WO2016132625A1

WO2016132625A1 - 試料容器、計測方法、および試料容器の製造方法

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Publication number: WO2016132625A1
Application number: PCT/JP2015/083789
Authority: WO
Inventors: 義朗山本; 中野　郁雄; 倫久川田; 林　隆志
Original assignee: シャープ株式会社
Priority date: 2015-02-18
Filing date: 2015-12-01
Publication date: 2016-08-25

Abstract

　計測装置による計測の対象となる試料を保持する試料容器（１）は、上記試料を保持するための環状の空間を形成する試料充填部（５）を備える。

Description

試料容器、計測方法、および試料容器の製造方法

　本発明は、計測装置を用いた計測の対象となる試料を保持する試料容器、および当該試料容器を用いた計測方法に関する。

　計測の対象となる試料を保持する試料容器として、特許文献１には、上部透明プレートおよび下部透明プレート（２枚のプレート）を有する矩形のセルデバイスが記載されている。２枚のプレートは、適当な（例えばエポキシ）接着剤の結合トラックにより互いに固定されている。試料は、２枚のプレートの間に形成された、矩形のキャビティに充填される。

　そして、計測の対象となる試料を保持する試料容器として、特許文献２には、流路中にスリット状の支持部材を有する分析チップが開示されている。特許文献２の分析チップは、支持部材を設けて流路の幅を狭くすることにより、液体試料を注入した時の気泡の発生を防止することを目的として構成されたものである。

　また、特許文献２の分析チップでは、支持部材が設けられることにより、上板の撓みが防止される。これにより、試料の定量性を保つことが可能となる。

　また、計測の対象となる試料を保持する試料容器として、特許文献３には、円形のディスク内に複数の液体収納部を有する試料容器が開示されている。特許文献３の試料容器では、各液体収納部に対して、試料を注入するための注入孔と、空気を抜くための通気孔とが設けられている。

日本国公開特許公報「特公平２－２４４５９号公報（１９９０年５月２９日公開）」日本国公開特許公報「特許４１００６０９号公報（２００８年１２月１７日公開）」日本国公開特許公報「特許４６６４７８５号公報（２０１１年４月６日公開）」

　特許文献１に記載されたセルデバイスは、試料の複数箇所において連続的または断続的な計測を行う場合に、計測機器に対して平行に往復運動させる必要があり、計測に時間がかかり、計測の効率が悪いという問題がある。

　本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、その一目的は、試料を効率よく計測可能な試料容器、および当該試料容器を用いた計測方法を提供することである。

　また、特許文献２の分析チップでは、支持部材が設けられていることにより、試料の充填量が少ない。他方、特許文献２の分析チップにおいて、支持部材を除外した場合には、試料の充填量を増加させることが可能となるものの、上板の撓みを防止することができない。このように、特許文献２の分析チップでは、試料の充填量を増加させつつ、構造的な安定性を確保することができないという問題がある。

　本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その一目的は、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能な試料容器を提供することである。

　上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る試料容器は、計測装置による計測の対象となる試料を保持する試料容器であって、上記試料を保持するための環状の空間を形成する試料保持部を備える。

　また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る試料容器は、試料を保持するための矩形の空間を形成する試料保持部を備え、上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、上記第１基板は、上記保持部の長辺方向に沿って形成された少なくとも１つの注入孔と、上記試料保持部の長辺方向に沿って形成された、上記注入孔に相対する複数の通気孔と、を有し、上記試料保持部の長辺方向における上記注入孔または上記通気孔の間隔は、上記第１基板が上記注入孔または上記通気孔の形成によって撓まないように設定されている。

　本発明の一態様に係る試料容器によれば、試料保持空間が矩形の試料容器を往復運動させる場合よりも計測時間を短縮できるという効果を奏する。

　また、本発明の一態様に係る試料容器によれば、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することができるという効果を奏する。

本発明の実施形態１に係る試料容器の平面図である。本発明の実施形態１に係る試料容器を構成する各部の図であって、（ａ）は、上側基板の平面図、（ｂ）は、下側基板の平面図、（ｃ）は、スペーサの配置を示す平面図である。本発明の実施形態１に係る試料容器の断面図である。本発明の実施形態１に係る試料容器の計測領域を示す拡大図である。本発明の実施形態１に係る試料容器を用いて計測を行う計測装置の図である。従来の試料容器を用いて計測を行った場合の問題点を説明するための図である。（ａ）～（ｃ）はいずれも本発明の実施形態２に係る試料容器の上側基板の平面図である。（ａ）～（ｅ）はいずれも本発明の実施形態３に係る試料容器の上側基板の平面図である。本発明の実施形態４を説明するための図であって、（ａ）は、図８の（ｄ）の上側基板を適用した場合の試料充填部のギャップの分布を例示する図であり、（ｂ）は、図８の（ｅ）の上側基板を適用した場合の試料充填部のギャップの分布を例示する図である。本発明の実施形態４に係る試料容器の一設計条件を例示する図である。本発明の実施形態５に係る試料容器の平面図である。本発明の実施形態５に係る試料容器を構成する各部の図であって、（ａ）は、上側基板の平面図、（ｂ）は、下側基板の平面図、（ｃ）は、スペーサの配置を示す平面図である。本発明の実施形態６に係る試料容器の計測領域を示す拡大図である。本発明の実施形態６に係る試料容器の上側基板の一比較例を示す平面図である。本発明の実施形態６に係る試料容器の効果を例示するための図である。本発明の実施形態７に係る試料容器の計測領域を示す拡大図である。

　〔実施形態１〕
　本発明の実施形態１について、図１～６に基づいて説明すれば、以下の通りである。本実施形態では、計測装置１０（後述の図５を参照）による計測の対象となる試料を保持する試料容器１について説明する。この試料容器１は、試料を保持するための試料保持空間（環状の空間）を形成する試料充填部５（試料保持部）を備えており、試料容器１を回転させながら上記試料の計測が行われる。

　なお、以下に示すように、実施形態１～３は、試料保持空間が矩形の試料容器を往復運動させる場合よりも計測時間を短縮させることが可能な試料容器を提供することを目的としている。

　（試料容器の構造）
　図１は、試料容器１の平面図である。図２の（ａ）～（ｃ）は、試料容器１を構成する各部を示す図である。図３は、試料容器１の断面図である。図４は、計測領域７を示す拡大図である。図５は、試料容器１を用いて計測を行う計測装置の図である。図６は、従来の試料容器を用いて計測を行った場合の問題点を説明する図である。

　図１～３に示すように、試料容器１は、上側基板２（基板，第１基板）と、下側基板３（第２基板）と、スペーサ４とを備えている。また、試料容器１は、試料充填部５に試料を注入するための試料注入孔２ａ（注入孔，第２孔）と、試料充填部５内の気体を逃がすための通気孔２ｂ（第１孔）とを有している。

　上側基板２は、試料の計測時に試料充填部５の鉛直上側に位置する。上側基板２は、射出成形によって製造されることが好ましいが、基板に用いる素材に応じて、切削加工、打ち抜き加工、レーザー加工、圧縮成形等のその他の方法によって製造されてもよい。

　下側基板３は、試料の計測時に試料充填部５の鉛直下側に位置する。なお、下側基板３は、射出成形によって製造されてもよいし、基板に用いる素材に応じて、切削加工、打ち抜き加工、レーザー加工、圧縮成形等のその他の方法によって製造されてもよい。

　上側基板２および下側基板３は、ほぼ同じ大きさの円板である。上側基板２および下側基板３は、例えば、直径６～１０ｃｍ、厚さ１ｍｍである。上側基板２および下側基板３の大きさおよび厚さは、計測の対象となる試料の容量に応じて設定されればよい。

　上側基板２には、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂのそれぞれが、環状の試料保持空間に沿って複数形成されている。試料注入孔２ａは、試料充填部５に試料を注入するための開口部である。通気孔２ｂは、試料注入時に試料充填部５内の気体を逃がすための開口部である。試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂは、図１に示すように、試料保持空間の外側および内側に、試料保持空間を挟んで形成されている。なお、試料注入の観点から、上側基板２に形成されている開口部の、試料保持空間に沿った長さが長いほうを試料注入孔として選択することが好ましい。詳細な理由は後述する。

　上側基板２の中央には、円形の開口２６が設けられている。下側基板３の中央には、円形の開口３６が設けられている。開口２６および開口３６の大きさは等しく、中心は一致している。開口２６および開口３６には、後述する計測装置１０の固定軸３５が挿入される。

　スペーサ４は、上側基板２と下側基板３との隙間を一定に維持する部材であり、それぞれ環状である外側スペーサ４ａおよび内側スペーサ４ｂで構成されている。外側スペーサ４ａの外径は、上側基板２の外径および下側基板３の外径と同じである。内側スペーサ４ｂの内径は、開口２６および開口３６の大きさと等しいか、またはそれらよりも大きい。スペーサ４は、外側スペーサ４ａおよび内側スペーサ４ｂの中心を、上側基板２および下側基板３の中心と一致させた状態で、上側基板２と下側基板３との間に挟持されている。

　スペーサ４の厚さは、計測の対象となる試料の容量および計測装置１０による計測方法に応じて設定されればよく、例えば、５０μｍ以上かつ１ｍｍ以下である。

　スペーサ４の材質は、例えば、ポリカーボネート、ポリスチレン、ＣＯＰ（シクロオレフィンポリマー）、ＣＯＣ（シクロオレフィンコポリマー）、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＭＭＡ（ポリメチルメタクリレート）、ＡＢＳ（アクリロニトリル－ブタジエン－スチレン）、または光硬化樹脂等の樹脂材料である。スペーサ４として両面テープを用いてもよい。

　上述した通り、試料容器１は上側基板２と下側基板３とでスペーサ４を挟むことにより形成されている。液体試料の流出を防ぐためには、基板とスペーサとは接着剤、両面テープ、熱融着、超音波融着等の接合手段により接合されていることが好ましい。スペーサに両面テープあるいは光硬化樹脂を用いる場合は、スペーサ自身が接着剤としての役割も果たすことになる。

　試料充填部５は、環状の試料保持空間を形成する構造体であり、上側基板２と、下側基板３と、スペーサ４とによって構成されている。これらの部材によって囲まれた空間が試料保持空間である。試料充填部５の高さは、スペーサ４の高さで規定される。試料充填部５の幅は、外側スペーサ４ａの内径と、内側スペーサ４ｂの外径とで規定される。

　また、試料容器１の、上記環状の空間の中心軸を含む複数の平面により上記環状の空間を切断したときの断面は、全て同じ形状であることが好ましい。図３には、当該断面の一例が示されており、上記環状の空間に相当する試料充填部５の断面は長方形である。固定軸３５の中心軸を含む平面を用いて切断するのであれば、どの箇所で試料充填部５を切断しても、その断面は長方形である。この構成により、試料容器１を回転させ、試料充填部５内に充填された試料を計測する場合に、試料充填部５の断面形状が変化することにより計測結果に悪影響を与えてしまうことを防止できる。

　開口６は、上側基板２の開口２６と、下側基板３の開口３６とが、平面視で重なることで構成されている。

　図４に示すように、平面視で試料充填部５における試料注入孔２ａと通気孔２ｂとの間の領域が、計測領域７となる。この計測領域７は、計測装置１０による計測の対象となる領域である。

　（上側基板の詳細な説明）
　上述した通り、上側基板２には、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂが設けられている。上側基板２は、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂが設けられていることによる強度の低下を補うため、所定値以上の厚さで下側基板３より厚く形成されることが好ましい。

　図２の（ａ）および図３に示すように、試料注入孔２ａは、試料充填部５の外縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。すなわち、試料注入孔２ａは、試料保持空間に沿って形成されたスリット形状を有している。試料注入孔２ａは、等角度間隔に４箇所設けられている。試料注入孔２ａの外縁は、外側スペーサ４ａの内縁より内側に位置する。

　通気孔２ｂは、試料充填部５の内縁に沿うように設けられた円形の孔である。通気孔２ｂは、等角度間隔に３６箇所設けられている。それぞれの通気孔２ｂの一部分は、内側スペーサ４ｂの外縁より内側に位置してもよい。すなわち、通気孔２ｂの一部分が内側スペーサ４ｂによって塞がれていてもよい。通気孔２ｂについては、わずかでも開いていれば、空気を逃す役割を果たすことができる。

