WO2013154074A1 - X線管 - Google Patents

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WO2013154074A1
WO2013154074A1 PCT/JP2013/060640 JP2013060640W WO2013154074A1 WO 2013154074 A1 WO2013154074 A1 WO 2013154074A1 JP 2013060640 W JP2013060640 W JP 2013060640W WO 2013154074 A1 WO2013154074 A1 WO 2013154074A1
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WO
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inner circumferential
circumferential wall
ray tube
groove
closest
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PCT/JP2013/060640
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English (en)
French (fr)
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弘司 金崎
高橋 英幸
恵一 三森
雅敬 植木
Original Assignee
株式会社 東芝
東芝電子管デバイス株式会社
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Publication date
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Priority to CN201380019796.9A priority patent/CN104246964B/zh
Priority to EP13776367.8A priority patent/EP2838106B1/en
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Priority to US14/508,386 priority patent/US9741523B2/en

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/064Details of the emitter, e.g. material or structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/066Details of electron optical components, e.g. cathode cups
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/10Drive means for anode (target) substrate
    • H01J2235/1046Bearings and bearing contact surfaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/10Drive means for anode (target) substrate
    • H01J2235/108Lubricants
    • H01J2235/1086Lubricants liquid metals

Definitions

  • Embodiments of the present invention relate to x-ray tubes.
  • X-ray tubes are used for X-ray diagnostic imaging applications and nondestructive inspection applications.
  • As the X-ray tube there are a fixed anode type X-ray tube and a rotary anode type X-ray tube, and one corresponding to the application is used.
  • the x-ray tube comprises an anode target, a cathode and a vacuum envelope.
  • the anode target can emit X-rays by the incidence of the electron beam.
  • the cathode comprises a filament coil and an electron focusing cup.
  • the filament coil can emit electrons.
  • a tube voltage as high as several tens to several hundreds of kV is applied between the anode target and the cathode.
  • the electron focusing cup can play the role of an electron lens, that is, it can focus the electron beam directed to the anode target.
  • the electron focusing cup includes a groove in which the filament coil is housed.
  • the groove has an upper inner circumferential wall, and a lower inner circumferential wall located on the opposite side of the anode target with respect to the upper inner circumferential wall and smaller in size than the upper inner circumferential wall.
  • the dimensions of the electron focusing cup such as the distance between the upper and lower peripheral walls
  • the focal and secondary focal points will be large and will not fit in the desired dimensions. This is because changing the dimension of the upper inner circumferential wall to adjust the focal point of either the focal point or the subfocal point, the electron lens action changed due to the dimensional change constitutes the trajectory of the electron beam that constitutes the other focal point Also affect the dimensions and position.
  • the gap between the anode target and the cathode has the lower limit necessary to maintain the voltage durability between the anode target and the cathode, and the upper limit necessary to extract the amount of electrons required for performance from the filament coil. Because of the value, it is not an effective design parameter for obtaining the desired size focus.
  • the present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide an X-ray tube capable of achieving uniformity of electron density distribution in a focal point and obtaining a focal point of a desired size. .
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing the cathode shown in FIG.
  • FIG. 3 is an enlarged plan view of a part of the cathode shown in FIGS. 1 and 2 as viewed from the anode target side.
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing the cathode of the example according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a schematic view showing the cathode and the anode target of the above-mentioned embodiment, and is a view showing a state where the electron beam is irradiated from the first filament coil toward the anode target.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an X-ray tube apparatus according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing the cathode shown in FIG.
  • FIG. 3 is an enlarged plan view of a part of the catho
  • FIG. 6 is an enlarged sectional view showing the first filament coil and the first groove portion shown in FIG.
  • FIG. 7 is a view showing a focus image Fb calculated to correspond to the pinhole camera method in the X-ray tube of the above embodiment.
  • FIG. 8 is an enlarged sectional view showing a cathode of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view showing a modified example of the cathode of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 10 is an enlarged cross-sectional view showing another modification of the cathode of the X-ray tube apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 11 is an enlarged sectional view showing a cathode of an X-ray tube apparatus according to a third embodiment.
  • FIG. 12 is an enlarged sectional view showing a cathode of a comparative example according to the first embodiment.
  • FIG. 13 is an enlarged cross-sectional view showing the first filament coil and the first groove portion of the comparative example, and is a view showing a state in which the electron beam is irradiated from the first filament coil.
  • FIG. 14 is a view showing a focus image Fb calculated to correspond to the pinhole camera method in the X-ray tube of the comparative example.
  • An X-ray tube is An anode target that emits X-rays by the incidence of an electron beam; A focus including an electron emission source for emitting electrons and a groove in which the electron emission source is accommodated, and electrons are emitted from the electron emission source to converge an electron beam directed to the anode target through the opening of the groove A cathode having an electrode; A vacuum envelope containing the anode target and the cathode; The groove portion is A closest inner circumferential wall which is shorter than the dimension of the electron emission source in the depth direction of the groove and is opposed to the electron emission source with the narrowest gap over the entire circumference in the width direction of the groove; An upper inner circumferential wall located closer to the opening side of the groove than the closest inner circumferential wall and having a shape wider in the width direction than the closest inner circumferential wall; A lower inner circumferential wall located on the opposite side of the upper inner circumferential wall with respect to the closest inner circumferential wall and having a shape wider in the width direction than the
  • the x-ray tube device is a rotating anode type x-ray tube device.
  • the X-ray tube apparatus comprises an X-ray tube 1 of a rotating anode type, a stator coil 2 as a coil for generating a magnetic field, a housing 3 accommodating the X-ray tube and the stator coil, And an insulating oil 4 as a coolant filled in the body.
  • the X-ray tube 1 includes a cathode (cathode electron gun) 10, a slide bearing unit 20, an anode target 60, and a vacuum envelope 70.
  • a controller 5 of an X-ray apparatus (not shown) on which the X-ray tube apparatus is mounted is electrically connected to the cathode 10.
  • the slide bearing unit 20 includes a rotary body 30, a fixed shaft 40 as a fixed body, and a liquid metal lubricant (not shown) as a lubricant, and uses a slide bearing.
  • the rotating body 30 is formed in a cylindrical shape and is closed at one end.
  • the rotating body 30 extends along a rotation axis which is a central axis of the rotational operation of the rotating body.
  • the rotation axis is the same as the tube axis a1 of the X-ray tube 1 and will be described as the tube axis a1.
  • the rotating body 30 is rotatable around a tube axis a1.
  • the rotating body 30 has a joint portion 31 located at this one end.
  • the rotating body 30 is formed of a material such as Fe (iron) or Mo (molybdenum).
  • the fixed shaft 40 is formed in a cylindrical shape smaller in size than the rotating body 30.
  • the fixed shaft 40 is provided coaxially with the rotating body 30, and extends along the tube axis a1.
  • the fixed shaft 40 is fitted inside the rotating body 30.
  • the fixed shaft 40 is formed of a material such as Fe or Mo.
  • One end of the fixed shaft 40 is exposed to the outside of the rotating body 30.
  • the fixed shaft 40 rotatably supports the rotating body 30.
  • a liquid metal lubricant is filled in the gap between the rotating body 30 and the fixed shaft 40.
  • the anode target 60 is disposed to face the other end of the fixed shaft 40 in the direction along the tube axis a1.
  • the anode target 60 has an anode body 61 and a target layer 62 provided on a part of the outer surface of the anode body.
  • the anode main body 61 is fixed to the rotating body 30 via the joint portion 31.
  • the anode main body 61 has a disk shape, and is formed of a material such as Mo.
  • the anode main body 61 is rotatable about the tube axis a1.
  • the target layer 62 is annularly formed.
  • the target layer 62 has a target surface S disposed to face the cathode 10 at a distance in the direction along the tube axis a1.
  • the anode target 60 forms a focus on the target surface S and emits X-rays from the focus.
  • the anode target 60 is electrically connected to the terminal 91 via the fixed shaft 40, the rotating body 30, and the like.
  • the cathode 10 has one or more electron emission sources and an electron focusing cup 15 as a focusing electrode.
  • the cathode 10 has a first filament coil 11, a second filament coil 12 and a third filament coil 13 as electron emission sources.
