WO2015099013A1 - フレーム付き蒸着マスクの製造方法、引張装置、有機半導体素子の製造装置及び有機半導体素子の製造方法 - Google Patents

フレーム付き蒸着マスクの製造方法、引張装置、有機半導体素子の製造装置及び有機半導体素子の製造方法 Download PDF

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deposition mask
mask
frame
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小幡 勝也
武田 利彦
良幸 本間
英介 岡本
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大日本印刷株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame, a tension device, a manufacturing device for an organic semiconductor element, and a manufacturing method for an organic semiconductor element.
  • Patent Document 1 is laminated with a metal mask provided with slits and a resin mask in which openings corresponding to a pattern to be deposited and formed on the surface of the metal mask are arranged in multiple rows vertically and horizontally.
  • a vapor deposition mask is proposed. According to the vapor deposition mask proposed in Patent Document 1, both high definition and light weight can be satisfied even when the size is increased, and a high-definition vapor deposition pattern can be formed. ing.
  • a vapor deposition mask with a frame is generally used in which the vapor deposition mask is fixed to a frame made of a metal material, a ceramic material, or the like.
  • Fixing to the frame is performed in a state where the vapor deposition mask is pulled by operating a driving means such as a motor or an air cylinder that is held by a holding member such as a clamp and connected to a clamp or the like that is a holding member.
  • a driving means such as a motor or an air cylinder that is held by a holding member such as a clamp and connected to a clamp or the like that is a holding member.
  • the present invention has been made in view of such a situation, and provides a method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame in which the vapor deposition mask is fixed to the frame in a state where “twisting” is suppressed, and the above-described frame. It is a main problem to provide a tensioning device used for manufacturing a vapor deposition mask with attachment, and to provide an organic semiconductor element manufacturing apparatus and an organic semiconductor element manufacturing method capable of accurately manufacturing an organic semiconductor element. To do.
  • the present invention for solving the above-mentioned problems is a method for producing a vapor deposition mask with a frame, which is a resin in which an opening corresponding to a metal mask on which a slit is formed and a pattern for vapor deposition is formed at a position overlapping the slit.
  • a tensioning step of fixing the stretched vapor deposition mask to a frame in which a through-hole is formed after the tensioning step. In the tensioning step, the tensioned vapor deposition is performed. While pulling the vapor deposition mask with respect to the mask, either or both of the rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask are adjusted. And wherein the dividing.
  • the said vapor deposition mask in which any one or both of the said rotation adjustment and movement adjustment were performed maintains the state after the said adjustment.
  • the locked vapor deposition mask may be fixed to the frame in which the through hole is formed.
  • a first placement step of placing the vapor deposition mask on the frame In the method of manufacturing a vapor deposition mask with a frame, a first placement step of placing the vapor deposition mask on the frame, and a separation step of separating the vapor deposition mask from the frame after the first placement step; And a second placement step of placing the vapor deposition mask on the frame again after the separation step, and before the first placement step or between the first placement step and the separation step.
  • the tensioning step may be performed, and the fixing step may be performed after the second placement step.
  • an auxiliary member is stacked on one surface of the stretched vapor deposition mask, and the one surface of the vapor deposition mask and the auxiliary member overlap each other.
  • the auxiliary member is fixed to the vapor deposition mask, and further includes a fine adjustment step of performing a fine adjustment of the vapor deposition mask by pulling the auxiliary member, and the fixing step is performed after the fine adjustment step. You may go.
  • the holding member that holds a part of the vapor deposition mask can rotate about a first rotation axis that intersects the surface of the vapor deposition mask.
  • a holding member comprising at least one mechanism among a first rotating mechanism, a second rotating mechanism that can rotate around a second rotating shaft that does not intersect the surface of the vapor deposition mask, and a linearly movable moving mechanism;
  • rotation adjustment or movement adjustment of the vapor deposition mask may be performed by any one of the first rotation mechanism, the second rotation mechanism, and the movement mechanism by the holding member.
  • the vapor deposition mask prepared in the preparation step includes a metal mask provided with a plurality of slits and a resin mask provided with openings necessary to configure a plurality of screens.
  • the vapor deposition mask in which each of the slits is provided at a position overlapping at least one entire screen may be used.
  • the vapor deposition mask prepared in the preparation step is formed by laminating a metal mask provided with one slit and a resin mask provided with a plurality of openings, All of the plurality of openings may be a vapor deposition mask provided at a position overlapping with the one slit.
  • this invention for solving the said subject is a tension
  • the tension device may have a drive stage for driving the frame, and the drive stage may include a moving mechanism that can move in a direction intersecting with the installation surface of the tension device.
  • the holding member in the tension device may include a moving mechanism that is movable in a direction intersecting with the installation surface of the tension device.
  • the present invention for solving the above-mentioned problems is an organic semiconductor element manufacturing apparatus, characterized in that the above-described tensioning device is incorporated.
  • the present invention for solving the above-described problem is a method for manufacturing an organic semiconductor element, including a step of forming a vapor deposition pattern on a vapor deposition object using a vapor deposition mask with a frame in which the vapor deposition mask is fixed to the frame.
  • the vapor deposition mask with a frame used in the step of forming the vapor deposition pattern holds a part of the vapor deposition mask by a holding member, and pulls the vapor deposition mask held by the holding member outward.
  • Vapor deposition with a frame obtained by a fixing process for fixing the stretched vapor deposition mask to a frame formed with Characterized in that it is a risk.
  • the method of manufacturing a vapor deposition mask with a frame and a tension device of the present invention it is possible to manufacture a vapor deposition mask with a frame in which the vapor deposition mask is fixed to the frame in a state where “twisting” is suppressed.
  • the organic semiconductor element manufacturing apparatus and the organic semiconductor element manufacturing method of the present invention the organic semiconductor element can be manufactured with high accuracy.
  • FIG. 1 It is a figure which shows an example of the vapor deposition mask prepared by a preparatory process
  • (a) is a top view seen from the metal mask side
  • (b) is AA sectional drawing of (a). It is the top view which looked at the vapor deposition mask of embodiment (A) prepared at a preparatory process from the metal mask side. It is the top view which looked at the vapor deposition mask of embodiment (A) prepared at a preparatory process from the metal mask side. It is the top view which looked at the vapor deposition mask of embodiment (A) prepared at a preparatory process from the metal mask side. It is the top view which looked at the vapor deposition mask of embodiment (A) prepared at a preparatory process from the metal mask side.
  • (A)-(c) is a top view which shows an example of a flame
  • (a) is the front view which looked at the vapor deposition mask from the resin mask side.
  • (A) to (c) are partial schematic cross-sectional views showing a state in which the vapor deposition mask 100 is held by the holding member 80, and (d) to (f) show a state in which the holding member 80 having a convex portion is protruded. It is a figure which shows an example when planarly viewed from the part 82 side.
  • a metal mask 10 having slits 15 and a resin mask 20 having openings 25 corresponding to patterns to be vapor deposited are formed at positions overlapping the slits.
  • a method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame is formed by laminating a metal mask 10 in which slits 15 are formed and a resin mask 20 in which openings 25 corresponding to patterns to be deposited are formed at positions overlapping the slits.
  • a preparatory process for preparing the vapor deposition mask 100, and two opposing sides of the vapor deposition mask prepared in the preparatory process are held by the holding member 80, and at least one of the holding members 80 is pulled outward of the vapor deposition mask.
  • At least one of the holding members 80 to be held has a first rotation axis that intersects the surface of the vapor deposition mask, for example, the surface of the vapor deposition mask.
  • a first rotation mechanism that can be rotated about the first rotation axis, a second rotation axis that does not intersect the surface of the vapor deposition mask, for example, a second rotation axis that is parallel to the surface of the vapor deposition mask, and is rotatable
  • the second rotating mechanism and the holding member 80 including a moving mechanism capable of linear movement, for example, at least one of a moving mechanism capable of linear movement in a direction orthogonal to a direction in which the vapor deposition mask is pulled, and a tensioning step Then, the holding member 80 pulls the vapor deposition mask in a stretched state or pulls the vapor deposition mask, and adjusts either or both of rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask.
  • the preparatory process is a resin mask in which an opening 25 corresponding to a pattern to be deposited is formed in a position overlapping with the metal mask 10 in which the slit 15 is formed.
  • 20 is a step of preparing an evaporation mask 100 in which 20 is laminated.
  • FIG. 1A is a top view of a vapor deposition mask used in the method of manufacturing a vapor deposition mask with a frame according to an embodiment as viewed from the metal mask side, and FIG. It is A schematic sectional drawing.
  • the opening shape of the opening 25 is rectangular, but the opening shape is not particularly limited, and may be any shape as long as it corresponds to the pattern to be deposited.
  • the opening shape of the opening 25 may be a diamond shape or a polygonal shape, or may be a shape having a curvature such as a circle or an ellipse.
  • the rectangular or polygonal opening shape is a preferable opening shape of the opening 25 in that the light emitting area can be increased as compared with the opening shape having a curvature such as a circle or an ellipse.
  • the material of the resin mask 20 is not limited.
  • a high-definition opening 25 can be formed by laser processing or the like, and a lightweight material with a small dimensional change rate and moisture absorption rate over time and heat is used.
  • Such materials include polyimide resin, polyamide resin, polyamideimide resin, polyester resin, polyethylene resin, polyvinyl alcohol resin, polypropylene resin, polycarbonate resin, polystyrene resin, polyacrylonitrile resin, ethylene vinyl acetate copolymer resin, ethylene- Examples thereof include vinyl alcohol copolymer resin, ethylene-methacrylic acid copolymer resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, cellophane, and ionomer resin.
  • a resin material having a thermal expansion coefficient of 16 ppm / ° C. or less is preferable, a resin material having a moisture absorption rate of 1.0% or less is preferable, and a resin material having both conditions is particularly preferable.
  • this resin material By using this resin material as a resin mask, the dimensional accuracy of the opening 25 can be improved, and the dimensional change rate and moisture absorption rate over time can be reduced.
  • the thickness of the resin mask 20 is not particularly limited, but in the case of further improving the effect of suppressing the generation of shadows, the thickness of the resin mask 20 is preferably 25 ⁇ m or less, and more preferably less than 10 ⁇ m. Although there is no particular limitation on the preferable range of the lower limit value, when the thickness of the resin mask 20 is less than 3 ⁇ m, defects such as pinholes are likely to occur, and the risk of deformation and the like increases. In particular, by setting the thickness of the resin mask 20 to 3 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m, more preferably 4 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less, it is possible to more effectively prevent the influence of shadows when forming a high-definition pattern exceeding 400 ppi. .
  • the resin mask 20 and the metal mask 10 to be described later may be bonded directly or via an adhesive layer, but the resin mask 20 and the metal mask via an adhesive layer. 10 is bonded, it is preferable that the total thickness of the resin mask 20 and the pressure-sensitive adhesive layer is within the range of the preferable thickness.
  • the shadow is a target vapor deposition because a part of the vapor deposition material released from the vapor deposition source does not reach the vapor deposition target by colliding with the slit of the metal mask or the inner wall surface of the opening of the resin mask. This is a phenomenon in which an undeposited portion having a film thickness smaller than the film thickness occurs.
  • the cross-sectional shape of the opening 25 is not particularly limited, and the end faces facing each other of the resin mask forming the opening 25 may be substantially parallel to each other. However, as shown in FIG. It is preferable that the cross-sectional shape has a shape that expands toward the vapor deposition source. In other words, it is preferable to have a tapered surface that expands toward the metal mask 10 side.
  • the taper angle can be appropriately set in consideration of the thickness of the resin mask 20 and the like, but is a straight line connecting the lower bottom tip of the resin mask opening and the upper bottom tip of the resin mask opening.
  • the angle formed by the bottom surface of the resin mask in other words, in the cross section in the thickness direction of the inner wall surface constituting the opening 25 of the resin mask 20, the side that does not contact the inner mask of the opening 25 and the metal mask 10 of the resin mask 20 Is preferably in the range of 5 ° to 85 °, more preferably in the range of 15 ° to 75 °, and 25 °. More preferably, it is in the range of ⁇ 65 °. In particular, within this range, an angle smaller than the vapor deposition angle of the vapor deposition machine to be used is preferable.
  • the end surface forming the opening 25 has a linear shape, but is not limited to this, and has an outwardly convex curved shape, that is, the entire opening 25.
  • the shape may be a bowl shape.
  • a metal mask 10 is laminated on one surface of the resin mask 20.
  • the metal mask 10 is made of metal and has slits 15 extending in the vertical direction or the horizontal direction.
  • the slit 15 is synonymous with the opening.
  • the slits extending in the vertical direction and the horizontal direction may be arranged in a plurality of rows in the vertical direction and the horizontal direction, and the slits extending in the vertical direction are arranged in a plurality of rows in the horizontal direction.
  • the slits extending in the horizontal direction may be arranged in a plurality of rows in the vertical direction. Further, only one row may be arranged in the vertical direction or the horizontal direction.
  • vertical direction and lateral direction refer to the vertical and horizontal directions of the drawing, and are any of the longitudinal direction and the width direction of the vapor deposition mask, resin mask, and metal mask. May be.
  • the longitudinal direction of the vapor deposition mask, the resin mask, and the metal mask may be “vertical direction”
  • the width direction may be “vertical direction”.
  • shape of the vapor deposition mask when viewed in plan is a rectangular shape is described as an example, but other shapes, for example, a circular shape, a polygonal shape such as a diamond shape, etc. It is good.
  • the longitudinal direction, the radial direction, or an arbitrary direction of the diagonal line is defined as a “longitudinal direction”, and a direction orthogonal to the “longitudinal direction” is referred to as a “width direction (sometimes referred to as a short direction)”. do it.
  • the material of the metal mask 10 is not particularly limited, and any conventionally known material can be appropriately selected and used in the field of the evaporation mask, and examples thereof include metal materials such as stainless steel, iron-nickel alloy, and aluminum alloy. . Among them, an invar material that is an iron-nickel alloy can be suitably used because it is less deformed by heat.
  • the thickness of the metal mask 10 is not particularly limited, it is preferably 100 ⁇ m or less, more preferably 50 ⁇ m or less, and more preferably 35 ⁇ m or less in order to more effectively prevent the occurrence of shadows. Particularly preferred. When the thickness is less than 5 ⁇ m, the risk of breakage and deformation increases and handling tends to be difficult.
  • the shape of the opening of the slit 15 when viewed in plan is a rectangular shape, but the opening shape is not particularly limited, and the opening shape of the slit 15 is trapezoidal. Any shape such as a circular shape may be used.
  • the cross-sectional shape of the slit 15 formed in the metal mask 10 is not particularly limited, it is preferably a shape having a spread toward the vapor deposition source as shown in FIG. More specifically, the angle formed by the straight line connecting the lower bottom tip of the slit 15 of the metal mask 10 and the upper bottom tip of the slit 15 of the metal mask 10 and the bottom surface of the metal mask 10, in other words, In the thickness direction cross section of the inner wall surface constituting the slit 15 of the metal mask 10, the angle formed by the inner wall surface of the slit 15 and the surface of the metal mask 10 on the side in contact with the resin mask 20 (in the illustrated embodiment, the lower surface of the metal mask).
  • the method for laminating the metal mask 10 on the resin mask is not particularly limited, and the resin mask 20 and the metal mask 10 may be bonded together using various adhesives, or a resin mask having self-adhesiveness may be used. . Resin mask 20 and metal mask 10 may have the same size or different sizes. If the resin mask 20 is made smaller than the metal mask 10 and the outer peripheral portion of the metal mask 10 is exposed in consideration of the optional fixing to the frame thereafter, the metal mask 10 It is preferable because it can be easily fixed to the frame.
  • the vapor deposition mask 100 prepared in this step is not limited to the embodiment (A) and the embodiment (B) described below, and the metal mask 10 in which the slits 15 are formed and the slits 15. Any form may be used as long as it satisfies the condition that the resin mask 20 in which the opening 25 corresponding to the pattern to be deposited is formed at the overlapping position.
  • the slits 15 formed in the metal mask 10 may have a stripe shape (not shown). Further, the slit 15 of the metal mask 10 may be provided at a position that does not overlap the entire screen.
  • the vapor deposition mask 100 of the embodiment (A) is a vapor deposition mask for simultaneously forming vapor deposition patterns for a plurality of screens, and a plurality of slits 15 are formed on one surface of the resin mask 20.
  • the resin mask 20 is provided with openings 25 necessary for forming a plurality of screens, and each slit 15 is provided at a position overlapping at least one entire screen. It is characterized by.
  • the vapor deposition mask 100 of the embodiment (A) is a vapor deposition mask used for simultaneously forming vapor deposition patterns for a plurality of screens, and the vapor deposition patterns corresponding to a plurality of products are simultaneously formed with one vapor deposition mask 100. Can do.
  • the “opening” referred to in the vapor deposition mask of the embodiment (A) means a pattern to be produced using the vapor deposition mask 100 of the embodiment (A).
  • the vapor deposition mask is an organic layer in an organic EL display.
  • the shape of the opening 25 is the shape of the organic layer.
  • “one screen” includes an assembly of openings 25 corresponding to one product.
  • an aggregate of organic layers that is, an aggregate of openings 25 serving as an organic layer is “one screen”.
  • the “one screen” is arranged on the resin mask 20 for a plurality of screens at predetermined intervals. Yes. That is, the resin mask 20 is provided with openings 25 necessary for forming a plurality of screens.
  • the metal mask 10 provided with a plurality of slits 15 is provided on one surface of the resin mask, and each slit is provided at a position overlapping with at least one entire screen. It is characterized by that.
  • the length is the same as the length of the slit 15 in the vertical direction, and is the same as the metal mask 10.
  • metal wire portions having a thickness may be collectively referred to simply as metal wire portions.
  • the vapor deposition mask 100 of the embodiment (A) when the size of the opening 25 necessary to configure one screen or the pitch between the openings 25 configuring one screen is narrowed, for example, exceeds 400 ppi. Even when the size of the openings 25 and the pitch between the openings 25 are extremely small in order to form a screen, it is possible to prevent interference due to the metal line portion and to form a high-definition image. It becomes possible.
  • FIGS. In the form shown in the figure, a region closed by a broken line is one screen.
  • a small number of openings 25 are aggregated as one screen.
  • the present invention is not limited to this form.
  • one opening 25 is defined as one pixel
  • one screen There may be an opening 25 of several million pixels.
  • one screen is constituted by an aggregate of openings 25 in which a plurality of openings 25 are provided in the vertical and horizontal directions.
  • one screen is constituted by an aggregate of openings 25 in which a plurality of openings 25 are provided in the horizontal direction.
  • one screen is constituted by an aggregate of openings 25 in which a plurality of openings 25 are provided in the vertical direction.
  • a slit 15 is provided at a position overlapping the entire screen.
  • the slit 15 may be provided at a position that overlaps only one screen, and is provided at a position that overlaps two or more entire screens, as shown in FIGS. It may be. 5A, in the resin mask 10 shown in FIG. 2, a slit 15 is provided at a position overlapping the entire two screens that are continuous in the horizontal direction. In FIG. 5B, the slit 15 is provided at a position overlapping the entire three screens that are continuous in the vertical direction.
  • the pitch between the openings 25 constituting one screen and the pitch between the screens will be described.
  • the pitch between the openings 25 constituting one screen and the size of the openings 25, can be set as appropriate according to the pattern to be deposited.
  • the horizontal pitch (P1) and vertical pitch (P2) of the adjacent openings 25 in the openings 25 constituting one screen are about 60 ⁇ m. It becomes.
  • the size of the opening is about 500 ⁇ m 2 to 1000 ⁇ m 2 .
  • one opening 25 is not limited to corresponding to one pixel. For example, depending on the pixel arrangement, a plurality of pixels can be integrated into one opening 25.
  • the horizontal pitch (P3) and the vertical pitch (P4) between the screens are not particularly limited, but as shown in FIG. 2, when one slit 15 is provided at a position overlapping the entire screen, A metal line portion exists between the screens. Accordingly, the vertical pitch (P4) and horizontal pitch (P3) between the screens are smaller than the vertical pitch (P2) and horizontal pitch (P1) of the openings 25 provided in one screen. In this case, or when they are substantially equivalent, the metal wire portion existing between the screens is easily broken. Therefore, in consideration of this point, it is preferable that the pitch (P3, P4) between the screens is wider than the pitch (P1, P2) between the openings 25 constituting one screen. An example of the pitch (P3, P4) between the screens is about 1 mm to 100 mm. Note that the pitch between the screens means a pitch between adjacent openings in one screen and another screen adjacent to the one screen. The same applies to the pitch of 25 between the openings and the pitch between the screens in the vapor deposition mask of the embodiment (B) described later.
  • the pitch between two or more screens provided at a position overlapping with one slit 15 may be substantially equal to the pitch between the openings 25 constituting one screen.
  • grooves (not shown) extending in the vertical direction or the horizontal direction of the resin mask 20 may be formed in the resin mask 20.
  • the resin mask 20 may thermally expand, which may cause changes in the size and position of the opening 25.
  • the groove may be provided between the openings 25 constituting one screen or at a position overlapping with the openings 25, but is preferably provided between the screens.