　図２の（ａ）に示されるように、上側基板２において、通気孔２ｂの数は、試料注入孔２ａの数よりも多い。このように、通気孔２ｂの数が試料注入孔２ａの数よりも多くなるように、上側基板２が製作されることが好ましい。その理由については後述する。

　但し、上側基板２において、通気孔２ｂの数は試料注入孔２ａの数と等しくてもよい。すなわち、本発明の一態様に係る試料容器において、通気孔の数は試料注入孔の数以上であればよい。

　なお、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂの位置関係は、図２と逆であってもよい。すなわち、試料注入孔２ａが試料充填部５の内縁側に設けられ、通気孔２ｂが試料充填部５の外縁側に設けられていてもよい（後述の図８を参照）。換言すれば、試料注入孔２ａが第１孔であり、通気孔２ｂが第２孔であってもよい。

　試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂを上側基板２に設け、上側基板２を鉛直上側にして試料容器１を形成し、上側基板２側を鉛直上側に向けて試料容器１を計測装置に設置することにより、試料計測中の試料充填部５からの試料の漏れを防止することができる。また、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂは、同一半径円の円周上に等角度間隔で設けられている。すなわち、開口６の中心（試料充填部５の環の中心）を中心とする同一円上に等間隔で設けられている。これにより、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂを設けることによる、上側基板２の強度の低下の影響が分散され、また、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂが形成されない箇所に、基板への荷重が均等に分散される。その結果、上側基板２が撓むことを防止できる。

　なお、開口６の中心を基準とした各試料注入孔２ａ間の角度間隔、および当該中心を基準とした各通気孔２ｂ間の角度間隔の両方が、それぞれ同一であることは必ずしも要求されない。

　開口６の中心を基準とした各試料注入孔２ａ間の角度間隔、または当該中心を基準とした各通気孔２ｂ間の角度間隔の少なくともいずれかが同一であれば、上側基板２の撓みを防止できる。加えて、後述するように、ウェルドラインが発生する可能性を低減することができる。

　同様に、各試料注入孔２ａ間の距離、および各通気孔２ｂ間の距離の両方が、それぞれ同一であることは必ずしも要求されない。各試料注入孔２ａ間の距離、または各通気孔２ｂ間の距離の少なくともいずれかが、それぞれ同一であれば、上側基板２の撓みを防止できる。加えて、後述するように、ウェルドラインが発生する可能性を低減することができる。

　（試料容器の材質）
　上側基板２、下側基板３およびスペーサ４の材質は、計測の妨げとなるものでなければ、特に限定されない。但し、上側基板２の材質としては、射出成形による製造に好適な部材（合成樹脂等）を選択することが好ましい。

　例えば、試料に対して光学的な計測が行われる場合には、上側基板２と下側基板３との少なくとも一方が透明な部分を有していればよい。より好ましくは、上側基板２と下側基板３とのうち少なくとも一方が透明な材料で構成されていればよい。すなわち、上側基板２と下側基板３とのうち少なくとも一方が透明な基板であれればよい。

　また、光学的計測のうち、蛍光を利用して計測が行われる場合、上述の透明な材料は、自家蛍光の少ない材質であることが好ましい。そのような材料の例としては、例えば石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー、ポリカーボネートが挙げられる。

　また例えば、水に分散された試料の場合、試料注入のしやすさを考えて、上側基板２および下側基板３は、親水性の材質であることが好ましい。具体的には、試料充填部５の表面と、当該試料充填部５に保持された純水との接触角が７０°以下であることがさらに好ましい。上側基板２および／または下側基板３が疎水性の材料、例えば合成樹脂などで構成される場合、少なくとも試料充填部５を形成する表面には、純水との接触角が７０°以下になるように、親水化加工を施すことが好ましい。これにより、試料保持空間の隙間が狭い場合に、毛細管力を利用して試料の注入を容易化できる。

　（試料）
　試料容器１に充填される試料は、可溶性の計測対象物質を含む液体試料、または不溶性の粒子状物質が液体中に分散した試料であれば特に限定されず、試料充填部５に充填できる組成の試料であればよい。

　上記試料は、例えば体液（具体的には、血液、唾液、または尿等）であってよい。また、例えば水（具体的には、河川、海、飲料水、工業用の洗浄水、または植物栽培用の水等）であってもよい。

　このような試料に対する計測としては、定量分析（粒子の数カウント、濃度など）、定性分析（特定物の存在の有無、物質の特定など）、光学的分析（散乱光、蛍光、燐光、吸光、発光、画像、顕微鏡など）、またはその他の計測（電気化学的計測、微小電場計測、微小磁場計測）などが挙げられる。

　（試料の注入方法）
　上記試料は、先細のピペットを用いて試料注入孔２ａへ注入される。ピペットは、試料注入孔２ａの幅より細い先端を有する。試料注入孔２ａへ注入された試料は、毛細管現象（毛細管力）により、試料充填部５に充填される。一方、試料充填部５に存在していた気体、例えば空気などは試料により通気孔２ｂから押し出される。

　上述した通り、試料注入孔２ａはスリット状であるため、当該スリットに沿って連続的に試料を注入すると、その試料は、試料充填部５の内側（開口６が位置する側）へ移動する。そのため、１箇所の円形の注入孔から注入するよりも、試料が試料充填部５内を移動する距離が短くなる。そのため、試料の充填に要する時間が短くなる。

　また、スリット状の試料注入孔２ａに沿って連続的に試料を注入するため、気泡の発生が低減される。一般に、気泡は、複数箇所から注入された液体の合流箇所に発生しやすいため、液体の注入孔が多いと、気泡が発生する虞は増大する。スリット状の試料注入孔２ａに沿って連続的に試料を注入することにより、ある注入孔から注入された液体が、他の注入孔から注入された液体と合流するときの境界面の発生を少なくすることができる。このため、上述した通り、上側基板２に形成されている開口部の、試料保持空間に沿った長さが長いほうを試料注入孔２ａとして選択することが好ましい。

　（計測装置の構成）
　図５は、本実施形態の試料容器１を用いて計測を行う計測装置１０の一例を示す図である。ここでは、計測装置１０の一例として、試料容器１の下側基板３の側から試料の計測を行う装置について説明する。

　この計測装置１０は、試料を保持した試料容器１を回転させる回転駆動系（回転軸３２、モータ３４）と、散乱光および蛍光を検出する光学モジュール１６と、光学モジュール１６を半径方向に駆動させる駆動機構（不図示）とを備えている。

　（光学モジュール１６）
　光学モジュール１６は、主な構成要素として、光源装置１１、対物レンズ１２、第１～第３検出装置１３～１５、プリズムミラー１７、第１・第２ダイクロイックミラー１８・１９を備えている。光学モジュール１６の上方には対物レンズ１２に対向して試料容器１が配置される。

　光源装置１１から出射した光は、プリズムミラー１７によって対物レンズ１２に向けて反射される。

　第１ダイクロイックミラー１８は、対物レンズ１２からの蛍光を透過する一方、散乱光は反射する。第２ダイクロイックミラー１９は、第１ダイクロイックミラー１８を透過した蛍光のうち、第１波長を有する第１の蛍光を透過する一方、第１波長よりも波長が短い第２波長を有する第２の蛍光を反射する。これらの部材の機能により、第１の蛍光は第１検出装置１３に入射し、第２の蛍光は第２検出装置１４に入射し、散乱光は第３検出装置１５に入射する。

　また、光学モジュール１６は、第１波長とは異なる波長の光を減光する第１バンドパスフィルタ２０、第１バンドパスフィルタ２０を通過した第１波長の第１の蛍光を集光する第１レンズ２１を備えている。

　第１検出装置１３は、第１レンズ２１を通過した第１の蛍光の迷光をカットする第１アパーチャ２２、および第１アパーチャ２２を通過した第１の蛍光を検出する光電子増倍管（ＰＭＴ，Photoelectron Multiplier Tube）等の検出素子を含む第１検出器２３を備えている。

　また、光学モジュール１６は、第２バンドパスフィルタ２４、第２レンズ２５を備えている。第２検出装置１４は、第２アパーチャ３７および第２検出器２７を備えている。これらの部材は、基本的には、第１バンドパスフィルタ２０、第１レンズ２１、第１アパーチャ２２および第１検出器２３と同じ構成を有している。但し、第２波長の第２の蛍光に対する処理を行う点において異なる。

　また、光学モジュール１６は、ＮＤ（Neutral Density，減光）フィルタ２８、第３レンズ２９を備えている。第３検出装置１５は、第３アパーチャ３０および第３検出器３１を備えている。これらの部材は、基本的には、第１バンドパスフィルタ２０、第１レンズ２１、第１アパーチャ２２および第１検出器２３と同じ構成を有している。但し、上記試料からの散乱光に対する処理を行う点において異なる。

　光学モジュール１６の上方には、試料容器１を載置するための、回転軸３２に固定された透明且つ円形なテーブル３３が設けられている。テーブル３３には、円柱状の固定軸３５（図３参照）が設けられている。固定軸３５の直径は、試料容器１の開口６よりわずかに小さい。

　固定軸３５の中心軸は、回転軸３２の中心軸と一致している。回転軸３２は、上記回転駆動系の一例としてのモータ３４で回転可能になっている。これに対し、光学モジュール１６は、試料容器１の半径方向に、上記駆動機構によって移動可能になっている。

　尚、光学モジュール１６の上記駆動機構については特に限定するものではない。例えば、光学モジュール１６の枠体を、ステッピングモータ等で上記半径方向に往復動されるタイミングベルト等により、上記半径方向に配設されたガイドレールで案内されて、移行可能に構成する。

　上述したとおり、上側基板２は、下側基板３より厚く形成されている。そのため、基板の厚さが計測結果に影響を与えるような計測、例えば光学的計測などを行う場合、計測装置１０の光学モジュール１６を試料容器１の下側に設けることが好ましい。下側基板３は上側基板２より薄いため、光学モジュール１６を試料容器１の上側に設ける場合に比べて、計測信号に与える影響が小さくなる。

　（計測方法）
　試料容器１は、テーブル３３に載置される。試料容器１の開口６は、テーブル３３の固定軸３５に嵌合されているため、試料容器１は回転軸３２に対して固定されている。

　試料容器１が載置されたテーブル３３をモータ３４によって回転させることで、試料容器１もまた回転する。このようにして、計測時に試料充填部５の環の中心を軸として、試料容器１を回転させる。

　一方、光源装置１１と対物レンズ１２と第１～第３検出装置１３～１５とが収納された光学モジュール１６は、試料容器１の半径方向に移動する。こうして、集束されたレーザー光が、計測領域７に照射されると、計測領域７の試料から周囲に散乱光および蛍光が発生する。これらの蛍光および散乱光を、第１～第３検出装置１３～１５の第１～第３検出器２３・２７・３１によって検出する。

　具体的には、試料の計測の際には、光源装置１１からレーザー光を出射させる。出射されたレーザー光は、プリズムミラー１７によって反射され、対物レンズ１２およびテーブル３３を通過して、試料容器１の試料充填部５に集光される。このレーザー光が照射される領域が計測領域７である。

　対物レンズ１２で集光されたレーザー光が、試料容器１内の試料に含まれる微小粒子に照射されると、微小粒子によって散乱された散乱光と蛍光とが発生する（以下、散乱光と蛍光とをまとめて信号光と言う）。発生した上記信号光を、第１～第３レンズ２１・２５・２９で集束光にする。

　上記信号光のうちの散乱光は、第１ダイクロイックミラー１８で反射され、ＮＤフィルタ２８で減光された後、第３レンズ２９で収束されて第３検出器３１に導かれる。第３レンズ２９の焦点位置には第３アパーチャ３０が配置されており、迷光が除去される。

　第１ダイクロイックミラー１８を透過した上記信号光のうち、上記第２波長を有する第２の蛍光は第２ダイクロイックミラー１９で反射され、第２バンドパスフィルタ２４を透過した後、第２レンズ２５で収束されて第２検出器２７に導かれる。第２レンズ２５の焦点位置には第２アパーチャ３７が配置されており、第２アパーチャ３７によって迷光が除去される。

