WO2018207614A1 - 電源回路 - Google Patents

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正寛 一橋
絢哉 近藤
和将 西村
翔 光石
登志夫 鈴木
信彦 執行
片倉 雅幸
元康 矢野
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Definitions

  • This technology relates to power supply circuits.
  • the output voltage of the charge pump circuit is divided into a predetermined ratio by a voltage dividing circuit using resistance and / or capacitance division, and an operational amplifier output corresponding to the difference between the divided voltage and the reference voltage is input to the charge pump circuit. It was the composition used as.
  • JP 2014-147044 A Japanese Patent Laying-Open No. 2015-171213
  • the operational amplifier since the first pole is determined by the external capacitance unit, the operational amplifier needs to be designed in a wide band when stability is a priority. However, there is an essential trade-off that the noise performance deteriorates as the operational amplifier is designed to have a wider bandwidth. In the first place, a circuit using an operational amplifier is not suitable for low voltage operation.
  • a general class A operational amplifier is easy to design, but has a problem that power efficiency is very poor.
  • high-efficiency operational amplifiers have problems that low voltage operation is difficult and design difficulty is high. Therefore, it is very difficult to eliminate the trade-off between current consumption and low voltage characteristics in the operational amplifier driving.
  • the present technology has been made in view of the above problems, and an object thereof is to realize a charge pump circuit that solves a fundamental problem of a feedback system of a voltage feedback type charge pump circuit.
  • One aspect of the present technology includes a charge pump circuit, a feedback circuit that feeds back an output of the charge pump circuit to an input, a first current source that supplies a constant current to the feedback circuit, and an intermediate part of the feedback circuit.
  • a MOS transistor element provided in the feedback circuit, a resistance element interposed closer to the output of the charge pump circuit than the MOS transistor element in the feedback circuit, and a bias for applying a constant voltage to the control terminal of the MOS transistor element
  • a power supply circuit comprising: a circuit; and a control unit that controls a value of a constant current that the first current source passes through the feedback circuit.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 100 according to the present embodiment is a current feedback charge pump circuit that generates an output voltage obtained by stepping down an input voltage, and includes a charge pump circuit 10, a feedback circuit 20, and a control unit 30.
  • the feedback circuit 20 forms a feedback path P that connects the output unit 12 of the charge pump circuit 10 and the input unit 11 of the charge pump circuit 10.
  • the feedback path P of the feedback circuit 20 includes a first node N1 connected to the input unit 11 of the charge pump circuit 10, a third node N3 connected to the output unit 12 of the charge pump circuit 10, and a first node N1. And a second node N2 provided between the third nodes N3.
  • the charge pump circuit 10 includes a charge / discharge voltage used for charging / discharging the capacitor CP that holds the charge pump charge, an oscillation signal for switching on / off of a switch element that switches a charge / discharge direction to the capacitor CP, And outputs a voltage corresponding to the charge / discharge voltage and the oscillation signal.
  • the charge / discharge voltage and the oscillation signal input to the charge pump circuit 10 are collectively referred to as a CP control signal.
  • the charge pump circuit 10 is appropriately supplied with a reference voltage used for charging / discharging the capacitor CP from an arbitrary bias source as necessary.
  • the charge / discharge voltage is input from the feedback circuit 20 and the clock signal CK supplied from the outside is input as an oscillation signal.
  • the charge pump circuit 10 outputs a voltage corresponding to the CP control signal to the output pad 13 as the output voltage Vout.
  • An external capacitor Cex is connected to the output pad 13.
  • the feedback circuit 20 autonomously adjusts the voltage relationship of each node from the first node N1> the second node N2 (constant voltage)> the third node N3.
  • the feedback circuit 20 autonomously adjusts the output voltage Vout between the first node N1 and the second node N2 so that the second voltage V2 of the second node N2 becomes a constant voltage (for example, 0 V). It has a working voltage regulator circuit 40.
  • the voltage adjustment circuit 40 includes, for example, a current source 41, a MOS transistor element 42, and a bias circuit 43.
  • the current source 41 is provided between the first node N1 and the high potential side constant voltage source VDD, and generates a current I flowing from the high potential side constant voltage source VDD toward the first node N1.
  • the value of the current I flowing through the current source 41 is controlled by the control unit 30.
  • the MOS transistor element 42 is configured by connecting a source / drain connection to a feedback path P between the first node N1 and the second node N2. That is, the first node N1 and the second node N2 are connected via the MOS transistor element.
  • the MOS transistor element 42 is interposed between the first node N1 and the second node N2 of the feedback path P with the drain facing the first node N1 and the source facing the second node N2.
  • the bias circuit 43 applies an ON voltage Von to the gate which is a control terminal of the MOS transistor element 42.
  • the on-voltage Von is higher than the second voltage V2 of the second node N2 by the gate-source voltage Vgs, where the gate-source voltage of the MOS transistor element 42 is Vgs.
  • the source voltage is controlled to the second voltage V2.
  • the current I generated by the current source 41 flows from the first node N1 to the second node N2 via the MOS transistor element 42.
  • a voltage VDS is generated between the source and drain of the MOS transistor element 42. That is, the first voltage V1 at the first node N1 is higher than the second voltage V2 at the second node N2 by the voltage VDS.
  • a potential difference forming circuit 50 is provided between the second node N2 and the third node N3.
  • the potential difference forming circuit 50 forms a potential difference in which the second voltage V2 at the second node N2, which is a constant voltage, is used as a reference voltage, and the third voltage V3 at the third node N3 is lower than the second voltage V2.
  • the potential difference forming circuit 50 can be configured by, for example, a current source 51 (common to the current source 41 in the present embodiment) and a resistor 52 (hereinafter, the resistance value is ZF).
  • the feedback path P between the second node N2 and the third node N3 is connected via a resistor 52.
  • the current I generated by the current source 51 flows from the second node N2 to the third node N3 via the resistor 52.
  • a voltage VZF corresponding to the current I and the resistance value ZF is generated in the resistor 52 as shown in the following formula (1).
  • the third voltage V3 at the third node N3 is lower by the voltage VZF than the second voltage V2 at the second node N2.
  • the control unit 30 controls the value of the current I generated by the current source 41 (current source 51).
  • the current source 41 (current source 51) and the control unit 30 are configured by a current mirror circuit, for example.
  • the power supply circuit 100 described above does not use an operational amplifier, it can operate at a low voltage, and can realize a stability and a circuit area smaller than the conventional one. Further, since the power supply circuit 100 does not use a voltage dividing circuit, there is no increase in circuit area due to the level shifter.
  • the conventional voltage feedback charge pump circuit using an operational amplifier is a three-pole system, and since there is a strong dependency between the second and third poles, the first and second poles are scaled by performing constant current density scaling. Paul's relationship can be improved, but at that time the relationship between the second and third poles gets worse.
  • the current feedback type power supply circuit according to the present embodiment is a two-pole system, and the relationship between the first pole and the second pole can be improved by performing constant scaling of current density in consideration of only the second pole.
  • current scaling can be performed while the gain band product is kept constant, and the second pole P2 can be shifted to the high frequency side, so that there is no tradeoff with the phase margin.
  • Current scaling can be performed.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 200 according to this embodiment is a current feedback charge pump circuit that generates an output voltage obtained by boosting an input voltage, and includes a charge pump circuit 210, a feedback circuit 220, and a control unit 230.
  • the feedback circuit 220 forms a feedback path P that connects between the output unit 212 of the charge pump circuit 210 and the input unit 211 of the charge pump circuit 210.
  • the feedback path P of the feedback circuit 220 includes a first node N1 connected to the input unit 211 of the charge pump circuit 210, a third node N3 connected to the output unit 212 of the charge pump circuit 210, and the first node N1. And a second node N2 provided between the third nodes N3.
  • the charge pump circuit 210 includes a charge / discharge voltage used for charging / discharging the capacitor CP that holds the charge pump charge, and an oscillation signal for switching on / off of a switch element that switches a charge / discharge direction to the capacitor CP, And outputs a voltage corresponding to the charge / discharge voltage and the oscillation signal.
  • the charge / discharge voltage and the oscillation signal input to the charge pump circuit 210 are collectively referred to as a CP control signal.
  • the charge pump circuit 210 is appropriately supplied with a reference voltage used for charging and discharging the capacitor CP from an arbitrary bias source as necessary.
  • the charge / discharge voltage is input from the feedback circuit 220, and the clock signal CK supplied from the outside is input as an oscillation signal.
  • the charge pump circuit 210 outputs a voltage corresponding to the CP control signal to the output pad 213 as the output voltage Vout.
  • An external capacitor Cex is connected to the output pad 213.
  • the feedback circuit 220 autonomously adjusts the voltage relationship of each node from the third node N3> the second node N2 (constant voltage)> the first node N1.
  • the feedback circuit 220 outputs the output voltage Vout between the first node N1 and the second node N2 so that the second voltage V2 of the second node N2 becomes a constant voltage (for example, the potential of the high potential side constant voltage source VDD).
  • a voltage adjustment circuit 240 that operates to adjust autonomously is included.
  • the voltage adjustment circuit 240 includes, for example, a current source 241, a MOS transistor element 242, and a bias circuit 243.
