WO2017150403A1 - 表示装置及び表示装置の検査方法 - Google Patents

Abstract

液晶表示装置１０は、表示面１１ＤＳを有するＣＦ基板１１ａと、ＣＦ基板１１ａに対して表示面１１ＤＳ側とは反対側に重なる形で配されるアレイ基板１１ｂと、を備える液晶パネル１１と、アレイ基板１１ｂに接続される制御回路基板１２と、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳ側に配される導電層１９と、一端側が導電層１９に接続される複数の導電部材２０と、一端側が複数の導電部材２０の他端側にそれぞれ接続される複数の接続配線２１と、複数の接続配線２１の少なくともいずれか１つにおける他端側に接続されるグランド部１２ａと、複数の接続配線２１における他端側にそれぞれ接続される複数の検査端子部２２と、を備える。

Description

表示装置及び表示装置の検査方法

　本発明は、表示装置及び表示装置の検査方法に関する。

　従来、液晶表示装置の一例として下記特許文献１に記載されたものが知られている。特許文献１に記載された液晶表示装置では、対向基板の表面に透明導電樹脂部が設けられる一方、電極パッド部上に透明導電樹脂部およびＧＮＤ接続線に電気的に接続されるＧＮＤ接続用電極部が設けられる。そして、液晶パネルの表面の帯電を、透明導電樹脂部、ＧＮＤ接続用電極部、電極接続線およびＦＰＣ側ＧＮＤ接続線を経由して、セット側プリント基板の接地へ逃がすようにしている。

特開２０１０－１６４８００号公報

（発明が解決しようとする課題）
　上記した特許文献１に記載された液晶表示装置によれば、透明導電樹脂部がセット側プリント基板の接地に対して適切に接続されているか否かを検査する場合には、透明導電樹脂部とセット側プリント基板の接地との間の抵抗値を測定することが考えられる。ところが、液晶表示装置の製造段階において、例えば液晶パネルの表面が枠状のベゼルによって覆われるなどした状況では、透明導電樹脂部に検査装置を直接コンタクトさせるのが困難となって検査を実行できない、といった問題が生じていた。

　本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、検査を行う時機の自由度を高めることを目的とする。

（課題を解決するための手段）
　本発明の表示装置は、画像を表示するための表示パネルであって、表示面を有する第１基板と、前記第１基板に対して前記表示面側とは反対側に重なる形で配される第２基板と、を備える表示パネルと、前記第２基板に接続されるパネル接続基板と、前記第１基板の前記表示面側に配される導電層と、前記第１基板の前記表示面と前記第２基板における前記第１基板側の板面とに跨る形で配されて一端側が前記導電層に接続される複数の導電部材と、前記第２基板と前記パネル接続基板とに跨る形で配索されて一端側が複数の前記導電部材の他端側にそれぞれ接続される複数の接続配線と、前記パネル接続基板に設けられて複数の前記接続配線の少なくともいずれか１つにおける他端側に接続されるグランド部と、前記パネル接続基板に設けられて複数の前記接続配線における他端側にそれぞれ接続される複数の端子部と、を備える。

　このようにすれば、第１基板の表示面に配される導電層には、第１基板の表示面と第２基板における第１基板側の板面とに跨る形で配される複数の導電部材の一端側がそれぞれ接続され、それらの導電部材の他端側には、第２基板とパネル接続基板とに跨る形で配索される複数の接続配線の一端側がそれぞれ接続されている。複数の接続配線の少なくともいずれか１つにおける他端側には、グランド部が接続されているので、第１基板の表示面側にチャージされる電荷をグランド部へ逃がすことができ、もって表示面に帯電が生じ難いものとなる。ここで、導電層が導電部材及び接続配線を介して適切にグランド部に接続されているか否かを検査するには、例えば導電層とグランド部との間の抵抗値を測定することが考えられるのだが、製造段階の状況によっては導電層が他の部材によって覆われてしまう場合があり、そうなると導電層に直接コンタクトできず、抵抗値の測定が困難になる可能性がある。その点、パネル接続基板には、複数の接続配線における他端側にそれぞれ接続される形で複数の端子部が設けられているので導電層に直接コンタクトできない状況であっても、複数の端子部間の抵抗値を測定することで、上記した検査を実行することができる。以上により、検査を行う時機の自由度が高いものとなる。

　本発明の表示装置の実施態様として、次の構成が好ましい。
（１）可撓性を有していて前記第２基板と前記パネル接続基板とを中継接続するフレキシブル基板を備える。このようにすれば、フレキシブル基板は、可撓性を有していて形状自由度が高いものとされているから、フレキシブル基板に接続されたパネル接続基板の配置自由度も高くなる。これにより、パネル接続基板に設けられた複数の端子部を用いた検査を容易に行うことができる。

（２）複数の前記導電部材は、前記第２基板に接続された前記フレキシブル基板を挟み込む形で配されている。このようにすれば、導電部材が第２基板とフレキシブル基板との接続の妨げとなる事態が避けられる。

（３）前記フレキシブル基板は、複数が間隔を空けて並ぶ形で前記第２基板及び前記パネル接続基板に対してそれぞれ接続されており、前記導電部材、前記接続配線及び前記端子部は、それぞれの設置数が前記フレキシブル基板の設置数よりも１つ多い。このようにすれば、設置数がフレキシブル基板の設置数よりも１つ多い導電部材は、複数の前記フレキシブル基板をそれぞれ挟み込む形で配されることになる。各導電部材に対して各接続配線を介して接続された各端子部間の抵抗値をそれぞれ測定することで検査を実行することができる。

（４）複数の前記接続配線には、異なる前記フレキシブル基板に配索されるものが含まれている。このようにすれば、例えば第２基板における複数の導電部材の配置に応じて複数の接続配線を異なるフレキシブル基板に配索することが可能となる。これにより、各接続配線の配索経路を最適化することが可能となり、配線長の短縮化を図る上で好適となる。

（５）前記第１基板と前記第２基板との間に挟み込まれる液晶層を備える。このようにすれば、第１基板の表示面に帯電が生じ難くされることで、第１基板と第２基板との間に挟み込まれる液晶層に含まれる液晶分子の配向状態に乱れが生じ難いものとなる。これにより、高い表示品位が安定的に得られる。

　次に、上記課題を解決するために、本発明の表示装置の検査方法は、上記記載の表示装置の検査方法であって、複数の前記端子部のいずれかに検査電源を接続し、複数の前記端子部の残りのいずれかに閾値電圧以上の電圧が印加されると点灯する検査光源を接続しておき、前記検査電源及び前記検査光源に接続された各前記端子部の間の抵抗値が基準値を超える場合には前記検査光源に印加される電圧が前記閾値電圧を下回り、前記抵抗値が基準値以下の場合には前記検査光源に印加される電圧が前記閾値電圧以上となるよう、前記検査電源に電圧を印加する。このような表示装置の検査方法によれば、検査光源の点灯の是非によって導電層、導電部材及び接続配線の接続箇所のいずれかに接続不良が生じているか否かを判定することができる。これにより、検査を容易に行うことができる。

　本発明の表示装置の検査方法の実施態様として、次の構成が好ましい。
（１）前記検査光源に対して可変抵抗を並列接続しておき、前記可変抵抗の抵抗値を調整して前記抵抗値の基準値を変更する。このようにすれば、可変抵抗の抵抗値を調整することで、検査電源及び検査光源に接続された各端子部の間の抵抗値における基準値を変更することができる。これにより、表示パネルの画面サイズなどの条件によって変動し得る抵抗値の基準値に適合した検査を行うことができる。

