WO2017163964A1 - マイクロ波処理装置 - Google Patents

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oscillation
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大森 義治
吉野 浩二
岡島 利幸
宇野 博之
上島 博幸
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    • H05B6/74Mode transformers or mode stirrers

Definitions

  • the present disclosure relates to a microwave treatment apparatus (Microwave treatment apparatus) including a surface wave transmission line using a periodic structure.
  • the periodic structure such as a waveguide provided with a ladder circuit converts a microwave into a surface wave mode (Surface). Propagate in wave mode.
  • This conventional technique cannot detect the change in the power distribution of the electromagnetic field caused by the change in the characteristics of the periodic structure according to the shape, type, volume, etc. of the object to be heated. For this reason, the influence of an object to be heated cannot be corrected. As a result, the state of the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure cannot be maintained.
  • Patent Document 2 has a moving mechanism for changing the depth of the groove of the periodic structure in the space where the microwave propagates, and controls the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure. To do.
  • a microwave processing apparatus includes a heating chamber that accommodates an object to be heated, an oscillation source that oscillates microwaves and has a variable oscillation frequency of the microwave, and is provided in the heating chamber. And a waveguide for guiding the microwave to the heating chamber.
  • the microwave processing apparatus is further provided in the waveguide, and detects the electromagnetic wave received by the periodic structure, the detection antenna disposed near the periodic structure, and the periodic structure that propagates the microwave in the surface wave mode. And a control unit configured to control the oscillation source.
  • the control unit further recognizes the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure based on the electromagnetic waves detected by the detection unit, and sets the oscillation frequency to at least the first oscillation frequency according to the power distribution of the electromagnetic field,
  • the oscillation source is configured to be set to either the first oscillation frequency or a different second oscillation frequency.
  • the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure can be controlled by changing the oscillation frequency.
  • the oscillation frequency By detecting and correcting a change in the characteristics of the periodic structure due to the influence of the object to be heated, it is possible to maintain a desirable power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure.
  • desired burns can be applied to the object to be heated having various shapes, types, and volumes.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the microwave processing apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a configuration in the waveguide of the microwave processing apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating frequency characteristics of leakage power according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram showing the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the microwave processing apparatus according to the second embodiment.
  • a microwave processing apparatus is provided in a heating chamber that houses an object to be heated, an oscillation source that oscillates microwaves and the oscillation frequency of the microwave is variable, and a heating chamber.
  • a mounting table configured to mount an object to be heated and a waveguide for guiding the microwave to the heating chamber are provided.
  • the microwave processing apparatus is further provided in the waveguide, and detects the electromagnetic wave received by the periodic structure, the detection antenna disposed near the periodic structure, and the periodic structure that propagates the microwave in the surface wave mode. And a control unit configured to control the oscillation source.
  • the control unit further recognizes the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure based on the electromagnetic waves detected by the detection unit, and sets the oscillation frequency to at least the first oscillation frequency according to the power distribution of the electromagnetic field,
  • the oscillation source is configured to be set to either the first oscillation frequency or a different second oscillation frequency.
  • the control unit controls the oscillation source so as to vary the oscillation frequency, and based on the electromagnetic wave detected by the detection unit.
  • the frequency at which the concentration of the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure is maximized is specified, and the specified frequency is set as the first oscillation frequency.
  • the control unit is based on the electromagnetic wave detected by the detection unit while controlling the oscillation source so as to vary the oscillation frequency.
  • the frequency at which the concentration of the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure is minimized is specified, and the specified frequency is set as the second oscillation frequency.
  • the control unit changes the oscillation frequency during heating of the heated object in accordance with the state of the heated object. , Configured to control the oscillation source.
  • the control unit sets the frequency between the first oscillation frequency and the second oscillation frequency to the oscillation frequency. Configured.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating the configuration of the microwave processing apparatus 100 according to the first embodiment of the present disclosure, particularly the waveguide 6 and the heating chamber 11.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a configuration in the waveguide 6 provided in the microwave processing apparatus 100.
  • the microwave processing apparatus 100 includes an oscillation source 1, an antenna 2, a metal plate 3, a mounting table 4, a periodic structure 5, a waveguide 6, and a heating chamber 11.
  • Oscillation source 1 oscillates microwaves.
