WO2016104711A1 - 太陽電池 - Google Patents

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solar cell
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photoelectric conversion
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至崇 岡田
東馬 曽我部
靖 庄司
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国立大学法人東京大学
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    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/544Solar cells from Group III-V materials

Definitions

  • the present invention relates to a solar cell.
  • Patent Document 1 discloses an n-layer made of n-type GaAs on a substrate made of n-type GaAs, and an i-layer in which a plurality of quantum dots made of GaSb are dispersed in a barrier layer made of GaAs.
  • An intermediate band solar cell in which a p-layer made of p-type GaAs is sequentially stacked is disclosed. In the intermediate band solar cell, electrons are directly excited from the valence band of GaAs forming the i layer to the conduction band to generate voltage and current, and between the valence band and the intermediate band, Even between the conduction bands, electrons can be excited to generate voltage and current.
  • the band gap between the valence band and the intermediate band and the band gap between the intermediate band and the conduction band are smaller than the band gap between the valence band and the conduction band. Therefore, the electrons are excited from the valence band to the intermediate band and from the intermediate band to the conduction band by light having a longer wavelength than when excited directly from the valence band to the conduction band.
  • an intermediate band type solar cell electrons are excited even by light in a long wavelength region to generate voltage and current, so that it is larger than a simple silicon solar cell in which no intermediate band is formed. A current can be obtained, and conversion efficiency can be improved.
  • the conversion efficiency represents the general performance of the solar cell, and the output of the solar cell represented by the product of the output voltage and the output current of the solar cell is the energy of the light incident on the solar cell. The percentage of the value divided by.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a solar cell that can prevent thermal breakage and can significantly improve the conversion efficiency as compared with the prior art.
  • the solar cell of the present invention has a quantum dot superlattice layer in which a plurality of quantum dot layers each having a plurality of quantum dots arranged in an embedded layer are stacked, and each quantum dot superlattice layer includes a quantum dot superlattice layer.
  • An intermediate band solar cell in which wave functions overlap between dots to form an intermediate band, and a photoelectric conversion stack including at least a p-type photoelectric conversion layer and an n-type photoelectric conversion layer, and the intermediate band solar
  • a solar cell for current adjustment formed on the light incident side of the battery cell, wherein the solar cell for current adjustment has the embedded layer in the intermediate band type solar cell, the photoelectric conversion layered portion. It has a band gap larger than the band gap of.
  • the solar cell of the present invention reduces the amount of light absorbed by the intermediate-band solar cell by the amount of light having a wavelength corresponding to the band gap of the photoelectric conversion laminated portion absorbed by the solar cell for current adjustment.
  • the amount of current generated in the solar cell can be suppressed, and accordingly, the amount of heat generated in the intermediate band solar cell can be reduced, and thermal damage can be prevented.
  • the solar cell of the present invention is for current adjustment connected in series to the intermediate band solar cell while suppressing the amount of current generated in the intermediate band solar cell by the current adjustment solar cell. Since a voltage is generated by absorption of light having a wavelength corresponding to the band gap even in the solar cell, an output voltage obtained by the entire solar cell by the intermediate band solar cell connected in series and the current adjusting solar cell. Thus, the conversion efficiency can be remarkably improved as compared with the prior art.
  • FIG. 4A is a schematic diagram showing a band gap relationship of a comparative intermediate band solar cell used in the simulation, and FIG. 4B shows a current-voltage curve calculated by the simulation.
  • FIG. 5A is a schematic diagram showing the band gap arrangement of the solar cell of the example used in the simulation, and FIG.
  • FIG. 9A shows a combination of materials forming the quantum dots, the buried layer, and the photoelectric conversion laminate when the substrate is GaAs or Ge
  • FIG. 9B shows the quantum dots, the buried layer, and the photoelectric conversion laminate when the substrate is InP. The combination of the material which forms a part is shown.
  • reference numeral 1 denotes a solar cell of the present invention.
  • the solar cell 1 has an intermediate band solar cell 2 and a current adjusting solar cell on a back electrode 4.
  • the battery cell 3 and the surface electrode 5 are formed in order, and the current adjustment solar battery cell 3 and the intermediate band solar battery cell 2 are connected in series.
  • the solar cell 1 when light is incident from the front surface electrode 5 toward the back surface electrode 4, the light can reach the intermediate band solar cell 2 through the current adjustment solar cell 3. Yes.
  • the solar cell 1 is configured such that light having a small wavelength out of light incident from the surface electrode 5 side is absorbed by the current adjustment solar cell 3, so that the voltage and A current is generated, and light of other remaining wavelengths can pass through the current adjusting solar cell 3 and reach the intermediate band solar cell 2.
  • the solar cell 1 absorbs the light having the wavelength transmitted through the current adjusting solar cell 3 by the intermediate band solar cell 2, so that the voltage and current are also received in the intermediate band solar cell 2. Can occur.
  • the solar cell 1 uses, as the output voltage and the output current of the solar cell 1, for example, the surface electrode 5 and the back electrode 4 obtained from the current adjustment solar cell 3 and the intermediate band solar cell 2, respectively. Can be output to an external circuit (not shown) connected to the.
  • the solar cell 1 of the present invention absorbs light having a predetermined wavelength or less in the incident light by the current adjusting solar cell 3, so that the voltage and The light incident on the intermediate band solar cell 2 can be reduced while generating a current.
  • the light absorbed by the intermediate band solar cell 2 is reduced by the amount of light having a predetermined wavelength or less absorbed by the current adjusting solar cell 3, and the intermediate band solar cell
  • the amount of current generated at 2 can be suppressed, and accordingly, the amount of heat generated in the intermediate band solar cell 2 can be reduced.
  • the current adjustment connected in series to the intermediate band solar cell 2 while suppressing the amount of current generated in the intermediate band solar cell 2 by the current adjustment solar cell 3. Since the solar cell 3 also generates a voltage due to light absorption, the intermediate band solar cell 2 and the current adjusting solar cell 3 can increase the output voltage obtained by the solar cell 1 as a whole. Yes.
  • the back surface electrode 4 is formed of a metal member such as Au or Ag, and the intermediate band type solar battery cell 2 is formed on the surface.
  • the intermediate band solar cell 2 for example, a buffer layer 7 and an intermediate band photoelectric conversion stacked portion 8 are sequentially formed on a substrate 6 made of a single crystal such as P + -GaAs (001).
  • the back surface electrode 4 is formed on the back surface.
  • the substance name which forms each layer is specified as an example.
  • “p ⁇ ” in front of the substance name shown in FIG. 1 indicates that the substance is a p-type semiconductor
  • i ⁇ indicates an intrinsic semiconductor
  • n ⁇ indicates n Represents a type semiconductor.
  • the number of carriers is larger than that of a semiconductor without “+”.
  • a buffer layer 7 made of a group III-V semiconductor to which impurities are added is formed in the intermediate band solar cell 2.
  • the buffer layer 7 relaxes the mismatch of the lattice constant between the substrate 6 and the intermediate band type photoelectric conversion layered portion 8 and improves the crystallinity of the intermediate band type photoelectric conversion layered portion 8.
  • the buffer layer 7 is formed of a first buffer layer 7A made of p + -GaAs doped with Be, and a p doped with Be formed on the first buffer layer 7A. It has a two-layer structure with the second buffer layer 7B made of + -AlGaAs.
  • the first buffer layer 7A and the second buffer layer 7B are formed so that a large amount of impurities are added and a large number of carriers are contained therein so that a current flows easily.
  • the buffer layer 7 having the two-layer structure of the first buffer layer 7A and the second buffer layer 7B is applied will be described.
  • the present invention is not limited to this, and a single-layer buffer is used.
  • a buffer layer composed of a plurality of layers or three or more layers may be applied.
  • the intermediate band photoelectric conversion stacked unit 8 has a configuration in which a p-type semiconductor layer 9, a quantum dot superlattice layer 10, and an n-type semiconductor layer 11 are sequentially stacked. It is formed on the buffer layer 7.
  • the p-type semiconductor layer 9 is formed of a p-type III-V semiconductor such as p-GaAs doped with Ge, for example.
  • the n-type semiconductor layer 11 is made of, for example, an n-type semiconductor such as n + -GaAs doped with Si and the same III-V group semiconductor as the p-type semiconductor layer 9.
  • a quantum dot superlattice layer 10 is formed between the p-type semiconductor layer 9 and the n-type semiconductor layer 11, and holes generated in the quantum dot superlattice layer 10 are generated.
  • the electrons generated in the quantum dot superlattice layer 10 are diffused into the p-type semiconductor layer 9 by an internal electric field generated at the boundary between the p-type semiconductor layer 9 and the quantum dot superlattice layer 10.
  • 11 and the quantum dot superlattice layer 10 can be diffused into the n-type semiconductor layer 11 by an internal electric field generated at the boundary.
  • the quantum dot superlattice layer 10 has a configuration in which a plurality of quantum dot layers 10B are stacked between the first quantum dot buffer layer 10A and the second quantum dot buffer layer 10C.
  • the quantum dot superlattice layer 10 has a quantum dot layer 10B in which a plurality of quantum dots 12 are regularly arranged, so that the quantum dots 12 are also ordered in a direction perpendicular to the substrate 6.
  • the plurality of quantum dots 12 are regularly arranged three-dimensionally.
  • the first quantum dot buffer layer 10A and the second quantum dot buffer layer 10C are, for example, i-type such as non-doped i-GaAs and the same III-V group as the p-type semiconductor layer 9 and the n-type semiconductor layer 11 It is formed of a semiconductor.
  • the plurality of quantum dot layers 10B formed between the first quantum dot buffer layer 10A and the second quantum dot buffer layer 10C all have the same configuration, and are i-type such as non-doped i-GaAs.
  • a plurality of quantum dots 12 arranged at predetermined intervals are embedded in the embedded layer 13 formed of the same III-V group semiconductor as the p-type semiconductor layer 9 and the n-type semiconductor layer 11. It has a configuration.
  • the plurality of quantum dots 12 in the buried layer 13 all have the same configuration, and InAs having a band gap smaller than the band gap of the group III-V semiconductor forming the buried layer 13.
  • the quantum dot 12 is arranged at a predetermined interval from each other so that the wave function of electrons can overlap between adjacent quantum dots 12 to form an intermediate band. Has been made.
  • the quantum dots 12 are regularly arranged with an interval of 5 to 20 nm. Further, in the case of this embodiment, the quantum dots 12 are formed in a particle shape, and the diameter measured based on a photograph taken using a microscope such as an atomic force microscope (AFM). Is preferably 10 to 20 nm.
  • the embedded layer 13 covers the periphery of the quantum dots 12, and the quantum dots 12 in one quantum dot layer 10B are quantum dots in another quantum dot layer 10B adjacent to the one quantum dot layer 10B. 12 can be arranged in a non-contact state.
  • the embedded layer 13 causes a difference in lattice constant between the quantum dots 12 in the quantum dot layer 10B and the first quantum dot buffer layer 10A.
  • the resulting crystal lattice distortion is compensated.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a band structure in a region where a plurality of quantum dot layers 10B are stacked.
  • the band gap is smaller than the band gap Bg1 between the upper end of the valence band VB and the lower end of the conduction band CB of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13. Since the quantum dots 12 having Bg0 are arranged at a predetermined interval, the electron wave function 26 of the adjacent quantum dots 12 is overlapped, and the electrons in one quantum dot 12 are adjacent to each other. An intermediate band 27 that can move to the quantum dots 12 can be formed.
  • the region where the plurality of quantum dot layers 10B are stacked apart from the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13, between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27.
  • One band gap Bg2 is formed, and another band gap Bg3 can be formed between the intermediate band 27 and the conduction band CB.
  • the region where the plurality of quantum dot layers 10B are stacked is smaller than the band gap Bg1 of the group III-V semiconductor forming the buried layer 13, but the intermediate band 27 and the conduction band.
  • One band gap Bg2 larger than the other band gap Bg3 formed between the CB and the CB can be formed between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27. Further, in the region where the plurality of quantum dot layers 10B are stacked, it is formed between the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13 or between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27. Another band gap Bg3 smaller than one band gap Bg2 may be formed between the intermediate band 27 and the conduction band CB.
  • the quantum dot superlattice layer 10 absorbs light having a wavelength corresponding to the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13 out of the incident light, and this light absorption causes the valence band VB to be absorbed. Are directly excited from the valence band VB to the conduction band CB, thereby generating holes in the valence band VB and generating electrons in the conduction band CB. Further, the quantum dot superlattice layer 10 absorbs light having a wavelength corresponding to the band gap Bg2 between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27, and the electrons in the valence band VB are absorbed by this light absorption. 27 to generate holes in the valence band VB.
  • the quantum dot superlattice layer 10 absorbs light having a wavelength corresponding to the band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB, and electrons excited by the intermediate band 27 by this light absorption are converted into the intermediate band 27. To the conduction band CB to generate electrons in the conduction band CB.
