WO2014148201A1 - 銀めっき材 - Google Patents

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圭介 篠原
雅史 尾形
宮澤　寛
章 菅原
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Ｄｏｗａメタルテック株式会社
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    • H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
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Definitions

  • the present invention relates to a silver-plated material, and more particularly, to a silver-plated material used as a material for contacts and terminal parts such as connectors, switches, and relays used for in-vehicle and consumer electrical wiring.
  • a plating material plated with tin, silver, gold or the like is used as materials for contacts and terminal parts such as connectors and switches.
  • a tin-plated material obtained by tin-plating a material such as stainless steel, copper, or a copper alloy is inexpensive but has poor corrosion resistance in a high-temperature environment.
  • gold plating materials obtained by applying gold plating to these materials are excellent in corrosion resistance and high in reliability, but cost is high.
  • silver plating materials obtained by performing silver plating on these materials are cheaper than gold plating materials and have excellent corrosion resistance compared to tin plating materials.
  • a silver plating material a nickel plating layer having a thickness of 0.1 to 0.3 ⁇ m is formed on the surface of a thin plate substrate made of stainless steel, and a copper plating having a thickness of 0.1 to 0.5 ⁇ m is formed thereon.
  • a metal plate for electrical contacts in which a layer is formed and a silver plating layer having a thickness of 1 ⁇ m is formed thereon (see, for example, Japanese Patent No. 3889718).
  • a nickel underlayer having a thickness of 0.01 to 0.1 ⁇ m that has been activated is formed on the surface of the stainless steel substrate, and is made of at least one of nickel, nickel alloy, copper, and copper alloy.
  • a silver-coated stainless steel strip for a movable contact in which an intermediate layer having a thickness of 0.05 to 0.2 ⁇ m is formed and a surface layer of silver or a silver alloy having a thickness of 0.5 to 2.0 ⁇ m is formed thereon. (See, for example, Japanese Patent No. 4279285).
  • an underlayer having a thickness of 0.005 to 0.1 ⁇ m made of any of nickel, nickel alloy, cobalt, or cobalt alloy is formed on a metal substrate made of copper, copper alloy, iron, or iron alloy.
  • An intermediate layer made of copper or a copper alloy and having a thickness of 0.01 to 0.2 ⁇ m is formed thereon, and a surface layer made of silver or a silver alloy and having a thickness of 0.2 to 1.5 ⁇ m is formed thereon.
  • the present invention is a silver plating material in which a base layer made of nickel is formed on a material, and a surface layer made of silver is formed on the surface of the base layer. It aims at providing a favorable silver plating material.
  • the present inventors have found that in a silver plating material in which a base layer made of nickel is formed on a material and a surface layer made of silver is formed on the surface of the base layer, We found that a silver plating material with good bending workability can be produced by setting the thickness of the base layer to 2 ⁇ m or less and the surface fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation of the surface layer to 15% or more, and completed the present invention.
  • the silver plating material according to the present invention a base layer made of nickel is formed on a material, and a surface layer made of silver is formed on the surface of the base layer, the thickness of the base layer is 2 ⁇ m or less. And the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation of the surface layer is 15% or more.
  • the material is preferably made of copper or a copper alloy. Moreover, it is preferable that the thickness of a surface layer is 10 micrometers or less.
  • the contact or terminal component according to the present invention is characterized by using the above-mentioned silver plating material as a material.
  • area fraction of ⁇ 200 ⁇ orientation refers to the ⁇ 200 ⁇ orientation in the direction (ND) perpendicular to the surface of the silver plating material with respect to the surface area of the silver plating material. It refers to the ratio (%) of the area occupied by the oriented crystal (up to an angle tolerance of 10 °).
  • the thickness of the base layer is 2 ⁇ m.
  • the surface fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation of the surface layer is 15% or more, preferably 25% or more.
  • the material is preferably made of copper or a copper alloy, and the thickness of the surface layer is preferably 10 ⁇ m or less.