  • the oscillation frequency of the microwave from the oscillation source 1 is variable.
  • the control unit 10 is composed of a microcomputer and controls the oscillation source 1 so as to change the oscillation frequency of the microwave.
  • the oscillation source 1 may include an oscillator and an amplifier made of a semiconductor element. In the case of the oscillation source 1 including an oscillator and an amplifier, the oscillation frequency can be easily controlled by the control unit 10.
  • the waveguide 6 is provided in the vicinity of the mounting table 4 below the heating chamber 11 and extends from the place where the antenna 2 is installed to below the heating chamber 11.
  • the metal plate 3 is a plurality of metal plates perpendicular to the inner wall surface of the waveguide 6.
  • the periodic structure 5 is configured by periodically arranging a plurality of metal plates in the waveguide 6 at regular intervals.
  • the microwave becomes a slow wave in the range where the periodic structure 5 is provided, and propagates above the metal plate 3 in the surface wave mode.
  • the power distribution of the electromagnetic field concentrates near the upper side of the metal plate 3.
  • the heated object 7 When the heated object 7 is placed on the mounting table 4, the heated object 7 comes close to the periodic structure 5. Since the side of the waveguide 6 that faces the mounting table 4 is open, the heated object 7 is heated from below by the concentration of the electromagnetic field power distribution in the vicinity of the upper side of the metal plate 3.
  • FIG. 3 shows leakage power from the periodic structure 5 at an oscillation frequency in a band from 2.4 GHz to 2.5 GHz.
  • the horizontal axis represents the oscillation frequency of the oscillation source 1
  • the vertical axis represents the leakage power measured at a position away from the periodic structure 5 by a predetermined distance.
  • the power distribution of the electromagnetic field is not so concentrated in the vicinity of the periodic structure 5, and the leakage power increases when the microwave diffuses into the space.
  • the leakage power is reduced.
  • the leakage power changes according to the oscillation frequency of the oscillation source 1.
  • the microwave is delayed in the range where the periodic structure 5 is provided by setting an appropriate oscillation frequency, and the upper side of the metal plate 3 in the surface wave mode. To propagate. As a result, the power distribution of the electromagnetic field concentrates near the upper side of the metal plate 3.
  • FIG. 4 shows the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure 5.
  • the horizontal axis represents electromagnetic field power
  • the vertical axis represents the vertical distance (ie, height) from the periodic structure 5.
  • the graph indicated by the solid line represents the power distribution of the electromagnetic field due to the 2.41 GHz microwave
  • the graph indicated by the dotted line represents the power distribution of the electromagnetic field due to the microwave of 2.46 GHz.
  • the electromagnetic field power becomes maximum in the vicinity of the periodic structure 5 and decreases as the distance from the periodic structure 5 increases.
  • the electromagnetic field power distribution concentrates more strongly in the vicinity of the periodic structure 5, and abruptly attenuates away from the periodic structure 5.
  • the concentration in the vicinity of the periodic structure 5 is weakened, and when it is away from the periodic structure 5, it gradually attenuates and the electromagnetic wave power is distributed over a wide range.
  • the oscillation frequency at which the leakage power is minimum in the range of 2.4 GHz to 2.5 GHz is referred to as the first oscillation frequency.
  • the oscillation frequency at which the leakage power is maximized is referred to as the second oscillation frequency.
  • the oscillation frequency when the oscillation frequency is set to the first oscillation frequency, the power distribution of the electromagnetic field can be concentrated in the vicinity of the periodic structure 5.
  • the oscillation frequency when the oscillation frequency is set to the second oscillation frequency, the microwave can be diffused in a space away from the periodic structure 5. As shown in FIG. 3, the leakage power with respect to the oscillation frequency changes continuously.
  • the periodic structure 5 is set by setting the first oscillation frequency, the second oscillation frequency, and the frequency between the first oscillation frequency and the second oscillation frequency to the oscillation frequency. It is possible to control the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of.
  • the oscillation frequency of the oscillation source 1 can be easily and safely set by an electric signal from the control unit 10. For this reason, it is not necessary to stop the oscillation source 1 in order to change the power distribution of the electromagnetic field. Since a mechanism for setting the oscillation frequency of the oscillation source 1 is unnecessary, the apparatus can be reduced in size.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the microwave processing apparatus 101.
