WO2019017047A1 - 硬化性組成物、電子部品及び電子部品の製造方法 - Google Patents

硬化性組成物、電子部品及び電子部品の製造方法 Download PDF

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WO2019017047A1
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curable composition
compound
cured film
weight
curable
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PCT/JP2018/018156
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貴史 西村
前中 寛
崇至 鹿毛
駿夫 ▲高▼橋
秀 中村
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積水化学工業株式会社
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F290/00Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/01Use of inorganic substances as compounding ingredients characterized by their specific function
    • C08K3/013Fillers, pigments or reinforcing additives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
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    • C08K3/22Oxides; Hydroxides of metals
    • C08K2003/2237Oxides; Hydroxides of metals of titanium
    • C08K2003/2241Titanium dioxide

Definitions

  • the present invention relates to a curable composition comprising a curable component and titanium oxide.
  • the present invention also relates to an electronic component using the curable composition and a method of manufacturing an electronic component using the curable composition.
  • a solder resist film is widely used as a protective film for protecting a printed wiring board from high temperature solder.
  • a light emitting diode (hereinafter abbreviated as LED) chip is mounted on the upper surface of the printed wiring board.
  • a white solder resist film may be formed on the upper surface of the printed wiring board in order to utilize the light reaching the upper surface side of the printed wiring board among the light emitted from the LED.
  • the white solder resist film not only the light directly irradiated from the surface of the LED chip to the side opposite to the printed wiring board but also the reflected light that reaches the upper surface side of the printed wiring board and is reflected by the white solder resist film can be used. . Therefore, the utilization efficiency of the light produced from LED can be improved.
  • composition for forming the said white solder resist film is disclosed by the following patent documents 1 and 2.
  • Patent Document 1 describes an active energy ray-curable resin (A) having at least two ethylenically unsaturated bonds, a photopolymerization initiator (B), a diluent (C), and titanium oxide (D). And a photocurable composition containing an epoxy-based thermosetting compound (E).
  • the photocurable composition contains, as the component (A), a difunctional epoxy (meth) acrylate (A1).
  • Patent Document 2 describes an alkaline solution soluble resist ink composition including a photocurable resin, a photopolymerization initiator, a diluent, a thermosetting resin, titanium oxide particles, and hydrous magnesium silicate particles.
  • the photocurable resin is obtained by reacting a reaction product of a novolac epoxy resin, a heterocyclic epoxy resin or a bisphenol A epoxy resin with an unsaturated carboxylic acid with an organic polybasic acid anhydride.
  • the thermosetting resin is composed of an acrylic copolymer.
  • the titanium oxide particles are coated with aluminum oxide.
  • the reflectance of light may fall gradually.
  • the light reflectance may be greatly reduced.
  • the insulation reliability of a cured film may deteriorate.
  • a curable composition comprising a curable component, titanium oxide, and an inorganic filler other than titanium oxide, wherein the iron concentration in the curable composition is 100 ppm or less. Ru.
  • the iron concentration in the curable composition is 80 ppm or less.
  • the inorganic filler is talc, silica or barium sulfate.
  • the content of the titanium oxide is 35% by weight or more and 70% by weight or less in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent.
  • the curable component comprises a photocurable compound or a thermosetting compound.
  • the curable component comprises a curable compound having a weight average molecular weight of 2000 or more.
  • the curable component comprises a curable compound having a hydroxyl group.
  • the curable composition is used to form a solder resist film.
  • an electronic component comprising an electronic component body and a cured film disposed on the surface of the electronic component body, wherein the material of the cured film is the above-described curable composition.
  • a step of applying the above-described curable composition onto the surface of an electronic component body to form a curable composition layer, and curing the curable composition layer, And a step of forming a cured film is provided.
  • the curable composition layer is a solder resist layer
  • the cured film is a solder resist film
  • the curable composition which concerns on this invention contains a curable component, a titanium oxide, and inorganic fillers other than a titanium oxide, and the iron concentration in a curable composition is 100 ppm or less.
  • the curable composition according to the present invention is provided with the above-described configuration, so that a cured film with high light reflectance can be obtained, a cured film with high heat resistance can be obtained, and exposure to high temperatures is possible. Even if this is done, the high light reflectance of the cured film can be maintained, and furthermore, a cured film with high insulation reliability can be obtained.
  • FIGS. 1 (a) to 1 (e) are cross-sectional views for explaining an example of a method for producing an electronic component using a curable composition according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 2 (a) to 2 (c) are cross-sectional views for explaining another example of a method for producing an electronic component using the curable composition according to one embodiment of the present invention.
  • the curable composition concerning this invention is hardened
  • the curable composition according to the present invention is preferably used to form a cured film, and more preferably used to form a solder resist film.
  • the cured film is preferably a solder resist film.
  • the curable composition according to the present invention may be a developable resist curable composition or a non-developable resist curable composition.
  • development may be performed to form a solder resist film, and development may not be performed to form a solder resist film.
  • the curable composition according to the present invention is preferably a curable composition for a solder resist.
  • the curable composition according to the present invention comprises (A) a curable component, (C) titanium oxide, and (D) an inorganic filler other than titanium oxide.
  • the iron concentration in the curable composition is 100 ppm or less.
  • the curable composition according to the present invention can be suitably used to form a solder resist film.
  • a cured film having high light reflectance can be obtained, and the high light reflectance of the cured film can be maintained even when exposed to high temperatures. Accordingly, the curable composition according to the present invention can be suitably used for light reflection applications. Furthermore, according to the present invention, since the above configuration is provided, a cured film having excellent insulation reliability can be obtained.
  • the inventors of the present invention conducted intensive studies to obtain a cured film having high light reflectance and capable of maintaining high light reflectance, and as a result, the cause is that the light reflectance of the cured film gradually decreases.
  • the inventors of the present invention conducted intensive studies to obtain a cured film having high light reflectance and capable of maintaining high light reflectance, and as a result, the cause of deterioration in insulation reliability of the cured film is , Iron found to be present in the curable composition.
  • the reason why the above-mentioned performance is deteriorated by iron is considered to be that a curable compound-iron complex is formed by the iron in the curable composition and the curable compound contained in the curable component.
  • the iron concentration in the curable composition is 100 ppm or less.
  • the curable composition according to the present invention may or may not contain iron. From the viewpoint of effectively increasing the light reflectance of the cured film and effectively maintaining the high light reflectance, and from the viewpoint of effectively enhancing the insulation reliability of the cured film, the iron in the curable composition
  • the concentration is preferably 80 ppm or less, more preferably 70 ppm or less.
  • the lower limit of the iron concentration in the curable composition is not particularly limited.
  • the iron concentration in the curable composition may exceed 0 ppm, may be 0 ppm (not contained) or more, and may be 0 ppm (not contained).
  • the said iron is contained in the material of a curable composition, or is contained in the instrument used when preparing a curable composition. Depending on the equipment used in preparing the curable composition, iron may be included in the curable composition.
  • the following methods (1) to (3), etc. may be mentioned as a method for setting the iron concentration in the curable composition to the above-mentioned preferable range.
  • (1) A method of using a raw material with a low iron content as a raw material of the compounding component.
  • (2) A method of removing iron from the raw material of the composition, the blending component or the blending component using a magnet filter or the like.
  • (3) A method of using a material (not containing iron or a material having a small content of iron) which is not stainless steel (SUS 304 or the like) as a material of a member used for stirring or kneading when preparing the curable composition.
  • talc as a raw material contains a large amount of iron.
  • iron contained in talc can be effectively removed.
  • the iron concentration in the curable composition can be measured as follows.
  • 1 g of the curable composition is precisely weighed in a platinum crucible, and after preburned, it is incinerated with an electric furnace under conditions of 800 ° C. and 3 hours. After cooling, 2 ml of nitric acid is added in six portions and completely evaporated to dryness on a hot plate at 300 ° C. to 350 ° C. Next, 3 ml of hydrochloric acid is added and heated to 200 ° C. to 250 ° C. to dryness so that a small amount of hydrochloric acid remains at the bottom of the crucible. Next, the volume is raised to 25 ml with distilled water and kept at 20 ° C. by a cooling device to obtain a sample. The obtained sample is subjected to atomic absorption analysis using an atomic absorption spectrophotometer (“AA-6500” manufactured by Shimadzu Corporation) to measure the iron concentration in the curable composition.
  • AA-6500 atomic absorption spectrophotometer
  • the above-mentioned iron concentration is the concentration of elemental iron in the curable composition, and the existing state of iron in the curable composition is not particularly limited.
  • the iron may be a single substance, may be a compound, may be an iron ion, or may form a complex like an organic metal complex.
  • the curable composition according to the present invention comprises (A) a curable component.
  • the (A) curable component is It is preferable to include (A-1) a photocurable compound or (A-2) a thermosetting compound.
  • the curable component (A) may contain only the photocurable compound (A-1), or may contain only the thermosetting compound (A-2), and (A-1) photocurable Both the compound and the thermosetting compound (A-2) may be contained.
  • the curable composition may contain only (A-1) a photocurable compound, or may contain only (A-2) a thermosetting compound, (A-1) a photocurable compound And (A-2) a thermosetting compound.
  • the (A) curable component is It is preferable to include a curable compound having a weight average molecular weight of 2000 or more.
  • the curable compound having a weight average molecular weight of 2000 or more may be (A-1) a photocurable compound or (A-2) a thermosetting compound.
  • the weight average molecular weight is a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC), and can be measured by the following measuring device and measuring conditions.
  • Measuring device "Waters GPC System (Waters 2690 + Waters 2414 (RI))" manufactured by Nippon Waters. Measurement conditions Column: Shodex GPC LF-G x 1, Shodex GPC LF-804 x 2 Mobile phase: THF 1.0 ml / min Sample concentration: 5 mg / ml Detector: Differential Refractive Index Detector (RID) Standard substance: polystyrene (manufactured by TOSOH, molecular weight: 620 to 59,000)
  • the (A) curable component is And a curable compound having a hydroxyl group is preferable.
  • the curable compound having a hydroxyl group may be (A-1) a photocurable compound or (A-2) a thermosetting compound.
  • the curable composition according to the present invention is provided with the above-mentioned constitution, it is possible to suppress the formation of a curable compound-iron complex by the curable compound having a hydroxyl group and iron in the curable composition.
  • the light reflectance of the cured film can be effectively increased, and the high light reflectance can be effectively maintained.
  • the photocurable compound (A-1) contained in the above-mentioned curable composition is not particularly limited as long as it has photocurability.
  • the photocurable compound may have a carboxyl group.
  • the developability of the curable composition can be improved.
  • the photocurable compound (A-1) does not have a carboxyl group.
  • the photocurable compound having no carboxyl group it is possible to effectively suppress the color change of the cured film formed by the above-mentioned curable composition.
  • the compound preferably includes a photocurable compound having a weight average molecular weight of 2000 or more, and preferably includes a photocurable compound having a hydroxyl group.
  • the photocurable compound (A-1) preferably has an ethylenically unsaturated bond.
  • the content of (C) titanium oxide is high, the adhesion of the cured film tends to be low unless a photocurable compound having an ethylenically unsaturated bond is used.
  • Examples of the group containing an ethylenically unsaturated bond in the photocurable compound (A-1) include a vinyl group, an allyl group and a (meth) acryloyl group. From the viewpoint of effectively advancing the reaction and further suppressing the foaming, peeling and discoloration of the cured film, the group containing an ethylenically unsaturated bond in the photocurable compound (A-1) is a (meth) acryloyl group. Is preferred.
  • the photocurable compound (A-1) preferably has a (meth) acryloyl group.
  • the photocurable compound (A-1) preferably contains an epoxy (meth) acrylate.
  • the epoxy (meth) acrylate preferably contains a bifunctional epoxy (meth) acrylate and a trifunctional or higher epoxy (meth) acrylate.
  • the bifunctional epoxy (meth) acrylate preferably has two (meth) acryloyl groups.
  • the trifunctional or higher epoxy (meth) acrylate preferably has 3 or more (meth) acryloyl groups.
  • the said epoxy (meth) acrylate can be obtained by making (meth) acrylic acid and an epoxy compound react.
  • the said epoxy (meth) acrylate can be obtained by converting an epoxy group into a (meth) acryloyl group. It is preferable that the said epoxy (meth) acrylate does not have an epoxy group, and it is preferable that it is a photocurable compound.
  • epoxy (meth) acrylate bisphenol type epoxy (meth) acrylate
  • bisphenol A type epoxy (meth) acrylate bisphenol F type epoxy (meth) acrylate
  • bisphenol S type epoxy (meth) acrylate bisphenol S type epoxy (meth) acrylate)
  • cresol novolac type Epoxy (meth) acrylate amine modified bisphenol epoxy (meth) acrylate, caprolactone modified bisphenol epoxy (meth) acrylate, carboxylic acid anhydride modified epoxy (meth) acrylate, and phenol novolac epoxy (meth) acrylate .
  • difunctional epoxy (meth) acrylates include KAYARAD R-381 (Nippon Kayaku Co., Ltd., bisphenol A type epoxy acrylate), EBECRYL3700, EBECRYL3701 and EBECRYL3708 (made by Daicel Ornex, modified bisphenol A epoxy acrylate) Etc.).
  • EBECRYL3603 made by Daicel-Ornex Co., Ltd., novolak epoxy acrylate
  • epoxy (meta) acrylate of trifunctional or more Alternatively, a trifunctional or higher functional epoxy (meth) acrylate may be obtained by modifying a hydroxyl group of a bifunctional epoxy (meth) acrylate to introduce a (meth) acryloyl group.
  • (Meth) acryloyl group indicates an acryloyl group and a methacryloyl group.
  • (Meth) acrylic indicates acrylic and methacrylic.
  • (Meth) acrylate indicates acrylate and methacrylate.
  • the weight average molecular weight of the photocurable compound (A-1) is preferably 2000 or more. (A-1) When the weight average molecular weight of the photocurable compound is less than 2000, the adhesion of the cured film tends to be lower than when the weight average molecular weight is 2000 or more, or foaming after reflowing And discoloration tend to occur.
  • the weight average molecular weight of the photocurable compound (A-1) is preferably 20000 or less.
  • the (A-1) photocurable compound is preferably not a compound having an alicyclic skeleton, and an epoxy having an alicyclic skeleton ((A-1) It is preferred that it is not meta) acrylate.
  • the (A-1) photocurable compound preferably contains a compound having an aromatic skeleton, and an epoxy (meth) having an aromatic skeleton It is preferred to include an acrylate.
  • the photocurable compound (A-1) preferably contains a urethane (meth) acrylate, a polyester (meth) acrylate or an epoxy (meth) acrylate having an aromatic skeleton, and the urethane (meth) acrylate or the aromatic skeleton It is more preferable to contain the epoxy (meth) acrylate which it has.
  • the photocurable compound (A-1) contains the above-described preferable compound, foaming, peeling and discoloration of the cured film can be effectively suppressed.
  • the epoxy (meth) acrylate has a hydroxyl group.
  • the epoxy (meth) acrylate may be an epoxy (meth) acrylate obtained by modifying the hydroxyl group of epoxy (meth) acrylate having a hydroxyl group. In this case, the degree of crosslinking of the cured film can be increased, and the hardness of the cured film can be effectively increased.
  • the silane coupling agent, the monomer which has an isocyanate group, etc. are mentioned.
  • silane coupling agent the compound etc.
  • the said silane coupling agent is a compound which has a vinyl group, a (meth) acryloyl group, a styryl group, or a mercapto group.
  • the compound etc. which have a vinyl group, a (meth) acryloyl group, a styryl group, or a mercapto group are mentioned.
  • the acid value of the said epoxy (meth) acrylate is 20 mgKOH / g or less.
  • the influence of an acidic group is suppressed as an acid value is below the said upper limit, and the heat resistance of a cured film can be improved further.
  • the said acid value means the acid value of the mixture of epoxy (meth) acrylate.
  • the acid value of the said epoxy (meth) acrylate is measured as follows.
  • the content of the photocurable compound (A-1) and the epoxy (meth) acrylate is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. It is the above, Preferably it is 40 weight% or less, More preferably, it is 30 weight% or less.
  • the content of the photocurable compound (A-1) and the epoxy (meth) acrylate is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the adhesion of the cured film can be effectively enhanced.
  • the total content of bifunctional epoxy (meth) acrylate and trifunctional or higher epoxy (meth) acrylate is preferably 5% by weight or more in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. More preferably, it is 10% by weight or more, preferably 40% by weight or less, and more preferably 30% by weight or less.
  • the adhesion of the cured film is effectively enhanced if the total content of the bifunctional epoxy (meth) acrylate and the trifunctional or higher epoxy (meth) acrylate is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit it can.
  • the component 100% by weight of the curable composition excluding the solvent means 100% by weight of the component except the solvent of the curable composition when the curable composition contains the solvent, and the curable composition is the solvent. When not included, it means 100% by weight of the curable composition.
  • thermosetting compound (A-2) contained in the curable composition is not particularly limited as long as it has a thermosetting property.
  • thermosetting compound (A-2) only one type may be used, or two or more types may be used in combination.
  • thermosetting compound (A-2) may have a carboxyl group.
  • A-2) When the thermosetting compound has a carboxyl group, the developability of the curable composition can be improved.
  • thermosetting compound (A-2) has no carboxyl group.
  • the compound preferably contains a thermosetting compound having a weight average molecular weight of 2000 or more, and preferably contains a thermosetting compound having a hydroxyl group.
  • thermosetting compound (A-2) examples include epoxy compounds, oxetane compounds, and silicone compounds. From the viewpoint of enhancing the insulation reliability of the cured film, the (A-2) thermosetting compound preferably contains the above-mentioned epoxy compound. Moreover, the processability and hardenability of a curable composition can be made favorable by using the said epoxy compound.
  • the epoxy compound examples include bisphenol S type epoxy compounds, diglycidyl phthalate compounds, heterocyclic epoxy compounds such as triglycidyl isocyanurate, bixylenol type epoxy compounds, biphenol type epoxy compounds, tetraglycidyl xylenoyl ethane compounds, bisphenol A Type epoxy compound, hydrogenated bisphenol A type epoxy compound, bisphenol F type compound, brominated bisphenol A type epoxy compound, phenol novolac type epoxy compound, cresol novolac type epoxy compound, alicyclic epoxy compound, novolac type epoxy compound of bisphenol A , Chelate type epoxy compounds, glyoxal type epoxy compounds, amino group-containing epoxy compounds, rubber modified epoxy compounds, dicyclopentadiene Enorikku type epoxy compounds, silicone-modified epoxy compounds and ⁇ - caprolactone-modified epoxy compounds and the like.