  • the other band gap formed between the intermediate band 27 and the conduction band CB than the one band gap Bg2 formed between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27 is not limited to this, and the types of III-V group semiconductors forming the quantum dots 12 and III-V group semiconductors forming the buried layer 13 are not limited thereto. Is appropriately selected, for example, other band formed between the intermediate band 27 and the conduction band CB than one band gap Bg2 formed between the upper end of the valence band VB and the intermediate band 27. You may form so that the gap Bg3 may become large.
  • the current adjusting solar cell 3 includes a tunnel layer 15, a BSF (Back Surface Field) layer 16, and a photoelectric conversion laminate on the n-type semiconductor layer 11 of the intermediate band solar cell 2.
  • the portion 17, the window layer 18, and the contact layer 19 are sequentially formed.
  • the tunnel layer 15 is formed on the n-type tunnel layer 21 made of an n-type III-V group semiconductor such as n-InGaP doped with Te, for example, on a p-type III-type such as p-AlGaAs doped with C.
  • the p-type tunnel layer 22 made of a V group semiconductor is stacked.
  • a pn junction is formed by the n-type tunnel layer 21 and the p-type tunnel layer 22, and voltage and current are output from the intermediate band solar cell 2 and the current adjustment solar cell 3, respectively.
  • the tunnel layer 15 is more doped with carrier impurities and selected to have a low resistance.
  • the n-type tunnel layer 21 and the p-type tunnel layer 22 are III-V having a larger band gap than the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10. The light of the wavelength absorbed by the quantum dot superlattice layer 10 can be transmitted through the tunnel layer 15.
  • the BSF layer 16 is made of, for example, a group III-V semiconductor to which impurities are added, and is formed on the tunnel layer 15.
  • the BSF layer 16 includes, for example, a first BSF layer 16A made of p-AlGaAs doped with Zn and a second BSF layer 16B made of p-AlInGaP doped with Te. It has a layer structure.
  • the BSF layer 16 having the two-layer structure composed of the first BSF layer 16A and the second BSF layer 16B is described.
  • the present invention is not limited to this, and the single layer BSF is used.
  • a BSF layer composed of a plurality of layers or three or more layers may be applied.
  • the first BSF layer 16A and the second BSF layer 16B are III-V group semiconductors having a larger band gap than the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor forming the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10. It is made of a material so that light having a wavelength absorbed by the quantum dot superlattice layer 10 can pass through the BSF layer 16.
  • the BSF layer 16 has a photoelectric conversion layered portion 17 formed on the surface thereof, and the electrons which are minority carriers generated near the boundary with the photoelectric conversion layered portion 17 are photoelectrically converted.
  • the internal electric field generated at the boundary with the conversion layer 17 is pushed back into the photoelectric conversion layer 17 so that the diffusion of electrons into the BSF layer 16 can be suppressed.
  • the BSF layer 16 is formed of the same III-V group semiconductor as the photoelectric conversion stacked portion 17 and has a higher dopant concentration than the photoelectric conversion stacked portion 17 or has a larger band gap than the photoelectric conversion stacked portion 17.
  • the diffusion of minority carriers into the BSF layer 16 may be suppressed by forming the V group semiconductor material.
  • the photoelectric conversion stacked unit 17 includes an n-type such as n-InGaP doped with Si on a p-type photoelectric conversion layer 23 made of a p-type III-V group semiconductor such as p-InGaP doped with Zn.
  • the n-type photoelectric conversion layer 24 made of a III-V group semiconductor is stacked.
  • the p-type photoelectric conversion layer 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24 are formed of the same III-V semiconductor, although the added impurities are different.
  • the band gap Bg4 of the III-V semiconductor forming the p-type photoelectric conversion layer 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24 forms the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10. It is selected to be larger than the band gap Bg1 of the III-V group semiconductor.
  • the light of the wavelength corresponding to the band gap Bg4 of the V group semiconductor can be absorbed, the light of the long wavelength absorbed by the intermediate band solar cell 2 is transmitted, and the light of the long wavelength is transmitted to the intermediate band solar cell. It can be made to reach 2.
  • the photoelectric conversion laminate 17 absorbs light having a wavelength corresponding to the band gap Bg4 of the III-V semiconductor forming the p-type photoelectric conversion layer 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24, thereby generating the III- Electrons in the valence band in the group V semiconductor are excited to the conduction band, and thereby holes can be generated in the valence band and electrons can be generated in the conduction band.
  • the photoelectric conversion stacked unit 17 causes holes generated in the valence band to the p-type photoelectric conversion layer 23 side by an internal electric field generated at the interface between the p-type photoelectric conversion layer 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24. And the electrons generated in the conduction band diffuse to the n-type photoelectric conversion layer 24 side, and voltage and current can be generated.
  • the window layer 18 is made of a group III-V semiconductor to which an impurity such as n-InAlP doped with Te, for example, is added, and is formed on the photoelectric conversion stacked portion 17, and the window layer of the n-type photoelectric conversion layer 24.
  • the holes which are minority carriers generated near the boundary with the n-type photoelectric conversion layer 24, are pushed back into the n-type photoelectric conversion layer 24 by the internal electric field generated at the boundary with the n-type photoelectric conversion layer 24. It is made so that the spreading
  • the window layer 18 is formed of the same III-V group semiconductor as the n-type photoelectric conversion layer 24 and has a higher dopant concentration than the n-type photoelectric conversion layer 24 or a band higher than the n-type photoelectric conversion layer 24.
  • the diffusion of minority carriers into the window layer 18 may be suppressed by forming the gap with a III-V group semiconductor having a large gap.
  • the window layer 18 is formed of a group III-V semiconductor having a larger band gap than the band gap Bg4 of the group III-V semiconductor forming the photoelectric conversion stacked portion 17, and is absorbed by the photoelectric conversion stacked portion 17. It is made to be able to transmit light having a wavelength.
  • the contact layer 19 is made of a group III-V semiconductor to which impurities are added, and can be formed on the window layer 18.
  • the contact layer 19 can reduce the contact resistance at the joint surface with the surface electrode 5 formed on the surface.
  • the contact layer 19 is formed, for example, by laminating a second contact layer 19B made of n-InGaAs doped with Te on a first contact layer 19A made of n-InGaAs doped with Si. It has the structure which was made.
  • the first contact layer 19A and the second contact layer 19B are formed of a group III-V semiconductor having a band gap larger than the band gap Bg4 of the group III-V semiconductor forming the photoelectric conversion stacked portion 17.
  • light having a wavelength absorbed by the photoelectric conversion layered portion 17 can be transmitted to reach the photoelectric conversion layered portion 17.
  • the contact layer 19 having the two-layer structure including the first contact layer 19A and the second contact layer 19B is applied has been described.
  • the present invention is not limited to this, and the single layer is used.
  • a contact layer composed of a plurality of contact layers or three or more layers may be applied.
  • the front surface electrode 5 formed on the contact layer 19 has a single layer structure or a multi-layer structure formed of a metal member such as Au, Ag, Ge, or Ni, and an external circuit (see FIG. (Not shown).
  • the surface electrode 5 is formed at a plurality of locations on the contact layer 19, and each surface electrode 5 is arranged at a predetermined interval, and light irradiated from the surface electrode 5 toward the back electrode 4
  • the contact layer 19 exposed between the electrodes 5 can enter the inside.
  • FIG. 3 shows the band gap Bg1 of the buried layer 13 of the quantum dot superlattice layer 10 and the quantum dot superlattice layer 10 in the intermediate band solar cell 2 for the solar cell 1 of the embodiment of the present invention.
  • the one band gap Bg2 and the other band gap Bg3 obtained by the intermediate band 27 formed in the above, and the photoelectric characteristics of the current adjustment solar cell 3 connected in series to the light incident side with respect to the intermediate band solar cell 2.
  • 6 is a schematic view summarizing the relationship with the band gap Bg4 in the conversion layered portion 17.
  • the intermediate band solar cell 2 electrons are excited from the valence band VB of the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10 to the intermediate band 27, and the excited electrons are converted to the intermediate band 27. Is excited to the conduction band CB of the buried layer 13 from one band gap Bg2 between the valence band VB and the intermediate band 27 and another band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB. Can be considered to be connected in series. Further, in the intermediate band solar cell 2, electrons are excited through the intermediate band 27, and in addition, the valence band VB of the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10 is directly transferred to the conduction band CB.
  • the band gap Bg1 between the valence band VB and the conduction band CB of the buried layer 13 is equal to the band gap Bg2 between the valence band VB and the intermediate band 27, and the intermediate band 27 and the conduction band CB. It can be considered that they are connected in parallel to the series connection with the band gap Bg3 between them.
  • the current adjustment solar cell 3 is formed on the intermediate band solar cell 2, and the intermediate band solar cell 2 and the current adjustment solar cell 3 are formed. It is the structure connected in series.
  • the band gap Bg4 of the photoelectric conversion stacked portion 17 in the current adjusting solar cell 3 is equal to that of the buried layer 13 in the quantum dot superlattice layer 10 of the intermediate band solar cell 2.
  • the band gap Bg1 is connected in series, and the band gap Bg4 of the photoelectric conversion stacked portion 17 in the current adjusting solar battery cell 3 is the band gap Bg2 between the valence band VB and the intermediate band 27; It can be considered that it is directly connected to the band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB.
  • the band gap Bg4 is based on the current adjustment solar cell 3.
  • the total output voltage can be obtained by the amount of the voltage obtained based on the band gap Bg4 in the solar cell 3 for current adjustment.
  • the current adjusting solar cell 3 absorbs light having a wavelength corresponding to the band gap Bg4, and accordingly, the intermediate band type solar cell 2 absorbs light.
  • the current amount in the intermediate band type solar battery cell 2 can be reduced.
  • the quantum dot superlattice By adjusting the arrangement configuration of the quantum dots 12 of the layer 10, the band gap Bg2 between the valence band VB and the intermediate band 27 of the buried layer 13 of the quantum dot superlattice layer 10 can be set to 1.0 eV.
  • the other band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB can be set to 0.4 eV.
  • the band gap Bg4 of the photoelectric conversion stacked portion 17 is embedded in the intermediate band solar cell 2. It can be set to 1.7 eV which is larger than 1.4 eV which is the band gap Bg1 of the layer 13.
  • the solar cell 1 when light was irradiated toward the back surface electrode 4 from the surface electrode 5, it set as the band gap Bg4 of the photoelectric conversion laminated part 17 in the solar cell 3 for electric current adjustment among the said light.
  • Light having a wavelength of 729 nm or less corresponding to 1.7 eV can be absorbed by the photoelectric conversion laminate 17 to output voltage and current, and light having a wavelength larger than 729 nm is transmitted through the current adjusting solar cell 3.
  • the light is incident on the intermediate band type solar battery cell 2.
  • the intermediate band solar cell 2 absorbs light having a wavelength of 1240 nm or less corresponding to 1.0 eV which is one band gap Bg2 between the valence band VB of the buried layer 13 and the intermediate band 27, and Light having a wavelength of 3100 nm or less corresponding to 0.4 eV, which is another band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB, can be absorbed, and voltage and current can be output by the light absorption.
  • the absorption of light in the intermediate band solar cell 2 is reduced by the amount of light having a wavelength corresponding to the band gap Bg4 in the solar cell 3 for current adjustment.
  • the current amount in the solar cell 2 can be reduced. Since the voltage can be obtained based on Bg4, the overall output voltage can be increased.
  • a substrate 6 having a back electrode 4 formed on the back surface is prepared by a method such as vacuum deposition, and the substrate 6 is placed in a chamber of a molecular beam epitaxy (MBE) film forming apparatus.
  • MBE molecular beam epitaxy
  • the first buffer layer 7A, the second buffer layer 7B, the p-type semiconductor layer 9, the first quantum dot buffer layer 10A, the quantum dot layer 10B, and the second quantum dot buffer layer 10C are formed on the surface of the substrate 6.
  • the n-type semiconductor layer 11 is sequentially formed by the MBE method, and the intermediate band solar cell 2 is manufactured.
  • the first buffer layer 7A, the second buffer layer 7B, the p-type semiconductor layer 9, the first quantum dot buffer layer 10A, the second quantum dot buffer layer 10C, and the n-type semiconductor layer 11 are: Since each is formed continuously by epitaxial growth, the bonding surfaces are lattice-matched to form a single crystal.
  • the quantum dot layer 10B described above forms a plurality of quantum dots 12 by self-organization on the first quantum dot buffer layer 10A, for example, using the Transki-Krastanov (SK) growth method, and covers the quantum dots 12 Thus, the buried layer 13 is formed on the first quantum dot buffer layer 10A. Thereafter, a plurality of quantum dots 12 are formed on the buried layer 13 by self-organization, the quantum dots 12 are covered with the buried layer 13, and other quantum dots are formed on one quantum dot layer 10B by repeating these steps.
  • the layers 10B are sequentially stacked.
  • the intermediate band type solar cell 2 is taken out from the chamber of the MBE film forming apparatus and moved into the chamber of the metal organic chemical vapor epitaxy (MOCVD: Metal Chemical Vapor Deposition) film forming apparatus. At this time, the intermediate band solar cell 2 is exposed to the atmosphere. Therefore, the surface of the intermediate band type solar cell 2 placed in the chamber is etched to remove the surface contaminated by exposure to the atmosphere.
  • the n-type tunnel layer 21, the p-type tunnel layer 22, the first BSF layer 16A, the second BSF layer 16B, and the p-type photoelectric conversion layer 23 are formed on the intermediate band solar cell 2 whose surface is etched.
