WO2018020646A1 - 芯ずれ測定装置 - Google Patents

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前川直樹
尾崎浩雅
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Big Daishowa株式会社
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Definitions

  • Patent Literature 1 discloses a dial gauge type centering device that measures center misalignment and performs center centering.
  • the device of Patent Document 1 is configured as follows. That is, when an external force is applied to the rod-shaped probe (30) in a state where the rod-shaped probe (30) attached to the probe attachment member (29) is in contact with the measurement surface of the workpiece (W), the swing arm (28 ) Swings around the swing fulcrum (33). Then, the swing arm (28) pushes the slide shaft (12) protruding from the tip of the main shaft (4). When the slide shaft (12) is pushed, the slide collar (7) is pushed via the lateral pin (14).
  • a lever type dial gauge configured such that the pointer can be swung by the swing amount of the probe contacting the object, and the pointer can be swung by the protrusion amount and the retraction amount of the probe.
  • the stroke type dial gauge is configured in a simple manner.
  • the above-described apparatus of Patent Document 1 has a complicated configuration including many elements such as a swing arm (28), an arm receiving pin (24), and a support arm (20) in order to measure the center misalignment. It has become. And since the apparatus of patent document 1 is a complicated structure, it cannot use the general dial gauge comprised simply, such as a lever type dial gauge and a stroke type dial gauge.
  • the sliding body has an insertion hole that penetrates the radially extending portion in the axial direction
  • the holding body has an insertion portion that is inserted into the insertion hole
  • the insertion hole has the insertion hole.
  • the misalignment measuring apparatus 1 measures the misalignment of the center 92 with respect to the main axis CX before turning the workpiece.
