA2 holds.
  • the laser processing apparatus 1 can set any value satisfying DA1 ⁇ 0.7 ⁇ DA2 to the diameter DA1 of the first hole 17 and the diameter DA2 of the second hole 18.
  • FIG. 19 is a diagram for explaining the energy density of the first laser beam L1 and the second laser beam L2 shown in FIG. 7 to FIG.
  • hole diameter refers to the diameter DA1 of the first hole 17 formed by the irradiation of the first laser beam L1 and the diameter of the second hole 18 formed by the irradiation of the second laser beam L2.
  • DA2 the diameter of the first laser beam L1 reaching the processing point of the work 9 and the energy of the second laser beam L2.
  • “Energy density” indicates the energy of the first laser beam L 1 per unit area of the first hole 17 and the energy of the second laser beam L 2 per unit area of the second hole 18.
  • the energy density of the first laser beam L1 irradiated to the workpiece 9 and the energy density of the second laser beam L2 irradiated to the workpiece 9 are the same regardless of the diameters DA1 and DA2.
  • the controller 10 is oscillated from the laser oscillator 2 so that the energy density of the first laser beam L1 irradiating the workpiece 9 and the energy density of the second laser beam L2 irradiating the workpiece 9 become constant.
  • the energy of the laser beam L is controlled.
  • the laser processing apparatus 1 can perform drilling at a constant processing speed in the first step and the second step.
  • the laser processing apparatus 1 forms the first hole 17 by irradiating the workpiece 9 with the first laser beam L1 in the first step. Thereafter, the laser processing apparatus 1 irradiates the second laser beam L2 in the second step, and the second diameter of the second hole 17 is expanded from the diameter of the first hole 17 to the area including the first hole 17. Form the holes 18 of the The laser processing apparatus 1 can reduce the peeling of the copper foil 11 in the second step by releasing the resin expanded in the second step from the first hole 17. This produces the effect of being able to reduce peeling of the metal layer in the processing of the laminate including the metal layer and the resin layer.