  • the first to third filament coils 11 to 13 are spaced apart in the rotational direction of the anode target 60.
  • the first filament coil 11 and the third filament coil 13 are respectively disposed on the inclined surfaces.
  • the first to third filament coils 11 to 13 are formed of a material containing tungsten as a main component.
  • the first to third filament coils 11 to 13 and the electron focusing cup 15 are electrically connected to the terminals 81, 82, 83, 84, 85.
  • the electron focusing cup 15 includes one or more grooves in which a filament coil (electron emission source) is accommodated.
  • the electron focusing cup 15 includes three grooves (a first groove 16, a second groove 17, and a third groove 18) in which the first to third filament coils 11 to 13 are individually stored.
  • a relatively positive voltage is applied to the anode target 60 from the terminal 91 via the fixed shaft 40, the rotating body 30, and the like.
  • a relatively negative voltage is applied to the first to third filament coils 11 to 13 and the electron focusing cup 15 from the terminals 81 to 84 and the terminal 85.
  • an X-ray tube voltage (hereinafter referred to as a tube voltage) is applied between the anode target 60 and the cathode 10, the electrons emitted from the first to third filament coils 11 to 13 are accelerated and are targeted as an electron beam. It is incident on S.
  • the electron focusing cup 15 converges an electron beam directed to the anode target 60 through the openings 16a to 18a of the first to third grooves 16 to 18 by the emission of electrons from the first to third filament coils 11 to 13.
  • the vacuum envelope 70 is formed in a cylindrical shape.
  • the vacuum envelope 70 is formed of a combination of insulating materials such as glass and ceramic, metals, and the like.
  • the vacuum envelope 70 has an opening 71.
  • the opening 71 is in close contact with one end of the fixed shaft 40 so as to maintain the sealed state of the vacuum envelope 70.
  • the vacuum envelope 70 fixes the fixed shaft 40.
  • the vacuum envelope 70 has the cathode 10 attached to the inner wall.
  • the vacuum envelope 70 is sealed, and accommodates the cathode 10, the sliding bearing unit 20, the anode target 60, and the like.
  • the inside of the vacuum envelope 70 is maintained in a vacuum state.
  • the stator coil 2 is provided to face the side of the rotary body 30 and to surround the outside of the vacuum envelope 70.
  • the shape of the stator coil 2 is annular.
  • the stator coil 2 is electrically connected to the terminals 92, 93 (not shown) and driven via the terminals 92, 93.
  • the housing 3 has an X-ray transmission window 3 a for transmitting X-rays in the vicinity of the target layer 62 facing the cathode 10. Inside the housing 3, in addition to the X-ray tube 1 and the stator coil 2, an insulating oil 4 is filled.
  • the control unit 5 is electrically connected to the cathode 10 through the terminals 81, 82, 83, 84, 85.
  • the control unit 5 drives any one of the first to third filament coils 11 to 13, simultaneously drives two or more of the first to third filament coils 11 to 13, or the electron focusing cup 15. Can be controlled by applying a negative voltage to the filament coil.
  • the stator coil 2 is driven through the terminals 92 and 93 to generate a magnetic field. That is, the stator coil 2 generates rotational torque to be applied to the rotating body 30. Therefore, the rotating body rotates and the anode target 60 also rotates.
  • control unit 5 applies a current to drive at least one of the first to third filament coils 11 to 13 through the terminals 81 to 84.
  • a relatively negative voltage is applied to the filament coil to be driven.
  • the anode target 60 is given a relatively positive voltage through the terminal 91.
  • an X-ray tube current flows from the cathode 10 to the focal point on the target surface S.
  • the target layer 62 emits X-rays by the incidence of the electron beam, and the X-rays emitted from the focal point are emitted to the outside of the housing 3 through the X-ray transmission window 3a. Thereby, X-ray imaging can be performed.
  • the structure of the X-ray tube apparatus of the Example which concerns on this embodiment, and the structure of the X-ray tube apparatus of a comparative example are demonstrated.
  • the groove portion of the electron focusing cup 15 is formed similarly. Since the first to third groove portions 16 to 18 are formed in the same manner, here, the first groove portion 16 is focused on and described as a representative.
  • the opening 16a of the first groove portion 16 is a second direction orthogonal to the side along the first direction da, which is the extension direction of the first filament coil 11, and the first direction da. It has a rectangular shape with sides along db.
  • the depth direction of the first groove portion 16 is a third direction dc orthogonal to the first direction da and the second direction db.
  • the first groove portion 16 has an upper inner circumferential wall 51 and a lower inner circumferential wall 52.
  • the upper inner circumferential wall 51 is located on the side of the opening 16 a of the first groove 16, that is, above the first groove 16.
  • the upper inner peripheral wall 51 is formed in a rectangular frame shape, and is formed in the same dimension as the opening 16 a in a plane along the first direction da and the second direction db.
  • the lower inner circumferential wall 52 is located on the opposite side of the irradiation direction of the electron beam with respect to the upper inner circumferential wall 51, that is, below the first groove portion 16 than the upper inner circumferential wall 51.
  • the lower inner peripheral wall 52 is formed in a rectangular frame shape, and is formed smaller than the upper inner peripheral wall 51 in a plane along the first direction da and the second direction db.
  • the diameter of the first filament coil 11 is OSDa
  • the width of the upper inner circumferential wall 51 along the second direction db is L1a
  • the depth of the upper inner circumferential wall 51 (the upper inner circumferential wall 51 farthest from the opening 16a Opening from the boundary of the end and the opening 16a along the third direction dc) D1a
  • the width of the lower inner circumferential wall 52 along the second direction db L2a the upper inner circumferential wall 51 and the lower inner circumferential wall 52
  • the fd value indicating the amount of protrusion of the first filament coil 11 to the 16a side is fda
  • the gap between the first filament coil 11 and the lower inner circumferential wall 52 along the second direction db is Ya.
  • the opening 16a of the first groove portion 16 has a rectangular shape having a side along the first direction da and a side along the second direction db.
  • the depth direction of the first groove portion 16 is a third direction dc.
  • the first groove portion 16 has a closest inner circumferential wall 53, an upper inner circumferential wall 51 and a lower inner circumferential wall 52.
  • the closest inner circumferential wall 53 is shorter than the dimension (diameter) of the first filament coil 11 in the third direction dc.
  • the closest inner circumferential wall 53 is formed in a rectangular frame shape. The closest inner circumferential wall 53 opposes the first filament coil 11 with the narrowest gap over the entire circumference in the width direction of the first groove 16 along the first direction da and the second direction db.
  • the upper inner circumferential wall 51 is located closer to the opening 16 a of the first groove portion 16 than the closest inner circumferential wall 53.
  • the upper inner peripheral wall 51 is formed in a rectangular frame shape, formed in the same dimension as the opening 16 a in a plane along the first direction da and the second direction db, and formed in a size larger than the closest inner peripheral wall 53 There is.
  • the upper inner peripheral wall 51 in a plane along the second direction db and the third direction dc extends linearly in the third direction dc.
  • the upper inner circumferential wall 51 has a shape that is wider in the width direction (the second direction db) than the closest inner circumferential wall 53.
  • the lower inner circumferential wall 52 is located on the opposite side of the upper inner circumferential wall 51 with respect to the closest inner circumferential wall 53.
  • the lower inner peripheral wall 52 is formed in a rectangular frame shape, and is formed larger than the closest inner peripheral wall 53 in a plane along the first direction da and the second direction db.
  • the lower inner circumferential wall 52 in a plane along the second direction db and the third direction dc extends linearly in the third direction dc.
  • the lower inner circumferential wall 52 has a shape that is wider in the width direction (second direction db) than the closest inner circumferential wall 53.