  • the misalignment measuring device 1 is attached to a disk-shaped rotary base 93 held by a chuck 91. Further, the misalignment measuring device 1 is arranged at a position eccentric with respect to the main axis CX.
  • CX shown in the drawing is a main axis CX as a rotation axis for rotating the chuck 91 by the rotation driving device 90.
  • MX shown in FIG. 2 is an axis of the misalignment measuring apparatus 1, and is a moving axis MX that turns around the main axis CX. Further, a circumferential direction centered on the moving axis MX is defined as a first circumferential direction C1, and a circumferential direction centered on the main axis CX is defined as a second circumferential direction C2.
  • a tapered inner peripheral surface 61b having a diameter decreasing toward the first axial direction X1 is formed at the end of the axial extending portion 61 in the second axial direction X2.
  • the taper inner peripheral surface 61 b is configured to contact the rocking body 7.

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Abstract

簡素な構成のダイヤルゲージを用いてセンタの芯ずれを測定することが可能な芯ずれ測定装置を提供する。 軸心方向(X)に貫通する貫通孔(21)を有する筒状のケース(2)と、測定子(32)により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージ(3)と、ケース(2)に対して回転自在に貫通孔(21)を貫通するように取り付けられた筒状の保持体(4)と、保持体(4)を支持する支持体(5)と、保持体(4)の径内方向(R2)に設けられて保持体(4)に対して軸心方向(X)に沿って移動可能な摺動体(6)と、先端部分が揺動すると共に揺動量を摺動体(6)に伝達する揺動体(7)と、を備えている。摺動体(6)は、軸心方向(X)に沿って形成される軸方向延在部(61)と径方向に沿って形成される径方向延在部(62)とを有しており、測定子(32)と径方向延在部(62)とが当接するように構成されている。

Description

芯ずれ測定装置
 本発明は、例えば、旋盤や円筒研削盤等に用いられるセンタの芯ずれを測定するための芯ずれ測定装置に関する。
 例えば、特許文献1において、センタの芯ずれを測定すると共にセンタの芯出しを行うダイヤルゲージ式芯出し装置が開示されている。特許文献1の装置は、以下のように構成されている。すなわち、測定子取付部材(29)に取り付けられた棒状測定子(30)をワーク(W)の測定面に接触させた状態で、当該棒状測定子(30)に外力が作用するとスイングアーム(28)が揺動支点(33)を中心に揺動する。そして、スイングアーム(28)は、主軸(4)の先端から突出しているスライド軸(12)を押動する。スライド軸(12)が押動されることにより横ピン(14)を介してスライドカラー(7)が押動される。そして、スライドカラー(7)が押動されることにより、アーム受けピン(24)及び支持アーム(20)を介してダイヤルゲージ(9)の測定端子軸(17)が移動して指針(19)が振れる。特許文献1では、棒状測定子(30)をワーク(W)の穴部(H)の内周面に接触させると共に工作機械のスピンドル(S)を低速回転させ、当該スピンドル(S)の回転に伴う指針(19)の振れに基づいてワーク(W)のセンタの芯ずれを測定している。
特開平7-227741号公報
 ここで、一般的なダイヤルゲージとしては、対象物に当接する測定子の揺動量により指針が振れるように構成されたてこ式ダイヤルゲージと、当該測定子の突出量及び引退量により指針が振れるように構成されたストローク式ダイヤルゲージと、があり、いずれも簡素に構成されている。しかし、前述した特許文献1の装置は、センタの芯ずれを測定するために、スイングアーム(28)、アーム受けピン(24)、支持アーム(20)等の多くの要素を含む複雑な構成となっている。そして、特許文献1の装置は、複雑な構成であるために、てこ式ダイヤルゲージやストローク式ダイヤルゲージなどの簡素に構成された一般的なダイヤルゲージを用いることができない。