  • the current source 241 is provided between the first node N1 and the low potential side constant voltage source GND, and generates a current I flowing from the first node N1 toward the low potential side constant voltage source GND.
  • the value of the current I flowing through the current source 241 is controlled by the control unit 230.
  • the MOS transistor element 242 is configured by connecting a source / drain connection to a feedback path P between the first node N1 and the second node N2. That is, the first node N 1 and the second node N 2 are connected via the MOS transistor element 242.
  • the MOS transistor element 242 is interposed between the first node N1 and the second node N2 of the feedback path P with the drain facing the first node N1 and the source facing the second node N2.
  • the bias circuit 243 applies an on voltage Von to the gate which is the control terminal of the MOS transistor element 242.
  • the on-voltage Von is lower than the second voltage V2 of the second node N2 by the gate-source voltage Vgs, assuming that the gate-source voltage of the MOS transistor element 242 is Vgs.
  • the source voltage of the MOS transistor element 242 to which the voltage of (V2-Vgs) is applied to the gate is controlled to the second voltage V2.
  • the current I generated by the current source 241 reaches the current source 241 from the second node N2 through the MOS transistor element 242 and the first node N1.
  • a voltage VDS is generated between the source and drain of the MOS transistor element 242. That is, the second voltage V2 at the second node N2 is higher than the first voltage V1 at the first node N1 by the voltage VDS.
  • a potential difference forming circuit 250 is provided between the second node N2 and the third node N3.
  • the potential difference forming circuit 250 forms a potential difference in which the second voltage V2 at the second node N2 that is a constant voltage is used as a reference voltage, and the third voltage V3 at the third node N3 is higher than the second voltage V2.
  • the potential difference forming circuit 250 can be configured by, for example, a current source 251 (common to the current source 241 in this embodiment) and a resistor 252 (hereinafter, the resistance value is ZF).
  • the feedback path P between the second node N2 and the third node N3 is connected via a resistor 252.
  • the current I generated by the current source 251 flows from the third node N3 to the second node N2 via the resistor 252.
  • a voltage VZF corresponding to the current I and the resistance value ZF is generated in the resistor 252 as shown in the following formula (2).
  • the third voltage V3 at the third node N3 is higher than the second voltage V2 at the second node N2 by the voltage VZF.
  • the control unit 230 controls the value of the current I generated by the current source 241 (current source 251).
  • the current source 241 (current source 251) and the control unit 230 are configured by a current mirror circuit, for example.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 300 according to the present embodiment is an example of a configuration in which the bias circuit 43 and the current source 41 (current source 51) of the power supply circuit 100 according to the first embodiment are specifically realized by a current mirror circuit.
  • symbol as 1st Embodiment is attached
  • the gate of the MOS transistor element 42 is connected to the gate of the MOS transistor element 344 having the same characteristics as the MOS transistor element 42, and the gate and drain of the MOS transistor element 344 are short-circuited.
  • This is a basic current mirror circuit configuration in which the source of the element 344 is connected to the low potential side constant voltage source GND, and the current source 345 connects the drain of the MOS transistor element 344 and the high potential side constant voltage source VDD.
  • the configuration of the current mirror circuit provided in the power supply circuit 300 according to the present embodiment is not limited to the basic configuration and can be variously changed.
  • the current source 345 is configured such that the current value is controlled by the same control signal from the same control unit 30 so as to flow the same current I as that of the current source 41 (current source 51). That is, by changing the control signal of the control unit 30, the values of the current I of both the current source 345 and the current source 41 (current source 51) can be easily adjusted.
  • the bias circuit 343 can be realized with a simple configuration.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 400 according to the present embodiment is an example of a configuration in which the bias circuit 243 and the current source 241 (current source 251) of the power supply circuit 200 according to the second embodiment are specifically realized by a current mirror circuit.
  • symbol as 2nd Embodiment is attached
  • the gate of the MOS transistor element 242 is connected to the gate of the MOS transistor element 444 having the same characteristics as the MOS transistor element 242 and the gate and drain of the MOS transistor element 444 are short-circuited.
  • This is a basic current mirror circuit configuration in which the source of the element 444 is connected to the high potential side constant voltage source VDD, and the drain of the MOS transistor element 444 and the high potential side constant voltage source VDD are connected by the current source 445.
  • the configuration of the current mirror circuit provided in the power supply circuit 400 according to the present embodiment is not limited to the basic configuration and can be variously changed.
  • the current source 445 is configured such that the current value is controlled by the same control signal from the same control unit 230 so as to flow the same current I as the current source 241 (current source 251). That is, by changing the control signal of the control unit 230, the values of the current I of both the current source 445 and the current source 241 (current source 251) can be easily adjusted.
  • the bias circuit 243 can be realized with a simple configuration.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 500 according to the present embodiment is a current feedback charge pump circuit that generates an output voltage obtained by boosting an input voltage, and includes a charge pump circuit 510, a feedback circuit 520, and a control unit 530.
  • the feedback circuit 520 forms a feedback path P that connects between the output unit 512 of the charge pump circuit 510 and the input unit 511 of the charge pump circuit 510.
  • the feedback path P of the feedback circuit 520 includes a first node N1 connected to the input unit 511 of the charge pump circuit 510, a third node N3 connected to the output unit 512 of the charge pump circuit 510, and the first node N1. And a second node N2 provided between the third nodes N3.
  • the charge pump circuit 510 includes a charge / discharge voltage used for charging / discharging the capacitor CP that holds the charge pump charge, an oscillation signal for switching on / off of a switch element that switches a charge / discharge direction to the capacitor CP, And outputs a voltage corresponding to the charge / discharge voltage and the oscillation signal.
  • the charge pump circuit 510 is appropriately supplied with a reference voltage used for charging and discharging the capacitor CP from an arbitrary bias source as necessary.
  • a charge / discharge voltage is input from the feedback circuit 520, and a clock signal CK supplied from the outside is input as an oscillation signal.
  • the charge / discharge voltage and the oscillation signal input to the charge pump circuit 510 are collectively referred to as a CP control signal.
  • the charge pump circuit 510 outputs a voltage corresponding to the CP control signal to the output pad 513 as the output voltage Vout.
  • An external capacitor Cex is connected to the output pad 513.
  • the feedback circuit 520 autonomously adjusts the voltage relationship of each node from the third node N3> the first node N1> the second node N2 (constant voltage).
  • the feedback circuit 520 outputs a voltage between the first node N1 and the second node N2 so that the second voltage V2 of the second node N2 becomes a constant voltage (voltage generated when a current I flows through a resistor 546 described later).
  • a voltage adjustment circuit 540 that operates to adjust Vout autonomously is included.
  • the voltage adjustment circuit 540 includes, for example, a current source 541, a MOS transistor element 542, and a bias circuit 543.
  • the current source 541 is provided between the first node N1 and the high potential side constant voltage source VDD, and generates a current I flowing from the high potential side constant voltage source VDD toward the first node N1.
  • the value of the current I flowing through the current source 541 is controlled by the control unit 530.
  • the feedback path P between the first node N1 and the second node N2 is configured via the source / drain connection of the MOS transistor element 542, and is connected via the MOS transistor element 542.
  • the MOS transistor element 542 is interposed between the first node N1 and the second node N2 of the feedback path P with the drain facing the first node N1 and the source facing the second node N2.
  • the bias circuit 543 applies the ON voltage Von to the gate which is the control terminal of the MOS transistor element 542.
  • the on-voltage Von is higher than the second voltage V2 of the second node N2 by the gate-source voltage Vgs, where Vgs is the gate-source voltage of the MOS transistor element 542.
  • Vgs is the gate-source voltage of the MOS transistor element 542.
  • the bias circuit 543 has a current mirror circuit configuration.
  • the bias circuit 543 having the configuration of a current mirror circuit connects the gate of the MOS transistor element 544 having the same characteristics as the MOS transistor element 542 to the gate of the MOS transistor element 542, and short-circuits the gate and drain of the MOS transistor element 544.
  • the source of the MOS transistor element 544 is connected to the low potential side constant voltage source GND via the resistor 546, and the current source 545 connects the drain of the MOS transistor element 544 and the high potential side constant voltage source VDD.
  • This is a configuration of a current mirror circuit. Note that the configuration of the current mirror circuit is not limited to the basic configuration.
  • the current source 545 is configured such that the current value is controlled by the same control signal from the same control unit 530 in order to flow the same current I as the current source 541 (current source 551). That is, by changing the control signal of the control unit 530, the values of the current I of both the current source 545 and the current source 541 (current source 551) can be easily adjusted.
  • the bias circuit 543 can be realized with a simple configuration.
  • the current I generated by the current source 541 flows from the first node N1 to the second node N2 via the MOS transistor element 542.
  • a voltage VDS is generated between the source and drain of the MOS transistor element 542. That is, the first voltage V1 at the first node N1 is higher than the second voltage V2 at the second node N2 by the voltage VDS.
  • the second node N2 is connected to the low potential side constant voltage GND through a current source 547 as a second current source.
  • the current source 547 generates a current I ′ that flows from the second node N2 to the low potential side constant voltage GND. Therefore, the current I that the current source 541 flows to the MOS transistor element 542 through the first node N1 flows to the low potential side constant voltage GND through the current source 547.
  • a potential difference forming circuit 550 is provided between the second node N2 and the third node N3.