  • the diameter of the first filament coil 11 is OSDb
  • the width of the upper inner circumferential wall 51 along the second direction db is L1 b
  • the depth of the upper inner circumferential wall 51 (the distance of the upper inner circumferential wall 51 farthest from the opening 16a D1b, the width (minimum width) of the nearest inner circumferential wall 53 along the second direction db with the end portion and the length 16a of the opening 16a in the third direction dc L3b
  • the depth of the closest inner circumferential wall 53 (The length of the end of the nearest inner circumferential wall 53 farthest from the opening 16a and the opening 16a along the third direction dc) is D3b
  • the width of the lower inner circumferential wall 52 along the second direction db maximum width L2b, the depth of the lower inner circumferential wall 52 (length along the third direction dc of the end of the lower inner circumferential wall 52 farthest from the opening 16a and the opening 16a) D2b
  • X indicates the amount of expansion of the gap between the first filament coil 11 and the first groove 16 along the second direction db.
  • the dimensions of the first groove 16 and the first filament coil 11 according to the above embodiment are as follows.
  • the inventor of the present application performed a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the above embodiment and a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the comparative example. .
  • the inventor of the present application performed a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the above embodiment and a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the comparative example.
  • the inventor of the present application performed a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the above embodiment and a simulation of emitting an X-ray using the X-ray tube apparatus according to the comparative example.
  • FIG. 7 shows the electron density distribution when the target surface S is viewed from the direction perpendicular to the tube axis a1.
  • the width of the effective focal point Fb in the direction dd along the rotational direction of the anode target 60 was 0.552 mm.
  • the length of the effective focal point Fb in the direction de along the tube axis a1 was 1.004 mm.
  • the width of the effective focus Fb may be 0.75 mm or less, and the length of the effective focus Fb may be 1.1 mm or less so as to conform to the IEC standard.
  • FIG. 14 shows the effective focal point Fa formed on the target surface S.
  • the width of the effective focal point Fa in the direction dd along the rotation direction of the anode target 60 was 0.753 mm, which is larger than in the example. Further, the length of the effective focal point Fa in the direction de along the tube axis a1 was slightly larger than that of the example, and was 1.040 mm.
  • the irradiation state of the electron beam of the embodiment and the irradiation state of the electron beam of the comparative example are compared.
  • the electron emitted from the side surface of the filament coil 11 collides with the closest inner peripheral wall 53 or is bent by the electric field generated by the inner peripheral wall 53,
  • the comparative example electrons emitted from the side surface of the filament coil are bent by the lower inner circumferential wall 52 but reach the anode target.
  • electrons emitted from the side surface of the filament coil do not contribute to focus formation, but in the comparative example, electrons bent by the lower inner circumferential wall reach the outside portion of the undesired positive focal point on the target surface S, The focus will not be in the desired size.
  • the X-ray tube 1 emits the X-ray when the electron beam is incident, and the electron A cathode 10 having a focusing cup 15 and a vacuum envelope 70 containing an anode target 60 and the cathode 10 are provided.
  • the electron focusing cup 15 includes filament coils (first to third filament coils 11 to 13) for emitting electrons, and grooves (first to third grooves 16 to 18) in which the filament coils are accommodated.
  • the electron focusing cup 15 focuses an electron beam directed to the anode target 60 through the opening (apertures 16a to 18a) of the groove by emitting electrons from the filament coil.
  • the groove (first to third grooves 16 to 18) has a closest inner circumferential wall 53, an upper inner circumferential wall 51, and a lower inner circumferential wall 52.
  • the closest inner circumferential wall 53 is shorter than the dimension of the filament coil in the depth direction of the groove (the third direction dc), and faces the filament coil with the narrowest gap over the entire circumference in the width direction of the groove.
  • the upper inner circumferential wall 51 is located closer to the opening side of the groove than the closest inner circumferential wall 53, and is formed to have a shape wider in the width direction than the closest inner circumferential wall 53.
  • the lower inner peripheral wall 52 is located on the opposite side of the upper inner peripheral wall 51 with respect to the closest inner peripheral wall 53, and is formed to have a shape wider in the width direction than the nearest inner peripheral wall 53.
  • the X-ray tube apparatus of the embodiment can obtain the following effects.
  • the groove has the closest inner circumferential wall 53, the upper inner circumferential wall 51, and the lower inner circumferential wall 52, the electron beam can be made excellent even if the gap between the filament coil and the groove (the closest inner circumferential wall 53) is larger than in the comparative example. It is possible to converge, and it is possible to make it difficult for the electrons emitted from the side surface of the filament coil to reach the anode target by the closest inner peripheral wall 53, and the electron density distribution of the subfocus can be suppressed low.
  • the focus of the same dimension can be obtained in the case where the gap Ya is about 0.15 mm in the comparative example and in the case where the gap Yb is 0.485 mm in the embodiment. Therefore, by making the gap Yb smaller, the size of the focal point can be made smaller.
  • the gap Yb is set to 0.2 mm or more, more preferably 0.3 mm or more, the size of the focal point can be reduced while preventing the occurrence of dielectric breakdown between the filament touch and the filament coil and the electron focusing cup 15.
  • the groove has the closest inner circumferential wall 53, the upper inner circumferential wall 51, and the lower inner circumferential wall 52, and by adjusting these dimensions, the gap between the anode target 60 and the cathode 10 is not adjusted.
  • the electron density distribution in the focal point can be made uniform without curving the upper inner circumferential wall 51, and a focal point of a desired size can be obtained. . For this reason, compared with the case where the upper inner circumferential wall 51 is curved, the design cost and the processing cost can be reduced.
  • an X-ray tube apparatus including the X-ray tube 1 and the X-ray tube 1 which can achieve uniformization of the electron density distribution in the focal point and can obtain a focal point of desired dimensions.
  • the first groove portion 16 has a closest inner circumferential wall 53, an upper inner circumferential wall 51 and a lower inner circumferential wall 52.
  • the closest inner circumferential wall 53 is formed in a substantially rectangular frame shape.
  • the lower inner circumferential wall 52 is formed to penetrate the electron converging cup 15 in the first direction da.
  • the cross section of the lower inner circumferential wall 52 in a plane along the second direction db and the third direction dc is formed in an oval frame shape.
  • the processing of the lower inner circumferential wall 52 is performed using, for example, a ball end mill.
  • a ball end mill For example, this can be implemented by setting the rotation axis of the ball end mill in the first direction da and feeding in the first direction da and the second direction db. For this reason, it is possible to make processing cost low compared with the case where electric discharge machining is required (when the lower inner circumferential wall 52 has a rectangular frame shape).
  • through holes may be drilled in the electron focusing cup 15 in the same direction.
  • the X-ray tube 1 includes the anode target 60 that emits X-rays when the electron beam is incident, and the electron focusing cup 15 And a vacuum envelope 70 accommodating the anode target 60 and the cathode 10.
  • the groove (first to third grooves 16 to 18) has a closest inner circumferential wall 53, an upper inner circumferential wall 51, and a lower inner circumferential wall 52.
  • the cross section of the lower inner circumferential wall 52 in a plane along the second direction db and the third direction dc may be formed in an oval frame shape, and in this case as well, the above-mentioned second inner circumferential wall 52 is adjusted The same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • the lower inner circumferential wall 52 is formed by forming a through hole extending in the first direction da in the electron converging cup 15.
  • the lower inner circumferential wall 52 can be formed only by forming the through hole, and thereafter, processing such as closing the through hole is not required. Therefore, the processing cost of the lower inner circumferential wall 52 can be reduced as compared to the first embodiment.
  • an X-ray tube apparatus including the X-ray tube 1 and the X-ray tube 1 which can achieve uniformization of the electron density distribution in the focal point and can obtain a focal point of desired dimensions. Then, the X-ray tube 1 can simultaneously prevent the occurrence of dielectric breakdown between the filament touch and the filament coil and the electron focusing cup 15.
  • the upper inner circumferential wall 51 is formed in a multistage shape.
  • the upper inner circumferential wall 51 is formed in two stages.
  • Each step of the upper inner circumferential wall 51 is formed in a rectangular frame shape.
  • the step on the closest inner circumferential wall 53 side of the upper inner circumferential wall 51 has a shape that is wider in the width direction (second direction db) than the closest inner circumferential wall 53.
  • the step on the closest inner circumferential wall 53 side of the upper inner circumferential wall 51 is formed in the same dimension as the opening (opening 16 a) in the plane along the first direction da and the second direction db. It has a shape that is wider in the width direction (the second direction db) than the steps on the side of the peripheral wall 53.