  • the same or corresponding parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
  • the detection antenna 9 is disposed in the heating chamber 11 in the vicinity of the periodic structure 5.
  • the detection unit 8 detects the electromagnetic wave received by the detection antenna 9.
  • the control unit 10 can recognize the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure 5 according to the electromagnetic wave detected by the detection unit 8.
  • the detection antenna 9 may be arranged at a position where it can detect the microwave of the surface wave mode propagating through the periodic structure 5.
  • the detection antenna 9 may be arranged at a position where microwaves radiated into the space can be detected.
  • the heated object 7 placed on the placing table 4 affects the microwave propagating near the tip of the metal plate 3 and disturbs the propagation in the surface wave mode.
  • the influence on the microwave varies depending on the shape, type, volume, temperature, and the like of the article 7 to be heated.
  • control unit 10 controls the oscillation source 1 so as to vary the oscillation frequency
  • detection unit 8 detects the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of the periodic structure 5.
  • the control unit 10 Based on the detected power distribution of the electromagnetic field, the control unit 10 shows the leakage power indicating the state of the power distribution of the electromagnetic field under the condition including the influence of the heated object 7 as shown in the graph of FIG. Get frequency characteristics.
  • the controller 10 determines the first and second oscillation frequencies based on the obtained frequency characteristics of the leakage power.
  • the microwave processing apparatus 101 can obtain a desired heating performance in which a change in the frequency characteristics of the periodic structure 5 due to the article 7 to be heated is corrected.
  • the control unit 10 controls the oscillation source 1 so as to change the oscillation frequency in accordance with the state of the heated object 7 during the heating of the heated object 7. It is possible to change the power distribution of the electromagnetic field in the vicinity of. As a result, the microwave processing apparatus 101 can apply desired burns to the heated object 7 having various shapes, types, and volumes.
  • the microwave processing apparatus can be applied to a heating apparatus using dielectric heating, such as a microwave oven or a garbage disposal machine.