（発明の効果）
　本発明によれば、検査を行う時機の自由度を高めることができる。

本発明の実施形態１に係る液晶表示装置を構成する液晶パネルとフレキシブル基板と制御回路基板との接続構成を示す概略平面図 液晶表示装置の長辺方向に沿った断面構成を示す概略断面図 液晶パネルの表示領域における断面構成を示す概略断面図 液晶パネルを構成するアレイ基板の表示領域における配線構成を概略的に示す平面図 液晶パネルを構成するＣＦ基板の表示領域における平面構成を示す拡大平面図 アレイ基板を図４のＡ－Ａ線に沿って切断した断面図 液晶パネルを図１のＢ－Ｂ線に沿って切断した断面図 液晶パネル、フレキシブル基板及び制御回路基板を図１のＣ－Ｃ線に沿って切断した断面図 液晶パネルに対して表側からベゼルを取り付けた状態を示す概略平面図 本発明の実施形態２に係る液晶表示装置を構成する液晶パネルとフレキシブル基板と制御回路基板との接続構成を示す概略平面図 本発明の実施形態３に係る液晶表示装置を構成する液晶パネルとフレキシブル基板と制御回路基板との接続構成を示す概略平面図 本発明の実施形態４に係る液晶表示装置を構成する液晶パネルとフレキシブル基板と制御回路基板と検査装置との接続構成を示す概略平面図 ２つの検査端子部間の抵抗値と、検査光源に印加される電圧と、の関係を表すグラフ

　＜実施形態１＞
　本発明の実施形態１を図１から図９によって説明する。本実施形態では、液晶表示装置１０について例示する。なお、各図面の一部にはＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸を示しており、各軸方向が各図面で示した方向となるように描かれている。また、図２及び図７などの上側を表側とし、同図下側を裏側とする。

　液晶表示装置１０は、全体として横長の方形状をなしており、図１及び図２に示すように、画像を表示可能な液晶パネル（表示パネル）１１と、液晶パネル１１に対して各種入力信号を外部から供給する制御回路基板（パネル接続基板）１２と、液晶パネル１１と制御回路基板１２とを電気的に接続するフレキシブル基板１３と、液晶パネル１１に光を供給する外部光源であるバックライト装置（照明装置）１４と、を少なくとも備える。また、液晶表示装置１０は、図２に示すように、相互に組み付けた液晶パネル１１及びバックライト装置１４を収容・保持するためのベゼル１５及びケーシング１６をも備えている。このうち、ベゼル１５は、液晶パネル１１において画像が表示される表示領域（アクティブエリア）ＡＡを取り囲む形で枠状をなしている。ケーシング１６は、表側に向けて開口した浅い箱型をなしている。

　先にバックライト装置１４について簡単に説明する。バックライト装置１４は、図２に示すように、表側（液晶パネル１１側）に向けて開口した略箱形をなすシャーシ１４ａと、シャーシ１４ａ内に配された図示しない光源（例えば冷陰極管、ＬＥＤ、有機ＥＬなど）と、シャーシ１４ａの開口部を覆う形で配される図示しない光学部材と、を少なくとも備える。光学部材は、光源から発せられる光を面状に変換するなどの機能を有する。

　液晶パネル１１について説明する。液晶パネル１１は、全体として平面に視て長方形状をなしており、図３に示すように、ほぼ透明で優れた透光性を有するガラス製の一対の基板１１ａ，１１ｂと、両基板１１ａ，１１ｂ間に介在し、電界印加に伴って光学特性が変化する物質である液晶分子を含む液晶層１１ｅと、を少なくとも備え、両基板１１ａ，１１ｂが液晶層１１ｅの厚さ分のギャップを維持した状態で図示しないシール剤によって貼り合わせられている。この液晶パネル１１は、図１に示すように、画面中央側にあって画像が表示される表示領域ＡＡと、画面外周側にあって表示領域ＡＡを取り囲む額縁状（枠状、環状）をなすとともに画像が表示されない非表示領域（ノンアクティブエリア）ＮＡＡと、を有している。液晶パネル１１における短辺方向がＹ軸方向と一致し、長辺方向がＸ軸方向と一致し、さらに厚さ方向がＺ軸方向と一致している。また、図１では、ＣＦ基板１１ａよりも一回り小さな枠状の一点鎖線が表示領域ＡＡの外形を表しており、当該一点鎖線よりも外側の領域が非表示領域ＮＡＡとなっている。

　液晶パネル１１を構成する両基板１１ａ，１１ｂのうち表側（正面側）がＣＦ基板（第１基板、対向基板）１１ａとされ、裏側（背面側）がアレイ基板（第２基板、アクティブマトリクス基板、素子基板）１１ｂとされる。このうち、ＣＦ基板１１ａは、図１に示すように、長辺寸法及び短辺寸法がアレイ基板１１ｂよりも小さなものとされ、アレイ基板１１ｂに対して長辺方向及び短辺方向についての一方の各端部（図１に示す上端部及び左端部）を揃えた状態で貼り合わせられている。従って、アレイ基板１１ｂのうち短辺方向について他方の端部（図１に示す下端部及び右端部）は、所定範囲にわたってＣＦ基板１１ａが重なり合うことがなく、表裏両板面が外部に露出した状態とされており、ここにフレキシブル基板１３及びドライバ１８の実装領域が確保されている。アレイ基板１１ｂは、ＣＦ基板１１ａと平面に視て重畳する部分がＣＦ基板重畳部（対向基板重畳部）１１ｂ１とされ、ＣＦ基板１１ａとは平面に視て非重畳とされるとともにＣＦ基板重畳部１１ｂ１の側方に配される部分がＣＦ基板非重畳部（対向基板非重畳部）１１ｂ２とされている。ＣＦ基板非重畳部１１ｂ２のうち、Ｘ軸方向に沿って延在する図１に示す下端部がフレキシブル基板１３及びドライバ１８の実装領域とされており、ここには、図８に示すように、フレキシブル基板１３に対して電気的に接続されるパネル側端子部１７やドライバ１８に対して電気的に接続される図示しないドライバ用端子部が設けられている。パネル側端子部１７及びドライバ用端子部は、アレイ基板１１ｂにフォトリソグラフィ法によって形成される金属膜や透明電極膜を用いて構成されている。なお、ドライバ１８は、制御回路基板１２から供給された信号に基づいて作動して液晶パネル１１の駆動を制御するものであり、アレイ基板１１ｂのＣＦ基板非重畳部１１ｂ２にＣＯＧ（Chip On Glass）実装されている。ドライバ１８は、内部に駆動回路を有するＬＳＩチップからなるものとされ、制御回路基板１２から供給される入力信号を処理して出力信号を生成し、その出力信号を液晶パネル１１の表示領域ＡＡへと出力するものとされる。

