WO2017175860A1 - 半導体ウェハ - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の半導体ウェハ1は、サファイア基板10の一方の面上に、n型層30、活性層40、及びp型層60を含む素子層90を有する半導体ウェハである。そして、該素子層を表面が凸状に反っていることを特徴とする(図2)。
本発明の半導体ウェハは、該素子層90の表面が凸状に反っていることを特徴とする。そして、その反りの度合いを示す曲率が530km-1以上800km-1以下であることを特徴とする。なお、曲率は、XRD(X-Ray Diffraction)、レーザー変位計、干渉顕微鏡により測定できる。本発明において、曲率は、レーザー変位計で測定した値である。なお、該曲率は、電極を形成する前の半導体ウェハにおける素子層90の表面から求めた値である。すなわち、p型層60の最表面の曲率を意味し、p型層60がp型コンタクト層62を有する場合には、その表面の曲率をいう。また、表面の曲率が測定部位により異なる場合には、3点以上の測定点における曲率の平均値を意味する。
(サファイア基板)
サファイア基板10は、特に制限されるものではなく、公知の方法で製造された、公知の基板を用いることができる。該サファイア基板10の厚みは、特に制限されるものではなく、通常、300~600μmである。
本発明の半導体ウェハ1は、サファイア基板10上に、素子層90が形成される。素子層90の組成は、特に制限されるものではない。中でも、本発明の効果が顕著に発揮されるのは、該素子層90が、III族窒化物単結晶層から構成される場合であり、その中でも、AlxInyGazN(x、y、zは、0.3≦x≦1.0、0≦y≦0.7、0≦z≦0.7を満たす有理数であり、x+y+z=1.0である)で示される組成を満足するAlGaInN層で構成される場合である。その理由は、III族窒化物単結晶層、特に、前記組成のAlxInyGazN層は、特に、サファイア基板と格子定数の差が大きく、転位が入り易く、その結果、光出力が低下し易い傾向にある。本発明は、このような従来では高密度に転位が生じ、出力の低下がみられる半導体ウェハの層構成において、層構成を変更させることなく、光出力を高めることができる。そのため、本発明は、素子層90がAlを含む場合に優れた効果を発揮することができる。具体的には、発光ピーク波長が、紫外領域、具体的には、200~350nmの範囲にある紫外発光ダイオード(ウェハ)に適している。
本発明において、バッファ層を設ける場合、バッファ層20は、III族窒化物単結晶層からなることが好ましく、AlX1InY1GaZ1N(X1、Y1、Z1は、0.8≦X1≦1、0≦Y1≦0.2、0≦Z1≦0.2を満たす有理数であり、X1+Y1+Z1=1.0である)で示される組成を満足するAlGaInN層であることが好ましい。この中でも、本発明の半導体ウェハ1を紫外発光ダイオードに使用する場合には、0.9≦X1≦1、0≦Y1≦0.1、0≦Z1≦0.1であることが好ましく、生産性を考慮すると、AlNからなるバッファ層20を採用することが最も好ましい。
本発明において、サファイア基板10上には、必要に応じて前記バッファ層20を介して、n型層30を形成する。このn型層30とは、n型のドーパントがドープされている層である。このn型層30は、特に制限されるものではないが、例えば、Siをドーパントとして不純物濃度が1×1016~1×1021[cm-3]となる範囲で含まれることにより、n型層30がn型の導電特性を示すことが好ましい。ドーパント材料は、Si以外の材料であってもよい。
活性層40は、前記n型層30の上に形成される。活性層40は、例えば、1層以上の井戸層と障壁層により構成されればよい。井戸層と障壁層より構成される井戸数は、1つであってもよいし、2つ以上の複数であってもよい。複数ある場合には、特に制限されるものではないが、窒化物半導体発光素子の生産性を考慮すると、10以下であることが好ましい。また、n型層30と接する層は、井戸層、および障壁層の何れであってもよい。
活性層40は、障壁層と井戸層とからなる。そして、障壁層は、通常、井戸層よりもバンドギャップが大きくなる。つまり、障壁層は、井戸層よりも高いAl組成比のAlGaInN層で形成される。前記の通り、本発明の半導体ウェハは、紫外発光ダイオードに好適に適用できる。そのため、障壁層は、AlX3InY3GaZ3N(X3、Y3、Z3は、0.3≦X3≦1.0、0≦Y3≦0.7、0≦Z3≦0.7を満たす有理数であり、X3+Y3+Z3=1.0である)で示される組成を満足するAlGaInN層からなることが好ましい。また、障壁層42の厚みは、2~50nmであることが好ましい。