  • the groove may be provided only on one surface of the resin mask, for example, the surface in contact with the metal mask, or may be provided only on the surface not in contact with the metal mask. Alternatively, it may be provided on both surfaces of the resin mask 20.
  • a groove extending in the vertical direction between adjacent screens may be formed, or a groove extending in the horizontal direction may be formed between adjacent screens. Furthermore, it is possible to form the grooves in a combination of these.
  • the depth and width of the groove are not particularly limited. However, when the depth of the groove is too deep or too wide, the rigidity of the resin mask 20 tends to decrease, so this point is taken into consideration. It is necessary to set it. Further, the cross-sectional shape of the groove is not particularly limited, and may be arbitrarily selected in consideration of a processing method such as a U shape or a V shape. The same applies to the vapor deposition mask of the embodiment (B).
  • the vapor deposition mask of embodiment (B) is demonstrated. As shown in FIG. 6, the vapor deposition mask of the embodiment (B) has one slit (one hole 16) on one surface of the resin mask 20 provided with a plurality of openings 25 corresponding to the pattern to be deposited. ) Is laminated, and all of the plurality of openings 25 are provided at positions overlapping one hole 16 provided in the metal mask 10.
  • the opening 25 referred to in the vapor deposition mask of the embodiment (B) means an opening necessary for forming the vapor deposition pattern on the vapor deposition target, and is not necessary for forming the vapor deposition pattern on the vapor deposition target.
  • the portion may be provided at a position that does not overlap with one hole 16.
  • FIG. 6 is a top view of the vapor deposition mask showing an example of the vapor deposition mask of the embodiment (B) as viewed from the metal mask side.
  • the metal mask 10 having one hole 16 is provided on the resin mask 20 having the plurality of openings 25, and all of the plurality of openings 25 are It is provided at a position overlapping with the one hole 16.
  • the metal line portion between the openings 25 that is the same as the thickness of the metal mask or thicker than the thickness of the metal mask.
  • the thickness of the metal mask 10 is The thickness can be increased until the durability and handling properties can be sufficiently satisfied, and the durability and handling properties can be improved while enabling the formation of a high-definition deposition pattern.
  • the resin mask 20 in the vapor deposition mask of the embodiment (B) is made of resin, and as shown in FIG. 6, a plurality of openings 25 corresponding to the pattern to be produced by vapor deposition are provided at positions overlapping one hole 16. .
  • the opening 25 corresponds to a pattern to be produced by vapor deposition, and the vapor deposition material released from the vapor deposition source passes through the opening 25 so that a vapor deposition pattern corresponding to the opening 25 is formed on the vapor deposition target.
  • the openings are arranged in a plurality of rows in the vertical and horizontal directions is described. However, the openings may be arranged only in the vertical or horizontal direction.
  • “One screen” in the vapor deposition mask 100 of the embodiment (B) means an aggregate of the openings 25 corresponding to one product, and one organic product is used when the one product is an organic EL display.
  • An aggregate of organic layers necessary for forming an EL display, that is, an aggregate of openings 25 serving as an organic layer is “one screen”.
  • the vapor deposition mask of the embodiment (B) may be composed of only “one screen” or may be a plurality of “one screen” arranged for a plurality of screens. When the screens are arranged, it is preferable that the openings 25 are provided at predetermined intervals for each screen unit (see FIG. 5 of the vapor deposition mask of the embodiment (A)).
  • the metal mask 10 in the vapor deposition mask 100 of the embodiment (B) is made of metal and has one hole 16.
  • the one hole 16 when the one hole 16 is viewed from the front of the metal mask 10, a position that overlaps all the openings 25, in other words, all the openings 25 arranged in the resin mask 20 can be seen. Placed in position.
  • a metal portion constituting the metal mask 10, that is, a portion other than one hole 16 may be provided along the outer edge of the vapor deposition mask 100 as shown in FIG. 6, and as shown in FIG.
  • the size may be smaller than that of the resin mask 20 and the outer peripheral portion of the resin mask 20 may be exposed. Further, the size of the metal mask 10 may be made larger than that of the resin mask 20, and a part of the metal portion may protrude outward in the horizontal direction or in the vertical direction of the resin mask. In any case, the size of one hole 16 is smaller than the size of the resin mask 20.
  • W1 and W2 have widths that can sufficiently satisfy durability and handling properties.
  • an appropriate width can be appropriately set according to the thickness of the metal mask 10, as an example of a preferable width, both W1 and W2 are about 1 mm to 100 mm as in the metal mask of the vapor deposition mask of the embodiment (A). is there.
  • the vapor deposition mask 100 prepared in the preparation step prepares a metal mask with a resin plate in which a metal mask 10 having slits 15 provided on one surface of a resin plate is laminated, and then with respect to the metal mask with a resin plate. It can be obtained by irradiating a laser through the slit 15 from the metal mask 10 side to form the opening 25 corresponding to the pattern to be deposited on the resin plate.
  • a metal mask 10 provided with slits 15 is laminated on one surface of the resin plate.
  • the material described in the resin mask 20 can be used for the resin plate.
  • a masking member for example, a resist material is applied to the surface of the metal plate, a predetermined portion is exposed and developed, and finally the slit 15 is formed.
  • a resist pattern is formed leaving the position to be formed.
  • the resist material used as the masking member those having good processability and desired resolution are preferable.
  • etching is performed by an etching method using this resist pattern as an etching resistant mask. After the etching is completed, the resist pattern is removed by washing. Thereby, the metal mask 10 provided with the slit 15 is obtained. Etching for forming the slit 15 may be performed from one side of the metal plate or from both sides.
  • the slit 15 is formed in the metal plate using a laminate in which the resin plate is provided on the metal plate, a masking member is applied to the surface of the metal plate that is not in contact with the resin plate.
  • a slit 15 is formed by etching from the side.
  • the resin plate has etching resistance to the etching material of the metal plate, it is not necessary to mask the surface of the resin plate, but when the resin plate does not have resistance to the etching material of the metal plate. Needs to be coated with a masking member on the surface of the resin plate.
  • the resist material is mainly described as the masking member. However, instead of coating the resist material, a dry film resist may be laminated and the same patterning may be performed.
  • the resin plate constituting the metal mask with a resin plate may be not only a plate-like resin but also a resin layer or a resin film formed by coating. That is, the resin plate may be prepared in advance, and when a metal mask with a resin plate is formed using the metal plate and the resin plate, a conventionally known coating method or the like is formed on the metal plate. A resin layer or a resin film that finally becomes a resin mask can also be formed.
  • the metal mask with the resin plate prepared above is penetrated through the resin plate using a laser processing method, precision press processing, photolithographic processing, and the like, and is formed on the resin plate by vapor deposition.
  • An embodiment in which the metal mask 10 provided with the slit 15 is laminated on one surface of the resin mask 20 provided with the opening 25 corresponding to the pattern to be deposited is formed by forming the opening 25 corresponding to the pattern.
  • a vapor deposition mask 100 in the form is obtained.
  • the vapor deposition mask 100 in the form shown in each figure has a rectangular shape when the vapor deposition mask is viewed in plan, but the shape when the vapor deposition mask is viewed in plan is not limited to this shape.
  • Arbitrary shapes for example, a circular shape, a polygonal shape, etc. can be mentioned.
  • the pulling step is a step of holding a part of the vapor deposition mask 100 prepared in the preparation step by the holding member 80 and pulling the vapor deposition mask held by the holding member 80 outward.
  • the pulling process as an example, two opposing sides of the vapor deposition mask prepared in the preparation process are held by the holding member 80, and at least one of the holding members 80 is pulled outward of the vapor deposition mask.
  • driving means such as a motor or an air cylinder connected to the holding member 80 is operated to pull the vapor deposition mask 100 held by the holding member 80 outward.
  • pulling process a part of vapor deposition mask 100 is hold
  • rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask is performed on the stretched vapor deposition mask.
  • the holding position of the vapor deposition mask 100 by the holding member 80 is not limited, the vicinity of the end of the vapor deposition mask 100 is usually the holding position of the vapor deposition mask 100 by the holding member 80. Holding of the vapor deposition mask 100 by the holding member 80 may be performed using only one holding member 80 or may be performed using a plurality of holding members 80.
  • a holding member 80 that holds a part of the vapor deposition mask 100 is rotatable about a first rotation axis that intersects the surface of the vapor deposition mask 100 (hereinafter simply referred to as a first rotation mechanism).
  • a second rotation mechanism that may be rotated about a second rotation axis that does not intersect the surface of the vapor deposition mask 100 (hereinafter may be simply referred to as a second rotation mechanism).
  • at least one mechanism that can move linearly hereinafter sometimes simply referred to as a “moving mechanism”
  • the holding member 80 adjusts the rotation and movement of the deposition mask 100. Either or both of the adjustments are performed.
  • the surface of the vapor deposition mask that intersects with the first rotation axis and the surface of the vapor deposition mask that does not intersect with the second rotation axis as referred to in the present specification are regions including three points arbitrarily selected from the entire surface of the vapor deposition mask. Means.
  • the angle formed between the surface of the vapor deposition mask and the first rotation axis is not particular limitation.
  • it is preferably 45 ° to 135 °, more preferably 85 ° to 95 °, and particularly preferably 90 °.
  • the moving direction is not particularly limited, but a preferable angle formed between the axis in the direction of pulling the vapor deposition mask and the axis in the direction in which the holding member 80 moves is 45 ° to 135 °, more preferably 85 ° to 95 °, and particularly preferably 90 °.
  • the holding member 80 include a first rotation mechanism that can rotate around a first rotation axis that is orthogonal to the surface of the vapor deposition mask 100, and a second rotation axis that is parallel to the surface of the vapor deposition mask. And a holding member 80 provided with at least one of a second rotating mechanism that can rotate and a moving mechanism that can move in a direction orthogonal to the direction in which the vapor deposition mask is pulled.
  • FIGS. 8A and 9A are top views showing a state in which “twist” is generated in the vapor deposition mask after the tensioning process.
  • FIG. 8 It is a top view which shows the state by which the "twist" of the vapor deposition mask was suppressed by pulling the vapor deposition mask using the characteristic holding member.
  • FIG. 8 and FIG. 9 the opening 25 and the slit 15 in the vapor deposition mask are omitted.
  • “twist” is exaggerated.
  • twist as used in the present specification is a concept including wavy wrinkles generated in the vapor deposition mask when the vapor deposition mask is pulled, distortion, and the like. Further, “pulling the vapor deposition mask” in the present specification means that an external force (tension) is applied in the direction in which the vapor deposition mask 100 prepared above is extended.
  • the “holding member” in the present specification means a member that can hold a part of the vapor deposition mask, for example, the side of the vapor deposition mask by some means.
  • maintains a vapor deposition mask For example, when a clamp is used as a holding member, a vapor deposition mask is hold
  • a member such as a metal plate or a resin plate is used as the holding member, the member and the end of the vapor deposition mask are bonded together with an adhesive, or the member and the end of the vapor deposition mask are bonded by welding or the like.
  • the vapor deposition mask is held by fixing.
  • the holding member When a magnetic member having magnetism is used as the holding member, the vapor deposition mask is held by attracting the magnetic member and a metal mask located near the end of the vapor deposition mask using magnetic force.
  • the vapor deposition mask can be held in other forms.
  • the holding force of the vapor deposition mask by the holding member is weak, when the vapor deposition mask held by the holding member 80 is pulled outward, it may fluctuate from the initial holding position. Therefore, the holding force of the vapor deposition mask by the holding member needs to have a holding force that does not cause a change in the holding position when the vapor deposition mask is pulled.
  • a clamp As the holding member. In the form shown in each drawing, the case where the holding member 80 is a clamp is described as an example.
  • both ends of the vapor deposition mask 100 are held in parallel by the holding member 80.
  • driving means such as a motor and an air cylinder connected to the holding member 80 are actuated to pull the vapor deposition mask.
  • a “twist” occurs (see FIG. 8A).
  • both ends of the vapor deposition mask are not held in parallel by the holding member 80, that is, when the vapor deposition mask 100 is held obliquely by the holding member 80, the vapor deposition mask is pulled.
  • “twist” occurs in the vapor deposition mask 100 (see FIG. 9A).
  • the resin mask 20 constituting the vapor deposition mask 100 prepared in the above preparation step has an advantage that a high-definition opening 25 can be formed since it is made of a resin material, while stress applied from the outside, etc. Therefore, there is a problem that the size of the opening 25 is likely to vary.
  • the tensioning process when “twist” occurs in the vapor deposition mask 100, the dimension of the opening 25 formed in the resin mask 20 is likely to fluctuate, and high-definition is achieved using the vapor deposition mask with a frame. This hinders the formation of a vapor deposition pattern.
  • the vapor deposition mask 100 is pulled with respect to the pulled vapor deposition mask 100, and at least one of the rotation adjustment and the movement adjustment of the vapor deposition mask 100 is adjusted.
  • “twist” that can be caused by pulling the vapor deposition mask is suppressed.
  • a part of the vapor deposition mask is held by the holding member 80 including at least one of the first rotation mechanism, the second rotation mechanism, and the movement mechanism, and the holding member 80 The vapor deposition mask 100 that is held is pulled outward.
  • the deposition mask can be pulled in a state where “twist” that may occur in the deposition mask is suppressed by the function of the mechanism provided in the holding member 80. Specifically, in this step, the holding member 80 pulls the vapor deposition mask 100, or pulls the vapor deposition mask 100, and adjusts either or both of rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask 100. By performing the adjustment, “twist” that may be caused by pulling the vapor deposition mask is suppressed.
  • the first rotating mechanism, the second rotating mechanism, and the moving mechanism may be collectively referred to as “mechanism in the present invention”.
  • rotation adjustment in the present specification means an adjustment that suppresses the “twist” by rotating the vapor deposition mask using the first rotation mechanism or the second rotation mechanism, and “movement adjustment”.
  • adjustment means an adjustment that suppresses the “twist” by moving the vapor deposition mask using the moving mechanism.
  • FIG. 10 is a perspective view showing a state in which the holding member 80 is rotated by the holding member 80 having the first rotation mechanism.
  • the holding member 80 is configured to rotate in the direction of the arrow with the first rotation axis (L1) orthogonal to the surface of the vapor deposition mask 100 as an axis.
  • FIG. 11 is a perspective view illustrating a state in which the holding member 80 is rotated by the holding member 80 including the second rotation mechanism.
  • the holding member 80 is configured to rotate in the direction of the arrow with the second rotation axis (L2) parallel to the surface of the vapor deposition mask 100 as an axis.
  • FIG. 10 is a perspective view showing a state in which the holding member 80 is rotated by the holding member 80 having the first rotation mechanism.
  • the holding member 80 is configured to rotate in the direction of the arrow with the first rotation axis (L1) orthogonal to the surface of the vapor deposition mask 100 as an axis.
  • FIG. 11 is a perspective view illustrating a
  • FIG. 12 is a perspective view showing a state in which the holding member 80 is moved by the holding member 80 having a moving mechanism.
  • the structure which can move to the direction (L3 direction) orthogonal to the direction which pulls a vapor deposition mask is taken. 10 to 12, the opening 25 and the slit 15 in the vapor deposition mask 100 are omitted.
  • the first rotation axis and the second rotation axis are not limited to the illustrated form, and as described above, the axis that intersects the surface of the vapor deposition mask is the first rotation axis.
  • intersect the surface of a vapor deposition mask should just be a 2nd rotating shaft. 10 to 12 are preferred forms of the mechanism provided in the holding member.
  • the holding member in a preferred form has a first rotation axis as an axis perpendicular to the surface of the vapor deposition mask, a second rotation axis as an axis parallel to the surface of the vapor deposition mask, and a direction perpendicular to the direction in which the vapor deposition mask is pulled, Although it is the moving direction, in this specification, the description that is orthogonal to the surface of the vapor deposition mask 100 and the description that is orthogonal to the direction of pulling the vapor deposition mask are not necessarily relative to the surface of the vapor deposition mask and the direction in which the vapor deposition mask is pulled. It does not mean an angle of 90 °, and an angle within a range where the effects of the present invention are exhibited is also allowed.
  • any angle that can rotate the vapor deposition mask to such an extent that the “twist” of the vapor deposition mask can be suppressed may be used.
  • a component orthogonal to the surface of the vapor deposition mask and the direction in which the vapor deposition mask is pulled is used. It only has to be included.
  • the description parallel to the surface of the vapor deposition mask does not necessarily mean an angle of 0 ° with respect to the surface of the vapor deposition mask, and an angle within a range where the effects of the present invention are exerted is also allowed. To do.
  • the angle may be an angle at which the vapor deposition mask can be moved to such an extent that the “twist” of the vapor deposition mask can be suppressed, and any component that includes a component parallel to the surface of the vapor deposition mask may be used.
  • the holding member that holds a part of the vapor deposition mask includes at least one of the above-mentioned “mechanisms in the present invention”.
  • two opposing sides of the vapor deposition mask are held by independent holding members 80, and (i) holding that holds one of the two opposing sides of the vapor deposition mask.
  • maintains one side can mention the form provided with either a 1st rotation mechanism, a 2nd rotation mechanism, or both, and a movement mechanism.
  • the holding member 80 that holds the other side of the vapor deposition mask does not necessarily include the “mechanism in the present invention”.
  • the forms shown in (i) and (ii) are preferable forms in that “twist” that can occur in the vapor deposition mask in the tensioning step can be universally suppressed.
  • the rotation mechanism is preferably a holding member including the first rotation mechanism.
  • FIG. 8A and FIG. 9A although the deposition mask 100 is “twisted” by pulling the deposition mask 100, a holding mechanism 80a shown in FIG.
  • the first rotation mechanism is provided to the member 80b, the holding member 80a is moved in the direction of the arrow, and the holding member 80b is rotated in the direction of the arrow, and the moving mechanism is provided to the holding member 80a shown in FIG.
  • the moving mechanism is provided to the holding member 80a shown in FIG.
  • the vapor deposition mask 100 can be pulled in a state where “twisting” is suppressed as shown in FIGS. 8B and 9B.
  • the holding member 80 holds a part of the vapor deposition mask, pulls the vapor deposition mask 100 outward, pulls the vapor deposition mask, or after the pulling, the holding member 80 includes the above.
  • One or both of the rotation adjustment and the movement adjustment of the vapor deposition mask 100 are performed by the “mechanism in the present invention”. And this adjustment suppresses the “twist” that can be caused by pulling the vapor deposition mask 100.
  • the present invention is not limited to this embodiment.
  • FIG. 13 is a top view showing a state when pulling the vapor deposition mask 100 and fixing the stretched vapor deposition mask 100 on the frame 60.
  • the holding member 80 including the “mechanism in the present invention” is provided on the holding member supporting frame 90.
  • the holding member 80 provided with the “mechanism in the present invention” is rotatable and / or movable with respect to the holding member support frame 90.
  • the holding member 80 is provided with a rotating pair such as a bearing (ball bearing), a straight pair, a sliding pair, and the like.
  • a rotating pair such as a bearing (ball bearing), a straight pair, a sliding pair, and the like.
  • a form in which the holding member 80 is passively rotated following the received force (tension) can be exemplified. According to these embodiments, the holding member 80 is passively moved and rotated, and as a result, the vapor deposition mask can be pulled while suppressing “twist”.
  • FIG. 14A is a partially enlarged top view showing a state in which “twist” is suppressed while pulling the vapor deposition mask 100 by the holding member 80 provided with a rotating pair
  • FIG. It is a front view of (a).
  • the holding member 80 provided with a rotating pair has the holding member 80 orthogonal to the surface of the deposition mask 100, for example, with the first rotation axis intersecting the surface of the deposition mask as an axis.
  • the first rotation axis is rotatable (in the illustrated form, the rotation axis orthogonal to the holding member 80 provided with the rotation pair is an axis).
  • Regions closed by broken lines in FIG. 14A are a vapor deposition mask and a holding member before rotation when “twist” is not suppressed.
  • the holding member 80 can be moved by using a straight-ahead pair.
  • a mode for mechanically controlling the “twist” generated by pulling the vapor deposition mask 100 can be cited.
  • the holding member 80 and a control unit such as a motor are connected via a torque sensor or the like (not shown), and the torque of the holding member 80 caused by “twist” when the vapor deposition mask is pulled is detected by the torque sensor or the like.
  • the moving amount (distance) and the rotation angle of the holding member 80 such as a motor so that the torque becomes zero, the “twist” generated when the vapor deposition mask 100 is pulled can be suppressed.
  • the holding member 80 provided with the control means rotates about a rotation axis orthogonal to the holding member 80 provided with control means such as a motor.
  • the holding member 80 is fixed to the gonio stage, and the shaft of the worm gear fixed to the holding member support frame 90 is rotated, so that the holding member 80 does not have the gonio stage.
  • the gonio stage is swung (moved) around the rotating shaft to suppress the “twist” of the vapor deposition mask 100 held by the holding member 80.
  • the torque of the holding member 80 caused by “twist” when the vapor deposition mask is pulled is detected by the torque sensor or the like, and the shaft of the worm gear is rotated so that the torque becomes zero.
  • the drive means for driving the holding member 80 is not particularly limited, and examples thereof include a motor and an air cylinder.
  • the driving unit 85 is connected to the holding member 80 at a position where the mechanism by the “mechanism in the present invention” does not interfere. By driving the driving unit, the holding member 80 is driven, and the vapor deposition mask 100 is pulled. Is called.