  • the n-type photoelectric conversion layer 24, the window layer 18, the first contact layer 19A, and the second contact layer 19B are sequentially formed by the MOCVD method to produce the current adjusting solar cell 3.
  • the quantum dot layer 10B in which a plurality of quantum dots 12 are arranged in the embedded layer 13 is stacked, and the wave functions overlap between the quantum dots 12 in the above configuration.
  • the adjustment solar cell 3 is provided, and the current adjustment solar cell 3 is formed on the light incident side with respect to the intermediate band solar cell 2.
  • the solar cell 1 light having a wavelength equal to or less than the wavelength corresponding to the band gap Bg 4 is absorbed by the current adjustment solar cell 3 in the incident light, and voltage and current are absorbed by the current adjustment solar cell 3. While being generated, light of other wavelengths can be transmitted through the current adjusting solar cell 3 and also incident on the intermediate band solar cell 2.
  • the light absorbed by the intermediate band solar cell 2 is reduced by the amount of light having a wavelength corresponding to the band gap Bg 4 or less absorbed by the current adjusting solar cell 3, and the intermediate band Since the amount of current generated in the solar cell 2 can be suppressed, the amount of heat generated in the intermediate band solar cell 2 can be reduced correspondingly, and thus thermal damage of the solar cell 1 can be prevented.
  • the current adjustment connected in series to the intermediate band solar cell 2 while suppressing the amount of current generated in the intermediate band solar cell 2 by the current adjustment solar cell 3. Since the solar cell 3 also generates a voltage due to absorption of light having a wavelength corresponding to the band gap Bg4, the solar cell 1 is connected to the intermediate band solar cell 2 and the current adjusting solar cell 3 connected in series. The output voltage obtained as a whole can be increased, and thus the conversion efficiency can be remarkably improved as compared with the conventional case.
  • Verification Test (1) Simulation Test Next, a solar cell 1 of the present invention is used as an example, a conventional intermediate band solar cell is used as a comparative example, a simulation test is performed using a detailed equilibrium model, and a current-voltage curve and conversion are performed. The efficiency was calculated and the electrical characteristics were evaluated. The value of the conversion efficiency was calculated by using a black body radiation spectrum (air mass 0) of 6000 K as the sunlight spectrum.
  • a simulation test was performed on a comparative example which is a conventional intermediate band solar cell.
  • the largest band gap Bg1 between the valence band and the conduction band is 1.4 eV
  • one band gap Bg2 between the valence band and the intermediate band is 1.0 eV
  • the other band gap Bg3 between the intermediate band and the conduction band was set to 0.4 eV.
  • FIG. 4B shows a current-voltage curve when a simulation test is performed on the comparative example having the configuration shown in FIG. 4A.
  • the horizontal axis represents voltage
  • the vertical axis represents current density.
  • Total current in FIG. 4B is an overall current-voltage curve in a conventional intermediate band solar cell as a comparative example.
  • the curve with “Bg1” in FIG. 4B is a current-voltage curve for the current and voltage generated by light absorption corresponding to the band gap Bg1 (1.4 eV) shown in FIG. 4A, and “Bg2”
  • the curve with is a current-voltage curve for the current and voltage generated by light absorption corresponding to the band gap Bg2 (1.0 eV) in FIG.
  • FIG. 4A and “Bg3” is the band in FIG. 4A. 6 is a current-voltage curve for current and voltage generated by light absorption corresponding to a gap Bg3 (0.4 eV).
  • FIG. 4B “Series constrained current” (broken line) is a current-voltage curve of one band gap Bg2 and the other band gap Bg3 connected in series.
  • the short-circuit current density which is the current value when the voltage is zero
  • the open circuit voltage which is the voltage value when the current is zero
  • the conversion efficiency calculated from the current-voltage curve was about 37%.
  • the band gap Bg1 between the valence band VB and the conduction band CB in the intermediate band type solar cell 2 portion is set to 1.4 eV
  • the valence band VB and the intermediate band 27 One band gap Bg2 between them was set to 1.0 eV
  • the other band gap Bg3 between the intermediate band 27 and the conduction band CB was set to 0.4 eV, which were the same values as in the comparative example of FIG. 4A.
  • the current adjusting solar cell 3 having the band gap Bg4 larger than all the band gaps Bg1, Bg2, and Bg3 in the intermediate band solar cell 2 is used.
  • 3 is set to 1.7 eV
  • the band gap Bg4 in the current adjusting solar cell 3 is set to the band gap Bg1 in the intermediate band solar cell 2 and one band gap Bg2 formed by the intermediate band, and It was set as the structure connected in series with other band gap Bg3.
  • the simulation test was done also about the Example which consists of this composition.
  • FIG. 5B shows a current-voltage curve when a simulation test is performed on the embodiment shown in FIG. 5A.
  • the curve with “Bg4” in FIG. 5B is a current-voltage curve for current and voltage generated by light absorption corresponding to the band gap Bg4 in the current adjusting solar cell 3.
  • “Parallel constrained voltage” (dotted line) in FIG. 5B summarizes currents and voltages obtained based on the band gap Bg1, the one band gap Bg2, and the other band gap Bg3 in the intermediate band solar cell 2.
  • the current-voltage curve is shown. Note that “Bg1”, “Bg2”, “Bg3”, and “Series constrained current” in FIG. 5B are items common to FIG.
  • the short-circuit current density was about 300 A / m 2 and the open circuit voltage was about 2.35V.
  • the conversion efficiency calculated from the current-voltage curve was about 46%, and it was confirmed that the conversion efficiency was remarkably improved as compared with the comparative example.
  • the example has a low overall short-circuit current density, can suppress the current flowing through the whole, and can confirm that the amount of heat generated by the current can be reduced. .
  • the conversion efficiency was rising although the short circuit current density was falling. That is, in the embodiment, the overall output efficiency is increased even if the output current decreases in the intermediate band type solar battery cell 2 because the output voltage obtained as a whole is increased by the voltage generated in the current adjusting solar battery cell 3. As a result, it was confirmed that the conversion efficiency can be improved as a whole.
  • the value of the band gap Bg4 in the current adjusting solar battery cell 3 is set to Eg, 4, and the conversion efficiency of the entire solar battery 1 is calculated.
  • the result as shown in FIG. 6 was obtained.
  • each value of the band gap Bg1 in the intermediate band type solar battery cell 2 one band gap Bg2 formed by the intermediate band, and the other band gap Bg3 is set to the same value as in the embodiment shown in FIG. 5A. did.
  • the horizontal axis represents the value of Eg, 4 of the band gap Bg4, and the vertical axis represents the conversion efficiency.
  • the broken line shown in FIG. 6 shows the maximum value of 36% (at the time of 1 time condensing) of the conversion efficiency when the band gap Bg4 is not provided.
  • the value of Eg, 4 of the band gap Bg4 is about 1.55 to 1.9 eV, the conversion efficiency exceeds 50% and the conversion efficiency becomes extremely high.
  • the band gap Bg4 in the current adjusting solar cell 3 is selected to be about 1.55 to 1.9 eV. It turns out that the conversion efficiency in the solar cell 1 whole can be improved.
  • the solar cell 31 of the present invention as shown in FIG. 7 shown with the same reference numerals assigned to the parts corresponding to those in FIG. 1 is actually manufactured, and its current-voltage characteristics, conversion efficiency, and Confirmed about.
  • the solar cell 1 includes a back electrode 4 having a five-layer structure, a p-type tunnel layer 22 in the current adjusting solar battery cell 3 having a three-layer structure, and a surface electrode.
  • the solar cell 1 shown in FIG. 1 is different from the solar cell 1 shown in FIG.
  • the numerical value of “nm” shown in FIG. 7 represents the thickness of each layer, and the numerical value in parentheses represents the concentration of the doped dopant.
  • five quantum dot layers 10B of the quantum dot superlattice layer 10 in the intermediate band solar battery cell 2 were formed.
  • the back electrode 4 is formed by vacuum deposition on the surface of the substrate 6 with a first back electrode layer 4A made of Au having a thickness of 50 nm, a second back electrode layer 4B made of Ag having a thickness of 100 nm, and a thickness made of Au.
  • a third back electrode layer 4C of 30 nm, a fourth back electrode layer 4D having a thickness of 3000 nm made of Ag, and a fifth back electrode layer 4E having a thickness of 50 nm made of Au were sequentially laminated.
  • the p-type tunnel layer 22 is a first p-type tunnel having a thickness of 3.5 nm made of p-AlGaAs doped with C at a concentration of 1.0 ⁇ 10 20 / cm 3 on the n-type tunnel layer 21 by MOCVD.
  • the third p-type tunnel layer 22C made of p-AlGaAs and having a thickness of 3.5 nm was sequentially epitaxially grown.
  • the surface electrode 5 is formed by vacuum deposition on the contact layer 19 with a first surface electrode layer 5A made of Ni having a thickness of 10 nm, a second surface electrode layer 5B made of Ge having a thickness of 30 nm, and a thickness made of Au.
  • a third surface electrode layer 5C having a thickness of 60 nm, a fourth surface electrode layer 5D having a thickness of 4000 nm made of Ag, and a fifth surface electrode layer 5E having a thickness of 60 nm made of Au were sequentially stacked.
  • the current-voltage characteristics at the time of 72 times condensing using light of the standard measurement condition (air mass 1.5) of the solar cell are shown in FIG. Results were obtained.
  • the horizontal axis represents voltage
  • the vertical axis represents current density. From FIG. 8, in the solar cell 31 of the present invention, the conversion efficiency calculated from the measured current-voltage characteristics is 26.8%, so that the conversion efficiency of the conventional intermediate-band solar cell is about 20.3% ( It was confirmed that the conversion efficiency was remarkably improved as compared with about 21.2% (at the time of 1000 times condensing) at the time of 100 times condensing.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention.
  • the back electrode 4, the buffer layer 7, and the p-type The materials for forming the semiconductor layer 9, the n-type semiconductor layer 11, the tunnel layer 15, the BSF layer 16, the window layer 18, the contact layer 19, and the surface electrode 5 can be appropriately changed.
  • FIG. 9A when GaAs or Ge is selected as the substrate 6, InAs is used as a material for forming the quantum dots 12 of the intermediate band type solar battery cell 2, and the quantum dot superlattice layer 10 is embedded. Any one of GaAs, AlGaAs, GaNAs, GaAsP, and InGaP may be used as a material for forming the layer 13.
  • any one of InGaP, AlGaAs, and AlInGaP is used, and the p-type photoelectric conversion layer 23 made of a p-type III-V group semiconductor is used.
  • an n-type photoelectric conversion layer 24 made of an n-type III-V semiconductor may be formed. The compositions of the p-type photoelectric conversion layer 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24 are adjusted so that the band gap is larger than that of the buried layer 13.
  • the Al composition of the buried layer 13 is about 30%, and the p-type photoelectric conversion layer is used. 23 and the n-type photoelectric conversion layer 24 are made smaller than about 50% of the Al composition.
  • InAs is used as a material for forming the quantum dots 12 of the intermediate-band solar cell 2, and the quantum dots Any one of GaAs, AlInGaAs, GaAsP, and InGaP may be used as a material for forming the buried layer 13 of the superlattice layer 10.
  • AlAsSb or InAlAsSb is used as the photoelectric conversion laminated portion 17 of the solar cell 3 for current adjustment, and the p-type photoelectric conversion layer 23 made of a p-type III-V group semiconductor and the n-type III-V are used.
  • An n-type photoelectric conversion layer 24 made of a group semiconductor may be formed.
  • the photoelectric converting laminated part 17 of the photovoltaic cell 3 for electric current adjustment was a pn junction
  • this invention is not limited to this,
  • the photoelectric converting laminated part 17 is p-type.
  • a pin junction having a three-layer structure of semiconductor / intrinsic semiconductor / n-type semiconductor may be used.
  • the tunnel layer 15 is formed in the current adjusting solar cell 3 .
  • the tunnel layer 15 may not be formed.
  • the BSF layer 16 of the current adjustment solar cell 3 is epitaxially grown on the n-type semiconductor layer 11 of the intermediate band solar cell 2, and the junction surfaces of the n-type semiconductor layer 11 and the BSF layer 16 are lattice-matched.
  • the intermediate band type solar battery cell 2 and the current adjusting solar battery cell 3 are separately manufactured, and the n type semiconductor layer 11 of the intermediate band type solar battery cell 2 and the BSF of the current adjusting solar battery cell 3 are prepared.
  • the layer 16 may be bonded by an adhesive having a band gap larger than the band gap Bg1 of the III-V semiconductor forming the buried layer 13 and conductivity.
  • the p-type and n-type conductivity types in each layer of the solar cell 1 shown in FIG. 1 may be reversed. That is, as shown in FIG. 1, in the above-described embodiment, the quantum dot superlattice layer 10 is formed between the p-type semiconductor layer 9 and the n-type semiconductor layer 11, and the p-type buffer layer 7 is formed on the p-type buffer layer 7.
  • the intermediate band solar cell 2 in which the p-type semiconductor layer 9 is formed is applied, the present invention is not limited to this, and the p-type and n-type conductivity types are reversed, and the p-type semiconductor layer 9 and the n-type semiconductor are used.
  • An intermediate-band solar battery cell in which the quantum dot superlattice layer 10 is formed between the layers 11 and the n-type semiconductor layer 11 is formed on the n-type buffer layer may be used.
  • the p-type and n-type conductivity types of the current adjusting solar cell 3 are also reversed accordingly.
  • a p-type photoelectric conversion layer 23 made of a p-type III-V group semiconductor and an n-type photoelectric conversion made of an n-type III-V group semiconductor.
  • the present invention is not limited to this, and the p-type and n-type conductivity types are reversed to form an n-type photoelectric conversion layer on the n-type BSF layer. You may apply the photoelectric converting laminated part in which the p-type window layer was formed on the conversion layer.
  • the intermediate band solar cell 2 and the current adjusting solar cell 3 are epitaxially grown on the substrate 6, and the intermediate band solar cell 2 and the current adjusting solar cell 3 are epitaxially grown.
  • the present invention is not limited to this.
  • the intermediate band type solar battery cell 2 and the current adjusting solar battery cell 3 are not continuously formed by epitaxial growth using the substrate 6, and are manufactured in advance without using the substrate 6.
  • the intermediate band solar cell 2 and the current adjusting solar cell 3 are bonded together by a substrate bonding technique to form the current adjusting solar cell 3 on the light incident side of the intermediate band solar cell 2. You may do it.