  • the surface layer made of silver of this silver plating material consists of silver cyanide potassium (KAg (CN) 2 ), potassium cyanide (KCN), and 3 to 30 mg / L potassium selenocyanate (KSeCN), and the selenium concentration is 5 It can be formed by electroplating in a silver plating solution having a mass ratio of Ag of 15 to 1.8 mg / L and Ag to free cyan.
  • the liquid temperature during this electroplating is preferably 10 to 40 ° C., more preferably 15 to 30 ° C., and the current density is preferably 1 to 15 A / dm 2 , more preferably 3 to 10 A / dm 2 . is there.
  • the example of the silver plating material by this invention is described in detail.
  • a 67 mm ⁇ 50 mm ⁇ 0.3 mm pure copper plate is prepared as a material to be plated, and the material to be plated and the SUS plate are put in an alkaline degreasing solution, the material to be plated is used as an anode, and the SUS plate is used as a cathode at a voltage of 5V. It was electrolytically degreased for 30 seconds, washed with water, and then pretreated by pickling in 3% sulfuric acid for 15 seconds.
  • a nickel strike plating solution composed of 150 g / L of nickel chloride and 3% by mass of hydrochloric acid
  • the pretreated material to be plated is used as a cathode and the nickel electrode plate is used as an anode while stirring at 400 rpm with a stirrer.
  • electroplating (nickel strike plating) was performed at a current density of 2 A / dm 2 for 10 seconds.
  • a nickel plating solution composed of 350 g / L nickel sulfamate, 20 g / L nickel chloride, and 35 g / L boric acid
  • a nickel strike plated material to be plated is used as a cathode, and an SK nickel electrode plate is formed.
  • anode As an anode, by performing electroplating (nickel plating) at a current density of 2 / dm 2 and a liquid temperature of 50 ° C. while stirring with a stirrer at 400 rpm until the thickness of the nickel plating film becomes 0.01 ⁇ m, The nickel plating film was formed.
  • a silver strike plating solution composed of 3 g / L of potassium cyanide cyanide and 90 g / L of potassium cyanide, a nickel plated plated material is used as a cathode, and a titanium electrode plate coated with platinum is used as an anode.
  • silver strike plating was performed for 10 seconds at a current density of 2.5 A / dm 2 while stirring at 400 rpm.
  • electroplating silver strike plating
  • a silver plating solution comprising 148 g / L of potassium potassium cyanide (K [Ag (CN) 2 ]), 140 g / L of potassium cyanide (KCN) and 18 mg / L of potassium selenocyanate (KSeCN)
  • silver Electroplating until the silver film thickness is 3 ⁇ m at a current density of 5.0 A / dm 2 and a liquid temperature of 18 ° C.
  • the Se concentration in the used silver plating solution is 10 mg / L
  • the Ag concentration is 80 g / L
  • the free CN concentration is 56 g / L
  • the Ag / free CN mass ratio is 1.44.
  • the bending workability (BadWay (BW) bending process) which uses as a bending axis the LD (rolling direction) of a silver plating material as a raw material And bending workability (Good Way (GW) bending workability) with TD (direction perpendicular to the rolling direction and the plate thickness direction) as the bending axis.
  • the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation of the silver plating material was measured with a thermal field emission scanning electron microscope (JSM-7800F manufactured by JEOL Ltd.) in 100 ⁇ m squares on the surface of the silver plating material in 0.4 ⁇ m steps.
  • ⁇ 200 ⁇ orientation in the direction (ND) perpendicular to the surface of the silver plating material by electron beam backscatter diffraction (EBSD method) using a crystal analysis tool for scanning electron microscope (OIM manufactured by TSL Solutions Co., Ltd.) was calculated by calculating the ratio of the crystal to which the angle was directed (to an angle tolerance of 10 °).
  • the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation was 42.0%.
  • the theoretical value of the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation of the non-oriented silver plating material (virtual silver plating material in which the crystals constituting the silver plating film are randomly oriented) is about 4.4%.