  • the potential difference forming circuit 550 forms a potential difference in which the second voltage V2 at the second node N2, which is a constant voltage, is used as a reference voltage, and the third voltage V3 at the third node N3 is higher than the second voltage V2.
  • the potential difference between the second node N2 and the third node N3 formed by the potential difference forming circuit 550 is made larger than the potential difference between the second node N2 and the first node N1 formed by the MOS transistor element 542.
  • the potential difference forming circuit 550 can be configured by, for example, a current source 551 (common to the current source 541 in this embodiment) and a resistor 552 (hereinafter, the resistance value is ZF).
  • the feedback path P between the second node N2 and the third node N3 is connected via a resistor 552.
  • a voltage VZF corresponding to the current (I-I ′) and the resistance value ZF is generated in the resistor 552 as shown in the following formula (3).
  • the third voltage V3 at the third node N3 is higher than the second voltage V2 at the second node N2 by the voltage VZF.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 600 according to the present embodiment is a current feedback charge pump circuit that generates an output voltage obtained by boosting an input voltage, and includes a charge pump circuit 610, a feedback circuit 620, and a control unit 630.
  • the feedback circuit 620 forms a feedback path P that connects between the output unit 612 of the charge pump circuit 610 and the input unit 611 of the charge pump circuit 610.
  • the feedback path P of the feedback circuit 620 includes a first node N1 connected to the input unit 611 of the charge pump circuit 610, a third node N3 connected to the output unit 612 of the charge pump circuit 610, and the first node N1. And a second node N2 provided between the third nodes N3.
  • the charge pump circuit 610 includes a charge / discharge voltage used for charging / discharging the capacitor CP that holds the charge pump charge, and an oscillation signal for switching on / off of a switch element that switches a charge / discharge direction to the capacitor CP, And outputs a voltage corresponding to the charge / discharge voltage and the oscillation signal.
  • the charge / discharge voltage and the oscillation signal input to the charge pump circuit 610 are collectively referred to as a CP control signal.
  • the charge pump circuit 610 is appropriately supplied with a reference voltage used for charging and discharging the capacitor CP from an arbitrary bias source as necessary.
  • the charge / discharge voltage is input from the feedback circuit 620, and the clock signal CK supplied from the outside is input as an oscillation signal.
  • the charge pump circuit 610 outputs a voltage corresponding to the CP control signal to the output pad 613 as the output voltage Vout.
  • An external capacitor Cex is connected to the output pad 613.
  • the feedback circuit 620 autonomously adjusts the voltage relationship of each node from second node N2 (constant voltage)> first node N1> third node N3.
  • the feedback circuit 620 outputs a voltage between the first node N1 and the second node N2 so that the second voltage V2 of the second node N2 becomes a constant voltage (a voltage generated when a current I flows through a resistor 646 described later).
  • a voltage adjustment circuit 640 that operates to adjust Vout autonomously is included.
  • the voltage adjustment circuit 640 includes, for example, a current source 641, a MOS transistor element 642, and a bias circuit 643.
  • the feedback path P between the first node N1 and the second node N2 is configured via the source / drain connection of the MOS transistor element 642, and is connected via the MOS transistor element 642.
  • the MOS transistor element 642 is interposed between the first node N1 and the second node N2 of the feedback path P with the source facing the second node N2 and the drain facing the first node N1.
  • the bias circuit 643 applies the ON voltage Von to the gate which is the control terminal of the MOS transistor element 642.
  • the on-voltage Von is lower than the second voltage V2 of the second node N2 by the gate-source voltage Vgs, where the gate-source voltage of the MOS transistor element 642 is Vgs.
  • the source voltage of the MOS transistor element 642 to which the voltage of (V2 ⁇ Vgs) is applied to the gate is controlled to the second voltage V2.
  • the current values of the current source 645 and the current source 641 are controlled by the same control unit 630. That is, the value of the current I flowing through the current source 645 and the current source 641 (current source 651) is adjusted to the same value under the control of the control unit 630.
  • the current I generated by the current source 641 flows from the second node N2 to the first node N1 via the MOS transistor element 642.
  • a voltage VDS is generated between the source and drain of the MOS transistor element 642. That is, the first voltage V1 at the first node N1 is lower than the second voltage V2 at the second node N2 by the voltage VDS.
  • the second node N2 is connected to the high potential side constant voltage source VDD via a current source 647 as a second current source.
  • the current source 647 generates a current I ′ that flows from the high potential side constant voltage source VDD to the second node N2. Therefore, the current I that the current source 641 flows from the second node N2 through the MOS transistor element 642 to the first node N1 constitutes a part of the current I ′.
  • a potential difference forming circuit 650 is provided between the second node N2 and the third node N3.
  • the potential difference forming circuit 650 forms a potential difference in which the second voltage V2 at the second node N2, which is a constant voltage, is used as a reference voltage, and the third voltage V3 at the third node N3 is lower than the second voltage V2.
  • a voltage VZF corresponding to the current (I′-I) and the resistance value ZF is generated in the resistor 652 as shown in the following formula (4).
  • the third voltage V3 at the third node N3 is lower by the voltage VZF than the second voltage V2 at the second node N2.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 700 according to the present embodiment is configured to input the first voltage V1 of the first node N1 to the charge pump circuit 10 via the buffer 760.
  • the buffer 760 may be provided in the power supply circuit 100 according to the first embodiment, the buffer 760 may be provided in the power supply circuits according to the second to sixth embodiments. Further, the buffer 760 may be built in the charge pump circuit 10.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 800 includes a current source 870 as a third current source on a line that supplies the low-potential-side constant voltage GND to the buffer 760 provided in the charge pump circuit 10 according to the seventh embodiment.
  • the first voltage V1 of the first node N1 is used as a control signal for changing the current value of the current source 870.
  • the buffer 760 receives, for example, an external clock signal CK.
  • the load of the charge pump circuit 10 is light and the idle current to be supplied to the charge pump circuit 10 is small.
  • the current flowing through the buffer 760 is reduced to save power, and when the load of the charge pump circuit 10 is heavy and the drive capability of the charge pump circuit 10 needs to be increased, the current flowing through the buffer 760 is increased.
  • the power supply circuit 800 that automatically adjusts the supply current to the charge pump circuit 10 in accordance with the load state is realized.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 900 according to the present embodiment is configured to supply the charge pump circuit 10 with an oscillation signal CK output from an oscillator 980 whose presence or absence of oscillation is controlled by the first voltage V1 of the first node N1.
  • FIG. 9 shows an example in which the power supply circuit 100 according to the first embodiment is provided with the oscillator 980
  • the power supply circuits according to the second to sixth embodiments may be provided with the oscillator 980.
  • the oscillator 980 may be built in the charge pump circuit 10.
  • the oscillator 980 supplies the oscillation signal CK to the charge pump circuit 10 when the first voltage V1 of the first node N1 becomes equal to or higher than a certain threshold value, and oscillates when the first voltage V1 of the first node N1 is less than the certain threshold value.
  • the output of the signal CK is stopped.
  • the oscillation signal CK supplied from the oscillator 980 to the charge pump circuit 10 is used to switch on / off the switch element that switches the charge / discharge direction to the capacitor CP.
  • the power supply circuit 900 configured as described above is configured to switch the switch group only when necessary, to charge / discharge the capacitor CP, and to charge / discharge from the charge pump circuit 10 to the external capacitor Cex. Therefore, when the load of the charge pump circuit 10 is small, a power saving operation can be effectively realized.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating the power supply circuit according to the present embodiment.
  • the power supply circuit 1000 according to the present embodiment has a configuration in which a filter 1090 is provided on a control line in which the control unit 30 controls the current values of the current source 41 (current source 51) and the current source 345.
  • FIG. 10 shows an example in which the filter 1090 is provided in the power supply circuit 300 according to the third embodiment, but the current sources (41 (51), 241 (251), 445, 545, other embodiments) are shown.
  • a similar filter may be provided for the control lines for controlling the current values of 547, 641 (651), 645, 647).
  • the filter 1090 may be a smoothing filter that removes fluctuations in the control signal input to the current source, and it is sufficient if the fluctuations can be made sufficiently smaller than the bandwidth of the feedback circuit.
  • a primary RC filter can be used.
  • the present technology is not limited to the above-described embodiments, and the configurations disclosed in the above-described embodiments are replaced with each other or the combination thereof is changed, disclosed in the known technology, and in the above-described embodiments. A configuration in which each configuration is mutually replaced or a combination is changed is also included.
  • the technical scope of the present technology is not limited to the above-described embodiment, but extends to the matters described in the claims and equivalents thereof.
  • a charge pump circuit A feedback circuit for feeding back the output of the charge pump circuit to the input;
  • a first current source for supplying a constant current to the feedback circuit;
  • a MOS transistor element interposed in the middle of the feedback circuit;
  • a resistance element interposed in a position closer to the output of the charge pump circuit than the MOS transistor element in the feedback circuit;
  • a bias circuit for applying a constant voltage to the control terminal of the MOS transistor element;
  • a controller that controls the value of a constant current that the first current source passes through the feedback circuit;
  • a power supply circuit comprising:
  • the constant voltage applied by the bias circuit is higher than the reference voltage by an amount corresponding to the gate-source voltage of the MOS transistor element.