  • FIG. 17 is a plan view showing a state in which tension is applied to the vapor deposition mask 100 held by the holding member 80.
  • the direction in which the tension is applied is not limited to the illustrated form, and the tension may be applied outward in the lateral direction. Moreover, you may apply tension
  • both holding members 80 are driven outward in the vertical direction, but only one of the holding members 80 may be driven. Even in this case, if any one of the holding members 80 that are driven outward and the holding members 80 that are not driven outward is provided with the “mechanism in the present invention”. Good.
  • one of the two opposite sides of the vapor deposition mask is held by one holding member 80, but as shown in FIG. 18, one side of the two opposite sides of the vapor deposition mask May be held by a plurality of holding members 80 (in the form shown in the drawing, both of the two opposing sides are held by a plurality of holding members).
  • a plurality of holding members 80 in the form shown in the drawing, both of the two opposing sides are held by a plurality of holding members.
  • each of all the holding members that hold one of the two opposing sides of the vapor deposition mask includes all of the first rotating mechanism, the second rotating mechanism, and the moving mechanism, or one side
  • Each of all the holding members that are held preferably includes a first rotating mechanism and a moving mechanism.
  • both sides of the two opposite sides of the vapor deposition mask may be held by a plurality of holding members.
  • the driving means 85 is connected to each of the plurality of holding members, and each holding member is The driving means connected to each other may be driven to pull the vapor deposition mask.
  • a plurality of holding members are connected to one driving means (not shown), and the one driving means is driven. The vapor deposition mask may be pulled.
  • each of the holding members is individually controlled by the corresponding driving unit, and therefore the movement of the other holding member is restricted by one holding member of the plurality of holding members.
  • the mechanisms provided in each of the plurality of holding members may be the same mechanism or different mechanisms.
  • one of the plurality of holding members includes a “moving mechanism”, and the other holding member is one of the “first rotating mechanism” and the “second rotating mechanism”. One or both may be provided.
  • each holding member has a different mechanism.
  • all the holding members that hold one side of the vapor deposition mask are the same. You may have the mechanism of. For example, all the holding members include all of the first rotating mechanism, the second rotating mechanism, and the moving mechanism, or all of the holding members include the first rotating mechanism and the moving mechanism. Good.
  • the holding member 80 that holds one of the two opposing sides of the vapor deposition mask takes the form (A)
  • the holding member 80 that holds the other one of the two opposing sides of the vapor deposition mask May not have the “mechanism in the present invention”, but preferably has the form (A) as shown in FIG.
  • the plurality of holding members are simultaneously driven by one driving means. Accordingly, when each of the plurality of holding members has a different mechanism, there is a possibility that one of the plurality of holding members may hinder the movement of the other holding member. In consideration of this point, when taking the form (B), it is preferable that all of the plurality of holding members have the same mechanism.
  • all the holding members that hold one side of the two opposing sides of the vapor deposition mask include all the mechanisms of the first rotating mechanism, the second rotating mechanism, and the moving mechanism, or all the holding members are The first rotation mechanism and the movement mechanism are preferably provided.
  • the holding member 80 that holds one of the two opposing sides of the vapor deposition mask takes the form (B)
  • the holding member 80 that holds the other one of the two opposing sides of the vapor deposition mask May not include the “mechanism in the present invention”, but the holding member 80 that holds one side of the two opposite sides of the vapor deposition mask and the holding member 80 that holds the other side are the same.
  • a mechanism is preferably provided.
  • the shape of the vapor deposition mask when viewed in plan is a rectangular shape is described as an example in which two opposing sides of the vapor deposition mask are held by the holding member 80.
  • the description of two opposite sides of the vapor deposition mask is read as two arbitrary sides of the outer periphery of the vapor deposition mask, and the two opposite sides
  • the description with one side of the word can be read as one of the two arbitrary positions, and the description with the other one of the two opposite sides can be read as the other one of the two arbitrary positions. That's fine.
  • either or both of the rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask are performed while pulling the vapor deposition mask or after the pulling. Occurrence can be suppressed.
  • the vapor deposition mask 100 can be pulled in a state where “twisting” is suppressed by performing the tensioning process using the holding member 80 including the “mechanism in the present invention”.
  • the holding member 80 described above takes a form of passively rotating or moving following the force received by the vapor deposition mask 100
  • the vapor deposition mask 100 held by the holding member 80 is removed after the tensioning step.
  • the deposition mask 100 held by the holding member 80 is moved to place the deposition mask 100 on the frame 60 or when the deposition mask 100 and the frame 60 are aligned.
  • the holding member 80 is passively rotated or moved following the moving force, and “twist” occurs in the tensioning process. In some cases, the suppressed state of the vapor deposition mask 100 cannot be maintained.
  • the holding member 80 indicates the state of the vapor deposition mask that has been subjected to either rotation adjustment or movement adjustment in order to maintain the vapor deposition mask state in which “twisting” is suppressed after the tensioning process. It is preferable to lock by.
  • the method further includes a locking step of locking the vapor deposition mask in which one or both of the rotation adjustment and the movement adjustment are performed in the tensioning process so as to maintain the state after the adjustment. Is preferred.
  • the locked vapor deposition mask 100 is fixed to the frame in which the through hole is formed after the locking step.
  • the lock mechanism By locking the holding member 80, even when the vapor deposition mask 100 held by the holding member 80 is moved after the end of the tensioning process, the state where “twisting” is suppressed can be maintained as it is. It is possible to prevent the evaporation mask 100 in which “twisting” is suppressed from changing.
  • the lock mechanism There is no particular limitation on the lock mechanism, and any mechanism that can maintain the state of the vapor deposition mask that has been pulled outward and that has undergone “rotation adjustment” or “movement adjustment” can be used. That is, any mechanism that does not rotate or move the vapor deposition mask 100 after the pulling process may be used.
  • the locking mechanism may be an external mechanism that the holding member 80 itself does not have, or an internal mechanism that the holding member 80 itself has.
  • a mechanism that can apply stress to the holding member 80 for example, a mechanism that applies stress to the holding member 80 from the outside to prevent the evaporation mask from rotating or moving after the tensioning step.
  • the first rotation mechanism, the second rotation mechanism, or the movement mechanism included in the holding member 80 is invalidated by applying stress from the outside.
  • Examples of such a mechanism include an air cylinder and a motor. By applying a vertical stress to the holding member 80 by using the air cylinder and the motor, the mechanism by the holding member 80 is used.
  • the one rotation mechanism, the second rotation mechanism, or the movement mechanism can be invalidated, that is, the evaporation mask can be prevented from rotating and moving after the pulling process.
  • Examples of the internal mechanism include a holding member 80 that can control the movement amount and the rotation angle of the vapor deposition mask 100 by the control means such as the motor exemplified above.
  • the holding member 80 that can actively control the movement amount and rotation angle of the vapor deposition mask 100 can be exemplified. According to such a holding member 80, it is possible to mechanically control that the vapor deposition mask rotates or moves after the pulling process.
  • the vapor deposition mask 100 is fixed to the frame 60 in a state where the frame 60 and the vapor deposition mask 100 are in contact with each other, in other words, in a state where the vapor deposition mask 100 is placed on the frame 60, as will be described later.
  • the frame 60 (see FIG. 21) provided with the reinforcement frame 65 is used as the frame 60 fixed to the vapor deposition mask 100
  • the reinforcement frame 60 and the vapor deposition mask 100 come into contact with each other.
  • the vapor deposition mask 100 in which “twisting” is suppressed in the tensioning process is placed on the frame 60, when the reinforcing frame 65 and the vapor deposition mask 100 are in contact with each other, the vapor deposition mask 100 is placed at the contacted position.
  • a preferable method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame is a first method in which the vapor deposition mask 100 is placed on the frame 60 in order to release the distortion of the vapor deposition mask 100 caused by the contact between the frame 60 and the vapor deposition mask 100.
  • the fixing step is performed after the second mounting step.
  • the method of manufacturing the vapor deposition mask with frame of the embodiment further including the first placement step, the isolation step, and the second placement step, in the first placement step of placing the vapor deposition mask 100 on the frame 60.
  • Distortion that may occur in the vapor deposition mask is released by the isolation step, and the vapor deposition mask 100 that has been released from the distortion is placed on the frame 60 again (second placement step), so that the distortion is prevented in the fixing step described later.
  • the released deposition mask can be fixed on the frame 60.
  • the preferable method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame releases the distortion that may occur in the vapor deposition mask 100 due to the contact between the frame 60 and the vapor deposition mask 100 in the first placement step by the separation step. In the point.
  • pulling process demonstrated above is before a 1st mounting process, between a 1st mounting process and a separation process, between a separation process and a 2nd mounting process, or after a 2nd mounting process. Although it may be performed at any stage, it is preferably performed before the separation step in which the strain that may occur in the vapor deposition mask is released. In other words, it is preferable that the pulling process is performed before the first mounting process or between the first mounting process and the separation process. This is because when the tensioning step is performed after the separation step, the state of the vapor deposition mask in which the strain is released is likely to vary.
  • the manufacturing method of the vapor deposition mask with a frame including the first placement step, the separation step, and the second placement step is performed in a state where the vapor deposition mask 100 is placed on the frame 60 by the first placement step.
  • This is particularly suitable when the opening 25 formed in 100 resin masks 20 is aligned with a position corresponding to a pattern to be deposited. That is, it is suitable when positioning is performed between the steps of the first placement step and the separation step. This is because when the alignment is performed in a state where the vapor deposition mask 100 is placed on the frame 60, the vapor deposition mask 100 is likely to be distorted.
  • an alignment process for aligning the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 with a position corresponding to a pattern to be vapor deposited will be described.
  • the alignment step is an optional step in the method of manufacturing the vapor deposition mask with frame of the present invention, and the step of aligning the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 with the position corresponding to the pattern to be vapor deposited. It is. That is, the position coordinates of the vapor deposition mask 100 with respect to the frame 60 are determined so that the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 matches the position corresponding to the pattern to be vapor deposited.
  • By performing the alignment process it is possible to obtain a vapor deposition mask with a frame capable of producing a vapor deposition pattern on the vapor deposition object with high positional accuracy.
  • the method of aligning the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 with the position corresponding to the pattern to be vapor-deposited there is no particular limitation on the method of aligning the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 with the position corresponding to the pattern to be vapor-deposited, and a conventionally known alignment method or the like can be appropriately selected and used.
  • a reference plate for aligning the opening 25 formed in the resin mask 20 with a position corresponding to a pattern for vapor deposition is incorporated in the frame 60, and the reference plate, an alignment mark provided on the vapor deposition mask, etc. Can be used to determine the position coordinates of the vapor deposition mask.
  • the reference plate may be positioned above the vapor deposition mask placed on the frame so as not to contact the vapor deposition mask.
  • the position coordinates of the vapor deposition mask can be determined using the coordinates of the opening 25 formed in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 without using the reference plate.
  • a conventionally known moving means driving means
  • a holding member 80 for holding the vapor deposition mask and a drive stage for moving the frame 60 in the in-plane direction can be provided, and the position coordinates of the vapor deposition mask can be adjusted by a motor (electric) or a micrometer (manual).
  • the frame 60 and the vapor deposition mask 100 come into contact with each other.
  • the strain generated in the vapor deposition mask 100 due to the process is released by the separation process, so that the vapor deposition mask 100 of the vapor deposition mask 100 is produced by a production method that does not include the isolation process and the second mounting process.
  • a vapor deposition mask with a frame in which the dimensional variation of the opening 25 of the resin mask 20 is suppressed can be manufactured.
  • what is necessary is just to perform a separation process and a 2nd mounting process repeatedly, when distortion has arisen in the vapor deposition mask after a 2nd mounting process.
  • a method for separating the frame 60 and the vapor deposition mask 100 is not particularly limited.
  • a movement mechanism for example, a vertical movement mechanism is provided to the holding member 80 that holds the vapor deposition mask 100, and the holding member 80 is vapor-deposited.
  • the frame 60 and the vapor deposition mask 100 can be separated from each other by being driven in a direction intersecting the mask surface, for example, a direction substantially orthogonal to the mask surface.
  • a moving mechanism for example, a vertical moving mechanism is provided to a driving stage (not shown) for driving the frame 60, and the driving stage is driven in a direction intersecting the surface of the vapor deposition mask, for example, in a direction substantially orthogonal to the driving mask.
  • the frame 60 and the vapor deposition mask 100 can also be separated.
  • the alignment step may be performed before the first placement step. You may perform between a process and a 2nd mounting process, and you may carry out after a 2nd mounting process. Note that, when the alignment process is performed after the separation process, the state of the vapor deposition mask whose strain is released by the separation process is likely to vary. Considering this point, it is preferable that the alignment step is performed before the separation step, that is, before the first placement step, or between the first placement step and the separation step. In addition, when it is not particularly necessary to perform the alignment process, distortion that may occur in the vapor deposition mask in the first mounting process is released by the separation process and the second mounting process without performing the alignment process. You can also The same applies to the precision adjustment process described later.
  • the separation step releases strain that may occur in the vapor deposition mask 100 in the first placement step, but the physical mask is used to provide the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 with the strain.
  • the dimensional variation is a concept including the positional coordinate variation of the opening and the dimensional variation of the opening.
  • the vapor deposition mask 100 in a state of being pulled on the frame 60 is placed after the tensioning step, and is placed on the frame 60.
  • the auxiliary member 50 is overlapped on one surface of the vapor deposition mask 100 in a pulled state, and the auxiliary member 50 is fixed to the vapor deposition mask 100 at least at a part where the one surface of the vapor deposition mask 100 and the auxiliary member 50 overlap.
  • the method further includes a precision adjustment step of precisely adjusting the vapor deposition mask by pulling the auxiliary member, and a fixing step is performed after the precision adjustment step.
  • the dimensional variation of the opening 25 and the shape variation can be corrected by physical means using the auxiliary member 50, and the dimension of the opening 25 can be corrected.
  • the vapor deposition mask 100 including the resin mask 20 provided with the opening 25 can be fixed to the frame 60 while maintaining high accuracy.
  • FIG. 24A and 24B are views of the vapor deposition mask 100 viewed from the resin mask 20 side, and the frame 60 is not shown.
  • FIG. 24A shows a state in which the shape or size of the opening 25 has changed due to the vapor deposition mask 100 and the frame 60 coming into contact with each other at the location indicated by the symbol A. .
  • the auxiliary member 50 is fixed to the vapor deposition mask 100 in at least a part of a portion where the surface of the vapor deposition mask 100 on the resin mask 20 side and the auxiliary member 50 overlap. Then, by pulling the auxiliary member 50 in the direction of the arrow, as shown in FIG. 24B, the vapor deposition mask 100 in which the dimensional variation or shape variation of the opening 25 of the resin mask 20 is suppressed can be obtained. .
  • the separation process does not release the strain, but the variation in the size and shape of the opening 25 caused by the strain is eliminated by precise adjustment using the physical means, for example, the auxiliary member 50 described above. It differs from the manufacturing method of the vapor deposition mask with a flame
  • the vapor deposition mask 100 including the resin mask 20 provided with the opening 25 is fixed to the frame 60 in a state where the dimensional accuracy of the opening 25 is maintained high in a fixing step described later. Can do.
  • the alignment process described above can be performed before or after the precision adjustment process.
  • the first placement step / separation step / second placement step described above and the precision adjustment step can be used in combination. By combining these steps, distortion that may be caused by the contact between the frame 60 and the vapor deposition mask 100 can be more effectively eliminated.
  • the fine adjustment process may be performed before the first mounting process, after the second mounting process, or between any of the first mounting process and the second mounting process.
  • the holding member 80 having a preferable form has a convex portion 82 on the surface thereof.
  • the holding member 80 in a preferable form includes a main body portion 81 and a convex portion 82, and when a part of the vapor deposition mask 100 is held by the holding member 80, the tip portion of the convex portion 82 is vapor deposited. It is in contact with the mask 100.
  • the contact area between the vapor deposition mask 100 and the holding member 80 can be reduced, and when the vapor deposition mask 100 is held by the holding member 80, generation of wrinkles or the like that may occur in the vapor deposition mask Can be suppressed.
  • 25A to 25C are partial schematic cross-sectional views showing a state in which the vapor deposition mask 100 is held by the holding member 80. FIG.
  • the shape of the tip portion of the convex portion 82 is not particularly limited, but as shown in FIG. 25A, the shape of the tip portion is an R shape, in other words, the shape of the tip portion is a shape having a curvature. It is preferable.
  • tip part may have a curvature in the longitudinal direction of a holding member, and may have it in a transversal direction. Or you may have a curvature like a hemisphere.
  • the convex portion 82 whose tip part has an R shape, the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 is damaged by the convex part 82 while the contact area between the vapor deposition mask 100 and the holding member 80 is further reduced. Can be suppressed.
  • the convex portion 82 may be arranged so as to extend in the longitudinal direction or the short direction of the holding member 80, as shown in FIGS. 25 (e) and 25 (f).
  • a plurality of the main body portion 81 of the holding member 80 may be arranged at a predetermined interval in the longitudinal direction or the lateral direction.
  • FIGS. 25D to 25F are views showing an example when the holding member 80 having a convex portion on the surface thereof is viewed in plan from the convex portion 82 side.
  • the material of the convex part 82 is not particularly limited, and a conventionally known metal material, resin material, or the like can be appropriately selected and used.
  • the convex part 82 provides a contact area between the vapor deposition mask 100 and the holding member 80. By making it smaller, the holding force of the vapor deposition mask 100 by the holding member 80 tends to decrease.
  • the protrusion 82 is made of a material having a high holding force, in other words, a material having a high grip property. Examples of the material having a high grip property include those exemplified as the material of the resin mask and other conventionally known resins.
  • the convex portion 82 made of a highly elastic material, for example, elastic rubber, is preferable in that the grip property between the vapor deposition mask 100 and the holding member 80 can be further enhanced.
  • any materials such as a metal material, a resin material, or another material, may be sufficient as it.
  • only the holding member 80 on the side in contact with one surface (the upper surface in the illustrated embodiment) of the vapor deposition mask 100 has the convex portion 82, and the other surface of the vapor deposition mask 100 (the lower surface in the illustrated embodiment).
  • the holding member 80 on the side in contact with) does not have the convex portion 82, but the holding member 80 on the side in contact with the other surface of the vapor deposition mask 100 may also have the convex portion 82. Further, only the holding member 80 on the side in contact with the other surface of the vapor deposition mask 100 may have the convex portion 82.
  • the frame portion of the frame 60 and the metal mask 10 of the vapor deposition mask pulled in the pulling step are opposed to the frame 60 in which the through holes are formed.
  • the vapor deposition mask 100 in a state of being overlapped and pulled in the pulling step is fixed to the frame 60.
  • the frame 60 and the vapor deposition mask 100 are fixed at a position where the frame 60 and the metal part of the vapor deposition mask are in contact with each other, and the position is not particularly limited (see “fixed position” in FIGS. 19 and 20).
  • FIG. 19 is a top view of a vapor deposition mask with a frame in which one vapor deposition mask is fixed to the frame 60 as viewed from the resin mask side.
  • FIG. 20 is a top view of a vapor deposition mask 200 with a frame in which a plurality of vapor deposition masks 100 are fixed to the frame 60 as viewed from the resin mask side.
  • the end of the vapor deposition mask 100 protrudes outward from the end of the frame, and the protruding portion is held by the holding member 80.
  • the frame 60 is a substantially rectangular frame member, and has a through hole for exposing the opening 25 provided in the resin mask 20 of the vapor deposition mask 100 to be finally fixed to the vapor deposition source side.
  • the material of the frame is not particularly limited, but a metal material having high rigidity, for example, SUS or Invar material is suitable. A ceramic material or the like can be used.
  • the metal frame is preferable in that the vapor deposition mask can be easily fixed to the metal mask by welding or the like, and the influence of deformation or the like is small.
  • the thickness of the frame 60 is not particularly limited, but is preferably about 10 mm to 30 mm from the viewpoint of rigidity and the like.
  • the width between the inner peripheral end face of the opening of the frame and the outer peripheral end face of the frame is not particularly limited as long as it can fix the frame and the metal mask of the vapor deposition mask, and is, for example, about 10 mm to 70 mm. The width can be exemplified.
  • a reinforcing frame 65 or the like is provided in the through hole region within a range that does not hinder the exposure of the opening 25 of the resin mask 20 constituting the vapor deposition mask 100.
  • a frame 60 may be used. By providing the reinforcing frame 65, the frame 60 and the vapor deposition mask 100 can be fixed using the reinforcing frame 65.
  • the fixing method is not particularly limited, and the vapor deposition mask 100 is fixed to the frame 60 by using various known welding methods such as laser welding, arc welding, electric resistance welding, and electron beam welding, adhesives, screwing, and the like. can do.
  • the portion of the deposition mask protruding from the frame is cut to obtain a deposition mask 200 with a frame in which the deposition mask is fixed to the frame, as shown in FIGS. .
  • FIG. 22 is a top view showing an example of the frame-equipped vapor deposition mask 200 obtained by fixing the vapor deposition mask 100 shown in FIG. 19 to the frame 60 and then cutting the protruding portion, from the resin mask side.