  • the size of the upper inner peripheral wall 51 by adjusting the size of the upper inner peripheral wall 51, the same effect as that of the second embodiment can be obtained. Furthermore, by forming the upper inner circumferential wall 51 in a multistage manner, it is possible to make the electron density distribution in the focal point uniform, and there is an advantage that it is possible to obtain a focal point of a more desirable size.
  • the upper inner circumferential wall 51 has a curved shape. Specifically, in the plane along the second direction db and the third direction dc, the cross section of the upper inner circumferential wall 51 has a curved shape.
  • the same effect as that of the second embodiment can be obtained. Furthermore, by making the upper inner peripheral wall 51 into a curved shape, it is possible to further uniform the electron density distribution in the focal point, and there is an advantage that it is possible to obtain a focal point of a more desirable size.
  • the lower inner circumferential wall 52 has a curved shape.
  • the cross section of the lower inner circumferential wall 52 has a curved shape such as a part of a circle.
  • Lower inner circumferential wall 52 is formed to have a shape extending in the width direction (first direction da and second direction db) than closest inner circumferential wall 53 in a plane along first direction da and second direction db. ing.
  • the processing of the lower inner circumferential wall 52 can be performed, for example, by feeding processing in the first direction da and the third direction dc with the rotation axis of the ball end mill in the third direction dc.
  • An insulating member 100 is fixed to the electron convergence cup 15.
  • the insulating member 100 faces the lower inner circumferential wall 52.
  • the insulating member 100 is formed of ceramic and brazed to the electron focusing cup 15.
  • the insulating member 100 supports the filament coil (first to third filament coils 11 to 13), and regulates (fixes) the position of the filament coil.
  • the X-ray tube 1 includes the anode target 60 that emits X-rays when the electron beam is incident, and the electron focusing cup 15 And a vacuum envelope 70 accommodating the anode target 60 and the cathode 10.
  • the groove (first to third grooves 16 to 18) has a closest inner circumferential wall 53, an upper inner circumferential wall 51, and a lower inner circumferential wall 52.
  • the cross section of the lower inner circumferential wall 52 in a plane along the second direction db and the third direction dc may have a curved shape, and in this case as well, the above first can be obtained by adjusting the dimensions of the lower inner circumferential wall 52. The same effect as that of the embodiment can be obtained.
  • the lower inner circumferential wall 52 is formed by using a ball end mill. Therefore, the processing cost of the lower inner circumferential wall 52 can be reduced as compared to the first embodiment.
  • an X-ray tube apparatus including the X-ray tube 1 and the X-ray tube 1 which can achieve uniformization of the electron density distribution in the focal point and can obtain a focal point of desired dimensions. Then, the X-ray tube 1 can simultaneously prevent the occurrence of dielectric breakdown between the filament touch and the filament coil and the electron focusing cup 15.
  • the groove (first to third grooves 16 to 18) is positioned closer to the opening (openings 16a to 18a) of the groove than the closest inner circumferential wall 53 and is one or larger in size than the closest inner circumferential wall 53
  • a plurality of other upper inner peripheral walls, and one or more other lower inner peripheral walls positioned on the opposite side of the upper inner peripheral wall 51 with respect to the closest inner peripheral wall 53 and larger in size than the closest inner peripheral wall 53; It may further have at least one of
  • the groove (first to third grooves 16 to 18) is shorter than the dimension of the filament coil (electron emission source) in the depth direction (third direction dc) of the groove and extends over the entire circumference of the filament coil in the width direction of the groove. It may further have one or more other closest inner circumferential walls facing each other with the narrowest clearance.
  • the cross-sectional shape in the width direction (the second direction db and the third direction dc) of the lower inner circumferential wall 52 may be circular, oval, or a part of them.
  • the first to third filament coils 11 to 13 are of different types, and their characteristics (the amount of electron emission) may be different from each other.
  • the dimensions of the focal point may be made different by making the dimensions of the filament coil different.