  • a node between the MOS transistor element and the resistance element of the feedback circuit is connected to a constant voltage source by a second current source;
  • the power supply circuit according to (2) is
  • the constant voltage applied by the bias circuit is lower than the reference voltage by the gate-source voltage of the MOS transistor element.
  • the power supply circuit according to any one of (1) to (3).
  • the feedback circuit is connected to the input of the charge pump circuit through a buffer.
  • the power supply circuit according to any one of (1) to (4).
  • the output of the buffer is input to the input of the charge pump circuit,
  • the buffer is supplied with current by a third current source,
  • the third current source is any one of (1) to (6), wherein a current value is controlled by a voltage of a node which is a terminal opposite to the resistance element of the MOS transistor element of the feedback circuit.
  • An oscillator whose oscillation is controlled by a voltage of a node which is a terminal opposite to the resistance element of the MOS transistor element of the feedback circuit; The output of the oscillator is input to the charge pump circuit.
  • the power supply circuit according to any one of (1) to (4).
  • a control signal for controlling the current value of the first current source is input through a smoothing filter.
  • the power supply circuit according to any one of (1) to (4).
  • SYMBOLS 10 Charge pump circuit, 11 ... Input part, 12 ... Output part, 13 ... Output pad, 20 ... Feedback circuit, 30 ... Control part, 41 ... Current source, 42 ... MOS transistor element, 43 ... Bias circuit, 40 ... Voltage Adjustment circuit 51 ... Current source 52 ... Resistance 50 ... Potential difference forming circuit 100 ... Power supply circuit 200 ... Power supply circuit 210 ... Charge pump circuit 211 ... Input unit 212 ... Output unit 213 ... Output pad 220 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Feedback circuit, 230 ... Control part, 241 ... Current source, 242 ... MOS transistor element, 243 ... Bias circuit, 240 ...
  • Voltage adjustment circuit 251 ... Current source, 252 ... Resistance, 250 ... Potential difference formation circuit, 300 ... Power supply circuit 343: Bias circuit, 344: MOS transistor element, 345: Current source, 400: Power supply circuit, 444 ... MOS transistor element 445 ... Current source, 500 ... Power supply circuit, 510 ... Charge pump circuit, 511 ... Input unit, 512 ... Output unit, 513 ... Output pad, 520 ... Feedback circuit, 530 ... Control unit, 541 ... Current source, 542 ... MOS transistor Element, 543 ... Bias circuit, 544 ... MOS transistor element, 545 ... Current source, 546 ... Resistance, 547 ... Current source, 540 ...
  • Voltage adjustment circuit 551 ... Current source, 552 ... Resistance, 550 ... Potential difference forming circuit, 600 ... Power supply circuit, 610 ... charge pump circuit, 611 ... input unit, 612 ... output unit, 613 ... output pad, 620 ... feedback circuit, 630 ... control unit, 641 ... current source, 642 ... MOS transistor element, 643 ... bias circuit, 644 ... MOS transistor element, 645 ... current source, 646 ... resistor, 647 ... current source, 640 ... voltage Adjusting circuit, 651 ... current source, 652 ... resistor, 650 ... potential difference forming circuit, 700 ... power supply circuit, 760 ... buffer, 800 ... power supply circuit, 870 ... current source, 900 ... power supply circuit, 980 ... oscillator, 1000 ... power supply circuit 1090: Filter, N1: First node, N2: Second node, N3: Third node, P: Feedback path

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Abstract

電圧帰還型のチャージポンプ回路の帰還方式が抱える根源的な課題を解決したチャージポンプ回路を実現する。 チャージポンプ回路と、前記チャージポンプ回路の出力を入力へフィードバックする帰還回路と、前記帰還回路に定電流を流す第一電流源と、前記帰還回路の途中に介設されるMOSトランジスタ素子と、前記帰還回路において前記MOSトランジスタ素子よりも前記チャージポンプ回路の出力寄りの位置に介設される抵抗素子と、前記MOSトランジスタ素子の制御端子に定電圧を印加するバイアス回路と、前記第一電流源が前記帰還回路に流す定電流の値を制御する制御部と、を備える電源回路。

Description

電源回路
 本技術は、電源回路に関する。
 従来、チャージポンプ回路の出力電圧の調整は、オペアンプを用いた電圧帰還により行っていた(例えば、特許文献1,2参照)。具体的には、チャージポンプ回路の出力電圧を抵抗及び/又は容量分割による分圧回路で所定の比率に分圧し、当該分圧と基準電圧との差分に応じたオペアンプ出力をチャージポンプ回路の入力として用いる構成であった。
特開2014-147044号公報 特開2015-171213号公報
 上述した従来のチャージポンプ回路は、ファーストポールが外部容量部で決まるため、安定性を優先する場合、オペアンプを広帯域に設計する必要がある。しかしながら、オペアンプを広帯域に設計するほどノイズ性能が悪化するという本質的なトレードオフを持つ。また、そもそもオペアンプを用いる回路は低電圧動作に不向きである。
 また、上述した従来のチャージポンプ回路は、出力電圧の調整機能を設ける場合、分圧回路の分圧比を変更するレベルシフターを設ける必要が有り、回路面積の増大が避けられない。
 オペアンプを用いる場合、オペアンプ出力をチャージポンプ回路へ入力(オペアンプから電流(電荷)を供給)して駆動するため、大電流のオペアンプを用いる必要が有る。一般的なA級オペアンプは設計が容易である反面、電力効率が非常に悪いという問題点がある。また、高効率のオペアンプは低電圧動作が困難、設計難易度が高いという問題点を持つ。従って、オペアンプ駆動は消費電流と低電圧特性のトレードオフ解消が非常に困難である。
 本技術は、前記課題に鑑みてなされたもので、電圧帰還型のチャージポンプ回路の帰還方式が抱える根源的な課題を解決したチャージポンプ回路を実現することを目的とする。
 本技術の態様の1つは、チャージポンプ回路と、前記チャージポンプ回路の出力を入力へフィードバックする帰還回路と、前記帰還回路に定電流を流す第一電流源と、前記帰還回路の途中に介設されるMOSトランジスタ素子と、前記帰還回路において前記MOSトランジスタ素子よりも前記チャージポンプ回路の出力寄りの位置に介設される抵抗素子と、前記MOSトランジスタ素子の制御端子に定電圧を印加するバイアス回路と、前記第一電流源が前記帰還回路に流す定電流の値を制御する制御部と、を備える電源回路である。
 なお、以上説明した電源回路は、他の機器に組み込まれた状態で実施されたり他の方法とともに実施されたりする等の各種の態様を含む。
 本技術によれば、電圧帰還型のチャージポンプ回路の帰還方式が抱える根源的な課題を解決したチャージポンプ回路を実現することができる。なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものでは無く、また付加的な効果があってもよい。