  • the silver plating material of this example Compared to the oriented silver plating material, in the silver plating material of this example, most of the crystals in the surface silver plating film face the ⁇ 200 ⁇ plane toward the surface (plate surface) of the silver plating material (silver).
  • the orientation is strong such that the ⁇ 200 ⁇ direction is oriented in the direction (ND) perpendicular to the surface of the plating material.
  • the bending property of the silver plating material is in accordance with the V block method of JIS Z2248.
  • the silver plating material is made of the material LD (rolling direction) as the bending axis, and the GW bending workability is silver.
  • a silver plating material was produced in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the nickel plating film as the underlayer was 0.2 ⁇ m.
  • the area fraction of ⁇ 200 ⁇ direction was computed by the method similar to Example 1, and BW bending workability and GW bending workability were evaluated.
  • the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation is 43.1%, and in either case of evaluation of BW bending workability and GW bending workability, the exposure of the material is not observed, and the bending workability is good. there were.
  • a silver plating material was produced by the same method as in Example 1 except that the thickness of the nickel plating film as the underlayer was 1.0 ⁇ m.
  • the area fraction of ⁇ 200 ⁇ direction was computed by the method similar to Example 1, and BW bending workability and GW bending workability were evaluated.
  • the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation is 41.2%, and in either case of evaluating BW bending workability and GW bending workability, the exposure of the material is not observed, and the bending workability is good. there were.
  • a silver plating material was produced by the same method as in Example 1 except that the thickness of the nickel plating film as the underlayer was 1.5 ⁇ m.
  • the area fraction of ⁇ 200 ⁇ direction was computed by the method similar to Example 1, and BW bending workability and GW bending workability were evaluated.
  • a silver plating material was prepared in the same manner as in Example 2 except that a silver plating solution composed of 148 g / L of potassium cyanide, 140 g / L of potassium cyanide and 73 mg / L of potassium selenocyanate was used. Produced.
  • the Se concentration in the used silver plating solution is 40 mg / L
  • the Ag concentration is 80 g / L
  • the free CN concentration is 56 g / L
  • the Ag / free CN mass ratio is 1.44.
  • the area fraction of ⁇ 200 ⁇ direction was computed by the method similar to Example 1, and BW bending workability and GW bending workability were evaluated.
  • a silver plating material was prepared in the same manner as in Example 2 except that a silver plating solution (not including potassium selenocyanate) composed of 148 g / L of potassium cyanide and 140 g / L of potassium cyanide was used. Produced.
  • the Se concentration in the used silver plating solution is 0 mg / L
  • the Ag concentration is 80 g / L
  • the free CN concentration is 56 g / L
  • the Ag / free CN mass ratio is 1.44.
  • the area fraction of ⁇ 200 ⁇ direction was computed by the method similar to Example 1, and BW bending workability and GW bending workability were evaluated.
  • the area fraction of the ⁇ 200 ⁇ orientation is 3.2%, and in both cases of evaluation of BW bending workability and GW bending workability, exposure of the material is observed and bending workability is not good. It was.
  • the production conditions and evaluation results of the silver plating materials of the examples and comparative examples are shown in Table 1 and Table 2, respectively. As can be seen from Tables 1 and 2, the silver plating materials of Examples 1 to 4 in which the nickel underlayer thickness is 2 ⁇ m or less and the ⁇ 200 ⁇ orientation area fraction of the silver plating film is 15% or more are bent. Excellent in properties.