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Abstract

 本発明の太陽電池(1)は、電流調整用太陽電池セル(3)の光電変換積層部(17)が、中間バンド型太陽電池セル(2)における埋込層(13)のバンドギャップ(Bg1)よりも大きいバンドギャップ(Bg4)を有するようにしたことから、電流調整用太陽電池セル(3)でバンドギャップ(Bg4)に対応する波長以下の光が吸収される分だけ、中間バンド型太陽電池セル(2)で吸収される光を減らし、当該中間バンド型太陽電池セル(2)にて発生する電流量を抑制できるので、中間バンド型太陽電池セル(2)における発熱量を低減でき、太陽電池(1)の熱破損を防止でき、また、中間バンド型太陽電池セル(2)にて発生する電流量を抑制しつつも、中間バンド型太陽電池セル(2)に直列に接続された電流調整用太陽電池セル(3)でも光の吸収により電圧が発生することから、太陽電池(1)全体で得られる出力電圧を増加でき、従来よりも変換効率を格段的に向上できる。

Description

太陽電池
 本発明は、太陽電池に関する。
 近年、クリーンなエネルギー源として太陽電池が注目されている。従来のシリコン太陽電池は、シリコンのバンドギャップが約1.1eVであることから、当該バンドギャップに対応する約1100nmより大きい波長の光が透過してしまい、太陽光に含まれる長波長領域の光を有効に利用できていない。そのため、近年では、長波長領域の光も利用できる中間バンド型太陽電池が注目されている(特許文献1等参照)。
 例えば、特許文献1には、n型のGaAsでなる基板上に、n型のGaAsでなるn層と、GaSbでなる複数の量子ドットがGaAsでなるバリア層内に分散しているi層と、p型のGaAsでなるp層とが順次積層された中間バンド型太陽電池が開示されている。中間バンド型太陽電池では、i層を形成するGaAsの価電子帯から伝導帯へ電子が直接励起されて電圧及び電流が生成されることに加え、価電子帯及び中間バンド間と、中間バンド及び伝導帯間とでも電子が励起されて電圧及び電流が生成され得る。
 この場合、価電子帯及び中間バンド間のバンドギャップと、中間バンド及び伝導帯間のバンドギャップとは、価電子帯及び伝導帯間のバンドギャップよりも小さい。そのため、電子は、価電子帯から伝導帯へ直接励起される場合と比較してより長波長の光によって、価電子帯から中間バンドへ励起されると共に、中間バンドから伝導帯へ励起される。このような中間バンド型太陽電池では、長波長領域の光によっても電子が励起されて電圧及び電流が生成されることから、中間バンドが形成されていない単なるシリコン太陽電池と比較して、より大きな電流が得られ、変換効率の向上が図られ得る。因みに、ここで変換効率とは、太陽電池一般の性能を表すものであり、太陽電池の出力電圧と出力電流との積で表される太陽電池の出力を、太陽電池に入射された光のエネルギーで除算した値の百分率である。
特開2006-114815号公報
 しかしながら、このような中間バンド型太陽電池では、中間バンドが形成されることで得られる複数のバンドギャップによって、より多くの電流が生成され得る一方で、得られた電流によって大きな発熱が生じ易く、エネルギーが熱として損失されてしまい、実際には高い変換効率が得られ難いという問題があった。また、中間バンド型太陽電池では、高い変換効率を得るために太陽光を高倍率で集光して照射させた場合、さらに大きな電流が流れるため、発熱量が一段と大きくなり、熱破損する恐れがある。
 そこで、本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、熱破損を防止できると共に、従来よりも変換効率を格段的に向上できる太陽電池を提供することを目的とする。
 本発明の太陽電池は、複数の量子ドットが埋込層内に配置された複数の量子ドット層を積層させた量子ドット超格子層を有し、前記量子ドット超格子層には、各前記量子ドット間で波動関数が重なり合い中間バンドが形成されている中間バンド型太陽電池セルと、p型光電変換層及びn型光電変換層を少なくとも備えた光電変換積層部を有し、前記中間バンド型太陽電池セルの光入射側に形成された電流調整用太陽電池セルとを備えており、前記電流調整用太陽電池セルは、前記光電変換積層部が、前記中間バンド型太陽電池セルにおける前記埋込層のバンドギャップよりも大きいバンドギャップを有していることを特徴とする。
 本発明の太陽電池は、電流調整用太陽電池セルで光電変換積層部のバンドギャップに対応する波長の光が吸収される分だけ、中間バンド型太陽電池セルで吸収される光を減らし、中間バンド型太陽電池セルにて発生する電流量を抑制し得、その分、中間バンド型太陽電池セルにおける発熱量を低減でき、熱破損を防止できる。また、本発明の太陽電池は、電流調整用太陽電池セルによって中間バンド型太陽電池セルにて発生する電流量を抑制しつつも、当該中間バンド型太陽電池セルに直列に接続された電流調整用太陽電池セルでもバンドギャップに対応する波長の光の吸収により電圧が発生することから、直列的に接続された中間バンド型太陽電池セル及び電流調整用太陽電池セルにより太陽電池全体で得られる出力電圧を増加させることができ、かくして、従来よりも変換効率を格段的に向上させることができる。
本発明の実施の形態に係る太陽電池の全体構成を示す概略図である。 中間バンド型太陽電池セルの複数の量子ドット層が積層された領域におけるバンド構造を示す概略図である。 中間バンド型太陽電池セルのバンドギャップと電流調整用太陽電池セルのバンドギャップとの関係を纏めた模式図である。 図4Aはシミュレーションに用いた比較例の中間バンド型太陽電池のバンドギャップの関係を示す模式図であり、図4Bはシミュレーションにより算出した電流-電圧曲線を示している。 図5Aはシミュレーションに用いた実施例の太陽電池のバンドギャップの配置を示す模式図であり、図5Bはシミュレーションにより算出した太陽電池の電流-電圧曲線を示している。 光電変換積層部のバンドギャップのバンドギャップエネルギーと太陽電池の変換効率の関係を示す図である。 実施例の太陽電池の全体構成を示す概略図である。 実施例の太陽電池の72倍集光時の電流-電圧特性の測定結果を示す図である。 図9Aは基板がGaAs又はGeの場合の量子ドット、埋込層及び光電変換積層部を形成する材料の組み合わせを示し、図9Bは基板がInPの場合の量子ドット、埋込層及び光電変換積層部を形成する材料の組み合わせを示している。
1.本発明の実施の形態に係る太陽電池の構成
 図1において、1は本発明の太陽電池を示し、太陽電池1は、裏面電極4上に、中間バンド型太陽電池セル2と、電流調整用太陽電池セル3と、表面電極5とが順に形成されており、電流調整用太陽電池セル3及び中間バンド型太陽電池セル2が直列に接続された構成を有する。太陽電池1は、光が表面電極5から裏面電極4に向けて入射されると、当該光が電流調整用太陽電池セル3を介して中間バンド型太陽電池セル2に到達し得るようになされている。
 この場合、太陽電池1は、表面電極5側から入射された光のうち、波長の小さい光が電流調整用太陽電池セル3にて吸収されることにより当該電流調整用太陽電池セル3で電圧及び電流が発生し、他の残りの波長の光が電流調整用太陽電池セル3を透過して中間バンド型太陽電池セル2に到達し得る。実際上、太陽電池1は、電流調整用太陽電池セル3にて吸収される光の波長よりも大きい波長の光が電流調整用太陽電池セル3を透過して中間バンド型太陽電池セル2に入射され得る。これにより、太陽電池1は、電流調整用太陽電池セル3を透過した波長の光が中間バンド型太陽電池セル2にて吸収されることにより、当該中間バンド型太陽電池セル2でも電圧及び電流が発生し得る。太陽電池1は、これら電流調整用太陽電池セル3と中間バンド型太陽電池セル2とでそれぞれ得られた電圧及び電流を、例えば太陽電池1の出力電圧及び出力電流として表面電極5及び裏面電極4に接続された外部回路(図示せず)に出力し得るようになされている。
 このように、本発明の太陽電池1は、入射された光のうち、所定波長以下の光を電流調整用太陽電池セル3にて吸収することで、当該電流調整用太陽電池セル3で電圧及び電流を発生させつつ、中間バンド型太陽電池セル2に入射される光を低減し得る。これにより、太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3で所定波長以下の光が吸収される分だけ、中間バンド型太陽電池セル2で吸収される光が減り、当該中間バンド型太陽電池セル2にて発生する電流量を抑制し得、それに伴い中間バンド型太陽電池セル2における発熱量を低減し得る。
 また、太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3によって中間バンド型太陽電池セル2にて発生する電流量を抑制しつつも、当該中間バンド型太陽電池セル2に直列に接続された電流調整用太陽電池セル3でも光の吸収により電圧が発生することから、中間バンド型太陽電池セル2及び電流調整用太陽電池セル3により太陽電池1全体で得られる出力電圧を増加させ得るようになされている。
 ここで、裏面電極4は、AuやAgなどの金属部材により形成されており、表面に中間バンド型太陽電池セル2が形成されている。中間バンド型太陽電池セル2は、例えばP‐GaAs(001)などの単結晶でなる基板6上にバッファ層7と中間バンド型光電変換積層部8とが順に形成されており、当該基板6の裏面に裏面電極4が形成されている。なお、図1には、各層を形成する物質名を一例として明記している。ここで、図1に示す物質名の前に付した「p‐」はその物質がp型半導体であることを表し、「i‐」は真性半導体であることを表し、「n‐」はn型半導体であることを表す。また、例えば「p‐」のように半導体の導電型を表す文字に「+」が付されている場合は、「+」が付されていない半導体と比較して、より多くのキャリアを有していることを示す。
 中間バンド型太陽電池セル2には、不純物が添加されたIII-V族半導体でなるバッファ層7が形成されている。バッファ層7は、基板6と中間バンド型光電変換積層部8との格子定数の不整合を緩和して、中間バンド型光電変換積層部8の結晶性を高めるようになされている。なお、本発明の実施の形態の場合、バッファ層7は、Beがドープされたp‐GaAsでなる第1バッファ層7Aと、第1バッファ層7A上に形成され、Beがドープされたp‐AlGaAsでなる第2バッファ層7Bとの2層構造を有している。第1バッファ層7Aと第2バッファ層7Bとは、不純物を多く添加されて内部に多数のキャリアを有しており、電流が流れ易いように形成されている。因みに、この実施の形態の場合においては、第1バッファ層7A及び第2バッファ層7Bの2層構造のバッファ層7を適用した場合について述べるが、本発明はこれに限らず、単層のバッファ層や、3層以上の複数層でなるバッファ層を適用してもよい。
 中間バンド型光電変換積層部8は、p型半導体層9と、量子ドット超格子層10と、n型半導体層11とが順に積層された構成を有しており、当該p型半導体層9がバッファ層7上に形成されている。p型半導体層9は、例えばGeがドープされたp‐GaAsなどのp型のIII-V族半導体により形成されている。n型半導体層11は、例えばSiがドープされたn‐GaAsなどのn型で、かつp型半導体層9と同じIII-V族半導体により形成されている。
 中間バンド型光電変換積層部8は、p型半導体層9とn型半導体層11との間に量子ドット超格子層10が形成されており、量子ドット超格子層10で生成された正孔が、p型半導体層9と量子ドット超格子層10の境界に生じた内部電界によってp型半導体層9へと拡散し、一方、量子ドット超格子層10で生成された電子が、n型半導体層11と量子ドット超格子層10の境界に生じた内部電界によってn型半導体層11へと拡散し得るようになされている。
 ここで、量子ドット超格子層10は、第1量子ドットバッファ層10Aと第2量子ドットバッファ層10Cとの間に、複数の量子ドット層10Bが積層された構成を有している。実際上、量子ドット超格子層10は、複数の量子ドット12が規則的に配置された量子ドット層10Bが積層されていることにより、量子ドット12が基板6に対して垂直な方向にも規則的に配置されており、複数の量子ドット12が3次元的に規則的に配置された構成を有する。なお、第1量子ドットバッファ層10Aと第2量子ドットバッファ層10Cとは、例えばノンドープのi‐GaAsなどのi型で、かつp型半導体層9及びn型半導体層11と同じIII-V族半導体により形成されている。