 本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、簡素な構成のダイヤルゲージを用いてセンタの芯ずれを測定することが可能な芯ずれ測定装置を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するため、本開示に係る芯ずれ測定装置の特徴構成は、軸心方向に貫通する貫通孔を有する筒状のケースと、前記ケースの外面に取り付けられており、測定子により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージと、前記ケースの前記軸心と同軸心かつ当該ケースに対して回転自在に前記貫通孔を貫通するように取り付けられた筒状の保持体と、前記保持体の基端側に取り付けられて前記保持体を支持する支持体と、前記保持体の径方向の内側に設けられて当該保持体に対して前記軸心方向に沿って移動可能な摺動体と、前記摺動体の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を前記摺動体に伝達する揺動体と、を備え、前記摺動体は、前記軸心方向に沿って形成される軸方向延在部と、前記径方向に沿って形成される径方向延在部と、を有し、前記ダイヤルゲージの前記測定子と前記摺動体の前記径方向延在部とが、当接するように構成され、前記揺動体の揺動量が、前記摺動体の前記軸方向延在部を介して前記径方向延在部に伝達されて、当該径方向延在部に当接した前記ダイヤルゲージの前記測定子によって測定可能に構成された点にある。
 本構成によれば、測定対象の芯ずれ量に応じて揺動体が揺動し、その揺動量が摺動体の軸方向延在部を介して径方向延在部に伝達される。すなわち、揺動体が揺動すると、その揺動量に応じて摺動体は軸心方向に移動し、径方向延在部も軸心方向に移動する。そして、径方向延在部の軸心方向への移動量に応じて当該径方向延在部に当接するダイヤルゲージの測定子が振れることにより、本構成に係る芯ずれ測定装置は、測定対象の芯ずれを測定することができる。すなわち、本構成では、ダイヤルゲージの測定子を摺動体の径方向延在部に当接させて径方向延在部の軸心方向の移動量を測定することにより測定対象の芯ずれを測定することができる。従って、本構成によれば、周知である簡素な構成のダイヤルゲージを用いて測定対象の芯ずれを測定することができる。
 また、前記摺動体は、前記径方向延在部を前記軸心方向に貫通する挿通孔を有し、前記保持体は、前記挿通孔に内挿される挿入部を有し、前記挿通孔に前記挿入部が内挿された状態で、前記挿通孔の内周面と前記挿入部の外周面の少なくとも一部が接触することにより、前記径方向延在部に対して前記保持体が周方向に回転しないように構成されていると好適である。
 本構成によれば、摺動体の挿通孔に保持体の挿入部が内挿され、かつ、挿通孔の内周面と挿入部の外周面の少なくとも一部が接触していることにより、摺動体と保持体とが相対的に周方向に回転できない。また、挿通孔は軸心方向に貫通しているため、摺動体と保持体との相対回転は上記のように規制されつつも、これら摺動体と保持体とは軸心方向においては相対移動が可能となっている。すなわち、本構成に係る芯ずれ測定装置によれば、摺動体と保持体とが相対回転することによる測定誤差を防ぎつつ、これら摺動体と保持体との軸心方向における相対移動を許容して、測定対象の芯ずれを正確に測定することができる。
 また、前記支持体は、前記軸心方向に垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリットと、前記調整スリットの両側の面のうち前記保持体から遠い方の面を押圧して当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部と、と有し、前記調整押圧部は、前記軸心から前記径方向に離間した位置に配置されていると好適である。
 本構成によれば、調整スリットの両側の面のうち保持体から遠い方の面を押圧することにより調整スリットを開かせることができる。また、調整スリットを開かせるために当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部は、軸心から径方向に離間した位置に配置されている。そのため、調整押圧部の位置に相当する軸心から径方向に離間した部分ほど調整スリットの開きが大きくなり、軸心に近い部分ほど調整スリットの開きが小さくなる。すなわち、調整スリットが不均一に開くことで当該調整スリットを境に支持体が軸心方向に対して傾くことになり、支持体に支持されている保持体等の他の部材も軸心方向に対して傾くことになる。従って、本構成に係る芯ずれ測定装置によれば、調整押圧部により調整スリットを開閉させることで、芯ずれ測定装置の軸心方向に対する傾きを微調整することができる。その結果、芯ずれ測定装置が軸心方向に沿う姿勢となるように傾きを調整することができ、測定対象の芯ずれを正確に測定することができる。