第1実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第2実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第3実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第4実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第5実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第6実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第7実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第8実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第9実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。 第10実施形態に係る電源回路の概略構成を示す図である。
 以下、図面を参照しつつ各実施形態に係る本技術を説明する。
(A)第1実施形態:  
 図1は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路100は、入力電圧を降圧した出力電圧を生成する電流帰還型のチャージポンプ回路であり、チャージポンプ回路10、帰還回路20及び制御部30を備える。
 帰還回路20は、チャージポンプ回路10の出力部12とチャージポンプ回路10の入力部11との間を接続する帰還パスPを形成する。
 帰還回路20の帰還パスPは、チャージポンプ回路10の入力部11に接続された第1ノードN1と、チャージポンプ回路10の出力部12に接続された第3ノードN3と、第1ノードN1と第3ノードN3の間に設けられる第2ノードN2と、を有する。
 チャージポンプ回路10は、チャージポンプ電荷を保持する容量CPの充放電に用いる充放電電圧と、当該容量CPへの充放電方向を切り替えるスイッチ素子のオン/オフを切替制御するための発振信号と、を供給され、これら充放電電圧や発振信号に応じた電圧を出力する。以下では、チャージポンプ回路10に入力される充放電電圧と発振信号とをまとめてCP制御信号と呼ぶことにする。
 チャージポンプ回路10は、その他、必要に応じて、容量CPの充放電に用いる基準電圧が任意のバイアス源から適宜に供給される。
 本実施形態に係るチャージポンプ回路10は、充放電電圧を帰還回路20から入力され、外部から供給されるクロック信号CKを発振信号として入力される。チャージポンプ回路10は、CP制御信号に応じた電圧を出力電圧Voutとして出力パッド13に出力する。出力パッド13には外部容量Cexが接続される。
 帰還回路20は、各ノードの電圧関係を、第1ノードN1>第2ノードN2(一定電圧)>第3ノードN3、に自律的に調整する。
 帰還回路20は、第1ノードN1と第2ノードN2の間に、第2ノードN2の第2電圧V2が一定電圧(例えば、0V)になるように出力電圧Voutを自律的に調整するように働く電圧調整回路40を有する。
 電圧調整回路40は、例えば、電流源41、MOSトランジスタ素子42、及びバイアス回路43により構成される。
 電流源41は、第1ノードN1と高電位側定電圧源VDDとの間に設けられ、高電位側定電圧源VDDから第1ノードN1に向けて流れる電流Iを発生する。電流源41が流す電流Iの値は、制御部30によって制御される。
 MOSトランジスタ素子42は、第1ノードN1と第2ノードN2の間の帰還パスPにソース/ドレイン間接続を介設して構成される。すなわち、第1ノードN1と第2ノードN2は、MOSトランジスタ素子42を介して接続される。MOSトランジスタ素子42は、帰還パスPの第1ノードN1と第2ノードN2の間に、ドレインを第1ノードN1に向けて、ソースを第2ノードN2に向けて介設される。
 バイアス回路43は、MOSトランジスタ素子42の制御端子であるゲートにオン電圧Vonを印加する。オン電圧Vonは、MOSトランジスタ素子42のゲート・ソース間電圧をVgsとすると、第2ノードN2の第2電圧V2よりもゲート・ソース間電圧Vgs相当だけ高い電圧とする。ゲートに(V2+Vgs)の電圧を印加されたMOSトランジスタ素子42は、ソースの電圧が第2電圧V2に制御される。
 電流源41が発生する電流Iは、第1ノードN1からMOSトランジスタ素子42を介して第2ノードN2へ流れる。MOSトランジスタ素子42のソース・ドレイン間には電圧VDSが発生する。すなわち、第1ノードN1の第1電圧V1は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VDSだけ高電圧になる。
 第2ノードN2と第3ノードN3の間には、電位差形成回路50が設けられる。電位差形成回路50は、一定電圧である第2ノードN2の第2電圧V2を基準電圧とし、この第2電圧V2よりも第3ノードN3の第3電圧V3を低電圧とする電位差を形成する。
 電位差形成回路50は、例えば、電流源51(本実施形態では電流源41と共通)及び抵抗52(以下、抵抗値をZFとする)により構成することができる。第2ノードN2と第3ノードN3の間の帰還パスPは抵抗52を介して接続される。
 電流源51が発生する電流Iは、第2ノードN2から抵抗52を介して第3ノードN3へ流れる。抵抗52には、下記式(1)に示すように、電流Iと抵抗値ZFに応じた電圧VZFが発生する。第3ノードN3の第3電圧V3は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VZFだけ低電圧になる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 制御部30は、電流源41(電流源51)が発生する電流Iの値を制御する。電流源41(電流源51)と制御部30は、例えばカレントミラー回路により構成される。
 以上説明した電源回路100は、オペアンプを用いないため、低電圧動作が可能であり、安定性を実現しつつ従来に比べて回路面積を小さくできる。また、電源回路100は、分圧回路を用いないため、レベルシフターによる回路面積の増大が無い。
 また、オペアンプを用いた従来の電圧帰還型のチャージポンプ回路は、3ポールシステムであり、セカンドポールとサードポールの間に強い依存関係があるため、電流密度一定スケーリングを行うことでファーストポールとセカンドポールの関係は改善できるが、その際にセカンドポールとサードポールの関係が悪化してしまう。一方、本実施形態に係る電流帰還型の電源回路は、2ポールシステムであり、セカンドポールのみに配慮して電流密度一定スケーリングを行うことでファーストポールとセカンドポールの関係を改善することができる。
 すなわち、本実施形態に係る電源回路100では、ゲインバンド積を一定に保ったまま電流スケーリングを行ってセカンドポールP2を高周波側へシフトさせることができるため、位相余裕とのトレードオフを生ずることなく、電流スケーリングを行うことができる。
(B)第2実施形態:  
 図2は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路200は、入力電圧を昇圧した出力電圧を生成する電流帰還型のチャージポンプ回路であり、チャージポンプ回路210、帰還回路220及び制御部230を備える。
 帰還回路220は、チャージポンプ回路210の出力部212とチャージポンプ回路210の入力部211との間を接続する帰還パスPを形成する。
 帰還回路220の帰還パスPは、チャージポンプ回路210の入力部211に接続された第1ノードN1と、チャージポンプ回路210の出力部212に接続された第3ノードN3と、第1ノードN1と第3ノードN3の間に設けられる第2ノードN2と、を有する。
 チャージポンプ回路210は、チャージポンプ電荷を保持する容量CPの充放電に用いる充放電電圧と、当該容量CPへの充放電方向を切り替えるスイッチ素子のオン/オフを切替制御するための発振信号と、を供給され、これら充放電電圧や発振信号に応じた電圧を出力する。以下では、チャージポンプ回路210に入力される充放電電圧と発振信号とをまとめてCP制御信号と呼ぶことにする。
 チャージポンプ回路210は、その他、必要に応じて、容量CPの充放電に用いる基準電圧が任意のバイアス源から適宜に供給される。
 本実施形態に係るチャージポンプ回路210は、充放電電圧を帰還回路220から入力され、外部から供給されるクロック信号CKを発振信号として入力される。チャージポンプ回路210は、CP制御信号に応じた電圧を出力電圧Voutとして出力パッド213に出力する。出力パッド213には、外部容量Cexが接続される。
 帰還回路220は、各ノードの電圧関係を、第3ノードN3>第2ノードN2(一定電圧)>第1ノードN1、に自律的に調整する。
 帰還回路220は、第1ノードN1と第2ノードN2の間に、第2ノードN2の第2電圧V2を一定電圧(例えば、高電位側定電圧源VDDの電位)になるように出力電圧Voutを自律的に調整するように働く電圧調整回路240を有する。
 電圧調整回路240は、例えば、電流源241、MOSトランジスタ素子242、及びバイアス回路243により構成される。
 電流源241は、第1ノードN1と低電位側定電圧源GNDとの間に設けられ、第1ノードN1から低電位側定電圧源GNDに向けて流れる電流Iを発生する。電流源241が流す電流Iの値は、制御部230によって制御される。
 MOSトランジスタ素子242は、第1ノードN1と第2ノードN2の間の帰還パスPにソース/ドレイン間接続を介設して構成される。すなわち、第1ノードN1と第2ノードN2は、MOSトランジスタ素子242を介して接続される。MOSトランジスタ素子242は、帰還パスPの第1ノードN1と第2ノードN2の間に、ドレインを第1ノードN1に向けて、ソースを第2ノードN2に向けて介設される。
 バイアス回路243は、MOSトランジスタ素子242の制御端子であるゲートにオン電圧Vonを印加する。オン電圧Vonは、MOSトランジスタ素子242のゲート・ソース間電圧をVgsとすると、第2ノードN2の第2電圧V2よりもゲート・ソース間電圧Vgs相当だけ低い電圧とする。その結果、ゲートに(V2-Vgs)の電圧を印加されたMOSトランジスタ素子242は、ソースの電圧が第2電圧V2に制御される。
 電流源241が発生する電流Iは、第2ノードN2からMOSトランジスタ素子242を通り第1ノードN1を経由して電流源241に至る。MOSトランジスタ素子242のソース・ドレイン間には電圧VDSが発生する。すなわち、第2ノードN2の第2電圧V2は、第1ノードN1の第1電圧V1よりも電圧VDSだけ高電圧になる。
 第2ノードN2と第3ノードN3の間には、電位差形成回路250が設けられる。電位差形成回路250は、一定電圧である第2ノードN2の第2電圧V2を基準電圧とし、この第2電圧V2よりも第3ノードN3の第3電圧V3を高電圧とする電位差を形成する。
 電位差形成回路250は、例えば、電流源251(本実施形態では電流源241と共通)及び抵抗252(以下、抵抗値をZFとする)により構成することができる。第2ノードN2と第3ノードN3の間の帰還パスPは抵抗252を介して接続される。