  • the number of filament coils (electron emission sources) and grooves provided in the cathode 10 is not limited to three, and can be variously modified, and may be one, two or four or more.
  • the electron emission source can be variously modified and, for example, any thermal electron emission source can be used.
  • the thermionic emission source may not be a filament coil.
  • a material capable of emitting electrons for example, it can be formed of a material having LaB 6 (lanthanum boride) as a main component.
  • the X-ray tube apparatus of the present invention is not limited to the above-described X-ray tube apparatus, but can be variously modified and applicable to various X-ray tube apparatuses.
  • the X-ray tube apparatus of the present invention is also applicable to a fixed anode type X-ray tube apparatus.

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Abstract

 X線管は、陽極ターゲットと、電子放出源及び収束電極を有した陰極と、真空外囲器とを備える。収束電極は、電子放出源が収められる溝部(16)を含み、電子ビームを収束させる。溝部(16)は、最近接内周壁(53)、上内周壁(51)及び下内周壁(52)を有している。最近接内周壁(53)は、溝部の深さ方向において電子放出源の寸法より短く、溝部の幅方向において電子放出源に全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向している。上内周壁(51)は、最近接内周壁(53)よりも溝部の開口側に位置し、最近接内周壁(53)よりも幅方向に広がった形状を有する。下内周壁(52)は、最近接内周壁(53)に対して上内周壁(51)の反対側に位置し、最近接内周壁(53)よりも幅方向に広がった形状を有する。

Description

X線管
 本発明の実施形態は、X線管に関する。
 X線管は、X線画像診断用途や、非破壊検査用途などに利用されている。X線管としては、固定陽極型のX線管や、回転陽極型のX線管があり、用途に対応した方が用いられている。X線管は、陽極ターゲットと、陰極と、真空外囲器とを備えている。陽極ターゲットは、電子ビームが入射されることによりX線を放出することができる。
 陰極は、フィラメントコイルと、電子収束カップとを備えている。フィラメントコイルは、電子を放出することができる。陽極ターゲット及び陰極間には、数十乃至数百kVと高い管電圧が印加される。このため、電子収束カップは、電子レンズの役割を果たすことができ、すなわち陽極ターゲットに向かう電子ビームを収束させることができる。電子収束カップは、フィラメントコイルが収められる溝部を含んでいる。溝部は、上内周壁と、上内周壁に対して陽極ターゲットの反対側に位置し上内周壁よりも寸法の小さい下内周壁とを有している。
特開平2-144835号公報 実開平5-53115号公報
 ところで、上記のようなX線管においては、以下の(1)乃至(4)に挙げる問題がある。 
 (1)焦点内の電子密度分布が均一であり、かつ、望ましい寸法となる焦点を得るための有効な手段が無い問題がある。 
 陽極ターゲットのターゲット面に形成される焦点は、大きく分けて2種類あり、フィラメントコイルの上面(陽極ターゲット側の面)から放出された電子が形成する正焦点と、フィラメントコイルの側・下面から放出された電子が形成する副焦点とに分類される。このため、通常は、副焦点が正焦点の内側に収まるように、さらに可能な場合には、正焦点及び副焦点の位置及び寸法がほぼ重なるように、電子収束カップの寸法を選択する。
 上内周壁の間隔など電子収束カップの寸法を選択することにより、正焦点および副焦点の位置および寸法が調整でき、焦点を所望の寸法に収めることができればよいが、そのような寸法の解が得られることは少なく、多くの場合は、正焦点及び副焦点のいずれか一方かまたは両方が大きくなり、所望の寸法に収まらなくなってしまう。これは、正焦点または副焦点のいずれかの焦点を調整するために、上内周壁の寸法を変更すると、その寸法変化により変化した電子レンズの作用が、他方の焦点を構成する電子ビームの軌道にも影響を与え、寸法および位置が変化してしまうため、である。
 (2)副焦点を抑制し、かつ、下内周壁寸法を大きくするための有効な手段が無い問題がある。 
 副焦点を抑制する場合、多くは下内周壁の寸法を小さくする(狭める)ことが有効である。しかしながら、下内周壁の寸法を小さくし過ぎると、フィラメントコイルが熱や振動によって変形した際、フィラメントコイルが電子収束カップに接触してしまう、いわゆるフィラメントタッチが起こり易くなってしまう。フィラメントタッチが起こるとフィラメントコイルに電流が流れなくなるため、フィラメントコイルから電子が放出されなくなってしまう。
 また、循環器診断用途などでは、ひとつの技法であるパルス透視の際、フィラメントコイルから放出される電子が陽極ターゲットに達しないようにするため、電子収束カップにフィラメントコイルに対して負となる電圧を印加している。しかしながら、フィラメントコイルが熱や振動により変形し、フィラメントコイル及び電子収束カップ間の距離が絶縁破壊距離以下になった場合、電子が陽極ターゲットに達しないようにする制御が出来なくなってしまう。 
 上記のことから、フィラメントタッチ及び絶縁破壊の発生を防止するため、焦点の寸法を一定値以下に小さくすることには限界があるものである。
 (3)副焦点を抑制し、望ましい寸法の焦点を得るための有効な手段が無い問題がある。 
 電子収束カップの寸法変更とともに、陽極ターゲット面で正焦点及び副焦点の位置及び寸法がほぼ重なるように、陰極(陰極アッセンブリ)の設計変更の際に陽極ターゲット及び陰極間のギャップを変化させると、望ましい寸法の焦点を得ることができる。
 しかしながら、陽極ターゲット及び陰極間のギャップには、陽極ターゲット及び陰極間の電圧耐久性を維持するために必要な下限値と、フィラメントコイルから性能上要求される量の電子を引き出すために必要な上限値があるため、望ましい寸法の焦点を得るための有効な設計パラメータとはならないものである。
 (4)上記(3)の他、上内周壁の形状を湾曲させることにより、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができる。しかしながら、設計コスト及び加工コストが増大してしまうため、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得るための有効な設計パラメータとはならないものである。
 この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができるX線管を提供することにある。
図1は、第1の実施形態に係るX線管装置を示す断面図である。 図2は、図1に示した陰極を示す拡大断面図である。 図3は、図1及び図2に示した陰極の一部を陽極ターゲット側から見た拡大平面図である。 図4は、上記第1の実施形態に係る実施例の陰極を示す拡大断面図である。 図5は、上記実施例の陰極及び陽極ターゲットを示す概略図であり、第1フィラメントコイルから陽極ターゲットに向かって電子ビームが照射されている状態を示す図である。 図6は、図5に示した第1フィラメントコイル及び第1溝部を示す拡大断面図である。 図7は、上記実施例のX線管において、ピンホールカメラ法に相当するように計算された焦点像Fbを示す図である。 図8は、第2の実施形態に係るX線管装置の陰極を示す拡大断面図である。 図9は、上記第2の実施形態に係るX線管装置の陰極の変形例を示す拡大断面図である。 図10は、上記第2の実施形態に係るX線管装置の陰極の他の変形例を示す拡大断面図である。 図11は、第3の実施形態に係るX線管装置の陰極を示す拡大断面図である。 図12は、上記第1の実施形態に係る比較例の陰極を示す拡大断面図である。 図13は、上記比較例の第1フィラメントコイル及び第1溝部を示す拡大断面図であり、第1フィラメントコイルから電子ビームが照射されている状態を示す図である。 図14は、上記比較例のX線管において、ピンホールカメラ法に相当するように計算された焦点像Fbを示す図である。
 一実施形態に係るX線管は、
 電子ビームが入射されることによりX線を放出する陽極ターゲットと、
 電子を放出する電子放出源と、前記電子放出源が収められる溝部を含み、前記電子放出源から電子が放出されることにより前記溝部の開口を通って前記陽極ターゲットに向かう電子ビームを収束させる収束電極と、を有した陰極と、
 前記陽極ターゲット及び陰極を収容した真空外囲器と、を備え、
 前記溝部は、
 前記溝部の深さ方向において前記電子放出源の寸法より短く、前記溝部の幅方向において前記電子放出源に全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向した最近接内周壁と、
 前記最近接内周壁よりも前記溝部の開口側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する上内周壁と、
 前記最近接内周壁に対して前記上内周壁の反対側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する下内周壁と、
を有していることを特徴としている。
 以下、図面を参照しながら第1の実施形態に係るX線管装置について詳細に説明する。この実施形態において、X線管装置は、回転陽極型のX線管装置である。 
 図1に示すように、X線管装置は、回転陽極型のX線管1と、磁界を発生させるコイルとしてのステータコイル2と、X線管及びステータコイルを収容した筐体3と、筐体内に充填された冷却液としての絶縁油4と、を備えている。
 X線管1は、陰極(陰極電子銃)10と、すべり軸受ユニット20と、陽極ターゲット60と、真空外囲器70と、を備えている。X線管装置が搭載されるX線装置(図示せず)の制御部5は陰極10に電気的に接続されている。
 すべり軸受ユニット20は、回転体30と、固定体としての固定シャフト40と、潤滑材としての図示しない液体金属潤滑材と、を備え、すべり軸受を使っている。