　一対の基板１１ａ，１１ｂのうち、ＣＦ基板１１ａにおける表側の外面（アレイ基板１１ｂ側とは反対側の板面）が、図２及び図３に示すように、液晶パネル１１において画像を表示する表示面１１ＤＳを構成している。両基板１１ａ，１１ｂの外面には、図３に示すように、それぞれ偏光板１１ｃ，１１ｄが貼り付けられている。各偏光板１１ｃ，１１ｄは、各基板１１ａ，１１ｂと同様に、平面に視て横長の方形状をなしており、長辺寸法が各基板１１ａ，１１ｂの長辺寸法とほぼ等しいものの、短辺寸法が各基板１１ａ，１１ｂの短辺寸法よりも小さい。各偏光板１１ａ，１１ｂは、図１に示すように、短辺方向について図１に示す上端部（フレキシブル基板１３側とは反対側の端部）が各基板１１ａ，１１ｂの同上端部と揃えられている。従って、各基板１１ａ，１１ｂは、図１に示す下端部（フレキシブル基板１３側の端部）が各偏光板１１ｃ，１１ｄにより覆われることなく露出している。

　アレイ基板１１ｂの内面（ＣＦ基板１１ａ側の板面）における表示領域ＡＡには、図３及び図４に示すように、スイッチング素子であるＴＦＴ（Thin Film Transistor：表示素子）１１ｆ及び画素電極１１ｇが多数個マトリクス状（行列状）に並んで設けられるとともに、これらＴＦＴ１１ｆ及び画素電極１１ｇの周りには、格子状をなすゲート配線（走査線）１１ｉ及びソース配線（データ線、信号線）１１ｊが取り囲むようにして配設されている。ゲート配線１１ｉとソース配線１１ｊとがそれぞれＴＦＴ１１ｆのゲート電極１１ｆ１とソース電極１１ｆ２とに接続され、画素電極１１ｇがＴＦＴ１１ｆのドレイン電極１１ｆ３に接続されている。そして、ＴＦＴ１１ｆは、ゲート配線１１ｉ及びソース配線１１ｊにそれぞれ供給される各種信号に基づいて駆動され、その駆動に伴って画素電極１１ｇへの電位の供給が制御されるようになっている。このＴＦＴ１１ｆは、図４及び図６に示すように、ドレイン電極１１ｆ３とソース電極１１ｆ２とを繋ぐチャネル部１１ｆ４を有しているが、このチャネル部１１ｆ４を構成する半導体膜として、酸化物半導体材料が用いられている。チャネル部１１ｆ４を構成する酸化物半導体材料は、その電子移動度がアモルファスシリコン材料などに比べると、例えば２０倍～５０倍程度と高くなっているので、ＴＦＴ１１ｆを容易に小型化して画素電極１１ｇの透過光量（表示画素の開口率）を極大化することができ、もって高精細化及び低消費電力化などを図る上で好適とされる。なお、ゲート電極１１ｆ１は、ゲート配線１１ｉと同じ金属膜からなり、ゲート電極１１ｆ１とチャネル部１１ｆ４（半導体膜）との間には、ゲート絶縁膜１１ｐが介在している。また、本実施形態では、各図面においてゲート配線１１ｉの延在方向がＸ軸方向と、ソース配線１１ｊの延在方向がＹ軸方向と、それぞれ一致するものとされている。

　画素電極１１ｇは、図４に示すように、ゲート配線１１ｉ及びソース配線１１ｊにより囲まれた方形の領域に配されており、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウム錫）或いはＺｎＯ（Zinc Oxide：酸化亜鉛）といった透明電極膜からなる。ソース電極１１ｆ２及びドレイン電極１１ｆ３は、ソース配線１１ｊと同じ金属膜からなり、画素電極１１ｇとソース電極１１ｆ２及びドレイン電極１１ｆ３との間には、図６に示すように、第１層間絶縁膜１１ｑ及び平坦化膜１１ｒが介在している。この第１層間絶縁膜１１ｑ及び平坦化膜１１ｒには、画素電極１１ｇをドレイン電極１１ｆ３に接続するためのコンタクトホールＣＨが開口形成されている。さらには、アレイ基板１１ｂの内面には、画素電極１１ｇと同様に透明電極膜からなる共通電極１１ｈが、画素電極１１ｇとの間に第２層間絶縁膜１１ｓを介して上層側に積層されている。共通電極１１ｈは、概ねベタ状のパターンとして形成されている。そして、画素電極１１ｇには、図４に示すように、互いに並行する複数のスリット１１ｇ１が形成されており、画素電極１１ｇにおけるスリット１１ｇ１の端部と共通電極１１ｈとの間には、画素電極１１ｇに付与される電圧に基づいて横電界が発生するものとされる。これに対し、液晶層１１ｅには、水平配向する液晶分子が含まれている。つまり、本実施形態に係る液晶パネル１１は、いわゆるＩＰＳ（In-Plane Switching）モードであり、画素電極１１ｇに付与される電圧に基づいて上記した横電界を制御することで、液晶層１１ｅに含まれる液晶分子の配向状態を制御するものとされる。

　一方、ＣＦ基板１１ａの内面（アレイ基板１１ｂ側の板面、表示面１１ＤＳ側とは反対側の板面）における表示領域ＡＡには、図３及び図５に示すように、アレイ基板１１ｂ側の各画素電極１１ｇと対向状をなす位置に多数個のカラーフィルタ１１ｋがマトリクス状に並んで設けられている。カラーフィルタ１１ｋは、Ｒ（赤色），Ｇ（緑色），Ｂ（青色）の三色の着色膜が所定の順で繰り返し並んで配されてなる。各カラーフィルタ１１ｋ間には、混色を防ぐための格子状の遮光膜（ブラックマトリクス）１１ｌが形成されている。遮光膜１１ｌは、上記したゲート配線１１ｉ及びソース配線１１ｊと平面に視て重畳する配置とされる。カラーフィルタ１１ｋ及び遮光膜１１ｌの表面には、オーバーコート膜１１ｍが設けられている。また、両基板１１ａ，１１ｂの内面側には、液晶層１１ｅに含まれる液晶分子を配向させるための配向膜１１ｎ，１１ｏがそれぞれ形成されている。なお、当該液晶パネル１１においては、カラーフィルタ１１ｋにおけるＲ，Ｇ，Ｂの３色の着色膜及びそれらと対向する３つの画素電極１１ｇの組によって表示単位である１つの表示画素が構成されている。表示画素は、Ｒのカラーフィルタ１１ｋを有する赤色画素と、Ｇのカラーフィルタ１１ｋを有する緑色画素と、Ｂのカラーフィルタ１１ｋを有する青色画素と、からなる。これら各色の表示画素は、液晶パネル１１の板面において行方向（Ｘ軸方向）に沿って繰り返し並べて配されることで、表示画素群を構成しており、この表示画素群が列方向（Ｙ軸方向）に沿って多数並んで配されている。

　次に、液晶パネル１１に接続される部材について説明する。制御回路基板１２は、図２に示すように、バックライト装置１４におけるシャーシ１４ａの裏面（液晶パネル１１側とは反対側の外面）にテープ部材やフック部などにより取り付けられている。この制御回路基板１２は、紙フェノールないしはガラスエポキシ樹脂製の基板上に、液晶パネル１１に各種入力信号を供給するための電子部品が実装されるとともに、図示しない所定のパターンの配線（導電路）が配索形成されている。この制御回路基板１２は、図１に示すように、グランドに接続されて常時グランド電位に保たれているグランド部１２ａを有しており、上記した配線のいずれかがこのグランド部１２ａに接続されている。さらには、制御回路基板１２は、外部から図示しない外部コネクタが接続可能なコネクタ部１２ｂを有している。なお、図１では、コネクタ部１２ｂの形成範囲を二点鎖線により図示している。この制御回路基板１２には、次述するフレキシブル基板１３の一方の端部（一端側）が接続されている。制御回路基板１２は、図８に示すように、上記した配線の端部に接続される形で制御回路基板側端子部１２ｃを有しており、この制御回路基板側端子部１２ｃがフレキシブル基板１３に接続されている。

