WO2014148119A1 - 貼着装置および電子装置の製造方法 - Google Patents

貼着装置および電子装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2014148119A1
WO2014148119A1 PCT/JP2014/052123 JP2014052123W WO2014148119A1 WO 2014148119 A1 WO2014148119 A1 WO 2014148119A1 JP 2014052123 W JP2014052123 W JP 2014052123W WO 2014148119 A1 WO2014148119 A1 WO 2014148119A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
sealed space
elastic member
electronic component
sticking
resin sheet
Prior art date
Application number
PCT/JP2014/052123
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
宗久 三谷
恭也 大薮
大祐 塚原
Original Assignee
日東電工株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日東電工株式会社 filed Critical 日東電工株式会社
Priority to US14/776,830 priority Critical patent/US20160035592A1/en
Priority to KR1020157025605A priority patent/KR20150131055A/ko
Priority to EP14769117.4A priority patent/EP2978014A1/en
Publication of WO2014148119A1 publication Critical patent/WO2014148119A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67126Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/005Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations

Definitions

  • the present invention relates to a sticking device and a method for manufacturing an electronic device, and more particularly, to a sticking device and a method for manufacturing an electronic device in which an electronic component is attached using a resin sheet.
  • an electronic device such as an optical semiconductor device by attaching electronic components such as an optical semiconductor element and a capacitor with a resin sheet such as a sealing sheet.
  • a substrate on which a sealing sheet and a light-emitting diode are mounted is installed in a flat plate press and pressed using a flat plate press.
  • the press machine includes two press plates (metal molds) and a pressure source for applying pressure to them, and is usually large.
  • An object of the present invention is to provide a sticking device that is downsized and excellent in transportability, and an electronic device manufacturing method that can easily manufacture an electronic device using the same.
  • the sticking device of the present invention is a sticking device for sticking an electronic component with a resin sheet, and includes the electronic component and the resin sheet disposed to face the electronic component with a space therebetween.
  • a first mold member having a first cavity capable of accommodating a dressing preparation, an elastic member disposed opposite to the resin sheet so as to form a first sealed space with the first cavity, and the first mold
  • a differential pressure generating means connected to a member and configured to make the pressure of the first sealed space lower than the pressure of the space opposite to the first sealed space with respect to the elastic member, and the differential pressure
  • the elastic member moves to the first cavity side, whereby the sticking preparation body is pressed in the facing direction of the electronic component and the resin sheet, and the resin sheet Before by It is characterized in that it is configured to adhere the electronic component.
  • the structure of the apparatus can be simplified, and therefore the size can be reduced. Furthermore, the sticking device with a reduced size is excellent in transportability.
  • the elastic member moves to the first cavity side by operating the differential pressure generating means. Therefore, the electronic component can be reliably adhered by the resin sheet by pressing the adhesion preparation body in the facing direction between the electronic component and the resin sheet.
  • the first mold member and the elastic member are configured separately from the differential pressure generating means.
  • the first mold member and the elastic member are configured separately from the differential pressure generating means, the first mold member, the elastic member, and the differential pressure generating means are independent of each other. It can arrange
  • the first mold member is configured so that the electronic component and / or the resin sheet can be visually observed.
  • the first mold member is configured so that the electronic component and / or the resin sheet can be visually observed, the state of the sticking of the electronic component and / or the resin sheet is determined via the first mold member. It can be confirmed visually.
  • the sticking apparatus of this invention is equipped with the 2nd type
  • the second mold member since the second mold member has the second cavity that can form the second sealed space, the second cavity ensures that the pressure in the second sealed space is higher than the pressure in the first sealed space. By doing so, the elastic member can be reliably moved to the first cavity side.
  • the said sticking preparation body is arrange
  • the sticking postures of the substrate on which the electronic component is mounted and the resin sheet can be reliably held by the first support plate and the second support plate, respectively. Therefore, the electronic component can be attached with high accuracy by the resin sheet.
  • the manufacturing method of the electronic device of the present invention is a method of manufacturing an electronic device by sticking an electronic component with a resin sheet, and the sticking preparation body in the first sealed space of the sticking device described above. And the operation of the differential pressure generating means to make the pressure of the first sealed space lower than the pressure of the space opposite to the first sealed space with respect to the elastic member, The elastic member is moved to the first cavity side, whereby the sticking preparation body is pressed in the facing direction of the electronic component and the resin sheet, and the electronic component is stuck by the resin sheet. It is characterized by having a wearing process.
  • the air pressure in the first sealed space is made lower than the air pressure in the space opposite to the first sealed space with respect to the elastic member,
  • the elastic member is moved to the first cavity side, whereby the sticking preparation body is pressed in the facing direction between the electronic component and the resin sheet, and the electronic component can be reliably stuck by the resin sheet.
  • the adhering step includes a decompression step of decompressing both the first sealed space and the space opposite to the first sealed space, and after the decompression step, And a differential pressure generating step of setting the atmospheric pressure of the space on the opposite side of the first sealed space to atmospheric pressure, and reducing the atmospheric pressure of the first sealed space to be lower than the pressure of the space on the opposite side of the first sealed space. Is preferred.
  • the atmospheric pressure is increased by flowing air into the space on the opposite side of the first sealed space.
  • the elastic member can be quickly moved to the first cavity side, and the electronic component can be efficiently attached by the resin sheet.
  • the device configuration can be simplified, and therefore the size can be reduced. Furthermore, the sticking device with a reduced size is excellent in transportability. Moreover, an electronic component can be reliably stuck by the resin sheet.
  • FIG. 1 is a front sectional view of a sealing device which is an embodiment of a sticking device of the present invention, and a decompression step in a method of manufacturing an optical semiconductor device which is an embodiment of a method of manufacturing an electronic device of the present invention.
  • FIG. 2 shows an exploded cross-sectional view of the sealing device shown in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the sealing device shown in FIG. 1 and shows a differential pressure generating step in the method for manufacturing an optical semiconductor device which is an embodiment of the method for manufacturing an electronic device of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the sealing device shown in FIG.
  • FIG. 8 is a front sectional view of a modification of the sealing device which is an embodiment of the sticking device of the present invention, and shows an installation process.
  • FIG. 9 is a front sectional view of the sealing device shown in FIG. 8 and shows a differential pressure generating step.
  • FIG. 10 is a front sectional view of a modification of the embodiment of the sealing device which is an embodiment of the sticking device of the present invention, and shows an installation process.
  • FIG. 11 is a front sectional view of the sealing device shown in FIG. 10 and shows a differential pressure generating step.
  • the sealing device which is one Embodiment of the sticking apparatus of this invention is demonstrated.
  • the vertical direction of the paper surface is “vertical direction” (thickness direction, first direction)
  • the horizontal direction of the paper surface is “horizontal direction” (second direction, the direction orthogonal to the first direction)
  • the paper thickness direction of the paper surface is The “front-rear direction” (a direction orthogonal to the third direction, the first direction, and the second direction), specifically, conforms to the direction arrow shown in FIG.
  • the direction of FIG. 1 is used as a reference.
  • the sealing device 1 is a sealing device for sealing an optical semiconductor element 52 as an electronic component with a sealing sheet 53 as a resin sheet.
  • the sealing device 1 includes a first mold member 2, an elastic member 3, a second mold member 4, and a differential pressure generating device 5 as a differential pressure generating means.
  • the first mold member 2 has a thick flat plate shape extending in the left-right direction and the front-rear direction, and is specifically formed in a substantially rectangular shape in plan view, front view, and side view. Yes. Moreover, the 1st type
  • mold member 2 is formed in the bottomed frame shape in which the center part of a lower surface is dented upwards in the front sectional view and the side sectional view.
  • the first mold member 2 has a portion recessed upward as a first cavity 6.
  • the first cavity 6 is formed so as to be recessed in a substantially rectangular shape above the lower surface of the first frame-shaped portion 7 around the first cavity 6 in the first mold member 2.
  • the first cavity 6 is formed in a substantially rectangular shape when viewed from the bottom. Thus, the first cavity 6 is configured to be able to accommodate a sealing preparation 50 described later.
  • the lower surface of the first frame-like portion 7 is formed flat.
  • the first mold member 2 incorporates a heater (not shown) if necessary.
  • the dimensions of the first mold member 2 are appropriately set. Specifically, the thickness of the first mold member 2 is, for example, 20 mm or more, preferably 25 mm or more, and, for example, 60 mm or less, preferably Is 50 mm or less, and the maximum length of the first mold member 2 in plan view is, for example, 200 mm or more, preferably 220 mm or more, and, for example, 300 mm or less, preferably 280 mm or less. Further, the depth of the first cavity 6 is, for example, 6 mm or more, preferably 8 mm or more, and for example, 20 mm or less, preferably 18 mm or less. However, it is 80 mm or more, for example, Preferably, it is 100 mm or more, for example, is 200 mm or less, Preferably, it is 180 mm or less.
  • the first mold member 2 is, for example, a metal such as stainless steel, a fiber reinforced plastic such as glass epoxy, glass, an acrylic resin (specifically, polymethyl methacrylate (PMMA) or the like), a hard material such as a silicone resin, or the like.
  • a metal such as stainless steel
  • a fiber reinforced plastic such as glass epoxy, glass, an acrylic resin (specifically, polymethyl methacrylate (PMMA) or the like)
  • a hard material such as a silicone resin, or the like.
  • it is formed from the viewpoint of the visibility of the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53.
  • the elastic member 3 is disposed opposite to the lower side of the first mold member 2 and is formed in a sheet shape extending in the left-right direction and the front-rear direction. Further, as shown in FIG. 1, the elastic member 3 is formed to have a dimension including at least the first mold member 2 when projected in the thickness direction. Specifically, the peripheral edge of the elastic member 3 is The first mold member 2 is disposed at the same position as the peripheral edge of the first mold member 2.
  • the peripheral end of the upper surface of the elastic member 3 is disposed adjacent to the lower surface of the first frame-like portion 7 so as to be in vertical contact.
  • the central portion of the upper surface of the elastic member 3 is disposed at a distance from the lower surface (concave surface) of the first cavity 6 in the vertical direction.
  • the elastic member 3 is provided so as to be able to form a first cavity 6 and a first sealed space 12 to be described later.
  • Examples of the elastic material forming the elastic member 3 include non-conjugated double bonds such as ethylene / propylene / diene rubber (EPDM), ⁇ -olefin / dicyclopentadiene such as 1-butene, and ethylidene norbornene, for example.
  • NBR is used.
  • the tensile elastic modulus at 25 ° C. of the elastic member 3 is, for example, 1.0 MPa or more, preferably 3.0 MPa or more, and for example, 15 MPa or less, preferably 13 MPa or less. If the elastic modulus of the elastic member 3 is within the above range, the elastic member 3 can be raised smoothly (described later).
  • the thickness of the elastic member 3 is, for example, 0.5 mm or more, preferably 0.8 mm or more, and, for example, 3.0 mm or less, preferably 2.0 mm or less.
  • the second mold member 4 is disposed opposite to the lower side of the elastic member 3.
  • the second mold member 4 extends in the left-right direction and the front-rear direction, has a flat plate shape that is thinner than the first mold member 2, and is specifically formed in a substantially rectangular shape in plan view, front view, and side view. ing.
  • mold member 4 is formed in the bottomed frame shape in which the center part of an upper surface is dented below in normal sectional view and side sectional view.
  • the second mold member 4 has a portion recessed downward as a second cavity 9.
  • the second cavity 9 is formed to be recessed in a substantially rectangular shape below the upper surface of the second frame-shaped portion 10 around the second cavity 9 in the second mold member 4.
  • the upper surface of the second frame-shaped portion 10 is formed in a flat shape.
  • the second cavity 9 is formed in a substantially rectangular shape in plan view.
  • the second cavity 9 is formed so as to overlap the projection surface of the first cavity 6 when projected in the thickness direction.
  • the shape of the second mold member 4 in plan view is the same as the size of the sealing device 1 in plan view.
  • the plan shape of the first frame-like portion 7 and the second frame-like portion 10 is as follows:
  • the first cavity 6 and the second cavity 9 have the same shape in plan view.
  • the second mold member 4 incorporates a heater (not shown) if necessary.