 回転体30は、円筒状に形成され、一端部が閉塞されている。回転体30は、この回転体の回転動作の中心軸となる回転軸に沿って延出している。この実施の形態において、上記回転軸は、X線管1の管軸a1と同一であり、以下管軸a1として説明する。回転体30は、管軸a1を中心に回転可能である。回転体30は、この一端部に位置した継手部31を有している。回転体30は、Fe(鉄)やMo(モリブデン)等の材料で形成されている。
 固定シャフト40は、回転体30より寸法の小さい円柱状に形成されている。固定シャフト40は、回転体30と同軸的に設けられ、管軸a1に沿って延出している。固定シャフト40は、回転体30の内部に嵌合されている。固定シャフト40は、FeやMo等の材料で形成されている。固定シャフト40の一端部は、回転体30の外部に露出されている。固定シャフト40は、回転体30を回転可能に支持している。 
 液体金属潤滑材は、回転体30及び固定シャフト40間の間隙に充填されている。
 陽極ターゲット60は、管軸a1に沿った方向に、固定シャフト40の他端部に対向配置されている。陽極ターゲット60は、陽極本体61と、この陽極本体の外面の一部設けられたターゲット層62と、を有している。
 陽極本体61は、継手部31を介して回転体30に固定されている。陽極本体61は、形状が円盤状であり、Mo等の材料で形成されている。陽極本体61は、管軸a1を中心に回転可能である。ターゲット層62は、環状に形成されている。ターゲット層62は、管軸a1に沿った方向に陰極10に間隔を置いて対向配置されたターゲット面Sを有している。陽極ターゲット60は、ターゲット面Sに電子ビームが入射されることにより、ターゲット面Sに焦点が形成され、焦点からX線を放出する。 
 陽極ターゲット60は、固定シャフト40及び回転体30などを介し、端子91と電気的に接続されている。
 図1、図2及び図3に示すように、陰極10は、1つ又は複数の電子放出源と、収束電極としての電子収束カップ15とを有している。この実施形態において、陰極10は、電子放出源としての第1フィラメントコイル11、第2フィラメントコイル12及び第3フィラメントコイル13を有している。第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13は、陽極ターゲット60の回転方向に間隔を置いて位置している。第1フィラメントコイル11及び第3フィラメントコイル13は、傾斜面上にそれぞれ設置されている。ここでは、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13は、タングステンを主成分とする材料で形成されている。
第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13及び電子収束カップ15は、端子81、82、83、84、85に電気的に接続されている。
 電子収束カップ15は、フィラメントコイル(電子放出源)が収められる1つ又は複数の溝部を含んでいる。この実施形態において、電子収束カップ15は、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13が個別に収められる3つの溝部(第1溝部16、第2溝部17及び第3溝部18)を含んでいる。
 第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13には、電流(フィラメント電流)が与えられる。これにより、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13は、電子(熱電子)を放出する。
 陽極ターゲット60には、固定シャフト40及び回転体30などを介し、端子91より相対的に正の電圧が与えられる。第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13及び電子収束カップ15には、端子81乃至84、及び端子85より相対的に負の電圧が与えられる。
 陽極ターゲット60及び陰極10間にX線管電圧(以下、管電圧と称する)が加えられるため、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13から放出された電子は、加速され、電子ビームとしてターゲット面Sに入射される。
 電子収束カップ15は、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13から電子が放出されることにより第1乃至第3溝部16乃至18の開口16a乃至18aを通って陽極ターゲット60に向かう電子ビームを収束させる。
 図1に示すように、真空外囲器70は、円筒状に形成されている。真空外囲器70は、ガラス及びセラミックなどの絶縁材や金属などの組合せで形成されている。真空外囲器70において、陽極ターゲット60と対向した個所の径は、回転体30と対向した個所の径より大きい。真空外囲器70は、開口部71を有している。真空外囲器70の密閉状態を維持するよう、開口部71は、固定シャフト40の一端部に密着している。真空外囲器70は、固定シャフト40を固定している。真空外囲器70は、この内壁に陰極10を取付けている。真空外囲器70は、密閉され、陰極10、すべり軸受ユニット20及び陽極ターゲット60などを収容している。真空外囲器70の内部は真空状態に維持されている。
 ステータコイル2は、回転体30の側面に対向して真空外囲器70の外側を囲むように設けられている。ステータコイル2の形状は環状である。ステータコイル2は、端子92、93(図示せず)と電気的に接続され、端子92、93を介して駆動される。
 筐体3は、陰極10と対向したターゲット層62付近にX線を透過させるX線透過窓3aを有している。筐体3の内部には、X線管1及びステータコイル2が収容されている他、絶縁油4が充填されている。
 制御部5は、端子81、82、83、84、85を介し、陰極10に電気的に接続されている。制御部5は、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13の何れか1つを駆動したり、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13の2つ以上を同時に駆動したり、または電子収束カップ15にフィラメントコイルに対して負となる電圧を印加するなどの制御をすることができる。
 次に、X線を放出するための上記X線管装置の動作について説明する。 
 図1乃至図3に示すように、X線管装置の動作時、まず、ステータコイル2は、端子92、93を介して駆動され、磁界を発生する。すなわち、ステータコイル2は回転体30に与える回転トルクを発生させる。このため、回転体は回転し、陽極ターゲット60も回転することになる。
 次いで、制御部5は、端子81乃至84を介して第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13の少なくとも1つを駆動させる電流を与える。駆動させるフィラメントコイルには相対的に負の電圧が与えられる。陽極ターゲット60には端子91を介して相対的に正の電圧が与えられる。
 フィラメントコイル(陰極10)及び陽極ターゲット60間に管電圧が加えられるため、フィラメントコイルから放出された電子は、収束及び加速され、ターゲット層62に衝突される。すなわち、陰極10からターゲット面S上の焦点にX線管電流(以下、管電流と称する)が流れる。
 ターゲット層62は電子ビームが入射されることによりX線を放出し、焦点から放出されたX線は、X線透過窓3aを介して筐体3の外部に放出される。これにより、X線撮影を実施することができる。
 次に、本実施形態に係る実施例のX線管装置の構成と、比較例のX線管装置の構成について説明する。実施例及び比較例のX線管装置において、電子収束カップ15の溝部以外は同様に形成されている。第1乃至第3溝部16乃至18は、同様に形成されているため、ここでは、第1溝部16に着目し、代表して説明する。
 (比較例)
 図12及び図3に示すように、第1溝部16の開口16aは、第1フィラメントコイル11の延在した方向である第1方向daに沿った辺及び第1方向daに直交した第2方向dbに沿った辺を持つ矩形状である。第1溝部16の深さ方向は、第1方向da及び第2方向dbに直交した第3方向dcである。
 第1溝部16は、上内周壁51及び下内周壁52を有している。 
 上内周壁51は、第1溝部16の開口16a側に位置し、すなわち第1溝部16の上方に位置している。上内周壁51は、矩形枠状に形成され、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において開口16aと同一の寸法に形成されている。
 下内周壁52は、上内周壁51に対して電子ビームの照射方向の反対側、すなわち上内周壁51よりも第1溝部16の下方に位置している。下内周壁52は、矩形枠状に形成され、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において上内周壁51よりも小さい寸法に形成されている。
 この比較例において、第1フィラメントコイル11の直径をOSDa、上内周壁51の第2方向dbに沿った幅をL1a、上内周壁51の深さ(開口16aから最遠方の上内周壁51の端部と、開口16aとの第3方向dcに沿った長さ)をD1a、下内周壁52の第2方向dbに沿った幅をL2a、上内周壁51及び下内周壁52の境界から開口16a側への第1フィラメントコイル11の突出量を示すfd値をfda、第1フィラメントコイル11及び下内周壁52間の第2方向dbに沿った隙間をYaとした。
 (実施例)
 図4、並びに図2及び図3に示すように、第1溝部16の開口16aは、第1方向daに沿った辺及び第2方向dbに沿った辺を持つ矩形状である。第1溝部16の深さ方向は、第3方向dcである。
 第1溝部16は、最近接内周壁53、上内周壁51及び下内周壁52を有している。 
 最近接内周壁53は、第3方向dcにおいて第1フィラメントコイル11の寸法(直径)より短い。最近接内周壁53は矩形枠状に形成されている。最近接内周壁53は、第1方向da及び第2方向dbに沿った第1溝部16の幅方向において、第1フィラメントコイル11に全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向している。
 上内周壁51は、最近接内周壁53よりも第1溝部16の開口16a側に位置している。上内周壁51は、矩形枠状に形成され、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において開口16aと同一の寸法に形成され、最近接内周壁53よりも大きい寸法に形成されている。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面における上内周壁51は、第3方向dcに直線状に延出している。上内周壁51は、最近接内周壁53よりも幅方向(第2方向db)に広がった形状を有している。
 下内周壁52は、最近接内周壁53に対して上内周壁51の反対側に位置している。下内周壁52は、矩形枠状に形成され、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において最近接内周壁53よりも大きい寸法に形成されている。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面における下内周壁52は、第3方向dcに直線状に延出している。下内周壁52は、最近接内周壁53よりも幅方向(第2方向db)に広がった形状を有している。