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Abstract

素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、曲げ加工性が良好な銀めっき材を提供する。銅または銅合金からなる素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる厚さ１０μｍ以下の表層が形成された銀めっき材において、下地層の厚さを２μｍ以下、好ましくは１．５μｍ以下にし、表層の｛２００｝方位の面積分率を１５％以上、好ましくは２５％以上にする。

Description

銀めっき材
　本発明は、銀めっき材に関し、特に、車載用や民生用の電気配線に使用されるコネクタ、スイッチ、リレーなどの接点や端子部品の材料として使用される銀めっき材に関する。
　従来、コネクタやスイッチなどの接点や端子部品などの材料として、ステンレス鋼や銅または銅合金などの比較的安価で耐食性や機械的特性などに優れた素材に、電気特性や半田付け性などの必要な特性に応じて、錫、銀、金などのめっきを施しためっき材が使用されている。
　ステンレス鋼や銅または銅合金などの素材に錫めっきを施した錫めっき材は、安価であるが、高温環境下における耐食性に劣っている。また、これらの素材に金めっきを施した金めっき材は、耐食性に優れ、信頼性が高いが、コストが高くなる。一方、これらの素材に銀めっきを施した銀めっき材は、金めっき材と比べて安価であり、錫めっき材と比べて耐食性に優れている。
　このような銀めっき材として、ステンレス鋼からなる薄板状基板の表面に厚さ０．１~０．３μｍのニッケルメッキ層が形成され、その上に厚さ０．１~０．５μｍの銅メッキ層が形成され、その上に厚さ１μｍの銀メッキ層が形成された電気接点用金属板が提案されている（例えば、特許第３８８９７１８号公報参照）。また、ステンレス鋼基材の表面に活性化処理された厚さ０．０１~０．１μｍのニッケル下地層が形成され、その上にニッケル、ニッケル合金、銅、銅合金のうちの少なくとも一種からなる厚さ０．０５~０．２μｍの中間層が形成され、その上に銀または銀合金の厚さ０．５~２．０μｍの表層が形成された可動接点用銀被覆ステンレス条も提案されている（例えば、特許第４２７９２８５号公報参照）。さらに、銅、銅合金、鉄または鉄合金からなる金属基体上に、ニッケル、ニッケル合金、コバルトまたはコバルト合金のいずれかからなる厚さ０．００５~０．１μｍの下地層が形成され、その上に銅または銅合金からなる厚さ０．０１~０．２μｍの中間層が形成され、その上に銀または銀合金からなる厚さ０．２~１．５μｍの表層が形成され、金属基体の算術平均粗さＲａが０．００１~０．２μｍであり、中間層形成後の算術平均粗さＲａが０．００１~０．１μｍである、可動接点部品用銀被覆材も提案されている（例えば、特開２０１０−１４６９２６号公報参照）。
　しかし、従来の銀めっき材では、素材上にニッケルからなる下地層を形成すると、曲げ加工性が著しく低下する場合があり、複雑な形状や小型のコネクタやスイッチなどの接点や端子部品に加工すると、銀めっき材に割れが生じて、素材が露出してしまうという問題がある。
　したがって、本発明は、上述した従来の問題点に鑑み、素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、曲げ加工性が良好な銀めっき材を提供することを目的とする。
　本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、下地層の厚さを２μｍ以下にし、表層の｛２００｝方位の面積分率を１５％以上にすることにより、曲げ加工性が良好な銀めっき材を製造することができることを見出し、本発明を完成するに至った。
　すなわち、本発明による銀めっき材は、素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、下地層の厚さが２μｍ以下であり、表層の｛２００｝方位の面積分率が１５％以上であることを特徴とする。この銀めっき材において、素材が銅または銅合金からなるのが好ましい。また、表層の厚さが１０μｍ以下であるのが好ましい。
　また、本発明による接点または端子部品は、上記の銀めっき材を材料として用いたことを特徴とする。