  • the dimension of the second mold member 4 is appropriately set, and the thickness of the second mold member 4 is, for example, 10 mm or more, preferably 20 mm or more, and, for example, 60 mm or less, preferably 50 mm or less. is there. Moreover, the thickness of the 2nd cavity 9 is 0.5 mm or more, for example, Preferably, it is 1 mm or more, for example, is 20 mm or less, Preferably, it is 18 mm or less.
  • the second mold member 4 is formed of a hard material such as a metal such as stainless steel, fiber reinforced plastic such as glass epoxy, glass, acrylic resin (specifically, PMMA), or silicone resin.
  • the differential pressure generator 5 includes a suction pump 15, a first pipe 16, a first vacuum valve 17, a first atmospheric valve 18, a second pipe 19, a second vacuum valve 20, and a second atmospheric valve 21. With.
  • the first pipe 16 is piped so as to connect the first mold member 2 and the suction pump 15. Specifically, one end portion (upstream end portion in the suction direction) of the first tube 16 communicates with the first cavity 6 of the first mold member 2 and the other end portion (downstream in the suction direction) of the first tube 16. The side end) is connected to the suction pump 15.
  • a branch pipe branches off from the middle portion (first branch portion 22) of the first pipe 16. The branch pipe is configured to open to the atmosphere.
  • the first pipe 16 is formed of a material normally used for gas piping, for example, a flexible hose, etc., and has a length (specifically, the distance between the suction pump 15 and the first mold member 2 is appropriately secured. Is, for example, 5.0 cm or more, preferably 10 cm or more, and for example, 1000 cm or less, preferably 500 cm or less.
  • the first vacuum valve 17 is provided so as to be interposed in the middle of the first pipe 16. Specifically, the first vacuum valve 17 is provided between the suction pump 15 and the first branch portion 22 of the first pipe 16. Yes.
  • the first atmospheric valve 18 is provided in the branch pipe of the first pipe 16.
  • the second pipe 19 is piped so as to connect the second mold member 4 and the suction pump 15. Specifically, one end portion (upstream end portion in the suction direction) of the second tube 19 communicates with the second cavity 9 of the second mold member 4 and the other end portion (downstream in the suction direction) of the second tube 19. The side end) is connected to the suction pump 15. The other end of the second pipe 19 is configured as a common pipe with the other end of the first pipe 16. In addition, a branch pipe branches off from the middle part (second branch part 23) of the second pipe 19. The branch pipe is configured to open to the atmosphere.
  • the second pipe 19 is formed of a material normally used for gas piping, for example, a flexible hose, and is formed to a length that ensures a sufficient distance between the suction pump 15 and the second mold member 4. ing.
  • the second vacuum valve 20 is provided so as to be interposed in the middle of the second pipe 19. Specifically, the second vacuum valve 20 is provided between the suction pump 15 and the second branch portion 23 of the second pipe 19. Yes.
  • the second atmospheric valve 21 is provided in the branch pipe of the second pipe 19.
  • a first mold member 2 As shown in FIG. 2, first, a first mold member 2, an elastic member 3, and a second mold member 4 are prepared.
  • suction pump 15 and the first mold member 2 are connected via the first pipe 16, and the suction pump 15 and the second mold member 4 are connected via the second pipe 19.
  • first mold member 2 and the second mold member 4 are opposed so that the first cavity 6 and the second cavity 9 are opposed in the thickness direction.
  • the elastic member 3 is interposed between the first mold member 2 and the second mold member 4. That is, the first mold member 2 is disposed opposite to the upper side of the second mold member 4 with the elastic member 3 interposed therebetween.
  • the second cavity 9 is disposed opposite to the first cavity 6 with the elastic member 3 interposed therebetween.
  • the peripheral end portion of the elastic member 3 is sandwiched in the thickness direction by the first frame-shaped portion 7 and the second frame-shaped portion 10.
  • the 1st frame-shaped part 7 and the 2nd frame-shaped part 10 can also be pinched
  • the first sealed space 12 is formed by the first cavity 6 and the elastic member 3.
  • the first sealed space 12 is formed by partitioning the space partitioned by the first cavity 6 from the lower side by the elastic member 3, and is formed in a shape corresponding to the first cavity 6.
  • the lower surface of the 1st frame-shaped part 7 and the upper surface of the peripheral edge part of the elastic member 3 are closely_contact
  • the second sealed space 13 is formed by the second cavity 9 and the elastic member 3.
  • the second sealed space 13 seals the space on the opposite side of the first sealed space 12 with respect to the elastic member 3.
  • the second sealed space 13 is a space partitioned by the second cavity 9. It is formed by partitioning from above with the elastic member 3. That is, the second sealed space 13 is formed in a shape corresponding to the second cavity 9.
  • the upper surface of the 2nd frame-shaped part 10 and the lower surface of the peripheral end part of the elastic member 3 are closely_contact
  • the lower surface (concave surface) of the first cavity 6 and the upper surface of the peripheral end of the elastic member 3 are substantially parallel. It is configured as such.
  • This method is a method of manufacturing the optical semiconductor device 51 by sealing the optical semiconductor element 52 with the sealing sheet 53.
  • an installation step (see FIGS. 1 and 2) for installing the sealing preparation body 50 in the first sealed space 12 of the sealing device 1 and the differential pressure generating device 5 are operated to make the first sealed
  • a sealing step (an example of a sticking step, see FIG. 3) is provided in which the pressure in the space 12 is lower than the pressure in the second sealed space 13.
  • the sealing preparation body 50 includes a first support plate 56, a second support plate 57, a spacer 55, a substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted, and a sealing sheet 53.
  • the first support plate 56 is formed in a flat plate shape extending in the left-right direction and the front-rear direction.
  • the first support plate 56 is formed in, for example, a substantially rectangular shape or a substantially circular shape in plan view.
  • the 1st support plate 56 is not specifically limited, For example, it forms from hard materials, such as an acrylic resin (specifically PMMA etc.) and a silicone resin.
  • the dimension of the first support plate 56 in plan view is smaller than or the same as the dimension of the first cavity 6 in plan view.
  • the thickness of the 1st support plate 56 is 0.1 mm or more, for example, Preferably, it is 0.5 mm or more, for example, is 10 mm or less, Preferably, it is 5 mm or less.
  • the second support plate 57 is disposed to face the upper side of the first support plate 56 with a space therebetween.
  • the second support plate 57 is formed in the same shape and size as the first support plate 56 in plan view.
  • the second support plate 57 is, for example, a metal such as stainless steel, a fiber reinforced plastic such as glass epoxy, glass, an acrylic resin (specifically, polymethyl methacrylate (PMMA) or the like), a hard material such as a silicone resin, or the like.
  • PMMA polymethyl methacrylate
  • a hard material such as a silicone resin, or the like.
  • it is formed from a hard transparent material.
  • the spacer 55 is provided so as to be interposed between the peripheral end portion of the first support plate 56 and the peripheral end portion of the second support plate 57, and is formed in a substantially frame shape or a substantially annular shape in plan view. Yes.
  • the spacer 55 is formed to be extendable in the vertical direction (the thickness direction of the first support plate 56 and the second support plate 57).
  • Examples of the spacer 55 include a rubber foam such as a urethane rubber foam.
  • the thickness of the spacer 55 specifically, the thickness of the spacer 55 before pressing (described later) of the first support plate 56 and the second support plate 57 is the optical semiconductor element 52, the substrate 54, and the sealing sheet 53 described below. It is formed to be thicker than the total thickness.
  • the maximum length of the spacer 55 in plan view is, for example, 1 mm or more, preferably 10 mm or more, and for example, 150 mm or less, preferably 100 mm or less.
  • a conductor pattern including an electrode (not shown) for electrical connection with a terminal (not shown) of an optical semiconductor element 52 described below and a wiring continuous therewith is provided. (Not shown) is formed.
  • the conductor pattern is formed from a conductor such as gold, copper, silver, or nickel.
  • the plan view shape of the substrate 54 is not particularly limited, and examples thereof include a substantially rectangular shape in plan view and a substantially circular shape in plan view.
  • the dimensions of the substrate 54 in plan view are appropriately selected, and specifically, are set smaller than the first support plate 56 and the second support plate 57.
  • the maximum length of the sealing sheet 53 in plan view is set.
  • the thickness is, for example, 1 mm or more, preferably 5 mm or more, and for example, 200 mm or less, preferably 150 mm or less.
  • substrate 54 is 100 micrometers or more, for example, Preferably, it is 500 micrometers or more, for example, is 5000 micrometers or less, Preferably, it is 3000 micrometers or less.
  • the optical semiconductor element 52 is an optical semiconductor element that converts electrical energy into optical energy, and is formed, for example, in a substantially rectangular shape in cross-section in which the thickness is shorter than the length in the plane direction (length in the direction perpendicular to the thickness direction).
  • the optical semiconductor element 52 examples include an LED (light emitting diode element) such as a blue LED that emits blue light, and an LD (laser diode).
  • the dimensions of the optical semiconductor element 52 are appropriately set depending on the application and purpose. Specifically, the thickness is, for example, 10 to 1000 ⁇ m, and the maximum length in plan view is, for example, 0.01 mm or more, preferably For example, it is 20 mm or less, preferably 15 mm or less.
  • the optical semiconductor element 52 is, for example, flip-chip mounted or connected to the substrate 54 by wire bonding.
  • the substrate 54 is supported by the first support plate 56. Specifically, the lower surface of the substrate 54 (the side surface opposite to the upper surface on which the optical semiconductor element 52 is mounted) is mounted on the upper surface of the first support plate 56. Is placed. In other words, the first support plate 56 is disposed on the opposite side of the optical semiconductor element 52 with respect to the substrate 54, that is, on the lower side.
  • the sealing sheet 53 is disposed so as to face the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted with an interval on the upper side.
  • the sealing sheet 53 has a sheet shape extending in the left-right direction and the front-rear direction, and the planar view shape of the sealing sheet 53 is not particularly limited, and examples thereof include a substantially rectangular shape in plan view and a substantially circular shape in plan view. It is done.
  • the sealing sheet 53 is formed so as to be included in the projection surface of the substrate 54 when projected in the thickness direction.
  • the dimensions of the sealing sheet 53 in plan view are selected as appropriate, specifically, set to be smaller than the first support plate 56 and the second support plate 57, and specifically, the maximum length of the substrate 54 in plan view.
  • the thickness is, for example, 1 mm or more, preferably 5 mm or more, and for example, 200 mm or less, preferably 150 mm or less.
  • the thickness of the sealing sheet 53 is, for example, 10 ⁇ m or more, preferably 50 ⁇ m or more, and, for example, 2000 ⁇ m or less, preferably 1000 ⁇ m or less.
  • the sealing material forming the sealing sheet 53 contains, for example, a B-stage curable resin.
  • the curable resin has, for example, a two-stage reaction mechanism, and is B-staged (semi-cured) by the first-stage reaction and C-staged (completely cured) by the second-stage reaction. It is a step curable resin, and the above-described sealing material is the above-described B-staged curable resin.
  • the two-stage curable resin for example, a two-stage curable thermosetting resin that is cured by heating, for example, two-stage curable active energy beam curing that is cured by irradiation with active energy rays (for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.).
  • active energy rays for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.
  • a functional resin for example, a two-stage curable thermosetting resin that is cured by heating, for example, two-stage curable active energy beam curing that is cured by irradiation with active energy rays (for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.).
  • active energy rays for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.
  • a functional resin for example, ultraviolet rays, electron beams, etc.
  • examples of the two-step curable resin include silicone resin, epoxy resin, polyimide resin, phenol resin, urea resin, melamine resin, and unsaturated polyester resin.
  • sealing material may contain a phosphor and / or a filler.
  • the phosphor has a wavelength conversion function, and examples thereof include a yellow phosphor capable of converting blue light into yellow light, and a red phosphor capable of converting blue light into red light.
  • yellow phosphor examples include silicate phosphors such as (Ba, Sr, Ca) 2 SiO 4 ; Eu, (Sr, Ba) 2 SiO 4 : Eu (barium orthosilicate (BOS)), for example, Y 3 Al Garnet-type phosphors having a garnet-type crystal structure such as 5 O 12 : Ce (YAG (yttrium, aluminum, garnet): Ce), Tb 3 Al 3 O 12 : Ce (TAG (terbium, aluminum, garnet): Ce) Examples thereof include oxynitride phosphors such as Ca- ⁇ -SiAlON.