  • the configuration shown in the above embodiment shows an example of the contents of the present invention, and can be combined with another known technique, and one of the configurations is possible within the scope of the present invention. Parts can be omitted or changed.
  • Reference Signs List 1 laser processing apparatus, 2 laser oscillator, 3 collimator lens, 4 mask, 5, 6 galvano scanner, 7 f ⁇ lens, 8 stage, 9 work, 10 controller, 11, 12 copper foil, 13 resin layer, 14, 34 hole , 15 first transmission area, 16 second transmission area, 17 first hole, 18 second hole, 31, 32 parts, 33 steam, 41 processors, 42 memories, 43 buses, AX optical axis, C center , L 1 laser beam, L 1 first laser beam, L 2 second laser beam.

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Abstract

レーザ加工方法は、積層体であるワーク（９）に第１のレーザビームを照射して第１の穴を形成する第１の工程を含む。積層体であるワーク（９）は、表面に金属層である銅箔（１１）を有しかつ樹脂層（１３）を含む。レーザ加工方法は、積層体であるワーク（９）に第２のレーザビームを照射して第２の穴を形成する第２の工程を含む。第２の穴は、第１の穴を包含する領域に形成される。第２の穴の径は、第１の穴の径より拡張されている。

Description

レーザ加工方法およびレーザ加工装置
　本発明は、レーザビームの照射により被加工物を加工するレーザ加工方法およびレーザ加工装置に関する。
　樹脂層と金属層とを積層させた積層体における穴の形成に、レーザビームの照射による穴あけ加工が適用されることがある。被加工物である積層体にレーザビームを照射して、積層体の上層である金属層と、金属層の下の樹脂層とを貫く穴が形成される。上層と下層との金属層の間に樹脂層が設けられている積層体では、上層の金属層からの穴あけ加工により、下層の金属層を露出させる穴が形成される。上層と下層との金属層の間の樹脂層の中に内層である金属層が設けられている積層体では、上層の金属層からの穴あけ加工により、内層の金属層を露出させる穴が形成される。
　特許文献１には、金属層である銅箔と樹脂層との積層体の穴あけ加工における樹脂層からの銅箔の剥離を低減するために、パルスのピークパワーが１０ｋＷ未満であり、かつ紫外光であるパルスレーザビームを照射する技術が提案されている。
特開２００２－３５９７６号公報
　樹脂層からの金属層の剥離は、金属層のうちレーザビームが照射されている部分が飛散するより前に金属層の下の樹脂層が気化し膨張することで、金属層が下から押し上げられることによって生じる。特許文献１の技術のようにレーザビームのパワーおよび波長が設定されている場合においても、樹脂層の膨張による金属層の剥離は生じることがある。
　本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、金属層と樹脂層とを含む積層体の加工における金属層の剥離を低減可能とするレーザ加工方法を得ることを目的とする。
　上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかるレーザ加工方法は、表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体に第１のレーザビームを照射して第１の穴を形成する第１の工程と、積層体に第２のレーザビームを照射して、第１の穴を包含する領域に第１の穴の径より拡張された径の第２の穴を形成する第２の工程と、を含む。
　本発明にかかるレーザ加工方法は、金属層と樹脂層とを含む積層体の加工における金属層の剥離を低減できるという効果を奏する。