　第２ダイクロイックミラー１９を透過した上記第１波長を有する第１の蛍光も同様に、第１バンドパスフィルタ２０を透過した後に、第１レンズ２１で収束されて第１検出器２３に導かれる。第１レンズ２１の焦点位置には第１アパーチャ２２が配置されており、迷光が除去される。

　第１～第３検出器２３・２７・３１によって第１および第２の蛍光、および散乱光が検出されると、その検出結果が計測装置１０の表示部（不図示）に表示される。

　光学モジュール１６は、計測の開始時には、計測領域７の外縁の１点を計測する位置にある。試料容器１の回転に伴って、光学モジュール１６は、回転軸３２に近づく方向に移動していく。そのため、計測領域７内での計測位置の軌跡は、渦状になる。

　なお、光学モジュール１６は、計測の開始時に、計測領域７の内縁の１点を計測する位置にあってもよい。その場合、光学モジュール１６は、計測中に回転軸３２から離れる方向に移動する。

　上述した通り、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂは、上側基板２、すなわち試料容器１の上側に設けられている。一方、計測装置１０の光学モジュール１６は、上述した通り試料容器１の下側に設けられているため、試料容器１の下側から計測信号を検出する。つまり、試料容器１の、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂが設けられている側と異なる側から計測信号を検出する。

　（本実施形態の試料容器の利点）
　従来の矩形の試料容器１００を用いた計測の態様を図６に示す。従来、試料容器１００によって保持された試料を異なる位置で複数回、連続的または断続的に計測しようとする場合、試料容器１００または計測装置のセンサを平行に往復運動させていた。この方法には、計測に時間がかかり、効率が悪いという問題があった。

　短時間で効率よく計測する方法として、試料容器を所定の軸の周りで回転させながら計測する方法が考えられる。しかし、試料容器１００の試料充填部は矩形であるため、計測時に回転させると試料充填部の端部などが計測領域に入り、不要な信号、例えば計測対象物が発する散乱光に比べて非常に強い散乱光が発生する虞がある。不要な信号は、計測結果に悪影響を与えるのみならず、計測装置のセンサ、例えばＰＭＴ（Photo Multiplier Tube、光電子増倍管）に不要な信号として強い散乱光が入射すると、ＰＭＴを破損させる虞がある。例えば、微弱な散乱光が検出対象である場合、試料充填部の端部などにより発生する散乱光は検出対象により発生する散乱光と比べて非常に強いため、そのような散乱光がＰＭＴに入射することでＰＭＴ中の光電変換素子が破損し計測が実施できなくなる可能性がある。

　本実施形態の試料容器１は、環状の試料充填部５を有する。そのため、試料充填部５の環の中心を回転軸として回転させれば、計測領域７は仕切りのない環状となり、空間的に連続した領域となるため、試料充填部５の端部が計測装置１０の計測範囲に入ることはない。また、試料充填部５の空間保持部材であるスペーサ４も、上記計測範囲に入ることはない。したがって、不要な信号が発生する虞はなく、短時間で効率良く計測することができる。

　但し、本発明の一態様に係る試料容器において、試料充填部は矩形であってもよい。従って、計測時間の短縮が必ずしも求められない場合には、試料充填部を矩形とした試料容器を利用してもよい。なお、試料充填部を矩形とした試料容器の具体例については、後述の実施形態５において説明する。

　なお、試料が揮発性の液体である場合（例えば水や有機溶媒等が含まれている場合）には、計測中に試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂから試料が気化し、計測結果に悪影響を及ぼす虞がある。そのような場合、試料容器１に上側基板２を被覆する蓋またはフィルムを設けてもよい。

　また、本実施形態では開口６は円形であり、固定軸３５は円柱状であったが、例えば開口６に溝部を設け、固定軸３５に突起部を設け、スプライン結合させてもよい。

　〔実施形態２〕
　本発明の実施形態２について、図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。本実施形態では、上側基板２に設けられる通気孔について、円形の通気孔２ｂとは異なる形状を有する例について説明する。

　図７の（ａ）～（ｃ）は、本実施形態における試料容器１を構成する上側基板２の平面図である。これらの図に示すように、上側基板２は、通気孔２ｂとは異なる形状および／または数の通気孔が設けられていてもよい。

　例えば、図７の（ａ）に示すように、楕円形の通気孔２１ｂが、開口２６の中心を中心とする円の円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。また、図７の（ｂ）に示すように、長円形の通気孔２２ｂが、上記円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。さらに、図７の（ｃ）に示すように、短いスリット状の通気孔２３ｂが、上記円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。

　さらに、図７の（ａ）～（ｃ）に例示した通気孔２１ｂ・２２ｂ・２３ｂ以外の形状および／または数の通気孔を設けてもよい。

　〔実施形態３〕
　本発明の実施形態３について、図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。本実施形態では、上側基板２に設けられる試料注入孔および通気孔について、実施形態１とは異なる位置関係を有する例について説明する。

　図８の（ａ）～（ｅ）は、本実施形態における試料容器を構成する上側基板２の平面図である。図８の（ａ）に示すように、本実施形態における試料容器１の上側基板２には、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂが設けられている。

　試料注入孔２ａは、試料充填部５（図１参照）の内縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。試料注入孔２ａは、開口２６の中心を中心とする円の円周上に等角度間隔に複数設けられている。

　通気孔２ｂは、試料充填部５（図１参照）の外縁に沿うように設けられた、円形の孔である。通気孔２ｂは、上記円周上に等角度間隔に複数設けられている。

　このように、試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂの位置関係は、実施形態１と逆であってもよい。すなわち、試料注入孔２ａが試料充填部５の内縁側に設けられ、通気孔２ｂが試料充填部５の外縁側に設けられていてもよい。

　また、実施形態２と同様に、通気孔の形状は、円形の通気孔２ｂと異なる形状および／または数であってもよい。例えば、図８の（ｂ）に示すように、極めて短いスリット状の通気孔２４ｂが、上記円周上に等角度間隔に１６箇所設けられていてもよい。また、図８の（ｃ）に示すように、短いスリット状の通気孔２３ｂが、上記円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。また、図８の（ｄ）に示すように、スリット状の通気孔２５ｂが、上記円周上に等角度間隔に８箇所設けられていてもよい。さらに、図８の（ｅ）に示すように、長いスリット状の通気孔２６ｂが、上記円周上に等角度間隔に４箇所設けられていてもよい。上記円周上に等角度間隔に通気孔を設けた場合、試料注入孔２ａおよび通気孔を設けることによる、上側基板２の強度が低下することの影響が分散され、また、試料注入孔２ａおよび通気孔が形成されない箇所に基板への荷重が均等に分散される。さらに、試料充填部５の外縁部に存在する、通気孔間に形成される橋渡し部が上側基板２を支持する梁としての役割も果たす。その結果、通気孔を等角度間隔ではなく偏在させる場合と比較して、上側基板２が撓むことを抑制できる。

　さらに、図８の（ｂ）～（ｅ）に例示した通気孔２４ｂ・２３ｂ・２５ｂ・２６ｂ以外の形状および／または数の通気孔を設けてもよい。

　なお、図８の（ｅ）に示したような形態においては、通気孔２６ｂから試料を注入してもよい。その場合、試料注入孔２ａが通気孔としての機能を果たす。

　〔実施形態４〕
　本発明の実施形態４について、図９および図１０に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。

　なお、以下に示すように、実施形態４および５は、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能な試料容器を提供することを目的としている。

　本実施形態に示すように、本発明の一態様に係る試料容器は、試料を保持するための環状の空間を形成する試料保持部を備え、上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、上記第１基板は、上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔と、上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔と、を有し、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔または上記第２孔の間隔は、上記第１基板が上記第１孔または上記第２孔の形成によって撓まないように設定されている。

　また、本発明の一態様に係る試料容器は、試料を保持するための環状の空間を形成する試料保持部を備え、上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、上記第１基板は、上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔と、上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔と、を有し、上記第１孔または上記第２孔のいずれか一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、上記第１孔または上記第２孔の他方は、通気孔であり、上記通気孔の数は、上記注入孔の数以上である。

　本発明の一態様に係る試料容器によれば、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することができるという効果を奏する。

　（本実施形態における上側基板の好適な構成について）
　本願の発明者らは、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保した試料容器１を実現すべく、上側基板２の好適な構成を新たに見出した。以下、当該構成について説明する。

　図９は、本発実施形態の試料容器１における、通気孔の数と試料注入孔の数との関係を説明するための図である。具体的には、図９の（ａ）は、上述の図８の（ｄ）の上側基板を適用した場合の試料充填部のギャップの分布を例示する図である。また、図９の（ｂ）は、上述の図８の（ｅ）の上側基板を適用した場合の試料充填部のギャップの分布を例示する図である。

　以降、ＰＭＭＡを材料として、試料容器１の上側基板２および下側基板３を製造した場合を例示して説明する。なお、図８の（ｄ）および（ｅ）において、上側基板２および下側基板３の厚さは、ともに１．０ｍｍであるとする。

　上述のように、図８の（ｄ）の上側基板２には、試料注入孔２ａおよび通気孔２５ｂが設けられている。試料注入孔２ａは、試料充填部５の内縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。試料注入孔２ａは、等角度間隔に４箇所設けられている。

　また、通気孔２５ｂは、試料充填部５の外縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。通気孔２５ｂは、等角度間隔に８箇所設けられている。このように、図８の（ｄ）の上側基板２では、通気孔２５ｂの数は、試料注入孔２ａの数よりも多い。

　より具体的には、本実施形態において、図８の（ｄ）の試料注入孔２ａおよび通気孔２５ｂの詳細な構成は、以下の通りである。

　図８の（ｄ）において、試料注入孔２ａは、半径２７ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として９０°ごと）に配置されている。試料注入孔２ａの数は、４個である。そして、試料注入孔２ａは、略円弧状に形成されている。試料注入孔２ａのサイズは、幅１ｍｍ、長さ３３ｍｍである。試料注入孔２ａは、開口６の中心を基準として７０°の中心角を有するように形成されている。

　また、図８の（ｄ）において、通気孔２５ｂは、半径３７．５ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として４５°ごと）に配置されている。通気孔２５ｂの個数は、８個である。そして、通気孔２５ｂは、略円弧状に形成されている。通気孔２５ｂのサイズは、幅１ｍｍ、長さ２６ｍｍである。通気孔２５ｂは、開口６の中心を基準として４０°の中心角を有するように形成されている。

　図８の（ｅ）の上側基板２には、試料注入孔２ａおよび通気孔２６ｂが設けられている。試料注入孔２ａは、試料充填部５の内縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。試料注入孔２ａは、等角度間隔に４箇所設けられている。なお、図８の（ｅ）の上側基板２では、隣接する試料注入孔２ａ間の距離は、図８の（ｄ）の上側基板２の場合よりも小さい。

　また、通気孔２６ｂは、試料充填部５の外縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。通気孔２６ｂは、等角度間隔に４箇所設けられている。このように、図８の（ｅ）の上側基板２では、通気孔２６ｂの数は、試料注入孔２ａと等しい。なお、図８の（ｅ）の上側基板２では、通気孔２６ｂから試料を注入してもよい。この場合、試料注入孔２ａが通気孔としての機能を果たす。

　より具体的には、本実施形態において、図８の（ｅ）の試料注入孔２ａおよび通気孔２６ｂの詳細な構成は、以下の通りである。

　図８の（ｅ）において、試料注入孔２ａは、半径２７ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として９０°ごと）に配置されている。試料注入孔２ａの数は、４個である。そして、試料注入孔２ａは、略円弧状に形成されている。試料注入孔２ａのサイズは、幅１ｍｍ、長さ３８ｍｍである。試料注入孔２ａは、開口６の中心を基準として８０°の中心角を有するように形成されている。

　また、図８の（ｅ）において、通気孔２６ｂは、半径３７．５ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として９０°ごと）に配置されている。通気孔２６ｂの個数は、４個である。そして、通気孔２６ｂは、略円弧状に形成されている。通気孔２６ｂのサイズは、幅１ｍｍ、長さ５２ｍｍである。通気孔２６ｂは、開口６の中心を基準として８０°の中心角を有するように形成されている。