  • silicate phosphors such as (Ba, Sr, Ca) 2 SiO 4 ; Eu, (Sr, Ba) 2 SiO 4 : Eu (barium orthosilicate (BOS)
  • Y 3 Al Garnet-type phosphors having a garnet-type crystal structure such as 5 O 12 : Ce (YAG (yttrium, aluminum, garnet): Ce
  • red phosphor examples include nitride phosphors such as CaAlSiN 3 : Eu and CaSiN 2 : Eu.
  • Examples of the shape of the phosphor include a spherical shape, a plate shape, and a needle shape.
  • spherical shape is mentioned from a fluid viewpoint.
  • the average value of the maximum length of the phosphor (in the case of a sphere, the average particle diameter) is, for example, 0.1 ⁇ m or more, preferably 1 ⁇ m or more, and for example, 200 ⁇ m or less, preferably 100 ⁇ m or less. But there is.
  • Fluorescent substances can be used alone or in combination.
  • the blending ratio of the phosphor is, for example, 0.1 parts by mass or more, preferably 0.5 parts by mass or more, for example, 80 parts by mass or less, preferably 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the curable resin. Or less.
  • the filler examples include organic fine particles such as silicone particles (specifically, including silicone rubber particles), inorganic fine particles such as silica (eg, fumed silica), talc, alumina, aluminum nitride, silicon nitride, and the like. Is mentioned. Further, the average value of the maximum length of the filler (in the case of a spherical shape, the average particle diameter) is, for example, 0.1 ⁇ m or more, preferably 1 ⁇ m or more, and, for example, 200 ⁇ m or less, preferably It is also 100 ⁇ m or less.
  • the filler can be used alone or in combination.
  • the blending ratio of the filler is, for example, 0.1 parts by mass or more, preferably 0.5 parts by mass or more, for example, 70 parts by mass or less, preferably 100 parts by mass of the curable resin. It is also 50 parts by mass or less.
  • the sealing sheet 53 is formed in a B-stage state.
  • the compression elastic modulus at 25 ° C. of the sealing sheet 53 is, for example, 0.040 MPa or more, preferably 0.050 MPa or more, more preferably 0.075 MPa or more, and further preferably 0.100 MPa or more.
  • it is 0.145 MPa or less, preferably 0.140 MPa or less, more preferably 0.135 MPa or less, and further preferably 0.125 MPa or less.
  • the sealing sheet 53 is supported by the second support plate 57.
  • the upper surface of the sealing sheet 53 (the side surface opposite to the lower surface in which the optical semiconductor element 52 is embedded) is the lower surface of the second support plate 57. It is glued to.
  • the second support plate 57 is disposed on the opposite side of the substrate 54 with respect to the sealing sheet 53, that is, on the upper side.
  • the sealing preparation body 50 In order to prepare the sealing preparation body 50, first, the first support plate 56 is prepared, and then the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted is placed on the central portion of the first support plate 56. At the same time, the spacer 55 is placed on the peripheral end of the first support plate 56, that is, on the first support plate 56 around the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted. Separately, the sealing sheet 53 is temporarily attached to the second support plate 57, and the peripheral end of the second support plate 57 is placed on the upper surface of the spacer 55 so that the sealing sheet 53 faces the substrate 54. To do.
  • the prepared sealing preparation 50 is installed in the first sealed space 12.
  • the elastic member 3 is brought into contact with the second frame-shaped portion 10 of the second mold member 4. Thereby, the second sealed space 13 is formed.
  • the sealing preparation body 50 is installed on the elastic member 3. Specifically, the first support plate 56 of the sealing preparation body 50 is placed on the central portion of the elastic member 3. As a result, the optical semiconductor element 52, the substrate 54, and the sealing sheet 53 are disposed opposite to each other on the upper side of the second mold member 4 via the elastic member 3.
  • the first mold member 2 is disposed opposite to the second mold member 4 so as to cover the sealing preparation body 50. Specifically, the first frame-shaped portion 7 of the first mold member 2 sandwiches the elastic member 3 in the thickness direction between the first frame-shaped portion 7 and the second frame-shaped portion 10 of the second mold member 4, and the first mold The first mold member 2 is installed on the elastic member 3 so that the first cavity 6 of the member 2 includes the sealing preparation 50.
  • the first sealed space 12 is formed and the sealing preparation body 50 is installed in the first sealed space 12.
  • first frame-like portion 7 and the second frame-like portion 10 are sandwiched in the thickness direction by a holding member (not shown).
  • the sealing step is performed after the installation step.
  • the sealing process includes a decompression process, a differential pressure generation process, and a recovery process.
  • ⁇ Decompression step> Specifically, in the depressurization step, first, the first atmospheric valve 18 and the second atmospheric valve 21 are closed, as indicated by the broken line in FIG. 1, and the thick line in FIG. The first vacuum valve 17 and the second vacuum valve 20 are opened. As a result, the first sealed space 12 communicates with the suction pump 15 via the first pipe 16 and the first vacuum valve 17. The second sealed space 13 communicates with the suction pump 15 through the second pipe 19 and the second vacuum valve 20. In this state, the suction pump 15 is operated. As a result, the pressure P1 in the first sealed space 12 and the pressure P2 in the second sealed space 13 are both reduced.
  • the atmospheric pressure P1 and the atmospheric pressure P2 are the same, and are, for example, 10 hPa or less, preferably 5 hPa or less, more preferably 3 hPa or less, and for example 0.01 hPa or more.
  • the elastic member 3 Since the above-described atmospheric pressure P1 and atmospheric pressure P2 are the same, the elastic member 3 does not move in the thickness direction and is stationary (at the set position) as shown in FIG.
  • the differential pressure generation step is performed after the pressure reduction step.
  • the differential pressure generating device 5 is operated to make the pressure P1 of the first sealed space 12 lower than the pressure P2 of the second sealed space 13.
  • the second vacuum valve 20 is closed and the second atmospheric valve 21 is opened.
  • the second sealed space 13 is opened to the atmosphere via the second pipe 19 and the second atmospheric valve 21. Therefore, the atmospheric pressure P2 in the second sealed space 13 becomes atmospheric pressure.
  • the pressure P1 in the first sealed space 12 (see FIG. 1) is lower than the pressure P2 in the second sealed space 13. That is, a differential pressure is generated in the first sealed space 12 and the second sealed space 13. Therefore, the central part of the elastic member 3 moves to the first cavity 6 side, that is, the upper side so that the volume of the first sealed space 12 is reduced. That is, the central part of the elastic member 3 rises.
  • a portion of the elastic member 3 that faces the first support plate 56 rises so as to press the first support plate 56 upward as indicated by an arrow in FIG.
  • the second support plate 57 comes into contact with the lower surface (concave surface) of the first cavity 6, and the first support plate 56 presses the second support plate 57.
  • the vertical length (thickness) of the spacer 55 is reduced.
  • the sealing sheet 53 and the substrate 54 are pressed in the thickness direction by the first support plate 56 and the second support plate 57.
  • the part exposed from the 1st support plate 56 among the elastic members 3 is formed in the 1st support plate 56 and the 2nd support plate 57, and the side surface of the 1st cavity 6, as shown in FIG. The gap is filled. As a result, the first sealed space 12 is substantially lost.
  • the sealing preparation body 50 is pressed in the vertical direction, and the optical semiconductor element 52 is embedded and sealed by the sealing sheet 53.
  • the sealing sheet 53 is made into a C stage.
  • the sealing sheet 53 contains a B-stage two-stage curable thermosetting resin
  • the sealing sheet 53 is sealed by a heater (not shown) built in the first mold member 2 and the second mold member 4.
  • the stop sheet 53 is heated.
  • the encapsulating sheet 53 contains a B-stage two-stage curable active energy ray curable resin
  • the encapsulating sheet 53 is irradiated with ultraviolet rays using an unillustrated ultraviolet lamp or the like.
  • the optical semiconductor device 51 including the substrate 54, the optical semiconductor element 52 mounted on the substrate 54, and the sealing sheet 53 for sealing the optical semiconductor element 52 is manufactured.
  • the recovery step is performed after the differential pressure generation step.
  • the first vacuum valve 17 is closed (see the broken line), and the first atmospheric valve 18 is opened (see the thick line).
  • the first sealed space 12 is opened to the atmosphere via the first pipe 16 and the first atmospheric valve 18. Therefore, the atmospheric pressure P1 in the first sealed space 12 is an atmospheric pressure and is the same as the atmospheric pressure P2 in the second sealed space 13.
  • the elastic member 3 moves to the second cavity 9 side. That is, the elastic member 3 is lowered to the installation position. Thereby, the press of the 1st support plate 56 and the 2nd support plate 57 is released, and the spacer 55 extends to the original thickness.
  • the sealing sheet 53 is separated from the second support plate 57 by being bonded to the substrate 54 and the optical semiconductor element 52.
  • the holding member (not shown) is removed from the first frame-shaped portion 7 and the second frame-shaped portion 10, and then the second mold member 4 is pulled up from the elastic member 3.
  • the second support plate 57 of the sealing preparation 50 is pulled up from the spacer 55, and the optical semiconductor device 51 is recovered. Thereby, the optical semiconductor device 51 is obtained.
  • this sealing device since it comprises the first mold member 2, the elastic member 3, and the differential pressure generating device 5, the device configuration of the sealing device 1 can be simplified. The size of the sealing device 1 can be reduced.
  • the conventional flat plate press machine includes two press plates (die) and a pressure source for applying pressure to them, and the pressure source is constituted by a large crank mechanism or the like.
  • the flat plate press is large in size so as to be connected to the press plate in the vicinity of the press plate.
  • the sealing device 1 In contrast to such a conventional flat plate press, in the sealing device 1, the first pipe 16 and the second pipe 19 are adjusted to appropriate lengths, and the first mold member 2 and the second mold member 4 are adjusted.
  • the suction pump 15 can be arranged with a high degree of freedom at a position relatively far from the center. Therefore, the sealing device 1 can be downsized.
  • the sealing device 1 can be configured with the first mold member 2, the elastic member 3, the second mold member 4, and the differential pressure generating device 5 as separate bodies, the first mold member 2, the elastic member 3, and the first mold member 2 can be configured separately.
  • the type 2 member 4 and the differential pressure generating device 5 can be arranged independently to reduce the size. Therefore, the sealing device 1 is excellent in transportability by reducing the size of each member.
  • the sealing device 1 is used, the first mold member 2 and the suction pump 15 are connected by the first pipe 16, and the second mold member 4 and the suction pump 15 are connected by the second pipe 19.
  • the sealing device 1 can be configured.
  • first mold member 2, the elastic member 3 and the second mold member 4 are used as a unit, and the unit and the differential pressure generating device 5 are conveyed as a set.
  • the sealing device 1 is used, the unit and the differential pressure
  • the generator 5 can also be arranged independently.
  • the elastic member 3 moves to the first cavity 6 side by operating the differential pressure generating device 5. Therefore, the sealing preparation body 50 is pressed in the opposing direction of the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53, that is, in the thickness direction (vertical direction), and the optical semiconductor element 52 is reliably sealed by the sealing sheet 53. can do.
  • the first mold member 2 and the second support plate 57 are made of a transparent material, that is, the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53 can be viewed from above and / or from the side. It is configured. Therefore, the sealing state of the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53 can be visually confirmed from above and / or from the side via the first mold member 2 and the second support plate 57.
  • the second mold member 4 has the second cavity 9 that can form the second sealed space 13, so that the second cavity 9 allows the pressure P ⁇ b> 2 of the second sealed space 13 to be increased by the second cavity 9.
  • the elastic member 3 can be reliably moved toward the first cavity 6 by making the pressure P1 of the sealed space 12 higher than the pressure P1.
  • the respective sealing postures (sealing postures) of the substrate 54 and the sealing sheet 53 on which the optical semiconductor element 52 is mounted by the first support plate 56 and the second support plate 57, respectively. Can be securely held.
  • the horizontal posture of the substrate 54 and the sealing sheet 53 can be reliably held. Therefore, the optical semiconductor element 52 can be accurately sealed by the sealing sheet 53.