　フレキシブル基板１３は、図１及び図２に示すように、絶縁性及び可撓性を有する合成樹脂材料（例えばポリイミド系樹脂等）からなる基材を備え、その基材上に多数本の配線パターン（図示せず）を有している。フレキシブル基板１３は、液晶パネル１１において長辺方向（Ｘ軸方向）について間隔を空けた位置に２つ実装されている。フレキシブル基板１３は、長さ方向についての一方の端部が既述した通りシャーシ１４ａの裏面側に配された制御回路基板１２に接続されるのに対し、他方の端部（他端側）が液晶パネル１１を構成するアレイ基板１１ｂのＣＦ基板非重畳部１１ｂ２に接続されている。フレキシブル基板１３は、可撓性を有していて形状自由度が高いものとされているので、上記のような接続態様に伴って、液晶表示装置１０内では断面形状が略Ｕ型となるよう折り返し状に屈曲されている。これにより、制御回路基板１２を上記のような配置とすることができ、制御回路基板１２の配置自由度が高いものとなっている。

　フレキシブル基板１３は、図８に示すように、接続対象である制御回路基板１２及びアレイ基板１１ｂに対して異方性導電膜（ＡＣＦ：Anisotropic Conductive Film）ＡＣＦを介して電気的に且つ機械的にそれぞれ接続されている。フレキシブル基板１３における長さ方向についての両端部には、配線パターンの両端部にそれぞれ接続される第１フレキシブル基板側端子部１３ａ及び第２フレキシブル基板側端子部１３ｂが設けられている。このうち第１フレキシブル基板側端子部１３ａが異方性導電膜ＡＣＦの導電性粒子ＡＣＦａを介して制御回路基板１２の制御回路基板側端子部１２ｃに、第２フレキシブル基板側端子部１３ｂが異方性導電膜ＡＣＦの導電性粒子ＡＣＦａを介してアレイ基板１１ｂのパネル側端子部１７に、それぞれ導通接触されている。

　ここで、本実施形態に係る液晶パネル１１は、既述した通り、動作モードが横電界方式の一種であるＩＰＳモードとされており、液晶層１１ｅに電界を付与するための画素電極１１ｇ及び共通電極１１ｈが共にアレイ基板１１ｂ側に配置されていてＣＦ基板１１ａ側には配置されない構成となっている。このため、ＣＦ基板１１ａは、アレイ基板１１ｂに比べると、外側の表示面１１ＤＳに帯電が生じて電荷が溜まり易く、また溜まった電荷の影響によって縦電界が発生して液晶層１１ｅの配向状態が乱され、結果として表示不良が生じるおそれがある。そこで、ＣＦ基板１１ａにおける表側の外面、つまり表示面１１ＤＳには、図１及び図７に示すように、導電層１９が積層形成されており、この導電層１９がフレキシブル基板１３などを介して制御回路基板１２のグランド部１２ａに電気的に接続されるようになっている。このようにすれば、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳにチャージされる電荷をグランド部１２ａへ逃がすことができるので、表示面１１ＤＳに帯電が生じ難くなって液晶層１１ｅの配向状態に乱れが生じ難くなり、もって表示不良が生じ難くなる。導電層１９は、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳにおけるほぼ全域にわたってベタ状に形成される透明電極膜からなる。導電層１９を構成する透明電極膜は、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）或いはＺｎＯ（Zinc Oxide）といった透明電極材料からなり、アレイ基板１１ｂにおいて画素電極１１ｇや共通電極１１ｈを構成する透明電極材料と同じとされるのが好ましいが、必ずしもその限りではない。導電層１９は、大部分がＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳに貼り付けられる偏光板１１ｃによって覆われるものの、Ｙ軸方向についてフレキシブル基板１３側にあってＸ軸方向に沿って延在する端部（図１に示す下端部）については偏光板１１ｃとは非重畳の配置となって外部に露出している。導電層１９における露出部分１９ａは、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳにおける露出部分と同様の範囲となっていて、全長にわたってほぼ均一な幅の帯状をなしている。

　上記した導電層１９は、図１に示すように、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳとアレイ基板１１ｂにおける表側（ＣＦ基板１１ａ側）の板面（内面）とに跨る形で配される導電部材２０と、アレイ基板１１ｂとフレキシブル基板１３と制御回路基板１２とに跨る形で配索される接続配線２１と、を介してグランド部１２ａに対して電気的に接続されている。導電部材２０及び接続配線２１は、２つずつ備えられており、このうちのいずれか一方がグランド部１２ａに対して電気的に接続されている。そして、制御回路基板１２には、２本の接続配線２１における他端側にそれぞれ接続される形で２つの検査端子部（端子部）２２が設けられている。この検査端子部２２は、詳しくは後述するが、導電層１９が導電部材２０及び接続配線２１を介して適切にグランド部１２ａに接続されているか否かを検査する際に用いられるものである。これら２つの検査端子部２２は、制御回路基板１２におけるコネクタ部１２ｂに設けられており、外部からコネクタ部１２ｂに接続される図示しない外部コネクタに対して電気的に接続されるようになっている。

　導電部材２０は、銀ペーストなどの導電性ペーストからなる。この導電部材２０は、図７に示すように、その一端側がＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳにおける導電層１９の露出部分１９ａに、他端側がアレイ基板１１ｂに設けられるグランドパッド部２３に、それぞれ電気的に接続されている。ここで、導電層１９がＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳに、グランドパッド部２３がアレイ基板１１ｂ（ＣＦ基板非重畳部１１ｂ２）の内面（ＣＦ基板１１ａ側の板面）に、それぞれ配されているので、これらの間にはＣＦ基板１１ａの厚み分程度の段差が生じている。これに対し、導電部材２０は、形成時における形状自由度が高い導電性ペーストからなるものとされているから、上記した段差を超えてグランドパッド部２３と導電層１９とに跨る形で容易に配置されるとともに高い接続信頼性が得られる。そして、この導電部材２０は、図１に示すように、Ｘ軸方向についてフレキシブル基板１３の幅寸法分程度の間隔を空けた位置に２つが設けられている。一方の導電部材２０は、液晶パネル１１においてＸ軸方向について一方の端部（図１に示す左端部）付近に、他方の導電部材２０は、液晶パネル１１においてＸ軸方向について中央付近に、それぞれ配されており、Ｘ軸方向について間にフレキシブル基板１３を挟み込む形の配置となっている。これにより、各導電部材２０がアレイ基板１１ｂ上の配線などに短絡することが避けられており、各導電部材２０がアレイ基板１１ｂとフレキシブル基板１３との接続を妨げるような事態が回避されている。なお、グランドパッド部２３は、パネル側端子部１７と同様に、アレイ基板１１ｂにフォトリソグラフィ法によって形成される金属膜や透明電極膜を用いて構成されている。