井戸層は、障壁層よりもバンドギャップが小さくなる。つまり、井戸層は、障壁層よりも低いAl組成比となるAlGaNの単結晶から形成される。前記の通り、本発明の半導体ウェハは、紫外発光ダイオードに好適に適用できる。そのため、井戸層は、AlX4InY4GaZ3N(X4、Y4、Z4は、0.1≦X4≦0.9、0.1≦Y4≦0.8、0≦Z4≦0.8を満たす有理数であり、X4+Y4+Z4=1.0である。ただし、X3>X4でありかつZ3≦Z4である。)で示される組成を満足するAlGaInN層からなることが好ましい。また、井戸層41の厚みは、1~20nmであることが好ましい。
本発明においては、前記活性層40の上に、直接、p型層60が形成されてもよいが、電子ブロック層50を介して、p型層60が形成されることが好ましい。電子ブロック層50は、電界をかけたことによりn型層30から活性層40へと注入された電子の一部がp型層60側に漏れることを抑制する。そのため、電子ブロック層50は後述するp型クラッド層60で代用することも可能であるが、電子ブロック層50を設けることにより、p型クラッド層のAl組成を下げる、かつ膜厚を薄くとすることができ、その結果、駆動電圧を低減できるという効果が得られる。
本発明においては、前記活性層40、又は必要の応じて設けられる電子ブロック層50上に、p型層60を形成する。このp型層60は、特に制限されるものではないが、p型クラッド層61、およびその上にp電極80が形成されるp型コンタクト層62からなることが好ましい。
本発明の半導体ウェハ1は、前記の通り、200~350nmの範囲にある紫外発光ダイオードに好適に適用できる。そのため、p型クラッド層61は、AlX6InY6GaZ6N(X6、Y6、Z6は、0.3≦X6≦1.0、0≦Y6≦0.7、0≦Z6≦0.7を満たす有理数とし、X6+Y6+Z6=1.0である)で示される組成を満足するAlInGaN層からなることが好ましい。
本発明においては、前記p型クラッド層61上に、p電極と接するp型コンタクト層62を設けることが好ましい。p型コンタクト層62を形成することにより、p電極80とのオーミック接触を実現し易くするとともに、その接触抵抗の低減を実現し易くすることができる。
n電極70は、n型層30の露出面に形成される。n電極70に用いられる材料は、様々挙げられるが公知の材料から選択することができる。たとえば、Ti、Al、Rh、Cr、V、In、Ni、及びPt、Auなどを用いる事ができる。中でも、Ti、Al、Rh、Cr、V、Ni、Auを使用することが好ましい。これら負電極は、これらの金属の合金または酸化物を含む層を有する単層、又は多層構造であってもよく、オーミック性および反射率の観点から好ましい組み合わせは、Ti/Al/Auである。厚みは、特に制限されるものではないが、生産の安定性を考えると2nm以上が好ましく、上限は2μmである。
p電極80は、p型コンタクト層62上に形成される。このp電極80は、紫外光に対して高い透過性を有するものであることが好ましい。具体的には、265nmの光に対して透過率60%以上、好適には70%以上である。特に制限されるものではないが、上限は100%であることが好ましく、工業的には90%以上であることが好ましい。
(サファイア基板の準備)
本発明においては、サファイア基板10上に素子層90を形成して半導体ウェハ1を製造する。使用するサファイア基板10は、(0001)面上に前記素子層を成長させることが好ましい。この(0001)面は、オフ角を有していてもよく、0~5°に傾斜している(0001)面上に素子層を形成することが好ましい。さらにm軸方向に傾いていることが好ましい。
本発明において、バッファ層20を設ける場合、好ましい組成は前記の通りである。本発明においては、特に制限されるものではないが、有機金属気相成長(MOCVD)法で成長することが好ましい。
n型層30の成長方法も、特に制限されるものではなく、MOCVD法で成長することが好ましい。バッファ層20を設けない場合には、サファイア基板10上には、このn型層30が直接積層される。n型層30を成長する条件は、公知の方法を採用することができる。サファイア基板10上、バッファ層20上の成長条件は同じ条件とすることができる。
次いで、活性層40も、前記バッファ層20、n型層30と同じく、所望の組成を満足するように、MOCVD法で成長することができる。活性層40を形成する条件は、公知の方法を採用することがでる。