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Abstract

マイクロ波処理装置(101)は、加熱室(11)と、マイクロ波の発振源(1)と、加熱室(11)内に設けられ被加熱物(7)を載置するための載置台(4)と、マイクロ波を加熱室(11)に導く導波管(6)とを備える。マイクロ波処理装置(101)はさらに、導波管(6)内に設けられマイクロ波を表面波モードで伝播させる周期構造体(5)と、周期構造体(5)の近傍の検知アンテナ(9)と、検知アンテナ(9)で受信された電磁波を検知する検知部(8)と、発振源(1)を制御する制御部(10)を備える。制御部(10)は、検知された電磁波に基づいて周期構造体(5)の近傍の電磁界の電力分布を認識し、電磁界の電力分布に応じて発振周波数を第1の発振周波数、第2の発振周波数のいずれかに設定するように発振源(1)を制御する。本態様によれば、周期構造体の特性の変化を補正することにより、周期構造体の近傍における望ましい電磁界の電力分布を維持することができる。

Description

マイクロ波処理装置
 本開示は、周期構造体を用いた表面波伝送線路を備えたマイクロ波処理装置(Microwave treatment apparatus)に関する。
 従来、この種のマイクロ波処理装置として、リッジ(Ridge)部とスロット(Slot)部とを有する梯子回路を備えた導波管を有するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。この従来技術によれば、梯子回路による電磁界の電力分布の集中を利用することにより、焦げ目付けと誘電加熱とを、被加熱物に対して同時に行うことができる。リッジ部を移動させると、電磁界の電力分布の集中を調整することもできる。
 これ以外にも、周期構造体で構成された加熱プレートを有し、加熱プレートにマイクロ波を励振させるものが知られている(例えば、特許文献2参照)。この従来技術によれば、周期構造体の溝の深さを変更することで、表面波加熱の強度を調整し、上下方向の加熱分布を制御することができる。
特開昭49-16944号公報 特開平5-66019号公報
 特許文献1に記載の従来技術では、周期構造体の近傍に電磁界の電力分布を集中させるために、梯子回路を備えた導波管などの周期構造体が、マイクロ波を表面波モード(Surface wave mode)で伝播する。
 この従来技術では、被加熱物の形状・種類・体積などに応じて周期構造体の特性が変化することにより生じる電磁界の電力分布の変化を検知することができない。このため、被加熱物の影響を補正することができない。その結果、周期構造体の近傍における電磁界の電力分布の状態を維持することができない。
 特許文献2に記載された従来技術は、マイクロ波が伝播する空間において周期構造体の溝の深さを変更するための移動機構を有し、周期構造体の近傍における電磁界の電力分布を制御する。
 この構成では、放電防止のため、移動機構と周辺構造体とを確実に電気的に接続させる必要がある。移動機構に動力を伝達するための孔からの、マイクロ波の漏洩を防止するための対策も必要である。移動機構を駆動するためのモータが必要であるため、装置の小型化が容易ではない。
 本開示の一態様のマイクロ波処理装置は、被加熱物を収容する加熱室と、マイクロ波を発振し、マイクロ波の発振周波数が可変である発振源と、加熱室内に設けられ、被加熱物を載置するように構成された載置台と、マイクロ波を加熱室に導く導波管とを備える。
 マイクロ波処理装置はさらに、導波管内に設けられ、マイクロ波を表面波モードで伝播させる周期構造体と、周期構造体の近傍に配置された検知アンテナと、検知アンテナにより受信された電磁波を検知する検知部と、発振源を制御するように構成された制御部とを備える。
 制御部はさらに、検知部により検知された電磁波に基づいて周期構造体の近傍における電磁界の電力分布を認識し、電磁界の電力分布に応じて、発振周波数を少なくとも第1の発振周波数と、第1の発振周波数と異なる第2の発振周波数とのいずれかに設定するように発振源を制御するように構成される。
 本態様によれば、発振周波数を変更することにより、周期構造体の近傍における電磁界の電力分布を制御することができる。被加熱物の影響による周期構造体の特性の変化を検知し補正することにより、周期構造体の近傍における望ましい電磁界の電力分布を維持することができる。その結果、さまざまな形状・種類・体積の被加熱物に所望の焦げ目を付けることができる。
図1は、実施の形態1に係るマイクロ波処理装置の構成を示す概略断面図である。 図2は、実施の形態1に係るマイクロ波処理装置の導波管内の構成を示す透視斜視図である。 図3は、実施の形態1に係る漏洩電力の周波数特性を示す図である。 図4は、実施の形態1に係る周期構造体近傍における電磁界の電力分布を示す図である。 図5は、実施の形態2に係るマイクロ波処理装置の構成を示す概略断面図である。
 本開示の第1の態様に係るマイクロ波処理装置は、被加熱物を収容する加熱室と、マイクロ波を発振し、マイクロ波の発振周波数が可変である発振源と、加熱室内に設けられ、被加熱物を載置するように構成された載置台と、マイクロ波を加熱室に導く導波管とを備える。
 マイクロ波処理装置はさらに、導波管内に設けられ、マイクロ波を表面波モードで伝播させる周期構造体と、周期構造体の近傍に配置された検知アンテナと、検知アンテナにより受信された電磁波を検知する検知部と、発振源を制御するように構成された制御部とを備える。