  • the epoxy compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • the content of the (A-2) thermosetting compound and the epoxy compound is preferably 1% by weight or more, more preferably 5% by weight or more, in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. Preferably it is 20 weight% or less, More preferably, it is 15 weight% or less.
  • the content of the (A-2) thermosetting compound and the epoxy compound is at least the lower limit and the upper limit, the insulation reliability of the cured film can be effectively enhanced.
  • the curable composition according to the present invention may contain (B) a reactive diluent.
  • the (B) reactive diluent preferably has one or more ethylenically unsaturated bonds.
  • the weight average molecular weight of the reactive diluent is generally less than 2000, preferably 800 or less, more preferably 600 or less.
  • B Only one reactive diluent may be used, or two or more reactive diluents may be used in combination.
  • Examples of the group containing an ethylenically unsaturated bond in the reactive diluent (B) include a vinyl group, an allyl group, and a (meth) acryloyl group.
  • the group containing the ethylenically unsaturated bond in the (B) reactive diluent is a (meth) acryloyl group. Is preferred.
  • the (B) reactive diluent preferably has a (meth) acryloyl group.
  • the reactive diluent is not particularly limited.
  • (meth) acrylic acid adduct of polyhydric alcohol, (meth) acrylic acid adduct of alkylene oxide modified product of polyhydric alcohol, urethane (meth) acrylate, and polyester (meth) An acrylate etc. are mentioned.
  • polyhydric alcohol examples include diethylene glycol, triethylene glycol, polyethylene glycol, dipropylene glycol, tripropylene glycol, polypropylene glycol, trimethylolpropane, cyclohexane dimethanol, tricyclodecane dimethanol, alkylene oxide adduct of bisphenol A, and And pentaerythritol and the like.
  • the reactive diluent may contain a compound having one ethylenic unsaturated bond, and may contain a compound having two or more ethylenic unsaturated bonds. From the viewpoint of further enhancing the adhesion of the cured film, the (B) reactive diluent preferably contains a compound having two or more ethylenic unsaturated bonds, and a compound having two or more (meth) acryloyl groups. Is preferred.
  • the (B) reactive diluent preferably contains an alicyclic compound or has an aromatic ring or a hydroxyl group.
  • the reactive diluent preferably has no carboxyl group.
  • the viscosity at 25 ° C. of the reactive diluent (B) is preferably 1 mPa ⁇ s or more, more preferably 3 mPa ⁇ s or more. From the viewpoint of further enhancing the adhesion of the cured film, the viscosity at 25 ° C. of the (B) reactive diluent is preferably 200 mPa ⁇ s or less, more preferably 100 mPa ⁇ s or less.
  • the viscosity can be measured using an E-type viscometer under conditions of 25 ° C. and 10 rpm.
  • the content of the (B) reactive diluent and the compound having two or more ethylenic unsaturated bonds is preferably 5% by weight or more, more preferably 100% by weight of the components excluding the solvent of the curable composition. It is 10% by weight or more, preferably 50% by weight or less, and more preferably 40% by weight or less.
  • the content of the reactive diluent (B) and the compound having two or more ethylenic unsaturated bonds is at least the lower limit and the upper limit, the adhesion of the cured film is effectively enhanced.
  • the curable composition according to the present invention comprises (C) titanium oxide.
  • the curable composition contains (C) titanium oxide, a cured film having a high light reflectance can be formed.
  • (C) titanium oxide it is possible to form a cured film having a high light reflectance as compared with the case of using only an inorganic filler other than (D) titanium oxide.
  • (C) titanium oxide only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
  • the titanium oxide is preferably rutile titanium oxide or anatase titanium oxide, and more preferably rutile titanium oxide.
  • the anatase type titanium oxide has a hardness lower than that of the rutile type titanium oxide. For this reason, the processability of a cured film can be further improved by using the said anatase type titanium oxide.
  • titanium oxide (C) examples include sulfuric acid method titanium oxide and chlorine method titanium oxide. From the viewpoint of further suppressing the color change under high temperature of the cured film, (C) titanium oxide is preferably chlorine-based titanium oxide.
  • the chlorinated titanium oxide is titanium oxide produced by the chlorine method.
  • Titanium oxide is preferably rutile type titanium oxide.
  • the heat resistance of the cured film can be further enhanced, and the discoloration of the cured film can be further suppressed.
  • the titanium oxide contains rutile type titanium oxide surface-treated with aluminum oxide (rutile type titanium oxide which is a surface treatment product with aluminum oxide).
  • rutile type titanium oxide which is a surface treatment product with aluminum oxide.
  • the heat resistance of the cured film can be further enhanced by using the rutile-type titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide.
  • the rutile-type titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide includes “CR-90-2” manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. which is a rutile chlorinated titanium oxide, “CR-58 manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd. which is a rutile chlorinated titanium oxide And “R-900” manufactured by DuPont Co., Ltd., which is a rutile chlorinated titanium oxide, and “R-630” manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., which is a rutile sulfuric acid titanium oxide.
  • the titanium oxide preferably includes rutile type titanium oxide which is a surface treatment product with a silicon oxide or a silicone compound.
  • rutile-type titanium oxide which is a surface treatment product with the silicon oxide or the silicone compound, discoloration of the cured film at high temperature can be further suppressed.
  • rutile type titanium oxide which is a surface treatment product with the above silicon oxide or silicone compound, “CR-90” manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., which is rutile chlorine method titanium oxide, “Ishikawa Sangyo Co., Ltd.” which is rutile sulfuric acid titanium oxide, R-550 "and the like.
  • the method of the surface treatment is not particularly limited.
  • a method of the surface treatment a dry method, a wet method, an integral blending method, and other known conventional surface treatment methods can be used.
  • the average particle diameter of (C) titanium oxide is preferably 1 nm or more, and preferably 40 ⁇ m or less.
  • the reflectance of the light of a cured film can be further improved as the said average particle diameter is more than the said minimum and below the said upper limit.
  • the average particle size of titanium oxide is the particle size when the integrated value is 50% in the volume-based particle size distribution curve.
  • the average particle size can be measured, for example, using a laser beam particle size distribution analyzer.
  • LS 13 320 As a commercial item of the said laser beam type particle size distribution analyzer, "LS 13 320" by Beckman Coulter, etc. are mentioned.
  • the content of titanium oxide (C) is preferably 35% by weight or more, more preferably 40% by weight or more, preferably 70% by weight or less, in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. Preferably it is 60 weight% or less.
  • the heat resistance of a cured film can be further improved as content of a titanium oxide is more than the said lower limit and below the said upper limit, and the color change under high temperature of a cured film can be suppressed further. Furthermore, a curable composition having a viscosity suitable for coating can be easily prepared.
  • the curable composition concerning this invention contains inorganic fillers other than (D) titanium oxide (Hereinafter, it may describe as (D) inorganic filler).
  • the inorganic filler is an inorganic filler different from titanium oxide.
  • the inorganic filler (D) may be used alone or in combination of two or more.
  • the (D) inorganic filler is preferably talc, silica or barium sulfate, and more preferably silica.
  • the inorganic filler may be talc.
  • the average particle diameter of the (D) inorganic filler is preferably 0.1 ⁇ m or more, more preferably 0.2 ⁇ m or more, and preferably 10 ⁇ m or less, more preferably 5 ⁇ m or less.
  • the average particle diameter of the (D) inorganic filler is at least the lower limit and the upper limit, discoloration of the cured film at high temperatures can be further suppressed.
  • the average particle size of the inorganic filler is the particle size when the integrated value is 50% in the volume-based particle size distribution curve.
  • the average particle size can be measured, for example, using a laser beam particle size distribution analyzer.
  • LS 13 320 As a commercial item of the said laser beam type particle size distribution analyzer, "LS 13 320" by Beckman Coulter, etc. are mentioned.
  • the content of the (D) inorganic filler is preferably 3% by weight or more, more preferably 5% by weight or more, and preferably 20% by weight or less in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. Preferably it is 15 weight% or less.
  • the content of the inorganic filler (D) is not less than the lower limit and not more than the upper limit, discoloration of the cured film at a high temperature can be further suppressed.
  • the content of the total of (C) titanium oxide and (D) inorganic filler is preferably 38% by weight or more, more preferably 45% by weight or more, in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. Preferably it is 70 weight% or less, More preferably, it is 65 weight% or less.
  • the total content of (C) titanium oxide and (D) inorganic filler is at least the lower limit and the upper limit, discoloration of the cured film at high temperatures can be further suppressed.
  • the curable composition may contain (E) a photopolymerization initiator.
  • the curable composition preferably contains (E) a photopolymerization initiator.
  • the photopolymerization initiator (E) only one type may be used, or two or more types may be used in combination.
  • Photopolymerization initiators include acyl phosphine oxides, halomethylated triazines, halomethylated oxadiazoles, imidazoles, benzoins, benzoin alkyl ethers, anthraquinones, benzanthrones, benzophenones, acetophenones, thioxanthones, benzoates, acridines, These include phenazine, titanocene, ⁇ -aminoalkylphenone, oxime, and derivatives thereof.
  • benzophenone-based photopolymerization initiators include methyl o-benzoylbenzoate and Michler's ketone.
  • EAB made by Hodogaya chemical company
  • Examples of commercially available products of acetophenone photopolymerization initiators include DAROCURE 1173, DAROCURE 2959, IRGACURE 184, IRGACURE 907, IRGACURE 369 (all manufactured by BASF AG), and the like.
  • Irgacure 651 As a commercial item of a benzoin type photoinitiator, Irgacure 651 (made by BASF Corporation) etc. are mentioned.
  • Lucirin TPO made by BASF Corporation
  • Irgacure 819 made by BASF Corporation
  • Examples of commercially available products of thioxanthone photopolymerization initiators include isopropyl thioxanthone and diethyl thioxanthone.
  • alkylphenone photopolymerization initiators include Darocure 1173, Darocure 2959, Irgacure 184, Irgacure 907, Irgacure 369, Irgacure 379, Irgacure 651 (all by BASF Corporation), and Esacure 1001M (manufactured by Lamberti) Etc.).
  • oxime-based photopolymerization initiators examples include Irgacure OXE-01 and Irgacure OXE-02 (all manufactured by BASF Corporation).
  • the (E) photopolymerization initiator preferably contains both an acylphosphine photopolymerization initiator and an alkylphenone photopolymerization initiator.
  • the (E) photopolymerization initiator preferably contains an acylphosphine oxide photopolymerization initiator.
  • the (E) photopolymerization initiator preferably contains both an acetophenone photopolymerization initiator and an acylphosphine oxide photopolymerization initiator.
  • the content of the photopolymerization initiator (E) is preferably 1 part by weight or more, more preferably 3 parts by weight with respect to a total of 100 parts by weight of the (A-1) photocurable compound and the (B) reactive diluent.
  • the amount is at least 20 parts by weight, preferably at most 15 parts by weight.
  • the curable composition may contain (F-1) curing agent or (F-2) curing catalyst.
  • the curable composition may contain only the (F-1) curing agent, may contain only the (F-2) curing catalyst, (F-1) the curing agent and (F-2) Both the curing catalyst and the curing catalyst may be included.
  • the curable composition contains (A-2) a thermosetting compound
  • the curable composition preferably contains (F-1) a curing agent or (F-2) a curing catalyst.
  • the curing agent (F-1) only one type may be used, or two or more types may be used in combination.
  • the curing catalyst may be used alone or in combination of two or more.
  • (F-1) As a curing agent, polyfunctional phenol compounds, polycarboxylic acids, acid anhydrides of polycarboxylic acids, aliphatic or aromatic primary or secondary amines, polyamide resins, isocyanate compounds, polymercapto compounds, etc. Can be mentioned. From the viewpoint of effectively improving the processability of the cured film, and from the viewpoint of effectively enhancing the insulation reliability of the cured film, the (F-1) curing agent is a polyfunctional phenolic compound, a polycarboxylic acid, and a polycarboxylic acid It is preferable that it is an acid anhydride of
  • the polyfunctional phenol compound is not particularly limited as long as it is a compound having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule, and publicly known and commonly used compounds can be used.
  • examples of polyfunctional phenol compounds include phenol novolac resin, cresol novolac resin, bisphenol A, allylated bisphenol A, bisphenol F, bisphenol A novolac resin, vinylphenol copolymer resin, and the like. It is preferable that the said polyfunctional phenol compound is bisphenol A from a viewpoint of improving the heat resistance of a cured film effectively.
  • Such polyfunctional phenolic compounds react with the epoxy compounds in the presence of a suitable curing catalyst.
  • polycarboxylic acids and acid anhydrides of polycarboxylic acids include compounds having two or more carboxyl groups in one molecule, acid anhydrides of the compounds, and the like.
  • examples of polycarboxylic acids and acid anhydrides of polycarboxylic acids include copolymers of (meth) acrylic acid, copolymers of maleic anhydride, and condensation products of dibasic acids.
  • Examples of commercially available products include "Johnkrill” manufactured by BASF, "SMA resin” manufactured by Sartmar, and "polyazelaic acid anhydride” manufactured by Shin Nippon Rika.
  • the content of the (F-1) curing agent is preferably 1 part by weight or more, more preferably 10 parts by weight or more, and preferably 200 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the thermosetting compound (A-2).
  • the following amount is more preferably 100 parts by weight or less.
  • the (F-2) curing catalyst acts as a curing catalyst in the reaction of the (A-2) thermosetting compound and the (F-1) curing agent.
  • the (F-2) curing catalyst acts as a polymerization catalyst when the (F-1) curing agent is not used.
  • Examples of the curing catalyst include tertiary amines, tertiary amine salts, quaternary onium salts, tertiary phosphines, crown ether complexes, and phosphonium ylides.
  • imidazole compound isocyanurate of imidazole compound, dicyandiamide, derivative of dicyandiamide, melamine compound, derivative of melamine compound, diaminomaleonitrile, diethylenetriamine, triethylenetetramine, tetramer
  • Amine compounds such as ethylenepentamine, bis (hexamethylene) triamine, triethanolamine, diaminodiphenylmethane, organic acid dihydrazide, 1,8-diazabicyclo [5,4,0] undecene-7,3,9-bis (3- Aminopropyl) -2,4,8,10-tetraoxaspiro [5,5] undecane, and organophosphorus such as triphenylphosphine, tricyclohexylphosphine, tributylphosphine and methyl diphenylphosphine Fin compounds.
  • the content of the (F-2) curing catalyst is preferably 0.05 parts by weight or more, more preferably 0.1 parts by weight or more, relative to 100 parts by weight of the thermosetting compound (A-2), and preferably Is 10 parts by weight or less, more preferably 5 parts by weight or less.
  • the curable composition containing the thermosetting compound (A-2) can be thermally cured well.
  • the curable composition may contain a thiol group-containing compound having one or more (G) thiol groups (hereinafter sometimes referred to as (G) thiol group-containing compound).
  • the curable composition contains (A-1) a photocurable compound
  • the curable composition preferably contains (G) a thiol group-containing compound.
  • the thiol group-containing compound preferably has no nitrogen atom.
  • the thiol group-containing compound (G) only one type may be used, or two or more types may be used in combination.
  • the thiol group-containing compound (G) is preferably a mercapto carboxylic acid ester compound, and more preferably a secondary thiol compound.
  • a mercapto carboxylic acid ester compound When a mercapto carboxylic acid ester compound is used, the mercapto carboxylic acid ester compound is incorporated into the cross-linked structure at the time of curing, so that the volatilization of the volatile component after curing can be suppressed, and foaming can be further suppressed.
  • a secondary thiol compound is used, the odor unique to the thiol group-containing compound can be suppressed.
  • the (G) thiol group-containing compound examples include trimethylolpropane tris (3-mercaptopropionate) (“TMMP” manufactured by SC Organic Chemical Co., Ltd.), pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) (SC organic Chemical company “PEMP”), tris-[(3-mercaptopropionyloxy) -ethyl] -isocyanurate (SC Organic Chemical company "TEMPIC”), tetraethylene glycol bis (3-mercaptopropionate) (SC organic) Primary multifunctional polyfunctional thiol such as “EGMP-4” manufactured by CHEMICAL CORPORATION, dipentaerythritol hexakis (3-mercaptopropionate) (“DPMP” manufactured by SC Organic Chemical Co., Ltd.), pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) ) (“Kalens MT PE1” manufactured by Showa Denko KK),
  • the content of the (G) thiol group-containing compound is preferably 0.1% by weight or more, more preferably 0.5% by weight or more, based on 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent, and preferably It is 10% by weight or less, more preferably 5% by weight or less.
  • the content of the thiol group-containing compound (G) is at least the lower limit and the upper limit, foaming, peeling, and discoloration of the cured film can be further suppressed.
  • the content of the (G) thiol group-containing compound is less than or equal to the above upper limit, gelling of the curable composition does not easily progress during storage.
  • the content of the (G) thiol group-containing compound is at least the above lower limit, the curability can be further improved.
  • the curable composition may contain (H) a nitrogen-containing compound.
  • H By using a nitrogen-containing compound, a cured film having high hardness can be obtained, and scratching of the cured film can be effectively suppressed.
  • the nitrogen-containing compound is not the (E) photopolymerization initiator and is not the (G) thiol group-containing compound.
  • the (H) nitrogen-containing compound is preferably not the (F-2) curing catalyst.
  • As the (H) nitrogen-containing compound only one type may be used, or two or more types may be used in combination.
  • ethylene such as dimethyl (meth) acrylamide, isopropyl (meth) acrylamide, diethyl (meth) acrylamide, dimethylaminopropyl (meth) acrylamide, dimethylaminopropyl (meth) acrylamido methyl chloride quaternary salt
  • Group-containing monomer having one or more unsaturated unsaturated bonds
  • morpholine group-containing monomer having one or more ethylenically unsaturated bonds such as (meth) acryloyl morpholine
  • hydroxyethyl (meth) acrylamide, tetrazole compound imidazole compound, triazole
  • isocyanate compounds, melamine compounds and the like can be mentioned.
  • the (H) nitrogen-containing compound is preferably dimethyl (meth) acrylamide, (meth) acryloyl morpholine, isopropyl (meth) acrylamide, or diethyl (meth) acrylamide.
  • the (H) nitrogen-containing compound is also preferably dimethylaminopropyl (meth) acrylamide, dimethylaminopropyl (meth) acrylamido methyl chloride quaternary salt, or hydroxyethyl (meth) acrylamide.
  • the (H) nitrogen-containing compound is also preferably a tetrazole compound, an imidazole compound, a triazole compound, an isocyanate compound, or a melamine compound.
  • the (H) nitrogen-containing compound preferably contains the (H1) component.
  • the above tetrazole compound, imidazole compound, triazole compound, isocyanate compound, or melamine compound is used as the (H2) component.
  • the (H2) component preferably does not have an ethylenic double bond.
  • the (H) nitrogen-containing compound preferably contains the (H2) component.
  • tetrazole compound examples include 1H-tetrazole, 5-amino-1H-tetrazole, 5-methyl-1H-tetrazole, 5-phenyl-1H-tetrazole, 1-methyl-5-ethyl-1H-tetrazole, 1-methyl- 5-mercapto-1H-tetrazole, 1-phenyl-5-mercapto-1H-tetrazole, 1- (2-dimethylaminoethyl) -5-mercapto-1H-tetrazole, 2-methoxy-5- (5-trifluoromethyl) -1H-tetrazol-1-yl) -benzaldehyde, 5,5′-bi-1H-tetrazole diammonium salt, 4,5-di (5-tetrazolyl)-[1,2,3] triazole, 5,5 '-Azobis-1H-tetrazole, 1-methyl-5-benzoyl-1H-tetrazole, 1-methyl-benz
  • imidazole compound examples include imidazole-4-carboxaldehyde, 2-phenylimidazole-4-carboxaldehyde, imidazole-2-carboxaldehyde, imidazole-4-carbonitrile, 2-phenylimidazole-4-carbonitrile, 4-hydroxy Methylimidazole hydrochloride, 2-hydroxymethylimidazole hydrochloride, 4-imidazole carboxylic acid, 4-imidazole dithiocarboxylic acid, 4-imidazole thiocarboxamide, 2-bromoimidazole, and 2-mercaptoimidazole (all are Shikoku Kasei And the like.