　接続配線２１は、図１に示すように、導電部材２０と同数、つまり２本設けられている。２本の接続配線２１のうちの第１接続配線２１Ａは、一端側が一方（Ｘ軸方向について中央付近）の導電部材２０に接続されるのに対し、他端側が途中で分岐されて一方の分岐先が一方の検査端子部２２に、他方の分岐先がグランド部１２ａに、それぞれ接続されている。２本の接続配線２１のうちの第２接続配線２１Ｂは、一端側が他方（Ｘ軸方向について端部付近）の導電部材２０に接続されるのに対し、他端側が他方の検査端子部２２に接続されていて、グランド部１２ａには直接接続されることがない。なお以下では接続配線２１を区別する場合には、グランド部１２ａに接続されたものを「第１接続配線」としてその符号に添え字Ａを、グランド部１２ａに接続されないものを「第２接続配線」としてその符号に添え字Ｂを付し、区別せずに総称する場合には、符号に添え字を付さないものとする。

　各接続配線２１は、図１に示すように、アレイ基板１１ｂに形成された部分である第１配線部２１ａと、フレキシブル基板１３に形成された部分である第２配線部２１ｂと、制御回路基板１２に形成された部分である第３配線部２１ｃと、からそれぞれ構成される。アレイ基板１１ｂに形成された第１配線部２１ａは、一端側がグランドパッド部２３に、他端側がパネル側端子部１７に、それぞれ接続されている。第１配線部２１ａは、グランドパッド部２３及びパネル側端子部１７と同様に、アレイ基板１１ｂにフォトリソグラフィ法によって形成される金属膜や透明電極膜を用いて構成されている。フレキシブル基板１３に形成された第２配線部２１ｂは、液晶パネル１１側の端部が第２フレキシブル基板側端子部１３ｂに、制御回路基板１２側の端部が第１フレキシブル基板側端子部１３ａに、それぞれ接続されている。制御回路基板１２に形成された第３配線部２１ｃは、一端側が制御回路基板側端子部１２ｃに、他端側が検査端子部２２やグランド部１２ａに、それぞれ接続されている。詳しくは、第１接続配線２１Ａの第３配線部２１ｃは、他端側が途中で分岐されていて一方の分岐先が検査端子部２２に、他方の分岐先がグランド部１２ａに、それぞれ接続されている。第２接続配線２１Ｂの第３配線部２１ｃは、他端側が検査端子部２２のみに接続されている。

　本実施形態は以上のような構造であり、続いてその作用を説明する。液晶表示装置１０の製造に際しては、所定のプロセスを経て製造された液晶パネル１１に対して導電部材２０が塗布される。塗布された導電部材２０は、液晶パネル１１のＣＦ基板１１ａにおける表示面１１ＤＳに形成された導電層１９と、アレイ基板１１ｂにおける内面に形成されたグランドパッド部２３と、に対して接続される。導電部材２０が塗布された液晶パネル１１に対してフレキシブル基板１３の一端側が、制御回路基板１２に対してフレキシブル基板１３の他端側が、それぞれ接続される。これにより、接続配線２１を構成する第１配線部２１ａ、第２配線部２１ｂ及び第３配線部２１ｃが相互に接続される。その後、液晶パネル１１には、バックライト装置１４が組み付けられた後、ベゼル１５及びケーシング１６がそれぞれ組み付けられる。

　ここで、液晶パネル１１に対して表側からベゼル１５が組み付けられた状態では、図９に示すように、導電層１９の露出部分１９ａがベゼル１５によって表側から覆われた状態となるため、導電層１９に直接コンタクトするのが難しく、導電層１９とグランド部１２ａとの間の抵抗値を測定する検査を行うことが困難となってしまう。その点、本実施形態では、制御回路基板１２のコネクタ部１２ｂに２つの検査端子部２２が設けられているので、導電層１９がベゼル１５によって覆われた状況であっても、２つの検査端子部２２間の抵抗値を測定することで、導電層１９が導電部材２０及び接続配線２１を介して適切にグランド部１２ａに接続されているか否かを検査することが可能となっている。具体的な検査に際しては、図示しない検査装置に接続された外部コネクタをコネクタ部１２ｂに嵌合接続するようにしている。詳しくは、一方の検査端子部２２は、第１接続配線２１Ａ及びその接続先の導電部材２０を介して導電層１９に接続されるのに対し、他方の検査端子部２２は、第２接続配線２１Ｂ及びその接続先の導電部材２０を介して導電層１９に接続されていることから、各接続箇所の接続状態が良好であれば、検査装置によって測定される両検査端子部２２間の抵抗値が基準値よりも低くなるものの、各接続箇所のいずれかの接続状態に不良が生じていた場合には、検査装置によって測定される両検査端子部２２間の抵抗値が基準値よりも高くなる。従って、両検査端子部２２間の抵抗値が基準値を超えるか否かに基づいて導電層１９が適切にグランド部１２ａに接続されているか否かを判定することができる。以上により、検査を行う時機の自由度が高いものとなっている。なお、上記検査を終了した後、コネクタ部１２ｂから外部コネクタを取り外した状態では、少なくとも第１接続配線２１Ａがグランド部１２ａに接続されることで、導電層１９にチャージされる電荷をグランド部１２ａへ逃がすことができるようになっている。

　以上説明したように本実施形態の液晶表示装置（表示装置）１０は、画像を表示するための液晶パネル（表示パネル）１１であって、表示面１１ＤＳを有するＣＦ基板（第１基板）１１ａと、ＣＦ基板１１ａに対して表示面１１ＤＳ側とは反対側に重なる形で配されるアレイ基板（第２基板）１１ｂと、を備える液晶パネル１１と、アレイ基板１１ｂに接続される制御回路基板（パネル接続基板）１２と、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳ側に配される導電層１９と、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳとアレイ基板１１ｂにおけるＣＦ基板１１ａ側の板面とに跨る形で配されて一端側が導電層１９に接続される複数の導電部材２０と、アレイ基板１１ｂと制御回路基板１２とに跨る形で配索されて一端側が複数の導電部材２０の他端側にそれぞれ接続される複数の接続配線２１と、制御回路基板１２に設けられて複数の接続配線２１の少なくともいずれか１つにおける他端側に接続されるグランド部１２ａと、制御回路基板１２に設けられて複数の接続配線２１における他端側にそれぞれ接続される複数の検査端子部（端子部）２２と、を備える。

　このようにすれば、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳに配される導電層１９には、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳとアレイ基板１１ｂにおけるＣＦ基板１１ａ側の板面とに跨る形で配される複数の導電部材２０の一端側がそれぞれ接続され、それらの導電部材２０の他端側には、アレイ基板１１ｂと制御回路基板１２とに跨る形で配索される複数の接続配線２１の一端側がそれぞれ接続されている。複数の接続配線２１の少なくともいずれか１つにおける他端側には、グランド部１２ａが接続されているので、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳ側にチャージされる電荷をグランド部１２ａへ逃がすことができ、もって表示面１１ＤＳに帯電が生じ難いものとなる。ここで、導電層１９が導電部材２０及び接続配線２１を介して適切にグランド部１２ａに接続されているか否かを検査するには、例えば導電層１９とグランド部１２ａとの間の抵抗値を測定することが考えられるのだが、製造段階の状況によっては導電層１９が他の部材によって覆われてしまう場合があり、そうなると導電層１９に直接コンタクトできず、抵抗値の測定が困難になる可能性がある。その点、制御回路基板１２には、複数の接続配線２１における他端側にそれぞれ接続される形で複数の検査端子部２２が設けられているので導電層１９に直接コンタクトできない状況であっても、複数の検査端子部２２間の抵抗値を測定することで、上記した検査を実行することができる。以上により、検査を行う時機の自由度が高いものとなる。