 制御部はさらに、検知部により検知された電磁波に基づいて周期構造体の近傍における電磁界の電力分布を認識し、電磁界の電力分布に応じて、発振周波数を少なくとも第1の発振周波数と、第1の発振周波数と異なる第2の発振周波数とのいずれかに設定するように発振源を制御するように構成される。
 本開示の第2の態様に係るマイクロ波処理装置によれば、第1の態様において、制御部が、発振周波数を変動させるように発振源を制御しながら、検知部により検知された電磁波に基づいて、周期構造体の近傍における電磁界の電力分布の集中が最大となる周波数を特定し、特定された周波数を第1の発振周波数に設定するように構成される。
 本開示の第3の態様に係るマイクロ波処理装置によれば、第1の態様において、制御部が、発振周波数を変動させるように発振源を制御しながら、検知部により検知された電磁波に基づいて、周期構造体の近傍における電磁界の電力分布の集中が最小となる周波数を特定し、特定された周波数を第2の発振周波数に設定するように構成される。
 本開示の第4の態様に係るマイクロ波処理装置によれば、第1の態様において、制御部が、被加熱物の状態に応じて、被加熱物の加熱中に発振周波数を変更するように、発振源を制御するように構成される。
 本開示の第5の態様に係るマイクロ波処理装置によれば、第1の態様において、制御部が、第1の発振周波数と第2の発振周波数との間の周波数を発振周波数に設定するように構成される。
 以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
 (実施の形態1)
 図1は、本開示の実施の形態1に係るマイクロ波処理装置100の、特に導波管6および加熱室11の構成を示す概略断面図である。図2は、マイクロ波処理装置100に設けられた導波管6内の構成を示す透視斜視図である。
 図1、図2に示すように、マイクロ波処理装置100は、発振源1とアンテナ2と金属製板3と載置台4と周期構造体5と導波管6と加熱室11とを有する。
 発振源1はマイクロ波を発振する。発振源1からのマイクロ波の発振周波数は可変である。制御部10は、マイクロコンピュータで構成され、マイクロ波の発振周波数を変更するように発振源1を制御する。発振源1は、発振器と半導体素子製の増幅器とを備えてもよい。発振器と増幅器とを備えた発振源1の場合、制御部10により発振周波数を容易に制御することができる。
 導波管6は、加熱室11の下方に載置台4に近接して設けられ、アンテナ2の設置場所から加熱室11の下方まで延在する。金属製板3は、導波管6の内壁面に対して垂直な複数の金属製板である。複数の金属製板が導波管6内に一定間隔で周期的に配置されることで、周期構造体5が構成される。
 金属製板3の高さや間隔などを最適化すると、周期構造体5が設けられた範囲において、マイクロ波は遅波(Slow wave)となり、表面波モードで金属製板3の上側を伝播する。その結果、金属製板3の上側近傍に電磁界の電力分布が集中する。
 被加熱物7が載置台4に載置されると、被加熱物7は周期構造体5に近接する。導波管6の載置台4に対向する側は開放されているため、金属製板3の上側近傍における電磁界の電力分布の集中により、被加熱物7が下方から加熱される。
 以上のように構成されたマイクロ波処理装置について、その動作、作用を説明する。
 図3は、2.4GHzから2.5GHzまでの帯域の発振周波数における、周期構造体5からの漏洩電力を示す。図3において、横軸は発振源1の発振周波数を表し、縦軸は、周期構造体5から所定距離離れた位置で測定された漏洩電力を表す。
 周期構造体5の近傍に電磁界の電力分布があまり集中せず、マイクロ波が空間に拡散する場合、漏洩電力は大きくなる。周期構造体5の近傍に電磁界の電力分布が集中し、マイクロ波が空間に拡散しない場合、漏洩電力は小さくなる。
 図3に示すように、漏洩電力は、発振源1の発振周波数に応じて変化する。金属製板3の高さや間隔などの最適化に加え、適切な発振周波数の設定により、周期構造体5が設けられた範囲では、マイクロ波は遅波となり、表面波モードで金属製板3上側を伝播する。その結果、金属製板3の上側近傍に電磁界の電力分布が集中する。
 図4は、周期構造体5の近傍における電磁界の電力分布を示す。図4において、横軸は電磁界電力を表し、縦軸は、周期構造体5からの上下方向の距離(すなわち高さ)を示す。図4において、実線で示すグラフは、2.41GHzのマイクロ波による電磁界の電力分布を表し、点線で示すグラフは、2.46GHzのマイクロ波による電磁界の電力分布を示す。
 図3、図4に示すように、どちらの場合も、電磁界電力は周期構造体5の近傍で最大となり、周期構造体5から離れるにつれて減少する。
 漏洩電力が最小となる発振周波数(2.41GHz)では、電磁界の電力分布は、周期構造体5の近傍により強く集中し、周期構造体5から離れると急激に減衰する。これに対し、漏洩電力が最大となる発振周波数(2.46GHz)では、周期構造体5の近傍での集中が弱くなり、周期構造体5から離れると緩やかに減衰し、広範囲に電磁波電力が分布する。
 以後、2.4GHzから2.5GHzの範囲で、漏洩電力が最小となる発振周波数を第1の発振周波数という。漏洩電力が最大となる発振周波数を第2の発振周波数という。発振周波数が第1の発振周波数である場合、電磁界の電力分布の集中が最大となり、発振周波数が第2の発振周波数である場合、電磁界の電力分布の集中が最小となる。
 すなわち、発振周波数を第1の発振周波数に設定すると、周期構造体5の近傍に電磁界の電力分布を集中させることができる。発振周波数を第2の発振周波数に設定すると、周期構造体5から離れた空間にマイクロ波を拡散させることができる。図3に示すように、発振周波数に対する漏洩電力は連続的に変化する。
 本実施の形態によれば、第1の発振周波数と第2の発振周波数と、第1の発振周波数および第2の発振周波数の間の周波数とを発振周波数に設定することにより、周期構造体5の近傍における電磁界の電力分布を制御することができる。