必要に応じて形成される電子ブロック層50も、MOCVD法により成長させることができる。電子ブロック層50を形成する条件は、公知の方法を採用することができる。
(p型クラッド層61)
p型クラッド層61も、MOCVD法により成長させることができる。具体的には、AlおよびGa原料ガス、およびアンモニアに加えて、p型不純物を供給することにより製造される。p型不純物には、公知の材料を制限なく使用できるが、p型不純物の活性化エネルギーなどを勘案すると、Mgを使用することが好ましい。
p型コンタクト層62も同様に、MOCVD法により成長させることができ、p型クラッド層61と同じ不純物を添加することができる。
n電極70は、前記n型層30の露出面上に形成される。n型層30の露出面は、エッチング等の手段で形成される。エッチングの手法としては、好適には反応性イオンエッチング、誘導結合プラズマエッチング等のドライエッチングが挙げられる。前記n型層30の露出面を形成後、エッチングのダメージを除去するため、酸またはアルカリの溶液で表面処理を施すことが好ましい。また、n電極のパターンニングは、リフトオフ法を用いて実施することができる。
p電極80のパターニングは、リフトオフ法を用いることが好ましい。p電極80に用いられる金属材料は、前記の通りである。p電極80の金属を堆積する方法は、真空蒸着、スパッタリング、化学気相成長法等が挙げられるが、電極金属中の不純物を排除するため真空蒸着が好ましい。
結晶成長用基板にはサファイアC面((0001)面)単結晶基板(Φ2インチ×厚み330μm)を用いた。MOCVD装置を開放して5分間後、該サファイア基板をMOCVD装置内のサセプタ上に設置した後、水素を13slmの流量で流しながら、サファイア基板を1230℃まで加熱し、10分間保持した(熱処理工程)。
次いで、サファイア基板の温度を1180℃とし、トリメチルアルミニウム流量を13.1μmol/min、アンモニア流量を1slmとして、この際のV/III比3400となるように原料ガス流量を調整し、全流量が10slm、圧力が25Torrの条件で第一バッファ層としてAlN単結晶層を厚さ0.1μm形成した(第一成長工程;第一バッファ層の成長)。
次いで、サファイア基板上に第一バッファ層のAlN単結晶層が積層された基板の温度を1180℃とし、トリメチルアルミニウム流量を26μmol/min、アンモニア流量を0.5slmとして、この際のV/III比が850となるように原料ガス流量を調整し、全流量が10slm、圧力が25Torrの条件で第二バッファ層としてAlN単結晶層を1.9μm形成した(第二成長工程;第二バッファ層の成長)。
次いで、基板温度を1050℃とし、トリメチルアルミニウム流量を35μmol/min、トリメチルガリウム流量を18μmol/min、テトラエチルシラン流量を0.02μmol/min、アンモニア流量を1.5slmの条件で、Al組成70%、Ga組成30%、In組成0%のn型層30を2.0μm形成した。この間装置内の圧力は38Torrとした。このときX線ロッキングカーブの半値幅は(102)面:700arcsecであった。
次いで、基板温度を1060℃に設定し、温度が一定となった後、テトラエチルシラン流量を0.002μmol/min、トリメチルアルミニウム流量を13.3μmol/min、トリメチルガリウム流量を11.2μmol/min、とした以外は、前記n型層の成長条件と同条件でAl0.7Ga0.3N障壁層を7nm形成した。
次いで、トリメチルガリウム流量を40μmol/min、トリメチルアルミニウムを2μmol/minとした以外は、前記n型層を成長する条件と同条件でAl0.5Ga0.5N井戸層を2nm形成した。この井戸層と障壁層の成長を3回繰り返すことにより3重量子井戸層を形成した。この間装置内の圧力は38Torrとした。
次いで、トリメチルガリウムおよびテトラエチルシランの供給を停止し、基板温度を1100℃に設定した。温度が一定になった後、ビシシクロペンタジエニルマグネシウムを1.0μmol/minで供給した以外は、前記n型層の成長条件と同条件で電子ブロック層50を20nm形成した。このときAl組成は100%である。この間装置内の圧力は38Torrとした。
(p型クラッド層61の形成)
次いで、基板温度を固定したままビシシクロペンタジエニルマグネシウムを1.0μmol/minで供給した以外は、前記n型層の成長条件と同条件でp型クラッド層61を35nm形成した。このとき、Al組成70%、Ga組成30%、In組成0%であった。この間装置内の圧力は38Torrとした。