　また、可撓性を有していてアレイ基板１１ｂと制御回路基板１２とを中継接続するフレキシブル基板１３を備える。このようにすれば、フレキシブル基板１３は、可撓性を有していて形状自由度が高いものとされているから、フレキシブル基板１３に接続された制御回路基板１２の配置自由度も高くなる。これにより、制御回路基板１２に設けられた複数の検査端子部２２を用いた検査を容易に行うことができる。

　また、複数の導電部材２０は、アレイ基板１１ｂに接続されたフレキシブル基板１３を挟み込む形で配されている。このようにすれば、導電部材２０がアレイ基板１１ｂとフレキシブル基板１３との接続の妨げとなる事態が避けられる。

　また、複数の接続配線２１には、異なるフレキシブル基板１３に配索されるものが含まれている。このようにすれば、例えばアレイ基板１１ｂにおける複数の導電部材２０の配置に応じて複数の接続配線２１を異なるフレキシブル基板１３に配索することが可能となる。これにより、各接続配線２１の配索経路を最適化することが可能となり、配線長の短縮化を図る上で好適となる。

　また、ＣＦ基板１１ａとアレイ基板１１ｂとの間に挟み込まれる液晶層１１ｅを備える。このようにすれば、ＣＦ基板１１ａの表示面１１ＤＳに帯電が生じ難くされることで、ＣＦ基板１１ａとアレイ基板１１ｂとの間に挟み込まれる液晶層１１ｅに含まれる液晶分子の配向状態に乱れが生じ難いものとなる。これにより、高い表示品位が安定的に得られる。

　＜実施形態２＞
　本発明の実施形態２を図１０によって説明する。この実施形態２では、導電部材１２０、接続配線１２１及び検査端子部１２２の設置数を変更したものを示す。なお、上記した実施形態１と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。

　本実施形態に係る導電部材１２０、接続配線１２１及び検査端子部１２２は、図１０に示すように、それぞれ３つずつ、つまりフレキシブル基板１１３の設置数よりも１つ多くなる形で設けられている。このうち、３つの導電部材１２０は、液晶パネル１１１においてＸ軸方向について両端部付近と、中央付近と、にそれぞれ配されており、それぞれの間の間隔がフレキシブル基板１１３の幅寸法分程度とされている。液晶パネル１１１においてＸ軸方向について図１０に示す左端部付近と中央付近とに配された２つの導電部材１２０の間に、図１０に示す左側のフレキシブル基板１１３が挟み込まれるのに対し、液晶パネル１１１においてＸ軸方向について図１０に示す右端部付近と中央付近とに配された２つの導電部材１２０の間に、図１０に示す右側のフレキシブル基板１１３が挟み込まれている。

　３本の接続配線１２１は、２つのフレキシブル基板１１３のそれぞれに配索されている。詳しくは、２本の接続配線１２１は、図１０に示す左側のフレキシブル基板１１３に、残りの１本の接続配線１２１は、図１０に示す右側のフレキシブル基板１１３に、それぞれ配索されている。３本の接続配線１２１のうち、図１０に示す右側のフレキシブル基板１１３に配索されるものが、グランド部１１２ａ及び検査端子部１２２の双方に接続される第１接続配線１２１Ａとされており、図１０に示す左側のフレキシブル基板１１３に配索されるものが、グランド部１１２ａには接続されずに検査端子部１２２のみに接続される第２接続配線１２１Ｂ及び第３接続配線１２１Ｃとされている。なお以下では接続配線１２１を区別する場合には、グランド部１１２ａに接続されないものを「第２接続配線」、「第３接続配線」としてその符号に添え字Ｂ，Ｃを付し、区別せずに総称する場合には、符号に添え字を付さないものとする。各接続配線１２１に接続された３つの検査端子部１２２は、コネクタ部１１２ｂにおいてＸ軸方向に沿って間隔を空けて並んで配されている。

　検査に際しては、第１接続配線１２１Ａに接続された検査端子部１２２と、第２接続配線１２１Ｂに接続された検査端子部１２２と、の間の抵抗値を測定するとともに、第２接続配線１２１Ｂに接続された検査端子部１２２と、第３接続配線１２１Ｃに接続された検査端子部１２２と、の間の抵抗値を測定する。測定された各抵抗値がそれぞれ基準値を超えるか否かに基づいてどの経路に係る接続箇所に接続不良が生じているか否かを判定することができる。

　以上説明したように本実施形態によれば、フレキシブル基板１１３は、複数が間隔を空けて並ぶ形でアレイ基板１１１ｂ及び制御回路基板１１２に対してそれぞれ接続されており、導電部材１２０、接続配線１２１及び検査端子部１２２は、それぞれの設置数がフレキシブル基板１１３の設置数よりも１つ多い。このようにすれば、設置数がフレキシブル基板１１３の設置数よりも１つ多い導電部材１２０は、複数のフレキシブル基板１１３をそれぞれ挟み込む形で配されることになる。各導電部材１２０に対して各接続配線１２１を介して接続された各検査端子部１２２間の抵抗値をそれぞれ測定することで検査を実行することができる。

　＜実施形態３＞
　本発明の実施形態３を図１１によって説明する。この実施形態３では、上記した実施形態２からフレキシブル基板２１３、導電部材２２０、接続配線２２１及び検査端子部２２２の設置数を変更したものを示す。なお、上記した実施形態２と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。

　本実施形態に係る液晶パネル２１１は、図１１に示すように、上記した実施形態１，２に記載されたものよりも短辺寸法に対する長辺寸法の比率が大きなものとなっている。その上で、フレキシブル基板２１３は、３つ設けられているのに対し、導電部材２２０、接続配線２２１及び検査端子部２２２は、４つずつ、つまりフレキシブル基板２１３の設置数よりも１つ多くなる形で設けられている。

　３つのフレキシブル基板２１３は、Ｘ軸方向についてほぼ均等な間隔を空けた位置に配されている。４つの導電部材２２０は、Ｘ軸方向についてフレキシブル基板２１３の幅寸法程度の間隔を空けてそれぞれ配されており、それぞれの間にフレキシブル基板２１３を挟み込む配置となっている。４本の接続配線２２１には、グランド部２１２ａ及び検査端子部２２２の双方に接続される第１接続配線２２１Ａと、グランド部２１２ａには接続されずに検査端子部２２２のみに接続される第２接続配線２２１Ｂ、第３接続配線２２１Ｃ及び第４接続配線２２１Ｄが含まれている。なお以下では接続配線２２１を区別する場合には、グランド部２１２ａに接続されないものを「第２接続配線」、「第３接続配線」、「第４接続配線」としてその符号に添え字Ｂ，Ｃ，Ｄを付し、区別せずに総称する場合には、符号に添え字を付さないものとする。このうち、第１接続配線２２１Ａ及び第２接続配線２２１Ｂが同じフレキシブル基板２１３に配索されるのに対し、第３接続配線２２１Ｃ及び第４接続配線２２１Ｄは、それぞれ異なるフレキシブル基板２１３に配索されている。