  • the sealing step by operating the differential pressure generating device 5, the pressure P1 of the first sealed space 12 is made lower than the pressure P2 of the second sealed space 13, and the elastic member 3 is moved to the first cavity 6 side, whereby the sealing preparation body 50 is pressed in the opposing direction of the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53, that is, in the thickness direction (vertical direction), and sealed.
  • the optical semiconductor element 52 can be reliably sealed by the sheet 53.
  • the optical semiconductor element 52 can be reliably sealed by the sealing sheet 53 by a simple method in which the pressure P1 of the first sealed space 12 is lower than the pressure P2 of the second sealed space 13.
  • the atmosphere is instantaneously released from the second atmosphere valve 21, the first branching portion 22, and the second pipe 19 by opening the second atmosphere valve 21 at once. Can flow in.
  • the elastic member 3 can be quickly moved toward the first cavity 6, that is, the elastic member 3 can be raised at a stretch, and the optical semiconductor element 52 can be efficiently sealed by the sealing sheet 53.
  • the same members as those in the embodiment of FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
  • the sealing sheet 53 is arranged on the upper side of the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted, and the upper surface and the side surface of the optical semiconductor element 52 are covered with the sealing sheet 53. Yes.
  • the arrangement of the sealing sheet 53 and the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted is not limited to this.
  • the sealing sheet 53 is disposed on the lower side of the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted, and then the lower surface and the side surface of the optical semiconductor element 52 are formed by the sealing sheet 53. Can also be coated.
  • the second support plate 57 is placed at the center of the elastic member 3, and the lower surface of the sealing sheet 53 is temporarily attached to the upper surface thereof.
  • the second support plate 57 can employ a hard material other than a transparent material.
  • a substrate 54 is temporarily attached to the first support plate 56.
  • the first support plate 56 is preferably formed from a transparent material such as glass, acrylic resin, silicone resin (specifically, PMMA) from the viewpoint of visibility of the optical semiconductor element 52 and the sealing sheet 53. Has been.
  • FIG. 5 can provide the same operational effects as those of FIGS.
  • the pressure P1 in the first sealed space 12 (not shown in FIGS. 6 and 7; see FIG. 1) is compared with the pressure P2 in the second sealed space 13 in the differential pressure generating step. Therefore, the pressure difference becomes lower, and the elastic member 3 moves downward. That is, the central part of the elastic member 3 is lowered.
  • the sealing sheet 53 is disposed on the upper side of the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted, and the sealing sheet 53 covers the upper surface and the side surface of the optical semiconductor element 52. To do.
  • the sealing sheet 53 is disposed on the lower side of the substrate 54 on which the optical semiconductor element 52 is mounted, and the sealing sheet 53 is disposed on the lower surface of the optical semiconductor element 52 and Cover the sides.
  • the second cavity 9 is formed in advance in the second mold member 4.
  • the second mold member 4 is a flat plate. It can also be formed into a shape.
  • the upper surface of the second mold member 4 is formed in a flat shape.
  • the first sealed space 12 (see FIG. 8) and the second sealed space 13 (see FIG. 9) in the pressure reducing step (see FIG. 8) and the differential pressure generating step (see FIG. 9). ) Are formed, and in the first sealed space 12 (see FIG. 8) and the second sealed space 13 (see FIG. 9), the pressure P1 of the first sealed space 12 is changed to the pressure P2 of the second sealed space 13. A differential pressure that is lower than that is generated.
  • FIGS. 8 and 9 can provide the same effects as those of FIGS. 1 to 7. Further, in the embodiment shown in FIGS. 8 and 9, since the upper surface is formed flat without forming the second cavity 9 in the second mold member 4, the configuration of the sealing device 1 is further simplified. Can be.
  • the second mold member 4 is provided in the sealing device 1, but for example, as shown in FIGS.
  • the sealing device 1 can also be configured without providing it.
  • the elastic member 3 is provided in the lower part of the sealing device 1, and the lower surface of the elastic member 3 is exposed. Further, the peripheral end portion of the elastic member 3 is arranged so as to contact the first frame-like portion 7 of the first mold member 2.
  • the space opposite to the first sealed space 12 with respect to the elastic member 3 is an open space 13 ′.
  • the differential pressure generator 5 does not include the second pipe 19, the second vacuum valve 20, and the second atmospheric valve 21.
  • the sealing process of this method does not include the above-described pressure reducing process, and before the differential pressure generating process, first, as shown in FIG. 10, the first atmospheric valve 18 and the first vacuum valve 17 are opened and suction is performed. The pump 15 is activated.
  • the first sealed space 12 communicates with the suction pump 15 via the first vacuum valve 17 and is opened to the atmosphere via the first atmospheric valve 18.
  • P1 maintains atmospheric pressure without being depressurized.
  • the first atmospheric valve 18 is closed as shown in FIG. Then, since the first sealed space 12 communicates only with the suction pump 15 via the first vacuum valve 17, the pressure P1 in the first sealed space 12 is reduced. That is, the pressure P1 of the first sealed space 12 is lower than the pressure P2 of the open space 13 ', that is, the atmospheric pressure. Then, the elastic member 3 rises. Thereby, the sealing preparation body 50 is pressed in the thickness direction, and the optical semiconductor element 52 is sealed by the sealing sheet 53.
  • the sealing device 1 does not include the second mold member 4, so that the configuration of the sealing device 1 can be further simplified.
  • the first sealed space 12 is decompressed using the suction pump 15 in the decompression step and the differential pressure generation step.
  • the second sealed space 13 can be pressurized using a gas pressurizing device such as a compressor.
  • the first support plate 56 and the second support plate 57 are provided in the sealing preparation body 50.
  • the first support plate 56 is provided. It is also possible to configure the sealing preparation 50 without providing either one or both of the second support plate 57 or both.
  • the spacer 55 is provided on the sealing preparation 50, but is not particularly limited, and although not shown, the sealing preparation 50 is configured without the spacer 55. You can also.