　図９の（ａ）は、図８の（ｄ）の上側基板２を適用した場合における、試料充填部５の異なる位置におけるギャップ（すなわち、上側基板２と下側基板３との間の隙間）の長さの変化を例示するグラフである。図９の（ａ）において、グラフの横軸は、試料容器１の周方向の位置を示す中心角の角度（°）である。また、グラフの縦軸は、試料充填部５のギャップの長さ（μｍ）である。

　図９の（ａ）では、各角度に対して、半径ｒ＝２９ｍｍ、ｒ＝３２ｍｍ、ｒ＝３５ｍｍの３通りの半径によって規定される位置において、試料充填部５のギャップの長さが測定された結果が示されている。

　図９の（ａ）に示されるように、図８の（ｄ）の上側基板２を適用した場合には、試料充填部５のギャップは、中心角の角度および半径にほぼ依存せず、概ね均一の値（約５０μｍ）となることが確認された。このように、図８の（ｄ）の上側基板２を適用した場合には、上側基板２の撓みが抑制され、試料充填部である流路を特に安定させることができる。

　他方、図９の（ｂ）は、図８の（ｅ）の上側基板２を適用した場合における、試料充填部５の異なる位置におけるギャップの長さを例示するグラフである。

　図９の（ｂ）に示されるように、図８の（ｅ）の上側基板２を適用した場合には、試料充填部５のギャップは、中心角の角度に対して高い依存性を有することが確認された。このように、図８の（ｅ）の上側基板２を適用した場合には、図８の（ｄ）の上側基板２を適用した場合に比べて、上側基板２の撓みが抑制されず、流路を安定させるという効果が実現されないことが理解される。

　続いて、通気孔の数を試料注入孔の数よりも多くした場合に、上側基板２の撓みが抑制される理由について、以下に説明する。

　上述の通り、試料容器１は、スペーサ４が上側基板２と下側基板３とによって挟まれることにより形成されている。また、各基板とスペーサ４とは接合されている。上側基板２において、スペーサ４との接合部分および環状の試料保持空間を形成する部分以外の箇所において、通気孔ならびに試料注入孔が形成されずブリッジ状の形状となる箇所が生じる。以下、当該箇所をブリッジ部（橋渡し部）と称することとする。

　換言すれば、上側基板２において、試料注入孔および通気孔は、環状の試料保持空間を挟んで形成されており、２つの通気孔により形成されるブリッジ部が、試料注入孔１箇所に対して試料保持空間を挟んだ側に少なくとも１箇所存在していると理解されてもよい。

　ここで、上述の図４には、これらのブリッジ部が例示されている。ブリッジ部ＢＲ１（橋渡し部）は各通気孔２ｂ間に介在するブリッジ部であり、ブリッジ部ＢＲ２は各試料注入孔２ａ間に介在するブリッジ部である。上側基板２において、ブリッジ部ＢＲ１およびＢＲ２のそれぞれは、上側基板２を支持する梁の役割を担う。

　従って、図４または図８の（ｄ）において、上側基板２の円周方向における通気孔２ｂ・２５ｂの間隔または試料注入孔２ａの間隔を一定とするなら、通気孔または試料注入孔の少なくともいずれかの数を多くすることにより、ブリッジ部の数を増加させることができるため、試料容器を構造的に安定させることが可能となる。

　なお、後述の図１０に示されるように、上記円周方向における通気孔２ｂ・２５ｂの間隔Ｐ１とは、厳密には、複数の通気孔２ｂ・２５ｂが配置されている同一半径（第１の半径）の仮想的な円の円周（周上）における通気孔２ｂ・２５ｂの間隔である。また、上記円周方向における試料注入孔２ａの間隔Ｐ２とは、複数の試料注入孔２ａが配置されている同一半径（第２の半径）の仮想的な円の円周における試料注入孔２ａの間隔である。

　また、図４または図８の（ｄ）に示されるように、上側基板２において、円周方向における試料注入孔２ａの長さは、円周方向における通気孔２ｂ・２５ｂの長さ以上であるように構成されている。これにより、ブリッジ部のサイズを大きくすることができ、試料容器１の構造的な安定性をさらに向上させることが可能となる。また、通気孔２・２５ｂの数を増やすことにより、上側基板２の撓みを好適に抑制することができる。

　ところで、上述の通り、試料はスリット状の試料注入孔に沿って注入されるが、試料注入孔には上記ブリッジ部が形成されるため、試料充填部に完全に試料を充填するためには試料注入孔ごとにピペット先端部の挿入・抜去を行う必要がある。このため、試料注入の作業性を考慮すると、試料注入孔の数を低減することが好ましいと言える。そこで、本願の発明者らは、通気孔の数を試料注入孔の数よりも多くすることにより、試料注入の作業性を保ちつつ、かつ、構造的な安定な試料容器を実現することができることを新たに見出した。

　なお、上側基板２の円周方向における通気孔の間隔または試料注入孔の間隔を、上側基板２の撓みを抑制できる程度に大きくした場合には、通気孔の数を試料注入孔と等しくしてもよい。すなわち、通気孔の数は、試料注入孔の数以上であればよい。

　以上の点を踏まえて、本願の発明者らは、試料保持空間によって保持される試料の充填量を増加させつつ、試料容器１の構造的な安定性を確保するための構成として、以下の構成Ｘ１を見出した。この構成Ｘ１は、環状の試料容器１に適用するために見出された設計条件であると理解されてもよい。

　（構成Ｘ１）：試料注入孔２ａと通気孔２ｂとの間の最短の距離を規定する線分を第１線分とする。また、環状の空間の最外周部分を第２線分とする。そして、第２線分の長さを、第１線分の長さよりも長くする。そして、試料注入孔２ａを第２線分に沿った方向に配置する。さらに、通気孔２ｂの数を試料注入孔２ａの数以上とする。

　図１０は、構成Ｘ１を例示する図である。図１０には、試料容器１における第１線分（第１線分の長さ）Ｌ１および第２線分（第２線分の長さ）Ｌ２が示されている。図１０に示されるように、Ｌ１＜Ｌ２の関係が満たされている。

　図１０を参照すれば、試料注入孔２ａから注入された試料は同心円状に伸展する。例えば、試料容器１では、試料は第１線分Ｌ１および第２線分Ｌ２の方向に伸展する。

　また、図１０には、各通気孔２ｂの中心間の距離Ｐ３および各試料注入孔２ａの中心間の距離Ｐ４が示されている。図１０に示されるように、Ｐ３＜Ｐ４の関係が満たされている。換言すれば、円周方向における試料注入孔２ａの中心間の距離は、円周方向における通気孔２ｂの中心間の距離よりも大きいと理解されてもよい。

　このように、構成Ｘ１によれば、第１線分Ｌ１に比べて長い第２線分Ｌ２に沿って、通気孔２ｂよりも少数の試料注入孔２ａが設けられることとなる。そして、試料注入孔２ａに注入された試料は、第１線分Ｌ１の方向に進行する。

　このため、試料の注入に要する時間を短縮することができる。加えて、通気孔２ｂの数を試料注入孔２ａの数以上としたことにより、試料を注入した時の気泡の発生も防止される。

　さらに、上述したように、通気孔２ｂの数を試料注入孔２ａの数以上としたことにより、ブリッジ部の数を増加させることができる。そのため、試料充填部５の円周方向における試料注入孔２ａまた通気孔２ｂの間隔を適切に設計することにより、試料容器１を構造的に安定させることが可能となる。

　それゆえ、スリット等の支持部材を設ける必要がないため、試料保持空間の体積を従来よりも多く確保することができる。従って、試料保持空間により多くの試料を注入することが可能となるため、試料の充填量を従来よりも増加させることが可能となる。

　（本実施形態における試料容器１の好適な構造について）
　また、本願の発明者らは、上述の通気孔の数と試料注入孔の数との関係以外についても、試料容器１の好適な構造を新たに見出した。ここで、図１～図３を再び参照して、当該好適な構造について、以下の（１）および（２）の通り説明する。

　（１）試料充填部５の外周の長さ（試料保持空間の長辺の長さ）は、通気孔２ｂの全長の１．２倍以上であることが好ましい。通気孔２ｂのサイズを、試料保持空間に比べて一定以上の小ささにすることにより、ブリッジ部の面積を増加させ、試料容器１を構造的に安定させることが可能となるためである。

　（２）（ｉ）試料注入孔２ａと通気孔２ｂとの間の距離と、（ｉｉ）上側基板２の厚さと、の比の値は、１以上１５以下であることが好ましい。ここで、試料注入孔２ａと通気孔２ｂとの間の距離は、試料保持空間の幅方向の長さとほぼ等しい距離である。

　当該構成によれば、上側基板２の厚さを増加させることにより、上側基板２の強度が向上するため、試料容器１を構造的にさらに安定させることができる。但し、上側基板２の厚さを増加させすぎた場合には、試料容器１の製造コストが増加してしまう。

　そこで、本願の発明者らは、上述の数値範囲によって、試料容器１の構造的な安定性と、試料容器１の製造コストとを両立させることが可能となることを見出した。

　（本実施形態における試料容器の効果）
　以上のように、本実施形態の試料容器１では、試料充填部５の円周方向における試料注入孔２ａまた通気孔２ｂの間隔は、上側基板２が試料注入孔２ａまたは通気孔２ｂの形成によって撓まないように設定されている。また、通気孔２ｂの数は、試料注入孔２ａの数よりも多く設けられている。

　従って、試料容器１によれば、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能となるという効果を奏する。なお、試料保持空間が環状であることから、試料容器１は計測の効率化にも寄与する。

　〔実施形態５〕
　本発明の実施形態５について、図１１および図１２に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。

　図１１は、本実施形態の試料容器１ｘの平面図である。図１２の（ａ）～（ｃ）は、試料容器１ｘを構成する各部を示す図である。以下に示すように、試料容器１ｘは、矩形の試料保持空間を形成する試料充填部５ｘ（試料保持部）を有しているという点で、上述の実施形態４の試料容器１とは異なる。

　（試料容器１ｘの構造）
　試料容器１ｘは、上側基板２ｘ（第１基板）と、下側基板３ｘ（第２基板）と、スペーサ４ｘとを備えている。

　上側基板２ｘおよび下側基板３ｘは、ほぼ同じ大きさの長方形状の板である。上側基板２ｘには、１つの試料注入孔２ａｘ（注入孔）と、３つの通気孔２ｂｘとが、矩形の試料保持空間に沿って設けられている。試料注入孔２ａｘと通気孔２ｂｘとは互いに相対している。なお、通気孔２ｂｘの数が試料注入孔２ａｘの数以上であれば、通気孔２ｂｘおよび試料注入孔２ａｘの数は特に限定されない。

　スペーサ４ｘは、上側基板２ｘと下側基板３ｘとの隙間を一定に維持する部材である。本実施形態において、スペーサ４ｘは、上側基板２ｘおよび下側基板３ｘの外縁部に配置された外側スペーサとして機能する。

　試料充填部５ｘは、矩形の試料保持空間を形成する構造体であり、上側基板２ｘと、下側基板３ｘと、スペーサ４ｘとによって構成されている。これらの部材によって囲まれた空間が試料保持空間である。試料充填部５ｘの高さは、スペーサ４ｘの高さ（厚さ）で規定される。試料充填部５ｘの長辺方向の長さは、スペーサ４ｘを構成する４辺のうちの長い方の２辺の長さで規定される。

　試料容器１ｘは、以下の構成Ｘ２を満足するように製作されている。構成Ｘ２は、上述の構成Ｘ１を、矩形の試料保持空間に適用するために、本願の発明者らによって見出された構成である。

　（構成Ｘ２）：試料注入孔２ａｘと通気孔２ｂｘとの間の最短の距離を規定する線分を第１線分とする。また、試料充填部５ｘの長辺方向を規定する線分（試料保持空間において第１線分に直交する線分）を、第２線分とする。そして、第２線分の長さ（試料充填部５ｘの長辺方向の長さ）を、第１線分の長さよりも長くする。そして、試料注入孔２ａｘを第２線分に沿った方向に配置する。さらに、通気孔２ｂｘの数を試料注入孔２ａｘの数以上とする。