次いで、基板温度を1030℃、圧力を150Torrに変更した後、トリメチルガリウム流量が36.0μmol/min、アンモニア流量が2.5slm、ビシシクロペンタジエニルマグネシウム流量が0.66μmol/min、キャリアガス流量(水素)が3.5slmの条件で、p型コンタクト層62としてGaN層を240nm形成した。この間装置内の圧力は150Torrとした。このようにして半導体ウェハを製造した。
得られた半導体ウェハを窒素雰囲気中、20分間、900℃の条件で熱処理を行った。その後、p型コンタクト層62の表面にフォトリソグラフィーにより所定のレジストパターンを形成し、レジストパターンの形成されていない窓部を反応性イオンエッチングによりn型層30の表面が露出するまでエッチングした。その後、n型層30の表面に真空蒸着法によりn電極70として、Ti(20nm)/Al(200nm)/Au(5nm)電極(負電極)を形成し、窒素雰囲気中、1分間、810℃の条件で熱処理を行った。
次いで、p型コンタクト層62の表面に、真空蒸着法によりp電極80として、Ni(20nm)/Au(50nm)電極(正電極)を形成した後、酸素雰囲気中、3分間、550℃の条件で熱処理を行い、窒化物半導体発光素子を作製した。
実施例1においてバッファ層20における(第一成長工程)のトリメチルアルミニウム流量を13.1μmol/minとし、この際のV/III比を5100とした以外は全て同じ条件にて半導体ウェハ、半導体発光素子を作製した。実施例1と同様の評価を行ったところ、駆動電流30mAにおける光出力および波長は0.87mW、269nmであり、半導体ウェハの曲率は613km-1であった。結果を表1に示した。
実施例1においてバッファ層20における(第一成長工程)のトリメチルアルミニウム流量を6.6μmol/minとしこの際のV/III比を6800とした以外は全て同じ条件にて半導体ウェハ、半導体発光素子を作製した。実施例1と同様の評価を行ったところ、駆動電流30mAにおける光出力および波長は1.48mW、267nmであり、半導体ウェハの曲率は701km-1であった。結果を表1に示した。
(バッファ層20の形成)
実施例1において、サファイア基板をMOCVD装置に導入する前の開放時間を1分間とし、第一成長工程を実施しなかった以外は第二成長工程と同じ条件でバッファ層20を2μm成長した。
n型層30以降の成長条件等は、実施例1と同様の操作を行い、半導体ウェハ、半導体発光素子を作製した。また、この条件でn型層を形成した際のX線ロッキングカーブの半値幅(102)面を測定した。
10 サファイア基板
20 バッファ層
30 n型層
40 活性層
50 電子ブロック層
60 p型層
61 p型クラッド層
62 p型コンタクト層
70 n電極
80 p電極
Claims (8)
- サファイア基板の一方の面上に、n型層、活性層、及びp型層を含む素子層を有する半導体ウェハであって、
該素子層の表面が凸状に反っており、その曲率が530km-1以上800km-1以下であることを特徴とする半導体ウェハ。 - 前記サファイア基板の素子層を有する面が(0001)面であることを特徴とする請求項1に記載の半導体ウェハ。
- 前記素子層が、III族窒化物単結晶層からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体ウェハ。
- 前記III族窒化物単結晶層が、AlxInyGazN(x、y、zは、0.3≦x≦1.0、0≦y≦0.7、0≦z≦0.7を満たす有理数であり、x+y+z=1.0である)で示される組成を満足するAlGaInN層からなることを特徴とする請求項3に記載の半導体ウェハ。
- 前記サファイア基板の一方の面上と素子層との間に、AlxInyGazN(x、y、zは、0.8≦x≦1.0、0≦y≦0.2、0≦z≦0.2を満たす有理数であり、x+y+z=1.0である)からなるバッファ層を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体ウェハ。
- 前記バッファ層が第一バッファ層、及び第二バッファ層の2層を少なくとも有することを特徴とする請求項5に記載の半導体ウェハ。
- 請求項1~6の何れかに記載の半導体ウェハのn型層上にn電極を有し、p型層上にp電極を有することを特徴とする素子回路付半導体ウェハ。
- 請求項1~6の何れかに記載の半導体ウェハを切断して半導体チップとする工程を含む半導体発光素子の製造方法。
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