 本開示に係る技術のさらなる特徴と利点は、図面を参照して記述する以下の例示的かつ非限定的な実施形態の説明によってより明確になるであろう。
本実施形態に係る芯ずれ測定装置の概要を示す正面図である。 同芯ずれ測定装置の正面図である。 同芯ずれ測定装置の要部断面図である。 図3におけるIV-IV断面図である。 同芯ずれ測定装置の平面図である。 同芯ずれ測定装置の底面図である。 同芯ずれ測定装置の右側面図である。 同芯ずれ測定装置の動きを示す左側面図である。 同芯ずれ測定装置の動きを模式的に示す図である。 芯ずれを測定する際の同芯ずれ測定装置の動きを説明する図である。 他の実施形態に係る芯ずれ測定装置の要部拡大図である。
〔本実施形態〕
 本実施形態に係る芯ずれ測定装置1について図面に基づいて説明する。図1に示すように、芯ずれ測定装置1は、例えば、工作機械としての旋盤に用いることができる。図1では、主軸心CXまわりにチャック91を回転させる回転駆動装置90に対して、軸心方向Xで対向する位置にセンタ92が取り付けられた芯押し台94が設けられている。そして、回転駆動装置90と芯押し台94とは、基台97により軸心方向Xで連結している。基台97には、軸心方向Xに移動自在な刃物台96が設けられている。このような旋盤においては、旋削対象のワーク(図示省略)の基端部を芯ずれ測定装置1が取り外された状態のチャック91で把持し、ワークの先端部を芯押し台94のセンタ92により軸心第1方向X1に押し付けることで、ワークを軸心方向Xの両端から固定する。そして、回転駆動装置90を作動させることによりワークを主軸心CXまわりに回転させると共に、当該回転するワークを刃物台96に取り付けられた刃物(図示省略)によって旋削するものである。ワークを正確に旋削するためには、チャック91の主軸心CXとセンタ92の中心とが一致する必要がある。芯ずれ測定装置1は、ワークを旋削する前に、主軸心CXに対するセンタ92の芯ずれを測定するものである。芯ずれ測定装置1は、チャック91に把持された円盤状の回転基盤93に取り付けられる。また、芯ずれ測定装置1は、主軸心CXに対して偏心した位置に配置されている。なお、図中に示すCXは、回転駆動装置90によってチャック91を回転させる回転軸心としての主軸心CXである。図2に示すMXは、芯ずれ測定装置1の軸心であり、主軸心CXを中心として旋回する移動軸心MXである。また、移動軸心MXを中心とする周方向を第1周方向C1とし、主軸心CXを中心とする周方向を第2周方向C2とする。
 図2及び図3に示すように、芯ずれ測定装置1は、軸心方向Xに貫通する貫通孔21を有する筒状のケース2と、ケース2の外面に取り付けられており、測定子32により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージ3と、移動軸心MXと同軸心かつ当該ケース2に対して回転自在に貫通孔21を貫通するように取り付けられた筒状の保持体4と、保持体4の基端側に取り付けられて保持体4を支持する支持体5と、保持体4の径方向Rの内側に設けられて当該保持体4に対して軸心方向Xに沿って移動可能な摺動体6と、摺動体6の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を摺動体6に伝達する揺動体7と、を備えている。なお、移動軸心MXは「ケースの軸心」に相当する。また、径方向Rとは、軸心方向Xに対して直交する方向である。本実施形態では、ある部材から見て、径方向Rに沿って移動軸心MXから遠ざかる方向を径外方向R1とし、移動軸心MXに近づく方向を径内方向R2とする。
 図5~図8に示すように、ケース2は、貫通孔21を有する略円筒状に形成されている。貫通孔21は、移動軸心MXに沿ってケース2を貫通して形成されている。ケース2の外面、すなわち径外方向R1を向く面には、ダイヤルゲージ3がボルト等により固定された状態で取り付けられている。本実施形態では、ダイヤルゲージとして、てこ式のダイヤルゲージ3が用いられる。ダイヤルゲージ3は、周知の構造であり、測定子32の微小な振れを歯車機構(図示省略)により拡大して、これを本体31に設けられたインジケータ33に表示させるように構成されている。