 電流源251が発生する電流Iは、第3ノードN3から抵抗252を介して第2ノードN2へ流れる。抵抗252には、下記式(2)に示すように、電流Iと抵抗値ZFに応じた電圧VZFが発生する。第3ノードN3の第3電圧V3は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VZFだけ高電圧になる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 制御部230は、電流源241(電流源251)が発生する電流Iの値を制御する。電流源241(電流源251)と制御部230は、例えばカレントミラー回路により構成される。
 以上説明した本実施形態に係る電源回路においても、上述した第1実施形態に係る電源回路と同様に、オペアンプを用いないため低電圧動作が可能であり、安定性を実現しつつ従来に比べて回路面積を小さくできる。また、分圧回路を用いないため、レベルシフターによる回路面積の増大が無い。また、ゲインバンド積を一定に保ったまま電流スケーリングを行ってセカンドポールP2を高周波側へシフトさせることができるため、位相余裕とのトレードオフを生ずることなく、電流スケーリングを行うことができる。
(C)第3実施形態:  
 図3は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。
 本実施形態に係る電源回路300は、第1実施形態に係る電源回路100のバイアス回路43及び電流源41(電流源51)をカレントミラー回路にて具体的に実現した構成の一例である。以下では、第1実施形態と共通する構成には第1実施形態と同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
 同図に示すカレントミラー回路は、MOSトランジスタ素子42のゲートに、当該MOSトランジスタ素子42と同特性のMOSトランジスタ素子344のゲートを接続し、MOSトランジスタ素子344のゲートとドレインを短絡し、MOSトランジスタ素子344のソースを低電位側定電圧源GNDに接続し、MOSトランジスタ素子344のドレインと高電位側定電圧源VDDの間を電流源345で接続した基本的なカレントミラー回路の構成である。なお、本実施形態に係る電源回路300に設けるカレントミラー回路の構成は基本的な構成に限らず様々に変更可能である。
 また、電流源345は、電流源41(電流源51)と同じ電流Iを流すべく同じ制御部30から同じ制御信号で電流値を制御される構成としてある。すなわち、制御部30の制御信号を可変することで、電流源345と電流源41(電流源51)の双方の電流Iの値を容易に調整することができる。また、本実施形態に係る電源回路300では、バイアス回路343を簡易な構成で実現できる。
(D)第4実施形態:  
 図4は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。
 本実施形態に係る電源回路400は、第2実施形態に係る電源回路200のバイアス回路243及び電流源241(電流源251)をカレントミラー回路にて具体的に実現した構成の一例である。以下では、第2実施形態と共通する構成には第2実施形態と同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
 同図に示すカレントミラー回路は、MOSトランジスタ素子242のゲートに、当該MOSトランジスタ素子242と同特性のMOSトランジスタ素子444のゲートを接続し、MOSトランジスタ素子444のゲートとドレインを短絡し、MOSトランジスタ素子444のソースを高電位側定電圧源VDDに接続し、MOSトランジスタ素子444のドレインと高電位側定電圧源VDDの間を電流源445で接続した基本的なカレントミラー回路の構成である。なお、本実施形態に係る電源回路400に設けるカレントミラー回路の構成は基本的な構成に限らず様々に変更可能である。
 また、電流源445は、電流源241(電流源251)と同じ電流Iを流すべく同じ制御部230から同じ制御信号で電流値を制御される構成としてある。すなわち、制御部230の制御信号を可変することで、電流源445と電流源241(電流源251)の双方の電流Iの値を容易に調整することができる。また、本実施形態に係る電源回路400では、バイアス回路243を簡易な構成で実現できる。
(E)第5実施形態:  
 図5は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路500は、入力電圧を昇圧した出力電圧を生成する電流帰還型のチャージポンプ回路であり、チャージポンプ回路510、帰還回路520及び制御部530を備える。
 帰還回路520は、チャージポンプ回路510の出力部512とチャージポンプ回路510の入力部511との間を接続する帰還パスPを形成する。
 帰還回路520の帰還パスPは、チャージポンプ回路510の入力部511に接続された第1ノードN1と、チャージポンプ回路510の出力部512に接続された第3ノードN3と、第1ノードN1と第3ノードN3の間に設けられる第2ノードN2と、を有する。
 チャージポンプ回路510は、チャージポンプ電荷を保持する容量CPの充放電に用いる充放電電圧と、当該容量CPへの充放電方向を切り替えるスイッチ素子のオン/オフを切替制御するための発振信号と、を供給され、これら充放電電圧や発振信号に応じた電圧を出力する。
 チャージポンプ回路510は、その他、必要に応じて、容量CPの充放電に用いる基準電圧が任意のバイアス源から適宜に供給される。
 本実施形態に係るチャージポンプ回路510は、充放電電圧を帰還回路520から入力され、外部から供給されるクロック信号CKを発振信号として入力される。以下では、チャージポンプ回路510に入力される充放電電圧と発振信号とをまとめてCP制御信号と呼ぶことにする。チャージポンプ回路510は、CP制御信号に応じた電圧を出力電圧Voutとして出力パッド513に出力する。出力パッド513には、外部容量Cexが接
続される。
 帰還回路520は、各ノードの電圧関係を、第3ノードN3>第1ノードN1>第2ノードN2(一定電圧)、に自律的に調整する。
 帰還回路520は、第1ノードN1と第2ノードN2の間に、第2ノードN2の第2電圧V2を一定電圧(後述する抵抗546に電流Iが流れて生ずる電圧)になるように出力電圧Voutを自律的に調整するように働く電圧調整回路540を有する。
 電圧調整回路540は、例えば、電流源541、MOSトランジスタ素子542、及びバイアス回路543により構成される。
 電流源541は、第1ノードN1と高電位側定電圧源VDDとの間に設けられ、高電位側定電圧源VDDから第1ノードN1に向けて流れる電流Iを発生する。電流源541が流す電流Iの値は、制御部530によって制御される。
 第1ノードN1と第2ノードN2の間の帰還パスPはMOSトランジスタ素子542のソース/ドレイン間接続を介設して構成され、MOSトランジスタ素子542を介して接続される。MOSトランジスタ素子542は、帰還パスPの第1ノードN1と第2ノードN2の間に、ドレインを第1ノードN1に向けて、ソースを第2ノードN2に向けて介設される。
 バイアス回路543は、MOSトランジスタ素子542の制御端子であるゲートにオン電圧Vonを印加する。オン電圧Vonは、MOSトランジスタ素子542のゲート・ソース間電圧をVgsとすると、第2ノードN2の第2電圧V2よりもゲート・ソース間電圧Vgs相当だけ高い電圧とする。その結果、ゲートに(V2+Vgs)の電圧を印加されたMOSトランジスタ素子542は、ソースの電圧が第2電圧V2に制御される。
 バイアス回路543は、カレントミラー回路の構成を有する。カレントミラー回路の構成を有するバイアス回路543は、MOSトランジスタ素子542のゲートに、当該MOSトランジスタ素子542と同特性のMOSトランジスタ素子544のゲートを接続し、MOSトランジスタ素子544のゲートとドレインを短絡し、MOSトランジスタ素子544のソースを抵抗546を介して低電位側定電圧源GNDに接続し、MOSトランジスタ素子544のドレインと高電位側定電圧源VDDの間を電流源545で接続した基本的なカレントミラー回路の構成である。なお、カレントミラー回路の構成は基本的な構成に限るものではない。
 また、電流源545は、電流源541(電流源551)と同じ電流Iを流すべく同じ制御部530から同じ制御信号で電流値を制御される構成としてある。すなわち、制御部530の制御信号を可変することで、電流源545と電流源541(電流源551)の双方の電流Iの値を容易に調整することができる。また、本実施形態に係る電源回路500では、バイアス回路543を簡易な構成で実現できる。
 電流源541が発生する電流Iは、第1ノードN1からMOSトランジスタ素子542を介して第2ノードN2へ流れる。MOSトランジスタ素子542のソース・ドレイン間には電圧VDSが発生する。すなわち、第1ノードN1の第1電圧V1は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VDSだけ高電圧になる。
 第2ノードN2は、第二電流源としての電流源547を介して低電位側定電圧GNDに接続されている。電流源547は、第2ノードN2から低電位側定電圧GNDへ流れる電流I’を発生する。このため、電流源541が第1ノードN1を介してMOSトランジスタ素子542に流す電流Iは、電流源547を介して低電位側定電圧GNDへ流れることになる。
 第2ノードN2と第3ノードN3の間には、電位差形成回路550が設けられる。電位差形成回路550は、一定電圧である第2ノードN2の第2電圧V2を基準電圧とし、この第2電圧V2よりも第3ノードN3の第3電圧V3を高電圧とする電位差を形成する。また、電位差形成回路550が形成する第2ノードN2と第3ノードN3の電位差は、MOSトランジスタ素子542が形成する第2ノードN2と第1ノードN1の電位差より大きくする。
 電位差形成回路550は、例えば、電流源551(本実施形態では電流源541と共通)及び抵抗552(以下、抵抗値をZFとする)により構成することができる。第2ノードN2と第3ノードN3の間の帰還パスPは抵抗552を介して接続される。
 電流源547が発生する電流I’により、抵抗552には、第3ノードN3から第2ノードN2へ向かう電流が流れる。抵抗552には、下記式(3)に示すように、電流(I-I’)と抵抗値ZFに応じた電圧VZFが発生する。第3ノードN3の第3電圧V3は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VZFだけ高電圧になる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 制御部530は、電流源541(電流源551)及び電流源545が発生する電流Iの値を制御する。電流源541(電流源551)及び電流源545と制御部530は、例えばカレントミラー回路により構成される。
 以上説明した本実施形態に係る電源回路においても、上述した第1実施形態に係る電源回路と同様に、オペアンプを用いないため低電圧動作が可能であり、安定性を実現しつつ従来に比べて回路面積を小さくできる。また、分圧回路を用いないため、レベルシフターによる回路面積の増大が無い。また、ゲインバンド積を一定に保ったまま電流スケーリングを行ってセカンドポールP2を高周波側へシフトさせることができる。これにより、位相余裕とのトレードオフを生ずることなく、電流スケーリングを行うことができる。
(F)第6実施形態:  
 図6は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路600は、入力電圧を昇圧した出力電圧を生成する電流帰還型のチャージポンプ回路であり、チャージポンプ回路610、帰還回路620及び制御部630を備える。