 発振源1の発振周波数の設定は、制御部10からの電気信号により容易に安全に行うことができる。このため、電磁界の電力分布の変更のために発振源1を停止させる必要がない。発振源1の発振周波数の設定のための機構は不要であるため、装置の小型化が可能である。
 (実施の形態2)
 以下、本開示の実施の形態2に係るマイクロ波処理装置101について説明する。
 図5は、マイクロ波処理装置101の構成を示す概略断面図である。本実施の形態の説明において、実施の形態1と同一または相当部分には同じ参照符号を付し、重複する説明を省略する。
 図5に示すように、周期構造体5の近傍の加熱室11内に検知アンテナ9が配置される。検知部8は、検知アンテナ9により受信された電磁波を検知する。制御部10は、検知部8により検知された電磁波に応じて、周期構造体5の近傍における電磁界の電力分布を認識することができる。
 検知アンテナ9は、周期構造体5を伝播する表面波モードのマイクロ波を検知することができる位置に配置されても良い。検知アンテナ9は、空間に放射されるマイクロ波を検知することができる位置に配置されも良い。
 被加熱物7は、載置台4上に載置されると、周期構造体5に近接する。載置台4に載置された被加熱物7は、金属製板3の先端近傍を伝播するマイクロ波に影響を及ぼし、表面波モードでの伝播を乱す。マイクロ波への影響は、被加熱物7の形状、種類、体積、温度などにより異なる。
 本実施の形態によれば、制御部10が、発振周波数を変動させるように発振源1を制御しながら、検知部8が、周期構造体5の近傍における電磁界の電力分布を検知する。
 制御部10は、検知された電磁界の電力分布に基づいて、図3のグラフに示すような、被加熱物7の影響を含む条件の下の電磁界の電力分布の状態を示す漏洩電力の周波数特性を得る。制御部10は、得られた漏洩電力の周波数特性に基づいて、第1および第2の発振周波数を決定する。
 これにより、マイクロ波処理装置101は、被加熱物7による周期構造体5の周波数特性の変化を補正した、所望の加熱性能を得ることができる。
 本実施の形態によれば、制御部10が、被加熱物7の加熱中に、被加熱物7の状態に応じて発振周波数を変更するように発振源1を制御して、周期構造体5の近傍における電磁界の電力分布を変更することができる。その結果、マイクロ波処理装置101は、さまざまな形状・種類・体積の被加熱物7に所望の焦げ目を付けることができる。
 本開示に係るマイクロ波処理装置は、電子レンジや生ゴミ処理機などの、誘電加熱を利用した加熱装置に適用可能である。
 1 発振源
 2 アンテナ
 3 金属製板
 4 載置台
 5 周期構造体
 6 導波管
 7 被加熱物
 8 検知部
 9 検知アンテナ
 10 制御部
 11 加熱室
 100,101 マイクロ波処理装置

Claims (5)

  1.  被加熱物を収容する加熱室と、
     マイクロ波を発振し、前記マイクロ波の発振周波数が可変である発振源と、
     前記加熱室内に設けられ、前記被加熱物を載置するように構成された載置台と、
     前記マイクロ波を前記加熱室に導く導波管と、
     前記導波管内に設けられ、マイクロ波を表面波モードで伝播させる周期構造体と、
     前記周期構造体の近傍に配置された検知アンテナと、
     前記検知アンテナにより受信された電磁波を検知する検知部と、
     前記発振源を制御するとともに、前記検知部により検知された前記電磁波に基づいて前記周期構造体の近傍における電磁界の電力分布を認識し、前記電磁界の前記電力分布に応じて、前記発振周波数を少なくとも第1の発振周波数と、前記第1の発振周波数と異なる第2の発振周波数とのいずれかに設定するように前記発振源を制御するように構成された制御部と、
    を備えたマイクロ波処理装置。
  2.  前記制御部が、前記発振周波数を変動させるように前記発振源を制御しながら、前記検知部により検知された前記電磁波に基づいて、前記周期構造体の近傍における電磁界の電力分布の集中が最大となる周波数を特定し、前記特定された周波数を前記第1の発振周波数に設定するように構成された請求項1に記載のマイクロ波処理装置。
  3.  前記制御部が、前記発振周波数を変動させるように前記発振源を制御しながら、前記検知部により検知された前記電磁波に基づいて、前記周期構造体の近傍における電磁界の電力分布の集中が最小となる周波数を特定し、前記特定された周波数を前記第2の発振周波数に設定するように構成された請求項1に記載のマイクロ波処理装置。
  4.  前記制御部が、前記被加熱物の状態に応じて、前記被加熱物の加熱中に前記発振周波数を変更するように、前記発振源を制御するように構成された請求項1に記載のマイクロ波処理装置。
  5.  前記制御部が、前記第1の発振周波数と前記第2の発振周波数との間の周波数を前記発振周波数に設定するように構成された請求項1に記載のマイクロ波処理装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019187457A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 マイクロ波加熱装置
WO2019194098A1 (ja) * 2018-04-06 2019-10-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2019185965A (ja) * 2018-04-06 2019-10-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2019185964A (ja) * 2018-04-06 2019-10-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2020167011A (ja) * 2019-03-29 2020-10-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109315028B (zh) * 2016-06-30 2021-07-02 松下知识产权经营株式会社 高频加热装置