 図3に示すように、保持体4は、ケース2の径内方向R2において、ベアリングBを介してケース2に取り付けられている。このため、保持体4は、ケース2に対して移動軸心MXまわりに相対回転が可能となっている。本実施形態では、回転する保持体4に対してケース2が固定されるように構成されている。ケース2を固定させるために、ケース2には、固定ウェイト8が径外方向R1に突出した状態で取り付けられている(図8等参照)。固定ウェイト8は、ケース2の側面2か所に形成された取付穴8aのいずれかに取り付けることができる。取付穴8aの内周には雌ネジが切られており、固定ウェイト8の取付穴8aに対する取付部分には雄ネジが切られている。従って、固定ウェイト8と取付穴8aとが螺合することで、固定ウェイト8がケース2に対して取り付けられるように構成されている。固定ウェイト8は重く構成されている。そのため、固定ウェイト8が取り付けられた状態で芯ずれ測定装置1を作動させると、固定ウェイト8の重みによって、保持体4が移動軸心MXまわりに回転し、固定ウェイト8が垂直下方に位置した状態でケース2は固定された状態となる。ケース2が固定されることで、ケース2の外面に取り付けられたダイヤルゲージ3も固定される。本実施形態では、図5~図8に示すように、ケース2の外周面における固定ウェイト8の取付位置とダイヤルゲージ3の取付位置とが形成する移動軸心MXを中心とする円弧上の角度が、180°よりも少し小さい角度となるように構成されている。このため、固定ウェイト8が自重により垂直下方に位置すると、インジケータ33は上向きよりも固定ウェイト8側に少し傾いた方向に向くこととなり、使用者が芯ずれ測定装置1の側方からインジケータ33を確認するのが容易となる。なお、固定ウェイト8が取り付けられる取付穴8aは、軸心方向X視で、移動軸心MXを通る垂直線を基準とする線対称の位置に一対設けられている(図8参照)。そのため、使用者の立ち位置に合わせていずれかの取付穴8aを選んで、これに固定ウェイト8を取り付けることにより、芯ずれ測定装置1の両側方のいずれを立ち位置とする場合でも、ダイヤルゲージ3のインジケータ33を使用者に対向させることができる。
 図3に示すように、保持体4は、軸心方向Xに沿って延在する略円筒状であり、その内周面は径内方向R2において摺動体6及び揺動体7を保持するための保持部41となっている。また、保持体4は、後述する摺動体6の径方向延在部62に形成された挿通孔62aに内挿される挿入部42を有している(図4も参照)。挿入部42は、ケース2の外部に露出している。
 摺動体6は、保持体4の保持部41によって保持されている。摺動体6は、軸心方向Xに沿って形成される軸方向延在部61と、径方向Rに沿って形成される径方向延在部62と、を有している。本実施形態では、ダイヤルゲージ3の測定子32と摺動体6の径方向延在部62とが、当接するように構成されている。詳細には、本実施形態では、軸心方向Xから見たときに、測定子32の先端部分と径方向延在部62とが重複するように配置され(図4参照)、かつ、測定子32と径方向延在部62とが当接するように構成されている。また、測定子32は径方向延在部62に追従するように構成されており、測定子32と径方向延在部62とは、径方向延在部62が軸心方向X上を移動しても離間しないように構成されている。
 摺動体6は、径方向延在部62を軸心方向Xに貫通する挿通孔62aを有している。図4に示すように、本実施形態では、挿通孔62aは、径方向延在部62に3つ形成されている。3つの挿通孔62aは、第1周方向C1上で等間隔に配置されている。前述したように、本実施形態では、この挿通孔62aに対して、保持体4の挿入部42が内挿されるように構成されている。また、本実施形態では、3つの挿通孔62aに対応して、3つの挿入部42が保持体4に形成されている。本実施形態では、挿通孔62aに挿入部42が内挿された状態で、挿通孔62aの内周面と挿入部42の外周面の少なくとも一部が接触することにより、径方向延在部62に対して保持体4が第1周方向C1に回転しないように構成されている。詳細には、挿通孔62aの内周面と挿入部42の外周面のうち、摺動体6の移動軸心MXに近い側から遠い側に向かって延在する面同士が互いに接触するように構成されている。このため、挿入部42を有する保持体4と挿通孔62aを有する摺動体6とは、移動軸心MXまわりで一体回転する。言い換えれば、保持体4と摺動体6とは、相対回転が規制された状態となっている。一方で、挿入部42の外周面と挿通孔62aの内周面のうち接触している面以外の部分では、互いに接触しないように構成されている。すなわち、挿入部42と挿通孔62aとは、隙間なく嵌め合されたものではない。挿入部42を有する保持体4と挿通孔62aを有する摺動体6とは、軸心方向Xで相対移動可能となっている。本実施形態では、保持体4が軸心方向Xでケース2に対して固定されており、固定された保持体4に対して摺動体6が軸心方向Xに移動自在に構成されている。
 図3に示すように、軸方向延在部61の径内方向R2には、移動軸心MXに沿う有底孔である中空部61aが形成されている。中空部61aには、軸心方向Xにおける一方向である軸心第1方向X1及び他方向である軸心第2方向X2に向けて力を作用させる圧縮バネであるコイルバネSが設けられている。コイルバネSにおける軸心第2方向X2の端部は摺動体6と接触し、コイルバネSにおける軸心第1方向X1の端部は、支持体5と接触している。このため、コイルバネSは、摺動体6を軸心第2方向X2に付勢するように構成されている。