　なお、本明細書中において、「｛２００｝方位の面積分率」とは、銀めっき材の表面の面積に対して、銀めっき材の表面に垂直な方向（ＮＤ）に｛２００｝方位を（角度許容差１０°まで）向けている結晶が占める面積の割合（％）をいう。
　本発明によれば、素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、曲げ加工性が良好な銀めっき材を提供することができる。
　本発明による銀めっき材の実施の形態では、素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、下地層の厚さが２μｍ以下、好ましくは１．５μｍ以下であり、表層の｛２００｝方位の面積分率が１５％以上、好ましくは２５％以上である。
　このように銀からなる表層の｛２００｝方位の面積分率を１５％以上にすることにより、表層中の転位密度を減少させて、めっき材の曲げ加工の際の剪断帯の発生を低減し、このような曲げ加工性が良好な表層によりニッケルからなる下地層を覆うことにより、銀めっき材全体の曲げ加工性を向上させることができる。
　この銀めっき材において、素材が銅または銅合金からなるのが好ましく、表層の厚さが１０μｍ以下であるのが好ましい。
　この銀めっき材の銀からなる表層は、シアン化銀カリウム（ＫＡｇ（ＣＮ）２）と、シアン化カリウム（ＫＣＮ）と、３~３０ｍｇ／Ｌのセレノシアン酸カリウム（ＫＳｅＣＮ）とからなり、セレン濃度が５~１５ｍｇ／Ｌであり且つフリーシアンに対するＡｇの質量比が０．９~１．８である銀めっき液中において電気めっきを行うことによって形成することができる。この電気めっきの際の液温は、好ましくは１０~４０℃、さらに好ましくは１５~３０℃であり、電流密度は、好ましくは１~１５Ａ／ｄｍ２、さらに好ましくは３~１０Ａ／ｄｍ２である。
　以下、本発明による銀めっき材の実施例について詳細に説明する。
　まず、被めっき材として６７ｍｍ×５０ｍｍ×０．３ｍｍの純銅板を用意し、この被めっき材とＳＵＳ板をアルカリ脱脂液に入れ、被めっき材を陽極とし、ＳＵＳ板を陰極として、電圧５Ｖで３０秒間電解脱脂し、水洗した後、３％硫酸中で１５秒間酸洗することによって前処理を行った。
　次に、１５０ｇ／Ｌの塩化ニッケルと３質量％の塩酸とからなるニッケルストライクめっき液中において、前処理済の被めっき材を陰極とし、ニッケル電極板を陽極として、スターラにより４００ｒｐｍで撹拌しながら、電流密度２Ａ／ｄｍ２で１０秒間電気めっき（ニッケルストライクめっき）を行った。
　次に、３５０ｇ／Ｌのスルファミン酸ニッケルと２０ｇ／Ｌの塩化ニッケルと３５ｇ／Ｌのホウ酸とからなるニッケルめっき液中において、ニッケルストライクめっき済の被めっき材を陰極とし、ＳＫニッケル電極板を陽極として、スターラにより４００ｒｐｍで撹拌しながら、電流密度２／ｄｍ２、液温５０℃でニッケルめっき皮膜の厚さが０．０１μｍになるまで電気めっき（ニッケルめっき）を行うことにより、下地層としてのニッケルめっき皮膜を形成した。
　次に、３ｇ／Ｌのシアン化銀カリウムと９０ｇ／Ｌのシアン化カリウムとからなる銀ストライクめっき液中において、ニッケルめっき済の被めっき材を陰極とし、白金で被覆したチタン電極板を陽極として、スターラにより４００ｒｐｍで撹拌しながら、電流密度２．５Ａ／ｄｍ２で１０秒間電気めっき（銀ストライクめっき）を行った。
　次に、１４８ｇ／Ｌのシアン化銀カリウム（Ｋ［Ａｇ（ＣＮ）２］）と１４０ｇ／Ｌのシアン化カリウム（ＫＣＮ）と１８ｍｇ／Ｌのセレノシアン酸カリウム（ＫＳｅＣＮ）からなる銀めっき液中において、銀ストライクめっき済の被めっき材を陰極とし、銀電極板を陽極として、スターラにより４００ｒｐｍで撹拌しながら、電流密度５．０Ａ／ｄｍ２、液温１８℃で銀膜厚が３μｍになるまで電気めっきを行うことにより、銀めっき皮膜を形成した。なお、使用した銀めっき液中のＳｅ濃度は１０ｍｇ／Ｌ、Ａｇ濃度は８０ｇ／Ｌ、フリーＣＮ濃度は５６ｇ／Ｌ、Ａｇ／フリーＣＮ質量比は１．４４である。
　このようにして作製した銀めっき材について、｛２００｝方位の面積分率を算出するとともに、銀めっき材を素材のＬＤ（圧延方向）を曲げ軸とする曲げ加工性（ＢａｄＷａｙ（ＢＷ）曲げ加工性）と、ＴＤ（圧延方向および板厚方向に垂直な方向）を曲げ軸とする曲げ加工性（ＧｏｏｄＷａｙ（ＧＷ）曲げ加工性）を評価した。