  • the sticking preparation body 50 is placed in the sticking apparatus 1 in the setting process.
  • the sticking preparation body 50 includes a substrate 54 on which an electronic component 52 is mounted.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

貼着装置は、電子部品を樹脂シートによって貼着するための貼着装置である。貼着装置は、電子部品、および、電子部品と間隔を隔てて対向配置される樹脂シートを備える貼着準備体を収容可能な第1キャビティを有する第1型部材と、第1キャビティと第1密閉空間を形成可能なように、樹脂シートと対向配置される弾性部材と、第1型部材に接続されており、第1密閉空間の気圧を、弾性部材に対して第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くするための差圧発生手段とを備える。貼着装置は、差圧発生手段が作動することによって、弾性部材が第1キャビティ側に移動し、これによって、貼着準備体が、電子部品と樹脂シートとの対向方向に押圧されて、樹脂シートによって電子部品を貼着するように構成されている。

Description

貼着装置および電子装置の製造方法
 本発明は、貼着装置および電子装置の製造方法、詳しくは、貼着装置、および、それを用いて樹脂シートによって電子部品を貼着する電子装置の製造方法に関する。
 従来、光半導体素子やコンデンサーなどの電子部品を、封止シートなどの樹脂シートによって貼着することにより、光半導体装置などの電子装置を製造することが知られている。
 例えば、封止シートを、発光ダイオードが実装された基板に対向配置し、続いて、平板プレスによってそれらをプレスする方法が提案されている(例えば、下記特許文献1参照。)。
特開2013-21284号公報
 しかし、特許文献1で提案される方法では、封止シート、および、発光ダイオードが実装された基板を、平板プレス機に設置して、平板プレス機を用いてそれらをプレスしているところ、平板プレス機は、2枚のプレス板(金型)、および、それらに加圧力を付与するための加圧源を備えており、通常、大型である。
 その一方、電子装置を製造するためのプレス装置を、用途および目的によって、小型化したい要求がある。しかし、特許文献1に記載の平板プレス機では、上記した要求を満足させにくいという不具合がある。
 さらに、プレス装置などの貼着装置には、用途および目的によって、所望の場所に運搬したい要求があるところ、特許文献1に記載の平板プレス機は、大型であるため、上記した要求を満足させにくいという不具合がある。
 本発明の目的は、小型化が図られ、運搬性に優れる貼着装置、および、それを用いて電子装置を簡易に製造できる電子装置の製造方法を提供することにある。
 本発明の貼着装置は、電子部品を樹脂シートによって貼着するための貼着装置であって、前記電子部品、および、前記電子部品と間隔を隔てて対向配置される前記樹脂シートを備える貼着準備体を収容可能な第1キャビティを有する第1型部材と、前記第1キャビティと第1密閉空間を形成可能なように、前記樹脂シートと対向配置される弾性部材と、前記第1型部材に接続されており、前記第1密閉空間の気圧を、前記弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くするための差圧発生手段とを備え、前記差圧発生手段が作動することによって、前記弾性部材が前記第1キャビティ側に移動し、これによって、前記貼着準備体が、前記電子部品と前記樹脂シートとの対向方向に押圧されて、前記樹脂シートによって前記電子部品を貼着するように構成されていることを特徴としている。
 この貼着装置によれば、第1型部材と、弾性部材と、差圧発生手段とを備えるので、装置構成を簡易にすることができ、そのため、小型化を図ることできる。さらに、小型化が図られた貼着装置は、運搬性に優れる。
 また、この貼着装置によれば、差圧発生手段を作動させることによって、弾性部材が第1キャビティ側に移動する。そのため、貼着準備体を、電子部品と樹脂シートとの対向方向に押圧して、樹脂シートによって電子部品を確実に貼着することができる。
 また、本発明の貼着装置では、前記第1型部材および前記弾性部材は、前記差圧発生手段と別体で構成されていることが好適である。
 この貼着装置によれば、第1型部材および弾性部材は、差圧発生手段と別体で構成されているので、第1型部材および弾性部材と、差圧発生手段とを、それぞれ独立で配置して、小型化を図ることができる。
 また、本発明の貼着装置では、前記第1型部材は、前記電子部品および/または前記樹脂シートを目視可能に構成されていることが好適である。
 この貼着装置では、第1型部材は、電子部品および/または樹脂シートを目視可能に構成されているので、第1型部材を介して、電子部品および/または樹脂シートの貼着の状態を目視で確認することができる。
 また、本発明の貼着装置は、前記第1型部材と前記弾性部材を挟んで対向配置される第2型部材を備え、前記第2型部材は、前記第1キャビティと前記弾性部材を挟んで対向し、前記弾性部材と、前記弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の前記空間を密閉する第2密閉空間を形成可能な第2キャビティを有することが好適である。
 この貼着装置では、第2型部材が、第2密閉空間を形成可能な第2キャビティを有するので、第2キャビティによって、第2密閉空間の気圧を、第1密閉空間の気圧より確実に高くすることによって、弾性部材を第1キャビティ側に確実に移動させることができる。
 また、本発明の貼着装置では、前記貼着準備体は、前記電子部品が実装される基板と、前記基板の前記電子部品に対する反対側に配置され、前記基板を支持するための第1支持板と、前記樹脂シートの前記基板に対する反対側に配置され、前記樹脂シートを支持するための第2支持板とを備えることが好適である。
 この貼着装置では、第1支持板および第2支持板のそれぞれによって、電子部品が実装される基板および樹脂シートのそれぞれの貼着姿勢を確実に保持することができる。そのため、樹脂シートによって電子部品を精度よく貼着することができる。
 また、本発明の電子装置の製造方法は、樹脂シートによって電子部品を貼着して電子装置を製造する方法であって、上記した貼着装置の前記第1密閉空間に、前記貼着準備体を設置する設置工程、および、前記差圧発生手段を作動させて、前記第1密閉空間の気圧を、弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くすることによって、前記弾性部材を前記第1キャビティ側に移動させ、これによって、前記貼着準備体を、前記電子部品と前記樹脂シートとの対向方向に押圧させ、前記樹脂シートによって前記電子部品を貼着する貼着工程を備えることを特徴としている。
 この方法によれば、貼着工程において、差圧発生手段を作動させることによって、第1密閉空間の気圧を、弾性部材に対して第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くして、弾性部材を第1キャビティ側に移動させ、これによって、貼着準備体を、電子部品と樹脂シートとの対向方向に押圧して、樹脂シートによって電子部品を確実に貼着することができる。
 そのため、第1密閉空間の気圧を、第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くする簡易な方法で、樹脂シートによって電子部品を確実に貼着することができる。
 また、本発明の電子装置の製造方法では、前記貼着工程は、前記第1密閉空間および前記第1密閉空間の反対側の前記空間を、ともに減圧する減圧工程、および、前記減圧工程後、前記第1密閉空間の反対側の前記空間の気圧を大気圧にして、前記第1密閉空間の気圧を前記第1密閉空間の反対側の前記空間の気圧より低くする差圧発生工程を備えることが好適である。
 この方法によれば、第1密閉空間および第1密閉空間の反対側の空間を、ともに減圧した後、第1密閉空間の反対側の空間に大気を流入させることによって、その空間の気圧を大気圧にできる。そのため、第1密閉空間の気圧を第1密閉空間の反対側の空間の気圧より迅速に低くすることができる。その結果、弾性部材を第1キャビティ側に迅速に移動させて、樹脂シートによって電子部品を効率よく貼着することができる。
 本発明の貼着装置によれば、装置構成を簡易にすることができ、そのため、小型化を図ることできる。さらに、小型化が図られた貼着装置は、運搬性に優れる。また、樹脂シートによって電子部品を確実に貼着することができる。
 また、本発明の電子装置の製造方法によれば、簡易な方法で、樹脂シートによって電子部品を確実に貼着することができる。
図1は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の正断面図であって、本発明の電子装置の製造方法の一実施形態である光半導体装置の製造方法における減圧工程を示す。 図2は、図1に示す封止装置の分解断面図を示す。 図3は、図1に示す封止装置の断面図であって、本発明の電子装置の製造方法の一実施形態である光半導体装置の製造方法における差圧発生工程を示す。 図4は、図1に示す封止装置の断面図であって、本発明の電子装置の製造方法の一実施形態である光半導体装置の製造方法における回収工程を示す。 図5は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の変形例の正断面図であって、差圧発生工程を示す。 図6は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の変形例の正断面図であって、差圧発生工程を示す。 図7は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の変形例の正断面図であって、差圧発生工程を示す。 図8は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の変形例の正断面図であって、設置工程を示す。 図9は、図8に示す封止装置の正断面図であって、差圧発生工程を示す。 図10は、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置の一実施形態の変形例の正断面図であって、設置工程を示す。 図11は、図10に示す封止装置の正断面図であって、差圧発生工程を示す。
 図1および図2を参照して、本発明の貼着装置の一実施形態である封止装置について説明する。
 図1において、紙面上下方向を「上下方向」(厚み方向、第1方向)とし、紙面左右方向を「左右方向」(第2方向、第1方向に直交する方向)とし、紙面紙厚方向を「前後方向」(第3方向、第1方向および第2方向に直交する方向)とし、具体的には、図1に記載の方向矢印に準拠する。図1以外の図面についても、図1の方向を基準とする。
 図1において、この封止装置1は、電子部品としての光半導体素子52を、樹脂シートとしての封止シート53によって封止するための封止装置である。封止装置1は、第1型部材2と、弾性部材3と、第2型部材4と、差圧発生手段としての差圧発生装置5とを備える。
 第1型部材2は、図2に示すように、左右方向および前後方向に延びる厚肉平板形状をなし、具体的には、平面視、正面視および側面視において、略矩形状に形成されている。また、第1型部材2は、正断面視および側断面視において、下面の中央部が上側に凹む有底枠形状に形成されている。第1型部材2は、上側に凹む部分を第1キャビティ6として有する。第1キャビティ6は、第1型部材2において第1キャビティ6の周囲の第1枠状部分7の下面より、上側に略矩形状に凹むように形成されている。第1キャビティ6は、底面視略矩形状に形成されている。これによって、第1キャビティ6は、後述する封止準備体50を収容可能なように構成されている。第1枠状部分7の下面は、平坦状に形成されている。なお、第1型部材2には、必要により、図示しないヒータが内蔵されている。
 第1型部材2の寸法は、適宜設定されており、具体的には、第1型部材2の厚みが、例えば、20mm以上、好ましくは、25mm以上であり、また、例えば、60mm以下、好ましくは、50mm以下であり、第1型部材2の平面視における最大長さが、例えば、200mm以上、好ましくは、220mm以上であり、また、例えば、300mm以下、好ましくは、280mm以下である。また、第1キャビティ6の深さが、例えば、6mm以上、好ましくは、8mm以上であり、また、例えば、20mm以下、好ましくは、18mm以下であり、第1キャビティ6の底面視における最大長さが、例えば、80mm以上、好ましくは、100mm以上であり、また、例えば、200mm以下、好ましくは、180mm以下である。
 第1型部材2は、例えば、ステンレスなどの金属、ガラスエポキシなどの繊維強化プラスチック、ガラス、アクリル樹脂(具体的には、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)など)、シリコーン樹脂などの硬質の材料などから形成され、好ましくは、光半導体素子52および封止シート53の視認性の観点から、硬質の透明材料から形成されている。
 弾性部材3は、第1型部材2の下側に対向配置されており、左右方向および前後方向に延びるシート形状に形成されている。また、図1に示すように、弾性部材3は、厚み方向に投影したときに、少なくとも第1型部材2を含む寸法に形成されており、具体的には、弾性部材3の周端縁は、第1型部材2の周端縁と同一位置に配置されている。
 弾性部材3の上面の周端部は、第1枠状部分7の下面と上下方向に接触するように隣接配置されている。一方、弾性部材3の上面の中央部は、第1キャビティ6の下面(凹面)と上下方向に間隔を隔てて配置されている。
 これによって、弾性部材3は、第1キャビティ6と後述する第1密閉空間12を形成可能なように設けられる。
 弾性部材3を形成する弾性材料としては、例えば、エチレン・プロピレン・ジエンゴム(EPDM)、例えば、1-ブテンなどのα-オレフィン・ジシクロペンタジエン、例えば、エチリデンノルボルネンなどの非共役二重結合を有する環状または非環状のポリエンを成分とするゴム系共重合体、例えば、エチレン・プロピレンゴム、エチレン・プロピレンターポリマー、シリコーンゴム、ポリウレタン系ゴム、ポリアミド系ゴム、ニトリルゴム(例えば、NBRなど)などの各種ゴムが挙げられる。好ましくは、NBRが挙げられる。
 弾性部材3の25℃における引張弾性率は、例えば、1.0MPa以上、好ましくは、3.0MPa以上であり、また、例えば、15MPa以下、好ましくは、13MPa以下である。弾性部材3の引張弾性率が上記範囲内であれば、弾性部材3を円滑に上昇(後述)させることができる。
 弾性部材3の厚みは、例えば、0.5mm以上、好ましくは、0.8mm以上であり、また、例えば、3.0mm以下、好ましくは、2.0mm以下である。
 第2型部材4は、弾性部材3の下側に対向配置されている。第2型部材4は、左右方向および前後方向に延び、第1型部材2に比べて薄い平板形状をなし、具体的には、平面視、正面視および側面視において、略矩形状に形成されている。また、第2型部材4は、正断面視および側断面視において、上面の中央部が下側に凹む有底枠形状に形成されている。第2型部材4は、下側に凹む部分を第2キャビティ9として有する。第2キャビティ9は、第2型部材4において第2キャビティ9の周囲の第2枠状部分10の上面より、下側に略矩形状に凹むように形成されている。第2枠状部分10の上面は、平坦状に形成されている。また、第2キャビティ9は、平面視略矩形状に形成されている。また、第2キャビティ9は、厚み方向に投影したときに、第1キャビティ6の投影面と重なるように、形成されている。
 第2型部材4の平面視における形状は、封止装置1の平面視における寸法と同一であり、具体的には、第1枠状部分7および第2枠状部分10の平面視形状は、同一であり、また、第1キャビティ6および第2キャビティ9の平面視形状は、同一である。なお、第2型部材4には、必要により、図示しないヒータが内蔵されている。