  • FIG. FIG. 23 is a top view showing an example of the frame-equipped vapor deposition mask 200 obtained by fixing the vapor deposition mask 100 shown in FIG. 20 to the frame 60 and then cutting the protruding portion. It is the figure seen from the side.
  • the vapor deposition mask is fixed to the frame 60 in a state where the vapor deposition mask is pulled, that is, in a state where tension is applied to the vapor deposition mask.
  • a reaction force corresponding to the tension is generated in the vapor deposition mask 100 in a direction opposite to the direction in which the vapor deposition mask is pulled in the tensioning process.
  • problems such as distortion may occur in the vapor deposition mask fixed to the frame.
  • the vapor deposition mask is fixed to the frame 60 in consideration of a reaction force that may occur in the vapor deposition mask 100 after being fixed.
  • the vapor deposition mask 100 is fixed to the frame 60 such that the reaction force that may occur in the vapor deposition mask 100 after fixing is canceled out.
  • the vapor deposition mask is fixed to the frame in a state where a compressive stress corresponding to the reaction force is applied to the frame 60.
  • the reaction force that can be generated on the vapor deposition mask 100 can be canceled by releasing the compressive stress applied to the frame, and the reaction force that can be generated on the vapor deposition mask is fixed to the frame. It is possible to suppress the occurrence of distortion or the like in the deposited mask.
  • the reaction force that can be generated in the vapor deposition mask 100 after fixing is a force corresponding to the tension applied to the vapor deposition mask 100 in the tensioning step.
  • the preferable method of manufacturing the vapor deposition mask with frame further includes a step of applying compressive stress to the frame 60 and a step of releasing the compressive stress after the fixing step in the fixing step.
  • the compressive stress applied to the frame 60 may be performed in consideration of the reaction force that can be generated in the vapor deposition mask, that is, the tension applied to the vapor deposition mask in the tensioning step.
  • the frame 60 is subjected to a compressive stress corresponding to the tension applied to the one vapor deposition mask.
  • the vapor deposition mask 100 may be fixed to the substrate. Specifically, assuming that the tension applied to the vapor deposition mask in the tensioning process is “1”, the vapor deposition mask 100 may be fixed to the frame 60 with a compressive stress of “1” applied to the frame 60.
  • the reaction force generated in the vapor deposition mask can be canceled by releasing the compressive stress applied to the frame after the fixing step, and the vapor deposition mask fixed to the frame 60 is distorted by the reaction force. This can be suppressed.
  • a case where a plurality of vapor deposition masks are fixed to the frame 60 will be described.
  • a plurality of vapor deposition masks 100 are fixed to the frame 60, considering the reaction force that can be generated in each vapor deposition mask 100, compressive stress is applied to the frame 60, and the frame is sequentially changed while the compression stress is changed stepwise.
  • the vapor deposition mask 100 is fixed to 60. Specifically, the reaction force of the deposition mask already fixed to the frame is subtracted from the total reaction force of the plurality of deposition masks, and the compression stress corresponding to the reaction force after subtraction is fixed in a state where it is applied to the frame. Do.
  • the frame 60 is fixed in a state where a compressive stress of “3”, which is a reaction force of the entire vapor deposition mask, is applied.
  • a compressive stress of “3” which is a reaction force of the entire vapor deposition mask
  • the method for applying compressive stress to the frame 60 is not particularly limited, and for example, an air cylinder or a motor can be used.
  • the compressive stress may be applied in the direction opposite to the direction in which the vapor deposition mask is pulled in the tensioning process, that is, in the same direction as the direction in which the reaction force is generated.
  • frame of this invention was demonstrated, the manufacturing method of the vapor deposition mask with a flame
  • Appropriate changes can be made within the range.
  • the description has been made mainly on the form in which the two opposing sides of the vapor deposition mask 100 are held by the holding member 80. It can also be held by the holding member 80.
  • One or more holding members or all the holding members 80 may include any one of the first rotation mechanism, the second rotation mechanism, and the movement mechanism.
  • a tension device is a tension device for pulling a vapor deposition mask, a holding member that holds a part of the vapor deposition mask, and a tension mechanism that pulls the vapor deposition mask held by the holding member.
  • the holding member is rotatable about a first rotation axis that can be rotated about a first rotation axis that intersects the surface of the vapor deposition mask, and can be rotated about a second rotation axis that does not intersect the surface of the vapor deposition mask. It is characterized by including at least one of a second rotating mechanism and a linearly movable moving mechanism.
  • the tension device as an example has a holding member for holding a part of the vapor deposition mask, and the holding member is rotatable about a first rotation axis orthogonal to the surface of the vapor deposition mask, Provided with at least one of a second rotation mechanism that can rotate around a second rotation axis parallel to the surface of the vapor deposition mask, and a movement mechanism that can move in a direction perpendicular to the direction in which the vapor deposition mask is pulled. It is characterized by.
  • various forms of the holding member 80 described in the method for manufacturing the vapor deposition mask with frame can be appropriately selected and used, and detailed description thereof is omitted here.
  • the various forms of the vapor deposition mask 100 demonstrated with the manufacturing method of the said vapor deposition mask with a frame can be selected suitably, and detailed description here is abbreviate
  • tensioning device of one embodiment of the present invention it is possible to suppress the occurrence of “twisting” that may be caused by pulling the vapor deposition mask.
  • the holding member constituting the tensioning device includes a lock mechanism.
  • production of "twist” can further be suppressed.
  • the locking mechanism is the same as described in the method for manufacturing the vapor deposition mask with frame, and a detailed description thereof is omitted here.
  • the tension device of a preferred embodiment has a drive stage for driving the frame, and the drive stage is movable in a direction intersecting with the installation surface of the tension device, that is, in a direction intersecting with the surface of the vapor deposition mask.
  • a moving mechanism is provided. More preferably, a vertical movement mechanism that can move in a direction substantially orthogonal to the surface of the vapor deposition mask is provided.
  • the holding member includes a moving mechanism that can move in a direction intersecting the installation surface of the tensioning device, that is, in a direction intersecting the surface of the vapor deposition mask. More preferably, a vertical movement mechanism that can move in a direction substantially orthogonal to the surface of the vapor deposition mask is provided.
  • an organic semiconductor element manufacturing apparatus (hereinafter referred to as an organic semiconductor element manufacturing apparatus according to an embodiment) will be described.
  • An apparatus for manufacturing an organic semiconductor element according to an embodiment is characterized in that the tension device according to the embodiment described above is incorporated in a conventionally known organic semiconductor apparatus for manufacturing an organic semiconductor element.
  • pulling apparatus integrated in the manufacturing apparatus of the organic-semiconductor element of one Embodiment can be selected suitably, and detailed description here is abbreviate
  • the organic semiconductor element manufacturing apparatus of one embodiment is not limited in any way except that the tension apparatus of one embodiment is incorporated, and the vapor deposition pattern of the organic semiconductor element by a vapor deposition method using a vapor deposition mask.
  • a conventionally known organic semiconductor device manufacturing apparatus for forming the film may be selected as appropriate, and the tensioning device of the above-described embodiment may be incorporated therein.
  • a vapor deposition mask with a frame in which a vapor deposition mask in which "twisting" is suppressed is fixed to a frame by a tension device incorporated in the manufacturing apparatus is used.
  • an organic semiconductor element can be manufactured. Therefore, an organic semiconductor element having a high-definition pattern can be formed according to the size of the opening formed in the vapor deposition mask.
  • the manufacturing method of the organic-semiconductor element of one Embodiment of this invention has the process of forming a vapor deposition pattern by the vapor deposition method using the vapor deposition mask with a flame
  • the vapor deposition method using the frame-equipped vapor deposition mask is not limited in any way. For example, physical vapor deposition methods such as reactive sputtering, vacuum deposition, ion plating, and electron beam vapor deposition (Physical Vapor Deposition). ), Chemical vapor deposition methods such as thermal CVD, plasma CVD, and photo-CVD methods.
  • An organic semiconductor device manufacturing method having a step of forming a vapor deposition pattern by a vapor deposition method using a vapor deposition mask with a frame includes an electrode forming step of forming an electrode on a substrate, an organic layer forming step, and a counter electrode forming step.
  • the deposition pattern is formed on the substrate by a deposition method using a deposition mask with a frame in each optional step. For example, when a vapor deposition method using a frame-equipped vapor deposition mask is applied to the organic layer forming step, a vapor deposition pattern of the organic layer is formed on the substrate.
  • the manufacturing method of the organic-semiconductor element of this invention is not limited to these processes, It is applicable to the arbitrary processes of the conventionally well-known organic-semiconductor element using a vapor deposition method.
  • the manufacturing method of one embodiment of the organic semiconductor element includes a step of forming a vapor deposition pattern on a vapor deposition object using a vapor deposition mask with a frame in which a vapor deposition mask is fixed to the frame, and is used in the step of forming the vapor deposition pattern.
  • the vapor deposition mask with a frame holds a part of the vapor deposition mask by the holding member, pulls the vapor deposition mask held by the holding member toward the outside, and the vapor deposition mask in the pulled state or the vapor deposition mask.
  • the manufacturing method of one embodiment of the organic semiconductor element includes a step of forming a vapor deposition pattern, wherein the vapor deposition mask fixed to the frame is vapor deposited at a position where the metal mask formed with a plurality of slits overlaps the slit.
  • At least one of the first rotation mechanism is rotatable about a first rotation axis orthogonal to the surface of the vapor deposition mask
  • the second rotation mechanism is rotatable about a second rotation axis parallel to the surface of the vapor deposition mask.
  • a holding member having at least one moving mechanism movable in a direction orthogonal to the direction in which the vapor deposition mask is pulled, and in the tensioning step, the vapor deposition mask pulled outward by the holding member
  • the vapor deposition mask is pulled outward, and at least one of rotation adjustment and movement adjustment of the vapor deposition mask is adjusted.
  • the vapor deposition mask with a frame used in the method for manufacturing an organic semiconductor element is a vapor deposition mask with a frame manufactured by the method for manufacturing a vapor deposition mask with a frame according to one embodiment of the present invention described above. .
  • the vapor deposition mask with a frame of this feature since the vapor deposition mask is fixed to the frame in a state where “twisting” is suppressed, a high-definition pattern according to the size of the opening formed in the vapor deposition mask.
  • An organic semiconductor element having the above can be formed.
  • the organic layer, light emitting layer, cathode electrode, etc. of an organic EL element can be mentioned, for example.
  • the method for producing an organic semiconductor element of the present invention can be suitably used for producing R, G, and B light emitting layers of organic EL elements that require high-definition pattern accuracy.

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Abstract

フレームに「ねじれ」が抑制された蒸着マスクが固定されたフレーム付き蒸着マスクの製造方法、及びそのための蒸着マスクの引張装置を提供する。フレーム付き蒸着マスクの製造方法において、スリット15が形成された金属マスク10と当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部25が形成された樹脂マスク20とが積層されてなる蒸着マスク100を準備する準備工程と、準備工程で準備された蒸着マスクの一部を保持部材80により保持し、保持部材80によって保持された蒸着マスク100をその外方に向かって引っ張る引張工程と、引張工程後に、貫通孔が形成されたフレーム60に、引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程と、を含み、引張工程では、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われる。

Description

フレーム付き蒸着マスクの製造方法、引張装置、有機半導体素子の製造装置及び有機半導体素子の製造方法
 本発明は、フレーム付き蒸着マスクの製造方法、引張装置、有機半導体素子の製造装置及び有機半導体素子の製造方法に関する。
 有機EL素子を用いた製品の大型化或いは基板サイズの大型化にともない、蒸着マスクに対しても大型化の要請が高まりつつある。そして、金属から構成される蒸着マスクの製造に用いられる金属板も大型化している。しかしながら、現在の金属加工技術では、大型の金属板に開口部を精度よく形成することは困難であり、開口部の高精細化への対応はできない。また、金属のみからなる蒸着マスクとした場合には、大型化に伴いその質量も増大し、フレームを含めた総質量も増大することから取り扱いに支障をきたすこととなる。
 このような状況下、特許文献1には、スリットが設けられた金属マスクと、金属マスクの表面に位置し蒸着作製するパターンに対応した開口部が縦横に複数列配置された樹脂マスクとが積層されてなる蒸着マスクが提案されている。特許文献1に提案がされている蒸着マスクによれば、大型化した場合でも高精細化と軽量化の双方を満たすことができ、また、高精細な蒸着パターンの形成を行うことができるとされている。
 蒸着マスクを用いて、蒸着加工対象物に蒸着パターンを形成するに際しては、一般的に金属材料や、セラミック材料等から構成されるフレームに蒸着マスクを固定してなるフレーム付き蒸着マスクが使用される。フレームへの蒸着マスクの固定に際しては、蒸着マスクの位置を正確にあわせた状態で行うことが重要であり、蒸着マスクの一部、例えば、蒸着マスクの対向する2辺(両端)を、例えば、クランプ等の保持部材により保持し、保持部材であるクランプ等に連結しているモーターやエアシリンダ等の駆動手段を作動させて蒸着マスクを引っ張った状態でフレームへの固定が行われる。
特許第5288072号公報
 フレームに蒸着マスクを固定すべく、蒸着マスクの一部、例えば、蒸着マスクの対向する2辺(両端)をクランプ等の保持部材で保持し、当該保持部材を蒸着マスク外方に向かって引っ張る際に、クランプ等の保持部材に蒸着マスクが正確に保持されていない場合、例えば、蒸着マスクの両端を平行に保持しているものの、蒸着マスクの両端を非対称に保持している場合や、蒸着マスクの両端を平行に保持していない場合、すなわち、蒸着マスクを斜めに傾いた状態で保持している場合には、図8(a)、図9(a)に示すように、蒸着マスクを引っ張ったときに、当該蒸着マスクに「ねじれ」が生ずる。上記特許文献1に提案がされている蒸着マスクは、樹脂マスクに蒸着作製するパターンに対応する開口部が形成されていることから、「ねじれ」によって開口部の寸法に変動が生じやすい。したがって、樹脂マスクに寸法精度の極めて高い開口部が形成されている場合であっても、当該樹脂マスクを含む蒸着マスクを引っ張った状態でフレームに固定する際の、「ねじれ」の問題を改善しなければ、結果として、高精細な蒸着パターンの形成が困難となる。
 本発明はこのような状況に鑑
みてなされたものであり、「ねじれ」が抑制された状態で、フレームに蒸着マスクが固定されてなるフレーム付き蒸着マスクの製造方法を提供すること、上記のフレーム付き蒸着マスクの製造に用いられる引張装置を提供すること、及び、有機半導体素子を精度よく製造することができる有機半導体素子の製造装置や、有機半導体素子の製造方法を提供することを主たる課題とする。
 上記課題を解決するための本発明は、フレーム付き蒸着マスクの製造方法であって、スリットが形成された金属マスクと当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部が形成された樹脂マスクとが積層されてなる蒸着マスクを準備する準備工程と、前記準備工程で準備された蒸着マスクの一部を保持部材により保持し、当該保持部材によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張る引張工程と、前記引張工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、前記引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程と、を含み、前記引張工程では、前記引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は前記蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われることを特徴とする。
 また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法では、前記引張工程において、前記回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われた前記蒸着マスクを、当該調整後の状態を維持するようにロックするロック工程を更に含み、前記固定工程では、貫通孔が形成されたフレームに、前記ロックされた蒸着マスクを固定してもよい。
 また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法では、前記フレーム上に前記蒸着マスクを載置する第1載置工程と、前記第1載置工程後に、前記フレームから前記蒸着マスクを離隔する離隔工程と、前記離隔工程後に、前記フレーム上に前記蒸着マスクを再び載置する第2載置工程とを更に含み、前記第1載置工程前、又は前記第1載置工程と前記離隔工程の間に、前記引張工程が行われ、前記第2載置工程後に、前記固定工程を行ってもよい。
 また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法では、前記引張工程後に、前記引っ張られた状態の蒸着マスクの一方の面上に補助部材を重ね、前記蒸着マスクの一方の面と前記補助部材とが重なる部分の少なくとも一部において、前記蒸着マスクに前記補助部材を固定し、当該補助部材を引っ張ることで、蒸着マスクの精密調整を行う精密調整工程を更に含み、前記精密調整工程後に、前記固定工程を行ってもよい。
 また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法では、前記引張工程において、前記蒸着マスクの一部を保持する前記保持部材が、前記蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、前記蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、直線移動可能な移動機構のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材であり、前記引張工程では、前記保持部材による前記第1回転機構、第2回転機構、及び移動機構の何れかの機構により、前記蒸着マスクの回転調整、移動調整の何れかを行ってもよい。
 また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法において前記準備工程で準備される蒸着マスクが、複数のスリットが設けられた金属マスクと、複数画面を構成するために必要な開口部が設けられた樹脂マスクが積層されてなり、各前記スリットが、少なくとも1画面全体と重なる位置に設けられている蒸着マスクであってもよい。また、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法において前記準備工程で準備される蒸着マスクが、1つのスリットが設けられた金属マスクと、複数の開口部が設けられた樹脂マスクが積層されてなり、前記複数の開口部の全てが、前記1つのスリットと重なる位置に設けられている蒸着マスクであってもよい。
 また、上記課題を解決するための本発明は、蒸着マスクを引っ張るための引張装置であって、前記蒸着マスクの一部を保持する保持部材と、前記保持部材によって保持された前記蒸着マスクを引っ張るための引張機構と、を有し、前記保持部材は、前記蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、前記蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び直線移動可能な移動機構、のうち少なくとも一つの機構を備えることを特徴とする。
 また、上記引張装置は、フレームを駆動させるための駆動ステージを有し、前記駆動ステージは、前記引張装置の設置面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えていてもよい。
 また、上記引張装置における前記保持部材は、前記引張装置の設置面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えていてもよい。
 また、上記課題を解決するための本発明は、有機半導体素子の製造装置であって、上記の引張装置が組み込まれていることを特徴とする。
 また、上記課題を解決するための本発明は、有機半導体素子の製造方法であって、フレームに蒸着マスクが固定されたフレーム付き蒸着マスクを用いて蒸着対象物に蒸着パターンを形成する工程を含み、前記蒸着パターンを形成する工程において用いられる前記フレーム付き蒸着マスクが、前記蒸着マスクの一部を保持部材により保持し、前記保持部材によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張り、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は前記蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行う引張工程と、前記引張工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、前記引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程により得られたフレーム付き蒸着マスクであることを特徴とする。
 本発明のフレーム付き蒸着マスクの製造方法や、引張装置によれば、「ねじれ」が抑制された状態で、フレームに蒸着マスクが固定されてなるフレーム付き蒸着マスクを製造することができる。また、本発明の有機半導体素子の製造装置や、有機半導体素子の製造方法によれば、有機半導体素子を精度よく製造することができる。
準備工程で準備される蒸着マスクの一例を示す図であり、(a)は、金属マスク側からみた上面図であり、(b)は、(a)のA-A断面図である。 準備工程で準備される実施形態(A)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 準備工程で準備される実施形態(A)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 準備工程で準備される実施形態(A)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 準備工程で準備される実施形態(A)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 準備工程で準備される実施形態(B)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 準備工程で準備される実施形態(B)の蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。 引張工程において引っ張られた蒸着マスクの一例を示す上面図であり、(a)は蒸着マスクに「ねじれ」が生じている状態を示す上面図であり、(b)は、蒸着マスクの「ねじれ」が抑制された状態を示す上面図である。 引張工程において引っ張られた蒸着マスクの一例を示す上面図であり、(a)は蒸着マスクに「ねじれ」が生じている状態を示す上面図であり、(b)は、蒸着マスクの「ねじれ」が抑制された状態を示す上面図である。 第1回転機構を説明するための斜視図である。 第2回転機構を説明するための斜視図である。 移動機構を説明するための斜視図である。 引張工程を説明するための上面図である。 (a)は引張工程を説明するための上面図であり、(b)は正面図である。 引張工程を説明するための正面図である。 引張工程を説明するための上面図である。 引張工程を説明するための上面図である。 引張工程を説明するための上面図である。 固定工程を説明するための上面図である。 固定工程を説明するための上面図である。 (a)~(c)はフレームの一例を示す上面図である。 フレーム付き蒸着マスクの一例を示す上面図である。 フレーム付き蒸着マスクの一例を示す上面図である。 精密調整工程を説明するための図であり、(a)、(b)は蒸着マスクを樹脂マスク側から見た正面図である。 (a)~(c)は、保持部材80によって蒸着マスク100を保持している状態を示す部分概略断面図であり、(d)~(f)は、凸部を有する保持部材80を、凸部82側から平面視したときの一例を示す図である。
 以下、本発明の一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法について図面を用いて具体的に説明する。
 <<フレーム付き蒸着マスクの製造方法>>
 一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、スリット15が形成された金属マスク10と当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部25が形成された樹脂マスク20とが積層されてなる蒸着マスク100を準備する準備工程と、準備工程で準備された蒸着マスク100の一部を保持部材80により保持し、保持部材80によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張る引張工程と、引張工程後に、貫通孔が形成されたフレーム60に、引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程を含み、引張工程では、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われることを特徴としている。
 一例としてのフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、スリット15が形成された金属マスク10と当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部25が形成された樹脂マスク20とが積層されてなる蒸着マスク100を準備する準備工程と、準備工程で準備された蒸着マスクの対向する2辺を保持部材80により保持し、当該保持部材80の少なくとも一つを蒸着マスクの外方に引っ張ることで、当該蒸着マスクをその外方に向かって引っ張る引張工程と、貫通孔が形成されたフレームに、引張工程において引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程を含み、引張工程において、蒸着マスクを保持する保持部材80の少なくとも一つが、蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸、例えば、蒸着マスクの面と直交する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸、例えば、蒸着マスクの面と平行する第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、直線移動が可能な、例えば、蒸着マスクが引っ張られている方向に直交する方向に直線移動可能な移動機構のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材80であり、引張工程では、保持部材80により、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は蒸着マスクを引っ張るとともに、蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われる。
 以下、各工程について説明する。
 <準備工程>
 準備工程は、図1(a)、(b)に示すように、スリット15が形成された金属マスク10と当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部25が形成された樹脂マスク20とが積層されてなる蒸着マスク100を準備する工程である。
 (樹脂マスク)
 図1に示すように、樹脂マスク20には、複数の開口部25が設けられている。図1(a)は、一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法に用いられる蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図であり、図1(b)は、図1(a)のA-A概略断面図である。
 図示する形態では、開口部25の開口形状は、矩形状を呈しているが、開口形状について特に限定はなく、蒸着作製するパターンに対応する形状であれば、いかなる形状であってもよい。例えば、開口部25の開口形状は、ひし形、多角形状であってもよく、円や、楕円等の曲率を有する形状であってもよい。なお、矩形や、多角形状の開口形状は、円や楕円等の曲率を有する開口形状と比較して発光面積を大きくとれる点で、好ましい開口部25の開口形状であるといえる。
 樹脂マスク20の材料について限定はなく、例えば、レーザー加工等によって高精細な開口部25の形成が可能であり、熱や経時での寸法変化率や吸湿率が小さく、軽量な材料を用いることが好ましい。このような材料としては、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、エチレン酢酸ビニル共重合体樹脂、エチレン-ビニルアルコール共重合体樹脂、エチレン-メタクリル酸共重合体樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、セロファン、アイオノマー樹脂等を挙げることができる。上記に例示した材料の中でも、その熱膨張係数が16ppm/℃以下である樹脂材料が好ましく、吸湿率が1.0%以下である樹脂材料が好ましく、この双方の条件を備える樹脂材料が特に好ましい。この樹脂材料を用いた樹脂マスクとすることで、開口部25の寸法精度を向上させることができ、かつ熱や経時での寸法変化率や吸湿率を小さくすることができる。
 樹脂マスク20の厚みについて特に限定はないが、シャドウの発生の抑制効果をさらに向上せしめる場合には、樹脂マスク20の厚みは、25μm以下であることが好ましく、10μm未満であることがより好ましい。下限値の好ましい範囲について特に限定はないが、樹脂マスク20の厚みが3μm未満である場合には、ピンホール等の欠陥が生じやすく、また変形等のリスクが高まる。特に、樹脂マスク20の厚みを、3μm以上10μm未満、より好ましくは4μm以上8μm以下とすることで、400ppiを超える高精細パターンを形成する際のシャドウの影響をより効果的に防止することができる。また、樹脂マスク20と後述する金属マスク10とは、直接的に接合されていてもよく、粘着剤層を介して接合されていてもよいが、粘着剤層を介して樹脂マスク20と金属マスク10とが接合される場合には、樹脂マスク20と粘着剤層との合計の厚みが上記好ましい厚みの範囲内であることが好ましい。なお、シャドウとは、蒸着源から放出された蒸着材の一部が、金属マスクのスリットや、樹脂マスクの開口部の内壁面に衝突して蒸着対象物へ到達しないことにより、目的とする蒸着膜厚よりも薄い膜厚となる未蒸着部分が生ずる現象のことをいう。
 開口部25の断面形状についても特に限定はなく、開口部25を形成する樹脂マスクの向かいあう端面同士が略平行であってもよいが、図1(b)に示すように、開口部25はその断面形状が、蒸着源に向かって広がりをもつような形状であることが好ましい。換言すれば、金属マスク10側に向かって広がりをもつテーパー面を有していることが好ましい。テーパー角については、樹脂マスク20の厚み等を考慮して適宜設定することができるが、樹脂マスクの開口部における下底先端と、同じく樹脂マスクの開口部における上底先端とを結んだ直線と、樹脂マスクの底面とのなす角、換言すれば、樹脂マスク20の開口部25を構成する内壁面の厚み方向断面において、開口部25の内壁面と樹脂マスク20の金属マスク10と接しない側の面(図示する形態では、樹脂マスクの下面)とのなす角度は、5°~85°の範囲内であることが好ましく、15°~75°の範囲内であることがより好ましく、25°~65°の範囲内であることがさらに好ましい。特には、この範囲内の中でも、使用する蒸着機の蒸着角度よりも小さい角度であることが好ましい。また、図示する形態では、開口部25を形成する端面は直線形状を呈しているが、これに限定されることはなく、外に凸の湾曲形状となっている、つまり開口部25の全体の形状がお椀形状となっていてもよい。
 (金属マスク)
 図1(b)に示すように、樹脂マスク20の一方の面上には、金属マスク10が積層されている。金属マスク10は、金属から構成され、縦方向或いは横方向に延びるスリット15が配置されている。スリット15は開口と同義である。スリットの配置例について特に限定はなく、縦方向、及び横方向に延びるスリットが、縦方向、及び横方向に複数列配置されていてもよく、縦方向に延びるスリットが、横方向に複数列配置されていてもよく、横方向に延びるスリットが縦方向に複数列配置されていてもよい。また、縦方向、或いは横方向に1列のみ配置されていてもよい。なお、本願明細書で言う「縦方向」、「横方向」とは、図面の上下方向、左右方向をさし、蒸着マスク、樹脂マスク、金属マスクの長手方向、幅方向のいずれの方向であってもよい。例えば、蒸着マスク、樹脂マスク、金属マスクの長手方向を「縦方向」としてもよく、幅方向を「縦方向」としてもよい。また、本願明細書では、蒸着マスクを平面視したときの形状が矩形状である場合を例に挙げて説明しているが、これ以外の形状、例えば、円形状や、ひし形状等の多角形状としてもよい。この場合、対角線の長手方向や、径方向、或いは、任意の方向を「長手方向」とし、この「長手方向」に直交する方向を、「幅方向(短手方向と言う場合もある)」とすればよい。
 金属マスク10の材料について特に限定はなく、蒸着マスクの分野で従来公知のものを適宜選択して用いることができ、例えば、ステンレス鋼、鉄ニッケル合金、アルミニウム合金などの金属材料を挙げることができる。中でも、鉄ニッケル合金であるインバー材は熱による変形が少ないので好適に用いることができる。
 金属マスク10の厚みについても特に限定はないが、シャドウの発生をより効果的に防止するためには、100μm以下であることが好ましく、50μm以下であることがより好ましく、35μm以下であることが特に好ましい。なお、5μmより薄くした場合、破断や変形のリスクが高まるとともにハンドリングが困難となる傾向にある。
 また、図1(a)に示す形態では、スリット15の開口を平面視したときの形状は、矩形状を呈しているが、開口形状について特に限定はなく、スリット15の開口形状は、台形状、円形状等いかなる形状であってもよい。
 金属マスク10に形成されるスリット15の断面形状についても特に限定されることはないが、図1(b)に示すように蒸着源に向かって広がりをもつような形状であることが好ましい。より具体的には、金属マスク10のスリット15における下底先端と、同じく金属マスク10のスリット15における上底先端とを結んだ直線と、金属マスク10の底面とのなす角度、換言すれば、金属マスク10のスリット15を構成する内壁面の厚み方向断面において、スリット15の内壁面と金属マスク10の樹脂マスク20と接する側の面(図示する形態では、金属マスクの下面)とのなす角度は、5°~85°の範囲内であることが好ましく、15°~80°の範囲内であることがより好ましく、25°~65°の範囲内であることがさらに好ましい。特には、この範囲内の中でも、使用する蒸着機の蒸着角度よりも小さい角度であることが好ましい。
 樹脂マスク上に金属マスク10を積層する方法について特に限定はなく、樹脂マスク20と金属マスク10とを各種粘着剤を用いて貼り合わせてもよく、自己粘着性を有する樹脂マスクを用いてもよい。樹脂マスク20と金属マスク10の大きさは同一であってもよく、異なる大きさであってもよい。なお、この後に任意で行われるフレームへの固定を考慮して、樹脂マスク20の大きさを金属マスク10よりも小さくし、金属マスク10の外周部分が露出された状態としておくと、金属マスク10とフレームとの固定が容易となり好ましい。
 以下、本工程で準備される好ましい蒸着マスクの形態について実施形態(A)、及び実施形態(B)を例に挙げ説明する。なお、本工程で準備される蒸着マスク100は、以下で説明する実施形態(A)、及び実施形態(B)に限定されるものではなく、スリット15が形成された金属マスク10と当該スリット15と重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部25が形成された樹脂マスク20とが積層されているとの条件を満たすものであれば、いかなる形態であってもよい。例えば、金属マスク10に形成されているスリット15は、ストライプ状(図示しない)であってもよい。また、1画面全体と重ならない位置に、金属マスク10のスリット15が設けられていてもよい。
 <実施形態(A)の蒸着マスク>
 図2に示すように、実施形態(A)の蒸着マスク100は、複数画面分の蒸着パターンを同時に形成するための蒸着マスクであって、樹脂マスク20の一方の面上に、複数のスリット15が設けられた金属マスク10が積層されてなり、樹脂マスク20には、複数画面を構成するために必要な開口部25が設けられ、各スリット15が、少なくとも1画面全体と重なる位置に設けられていることを特徴とする。
 実施形態(A)の蒸着マスク100は、複数画面分の蒸着パターンを同時に形成するために用いられる蒸着マスクであり、1つの蒸着マスク100で、複数の製品に対応する蒸着パターンを同時に形成することができる。実施形態(A)の蒸着マスクで言う「開口部」とは、実施形態(A)の蒸着マスク100を用いて作製しようとするパターンを意味し、例えば、当該蒸着マスクを有機ELディスプレイにおける有機層の形成に用いる場合には、開口部25の形状は当該有機層の形状となる。また、「1画面」とは、1つの製品に対応する開口部25の集合体からなり、当該1つの製品が有機ELディスプレイである場合には、1つの有機ELディスプレイを形成するのに必要な有機層の集合体、つまり、有機層となる開口部25の集合体が「1画面」となる。そして、実施形態(A)の蒸着マスク100は、複数画面分の蒸着パターンを同時に形成すべく、樹脂マスク20には、上記「1画面」が、所定の間隔をあけて複数画面分配置されている。すなわち、樹脂マスク20には、複数画面を構成するために必要な開口部25が設けられている。
 実施形態(A)の蒸着マスクは、樹脂マスクの一方の面上に、複数のスリット15が設けられた金属マスク10が設けられ、各スリットは、それぞれ少なくとも1画面全体と重なる位置に設けられている点を特徴とする。換言すれば、1画面を構成するのに必要な開口部25間において、横方向に隣接する開口部25間に、スリット15の縦方向の長さと同じ長さであって、金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分や、縦方向に隣接する開口部間25に、スリット15の横方向の長さと同じ長さであって、金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分が存在していないことを特徴とする。以下、スリット15の縦方向の長さと同じ長さであって、金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分や、スリット15の横方向の長さと同じ長さであって、金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分のことを総称して、単に金属線部分と言う場合がある。
 実施形態(A)の蒸着マスク100によれば、1画面を構成するのに必要な開口部25の大きさや、1画面を構成する開口部25間のピッチを狭くした場合、例えば、400ppiを超える画面の形成を行うべく、開口部25の大きさや、開口部25間のピッチを極めて微小とした場合であっても、金属線部分による干渉を防止することができ、高精細な画像の形成が可能となる。なお、1画面が、複数のスリットによって分割されている場合、換言すれば、1画面を構成する開口部25間に金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分が存在している場合には、1画面を構成する開口部25間のピッチが狭くなっていくことにともない、開口部25間に存在する金属線部分が蒸着対象物へ蒸着パターンを形成する際の支障となり高精細な蒸着パターンの形成が困難となる。換言すれば、1画面を構成する開口部25間に金属マスク10と同じ厚みを有する金属線部分が存在している場合には、フレーム付き蒸着マスクとしたときに当該金属線部分が、シャドウの発生を引き起こし高精細な画面の形成が困難となる。
 次に、図2~図6を参照して、1画面を構成する開口部25の一例について説明する。なお、図示する形態において破線で閉じられた領域が1画面となっている。図示する形態では、説明の便宜上少数の開口部25の集合体を1画面としているが、この形態に限定されるものではなく、例えば、1つの開口部25を1画素としたときに、1画面に数百万画素の開口部25が存在していてもよい。
 図2に示す形態では、縦方向、横方向に複数の開口部25が設けられてなる開口部25の集合体によって1画面が構成されている。図3に示す形態では、横方向に複数の開口部25が設けられてなる開口部25の集合体によって1画面が構成されている。また、図4に示す形態では、縦方向に複数の開口部25が設けられてなる開口部25の集合体によって1画面が構成されている。そして、図2~図4では、1画面全体と重なる位置にスリット15が設けられている。
 上記で説明したように、スリット15は、1画面のみと重なる位置に設けられていてもよく、図5(a)、(b)に示すように、2以上の画面全体と重なる位置に設けられていてもよい。図5(a)では、図2に示す樹脂マスク10において、横方向に連続する2画面全体と重なる位置にスリット15が設けられている。図5(b)では、縦方向に連続する3画面全体と重なる位置にスリット15が設けられている。
 次に、図2に示す形態を例に挙げて、1画面を構成する開口部25間のピッチ、画面間のピッチについて説明する。1画面を構成する開口部25間のピッチや、開口部25の大きさについて特に限定はなく、蒸着作製するパターンに応じて適宜設定することができる。例えば、400ppiの高精細な蒸着パターンの形成を行う場合には、1画面を構成する開口部25において隣接する開口部25の横方向のピッチ(P1)、縦方向のピッチ(P2)は60μm程度となる。また、開口部の大きさは、500μm2~1000μm2程度となる。また、1つの開口部25は、1画素に対応していることに限定されることはなく、例えば、画素配列によっては、複数画素を纏めて1つの開口部25とすることもできる。
 画面間の横方向ピッチ(P3)、縦方向ピッチ(P4)についても特に限定はないが、図2に示すように、1つのスリット15が、1画面全体と重なる位置に設けられる場合には、各画面間に金属線部分が存在することとなる。したがって、各画面間の縦方向ピッチ(P4)、横方向のピッチ(P3)が、1画面内に設けられている開口部25の縦方向ピッチ(P2)、横方向ピッチ(P1)よりも小さい場合、或いは略同等である場合には、各画面間に存在している金属線部分が断線しやすくなる。したがって、この点を考慮すると、画面間のピッチ(P3、P4)は、1画面を構成する開口部25間のピッチ(P1、P2)よりも広いことが好ましい。画面間のピッチ(P3、P4)の一例としては、1mm~100mm程度である。なお、画面間のピッチとは、1の画面と、当該1の画面と隣接する他の画面とにおいて、隣接している開口部間のピッチを意味する。このことは、後述する実施形態(B)の蒸着マスクにおける開口部間の25のピッチ、画面間のピッチについても同様である。
 なお、図5に示すように、1つのスリット15が、2つ以上の画面全体と重なる位置に設けられる場合には、1つのスリット15内に設けられている複数の画面間には、スリットの内壁面を構成する金属線部分が存在しないこととなる。したがって、この場合、1つのスリット15と重なる位置に設けられている2つ以上の画面間のピッチは、1画面を構成する開口部25間のピッチと略同等であってもよい。
 また、樹脂マスク20には、樹脂マスク20の縦方向、或いは横方向にのびる溝(図示しない)が形成されていてもよい。蒸着時に熱が加わった場合、樹脂マスク20が熱膨張し、これにより開口部25の寸法や位置に変化が生じる可能性があるが、溝を形成することで樹脂マスクの膨張を吸収することができ、樹脂マスクの各所で生じる熱膨張が累積することにより樹脂マスク20が全体として所定の方向に膨張して開口部25の寸法や位置が変化することを防止することができる。溝の形成位置について限定はなく、1画面を構成する開口部25間や、開口部25と重なる位置に設けられていてもよいが、画面間に設けられていることが好ましい。また、溝は、樹脂マスクの一方の面、例えば、金属マスクと接する側の面のみに設けられていてもよく、金属マスクと接しない側の面のみに設けられていてもよい。或いは、樹脂マスク20の両面に設けられていてもよい。
 また、隣接する画面間に縦方向に延びる溝としてもよく、隣接する画面間に横方向に延びる溝を形成してもよい。さらには、これらを組み合わせた態様で溝を形成することも可能である。
 溝の深さやその幅については特に限定はないが、溝の深さが深すぎる場合や、幅が広すぎる場合には、樹脂マスク20の剛性が低下する傾向にあることから、この点を考慮して設定することが必要である。また、溝の断面形状についても特に限定されることはなくU字形状やV字形状など、加工方法などを考慮して任意に選択すればよい。実施形態(B)の蒸着マスクについても同様である。
 <実施形態(B)の蒸着マスク>
 次に、実施形態(B)の蒸着マスクについて説明する。図6に示すように、実施形態(B)の蒸着マスクは、蒸着作製するパターンに対応した開口部25が複数設けられた樹脂マスク20の一方の面上に、1つのスリット(1つの孔16)が設けられた金属マスク10が積層されてなり、当該複数の開口部25の全てが、金属マスク10に設けられた1つの孔16と重なる位置に設けられている点を特徴とする。
 実施形態(B)の蒸着マスクで言う開口部25とは、蒸着対象物に蒸着パターンを形成するために必要な開口部を意味し、蒸着対象物に蒸着パターンを形成するために必要ではない開口部は、1つの孔16と重ならない位置に設けられていてもよい。なお、図6は、実施形態(B)の蒸着マスクの一例を示す蒸着マスクを金属マスク側から見た上面図である。
 実施形態(B)の蒸着マスク100は、複数の開口部25を有する樹脂マスク20上に、1つの孔16を有する金属マスク10が設けられており、かつ、複数の開口部25の全ては、当該1つの孔16と重なる位置に設けられている。この構成を有する実施形態(B)の蒸着マスク100では、開口部25間に、金属マスクの厚みと同じ厚み、或いは、金属マスクの厚みより厚い金属線部分が存在していないことから、上記実施形態(A)の蒸着マスクで説明したように、金属線部分による干渉を受けることなく樹脂マスク20に設けられている開口部25の寸法通りに高精細な蒸着パターンを形成することが可能となる。
 また、実施形態(B)の蒸着マスクによれば、金属マスク10の厚みを厚くしていった場合であっても、シャドウの影響を殆ど受けることがないことから、金属マスク10の厚みを、耐久性や、ハンドリング性を十分に満足させることができるまで厚くすることができ、高精細な蒸着パターンの形成を可能としつつも、耐久性や、ハンドリング性を向上させることができる。
 実施形態(B)の蒸着マスクにおける樹脂マスク20は、樹脂から構成され、図6に示すように、1つの孔16と重なる位置に蒸着作製するパターンに対応した開口部25が複数設けられている。開口部25は、蒸着作製するパターンに対応しており、蒸着源から放出された蒸着材が開口部25を通過することで、蒸着対象物には、開口部25に対応する蒸着パターンが形成される。なお、図示する形態では、開口部が縦横に複数列配置された例を挙げて説明をしているが、縦方向、或いは横方向にのみ配置されていてもよい。
 実施形態(B)の蒸着マスク100における「1画面」とは、1つの製品に対応する開口部25の集合体を意味し、当該1つの製品が有機ELディスプレイである場合には、1つの有機ELディスプレイを形成するのに必要な有機層の集合体、つまり、有機層となる開口部25の集合体が「1画面」となる。実施形態(B)の蒸着マスクは、「1画面」のみからなるものであってもよく、当該「1画面」が複数画面分配置されたものであってもよいが、「1画面」が複数画面分配置される場合には、画面単位毎に所定の間隔をあけて開口部25が設けられていることが好ましい(実施形態(A)の蒸着マスクの図5参照)。「1画面」の形態について特に限定はなく、例えば、1つの開口部25を1画素としたときに、数百万個の開口部25によって1画面を構成することもできる。
 実施形態(B)の蒸着マスク100における金属マスク10は、金属から構成され1つの孔16を有している。そして、本発明では、当該1つの孔16は、金属マスク10の正面からみたときに、全ての開口部25と重なる位置、換言すれば、樹脂マスク20に配置された全ての開口部25がみえる位置に配置されている。
 金属マスク10を構成する金属部分、すなわち1つの孔16以外の部分は、図6に示すように蒸着マスク100の外縁に沿って設けられていてもよく、図7に示すように金属マスク10の大きさを樹脂マスク20よりも小さくし、樹脂マスク20の外周部分を露出させてもよい。また、金属マスク10の大きさを樹脂マスク20よりも大きくして、金属部分の一部を、樹脂マスクの横方向外方、或いは縦方向外方に突出させてもよい。なお、いずれの場合であっても、1つの孔16の大きさは、樹脂マスク20の大きさよりも小さく構成されている。
 図6に示される金属マスク10の1つの孔16の壁面をなす金属部分の横方向の幅(W1)や、縦方向の幅(W2)について特に限定はないが、W1、W2の幅が狭くなっていくに従い、耐久性や、ハンドリング性が低下していく傾向にある。したがって、W1、W2は、耐久性や、ハンドリング性を十分に満足させることができる幅とすることが好ましい。金属マスク10の厚みに応じて適切な幅を適宜設定することができるが、好ましい幅の一例としては、実施形態(A)の蒸着マスクの金属マスクと同様、W1、W2ともに1mm~100mm程度である。
 以下、本工程で準備される蒸着マスクの製造方法について一例を挙げて説明する。準備工程で準備される蒸着マスク100は、樹脂板の一方の面上にスリット15が設けられた金属マスク10が積層された樹脂板付き金属マスクを準備し、次いで、樹脂板付き金属マスクに対し、金属マスク10側からスリット15を通してレーザーを照射して、樹脂板に蒸着作製するパターンに対応する開口部25を形成することで得ることができる。
 樹脂板付き金属マスクの形成方法としては、樹脂板の一方の面上にスリット15が設けられた金属マスク10を積層する。樹脂板は、上記樹脂マスク20で説明した材料を用いることができる。
 スリット15が設けられた金属マスク10の形成方法としては、金属板の表面にマスキング部材、例えば、レジスト材を塗工し、所定の箇所を露光し、現像することで、最終的にスリット15が形成される位置を残したレジストパターンを形成する。マスキング部材として用いるレジスト材としては処理性が良く、所望の解像性があるものが好ましい。次いで、このレジストパターンを耐エッチングマスクとして用いてエッチング法によりエッチング加工する。エッチングが終了後、レジストパターンを洗浄除去する。これにより、スリット15が設けられた金属マスク10が得られる。スリット15を形成するためのエッチングは、金属板の片面側から行ってもよく、両面から行ってもよい。また、金属板に樹脂板が設けられた積層体を用いて、金属板にスリット15を形成する場合には、金属板の樹脂板と接しない側の表面にマスキング部材を塗工して、片面側からのエッチングによってスリット15が形成される。なお、樹脂板が、金属板のエッチング材に対し耐エッチング性を有する場合には、樹脂板の表面をマスキングする必要はないが、樹脂板が、金属板のエッチング材に対する耐性を有しない場合には、樹脂板の表面にマスキング部材を塗工しておく必要がある。また、上記では、マスキング部材としてレジスト材を中心に説明を行ったが、レジスト材を塗工する代わりにドライフィルムレジストをラミネートし、同様のパターニングを行ってもよい。
 上記の方法において、樹脂板付金属マスクを構成する樹脂板は、板状の樹脂のみならず、コーティングによって形成された樹脂層や樹脂膜であってもよい。つまり、樹脂板は、予め準備されたものであってもよく、金属板と樹脂板とを用いて樹脂板付き金属マスクを形成する場合には、金属板上に、従来公知のコーティング法等によって、最終的に樹脂マスクとなる樹脂層、或いは樹脂膜を形成することもできる。
 開口部25の形成方法としては、上記で準備された樹脂板付き金属マスクに対し、レーザー加工法、精密プレス加工、フォトリソ加工等を用いて、樹脂板を貫通させ、樹脂板に蒸着作製するパターンに対応する開口部25を形成することで、蒸着作製するパターンに対応する開口部25が設けられた樹脂マスク20の一方の面上にスリット15が設けられた金属マスク10が積層された一実施形態の蒸着マスク100を得る。なお、高精細な開口部25を容易に形成することができる点からは、開口部25の形成には、レーザー加工法を用いることが好ましい。
 各図に示す形態の蒸着マスク100は、当該蒸着マスクを平面視したときの形状が矩形状を呈しているが、蒸着マスクを平面視したときの形状は、この形状に限定されるものではなく、任意の形状、例えば、円形状、多角形状などを挙げることができる。
 <引張工程>
 引張工程は、準備工程で準備された蒸着マスク100の一部を保持部材80により保持し、保持部材80によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張る工程である。一例としての引張工程では、準備工程で準備された蒸着マスクの対向する2辺を保持部材80により保持し、当該保持部材80の少なくとも一つを蒸着マスクの外方に引っ張っている。例えば、保持部材80に連結されているモーターやエアシリンダ等の駆動手段を作動させて、保持部材80によって保持されている蒸着マスク100をその外方に向かって引っ張っている。
 そして、一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、引張工程において、蒸着マスク100の一部を保持部材80により保持し、保持部材80によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張るとともに、又は、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整の何れか一方、又は双方の調整が行われることを特徴としている。
 保持部材80による蒸着マスク100の保持位置について限定はないが、通常、蒸着マスク100の端部近傍が、保持部材80による蒸着マスク100の保持位置となる。保持部材80による蒸着マスク100の保持は、1つの保持部材80のみを用いて行ってもよく、複数の保持部材80を用いて行ってもよい。
 以下、引張工程において、回転調整、及び移動調整を実現させるための具体的な手段について保持部材80が有する機構を例に挙げて説明する。なお、回転調整、移動調整は、以下で説明する手段以外によって実現してもよい。
 一例としての引張工程では、蒸着マスク100の一部を保持する保持部材80が、蒸着マスク100の面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構(以下、単に、第1回転機構と言う場合がある。)、蒸着マスク100の面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構(以下、単に、第2回転機構と言う場合がある。)、及び、直線移動可能な移動機構(以下、単に、移動機構と言う場合がある。)のうち少なくとも一つの機構を備えており、当該保持部材80によって、蒸着マスク100の回転調整、及び移動調整の何れか一方、又は双方の調整が行われる。
 本願明細書で言う、第1の回転軸と交差する蒸着マスクの面、第2の回転軸と交差しない蒸着マスクの面とは、蒸着マスクの面全体のうち任意に選択した3点を含む領域を意味する。
 上記第1回転機構は、蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能との条件を満たせば、蒸着マスクの面と第1の回転軸とのなす角度について特に限定はないが、好ましくは、45°~135°であり、より好ましくは、85°~95°であり、特に好ましくは、90°である。
 上記移動機構は、直線移動が可能との条件を満たせば、その移動方向について特に限定はないが、蒸着マスクを引っ張る方向の軸と、保持部材80が移動する方向の軸とのなす好ましい角は、45°~135°であり、より好ましくは、85°~95°であり、特に好ましくは、90°である。
 上記保持部材80の具体的な例としては、蒸着マスク100の面と直交する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、蒸着マスクの面と平行する第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び蒸着マスクを引っ張る方向に直交する方向に移動可能な移動機構、のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材80等を挙げることができる。
 引張工程の説明にあたり、回転調整や、移動調整を行うことなく蒸着マスクを引っ張ったときの「ねじれの発生」、例えば、上記第1回転機構、第2回転機構、移動機構のいずれの機構をも備えない保持部材(以下、従来の保持部材と言う場合がある。)を使用して蒸着マスクを引っ張ったときの「ねじれ」の発生に言及しつつ、上記第1回転機構、第2回転機構、移動機構のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材を使用して蒸着マスクを引っ張る本発明の一実施形態について説明する。なお、図8(a)、図9(a)は、引張工程後に蒸着マスクに「ねじれ」が生じている状態を示す上面図であり、図8(b)、図9(b)は、上記特徴の保持部材を用いて蒸着マスクを引っ張ることで蒸着マスクの「ねじれ」が抑制された状態を示す上面図である。なお、図8、図9では、蒸着マスクにおける開口部25や、スリット15を省略している。また、「ねじれ」を誇張して示している。
 本願明細書で言う「ねじれ」とは、蒸着マスクを引っ張る時に蒸着マスクに生ずる波状のシワや、歪等を含む概念である。また、本願明細書で言う「蒸着マスクを引っ張る」とは、上記で準備した蒸着マスク100を伸ばす方向に外力(張力)を加えることを意味する。
 また、本願明細書で言う「保持部材」とは、何らかの手段により蒸着マスクの一部、例えば、蒸着マスクの辺を保持可能な部材を意味する。蒸着マスクを保持する形態について特に限定はなく、例えば、保持部材としてクランプを用いた場合には、当該クランプによって蒸着マスクの端部等を把持することで蒸着マスクが保持される。また、保持部材として金属板や樹脂板等の部材を用いた場合には、当該部材と蒸着マスクの端部とを粘着剤により貼り合わせ、或いは当該部材と蒸着マスクの端部とを溶接等により固定することで蒸着マスクが保持される。また、保持部材として磁性を有する磁性部材を用いた場合には、当該磁性部材と蒸着マスクの端部近傍に位置する金属マスクとを磁力を用いて引き付けることで蒸着マスクが保持される。これ以外の形態により、蒸着マスクを保持することもできる。なお、保持部材による蒸着マスクの保持力が弱い場合には、保持部材80によって保持されている蒸着マスクを、その外方に引っ張った際に、当初の保持位置から変動してしまう場合があることから、保持部材による蒸着マスクの保持力は、蒸着マスクを引っ張った時に保持位置の変動が生じない程度の保持力を有していることが必要である。これら保持力や、蒸着マスクを保持する際の簡易性を考慮すると、保持部材としてクランプを用いることが好ましい。なお、各図に示す形態では、保持部材80がクランプである場合を例に挙げて説明を行っている。
 上記従来の保持部材を使用して蒸着マスクを引っ張る際に、保持部材に蒸着マスクが正確に保持されていない場合、例えば、保持部材80によって、蒸着マスク100の両端が平行に保持されているものの、蒸着マスク100の両端が非対称に保持されている場合には、保持部材80に連結しているモーターやエアシリンダ等の駆動手段を作動させて、蒸着マスクを引っ張るときに、蒸着マスク100に「ねじれ」が生ずることとなる(図8(a)参照)。また、保持部材80によって、蒸着マスクの両端が平行に保持されていない場合、すなわち、保持部材80によって、蒸着マスク100が斜めに傾いた状態で保持されている場合においても、蒸着マスクを引っ張ることで、当該蒸着マスク100に「ねじれ」が生ずる(図9(a)参照)。
 上記準備工程で準備される蒸着マスク100を構成する樹脂マスク20は、樹脂材料から構成されていることから高精細な開口部25を形成することができる利点を有する一方で、外部からかかる応力等によって開口部25の寸法に変動が生じやすい問題点を有する。そして、引張工程において、蒸着マスク100に「ねじれ」が生じた場合には、樹脂マスク20に形成がされている開口部25の寸法に変動が生じやすく、フレーム付き蒸着マスクを用いて高精細な蒸着パターンを形成する際の妨げとなる。
 一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、引っ張られた蒸着マスク100に対して、又は蒸着マスク100を引っ張るとともに、蒸着マスク100の回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行うことで、蒸着マスクを引っ張ることによって生じ得る「ねじれ」を抑制している。一例としてのフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、上記第1回転機構、第2回転機構、移動機構の少なくとも一つを備える保持部材80によって、蒸着マスクの一部を保持し、当該保持部材80によって保持されている蒸着マスク100をその外方に向かって引っ張っている。この例によれば、保持部材80が備える機構の働きにより、蒸着マスクに生じ得る「ねじれ」を抑制した状態で、蒸着マスクを引っ張ることが可能となる。具体的には、本工程において、保持部材80は、引っ張られた蒸着マスク100に対して、又は蒸着マスク100を引っ張るとともに、蒸着マスク100の回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行うことで、蒸着マスクを引っ張ることによって生じ得る「ねじれ」を抑制している。以下、上記第1回転機構、第2回転機構、移動機構を総称して、「本発明における機構」と言う場合がある。また、本願明細書で言う「回転調整」とは、第1回転機構、或いは第2回転機構を用いて蒸着マスクを回転させることで上記「ねじれ」を抑制する調整を意味し、「移動調整」とは、上記移動機構を用いて蒸着マスクを移動させることで上記「ねじれ」を抑制する調整を意味する。
 図10は、第1回転機構を備える保持部材80により、保持部材80を回転させた状態を示す斜視図である。図示する形態では、蒸着マスク100の面と直交する第1の回転軸(L1)を軸として、保持部材80が矢印の方向に回転する構成をとる。図11は、第2回転機構を備える保持部材80により、保持部材80を回転させた状態を示す斜視図である。図示する形態では、蒸着マスク100の面と平行する第2の回転軸(L2)を軸として、保持部材80が矢印の方向に回転する構成をとる。図12は、移動機構を備える保持部材80により、保持部材80を移動させた状態を示す斜視図である。図示する形態では、蒸着マスクを引っ張る方向に直交する方向(L3方向)に移動可能な構成をとる。図10~図12では、蒸着マスク100における開口部25、及びスリット15を省略して記載している。
 第1の回転軸、第2の回転軸は、図示する形態に限定されるものではなく、上記で説明したように、蒸着マスクの面と交差する軸が第1の回転軸となっており、蒸着マスクの面と交差しない軸が第2の回転軸となっていればよい。なお、図10~図12は、保持部材が備える機構の好ましい形態である。
 好ましい形態の保持部材は、蒸着マスクの面と直交する軸を第1の回転軸とし、蒸着マスクの面と平行する軸を第2の回転軸とし、蒸着マスクを引っ張る方向に直交する方向を、移動方向としているが、本願明細書において、蒸着マスク100の面と直交するとある記載、蒸着マスクを引っ張る方向に直交するとある記載は、蒸着マスクの面や、蒸着マスクを引っ張る方向に対して、必ずしも90°の角度を意味するものではなく、本発明の作用効果を奏する範囲での角度も許容されるものとする。つまりは、蒸着マスクの「ねじれ」を抑制することができる程度に、蒸着マスクを回転させることができる角度であればよく、蒸着マスクの面や、蒸着マスクを引っ張る方向に対して直交する成分を含むものであればよい。また、蒸着マスクの面と平行とある記載は、蒸着マスクの面に対して、必ずしも0°の角度を意味するものではなく、本発明の作用効果を奏する範囲での角度も許容されるものとする。つまりは、蒸着マスクの「ねじれ」を抑制することができる程度に、蒸着マスクを移動させることができる角度であればよく、蒸着マスクの面に対して平行する成分を含むものであればよい。
 一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、蒸着マスクの一部を保持している保持部材が、上記「本発明における機構」のうちの少なくとも一つの機構を備えていることを必須の条件とするものであるが、好ましい形態としては、蒸着マスクの対向する2辺が、独立した保持部材80によって保持されており、(i)蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する保持部材80が、第1回転機構、第2回転機構の何れか一方、又は双方を備え、他の一辺を保持する保持部材80が移動機構を備える形態、(ii)蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する保持部材80が、第1回転機構、第2回転機構の何れか一方、又は双方と、移動機構を備える形態等を挙げることができる。(ii)に示す形態では、蒸着マスクの他の一辺を保持する保持部材80は、上記「本発明における機構」を備えていることを必ずしも要しない。(i)、(ii)に示す形態は、引張工程において蒸着マスクに生じ得る「ねじれ」を万能に抑制することができる点で好ましい形態である。換言すれば、蒸着マスクを引っ張る時に、いかなる方向に「ねじれ」が生じた場合であっても、この「ねじれ」を解消することができる。また、「ねじれ」は、第1回転機構を備える保持部材により抑制することができる場合が多く、したがって、回転機構としては、第1回転機構を備える保持部材とすることが好ましい。以下、引張工程において生じ得る「ねじれ」の抑制について、上記「本発明における機構」を備える保持部材の一例を挙げて説明する。
 図8(a)、図9(a)では、蒸着マスク100を引っ張ることにより当該蒸着マスク100に「ねじれ」が生じているものの、図8で示される保持部材80aに移動機構を付与し、保持部材80bに第1回転機構を付与し、保持部材80aを矢印の方向に移動させ、保持部材80bを矢印の方向に回転させることで、また、図9で示される保持部材80aに移動機構を付与し、保持部材80aを矢印の方向に移動させることで、図8(b)、図9(b)に示すように「ねじれ」を抑制した状態で蒸着マスク100を引っ張ることができる。
 引張工程において、保持部材80は、蒸着マスクの一部を保持して、当該蒸着マスク100をその外方に向かって引っ張り、蒸着マスクを引っ張るとともに、或いは、引っ張った後に、保持部材80が備える上記「本発明における機構」によって、蒸着マスク100の回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行っている。そして、この調整によって、蒸着マスク100を引っ張ることによって生じ得る「ねじれ」が抑制される。以下、「ねじれ」を抑制することができるより具体的な実施形態について一例を挙げて説明するが、本発明は、この形態に限定されるものではない。
 図13は、蒸着マスク100を引っ張り、当該引っ張られた状態の蒸着マスク100をフレーム60上に固定する際の状態を示す上面図である。図示する形態では、「本発明における機構」を備える保持部材80は、保持部材支持用フレーム90上に設けられている。「本発明における機構」を備える保持部材80は、保持部材支持用フレーム90に対して回転及び/又は移動可能となっている。
 蒸着マスクを引っ張りつつ「ねじれ」を抑制することができる実施形態としては、保持部材80に、ベアリング(玉軸受)等の回転対偶、直進対偶、すべり対偶等を設置し、引張工程において蒸着マスクが受けた力(張力)に倣って受動的に保持部材80を回転させる形態を挙げることができる。これらの形態によれば、受動的に保持部材80が、移動、回転等し、その結果、「ねじれ」を抑制しつつ蒸着マスクを引っ張ることができる。
 図14(a)は、回転対偶が設けられた保持部材80によって、蒸着マスク100を引っ張りつつ、「ねじれ」を抑制した状態を示す部分拡大上面図であり、図14(b)は、図14(a)の正面図である。図14に示す形態では、回転対偶が設けられた保持部材80によって、当該保持部材80は、蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として、例えば、蒸着マスク100の面と直交する第1の回転軸を軸として(図示する形態では、回転対偶が設けられた保持部材80と直交する回転軸を軸として)回転可能となっている。図14(a)における破線で閉じられた領域は、それぞれ「ねじれ」の抑制がされていないとしたときの蒸着マスク、及び回転前の保持部材である。また、直進対偶を用いることで、保持部材80を移動可能とすることができる。
 蒸着マスクを引っ張った後に「ねじれ」を抑制する実施形態としては、蒸着マスク100を引っ張ることによって生じた「ねじれ」を機械的に制御する形態を挙げることができる。例えば、トルクセンサ等(図示しない)を介して、保持部材80とモーター等の制御手段を接続し、蒸着マスクを引っ張ったときの「ねじれ」によって生じる保持部材80のトルクをトルクセンサ等で検出し、トルクが0となるように保持部材80の移動量(距離)や回転角度をモーター等の制御手段制御することで、蒸着マスク100を引っ張る時に生じた「ねじれ」を抑制することができる。換言すれば、蒸着マスク100を引っ張ることによって生じた「ねじれ」を能動的に制御し、その結果、「ねじれ」を抑制することができる。この形態では、モーター等の制御手段が設けられた保持部材80と直交する回転軸を軸として当該制御手段が設けられた保持部材80が回転する。
 また、蒸着マスク100を引っ張りつつ「ねじれ」を抑制する形態と、蒸着マスクを引っ張った後に「ねじれ」を抑制する形態を組合せることもできる。また、図15に示すように、保持部材支持用フレーム90上に、各種の機構(図示する形態では、移動機構、第2回転機構、第1回転機構)を積み重ね、当該機構を保持部材と固定することで、任意の機構の組合せとすることもできる。例えば、第1回転機構として、上記回転対偶を用い、第2回転機構、及び移動機構として、モーター等の制御手段を用いることで、蒸着マスクを引っ張ったときに生じる「ねじれ」を、第1回転機構により受動的に抑制しつつ、第2回転機構、及び移動機構により能動的に抑制することができる。また、図15に示す形態において、第1回転機構と保持部材80との間に、上記で説明したトルクセンサ等を設けてもよい。
 図16に示す形態は、保持部材80がゴニオステージと固定されており、保持部材支持用フレーム90に固定されているウォームギアの軸を回転させることで、当該ゴニオステージを備えない保持部材80と直交する回転軸を軸として、ゴニオステージを揺動(移動)させ、保持部材80に保持されている蒸着マスク100の「ねじれ」を抑制している。具体的には、トルクセンサ等を用いて、蒸着マスクを引っ張ったときの「ねじれ」によって生じる保持部材80のトルクをトルクセンサ等で検出し、トルクが0となるようにウォームギアの軸を回転させてゴニオステージの揺動(移動)を制御することで、蒸着マスクの「ねじれ」を抑制することができる。
 保持部材80を駆動させるための駆動手段について特に限定はなく、例えば、モーターや、エアシリンダ等を挙げることができる。駆動手段85は、「本発明における機構」による機構を干渉しない位置において保持部材80と接続されており、当該駆動手段を駆動させることで、保持部材80を駆動し、蒸着マスク100の引っ張りが行われる。
 図17は、保持部材80に保持された蒸着マスク100に張力をかけた状態を示す平面図であり、(a)では、縦方向外方に張力をかけることで、(b)では、縦方向、及び横方向の外方に張力をかけることで、蒸着マスクの引っ張りが行われている。張力をかける方向は図示する形態に限定されるものではなく、横方向外方に張力をかけてもよい。また、これ以外の方向、例えば、斜め方向に張力をかけてもよい。また、図17(a)では、縦方向の外方にむかって、双方の保持部材80を駆動させているが、何れか一方の保持部材80のみを駆動させてもよい。なお、この場合においても、外方に向かって駆動する保持部材80、外方に向かって駆動しない保持部材80の何れか一方の保持部材80が、上記「本発明における機構」を備えていればよい。
 図17に示す形態では、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を、1つの保持部材80で保持しているが、図18に示すように、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を複数の保持部材80で保持してもよい(図示する形態では、対向する2辺の双方の辺を複数の保持部材で保持している)。この構成とすることで、左右、中央それぞれの場所において「ねじれ」を解消することができ、蒸着マスク全体の「ねじれ」をより効果的に抑制することができる。蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を複数の保持部材80で保持する場合には、当該一辺を保持している全ての保持部材が、上記「本発明における機構」を備えていることが好ましい。特には、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持している全ての保持部材のそれぞれが、第1回転機構、第2回転機構、移動機構の全ての機構を備える、或いは、一辺を保持している全ての保持部材のそれぞれが、第1回転機構と、移動機構を備えていることが好ましい。また、図示するように、蒸着マスクの対向する2辺の双方の辺を複数の保持部材で保持してもよい。
 蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を複数の保持部材で保持する場合には、(A)図18に示すように、当該複数の保持部材ごとに駆動手段85を連結させ、各保持部材に連結されている駆動手段をそれぞれ駆動させて、蒸着マスクを引っ張ってもよく、(B)複数の保持部材を一つの駆動手段と連結させ(図示しない)、当該一つの駆動手段を駆動させて、蒸着マスクを引っ張ってもよい。
 上記(A)の形態をとる場合には、蒸着マスクを引っ張る際の引張量を保持部材ごとに制御することができ、「ねじれ」の抑制をより効果的に行うことができる。なお、図18に示す形態では、保持部材のそれぞれは、対応する駆動手段によって個別に制御されることから、複数の保持部材のうちの一つの保持部材によって、他の保持部材の動きが規制されることはない。従って、上記(A)の形態をとる場合には、複数の保持部材のそれぞれが備える機構は、同一の機構であってもよく、異なる機構であってもよい。例えば、図18に示す形態においては、複数の保持部材のうちの一つの保持部材が「移動機構」を備え、他の保持部材が「第1回転機構」及び「第2回転機構」の何れか一方、又は双方を備えるものであってもよい。なお、このことは、保持部材のそれぞれが異なる機構を備えていることを必須の条件とするものではなく、上記(A)の形態において、蒸着マスクの一辺を保持する全ての保持部材が、同一の機構を有していてもよい。例えば、全ての保持部材が、第1回転機構、第2回転機構、移動機構の全ての機構を備える、或いは、全ての保持部材のそれぞれが、第1回転機構と、移動機構を備えていてもよい。また、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する保持部材80が上記(A)の形態をとる場合において、蒸着マスクの対向する2辺のうちの他の一辺を保持する保持部材80は、「本発明における機構」を備えていなくともよいが、図18に示すように、上記(A)の形態を有していることが好ましい。
 一方、上記(B)の形態をとる場合には、複数の保持部材は一つの駆動手段によって同時に駆動することとなる。したがって、複数の保持部材のそれぞれが異なる機構を備える場合には、複数の保持部材のうちの一つの保持部材が、他の保持部材の動きを妨げてしまう虞が生じ得る。この点を考慮すると、上記(B)の形態をとる場合には、複数の保持部材のすべてが、同じ機構を備えていることが好ましい。例えば、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する全ての保持部材が、第1回転機構、第2回転機構、移動機構の全ての機構を備える、或いは、全ての保持部材のそれぞれが、第1回転機構と、移動機構を備えていることが好ましい。また、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する保持部材80が上記(B)の形態をとる場合において、蒸着マスクの対向する2辺のうちの他の一辺を保持する保持部材80は、「本発明における機構」を備えていなくともよいが、蒸着マスクの対向する2辺のうちの一辺を保持する保持部材80と、他の一辺を保持する保持部材80は、それぞれ、同一の機構を備えていることが好ましい。
 上記では、蒸着マスクを平面視したときの形状が、矩形状である場合を例に挙げて、蒸着マスクの対向する2辺を、保持部材80によって保持する形態について説明を行っているが、平面視したときの形状が、矩形状以外の蒸着マスクを用いる場合には、上記蒸着マスクの対向する2辺とある記載を、蒸着マスクの外周のうちの任意の2箇所と読み替え、対向する2辺のうちの一辺とある記載を、任意の2箇所のうちの1箇所と読み替え、対向する2辺のうちの他の一辺とある記載を、任意の2箇所のうちの他の1箇所と読み替えればよい。任意の2箇所について特に限定はないが、蒸着マスクを平面視したときの略中心を通る直線と、蒸着マスクの外周とが交わる部分とすることが好ましい。
 以上説明した引張工程によれば、蒸着マスクを引っ張るとともに、或いは、引っ張った後に当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整の何れか一方、または双方が行われることから、蒸着マスクの「ねじれ」の発生を抑制することができる。具体的には、「本発明における機構」を備える保持部材80を用いて引張工程を行うことで、「ねじれ」を抑制した状態で蒸着マスク100を引っ張ることができる。
 上記で説明した保持部材80が、蒸着マスク100が受けた力に倣って受動的に回転、或いは移動する形態をとる場合には、引張工程後に、保持部材80により保持されている蒸着マスク100を移動させたとき、例えば、フレーム60上に蒸着マスク100を載置すべく保持部材80により保持されている蒸着マスク100を移動させたときや、蒸着マスク100とフレーム60との位置合せを行うべく保持部材80により保持されている蒸着マスク100を移動させたときに、当該移動する際の力に倣って保持部材80が受動的に回転、或いは移動してしまい、上記引張工程において「ねじれ」が抑制された蒸着マスク100の状態を維持することができない場合がある。
 このような点を考慮すると、引張工程後に、「ねじれ」の抑制が行われた蒸着マスクの状態を維持するべく、回転調整、移動調整の何れかが行われた蒸着マスクの状態を保持部材80によってロックすることが好ましい。つまりは、引張工程において、回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われた蒸着マスクを、当該調整後の状態を維持するようにロックするロック工程を更に含んでいることが好ましい。一例としてのフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、ロック工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、ロックされた蒸着マスク100の固定が行われる。保持部材80をロックすることで、引張工程終了後に、保持部材80により保持されている蒸着マスク100を移動等させた場合であっても、「ねじれ」が抑制された状態をそのまま維持することができ、「ねじれ」が抑制された蒸着マスク100に変動が生ずることを防止することができる。ロック機構について特に限定はなく、その外方への引っ張りが行われ、且つ「回転調整」、或いは「移動調整」が行われた蒸着マスクの状態を維持することができる機構であればよい。つまりは、引張工程後に、蒸着マスク100が回転、或いは移動しない機構であればよい。ロック機構は、保持部材80自体が有しない外部機構であってもよく、保持部材80自体が有する内部機構であってもよい。
 外部機構としては、保持部材80に対して応力をかけることができる機構、例えば、保持部材80に外部から応力をかけて、引張工程後において、蒸着マスクが回転、或いは移動してしまうこと抑える機構を挙げることができる。要約すれば、外部から応力をかけることで、保持部材80が備える第1回転機構、第2回転機構、或いは移動機構を無効化する機構である。このような機構としては、例えば、エアシリンダやモーター等を挙げることができ、エアシリンダやモーター等を利用して、保持部材80に対して垂直方向の応力をかけることで、保持部材80による第1回転機構、第2回転機構、或いは移動機構を無効化、すなわち、蒸着マスクが引張工程後において、回転、移動することを抑えることができる。
 内部機構としては、上記で例示したモーター等の制御手段で、蒸着マスク100の移動量や回転角度を制御可能な保持部材80を挙げることができる。換言すれば、能動的に、蒸着マスク100の移動量や回転角度を制御可能な保持部材80を挙げることができる。このような保持部材80によれば、引張工程後において、蒸着マスクが回転、或いは移動してしまうことを機械的に制御することができる。
 フレーム60への蒸着マスク100の固定は、フレーム60と蒸着マスク100とが接した状態で、換言すれば、フレーム60上に蒸着マスク100を載置した状態で行われることから、後述するように、蒸着マスク100と固定されるフレーム60として、補強フレーム65が設けられたフレーム60(図21参照)を用いる場合には、補強フレーム60と蒸着マスク100とが接することとなる。引張工程において「ねじれ」が抑制された蒸着マスク100を、フレーム60上に載置したときに、補強フレーム65と蒸着マスク100とが接した場合には、当該接した箇所において、蒸着マスク100に歪が生じ、蒸着マスク100の樹脂マスク20に設けられている開口部25の寸法に変動が生ずる場合がある。また、フレーム60上に蒸着マスク100を載置した状態で、後述する位置合せ工程を行う場合においても、位置合せの段階で、蒸着マスク100に歪が生ずる場合がある。また、フレーム60上に蒸着マスク100を載置した状態で、上記引張工程を行った場合には、蒸着マスクの「ねじれ」を抑制することは可能となるものの、フレーム60と蒸着マスク100とが接する箇所において、蒸着マスク100に歪が生ずる場合がある。
 そこで、好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、フレーム60と蒸着マスク100とが接することにより生ずる蒸着マスク100の歪を解放すべく、フレーム60上に蒸着マスク100を載置する第1載置工程と、第1載置工程後に、フレーム60から蒸着マスク100を離隔する離隔工程と、離隔工程後に、フレーム60上に蒸着マスク100を再び載置する第2載置工程をさらに含んでおり、第2載置工程後に、固定工程が行われることを特徴としている。第1載置工程、隔離工程、第2載置工程をさらに含む一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法によれば、フレーム60上に蒸着マスク100を載置する1回目の載置工程において蒸着マスクに生じ得る歪を、隔離工程によって解放し、歪が解放された蒸着マスク100を、フレーム60上に再び載置する(第2載置工程)ことで、後述する固定工程において、歪が解放された蒸着マスクをフレーム60上に固定することができる。要約すれば、好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、第1載置工程において、フレーム60と蒸着マスク100とが接することで蒸着マスク100に生じ得る歪を、離隔工程によって解放している点にある。なお、上記で説明した引張工程は、第1載置工程の前、第1載置工程と離隔工程の間、離隔工程と第2載置工程の間、或いは、第2載置工程の後のいずれの段階で行ってもよいが、蒸着マスクに生じ得る歪の解放が行われる離隔工程の前に行うことが好ましい。換言すれば、上記の引張工程は、第1載置工程の前、或いは、第1載置工程と離隔工程の間に行うことが好ましい。これは、離隔工程後に、引張工程を行った場合には、歪が解放された蒸着マスクの状態に変動が生じやすいことによる。
 上記の第1載置工程、離隔工程、第2載置工程を含むフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、第1載置工程により、フレーム60上に蒸着マスク100を載置した状態で、蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25を、蒸着作成するパターンに対応する位置に合わせる場合に特に好適である。つまり、第1載置工程と離隔工程との工程間に位置合わせを行う場合に好適である。これは、フレーム60上に蒸着マスク100を載置した状態で位置合せを行う場合には、蒸着マスク100に歪が生じやすいことによる。以下、蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25を、蒸着作成するパターンに対応する位置に合わせる位置合わせ工程について説明する。
 <位置合せ工程>
 位置合せ工程は、本発明のフレーム付き蒸着マスクの製造方法における任意の工程であり、蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25を、蒸着作成するパターンに対応する位置に合わせる工程である。つまりは、蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25が、蒸着作成するパターンに対応する位置に合うように、フレーム60に対する蒸着マスク100の位置座標を決定する工程である。位置合せ工程を行うことで、蒸着対象物に位置精度よく蒸着パターンを作製することができるフレーム付き蒸着マスクを得ることができる。
 蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25を、蒸着作成するパターンに対応する位置に合わせる方法について特に限定はなく、従来公知の位置合わせ方法等を適宜選択して用いることができる。例えば、フレーム60に、樹脂マスク20に形成されている開口部25を蒸着作成するパターンに対応する位置に合わせるための基準板を組み込み、当該基準板や、蒸着マスクに設けられているアライメントマーク等を用い、蒸着マスクの位置座標を決定する方法を挙げることができる。フレーム60に基準板を組み込むことにかえて、フレーム上に載置された蒸着マスクの上方に、当該蒸着マスクと接しないように基準板を位置させてもよい。また、基準板を用いずに、蒸着マスク100の樹脂マスク20に形成されている開口部25の座標等を利用して、蒸着マスクの位置座標を決定することもできる。蒸着マスクの位置座標を決定するための蒸着マスク100、フレーム60等の移動方法については、従来公知の移動手段(駆動手段)を適宜選択して用いることができる。例えば、蒸着マスクを保持する保持部材80や、フレーム60を面内方向に移動させる駆動ステージを設け、モーター(電動)やマイクロメーター(手動)により、蒸着マスクの位置座標を調整することができる。
 本実施形態では、第2載置工程において、フレーム60上に蒸着マスク100が再び載置されることから、結果的に、フレーム60と蒸着マスク100とは接することとなるが、第1載置工程により蒸着マスク100に生じている歪を、離隔工程により解放することで、隔離工程、及び第2載置工程を含まない製造方法でフレーム付き蒸着マスクを製造する場合よりも、蒸着マスク100の樹脂マスク20の開口部25の寸法変動を抑えたフレーム付き蒸着マスクを製造することができる。また、第2載置工程後に、蒸着マスクに依然として歪が生じている場合には、離隔工程、第2載置工程を繰り返し行えばよい。
 フレーム60と蒸着マスク100とを離隔させる方法について特に限定はなく、例えば、蒸着マスク100を保持している保持部材80に移動機構、例えば、垂直移動機構を付与し、当該保持部材80を、蒸着マスクの面と交差する方向、例えば、略直交する方向に駆動させることでフレーム60と蒸着マスク100とを離隔させることができる。また、フレーム60を駆動させる駆動ステージ(図示しない)に移動機構、例えば、垂直移動機構を付与し、当該駆動ステージを蒸着マスクの面と交差する方向、例えば、略直交する方向に駆動させることでフレーム60と蒸着マスク100とを離隔させることもできる。なお、保持部材80を駆動させる場合には、蒸着マスク100を保持している一対の保持部材80を同時に駆動させる必要があり、また、当該駆動によって、蒸着マスク100に歪や、「ねじれ」が生ずる可能性もあることから、蒸着マスク100に歪や、「ねじれ」を生じさせることのない駆動ステージを用いて、フレーム60と蒸着マスク100とを離隔させることが好ましい。
 上記では、第1載置工程と離隔工程との工程間に位置合わせ工程を行う例を中心に説明を行ったが、位置合わせ工程は、第1載置工程の前に行ってもよく、離隔工程と第2載置工程との間に行ってもよく、第2載置工程後に行ってもよい。なお、離隔工程の後に、位置合わせ工程を行った場合には、離隔工程によって歪が解放された蒸着マスクの状態に変動が生じやすい。この点を考慮すると、位置合わせ工程は、離隔工程の前、つまりは、第1載置工程の前、或いは、第1載置工程と離隔工程の間に行うことが好ましい。また、位置合わせ工程を行うことを特段要しない場合には、位置合せ工程を行うことなく、第1載置工程で蒸着マスクに生じ得る歪を、上記離隔工程、第2載置工程によって解放することもできる。このことは、後述する精密調整工程についても同様である。
 上記好ましい形態では、離隔工程により、第1載置工程において蒸着マスク100に生じ得る歪を解放しているが、物理的な手段を用いて、歪によって蒸着マスク100の樹脂マスク20に設けられた開口部25の寸法変動や、形状変動の修正を行ってもよい。ここでいう、寸法変動とは、開口部の位置座標変動や、開口部の寸法変動を含む概念である。
 他の好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、図24に示すように、引張工程後に、フレーム60上に引っ張られた状態の蒸着マスク100を載置し、フレーム60上に載置された引っ張られた状態の蒸着マスク100の一方の面上に補助部材50を重ね、蒸着マスク100の一方の面と補助部材50とが重なる部分の少なくとも一部において、蒸着マスク100に補助部材50を固定し、当該補助部材を引っ張ることで当該蒸着マスクを精密調整する精密調整工程をさらに含み、精密調整工程後に、固定工程が行われる。他の好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法によれば、補助部材50を用いた物理的手段により、開口部25の寸法変動や、形状変動の修正を行うことができ、開口部25の寸法精度を高く維持した状態で、当該開口部25が設けられた樹脂マスク20を備える蒸着マスク100を、フレーム60に固定することができる。
 図24(a)、(b)は、蒸着マスク100を樹脂マスク20側から見た図であり、フレーム60の記載は省略している。図24(a)では、符号Aで示される箇所において、蒸着マスク100とフレーム60とが接すること等に起因して、開口部25の形状、或いは寸法に変動が生じている状態を示している。
 また、図24(a)では、蒸着マスク100の樹脂マスク20側の面と補助部材50とが重なる部分の少なくとも一部において、蒸着マスク100に補助部材50を固定されている。そして、補助部材50を矢印の方向に引っ張ることで、図24(b)に示すように、樹脂マスク20の開口部25の寸法変動、或いは形状変動が抑制された蒸着マスク100とすることができる。
 本実施形態は、離隔工程によって、歪を解放するのではなく、歪によって生ずる開口部25の寸法や、形状の変動を、物理的手段、例えば、上記の補助部材50を用いた精密調整によって解消していることを特徴とする点で、上記第1載置工程、離隔工程、第2載置工程を含むフレーム付き蒸着マスクの製造方法と相違する。何れの形態であっても、後述する固定工程において、開口部25の寸法精度を高く維持した状態で、当該開口部25が設けられた樹脂マスク20を備える蒸着マスク100をフレーム60に固定することができる。
 また、本実施形態においても、精密調整工程の前、或いは後において、上記で説明した位置合わせ工程を行うこともできる。なお、位置合わせ工程において蒸着マスクに生じ得る歪を、精密調整工程によって解放することができる点からは、精密調整工程の前に位置合わせ工程を行うことが好ましい。また、上記で説明した第1載置工程/離隔工程/第2載置工程と、精密調整工程を組み合わせて用いることもできる。これらの工程を組み合わせることで、フレーム60と蒸着マスク100とが接することで生じ得る歪を、より効果的に解消することができる。なお、精密調整工程は、第1載置工程の前、第2載置工程の後、或いは、第1載置工程と第2載置工程の何れかの工程間に行えばよい。なお、精密調整工程により、開口部の位置座標変動や、開口部の寸法変動を解消できる点からは、固定工程の直前に精密調整工程を行うことが好ましい。
 図25(a)~(c)に示すように、好ましい形態の保持部材80は、その表面に凸部82を有している。具体的には、好ましい形態の保持部材80は、本体部81と、凸部82とから構成され、蒸着マスク100の一部を保持部材80によって保持したときに、凸部82の先端部分が蒸着マスク100と接する。好ましい形態の保持部材80によれば、蒸着マスク100と保持部材80との接触面積を小さくすることができ、保持部材80によって蒸着マスク100を保持したときに、蒸着マスクに生じ得る皺等の発生を抑制することができる。図25(a)~(c)は、保持部材80によって蒸着マスク100を保持している状態を示す部分概略断面図である。
 凸部82の先端部分の形状について特に限定はないが、図25(a)に示すように、先端部分の形状がR形状、換言すれば、先端部分の形状が曲率を有する形状となっていることが好ましい。曲率の向きに制限はなく、先端部分のR形状は保持部材の長手方向に曲率を有していてもよく、短手方向に有していてもよい。あるいは、半球状のように曲率を有していてもよい。先端部分がR形状となっている凸部82によれば、蒸着マスク100と保持部材80との接触面積をさらに小さくしつつも、凸部82によって、蒸着マスク100の樹脂マスク20が受けるダメージを抑制することができる。図25(d)に示すように、凸部82は、保持部材80の長手方向、或いは短手方向に延びるようにして配されていてもよく、図25(e)、(f)に示すように、保持部材80の本体部81の長手方向、或いは短手方向に所定の間隔をあけて複数配されていてもよい。図25(d)~(f)は、その表面に凸部を有する保持部材80を、凸部82側から平面視したときの一例を示す図である。
 凸部82の材料についても特に限定はなく、従来公知の金属材料や、樹脂材料などを適宜選択して用いることができるが、凸部82により、蒸着マスク100と保持部材80との接触面積を小さくすることで、保持部材80による蒸着マスク100の保持力は低下していく傾向にある。この点を考慮すると、凸部82は、保持力の高い材料、換言すれば、グリップ性の高い材料から構成されていることが好ましい。グリップ性の高い材料としては、上記樹脂マスクの材料として例示したものや、これ以外の従来公知の樹脂などを挙げることができる。中でも高弾性材料、例えば、弾性ゴムから構成される凸部82は、蒸着マスク100と保持部材80とのグリップ性を、より高くすることができる点で好ましい。なお、本体部81は、蒸着マスク100と直接的に接しないことから、金属材料、樹脂材料、或いはこれ以外の材料等いかなる材料であってもよい。
 図示する形態では、蒸着マスク100の一方の面(図示する形態では上面)と接する側の保持部材80のみが凸部82を有しており、蒸着マスク100の他方の面(図示する形態では下面)と接する側の保持部材80は凸部82を有していないが、蒸着マスク100の他方の面と接する側の保持部材80も凸部82を有していてもよい。また、蒸着マスク100の他方の面と接する側の保持部材80のみが凸部82を有していてもよい。
 <固定工程>
 固定工程は、図19、図20に示すように貫通孔が形成されたフレーム60に、当該フレーム60のフレーム部分と、引張工程において引っ張られた状態の蒸着マスクの金属マスク10とが対向するように重ね合わせ、引張工程において引っ張られた状態の蒸着マスク100をフレーム60に固定する工程である。フレーム60と蒸着マスク100との固定は、フレーム60と、蒸着マスクの金属部分とが接する位置について行われ、その位置について特に限定はない(図19、図20における「固定位置」参照)。図19は、フレーム60に一つの蒸着マスクが固定されたフレーム付き蒸着マスクを、樹脂マスク側から見た上面図である。図20は、フレーム60に複数の蒸着マスク100が固定されたフレーム付き蒸着マスク200を、樹脂マスク側から見た上面図である。なお、図示する形態では、蒸着マスク100の端部は、フレームの端部から外方に突出しており、当該突出した部分が、保持部材80によって保持されている。
 (フレーム)
 フレーム60は、略矩形形状の枠部材であり、最終的に固定される蒸着マスク100の樹脂マスク20に設けられた開口部25を蒸着源側に露出させるための貫通孔を有する。フレームの材料について特に限定はないが、剛性が大きい金属材料、例えば、SUSや、インバー材などが好適である。セラミック材料などを用いることができる。中でも、金属フレームは、蒸着マスクの金属マスクとの固定を溶接等により容易に行うことができ、変形等の影響が小さい点で好ましい。
 フレーム60の厚みについても特に限定はないが、剛性等の点から10mm~30mm程度であることが好ましい。フレームの開口の内周端面と、フレームの外周端面間の幅は、当該フレームと、蒸着マスクの金属マスクとを固定することができる幅であれば特に限定はなく、例えば、10mm~70mm程度の幅を例示することができる。
 また、図21(a)~(c)に示すように、蒸着マスク100を構成する樹脂マスク20の開口部25の露出を妨げない範囲で、貫通孔の領域に補強フレーム65等が設けられたフレーム60を用いてもよい。補強フレーム65を設けることで、当該補強フレーム65を利用して、フレーム60と蒸着マスク100とを固定することができる。
 固定方法について特に限定はなく、レーザー溶接、アーク溶接、電気抵抗溶接、電子ビーム溶接法などの従来公知の各種溶接法や、接着剤、ねじ止め等を用いて、フレーム60に蒸着マスク100を固定することができる。フレームへ蒸着マスクの固定した後に、フレームから突出している部分の蒸着マスクを切断することで、図22、図23に示すように、フレームに蒸着マスクが固定されてなるフレーム付き蒸着マスク200を得る。図22は、図19に示される蒸着マスク100をフレーム60に固定した後、突出している部分を切断することで得られたフレーム付き蒸着マスク200の一例を示す上面図であり、樹脂マスク側から見た図である。図23は、図20に示される蒸着マスク100を、それぞれフレーム60に固定した後、突出している部分を切断することで得られたフレーム付き蒸着マスク200の一例を示す上面図であり、樹脂マスク側から見た図である。
 上記一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、蒸着マスクを引っ張った状態で、つまりは、蒸着マスクに張力を加えた状態で、フレーム60への蒸着マスクの固定が行われる。ここで、固定工程が終了した後の蒸着マスク100に着目すると、蒸着マスク100には、引張工程において蒸着マスクを引っ張る方向とは反対の方向に、張力に対応する反力が生じており、この反力が大きい場合には、フレームに固定された蒸着マスクに歪が生ずる等の問題を引き起こす場合がある。
 そこで、好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法では、固定後の蒸着マスク100に生じ得る反力を考慮して、フレーム60への蒸着マスクの固定が行われる。具体的には、固定後の蒸着マスク100に生じ得る反力が打ち消されるようにして、フレーム60への蒸着マスク100の固定が行われる。より具体的には、固定工程後に蒸着マスク100に生じ得る反力を考慮し、フレーム60に、当該反力に対応する圧縮応力をかけた状態でフレームへの蒸着マスクの固定が行われる。この形態によれば、固定工程後に、フレームに加えられた圧縮応力を解放することで、蒸着マスク100に生じ得る反力を打ち消すことができ、蒸着マスクに生じ得る反力によって、フレームに固定された蒸着マスクに歪等が生ずることを抑制することができる。なお、固定後の蒸着マスク100に生じ得る反力とは、引張工程において蒸着マスク100に加えられる張力に対応する力である。
 つまり、好ましい形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、固定工程において、フレーム60に圧縮応力を加える工程と、固定工程後に圧縮応力を解放する工程とを更に含む。
 フレーム60にかける圧縮応力は、蒸着マスクに生じ得る反力、すなわち、引張工程において蒸着マスクに加えられる張力を考慮して行えばよい。例えば、フレームに1つの蒸着マスク100を固定してなるフレーム付き蒸着マスクを製造する場合には、当該1つの蒸着マスクに加えられる張力に対応する圧縮応力をフレーム60に加えた状態で、フレーム60に蒸着マスク100を固定すればよい。具体的には、引張工程において蒸着マスクに加えられる張力が「1」であると仮定すると、フレーム60に「1」の圧縮応力を加えた状態でフレーム60に蒸着マスク100を固定すればよい。この方法によれば、固定工程後に、フレームにかけられた圧縮応力を解放することで、蒸着マスクに生ずる反力を打ち消すことができ、反力によってフレーム60に固定された蒸着マスクに歪等が生ずることを抑制することができる。
 次に、フレーム60に複数の蒸着マスクを固定する場合について説明する。フレーム60に複数の蒸着マスク100を固定する場合には、それぞれの蒸着マスク100に生じ得る反力を考慮して、フレーム60に圧縮応力を加え、段階的に圧縮応力を変化させながら、順次フレーム60への蒸着マスク100の固定を行う。具体的には、複数の蒸着マスクの合計の反力から、既にフレームに固定された蒸着マスクの反力を減算し、減算後の反力に対応する圧縮応力を、フレームにかけた状態で固定を行う。
 例えば、3つの蒸着マスクを順次フレーム60に固定していく場合において、各蒸着マスクに加えられる張力、及び各蒸着マスクに生ずる反力を「1」と仮定した場合には、蒸着マスクの合計の反力は「3」となる。
 フレームに蒸着マスクが固定されていない段階、つまり、1つ目の蒸着マスクをフレームに固定するときには、蒸着マスク全体の反力である「3」の圧縮応力をフレーム60にかけた状態で固定を行う。次いで、2つ目の蒸着マスクの固定時においては、蒸着マスク全体の反力である「3」から、既にフレーム60に固定されている1つの蒸着マスク100の反力を減算した圧縮応力、つまりは、「2」の圧縮応力をフレーム60にかけた状態で固定を行う。3つ目の蒸着マスクの固定時においては、蒸着マスク全体の反力である「3」から、既にフレーム60に固定された2つの蒸着マスクの合計の反力を減算した圧縮応力、つまりは、「1」の圧縮応力をフレーム60にかけた状態で固定を行う。そして、全ての蒸着マスクのフレームへの固定が終了した後に、圧縮応力の解放を行う。
 この方法によれば、固定工程後に、フレームにかけられた圧縮応力を解放することで、複数の蒸着マスクのそれぞれに生ずる反力を全て打ち消すことができ、すべての蒸着マスクで、反力によって歪等が生ずることを抑制することができる。
 フレーム60に圧縮応力をかける方法について特に限定はなく、例えば、エアシリンダやモーター等を用いることができる。圧縮応力は、引張工程において蒸着マスクを引っ張る方向と反対の方向、つまりは、反力が生ずる方向と同一の方向に加えればよい。
 以上、本発明のフレーム付き蒸着マスクの製造方法について説明を行ったが、本発明のフレーム付き蒸着マスクの製造方法は、上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を妨げない範囲で、適宜の変更が可能である。例えば、上記では、蒸着マスク100の一部を保持する形態として、蒸着マスク100の対向する2辺を保持部材80により保持する形態を中心に説明を行ったが、蒸着マスク100の全ての辺を保持部材80で保持することもできる。この場合において、蒸着マスク100を保持している保持部材80の少なくとも1つの保持部材が、上記第1回転機構、第2回転機構、及び移動機構の何れかの機構を備えていればよく、2つ以上の保持部材、或いは全ての保持部材80が、上記第1回転機構、第2回転機構、及び移動機構の何れかの機構を備えていてもよい。
 (引張装置)
 次に、本発明の一実施形態の引張装置について説明する。本発明の一実施形態の引張装置は、蒸着マスクを引っ張るための引張装置であって、蒸着マスクの一部を保持する保持部材と、保持部材によって保持された蒸着マスクを引っ張るための引張機構と、を有し、保持部材は、蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、直線移動可能な移動機構のうち少なくとも一つの機構を備えることを特徴としている。
 一例としての引張装置は、蒸着マスクの一部を保持するための保持部材を有し、保持部材は、蒸着マスクの面と直交する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、蒸着マスクの面と平行する第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、蒸着マスクを引っ張る方向に直交する方向に移動可能な移動機構、のうち少なくとも一つの機構を備えることを特徴としている。
 引張装置を構成する保持部材は、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法で説明した保持部材80の各種の形態を適宜選択して用いることができ、ここでの詳細な説明は省略する。また、引張装置で引っ張られる蒸着マスクについても、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法で説明した蒸着マスク100の各種の形態を適宜選択して用いることができ、ここでの詳細な説明は省略する。
 本発明の一実施形態の引張装置によれば、蒸着マスクを引っ張ることで生じ得る「ねじれ」の発生を抑制することができる。
 また、好ましい形態の引張装置は、引張装置を構成する保持部材が、ロック機構を備えている。好ましい形態の引張装置によれば、「ねじれ」の発生をさらに抑制することができる。ロック機構については、上記フレーム付き蒸着マスクの製造方法で説明した通りであり、ここでの詳細な説明は省略する。
 また、好ましい形態の引張装置は、フレームを駆動させるための駆動ステージを有し、駆動ステージは、引張装置の設置面と交差する方向、つまりは、蒸着マスクの面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えている。より好ましくは、蒸着マスクの面と略直交する方向に移動可能な垂直移動機構を備えている。また、他の好ましい形態の引張装置は、保持部材が、引張装置の設置面と交差する方向、つまりは、蒸着マスクの面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えている。より好ましくは、蒸着マスクの面と略直交する方向に移動可能な垂直移動機構を備えている。引張装置の設置面と交差する方向について特に限定はなく適宜設定することができる。また、ここで言う略直交とは、引張装置の設置面に対し、85°~95°の方向を意味し、好ましくは90°である。
 (有機半導体素子の製造装置)
 次に、本発明の一実施形態の有機半導体素子の製造装置(以下、一実施形態の有機半導体素子の製造装置と言う)について説明する。一実施形態の有機半導体素子の製造装置は、有機半導体素子を製造するための従来公知の有機半導体装置に、上記で説明した一実施形態の引張装置が組み込まれていることを特徴としている。一実施形態の有機半導体素子の製造装置に組み込まれている引張装置については、上記一実施形態の引張装置を適宜選択して用いることができ、ここでの詳細な説明は省略する。
 一実施形態の有機半導体素子の製造装置は、一実施形態の引張装置が組み込まれていること以外は、いかなる限定もされることはなく、蒸着マスクを用いた蒸着法により有機半導体素子の蒸着パターンを形成する従来公知の有機半導体素子の製造装置を適宜選択し、これに上記一実施形態の引張装置を組み込めばよい。
 一実施形態の有機半導体素子の製造装置によれば、当該製造装置に組み込まれている引張装置により、「ねじれ」が抑制された状態の蒸着マスクがフレームに固定されてなるフレーム付き蒸着マスクを用いて有機半導体素子を製造することができ、したがって、蒸着マスクに形成された開口部の寸法通りに、高精細なパターンを有する有機半導体素子を形成することができる。
 (有機半導体素子の製造方法)
 次に、本発明の有機半導体素子の製造方法の一実施形態について説明する。本発明の一実施形態の有機半導体素子の製造方法は、フレーム付き蒸着マスクを用いた蒸着法により蒸着パターンを形成する工程を有し、当該有機半導体素子を形成する工程において以下のフレーム付き蒸着マスクが用いられる点に特徴を有する。フレーム付き蒸着マスクを用いた蒸着法についていかなる限定もされることはなく、例えば、反応性スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング、電子ビーム蒸着法等の物理的気相成長法(Physical Vapor Deposition)、熱CVD、プラズマCVD、光CVD法等の化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition)等を挙げることができる。
 フレーム付き蒸着マスクを用いた蒸着法により蒸着パターンを形成する工程を有する一実施形態の有機半導体素子の製造方法は、基板上に電極を形成する電極形成工程、有機層形成工程、対向電極形成工程、封止層形成工程等を有し、各任意の工程においてフレーム付き蒸着マスクを用いた蒸着法により基板上に蒸着パターンが形成される。例えば、有機層形成工程に、フレーム付き蒸着マスクを用いた蒸着法を適用する場合には、基板上に有機層の蒸着パターンが形成される。なお、本発明の有機半導体素子の製造方法は、これらの工程に限定されるものではなく、蒸着法を用いる従来公知の有機半導体素子の任意の工程に適用可能である。
 上記有機半導体素子の一実施形態の製造方法は、フレームに蒸着マスクが固定されたフレーム付き蒸着マスクを用いて蒸着対象物に蒸着パターンを形成する工程を含み、蒸着パターンを形成する工程において用いられるフレーム付き蒸着マスクが、蒸着マスクの一部を保持部材により保持し、保持部材によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張り、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行う引張工程と、引張工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程により得られたフレーム付き蒸着マスクであることを特徴としている。
 一例としての、有機半導体素子の一実施形態の製造方法は、蒸着パターンを形成する工程において、フレームに固定される蒸着マスクが、複数のスリットが形成された金属マスクと当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部が形成された樹脂マスクとが積層されてなる蒸着マスクを準備する準備工程と、準備工程で準備された蒸着マスクの対向する2辺を保持部材により保持し、当該保持部材の少なくとも一つを蒸着マスクの外方に引っ張ることで、当該蒸着マスクを引っ張る引張工程と、蒸着マスクを引っ張った状態で、当該蒸着マスクを貫通孔が形成されたフレームに固定する固定工程と、を含む工程により製造されたフレーム付き蒸着マスクであり、引張工程において、蒸着マスクを保持する保持部材の少なくとも一つが、蒸着マスクの面と直交する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、蒸着マスクの面と平行する第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、蒸着マスクを引っ張る方向に直交する方向に移動可能な移動機構のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材であり、引張工程では、保持部材により、その外方に向かって引っ張られた蒸着マスクに対して、又は蒸着マスクをその外方に向かって引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われることを特徴とする。
 つまり、有機半導体素子の製造方法において用いられるフレーム付き蒸着マスクが、上記で説明した本発明の一実施形態のフレーム付き蒸着マスクの製造方法で製造されるフレーム付き蒸着マスクである点を特徴とする。この特徴のフレーム付き蒸着マスクによれば、フレームに、「ねじれ」が抑制された状態で蒸着マスクが固定されていることから、蒸着マスクに形成された開口部の寸法通りに、高精細なパターンを有する有機半導体素子を形成することができる。本発明の製造方法で製造される有機半導体素子としては、例えば、有機EL素子の有機層、発光層や、カソード電極等を挙げることができる。特に、本発明の有機半導体素子の製造方法は、高精細なパターン精度が要求される有機EL素子のR、G、B発光層の製造に好適に用いることができる。
10…金属マスク
15…スリット
20…樹脂マスク
25…開口部
60…フレーム
80…保持部材
81…本体部
82…凸部
85…駆動手段
90…保持部材支持用フレーム
100…蒸着マスク
200…フレーム付き蒸着マスク

Claims (13)

  1.  フレーム付き蒸着マスクの製造方法であって、
     スリットが形成された金属マスクと当該スリットと重なる位置に蒸着作製するパターンに対応する開口部が形成された樹脂マスクとが積層されてなる蒸着マスクを準備する準備工程と、
     前記準備工程で準備された蒸着マスクの一部を保持部材により保持し、当該保持部材によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張る引張工程と、
     前記引張工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、前記引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程と、
     を含み、
     前記引張工程では、前記引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は前記蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われることを特徴とするフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  2.  前記引張工程において、前記回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整が行われた前記蒸着マスクを、当該調整後の状態を維持するようにロックするロック工程を更に含み、
     前記固定工程では、貫通孔が形成されたフレームに、前記ロックされた蒸着マスクを固定することを特徴とする請求項1に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  3.  前記フレーム上に前記蒸着マスクを載置する第1載置工程と、
     前記第1載置工程後に、前記フレームから前記蒸着マスクを離隔する離隔工程と、
     前記離隔工程後に、前記フレーム上に前記蒸着マスクを再び載置する第2載置工程と、
     を更に含み、
     前記第1載置工程前、又は前記第1載置工程と前記離隔工程の間に、前記引張工程が行われ、
     前記第2載置工程後に、前記固定工程が行われることを特徴とする請求項1又は2に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  4.  前記引張工程後に、前記引っ張られた状態の蒸着マスクの一方の面上に補助部材を重ね、前記蒸着マスクの一方の面と前記補助部材とが重なる部分の少なくとも一部において、前記蒸着マスクに前記補助部材を固定し、当該補助部材を引っ張ることで、蒸着マスクの精密調整を行う精密調整工程を更に含み、
     前記精密調整工程後に、前記固定工程が行われることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  5.  前記引張工程において、前記蒸着マスクの一部を保持する前記保持部材が、
     前記蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、
     前記蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、
     直線移動可能な移動機構、
     のうち少なくとも一つの機構を備える保持部材であり、
     前記引張工程では、前記保持部材による前記第1回転機構、第2回転機構、及び移動機構の何れかの機構により、前記蒸着マスクの回転調整、移動調整の何れかが行われることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  6.  前記準備工程で準備される蒸着マスクが、
     複数のスリットが設けられた金属マスクと、
     複数画面を構成するために必要な開口部が設けられた樹脂マスクが積層されてなり、
     各前記スリットが、少なくとも1画面全体と重なる位置に設けられている蒸着マスクであることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  7.  前記準備工程で準備される蒸着マスクが、
     1つのスリットが設けられた金属マスクと、
     複数の開口部が設けられた樹脂マスクが積層されてなり、
     前記複数の開口部の全てが、前記1つのスリットと重なる位置に設けられている蒸着マスクであることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載のフレーム付き蒸着マスクの製造方法。
  8.  蒸着マスクを引っ張るための引張装置であって、
     前記蒸着マスクの一部を保持する保持部材と、
     前記保持部材によって保持された前記蒸着マスクを引っ張るための引張機構と、を有し、
     前記保持部材は、
     前記蒸着マスクの面と交差する第1の回転軸を軸として回転可能な第1回転機構、
     前記蒸着マスクの面と交差しない第2の回転軸を軸として回転可能な第2回転機構、及び、
     直線移動可能な移動機構、
     のうち少なくとも一つの機構を備えることを特徴とする引張装置。
  9.  前記引張装置は、前記引張機構により引っ張られた状態の蒸着マスクに対し、又は前記引張機構により蒸着マスクを引っ張るとともに、前記保持部材の前記第1回転機構、第2回転機構、及び移動機構の何れかの機構により、回転及び移動の何れかが行われた蒸着マスクの状態を維持するためのロック機構を更に備えることを特徴とする請求項8に記載の引張装置。
  10.  前記引張装置は、フレームを駆動させるための駆動ステージを有し、
     前記駆動ステージは、前記引張装置の設置面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えることを特徴とする請求項8又は9に記載の引張装置。
  11.  前記保持部材は、前記引張装置の設置面と交差する方向に移動可能な移動機構を備えることを特徴とする請求項8又は9に記載の引張装置。
  12.  有機半導体素子の製造装置であって、
     請求項8乃至11の何れか1項に記載の引張装置が組み込まれていることを特徴とする有機半導体素子の製造装置。
  13.  有機半導体素子の製造方法であって、
     フレームに蒸着マスクが固定されたフレーム付き蒸着マスクを用いて蒸着対象物に蒸着パターンを形成する工程を含み、
     前記蒸着パターンを形成する工程において用いられる前記フレーム付き蒸着マスクが、
     前記蒸着マスクの一部を保持部材により保持し、前記保持部材によって保持された蒸着マスクをその外方に向かって引っ張り、引っ張られた状態の蒸着マスクに対して、又は前記蒸着マスクを引っ張るとともに、当該蒸着マスクの回転調整、及び移動調整のいずれか一方、又は双方の調整を行う引張工程と、
     前記引張工程後に、貫通孔が形成されたフレームに、前記引っ張られた状態の蒸着マスクを固定する固定工程により得られたフレーム付き蒸着マスクである、
     ことを特徴とする有機半導体素子の製造方法。
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