　図１１では、試料容器１ｘにおける第１線分（第１線分の長さ）Ｌ３および第２線分（第２線分の長さ）Ｌ４が示されている。図１１に示されるように、Ｌ３＜Ｌ４の関係が満たされている。このように、試料容器１ｘでは、構成Ｘ２が満たされている。

　（試料容器１ｘの効果）
　以上のように、本実施形態の試料容器１ｘでは、試料充填部５ｘの長辺方向における試料注入孔２ａｘまたは通気孔２ｂｘの間隔は、上側基板２ｘが試料注入孔２ａｘまたは通気孔２ｂｘの形成によって撓まないように設定されている。また、通気孔２ｂｘの数は、試料注入孔２ａｘの数よりも多く設けられている。

　従って、試料容器１ｘによっても、上述の実施形態４における試料容器１と同様に、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能となるという効果を奏する。従って、計測の効率化を目的としない場合には、試料保持空間を矩形とした試料容器１ｘを利用することもできる。

　〔実施形態６〕
　本発明の実施形態６について、図１３～図１５に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。

　なお、以下に示すように、実施形態６～８は、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能な試料容器を提供することを目的としている。

　〔本実施形態の目的〕
　はじめに、本実施形態の目的について説明する。試料容器の材料として樹脂材料を適用した場合には、試料容器の各部材を射出成形によって製造することが可能となるため、試料容器の大量生産が容易となる。射出成形では、部材の形状を規定する金型に加熱した樹脂を注入することによって、当該部材が製造される。

　しかしながら、金型内の樹脂が流れる部分に、樹脂の流れを阻む障害物（例えば、成型品に貫通孔を形成するためのピン（金型の一部））がある場合には、樹脂が当該障害物を迂回した後に会合することとなる。その結果、樹脂の温度を低下させて樹脂を硬化させると、樹脂が会合する位置に、樹脂の接合痕が残ってしまう。

　一般的に、この接合痕は線状であるため、ウェルドラインと呼称されている。試料容器の計測領域（計測装置による計測の対象となる領域）にウェルドラインが発生した場合には、当該ウェルドラインが計測結果に影響を及ぼす。また、発生したウェルドラインを回避するように計測領域を設定すると計測可能な試料の量が減少する。

　しかしながら、上述の特許文献３には、ウェルドラインの影響に対処するための具体的な方法については、何ら考慮されていない。それゆえ、特許文献３の試料容器では、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することができないという問題がある。

　本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その一目的は、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能な試料容器を提供することである。

　上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る試料容器は、試料を保持するための環状の空間を形成する試料保持部を備え、上記試料保持部は、計測装置による上記試料の計測の対象となる領域である計測領域を備えるとともに、上記環状の空間と外部空間とを連通する第１孔および第２孔が形成された基板を備え、上記第１孔および上記第２孔の一方は、上記試料保持部の内径側に形成され、他方は、上記試料保持部の外径側に形成され、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記試料保持部の円周方向における上記第２孔の長さ以下であり、上記第１孔の数は、上記第２孔の数以上である。

　本発明の一態様に係る試料容器によれば、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能となるという効果を奏する。

　（本実施形態における試料容器の好適な構造）
　図１３は、本実施形態における試料容器の計測領域を示す拡大図である。なお、上述の各実施形態における試料容器１との区別のため、本実施形態の試料容器を、試料容器１００１と称することとする。試料容器１００１は、以下に示す樹脂注入孔９０を除いては、上述の試料容器１と同様の構成を有している。

　以降、本実施形態では、上側基板２は、上側基板２の形状を規定する金型（鋳型）に樹脂を注入し、金型内において硬化させた樹脂を射出成形することによって製造されるものとして説明を行う。

　図１３では、上側基板２の金型に設けられた樹脂注入孔の位置を示すために、上側基板２上に樹脂注入孔９０を図示している。但し、実際には、製造段階において上側基板２の表面処理が行われることにより、樹脂注入孔９０の存在が確認しにくい状態になっていることがある。

　図１３に示されるように、上側基板２は、金型に対して、計測領域７の外側（領域外）であって、かつ試料注入孔２ａに比べて通気孔２ｂにより近い位置（すなわち、上側基板２の内径側）に合成樹脂を注入することによって製造されたものであってよい。なお、射出成形による製造に好適な上側基板２の構成については、後に説明する。

　但し、合成樹脂が注入される上側基板２の位置は、上述のものに限定されない。上側基板２は、金型に対して、計測領域７の外側であって、かつ計測領域７以外にのみウェルドラインが発生する箇所から樹脂が注入されることによって製造されたものであればよい。

　（比較例について）
　続いて、図１４を参照し、本実施形態の上側基板２の好適な構成の説明に先立ち、比較例について説明する。図１４は、本実施形態の上側基板２の一比較例としての上側基板２ｘを示す図である。なお、図１４の上側基板２ｘは、上述の図８の（ｅ）の上側基板２と同様のものであるが、説明のために便宜上異なる部材番号を付している。

　図１４に示されているように、上側基板２ｘには、試料注入孔２ａおよび通気孔２６ｂが設けられている。試料注入孔２ａは、試料充填部５の内縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。試料注入孔２ａは、等角度間隔に４箇所設けられている。また、通気孔２６ｂは、試料充填部５の外縁に沿うように設けられた、円弧状のスリットである。通気孔２６ｂは、等角度間隔に４箇所設けられている。

　ここで、図１３と同様に、金型に対して、上側基板２ｘの内縁部の近傍に位置する試料注入孔に樹脂を注入し、上側基板２ｘを製造する場合を考える。

　上側基板２ｘでは、試料充填部５の円周方向に沿った試料注入孔２ａの長さが比較的長く設けられている。従って、金型に樹脂を注入した場合、樹脂が試料注入孔２ａに対応する障害物を迂回する距離が長くなり、樹脂の会合部が長くなってしまう。

　その結果、上側基板２ｘを射出成形によって製造すると、試料注入孔２ａから通気孔２６ｂに亘るウェルドラインが発生することとなる。図１４には、各試料注入孔２ａおよび各通気孔２６ｂに対応する４つのウェルドラインＷＬが発生した場合が例示されている。

　それゆえ、上側基板２ｘでは、ウェルドラインＷＬが計測領域７に交差してしまうため、ウェルドラインＷＬに起因する強度の強い散乱光が発生し、計測結果に影響を及ぼすという問題が生じる。

　（本実施形態における上側基板２の好適な構成について）
　以上の点を踏まえ、本願の発明者らは、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能な試料容器１００１を実現すべく、射出成形による製造に好適な上側基板２の構成を新たに見出した。以下、図１３を再び参照し、当該構成について説明する。

　ここでは、ＰＭＭＡを材料として、図１３の試料容器１００１の上側基板２および下側基板３を製造した場合を例示して説明する。また、上側基板２の厚さは１．５ｍｍであり、下側基板３の厚さは、１．０ｍｍである。はじめに、図１３の試料注入孔２ａおよび通気孔２ｂの詳細な構成について説明する。

　試料注入孔２ａは、半径３７．５ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として９０°ごと）に配置されている。試料注入孔２ａの数は、４個である。そして、試料注入孔２ａは、略円弧状に形成されている。試料注入孔２ａのサイズは、幅１ｍｍ、長さ４６ｍｍである。試料注入孔２ａのそれぞれは、開口６の中心を基準として７０°の中心角を有するように形成されている。

　通気孔２ｂは、半径２５．５ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として１０°ごと）に配置されている。通気孔２ｂの個数は、３６個である。そして、通気孔２ｂは、直径１．２ｍｍの円形に形成されている。

　このように、本実施形態では、通気孔２ｂの個数は、試料注入孔２ａの個数以上となるように設けられている。続いて、図１３に示された距離ｄ１～ｄ４について説明する。距離ｄ１～ｄ４は、以下の（１）～（４）の通り規定された距離である。

　（１）距離ｄ１は、試料充填部５の円周方向における通気孔２ｂの長さを表す。この距離ｄ１は、第１距離と称されてもよい。図１３において、ｄ１＝１．２ｍｍである。図１３に示されるように、距離ｄ１は、試料充填部５の円周方向における試料注入孔２ａの長さ（４６ｍｍ）以下である。

　（２）距離ｄ２は、通気孔２ｂの中心ないし重心の位置から計測領域７までの最短距離を表す。この距離ｄ２は、第２距離と称されてもよい。なお、本実施形態では、通気孔２ｂが円形であるため、通気孔２ｂの中心が、通気孔２ｂの重心となる。図１３において、ｄ２＝２．５ｍｍである。なお、通気孔２ｂの中心の位置とは、通気孔２ｂの重心の位置を表すものと理解されてもよい。

　（３）距離ｄ３は、試料充填部５の円周方向における２つの通気孔２ｂ間の間隔を表す。この距離ｄ３は、第３距離と称されてもよい。図１３において、ｄ３＝２．４５ｍｍである。

　（４）距離ｄ４は、試料充填部５がなす円の半径方向における通気孔２ｂの長さを表す。この距離ｄ４は、第４距離と称されてもよい。なお、本実施形態では、通気孔２ｂが円形であるため、第４距離ｄ４は、上述の第１距離ｄ１に等しい。すなわち、ｄ４＝１．２ｍｍである。

　続いて、本願の発明者らが見出した上側基板２の好適な構成を、以下の（構成Ａ１）～（構成Ａ５）として示す。この（構成Ａ１）～（構成Ａ５）は、金型に対して、計測領域７の外側であって、かつ試料注入孔２ａに比べて通気孔２ｂにより近い位置（すなわち、上側基板２の内径側）に合成樹脂を注入して、上側基板２を製造する場合に、好適な構成である。

　（構成Ａ１）：第１距離ｄ１を、第２距離ｄ２以下とする。これにより、樹脂が通気孔２ｂに対応する障害物を迂回する距離が短縮されるため、樹脂の会合部を短くかつ計測に影響しない距離にすることができる。

　このため、ウェルドラインが発生したとしても、当該ウェルドラインは計測領域７に交差しない領域にのみ（すなわち、計測領域７以外にのみ）発生することとなる。例えば、試料注入孔２ａと通気孔２ｂの間においては、ウェルドラインが発生する範囲を、試料注入孔２ａに比べて通気孔２ｂにより近い領域のみに制限することができる。

　（構成Ａ２）：第１距離ｄ１を、第３距離ｄ３以下とする。これにより、通気孔２ｂに対応する障害物の間を通過する樹脂が会合する位置を、ｄ１がｄ３より大きい場合に比べて、より通気孔２ｂ側に近付けることができる。従って、樹脂の会合部を短くかつ計測に影響しない距離にすることができる。このため、ウェルドラインが発生したとしても、当該ウェルドラインは計測領域７に交差しない領域にのみ発生することとなる。

　（構成Ａ３）：第１距離ｄ１を、第４距離ｄ４以下とする。これにより、樹脂の会合の位置をより通気孔２ｂ側に近付けることができ、樹脂の会合部を短くすることができるため、ウェルドラインを小さくすることができる。

　（構成Ａ４）：通気孔２ｂの形状を、概円形（円、楕円、長円、角が丸い形状）とする。これにより、樹脂の乱流を抑制することが可能になり、かつ、ｄ１をｄ２より大きくすることで樹脂の会合部を短くすることができるため、ウェルドラインを小さくすることができる。

　（構成Ａ５）：開口６の中心を基準とした各通気孔２ｂ間の角度間隔を同一とする。これにより、樹脂の流れをより均一にすることができ、ウェルドラインが発生する可能性を低減することができる。

　以上の（構成Ａ１）～（構成Ａ５）は、射出成形による製造に好適な上側基板２の設計条件であると理解されてもよい。特に、（構成Ａ１）～（構成Ａ３）は、通気孔２ｂを形成するための鋳型の存在によって射出成形時に形成されたウェルドラインが計測領域７に交差しないように、第１距離ｄ１を設定するための設計条件であると理解されてもよい。

　従って、（構成Ａ１）～（構成Ａ５）を満たす上側基板２では、ウェルドラインが計測領域７に交差させないようにすることができるので、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能となる。また、通気孔を内周側に設けることで、計測領域をより拡大させるために通気孔をより内周側に設置させるような設計が可能となる。