  • the imidazole compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • triazole compounds examples include 1,2,3-benzotriazole, 1- [N, N-bis (2-ethylhexyl) aminomethyl] benzotriazole, carboxybenzotriazole, 1- [N, N-bis (2-ethylhexyl) ) Aminomethyl] methylbenzotriazole, 2,2 '-[[(methyl-1H-benzotriazol-1-yl) methyl] imino] bisethanol, and 1,2,3-benzotriazole sodium salt solution (or Both include Johoku Chemical Industry Co., Ltd.) and the like.
  • the triazole compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • the above isocyanate compounds include aromatic isocyanates such as tolylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, methylene diphenyl diisocyanate, phenylene diisocyanate and naphthalene diisocyanate; and aromatic rings such as ⁇ , ⁇ , ⁇ ′, ⁇ ′-tetramethyl xylylene diisocyanate Aliphatic isocyanates; Aliphatic isocyanates such as methylene diisocyanate, propylene diisocyanate, lysine diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate and hexamethylene diisocyanate; cyclohexane diisocyanate, methylcyclohexane diisocyanate, isophorone diisocyanate, methylenebis (4-cyclohexylisocyanate), isopropylidene dicyclohexyldiisocyanate Ne And cycloaliphatic
  • polymers and derivatives such as burettes, isocyanurates, uretdiones, and carbodiimide-modified products of these isocyanate compounds are also mentioned as the above-mentioned isocyanate compounds. Only 1 type may be used for the said isocyanate compound, and 2 or more types may be used together. From the viewpoint of avoiding yellowing of the cured film due to ultraviolet light, aliphatic isocyanate compounds or alicyclic isocyanate compounds are more preferable than aromatic isocyanate compounds.
  • the isocyanate compound is more preferably an aliphatic isocyanate compound or an alicyclic isocyanate compound.
  • examples of the blocking agent include bisulfite; phenol compounds such as phenol, cresol, ethylphenol, etc .; propylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol, benzyl alcohol, methanol, ethanol etc.
  • Alcohol compounds such as dimethyl malonate, diethyl malonate, methyl acetoacetate, ethyl acetoacetate, acetylacetone; mercaptan compounds such as butyl mercaptan, dodecyl mercaptan; lactam compounds such as ⁇ -caprolactam, ⁇ -valerolactam; Amine compounds such as aniline, aniline, ethyleneimine; Acetoanilide, acid amide compound of acetic acid amide; Formaldehyde, acetoaldo oxy And oxime compounds such as acetone oxime, methyl ethyl ketone oxime and cyclohexanone oxime. Only one type of the blocking agent may be used, or two or more types may be used in combination.
  • isocyanate compounds include 2-acryloyloxyethyl isocyanate ("Kalens AOI” manufactured by Showa Denko KK), 2-methacryloyloxyethyl isocyanate ("Kalens MOI” manufactured by Showa Denko KK), methacryloyloxyethoxyethyl isocyanate (Showa Denki Co., Ltd.) Denko "Karenz MOI-EG", an isocyanate block of Karenz MOI (“Kalens MOI-BM” manufactured by Showa Denko), an isocyanate block of Kalens MOI (“Kalens MOI-BP” manufactured by Showa Denko), and 1,1- (bisacryloyloxymethyl) ethyl isocyanate ("Karens BEI” manufactured by Showa Denko K. K.) and the like.
  • Kalens AOI 2-acryloyloxyethyl isocyanate
  • Kalens MOI manufactured by Showa Denko KK
  • the melamine compound examples include alkylolated melamine derivatives, partially etherified compounds obtained by reacting an alcohol with an alkylolated melamine derivative, and fully etherified compounds obtained by reacting an alcohol with an alkylolated melamine derivative.
  • the melamine compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • the alcohol used for the above-mentioned etherification include methyl alcohol, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, n-butanol and isobutanol.
  • the melamine compound may be a monomer, may be a dimer or higher multimer, or may be a mixture of a monomer and a multimer.
  • the melamine compound may be a compound in which part of melamine is co-condensed with urea or the like.
  • a catalyst may be used to increase the reactivity of the melamine compound.
  • the (H) nitrogen-containing compound is preferably a morpholine group-containing compound or an isocyanate compound, and is a morpholine group-containing compound It may be an isocyanate compound.
  • the morpholine group-containing compound is preferably a morpholine group-containing monomer, and more preferably has one or more ethylenically unsaturated bonds.
  • the isocyanate compound is preferably an aliphatic isocyanate compound or an alicyclic isocyanate compound.
  • the content of the (H) nitrogen-containing compound is preferably 0.1% by weight or more, more preferably 0.5% by weight or more, in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent, and preferably 45 % By weight or less, more preferably 33% by weight or less.
  • the content of the (H) nitrogen-containing compound is at least the lower limit and the upper limit, the hardness of the cured film can be further enhanced.
  • the content of the (H1) component is preferably 1 wt% or more, more preferably 5% in 100 wt% of the components of the curable composition excluding the solvent. % By weight or more, preferably 40% by weight or less, more preferably 33% by weight or less, and still more preferably 30% by weight or less.
  • the hardness of a cured film can be further raised as content of a (H1) component is more than the said minimum and below the said upper limit.
  • the content of the (H2) component is preferably 0.1 wt% or more, more preferably 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. Is 0.5% by weight or more, preferably 5% by weight or less, and more preferably 3% by weight or less.
  • the hardness of a cured film can be further improved as content of a (H2) component is more than the said minimum and below the said upper limit.
  • the content of the morpholine group-containing compound is preferably 1% by weight or more in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent.
  • the content is preferably 5% by weight or more, preferably 40% by weight or less, more preferably 33% by weight or less, and still more preferably 30% by weight or less.
  • the hardness of a cured film can be further raised as content of the said morpholine group containing compound is more than the said minimum and below the said upper limit.
  • the content of the above-mentioned isocyanate compound is preferably 0.1% by weight or more, more preferably within 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent. It is 0.5% by weight or more, preferably 15% by weight or less, and more preferably 10% by weight or less.
  • the hardness of a cured film can be further raised as content of the said isocyanate compound is more than the said minimum and below the said upper limit.
  • the curable composition may contain (I) a solvent.
  • the curable composition may not contain (I) a solvent.
  • the solvent (I) may be used alone or in combination of two or more.
  • the solvent is generally an organic solvent.
  • the organic solvent include ketone compounds such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone, aromatic hydrocarbon compounds such as toluene, xylene and tetramethylbenzene, cellosolve, methyl cellosolve, butyl cellosolve, carbitol, methyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl Glycol ether compounds such as ether, dipropylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol diethyl ether, tripropylene glycol monomethyl ether, ethyl acetate, butyl acetate, butyl lactate, cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, carbitol acetate, butyl carbitol acetate, propylene Glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether Seteto, dipropylene glycol
  • the content of the solvent (I) is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, preferably 50% by weight or less, more preferably 30% by weight or less in 100% by weight of the curable composition. It is.
  • the curable compound may contain an antioxidant.
  • the antioxidant preferably has a Lewis basic moiety.
  • the above-mentioned antioxidant is preferably a phenol-based antioxidant, a phosphorus-based antioxidant or an amine-based antioxidant, and a phenol-based antioxidant More preferred is an agent.
  • phenolic antioxidants include IRGANOX 1010, IRGANOX 1035, IRGANOX 1076, IRGANOX 1135, IRGANOX 245, IRGANOX 259, and IRGANOX 295 (all manufactured by Ciba Japan), Adekastab AO-30, Adekastab AO-40, Adekastab AO-50, Adekastab AO-60, Adekastab AO-70, Adekastab AO-80, Adekastab AO-90, and Adekastab AO-330 (all of which are made by ADEKA), Sumilizer GA-80, Sumilizer MDP-S, Sumilizer BBM-S, Sumilizer GM, Sumilizer GS (F), and Sumilizer GP Also from Sumitomo Chemical Co., Ltd.), HOSTANOX O10, HOSTANOX O16, HOSTANOX O14, and HOSTANOX O3 (all are products by Clari
  • Examples of the phosphorus-based antioxidant include cyclohexyl phosphine and triphenyl phosphine.
  • Commercial products of the above-mentioned phosphorus-based antioxidants include Adekastab PEP-4C, Adekastab PEP-8, Adekastab PEP-24G, Adekastab PEP-36, Adekastab HP-10, Adekastub 2112, Adekastab 260, Adekastub 522A, Adekastab 1178, Adekastab 1500, Adekastub C, Adekastub 135A, Adekastab 3010, and Adekastub TPP (all are products made by ADEKA), Sandstubs P-EPQ, and Hostanx PAR24 (all, made by Clariant), JP-312L, JP -318-0, JPM-308, JPM-313, JPP-613M, JPP-31, JPP-2000PT, and JPH-3800 (all from Johoku Chemical Industries, Ltd. Et
  • the above amine-based antioxidants include triethylamine, dicyandiamide, melamine, ethyldiamino-S-triazine, 2,4-diamino-S-triazine, 2,4-diamino-6-tolyl-S-triazine, 2,4- Examples include diamino-6-xylyl-S-triazine and quaternary ammonium salt derivatives.
  • the content of the antioxidant is preferably 0.05% by weight or more, more preferably 0.1% by weight or more, and preferably 2% by weight in 100% by weight of the components of the curable composition excluding the solvent.
  • the content is preferably 1% by weight or less.
  • the said curable composition is a coloring agent, a polymerization inhibitor, a chain transfer agent, an ultraviolet absorber, an antifoamer, a leveling agent, surfactant, a slip agent, an anti blocking agent, a wax, a masking agent other than the component mentioned above
  • the deodorant, the fragrance, the preservative, the antibacterial agent, the antistatic agent, the adhesion imparting agent and the like may be contained.
  • the adhesion imparting agent include silane coupling agents.
  • the curable composition can be prepared, for example, by stirring and mixing each component and then uniformly kneading with a three-roll mill.
  • mixing that the material of the roll in 3 rolls is stainless steel (SUS304 etc.)
  • the material of the roll in 3 rolls is ceramic.
  • the roll which carried out the ceramic coating of the surface of the roll of stainless steel (SUS304 etc.) can also be used.
  • Examples of the light source used to cure the curable composition include an irradiation device which emits active energy rays such as ultraviolet rays or visible rays.
  • Examples of the light source include an ultrahigh pressure mercury lamp, a deep UV lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a metal halide lamp and an excimer laser. These light sources are suitably selected according to the photosensitive wavelength of the component of a curable composition.
  • the irradiation energy of light is suitably selected by the component of the desired thickness or curable composition.
  • the irradiation energy of light is generally in the range of 10 to 3000 mJ / cm 2 .
  • the heating temperature at the time of heat curing is preferably 100 ° C. or more, more preferably 120 ° C. or more, preferably 250 ° C. or less, more preferably 200 ° C. or less It is.
  • An electronic component according to the present invention comprises an electronic component body and a cured film disposed on the surface of the electronic component body.
  • the material of the cured film is the curable composition described above.
  • the method of manufacturing an electronic component according to the present invention comprises the steps of: applying the curable composition described above onto the surface of the electronic component body to form a curable composition layer; and curing the curable composition layer. And forming a cured film.
  • the cured film may be formed by photocuring the curable composition by light irradiation, and the cured film is thermally cured by heating the curable composition layer by heating. You may form.
  • the curable composition layer is preferably a solder resist layer, and the cured film is preferably a solder resist film.
  • the curable composition can be suitably used to form a solder resist film.
  • the curable composition can be applied partially and at a plurality of locations on the surface of the electronic component body.
  • the curable composition layer From the viewpoint of preventing the thermal deterioration of the electronic component body, in order to form the cured film, it is preferable not to thermally cure the curable composition layer. From the viewpoint of preventing thermal degradation of the electronic component body, it is preferable not to heat at 150 ° C. or higher, and more preferable not to heat at 100 ° C. or higher, in order to form the above-mentioned cured film.
  • the curable composition layer is a solder resist layer
  • the cured film is a solder resist film.
  • a developing-type curable composition is used to form a solder resist film.
  • FIGS. 1 (a) to 1 (e) are cross-sectional views for explaining an example of a method for producing an electronic component using a curable composition according to an embodiment of the present invention.
  • the application target member 11 is an electronic component main body.
  • a substrate 11A is used as the application target member 11, and a plurality of electrodes 11B are disposed on the surface of the substrate 11A.
  • a curable composition according to an embodiment of the present invention (used as a development-type curable composition) is applied onto the surface of the application target member 11 to form solder.
  • a resist layer 12 (curable composition layer) is formed.
  • the solder resist layer 12 is formed on the entire surface of the application target member 11.
  • FIG. 1C light is irradiated to only the solder resist layer 12 on the space between the electrodes 11B through the mask 13.
  • FIG. 1D development is performed, and the solder resist layer 12 positioned on the electrode 11B and not irradiated with light is partially removed.
  • solder resist layer 12 After partially removing the solder resist layer 12, the remaining solder resist layer 12 is thermally cured. As a result, as shown in FIG. 1E, the electronic component 1 in which the solder resist film 2 is formed on the surface of the application target member 11 (electronic component main body) is obtained.
  • FIGS. 2 (a) to 2 (c) are cross-sectional views for explaining another example of a method for producing an electronic component using the curable composition according to one embodiment of the present invention.
  • the application target member 11 is prepared.
  • the curable composition according to the second embodiment of the present invention (used as a non-developable curable composition) is applied onto the surface of the application target member 11.
  • the solder resist layer 12X (curable composition layer) is formed.
  • the curable composition is applied partially and at a plurality of locations on the surface of the application target member 11 to form a plurality of solder resist layers 12X.
  • a plurality of solder resist layers 12X are formed between the plurality of electrodes 11B on the surface of the substrate 11A.
  • the solder resist layer 12X is, for example, a resist pattern.
  • the solder resist layer 12X is formed only at the position corresponding to the solder resist layer portion which is formed to be left after development.
  • the solder resist layer 12X is not formed at a position corresponding to the solder resist layer portion to be removed by development using the developing curable composition.
  • the solder resist layer 12X is irradiated with light.
  • the solder resist layer 12X is irradiated with light from the side opposite to the application target member 11 side of the solder resist layer 12X.
  • the solder resist layer 12X is photocured to form a solder resist film 2X (cured film).
  • the electronic component 1X in which the solder resist film 2X is formed on the surface of the application target member 11 (electronic component body) is obtained.
  • the method of applying the curable composition includes, for example, a method of application by a dispenser, a method of application by screen printing, and a method of application by an inkjet device. Screen printing is preferable because it is excellent in production efficiency. It is preferable to pattern-print the curable composition.
  • the method of manufacturing an electronic component provided with a solder resist film described using FIGS. 1A to 1E and FIGS. 2A to 2C is an example, and the method of manufacturing an electronic component is appropriately selected. It can be changed.
  • a curable composition layer such as a solder resist layer
  • two or more layers may be applied.
  • light may be irradiated to form a curable composition layer.
  • Synthesis Example 1 Synthesis of epoxy (meth) acrylate (1): 100 g of bisphenol A type epoxy resin ("YD-134" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) and 28 g of acrylic acid are put in a reaction vessel, 0.06 g of hydroquinone monomethyl ether and 0.64 g of tetrabutylammonium bromide are added, and 90 ° C. Reaction for 4 hours. Next, 300 ml of toluene, 200 ml of water and 1 g of sodium carbonate were added, and the mixture was stirred at normal temperature for 1 hour. The aqueous phase was then separated and removed.
  • the weight average molecular weight of the obtained condensate was 900, and the acid value was 10 mg KOH / g.
  • composition example 2 Synthesis of epoxy (meth) acrylate (2): 100 g of bisphenol A type epoxy resin ("YD-011" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) and 18 g of acrylic acid are put in a reaction vessel, 0.06 g of hydroquinone monomethyl ether and 0.64 g of tetrabutylammonium bromide are added, and 90 ° C. Reaction for 4 hours. Next, 300 ml of toluene, 200 ml of water and 2 g of sodium carbonate were added, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour. The aqueous phase was then separated and removed.
  • the weight average molecular weight of the obtained condensate was 3000, and the acid value was 10 mg KOH / g.
  • Example 1 Preparation of a curable composition
  • the blending components shown in Table 1 below are blended in the blending amounts shown in Table 2 below, mixed for 3 minutes in a mixer ("Neritaro ARE-310" manufactured by Shinky Co., Ltd.), and then mixed in a triple roll. , Obtained a mixture. Thereafter, the resulting mixture was degassed using ARE-310 for 3 minutes to obtain a curable composition (non-developable curable composition).
  • blending a compounding component the iron in a compounding component was removed using the magnet filter.
  • the material of a roll used the 3 rolls which are ceramics so that iron might not mix in a mixture.
  • Examples 2 to 15 and Comparative Examples 3 and 4 A curable composition (non-developable curable composition) and an electronic component were prepared in the same manner as in Example 1 except that the types and blending amounts of the materials used were changed as shown in Tables 1 to 3 below. Obtained.
  • composition (a non-developing type (a non-developing type) was prepared in the same manner as in Example 1 except that the treatment time by the magnet filter was changed to a half time of Example 1 when compounding the compounding component in preparation of the curable composition.
  • a curable composition and an electronic component were obtained.
  • Iron concentration in the curable composition was measured as follows.
  • Reflectivity Y1 is 85% or more ⁇ : Reflectivity Y1 is 82% or more and less than 85% :: Reflectivity Y1 is 78% or more and less than 82% X: Reflectivity Y1 is less than 78%
  • solder heat resistance was determined according to the following criteria.
  • the rate of decrease in reflectance after solder heat resistance (retention characteristics of reflectance)
  • the reflectance Y2 of the solder resist film after the solder heat resistance test is measured using a chromatic color meter ("CR-400" manufactured by Konica Minolta), and the reflectance after solder heat resistance decreases according to the following equation (1) The rate was calculated.
  • the rate of decrease in reflectance after solder heat resistance was determined based on the following criteria. In the case of a solder resist film in which the rate of decrease in reflectance after solder heat resistance is small, the reflectance of light is unlikely to decrease with time.
  • a test pattern B of IPC-B-25 was prepared.
  • the comb-shaped test pattern B is heated to 80 ° C., and the curable composition (non-developable curable composition) is made to have a thickness of 20 ⁇ m so as to cover the entire surface of the comb-shaped test pattern B. It applied and formed the solder resist layer.
  • the solder resist layer is irradiated with ultraviolet light having a wavelength of 365 nm by flowing it through a belt conveyor type exposure device at an ultraviolet light intensity of 500 mW / cm 2 so that the irradiation energy is 1500 mJ / cm 2 using an ultraviolet light irradiation device.
  • a measurement sample for reliability test was obtained.
  • the obtained measurement sample for insulation reliability test was subjected to a humidification test for 500 hours and 1000 hours under the conditions where a temperature of 85 ° C., a humidity of 85%, and a direct current of 5 V were applied.
  • the insulation resistance after the humidification test was measured.
  • the insulation reliability was judged according to the following criteria.
  • Insulation resistance after humidification test is 10 14 ⁇ or more
  • Insulation resistance after humidification test is 10 13 ⁇ or more and less than 10 14 ⁇
  • Insulation resistance after humidification test is 10 12 ⁇ or more and less than 10 13 ⁇
  • the insulation resistance after the humidification test is less than 10 12 ⁇

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Abstract

耐熱性が高い硬化膜を得ることができ、光の反射率が高い硬化膜を得ることができ、高温下に晒されても硬化膜の高い光の反射率を維持することができ、更に絶縁信頼性が高い硬化膜を得ることができる硬化性組成物を提供する。 本発明に係る硬化性組成物は、硬化性成分と、酸化チタンと、酸化チタン以外の無機フィラーとを含み、硬化性組成物中の鉄濃度が、100ppm以下である。

Description

硬化性組成物、電子部品及び電子部品の製造方法

 本発明は、硬化性成分と酸化チタンとを含む硬化性組成物に関する。また、本発明は、上記硬化性組成物を用いた電子部品及び上記硬化性組成物を用いた電子部品の製造方法に関する。

 プリント配線板を高温のはんだから保護するための保護膜として、ソルダーレジスト膜が広く用いられている。

 また、様々な電子部品において、プリント配線板の上面に発光ダイオード(以下、LEDと略す)チップが搭載されている。LEDから発せられた光の内、プリント配線板の上面側に到達した光も利用するために、プリント配線板の上面に白色ソルダーレジスト膜が形成されていることがある。この場合には、LEDチップの表面からプリント配線板とは反対側に直接照射される光だけでなく、プリント配線板の上面側に到達し、白色ソルダーレジスト膜により反射された反射光も利用できる。従って、LEDから生じた光の利用効率を高めることができる。

 上記白色ソルダーレジスト膜を形成するための組成物が、下記の特許文献1,2に開示されている。

 下記の特許文献1には、少なくとも2個のエチレン性不飽和結合を有する活性エネルギー線硬化性樹脂(A)と、光重合開始剤(B)と、希釈剤(C)と、酸化チタン(D)と、エポキシ系熱硬化性化合物(E)とを含有する光硬化性組成物が開示されている。上記光硬化性組成物は、上記(A)成分として、二官能のエポキシ(メタ)アクリレート(A1)を含有する。

 下記の特許文献2には、光硬化性樹脂と、光重合開始剤と、希釈剤と、熱硬化性樹脂と、酸化チタン粒子と、含水珪酸マグネシウム粒子とを含むアルカリ溶液可溶型レジストインキ組成物が開示されている。上記光硬化性樹脂は、ノボラック型エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂又はビスフェノールA型エポキシ樹脂と、不飽和カルボン酸との反応物を有機多塩基酸無水物と反応させることにより得られる。上記熱硬化性樹脂は、アクリル系共重合体により構成されている。上記酸化チタン粒子は、酸化アルミニウムで被覆されている。

特開2011-158628号公報 特開2016-24284号公報

 従来の光硬化性組成物により形成された硬化膜では、光の反射率が徐々に低下することがある。特に、硬化膜が高温下に晒されると、光の反射率が大きく低下することがある。また、硬化膜の絶縁信頼性が悪化することがある。

 本発明の目的は、耐熱性が高い硬化膜を得ることができ、光の反射率が高い硬化膜を得ることができ、高温下に晒されても硬化膜の高い光の反射率を維持することができ、更に絶縁信頼性が高い硬化膜を得ることができる硬化性組成物を提供することである。また、本発明の目的は、上記硬化性組成物を用いた電子部品及び上記硬化性組成物を用いた電子部品の製造方法を提供することである。

 本発明の広い局面によれば、硬化性成分と、酸化チタンと、酸化チタン以外の無機フィラーとを含み、硬化性組成物中の鉄濃度が、100ppm以下である、硬化性組成物が提供される。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、硬化性組成物中の鉄濃度が、80ppm以下である。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、前記無機フィラーが、タルク、シリカ、又は硫酸バリウムである。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、前記酸化チタンの含有量が、35重量%以上70重量%以下である。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、前記硬化性成分が、光硬化性化合物又は熱硬化性化合物を含む。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、前記硬化性成分が、2000以上の重量平均分子量を有する硬化性化合物を含む。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、前記硬化性成分が、水酸基を有する硬化性化合物を含む。

 本発明に係る硬化性組成物のある特定の局面では、該硬化性組成物は、ソルダーレジスト膜を形成するために用いられる。

 本発明の広い局面によれば、電子部品本体と、前記電子部品本体の表面上に配置された硬化膜とを備え、前記硬化膜の材料が、上述した硬化性組成物である、電子部品が提供される。

 本発明の広い局面によれば、電子部品本体の表面上に、上述した硬化性組成物を塗布して、硬化性組成物層を形成する工程と、前記硬化性組成物層を硬化させて、硬化膜を形成する工程とを備える、電子部品の製造方法が提供される。

 本発明に係る電子部品の製造方法のある特定の局面では、前記硬化性組成物層がソルダーレジスト層であり、前記硬化膜がソルダーレジスト膜である。

 本発明に係る硬化性組成物は、硬化性成分と、酸化チタンと、酸化チタン以外の無機フィラーとを含み、硬化性組成物中の鉄濃度が、100ppm以下である。本発明に係る硬化性組成物では、上記の構成が備えられているので、光の反射率が高い硬化膜を得ることができ、耐熱性が高い硬化膜を得ることができ、高温下に晒されても硬化膜の高い光の反射率を維持することができ、更に絶縁信頼性が高い硬化膜を得ることができる。

図1(a)~(e)は、本発明の一実施形態に係る硬化性組成物を用いて、電子部品を製造する方法の一例を説明するための断面図である。 図2(a)~(c)は、本発明の一実施形態に係る硬化性組成物を用いて、電子部品を製造する方法の他の例を説明するための断面図である。

 以下、本発明の詳細を説明する。

 (硬化性組成物)

 本発明に係る硬化性組成物は、光の照射により硬化されて用いられることが好ましい。本発明に係る硬化性組成物は、硬化膜を形成するために用いられることが好ましく、ソルダーレジスト膜を形成するために用いられることがより好ましい。上記硬化膜は、ソルダーレジスト膜であることが好ましい。

 本発明に係る硬化性組成物は、現像型レジスト硬化性組成物であってもよく、非現像型レジスト硬化性組成物であってもよい。本発明に係る硬化性組成物においては、ソルダーレジスト膜を形成するために現像が行われてもよく、ソルダーレジスト膜を形成するために現像が行われなくてもよい。本発明に係る硬化性組成物は、ソルダーレジスト用硬化性組成物であることが好ましい。

 本発明に係る硬化性組成物は、(A)硬化性成分と、(C)酸化チタンと、(D)酸化チタン以外の無機フィラーとを含む。本発明に係る硬化性組成物では、硬化性組成物中の鉄濃度が、100ppm以下である。

 本発明では、上記の構成が備えられているので、耐熱性が高い硬化膜を得ることができる。本発明では、はんだ付けが行われるかなり高温の条件下での耐熱性(半田耐熱性)を十分に確保できる。したがって、本発明に係る硬化性組成物は、ソルダーレジスト膜を形成するために好適に用いることができる。本発明では、上記の構成が備えられているので、光の反射率が高い硬化膜を得ることができ、高温下に晒されても硬化膜の高い光の反射率を維持することができる。従って、本発明に係る硬化性組成物は、光反射用途に好適に用いることができる。さらに、本発明では、上記の構成が備えられているので、絶縁信頼性に優れている硬化膜を得ることができる。

 本発明者らは、光の反射率が高く、高い光の反射率を維持することができる硬化膜を得るために鋭意検討した結果、硬化膜の光の反射率が徐々に低下することの原因が、硬化性組成物中に存在する鉄であることを見出した。また、本発明者らは、光の反射率が高く、高い光の反射率を維持することができる硬化膜を得るために鋭意検討した結果、硬化膜の絶縁信頼性が悪化することの原因が、硬化性組成物中に存在する鉄であることを見出した。鉄によって上記の性能が悪化する理由としては、硬化性組成物中の鉄と、硬化性成分に含まれる硬化性化合物とにより硬化性化合物-鉄複合体が形成されることが考えられる。

 本発明に係る硬化性組成物では、硬化性組成物中の鉄濃度は、100ppm以下である。本発明に係る硬化性組成物は、鉄を含んでいなくてもよく、鉄を含んでいてもよい。硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、硬化性組成物中の鉄濃度は、好ましくは80ppm以下、より好ましくは70ppm以下である。硬化性組成物中の鉄濃度の下限は特に限定されない。硬化性組成物中の鉄濃度は、0ppmを超えていてもよく、0ppm(未含有)以上であってもよく、0ppm(未含有)であってもよい。