 この実施例において、第1フィラメントコイル11の直径をOSDb、上内周壁51の第2方向dbに沿った幅をL1b、上内周壁51の深さ(開口16aから最遠方の上内周壁51の端部と、開口16aとの第3方向dcに沿った長さ)をD1b、最近接内周壁53の第2方向dbに沿った幅(最小幅)をL3b、最近接内周壁53の深さ(開口16aから最遠方の最近接内周壁53の端部と、開口16aとの第3方向dcに沿った長さ)をD3b、下内周壁52の第2方向dbに沿った幅(最大幅)をL2b、下内周壁52の深さ(開口16aから最遠方の下内周壁52の端部と、開口16aとの第3方向dcに沿った長さ)をD2b、上内周壁51及び最近接内周壁53の境界から開口16a側への第1フィラメントコイル11の突出量を示すfd値をfdb、第1フィラメントコイル11及び最近接内周壁53間の第2方向dbに沿った隙間をYbとした。
 次に、上記実施例に係る第1溝部16及び第1フィラメントコイル11の寸法を比較例に係る第1溝部16及び第1フィラメントコイル11の寸法と対比した結果を示す。 
OSDb=OSDa
Yb=Ya+X
L1a≦L1b≦L1a+2・0.75mm・X
L3b=L2a+2・X
 また、上記実施例に係る第1溝部16の寸法は、次の関係も満たしている。
1.5・L3b≦L2b≦2.0・L3b
D1b<D3b<D1b+0.5mm
 なお、Xは、第1フィラメントコイル11及び第1溝部16間の第2方向dbに沿った隙間の拡大量を示す。
 ここでは、上記実施例に係る第1溝部16及び第1フィラメントコイル11の寸法は、次に示す通りである。
OSDb=1.23mm
L1b=7.5mm
D1b=4.1mm
L3b=2.2mm
D3b=4.2mm
L2b=3.0mm
D2b=6mm
fdb=0.300mm
Yb=0.485mm
 ここで、本願発明者は、上記実施例に係るX線管装置を用いてX線を放出するシミュレーションと、上記比較例に係るX線管装置を用いてX線を放出するシミュレーションとを行った。この際、第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13の中、第1フィラメントコイル11のみを駆動して行った。このため、ターゲット面S上に形成される焦点は、単焦点である。また、シミュレーションは、同一条件の下で行った。
 始めに、実施例に係るX線管装置を用いてX線を放出するシミュレーションの手法及び結果について説明する。 
 図5及び図6に示すように、上記実施例に係るX線管装置を用いてX線を放出する際、第1フィラメントコイル11のみを駆動した。第1フィラメントコイル11から放出された電子は、電子ビームとして陽極ターゲット60のターゲット面Sに入射される。電子ビームは、電子収束カップ15の第1溝部16によって形成される電界の作用により収束される。
 そして、第1フィラメントコイル11の上面(陽極ターゲット60側の面)から放出された電子が形成する正焦点と、第1フィラメントコイル11の側面から放出された電子が形成する副焦点との位置及び寸法をほぼ重ねた。
 焦点の電子密度分布は、図7に示す結果となった。電子密度が最大となる領域を100%として示した。図7では、管軸a1に垂直な方向からターゲット面Sを見た場合の電子密度分布を示している。
 陽極ターゲット60の回転方向に沿った方向ddにおける実効焦点Fbの幅は、0.552mmであった。管軸a1に沿った方向deにおける実効焦点Fbの長さは、1.004mmであった。なお、IEC規格に準拠するように、実効焦点Fbの幅は0.75mm以下であればよく、実効焦点Fbの長さは1.1mm以下であればよい。
 次に、比較例に係るX線管装置を用いてX線を放出するシミュレーションの手法及び結果について説明する。 
 図13に示すように、上記比較例に係るX線管装置を用いてX線を放出する際、第1フィラメントコイル11のみを駆動した。第1フィラメントコイル11から放出された電子は、電子ビームとして陽極ターゲット60のターゲット面Sに入射される。電子ビームは、電子収束カップ15の第1溝部16によって形成される電界の作用により収束される。
 そして、第1フィラメントコイル11の上面(陽極ターゲット60側の面)から放出された電子が形成する正焦点と、第1フィラメントコイル11の側面から放出された電子が形成する副焦点との位置及び寸法をほぼ重ねた。
 図14は、ターゲット面S上に形成された実効焦点Faを示している。陽極ターゲット60の回転方向に沿った方向ddにおける実効焦点Faの幅は、実施例とより大きく0.753mmであった。また、管軸a1に沿った方向deにおける実効焦点Faの長さは、実施例よりやや大きく1.040mmであった。
 次に、実施例の電子ビームの照射状態と、比較例の電子ビームの照射状態とを対比する。 
 図6及び図13に示すように、実施例では、フィラメントコイル11の側面からでた電子が最近接内周壁53に衝突するか、または同内周壁53により生じた電界により曲げられて、陽極ターゲットに到達しない場合があるのに対し、比較例では、フィラメントコイル側面から出た電子は下内周壁52により曲げられるが陽極ターゲットに到達する。実施例ではフィラメントコイル側面から出た電子は焦点形成に寄与しないが、比較例では下内周壁により曲げられた電子は、ターゲット面S上の望ましくない正焦点の外側部分に到達し、副焦点となって、焦点が所望のサイズに入らないことになる。
 次に、実施例の焦点の状態と、比較例の焦点の状態とを対比する。 
 図7及び図14に示すように、実施例では、わずかながら副焦点がみられるものの、ほぼ方形の焦点が得られており、比較例では副焦点が強くなり、焦点が方形ではなくなっている。
 上記のように構成された第1の実施形態に係る実施例のX線管装置によれば、X線管1は、電子ビームが入射されることによりX線を放出する陽極ターゲット60と、電子収束カップ15と、を有した陰極10と、陽極ターゲット60及び陰極10を収容した真空外囲器70と、を備えている。
 電子収束カップ15は、電子を放出するフィラメントコイル(第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13)と、フィラメントコイルが収められる溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)を含んでいる。電子収束カップ15は、フィラメントコイルから電子が放出されることにより溝部の開口(開口16a乃至18a)を通って陽極ターゲット60に向かう電子ビームを収束させる。
 溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)は、最近接内周壁53と、上内周壁51と、下内周壁52と、を有している。最近接内周壁53は、溝部の深さ方向(第3方向dc)においてフィラメントコイルの寸法より短く、溝部の幅方向においてフィラメントコイルに全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向している。上内周壁51は、最近接内周壁53よりも溝部の開口側に位置し、最近接内周壁53よりも幅方向に広がった形状を有するように形成されている。下内周壁52は、最近接内周壁53に対して上内周壁51の反対側に位置し、最近接内周壁53よりも幅方向に広がった形状を有するように形成されている。
 このため、実施例のX線管装置は、以下に挙げるような効果を得ることができる。 
 (1)比較例のX線管装置では、焦点内の電子密度分布の均一化を図るための有効な手段はないが、実施例のX線管装置では、焦点内の電子密度分布の均一化を図るための有効な手段はあるものである。そして、実施例のX線管装置では、副焦点が正焦点の内側に収まるように、さらに可能な場合には、正焦点及び副焦点の位置及び寸法がほぼ重なるように、X線管1を形成することができるものである。
 溝部が、最近接内周壁53、上内周壁51及び下内周壁52を有することにより、フィラメントコイル及び溝部(最近接内周壁53)間の隙間を比較例より大きくしても電子ビームを良好に収束することができ、また、最近接内周壁53によりフィラメントコイルの側面から放出された電子が陽極ターゲットに到達しにくくすることができ、副焦点の電子密度分布も低く抑えることができる。
 (2)比較例のX線管装置では、焦点の寸法の小型化を図るための有効な手段はないが、実施例のX線管装置では、焦点の寸法の小型化を図るための有効な手段はあるものである。
 比較例において隙間Yaを0.15mm程度にした場合と、実施例において隙間Ybを0.485mmにした場合とで、同一の寸法の焦点を得ることができる。このため、隙間Ybをより小さくすることにより、焦点の寸法を小さくすることができる。
 この際、隙間Ybを0.2mm以上、より好ましくは0.3mm以上に設定することにより、フィラメントタッチ並びにフィラメントコイル及び電子収束カップ15間の絶縁破壊の発生を防止しつつ焦点の寸法の小型化を図ることができる。
 (3)比較例のX線管装置では、副焦点を抑制し、望ましい寸法の焦点を得るための有効な手段はないが、実施例のX線管装置では、副焦点を抑制し、望ましい寸法の焦点を得るための有効な手段はあるものである。
 上記のように、溝部が、最近接内周壁53、上内周壁51及び下内周壁52を有し、これらの寸法を調整することにより、陽極ターゲット60及び陰極10間のギャップを調整すること無しに、副焦点を抑制し、望ましい寸法の焦点を得ることができるものである。このため、陽極ターゲット60及び陰極10間の電圧耐久性を維持しつつ、焦点内の電子密度分布が均一であり、かつ、望ましい寸法となる焦点を得ることができる、と言い換えることができる。
 (4)実施例のX線管装置では、上内周壁51を湾曲させること無しに、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができるものである。このため、上内周壁51を湾曲させる場合に比べ、設計コスト及び加工コストを低減することができる。
 上記のことから、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができるX線管1及びX線管1を備えるX線管装置を得ることができる。
 次に、第2の実施形態に係るX線管装置について詳細に説明する。なお、この実施形態において、他の構成は上述した第1の実施形態と同一であり、同一の部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。
 図8に示すように、第1溝部16は、最近接内周壁53、上内周壁51及び下内周壁52を有している。最近接内周壁53は概略矩形枠状に形成されている。下内周壁52は、電子収束カップ15を第1方向daに貫通して形成されている。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面における下内周壁52の断面は、長円形枠状に形成されている。
 次に、下内周壁52を加工する方法について説明する。 