 第2型部材4の寸法は、適宜設定されており、第2型部材4の厚みが、例えば、10mm以上、好ましくは、20mm以上であり、また、例えば、60mm以下、好ましくは、50mm以下である。また、第2キャビティ9の厚みが、例えば、0.5mm以上、好ましくは、1mm以上であり、また、例えば、20mm以下、好ましくは、18mm以下である。
 第2型部材4は、例えば、ステンレスなどの金属、ガラスエポキシなどの繊維強化プラスチック、ガラス、アクリル樹脂(具体的には、PMMAなど)、シリコーン樹脂などの硬質の材料から形成されている。
 差圧発生装置5は、吸引ポンプ15と、第1管16と、第1真空バルブ17と、第1大気バルブ18と、第2管19と、第2真空バルブ20と、第2大気バルブ21とを備える。
 第1管16は、第1型部材2と吸引ポンプ15とを接続するように配管されている。具体的には、第1管16の一端部(吸引方向上流側端部)は、第1型部材2の第1キャビティ6に連通されるとともに、第1管16の他端部(吸引方向下流側端部)は、吸引ポンプ15に接続されている。また、第1管16には、その途中部分(第1分岐部22)から分岐管が分岐している。分岐管は、大気に開放するように構成されている。なお、第1管16は、ガス配管に通常用いられる素材、例えば、フレキシブルホースなどから形成されており、吸引ポンプ15と第1型部材2との距離が適度に確保される長さ(具体的には、例えば、5.0cm以上、好ましくは、10cm以上であり、また、例えば、1000cm以下、好ましくは、500cm以下)に形成されている。
 第1真空バルブ17は、第1管16の途中に介在されるように設けられており、具体的には、吸引ポンプ15と第1管16の第1分岐部22との間に設けられている。
 第1大気バルブ18は、第1管16の分岐管に設けられている。
 第2管19は、第2型部材4と吸引ポンプ15とを接続するように配管されている。具体的には、第2管19の一端部(吸引方向上流側端部)は、第2型部材4の第2キャビティ9に連通されるとともに、第2管19の他端部(吸引方向下流側端部)は、吸引ポンプ15に接続されている。なお、第2管19の他端部は、第1管16の他端部と共通の管として構成されている。また、第2管19には、その途中部分(第2分岐部23)から分岐管が分岐している。分岐管は、大気に開放するように構成されている。なお、第2管19は、ガス配管に通常用いられる素材、例えば、フレキシブルホースなどから形成されており、吸引ポンプ15と第2型部材4との距離が十分に確保される長さに形成されている。
 第2真空バルブ20は、第2管19の途中に介在されるように設けられており、具体的には、吸引ポンプ15と第2管19の第2分岐部23との間に設けられている。
 第2大気バルブ21は、第2管19の分岐管に設けられている。
 次に、この封止装置1の組み付けについて説明する。
 図2に示すように、まず、第1型部材2、弾性部材3、第2型部材4を用意する。
 次いで、吸引ポンプ15と第1型部材2とを、第1管16を介して接続するとともに、吸引ポンプ15と第2型部材4とを、第2管19を介して接続する。
 また、第1型部材2および第2型部材4を、第1キャビティ6および第2キャビティ9が厚み方向に対向するように、対向させる。続いて、弾性部材3を、第1型部材2および第2型部材4の間に介在させる。つまり、第1型部材2は、弾性部材3を挟んで第2型部材4の上側に対向配置される。これによって、第2キャビティ9は、第1キャビティ6と弾性部材3を挟んで対向配置される。
 続いて、第1枠状部分7および第2枠状部分10によって、弾性部材3の周端部を厚み方向に挟み込む。なお、第1枠状部分7および第2枠状部分10を、図示しないクリップなどの狭持部材によって、厚み方向に挟み込むこともできる。
 これによって、第1キャビティ6と弾性部材3とによって、第1密閉空間12が形成される。第1密閉空間12は、第1キャビティ6によって仕切られる空間を弾性部材3によって下側から仕切られることによって形成されており、第1キャビティ6に対応する形状に形成されている。なお、第1枠状部分7の下面と弾性部材3の周端部の上面とは、それらの間における大気の流入および流出を遮断可能なように、密着している。
 一方、第2キャビティ9と弾性部材3によって、第2密閉空間13が形成される。第2密閉空間13は、弾性部材3に対して第1密閉空間12の反対側の空間を密閉しており、具体的には、第2密閉空間13は、第2キャビティ9によって仕切られる空間を弾性部材3によって上側から仕切ることによって、形成される。つまり、第2密閉空間13は、第2キャビティ9に対応する形状に形成されている。なお、第2枠状部分10の上面と、弾性部材3の周端部の下面とは、それらの間における大気の流入および流出を遮断可能なように、密着している。
 また、図1が参照されるように、第1型部材2および弾性部材3は、第1キャビティ6の下面(凹面)と、弾性部材3の周端部の上面とが実質的に平行になるように、構成されている。
 次に、図1~図4を参照して、封止装置1を用いて、光半導体装置51を製造する方法について説明する。
 この方法は、封止シート53によって光半導体素子52を封止して光半導体装置51を製造する方法である。この方法は、封止装置1の第1密閉空間12に、封止準備体50を設置する設置工程(図1および図2参照)、および、差圧発生装置5を作動させて、第1密閉空間12の気圧を、第2密閉空間13の気圧より低くする封止工程(貼着工程の一例、図3参照)を備える。
  [設置工程]
 設置工程において、封止準備体50を第1密閉空間12に設置するには、まず、例えば、図1に示すように、封止準備体50を準備する。
 封止準備体50は、第1支持板56と、第2支持板57と、スペーサ55と、光半導体素子52が実装された基板54と、封止シート53とを備える。
 第1支持板56は、左右方向および前後方向に延びる平板形状に形成されている。第1支持板56は、平面視において、例えば、略矩形状または略円形状に形成されている。第1支持板56は、特に限定されず、例えば、アクリル樹脂(具体的には、PMMAなど)、シリコーン樹脂などの硬質材料から形成されている。第1支持板56の平面視における寸法は、第1キャビティ6の平面視における寸法よりも小さく、あるいは、同一に設定されている。第1支持板56の厚みは、例えば、0.1mm以上、好ましくは、0.5mm以上であり、また、例えば、10mm以下、好ましくは、5mm以下である。
 第2支持板57は、第1支持板56の上側に間隔を隔てて対向配置されている。また、第2支持板57は、平面視において、第1支持板56と同一形状および寸法に形成されている。第2支持板57は、例えば、ステンレスなどの金属、ガラスエポキシなどの繊維強化プラスチック、ガラス、アクリル樹脂(具体的には、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)など)、シリコーン樹脂などの硬質の材料などから形成され、好ましくは、光半導体素子52および封止シート53の視認性の観点から、硬質の透明材料から形成されている。
 スペーサ55は、第1支持板56の周端部および第2支持板57の周端部の間に介在されるように設けられており、平面視略枠形状または略円環形状に形成されている。スペーサ55は、上下方向(第1支持板56および第2支持板57の厚み方向)に伸縮可能に形成されている。スペーサ55としては、例えば、ウレタンゴム発泡体などのゴム系発泡体が挙げられる。スペーサ55の厚み、具体的には、第1支持板56および第2支持板57の押圧(後述)前のスペーサ55の厚みは、次に説明する光半導体素子52、基板54および封止シート53の総厚みより厚くなるように形成されている。スペーサ55の平面視における最大長さは、例えば、1mm以上、好ましくは、10mm以上であり、また、例えば、150mm以下、好ましくは、100mm以下である。
 基板54は、例えば、シリコン基板、セラミック基板、ポリイミド樹脂基板、金属基板に絶縁層が積層された積層基板などの絶縁基板からなる。
 また、基板54の上面には、次に説明する光半導体素子52の端子(図示せず)と電気的に接続するための電極(図示せず)と、それに連続する配線とを備える導体パターン(図示せず)が形成されている。導体パターンは、例えば、金、銅、銀、ニッケルなどの導体から形成されている。
 基板54の平面視形状としては、特に限定されず、例えば、平面視略矩形状、平面視略円形状などが挙げられる。基板54の平面視における寸法は適宜選択され、具体的には、第1支持板56および第2支持板57より小さく設定されており、具体的には、封止シート53の平面視における最大長さは、例えば、1mm以上、好ましくは、5mm以上であり、また、例えば、200mm以下、好ましくは、150mm以下である。基板54の厚みは、例えば、100μm以上、好ましくは、500μm以上であり、また、例えば、5000μm以下、好ましくは、3000μm以下である。
 光半導体素子52は、電気エネルギーを光エネルギーに変換する光半導体素子であり、例えば、厚みが面方向長さ(厚み方向に対する直交方向長さ)より短い断面視略矩形状に形成されている。
 光半導体素子52としては、例えば、青色光を発光する青色LEDなどのLED(発光ダイオード素子)や、LD(レーザーダイオード)などが挙げられる。光半導体素子52の寸法は、用途および目的に応じて適宜設定され、具体的には、厚みが、例えば、10~1000μm、平面視における最大長さが、例えば、0.01mm以上、好ましくは、0.1mm以上であり、また、例えば、20mm以下、好ましくは、15mm以下である。
 光半導体素子52は、基板54に対して、例えば、フリップチップ実装され、あるいは、ワイヤボンディング接続されている。
 また、基板54は、第1支持板56に支持されており、具体的には、基板54の下面(光半導体素子52を実装する上面に対する反対側面)が、第1支持板56の上面に載置されている。換言すれば、第1支持板56は、基板54に対する光半導体素子52の反対側、つまり、下側に配置されている。
 封止シート53は、光半導体素子52が実装される基板54に対して、上側に間隔を隔てて対向配置されている。封止シート53は、左右方向および前後方向に延びるシート形状をなし、封止シート53の平面視形状としては、特に限定されず、例えば、平面視略矩形状、平面視略円形状などが挙げられる。具体的には、封止シート53は、厚み方向に投影したときに、基板54の投影面に含まれるように、形成されている。封止シート53の平面視における寸法は適宜選択され、具体的には、第1支持板56および第2支持板57より小さく設定されており、具体的には、基板54の平面視における最大長さは、例えば、1mm以上、好ましくは、5mm以上であり、また、例えば、200mm以下、好ましくは、150mm以下である。封止シート53の厚みは、例えば、10μm以上、好ましくは、50μm以上であり、また、例えば、2000μm以下、好ましくは、1000μm以下である。
 封止シート53を形成する封止材料は、例えば、Bステージの硬化性樹脂を含有する。
 つまり、硬化性樹脂は、例えば、2段階の反応機構を有しており、1段階目の反応でBステージ化(半硬化)し、2段階目の反応でCステージ化(完全硬化)する2段階硬化型樹脂であり、上記した封止材料は、上記したBステージ化した硬化性樹脂である。
 2段階硬化型樹脂としては、例えば、加熱により硬化する2段階硬化型熱硬化性樹脂、例えば、活性エネルギー線(例えば、紫外線、電子線など)の照射により硬化する2段階硬化型活性エネルギー線硬化性樹脂などが挙げられる。
 具体的には、2段階硬化型樹脂として、例えば、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などが挙げられる。
 また、封止材料には、蛍光体および/または充填剤を含有させることもできる。
 蛍光体は、波長変換機能を有しており、例えば、青色光を黄色光に変換することのできる黄色蛍光体、青色光を赤色光に変換することのできる赤色蛍光体などが挙げられる。
 黄色蛍光体としては、例えば、(Ba,Sr,Ca)SiO;Eu、(Sr,Ba)SiO:Eu(バリウムオルソシリケート(BOS))などのシリケート蛍光体、例えば、YAl12:Ce(YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)、TbAl12:Ce(TAG(テルビウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)などのガーネット型結晶構造を有するガーネット型蛍光体、例えば、Ca-α-SiAlONなどの酸窒化物蛍光体などが挙げられる。
 赤色蛍光体としては、例えば、CaAlSiN:Eu、CaSiN:Euなどの窒化物蛍光体などが挙げられる。
 蛍光体の形状としては、例えば、球状、板状、針状などが挙げられる。好ましくは、流動性の観点から、球状が挙げられる。
 蛍光体の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、200μm以下、好ましくは、100μm以下でもある。
 蛍光体は、単独使用または併用することができる。
 蛍光体の配合割合は、硬化性樹脂100質量部に対して、例えば、0.1質量部以上、好ましくは、0.5質量部以上であり、例えば、80質量部以下、好ましくは、50質量部以下である。
 充填剤としては、例えば、シリコーン粒子(具体的には、シリコーンゴム粒子を含む)などの有機微粒子、例えば、シリカ(例えば、煙霧シリカなど)、タルク、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ケイ素などの無機微粒子が挙げられる。また、充填剤の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、200μm以下、好ましくは、100μm以下でもある。充填剤は、単独使用または併用することができる。充填剤の配合割合は、硬化性樹脂100質量部に対して、例えば、0.1質量部以上、好ましくは、0.5質量部以上であり、また、例えば、70質量部以下、好ましくは、50質量部以下でもある。
 封止シート53は、Bステージ状態で形成されている。
 また、封止シート53の25℃における圧縮弾性率は、例えば、0.040MPa以上、好ましくは、0.050MPa以上、より好ましくは、0.075MPa以上、さらに好ましくは、0.100MPa以上であり、また、例えば、0.145MPa以下、好ましくは、0.140MPa以下、より好ましくは、0.135MPa以下、さらに好ましくは、0.125MPa以下である。
 封止シート53は、第2支持板57に支持されており、具体的には、封止シート53の上面(光半導体素子52を埋設する下面に対する反対側面)が、第2支持板57の下面に接着されている。なお、第2支持板57は、封止シート53に対する基板54の反対側、つまり、上側に配置されている。
 そして、封止準備体50を準備するには、まず、第1支持板56を用意し、次いで、光半導体素子52が実装された基板54を、第1支持板56の中央部に載置するとともに、第1支持板56の周端部、つまり、光半導体素子52が実装された基板54の周囲の第1支持板56に、スペーサ55を載置する。別途、封止シート53を第2支持板57に仮貼りして、かかる第2支持板57の周端部を、封止シート53が基板54に対向するように、スペーサ55の上面に載置する。
 その後、準備した封止準備体50を第1密閉空間12に設置する。
 具体的には、まず、第2型部材4の第2枠状部分10に、弾性部材3を接触させる。これによって、第2密閉空間13が形成される。
 次いで、封止準備体50を弾性部材3に設置する。具体的には、封止準備体50の第1支持板56を、弾性部材3の中央部に載置する。これによって、光半導体素子52、基板54および封止シート53が、第2型部材4の上側に、弾性部材3を介して、対向配置される。
 その後、第1型部材2を、封止準備体50を被覆するように、第2型部材4に対向配置する。具体的には、第1型部材2の第1枠状部分7が、第2型部材4の第2枠状部分10との間で、弾性部材3を厚み方向に挟み、かつ、第1型部材2の第1キャビティ6が、封止準備体50を包含するように、第1型部材2を弾性部材3に対して設置する。