 また、軸方向延在部61における軸心第2方向X2の端部には、軸心第1方向X1に向かって縮径となるテーパ内周面61bが形成されている。テーパ内周面61bは、揺動体7と接触するように構成されている。
 揺動体7は、軸心方向Xに沿って配置されており、保持体4に保持された状態で、摺動体6における軸心第2方向X2の端部に取り付けられている。揺動体7は、摺動体6のテーパ内周面61bに接触する伝達部72と、測定対象に接触する測定部71と、を有している。そして、揺動体7は、伝達部72と測定部71との間に配置される支点軸73によって軸支されている。支点軸73は、径外方向R1から径内方向R2に向かって保持体4を貫通すると共に揺動体7に挿入されている。また、支点軸73と揺動体7との間には、ベアリング(図示省略)が介在されている。このため、揺動体7は、支点軸73まわりに揺動可能となっている。本実施形態では、揺動体7の揺動量が、摺動体6の軸方向延在部61を介して径方向延在部62に伝達されて、当該径方向延在部62に当接したダイヤルゲージ3の測定子32によって測定可能に構成されている。具体的には、図10に示すように、測定部71が揺動することにより支点軸73を介して伝達部72が揺動する。伝達部72は摺動体6のテーパ内周面61bに沿って揺動するため、摺動体6に対して軸心第1方向X1の力を作用させる。この力が、摺動体6を軸心第2方向X2に押し込むコイルバネSの力に抗って、摺動体6を軸心第1方向X1に移動させる。これにより、摺動体6の一部である径方向延在部62も軸心第1方向X1に移動し、径方向延在部62に当接するダイヤルゲージ3の測定子32が振れることになる。このようにして、芯ずれ測定装置1は、揺動体7の揺動量をダイヤルゲージ3により測定可能となっている。
 図2及び図3等に示すように、支持体5は、回転基盤93に取り付けられるための取付部51と、芯ずれ測定装置1の軸心方向Xに対する傾きを調整するための調整部52と、を有している。図7に示すように、支持体5の取付部51には、3つの磁石穴57が形成されており、この磁石穴57に圧入又は磁気力により取り付けられた磁石(図示省略)によって、支持体5が回転基盤93に取り付けられている。
 図3に示すように、支持体5は、軸心方向Xに垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリット53と、調整スリット53の両側の面のうち保持体4から遠い方の面である押圧面53aを押圧して当該調整スリット53が開くようにする調整押圧部54と、を有している。調整スリット53は、移動軸心MXから径方向Rに離間した位置に軸心方向Xに幅広に形成された拡張部53bを有している。拡張部53bは、調整スリット53の径方向Rにおける一端部に形成されている。調整スリット53の径方向Rにおける他端部は、支持体5の径外方向R1の外部と連通した状態となっている。
 調整押圧部54は、移動軸心MXから径外方向R1に離間した位置に配置されている。本実施形態では、調整押圧部54は、移動軸心MXを挟んで調整スリット53の拡張部53bと反対の位置に配置されている。調整押圧部54には、調整スリット53の押圧面53aを押圧するボール56と、支持体5を径外方向R1から貫通すると共に軸心第2方向X2からボール56に接触する調整ハンドル55と、が設けられている。調整ハンドル55は、支持体5に形成された雌ネジに対して螺合可能な雄ネジを先端に有している。また、調整ハンドル55の雄ネジの先端部分は、先端側に向かって縮径となるテーパ状に形成されている。ボール56は、調整ハンドル55の雄ネジのテーパ状に形成された先端部分と軸心第2方向X2で接触しつつ、調整スリット53の押圧面53aと軸心第1方向X1で接触している。調整ハンドル55を径内方向R2に向かってねじ込むことで、テーパ状に形成された調整ハンドル55の雄ネジの先端部分がボール56を軸心第1方向X1に向かって押し込むように構成されている。そして、調整ハンドル55の雄ネジによって押し込まれたボール56は、押圧面53aを軸心第1方向X1に向かって押圧する。この際、押圧面53aを押圧するボール56は、反作用により、押圧面53aから軸心第2方向X2に向かって押されることになる。その結果、調整スリット53が軸心方向Xに開いていき、支持体5における調整スリット53から軸心第2方向X2の部分が、調整スリット53の拡張部53bを支点に軸心方向Xに対して傾いていく。これにより、芯ずれ測定装置1の全体の傾きを調整することができる。そして、芯ずれ測定装置1の全体の傾きを、調整ハンドル55のねじ込み量によって微調整することができる。