 なお、上記鉄は、硬化性組成物の材料に含まれていたり、硬化性組成物を調製する際に用いる器具に含まれていたりする。硬化性組成物を調製する際に用いる器具によって、硬化性組成物中に鉄が含まれることがある。

 本発明に係る硬化性組成物において、硬化性組成物中の鉄濃度を上記の好ましい範囲にする方法としては、以下の(1)~(3)の方法等が挙げられる。(1)配合成分の原料として鉄含有量の少ない原料を用いる方法。(2)マグネットフィルター等を用いて組成物、配合成分、又は配合成分の原料から鉄を除去する方法。(3)硬化性組成物を調製する際の攪拌や混練等に用いる部材の材質をステンレス鋼(SUS304等)ではない材質(鉄を含まないか又は鉄の含有量が少ない材質)とする方法。

 例えば、原料としてのタルクは、鉄を多く含む。上記(2)の方法によって、タルクに含まれる鉄を効果的に除去することができる。

 硬化性組成物中の鉄濃度は以下のようにして測定できる。

 硬化性組成物1gを白金るつぼに精秤し、予備燃焼後、800℃及び3時間の条件で電気炉により灰化させる。冷却後、硝酸2mlを6回に分けて加え、300℃~350℃のホットプレート上で完全に蒸発、乾固させる。次に、塩酸3mlを加え、200℃~250℃に加熱し、塩酸がるつぼの底に少量残る程度まで乾固させる。次に、蒸留水で25mlにメスアップし、冷却装置により20℃に保って試料を得る。得られた試料について、原子吸光分光光度計(島津製作所社製「AA-6500」)を用いて原子吸光分析を行い、硬化性組成物中の鉄濃度を測定する。

 上記鉄濃度は硬化性組成物中の鉄元素の濃度であり、硬化性組成物中における鉄の存在状態は特に限定されない。上記鉄は単体であってもよく、化合物であってもよく、鉄イオンであってもよく、有機金属錯体のように錯体を形成していてもよい。

 以下、本発明に係る硬化性組成物に含まれる各成分を詳細に説明する。

 ((A)硬化性成分)

 本発明に係る硬化性組成物は、(A)硬化性成分を含む。硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(A)硬化性成分は、(A-1)光硬化性化合物又は(A-2)熱硬化性化合物を含むことが好ましい。(A)硬化性成分は、(A-1)光硬化性化合物のみを含んでいてもよく、(A-2)熱硬化性化合物のみを含んでいてもよく、(A-1)光硬化性化合物と(A-2)熱硬化性化合物との双方を含んでいてもよい。上記硬化性組成物は、(A-1)光硬化性化合物のみを含んでいてもよく、(A-2)熱硬化性化合物のみを含んでいてもよく、(A-1)光硬化性化合物と(A-2)熱硬化性化合物との双方を含んでいてもよい。

 硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(A)硬化性成分は、2000以上の重量平均分子量を有する硬化性化合物を含むことが好ましい。2000以上の重量平均分子量を有する硬化性化合物は、(A-1)光硬化性化合物であってもよく、(A-2)熱硬化性化合物であってもよい。本明細書において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されるポリスチレン換算での重量平均分子量であり、下記の測定装置及び測定条件にて測定することができる。

 測定装置:日本ウォーターズ社製「Waters GPC System(Waters 2690+Waters 2414(RI))」

 測定条件カラム:Shodex GPC LF-G×1本、Shodex GPC LF-804×2本

 移動相:THF 1.0ml/分

 サンプル濃度:5mg/ml

 検出器:示差屈折率検出器(RID)

 標準物質:ポリスチレン(TOSOH社製、分子量:620~590000)

 硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(A)硬化性成分は、水酸基を有する硬化性化合物を含むことが好ましい。水酸基を有する硬化性化合物は、(A-1)光硬化性化合物であってもよく、(A-2)熱硬化性化合物であってもよい。硬化性組成物が水酸基を有する硬化性化合物を含む場合には、水酸基を有する硬化性化合物と、硬化性組成物中の鉄とにより硬化性化合物-鉄複合体が形成されやすい。結果として、硬化膜の光の反射率が大きく低下することがある。本発明に係る硬化性組成物では、上記の構成が備えられているので、水酸基を有する硬化性化合物と、硬化性組成物中の鉄とによる硬化性化合物-鉄複合体の形成を抑制することができ、硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持することができる。

 ((A-1)光硬化性化合物)

 上記硬化性組成物に含まれる(A-1)光硬化性化合物は、光硬化性を有していれば特に限定されない。(A-1)光硬化性化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (A-1)光硬化性化合物はカルボキシル基を有していてもよい。(A-1)光硬化性化合物がカルボキシル基を有することで、硬化性組成物の現像性を良好にすることができる。

 上記硬化性組成物の現像を行わない場合には、(A-1)光硬化性化合物はカルボキシル基を有さないことが好ましい。カルボキシル基を有さない光硬化性化合物を用いることで、上記硬化性組成物により形成された硬化膜の変色を効果的に抑制することができる。

 硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(A-1)光硬化性化合物は、2000以上の重量平均分子量を有する光硬化性化合物を含むことが好ましく、水酸基を有する光硬化性化合物を含むことが好ましい。

 硬化膜の塗布対象部材に対する密着性を高める観点からは、(A-1)光硬化性化合物は、エチレン性不飽和結合を有することが好ましい。特に、(C)酸化チタンの含有量が多い場合に、エチレン性不飽和結合を有する光硬化性化合物を用いていないと、硬化膜の密着性が低くなりやすい傾向がある。

 (A-1)光硬化性化合物におけるエチレン性不飽和結合を含む基としては、ビニル基、アリル基、及び(メタ)アクリロイル基等が挙げられる。効果的に反応を進行させ、硬化膜の発泡、剥離及び変色をより一層抑制する観点からは、(A-1)光硬化性化合物におけるエチレン性不飽和結合を含む基は、(メタ)アクリロイル基であることが好ましい。(A-1)光硬化性化合物は、(メタ)アクリロイル基を有することが好ましい。

 硬化膜の塗布対象部材に対する密着性を高める観点からは、(A-1)光硬化性化合物は、エポキシ(メタ)アクリレートを含むことが好ましい。硬化膜の硬度を高める観点からは、上記エポキシ(メタ)アクリレートは、2官能のエポキシ(メタ)アクリレートと、3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートとを含むことが好ましい。2官能のエポキシ(メタ)アクリレートは、(メタ)アクリロイル基を2個有することが好ましい。3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートは、(メタ)アクリロイル基を3個以上有することが好ましい。

 上記エポキシ(メタ)アクリレートは、(メタ)アクリル酸とエポキシ化合物とを反応させて得ることができる。上記エポキシ(メタ)アクリレートは、エポキシ基を(メタ)アクリロイル基に変換することにより得ることができる。上記エポキシ(メタ)アクリレートは、エポキシ基を有さないことが好ましく、光硬化性化合物であることが好ましい。

 上記エポキシ(メタ)アクリレートとしては、ビスフェノール型エポキシ(メタ)アクリレート(例えば、ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールS型エポキシ(メタ)アクリレート)、クレゾールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート、アミン変性ビスフェノール型エポキシ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性ビスフェノール型エポキシ(メタ)アクリレート、カルボン酸無水物変性エポキシ(メタ)アクリレート、及びフェノールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。

 2官能のエポキシ(メタ)アクリレートの市販品としては、KAYARAD R-381(日本化薬社製、ビスフェノールA型エポキシアクリレート)、EBECRYL3700、EBECRYL3701及びEBECRYL3708(ダイセル・オルネクス社製、変性ビスフェノールA型エポキシアクリレート)等が挙げられる。また、3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートの市販品としては、EBECRYL3603(ダイセル・オルネクス社製、ノボラックエポキシアクリレート)等が挙げられる。また、2官能のエポキシ(メタ)アクリレートの水酸基を変性させて、(メタ)アクリロイル基を導入することにより、3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートを得てもよい。

 「(メタ)アクリロイル基」は、アクリロイル基とメタクリロイル基とを示す。「(メタ)アクリル」は、アクリルとメタクリルとを示す。「(メタ)アクリレート」は、アクリレートとメタクリレートとを示す。

 (A-1)光硬化性化合物の重量平均分子量は、2000以上であることが好ましい。(A-1)光硬化性化合物の重量平均分子量が2000未満であると、重量平均分子量が2000以上である場合と比べて、硬化膜の密着性が低くなる傾向があったり、リフロー後の発泡や変色が生じたりする傾向がある。(A-1)光硬化性化合物の重量平均分子量は、好ましくは20000以下である。

 硬化膜の発泡、剥離及び変色を効果的に抑制する観点からは、(A-1)光硬化性化合物は、脂環式骨格を有する化合物ではないことが好ましく、脂環式骨格を有するエポキシ(メタ)アクリレートではないことが好ましい。硬化膜の発泡、剥離及び変色を効果的に抑制する観点からは、(A-1)光硬化性化合物は、芳香族骨格を有する化合物を含むことが好ましく、芳香族骨格を有するエポキシ(メタ)アクリレートを含むことが好ましい。

 (A-1)光硬化性化合物は、ウレタン(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート又は芳香族骨格を有するエポキシ(メタ)アクリレートを含むことが好ましく、ウレタン(メタ)アクリレート、又は芳香族骨格を有するエポキシ(メタ)アクリレートを含むことがより好ましい。(A-1)光硬化性化合物が上記の好ましい化合物を含むことで、硬化膜の発泡、剥離及び変色を効果的に抑制することができる。

 上記エポキシ(メタ)アクリレートは、水酸基を有することが好ましい。上記エポキシ(メタ)アクリレートは、水酸基を有するエポキシ(メタ)アクリレートの水酸基を変性させたエポキシ(メタ)アクリレートであってもよい。この場合には、硬化膜の架橋度を高め、硬化膜の硬度を効果的に高めることができる。水酸基の変性に用いることができる化合物としては、シランカップリング剤、及びイソシアネート基を有するモノマー等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、スチリル基、メルカプト基、エポキシ基、アミノ基、スルフィド基、ウレイド基、及びイソシアネート基等の官能基を有する化合物等が挙げられる。光反応性を有するので、上記シランカップリング剤は、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、スチリル基、又はメルカプト基を有する化合物であることが好ましい。イソシアネート基を有するモノマーとしては、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、スチリル基、又はメルカプト基を有する化合物等が挙げられる。

 上記エポキシ(メタ)アクリレートの酸価は20mgKOH/g以下であることが好ましい。酸価が上記上限以下であると、酸性基の影響が抑えられ、硬化膜の耐熱性をより一層向上させることができる。なお、上記硬化性組成物が上記エポキシ(メタ)アクリレートを複数種含む場合は、上記酸価は、エポキシ(メタ)アクリレートの混合物の酸価を意味する。

 上記エポキシ(メタ)アクリレートの酸価は、以下のようにして測定される。

 エポキシ(メタ)アクリレート1gにアセトン30gを添加し、エポキシ(メタ)アクリレートを均一に溶解し、溶液を得る。なお、エポキシ(メタ)アクリレートに合成溶媒、希釈溶媒等の揮発分が添加されている場合は、上記溶液を得る前に予め、揮発分の沸点よりも10℃程度高い温度で1~4時間加熱し、揮発分を除去する。次いで、指示薬であるフェノールフタレインを、得られた溶液に適量添加して、0.1Nの水酸化カリウム(KOH)水溶液を用いて滴定を行う。測定対象である上記溶液(エポキシ(メタ)アクリレートのアセトン溶液)を中和するのに必要なKOHのmg数を算出することで、酸価を求める。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(A-1)光硬化性化合物及び上記エポキシ(メタ)アクリレートの含有量はそれぞれ、好ましくは5重量%以上、より好ましくは10重量%以上であり、好ましくは40重量%以下、より好ましくは30重量%以下である。(A-1)光硬化性化合物及び上記エポキシ(メタ)アクリレートの含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の密着性を効果的に高めることができる。

 また、上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、2官能のエポキシ(メタ)アクリレートと、3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートとの合計の含有量は、好ましくは5重量%以上、より好ましくは10重量%以上であり、好ましくは40重量%以下、より好ましくは30重量%以下である。2官能のエポキシ(メタ)アクリレートと、3官能以上のエポキシ(メタ)アクリレートとの合計の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の密着性を効果的に高めることができる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%は、硬化性組成物が溶剤を含む場合には、硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%を意味し、硬化性組成物が溶剤を含まない場合には、硬化性組成物100重量%を意味する。

 ((A-2)熱硬化性化合物)

 上記硬化性組成物に含まれる(A-2)熱硬化性化合物は、熱硬化性を有していれば特に限定されない。(A-2)熱硬化性化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (A-2)熱硬化性化合物はカルボキシル基を有していてもよい。(A-2)熱硬化性化合物がカルボキシル基を有することで、硬化性組成物の現像性を良好にすることができる。

 上記硬化性組成物の現像を行わない場合には、(A-2)熱硬化性化合物はカルボキシル基を有さないことが好ましい。カルボキシル基を有さない熱硬化性化合物を用いることで、上記硬化性組成物により形成された硬化膜の変色を効果的に抑制することができる。

 硬化膜の光の反射率を効果的に高め、かつ高い光の反射率を効果的に維持する観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(A-2)熱硬化性化合物は、2000以上の重量平均分子量を有する熱硬化性化合物を含むことが好ましく、水酸基を有する熱硬化性化合物を含むことが好ましい。

 (A-2)熱硬化性化合物としては、エポキシ化合物、オキセタン化合物、及びシリコーン化合物等が挙げられる。硬化膜の絶縁信頼性を高める観点からは、(A-2)熱硬化性化合物は、上記エポキシ化合物を含むことが好ましい。また、上記エポキシ化合物を用いることにより、硬化性組成物の加工性及び硬化性を良好にすることができる。

 上記エポキシ化合物としては、ビスフェノールS型エポキシ化合物、ジグリシジルフタレート化合物、トリグリシジルイソシアヌレート等の複素環式エポキシ化合物、ビキシレノール型エポキシ化合物、ビフェノール型エポキシ化合物、テトラグリシジルキシレノイルエタン化合物、ビスフェノールA型エポキシ化合物、水添ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型化合物、臭素化ビスフェノールA型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、クレゾールノボラック型エポキシ化合物、脂環式エポキシ化合物、ビスフェノールAのノボラック型エポキシ化合物、キレート型エポキシ化合物、グリオキザール型エポキシ化合物、アミノ基含有エポキシ化合物、ゴム変性エポキシ化合物、ジシクロペンタジエンフェノリック型エポキシ化合物、シリコーン変性エポキシ化合物及びε-カプロラクトン変性エポキシ化合物等が挙げられる。上記エポキシ化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(A-2)熱硬化性化合物及び上記エポキシ化合物の含有量はそれぞれ、好ましくは1重量%以上、より好ましくは5重量%以上であり、好ましくは20重量%以下、より好ましくは15重量%以下である。(A-2)熱硬化性化合物及び上記エポキシ化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高めることができる。

 ((B)反応性希釈剤)

 本発明に係る硬化性組成物は、(B)反応性希釈剤を含んでいてもよい。(B)反応性希釈剤は、エチレン性不飽和結合を1個以上有することが好ましい。(A-1)光硬化性化合物とともに(B)反応性希釈剤を用いることにより、(C)酸化チタンの含有量が多くても、硬化膜の密着性を効果的に高めることができ、さらに硬化性組成物の粘度を最適な範囲に容易に制御することができる。(B)反応性希釈剤には、(A-1)光硬化性化合物は含まれない。(B)反応性希釈剤の重量平均分子量は一般に2000未満であり、好ましくは800以下、より好ましくは600以下である。(B)反応性希釈剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (B)反応性希釈剤におけるエチレン性不飽和結合を含む基としては、ビニル基、アリル基、及び(メタ)アクリロイル基等が挙げられる。効果的に反応を進行させ、硬化膜の発泡、剥離及び変色をより一層抑制する観点からは、(B)反応性希釈剤におけるエチレン性不飽和結合を含む基は、(メタ)アクリロイル基であることが好ましい。(B)反応性希釈剤は、(メタ)アクリロイル基を有することが好ましい。

 (B)反応性希釈剤は特に限定されない。(B)反応性希釈剤としては、多価アルコールの(メタ)アクリル酸付加物、多価アルコールのアルキレンオキサイド変性物の(メタ)アクリル酸付加物、ウレタン(メタ)アクリレート、及びポリエステル(メタ)アクリレート等が挙げられる。上記多価アルコールとしては、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、ポリエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリプロピレングリコール、ポリプロピレングリコール、トリメチロールプロパン、シクロヘキサンジメタノール、トリシクロデカンジメタノール、ビスフェノールAのアルキレンオキシド付加物、及びペンタエリスリトール等が挙げられる。