 これによって、第1密閉空間12が形成されるとともに、封止準備体50が第1密閉空間12に設置される。
 その後、図示しない狭持部材によって、第1枠状部分7および第2枠状部分10を厚み方向に挟み込む。
  [封止工程]
 封止工程は、設置工程後、実施される。
 封止工程は、減圧工程、差圧発生工程および回収工程を備える。
  <減圧工程>
 減圧工程では、具体的には、まず、図1の破線が参照されるように、第1大気バルブ18および第2大気バルブ21を閉鎖し、また、図1の太線が参照されるように、第1真空バルブ17および第2真空バルブ20を開放する。これによって、第1密閉空間12は、第1管16および第1真空バルブ17を介して吸引ポンプ15に連通する。また、第2密閉空間13は、第2管19および第2真空バルブ20を介して、吸引ポンプ15と連通する。この状態で、吸引ポンプ15を作動させる。これによって、第1密閉空間12の気圧P1および第2密閉空間13の気圧P2は、ともに減圧される。気圧P1および気圧P2は、同一であって、例えば、10hPa以下、好ましくは、5hPa以下、より好ましくは、3hPa以下であり、また、例えば、0.01hPa以上である。
 上記した気圧P1および気圧P2が同一であるため、弾性部材3は、図1が参照されるように、厚み方向に移動せず、(設定位置で)静止している。
  <差圧発生工程>
 差圧発生工程は、減圧工程の後に、実施される。
 差圧発生工程では、差圧発生装置5を作動させて、第1密閉空間12の気圧P1を、第2密閉空間13の気圧P2より低くする。
 具体的には、図3が参照されるように、第2真空バルブ20を閉鎖するとともに、第2大気バルブ21を開放する。これによって、第2密閉空間13は、第2管19および第2大気バルブ21を介して、大気に開放される。そのため、第2密閉空間13の気圧P2は、大気圧になる。そうすると、第1密閉空間12(図1参照)の気圧P1は、第2密閉空間13の気圧P2に対して、低くなる。つまり、第1密閉空間12および第2密閉空間13において、差圧が生じる。そのため、第1密閉空間12の体積が小さくなるように、弾性部材3の中央部が第1キャビティ6側、すなわち、上側に移動する。つまり、弾性部材3の中央部が上昇する。
 具体的には、弾性部材3のうち、第1支持板56に対向する部分は、図3の矢印で示すように、第1支持板56を上側に押圧するように、上昇する。第1支持板56の上昇に伴い、第2支持板57が、第1キャビティ6の下面(凹面)に接触し、さらに、第1支持板56が第2支持板57を押圧し、次に、スペーサ55の上下方向長さ(厚み)が縮小する。これによって、封止シート53および基板54は、第1支持板56および第2支持板57によって、厚み方向にプレスされる。
 なお、弾性部材3のうち、第1支持板56から露出する部分は、図3に示すように、第1支持板56および第2支持板57と、第1キャビティ6の側面とに形成される隙間に充填される。これによって、第1密閉空間12が実質的に消失する。
 これによって、封止準備体50は、上下方向に押圧され、そして、封止シート53によって光半導体素子52が埋設されて封止される。
 封止シート53の光半導体素子52の埋設と同時、あるいは、埋設後、封止シート53をCステージ化する。例えば、封止シート53が、Bステージの2段階硬化型熱硬化性樹脂を含有する場合には、第1型部材2および第2型部材4に内蔵されるヒータ(図示せず)によって、封止シート53を加熱する。あるいは、封止シート53が、Bステージの2段階硬化型活性エネルギー線硬化性樹脂を含有する場合には、図示しない紫外線ランプなどを用いて紫外線を封止シート53に照射する。
 これによって、基板54と、基板54に実装される光半導体素子52と、光半導体素子52を封止する封止シート53とを備える光半導体装置51が製造される。
  [回収工程]
 回収工程は、差圧発生工程の後に、実施される。
 回収工程では、図4に示すように、第1真空バルブ17を閉鎖し(破線参照)、また、第1大気バルブ18を開放する(太線参照)。これによって、第1密閉空間12は、第1管16および第1大気バルブ18を介して、大気に開放される。そのため、第1密閉空間12の気圧P1は、大気圧となり、第2密閉空間13の気圧P2と同一となる。そうすると、弾性部材3は、第2キャビティ9側に移動する。つまり、弾性部材3は、設置位置まで下降する。これによって、第1支持板56および第2支持板57の押圧が解放されて、スペーサ55が元の厚みまで伸びる。なお、封止シート53は、基板54および光半導体素子52に接着されることによって、第2支持板57から離間する。
 その後、図示しない狭持部材を第1枠状部分7および第2枠状部分10から取り外し、続いて、第2型部材4を弾性部材3から引き上げる。
 その後、封止準備体50の第2支持板57をスペーサ55から引き上げ、そして、光半導体装置51を回収する。これによって、光半導体装置51を得る。
 そして、この封止装置1によれば、第1型部材2と、弾性部材3と、差圧発生装置5とを備えるので、封止装置1の装置構成を簡易にすることができ、そのため、封止装置1の小型化を図ることできる。
 つまり、従来の平板プレス機は、2枚のプレス板(金型)、および、それらに加圧力を付与するための加圧源を備えており、加圧源は、大型のクランク機構などから構成されており、プレス板の近傍にプレス板と連結するように設けられており、そのため、平板プレス機は、大型である。
 このような従来の平板プレス機に対して、この封止装置1では、第1管16および第2管19を適宜の長さに調節されており、第1型部材2および第2型部材4から比較的遠い位置に、吸引ポンプ15を高い自由度で配置することができる。そのため、封止装置1の小型化を図ることができる。
 すなわち、封止装置1は、第1型部材2、弾性部材3および第2型部材4と、差圧発生装置5とを別体として構成できるので、第1型部材2、弾性部材3および第2型部材4と、差圧発生装置5とを、それぞれ独立して配置して小型化を図ることができる。そのため、封止装置1は、各部材の小型化を図って、運搬性に優れる。そして、封止装置1の使用時には、第1型部材2と吸引ポンプ15とを第1管16で接続するとともに、第2型部材4と吸引ポンプ15とを第2管19で接続することによって、封止装置1を構成できる。
 また、第1型部材2、弾性部材3および第2型部材4をユニットとし、このユニットと差圧発生装置5とをセットで搬送し、封止装置1の使用時において、ユニットと、差圧発生装置5とを独立して配置することもできる。
 また、この封止装置1によれば、差圧発生装置5を作動させることによって、弾性部材3が第1キャビティ6側に移動する。そのため、封止準備体50を、光半導体素子52と封止シート53との対向方向、つまり、厚み方向(上下方向)に押圧して、封止シート53によって光半導体素子52を確実に封止することができる。
 この封止装置1では、第1型部材2および第2支持板57は、透明材料から形成されており、つまり、光半導体素子52および封止シート53を、上方および/または側方から目視可能に構成されている。そのため、第1型部材2および第2支持板57を介して、光半導体素子52および封止シート53の封止の状態を、上方および/または側方から目視で確認することができる。
 また、この封止装置1では、第2型部材4が、第2密閉空間13を形成可能な第2キャビティ9を有するので、第2キャビティ9によって、第2密閉空間13の気圧P2を、第1密閉空間12の気圧P1より確実に高くすることによって、弾性部材3を第1キャビティ6側に確実に移動させることができる。
 さらに、この封止装置1では、第1支持板56および第2支持板57のそれぞれによって、光半導体素子52が実装される基板54および封止シート53のそれぞれの封止姿勢(封止姿勢)を確実に保持することができる。具体的には、基板54および封止シート53の水平姿勢を確実に保持することができる。そのため、封止シート53によって光半導体素子52を精度よく封止することができる。
 また、上記した方法によれば、封止工程において、差圧発生装置5を作動させることによって、第1密閉空間12の気圧P1を、第2密閉空間13の気圧P2より低くして、弾性部材3を第1キャビティ6側に移動させ、これによって、封止準備体50を、光半導体素子52と封止シート53との対向方向、つまり、厚み方向(上下方向)に押圧して、封止シート53によって光半導体素子52を確実に封止することができる。
 そのため、第1密閉空間12の気圧P1を、第2密閉空間13の気圧P2より低くする簡易な方法で、封止シート53によって光半導体素子52を確実に封止することができる。
 さらに、この方法によれば、図1に示すように、減圧工程において、第1密閉空間12および第2密閉空間13を、ともに減圧した後、図3に示すように、差圧発生工程において、第2密閉空間13に大気を流入させることによって、その第2密閉空間13の気圧P2を大気圧にできる。そのため、第1密閉空間12の気圧P1を第2密閉空間13の気圧P2より、迅速に低くすることができる。
 つまり、具体的には、図3が参照されるように、第2大気バルブ21を一気に開放することによって、第2大気バルブ21、第1分岐部22および第2管19から、大気が瞬時に流入することができる。
 その結果、弾性部材3を第1キャビティ6側に迅速に移動、つまり、弾性部材3を一気に上昇させて、封止シート53によって光半導体素子52を効率よく封止することができる。
(変形例)
 以降の説明において、図1~図4の実施形態と同様の部材については、同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
 図1および図3に示すように、封止シート53を、光半導体素子52が実装される基板54の上側に配置し、封止シート53によって、光半導体素子52の上面および側面を被覆している。しかし、封止シート53、および、光半導体素子52が実装される基板54の配置はこれに限定されない。例えば、図5が参照されるように、封止シート53を、光半導体素子52が実装される基板54の下側に配置し、次いで、封止シート53によって、光半導体素子52の下面および側面を被覆することもできる。
 なお、第2支持板57は、弾性部材3の中央部に載置されており、その上面には、封止シート53の下面が仮貼りされている。
 また、第2支持板57は、透明材料以外の、硬質の材料を採用することもできる。
 一方、第1支持板56には、基板54が仮貼りされている。
 また、第1支持板56は、封止工程において、具体的には、弾性部材3の中央部が上昇すると、その上面が、第1キャビティ6の下面(凹面)に接触する。
 また、第1支持板56は、好ましくは、光半導体素子52および封止シート53の視認性の観点から、ガラス、アクリル樹脂、シリコーン樹脂(具体的には、PMMAなど)などの透明材料から形成されている。
 図5の実施形態によっても、図1~図4と同様の作用効果を奏することができる。
 図1~図5の実施形態では、第2型部材4を、第1型部材2の下側に配置しているが、例えば、図6および図7に示すように、第2型部材4を、第1型部材2の上側に配置することもできる。
 図6および図7の実施形態では、差圧発生工程において、第1密閉空間12(図6および図7において図示せず、図1参照)の気圧P1が第2密閉空間13の気圧P2に比べて低くなるような差圧が生じて、そのため、弾性部材3が、下側に移動する。つまり、弾性部材3の中央部が下降する。
 図6の実施形態では、差圧工程において、封止シート53が、光半導体素子52が実装される基板54の上側に配置され、封止シート53が、光半導体素子52の上面および側面を被覆する。
 一方、図7の実施形態では、差圧工程において、封止シート53が、光半導体素子52が実装される基板54の下側に配置され、封止シート53が、光半導体素子52の下面および側面を被覆する。
 図6および図7の実施形態によっても、図1~図5と同様の作用効果を奏することができる。
 また、図1~図7の実施形態では、第2型部材4に、予め第2キャビティ9を形成しているが、例えば、図8および図9に示すように、第2型部材4を平板形状に形成することもできる。
 図8および図9において、第2型部材4の上面は、平坦状に形成されている。
 この第2型部材4を用いても、減圧工程(図8参照)および差圧発生工程(図9参照)において、第1密閉空間12(図8参照)および第2密閉空間13(図9参照)がそれぞれ形成されるとともに、第1密閉空間12(図8参照)および第2密閉空間13(図9参照)において、第1密閉空間12の気圧P1が、第2密閉空間13の気圧P2に比べて低くなるような差圧が生じる。
 図8および図9の実施形態によっても、図1~図7と同様の作用効果を奏することができる。さらに、図8および図9の実施形態では、第2型部材4に第2キャビティ9を形成することなく、その上面を平坦状に形成しているので、封止装置1の構成をより一層簡単にすることができる。
 さらに、図1~図9の実施形態では、第2型部材4を封止装置1に設けているが、例えば、図10および図11に示すように、第2型部材4を封止装置1に設けずに、封止装置1を構成することもできる。
 図10および図11に示すように、弾性部材3は、封止装置1の下部に設けられており、弾性部材3の下面は、露出している。また、弾性部材3の周端部は、第1型部材2の第1枠状部分7と接触するように、配置されている。
 また、弾性部材3に対して第1密閉空間12の反対側の空間は、開放空間13’とされている。
 また、差圧発生装置5は、第2管19、第2真空バルブ20および第2大気バルブ21を備えていない。
 この方法の封止工程は、上記した減圧工程を備えず、差圧発生工程の前に、まず、図10に示すように、第1大気バルブ18および第1真空バルブ17を開放するとともに、吸引ポンプ15を作動させる。
 この際、第1密閉空間12は、第1真空バルブ17を介して吸引ポンプ15に連通する一方、第1大気バルブ18を介して、大気に開放されているので、第1密閉空間12の気圧P1は、減圧されずに、大気圧を維持している。
 次いで、差圧発生工程において、図11に示すように、第1大気バルブ18を閉鎖する。すると、第1密閉空間12は、第1真空バルブ17を介して吸引ポンプ15のみに連通するので、第1密閉空間12の気圧P1が減圧される。つまり、第1密閉空間12の気圧P1が、開放空間13’の気圧P2、すなわち、大気圧に比べて、低くなる。そうすると、弾性部材3が、上昇する。これによって、封止準備体50が厚み方向に押圧されて、光半導体素子52が封止シート53によって封止される。
 図10および図11によっても、図1~図9の実施形態と同様の作用効果を奏することができる。さらに、図10および図11の実施形態では、封止装置1が第2型部材4を備えないので、封止装置1の構成をより一層簡単にすることができる。
 また、図示しないが、図1~図9の実施形態では、減圧工程および差圧発生工程において、吸引ポンプ15を用いて第1密閉空間12を減圧しているが、例えば、吸引ポンプ15に代えて、コンプレッサなどの気体による加圧装置を用いて、第2密閉空間13を加圧することもできる。
 また、図示しないが、図1~図11の実施形態では、封止準備体50に第1支持板56および第2支持板57を設けているが、例えば、図示しないが、第1支持板56および第2支持板57のいずれか一方のみを設けるか、あるいは、両方設けることなく、封止準備体50を構成することもできる。
 また、図1~図11の実施形態では、封止準備体50にスペーサ55を設けているが、特に限定されず、図示しないが、封止準備体50を、スペーサ55を設けることなく構成することもできる。
 また、図1~図11の実施形態では、本発明の貼着装置を、光半導体素子52を封止シート53によって封止するための封止装置1として説明しているが、これに限定されず、例えば、図1が参照されるように、電子部品52を樹脂シート53によって貼着するための貼着装置1とすることもできる。さらに、本発明の貼着装置を、図1が参照されるように、電子部品52と、他の部材57とを、樹脂シート53によって貼着するための貼着装置1とすることもできる。この場合には、樹脂シート53は、電子部品52と他の部材57とによって厚み方向に挟み込まれる。
 電子部品52は、光半導体素子52およびそれ以外の半導体素子を含み、また、コンデンサーなども含む。