　（本実施形態の試料容器の効果）
　図１５は、本実施形態の試料容器１００１の効果を例示するための図である。図１５は、図１３の試料容器１００１において、通気孔２ｂのそれぞれの付近にウェルドラインＷＬが発生した状態を概略的に示す図である。なお、ウェルドラインＷＬは、樹脂注入孔９０の数や位置により発生する方向が変化する。いずれにせよ、図１５に示されているように、本実施形態の試料容器１００１によれば、ウェルドラインＷＬが発生したとしても、当該ウェルドラインＷＬを計測領域７に交差しない領域にのみ発生させることが可能となる。

　以上のように、本実施形態の試料容器１００１によれば、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能となるという効果を奏する。なお、試料容器１００１は、仕切りのない環状の試料保持空間を有することから、計測の効率化にも寄与する。

　〔実施形態７〕
　本発明の実施形態７について、図１６に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、説明を省略する。

　上述の（構成Ａ４）に示されているように、上側基板２に設けられる通気孔は、概円形であることが好ましい。そこで、本実施形態では、上側基板２に設けられる通気孔について、円形の通気孔２ｂとは異なる形状を有する例について説明する。

　なお、本実施形態の上側基板２もまた、上述の実施形態６と同様に、計測領域７の外側であって、かつ試料注入孔に比べて通気孔により近い樹脂注入孔の位置（すなわち、上側基板２の内径側）から、合成樹脂が注入されることによって製造されたものである。

　本実施形態では、試料容器１００１の上側基板として、上述の図７の（ａ）および（ｂ）に示された上側基板２が製造された場合を考える。これらの図に示すように、上側基板２は、通気孔２ｂとは異なる形状および／または数の通気孔が設けられていてもよい。

　例えば、図７の（ａ）に示すように、楕円形の通気孔２１ｂが、開口２６の中心を中心とする円の円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。また、図７の（ｂ）に示すように、長円形の通気孔２２ｂが、上記円周上に等角度間隔に複数設けられていてもよい。

　さらに、図７の（ａ）および（ｂ）に例示した通気孔２１ｂ・２２ｂ以外の形状および／または数の通気孔を設けてもよい。

　図１６は、図７の（ｂ）の上側基板２を適用した場合の、試料容器１００１の計測領域７を示す拡大図である。ここでも、上述の実施形態６と同様にして、ＰＭＭＡを材料として、図１６の試料容器１００１の上側基板２および下側基板３を製造した場合を例示して説明する。また、上述の実施形態６と同様に、上側基板２の厚さは１．５ｍｍであり、下側基板３の厚さは、１．０ｍｍである。

　なお、図１６の試料注入孔２ａの詳細な構成は、図１３と同様であるため、説明を省略する。本実施形態では、通気孔２２ｂの詳細な構成についてのみ述べる。

　通気孔２２ｂは、半径２５．５ｍｍの円周上に、等角度間隔（開口６の中心を基準として１５°ごと）に配置されている。通気孔２２ｂの個数は、２４個である。そして、通気孔２ｂは、長円形状に形成されている。

　このように、本実施形態においても、通気孔２２ｂの個数は、試料注入孔２ａの個数以上であるように設けられている。また、図１６に示された距離ｄ５～ｄ８は、それぞれ以下の（１）～（４）の通り規定された距離である。この距離ｄ５～ｄ８はそれぞれ、上述の距離ｄ１～ｄ４に対応する距離である。

　（１）距離ｄ５は、試料充填部５の円周方向における通気孔２２ｂの長さを表す。この距離ｄ５もまた、第１距離と称されてよい。図１６において、ｄ５＝１．２ｍｍである。図１６に示されるように、距離ｄ５は、試料充填部５の円周方向における試料注入孔２ａの長さ以下である。

　（２）距離ｄ６は、通気孔２２ｂの中心ないし重心の位置から計測領域７までの最短距離を表す。この距離ｄ６もまた、第２距離と称されてよい。図１６において、ｄ６＝２．５ｍｍである。

　（３）距離ｄ７は、試料充填部５の円周方向における２つの通気孔２２ｂ間の間隔を表す。この距離ｄ７もまた、第３距離と称されてもよい。図１６において、ｄ７＝２．４５ｍｍである。

　（４）距離ｄ８は、試料充填部５がなす円の半径方向における通気孔２２ｂの長さを表す。この距離ｄ８もまた、第４距離と称されてよい。なお、本実施形態では、通気孔２ｂが長円形であり、第４距離ｄ８は、上述の第１距離ｄ５よりも長い。図１６において、ｄ８＝２ｍｍである。

　本実施形態においても、上述の（構成Ａ１）～（構成Ａ５）を満たす上側基板２を用いることにより、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することが可能となる。

　〔実施形態８〕
　なお、上側基板２に設けられる試料注入孔および通気孔の位置関係は、上述の実施形態６および７のものに限定されなくともよい。以下、この点について説明する。

　例えば、本発明の一態様に係る上側基板は、上述の図８の（ａ）および（ｂ）に示された上側基板２であってよい。換言すれば、試料注入孔２ａを第１孔として、通気孔２ｂを第２孔としてもよい。

　本実施形態の上側基板２は、樹脂注入孔が上側基板２の外径側に設けられているという点において、上述の実施形態６および７と異なる。但し、計測領域７の外側であって、かつ試料注入孔に比べて通気孔により近い樹脂注入孔の位置から、合成樹脂が注入されることによって、上側基板２が製造されているという点については、実施形態６および７と共通している。

　また、実施形態７と同様に、通気孔の形状は、円形の通気孔２ｂと異なる形状および／または数であってもよい。例えば、図８の（ｂ）に示すように、極めて短いスリット状の通気孔２４ｂが、上記円周上に等角度間隔に１６箇所設けられていてもよい。

　さらに、図８の（ｂ）に例示した通気孔２４ｂ以外の形状および／または数の通気孔を設けてもよい。

　〔まとめ〕
　本発明の態様１に係る試料容器（１）は、計測装置による計測の対象となる試料を保持する試料容器であって、上記試料を保持するための環状の空間（試料保持空間）を形成する試料保持部（試料充填部５）を備える。

　上記の構成によれば、上記試料容器は、試料保持部を備えており、この試料保持部によって、試料を保持するための環状の空間（試料保持空間）が形成される。このような試料保持部を有する試料容器を、試料保持部の環の中心を軸として回転させることにより、試料保持空間が矩形の試料容器を往復運動させる場合よりも計測時間を短縮できる。

　また、上記環状の空間の環の中心軸を含む複数の平面によって上記環状の空間を切断したときの断面は全て同じ形状であることが好ましい。

　本発明の態様２に係る試料容器は、上記態様１において、上記試料保持部に試料を注入するための注入孔（試料注入孔２ａ）と、上記試料保持部内の気体を逃がすための通気孔（２ｂ）とを有していてもよい。

　上記の構成によれば、注入孔から試料を注入する際に、試料保持部内の気体を通気孔から逃がすことができるため、効率よく試料を注入できる。

　本発明の態様３に係る試料容器は、上記態様２において、上記注入孔または上記通気孔は、上記環状の空間に沿って複数形成されていてもよい。また、上記注入孔および上記通気孔は、上記環状の空間を挟んで形成されていてもよい。

　上記の構成によれば、それぞれの注入孔から注入された試料が試料保持部内を移動する距離が短くなり、注入時間を短縮できるとともに、試料保持部内の気体を効率よく逃がすことができるため、効率よく試料を注入できる。

　本発明の態様４に係る試料容器は、上記態様３において、上記注入孔または上記通気孔は、同一半径円の円周上に等角度間隔で設けられていてもよい。

　注入孔または通気孔を設けることによる基板の強度低下の影響が分散され、また、試料注入孔および通気孔が形成されない箇所に基板への荷重が均等に分散され、基板が撓むことを防止できる。

　本発明の態様５に係る試料容器は、上記態様２から４において、上記注入孔は、上記環状の空間に沿って形成されたスリット形状を有していてもよい。

　上記の構成によれば、スリットに沿って連続的に試料を注入することで、試料が試料保持部内を移動する距離が短くなり、注入時間を短縮できる。また、ある注入孔から注入された試料液が、他の注入孔から注入された試料液と合流するときの境界面の発生を抑制することができ、当該境界面において気泡が発生することを抑制できる。

　本発明の態様６に係る試料容器は、上記態様２から５において、上記試料の計測時に鉛直上側に位置する上側基板（２）を備え、上記注入孔および上記通気孔は、上記上側基板に形成されていてもよい。

　上記の構成によれば、試料保持部に注入された試料が注入孔および通気孔から漏れる虞を低減できる。

　本発明の態様７に係る試料容器は、上記態様１から６において、上記試料保持部の表面と、当該試料保持部に保持された純水との接触角が７０°以下であってもよい。

　上記の構成によれば、純水を含む試料の、試料保持部への注入が容易になる。

　本発明の態様８に係る試料容器は、上記態様１から７において、上記試料保持部は、上記試料の計測時に鉛直上側に位置する上側基板と、上記試料の計測時に鉛直下側に位置する下側基板（３）とを備え、上記上側基板または上記下側基板の少なくとも一方は、透明な部分を有していてもよい。

　上記の構成によれば、試料に対する光学的計測を行うことができる。また、上側基板が透明であれば液を充填する際に、液の充填状況を確認することも可能になる。さらに、上側基板および下側基板がともに透明であれば、計測に不要な散乱光や反射光の発生を低減することが可能となる。

　本発明の態様９に係る試料容器は、上記態様８において、上記上側基板または上記下側基板は、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマーおよびポリカーボネートのうちの少なくとも１つを含んでいてもよい。

　上記の構成によれば、上側基板または下側基板を透明基板として製造でき、試料に対する光学的計測、特に蛍光計測の際、試料容器の自家蛍光が無視できるほど小さいため、計測への影響を低減できる。

　本発明の態様１０に係る計測方法は、上記態様１から９のいずれかの試料容器を用いた計測方法であって、計測時に、上記試料保持部の環の中心を軸として、上記試料容器を回転させる。

　上記の構成によれば、試料を短時間で効率よく計測できる。

　本発明の態様１１に係る計測方法は、上記態様１０において、上記試料容器は、上記試料保持部に試料を注入するための注入孔と、上記試料保持部内の気体を逃がすための通気孔とを有しており、上記試料容器の、上記注入孔および上記通気孔が設けられている側と異なる側から計測信号を検出してもよい。

　上記の構成によれば、試料容器の比較的薄い壁を通して計測するため、計測信号に与える影響を低減できる。

　本発明の態様１２に係る試料容器（１）は、上記態様１において、上記試料保持部は、第１基板（上側基板２）と、上記第１基板に相対する第２基板（下側基板３）とを備え、上記第１基板は、上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔（試料注入孔２ａまたは通気孔２ｂの一方）と、上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔（試料注入孔２ａまたは通気孔２ｂのもう一方）と、を有し、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔または上記第２孔の間隔は、上記第１基板が上記第１孔または上記第２孔の形成によって撓まないように設定されていることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能となるという効果を奏する。なお、試料保持空間が環状であることから、当該試料容器は計測の効率化にも寄与する。

　本発明の態様１３に係る試料容器は、上記態様１２において、上記第１孔または上記第２孔のいずれか一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、上記第１孔または上記第２孔の他方は、通気孔であり、上記通気孔の数は、上記注入孔の数以上であることが好ましい。

　上記の構成によれば、橋渡し部を多く形成することが可能になり、第１基板の撓みを抑制することができるという効果を奏する。

　本発明の態様１４に係る試料容器は、上記態様１３において、上記円周方向における上記注入孔の中心間の距離（距離Ｐ４）は、上記円周方向における上記通気孔の中心間の距離（距離Ｐ３）よりも長いことが好ましい。

　上記の構成によれば、第１基板において試料充填部を形成する部分を複数の橋渡し部で支持することが可能となり、撓みを抑制することができるという効果を奏する。

　本発明の態様１５に係る試料容器は、上記態様１３または１４において、上記注入孔および上記通気孔は、上記環状の空間を挟んで形成されており、２つの通気孔により形成される橋渡し部（ブリッジ部ＢＲ１）が、上記注入孔１箇所に対して上記環状の空間を挟んだ側に少なくとも１箇所存在することが好ましい。