　銀めっき材の｛２００｝方位の面積分率は、サーマル電界放出形走査電子顕微鏡（日本電子株式会社製のＪＳＭ−７８００Ｆ）により、０．４μｍステップで銀めっき材の表面の１００μｍ四方を測定し、走査電子顕微鏡用結晶解析ツール（株式会社ＴＳＬソリューションズ製のＯＩＭ）を用いて、電子線後方散乱回折法（ＥＢＳＤ法）により、銀めっき材の表面に垂直な方向（ＮＤ）に｛２００｝方位を（角度許容差１０°まで）向けている結晶が占める割合を算出することによって求めた。その結果、｛２００｝方位の面積分率は４２．０％であった。無配向の銀めっき材（銀めっき皮膜を構成する結晶がランダムに配向している仮想の銀めっき材）の｛２００｝方位の面積分率の理論値は４．４％程度であり、この無配向の銀めっき材と比較すると、本実施例の銀めっき材では、表層の銀めっき皮膜中の結晶の多くが、｛２００｝面を銀めっき材の表面（板面）の方向に向ける（銀めっき材の表面に垂直な方向（ＮＤ）に｛２００｝方位を向ける）ように強く配向している。
　銀めっき材の曲げ加工性は、ＪＩＳ　Ｚ２２４８のＶブロック法に準じて、ＢＷ曲げ加工性については、銀めっき材を素材のＬＤ（圧延方向）を曲げ軸として、ＧＷ曲げ加工性については、銀めっき材を素材のＴＤ（圧延方向および板厚方向に垂直な方向）を曲げ軸として、それぞれＲ＝０．３およびＲ＝０．５で９０度に折り曲げた後、その折り曲げた箇所を顕微鏡（キーエンス社製のデジタルマイクロスコープＶＨＸ−１０００）により１０００倍に拡大して観察し、素材の露出の有無によって評価した。その結果、いずれの場合も、素材の露出は観察されず、曲げ加工性が良好であった。
　下地層としてのニッケルめっき皮膜の厚さを０．２μｍとした以外は、実施例１と同様の方法により銀めっき材を作製した。
　このようにして作製した銀めっき材について、実施例１と同様の方法により、｛２００｝方位の面積分率を算出し、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性を評価した。その結果、｛２００｝方位の面積分率は４３．１％であり、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性の評価のいずれの場合でも、素材の露出は観察されず、曲げ加工性が良好であった。
　下地層としてのニッケルめっき皮膜の厚さを１．０μｍとした以外は、実施例１と同様の方法により銀めっき材を作製した。
　このようにして作製した銀めっき材について、実施例１と同様の方法により、｛２００｝方位の面積分率を算出し、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性を評価した。その結果、｛２００｝方位の面積分率は４１．２％であり、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性の評価のいずれの場合でも、素材の露出は観察されず、曲げ加工性が良好であった。
　下地層としてのニッケルめっき皮膜の厚さを１．５μｍとした以外は、実施例１と同様の方法により銀めっき材を作製した。
　このようにして作製した銀めっき材について、実施例１と同様の方法により、｛２００｝方位の面積分率を算出し、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性を評価した。その結果、｛２００｝方位の面積分率は４２．２％であり、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性の評価では、Ｒ＝０．３のときは、いずれの場合も、素材の露出が観察され、曲げ加工性が良好でなかったが、Ｒ＝０．５のときは、いずれの場合も、素材の露出は観察されず、曲げ加工性が良好であった。
比較例１
　銀めっきにおいて、１４８ｇ／Ｌのシアン化銀カリウムと１４０ｇ／Ｌのシアン化カリウムと７３ｍｇ／Ｌのセレノシアン酸カリウムとからなる銀めっき液を使用した以外は、実施例２と同様の方法により銀めっき材を作製した。なお、使用した銀めっき液中のＳｅ濃度は４０ｍｇ／Ｌ、Ａｇ濃度は８０ｇ／Ｌ、フリーＣＮ濃度は５６ｇ／Ｌ、Ａｇ／フリーＣＮ質量比は１．４４である。