CN111432514A (zh) * 2020-03-23 2020-07-17 成都赛纳微波科技有限公司 一种模块化周期加载微波加热设备
CN114245506B (zh) * 2021-12-10 2024-08-20 广东美的厨房电器制造有限公司 烹饪设备
CN114269035B (zh) * 2021-12-10 2024-08-09 广东美的厨房电器制造有限公司 烹饪设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009157110A1 (ja) * 2008-06-25 2009-12-30 パナソニック株式会社 マイクロ波加熱装置
WO2011004561A1 (ja) * 2009-07-10 2011-01-13 パナソニック株式会社 マイクロ波加熱装置およびマイクロ波加熱制御方法
JP2015162273A (ja) * 2014-02-26 2015-09-07 パナソニック株式会社 マイクロ波処理装置
JP2015220189A (ja) * 2014-05-21 2015-12-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1063681A (en) * 1975-04-30 1979-10-02 Shigeru Kusunoki Microwave heating apparatus with movable waveguide and support
JPS5824398Y2 (ja) * 1980-06-19 1983-05-25 松下電器産業株式会社 高周波加熱装置
JPH04371724A (ja) * 1991-06-19 1992-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波加熱装置
JPH06260275A (ja) * 1993-03-03 1994-09-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波加熱装置
JP2015162272A (ja) * 2014-02-26 2015-09-07 パナソニック株式会社 マイクロ波処理装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009157110A1 (ja) * 2008-06-25 2009-12-30 パナソニック株式会社 マイクロ波加熱装置
WO2011004561A1 (ja) * 2009-07-10 2011-01-13 パナソニック株式会社 マイクロ波加熱装置およびマイクロ波加熱制御方法
JP2015162273A (ja) * 2014-02-26 2015-09-07 パナソニック株式会社 マイクロ波処理装置
JP2015220189A (ja) * 2014-05-21 2015-12-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019187457A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 マイクロ波加熱装置
JPWO2019187457A1 (ja) * 2018-03-26 2021-03-11 パナソニックIpマネジメント株式会社 マイクロ波加熱装置
JP7203329B2 (ja) 2018-03-26 2023-01-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 マイクロ波加熱装置
WO2019194098A1 (ja) * 2018-04-06 2019-10-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2019185965A (ja) * 2018-04-06 2019-10-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2019185964A (ja) * 2018-04-06 2019-10-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
CN111066375A (zh) * 2018-04-06 2020-04-24 松下知识产权经营株式会社 高频加热装置
CN111066375B (zh) * 2018-04-06 2022-03-04 松下知识产权经营株式会社 高频加热装置
JP7113209B2 (ja) 2018-04-06 2022-08-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP2020167011A (ja) * 2019-03-29 2020-10-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置
JP7285413B2 (ja) 2019-03-29 2023-06-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 高周波加熱装置

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