 また、第1量子ドットバッファ層10A及び第2量子ドットバッファ層10C間に形成された複数の量子ドット層10Bは、全て同一構成を有しており、例えばノンドープのi‐GaAsなどのi型で、かつp型半導体層9及びn型半導体層11と同じIII-V族半導体により形成された埋込層13内に、互いに所定の間隔を空けて配置された複数の量子ドット12が埋め込まれた構成を有している。
 ここで、埋込層13内の複数の量子ドット12は、全て同一の構成を有しており、埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップよりも小さいバンドギャップを有したInAsなどのIII-V族半導体により形成されており、量子ドット12が互いに所定間隔を設けて配置されていることで、隣接する量子ドット12同士で電子の波動関数が重なり合い中間バンドを形成し得るようになされている。
 なお、量子ドット層10Bは、例えば量子ドット12が5~20nmの間隔を空けて規則的に配置されていることが望ましい。また、この実施の形態の場合、量子ドット12は、粒子状に形成されており、例えば原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)などの顕微鏡を用いて撮影した写真をもとに計測した直径が10~20nmであることが望ましい。また、埋込層13は、量子ドット12周辺を覆っており、一の量子ドット層10B内の量子ドット12が、当該一の量子ドット層10Bと隣接する他の量子ドット層10B内の量子ドット12と非接触状態で配置され得る。なお、第1量子ドットバッファ層10Aと、量子ドット層10Bとの境では、埋込層13により、量子ドット層10B内の量子ドット12と第1量子ドットバッファ層10Aとの格子定数の差から生じる結晶格子のひずみが補償されている。
 因みに、図2は、複数の量子ドット層10Bが積層された領域におけるバンド構造を示す概略図である。複数の量子ドット層10Bが積層された領域では、埋込層13を形成するIII-V族半導体の価電子帯VBの上端と伝導帯CBの下端との間のバンドギャップBg1よりも小さいバンドギャップBg0を有した量子ドット12同士が、所定の間隔を空けて配置されていることにより、隣り合う量子ドット12の電子の波動関数26が重なり合い、一の量子ドット12内の電子が他の隣接する量子ドット12へと移動できる中間バンド27が形成され得る。
 これにより、複数の量子ドット層10Bが積層された領域では、埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1とは別に、価電子帯VBの上端と中間バンド27との間に一のバンドギャップBg2が形成されると共に、中間バンド27と伝導帯CBとの間にも他のバンドギャップBg3が形成され得る。なお、この実施の形態の場合、複数の量子ドット層10Bが積層された領域には、埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1よりも小さいが、中間バンド27と伝導帯CBとの間に形成される他のバンドギャップBg3よりも大きい一のバンドギャップBg2が価電子帯VBの上端と中間バンド27との間に形成され得る。また、複数の量子ドット層10Bが積層された領域には、埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1や、価電子帯VBの上端と中間バンド27との間に形成される一のバンドギャップBg2よりも小さい他のバンドギャップBg3が中間バンド27と伝導帯CBとの間に形成され得る。
 量子ドット超格子層10は、入射された光のうち、埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1に対応する波長の光を吸収し、この光吸収によって価電子帯VB内の電子が当該価電子帯VBから伝導帯CBへと直接励起され、これにより価電子帯VB内に正孔を生成し得ると共に、伝導帯CB内に電子を生成し得る。また、量子ドット超格子層10は、価電子帯VBの上端と中間バンド27との間のバンドギャップBg2に対応する波長の光を吸収し、この光吸収によって価電子帯VBの電子が中間バンド27へ励起され、価電子帯VB内に正孔を生成し得る。さらに、量子ドット超格子層10は、中間バンド27と伝導帯CBとの間のバンドギャップBg3に対応する波長の光を吸収し、この光吸収によって中間バンド27に励起された電子が中間バンド27から伝導帯CBへと励起され、伝導帯CB内に電子を生成し得る。
 因みに、この実施の形態においては、価電子帯VBの上端と中間バンド27との間に形成される一のバンドギャップBg2よりも、中間バンド27と伝導帯CBとの間に形成される他のバンドギャップBg3が小さく形成されている場合について述べたが、本発明はこれに限らず、量子ドット12を形成するIII-V族半導体や、埋込層13を形成するIII-V族半導体の種類を適宜選定することにより、例えば価電子帯VBの上端と中間バンド27との間に形成される一のバンドギャップBg2よりも、中間バンド27と伝導帯CBとの間に形成される他のバンドギャップBg3が大きくなるように形成してもよい。
 ここで、再度、図1を参照して太陽電池1の他の構成を説明する。図1に示すように、電流調整用太陽電池セル3は、中間バンド型太陽電池セル2のn型半導体層11上に、トンネル層15と、BSF(Back Surface Field)層16と、光電変換積層部17と、窓層18と、コンタクト層19とが順に形成された構成を有している。
 トンネル層15は、例えばTeがドープされたn‐InGaPなどのn型のIII-V族半導体でなるn型トンネル層21上に、例えばCがドープされたp‐AlGaAsなどのp型のIII-V族半導体でなるp型トンネル層22が積層された構成を有している。トンネル層15では、n型トンネル層21及びp型トンネル層22によってpn接合が形成されており、中間バンド型太陽電池セル2と電流調整用太陽電池セル3とからそれぞれ電圧及び電流が出力される際、中間バンド型太陽電池セル2によってn型トンネル層21に負の電圧が印加され、電流調整用太陽電池セル3によってp型トンネル層22に正の電圧が印加されることから、n型トンネル層21及びp型トンネル層22によるpn接合に順バイアスの電圧がかかり、トンネル電流が流れ得る。
 なお、トンネル層15は、キャリア不純物がより多くドープされており、抵抗が低く選定されている。ここで、n型トンネル層21とp型トンネル層22とは、量子ドット超格子層10における埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1よりも大きなバンドギャップを有するIII-V族半導体で形成されており、量子ドット超格子層10で吸収される波長の光がトンネル層15を透過し得るようになされている。
 BSF層16は、例えば不純物を添加したIII-V族半導体でなり、トンネル層15上に形成されている。本実施の形態の場合、BSF層16は、例えばZnがドープされたp‐AlGaAsでなる第1BSF層16Aと、Teがドープされたp‐AlInGaPでなる第2BSF層16Bとが順に積層された2層構造を有している。なお、この実施の形態の場合においては、第1BSF層16A及び第2BSF層16Bでなる2層構造のBSF層16を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、単層のBSF層や、3層以上の複数層でなるBSF層を適用していてもよい。
 ここで、第1BSF層16Aと第2BSF層16Bとは、量子ドット超格子層10における埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1よりも大きなバンドギャップを有するIII-V族半導体材料で形成されており、量子ドット超格子層10で吸収される波長の光がBSF層16を透過し得るようになされている。
 因みに、この実施の形態の場合、BSF層16は、その表面に光電変換積層部17が形成されており、当該光電変換積層部17との境界近傍で生成された少数キャリアである電子を、光電変換積層部17との境界で生じた内部電界により光電変換積層部17内へと押し戻し、BSF層16内への電子の拡散を抑制し得るようになされている。なお、BSF層16は、光電変換積層部17と同じIII-V族半導体で形成して光電変換積層部17よりドーパントの濃度を高くしたり、光電変換積層部17よりもバンドギャップが大きいIII-V族半導体材料で形成したりして、少数キャリアのBSF層16への拡散を抑制してもよい。
 光電変換積層部17は、例えば、Znがドープされたp‐InGaPなどのp型のIII-V族半導体でなるp型光電変換層23上に、Siがドープされたn‐InGaPなどのn型のIII-V族半導体でなるn型光電変換層24が積層された構成を有している。この場合、p型光電変換層23とn型光電変換層24とは、添加された不純物が異なっているが同じIII-V族半導体で形成されている。
 ここで、光電変換積層部17は、p型光電変換層23及びn型光電変換層24を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg4が、量子ドット超格子層10における埋込層13を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg1よりも大きくなるように選定されている。これにより、光電変換積層部17は、光が入射された際、中間バンド型太陽電池セル2に光が入射する前に、p型光電変換層23及びn型光電変換層24を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg4に対応する波長の光を吸収し得ると共に、中間バンド型太陽電池セル2で吸収される長波長の光を透過し、当該長波長の光を中間バンド型太陽電池セル2まで到達させ得るようになされている。
 この際、光電変換積層部17は、p型光電変換層23及びn型光電変換層24を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg4に対応する波長の光を吸収することで、当該III-V族半導体における価電子帯内の電子が伝導帯へと励起され、これにより価電子帯内に正孔を生成し得ると共に、伝導帯内に電子を生成し得る。そして、光電変換積層部17は、p型光電変換層23とn型光電変換層24との界面で生じた内部電界によって、価電子帯に生成された正孔がp型光電変換層23側へと拡散し、伝導帯に生成された電子がn型光電変換層24側へと拡散して、電圧及び電流を生成し得る。
 窓層18は、例えばTeがドープされたn‐InAlPなどの不純物を添加されたIII-V族半導体でなり、光電変換積層部17上に形成されており、n型光電変換層24の窓層18との境界近傍で生成された少数キャリアである正孔を、n型光電変換層24との境界で生じた内部電界によりn型光電変換層24内へと押し戻して、窓層18への正孔の拡散を抑制し得るようになされている。
 なお、窓層18は、n型光電変換層24と同じIII-V族半導体により形成してn型光電変換層24よりドーパントの濃度を高くしたり、或いは、n型光電変換層24よりもバンドギャップが大きいIII-V族半導体で形成したりして、少数キャリアの窓層18への拡散を抑制してもよい。ここで、窓層18は、光電変換積層部17を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg4よりも大きなバンドギャップを有するIII-V族半導体で形成されており、光電変換積層部17で吸収される波長の光を透過させ得るようになされている。
 コンタクト層19は、不純物を添加したIII-V族半導体でなり、窓層18上に形成され得る。このコンタクト層19は、表面に形成された表面電極5との接合面での接触抵抗を低減し得るようになされている。本実施の形態の場合、コンタクト層19は、例えば、Siがドープされたn‐InGaAsでなる第1コンタクト層19A上に、Teがドープされたn‐InGaAsでなる第2コンタクト層19Bとが積層された構成を有している。
 この場合、第1コンタクト層19Aと第2コンタクト層19Bとは、光電変換積層部17を形成するIII-V族半導体のバンドギャップBg4よりも大きなバンドギャップを有するIII-V族半導体により形成されており、光電変換積層部17で吸収される波長の光を透過させ、当該光電変換積層部17に到達させ得るようになされている。
 なお、この実施の形態の場合においては、第1コンタクト層19A及び第2コンタクト層19Bでなる2層構造のコンタクト層19を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、単層のコンタクト層や、3層以上の複数層でなるコンタクト層を適用してもよい。因みに、コンタクト層19上に形成された表面電極5は、AuやAg、Ge、Niなどの金属部材により形成された単層構造又は多層構造でなり、裏面電極4が接続された外部回路(図示せず)に接続され得るようになされている。なお、表面電極5は、コンタクト層19上の複数箇所に形成されており、各表面電極5が所定間隔を設けて配置され、表面電極5から裏面電極4に向けて照射された光が、表面電極5間に露出したコンタクト層19から内部に入射し得るようになされている。
 ここで、図3は、本発明の実施の形態の太陽電池1について、中間バンド型太陽電池セル2における量子ドット超格子層10の埋込層13のバンドギャップBg1と、量子ドット超格子層10に形成された中間バンド27により得られる一のバンドギャップBg2及び他のバンドギャップBg3と、中間バンド型太陽電池セル2に対し光入射側に直列に接続された電流調整用太陽電池セル3の光電変換積層部17におけるバンドギャップBg4との関係を纏めた模式図である。
 図3に示すように、中間バンド型太陽電池セル2では、量子ドット超格子層10における埋込層13の価電子帯VBから中間バンド27へ電子が励起され、励起された電子が中間バンド27から当該埋込層13の伝導帯CBへと励起されることから、価電子帯VB及び中間バンド27間の一のバンドギャップBg2と、中間バンド27及び伝導帯CB間の他のバンドギャップBg3とが直列に接続されていると見なせる。また、中間バンド型太陽電池セル2では、中間バンド27を介して電子が励起されることに加えて、量子ドット超格子層10における埋込層13の価電子帯VBから伝導帯CBへと直接電子が励起されることから、埋込層13の価電子帯VB及び伝導帯CB間のバンドギャップBg1が、価電子帯VB及び中間バンド27間のバンドギャップBg2と、中間バンド27及び伝導帯CB間のバンドギャップBg3との直列接続に対して並列に接続されていると見なせる。
 これに加えて、本発明の太陽電池1では、中間バンド型太陽電池セル2上に電流調整用太陽電池セル3が形成され、中間バンド型太陽電池セル2と電流調整用太陽電池セル3とが直列に接続された構成となっている。これにより、本発明の太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3における光電変換積層部17のバンドギャップBg4が、中間バンド型太陽電池セル2の量子ドット超格子層10における埋込層13のバンドギャップBg1と直列に接続されていると見なせ、さらに当該電流調整用太陽電池セル3における光電変換積層部17のバンドギャップBg4が、価電子帯VB及び中間バンド27間のバンドギャップBg2と、中間バンド27及び伝導帯CB間のバンドギャップBg3とに対して直接に接続されていると見なせる。
 これにより、本発明の太陽電池1では、中間バンド型太陽電池セル2においてバンドギャップBg1、Bg2、Bg3を基に得られた電圧に加えて、電流調整用太陽電池セル3においてバンドギャップBg4を基に得られた電圧を含めて全体の出力電圧として得ることができ、かくして、電流調整用太陽電池セル3においてバンドギャップBg4を基に得られた電圧の分、全体の出力電圧が増加し得る。
 この際、本発明の太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3においてバンドギャップBg4に対応する波長の光を吸収することから、その分、中間バンド型太陽電池セル2での光の吸収が減り、中間バンド型太陽電池セル2での電流量を低減し得る。
 ここで、例えば、図1に示すようなIII-V族半導体により各層を形成した中間バンド型太陽電池セル2では、埋込層13のバンドギャップBg1を1.4eVとした場合、量子ドット超格子層10の量子ドット12の配置構成を調整することで、量子ドット超格子層10の埋込層13の価電子帯VB及び中間バンド27間の一のバンドギャップBg2を1.0eVに設定し得、一方、中間バンド27及び伝導帯CB間の他のバンドギャップBg3を0.4eVに設定し得る。
 この場合、図1に示すようなIII-V族半導体により各層を形成した電流調整用太陽電池セル3では、例えば光電変換積層部17のバンドギャップBg4を、中間バンド型太陽電池セル2における埋込層13のバンドギャップBg1である1.4eVよりも大きい値である1.7eVに設定し得る。
 これにより、太陽電池1では、表面電極5から裏面電極4に向けて光が照射されると、当該光のうち、電流調整用太陽電池セル3における光電変換積層部17のバンドギャップBg4として設定した1.7eVに対応する729nm以下の波長の光を光電変換積層部17にて吸収して電圧及び電流を出力し得ると共に、729nmより波長が大きい光を電流調整用太陽電池セル3を透過して中間バンド型太陽電池セル2へ入射させる。
 中間バンド型太陽電池セル2では、電流調整用太陽電池セル3を透過した光のうち、量子ドット超格子層10の埋込層13のバンドギャップBg4である1.4eVに対応する886nm以下の波長の光を量子ドット超格子層10で吸収して電圧及び電流を出力し得る。また、中間バンド型太陽電池セル2では、埋込層13の価電子帯VB及び中間バンド27間の一のバンドギャップBg2である1.0eVに対応する1240nm以下の波長の光を吸収すると共に、中間バンド27及び伝導帯CB間の他のバンドギャップBg3である0.4eVに対応する3100nm以下の波長の光を吸収して、これら光吸収によって電圧及び電流を出力し得る。
 このように本発明の太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3においてバンドギャップBg4に対応する波長の光を吸収する分、中間バンド型太陽電池セル2での光の吸収が減り、中間バンド型太陽電池セル2での電流量を低減できると共に、中間バンド型太陽電池セル2においてバンドギャップBg1、Bg2、Bg3を基に得られた電圧に加えて、電流調整用太陽電池セル3においてバンドギャップBg4を基に電圧を得られる分、全体の出力電圧を増加し得る。
2.本発明の太陽電池の製造方法
 次に、上述した太陽電池1の製造方法について簡単に説明する。この場合、まず、真空蒸着などの方法により裏面電極4が裏面に形成された基板6を用意し、当該基板6を分子線エピタキー(MBE:Molecular Beam Epitaxy)成膜装置のチャンバ内に載置し、基板6の表面に、第1バッファ層7Aと、第2バッファ層7Bと、p型半導体層9と、第1量子ドットバッファ層10Aと、量子ドット層10Bと、第2量子ドットバッファ層10Cと、n型半導体層11とをMBE法により順次形成し、中間バンド型太陽電池セル2を作製する。この際、第1バッファ層7Aと、第2バッファ層7Bと、p型半導体層9と、第1量子ドットバッファ層10Aと、第2量子ドットバッファ層10Cと、n型半導体層11とは、それぞれエピタキシャル成長により連続的に形成されることから、接合面同士が格子整合し、単結晶となっている。
 上述した量子ドット層10Bは、例えば第1量子ドットバッファ層10A上に、Stranski―Krastanov(S―K)成長法を用い、自己組織化により複数の量子ドット12を形成し、量子ドット12を覆うように第1量子ドットバッファ層10A上に埋込層13を形成する。その後、埋込層13上に自己組織化により複数の量子ドット12を形成し、当該量子ドット12を埋込層13で覆い、これら工程を繰り返すことで一の量子ドット層10Bに他の量子ドット層10Bを順次積層してゆく。
 次に、中間バンド型太陽電池セル2をMBE成膜装置のチャンバから取り出し、有機金属気相エピタキー(MOCVD:Metal Organic Chemical Vapor Deposition)成膜装置のチャンバ内へ移す。このとき、中間バンド型太陽電池セル2は大気暴露される。そこで、チャンバ内に載置した中間バンド型太陽電池セル2の表面をエッチングし、大気暴露によって汚染された表面を除去する。次に、表面をエッチングした中間バンド型太陽電池セル2上に、n型トンネル層21と、p型トンネル層22と、第1BSF層16Aと、第2BSF層16Bと、p型光電変換層23と、n型光電変換層24と、窓層18と、第1コンタクト層19Aと、第2コンタクト層19Bとを、MOCVD法により順次形成して電流調整用太陽電池セル3を作製する。
 この際、n型トンネル層21と、p型トンネル層22と、第1BSF層16Aと、第2BSF層16Bと、p型光電変換層23と、n型光電変換層24と、窓層18と、第1コンタクト層19Aと、第2コンタクト層19Bとは、それぞれエピタキシャル成長により連続的に形成されることから、接合面同士が格子整合し、単結晶となっている。最後に、電流調整用太陽電池セル3上に、金属膜を真空蒸着などの方法により形成し、フォトリソグラフィ技術により所定形状でなる複数の表面電極5を電流調整用太陽電池セル3上に形成することで、太陽電池1を作製できる。
3.作用及び効果
 以上の構成において、本発明の太陽電池1では、複数の量子ドット12が埋込層13内に配置された量子ドット層10Bが積み重ねられ、各量子ドット12間で波動関数が重なり合い中間バンド27が形成されている中間バンド型太陽電池セル2と、当該中間バンド型太陽電池セル2における埋込層13のバンドギャップBg1よりも大きいバンドギャップBg4を有する光電変換積層部17を備えた電流調整用太陽電池セル3とを設け、中間バンド型太陽電池セル2に対して光入射側に電流調整用太陽電池セル3を形成するようにした。
 従って、太陽電池1では、入射された光のうち、バンドギャップBg4に対応する波長以下の光が電流調整用太陽電池セル3にて吸収され、当該電流調整用太陽電池セル3で電圧及び電流を発生させつつ、他の波長の光が電流調整用太陽電池セル3を透過し、中間バンド型太陽電池セル2にも入射させることができる。
 よって、太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3でバンドギャップBg4に対応する波長以下の光が吸収される分だけ、中間バンド型太陽電池セル2で吸収される光を減らし、当該中間バンド型太陽電池セル2にて発生する電流量を抑制できるので、その分、中間バンド型太陽電池セル2における発熱量を低減でき、かくして、太陽電池1の熱破損を防止できる。
 また、太陽電池1では、電流調整用太陽電池セル3によって中間バンド型太陽電池セル2にて発生する電流量を抑制しつつも、当該中間バンド型太陽電池セル2に直列に接続された電流調整用太陽電池セル3でもバンドギャップBg4に対応する波長の光の吸収により電圧が発生することから、直列的に接続された中間バンド型太陽電池セル2及び電流調整用太陽電池セル3により太陽電池1全体で得られる出力電圧を増加させることができ、かくして、従来よりも変換効率を格段的に向上させることができる。
4.検証試験
(1)シミュレーション試験
 次に、本発明の太陽電池1を実施例とし、従来の中間バンド型太陽電池を比較例として、詳細平衡モデルを用いてシミュレーション試験を行い、電流-電圧曲線と変換効率とをそれぞれ算出し、電気特性について評価した。変換効率の値は、太陽光のスペクトルとして6000Kの黒体放射のスペクトル(エアマス0)を使用して算出した。
 最初に、従来の中間バンド型太陽電池である比較例について、シミュレーション試験を行った。なお、比較例では、図4Aに示すように、価電子帯及び伝導帯間の最も大きいバンドギャップBg1を1.4eVとし、価電子帯及び中間バンド間の一のバンドギャップBg2を1.0eVとし、中間バンド及び伝導帯間の他のバンドギャップBg3を0.4eVとした。
 また、比較例でも、価電子帯及び中間バンド間の一のバンドギャップBg2と、中間バンド及び伝導帯間の他のバンドギャップBg3とが直列に接続されていると見なし、さらに一のバンドギャップBg2及び他のバンドギャップBg3に対して、価電子帯及び伝導帯間のバンドギャップBg1が並列に接続されていると見なして、シミュレーション試験を行った。
 図4Bは、図4Aに示す構成の比較例についてシミュレーション試験を行ったときの電流-電圧曲線を示す。なお、図4Bは、横軸が電圧を示し、縦軸が電流密度を示す。図4B中の「Total current」は比較例である従来の中間バンド型太陽電池における全体での電流-電圧曲線である。図4B中の「Bg1」を付した曲線は、図4Aに示すバンドギャップBg1(1.4eV)に対応した光吸収によって生じた電流及び電圧についての電流-電圧曲線であり、また、「Bg2」を付した曲線は、図4A中のバンドギャップBg2(1.0eV)に対応した光吸収によって生じた電流及び電圧についての電流-電圧曲線であり、さらに、「Bg3」は、図4A中のバンドギャップBg3(0.4eV)に対応した光吸収によって生じた電流及び電圧についての電流-電圧曲線である。なお、図4B中の「Series constrained current」(破線)は、直列に接続された一のバンドギャップBg2及び他のバンドギャップBg3全体の電流-電圧曲線である。
 図4Bに示すように、比較例では、電圧がゼロのときの電流値である短絡電流密度が約600A/mとなり、一方、電流がゼロのときの電圧値である開放電圧が約1.0Vとなった。比較例では、電流-電圧曲線から算出した変換効率が約37%であった。
 次に、本発明の太陽電池1についてシミュレーション試験を行った。この場合、実施例では、図5Aに示すように、中間バンド型太陽電池セル2部分における価電子帯VB及び伝導帯CB間のバンドギャップBg1を1.4eVとし、価電子帯VB及び中間バンド27間の一のバンドギャップBg2を1.0eVとし、中間バンド27及び伝導帯CB間の他のバンドギャップBg3を0.4eVとして、図4Aの比較例と同じ値とした。
 これに加えて、実施例では、中間バンド型太陽電池セル2における全てのバンドギャップBg1、Bg2、Bg3よりも大きなバンドギャップBg4を有した電流調整用太陽電池セル3として、電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4を1.7eVとし、当該電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4を、中間バンド型太陽電池セル2におけるバンドギャップBg1と、中間バンドにより形成された一のバンドギャップBg2及び他のバンドギャップBg3とに対して直列に接続された構成とした。そして、かかる構成でなる実施例についてもシミュレーション試験を行った。
 図5Bは、図5Aに示す実施例についてシミュレーション試験を行ったときの電流-電圧曲線を示す。なお、図5B中の「Bg4」を付した曲線は、電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4に対応した光吸収によって生じた電流及び電圧についての電流-電圧曲線である。図5B中の「Parallel constrained voltage」(点線)は、中間バンド型太陽電池セル2におけるバンドギャップBg1、一のバンドギャップBg2、及び他のバンドギャップBg3を基に得られた電流及び電圧を纏めたときの電流-電圧曲線を示している。なお、図5B中の「Bg1」、「Bg2」、「Bg3」、及び「Series constrained current」は、図4Bと共通する事項であるため、その説明は省略する。
 図5Bに示すように、実施例の太陽電池1では、短絡電流密度が約300A/mとなり、開放電圧が約2.35Vとなった。実施例では、電流-電圧曲線から算出した変換効率が、約46%となり、比較例よりも変換効率が格段的に向上していることが確認できた。
 ここで、実施例は、比較例に比べて、全体の短絡電流密度が低くなっており、全体を流れる電流を抑制させることができており、電流によって生じた発熱量を低減できることが確認できた。また、変換効率は、短絡電流密度が低下しているにもかかわらず、上昇していることが確認できた。すなわち、実施例では、電流調整用太陽電池セル3で生じた電圧によって全体で得られる出力電圧が増加することで、中間バンド型太陽電池セル2において出力電流の減少が生じても全体の変換効率が低下せずに、全体として変換効率を向上できることが確認できた。
 続いて、電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4の値をEg,4として、太陽電池1全体の変換効率を算出し、電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4のEg,4と、太陽電池1全体での変換効率との関係を調べたところ、図6に示すような結果が得られた。なお、中間バンド型太陽電池セル2におけるバンドギャップBg1と、中間バンドにより形成される一のバンドギャップBg2及び他のバンドギャップBg3との各値は、図5Aに示した実施例と同じ値に設定した。
 ここで、図6は、横軸がバンドギャップBg4のEg,4の値を表し、縦軸が変換効率を表す。図6中のX=1は集光倍率を1倍に設定したときの結果であり、X=1000は集光倍率を1000倍に設定したときの結果である。図6中に示す破線は、バンドギャップBg4を有しないときの変換効率の最大値36%(1倍集光時)を示している。図6に示すように、バンドギャップBg4のEg,4の値が約1.55~1.9eVにあるときには、変換効率が50%を超え、変換効率が極めて高くなることが確認できた。
 従って、中間バンド型太陽電池セル2において最も大きいバンドギャップBg1の値が1.4eV以下に選定したときには、電流調整用太陽電池セル3におけるバンドギャップBg4を約1.55~1.9eVに選定することで、太陽電池1全体での変換効率を向上し得ることが分かる。
(2)実施試験
 次に、図1との対応部分に同一符号を付して示す図7のような本発明の太陽電池31を実際に作製して、その電流-電圧特性と、変換効率とについて確認した。この場合、太陽電池1は、裏面電極4が5層構造を有している点と、電流調整用太陽電池セル3におけるp型トンネル層22が3層構造を有している点と、表面電極5が5層構造を有している点とが、図1に示した太陽電池1と相違している。因みに、図7中に示す「nm」の数値は各層の厚さを表し、かっこ書の中の数値はドープされたドーパントの濃度を表している。なお、太陽電池31では、中間バンド型太陽電池セル2における量子ドット超格子層10の量子ドット層10Bを5層形成した。
 裏面電極4は、真空蒸着により、基板6の表面に、Auでなる厚さ50nmの第1裏面電極層4Aと、Agでなる厚さ100nmの第2裏面電極層4Bと、Auでなる厚さ30nmの第3裏面電極層4Cと、Agでなる厚さ3000nmの第4裏面電極層4Dと、Auでなる厚さ50nmの第5裏面電極層4Eとを順次積層して形成した。
 p型トンネル層22は、MOCVD法により、n型トンネル層21上に、Cを1.0×1020/cmの濃度でドープしたp‐AlGaAsでなる厚さ3.5nmの第1p型トンネル層22Aと、Cを1×1020/cmの濃度でドープしたp‐AlGaAsでなる厚さ7.0nmの第2p型トンネル層22Bと、Cを1×1020/cmの濃度でドープしたp‐AlGaAsでなる厚さ3.5nmの第3p型トンネル層22Cとを順次エピタキシャル成長させて形成した。
 表面電極5は、真空蒸着により、コンタクト層19上に、Niでなる厚さ10nmの第1表面電極層5Aと、Geでなる厚さ30nmの第2表面電極層5Bと、Auでなる厚さ60nmの第3表面電極層5Cと、Agでなる厚さ4000nmの第4表面電極層5Dと、Auでなる厚さ60nmの第5表面電極層5Eとを順次積層して形成した。
 そして、このような構成を有する太陽電池31について、太陽電池の標準測定条件(エアマス1.5)の光を用いて72倍集光時の電流-電圧特性を測定した結果、図8に示すような結果が得られた。図8は、横軸が電圧を示し、縦軸が電流密度を示している。図8から本発明の太陽電池31では、測定した電流-電圧特性から算出した変換効率が26.8%となっていることから、従来の中間バンド型太陽電池の変換効率約20.3%(100倍集光時)、約21.2%(1000倍集光時)と比較して変換効率が格段的に向上していることが確認できた。
5.変形例
 なお、本発明は、上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能であり、例えば、裏面電極4、バッファ層7、p型半導体層9、n型半導体層11、トンネル層15、BSF層16、窓層18、コンタクト層19及び表面電極5を形成する材料を適宜変更することができる。例えば、図9Aに示すように、基板6としてGaAs又はGeを選択した場合は、中間バンド型太陽電池セル2の量子ドット12を形成する材料としてInAsを用い、量子ドット超格子層10の埋込層13を形成する材料としてGaAs、AlGaAs、GaNAs、GaAsP、及びInGaPのうちいずれか1種を用いるようにしてもよい。この際、電流調整用太陽電池セル3の光電変換積層部17としては、InGaP、AlGaAs、及びAlInGaPのうちいずれか1種を用い、p型のIII-V族半導体でなるp型光電変換層23と、n型のIII-V族半導体でなるn型光電変換層24とを形成するようにしてもよい。p型光電変換層23及びn型光電変換層24は、埋込層13よりもバンドギャップが大きくなるように組成が調整されている。例えば、埋込層13としてAlGaAsを用い、p型光電変換層23及びn型光電変換層24としてAlGaAsを用いる場合は、埋込層13のAlの組成を約30%とし、p型光電変換層23及びn型光電変換層24のAlの組成の約50%よりも小さくする。
 また、その他の実施の形態として、例えば、図9Bに示すように、基板6としてInPを選択した場合は、中間バンド型太陽電池セル2の量子ドット12を形成する材料としてInAsを用い、量子ドット超格子層10の埋込層13を形成する材料としてGaAs、AlInGaAs、GaAsP、及びInGaPのうちいずれか1種を用いるようにしてもよい。この際、電流調整用太陽電池セル3の光電変換積層部17としては、AlAsSb、又はInAlAsSbを用い、p型のIII-V族半導体でなるp型光電変換層23と、n型のIII-V族半導体でなるn型光電変換層24とを形成するようにしてもよい。
 さらに、上述した実施の形態においては、電流調整用太陽電池セル3の光電変換積層部17がpn接合である場合について説明したが、本発明はこれに限られず、光電変換積層部17はp型半導体/真性半導体/n型半導体の3層構造をしたpin接合としてもよい。
 また、上述した実施の形態においては、電流調整用太陽電池セル3にトンネル層15が形成されている場合について説明したが、トンネル層15が形成されていなくてもよい。例えば、中間バンド型太陽電池セル2のn型半導体層11上に電流調整用太陽電池セル3のBSF層16がエピタキシャル成長され、n型半導体層11とBSF層16との接合面同士が格子整合していてもよく、中間バンド型太陽電池セル2と電流調整用太陽電池セル3とを別々に作製し、中間バンド型太陽電池セル2のn型半導体層11と電流調整用太陽電池セル3のBSF層16とが、埋込層13を形成するIII-V半導体のバンドギャップBg1より大きいバンドギャップと導電性とを有する接着剤によって貼り合わせられていてもよい。
 さらに、他の実施の形態としては、図1に示す太陽電池1の各層におけるp型及びn型の各導電型を逆にしてもよい。すなわち、図1に示すように、上述した実施の形態のおいては、p型半導体層9及びn型半導体層11間に量子ドット超格子層10を形成し、p型のバッファ層7上に当該p型半導体層9を形成した中間バンド型太陽電池セル2を適用したが、本発明はこれに限らず、p型及びn型の導電型を逆にし、p型半導体層9及びn型半導体層11間に量子ドット超格子層10を形成し、n型のバッファ層上に当該n型半導体層11を形成した中間バンド型太陽電池セルとしてもよい。
 なお、中間バンド型太陽電池セル2のp型及びn型の導電型を逆にする場合には、これに合わせて電流調整用太陽電池セル3のp型及びn型の導電型も逆にする必要がある。すなわち、図1に示すように、電流調整用太陽電池セル3では、p型のIII-V族半導体からなるp型光電変換層23と、n型のIII-V族半導体からなるn型光電変換層24とが接合した構成を有し、p型のBSF層16上にp型光電変換層23が形成され、n型光電変換層24上にn型の窓層18が形成された光電変換積層部17を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、p型及びn型の導電型を逆にし、n型のBSF層上にn型光電変換層が形成され、p型光電変換層上にp型の窓層が形成された光電変換積層部を適用してもよい。
 また、上述した実施の形態においては、基板6上に、中間バンド型太陽電池セル2と電流調整用太陽電池セル3とをエピタキシャル成長させ、中間バンド型太陽電池セル2と電流調整用太陽電池セル3との接合面が格子整合している場合について述べたが、本発明はこれに限られない。例えば、他の実施の形態としては、基板6を用いてエピタキシャル成長により中間バンド型太陽電池セル2及び電流調整用太陽電池セル3を連続的に形成せずに、基板6を用いずに、予め作製した中間バンド型太陽電池セル2と、電流調整用太陽電池セル3とを基板貼り合わせ技術により貼り合わせて、中間バンド型太陽電池セル2の光入射側に電流調整用太陽電池セル3を形成するようにしてよい。
 1  太陽電池
 2  中間バンド型太陽電池セル
 3  電流調整用太陽電池セル
 10  量子ドット超格子層
 10B  量子ドット層
 12  量子ドット
 13  埋込層
 17  光電変換積層部

Claims (6)

  1.  複数の量子ドットが埋込層内に配置された複数の量子ドット層を積層させた量子ドット超格子層を有し、前記量子ドット超格子層には、各前記量子ドット間で波動関数が重なり合い中間バンドが形成されている中間バンド型太陽電池セルと、
     p型光電変換層及びn型光電変換層を少なくとも備えた光電変換積層部を有し、前記中間バンド型太陽電池セルの光入射側に形成された電流調整用太陽電池セルとを備えており、
     前記電流調整用太陽電池セルは、
     前記光電変換積層部が、前記中間バンド型太陽電池セルにおける前記埋込層のバンドギャップよりも大きいバンドギャップを有している
     ことを特徴とする太陽電池。
  2.  前記量子ドットは、InAsで形成され、
     前記埋込層は、GaAs、AlGaAs、GaNAs、GaAsP、及びInGaPのうちいずれか1種で形成され、
     前記p型光電変換層及び前記n型光電変換層は、InGaP、AlGaAs、及びAlInGaPのうちいずれか1種で形成されている
     ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  3.  前記量子ドットは、InAsで形成され、
     前記埋込層は、GaAs、AlInGaAs、及びGaAsP、InGaPのうちいずれか1種で形成され、
     前記p型光電変換層及び前記n型光電変換層は、AlAsSb、及びInAlAsSbのうちいずれか1種で形成されている
     ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  4.  前記電流調整用太陽電池セルは、pn接合でなるトンネル層を備えており、前記トンネル層によって前記中間バンド型太陽電池セルに接合されている
     ことを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の太陽電池。
  5.  前記電流調整用太陽電池セルは、前記中間バンド型太陽電池セル上にエピタキシャル成長により形成されており、前記中間バンド型太陽電池セルの接合面と格子整合している
     ことを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の太陽電池。
  6.  前記光電変換積層部は、バンドギャップが1.55~1.9eVの範囲に選定されている
     ことを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の太陽電池。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112563352A (zh) * 2020-12-08 2021-03-26 湖南科莱特光电有限公司 InAs/InAsSb II类超晶格材料及其制备方法和红外波段探测器

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102491856B1 (ko) * 2017-12-18 2023-01-27 삼성전자주식회사 복수의 양자점층을 포함하는 광전 소자
CN111146305A (zh) * 2020-01-17 2020-05-12 扬州乾照光电有限公司 一种太阳能电池
CN111430493B (zh) * 2020-04-03 2023-06-02 扬州乾照光电有限公司 一种多结太阳能电池及供电设备
CN113206163A (zh) * 2021-05-07 2021-08-03 无锡天奕光电科技有限公司 一种核壳光栅上表面太阳能电池

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009076920A (ja) * 2007-09-24 2009-04-09 Emcore Corp 多接合ソーラーセル及びその形成方法
JP2013115249A (ja) * 2011-11-29 2013-06-10 Sharp Corp 多接合型太陽電池
JP2013543278A (ja) * 2010-11-19 2013-11-28 ザ・ボーイング・カンパニー 多接合型太陽電池に関してInP格子定数を有する広バンドギャップのタイプIIトンネル接合
JP2014132657A (ja) * 2013-01-03 2014-07-17 Emcore Solar Power Inc 中間セル内に低バンドギャップ吸収層を有する多接合型太陽電池
JP2014179600A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Boeing Co 電流の生成及び収集機能を向上させたソーラーセル構造

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100006143A1 (en) * 2007-04-26 2010-01-14 Welser Roger E Solar Cell Devices

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009076920A (ja) * 2007-09-24 2009-04-09 Emcore Corp 多接合ソーラーセル及びその形成方法
JP2013543278A (ja) * 2010-11-19 2013-11-28 ザ・ボーイング・カンパニー 多接合型太陽電池に関してInP格子定数を有する広バンドギャップのタイプIIトンネル接合
JP2013115249A (ja) * 2011-11-29 2013-06-10 Sharp Corp 多接合型太陽電池
JP2014132657A (ja) * 2013-01-03 2014-07-17 Emcore Solar Power Inc 中間セル内に低バンドギャップ吸収層を有する多接合型太陽電池
JP2014179600A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Boeing Co 電流の生成及び収集機能を向上させたソーラーセル構造

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112563352A (zh) * 2020-12-08 2021-03-26 湖南科莱特光电有限公司 InAs/InAsSb II类超晶格材料及其制备方法和红外波段探测器
CN112563352B (zh) * 2020-12-08 2022-08-19 湖南科莱特光电有限公司 InAs/InAsSb II类超晶格材料及其制备方法和红外波段探测器

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