 樹脂シート53は、充填剤として、カーボンブラックなどの顔料を適宜の割合で含むこともできる。
 貼着装置1には、図1が参照されるように、設置工程において、貼着準備体50が設置される。貼着準備体50は、電子部品52が実装された基板54を備える。
 なお、上記発明は、本発明の例示の実施形態として提供したが、これは単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。当該技術分野の当業者によって明らかな本発明の変形例は、後記特許請求の範囲に含まれる。
 貼着装置は、封止装置として用いられる。
1     封止装置(貼着装置)
2     第1型部材
3     弾性部材
4     第2型部材
5     差圧発生装置
6     第1キャビティ
12   第1密閉空間
13   第2密閉空間
13’ 開放空間
50   封止準備体(貼着準備体)
52   光半導体素子(電子部品)
53   封止シート(樹脂シート)
54   基板
56   第1支持板
57   第2支持板
P1   気圧(第1密閉空間)
P2   気圧(第2密閉空間)

Claims (7)

  1.  電子部品を樹脂シートによって貼着するための貼着装置であって、
     前記電子部品、および、前記電子部品と間隔を隔てて対向配置される前記樹脂シートを備える貼着準備体を収容可能な第1キャビティを有する第1型部材と、
     前記第1キャビティと第1密閉空間を形成可能なように、前記樹脂シートと対向配置される弾性部材と、
     前記第1型部材に接続されており、前記第1密閉空間の気圧を、前記弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くするための差圧発生手段とを備え、
     前記差圧発生手段が作動することによって、前記弾性部材が前記第1キャビティ側に移動し、これによって、前記貼着準備体が、前記電子部品と前記樹脂シートとの対向方向に押圧されて、前記樹脂シートによって前記電子部品を貼着するように構成されていることを特徴とする、貼着装置。
  2.  前記第1型部材および前記弾性部材は、前記差圧発生手段と別体で構成されていることを特徴とする、請求項1に記載の貼着装置。
  3.  前記第1型部材は、前記電子部品および/または前記樹脂シートを目視可能に構成されていることを特徴とする、請求項1に記載の貼着装置。
  4.  前記第1型部材と前記弾性部材を挟んで対向配置される第2型部材を備え、
     前記第2型部材は、前記第1キャビティと前記弾性部材を挟んで対向し、前記弾性部材と、前記弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の前記空間を密閉する第2密閉空間を形成可能な第2キャビティを有することを特徴とする、請求項1に記載の貼着装置。
  5.  前記貼着準備体は、
     前記電子部品が実装される基板と、
     前記基板の前記電子部品に対する反対側に配置され、前記基板を支持するための第1支持板と、
     前記樹脂シートの前記基板に対する反対側に配置され、前記樹脂シートを支持するための第2支持板と
    を備えることを特徴とする、請求項1に記載の貼着装置。
  6.  貼着装置を用いて、樹脂シートによって電子部品を貼着して電子装置を製造する方法であって、
     前記貼着装置は、前記電子部品、および、前記電子部品と間隔を隔てて対向配置される前記樹脂シートを備える貼着準備体を収容可能な第1キャビティを有する第1型部材と、
     前記第1キャビティと第1密閉空間を形成可能なように、前記樹脂シートと対向配置される弾性部材と、
     前記第1型部材に接続されており、前記第1密閉空間の気圧を、前記弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くするための差圧発生手段とを備え、
     前記差圧発生手段が作動することによって、前記弾性部材が前記第1キャビティ側に移動し、これによって、前記貼着準備体が、前記電子部品と前記樹脂シートとの対向方向に押圧されて、前記樹脂シートによって前記電子部品を貼着するように構成されており、
     前記方法は、
     前記貼着装置の前記第1密閉空間に、前記貼着準備体を設置する設置工程、および、
     前記差圧発生手段を作動させて、前記第1密閉空間の気圧を、弾性部材に対して前記第1密閉空間の反対側の空間の気圧より低くすることによって、前記弾性部材を前記第1キャビティ側に移動させ、これによって、前記貼着準備体を、前記電子部品と前記樹脂シートとの対向方向に押圧させ、前記樹脂シートによって前記電子部品を貼着する貼着工程
    を備えることを特徴とする、電子装置の製造方法。
  7.  前記貼着工程は、
      前記第1密閉空間および前記第1密閉空間の反対側の前記空間を、ともに減圧する減圧工程、および、
      前記減圧工程後、前記第1密閉空間の反対側の前記空間の気圧を大気圧にして、前記第1密閉空間の気圧を前記第1密閉空間の反対側の前記空間の気圧より低くする差圧発生工程
    を備えることを特徴とする、請求項6に記載の電子装置の製造方法。
PCT/JP2014/052123 2013-03-18 2014-01-30 貼着装置および電子装置の製造方法 WO2014148119A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/776,830 US20160035592A1 (en) 2013-03-18 2014-01-30 Adhering device and method for producing electronic device
KR1020157025605A KR20150131055A (ko) 2013-03-18 2014-01-30 접착 장치 및 전자 장치의 제조 방법
EP14769117.4A EP2978014A1 (en) 2013-03-18 2014-01-30 Adhering apparatus and method for manufacturing electronic apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013055249A JP2014183096A (ja) 2013-03-18 2013-03-18 貼着装置および電子装置の製造方法
JP2013-055249 2013-03-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014148119A1 true WO2014148119A1 (ja) 2014-09-25

Family

ID=51552139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2014/052123 WO2014148119A1 (ja) 2013-03-18 2014-01-30 貼着装置および電子装置の製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20160035592A1 (ja)
EP (1) EP2978014A1 (ja)
JP (1) JP2014183096A (ja)
KR (1) KR20150131055A (ja)
CN (2) CN203850255U (ja)
TW (1) TW201437027A (ja)
WO (1) WO2014148119A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017068844A1 (ja) * 2015-10-21 2017-04-27 日東電工株式会社 被覆素子部材の製造方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016115741A (ja) * 2014-12-12 2016-06-23 日東電工株式会社 電子デバイスパッケージ、及び、封止用シート
CN104599983B (zh) * 2014-12-29 2018-01-16 杰群电子科技(东莞)有限公司 一种半导体器件防止溢胶的封装方法
FR3065577B1 (fr) * 2017-04-25 2021-09-17 Commissariat Energie Atomique Cellule de scellement et procede d'encapsulation d'un composant microelectronique avec une telle cellule de scellement
JP7203778B2 (ja) * 2020-01-21 2023-01-13 Towa株式会社 樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法
CN112570213B (zh) * 2021-01-07 2022-04-12 台山鸿隆光电科技有限公司 一种led封装灌胶装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0823005A (ja) * 1993-09-14 1996-01-23 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法、樹脂封止型半導体装置及び封止用樹脂シート
JP2000200796A (ja) * 1999-01-06 2000-07-18 Nec Corp 半導体装置の樹脂封止工程における樹脂の挙動観察方法及びそれに用いられる樹脂封止装置及びその制御方法
JP2004363770A (ja) * 2003-06-03 2004-12-24 Toyo Commun Equip Co Ltd 弾性表面波デバイスの製造方法
JP2006032478A (ja) * 2004-07-13 2006-02-02 Nippon Steel Chem Co Ltd 半導体装置の製造方法
WO2008142934A1 (ja) * 2007-05-15 2008-11-27 Lintec Corporation シート貼付装置及び貼付方法
JP2009272975A (ja) * 2008-05-09 2009-11-19 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品の製造方法
JP2013021284A (ja) 2011-06-14 2013-01-31 Nitto Denko Corp 封止用シートおよび光半導体素子装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0823005A (ja) * 1993-09-14 1996-01-23 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法、樹脂封止型半導体装置及び封止用樹脂シート
JP2000200796A (ja) * 1999-01-06 2000-07-18 Nec Corp 半導体装置の樹脂封止工程における樹脂の挙動観察方法及びそれに用いられる樹脂封止装置及びその制御方法
JP2004363770A (ja) * 2003-06-03 2004-12-24 Toyo Commun Equip Co Ltd 弾性表面波デバイスの製造方法
JP2006032478A (ja) * 2004-07-13 2006-02-02 Nippon Steel Chem Co Ltd 半導体装置の製造方法
WO2008142934A1 (ja) * 2007-05-15 2008-11-27 Lintec Corporation シート貼付装置及び貼付方法
JP2009272975A (ja) * 2008-05-09 2009-11-19 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品の製造方法
JP2013021284A (ja) 2011-06-14 2013-01-31 Nitto Denko Corp 封止用シートおよび光半導体素子装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017068844A1 (ja) * 2015-10-21 2017-04-27 日東電工株式会社 被覆素子部材の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150131055A (ko) 2015-11-24
EP2978014A1 (en) 2016-01-27
CN104064481A (zh) 2014-09-24
US20160035592A1 (en) 2016-02-04
TW201437027A (zh) 2014-10-01
JP2014183096A (ja) 2014-09-29
CN203850255U (zh) 2014-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2014148119A1 (ja) 貼着装置および電子装置の製造方法
JP6833737B2 (ja) 真空膜積層のためのシステムおよび方法
TWI594460B (zh) 具有整合光學元件的led封裝及其製造方法
JP5310536B2 (ja) 発光装置の製造方法
EP3348400B1 (en) System for vacuum film lamination
JP2014168033A (ja) 反射層−蛍光体層被覆led、その製造方法、led装置およびその製造方法
JP2014168032A (ja) 蛍光体層被覆led、その製造方法およびled装置
JP2008545269A (ja) 白色発光ダイオード及びダイオードアレイを有する照明装置、それらの製造方法及び製造装置
WO2014014008A1 (ja) 封止層被覆半導体素子および半導体装置の製造方法
TW201419590A (zh) 被覆螢光體層之光半導體元件、其製造方法、光半導體裝置及其製造方法
JP2009259924A5 (ja)
JP2014168035A (ja) 封止層被覆半導体素子、その製造方法および半導体装置
JPWO2019049791A1 (ja) 封止光半導体デバイスの製造方法
WO2015029664A1 (ja) 封止半導体素子および半導体装置の製造方法
JP2017228658A (ja) 蛍光体層付光半導体素子およびその製造方法
TW200708218A (en) Process for producing junction structure
KR20200021572A (ko) Led 모듈 제조방법
US20230072941A1 (en) Light-emitting device and method for manufacturing same
US11139419B2 (en) Method for producing sealed optical semiconductor device
CN110739379B (zh) 发光结构及其制造方法
JP5867817B2 (ja) 光学デバイスの製造方法
US20240088332A1 (en) Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
JP7177328B2 (ja) 発光装置
KR20190053642A (ko) 감압을 이용한 곡면 디스플레이 접합장치
JP2010177519A (ja) 貼付装置およびシールド構造体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 14769117

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14776830

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2014769117

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20157025605

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE