WO2018216249A1 - 多モード干渉型合分波器、および、これを用いた光学素子 - Google Patents

多モード干渉型合分波器、および、これを用いた光学素子 Download PDF

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高林 正和
智志 西川
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Definitions

  • the technology disclosed in this specification relates to suppression of reflected return light in a multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • a multimode interference type multiplexer / demultiplexer has been applied as an optical multiplexer / demultiplexer in an optical integrated circuit, but reducing the reflected return light in the multimode interference type multiplexer / demultiplexer is an MZ (Mach-Zehnder). This is effective for improving the characteristics of the device such as the extinction ratio of the modulator.
  • Patent Document 1 discloses a configuration in which an inclined surface is provided in a multimode interference multiplexer / demultiplexer, and light that can be reflected return light is guided to a multimode waveguide.
  • the position of image formation of light that can be reflected return light is an inclined surface. For this reason, the reflected light that spreads from the position of the image formation cannot be guided to the single mode waveguide, and has a structure that guides to the multimode waveguide.
  • An object of the present invention is to provide a technique for suppressing reflected return light in a waver.
  • a first aspect of the technology disclosed in the specification of the present application includes a first end, a second end that is an end opposite to the first end, and a first side that faces each other.
  • a multimode waveguide having an end and a second side end; a first single mode waveguide connected to the first end of the multimode waveguide; and At the second end, the second single mode waveguide connected to a position facing the first single mode waveguide, and at the second end of the multimode waveguide, the second end A third single mode waveguide connected to a position closer to the first side end than a position to which the two single mode waveguides are connected; and the third single mode in the multimode waveguide.
  • a reflecting surface disposed at a position facing the waveguide, and the first side end portion; Comprises a fourth single-mode waveguide connected to the second side end, the direction connecting the first end and the second end is defined as the first direction, and the first The second direction is a direction intersecting with the first direction, and the first side end portion and the second side end portion face each other in the second direction, and the second single mode waveguide Alternatively, the light incident from the third single mode waveguide is reflected by the reflecting surface and forms an image at the first connection portion of the fourth single mode waveguide, and the first connection portion These are the connection part in the said 1st side edge part, or the connection part in the said 2nd side edge part.
  • a second aspect of the technology disclosed in this specification includes at least one multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • a first aspect of the technology disclosed in the specification of the present application includes a first end, a second end that is an end opposite to the first end, and a first side that faces each other.
  • a multimode waveguide having an end and a second side end; a first single mode waveguide connected to the first end of the multimode waveguide; and At the second end, the second single mode waveguide connected to a position facing the first single mode waveguide, and at the second end of the multimode waveguide, the second end A third single mode waveguide connected to a position closer to the first side end than a position to which the two single mode waveguides are connected; and the third single mode in the multimode waveguide.
  • a reflecting surface disposed at a position facing the waveguide, and the first side end portion; Comprises a fourth single-mode waveguide connected to the second side end, the direction connecting the first end and the second end is defined as the first direction, and the first The second direction is a direction intersecting with the first direction, and the first side end portion and the second side end portion face each other in the second direction, and the second single mode waveguide Alternatively, the light incident from the third single mode waveguide is reflected by the reflecting surface and forms an image at the first connection portion of the fourth single mode waveguide, and the first connection portion Is a connection portion at the first side end portion or a connection portion at the second side end portion.
  • the reflected return light in the multimode interference multiplexer / demultiplexer can be suppressed while easily forming a layout including a curved waveguide for routing unnecessary light.
  • At least one multimode interference multiplexer / demultiplexer is provided. According to such a configuration, reflected return light can be suppressed in an optical element such as a Mach-Zehnder type modulator or a two-wavelength integrated modulator.
  • FIG. 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line A-A ′ of the single mode waveguide in FIG. 1.
  • FIG. 2 is a plan view showing details of the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer exemplified in FIG. 1. It is a figure which illustrates the result of having simulated the mode of propagation in the multimode waveguide of the light which enters from a single mode waveguide in the case of the usual 2x2 multimode interference type multiplexer / demultiplexer.
  • FIG. 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a B-B ′ cross section of the absorbing single mode waveguide in FIG. 7. It is a top view which illustrates schematically the structure of an MZ modulator regarding embodiment.
  • FIG. 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a B-B ′ cross section of the absorbing single mode waveguide in FIG. 7. It is a top view which illustrates schematically the structure of an MZ modulator regarding embodiment.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a C-C ′ cross section of an arm portion at a position where a modulation electrode is formed in FIG. 9.
  • 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a two-wavelength integrated modulator according to an embodiment.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a D-D ′ cross section in FIG. 11. It is a top view which shows the modification of a structure of a multimode interference type
  • FIG. 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment.
  • 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment. It is the figure which expanded a part of simulation result illustrated by FIG. 1 is a plan view schematically illustrating a configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to an embodiment. It is a top view which illustrates schematically the structure of the normal 4x4 multimode interference type
  • FIG. 19 is a diagram illustrating a four-wavelength integrated modulator to which the multimode interference multiplexer / demultiplexer of FIG. 18 is applied.
  • FIG. 1 is a plan view schematically illustrating the configuration of a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the multimode waveguide 1 the single mode waveguide 2a, the single mode waveguide 2b, and the single mode waveguide 2c.
  • a single mode waveguide 5 for unnecessary light.
  • a reflective surface 4 is disposed at a position of the multimode waveguide 1 facing the single mode waveguide 2b.
  • the multimode interference multiplexer / demultiplexer demultiplexes the light incident from the single mode waveguide 2a and outputs the demultiplexed light to the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c.
  • mold multiplexer / demultiplexer regarding this Embodiment combines the light which injects from the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c, and radiate
  • the single mode waveguide 2a, the single mode waveguide 2b, and the single mode waveguide 2c through which light is incident or emitted are connected to the multimode waveguide 1 at the connection portions.
  • the connecting portion is a boundary portion that connects the single mode waveguide and the multimode waveguide, and connects both waveguides to allow light to enter or exit.
  • the single mode waveguide 2a is connected to the end 1a in the longitudinal direction of the multimode waveguide 1, and the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c are the other end in the longitudinal direction of the multimode waveguide 1, That is, it is connected to the end 1b opposite to the end 1a to which the single mode waveguide 2a is connected.
  • the single mode waveguide 2c is connected to a position facing the single mode waveguide 2a.
  • the single mode waveguide 2b is connected to a position closer to the side end portion 10a than the position to which the single mode waveguide 2c is connected at the end 1b of the multimode waveguide 1. Moreover, the reflective surface 4 is located in the X-axis positive direction with respect to the end portion 1a.
  • the single mode waveguide 5 for unnecessary light is connected to the side end portion 10 b of the multimode waveguide 1.
  • the single-mode waveguide 5 for unnecessary light guides unnecessary light that is light reflected by the reflecting surface 4, that is, light that can be reflected and returned in the multimode interference multiplexer / demultiplexer, and removes unnecessary light. It is a configuration.
  • the basic design of the multimode interference type multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment is a 2 ⁇ 2 multimode interference type multiplexer / demultiplexer, but the unused single mode waveguide 3 connected at the connection unit 30 is removed. Instead, the reflecting surface 4 and the single mode waveguide 5 for unnecessary light connected at the connection portion 31 are arranged.
  • an MZ interferometer When an MZ interferometer is configured by connecting two normal 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexers / demultiplexers, single mode waveguides that are not used on the incident side and the emission side are arranged. . Therefore, such a single mode waveguide can be connected to the side end portion 10b of the multimode waveguide 1 and used as the unnecessary light single mode waveguide 5 for removing the unnecessary light 100.
  • the light When light is incident from the single mode waveguide 2a, the light is finally branched into two by the multimode waveguide 1 and emitted from the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c, respectively.
  • the light When light is incident from the single mode waveguide 2b or the single mode waveguide 2c, the light is finally branched into two by the multimode waveguide 1, and one is emitted from the single mode waveguide 2a. The other is reflected by the reflecting surface 4 and is coupled to the single mode waveguide 5 for unnecessary light.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the single mode waveguide 2a in FIG.
  • the single mode waveguide 2 a includes a substrate 50, a lower cladding layer 51 formed on the upper surface of the substrate 50, a waveguide layer 52 formed on the upper surface of the lower cladding layer 51, And an upper clad layer 53 formed on the upper surface of the waveguide layer 52.
  • the structure of the multimode waveguide 1 is the same as that of the single mode waveguide 2a illustrated in FIG. 2 having a wide width in the Y-axis direction.
  • the substrate 50 is, for example, an InP substrate.
  • the lower cladding layer 51 and the upper cladding layer 53 are InP layers.
  • the waveguide layer 52 for example, a bulk layer made of an InGaAsP-based material or a multiple quantum well layer (MQW layer) can be selected and laminated.
  • the waveguide layer 52 can be formed into an arbitrary shape by photolithography, and in this embodiment, a semiconductor waveguide pattern as illustrated in FIG. 1 is formed.
  • FIG. 3 is a plan view showing details of the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer exemplified in FIG.
  • the basic design of the multimode interference type multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment is a 2 ⁇ 2 multimode interference type multiplexer / demultiplexer, the multimode waveguide length with respect to the width of the multimode waveguide 1, and the adjacent two The distance between the single mode waveguides is based on the basic design of the 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • the multimode waveguide length L is expressed by the following equation with respect to the multimode waveguide width W.
  • each single mode waveguide connected to the multimode waveguide 1 is disposed at a position of ⁇ W / 6 from the center line F along the longitudinal direction of the multimode waveguide 1.
  • an axis along the longitudinal direction of the single mode waveguide 2b is defined as an axis E
  • an axis along the longitudinal direction of the single mode waveguide 2c is defined as an axis G.
  • the light incident from the single mode waveguide 2 a forms an image at the connection portion 34 of the single mode waveguide 2 b or the connection portion 35 of the single mode waveguide 2 c.
  • the multimode waveguide width W and the multimode waveguide length L are set so that light incident from the single mode waveguide 2b or the single mode waveguide 2c forms an image at the connection portion 33 of the single mode waveguide 2a. Has been.
  • the multimode waveguide width W and the multimode waveguide length L include, for example, when the multimode waveguide width W is 12 ⁇ m, the multimode waveguide length L is 204 ⁇ m, or the multimode waveguide width W Is 18 ⁇ m, the multimode waveguide length L is assumed to be 460 ⁇ m (both n eff is 3.3 and ⁇ is 1.55 ⁇ m).
  • the single mode waveguide 3 that is originally provided in the 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer but is removed because it is not used, and the single mode that is connected to face the single mode waveguide 3.
  • a center line connecting the waveguide 2b is an axis E.
  • An intersection point between the axis E and the reflecting surface 4 is defined as an intersection point Z.
  • the intersection Z is a representative reflection point where the light incident from the single mode waveguide 2c or the single mode waveguide 2b is reflected by the reflection surface 4.
  • the distance Y between the intersection Z and the connection portion 31 to which the single mode waveguide 5 for unnecessary light is connected is defined as a distance Y.
  • the distance Y is a distance along the Y-axis direction, and is along the axis H of the single-mode waveguide 5 for unnecessary light arranged so that the axis H which is an axis along the longitudinal direction passes through the intersection Z. Distance.
  • the distance X between the intersection Z and the connection portion 30 where the single mode waveguide 3 before removal is connected to the multimode waveguide 1 is a distance X.
  • the distance X is a distance along the X-axis direction.
  • an image should be formed at the connection portion 30 of the single mode waveguide 3 by arranging the reflecting surface 4 so that the distance X and the distance Y are equal.
  • the reflected light is reflected by the reflecting surface 4 and then forms an image at the connection portion 31 at the side end portion 10 b of the multimode waveguide 1.
  • the angle of the reflecting surface 4 with respect to the X-axis direction is 45 °.
  • the light reflected by the reflecting surface 4 forms an image at the connection portion 31 of the single-mode waveguide 5 for unnecessary light arranged so that the axis H along the longitudinal direction passes through the intersection Z. Then, the light is removed while being guided to the single mode waveguide 5 for unnecessary light.
  • the light incident from the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c travels in various directions by reflection or interference in the multimode waveguide 1, but at the position where the reflection surface 4 is disposed.
  • the traveling direction of the light on the reflection surface 4 is approximately the negative X-axis direction. If the angle of the reflecting surface 4 with respect to the X-axis direction is 45 °, the traveling direction of the light reflected on the reflecting surface 4 is also approximately aligned in the Y-axis negative direction.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a result of simulating a state of propagation of light incident from the single mode waveguide 2b in the multimode waveguide 1 in the case of a normal 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer. .
  • a normal 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer that is, a single mode waveguide 2 a and a single mode waveguide 3 are connected to each other at an end 1 a of the multimode waveguide 1.
  • the light incident from the single mode waveguide 2b forms an image in each of the single mode waveguide 2a and the single mode waveguide 3.
  • the propagation is axisymmetric to the mode illustrated in FIG. 4, and the single mode waveguide 2a and the single mode waveguide 2c are transmitted.
  • the light incident from the single mode waveguide 2 c forms an image.
  • the light Since the light is imaged at two locations, the light is collected toward the two points, but the direction in which the light propagates by being reflected by the reflecting surface 4 in the path on which the light is collected is reflected. Even if it is changed, the light collection angle does not change. Therefore, the reflected light forms an image with the same propagation distance as in the case where the reflecting surface 4 does not exist.
  • the reflecting surface 4 and the single mode waveguide 5 for unnecessary light are equal as described above, the light incident from the single mode waveguide 2b is multimode.
  • An image is formed in the single mode waveguide 5 for unnecessary light connected to the side end portion 10 b of the waveguide 1.
  • the light imaged in the said location can be guide
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a result of simulating a state of propagation of light incident from the single mode waveguide 2b in the multimode waveguide 1 when the multimode interference type multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment is used. It is.
  • an image should be formed with one light, that is, with the single mode waveguide 3 in FIG. 4.
  • Light is reflected by the reflecting surface 4 and imaged as unnecessary light in the single mode waveguide 5 for unnecessary light.
  • the reflective surface 4 is formed so as to be inclined so as to approach the end 1b of the multimode waveguide 1 as it is farther from the center line F of the multimode waveguide 1.
  • the single mode waveguide 5a for unnecessary light may be connected.
  • FIG. 6 is a plan view schematically illustrating the configuration of a modification of the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the tip of the unwanted light single mode waveguide 5a or the tip of the unwanted light single mode waveguide 5 may be inclined.
  • unnecessary light may be radiated out of the waveguide.
  • the tip of the unnecessary light single mode waveguide 5a or the tip of the unnecessary light single mode waveguide 5 (see FIG. 1) to reach the end of the substrate 50, it is unnecessary to the outside of the substrate 50. Light may be emitted.
  • unnecessary light that can be reflected return light can be guided to the single mode waveguide for unnecessary light. Therefore, since it can be routed by a curved waveguide, layout in an integrated circuit or the like is facilitated.
  • the occupied area is widened because the waveguide width is large. Furthermore, when the multimode waveguide 1 is bent, light is radiated out of the multimode waveguide 1 and may become stray light that affects other elements. Therefore, when unnecessary light is guided to the multimode waveguide 1, a problem occurs particularly in an integrated circuit.
  • unnecessary light that can be reflected return light generated in the multimode interference multiplexer / demultiplexer can be removed while being guided to the single mode waveguide. Become.
  • FIG. 7 is a plan view schematically illustrating the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the multimode waveguide 1, the single mode waveguide 2a, the single mode waveguide 2b, the single mode waveguide 2c, and the single mode waveguide for unnecessary light are used.
  • a reflective surface 4 is arranged at a position facing the single mode waveguide 2 b of the multimode waveguide 1.
  • the light reflected by the reflecting surface 4 forms an image at the connection portion 31 of the unnecessary light single-mode waveguide 5b, and further on the opposite side of the connection portion 31 of the unnecessary light single-mode waveguide 5b. It is absorbed as unnecessary light in the absorption single mode waveguide 6 connected to the end.
  • the possibility of stray light being generated in the module or the like is reduced by absorbing light compared to the case where unnecessary light is emitted outside the waveguide or the substrate 50.
  • This configuration is effective when it is difficult to arrange the curved waveguide up to the end of the substrate 50 due to the arrangement of elements in the integrated circuit.
  • connection surface 101 between the single mode waveguide 5b for unnecessary light and the single mode waveguide 6 for absorption is inclined to a Brewster angle (for example, 45 °), thereby forming a non-reflection connection surface 101. Can do. In that case, it is also possible to absorb all of the light guided to the single mode waveguide 5b for unnecessary light in the single mode waveguide 6 for absorption.
  • a Brewster angle for example, 45 °
  • the waveguide through which unnecessary light is guided is a multimode waveguide
  • the light propagating in the multimode waveguide has a divergence angle
  • the multimode waveguide and the absorption single mode waveguide Even if the angle of the connection surface 101 with respect to 6 is adjusted, it is difficult to effectively suppress the reflection of light on the connection surface 101.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating the B-B ′ cross section of the absorption single mode waveguide 6 in FIG.
  • the absorption single mode waveguide 6 includes a substrate 50, a lower cladding layer 51 formed on the upper surface of the substrate 50, and an absorption layer 54 formed on the upper surface of the lower cladding layer 51. And an upper cladding layer 53 formed on the upper surface of the absorption layer 54.
  • the unnecessary light incident on the absorption single mode waveguide 6 is absorbed and disappears while propagating through the absorption single mode waveguide 6 having the absorption layer 54.
  • the substrate 50 is, for example, an InP substrate.
  • the lower cladding layer 51 and the upper cladding layer 53 are InP layers.
  • a lower clad layer 51 that is an InP layer is stacked on an upper surface of a substrate 50 that is an InP substrate. Then, for example, a bulk layer made of an InGaAsP-based material can be selected and laminated on the upper surface of the lower cladding layer 51 as a waveguide layer.
  • the waveguide layer can be formed in an arbitrary shape by photolithography, and in this embodiment, a waveguide pattern as illustrated in FIG. 7 is formed in a region other than the absorption single mode waveguide 6.
  • a multiple quantum well layer made of an InGaAsP-based material is selected and laminated, and the pattern of the absorption single mode waveguide 6 as illustrated in FIG. 7 is formed by photolithography.
  • an upper clad layer 53 which is an InP layer is laminated, and a pattern is formed by photolithography.
  • the regions of the single mode waveguide 2a, the single mode waveguide 2b, the single mode waveguide 2c, and the multimode waveguide 1 have cross sections as illustrated in FIG. 2, and the region of the absorption single mode waveguide 6 is illustrated.
  • a cross section as illustrated in FIG. By such a procedure, the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment can be manufactured.
  • a structure in which the unnecessary light single mode waveguide 5b to which the absorption single mode waveguide 6 according to the present embodiment is connected is connected to the side end portion 10a can also be assumed.
  • the reflection surface is formed so as to be inclined away from the end portion 1 b of the multimode waveguide 1 as the distance from the center line F of the multimode waveguide 1 increases. .
  • a multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment and an MZ modulator as an optical element using the multimode interference multiplexer / demultiplexer will be described.
  • components similar to those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted as appropriate.
  • FIG. 9 is a plan view schematically illustrating the configuration of the MZ modulator according to the present embodiment.
  • FIG. 9 illustrates an MZ modulator including the multimode interference type multiplexer / demultiplexer illustrated in FIG. 1 and having electrodes formed on two arms of the MZ interferometer.
  • the MZ modulator includes a multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20 a, a multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20 b, and a multimode interference type, which are respectively disposed on the upper surface of the substrate 50.
  • a multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20 a Between the multiplexer / demultiplexer 20a and the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20b, an arm part 42a and an arm part 42b connected in parallel to each other are provided.
  • the arm part 42a is a portion that connects between the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20a and the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20b via a single mode waveguide 2b extending from each, and the single mode waveguide 2b.
  • the modulator 41a is partially formed in the path.
  • the arm portion 42b is a portion that connects between the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20a and the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20b via a single mode waveguide 2c that extends from each of them, and the single mode waveguide 2c. And a modulator 41b partially formed in the path.
  • the waveguide layers in the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c are composed of multiple quantum well layers (MQW layers).
  • MQW layers multiple quantum well layers
  • the light enters from the incident end 60 of the MZ modulator and is branched into two in the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20a.
  • the light is modulated by the modulator 41a and the modulator 41b and then multiplexed by the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20b. Then, the light is emitted from the emission end 61 of the MZ modulator.
  • the single mode waveguide 3 (originally arranged as a 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer) ( The light that should be coupled to (see FIG. 1) is reflected by the reflecting surface 4 (see FIG. 1) and guided to the single mode waveguide 5 for unnecessary light. Then, the light is emitted outside the substrate 50 as unnecessary light.
  • a paint that absorbs light is applied to the end of the substrate 50 to absorb the light. Good.
  • the absorption single mode waveguide 6 (see FIG. 7) is connected to the tip of the unnecessary light single mode waveguide 5b (see FIG. 7). By doing so, unnecessary light may be absorbed.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating the C-C ′ cross section of the arm portion at the position where the modulation electrode in FIG. 9 is formed.
  • the arm portion 42 a includes a substrate 50, a lower cladding layer 51 formed on the upper surface of the substrate 50, a multiple quantum well layer 55 formed on the upper surface of the lower cladding layer 51, An upper cladding layer 53 formed on the upper surface of the quantum well layer 55 and a modulation electrode 41 formed on the upper surface of the upper cladding layer 53 are provided.
  • the substrate 50 is, for example, an InP substrate.
  • the lower cladding layer 51 and the upper cladding layer 53 are InP layers.
  • the multiple quantum well layer 55 is made of an InGaAsP-based material.
  • the modulation electrode 41 is an electrode for applying a modulation voltage.
  • a lower clad layer 51 that is an InP layer is stacked on an upper surface of a substrate 50 that is an InP substrate. Then, for example, a bulk layer made of an InGaAsP-based material can be selected and laminated on the upper surface of the lower cladding layer 51 as a waveguide layer.
  • the waveguide layer can be formed into an arbitrary shape by photolithography, and in this embodiment, a waveguide pattern as illustrated in FIG. 9 is formed in a region other than the modulator 41a and the modulator 41b, that is, a multi-layer. It is formed in the region of the mode interference type multiplexer / demultiplexer 20a and the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20b.
  • a multiple quantum well layer made of an InGaAsP-based material is selected and laminated, and the multiple quantum well layer is formed in the regions of the modulator 41a and the modulator 41b as illustrated in FIG. 9 by photolithography. 55 is formed.
  • an upper clad layer 53 which is an InP layer is laminated, and a single mode waveguide and a multimode waveguide are formed by photolithography. And in the area
  • the side surface of the waveguide is air, but the side surface of the waveguide may be filled with SiO 2 or an organic material to improve long-term reliability.
  • reflected return light can be suppressed.
  • ⁇ Fourth embodiment> A multimode interference multiplexer / demultiplexer according to this embodiment and a two-wavelength integrated modulator as an optical element using the multimode interference multiplexer / demultiplexer will be described.
  • components similar to those described in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted as appropriate.
  • FIG. 11 is a plan view schematically illustrating the configuration of the two-wavelength integrated modulator according to the present embodiment.
  • a two-wavelength integrated modulator can be used as a light source with a modulator capable of transmitting a wavelength multiplexed signal.
  • the two-wavelength integrated modulator includes two LDs 132a and LD132b having different oscillation wavelengths, and two EA (electro-absorption) modulators 131a connected to the respective LDs.
  • An EA modulator 131b and a multimode interference multiplexer / demultiplexer 20c connected in parallel to each of the EA modulator 131a and the EA modulator 131b are provided.
  • the light emitted from the EA modulator 131a and the EA modulator 131b is multiplexed by the multimode interference multiplexer / demultiplexer 20c. Therefore, the signal light of any wavelength of the LD 132a and the LD 132b can be output from the same output port.
  • a configuration in which two elements having different oscillation wavelengths are used and light emitted from these elements is coupled using an optical system such as a prism. Compared to the above, it is possible to downsize the module or simplify the assembly process.
  • the continuous light emitted from the LD is modulated by the corresponding EA modulator. Further, the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20c branches into two.
  • the light that is not emitted from the emission end 71 of the two-wavelength integrated modulator but is reflected by the reflecting surface 4 (see FIG. 1) and is coupled to the single mode waveguide 5 for unnecessary light is removed as unnecessary light. .
  • good signal light cannot be obtained.
  • good signal light can be obtained by suppressing the reflected return light. .
  • FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating the D-D ′ cross section in FIG.
  • the structure straddling the LD 132 a and the EA modulator 131 a includes the substrate 50, the lower cladding layer 51 formed on the upper surface of the substrate 50, and the LD 132 a and EA modulation among the upper surfaces of the lower cladding layer 51.
  • a constant current is passed through the LD 132a by the LD electrode 132. By doing so, continuous light is emitted from the LD 132a. Moreover, since the ON / OFF control of the light output can be performed by controlling the voltage applied to the modulation electrode 131, an intensity modulation signal can be generated.
  • the substrate 50 is, for example, an InP substrate.
  • the lower cladding layer 51 and the upper cladding layer 53 are InP layers.
  • the multiple quantum well layer 55 and the waveguiding layer 52 are made of an InGaAsP-based material.
  • a lower clad layer 51 that is an InP layer is stacked on an upper surface of a substrate 50 that is an InP substrate. Then, for example, a bulk layer made of an InGaAsP-based material can be selected and laminated on the upper surface of the lower cladding layer 51 as a waveguide layer.
  • the waveguide layer can be formed into an arbitrary shape by photolithography, and in this embodiment, the waveguide pattern as illustrated in FIG. 11 is changed to an LD 132a, LD 132b, EA modulator 131a, and EA modulator 131b. In the region of the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20c.
  • multiple quantum well layers made of InGaAsP-based materials are selected and stacked, and by photolithography, LD132a, LD132b, EA modulator 131a and EA modulator 131b as illustrated in FIG.
  • a multiple quantum well layer 55 is formed in the region.
  • an upper clad layer 53 which is an InP layer is laminated.
  • an InGaAsP-based diffraction grating is formed by photolithography, and then buried with the upper cladding layer 53 that is an InP layer.
  • the LD electrode 132 and the modulation electrode 131 are formed on the upper surface of the upper cladding layer 53.
  • the reflected return light can be suppressed.
  • FIG. 15 is a plan view schematically illustrating the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the multimode waveguide 1, the single mode waveguide 102a, the single mode waveguide 2b, the single mode waveguide 2c, and the single mode waveguide for unnecessary light are used.
  • a reflective surface 4 is arranged at a position facing the single mode waveguide 2 b of the multimode waveguide 1.
  • the light reflected by the reflecting surface 4 forms an image at the connection portion 31c of the single-mode waveguide for unnecessary light 105, and further, the light is on the side opposite to the connection portion 31c of the single-mode waveguide for unnecessary light 105. It is absorbed as unnecessary light in the absorption single mode waveguide 6 connected to the end.
  • the single mode waveguide 102a is connected to the multimode waveguide 1 at the connection portion 33c.
  • the single mode waveguide 102 a has a tapered shape that expands toward the end connected to the multimode waveguide 1.
  • the single mode waveguide 105 for unnecessary light is connected to the multimode waveguide 1 at the connection portion 31c.
  • the single mode waveguide 105 for unnecessary light has a tapered shape that expands toward the end connected to the multimode waveguide 1.
  • the single mode waveguide 3 and the single mode waveguide 2a are connected to the multimode waveguide 1
  • the single mode waveguide 3 and the single mode waveguide 2a are connected to the single mode waveguide described above. If the structure has a tapered shape such as the waveguide 102a and the unnecessary light single-mode waveguide 105, the gap between the single-mode waveguide 3 and the single-mode waveguide 2a becomes narrow, and these cannot be processed well.
  • the processing is not successful, the light incident from the single mode waveguide 2a does not propagate as simulated, and problems such as the light not being coupled to the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c occur. Further, since the processing of each manufactured element is varied, the yield is deteriorated.
  • the single mode waveguide 102a which is two single mode waveguides and the single mode waveguide 105 for unnecessary light include a multimode waveguide. Connected to one different end.
  • the connection portion between the single mode waveguide and the multimode waveguide 1 is tapered. Even if it exists, the processability of those single mode waveguides does not deteriorate.
  • connection portion 33c of the single mode waveguide 102a with the multimode waveguide 1 into a tapered shape
  • the connection portion 31c into a tapered shape, it is possible to reduce light transmission loss and reflected return light from the connection portion. That is, according to the configuration related to the present embodiment, it is possible to suppress light transmission loss and reflected return light without degrading workability.
  • the single mode waveguide having a tapered shape may be at least one of the single mode waveguide 102a and the single mode waveguide 105 for unnecessary light. For example, when the unnecessary light single mode waveguide 105 has a tapered shape, more reflected return light can be guided and removed.
  • FIG. 16 is a plan view schematically illustrating the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the multimode waveguide 1, the single mode waveguide 102a, the single mode waveguide 2b, the single mode waveguide 2c, and the single mode waveguide for unnecessary light are used.
  • a reflective surface 4a is disposed at a position of the multimode waveguide 1 facing the single mode waveguide 2b.
  • FIG. 17 is an enlarged view of a part of the simulation result illustrated in FIG.
  • the light guided to the single mode waveguide 2a passes near the corner indicated by the arrow 200 in FIG. Therefore, a small amount of light hits the corner, which may cause loss or reflected return light.
  • the light when light is input from the single mode waveguide 2a, the light propagates in the same manner, so that the light also passes near the corner at the position of the arrow 200, and a small amount of light hits the corner. This can cause loss or reflected return light.
  • the reflecting surface 4d in FIG. 16 may be translated in the direction of the arrow 201, that is, in the negative direction of the X axis. However, by doing so, the reflection point (that is, the intersection point Z) is also translated.
  • the unnecessary light single-mode waveguide 105 needs to be translated in the X-axis negative direction by the same length as the length of the reflecting surface 4d (that is, the length in the Y-axis direction).
  • the light image point also moves in the negative direction of the X axis by the same length, but the light image point moves by the same length also in the positive direction of the Y axis.
  • the imaging position is changed by the movement of the imaging point. Even if it is slightly deviated, light is easily guided to the single mode waveguide 105 for unnecessary light. Therefore, the light guided to the unnecessary light single mode waveguide 105 can be removed as reflected return light without increasing the coupling loss.
  • the generated excess loss is about 0.6 dB even if the tapered portion is not formed in the connection portion of the single mode waveguide. In the same case, if the tapered portion is formed at the connection portion of the single mode waveguide, the excess loss is further reduced.
  • the multimode interference type multiplexer / demultiplexer According to the multimode interference type multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment, light is incident or emitted from the single mode waveguide 102a without deteriorating the function of removing the reflected return light of the single mode waveguide 105 for unnecessary light. Light loss and reflected return light can be suppressed.
  • FIG. 18 is a plan view schematically illustrating the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment.
  • the basic design is a 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • the number of input and output single mode waveguides may be increased to N ⁇ N.
  • a 4 ⁇ 4 multimode interference multiplexer / demultiplexer may be used.
  • an input port 300, an input port 301, an input port 302, and an input port 303 are connected to the multimode waveguide 1c.
  • an output port 400, an output port 401, an output port 402, and an output port 403 are connected to the multimode waveguide 1c.
  • FIG. 19 is a plan view schematically illustrating the configuration of a normal 4 ⁇ 4 multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • the multimode waveguide 1d in FIG. 19 has a quadrangular configuration that does not have a reflecting surface.
  • an input port 300, an input port 301, an input port 302, and an input port 303 are connected to the multimode waveguide 1d.
  • an output port 400, an output port 401, an output port 402, and an output port 403 are connected to the multimode waveguide 1d.
  • the length of the multimode waveguide is determined if the width of the multimode waveguide is determined.
  • the position where the single mode waveguide is connected is also uniquely determined. For example, when the width of the multimode waveguide is 24 ⁇ m, the length of the multimode waveguide is 1200 ⁇ m, and the interval between the single mode waveguides is 6 ⁇ m.
  • the light incident from the input port 303 is emitted from the output port 403 without being reflected by the reflecting surface.
  • the light is used as signal light, for example.
  • the multimode waveguide length L of the multimode waveguide 1c is expressed by the following equation.
  • the reflection surface and the connection position of the single mode waveguide for unnecessary light are set so as to satisfy.
  • the length A is the horizontal length from the connection portion of the input port 300 to the multimode waveguide 1c to the reflection surface and the X axis passing through the connection portion of the input port 300. This is the sum of the length in the vertical direction from the intersection of the line along the direction and the reflecting surface to the connection portion of the output port 400 with the multimode waveguide 1c.
  • the light reflected by the reflecting surface is guided to the single mode waveguide for unnecessary light.
  • FIG. 20 is a diagram illustrating a four-wavelength integrated modulator to which the multimode interference multiplexer / demultiplexer of FIG. 18 is applied.
  • the 2-wavelength integrated modulator illustrated in FIG. 11 uses a 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexer / demultiplexer, but FIG. 20 applies a 4 ⁇ 4 multimode interference multiplexer / demultiplexer.
  • a four-wavelength integrated modulator is illustrated. By combining and outputting four signal lights having different wavelengths, the data capacity can be doubled compared to a two-wavelength integrated modulator that combines two signal lights.
  • the four-wavelength integrated modulator includes four LD 232a, LD 232b, LD 232c, and LD 132d having different oscillation wavelengths, and four EA modulators 231a, EA modulators 231b connected to the respective LDs.
  • the EA modulator 231c and the EA modulator 231d, and the EA modulator 231a, the EA modulator 231b, the EA modulator 231c, and the EA modulator 231d are connected to the multimode interference type multiplexer / demultiplexer 20d in parallel.
  • unnecessary light is guided to the single mode waveguide for unnecessary light and removed, and thus becomes reflected return light to the LD. Therefore, good signal light can be obtained.
  • the replacement may be made across a plurality of embodiments.
  • the configurations exemplified in different embodiments may be combined to produce the same effect.
  • the multimode interference multiplexer / demultiplexer includes the multimode waveguide 1, the first single mode waveguide, the second single mode waveguide, and the third mode.
  • a single mode waveguide, a reflective surface, and a fourth single mode waveguide connected at the first connection portion are provided.
  • the first single mode waveguide corresponds to, for example, the single mode waveguide 2a.
  • the second single mode waveguide corresponds to the single mode waveguide 2c, for example.
  • the third single mode waveguide corresponds to, for example, the single mode waveguide 2b.
  • the reflecting surface corresponds to any one of the reflecting surface 4, the reflecting surface 4a, the reflecting surface 4b, and the reflecting surface 4c, for example.
  • the fourth single mode waveguide may be, for example, an unnecessary light single mode waveguide 5, an unnecessary light single mode waveguide 5a, an unnecessary light single mode waveguide 5b, or an unnecessary light single depending on the reflection surface. This corresponds to any one of the mode waveguide 5c and the unnecessary light single mode waveguide 5d.
  • the first connection portion corresponds to, for example, any one of the connection portion 31, the connection portion 31a, the connection portion 31b, and the connection portion 32 according to the fourth single mode waveguide.
  • the multimode waveguide 1 includes a first end, a second end opposite to the first end, a first side end and a second side end facing each other. And have.
  • the first side end and the second side The ends oppose each other in the second direction.
  • the first end corresponds to, for example, the end 1a.
  • the second end corresponds to, for example, the end 1b.
  • the first direction corresponds to the X-axis direction, for example.
  • the second direction corresponds to, for example, the Y-axis direction.
  • the first side end portion corresponds to, for example, the side end portion 10a.
  • the second side end portion corresponds to, for example, the side end portion 10b.
  • the single mode waveguide 2 a is connected to the end 1 a of the multimode waveguide 1.
  • the single mode waveguide 2 c is connected to a position facing the single mode waveguide 2 a at the end 1 b of the multimode waveguide 1.
  • the single mode waveguide 2b is connected to a position closer to the side end portion 10a than the position to which the single mode waveguide 2c is connected at the end 1b of the multimode waveguide 1.
  • the reflective surface 4 is disposed at a position facing the single mode waveguide 2 b in the multimode waveguide 1.
  • the unnecessary light single mode waveguide 5 is connected to the side end portion 10b. Then, the light incident from the single mode waveguide 2 c or the single mode waveguide 2 b is reflected by the reflection surface 4 and is a connection portion 31 that is a connection portion at the side end portion 10 b of the single mode waveguide 5 for unnecessary light.
  • the image is formed at.
  • the light that can be reflected return light is reflected on the reflecting surface 4 and the light is imaged on the connection portion 31, whereby the light can be guided to the single mode waveguide 5 for unnecessary light. . Therefore, the reflected return light in the multimode interference multiplexer / demultiplexer can be suppressed while easily forming a layout including a curved waveguide for routing unnecessary light.
  • the single mode waveguide 5 for unnecessary light is connected to a position relatively distant from the single mode waveguide 2a. be able to.
  • the gap between the two single mode waveguides is as narrow as about 2 ⁇ m, for example, the gap cannot be processed well, and the lower cladding layer 51 and the waveguide layer 52 to be removed. And the possibility that the upper cladding layer 53 remains as it is increased. Further, if the processing is not successful, the light incident from the single mode waveguide 2a does not propagate as simulated, and problems such as the light not being coupled to the single mode waveguide 2b and the single mode waveguide 2c occur.
  • the single mode waveguide 5 for unnecessary light is connected to the side end portion 10b.
  • the reflective surface 4 is an inclined surface which approaches the edge part 1b as it approaches the side edge part 10a. According to such a configuration, the light reflected by the reflecting surface 4 forms an image at the connection portion 31 of the unnecessary light single mode waveguide 5 connected to the side end portion 10b.
  • the single mode waveguide 5a for unnecessary light is connected to the side end portion 10a.
  • the reflective surface 4a is an inclined surface which goes away from the edge part 1b as it approaches the side edge part 10a. According to such a configuration, the light reflected by the reflecting surface 4a forms an image at the connection portion 32 of the unnecessary light single mode waveguide 5a connected to the side end portion 10a.
  • the point where the light incident from the single mode waveguide 2c or the single mode waveguide 2b is reflected by the reflection surface 4 is taken as the reflection point, and the X axis direction in the direction along the X axis direction.
  • the distance between the reflection point and the end 1a is the first distance and the distance between the reflection point and the connection part 31 is the second distance
  • the first distance and the second distance are equal.
  • the reflection point corresponds to the intersection Z, for example.
  • the first distance corresponds to the distance X, for example.
  • the second distance corresponds to the distance Y, for example.
  • the light that should have formed an image at the connection portion 30 of the single mode waveguide 3 is reflected by the reflecting surface 4 and then is used for unnecessary light at the side end portion 10b of the multimode waveguide 1.
  • An image is formed at the connection portion 31 of the single mode waveguide 5 at the same propagation distance as when the reflecting surface 4 is not present.
  • the axis H along the longitudinal direction of the single mode waveguide 5 for unnecessary light passes through the intersection Z.
  • the light reflected by the reflecting surface 4 forms an image at the connection portion 31 of the unnecessary light single mode waveguide 5 and is guided into the unnecessary light single mode waveguide 5.
  • the direction of light incident on the single mode waveguide 5 for unnecessary light is a direction along the direction of the axis H of the single mode waveguide 5 for unnecessary light, reflection of light at the connection portion 31 is suppressed. it can.
  • the multimode interference type multiplexer / demultiplexer is incident on the opposite end of the single-mode waveguide 5b for unwanted light connected to the end of the connection portion 31.
  • a fifth single mode waveguide having an absorption layer 54 that absorbs light corresponds to, for example, the absorption single mode waveguide 6.
  • the light guided into the unnecessary light single mode waveguide 5 b is absorbed in the absorption single mode waveguide 6. Therefore, the possibility that stray light is generated in the module or the like by absorbing unnecessary light is reduced. This is particularly effective when it is difficult to arrange a curved waveguide to the end of the substrate 50 due to the arrangement of elements in the integrated circuit.
  • the angle of the connection surface 101 between the single mode waveguide 5b for unnecessary light and the single mode waveguide 6 for absorption is a Brewster angle. According to such a configuration, it is possible to suppress the reflection of light at the connection surface 101 between the single mode waveguide 5b for unnecessary light and the single mode waveguide 6 for absorption. Ideally, reflection at the connection surface 101 can be eliminated and all unnecessary light can be absorbed by the absorption layer 54.
  • At least one multimode interference type multiplexer / demultiplexer is provided.
  • reflected return light can be suppressed in an optical element such as a Mach-Zehnder type modulator or a two-wavelength integrated modulator.
  • an MZ interferometer is configured by connecting two normal 2 ⁇ 2 multimode interference multiplexers / demultiplexers, single mode waveguides that are not used one by one on the incident side and on the emission side must be arranged. It becomes.
  • Such a single mode waveguide can be connected to the side end portion of the multimode waveguide 1 and used as an unnecessary light single mode waveguide for removing unnecessary light.
  • the distance Y is larger than the distance X. According to such a configuration, although the imaging point exists inside the multimode waveguide 1, the excess loss caused by the shifting of the imaging point in the positive direction of the Y-axis is not large, and the single-mode waveguide If a tapered shape is formed at the connecting portion, excess loss is further reduced.
  • At least one of the single mode waveguide 102a and the unnecessary light single mode waveguide 105 has a tapered shape. According to such a configuration, it is possible to reduce the transmission loss of light in the connecting portion and the reflected return light from the connecting portion. That is, light transmission loss and reflected return light can be suppressed without degrading workability.
  • the input port 300, the input port 301, the input port 302, and the input port 303 which are single mode waveguides, and the single unit for unnecessary light corresponding to each single mode waveguide.
  • the output port 400 which is a mode waveguide, the output port 401, the output port 402, and the output port 403 are provided.
  • the path lengths of light vertically incident on the multimode waveguide 1c from each single mode waveguide are reflected on the reflecting surface and reach the corresponding single mode waveguide for unnecessary light.
  • the length B, the length C, and the length D are set, the length L of the multimode waveguide 1c is
  • a reflective surface and a single mode waveguide for unnecessary light are arranged at a position satisfying. According to such a configuration, since unnecessary light is guided to the single mode waveguide for unnecessary light and removed, good signal light can be obtained without being reflected return light to the LD.
  • the angle of the reflection surface 4 with respect to the X-axis direction is 45 °, but the angle of the reflection surface is not limited to this case.
  • FIG. 13 is a plan view showing details of the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer when the angles of the reflecting surfaces are different. As illustrated in FIG. 13, even when the angle of the reflection surface 4 b is larger than that illustrated in FIG. 3, the same relationship between the distance X and the distance Y is maintained. And the connection part 31a of the single mode waveguide 5c for unnecessary light becomes the position which shifted
  • connection angle of the unnecessary light single mode waveguide 5c in the connecting portion 31a is also inclined so that the axis H along the longitudinal direction of the unnecessary light single mode waveguide 5c passes through the intersection Z. This is to suppress reflection at the connection portion 31a when the light reflected by the reflecting surface 4b enters the single mode waveguide 5c for unnecessary light.
  • FIG. 14 is a plan view showing details of the configuration of the multimode interference multiplexer / demultiplexer when the angles of the reflecting surfaces are different. As illustrated in FIG. 14, even when the angle of the reflection surface 4c is smaller than that illustrated in FIG. 3, the relationship between the distance X and the distance Y is maintained. And the connection part 31b of the single mode waveguide 5d for unnecessary light becomes the position shifted
  • connection angle of the unnecessary light single mode waveguide 5d in the connection portion 31b is also inclined so that the axis H along the longitudinal direction of the unnecessary light single mode waveguide 5d passes through the intersection Z. This is to suppress reflection at the connection portion 31b when the light reflected by the reflection surface 4c enters the single mode waveguide 5d for unnecessary light.
  • each component in the embodiment described above is a conceptual unit, and one component is composed of a plurality of structures within the scope of the technique disclosed in this specification.
  • one component corresponds to a part of a structure and a case where a plurality of components are provided in one structure are included.
  • each component in the embodiment described above includes a structure having another structure or shape as long as the same function is exhibited.
  • the material when a material name or the like is described without being particularly specified, the material contains other additives, for example, an alloy or the like unless a contradiction arises. Shall be included.

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Abstract

光をシングルモード導波路に導きつつ、多モード干渉型合分波器における反射戻り光を抑制する。多モード導波路(1)と、第1の端部に接続される第1のシングルモード導波路(2a)と、第1のシングルモード導波路と対向する第2のシングルモード導波路(2c)と、第2の端部に接続される第3のシングルモード導波路(2b)と、第3のシングルモード導波路と対向する反射面(4)と、側端部に接続される第4のシングルモード導波路(5)とを備える。第2または第3のシングルモード導波路から入射された光が、反射面において反射され、第4のシングルモード導波路の側端部における第1の接続部(31)において結像する。

Description

多モード干渉型合分波器、および、これを用いた光学素子
 本願明細書に開示される技術は、多モード干渉型合分波器において反射戻り光の抑制に関するものである。
 従来から、光集積回路における合分波器として多モード干渉型合分波器が適用されているが、多モード干渉型合分波器における反射戻り光を低減することは、MZ(マッハ・ツェンダー)変調器の消光比などの素子の特性を向上させるために有効である。
 たとえば、特許文献1では、多モード干渉型合分波器に傾斜面を設け、反射戻り光となり得る光を多モード導波路に導く構成が開示されている。
特表2012-527010号公報
 上記の特許文献1では、反射戻り光となり得る光の結像の位置を傾斜面としている。そのため、当該結像の位置から広がる反射光をシングルモード導波路に導くことはできず、多モード導波路に導く構造となっている。
 しかしながら、多モード導波路では曲線導波路を形成した場合に光が放射しやすいなど、入射される光の扱いが難しくなる。一方で、反射戻り光となり得る光をシングルモード導波路に導くことができれば、曲線導波路によって取り回しすることができるため、集積回路におけるレイアウトが容易となる。
 本願明細書に開示される技術は、以上に記載されたような問題を解決するためになされたものであり、反射戻り光となりうる光をシングルモード導波路に導きつつ、多モード干渉型合分波器における反射戻り光を抑制する技術を提供することを目的とするものである。
 本願明細書に開示される技術の第1の態様は、第1の端部と、前記第1の端部の反対側の端部である第2の端部と、互いに対向する第1の側端部および第2の側端部とを有する多モード導波路と、前記多モード導波路の前記第1の端部に接続される、第1のシングルモード導波路と、前記多モード導波路の前記第2の端部において、前記第1のシングルモード導波路と対向する位置に接続される、第2のシングルモード導波路と、前記多モード導波路の前記第2の端部において、前記第2のシングルモード導波路が接続される位置よりも前記第1の側端部に近い位置に接続される、第3のシングルモード導波路と、前記多モード導波路において、前記第3のシングルモード導波路と対向する位置に配置される反射面と、前記第1の側端部または前記第2の側端部に接続される、第4のシングルモード導波路とを備え、前記第1の端部と前記第2の端部とを結ぶ方向を第1の方向とし、前記第1の方向と交差する方向を第2の方向とし、前記第1の側端部と前記第2の側端部とは、前記第2の方向において互いに対向し、前記第2のシングルモード導波路または前記第3のシングルモード導波路から入射された光が、前記反射面において反射され、かつ、前記第4のシングルモード導波路の第1の接続部において結像し、前記第1の接続部は、前記第1の側端部における接続部または前記第2の側端部における接続部である。
 本願明細書に開示される技術の第2の態様は、上記の多モード干渉型合分波器を少なくとも1つ備える。
 本願明細書に開示される技術の第1の態様は、第1の端部と、前記第1の端部の反対側の端部である第2の端部と、互いに対向する第1の側端部および第2の側端部とを有する多モード導波路と、前記多モード導波路の前記第1の端部に接続される、第1のシングルモード導波路と、前記多モード導波路の前記第2の端部において、前記第1のシングルモード導波路と対向する位置に接続される、第2のシングルモード導波路と、前記多モード導波路の前記第2の端部において、前記第2のシングルモード導波路が接続される位置よりも前記第1の側端部に近い位置に接続される、第3のシングルモード導波路と、前記多モード導波路において、前記第3のシングルモード導波路と対向する位置に配置される反射面と、前記第1の側端部または前記第2の側端部に接続される、第4のシングルモード導波路とを備え、前記第1の端部と前記第2の端部とを結ぶ方向を第1の方向とし、前記第1の方向と交差する方向を第2の方向とし、前記第1の側端部と前記第2の側端部とは、前記第2の方向において互いに対向し、前記第2のシングルモード導波路または前記第3のシングルモード導波路から入射された光が、前記反射面において反射され、かつ、前記第4のシングルモード導波路の第1の接続部において結像し、前記第1の接続部は、前記第1の側端部における接続部または前記第2の側端部における接続部であるものである。このような構成によれば、反射戻り光となりうる光を反射面において反射させ、かつ、第1の接続部において当該光を結像させることによって、第4のシングルモード導波路に導くことができる。したがって、不要光を取り回すための曲線導波路を含むレイアウトを容易に形成しつつ、多モード干渉型合分波器における反射戻り光を抑制することができる。
 特に、第2の態様によれば、上記の多モード干渉型合分波器を少なくとも1つ備える。このような構成によれば、マッハ・ツェンダー型変調器または2波長集積変調器などの光学素子において、反射戻り光を抑制することができる。
 本願明細書に開示される技術に関する目的と、特徴と、局面と、利点とは、以下に示される詳細な説明と添付図面とによって、さらに明白となる。
実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 図1におけるシングルモード導波路のA-A’断面における断面図である。 図1に例示された多モード干渉型合分波器の構成の詳細を示す平面図である。 通常の2×2多モード干渉型合分波器の場合の、シングルモード導波路から入射する光の多モード導波路における伝搬の様子をシミュレーションした結果を例示する図である。 実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の場合の、シングルモード導波路から入射する光の多モード導波路における伝搬の様子をシミュレーションした結果を例示する図である。 実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の変形例の構成を概略的に例示する平面図である。 実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 図7における吸収用シングルモード導波路のB-B’断面を例示する断面図である。 実施の形態に関する、MZ変調器の構成を概略的に例示する平面図である。 図9における変調用電極が形成された位置におけるアーム部のC-C’断面を例示する断面図である。 実施の形態に関する、2波長集積変調器の構成を概略的に例示する平面図である。 図11におけるD-D’断面を例示する断面図である。 多モード干渉型合分波器の構成の変形例を示す平面図である。 多モード干渉型合分波器の構成の変形例を示す平面図である。 実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 図5に例示されたシミュレーション結果の一部を拡大した図である。 実施の形態に関する、多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 通常の4×4多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。 図18の多モード干渉型合分波器が適用された4波長集積変調器を例示する図である。
 以下、添付される図面を参照しながら実施の形態について説明する。
 なお、図面は概略的に示されるものであり、説明の便宜のため、適宜、構成の省略、または、構成の簡略化がなされるものである。また、異なる図面にそれぞれ示される構成などの大きさおよび位置の相互関係は、必ずしも正確に記載されるものではなく、適宜変更され得るものである。
 また、以下に示される説明では、同様の構成要素には同じ符号を付して図示し、それらの名称と機能とについても同様のものとする。したがって、それらについての詳細な説明を、重複を避けるために省略する場合がある。
 また、以下に記載される説明において、「上」、「下」、「左」、「右」、「側」、「底」、「表」または「裏」などの特定の位置と方向とを意味する用語が用いられる場合があっても、これらの用語は、実施の形態の内容を理解することを容易にするために便宜上用いられるものであり、実際に実施される際の方向とは関係しないものである。
 また、以下に記載される説明において、「第1の」、または、「第2の」などの序数が用いられる場合があっても、これらの用語は、実施の形態の内容を理解することを容易にするために便宜上用いられるものであり、これらの序数によって生じ得る順序などに限定されるものではない。
 <第1の実施の形態>
 以下、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器について説明する。
 <多モード干渉型合分波器の構成について>
 図1は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。図1に例示されるように、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、多モード導波路1と、シングルモード導波路2aと、シングルモード導波路2bと、シングルモード導波路2cと、不要光用シングルモード導波路5とを備える。また、多モード導波路1のシングルモード導波路2bと対向する位置には、反射面4が配置される。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器は、シングルモード導波路2aから入射される光を分波して、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cに出射する。または、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器は、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cから入射される光を合波して、シングルモード導波路2aに出射する。
 光が入射または出射されるシングルモード導波路2a、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cは、それぞれ接続部において多モード導波路1に接続される。接続部は、シングルモード導波路と多モード導波路とを接続する境界部分であり、光を入射または出射させるために両導波路を連通させるものである。シングルモード導波路2aは、多モード導波路1の長手方向における端部1aに接続され、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cは、多モード導波路1の長手方向における他方の端部、すなわち、シングルモード導波路2aが接続される端部1aとは反対側の端部1bに接続される。シングルモード導波路2cは、シングルモード導波路2aと対向する位置に接続される。シングルモード導波路2bは、多モード導波路1の端部1bにおいて、シングルモード導波路2cが接続される位置よりも側端部10aに近い位置に接続される。また、反射面4は、端部1aよりもX軸正方向に位置する。
 不要光用シングルモード導波路5は、多モード導波路1の側端部10bに接続される。不要光用シングルモード導波路5は、反射面4において反射された光、すなわち、多モード干渉型合分波器において反射戻り光となり得る光である不要光を導き、不要光を除去するための構成である。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の基本設計は2×2多モード干渉型合分波器であるが、接続部30において接続される使用しないシングルモード導波路3を除去して、代わりに反射面4と、接続部31において接続される不要光用シングルモード導波路5とを配置している。
 通常の2×2多モード干渉型合分波器を2つ接続してMZ干渉計を構成する場合、入射側および出射側でそれぞれ1本ずつ使用しないシングルモード導波路が配置されることとなる。したがって、そのようなシングルモード導波路を多モード導波路1の側端部10bに接続し、不要光100を除去するための不要光用シングルモード導波路5として流用することができる。
 シングルモード導波路2aから光が入射された場合には、多モード導波路1によって当該光は最終的に2つに分岐され、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cからそれぞれ出射される。
 シングルモード導波路2bまたはシングルモード導波路2cから光が入射された場合には、多モード導波路1によって当該光は最終的に2つに分岐され、一方はシングルモード導波路2aから出射され、もう一方は反射面4において反射して不要光用シングルモード導波路5に結合する。
 図2は、図1におけるシングルモード導波路2aのA-A’断面における断面図である。図2に例示されたように、シングルモード導波路2aは、基板50と、基板50の上面に形成された下部クラッド層51と、下部クラッド層51の上面に形成された導波層52と、導波層52の上面に形成された上部クラッド層53とを備える。なお、多モード導波路1の構造は、図2に例示されたシングルモード導波路2aの構造の、Y軸方向の幅が広いものと同様である。
 基板50は、たとえば、InP基板である。このとき、下部クラッド層51および上部クラッド層53は、InP層である。また、導波層52としては、たとえば、InGaAsP系材料で構成されるバルク層または多重量子井戸層(MQW層)などを選択し積層させることができる。
 導波層52は、フォトリソグラフィーによって任意の形状に形成することができ、本実施の形態では、図1に例示されるような半導体導波路のパターンを形成する。
 図3は、図1に例示された多モード干渉型合分波器の構成の詳細を示す平面図である。本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の基本設計は2×2多モード干渉型合分波器であり、多モード導波路1の幅に対する多モード導波路長、および、隣り合う2本のシングルモード導波路の間隔は2×2多モード干渉型合分波器の基本設計に基づいている。
 多モード導波路幅Wに対し、多モード導波路長Lは、以下の式で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 ここで、neffは等価屈折率を表し、λは波長を表す。また、多モード導波路1に接続するそれぞれのシングルモード導波路は、多モード導波路1の長手方向に沿う中心線Fから±W/6の位置にそれぞれ配置される。ここで、シングルモード導波路2bの長手方向に沿う軸線を軸線Eとし、シングルモード導波路2cの長手方向に沿う軸線を軸線Gとする。
 すなわち、多モード導波路1においては、シングルモード導波路2aから入射された光が、シングルモード導波路2bの接続部34またはシングルモード導波路2cの接続部35において結像するように、逆に、シングルモード導波路2bまたはシングルモード導波路2cから入射された光が、シングルモード導波路2aの接続部33において結像するように、多モード導波路幅Wおよび多モード導波路長Lが設定されている。
 多モード導波路幅Wおよび多モード導波路長Lの具体例としては、たとえば、多モード導波路幅Wが12μmである場合に多モード導波路長Lが204μm、または、多モード導波路幅Wが18μmである場合に多モード導波路長Lが460μm(ともに、neffは3.3、λは1.55μm)が想定される。
 図3においては、2×2多モード干渉型合分波器において元々設けられているが使用しないため除去されるシングルモード導波路3と、シングルモード導波路3に対向して接続されるシングルモード導波路2bとを結ぶ中心線は軸線Eとなる。また、軸線Eと反射面4との交点を交点Zとする。なお、交点Zは、シングルモード導波路2cまたはシングルモード導波路2bから入射された光が反射面4において反射される、代表的な反射点となる。
 そして、交点Zと、不要光用シングルモード導波路5が接続された接続部31との間の距離を距離Yとする。図3においては、距離YはY軸方向に沿う距離となり、かつ、長手方向に沿う軸線である軸線Hが交点Zを通るように配置された不要光用シングルモード導波路5の軸線Hに沿う距離となる。
 また、交点Zと、除去前のシングルモード導波路3が多モード導波路1に接続される接続部30との間の距離を距離Xとする。図3においては、距離XはX軸方向に沿う距離となる。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、距離Xと距離Yとが等しくなるように反射面4を配置することによって、シングルモード導波路3の接続部30において結像するはずだった光は、反射面4において反射された後、多モード導波路1の側端部10bにおける接続部31で結像する。なお、図3においては、反射面4のX軸方向に対する角度は45°とする。
 よって、反射面4において反射された光は、長手方向に沿う軸線Hが交点Zを通るように配置された不要光用シングルモード導波路5の接続部31において結像する。そして、当該光は、不要光用シングルモード導波路5に導かれつつ、除去される。
 ここで、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cから入射される光は、多モード導波路1内において反射または干渉することによって様々な方向に進むが、反射面4が配置される位置においては、シングルモード導波路3において結像するために集光しつつある。そのため、反射面4において、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cから入射された光が反射する位置は、交点Zおよびその周辺となる。
 また、上記のように、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cから入射された光は反射面4において集光しつつあるため、反射面4における当該光の進む方向はおおよそX軸負方向に揃っており、反射面4のX軸方向に対する角度が45°である場合、反射面4において反射された光の進む方向も、おおよそY軸負方向に揃うこととなる。
 <多モード干渉型合分波器の動作について>
 シングルモード導波路から多モード導波路1に入射された光は、多モード導波路1の側端部において反射または干渉しながら伝搬し、最終的に2箇所で結像する。
 図4は、通常の2×2多モード干渉型合分波器の場合の、シングルモード導波路2bから入射する光の多モード導波路1における伝搬の様子をシミュレーションした結果を例示する図である。
 図4に例示されるように、通常の2×2多モード干渉型合分波器、すなわち、多モード導波路1の端部1aにおいてシングルモード導波路2aおよびシングルモード導波路3がそれぞれ接続されている場合では、シングルモード導波路2aおよびシングルモード導波路3それぞれにおいて、シングルモード導波路2bから入射された光が結像する。なお、シングルモード導波路2cから入射する光の多モード導波路1における伝搬の様子をシミュレーションした場合には、図4に例示される態様とは線対称な伝搬となり、シングルモード導波路2aおよびシングルモード導波路3それぞれにおいて、シングルモード導波路2cから入射された光が結像する。
 光が2箇所で結像するため、その2つの点に向かい光が集光することとなるが、当該光が集光される途中の経路において反射面4において反射させて光の伝搬する向きを変えたとしても、集光角度は変わらない。そのため、反射された光は、反射面4が存在しない場合と同様の伝搬距離で結像する。
 よって、上記のように距離Xと距離Yとが等しくなるように反射面4および不要光用シングルモード導波路5が配置されることによって、シングルモード導波路2bから入射された光は、多モード導波路1の側端部10bに接続された不要光用シングルモード導波路5において結像する。
 そして、当該箇所において結像した光は、シングルモード導波路において導くことができるため、不要光として容易に除去することができる。
 図5は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器を用いた場合の、シングルモード導波路2bから入射する光の多モード導波路1における伝搬の様子をシミュレーションした結果を例示する図である。
 図5に例示されるように、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器を用いた場合には、片方の光、すなわち、図4においてシングルモード導波路3で結像するはずだった光を反射面4において反射して、不要光用シングルモード導波路5において不要光として結像させている。
 <多モード干渉型合分波器の変形例について>
 図1に例示された構成では、多モード導波路1の2つの側端部のうち、シングルモード導波路3が接続されていた接続部30から遠い位置の側端部10bに、不要光用シングルモード導波路5が接続されている。
 そして、反射面4は、多モード導波路1の中心線Fから遠ざかるほど、多モード導波路1の端部1bに近づくように傾斜して形成される。
 一方で、図6に例示されるように、多モード導波路1の2つの側端部のうち、シングルモード導波路3が接続されていた接続部30から近い位置の側端部10aの接続部32において、不要光用シングルモード導波路5aが接続されていてもよい。
 その場合、反射面4aは、多モード導波路1の中心線Fから遠ざかるほど、多モード導波路1の端部1bから遠ざかるように傾斜して形成される。ここで、図6は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の変形例の構成を概略的に例示する平面図である。
 なお、不要光用シングルモード導波路5aの先端または不要光用シングルモード導波路5(図1を参照)の先端は、傾斜形状であってもよい。不要光用シングルモード導波路の先端が傾斜形状である場合には、不要光を当該導波路の外へ放射させてもよい。また、不要光用シングルモード導波路5aの先端または不要光用シングルモード導波路5(図1を参照)の先端が基板50の端部まで達するように配置することによって、基板50の外へ不要光を放射させてもよい。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器によれば、反射戻り光となり得る光である不要光を不要光用シングルモード導波路に導くことができる。したがって、曲線導波路によって取り回しすることができるため、集積回路などでのレイアウトが容易となる。
 仮に不要光を多モード導波路1へ導いた場合には、導波路幅が大きいため占有面積が広くなる。さらに、多モード導波路1を曲がり形状とする場合には多モード導波路1の外へ光が放射され、他の素子へ影響する迷光となる可能性がある。したがって、不要光を多モード導波路1に導いた場合には、特に集積回路において問題が生じる。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器によれば、多モード干渉型合分波器において発生する反射戻り光となり得る不要光を、シングルモード導波路に導きつつ除去することが可能となる。
 <第2の実施の形態>
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器について説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成と同様の構成については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
 <多モード干渉型合分波器の構成について>
 図7は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、多モード導波路1と、シングルモード導波路2aと、シングルモード導波路2bと、シングルモード導波路2cと、不要光用シングルモード導波路5bと、不要光用シングルモード導波路5bの先端に接続される吸収用シングルモード導波路6とを備える。多モード導波路1のシングルモード導波路2bと対向する位置には、反射面4が配置される。
 上記の構成では、反射面4において反射された光は不要光用シングルモード導波路5bの接続部31において結像し、さらに、不要光用シングルモード導波路5bの接続部31とは反対側の端部に接続された吸収用シングルモード導波路6において不要光として吸収される。
 当該構成によれば、不要光を導波路の外または基板50の外へ放射させる場合と比較して、光を吸収することによってモジュール内などで迷光が発生する可能性が低減される。当該構成は、集積回路における素子の配置の関係で、基板50の端まで曲線導波路を配置することが難しい場合などに有効である。
 また、不要光用シングルモード導波路5bと吸収用シングルモード導波路6との接続面101の角度をブリュースター角(たとえば、45°)に傾斜させることで、無反射の接続面101とすることができる。その場合、不要光用シングルモード導波路5bに導かれた光を吸収用シングルモード導波路6においてすべて吸収することも可能となる。不要光用シングルモード導波路5bと吸収用シングルモード導波路6との接続面101の角度がブリュースター角となっていない場合には、接続面101において多少の反射戻り光が発生し得る。他方、不要光が導かれる導波路が多モード導波路である場合には、多モード導波路内を伝搬する光が広がり角を有しており、当該多モード導波路と吸収用シングルモード導波路6との接続面101の角度を調整しても、接続面101における光の反射を効果的に抑制することは難しい。
 図8は、図7における吸収用シングルモード導波路6のB-B’断面を例示する断面図である。図8に例示されたように、吸収用シングルモード導波路6は、基板50と、基板50の上面に形成された下部クラッド層51と、下部クラッド層51の上面に形成された吸収層54と、吸収層54の上面に形成された上部クラッド層53とを備える。
 吸収用シングルモード導波路6に入射された不要光は、吸収層54を有する吸収用シングルモード導波路6を伝搬しながら、吸収され消失する。
 基板50は、たとえば、InP基板である。このとき、下部クラッド層51および上部クラッド層53は、InP層である。
 作製手順としては、まず、InP基板である基板50の上面に、InP層である下部クラッド層51を積層する。そして、下部クラッド層51の上面に導波層として、たとえば、InGaAsP系材料で構成されるバルク層を選択して積層することができる。
 導波層は、フォトリソグラフィーによって任意の形状に形成することができ、本実施の形態では、図7に例示されるような導波路パターンを吸収用シングルモード導波路6以外の領域に形成する。
 次に、たとえば、InGaAsP系材料で構成される多重量子井戸層などを選択して積層し、フォトリソグラフィーによって、図7に例示されるような吸収用シングルモード導波路6のパターンを形成する。
 その後、InP層である上部クラッド層53を積層し、フォトリソグラフィーによってパターンを形成する。そして、シングルモード導波路2a、シングルモード導波路2b、シングルモード導波路2cおよび多モード導波路1の領域は図2に例示されるような断面を、吸収用シングルモード導波路6の領域は図8に例示されるような断面を形成することができる。このような手順によって、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器を作製することができる。
 なお、本実施の形態に関する吸収用シングルモード導波路6が接続された不要光用シングルモード導波路5bが、側端部10aに接続する構造も想定することができる。その場合、反射面は、たとえば、図6に例示されるように、多モード導波路1の中心線Fから遠ざかるほど、多モード導波路1の端部1bから遠ざかるように傾斜して形成される。
 <第3の実施の形態>
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器、および、これを用いた光学素子としてのMZ変調器について説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成と同様の構成については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
 <MZ変調器の構成について>
 図9は、本実施の形態に関するMZ変調器の構成を概略的に例示する平面図である。図9においては、図1に例示された多モード干渉型合分波器を備え、MZ干渉計の2本のアーム部に電極が形成されたMZ変調器が例示される。
 図9に例示されるように、MZ変調器は、基板50の上面にそれぞれ配置される、多モード干渉型合分波器20aと、多モード干渉型合分波器20bと、多モード干渉型合分波器20aと多モード干渉型合分波器20bとの間に互いに並列に接続されるアーム部42aおよびアーム部42bとを備える。
 アーム部42aは、多モード干渉型合分波器20aと多モード干渉型合分波器20bとの間をそれぞれから延びるシングルモード導波路2bを介して接続する部分であり、シングルモード導波路2bの経路中に部分的に形成される変調器41aを備える。
 アーム部42bは、多モード干渉型合分波器20aと多モード干渉型合分波器20bとの間をそれぞれから延びるシングルモード導波路2cを介して接続する部分であり、シングルモード導波路2cの経路中に部分的に形成される変調器41bを備える。
 多モード干渉型合分波器20aおよび多モード干渉型合分波器20bそれぞれにおいて、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cにおける導波層は、多重量子井戸層(MQW層)から構成される。変調器41aおよび変調器41bに電圧が印加されることによってアーム部42aおよびアーム部42bにおける光の位相がそれぞれ変化するため、強度変調または位相変調が可能となる。
 光は、MZ変調器の入射端60から入射し、多モード干渉型合分波器20aにおいて2つに分岐される。そして、光は、変調器41aおよび変調器41bにおいて変調された後、多モード干渉型合分波器20bにおいて合波される。そして、光は、MZ変調器の出射端61から出射される。
 入射側の多モード干渉型合分波器20aおよび出射側の多モード干渉型合分波器20bにおいて、本来2×2多モード干渉型合分波器として配置されているシングルモード導波路3(図1を参照)へ結合されるはずの光は、反射面4(図1を参照)でそれぞれ反射されて不要光用シングルモード導波路5へと導かれる。そして、当該光は、不要光として基板50の外へ放射される。
 反射面4(図1を参照)において反射された光がMZ変調器内で迷光となることを防止するため、基板50の端部に光を吸収する塗料を塗布して光を吸収させてもよい。また、第2の実施の形態に例示される場合と同様に、不要光用シングルモード導波路5b(図7を参照)の先端に吸収用シングルモード導波路6(図7を参照)を接続することによって、不要光を吸収させてもよい。
 図10は、図9における変調用電極が形成された位置におけるアーム部のC-C’断面を例示する断面図である。図10に例示されるように、アーム部42aは、基板50と、基板50の上面に形成された下部クラッド層51と、下部クラッド層51の上面に形成された多重量子井戸層55と、多重量子井戸層55の上面に形成された上部クラッド層53と、上部クラッド層53の上面に形成された変調用電極41とを備える。
 基板50は、たとえば、InP基板である。このとき、下部クラッド層51および上部クラッド層53は、InP層である。また、多重量子井戸層55は、InGaAsP系材料で構成される。また、変調用電極41は、変調電圧を印加するための電極である。
 作製手順としては、まず、InP基板である基板50の上面に、InP層である下部クラッド層51を積層する。そして、下部クラッド層51の上面に導波層として、たとえば、InGaAsP系材料で構成されるバルク層を選択して積層することができる。
 導波層は、フォトリソグラフィーによって任意の形状に形成することができ、本実施の形態では、図9に例示されるような導波路パターンを変調器41aおよび変調器41b以外の領域、すなわち、多モード干渉型合分波器20a、および、多モード干渉型合分波器20bの領域に形成する。
 次に、たとえば、InGaAsP系材料で構成される多重量子井戸層などを選択して積層し、フォトリソグラフィーによって、図9に例示されるような変調器41aおよび変調器41bの領域に多重量子井戸層55を形成する。
 その後、InP層である上部クラッド層53を積層し、フォトリソグラフィーによってシングルモード導波路および多モード導波路を形成する。そして、変調器41aおよび変調器41bの領域では、図10に例示されるような断面となる電極を形成することができる。このような手順によって、本実施の形態に関するMZ変調器を作製することができる。
 なお、図10では導波路の側面は空気としているが、長期信頼性向上のため、導波路の側面がSiOまたは有機材料などで埋められていてもよい。
 本実施の形態に関するMZ変調器によれば、反射戻り光を抑制することができる。
 <第4の実施の形態>
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器、および、これを用いた光学素子としての2波長集積変調器について説明する。以下の説明においては、以上に記載された実施の形態で説明された構成と同様の構成については同じ符号を付して図示し、その詳細な説明については適宜省略するものとする。
 <2波長集積変調器の構成について>
 図11は、本実施の形態に関する2波長集積変調器の構成を概略的に例示する平面図である。光通信システムの大容量化に対応するため、2波長集積変調器を、波長多重信号を送信可能な変調器付きの光源として用いることができる。
 図11に例示されるように、2波長集積変調器は、発振波長の異なる2つのLD132aおよびLD132bと、それぞれのLDに接続された2つのEA(electro-absorption:電界吸収型)変調器131aおよびEA変調器131bと、EA変調器131aおよびEA変調器131bそれぞれに並列に接続される多モード干渉型合分波器20cとを備える。
 EA変調器131aおよびEA変調器131bから出射される光は、多モード干渉型合分波器20cによって合波される。そのため、LD132aおよびLD132bのいずれの波長の信号光も同じ出力ポートから出力することができる。
 図11に例示される2波長集積変調器によれば、発振波長の異なる2つの素子を使用し、かつ、プリズムなどの光学系を用いてこれらの素子から出射される光を結合させる方式の構成と比較して、モジュールの小型化または組み立て工程の簡素化が可能となる。
 LD132aおよびLD132bのうちのどちらかのLDを点灯させた場合、または、LD132aおよびLD132bの両方のLDを点灯させた場合において、LDから出射される連続光は対応するEA変調器において変調される。さらに、多モード干渉型合分波器20cにおいて2つに分岐される。
 このとき、2波長集積変調器の出射端71から出射されずに反射面4(図1を参照)によって反射されて不要光用シングルモード導波路5に結合した光は、不要光として除去される。
 LDへの反射戻り光が発生すると良好な信号光を得られなくなるが、本実施の形態に関する2波長集積変調器によれば、反射戻り光を抑制することによって良好な信号光を得ることができる。
 図12には、図11におけるD-D’断面を例示する断面図である。図12に例示されるように、LD132aおよびEA変調器131aに跨る構造は、基板50と、基板50の上面に形成された下部クラッド層51と、下部クラッド層51の上面のうちLD132aおよびEA変調器131aに対応する位置に形成された多重量子井戸層55と、下部クラッド層51の上面のうちシングルモード導波路2cに対応する位置に形成された導波層52と、多重量子井戸層55の上面および導波層52の上面に形成された上部クラッド層53と、上部クラッド層53の内部に間欠的に形成された、LD132aをある波長で発振させるための回折格子56と、上部クラッド層53の上面のうちLD132aに対応する位置に形成された、LD132aに電流を流すためのLD用電極132と、上部クラッド層53の上面のうちEA変調器131aに対応する位置に形成された、変調電圧を印加するための変調用電極131とを備える。
 LD用電極132によってLD132aに一定の電流を流す。そうすることによってLD132aから連続光を出射する。また、変調用電極131に印加する電圧を制御することで光出力のON/OFF制御が可能となるため、強度変調信号を生成することができる。
 基板50は、たとえば、InP基板である。このとき、下部クラッド層51および上部クラッド層53は、InP層である。また、多重量子井戸層55および導波層52は、InGaAsP系材料で構成される。