 (B)反応性希釈剤は、エチレン性不飽和結合を1個有する化合物を含んでいてもよく、エチレン性不飽和結合を2個以上有する化合物を含んでいてもよい。硬化膜の密着性をより一層高める観点からは、(B)反応性希釈剤は、エチレン性不飽和結合を2個以上有する化合物を含むことが好ましく、(メタ)アクリロイル基を2個以上有する化合物を含むことが好ましい。

 硬化膜の密着性をより一層高める観点からは、(B)反応性希釈剤は、脂環式化合物を含むか、又は、芳香環又は水酸基を有することが好ましい。

 (B)反応性希釈剤は、カルボキシル基を有さないことが好ましい。カルボキシル基を有さない反応性希釈剤を用いることにより、硬化膜の変色を抑制することができる。

 (B)反応性希釈剤の25℃での粘度は、好ましくは1mPa・s以上、より好ましくは3mPa・s以上である。硬化膜の密着性をより一層高める観点からは、(B)反応性希釈剤の25℃での粘度は、好ましくは200mPa・s以下、より好ましくは100mPa・s以下である。

 上記粘度は、E型粘度計を用いて、25℃及び10rpmの条件で測定することができる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(B)反応性希釈剤及びエチレン性不飽和結合を2個以上有する化合物の含有量はそれぞれ、好ましくは5重量%以上、より好ましくは10重量%以上であり、好ましくは50重量%以下、より好ましくは40重量%以下である。(B)反応性希釈剤及びエチレン性不飽和結合を2個以上有する化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の密着性が効果的に高くなる。

 ((C)酸化チタン)

 本発明に係る硬化性組成物は、(C)酸化チタンを含む。上記硬化性組成物が(C)酸化チタンを含むことにより、光の反射率が高い硬化膜を形成することができる。(C)酸化チタンを用いることによって、(D)酸化チタン以外の他の無機フィラーのみを用いた場合と比較して、光の反射率が高い硬化膜を形成することができる。(C)酸化チタンは、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (C)酸化チタンは、ルチル型酸化チタン又はアナターゼ型酸化チタンであることが好ましく、ルチル型酸化チタンであることがより好ましい。上記ルチル型酸化チタンを用いることにより、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。上記アナターゼ型酸化チタンは、上記ルチル型酸化チタンよりも硬度が低い。このため、上記アナターゼ型酸化チタンを用いることにより、硬化膜の加工性をより一層高めることができる。

 (C)酸化チタンとしては、硫酸法酸化チタン及び塩素法酸化チタン等が挙げられる。硬化膜の高温下での変色をより一層抑制する観点からは、(C)酸化チタンは、塩素法酸化チタンであることが好ましい。上記塩素法酸化チタンは、塩素法により製造された酸化チタンである。

 (C)酸化チタンは、ルチル型酸化チタンであることが好ましい。上記ルチル型酸化チタンを用いることにより、硬化膜の耐熱性をより一層高めることができ、硬化膜の変色をより一層抑制できる。

 (C)酸化チタンは、アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタン(アルミニウム酸化物による表面処理物であるルチル型酸化チタン)を含むことが好ましい。上記アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンを用いることにより、硬化膜の耐熱性をより一層高めることができる。

 上記アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンとしては、ルチル塩素法酸化チタンである石原産業社製「CR-90-2」、ルチル塩素法酸化チタンである石原産業社製「CR-58」、ルチル塩素法酸化チタンであるデュポン社製「R-900」、及びルチル硫酸法酸化チタンである石原産業社製「R-630」等が挙げられる。

 (C)酸化チタンは、ケイ素酸化物又はシリコーン化合物による表面処理物であるルチル型酸化チタンを含むことが好ましい。上記ケイ素酸化物又はシリコーン化合物による表面処理物であるルチル型酸化チタンを用いることにより、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。

 上記ケイ素酸化物又はシリコーン化合物による表面処理物であるルチル型酸化チタンとしては、ルチル塩素法酸化チタンである石原産業社製「CR-90」や、ルチル硫酸法酸化チタンである石原産業社製「R-550」等が挙げられる。

 上記表面処理の方法は特に限定されない。上記表面処理の方法として、乾式法、湿式法、インテグラルブレンド法、並びに他の公知慣用の表面処理方法を用いることができる。

 (C)酸化チタンの平均粒子径は、好ましくは1nm以上であり、好ましくは40μm以下である。上記平均粒子径が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の光の反射率をより一層高めることができる。

 (C)酸化チタンの平均粒子径は、体積基準粒度分布曲線において積算値が50%のときの粒子径である。上記平均粒子径は、例えばレーザ光式粒度分布計を用いて測定可能である。上記レーザ光式粒度分布計の市販品としては、Beckman Coulter社製「LS 13 320」等が挙げられる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(C)酸化チタンの含有量は、好ましくは35重量%以上、より好ましくは40重量%以上であり、好ましくは70重量%以下、より好ましくは60重量%以下である。(C)酸化チタンの含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の耐熱性をより一層高めることができ、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。さらに、塗工に適した粘度を有する硬化性組成物を容易に調製できる。

 ((D)酸化チタン以外の無機フィラー)

 本発明に係る硬化性組成物は、(D)酸化チタン以外の無機フィラー(以下、(D)無機フィラーと記載することがある)を含む。(D)無機フィラーは、酸化チタンとは異なる無機フィラーである。(D)無機フィラーは1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (D)無機フィラーとしては、シリカ、アルミナ、マイカ、ベリリア、チタン酸カリウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化アンチモン、ホウ酸アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、炭酸アルミニウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸アルミニウム、ケイ酸マグネシウム、リン酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、窒化ケイ素、窒化ホウ素、焼成クレー等のクレー、タルク、炭化ケイ素、架橋アクリルの樹脂粒子及びシリコーン粒子等が挙げられる。

 硬化膜の高温下での変色をより一層抑制する観点からは、(D)無機フィラーは、タルク、シリカ、又は硫酸バリウムであることが好ましく、シリカであることがより好ましい。(D)無機フィラーは、タルクであってもよい。

 (D)無機フィラーの平均粒子径は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.2μm以上であり、好ましくは10μm以下、より好ましくは5μm以下である。(D)無機フィラーの平均粒子径が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。

 (D)無機フィラーの平均粒子径は、体積基準粒度分布曲線において積算値が50%のときの粒子径である。上記平均粒子径は、例えばレーザ光式粒度分布計を用いて測定可能である。上記レーザ光式粒度分布計の市販品としては、Beckman Coulter社製「LS 13 320」等が挙げられる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(D)無機フィラーの含有量は、好ましくは3重量%以上、より好ましくは5重量%以上であり、好ましくは20重量%以下、より好ましくは15重量%以下である。(D)無機フィラーの含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(C)酸化チタンと(D)無機フィラーとの合計の含有量は、好ましくは38重量%以上、より好ましくは45重量%以上であり、好ましくは70重量%以下、より好ましくは65重量%以下である。(C)酸化チタンと(D)無機フィラーとの合計の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。

 ((E)光重合開始剤)

 上記硬化性組成物は、(E)光重合開始剤を含んでいてもよい。上記硬化性組成物が(A-1)光硬化性化合物を含む場合には、上記硬化性組成物は、(E)光重合開始剤を含むことが好ましい。(E)光重合開始剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (E)光重合開始剤としては、アシルフォスフィンオキサイド、ハロメチル化トリアジン、ハロメチル化オキサジアゾール、イミダゾール、ベンゾイン、ベンゾインアルキルエーテル、アントラキノン、ベンズアンスロン、ベンゾフェノン、アセトフェノン、チオキサントン、安息香酸エステル、アクリジン、フェナジン、チタノセン、α-アミノアルキルフェノン、オキシム、及びこれらの誘導体等が挙げられる。

 ベンゾフェノン系光重合開始剤としては、o-ベンゾイル安息香酸メチル及びミヒラーズケトン等が挙げられる。ベンゾフェノン系光重合開始剤の市販品としては、EAB(保土谷化学社製)等が挙げられる。

 アセトフェノン系光重合開始剤の市販品としては、ダロキュア1173、ダロキュア2959、イルガキュア184、イルガキュア907、及びイルガキュア369(以上、いずれもBASF社製)等が挙げられる。

 ベンゾイン系光重合開始剤の市販品としては、イルガキュア651(BASF社製)等が挙げられる。

 アシルフォスフィンオキサイド系光重合開始剤の市販品としては、Lucirin TPO(BASF社製)、及びイルガキュア819(BASF社製)等が挙げられる。

 チオキサントン系光重合開始剤の市販品としては、イソプロピルチオキサントン、及びジエチルチオキサントン等が挙げられる。

 アルキルフェノン系光重合開始剤の市販品としては、ダロキュア1173、ダロキュア2959、イルガキュア184、イルガキュア907、イルガキュア369、イルガキュア379、イルガキュア651(以上、いずれもBASF社製)、及びエサキュア1001M(Lamberti社製)等が挙げられる。

 オキシム系光重合開始剤の市販品としては、イルガキュアOXE-01、及びイルガキュアOXE-02(以上、いずれもBASF社製)等が挙げられる。

 硬化膜の密着性をより一層高める観点からは、(E)光重合開始剤は、アシルフォスフィン系光重合開始剤とアルキルフェノン系光重合開始剤との双方を含むことが好ましい。

 硬化膜の発泡、剥離及び変色をより一層抑制する観点からは、(E)光重合開始剤は、アシルフォスフィンオキサイド系光重合開始剤を含むことが好ましい。硬化膜の発泡、剥離及び変色をより一層抑制する観点からは、(E)光重合開始剤は、アセトフェノン系光重合開始剤とアシルフォスフィンオキサイド系光重合開始剤との双方を含むことが好ましい。

 (A-1)光硬化性化合物と(B)反応性希釈剤との合計100重量部に対して、(E)光重合開始剤の含有量は、好ましくは1重量部以上、より好ましくは3重量部以上であり、好ましくは20重量部以下、より好ましくは15重量部以下である。(E)光重合開始剤の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、(A-1)光硬化性化合物を含む硬化性組成物を良好に光硬化させることができる。

 ((F-1)硬化剤及び(F-2)硬化触媒)

 上記硬化性組成物は、(F-1)硬化剤又は(F-2)硬化触媒を含んでいてもよい。上記硬化性組成物は、(F-1)硬化剤のみを含んでいてもよく、(F-2)硬化触媒のみを含んでいてもよく、(F-1)硬化剤と(F-2)硬化触媒との双方を含んでいてもよい。上記硬化性組成物が(A-2)熱硬化性化合物を含む場合には、上記硬化性組成物は、(F-1)硬化剤又は(F-2)硬化触媒を含むことが好ましい。(F-1)硬化剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。(F-2)硬化触媒は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (F-1)硬化剤としては、多官能フェノール化合物、ポリカルボン酸、ポリカルボン酸の酸無水物、脂肪族又は芳香族の一級又は二級アミン、ポリアミド樹脂、イソシアネート化合物、及びポリメルカプト化合物等が挙げられる。硬化膜の加工性を効果的に高める観点、及び硬化膜の絶縁信頼性を効果的に高める観点からは、(F-1)硬化剤は、多官能フェノール化合物、ポリカルボン酸、及びポリカルボン酸の酸無水物であることが好ましい。

 多官能フェノール化合物としては、1分子中に2個以上のフェノール性水酸基を有する化合物であれば特に限定されず、公知慣用の化合物を用いることができる。具体的には、多官能フェノール化合物としては、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールA、アリル化ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールA型ノボラック樹脂、ビニルフェノール共重合樹脂等が挙げられる。硬化膜の耐熱性を効果的に高める観点からは、上記多官能フェノール化合物は、ビスフェノールAであることが好ましい。このような多官能フェノール化合物は、適切な硬化触媒の存在下で、エポキシ化合物と反応する。

 ポリカルボン酸、及びポリカルボン酸の酸無水物としては、1分子中に2個以上のカルボキシル基を有する化合物、及び該化合物の酸無水物等が挙げられる。具体的には、ポリカルボン酸、及びポリカルボン酸の酸無水物としては、(メタ)アクリル酸の共重合物、無水マレイン酸の共重合物、二塩基酸の縮合物等が挙げられる。市販品としては、BASF社製「ジョンクリル」、サートマー社製「SMAレジン」、及び新日本理化社製「ポリアゼライン酸無水物」等が挙げられる。

 (A-2)熱硬化性化合物100重量部に対して、(F-1)硬化剤の含有量は、好ましくは1重量部以上、より好ましくは10重量部以上であり、好ましくは200重量部以下、より好ましくは100重量部以下である。(F-1)硬化剤の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、(A-2)熱硬化性化合物を含む硬化性組成物の耐熱性を効果的に高めることができる。

 (F-2)硬化触媒は、(A-2)熱硬化性化合物と(F-1)硬化剤との反応において硬化触媒として作用する。また、(F-2)硬化触媒は、(F-1)硬化剤を用いない場合に重合触媒として作用する。

 (F-2)硬化触媒としては、三級アミン、三級アミン塩、四級オニウム塩、三級ホスフィン、クラウンエーテル錯体、及びホスホニウムイリド等が挙げられる。具体的には、(F-2)硬化触媒としては、イミダゾール化合物、イミダゾール化合物のイソシアヌル酸塩、ジシアンジアミド、ジシアンジアミドの誘導体、メラミン化合物、メラミン化合物の誘導体、ジアミノマレオニトリル、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、テトラエチレンペンタミン、ビス(ヘキサメチレン)トリアミン、トリエタノールアミン、ジアミノジフェニルメタン、有機酸ジヒドラジド等のアミン化合物、1,8-ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン-7、3,9-ビス(3-アミノプロピル)-2,4,8,10-テトラオキサスピロ[5,5]ウンデカン、並びに、トリフェニルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン、トリブチルホスフィン及びメチルジフェニルホスフィン等の有機ホスフィン化合物等が挙げられる。

 (A-2)熱硬化性化合物100重量部に対して、(F-2)硬化触媒の含有量は、好ましくは0.05重量部以上、より好ましくは0.1重量部以上であり、好ましくは10重量部以下、より好ましくは5重量部以下である。(F-2)硬化触媒の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、(A-2)熱硬化性化合物を含む硬化性組成物を良好に熱硬化させることができる。

 ((G)チオール基を1個以上有するチオール基含有化合物)

 上記硬化性組成物は、(G)チオール基を1個以上有するチオール基含有化合物(以下、(G)チオール基含有化合物と記載することがある)を含んでいてもよい。上記硬化性組成物が(A-1)光硬化性化合物を含む場合には、上記硬化性組成物は、(G)チオール基含有化合物を含むことが好ましい。(G)チオール基含有化合物を用いることで、発泡及び剥離が生じ難い硬化膜を得ることができる。(G)チオール基含有化合物は窒素原子を有さないことが好ましい。(G)チオール基含有化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (G)チオール基含有化合物としては、メルカプト酢酸メチル、3-メルカプトプロピオン酸メチル、3-メルカプトプロピオン酸4-メトキシブチル、3-メルカプトプロピオン酸2-エチルヘキシル、3-メルカプトプロピオン酸n-オクチル、3-メルカプトプロピオン酸ステアリル、1,4-ビス(3-メルカプトプロピオニルオキシ)ブタン、1,4-ビス(3-メルカプトブチリルオキシ)ブタン、トリメチロールエタントリス(3-メルカプトプロピオネート)、トリメチロールエタントリス(3-メルカプトブチレート)、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトプロピオネート)、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトプロピオネート)、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3-メルカプトプロピオネート)、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3-メルカプトブチレート)、トリス[2-(3-メルカプトプロピオニルオキシ)エチル]イソシアヌレート、トリス[2-(3-メルカプトブチリルオキシ)エチル]イソシアヌレート等のメルカプトカルボン酸エステル化合物;エチルメルカプタン、1,2-ジメルカプトエタン、1,3-ジメルカプトプロパン、tert-ブチルメルカプタン、n-ドデカンチオール、tert-ドデカンチオール等のメルカプトアルカン化合物;2-メルカプトエタノール、4-メルカプト-1-ブタノール等のメルカプトアルコール化合物;チオフェノール、ベンジルチオール、m-トルエンチオール、p-トルエンチオール、2-ナフタレンチオール、2-ピリジルチオール、2-メルカプトベンゾイミダゾール、2-メルカプトベンゾチアゾール等の含芳香環メルカプタン化合物;(γ-メルカプトプロピル)トリメトキシシラン、及び(γ-メルカプトプロピル)トリエトキシシラン等のシラン含有チオール化合物等が挙げられる。