本発明の実施の形態にかかるレーザ加工装置の構成を示す図 図１に示すレーザ加工装置による加工前のワークの上面図 図１に示すレーザ加工装置による加工前のワークの断面図 図１に示すレーザ加工装置による加工後のワークの上面図 図１に示すレーザ加工装置による加工後のワークの断面図 図１に示すマスクによるレーザビームの径の調節について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図 実施の形態の比較例において形成された穴の平面図 実施の形態にかかるレーザ加工方法より形成された穴の平面図 実施の形態にかかるレーザ加工方法の手順を示すフローチャート 図１に示す制御器のハードウェア構成の例を示すブロック図 実施の形態の変形例にかかるレーザ加工装置によるレーザビームの径の調節について説明する図 実施の形態にかかるレーザ加工方法により形成される第１の穴および第２の穴の径と、穴の加工による銅箔の剥離の発生確率との関係の例を示す図 図７から図１２に示す第１のレーザビームと第２のレーザビームとのエネルギー密度について説明する図
　以下に、本発明の実施の形態にかかるレーザ加工方法およびレーザ加工装置を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態．
　図１は、本発明の実施の形態にかかるレーザ加工装置１の構成を示す図である。レーザ加工装置１は、レーザビームの照射により、被加工物であるワーク９への穴あけ加工を行う。ワーク９は、表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体の板である。
　図１において、Ｘ軸とＹ軸とは、水平方向に平行、かつ互いに垂直な２軸とする。Ｚ軸は、鉛直方向に平行、かつＸ軸とＹ軸とに垂直な軸とする。ワーク９は、ステージ８にて、Ｘ軸とＹ軸とに平行な面に載置される。なお、Ｚ軸方向のうち、図中矢印で示す方向をプラスＺ方向、矢印で示した方向とは逆の方向をマイナスＺ方向と称することがある。プラスＺ方向は、鉛直上方向である。マイナスＺ方向は、鉛直下方向である。
　レーザ加工装置１は、パルスレーザ発振によりレーザビームＬを出力するレーザ発振器２と、レーザビームＬを平行化するコリメータレンズ３と、レーザビームＬを透過させる透過領域を有し、透過領域の周囲にてレーザビームＬを遮蔽するマスク４とを備える。
　実施の形態において、レーザ発振器２は、赤外光を出力するＣＯ２レーザである。レーザ発振器２から発振されるレーザビームＬの波長は、１０．６μｍとする。レーザ発振器２は、１０．６μｍ以外の波長の赤外光を出力する赤外線（Infrared，ＩＲ）レーザ、あるいは紫外光を出力する紫外線（UltraViolet，ＵＶ）レーザであっても良い。レーザ発振器２は、発振されるレーザビームＬのエネルギーを変化させることにより、ワーク９に照射するレーザビームＬのエネルギーを調節する。マスク４では、コリメータレンズ３で平行化されたレーザビームＬの断面が整形される。
　また、レーザ加工装置１は、レーザビームＬを偏向させるガルバノスキャナ５，６と、レーザビームＬを収束する集光光学系であるｆθレンズ７とを備える。ガルバノスキャナ５は、レーザビームＬを反射する反射面の回転により、ワーク９上におけるレーザビームＬの入射位置をＸ軸方向において変化させる。ガルバノスキャナ６は、レーザビームＬを反射する反射面の回転により、ワーク９上におけるレーザビームＬの入射位置をＹ軸方向において変化させる。レーザ加工装置１は、ガルバノスキャナ５，６により、Ｘ軸方向とＹ軸方向とにおいてレーザビームＬを変位させる。
　ｆθレンズ７は、ｆθレンズ７の焦点距離ｆにガルバノスキャナ５，６の偏向角θを掛け合せたｆθの位置にて、レーザビームＬを収束させる。また、ｆθレンズ７は、マスク４にて整形されたレーザビームＬの像をワーク９へ転写する転写光学系でもある。なお、転写光学系は、ｆθレンズ７以外のレンズであっても良く、複数のレンズを備えていても良い。ガルバノスキャナ５，６とｆθレンズ７とは、加工ヘッドに設けられていても良い。図１では、加工ヘッドの図示を省略している。
　レーザ加工装置１は、ガルバノスキャナ５，６のうちの一方のみを備えるものであっても良い。また、レーザ加工装置１は、ガルバノスキャナ５，６以外の構成部品を用いて、レーザビームＬを変位させても良い。レーザビームＬの変位には、ガルバノスキャナ５，６に代えて、音響光学効果を利用して光を偏向させる音響光学偏向器（Acousto-Optic　Deflector，ＡＯＤ）、あるいは電気光学効果を利用して光を偏向させる電気光学偏向器（Electro-Optic　Deflector，ＥＯＤ）が用いられても良い。
　制御器１０は、レーザ加工装置１の全体を制御する。制御器１０は、レーザ発振器２のレーザ発振と、マスク４の動作と、ガルバノスキャナ５，６の駆動とを制御する。
　ステージ８は、Ｘ軸方向とＹ軸方向との一方、あるいはＸ軸方向とＹ軸方向との双方へ移動可能であっても良い。また、加工ヘッドは、Ｘ軸方向とＹ軸方向との一方、あるいはＸ軸方向とＹ軸方向との双方へ移動可能であっても良い。レーザ加工装置１は、制御器１０によるガルバノスキャナ５，６の駆動の制御とともに、ステージ８と加工ヘッドとの一方あるいは双方の移動を制御することにより、ワーク９におけるレーザビームＬの入射位置を変化させても良い。