　上記の構成によれば、橋渡し部は、第１基板を支持する梁として機能する。このため、試料容器の構造的な安定性を向上させることができるという効果を奏する。

　本発明の態様１６に係る試料容器は、上記態様１３から１５のいずれか１つにおいて、上記円周方向における上記注入孔の長さは、上記円周方向における上記通気孔の長さ以上であることが好ましい。

　上記の構成によれば、橋渡し部のサイズを大きくすることができ、試料容器の構造的な安定性をさらに向上させることが可能となる。また、通気孔の数を増やすことにより、第１基板の撓みをさらに抑制することができるという効果を奏する。

　本発明の態様１７に係る試料容器は、上記態様１３から１６のいずれか１つにおいて、上記注入孔の形状は、上記円周方向に沿ったスリット状であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料容器に試料を注入するために要する時間を低減させることができるという効果を奏する。

　本発明の態様１８に係る試料容器は、上記態様１２から１７のいずれか１つにおいて、各第１孔間の距離、または各第２孔間の距離の少なくともいずれかは、同一であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料容器を構造的にさらに安定させることができるという効果を奏する。

　本発明の態様１９に係る試料容器は、上記態様１２から１８のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の環の中心を基準とした各第１孔間の角度間隔、または上記中心を基準とした各第２孔間の角度間隔の少なくともいずれかは、同一であることが好ましい。

　本発明の態様２０に係る試料容器は、上記態様１２から１９のいずれか１つにおいて、各第１孔は、第１の半径を有する仮想的な円の周上に配置され、各第２孔は、上記第１の半径とは異なる第２の半径を有する仮想的な円の周上に配置されていることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料容器を構造的にさらに安定させることができる。加えて、試料容器への試料の注入が容易化されるため、試料の注入量を必要最小限とすることができるという効果を奏する。

　本発明の態様２１に係る試料容器は、上記態様１２から２０のいずれか１つにおいて、上記第１基板および上記第２基板の少なくとも一方は、透明な基板であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料容器に保持された試料に対して、光学的な計測を好適に行うことができるという効果を奏する。また、上側基板が透明であれば、液を充填する時に、液の充填状況を確認することも可能になる。さらに、上側基板および下側基板がともに透明であれば、計測に不要な散乱光および反射光の発生を防止することが可能となる。

　本発明の態様２２に係る試料容器は、上記態様２１において、上記透明な基板の材料は、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー、またはポリカーボネートのうちのいずれか１つであることが好ましい。

　上記の構成によれば、透明な基板の自家蛍光を低減することができるため、試料から発せられる蛍光を好適に測定することができるという効果を奏する。

　本発明の態様２３に係る試料容器は、上記態様１２から２２のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の表面に対する純水の接触角は、７０°以下であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料保持空間の隙間が狭い場合に、毛細管力を利用して試料の注入を容易化できるという効果を奏する。

　本発明の態様２４に係る試料容器は、上記態様１２から１９のいずれか１つにおいて、上記第１基板および上記第２基板の材料は、合成樹脂であり、上記環状の空間内に位置する上記第１基板または上記第２基板の少なくとも一方の表面には、親水化加工が施されていることが好ましい。

　本発明の態様２５に係る試料容器は、上記態様１２から２４のいずれか１つにおいて、計測結果を示す計測信号が、上記第２基板側から検出されることが好ましい。

　上記の構成によれば、第２基板には第１孔または第２孔（注入孔または通気孔）のいずれも設けられていないため、第１基板に比べて厚さを小さくすることができる。それゆえ、厚さがより小さい基板である第２基板側から計測信号を検出することにより、基板の厚さの変動が計測信号に対して及ぼす影響を低減することができるという効果を奏する。なお、当該構成は、計測信号が光信号である場合に特に好適である。

　本発明の態様２６に係る試料容器（１ｘ）は、試料を保持するための矩形の空間を形成する試料保持部を備え、上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、上記第１基板は、上記試料保持部の長辺方向に沿って形成された少なくとも１つの注入孔と、上記試料保持部の長辺方向に沿って形成された、上記注入孔に相対する複数の通気孔と、を有し、上記試料保持部の長辺方向における上記注入孔または上記通気孔の間隔は、上記第１基板が上記注入孔または上記通気孔の形成によって撓まないように設定されている。

　上記の構成によれば、液体試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能となるという効果を奏する。従って、計測の効率化を目的としない場合には、試料保持空間を矩形とした試料容器を利用することもできる。

　本発明の態様２７に係る試料容器は、上記態様１において、上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、上記第１基板は、上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔と、上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔と、を有し、上記第１孔または上記第２孔のいずれか一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、上記第１孔または上記第２孔の他方は、通気孔であり、上記通気孔の数は、上記注入孔の数以上であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料の充填量を従来よりも増加させつつ、構造的な安定性を確保することが可能となるという効果を奏する。

　本発明の態様２８に係る試料容器（１００１）は、上記態様１において、上記試料保持部は、計測装置（１０）による上記試料の計測の対象となる領域である計測領域（７）を備えるとともに、上記環状の空間と外部空間とを連通する第１孔および第２孔（通気孔２ｂおよび試料注入孔２ａ）が形成された基板（上側基板２）を備え、上記第１孔および上記第２孔の一方は、上記試料保持部の内径側に形成され、他方は、上記試料保持部の外径側に形成され、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さ（第１距離ｄ１）は、上記試料保持部の円周方向における上記第２孔の長さ以下であり、上記第１孔の数は、上記第２孔の数以上であることが好ましい。

　上記の構成によれば、第１基板を製造した場合に、ウェルドラインが発生したとしても、当該ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することができるという効果を奏する。

　本発明の態様２９に係る試料容器は、上記態様２８において、上記基板は、射出成形によって製造されており、上記第１孔を形成するための鋳型の存在によって上記射出成形時に形成されたウェルドライン（ＷＬ）が、上記計測領域に交差しないように上記円周方向における第１孔の長さが設定されていることが好ましい。

　上記の構成によれば、第１基板を射出成形によって製造した場合においても、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響を低減することができるという効果を奏する。

　本発明の態様３０に係る試料容器は、上記態様２８または２９において、上記円周方向における上記第１孔の長さは、上記第１孔の中心の位置から上記計測領域までの最短距離（第２距離ｄ２）以下であることが好ましい。

　上記の構成によれば、ウェルドラインが計測結果に及ぼす影響をさらに低減することができるという効果を奏する。

　本発明の態様３１に係る試料容器は、上記態様２８から３０のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記第１孔の間隔（第３距離ｄ３）以下であることが好ましい。

　本発明の態様３２に係る試料容器は、上記態様２８から３１のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記試料保持部の半径方向における上記第１孔の長さ（第４距離ｄ４）以下であることが好ましい。

　本発明の態様３３に係る試料容器は、上記態様２８から３２のいずれか１つにおいて、上記第１孔は、上記試料保持部の上記内径側に形成された通気孔であり、上記第２孔は、上記試料保持部の上記外径側に形成された、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であってもよい。

　上記の構成によれば、外径側に注入孔を設けた試料容器を実現することができるという効果を奏する。

　本発明の態様３４に係る試料容器は、上記態様２８から３２のいずれか１つにおいて、上記第１孔は、上記試料保持部の上記外径側に形成された通気孔であり、上記第２孔は、上記試料保持部の上記内径側に形成された、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であってもよい。

　上記の構成によれば、内径側に注入孔を設けた試料容器を実現することができるという効果を奏する。

　本発明の態様３５に係る試料容器は、上記態様３３または３４において、上記基板において、上記計測領域以外にのみウェルドラインが発生していることが好ましい。

　上記の構成によれば、ウェルドラインが発生していても計測結果に影響を及ぼすことを防止できるという効果を奏する。

　本発明の態様３６に係る試料容器は、上記態様３５において、上記基板において、上記試料保持部の領域においては上記注入孔に比べて上記通気孔により近い領域のみに、ウェルドラインが発生していることが好ましい。

　本発明の態様３７に係る試料容器は、上記態様３３から３６のいずれか１つにおいて、上記基板は、上記試料保持部の領域外であって上記計測領域以外にのみウェルドラインが発生する箇所から樹脂が注入されることによって製造されたものであることが好ましい。

　本発明の態様３８に係る試料容器は、上記態様３３から３７のいずれか１つにおいて、上記基板は、上記試料保持部の領域外であって上記注入孔に比べて上記通気孔により近い位置から、樹脂が注入されることによって製造されたものであることが好ましい。

　本発明の態様３９に係る試料容器は、上記態様３３から３８のいずれか１つにおいて、上記注入孔の形状は、上記円周方向に沿ったスリット状であることが好ましい。

　本発明の態様４０に係る試料容器は、上記態様３３から３９のいずれか１つにおいて、上記通気孔の形状は、上記円周方向に沿って配置された概円形状であることが好ましい。

　上記の構成によれば、より多くの数の通気孔を設けることができ、試料注入の作業性を保つことができるという効果を奏する。

　本発明の態様４１に係る試料容器は、上記態様２８から４０のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の環の中心を基準とした各第１孔間の角度間隔、または上記中心を基準とした各第２孔間の角度間隔の少なくともいずれかは、同一であることが好ましい。

　上記の構成によれば、基板を射出成形によって製造する時の樹脂の流れが、より均一となり、ウェルドラインが発生する可能性を低減することができるという効果を奏する。

　本発明の態様４２に係る試料容器は、上記態様２８から４１のいずれか１つにおいて、各第１孔間の距離、または各第２孔間の距離の少なくともいずれかは、同一であることが好ましい。

　本発明の態様４３に係る試料容器は、上記態様２８から４２のいずれか１つにおいて、上記試料保持部は、上記基板に相対する第２基板（下側基板３）をさらに備えており、上記基板および上記第２基板の少なくとも一方は、透明な基板であることが好ましい。

　上記の構成によれば、試料容器に保持された試料に対して、光学的な計測を好適に行うことができるという効果を奏する。

　本発明の態様４４に係る試料容器は、上記態様４３において、上記透明な基板の材料は、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー、またはポリカーボネートのうちのいずれか１つであることが好ましい。

　本発明の態様４５に係る試料容器は、上記態様２８から４４のいずれか１つにおいて、上記試料保持部は、上記基板に相対する第２基板をさらに備えており、計測結果を示す計測信号が、上記第２基板側から検出されることが好ましい。

　本発明の態様４６に係る試料容器は、上記態様２８から４５のいずれか１つにおいて、上記試料保持部の表面に対する純水の接触角は、７０°以下であることが好ましい。

　本発明の態様４７に係る試料容器は、上記態様２８から４６のいずれか１つにおいて、上記試料保持部は、上記基板に相対する第２基板をさらに備えており、上記基板および上記第２基板の材料は、合成樹脂であり、上記環状の空間内に位置する上記基板または上記第２基板の少なくとも一方の表面には、親水化加工が施されていることが好ましい。

　本発明の態様４８に係る試料容器は、上記態様２８から４７のいずれか１つにおいて、上記試料に対する計測が行われる場合に、上記基板は、鉛直上側に配置されることが好ましい。

　上記の構成によれば、計測時における試料の漏れを防止することができるという効果を奏する。

　本発明の態様４９に係る試料容器の製造方法は、上記態様２８から４８のいずれか１つに係る試料容器の製造方法であって、上記第１孔および上記第２孔の一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、他方は通気孔であり、上記試料保持部の領域外であって上記注入孔に比べて上記通気孔により近い位置から、樹脂を注入する工程を含んでいることが好ましい。