 次に、芯ずれ測定装置1を用いたセンタ92の芯ずれの測定について説明する。図3に示すように、まず、センタ92を芯押し台94から取り去り、カップ状に形成された案内体95を芯押し台94に取り付ける。案内体95は、開口部95aが軸心第1方向X1に向くように、かつ、案内体95の軸心とセンタ92のセンタ軸心92Xとを一致させるようにして芯押し台94に取り付けられる。案内体95の内周には、揺動体7の測定部71を案内する案内面95bが形成されている。ここで、芯ずれ測定装置1は、測定部71の外面が案内面95bに当接するように、主軸心CXから偏心させて回転基盤93に取り付けられている。そして、案内面95bに揺動体7の測定部71を沿わせつつ、回転駆動装置90を作動させることにより、センタ92の芯ずれを測定する。ここで、案内面95bに対する測定部71の当接は、調整ハンドル55のねじ込み量を調整して芯ずれ測定装置1の全体を傾かせることで、調整することができる。すなわち、案内面95bに測定部71を当接させるために、大きくは回転基盤93に対する芯ずれ測定装置1の取り付け位置を調整し、最終的には調整ハンドル55のねじ込み量を微調整する。
 回転駆動装置90を作動させると、図8に示すように、芯ずれ測定装置1は、第2周方向C2に沿って主軸心CXを中心に旋回すると共に、第1周方向C1に沿って移動軸心MXまわりに自転する。この際、固定ウェイト8の重みにより、ケース2及びダイヤルゲージ3が固定されつつ、ケース2よりも内側に位置する部材が移動軸心MXまわりに自転する。
 センタ軸心92Xと主軸心CXとが一致していない場合には、例えば、図9に示すような状態となる。図9中の仮想線で示す円は、測定部71が主軸心CXを中心として旋回する旋回軌跡71Lを表したものである。図9に示すように、センタ軸心92Xと主軸心CXとは一致していないため、測定部71による旋回軌跡71Lに沿った旋回が、案内体95の案内面95bによって妨げられることになる。すなわちこの場合、測定部71は、一定範囲で案内面95bに沿って旋回し、当該一定範囲以外の範囲では案内面95bに接触しない状態で旋回軌跡71Lに沿って旋回する。図9に示すように、測定部71が案内面95bに沿って旋回している期間のうち測定部71が案内面95bに対して接触した直後及び離間する直前以外の期間は、当該測定部71は、案内面95bによってセンタ軸心92X方向に押されている状態である。そのため、図10に示すように、測定部71の旋回に連れて揺動体7が揺動して、この揺動量が、摺動体6を介してダイヤルゲージ3の測定子32に伝達される。すなわち、測定部71の揺動に伴い支点軸73を介して伝達部72も揺動する。伝達部72は摺動体6のテーパ内周面61bに沿って揺動するため、コイルバネSの力に抗って摺動体6を軸心第1方向X1に押し込むと共に当該摺動体6が軸心第1方向X1に移動する。その結果、摺動体6の一部である径方向延在部62も軸心第1方向X1に移動して、これに当接する測定子32が振れる。そして、図9に示すように、測定部71が案内面95bに接触しない状態で旋回している期間並びに測定部71が案内面95bに対して接触した直後及び離間する直前の期間は、測定部71は、案内面95bに押されていない状態である。そのため、図10において仮想線で示すように、揺動体7は揺動状態から元の状態に戻り、摺動体6はコイルバネSにより軸心第2方向X2に付勢されて軸心第2方向X2に移動して元の状態に戻る。そして、摺動体6の移動に伴い、径方向延在部62に当接するダイヤルゲージ3の測定子32も元の状態に戻る。このように、測定子32が、振れた状態と元の状態とを繰り返すことで、センタ軸心92Xが主軸心CXに対して一致していないことを確認することができる。
 ここで、センタ軸心92Xと主軸心CXとが一致している場合は、測定部71が案内面95bに当接しているものの、測定部71が揺動しないため、測定子32が振れることがない。従って、インジケータ33の指針も振れることがない。しかし、センタ軸心92Xと主軸心CXとが一致していても、例えば、案内体95の開口部95aの大きさが、測定部71の旋回軌跡71Lよりも小さい場合には、測定部71は、常に案内面95bに接触した状態で旋回することとなる。この場合であってもセンタ軸心92Xと主軸心CXとは一致しているため、測定部71の揺動量は常に一定となり、測定部71は揺動せず、ダイヤルゲージ3の測定子32も振れない。これにより、センタ軸心92Xと主軸心CXとが一致していることを確認することができる。
 以上は、センタ92の芯ずれの測定について述べたが、センタ軸心92Xと主軸心CXとを一致させる、いわゆる芯出しを行うには、ダイヤルゲージ3のインジケータ33が振れないか或いは一定の振れとなるように、前述した芯ずれの測定中に芯押し台94の座標位置を調整すれば良い。
〔その他の実施形態〕