 (G)チオール基含有化合物は、メルカプトカルボン酸エステル化合物であることが好ましく、2級チオール化合物であることがより好ましい。メルカプトカルボン酸エステル化合物を用いると、メルカプトカルボン酸エステル化合物が硬化時に架橋構造に取り込まれることから、硬化後の揮発成分の揮発を抑制することができ、発泡をより一層抑制することができる。2級チオール化合物を用いると、チオール基含有化合物独特の臭気を抑制することができる。

 (G)チオール基含有化合物の具体例としては、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトプロピオネート)(SC有機化学社製「TMMP」)、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトプロピオネート)(SC有機化学社製「PEMP」)、トリス-[(3-メルカプトプロピオニルオキシ)-エチル]-イソシアヌレート(SC有機化学社製「TEMPIC」)、テトラエチレングリコールビス(3-メルカプトプロピオネート)(SC有機化学社製「EGMP-4」)、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3-メルカプトプロピオネート)(SC有機化学社製「DPMP」)等の1級多官能チオール、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)(昭和電工社製「カレンズMT PE1」)、1,3,5-トリス(3-メルカプトブチリルオキシエチル)-1,3,5-トリアジン-2,4,6(1H,3H,5H)-トリオン(昭和電工社製「カレンズMT NR1」)、及び1,4-ビス(3-メルカプトブチリルオキシ)ブタン(昭和電工社製「カレンズMT BD1」)等の2級多官能チオール、並びに、β-メルカプトプロピオン酸(SC有機化学社製「BMPA」)、メチル-3-メルカプトプロピオネート(SC有機化学社製「MPM」)、2-エチルヘキシル-3-メルカプトプロピオネート(SC有機化学社製「EHMP」)、n-オクチル-3-メルカプトプロピオネート(SC有機化学社製「NOMP」)、メトキシブチル-3-メルカプトプロピオネート(SC有機化学社製「MBMP」)、及びステアリル-3-メルカプトプロピオネート(SC有機化学社製「STMP」)等の単官能チオール等が挙げられる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(G)チオール基含有化合物の含有量は、好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは0.5重量%以上であり、好ましくは10重量%以下、より好ましくは5重量%以下である。(G)チオール基含有化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の発泡、剥離及び変色をより一層抑制することができる。また、(G)チオール基含有化合物の含有量が、上記上限以下であると、保存中に硬化性組成物のゲル化が進行しにくい。(G)チオール基含有化合物の含有量が、上記下限以上であると、硬化性をより一層良好にすることができる。

 ((H)窒素含有化合物)

 上記硬化性組成物は、(H)窒素含有化合物を含んでいてもよい。(H)窒素含有化合物を用いることで、硬度が高い硬化膜を得ることができ、硬化膜の傷付きを効果的に抑制することができる。(H)窒素含有化合物は(E)光重合開始剤ではなく、(G)チオール基含有化合物ではない。(H)窒素含有化合物は、(F-2)硬化触媒ではないことが好ましい。(H)窒素含有化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (H)窒素含有化合物としては、ジメチル(メタ)アクリルアミド、イソプロピル(メタ)アクリルアミド、ジエチル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド塩化メチル4級塩等のエチレン性不飽和結合を1個以上有するアミド基含有モノマー;(メタ)アクリロイルモルホリン等のエチレン性不飽和結合を1個以上有するモルホリン基含有モノマー;ヒドロキシエチル(メタ)アクリルアミド、テトラゾール化合物、イミダゾール化合物、トリアゾール化合物、イソシアネート化合物、及びメラミン化合物等が挙げられる。

 (H)窒素含有化合物は、ジメチル(メタ)アクリルアミド、(メタ)アクリロイルモルホリン、イソプロピル(メタ)アクリルアミド、又はジエチル(メタ)アクリルアミドであることが好ましい。(H)窒素含有化合物は、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド塩化メチル4級塩、又はヒドロキシエチル(メタ)アクリルアミドであることも好ましい。(H)窒素含有化合物は、テトラゾール化合物、イミダゾール化合物、トリアゾール化合物、イソシアネート化合物、又はメラミン化合物であることも好ましい。(H)窒素含有化合物が上記の好ましい化合物であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 上記のメチル(メタ)アクリルアミド、(メタ)アクリロイルモルホリン、イソプロピル(メタ)アクリルアミド、ジエチル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド塩化メチル4級塩、又はヒドロキシエチル(メタ)アクリルアミドを(H1)成分とする。硬化膜の硬度をより一層高める観点からは、(H)窒素含有化合物は、(H1)成分を含むことが好ましい。

 上記のテトラゾール化合物、イミダゾール化合物、トリアゾール化合物、イソシアネート化合物、又はメラミン化合物を(H2)成分とする。(H2)成分は、エチレン性二重結合を有さないことが好ましい。硬化膜の硬度をより一層高める観点からは、(H)窒素含有化合物は、(H2)成分を含むことが好ましい。

 上記テトラゾール化合物としては、1H-テトラゾール、5-アミノ-1H-テトラゾール、5-メチル-1H-テトラゾール、5-フェニル-1H-テトラゾール、1-メチル-5-エチル-1H-テトラゾール、1-メチル-5-メルカプト-1H-テトラゾール、1-フェニル-5-メルカプト-1H-テトラゾール、1-(2-ジメチルアミノエチル)-5-メルカプト-1H-テトラゾール、2-メトキシ-5-(5-トリフルオロメチル-1H-テトラゾール-1-イル)-ベンズアルデヒド、5,5’-ビ-1H-テトラゾール・ジアンモニウム塩、4,5-ジ(5-テトラゾリル)-[1,2,3]トリアゾール、5,5’-アゾビス-1H-テトラゾール、1-メチル-5-ベンゾイル-1H-テトラゾール、1-メチル-1H-テトラゾール-5-イル、及びフェニルメタノンオキシム(E+Z)(以上、いずれも東洋紡社製)等が挙げられる。上記テトラゾール化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 上記イミダゾール化合物としては、イミダゾール-4-カルボキシアルデヒド、2-フェニルイミダゾール-4-カルボキシアルデヒド、イミダゾール-2-カルボキシアルデヒド、イミダゾール-4-カルボニトリル、2-フェニルイミダゾール-4-カルボニトリル、4-ヒドロキシメチルイミダゾールヒドロクロリド、2-ヒドロキシメチルイミダゾールヒドロクロリド、4-イミダゾールカルボン酸、4-イミダゾールジチオカルボン酸、4-イミダゾールチオカルボキシアミド、2-ブロモイミダゾール、及び2-メルカプトイミダゾール(以上、いずれも四国化成工業社製)等が挙げられる。上記イミダゾール化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 上記トリアゾール化合物としては、1,2,3-ベンゾトリアゾール、1-[N,N-ビス(2-エチルヘキシル)アミノメチル]ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、1-[N,N-ビス(2-エチルヘキシル)アミノメチル]メチルベンゾトリアゾール、2,2’-[[(メチル-1H-ベンゾトリアゾール-1-イル)メチル]イミノ]ビスエタノール、及び1,2,3-ベンゾトリアゾール・ナトリウム塩溶液(以上、いずれも城北化学工業社製)等が挙げられる。上記トリアゾール化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 上記イソシアネート化合物としては、トリレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、メチレンジフェニルジイソシアネート、フェニレンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネート等の芳香族イソシアネート;α,α,α’,α’-テトラメチルキシリレンジイソシアネート等の芳香環を有する脂肪族イソシアネート;メチレンジイソシアネート、プロピレンジイソシアネート、リジンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート等の脂肪族イソシアネート;シクロヘキサンジイソシアネート、メチルシクロヘキサンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、メチレンビス(4-シクロヘキシルイソシアネート)、イソプロピリデンジシクロヘキシルジイソシアネート等の脂環族イソシアネート等が挙げられる。また、これらイソシアネート化合物のビュレット化物、イソシアヌレート化物、ウレトジオン化物、及びカルボジイミド変性体等の重合体や誘導体も、上記イソシアネート化合物として挙げられる。上記イソシアネート化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。紫外線による硬化膜の黄変を避ける観点からは、芳香族イソシアネート化合物よりも脂肪族イソシアネート化合物又は脂環族イソシアネート化合物がより好ましい。上記イソシアネート化合物は、脂肪族イソシアネート化合物又は脂環族イソシアネート化合物であることがより好ましい。

 上記イソシアネート化合物をブロックイソシアネートの状態で使用する場合、ブロック剤としては、例えば重亜硫酸塩;フェノール、クレゾール、エチルフェノール等のフェノール化合物;プロピレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコール、ベンジルアルコール、メタノール、エタノール等のアルコール化合物;マロン酸ジメチル、マロン酸ジエチル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、アセチルアセトン等の活性メチレン化合物;ブチルメルカプタン、ドデシルメルカプタン等のメルカプタン化合物;ε-カプロラクタム、δ-バレロラクタム等のラクタム化合物;ジフェニルアニリン、アニリン、エチレンイミン等のアミン化合物;アセトアニリド、酢酸アミドの酸アミド化合物;ホルムアルデヒド、アセトアルドオキシム、アセトンオキシム、メチルエチルケトンオキシム、シクロヘキサノンオキシム等のオキシム化合物等が挙げられる。上記ブロック剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 上記イソシアネート化合物の市販品としては、2-アクリロイルオキシエチルイソシアネート(昭和電工社製「カレンズAOI」)、2-メタクリロイルオキシエチルイソシアネート(昭和電工社製「カレンズMOI」)、メタクリロイルオキシエトキシエチルイソシアネート(昭和電工社製「カレンズMOI-EG」)、カレンズMOIのイソシアネートブロック体(昭和電工社製「カレンズMOI-BM」)、カレンズMOIのイソシアネートブロック体(昭和電工社製「カレンズMOI-BP」)、及び1,1-(ビスアクリロイルオキシメチル)エチルイソシアネート(昭和電工社製「カレンズBEI」)等が挙げられる。

 上記メラミン化合物としては、アルキロール化メラミン誘導体、アルキロール化メラミン誘導体にアルコールを反応させた部分エーテル化化合物、及びアルキロール化メラミン誘導体にアルコールを反応させた完全エーテル化化合物等が挙げられる。上記メラミン化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。上記のエーテル化に用いるアルコールとしては、メチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、n-ブタノール及びイソブタノール等が挙げられる。また、メラミン化合物は、単量体であってもよく、2量体以上の多量体であってもよく、単量体と多量体との混合物であってもよい。メラミン化合物は、メラミンの一部に尿素等を共縮合させた化合物であってもよい。メラミン化合物の反応性を上げるために触媒を用いてもよい。

 硬化膜の傷付きをより一層抑制し、硬化膜の硬度をより一層高める観点からは、(H)窒素含有化合物は、モルホリン基含有化合物又はイソシアネート化合物であることが好ましく、モルホリン基含有化合物であってもよく、イソシアネート化合物であってもよい。この場合に、上記モルホリン基含有化合物は、モルホリン基含有モノマーであることが好ましく、エチレン性不飽和結合を1個以上有することがより好ましい。上記イソシアネート化合物は、脂肪族イソシアネート化合物又は脂環族イソシアネート化合物であることが好ましい。上記モルホリン基含有化合物及び上記イソシアネート化合物が上記の好ましい化合物であると、硬化膜の傷付きをより一層抑制することができ、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(H)窒素含有化合物の含有量は、好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは0.5重量%以上であり、好ましくは45重量%以下、より好ましくは33重量%以下である。(H)窒素含有化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 上記硬化性組成物が(H1)成分を含む場合に、上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(H1)成分の含有量は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは5重量%以上であり、好ましくは40重量%以下、より好ましくは33重量%以下、さらに好ましくは30重量%以下である。(H1)成分の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 上記硬化性組成物が(H2)成分を含む場合に、上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、(H2)成分の含有量は、好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは0.5重量%以上であり、好ましくは5重量%以下、より好ましくは3重量%以下である。(H2)成分の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 (H)窒素含有化合物が上記モルホリン基含有化合物を含む場合に、上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、上記モルホリン基含有化合物の含有量は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは5重量%以上であり、好ましくは40重量%以下、より好ましくは33重量%以下、さらに好ましくは30重量%以下である。上記モルホリン基含有化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 (H)窒素含有化合物が上記イソシアネート化合物を含む場合に、上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、上記イソシアネート化合物の含有量は、好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは0.5重量%以上であり、好ましくは15重量%以下、より好ましくは10重量%以下である。上記イソシアネート化合物の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の硬度をより一層高めることができる。

 ((I)溶剤)

 上記硬化性組成物は、(I)溶剤を含んでいてもよい。上記硬化性組成物は、(I)溶剤を含んでいなくてもよい。(I)溶剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。

 (I)溶剤は、一般的には、有機溶剤である。上記有機溶剤としては、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン化合物、トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素化合物、セロソルブ、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、カルビトール、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル化合物、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸ブチル、セロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、炭酸プロピレン等のエステル化合物、オクタン、デカン等の脂肪族炭化水素化合物、石油エーテル、ナフサ等の石油系溶剤並びに二塩基酸エステル等が挙げられる。上記二塩基酸エステルは、DBEと呼ばれている溶剤である。

 上記硬化性組成物100重量%中、(I)溶剤の含有量は、好ましくは5重量%以上、より好ましくは10重量%以上であり、好ましくは50重量%以下、より好ましくは30重量%以下である。

 (他の成分)

 硬化膜の高温下での変色をより一層抑制する観点からは、上記硬化性化合物は、酸化防止剤を含んでいてもよい。上記酸化防止剤は、ルイス塩基性部位を有することが好ましい。硬化膜の高温下での変色をより一層抑制する観点からは、上記酸化防止剤は、フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤又はアミン系酸化防止剤であることが好ましく、フェノール系酸化防止剤であることがより好ましい。

 上記フェノール系酸化防止剤の市販品としては、IRGANOX 1010、IRGANOX 1035、IRGANOX 1076、IRGANOX 1135、IRGANOX 245、IRGANOX 259、及びIRGANOX 295(以上、いずれもチバジャパン社製)、アデカスタブ AO-30、アデカスタブ AO-40、アデカスタブ AO-50、アデカスタブ AO-60、アデカスタブ AO-70、アデカスタブ AO-80、アデカスタブ AO-90、及びアデカスタブ AO-330(以上、いずれもADEKA社製)、Sumilizer GA-80、Sumilizer MDP-S、Sumilizer BBM-S、Sumilizer GM、Sumilizer GS(F)、及びSumilizer GP(以上、いずれも住友化学工業社製)、HOSTANOX O10、HOSTANOX O16、HOSTANOX O14、及びHOSTANOX O3(以上、いずれもクラリアント社製)、アンテージ BHT、アンテージ W-300、アンテージ W-400、及びアンテージ W-500(以上、いずれも川口化学工業社製)、並びにSEENOX 224M、及びSEENOX 326M(以上、いずれもシプロ化成社製)等が挙げられる。

 上記リン系酸化防止剤としては、シクロヘキシルフォスフィン及びトリフェニルフォスフィン等が挙げられる。上記リン系酸化防止剤の市販品としては、アデカスタブ PEP-4C、アデカスタブ PEP-8、アデカスタブ PEP-24G、アデカスタブ PEP-36、アデカスタブ HP-10、アデカスタブ 2112、アデカスタブ 260、アデカスタブ 522A、アデカスタブ 1178、アデカスタブ 1500、アデカスタブ C、アデカスタブ 135A、アデカスタブ 3010、及びアデカスタブ TPP(以上、いずれもADEKA社製)、サンドスタブ P-EPQ、及びホスタノックス PAR24(以上、いずれもクラリアント社製)、並びにJP-312L、JP-318-0、JPM-308、JPM-313、JPP-613M、JPP-31、JPP-2000PT、及びJPH-3800(以上、いずれも城北化学工業社製)等が挙げられる。

 上記アミン系酸化防止剤としては、トリエチルアミン、ジシアンジアミド、メラミン、エチルジアミノ-S-トリアジン、2,4-ジアミノ-S-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-トリル-S-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-キシリル-S-トリアジン及び第四級アンモニウム塩誘導体等が挙げられる。

 上記硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、上記酸化防止剤の含有量は、好ましくは0.05重量%以上、より好ましくは0.1重量%以上であり、好ましくは2重量%以下、より好ましくは1重量%以下である。上記酸化防止剤の含有量が、上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化膜の高温下での変色をより一層抑制できる。