　上記の構成によれば、本発明の一態様に係る試料容器を、射出成型によって好適に製造することができるという効果を奏する。

　〔付記事項〕
　本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。

　〔本発明の別の表現〕
　なお、本発明は、以下のようにも表現できる。

　すなわち、本発明の一態様に係る液体試料容器は、液体試料の計測装置に用いられる液体試料容器であって、液体試料容器内部に試料充填部を備え、開口部として試料充填部に連接した試料注入孔と通気孔とを備え、試料注入孔と通気孔とは、試料充填部を挟んで相対して液体試料容器上面に配置され、試料充填部において試料注入孔と通気孔とを最短で結ぶ線分に直交する方向の長さは、試料注入孔と通気孔との間の距離以上であり、当該容器は１対の基板が接合されて形成されており、１対の基板のうちの一方に試料注入孔および通気孔が備わり、上記試料充填部、試料注入孔、および通気孔以外の領域で接合されている。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、通気孔の数は試料注入孔の数以上である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、通気孔は等間隔に配置されている。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、通気孔の全長に対しての試料充填部の長辺の長さは、１．２倍以上である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、試料注入孔と通気孔との間の距離と、上板の厚さとの比が、１：１から１５：１までの範囲である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記試料注入孔は試料充填部に沿ったスリット状である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記試料充填部は環状である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記試料注入孔および通気孔はそれぞれ、等角度間隔で配置されている。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記試料注入孔および通気孔はそれぞれ、同一半径円内に配置されている。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、１対の基板のうち少なくとも一方は透明である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記透明な基板は、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー、またはポリカーボネートのうちいずれか１つからなる。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、上記試料充填部表面と測定液体試料との接触角が７０°以下である。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、１対の基板はいずれも合成樹脂からなり、少なくとも試料充填部を形成する表面に親水化処理が施されている。

　また、本発明の一態様に係る液体試料容器において、試料注入孔および通気孔が配置された面とは異なる面から信号検出が行われる。

　また、本発明は、以下のようにも表現できる。

　すなわち、本発明の一態様に係るチップは、１対の基板を貼り合わせてなる液体試料の計測装置に用いられるチップであり、チップ内部に環状の試料充填部を有し、チップは通気孔と試料注入孔を有し、１対の基板のうち一方は、試料注入孔および通気孔を備えたものであり、かつ、射出成形により作製され、複数のスリット状の試料注入孔を試料充填部の長辺側の一方側に試料充填部に連接して備え、複数の通気孔を試料充填部の長辺側のもう一方に試料充填部に連接して備え、該通気孔は概円形（円、楕円、長円、角が丸い形状）である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記通気孔の試料充填部に沿った円周方向の長さは、通気孔の中心から試料充填部中の測定領域までの距離以下である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記通気孔の試料充填部に沿った円周方向の長さは、通気孔の試料充填部がなす円の半径方向の距離以下である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記通気孔の試料充填部に沿った円周方向の長さの和は、試料充填部の円周方向の長さの半分以下である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記試料注入孔および通気孔はそれぞれ、等角度間隔に配置されている。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記通気孔は試料充填部の内周側に配置されている。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記基板は試料充填部の内周側から合成樹脂を注入して製造されている。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、１対の基板のうち少なくとも一方は透明である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、透明な基板は、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ポリメタクリル酸メチル、シクロオレフィンポリマー、シクロオレフィンコポリマー、またはポリカーボネートのうちいずれか１つからなる。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、試料注入孔および通気孔が配置された面とは異なる面から信号検出が行われる。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記試料充填部表面と測定液体試料との接触角は７０°以下である。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、１対の基板はいずれも合成樹脂からなり、少なくとも試料充填部を形成する表面に親水化処理が施されている。

　また、本発明の一態様に係るチップにおいて、上記試料注入孔および通気孔は容器上面に配置されている。

　本発明は、液体または液体中に存在する粒子状物質に関する計測を行う計測装置、および計測方法に利用することができる。また、本発明は、計測装置を用いた計測の対象となる試料を保持する試料容器に利用することができる。

　１，１ｘ，１００１　試料容器
　２，２ｘ　上側基板（第１基板，基板）
　２ａ　試料注入孔（注入孔，第１孔，第２孔）
　２ａｘ　試料注入孔（注入孔）
　２ｂ，２１ｂ～２６ｂ　通気孔（第２孔，第１孔）
　２ｂｘ　通気孔
　２６　開口
　３，３ｘ　下側基板（第２基板）
　３６　開口
　４　スペーサ
　４ａ　外側スペーサ
　４ｂ　内側スペーサ
　５，５ｘ　試料充填部（試料保持部）
　６　開口
　ＢＲ１　ブリッジ部（橋渡し部）
　７　計測領域
　１０　計測装置
　Ｐ３　距離（円周方向における通気孔の中心間の距離）
　Ｐ４　距離（円周方向における注入孔の中心間の距離）
　ｄ１，ｄ５　第１距離（試料保持部の円周方向における第１孔の長さ）
　ｄ２，ｄ６　第２距離（第１孔の重心の位置から計測領域までの最短距離）
　ｄ３，ｄ７　第３距離（試料保持部の円周方向における第１孔の間隔）
　ｄ４，ｄ８　第４距離（試料保持部の半径方向における第１孔の長さ）
　ＷＬ　ウェルドライン

Claims

　計測装置による計測の対象となる試料を保持する試料容器であって、
　上記試料を保持するための環状の空間を形成する試料保持部を備えることを特徴とする試料容器。
　上記環状の空間の環の中心軸を含む複数の平面によって上記環状の空間を切断したときの断面は全て同じ形状であることを特徴とする請求項１に記載の試料容器。
　上記試料保持部に試料を注入するための注入孔と、
　上記試料保持部内の気体を逃がすための通気孔とを有していることを特徴とする請求項１または２に記載の試料容器。
　上記注入孔または上記通気孔は、上記環状の空間に沿って複数形成されていることを特徴とする請求項３に記載の試料容器。
　上記注入孔および上記通気孔は、上記環状の空間を挟んで形成されていることを特徴とする請求項３または４に記載の試料容器。
　上記注入孔または上記通気孔は、同一半径円の円周上に等角度間隔で設けられている請求項４または５に記載の試料容器。
　上記注入孔は、上記環状の空間に沿って形成されたスリット形状を有していることを特徴とする請求項３から６のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記試料保持部の表面と、当該試料保持部に保持された純水との接触角が７０°以下であることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記試料保持部は、
　上記試料の計測時に鉛直上側に位置する上側基板と、
　上記試料の計測時に鉛直下側に位置する下側基板とを備え、
　上記上側基板または上記下側基板の少なくとも一方は、透明な部分を有していることを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の試料容器。
　請求項１から９のいずれか１項に記載の試料容器を用いた計測方法であって、
　計測時に、上記試料保持部の環の中心を軸として、上記試料容器を回転させることを特徴とする計測方法。
　上記試料容器は、
　上記試料保持部に試料を注入するための注入孔と、
　上記試料保持部内の気体を逃がすための通気孔とを有しており、
　上記試料容器の、上記注入孔および上記通気孔が設けられている側と異なる側から計測信号を検出することを特徴とする請求項１０に記載の計測方法。
　上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、
　上記第１基板は、
　上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔と、
　上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔と、を有し、
　上記試料保持部の円周方向における上記第１孔または上記第２孔の間隔は、上記第１基板が上記第１孔または上記第２孔の形成によって撓まないように設定されていることを特徴とする請求項１に記載の試料容器。
　上記第１孔または上記第２孔のいずれか一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、
　上記第１孔または上記第２孔の他方は、通気孔であり、
　上記通気孔の数は、上記注入孔の数以上であることを特徴とする請求項１２に記載の試料容器。
　上記円周方向における上記注入孔の中心間の距離は、上記円周方向における上記通気孔の中心間の距離よりも長いことを特徴とする請求項１３に記載の試料容器。
　上記注入孔および上記通気孔は、上記環状の空間を挟んで形成されており、２つの上記通気孔により形成される橋渡し部が、上記注入孔１箇所に対して上記環状の空間を挟んだ側に少なくとも１箇所存在することを特徴とする請求項１３または１４に記載の試料容器。
　上記円周方向における上記注入孔の長さは、上記円周方向における上記通気孔の長さ以上であることを特徴とする請求項１３から１５のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記注入孔の形状は、上記円周方向に沿ったスリット状であることを特徴とする請求項１３から１６のいずれか１項に記載の試料容器。
　各第１孔間の距離、または各第２孔間の距離の少なくともいずれかは、同一であることを特徴とする請求項１２から１７のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記試料保持部の環の中心を基準とした各第１孔間の角度間隔、または上記中心を基準とした各第２孔間の角度間隔の少なくともいずれかは、同一であることを特徴とする請求項１２から１８のいずれか１項に記載の試料容器。
　各第１孔は、第１の半径を有する仮想的な円の周上に配置され、
　各第２孔は、上記第１の半径とは異なる第２の半径を有する仮想的な円の周上に配置されていることを特徴とする請求項１２から１９のいずれか１項に記載の試料容器。
　試料を保持するための矩形の空間を形成する試料保持部を備え、
　上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、
　上記第１基板は、
　上記試料保持部の長辺方向に沿って形成された少なくとも１つの注入孔と、
　上記試料保持部の長辺方向に沿って形成された、上記注入孔に相対する複数の通気孔と、を有し、
　上記試料保持部の長辺方向における上記注入孔または上記通気孔の間隔は、上記第１基板が上記注入孔または上記通気孔の形成によって撓まないように設定されていることを特徴とする試料容器。
　上記試料保持部は、第１基板と、上記第１基板に相対する第２基板とを備え、
　上記第１基板は、
　上記試料保持部の内縁部に沿って形成された複数の第１孔と、
　上記試料保持部の外縁部に沿って形成された複数の第２孔と、を有し、
　上記第１孔または上記第２孔のいずれか一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、
　上記第１孔または上記第２孔の他方は、通気孔であり、
　上記通気孔の数は、上記注入孔の数以上であることを特徴とする請求項１に記載の試料容器。
　上記試料保持部は、計測装置による上記試料の計測の対象となる領域である計測領域を備えるとともに、上記環状の空間と外部空間とを連通する第１孔および第２孔が形成された基板を備え、
　上記第１孔および上記第２孔の一方は、上記試料保持部の内径側に形成され、他方は、上記試料保持部の外径側に形成され、
　上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記試料保持部の円周方向における上記第２孔の長さ以下であり、
　上記第１孔の数は、上記第２孔の数以上であることを特徴とする請求項１に記載の試料容器。
　上記基板は、射出成形によって製造されており、
　上記第１孔を形成するための鋳型の存在によって上記射出成形時に形成されたウェルドラインが、上記計測領域に交差しないように上記円周方向における第１孔の長さが設定されていることを特徴とする請求項２３に記載の試料容器。
　上記円周方向における上記第１孔の長さは、上記第１孔の中心の位置から上記計測領域までの最短距離以下であることを特徴とする請求項２３または２４に記載の試料容器。
　上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記第１孔の間隔以下であることを特徴とする請求項２３から２５のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記試料保持部の円周方向における上記第１孔の長さは、上記試料保持部の半径方向における上記第１孔の長さ以下であることを特徴とする請求項２３から２６のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記第１孔は、上記試料保持部の上記内径側に形成された通気孔であり、
　上記第２孔は、上記試料保持部の上記外径側に形成された、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であることを特徴とする請求項２３から２７のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記基板において、上記計測領域以外にのみウェルドラインが発生していることを特徴とする請求項２８に記載の試料容器。
　上記基板において、上記試料保持部の領域においては上記注入孔に比べて上記通気孔により近い領域のみに、ウェルドラインが発生していることを特徴とする請求項２９に記載の試料容器。
　上記基板は、上記試料保持部の領域外であって上記計測領域以外にのみウェルドラインが発生する箇所から樹脂が注入されることによって製造されたものであることを特徴とする請求項２８から３０のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記基板は、上記試料保持部の領域外であって上記注入孔に比べて上記通気孔により近い位置から、樹脂が注入されることによって製造されたものであることを特徴とする請求項２８から３１のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記注入孔の形状は、上記円周方向に沿ったスリット状であることを特徴とする請求項２８から３２のいずれか１項に記載の試料容器。
　上記通気孔の形状は、上記円周方向に沿って配置された概円形状であることを特徴とする請求項２８から３３のいずれか１項に記載の試料容器。
　請求項２３から３４のいずれか１項に記載の試料容器の製造方法であって、
　上記第１孔および上記第２孔の一方は、上記試料保持部に上記試料を注入するための注入孔であり、他方は通気孔であり、
　上記試料保持部の領域外であって上記注入孔に比べて上記通気孔により近い位置から、樹脂を注入する工程を含んでいることを特徴とする試料容器の製造方法。