 下内周壁52の加工は、例えばボールエンドミルを使用して行う。例えばボールエンドミルの回転軸を第1方向daに設定し、第1方向da及び第2方向dbに送り加工することにより実施することができる。このため、放電加工が必要となる場合(下内周壁52が矩形枠状である場合)に比べて加工コストを安価にすることが可能である。ボールエンドミル加工の前に、予め同じ方向に電子収束カップ15に貫通ドリル穴を空けておいても良い。
 上記のように構成された第2の実施形態に係るX線管装置によれば、X線管1は、電子ビームが入射されることによりX線を放出する陽極ターゲット60と、電子収束カップ15と、を有した陰極10と、陽極ターゲット60及び陰極10を収容した真空外囲器70と、を備えている。
 溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)は、最近接内周壁53と、上内周壁51と、下内周壁52と、を有している。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面における下内周壁52の断面は、長円形枠状に形成されていてもよく、この場合も下内周壁52の寸法を調整することにより上記第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
 下内周壁52は、電子収束カップ15に第1方向daに延在した貫通孔を形成することにより形成される。上記貫通孔を形成するのみで下内周壁52を形作ることができ、その後、上記貫通孔を閉塞する等の加工を必要としない。このため、上記第1の実施形態に比べて下内周壁52の加工コストを安価にすることができる。
 上記のことから、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができるX線管1及びX線管1を備えるX線管装置を得ることができる。そして、上記X線管1は、同時に、フィラメントタッチ並びにフィラメントコイル及び電子収束カップ15間の絶縁破壊の発生を防止することができる。
 次に、上記第2の実施形態に係るX線管装置の変形例について説明する。 
 図9に示すように、上内周壁51は、多段状に形成されている。この実施形態において、上内周壁51は2段に形成されている。上内周壁51の各段は、矩形枠状に形成されている。上内周壁51の最近接内周壁53側の段は、最近接内周壁53よりも幅方向(第2方向db)に広がった形状を有している。上内周壁51の最近接内周壁53側の段は、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において開口(開口16a)と同一の寸法に形成され、上内周壁51の最近接内周壁53側の段よりも幅方向(第2方向db)に広がった形状を有している。
 この場合も、上内周壁51の寸法を調整することにより上記第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、上内周壁51を多段状に形成することにより、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、より望ましい寸法の焦点を得ることが可能となるメリットがあるものである。
 次に、上記第2の実施形態に係るX線管装置の他の変形例について説明する。 
 図10に示すように、上内周壁51は、曲面形状を有している。詳しくは、第2方向db及び第3方向dcに沿った平面において、上内周壁51の断面は曲面形状を有している。
 この場合も、上内周壁51の曲面形状を調整することにより上記第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、上内周壁51を曲面形状とすることにより、より焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、より望ましい寸法の焦点を得ることが可能となるメリットがあるものである。
 次に、第3の実施形態に係るX線管装置について詳細に説明する。なお、この実施形態において、他の構成は上述した第1の実施形態と同一であり、同一の部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。
 図11に示すように、下内周壁52は、曲面形状を有している。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面において、下内周壁52の断面は、円形の一部のような曲面形状を有している。下内周壁52は、第1方向da及び第2方向dbに沿った平面において最近接内周壁53よりも幅方向(第1方向da及び第2方向db)に広がった形状を有するように形成されている。下内周壁52の加工は、たとえばボールエンドミルの回転軸を第3方向dcにして、第1方向da及び第3方向dcに送り加工することにより実施することができる。
 電子収束カップ15には絶縁部材100が固定されている。絶縁部材100は、下内周壁52と対向している。この実施形態において、絶縁部材100は、セラミクスで形成され、電子収束カップ15にろう付けされている。絶縁部材100は、フィラメントコイル(第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13)を支持し、フィラメントコイルの位置を規制(固定)している。
 上記のように構成された第3の実施形態に係るX線管装置によれば、X線管1は、電子ビームが入射されることによりX線を放出する陽極ターゲット60と、電子収束カップ15と、を有した陰極10と、陽極ターゲット60及び陰極10を収容した真空外囲器70と、を備えている。
 溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)は、最近接内周壁53と、上内周壁51と、下内周壁52と、を有している。第2方向db及び第3方向dcに沿った平面における下内周壁52の断面は、曲面形状を有していてもよく、この場合も下内周壁52の寸法を調整することにより上記第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
 下内周壁52は、ボールエンドミルを使用することにより形成される。このため、上記第1の実施形態に比べて下内周壁52の加工コストを安価にすることができる。
 上記のことから、焦点内の電子密度分布の均一化を図ることができ、望ましい寸法の焦点を得ることができるX線管1及びX線管1を備えるX線管装置を得ることができる。そして、上記X線管1は、同時に、フィラメントタッチ並びにフィラメントコイル及び電子収束カップ15間の絶縁破壊の発生を防止することができる。
 本発明の一つの実施形態を説明したが、実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
 例えば、溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)は、最近接内周壁53よりも溝部の開口(開口16a乃至18a)側に位置し、最近接内周壁53よりも寸法の大きい1つ又は複数の他の上内周壁と、最近接内周壁53に対して上内周壁51の反対側に位置し、最近接内周壁53よりも寸法の大きい1つ又は複数の他の下内周壁と、の少なくとも一方をさらに有していてもよい。
 溝部(第1乃至第3溝部16乃至18)は、溝部の深さ方向(第3方向dc)においてフィラメントコイル(電子放出源)の寸法より短く、溝部の幅方向においてフィラメントコイルに全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向した1つ又は複数の他の最近接内周壁をさらに有していてもよい。 
 下内周壁52の幅方向(第2方向db及び第3方向dc)の断面形状は、円形、長円形、又はそれらの一部であってもよい。
 第1乃至第3フィラメントコイル11乃至13は、互いに異なる種類であり、これらの特性(電子放出量)も互いに異なっていてもよい。例えば、フィラメントコイルの寸法を異ならせることにより、焦点の寸法を異ならせてもよい。
 陰極10の備えるフィラメントコイル(電子放出源)及び溝部の数は、3つに限定されるものではなく、種々変形可能であり、1つ、2つ又は4つ以上であってもよい。 
 電子放出源は、種々変形可能であり例えば任意の熱電子放出源を利用することができる。 例えば熱電子放出源はフィラメントコイルでなくともよい。電子を放出可能な材料として、例えばLaB(ホウ化ランタン)を主成分とする材料で形成することができる。
 この発明のX線管装置は、上述したX線管装置に限定されるものではなく、種々変形可能であり、各種のX線管装置に適用可能である。例えば、この発明のX線管装置は、固定陽極型のX線管装置にも適用可能である。

Claims (7)

  1.  電子ビームが入射されることによりX線を放出する陽極ターゲットと、
     電子を放出する電子放出源と、前記電子放出源が収められる溝部を含み、前記電子放出源から電子が放出されることにより前記溝部の開口を通って前記陽極ターゲットに向かう電子ビームを収束させる収束電極と、を有した陰極と、
     前記陽極ターゲット及び陰極を収容した真空外囲器と、を備え、
     前記溝部は、
     前記溝部の深さ方向において前記電子放出源の寸法より短く、前記溝部の幅方向において前記電子放出源に全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向した最近接内周壁と、
     前記最近接内周壁よりも前記溝部の開口側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する上内周壁と、
     前記最近接内周壁に対して前記上内周壁の反対側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する下内周壁と、
    を有しているX線管。
  2.  前記電子放出源は、タングステンを主成分とする材料で形成されている請求項1に記載のX線管。
  3.  前記溝部は、
     前記最近接内周壁よりも前記溝部の開口側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する1つ又は複数の他の上内周壁と、
     前記最近接内周壁に対して前記上内周壁の反対側に位置し、前記最近接内周壁よりも幅方向に広がった形状を有する1つ又は複数の他の下内周壁と、
    の少なくとも一方をさらに有している請求項1に記載のX線管。
  4.  前記溝部は、
     前記溝部の深さ方向において前記電子放出源の寸法より短く、前記溝部の幅方向において前記電子放出源に全周に亘って最も狭い隙間を置いて対向した1つ又は複数の他の最近接内周壁をさらに有している請求項1に記載のX線管。
  5.  前記電子放出源及び最近接内周壁間の前記隙間は、0.2mm以上である請求項1に記載のX線管。
  6.  前記上内周壁は、曲面形状を有している請求項1に記載のX線管。
  7.  前記下内周壁の幅方向の断面形状は、円形、長円形、又はそれらの一部である請求項1に記載のX線管。
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