　このようにして作製した銀めっき材について、実施例１と同様の方法により、｛２００｝方位の面積分率を算出し、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性を評価した。その結果、｛２００｝方位の面積分率は５．２％であり、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性の評価のいずれの場合でも、素材の露出が観察され、曲げ加工性が良好でなかった。
比較例２
　銀めっきにおいて、１４８ｇ／Ｌのシアン化銀カリウムと１４０ｇ／Ｌのシアン化カリウムとからなる（セレノシアン酸カリウムを含まない）銀めっき液を使用した以外は、実施例２と同様の方法により銀めっき材を作製した。なお、使用した銀めっき液中のＳｅ濃度は０ｍｇ／Ｌ、Ａｇ濃度は８０ｇ／Ｌ、フリーＣＮ濃度は５６ｇ／Ｌ、Ａｇ／フリーＣＮ質量比は１．４４である。
　このようにして作製した銀めっき材について、実施例１と同様の方法により、｛２００｝方位の面積分率を算出し、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性を評価した。その結果、｛２００｝方位の面積分率は３．２％であり、ＢＷ曲げ加工性とＧＷ曲げ加工性の評価のいずれの場合でも、素材の露出が観察され、曲げ加工性が良好でなかった。
　実施例および比較例の銀めっき材の作製条件および評価結果をそれぞれ表１および表２に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 　表１および表２からわかるように、ニッケル下地層の膜厚が２μｍ以下で銀めっき皮膜の｛２００｝方位の面積分率が１５％以上の実施例１~４の銀めっき材は、曲げ加工性に優れている。

Claims (4)

  1. 素材上にニッケルからなる下地層が形成され、この下地層の表面に銀からなる表層が形成された銀めっき材において、下地層の厚さが２μｍ以下であり、表層の｛２００｝方位の面積分率が１５％以上であることを特徴とする、銀めっき材。
  2. 前記素材が銅または銅合金からなることを特徴とする、請求項１に記載の銀めっき材。
  3. 前記表層の厚さが１０μｍ以下であることを特徴とする、請求項１に記載の銀めっき材。
  4. 請求項１乃至３のいずれかに記載の銀めっき材を材料として用いたことを特徴とする、接点または端子部品。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6532322B2 (ja) * 2015-07-03 2019-06-19 Ｄｏｗａメタルテック株式会社 銀めっき材およびその製造方法
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012162775A (ja) * 2011-02-08 2012-08-30 Dowa Metaltech Kk 銀めっき材およびその製造方法
WO2013047628A1 (ja) * 2011-09-30 2013-04-04 Ｄｏｗａメタルテック株式会社 銀めっき材およびその製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3889718B2 (ja) 2003-03-04 2007-03-07 Ｓｍｋ株式会社 電気接点に用いる金属板及び同金属板の製造方法
JP4279285B2 (ja) 2005-11-17 2009-06-17 古河電気工業株式会社 可動接点用銀被覆ステンレス条およびその製造方法
JP2010146925A (ja) 2008-12-19 2010-07-01 Furukawa Electric Co Ltd:The モータ用接触子材料およびその製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012162775A (ja) * 2011-02-08 2012-08-30 Dowa Metaltech Kk 銀めっき材およびその製造方法
WO2013047628A1 (ja) * 2011-09-30 2013-04-04 Ｄｏｗａメタルテック株式会社 銀めっき材およびその製造方法

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