　次に、レーザ加工装置１によるワーク９の加工について説明する。図２は、図１に示すレーザ加工装置１による加工前のワーク９の上面図である。図３は、図１に示すレーザ加工装置１による加工前のワーク９の断面図である。図４は、図１に示すレーザ加工装置１による加工後のワーク９の上面図である。図５は、図１に示すレーザ加工装置１による加工後のワーク９の断面図である。ここでは、図２から図５に示すワーク９は、図１に示すステージ８に載置されているものとする。図２と図４には、プラスＺ方向側におけるワーク９の上面を示している。図３と図５には、Ｘ軸とＺ軸とに平行な断面を示している。
　積層体の板であるワーク９は、積層体の上層である銅箔１１と、積層体の下層である銅箔１２と、金属層である２つの銅箔１１，１２の間に設けられた樹脂層１３とを備える。樹脂層１３と銅箔１１，１２とは、銅箔１１，１２のうち樹脂層１３側の面に形成された凹凸を樹脂層１３へめり込ませることにより、互いに接合されている。この他、樹脂層１３と銅箔１１，１２とは、接着剤により互いに接合されていても良い。図２から図５では、銅箔１１，１２の凹凸および接着剤の図示を省略している。
　レーザ加工装置１は、ワーク９のうち銅箔１１が形成されている側の表面にレーザビームＬを照射する。レーザ加工装置１は、図５に示すように、銅箔１１と樹脂層１３とを貫くとともに銅箔１２を底面とする穴１４をワーク９に形成する。図４に示す上面図において、穴１４は円形をなしている。レーザ加工装置１は、下層の銅箔１２を露出させる穴あけ加工を行う。
　レーザ加工装置１による穴あけ加工の対象とされる積層体は、上層と下層との間の樹脂層の中に設けられた内層である金属層を含むものであっても良い。レーザ加工装置１は、下層である金属層を露出させる穴あけ加工のほか、内層である金属層を露出させる穴あけ加工を行っても良い。内層である金属層は、Ｘ軸方向及びＹ軸方向において部分的に設けられたものであっても良い。
　図６は、図１に示すマスク４によるレーザビームＬの径の調節について説明する図である。マスク４には、第１の透過領域１５と、第１の透過領域１５より大きい第２の透過領域１６とが設けられ、透過領域以外の領域が遮光領域とされている。
　マスク４は、第１の透過領域１５の中心位置をレーザビームＬの中心Ｃに一致させた状態と、第２の透過領域１６の中心位置をレーザビームＬの中心Ｃに一致させた状態とに変化する。マスク４の移動あるいは回転により、レーザビームＬの光路上に配置される第１の透過領域１５と第２の透過領域１６との入れ換えが行われる。制御器１０は、マスク４の移動あるいは回転を制御する。
　第１のレーザビームＬ１は、第１の透過領域１５を透過してｆθレンズ７を通過したレーザビームＬである。ｆθレンズ７は、マスク４の第１の透過領域１５の像をワーク９に転写する。第２のレーザビームＬ２は、第２の透過領域１６を透過してｆθレンズ７を通過したレーザビームＬである。ｆθレンズ７は、マスク４の第２の透過領域１６の像をワーク９に転写する。図１に示すレーザ発振器２とマスク４と転写光学系であるｆθレンズ７とは、ワーク９へ進行させる第１のレーザビームＬ１と第２のレーザビームＬ２とを出射するレーザビーム出射部の機能を果たす。第２のレーザビームＬ２のビーム断面は、第１のレーザビームＬ１のビーム断面より拡大されている。ワーク９上における第２のレーザビームＬ２の径である第２のビーム径ＤＢ２は、ワーク９上における第１のレーザビームＬ１の径である第１のビーム径ＤＢ１より大きく、ＤＢ１＜ＤＢ２の関係が成り立つ。
　実施の形態にかかるレーザ加工方法では、第２のレーザビームＬ２の照射により所望の径の穴を形成するより前に、第１のレーザビームＬ１の照射により、所望の径より小さい径の穴を形成する。
　次に、図７から図１２を参照して、実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する。実施の形態にかかるレーザ加工方法は、第１のレーザビームＬ１の照射により第１の穴を形成する第１の工程と、第１の穴を包含する領域への第２のレーザビームＬ２の照射により第２の穴を形成する第２の工程とを含む。
　図７から図１２は、実施の形態にかかるレーザ加工方法について説明する図である。図７から図１２には、ワーク９のうちＸ軸とＺ軸とに平行な断面を示している。
　図７および図８に示す工程では、ワーク９のうち銅箔１１側の上面に、第１のビーム径ＤＢ１の第１のレーザビームＬ１を照射する。第１のレーザビームＬ１の照射により銅箔１１が昇温する。銅箔１１には、昇温によって溶融状態となった部分３１が生じる。また、銅箔１１から伝わる熱を受けて、樹脂層１３が昇温する。銅箔１１の溶融状態となった部分３１の下には、樹脂層１３の溶融状態となった部分３２が生じる。
　樹脂の沸点が銅の沸点より低いことから、図８に示すように、溶融状態となった銅が飛散するより前に、樹脂の蒸気３３が樹脂層１３に発生する。そして、図９に示すように、ワーク９の外へ蒸気３３が放出されるとともに、溶融状態となった銅が飛散して、第１の穴１７が形成される。
　このように、レーザ加工装置１は、図７から図９までの第１の工程により、銅箔１１を貫いて樹脂層１３まで掘り下げられた第１の穴１７をワーク９に形成する。レーザ加工装置１は、第１の工程により、所望の穴径より小さい径ＤＡ１の第１の穴１７を形成する。
　次に、図１０および図１１に示す工程では、ワーク９の上面のうち第１の穴１７を包含する領域に、第２のビーム径ＤＢ２の第２のレーザビームＬ２を照射する。第１のレーザビームＬ１が照射された領域を含む領域に、第１のレーザビームＬ１よりビーム断面が拡大された第２のレーザビームＬ２を入射させる。銅箔１１のうち第１の穴１７の周囲には、第２のレーザビームＬ２の照射によって溶融状態となった部分３１が生じる。また、樹脂層１３のうち第１の穴１７の周囲には、第１の穴１７への第２のレーザビームＬ２の照射によって溶融状態となった部分３２が生じる。そして、図１２に示すように、第１の穴１７からワーク９の外へ蒸気３３が放出されるとともに、溶融状態となった銅が飛散して、第２の穴１８が形成される。
　このようにして、レーザ加工装置１は、図１０から図１２までの第２の工程により、ワーク９に第２のレーザビームＬ２を照射して、第１の穴１７を包含する領域に第２の穴１８を形成する。第２の穴１８の径ＤＡ２は、第１の穴１７の径ＤＡ１より拡張されており、ＤＡ１＜ＤＡ２の関係が成り立つ。レーザ加工装置１は、第２の工程により、所望の穴径である径ＤＡ２の第２の穴１８を形成する。
　さらに、レーザ加工装置１は、第２の工程の後の追加工程により、樹脂層１３の加工閾値より高く、かつ銅箔１１，１２の加工閾値より低いパワーのレーザビームＬを、第２の穴１８に照射する。加工閾値は、被加工物の加工に要するパワーの閾値である。レーザビームＬの照射により、レーザ加工装置１は、第２の穴１８に続けて、銅箔１２に到達するまで樹脂層１３を掘り下げる加工を施して、図４および図５に示す穴１４を形成する。これにより、レーザ加工装置１は、所望とする径ＤＡ２の穴１４をワーク９に形成する。
　積層体の穴あけ加工では、銅箔１１へレーザビームＬを照射したときに、蒸気３３の発生により樹脂層１３が急激に膨張することにより、溶融状態の銅の飛散に要する力より強い力が生じることがある。この場合に、溶融状態となった銅のみならず、銅箔１１のうち溶融状態となった銅の周囲の部分までも押し上げられることがある。また、銅の溶融が不十分なうちに樹脂層１３が急激に膨張する場合もあり得る。樹脂層１３の急激な膨張による衝撃を銅箔１１が受けることによって、樹脂層１３から銅箔１１が剥離することがある。銅箔１１の剥離は、樹脂層１３と銅箔１１との接合が弱い場合に生じ易くなる。銅箔１１に形成された凹凸を樹脂層１３へめり込ませることにより樹脂層１３へ銅箔１１が接合されている場合は、銅箔１１が薄いほど凹凸の高低差が小さくなるため、銅箔１１と樹脂層１３との接合が弱くなり易い。
　実施の形態では、第２の工程より前に、第１の工程にて第１の穴１７を形成しておくことで、第２の工程にて発生した蒸気３３は、第１の穴１７へ放出される。蒸気３３は、第１の穴１７を通ってワーク９の外へ放出される。第１の穴１７へ蒸気３３を放出させることで、樹脂層１３の膨張によって銅箔１１が受ける衝撃を和らげることができる。これにより、第２の穴１８を形成する際における銅箔１１の剥離を低減できる。レーザ加工装置１は、図４および図５に示す穴１４の形成のための穴あけ加工による銅箔１１の剥離を低減できる。
　なお、実施の形態の第１の工程において第１の穴１７が形成された段階では、第１の穴１７の周囲に、樹脂層１３からの銅箔１１の剥離が生じていても良い。第１の穴１７の形成後の第２の工程では、第１の穴１７の周囲における銅箔１１の剥離が生じた部分を除去することができる。このため、第２の穴１８が形成された段階では、銅箔１１の剥離が生じた部分の残存を少なくすることができる。第１の工程により形成される第１の穴１７は、樹脂層１３に到達したものに限られない。第１の工程では、銅箔１１を貫く前に第１の穴１７の加工を止めても良い。この場合も、第１の穴１７を形成しておくことで、第２の穴１８を形成する際に銅箔１１が受ける衝撃を和らげることができ、銅箔１１の剥離を低減できる。
　図１３は、実施の形態の比較例において形成された穴３４の平面図である。図１４は、実施の形態にかかるレーザ加工方法より形成された穴１４の平面図である。図１３と図１４において、理想的な穴の形状を破線で示している。
　図１３に示す比較例において形成された穴３４は、ワーク９のうち銅箔１１への１回のレーザビームＬの照射によって形成されたものとする。穴３４の周囲には、樹脂層１３の急激な膨張によって銅箔１１の剥離が生じている。穴３４の形状と、理想的な穴の形状とを比較すると、銅箔１１の剥離によって削り取られた部分が不規則に生じている。
　一方、図１４に示す実施の形態において形成された穴１４は、理想的な穴の形状に近い円形をなしている。比較例の場合と比べると、穴１４の周囲における銅箔１１の剥離が低減されている。このように、実施の形態のレーザ加工方法によると、銅箔１１の剥離が低減され、理想的な形状の穴１４を得ることができる。
　図１５は、実施の形態にかかるレーザ加工方法の手順を示すフローチャートである。レーザ加工装置１は、レーザビーム出射部であるレーザ発振器２とマスク４とを制御器１０が制御することにより、ステップＳ１およびステップＳ２の処理を行う。
　レーザ加工装置１は、マスク４の位置状態を、図６に示すようにレーザビームＬの中心Ｃに第１の透過領域１５の中心位置が一致する状態として、レーザ発振器２からレーザビームＬを発振させる。これにより、ステップＳ１において、レーザ加工装置１は、ワーク９に第１のレーザビームＬ１を照射して、銅箔１１を貫いて樹脂層１３まで掘り下げられた第１の穴１７を形成する。
　次に、レーザ加工装置１は、マスク４の位置状態を、図６に示すようにレーザビームＬの中心Ｃに第２の透過領域１６の中心位置が一致する状態として、レーザ発振器２からレーザビームＬを発振させる。これにより、ステップＳ２において、レーザ加工装置１は、ワーク９のうち第１の穴１７を包含する領域に第２のレーザビームＬ２を照射して、銅箔１１と樹脂層１３とに、第１の穴１７より拡張された第２の穴１８を形成する。
　さらに、レーザ加工装置１は、第２の穴１８の形成の後の追加工程により、銅箔１２に到達するまで樹脂層１３を掘り下げる加工を適宜施すことで、図４および図５に示す穴１４を形成する。これにより、レーザ加工装置１は、図１５に示す手順を終了する。
　制御器１０による制御機能は、ハードウェア構成を使用して実現される。図１６は、図１に示す制御器１０のハードウェア構成の例を示すブロック図である。ハードウェア構成の１つの例は、マイクロコントローラである。制御器１０の機能は、マイクロコントローラにて解析および実行されるプログラム上で実行される。なお、制御器１０の機能の一部は、ワイヤードロジックによるハードウェア上で実行しても良い。
　制御器１０は、各種処理を実行するプロセッサ４１と、各種処理のためのプログラムが格納されるメモリ４２とを備える。プロセッサ４１とメモリ４２とは、バス４３を介して互いに接続されている。プロセッサ４１は、ロードされたプログラムを展開して、レーザ加工装置１の制御のための各種処理を実行する。プロセッサ４１により実行される処理には、レーザ発振器２を動作させるための処理と、マスク４を動作させるための処理とが含まれる。
　レーザ加工装置１は、マスク４を動作させることにより、レーザビームＬの径を調節するものに限られない。レーザ加工装置１は、集光光学系であるｆθレンズ７を移動させることにより、レーザビームＬの径を調節するものであっても良い。
　図１７は、実施の形態の変形例にかかるレーザ加工装置１によるレーザビームＬの径の調節について説明する図である。変形例にかかるレーザ加工装置１は、ｆθレンズ７の光軸ＡＸに平行な方向において、ｆθレンズ７を移動させる移動機構を備える。図１７では、移動機構の図示を省略している。制御器１０は、移動機構の駆動を制御する。なお、変形例において、集光光学系は、ｆθレンズ７以外のレンズであっても良い。集光光学系は、複数のレンズを備えていても良い。移動機構は、集光光学系の１つあるいは複数のレンズを移動させるものであっても良い。変形例において、図１に示すレーザ発振器２と集光光学系であるｆθレンズ７とは、ワーク９へ進行させる第１のレーザビームＬ１と第２のレーザビームＬ２とを出射するレーザビーム出射部の機能を果たす。
　ｆθレンズ７は、移動機構により、ワーク９から第１の距離Ｈ１の位置と、ワーク９から第２の距離Ｈ２の位置とに移動する。これにより、ｆθレンズ７は、第１のレーザビームＬ１と第２のレーザビームＬ２とを出射する。第１のレーザビームＬ１は、ワーク９から第１の距離Ｈ１の位置にあるｆθレンズ７を透過したレーザビームＬである。第２のレーザビームＬ２は、ワーク９から第２の距離Ｈ２の位置にあるｆθレンズ７を透過したレーザビームＬである。図１に示すレーザ発振器２とｆθレンズ７とは、ワーク９へ進行させる第１のレーザビームＬ１と第２のレーザビームＬ２とを出射するレーザビーム出射部の機能を果たす。
　図１７に示す例では、第２の距離Ｈ２は、第１の距離Ｈ１より短く、Ｈ１＞Ｈ２の関係が成り立つ。ワーク９上における第２のレーザビームＬ２の径である第２のビーム径ＤＢ２は、ワーク９上における第１のレーザビームＬ１の径である第１のビーム径ＤＢ１より大きく、ＤＢ１＜ＤＢ２の関係が成り立つ。ｆθレンズ７から第１の距離Ｈ１の位置がレーザビームＬの集光位置である場合において、ワーク９から第１の距離Ｈ１の位置から、ワーク９から第２の距離Ｈ２の位置へｆθレンズ７を移動させたとする。ワーク９の位置は、レーザビームＬの集光位置よりｆθレンズ７側の位置となる。レーザビームＬは、集光位置に比べてワーク９にて拡散する。このため、第２のビーム径ＤＢ２は、第１のビーム径ＤＢ１より大きくなる。なお、集光位置は、ｆθレンズ７に平行光を入射させた場合に、ｆθレンズ７を透過した光が一点に集光する焦点位置と一致することもある。
　第２の距離Ｈ２は、第１の距離Ｈ１より長くても良く、Ｈ１＜Ｈ２の関係が成り立つこととしても良い。ワーク９から第１の距離Ｈ１の位置から、ワーク９から第２の距離Ｈ２の位置へｆθレンズ７を移動させることで、ワーク９の位置は、レーザビームＬの集光位置よりｆθレンズ７側とは反対側の位置となる。この場合も、第２のビーム径ＤＢ２は、第１のビーム径ＤＢ１より大きく、ＤＢ１＜ＤＢ２の関係が成り立つ。
　変形例にかかるレーザ加工装置１は、ｆθレンズ７を移動させるものに代えて、光軸ＡＸに平行な方向であるＺ軸方向においてステージ８を移動させるものであっても良い。制御器１０は、Ｚ軸方向におけるステージ８の移動を制御する。マイナスＺ方向へステージ８を移動させることで、ワーク９はｆθレンズ７から遠ざけられる。プラスＺ方向へステージ８を移動させることで、ワーク９はｆθレンズ７へ近づけられる。レーザ加工装置１は、ステージ８を移動させることで、レーザビームＬの径を調節することができる。変形例にかかるレーザ加工装置１は、マスク４によるレーザビームＬの整形を省略しても良い。
　次に、実施の形態による加工結果の例について説明する。図１８は、実施の形態にかかるレーザ加工方法により形成される第１の穴１７および第２の穴１８の径ＤＡ１，ＤＡ２と、穴１４の加工による銅箔１１の剥離の発生確率との関係の例を示す図である。ここでは、厚さ１２μｍの銅箔１１と、厚さ５０μｍの樹脂層１３と、厚さ１２μｍの銅箔１２とを備えるワーク９の穴あけ加工の場合を例とする。
　図１８では、第１の穴１７の径ＤＡ１を１０μｍから９０μｍまでの範囲において１０μｍごとに変化させるとともに、第２の穴１８の径ＤＡ２を一定の１００μｍとした場合における銅箔１１の剥離の発生を観察した結果を示している。また、第１の穴１７の径ＤＡ１を１００μｍとして、第２の穴１８の形成を省略して穴１４を加工した場合における銅箔１１の剥離の発生確率を併せて示している。径ＤＡ１を１００μｍとした場合とは、上述の比較例による加工の場合を表している。
　径ＤＡ１を１００μｍとした比較例の場合には、図１８に示す関係における最高値である８３％の確率で銅箔１１の剥離が発生している。また、第１の穴１７の径ＤＡ１が９０μｍであるときと、８０μｍであるときには、第１の穴１７の形成による銅箔１１の剥離が第２の穴１８の形成後においても残存する可能性が高いことから、比較的高い４３％、８０％の確率で銅箔１１の剥離が発生している。
　図１８に示す関係によると、第１の穴１７の径ＤＡ１が１０μｍから７０μｍである場合に、銅箔１１の剥離の発生確率が２％以下に抑えられている。かかる関係から、レーザ加工装置１は、第１の穴１７の径ＤＡ１を、第２の穴１８の径ＤＡ２の７０％以下とすることで、ワーク９への穴１４の形成による銅箔１１の剥離の発生を低減できることがわかる。ワーク９上における第１のレーザビームＬ１の径である第１のビーム径ＤＢ１は、ワーク９上における第２のレーザビームＬ２の径である第２のビーム径ＤＢ２の７０％以下とする。
　レーザ加工装置１は、ＤＡ１≦０．７×ＤＡ２の関係が成り立つように径ＤＡ１と径ＤＡ２とが設定されることで、ワーク９の加工における銅箔１１の剥離を低減することができる。なお、レーザ加工装置１は、第１の穴１７の径ＤＡ１と第２の穴１８の径ＤＡ２には、ＤＡ１≦０．７×ＤＡ２を満足する任意の値を設定することができる。
　図１９は、図７から図１２に示す第１のレーザビームＬ１と第２のレーザビームＬ２とのエネルギー密度について説明する図である。図１９において「穴径」は、第１のレーザビームＬ１の照射により形成される第１の穴１７の径ＤＡ１と、第２のレーザビームＬ２の照射により形成される第２の穴１８の径ＤＡ２とを示す。「エネルギー」は、ワーク９の加工点に到達する第１のレーザビームＬ１のエネルギーと、第２のレーザビームＬ２のエネルギーとを示す。「エネルギー密度」は、第１の穴１７の単位面積当たりの第１のレーザビームＬ１のエネルギーと、第２の穴１８の単位面積当たりの第２のレーザビームＬ２のエネルギーとを示す。
　実施の形態では、ワーク９に照射する第１のレーザビームＬ１のエネルギー密度と、ワーク９に照射する第２のレーザビームＬ２のエネルギー密度とが、径ＤＡ１，ＤＡ２に関わらず同じとする。制御器１０は、ワーク９に照射する第１のレーザビームＬ１のエネルギー密度と、ワーク９に照射する第２のレーザビームＬ２のエネルギー密度とが一定となるように、レーザ発振器２から発振されるレーザビームＬのエネルギーを制御する。これにより、レーザ加工装置１は、第１の工程と第２の工程とで、一定の加工速度での穴あけ加工を実施可能とする。
　実施の形態によると、レーザ加工装置１は、第１の工程において、ワーク９に第１のレーザビームＬ１を照射して第１の穴１７を形成する。その後、レーザ加工装置１は、第２の工程において、第２のレーザビームＬ２を照射して、第１の穴１７を包含する領域に第１の穴１７の径より拡張された径の第２の穴１８を形成する。レーザ加工装置１は、第２の工程にて膨張した樹脂を第１の穴１７から放出させることで、第２の工程による銅箔１１の剥離を低減することができる。これにより、金属層と樹脂層とを含む積層体の加工における金属層の剥離を低減できるという効果を奏する。
　以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。
　１　レーザ加工装置、２　レーザ発振器、３　コリメータレンズ、４　マスク、５，６　ガルバノスキャナ、７　ｆθレンズ、８　ステージ、９　ワーク、１０　制御器、１１，１２　銅箔、１３　樹脂層、１４，３４　穴、１５　第１の透過領域、１６　第２の透過領域、１７　第１の穴、１８　第２の穴、３１，３２　部分、３３　蒸気、４１　プロセッサ、４２　メモリ、４３　バス、ＡＸ　光軸、Ｃ　中心、Ｌ　レーザビーム、Ｌ１　第１のレーザビーム、Ｌ２　第２のレーザビーム。

Claims (11)

  1. 　表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体に第１のレーザビームを照射して第１の穴を形成する第１の工程と、
    　前記積層体に第２のレーザビームを照射して、前記第１の穴を包含する領域に前記第１の穴の径より拡張された径の第２の穴を形成する第２の工程と、
    　を含むことを特徴とするレーザ加工方法。
  2. 　前記第１の穴の径は、前記第２の穴の径の７０％以下であることを特徴とする請求項１に記載のレーザ加工方法。
  3. 　表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体に第１のレーザビームを照射して第１の穴を形成する第１の工程と、
    　前記第１のレーザビームよりビーム断面が拡大された第２のレーザビームを、前記第１の穴を包含する領域に照射して、前記積層体に第２の穴を形成する第２の工程と、
    　を含むことを特徴とするレーザ加工方法。
  4. 　前記積層体における前記第１のレーザビームのビーム径は、前記積層体における前記第２のレーザビームのビーム径の７０％以下であることを特徴とする請求項３に記載のレーザ加工方法。
  5. 　前記積層体に照射する前記第１のレーザビームのエネルギー密度と、前記積層体に照射する前記第２のレーザビームのエネルギー密度とが同じであることを特徴とする請求項１から４のいずれか１つに記載のレーザ加工方法。
  6. 　前記第１のレーザビームは、マスクに形成された第１の透過領域の像を前記積層体に転写する転写光学系を通過したレーザビームであって、
    　前記第２のレーザビームは、マスクに形成され前記第１の透過領域より大きい第２の透過領域の像を前記積層体に転写する転写光学系を通過したレーザビームであることを特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載のレーザ加工方法。
  7. 　前記第１のレーザビームは、前記積層体から第１の距離の位置にある集光光学系を透過したレーザビームであって、
    　前記第２のレーザビームは、前記積層体から前記第１の距離とは異なる第２の距離の位置にある前記集光光学系を透過したレーザビームであることを特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載のレーザ加工方法。
  8. 　表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体へ進行させるレーザビームを出射するレーザビーム出射部と、
    　前記レーザビーム出射部の制御により、第１の穴の形成のための前記レーザビームである第１のレーザビームを前記積層体へ入射させ、かつ、前記第１の穴を包含する領域に前記第１の穴の径より拡張された径の第２の穴を形成するための前記レーザビームである第２のレーザビームを前記積層体へ入射させる制御器と、
    　を備えることを特徴とするレーザ加工装置。
  9. 　表面に金属層を有しかつ樹脂層を含む積層体へ進行させるレーザビームを出射するレーザビーム出射部と、
    　前記レーザビーム出射部の制御により、第１のビーム径の前記レーザビームである第１のレーザビームを前記積層体へ入射させ、かつ、前記第１のレーザビームが照射された領域を含む領域に第１のビーム径より大きい第２のビーム径の前記レーザビームである第２のレーザビームを入射させる制御器と、
    　を備えることを特徴とするレーザ加工装置。
  10. 　前記レーザビーム出射部は、
    　レーザ発振によりレーザビームを出力するレーザ発振器と、
    　前記レーザビームを透過可能な第１の透過領域と、前記レーザビームを透過可能であり前記第１の透過領域より大きい第２の透過領域とを有するマスクと、
    　前記マスクにて整形された前記レーザビームの像を前記積層体に転写する転写光学系と、
    　を備え、
    　前記第１のレーザビームは、前記第１の透過領域を透過して前記転写光学系を通過した前記レーザビームであって、
    　前記第２のレーザビームは、前記第２の透過領域を透過して前記転写光学系を通過した前記レーザビームであることを特徴とする請求項８または９に記載のレーザ加工装置。
  11. 　前記レーザビーム出射部は、
    　レーザ発振によりレーザビームを出力するレーザ発振器と、
    　前記レーザビームを収束する集光光学系と、
    　を備え、
    　前記第１のレーザビームは、前記積層体から第１の距離の位置にある集光光学系を透過した前記レーザビームであって、
    　前記第２のレーザビームは、前記第１の距離とは異なる第２の距離の位置へ移動させた前記集光光学系を透過したレーザビームであることを特徴とする請求項８または９に記載のレーザ加工装置。
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