　検査に際しては、第１接続配線２２１Ａに接続された検査端子部２２２と、第２接続配線２２１Ｂに接続された検査端子部２２２と、の間の抵抗値を測定するとともに、第２接続配線２２１Ｂに接続された検査端子部２２２と、第３接続配線２２１Ｃに接続された検査端子部２２２と、の間の抵抗値を測定し、さらには第３接続配線２２１Ｃに接続された検査端子部２２２と、第４接続配線２２１Ｄに接続された検査端子部２２２と、の間の抵抗値を測定する。測定された各抵抗値がそれぞれ基準値を超えるか否かに基づいてどの経路に係る接続箇所に接続不良が生じているか否かを判定することができる。

　＜実施形態４＞
　本発明の実施形態４を図１２または図１３によって説明する。この実施形態４では、上記した実施形態１から液晶表示装置３１０の検査方法を変更したものを示す。なお、上記した実施形態１と同様の構造、作用及び効果について重複する説明は省略する。

　本実施形態に係る液晶表示装置３１０の検査方法では、図１２に示される検査装置３０が用いられる。この検査装置３０は、図１２に示すように、一方の検査端子部３２２に接続される検査電源３１と、他方の検査端子部３２２に接続される検査光源３２と、検査光源３２に対して直列接続される保護抵抗３３と、検査光源３２に対して並列接続される可変抵抗３４と、を有する。検査装置３０は、制御回路基板３１２のコネクタ部３１２ｂに接続される図示しない外部コネクタを有しており、この外部コネクタに、検査電源３１に接続される検査装置側端子部と、検査光源３２、保護抵抗３３及び可変抵抗３４に接続される検査装置側端子部と、が備えられ、各検査装置側端子部が各検査端子部３２２に対して導通接触されるようになっている。検査電源３１は、所定（例えば５Ｖ程度）の直流電圧を印加するものである。検査光源３２は、例えばＬＥＤ（Light Emitting Diode）とされており、所定の閾値電圧Ｖｆ以上の電圧が印加されると点灯するようになっている。保護抵抗３３は、検査光源３２に過度な電流が流れて発光素子が破壊されるのを防ぐためのものである。可変抵抗３４は、抵抗値Ｒｓを適宜に調整することが可能とされている。

　上記のような構成の検査装置３０において、検査光源３２に印加される電圧Ｖｚは、２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａに応じて変化するものとされており、その具体的な関係は、図１３に示される通りである。なお、２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａは、各導電部材３２０や各接続配線３２１に係る接続箇所に接続不良が生じていない場合は低くなり、接続不良が生じている場合には高くなる傾向にある。図１３によれば、２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａが大きくなるほど検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが一定の変化率で（線型性をもって）減少し、逆に上記抵抗値Ｒａが小さくなるほど上記電圧Ｖｚが一定の変化率で増加する傾向、つまり反比例する関係とされる。２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａに関して、検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが閾値電圧Ｖｆとなる値が、各導電部材３２０や各接続配線３２１に係る接続箇所に接続不良が生じているか否かを判定する基準値Ｒｂとなっている。

　そして、これら２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａと、検査光源３２に印加される電圧Ｖｚと、の関係は、可変抵抗３４の抵抗値（可変抵抗値）Ｒｓに応じて変化するものとされており、抵抗値Ｒｓが大きくなるほど、検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが閾値電圧Ｖｆとなる抵抗値Ｒａの基準値Ｒｂが大きくなり、逆に抵抗値Ｒｓが小さくなるほど、上記抵抗値Ｒａの基準値Ｒｂが小さくなる傾向にある。従って、可変抵抗３４の抵抗値Ｒｓを調整することで、検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａの基準値Ｒｂを変更することができる。これにより、例えば画面サイズが異なる液晶パネル３１１を備えた液晶表示装置３１０を検査する際にも、同じ検査装置３０を用いることが可能となるので、利便性に優れるとともにコスト削減などを図る上で好適となっている。

　具体的な検査に際しては、制御回路基板３１２のコネクタ部３１２ｂに検査装置３０に接続された外部コネクタを嵌合接続し、各検査装置側端子部を各検査端子部３２２に対して導通接触させる。この状態で検査電源３１をＯＮすると、所定の電圧Ｖｚが検査光源３２に印加される。このとき検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが閾値電圧Ｖｆ以上であれば検査光源３２が点灯し、閾値電圧Ｖｆに達しない場合には検査光源３２が点灯せず消灯したままとなる。検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが閾値電圧Ｖｆ以上になると、２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａが基準値Ｒｂ以下となることから、検査光源３２が点灯すれば、各導電部材３２０や各接続配線３２１に係る接続箇所に接続不良が生じていない、と判定することができる。一方、検査光源３２に印加される電圧Ｖｚが閾値電圧Ｖｆに満たない場合には、２つの検査端子部３２２間の抵抗値Ｒａが基準値Ｒｂを超えるため、検査光源３２が点灯しなければ、各導電部材３２０や各接続配線３２１に係る接続箇所に接続不良が生じている、と判定することができる。以上のように、検査光源３２の点灯の是非によって接続不良の発生の有無を容易に検査することができる。

　以上説明したように本実施形態の液晶表示装置３１０の検査方法は、上記した実施形態１に記載の液晶表示装置３１０の検査方法であって、複数の検査端子部３２２のいずれかに検査電源３１を接続し、複数の検査端子部３２２の残りのいずれかに閾値電圧以上の電圧が印加されると点灯する検査光源３２を接続しておき、検査電源３１及び検査光源３２に接続された各検査端子部３２２の間の抵抗値が基準値を超える場合には検査光源３２に印加される電圧が閾値電圧を下回り、抵抗値が基準値以下の場合には検査光源３２に印加される電圧が閾値電圧以上となるよう、検査電源３１に電圧を印加する。このような液晶表示装置３１０の検査方法によれば、検査光源３２の点灯の是非によって導電層３１９、導電部材３２０及び接続配線３２１の接続箇所のいずれかに接続不良が生じているか否かを判定することができる。これにより、検査を容易に行うことができる。

　また、検査光源３２に対して可変抵抗３４を並列接続しておき、可変抵抗３４の抵抗値を調整して抵抗値の基準値を変更する。このようにすれば、可変抵抗３４の抵抗値を調整することで、検査電源３１及び検査光源３２に接続された各検査端子部３２２の間の抵抗値における基準値を変更することができる。これにより、液晶パネル３１１の画面サイズなどの条件によって変動し得る抵抗値の基準値に適合した検査を行うことができる。

　＜他の実施形態＞
　本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
　（１）上記した各実施形態では、複数の接続配線に含まれる第１接続配線がグランド部に接続されることで、導電層にチャージされる電荷をグランド部に逃がすような構成とされているが、例えば、制御回路基板のコネクタ部に、各検査端子部間を短絡する回路を内蔵したコネクタを接続するようにし、当該コネクタを介して複数の接続配線をいずれもグランド部に対して電気的に接続するようにしても構わない。

　（２）上記した各実施形態では、複数の接続配線に含まれる第１接続配線のみがグランド部及び検査端子部の双方に接続される場合を示したが、例えば制御回路基板に複数のグランド部を設けるようにし、複数の接続配線をそれぞれ異なるグランド部に接続する構成を採ることも可能である。