 作製手順としては、まず、InP基板である基板50の上面に、InP層である下部クラッド層51を積層する。そして、下部クラッド層51の上面に導波層として、たとえば、InGaAsP系材料で構成されるバルク層を選択して積層することができる。
 導波層は、フォトリソグラフィーによって任意の形状に形成することができ、本実施の形態では、図11に例示されるような導波路パターンをLD132a、LD132b、EA変調器131aおよびEA変調器131b以外の領域、すなわち、多モード干渉型合分波器20cの領域に形成する。
 次に、たとえば、InGaAsP系材料で構成される多重量子井戸層などを選択して積層し、フォトリソグラフィーによって、図11に例示されるようなLD132a、LD132b、EA変調器131aおよびEA変調器131bの領域に多重量子井戸層55を形成する。
 その後、InP層である上部クラッド層53を積層する。なお、LD132aおよびLD132bの領域では、InGaAsP系の回折格子をフォトリソグラフィーによって形成した後に、InP層である上部クラッド層53で埋め込む。そして、上部クラッド層53の上面に、LD用電極132および変調用電極131を形成する。このような手順によって、本実施の形態に関する2波長集積変調器を作製することができる。
 本実施の形態に関する2波長集積変調器によれば、反射戻り光を抑制することができる。
 <第5の実施の形態>
 図15は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、多モード導波路1と、シングルモード導波路102aと、シングルモード導波路2bと、シングルモード導波路2cと、不要光用シングルモード導波路105とを備える。多モード導波路1のシングルモード導波路2bと対向する位置には、反射面4が配置される。
 上記の構成では、反射面4において反射された光は不要光用シングルモード導波路105の接続部31cにおいて結像し、さらに、不要光用シングルモード導波路105の接続部31cとは反対側の端部に接続された吸収用シングルモード導波路6において不要光として吸収される。
 シングルモード導波路102aは、接続部33cにおいて多モード導波路1と接続される。シングルモード導波路102aは、多モード導波路1と接続される端部へ近づくほど広がるテーパー形状である。
 不要光用シングルモード導波路105は、接続部31cにおいて多モード導波路1と接続される。不要光用シングルモード導波路105は、多モード導波路1と接続される端部へ近づくほど広がるテーパー形状である。
 シングルモード導波路3およびシングルモード導波路2aが多モード導波路1に接続される通常の多モード干渉型合分波器では、シングルモード導波路3およびシングルモード導波路2aを、上記のシングルモード導波路102aおよび不要光用シングルモード導波路105のようなテーパー形状を有する構造とすると、シングルモード導波路3とシングルモード導波路2aとの隙間が狭くなり、これらをうまく加工することができない。
 加工がうまくできないと、シングルモード導波路2aから入射された光はシミュレーション通りに伝搬せず、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cに光が結合しないなどの不具合が発生する。また、製造されたそれぞれの素子の加工にバラツキが生じるため、歩留まりが悪化する。
 これに対し、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器によれば、2本のシングルモード導波路であるシングルモード導波路102aおよび不要光用シングルモード導波路105が、多モード導波路1の異なる端部に接続されている。また、シングルモード導波路102aと不要光用シングルモード導波路105とは離間して配置されているため、それらのシングルモード導波路の多モード導波路1との接続部をテーパー形状とした場合であっても、それらのシングルモード導波路の加工性が悪化しない。
 一方で、シングルモード導波路102aの、多モード導波路1との接続部33cにおける形状をテーパー形状とすることによって、同様に、不要光用シングルモード導波路105の、多モード導波路1との接続部31cにおける形状をテーパー形状とすることによって、これらの接続部における光の透過損失、および、接続部からの反射戻り光を低減することができる。すなわち、本実施の形態に関する構成によれば、加工性を悪化させずに、光の透過損失および反射戻り光を抑制することができる。
 なお、テーパー形状を有するシングルモード導波路は、シングルモード導波路102aおよび不要光用シングルモード導波路105のうちの少なくとも一方であればよい。たとえば、不要光用シングルモード導波路105がテーパー形状を有する場合には、より多くの反射戻り光を導いて除去することができる。
 <第6の実施の形態>
 図16は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、多モード導波路1と、シングルモード導波路102aと、シングルモード導波路2bと、シングルモード導波路2cと、不要光用シングルモード導波路105とを備える。多モード導波路1のシングルモード導波路2bと対向する位置には、反射面4aが配置される。
 図17は、図5に例示されたシミュレーション結果の一部を拡大した図である。シングルモード導波路2bから光が入力された場合には、図5および図17が例示されるように、シングルモード導波路2aおよび不要光用シングルモード導波路5へ光は導かれる。
 シングルモード導波路2aに導かれる光は、図17における矢印200の位置の角付近を通過する。そのため、当該角に少量の光が当たり、それによって損失または反射戻り光が発生する可能性がある。
 また、シングルモード導波路2aから光が入力された場合にも同様に光は伝搬するため、やはり光は矢印200の位置の角付近を通過し、当該角に少量の光が当たる。そして、それによって損失または反射戻り光が発生する可能性がある。
 光が当該角に当たらないようにするためには、図16における反射面4dを矢印201の方向、すなわち、X軸負方向へ平行移動すればよい。ただし、そうすることによって反射点(すなわち、交点Z)も平行移動する。
 そのため、反射面4dを移動した長さ(すなわち、Y軸方向の長さ)と同じ長さだけ、不要光用シングルモード導波路105もX軸負方向へ平行移動する必要がある。
 この際に光の結像点も同じ長さだけX軸負方向へ移動するが、光の結像点はY軸正方向にも同じ長さだけ移動するため、多モード導波路1の内部に結像点が存在することになる。すなわち、交点Zと接続部30との間の距離である距離Xよりも、交点Zと接続部31cとの間の距離である距離Yが長い状態となる。
 不要光用シングルモード導波路の接続部にテーパー形状を形成しない場合、すなわち、不要光用シングルモード導波路5を接続する場合には、上記の結像点の移動によって、不要光用シングルモード導波路5と多モード導波路1との結合損が増加する。
 一方で、不要光用シングルモード導波路の接続部にテーパー形状を形成する場合、すなわち、不要光用シングルモード導波路105を接続する場合には、上記の結像点の移動によって結像位置が多少ずれたとしても、不要光用シングルモード導波路105に光が導かれやすくなる。そのため、結合損を増加させずに、不要光用シングルモード導波路105に導かれた光を反射戻り光として除去することができる。
 なお、結像点がY軸正方向へ4μm程度ずれた場合、シングルモード導波路の接続部にテーパー形状を形成しない場合であっても、発生する過剰損は0.6dB程度である。同様の場合に、シングルモード導波路の接続部にテーパー形状を形成すれば、過剰損はさらに低減される。
 本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器によれば、不要光用シングルモード導波路105の反射戻り光を除去する機能を低下させずに、シングルモード導波路102aから入射または出射される光の損失および反射戻り光を抑制することができる。
 <第7の実施の形態>
 図18は、本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。上記の各実施の形態では、基本設計は2×2多モード干渉型合分波器とされていたが、入力側および出力側のシングルモード導波路の本数を増やしてN×Nとしてもよい。たとえば、本実施の形態に例示されるように、4×4多モード干渉型合分波器であってもよい。
 図18に例示されるように、多モード導波路1cには、入力ポート300、入力ポート301、入力ポート302および入力ポート303が接続される。また、多モード導波路1cには、出力ポート400、出力ポート401、出力ポート402および出力ポート403が接続される。
 一方で、図19は、通常の4×4多モード干渉型合分波器の構成を概略的に例示する平面図である。図19における多モード導波路1dは、反射面を有していない四角形の構成である。
 図19に例示されるように、多モード導波路1dには、入力ポート300、入力ポート301、入力ポート302および入力ポート303が接続される。また、多モード導波路1dには、出力ポート400、出力ポート401、出力ポート402および出力ポート403が接続される。
 2×2多モード干渉型合分波器の場合と同様に、4×4多モード干渉型合分波器の基本設計においても、多モード導波路の幅が決まれば多モード導波路の長さ、および、シングルモード導波路を接続する位置も一義的に決まる。たとえば、多モード導波路の幅を24μmとした場合では、多モード導波路の長さは1200μm、シングルモード導波路の間隔は6μmとなる。
 図19においては、4本の入力ポートのいずれかから光が入射されると、光は4分岐されて4本の出力ポートから出力される。
 一方で、図18に例示される本実施の形態に関する多モード干渉型合分波器では、入力ポート300、入力ポート301および入力ポート302から入射された光は、反射面で垂直に反射されて出力ポート400、出力ポート401および出力ポート402へそれぞれ結合する。これらの光は、不要光として除去される。
 入力ポート303から入射された光は、反射面では反射されずに出力ポート403から出射される。当該光は、たとえば信号光として用いられる。
 このように、出力側に反射面を配置することによって、不要光を信号光の伝搬方向に対して垂直方向へ伝搬させる。不要光を垂直方向へ伝搬させることによって、不要光が信号光に混入することを抑制し、信号品質を保つことができる。
 また、図19に例示される場合と図18に例示される場合とを比較すると、図18に例示される場合では、たとえば信号光を出力する出力ポート403の近傍に他の出力ポートが存在しない。したがって、出力ポート403の加工性が向上し、また、歩留まりが向上する。
 図18に例示された経路長500をA、経路長501をB、経路長502をC、経路長503をDとする場合、多モード導波路1cの多モード導波路長Lが以下の式を満たすように、反射面と不要光用シングルモード導波路の接続位置とが設定される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 ここで、たとえば、長さA(経路長500)は、入力ポート300の多モード導波路1cとの接続部から、反射面までの水平方向の長さと、入力ポート300の接続部を通るX軸方向に沿う線と反射面との交点から、出力ポート400の多モード導波路1cとの接続部までの垂直方向の長さとの和である。
 上記の設定とすることで、反射面で反射された光は、不要光用シングルモード導波路に導かれる。
 図20は、図18の多モード干渉型合分波器が適用された4波長集積変調器を例示する図である。図11に例示された2波長集積変調器は、2×2多モード干渉型合分波器を適用しているが、図20は、4×4多モード干渉型合分波器が適用された4波長集積変調器を例示する。波長の異なる4つの信号光を合波して出力することによって、2つの信号光を合波する2波長集積変調器と比較してデータ容量を2倍にすることができる。
 図20に例示されるように、4波長集積変調器は、発振波長の異なる4つのLD232a、LD232b、LD232cおよびLD132dと、それぞれのLDに接続された4つのEA変調器231a、EA変調器231b、EA変調器231cおよびEA変調器231dと、EA変調器231a、EA変調器231b、EA変調器231cおよびEA変調器231dそれぞれに並列に接続される多モード干渉型合分波器20dとを備える。
 2波長集積変調器と同様に、本実施の形態に関する4波長集積変調器においても、不要な光は不要光用シングルモード導波路へ導かれて除去されるため、LDへの反射戻り光となることもなく、良好な信号光を得ることができる。
 <以上に記載された実施の形態によって生じる効果について>
 次に、以上に記載された実施の形態によって生じる効果を例示する。なお、以下の説明においては、以上に記載された実施の形態に例示された具体的な構成に基づいて当該効果が記載されるが、同様の効果が生じる範囲で、本願明細書に例示される他の具体的な構成と置き換えられてもよい。
 また、当該置き換えは、複数の実施の形態に跨ってなされてもよい。すなわち、異なる実施の形態において例示されたそれぞれの構成が組み合わされて、同様の効果が生じる場合であってもよい。
 以上に記載された実施の形態によれば、多モード干渉型合分波器は、多モード導波路1と、第1のシングルモード導波路と、第2のシングルモード導波路と、第3のシングルモード導波路と、反射面と、第1の接続部において接続される第4のシングルモード導波路とを備える。ここで、第1のシングルモード導波路は、たとえば、シングルモード導波路2aに対応するものである。また、第2のシングルモード導波路は、たとえば、シングルモード導波路2cに対応するものである。また、第3のシングルモード導波路は、たとえば、シングルモード導波路2bに対応するものである。また、反射面は、たとえば、反射面4、反射面4a、反射面4bおよび反射面4cのうちのいずれか1つに対応するものである。また、第4のシングルモード導波路は、反射面に応じて、たとえば、不要光用シングルモード導波路5、不要光用シングルモード導波路5a、不要光用シングルモード導波路5b、不要光用シングルモード導波路5cおよび不要光用シングルモード導波路5dのうちのいずれか1つに対応するものである。また、第1の接続部は、第4のシングルモード導波路に応じて、たとえば、接続部31、接続部31a、接続部31bおよび接続部32のうちのいずれか1つに対応するものである。多モード導波路1は、第1の端部と、第1の端部の反対側の端部である第2の端部と、互いに対向する第1の側端部および第2の側端部とを有する。第1の端部と第2の端部とを結ぶ方向を第1の方向とし、第1の方向と交差する方向を第2の方向とする場合、第1の側端部と第2の側端部とは、第2の方向において互いに対向する。ここで、第1の端部は、たとえば、端部1aに対応するものである。また、第2の端部は、たとえば、端部1bに対応するものである。また、第1の方向は、たとえば、X軸方向に対応するものである。また、第2の方向は、たとえば、Y軸方向に対応するものである。また、第1の側端部は、たとえば、側端部10aに対応するものである。また、第2の側端部は、たとえば、側端部10bに対応するものである。シングルモード導波路2aは、多モード導波路1の端部1aに接続される。シングルモード導波路2cは、多モード導波路1の端部1bにおいて、シングルモード導波路2aと対向する位置に接続される。シングルモード導波路2bは、多モード導波路1の端部1bにおいて、シングルモード導波路2cが接続される位置よりも側端部10aに近い位置に接続される。反射面4は、多モード導波路1において、シングルモード導波路2bと対向する位置に配置される。不要光用シングルモード導波路5は、側端部10bに接続される。そして、シングルモード導波路2cまたはシングルモード導波路2bから入射された光が、反射面4において反射され、かつ、不要光用シングルモード導波路5の側端部10bにおける接続部である接続部31において結像する。
 このような構成によれば、反射戻り光となりうる光を反射面4において反射させ、かつ、接続部31において当該光を結像させることによって、不要光用シングルモード導波路5に導くことができる。したがって、不要光を取り回すための曲線導波路を含むレイアウトを容易に形成しつつ、多モード干渉型合分波器における反射戻り光を抑制することができる。
 また、不要光用シングルモード導波路5を多モード導波路1の側端部10bに接続するため、不要光用シングルモード導波路5を、シングルモード導波路2aと比較的離れた位置に接続することができる。
 フォトリソグラフィーによってパターンを形成する際に、2本のシングルモード導波路の隙間がたとえば2μm程度と狭い場合、それらの隙間がうまく加工できずに、除去されるべき下部クラッド層51、導波層52および上部クラッド層53がそのまま残ってしまう可能性が高まる。また、加工がうまくできないと、シングルモード導波路2aから入射された光はシミュレーション通りに伝搬せず、シングルモード導波路2bおよびシングルモード導波路2cに光が結合しないなどの不具合が発生する。
 なお、これらの構成以外の本願明細書に例示される他の構成については適宜省略することができる。すなわち、少なくともこれらの構成を備えていれば、以上に記載された効果を生じさせることができる。