 帰還回路620は、チャージポンプ回路610の出力部612とチャージポンプ回路610の入力部611との間を接続する帰還パスPを形成する。
 帰還回路620の帰還パスPは、チャージポンプ回路610の入力部611に接続された第1ノードN1と、チャージポンプ回路610の出力部612に接続された第3ノードN3と、第1ノードN1と第3ノードN3の間に設けられる第2ノードN2と、を有する。
 チャージポンプ回路610は、チャージポンプ電荷を保持する容量CPの充放電に用いる充放電電圧と、当該容量CPへの充放電方向を切り替えるスイッチ素子のオン/オフを切替制御するための発振信号と、を供給され、これら充放電電圧や発振信号に応じた電圧を出力する。以下では、チャージポンプ回路610に入力される充放電電圧と発振信号とをまとめてCP制御信号と呼ぶことにする。
 チャージポンプ回路610は、その他、必要に応じて、容量CPの充放電に用いる基準電圧が任意のバイアス源から適宜に供給される。
 本実施形態に係るチャージポンプ回路610は、充放電電圧を帰還回路620から入力され、外部から供給されるクロック信号CKを発振信号として入力される。チャージポンプ回路610は、CP制御信号に応じた電圧を出力電圧Voutとして出力パッド613に出力する。出力パッド613には、外部容量Cexが接続される。
 帰還回路620は、各ノードの電圧関係を、第2ノードN2(一定電圧)>第1ノードN1>第3ノードN3、に自律的に調整する。
 帰還回路620は、第1ノードN1と第2ノードN2の間に、第2ノードN2の第2電圧V2を一定電圧(後述する抵抗646に電流Iが流れて生ずる電圧)になるように出力電圧Voutを自律的に調整するように働く電圧調整回路640を有する。
 電圧調整回路640は、例えば、電流源641、MOSトランジスタ素子642、及びバイアス回路643により構成される。
 電流源641は、第1ノードN1と低電位側定電圧源GNDとの間に設けられ、第1ノードN1から低電位側定電圧源GNDに向けて流れる電流Iを発生する。電流源641が流す電流Iの値は、制御部630によって制御される。
 第1ノードN1と第2ノードN2の間の帰還パスPはMOSトランジスタ素子642のソース/ドレイン間接続を介設して構成され、MOSトランジスタ素子642を介して接続される。MOSトランジスタ素子642は、帰還パスPの第1ノードN1と第2ノードN2の間に、ソースを第2ノードN2に向けて、ドレインを第1ノードN1に向けて介設される。
 バイアス回路643は、MOSトランジスタ素子642の制御端子であるゲートにオン電圧Vonを印加する。オン電圧Vonは、MOSトランジスタ素子642のゲート・ソース間電圧をVgsとすると、第2ノードN2の第2電圧V2よりもゲート・ソース間電圧Vgs相当だけ低い電圧とする。その結果、ゲートに(V2-Vgs)の電圧を印加されたMOSトランジスタ素子642は、ソースの電圧が第2電圧V2に制御される。
 バイアス回路643は、カレントミラー回路の構成を有する。図7には、カレントミラー回路の構成を有するバイアス回路643として、MOSトランジスタ素子642のゲートに、当該MOSトランジスタ素子642と同特性のMOSトランジスタ素子644のゲートを接続し、MOSトランジスタ素子644のゲートとドレインを短絡し、MOSトランジスタ素子644のソースを抵抗646を介して高電位側定電圧源VDDに接続し、MOSトランジスタ素子644のドレインと低電位側定電圧源GNDの間を電流源645で接続した基本的なカレントミラー回路の構成である。なお、本実施形態に係る電源回路600に設けるカレントミラー回路の構成は基本的な構成に限らず様々に変更可能である。
 また、電流源645と電流源641(電流源651)は、同じ制御部630からの制御により電流値を制御されている。すなわち、電流源645と電流源641(電流源651)が流す電流Iの値は、制御部630の制御により同じ値に調整される。
 電流源641が発生する電流Iは、第2ノードN2からMOSトランジスタ素子642を介して第1ノードN1へ流れる。MOSトランジスタ素子642のソース・ドレイン間には電圧VDSが発生する。すなわち、第1ノードN1の第1電圧V1は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VDSだけ低電圧になる。
 第2ノードN2は、第二電流源としての電流源647を介して高電位側定電圧源VDDに接続されている。電流源647は、高電位側定電圧源VDDから第2ノードN2へ流れる電流I’を発生する。このため、電流源641が第2ノードN2からMOSトランジスタ素子642を通って第1ノードN1へ流す電流Iは、電流I’の一部を構成する。
 第2ノードN2と第3ノードN3の間には、電位差形成回路650が設けられる。電位差形成回路650は、一定電圧である第2ノードN2の第2電圧V2を基準電圧とし、この第2電圧V2よりも第3ノードN3の第3電圧V3を低電圧とする電位差を形成する。
 電位差形成回路650は、例えば、電流源651(本実施形態では電流源641と共通)及び抵抗652(以下、抵抗値をZFとする)により構成することができる。第2ノードN2と第3ノードN3の間の帰還パスPは抵抗652を介して接続される。
 電流源647が発生する電流I’により、抵抗652には、第2ノードN2から第3ノードN3へ向かう電流が流れる。抵抗652には、下記式(4)に示すように、電流(I’-I)と抵抗値ZFに応じた電圧VZFが発生する。第3ノードN3の第3電圧V3は、第2ノードN2の第2電圧V2よりも電圧VZFだけ低電圧になる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 制御部630は、電流源641(電流源651)及び電流源645が発生する電流Iの値を制御する。電流源641(電流源651)及び電流源645と制御部630は、例えばカレントミラー回路により構成される。
 以上説明した本実施形態に係る電源回路においても、上述した第1実施形態に係る電源回路と同様に、オペアンプを用いないため低電圧動作が可能であり、安定性を実現しつつ従来に比べて回路面積を小さくできる。また、分圧回路を用いないため、レベルシフターによる回路面積の増大が無い。また、ゲインバンド積を一定に保ったまま電流スケーリングを行ってセカンドポールP2を高周波側へシフトさせることができる。これにより、位相余裕とのトレードオフを生ずることなく、電流スケーリングを行うことができる。
(G)第7実施形態:  
 図7は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路700は、第1ノードN1の第1電圧V1をバッファ760を介してチャージポンプ回路10へ入力する構成である。
 なお、図7には、第1実施形態に係る電源回路100にバッファ760を設ける例を示してあるが、第2~第6実施形態に係る電源回路にバッファ760を設けてもよい。また、バッファ760は、チャージポンプ回路10が内蔵してもよい。
 このように、第1ノードN1からチャージポンプ回路10への充放電電圧の供給をバッファ760を介して行う構成とすることで、チャージポンプ回路10が重い負荷を駆動するために必要な大電流を、チャージポンプ回路10の出力に対する影響を極力小さくしつつ確保することができる。
 すなわち、チャージポンプ回路10が大電流を必要とする場合に、帰還パスPに大電流を流すことなくチャージポンプ回路10の容量CPに十分な電荷を供給することができる。また、帰還パスPに大電流を流さずに済むため、チャージポンプ回路10の出力で充放電される外部容量Cexへの充放電に対する電流源41の影響を極力小さいままに維持できるため、電流源41が外部容量Cexに対して負荷にならずに済む。
(H)第8実施形態:  
 図8は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路800は、上述した第7実施形態に係るチャージポンプ回路10に設けたバッファ760に低電位側定電圧GNDを供給するライン上に第三電流源としての電流源870を介設し、第1ノードN1の第1電圧V1を電流源870の電流値を可変する制御信号として用いる構成である。バッファ760は、例えば外部のクロック信号CKを入力とする。
 このように、バッファ760に対する電流供給を第1ノードN1の第1電圧V1で制御する構成を採用することで、チャージポンプ回路10の負荷が軽く、チャージポンプ回路10へ供給すべき電流が小さいアイドル状態においては、バッファ760に流れる電流を絞って省電力動作とし、チャージポンプ回路10の負荷が重く、チャージポンプ回路10の駆動能力を高める必要が有る場合には、バッファ760に流れる電流を増大してチャージポンプ回路へ大電流を供給することができる。すなわち、負荷の状態に合わせてチャージポンプ回路10への供給電流を自動調整する電源回路800が実現される。
(I)第9実施形態:  
 図9は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路900は、第1ノードN1の第1電圧V1により発振の有無を制御される発振器980の出力する発振信号CKをチャージポンプ回路10へ供給する構成である。
 なお、図9には、第1実施形態に係る電源回路100に発振器980を設ける例を示してあるが、第2~第6実施形態に係る電源回路に発振器980を設けてもよい。また、発振器980は、チャージポンプ回路10が内蔵してもよい。
 発振器980は、第1ノードN1の第1電圧V1が一定の閾値以上になると発振信号CKをチャージポンプ回路10に供給し、第1ノードN1の第1電圧V1が一定の閾値未満の場合は発振信号CKの出力を停止する。発振器980がチャージポンプ回路10に供給する発振信号CKは、容量CPへの充放電方向を切り替えるスイッチ素子のオン/オフを切替制御するために用いられる。
 このように構成された電源回路900では、必要な時のみスイッチ群の切替を行って容量CPへの充放電を行い、チャージポンプ回路10から外部容量Cexへの充放電を実施する構成である。従って、チャージポンプ回路10の負荷が小さい場合に、効果的に省電力動作を実現することができる。
(J)第10実施形態:  
 図10は、本実施形態に係る電源回路を説明する図である。本実施形態に係る電源回路1000は、電流源41(電流源51)及び電流源345の電流値を制御部30が制御する制御ライン上にフィルター1090を介設した構成である。
 なお、図10には、第3実施形態に係る電源回路300にフィルター1090を設ける例を示してあるが、他の実施形態の電流源(41(51),241(251),445,545,547,641(651),645,647)の電流値を制御する制御ラインについても同様のフィルターを介設してもよい。
 フィルター1090は、電流源へ入力する制御信号の揺らぎを除去する平滑化フィルターであればよく、揺らぎを帰還回路の帯域よりも十分に小さくできればよい。例えば、一次のRCフィルターを用いることができる。
 このように、電流源の制御ラインにフィルター1090を介設することで、カレントミラー回路の前段であるVI変換アンプ等で発生する揺らぎが除去され、本技術に係る電源回路において主要なノイズ源である電流源のノイズを低減することができる。電流源のノイズが低減することで、電流源の揺らぎが電流を介して如実に反映される抵抗52の電圧の揺らぎを抑制することができる。