(1)上記の実施形態では、芯ずれ測定装置1が、てこ式のダイヤルゲージ3を用いて構成された例について説明した。しかし、本発明はこのような構成に限定されない。すなわち、本発明に係る芯ずれ測定装置は、ストローク式のダイヤルゲージを用いて構成することもできる。図11に示すように、ストローク式のダイヤルゲージ3は、測定子32の突出量及び引退量によって微小な距離の変化量を測定するものである。この場合には、測定子32の突出方向及び引退方向を軸心方向Xに沿わせて、当該測定子32を軸心第2方向X2から摺動体6の径方向延在部62に当接させることにより、測定対象の芯ずれを測定することができる。この際、径方向延在部62の径方向Rの長さは、測定子32が当接できる長さに適宜調整されると良い。
(2)上記の実施形態では、ダイヤルゲージ3の測定子32が摺動体6の径方向延在部62に対して軸心第2方向X2から当接するように構成された例について説明した。しかし、本発明はこのような構成に限定されない。すなわち、測定子32は、径方向延在部62に対して軸心第1方向X1から当接するように構成されても良い。この場合であっても、軸心方向Xの移動量に変換された揺動体7の揺動量を、ダイヤルゲージ3により測定することができる。
(3)上記の実施形態では、ボール56によって押圧される押圧面53aが、調整スリット53の両側の面のうち保持体4から遠い方の面である例について説明した。しかし、本発明はこのような例に限定されない。すなわち、押圧面53aは、調整スリット53の両側の面のうち保持体4から近い方の面であっても良い。この場合には、調整スリット53に対して軸心第1方向X1の位置に、調整ハンドル55とボール56とが設けられる。また、調整ハンドル55は、軸心第1方向X1からボール56に当接するように構成される。この構成によっても、調整ハンドル55により押し込まれたボール56が押圧面53aを軸心第2方向X2に押圧することにより、調整スリット53を開かせることができる。従って、芯ずれ測定装置1の軸心方向Xに対する傾きを調整することができる。
(4)本発明は上記の各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。上記の各実施形態は、矛盾の生じない範囲で組み合わすことができる。
1   :芯ずれ測定装置
2   :ケース
3   :ダイヤルゲージ
4   :保持体
5   :支持体
6   :摺動体
7   :揺動体
21  :貫通孔
32  :測定子
42  :挿入部
53  :調整スリット
53a :押圧面
54  :調整押圧部
61  :軸方向延在部
62  :径方向延在部
62a :挿通孔
92X :センタ軸心
C1  :第1周方向
C2  :第2周方向
CX  :主軸心
MX  :移動軸心
R   :径方向
R1  :径外方向
R2  :径内方向
X   :軸心方向
X1  :軸心第1方向
X2  :軸心第2方向

Claims (3)

  1.  軸心方向に貫通する貫通孔を有する筒状のケースと、
     前記ケースの外面に取り付けられており、測定子により微小な距離の変化量を測定可能なダイヤルゲージと、
     前記ケースの前記軸心と同軸心かつ当該ケースに対して回転自在に前記貫通孔を貫通するように取り付けられた筒状の保持体と、
     前記保持体の基端側に取り付けられて前記保持体を支持する支持体と、
     前記保持体の径方向の内側に設けられて当該保持体に対して前記軸心方向に沿って移動可能な摺動体と、
     前記摺動体の先端側に取り付けられて、先端部分が揺動すると共に揺動量を前記摺動体に伝達する揺動体と、を備え、
     前記摺動体は、前記軸心方向に沿って形成される軸方向延在部と、前記径方向に沿って形成される径方向延在部と、を有し、
     前記ダイヤルゲージの前記測定子と前記摺動体の前記径方向延在部とが、当接するように構成され、
     前記揺動体の揺動量が、前記摺動体の前記軸方向延在部を介して前記径方向延在部に伝達されて、当該径方向延在部に当接した前記ダイヤルゲージの前記測定子によって測定可能に構成されている芯ずれ測定装置。
  2.  前記摺動体は、前記径方向延在部を前記軸心方向に貫通する挿通孔を有し、
     前記保持体は、前記挿通孔に内挿される挿入部を有し、
     前記挿通孔に前記挿入部が内挿された状態で、前記挿通孔の内周面と前記挿入部の外周面の少なくとも一部が接触することにより、前記径方向延在部に対して前記保持体が周方向に回転しないように構成されている請求項1に記載の芯ずれ測定装置。
  3.  前記支持体は、前記軸心方向に垂直な方向に沿って切り欠かれた調整スリットと、前記調整スリットの両側の面のうち前記保持体から遠い方の面を押圧して当該調整スリットが開く方向に力を作用させる調整押圧部と、と有し、
     前記調整押圧部は、前記軸心から前記径方向に離間した位置に配置されている請求項1又は2に記載の芯ずれ測定装置。
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