　（３）上記した実施形態１，４の変形例として、例えば各接続配線が異なるフレキシブル基板に配索されていても構わない。

　（４）上記した実施形態１，４の変形例として、例えば各導電部材が液晶パネルにおける両端部付近に配置されていても構わない。

　（５）上記した実施形態２，３の変形例として、例えば全ての接続配線が同じフレキシブル基板に配索されていても構わない。

　（６）上記した各実施形態以外にも、各導電部材、各接続配線及び各検査端子部などの具体的な配置や設置数などは適宜に変更可能である。

　（７）上記した各実施形態では、液晶パネルに実装されるフレキシブル基板が２枚または３枚とされる場合を示したが、液晶パネルに対してフレキシブル基板を１枚のみ実装する構成や４枚以上実装する構成でもよい。また、フレキシブル基板の幅寸法は、全て同一とされていなくてもよく、幅寸法が異なるフレキシブル基板が液晶パネルに実装されていても構わない。

　（８）上記した各実施形態では、ＣＦ基板の表示面に形成される導電層の材料を透明電極材料とした場合を示したが、それ以外にも導電性樹脂材料などの透光性と導電性を併有する材料であれば適宜に変更可能である。

　（９）上記した実施形態４では、検査装置に備えられる検査光源がＬＥＤとされる場合を示したが、ＬＥＤ以外にも有機ＥＬなどの他の種類の光源を検査光源として用いることが可能である。検査光源以外にも、検査装置に係る具体的な回路構成は適宜に変更可能である。

　（１０）上記した各実施形態では、ＩＰＳモードの液晶パネルを備えた液晶表示装置について例示したが、それ以外にも、画素電極及び共通電極が共にアレイ基板に設けられた液晶パネルとしてＦＦＳ（Fringe Field Switching）モードの液晶パネルを備えた液晶表示装置にも本発明は適用可能である。

　（１１）上記した各実施形態では、ドライバがアレイ基板に対してＣＯＧ実装される場合を示したが、ドライバがフレキシブル基板に対してＣＯＦ（Chip On Film）実装される構成であってもよい。

　（１２）上記した各実施形態では、平面形状が長方形とされる液晶パネルを備えた液晶表示装置について示したが、平面形状が正方形、円形、楕円形などとされる液晶パネルを備えた液晶表示装置にも本発明は適用可能である。

　（１３）上記した各実施形態では、ＴＦＴのチャネル部を構成する半導体膜が酸化物半導体材料からなる場合を例示したが、それ以外にも、例えばポリシリコン（多結晶化されたシリコン（多結晶シリコン）の一種であるＣＧシリコン（Continuous Grain Silicon））やアモルファスシリコンを半導体膜の材料として用いることも可能である。

　（１４）上記した各実施形態では、液晶パネルのカラーフィルタが赤色、緑色及び青色の３色構成とされたものを例示したが、赤色、緑色及び青色の各着色部に、黄色の着色部を加えて４色構成としたカラーフィルタを備えたものにも本発明は適用可能である。

　（１５）上記した各実施形態では、一対の基板間に液晶層が挟持された構成とされる液晶パネルについて例示したが、一対の基板間に液晶材料以外の機能性有機分子を挟持した表示パネルについても本発明は適用可能である。

　（１６）上記した各実施形態では、液晶パネルのスイッチング素子としてＴＦＴを用いたが、ＴＦＴ以外のスイッチング素子（例えば薄膜ダイオード（ＴＦＤ））を用いた液晶パネルにも適用可能であり、カラー表示する液晶パネル以外にも、白黒表示する液晶パネルにも適用可能である。

　（１７）上記した各実施形態では、表示パネルとして液晶パネルを例示したが、他の種類の表示パネル（ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、有機ＥＬパネル、ＥＰＤ（電気泳動ディスプレイパネル）、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）表示パネルなど）にも本発明は適用可能である。

　（１８）上記した各実施形態以外にも、ケーシングを省略し、バックライト装置の裏面側に配される基板類が露出した構成を採ることも可能である。

　１０，３１０...液晶表示装置（表示装置）、１１，１１１，２１１，３１１...液晶パネル（表示パネル）、１１ａ...ＣＦ基板（第１基板）、１１ｂ，１１１ｂ...アレイ基板（第２基板）、１１ｅ...液晶層、１１ＤＳ...表示面、１２，１１２，３１２...制御回路基板（パネル接続基板）、１２ａ，１１２ａ，２１２ａ...グランド部、１３，１１３，２１３...フレキシブル基板、１９，３１９...導電層、２０，１２０，２２０，３２０...導電部材、２１，１２１，２２１，３２１...接続配線、２２，１２２，２２２，３２２...検査端子部（端子部）、３１...検査電源、３２...検査光源、３４...可変抵抗

Claims (8)

1. 　画像を表示するための表示パネルであって、表示面を有する第１基板と、前記第１基板に対して前記表示面側とは反対側に重なる形で配される第２基板と、を備える表示パネルと、
   　前記第２基板に接続されるパネル接続基板と、
   　前記第１基板の前記表示面側に配される導電層と、
   　前記第１基板の前記表示面と前記第２基板における前記第１基板側の板面とに跨る形で配されて一端側が前記導電層に接続される複数の導電部材と、
   　前記第２基板と前記パネル接続基板とに跨る形で配索されて一端側が複数の前記導電部材の他端側にそれぞれ接続される複数の接続配線と、
   　前記パネル接続基板に設けられて複数の前記接続配線の少なくともいずれか１つにおける他端側に接続されるグランド部と、
   　前記パネル接続基板に設けられて複数の前記接続配線における他端側にそれぞれ接続される複数の端子部と、を備える表示装置。
2. 　可撓性を有していて前記第２基板と前記パネル接続基板とを中継接続するフレキシブル基板を備える請求項１記載の表示装置。
3. 　複数の前記導電部材は、前記第２基板に接続された前記フレキシブル基板を挟み込む形で配されている請求項２記載の表示装置。
4. 　前記フレキシブル基板は、複数が間隔を空けて並ぶ形で前記第２基板及び前記パネル接続基板に対してそれぞれ接続されており、
   　前記導電部材、前記接続配線及び前記端子部は、それぞれの設置数が前記フレキシブル基板の設置数よりも１つ多い請求項２または請求項３記載の表示装置。
5. 　複数の前記接続配線には、異なる前記フレキシブル基板に配索されるものが含まれている請求項４記載の表示装置。
6. 　前記第１基板と前記第２基板との間に挟み込まれる液晶層を備える請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の表示装置。
7. 　請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の表示装置の検査方法であって、
   　複数の前記端子部のいずれかに検査電源を接続し、複数の前記端子部の残りのいずれかに閾値電圧以上の電圧が印加されると点灯する検査光源を接続しておき、前記検査電源及び前記検査光源に接続された各前記端子部の間の抵抗値が基準値を超える場合には前記検査光源に印加される電圧が前記閾値電圧を下回り、前記抵抗値が基準値以下の場合には前記検査光源に印加される電圧が前記閾値電圧以上となるよう、前記検査電源に電圧を印加する表示装置の検査方法。
8. 　前記検査光源に対して可変抵抗を並列接続しておき、前記可変抵抗の抵抗値を調整して前記抵抗値の基準値を変更する請求項７記載の表示装置の検査方法。

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