 なお、本技術は上述した実施形態に限られず、上述した実施形態の中で開示した各構成を相互に置換したり組み合わせを変更したりした構成、公知技術並びに上述した実施形態の中で開示した各構成を相互に置換したり組み合わせを変更したりした構成、等も含まれる。また,本技術の技術的範囲は上述した実施形態に限定されず,請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。
 そして、本技術は、以下のような構成を取ることができる。
(1)
 チャージポンプ回路と、
 前記チャージポンプ回路の出力を入力へフィードバックする帰還回路と、
 前記帰還回路に定電流を流す第一電流源と、
 前記帰還回路の途中に介設されるMOSトランジスタ素子と、
 前記帰還回路において前記MOSトランジスタ素子よりも前記チャージポンプ回路の出力寄りの位置に介設される抵抗素子と、
 前記MOSトランジスタ素子の制御端子に定電圧を印加するバイアス回路と、
 前記第一電流源が前記帰還回路に流す定電流の値を制御する制御部と、
を備える電源回路。
(2)
 前記バイアス回路が印加する定電圧は、基準電圧に比べて前記MOSトランジスタ素子のゲート・ソース間電圧相当だけ高電圧である、
前記(1)に記載の電源回路。
(3)
 前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子と前記抵抗素子の間のノードを、第二電流源により定電圧源に対して接続した、
前記(2)に記載の電源回路。
(4)
 前記バイアス回路が印加する定電圧は、前記MOSトランジスタ素子のゲート・ソース間電圧相当だけ基準電圧より低電圧である、
前記(1)~前記(3)の何れか1つに記載の電源回路。
(5) 前記帰還回路は、バッファを介して前記チャージポンプ回路の入力に接続されている、
前記(1)~前記(4)の何れか1つに記載の電源回路。
(6)
 前記チャージポンプ回路の入力にはバッファの出力が入力され、
 前記バッファには第三電流源により電流供給され、
 前記第三電流源は、前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子の前記抵抗素子と反対側の端子であるノードの電圧で電流値を制御される
前記(1)~前記(6)の何れか1つに記載の電源回路。
(7)
 前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子の前記抵抗素子と反対側の端子であるノードの電圧で発振を制御される発振器を更に備え、
 前記発振器の出力が、前記チャージポンプ回路に入力される、
前記(1)~前記(4)の何れか1つに記載の電源回路。
(8)
 前記第一電流源の電流値を制御する制御信号は、平滑化フィルターを介して入力される、
前記(1)~前記(4)の何れか1つに記載の電源回路。
10…チャージポンプ回路、11…入力部、12…出力部、13…出力パッド、20…帰還回路、30…制御部、41…電流源、42…MOSトランジスタ素子、43…バイアス回路、40…電圧調整回路、51…電流源、52…抵抗、50…電位差形成回路、100…電源回路、200…電源回路、210…チャージポンプ回路、211…入力部、212…出力部、213…出力パッド、220…帰還回路、230…制御部、241…電流源、242…MOSトランジスタ素子、243…バイアス回路、240…電圧調整回路、251…電流源、252…抵抗、250…電位差形成回路、300…電源回路、343…バイアス回路、344…MOSトランジスタ素子、345…電流源、400…電源回路、444…MOSトランジスタ素子、445…電流源、500…電源回路、510…チャージポンプ回路、511…入力部、512…出力部、513…出力パッド、520…帰還回路、530…制御部、541…電流源、542…MOSトランジスタ素子、543…バイアス回路、544…MOSトランジスタ素子、545…電流源、546…抵抗、547…電流源、540…電圧調整回路、551…電流源、552…抵抗、550…電位差形成回路、600…電源回路、610…チャージポンプ回路、611…入力部、612…出力部、613…出力パッド、620…帰還回路、630…制御部、641…電流源、642…MOSトランジスタ素子、643…バイアス回路、644…MOSトランジスタ素子、645…電流源、646…抵抗、647…電流源、640…電圧調整回路、651…電流源、652…抵抗、650…電位差形成回路、700…電源回路、760…バッファ、800…電源回路、870…電流源、900…電源回路、980…発振器、1000…電源回路、1090…フィルター、N1…第1ノード、N2…第2ノード、N3…第3ノード、P…帰還パス
 
 

Claims (8)

  1.  チャージポンプ回路と、
     前記チャージポンプ回路の出力を入力へフィードバックする帰還回路と、
     前記帰還回路に定電流を流す第一電流源と、
     前記帰還回路の途中に介設されるMOSトランジスタ素子と、
     前記帰還回路において前記MOSトランジスタ素子よりも前記チャージポンプ回路の出力寄りの位置に介設される抵抗素子と、
     前記MOSトランジスタ素子の制御端子に定電圧を印加するバイアス回路と、
     前記第一電流源が前記帰還回路に流す定電流の値を制御する制御部と、
    を備える電源回路。
  2.  前記バイアス回路が印加する定電圧は、基準電圧に比べて前記MOSトランジスタ素子のゲート・ソース間電圧相当だけ高電圧である、
    請求項1に記載の電源回路。
  3.  前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子と前記抵抗素子の間のノードを、第二電流源により定電圧源に対して接続した、
    請求項2に記載の電源回路。
  4.  前記バイアス回路が印加する定電圧は、前記MOSトランジスタ素子のゲート・ソース間電圧相当だけ基準電圧より低電圧である、
    請求項1に記載の電源回路。
  5.  前記帰還回路は、バッファを介して前記チャージポンプ回路の入力に接続されている、
    請求項1に記載の電源回路。
  6.  前記チャージポンプ回路の入力にはバッファの出力が入力され、
     前記バッファには第三電流源により電流供給され、
     前記第三電流源は、前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子の前記抵抗素子と反対側の端子であるノードの電圧で電流値を制御される
    請求項1に記載の電源回路。
  7.  前記帰還回路の前記MOSトランジスタ素子の前記抵抗素子と反対側の端子であるノードの電圧で発振を制御される発振器を更に備え、
     前記発振器の出力が、前記チャージポンプ回路に入力される、
    請求項1に記載の電源回路。
  8.  前記第一電流源の電流値を制御する制御信号は、平滑化フィルターを介して入力される、
    請求項1に記載の電源回路。
     
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12040705B2 (en) * 2021-08-20 2024-07-16 Semiconductor Components Industries, Llc Self clocked low power doubling charge pump

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07248837A (ja) * 1994-03-11 1995-09-26 Fuji Film Micro Device Kk 基準電圧発生回路
JP2003168293A (ja) * 2001-11-29 2003-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置およびその製造方法
US20140028276A1 (en) * 2012-07-30 2014-01-30 SK Hynix Inc. Internal voltage generator having immunity to ground bouncing
JP2014147044A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Toshiba Corp 半導体集積回路
JP2015171213A (ja) * 2014-03-06 2015-09-28 ヤマハ株式会社 昇圧回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19962523A1 (de) 1999-12-23 2001-08-02 Texas Instruments Deutschland Gleichspannungswandler und Verfahren zum Betreiben eines Gleichspannungswandlers
US6566847B1 (en) * 2002-07-29 2003-05-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Low power charge pump regulating circuit
JP4666345B2 (ja) * 2004-11-05 2011-04-06 ローム株式会社 チャージポンプ回路
JP3904579B2 (ja) * 2004-12-03 2007-04-11 ローム株式会社 電源装置およびそれを用いた発光装置、電子機器
JP4615524B2 (ja) 2004-12-06 2011-01-19 ローム株式会社 昇圧回路及びこれを用いた携帯機器
US8044704B2 (en) * 2006-07-07 2011-10-25 Semiconductor Components Industries, Llc Current controller and method therefor
CN102158075B (zh) * 2011-03-16 2013-01-30 东南大学 一种电荷泵锁相环中的电荷泵电路
US9871514B1 (en) 2016-06-29 2018-01-16 Texas Instruments Incorporated Methods and apparatus for continuous current limiting for FETS in high inductive load systems

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07248837A (ja) * 1994-03-11 1995-09-26 Fuji Film Micro Device Kk 基準電圧発生回路
JP2003168293A (ja) * 2001-11-29 2003-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置およびその製造方法
US20140028276A1 (en) * 2012-07-30 2014-01-30 SK Hynix Inc. Internal voltage generator having immunity to ground bouncing
JP2014147044A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Toshiba Corp 半導体集積回路
JP2015171213A (ja) * 2014-03-06 2015-09-28 ヤマハ株式会社 昇圧回路

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