 しかしながら、本願明細書に例示される他の構成のうちの少なくとも1つを以上に記載された構成に適宜追加した場合、すなわち、以上に記載された構成としては記載されなかった本願明細書に例示される他の構成を以上に記載された構成に追加した場合でも、同様に以上に記載された効果を生じさせることができる。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、不要光用シングルモード導波路5は、側端部10bに接続される。また、反射面4が、側端部10aに近づくにつれて端部1bに近づく傾斜面である。このような構成によれば、反射面4において反射された光が、側端部10bに接続された不要光用シングルモード導波路5の接続部31において結像する。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、不要光用シングルモード導波路5aは、側端部10aに接続される。また、反射面4aが、側端部10aに近づくにつれて端部1bから遠ざかる傾斜面である。このような構成によれば、反射面4aにおいて反射された光が、側端部10aに接続された不要光用シングルモード導波路5aの接続部32において結像する。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、シングルモード導波路2cまたはシングルモード導波路2bから入射された光が反射面4において反射する点を反射点とし、X軸方向に沿う方向における、反射点と端部1aとの間の距離を第1の距離とし、反射点と接続部31との間の距離を第2の距離とする場合、第1の距離と第2の距離とが等しい。ここで、反射点は、たとえば、交点Zに対応するものである。また、第1の距離は、たとえば、距離Xに対応するものである。また、第2の距離は、たとえば、距離Yに対応するものである。このような構成によれば、シングルモード導波路3の接続部30において結像するはずだった光は、反射面4において反射された後、多モード導波路1の側端部10bにおける不要光用シングルモード導波路5の接続部31で、反射面4が存在しない場合と同様の伝搬距離で結像する。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、不要光用シングルモード導波路5の長手方向に沿う軸線Hが交点Zを通る。このような構成によれば、反射面4において反射された光が、不要光用シングルモード導波路5の接続部31で結像し、かつ、不要光用シングルモード導波路5内に導かれて伝搬する。このとき、不要光用シングルモード導波路5に入射する光の方向が不要光用シングルモード導波路5の軸線Hの方向に沿う方向であるため、接続部31における光の反射を抑制することができる。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、多モード干渉型合分波器は、不要光用シングルモード導波路5bの接続部31とは反対側の端部に接続される、入射される光を吸収する吸収層54を有する第5のシングルモード導波路をさらに備える。ここで、第5のシングルモード導波路は、たとえば、吸収用シングルモード導波路6に対応するものである。このような構成によれば、不要光用シングルモード導波路5b内に導かれた光は吸収用シングルモード導波路6内において吸収される。したがって、不要光を吸収することによってモジュール内などで迷光が発生する可能性が低減される。特に、集積回路における素子の配置の関係で、基板50の端まで曲線導波路を配置することが難しい場合などに有効である。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、不要光用シングルモード導波路5bと吸収用シングルモード導波路6との間の接続面101の角度は、ブリュースター角である。このような構成によれば、不要光用シングルモード導波路5bと吸収用シングルモード導波路6との接続面101における光の反射を抑制することができる。理想的には、接続面101における反射をなくし、吸収層54において不要光をすべて吸収させることができる。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、上記の多モード干渉型合分波器を少なくとも1つ備える。このような構成によれば、マッハ・ツェンダー型変調器または2波長集積変調器などの光学素子において、反射戻り光を抑制することができる。たとえば、通常の2×2多モード干渉型合分波器を2つ接続してMZ干渉計を構成する場合、入射側および出射側でそれぞれ1本ずつ使用しないシングルモード導波路が配置されることとなる。そのようなシングルモード導波路を多モード導波路1の側端部に接続し、不要光を除去するための不要光用シングルモード導波路として流用することができる。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、距離Xよりも距離Yが大きい。このような構成によれば、多モード導波路1の内部に結像点が存在するが、結像点がY軸正方向へずれたことによって生じる過剰損は大きくなく、また、シングルモード導波路の接続部にテーパー形状を形成すれば、過剰損はさらに低減される。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、シングルモード導波路102aおよび不要光用シングルモード導波路105のうちの少なくとも1つが、テーパー形状を有する。このような構成によれば、接続部における光の透過損失、および、接続部からの反射戻り光を低減することができる。すなわち、加工性を悪化させずに、光の透過損失および反射戻り光を抑制することができる。
 また、以上に記載された実施の形態によれば、シングルモード導波路である入力ポート300、入力ポート301、入力ポート302および入力ポート303と、それぞれのシングルモード導波路に対応する不要光用シングルモード導波路である出力ポート400、出力ポート401、出力ポート402および出力ポート403とを備える。それぞれのシングルモード導波路から多モード導波路1cへ垂直に入射した光が、反射面において反射され、対応する不要光用シングルモード導波路に達するまでの経路長を、それぞれ、長さA、長さB、長さCおよび長さDとする場合、多モード導波路1cの長さLが、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 を満たす位置に、反射面および不要光用シングルモード導波路が配置される。このような構成によれば、不要な光は不要光用シングルモード導波路へ導かれて除去されるため、LDへの反射戻り光となることもなく、良好な信号光を得ることができる。
 <以上に記載された実施の形態における変形例について>
 以上に記載された実施の形態では、反射面4のX軸方向に対する角度は45°とされたが、反射面の角度はこの場合に限られるものではない。
 図13は、反射面の角度が異なる場合の、多モード干渉型合分波器の構成の詳細を示す平面図である。図13に例示されるように、反射面4bの角度が図3に例示される場合よりも大きい場合にも、距離Xと距離Yとが等しい関係が維持される。そして、交点Zにおける光の反射方向に伴って、不要光用シングルモード導波路5cの接続部31aがX軸負方向にずれた位置となる。
 この場合、不要光用シングルモード導波路5cの長手方向に沿う軸線Hが交点Zを通るように、接続部31aにおける不要光用シングルモード導波路5cの接続角度も傾くことが望ましい。これは、反射面4bにおいて反射された光が不要光用シングルモード導波路5cに入射する際の、接続部31aにおける反射を抑制するためである。
 図14は、反射面の角度が異なる場合の、多モード干渉型合分波器の構成の詳細を示す平面図である。図14に例示されるように、反射面4cの角度が図3に例示される場合よりも小さい場合にも、距離Xと距離Yとが等しい関係は維持される。そして、交点Zにおける光の反射方向に伴って、不要光用シングルモード導波路5dの接続部31bがX軸正方向にずれた位置となる。
 この場合、不要光用シングルモード導波路5dの長手方向に沿う軸線Hが交点Zを通るように、接続部31bにおける不要光用シングルモード導波路5dの接続角度も傾くことが望ましい。これは、反射面4cにおいて反射された光が不要光用シングルモード導波路5dに入射する際の、接続部31bにおける反射を抑制するためである。
 以上に記載された実施の形態では、それぞれの構成要素の材質、材料、寸法、形状、相対的配置関係または実施の条件などについても記載する場合があるが、これらはすべての局面において例示であって、本願明細書に記載されたものに限られることはないものとする。
 したがって、例示されていない無数の変形例、および、均等物が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。たとえば、少なくとも1つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合、さらには、少なくとも1つの実施の形態における少なくとも1つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
 また、矛盾が生じない限り、以上に記載された実施の形態において「1つ」備えられるものとして記載された構成要素は、「1つ以上」備えられていてもよいものとする。
 さらに、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素は概念的な単位であって、本願明細書に開示される技術の範囲内には、1つの構成要素が複数の構造物から成る場合と、1つの構成要素がある構造物の一部に対応する場合と、さらには、複数の構成要素が1つの構造物に備えられる場合とを含むものとする。
 また、以上に記載された実施の形態におけるそれぞれの構成要素には、同一の機能を発揮する限り、他の構造または形状を有する構造物が含まれるものとする。
 また、本願明細書における説明は、本技術に関するすべての目的のために参照され、いずれも、従来技術であると認めるものではない。
 また、以上に記載された実施の形態において、特に指定されずに材料名などが記載された場合は、矛盾が生じない限り、当該材料に他の添加物が含まれた、たとえば、合金などが含まれるものとする。
 1,1c,1d 多モード導波路、1a,1b 端部、2a,2b,2c,3,102a シングルモード導波路、4,4a,4b,4c,4d 反射面、5,5a,5b,5c,5d,105 不要光用シングルモード導波路、6 吸収用シングルモード導波路、10a,10b 側端部、20a,20b,20c,20d 多モード干渉型合分波器、30,31,31a,31b,31c,32,33,33c,34,35 接続部、41,131 変調用電極、41a,41b 変調器、42a,42b アーム部、50 基板、51 下部クラッド層、52 導波層、53 上部クラッド層、54 吸収層、55 多重量子井戸層、56 回折格子、60 入射端、61,71 出射端、100 不要光、101 接続面、131a,131b,231a,231b,231c,231d EA変調器、132 LD用電極、132a,132b LD、200,201 矢印、300,301,302,303 入力ポート、400,401,402,403 出力ポート、500,501,502,503 経路長、E,G,H 軸線、F 中心線、L 多モード導波路長、W 多モード導波路幅、X,Y 距離、Z 交点。

Claims (11)

  1.  第1の端部(1a)と、前記第1の端部(1a)の反対側の端部である第2の端部(1b)と、互いに対向する第1の側端部(10a)および第2の側端部(10b)とを有する多モード導波路(1、1c)と、
     前記多モード導波路(1、1c)の前記第1の端部(1a)に接続される、第1のシングルモード導波路(2a、102a)と、
     前記多モード導波路(1、1c)の前記第2の端部(1b)において、前記第1のシングルモード導波路(2a、102a)と対向する位置に接続される、第2のシングルモード導波路(2c)と、
     前記多モード導波路(1、1c)の前記第2の端部(1b)において、前記第2のシングルモード導波路(2c)が接続される位置よりも前記第1の側端部(10a)に近い位置に接続される、第3のシングルモード導波路(2b、300から303)と、
     前記多モード導波路(1、1c)において、前記第3のシングルモード導波路(2b、300から303)と対向する位置に配置される反射面(4、4a、4b、4c、4d)と、
     前記第1の側端部(10a)または前記第2の側端部(10b)に接続される、第4のシングルモード導波路(5、5a、5b、5c、5d、105、400から403)とを備え、
     前記第1の端部(1a)と前記第2の端部(1b)とを結ぶ方向を第1の方向とし、
     前記第1の方向と交差する方向を第2の方向とし、
     前記第1の側端部(10a)と前記第2の側端部(10b)とは、前記第2の方向において互いに対向し、
     前記第2のシングルモード導波路(2c)または前記第3のシングルモード導波路(2b、300から303)から入射された光が、前記反射面(4、4a、4b、4c、4d)において反射され、かつ、前記第4のシングルモード導波路(5、5a、5b、5c、5d、105、400から403)の第1の接続部(31、31a、31b、31c、32)において結像し、
     前記第1の接続部(31、31a、31b、31c、32)は、前記第1の側端部(10a)における接続部または前記第2の側端部(10b)における接続部である、
     多モード干渉型合分波器。
  2.  前記第4のシングルモード導波路(5)は、前記第2の側端部(10b)に接続され、
     前記反射面(4)が、前記第1の側端部(10a)に近づくにつれて前記第2の端部(1b)に近づく傾斜面である、
     請求項1に記載の多モード干渉型合分波器。
  3.  前記第4のシングルモード導波路(5a)は、前記第1の側端部(10a)に接続され、
     前記反射面(4a)が、前記第1の側端部(10a)に近づくにつれて前記第2の端部(1b)から遠ざかる傾斜面である、
     請求項1に記載の多モード干渉型合分波器。
  4.  前記第2のシングルモード導波路(2c)または前記第3のシングルモード導波路(2b、300、3001、302、303)から入射された光が前記反射面(4、4a、4b、4c)において反射する点を反射点(Z)とし、
     前記第1の方向に沿う方向における、前記反射点(Z)と前記第1の端部(1a)との間の距離を第1の距離(X)とし、
     前記反射点(Z)と前記第1の接続部(31、31a、31b、31c、32)との間の距離を第2の距離(Y)とする場合、
     前記第1の距離(X)と前記第2の距離(Y)とが等しい、
     請求項1から請求項3のうちのいずれか1項に記載の多モード干渉型合分波器。
  5.  前記第2のシングルモード導波路(2c)または前記第3のシングルモード導波路(2b、300、3001、302、303)から入射された光が前記反射面(4d)において反射する点を反射点(Z)とし、
     前記第1の方向に沿う方向における、前記反射点(Z)と前記第1の端部(1a)との間の距離を第1の距離(X)とし、
     前記反射点(Z)と前記第1の接続部(31c)との間の距離を第2の距離(Y)とする場合、
     前記第1の距離(X)よりも前記第2の距離(Y)が大きい、
     請求項1から請求項3のうちのいずれか1項に記載の多モード干渉型合分波器。
  6.  前記第4のシングルモード導波路(5、5a、5b、5c、5d、105、400から403)の長手方向に沿う軸線(H)が前記反射点(Z)を通る、
     請求項4または請求項5に記載の多モード干渉型合分波器。
  7.  前記第1のシングルモード導波路(102a)および前記第4のシングルモード導波路(105)のうちの少なくとも1つが、テーパー形状を有する、
     請求項1から請求項6のうちのいずれか1項に記載の多モード干渉型合分波器。
  8.  前記第4のシングルモード導波路(5b)の前記第1の接続部(31)とは反対側の端部に接続される、入射される光を吸収する吸収層(54)を有する第5のシングルモード導波路(6)をさらに備える、
     請求項1から請求項6のうちのいずれか1項に記載の多モード干渉型合分波器。
  9.  前記第4のシングルモード導波路(5b)と前記第5のシングルモード導波路(6)との間の接続面(101)の角度は、ブリュースター角である、
     請求項8に記載の多モード干渉型合分波器。
  10.  複数の前記第3のシングルモード導波路(300、301、302、303)と、
     それぞれの前記第3のシングルモード導波路(300、301、302、303)に対応する複数の前記第4のシングルモード導波路(400、401、402、403)とを備え、
     それぞれの前記第3のシングルモード導波路(300、301、302、303)から前記多モード導波路(1c)へ垂直に入射した光が、前記反射面(4、4a、4b、4c、4d)において反射され、対応する前記第4のシングルモード導波路(400、401、402、403)に達するまでの経路長を、それぞれ、長さA、長さB、長さCおよび長さDとする場合、多モード導波路(1c)の長さLが、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
     を満たす位置に、前記反射面(4、4a、4b、4c、4d)および前記第4のシングルモード導波路(400、401、402、403)が配置される、
     請求項1から請求項9のうちのいずれか1項に記載の多モード干渉型合分波器。
  11.  請求項1から請求項10のうちのいずれか1項に記載された多モード干渉型合分波器を少なくとも1つ備える、
     光学素子。
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