 上記硬化性組成物は、上述した成分以外に、着色剤、重合禁止剤、連鎖移動剤、紫外線吸収剤、消泡剤、レベリング剤、界面活性剤、スリップ剤、アンチブロッキング剤、ワックス、マスキング剤、消臭剤、芳香剤、防腐剤、抗菌剤、帯電防止剤及び密着性付与剤等を含んでいてもよい。上記密着性付与剤としては、シランカップリング剤等が挙げられる。

 上記硬化性組成物は、例えば、各配合成分を攪拌混合した後、3本ロールにて均一に混練することにより調製できる。なお、3本ロールにおけるロールの材質がステンレス鋼(SUS304等)であると、混練時に鉄が混入することがあるので、3本ロールにおけるロールの材質はセラミックであることが好ましい。また、ステンレス鋼(SUS304等)のロールの表面をセラミックコーティングしたロールを用いることもできる。

 上記硬化性組成物を硬化させるために用いられる光源としては、紫外線又は可視光線等の活性エネルギー線を発光する照射装置が挙げられる。上記光源としては、例えば、超高圧水銀灯、Deep UVランプ、高圧水銀灯、低圧水銀灯、メタルハライドランプ及びエキシマレーザーが挙げられる。これらの光源は、硬化性組成物の構成成分の感光波長に応じて適宜選択される。光の照射エネルギーは、所望とする厚み又は硬化性組成物の構成成分により適宜選択される。光の照射エネルギーは、一般に、10~3000mJ/cmの範囲内である。

 上記硬化性組成物を加熱により硬化させる場合には、熱硬化の際の加熱温度は、好ましくは100℃以上、より好ましくは120℃以上であり、好ましくは250℃以下、より好ましくは200℃以下である。

 [電子部品及び電子部品の製造方法]

 本発明に係る電子部品は、電子部品本体と、上記電子部品本体の表面上に配置された硬化膜とを備える。本発明に係る電子部品では、上記硬化膜の材料が、上述した硬化性組成物である。

 本発明に係る電子部品の製造方法は、電子部品本体の表面上に、上述した硬化性組成物を塗布して、硬化性組成物層を形成する工程と、上記硬化性組成物層を硬化させて、硬化膜を形成する工程とを備える。上記硬化膜を形成する工程では、光の照射により上記硬化性組成物を光硬化させることで硬化膜を形成してもよく、加熱により上記硬化性組成物層を熱硬化させることで硬化膜を形成してもよい。本発明に係る電子部品の製造方法では、上記硬化性組成物層がソルダーレジスト層であることが好ましく、上記硬化膜がソルダーレジスト膜であることが好ましい。上記硬化性組成物は、ソルダーレジスト膜を形成するために好適に用いることができる。

 現像処理を行わない場合には、電子部品本体の表面上に、部分的にかつ複数の箇所に、上記硬化性組成物を塗布することができる。

 電子部品本体の熱劣化を防止する観点からは、上記硬化膜を形成するために、上記硬化性組成物層を熱硬化させないことが好ましい。電子部品本体の熱劣化を防止する観点からは、上記硬化膜を形成するために、150℃以上に加熱しないことが好ましく、100℃以上に加熱しないことがより好ましい。

 上記硬化膜を形成するために、粗化処理が行われないことが好ましい。

 以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な電子部品の製造方法を説明する。以下に説明する実施形態では、上記硬化性組成物層がソルダーレジスト層であり、上記硬化膜がソルダーレジスト膜である。図1(a)~(e)では、ソルダーレジスト膜を形成するために、現像型硬化性組成物が用いられている。

 図1(a)~(e)は、本発明の一実施形態に係る硬化性組成物を用いて、電子部品を製造する方法の一例を説明するための断面図である。

 先ず、図1(a)に示すように、塗布対象部材11を用意する。塗布対象部材11は、電子部品本体である。塗布対象部材11として、基板11Aが用いられており、基板11Aの表面上に複数の電極11Bが配置されている。

 次に、図1(b)に示すように、塗布対象部材11の表面上に、本発明の一実施形態に係る硬化性組成物(現像型硬化性組成物として使用)を塗布して、ソルダーレジスト層12(硬化性組成物層)を形成する。図1(b)では、塗布対象部材11の表面上に、全体に、ソルダーレジスト層12を形成している。次に、図1(c)に示すように、マスク13を介して、電極11B間上のソルダーレジスト層12のみに光を照射する。その後、図1(d)に示すように、現像し、電極11B上に位置し、光が照射されていないソルダーレジスト層12を部分的に除去する。ソルダーレジスト層12を部分的に除去した後、残存しているソルダーレジスト層12を熱硬化させる。この結果、図1(e)に示すように、塗布対象部材11(電子部品本体)の表面上に、ソルダーレジスト膜2が形成された電子部品1を得る。

 図2(a)~(c)は、本発明の一実施形態に係る硬化性組成物を用いて、電子部品を製造する方法の他の例を説明するための断面図である。

 図2(a)に示すように、塗布対象部材11を用意する。次に、図2(b)に示すように、塗布対象部材11の表面上に、本発明の第2の実施形態に係る硬化性組成物(非現像型硬化性組成物として使用)を塗布して、ソルダーレジスト層12X(硬化性組成物層)を形成する。図2(b)では、塗布対象部材11の表面上に、部分的にかつ複数の箇所に、上記硬化性組成物を塗布し、複数のソルダーレジスト層12Xを形成している。具体的には、基板11Aの表面上の複数の電極11Bの間に、複数のソルダーレジスト層12Xを形成している。ソルダーレジスト層12Xは、例えばレジストパターンである。例えば、ソルダーレジスト層12Xは、現像型硬化性組成物を用いることを想定したときに、現像後に残存させて形成されるソルダーレジスト層部分に対応する位置にのみに形成されている。ソルダーレジスト層12Xは、現像型硬化性組成物を用い、現像により除去されるソルダーレジスト層部分に対応する位置に形成されていない。

 次に、ソルダーレジスト層12Xに光を照射する。例えば、ソルダーレジスト層12Xの塗布対象部材11側とは反対側から、ソルダーレジスト層12Xに光を照射する。図2(c)に示すように、ソルダーレジスト層12Xが光硬化し、ソルダーレジスト膜2X(硬化膜)が形成される。この結果、塗布対象部材11(電子部品本体)の表面上に、ソルダーレジスト膜2Xが形成された電子部品1Xが得られる。

 硬化性組成物の塗布方法は、例えば、ディスペンサーによる塗布方法、スクリーン印刷による塗布方法、及びインクジェット装置による塗布方法等が挙げられる。製造効率に優れることから、スクリーン印刷が好ましい。硬化性組成物をパターン印刷することが好ましい。

 なお、図1(a)~(e)及び図2(a)~(c)を用いて説明したソルダーレジスト膜を備える電子部品の製造方法は、一例であり、電子部品の製造方法は、適宜変更することができる。

 本発明では、塗布対象部材の表面に硬化性組成物を1層塗布する毎に光を照射して硬化性組成物層(ソルダーレジスト層等)を形成してもよく、また2層以上塗布を行った後に光を照射して硬化性組成物層を形成してもよい。

 以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明を具体的に説明する。本発明は、以下の実施例のみに限定されない。

 (合成例1)

 エポキシ(メタ)アクリレート(1)の合成:

 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「YD-134」)100gとアクリル酸28gとを反応容器に入れ、ハイドロキノンモノメチルエーテル0.06gとテトラブチルアンモニウムブロマイド0.64gとを加えて、90℃にて4時間反応を行った。次に、トルエン300mlと水200mlと炭酸ナトリウム1gとを加えて、常温で1時間撹拌した。その後、水相を分相し、除去した。トルエン相に無水硫酸ナトリウム10gを加え、常温にて1時間撹拌した。その後、硫酸ナトリウムを濾過により除去し、トルエンを減圧除去して、目的物のエポキシアクリレート(1)120gを得た。

 得られた縮合物の重量平均分子量は900、酸価は10mgKOH/gであった。

 (合成例2)

 エポキシ(メタ)アクリレート(2)の合成:

 ビスフェノールA型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学社製「YD-011」)100gとアクリル酸18gとを反応容器に入れ、ハイドロキノンモノメチルエーテル0.06gとテトラブチルアンモニウムブロマイド0.64gとを加えて、90℃にて4時間反応を行った。次に、トルエン300mlと水200mlと炭酸ナトリウム2gとを加えて、常温で1時間撹拌した。その後、水相を分相し、除去した。トルエン相に無水硫酸ナトリウム10gを加え、常温にて1時間撹拌した。その後、硫酸ナトリウムを濾過により除去し、トルエンを減圧除去して、目的物のエポキシアクリレート(2)100gを得た。

 得られた縮合物の重量平均分子量は3000、酸価は10mgKOH/gであった。

 (実施例1)

 (1)硬化性組成物の作製

 下記の表1に示す配合成分を下記の表2に示す配合量で配合し、混合機(シンキー社製「練太郎ARE-310」)にて3分間混合した後、3本ロールにて混合し、混合物を得た。その後、ARE-310を用いて、得られた混合物を3分間脱泡することにより、硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)を得た。なお、配合成分を配合する際には、マグネットフィルターを用いて、配合成分中の鉄を除去した。また、3本ロールでの混合においては、混合物中に鉄が混入しないように、ロールの材質がセラミックである3本ロールを用いた。

 (2)電子部品の作製

 100mm×100mm×厚さ0.8mmのFR-4に銅箔を積層した基板を用意した。この基板上に、MD-4S-UFF(3M社製、番手:1000)でバフ処理後、スクリーン印刷法により、255メッシュのポリエステルバイアス製の版を用いて、マスクパターンで硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)を印刷して、ソルダーレジスト層を形成した。印刷後、紫外線照射装置を用い、ソルダーレジスト層に波長365nmの紫外線を、照射エネルギーが1500mJ/cmとなるように500mW/cmの紫外線照度で、ベルトコンベアー式露光器に流すことにより照射し、ソルダーレジスト膜を備える電子部品を得た。得られた電子部品におけるソルダーレジスト膜の厚みは20μmであった。

 (実施例2~15及び比較例3,4)

 使用した材料の種類及び配合量を下記の表1~3に示すように変更したこと以外は、実施例1と同様にして、硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)及び電子部品を得た。

 (比較例1)

 硬化性組成物の作製において、配合成分を配合する際にマグネットフィルターを用いず、配合成分中の鉄を除去しないように変更し、また、3本ロールでの混合において、ロールの材質がステンレス鋼(SUS304)である3本ロールを用いるように変更した。上記の変更以外は、実施例1と同様にして、硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)及び電子部品を得た。

 (比較例2)

 硬化性組成物の作製において、配合成分を配合する際にマグネットフィルターによる処理時間を実施例1の半分の時間に変更したこと以外は実施例1と同様にして、硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)及び電子部品を得た。

 (評価)

 (1)硬化性組成物中の鉄濃度

 硬化性組成物中の鉄濃度を以下のようにして、測定した。

 得られた硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)1gを白金るつぼに精秤し、予備燃焼後、800℃及び3時間の条件で電気炉により灰化させた。冷却後、硝酸2mlを6回に分けて加え、300℃~350℃のホットプレート上で完全に蒸発、乾固させた。次に、塩酸3mlを加え、200℃~250℃に加熱し、塩酸がるつぼの底に少量残る程度まで乾固させた。次に、蒸留水で25mlにメスアップし、冷却装置により20℃に保って試料を得た。得られた試料を、原子吸光分光光度計(島津製作所社製「AA-6500」)を用いて原子吸光分析を行い、硬化性組成物中の鉄濃度を測定した。

 (2)反射率

 得られた電子部品におけるソルダーレジスト膜について、色彩色度計(コニカミノルタ社製「CR-400」)を用いて反射率Y1を測定し、以下の基準で判定した。

 [反射率の判定基準]

 ○○:反射率Y1が85%以上

 ○:反射率Y1が82%以上、85%未満

 △:反射率Y1が78%以上、82%未満

 ×:反射率Y1が78%未満

 (3)半田耐熱性

 得られた電子部品を4cm角に切り、260℃の鉛フリー半田槽にソルダーレジスト膜が下側にくるようにして、10秒間浸漬する操作を3回繰り返した。この操作により、ソルダーレジスト膜(硬化膜)が高温下に晒される。半田耐熱性を以下の基準で判定した。

 [半田耐熱性の判定基準]

 ○○:剥離なし、膨れなし

 ○:5%未満の面積で剥離又は膨れあり

 ×:5%以上の面積で剥離又は膨れあり

 (4)半田耐熱後の反射率の低下率(反射率の維持特性)

 半田耐熱性試験後のソルダーレジスト膜について、色彩色度計(コニカミノルタ社製「CR-400」)を用いて反射率Y2を測定し、下記式(1)により半田耐熱後の反射率の低下率を算出した。半田耐熱後の反射率の低下率を以下の基準で判定した。なお、半田耐熱後の反射率の低下率が小さいソルダーレジスト膜では、光の反射率が経時的にも低下しにくい。

 半田耐熱後の反射率の低下率(%)=[(Y1-Y2)/Y1]×100 ・・・(1)

 [半田耐熱後の反射率の低下率の判定基準]

 ○○:低下率が1%以下

 ○:低下率が1%より大きく、2%以下

 △:低下率が2%より大きく、5%以下

 ×:低下率が5%より大きい

 (5)絶縁信頼性

 IPC-B-25のくし型テストパターンBを用意した。このくし型テストパターンBを80℃に加温して、くし型テストパターンBの表面の全体を覆うように硬化性組成物(非現像型硬化性組成物)を、厚みが20μmとなるように塗工し、ソルダーレジスト層を形成した。紫外線照射装置を用いて、ソルダーレジスト層に波長365nmの紫外線を、照射エネルギーが1500mJ/cmとなるように500mW/cmの紫外線照度で、ベルトコンベアー式露光器に流すことにより照射し、絶縁信頼性試験用測定サンプルを得た。

 得られた絶縁信頼性試験用測定サンプルを、温度85℃、湿度85%、及び直流5Vを印加した条件で、500時間及び1000時間加湿試験を行った。加湿試験後の絶縁抵抗を測定した。絶縁信頼性を以下の基準で判定した。

 [絶縁信頼性の判定基準]

 ○○:加湿試験後の絶縁抵抗が1014Ω以上

 ○:加湿試験後の絶縁抵抗が1013Ω以上、1014Ω未満

 △:加湿試験後の絶縁抵抗が1012Ω以上、1013Ω未満

 ×:加湿試験後の絶縁抵抗が1012Ω未満

 配合成分の詳細、組成及び結果を下記の表1~3に示す。

Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001

Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002

Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003

 1,1X…電子部品

 2,2X…ソルダーレジスト膜

 11…塗布対象部材(電子部品本体)

 11A…基板

 11B…電極

 12,12X…ソルダーレジスト層

 13…マスク

Claims (11)


  1.  硬化性成分と、酸化チタンと、酸化チタン以外の無機フィラーとを含み、

     硬化性組成物中の鉄濃度が、100ppm以下である、硬化性組成物。

  2.  硬化性組成物中の鉄濃度が、80ppm以下である、請求項1に記載の硬化性組成物。

  3.  前記無機フィラーが、タルク、シリカ、又は硫酸バリウムである、請求項1又は2に記載の硬化性組成物。

  4.  硬化性組成物の溶剤を除く成分100重量%中、前記酸化チタンの含有量が、35重量%以上70重量%以下である、請求項1~3のいずれか1項に記載の硬化性組成物。

  5.  前記硬化性成分が、光硬化性化合物又は熱硬化性化合物を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の硬化性組成物。

  6.  前記硬化性成分が、2000以上の重量平均分子量を有する硬化性化合物を含む、請求項1~5のいずれか1項に記載の硬化性組成物。

  7.  前記硬化性成分が、水酸基を有する硬化性化合物を含む、請求項1~6のいずれか1項に記載の硬化性組成物。

  8.  ソルダーレジスト膜を形成するために用いられる、請求項1~7のいずれか1項に記載の硬化性組成物。

  9.  電子部品本体と、

     前記電子部品本体の表面上に配置された硬化膜とを備え、

     前記硬化膜の材料が、請求項1~8のいずれか1項に記載の硬化性組成物である、電子部品。

  10.  電子部品本体の表面上に、請求項1~8のいずれか1項に記載の硬化性組成物を塗布して、硬化性組成物層を形成する工程と、

     前記硬化性組成物層を硬化させて、硬化膜を形成する工程とを備える、電子部品の製造方法。

  11.  前記硬化性組成物層がソルダーレジスト層であり、前記硬化膜がソルダーレジスト膜である、請求項10に記載の電子部品の製造方法。
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