WO2013103034A1 - 水酸化ガリウムの製造方法、酸化ガリウム粉末の製造方法、酸化ガリウム粉末、該酸化ガリウムの焼結体及び該焼結体からなるスパッタリングターゲット - Google Patents

水酸化ガリウムの製造方法、酸化ガリウム粉末の製造方法、酸化ガリウム粉末、該酸化ガリウムの焼結体及び該焼結体からなるスパッタリングターゲット Download PDF

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    • C04B2235/74—Physical characteristics
    • C04B2235/77—Density

Definitions

  • the present invention relates to gallium oxide powder used as a raw material for producing a sputtering target, a method for producing gallium hydroxide powder as a raw material for the gallium oxide powder, a sintered body using gallium oxide, and a sintered body sputtering target.
  • IGZO In—Ga—Zn—O
  • Ga—Zn— containing gallium, zinc, and oxygen as constituent elements O (hereinafter referred to as “GZO”)-based materials are promising.
  • a sputtering method that is excellent in mass productivity is most appropriate.
  • the IGZO target or the GZO target needs to have a high density.
  • products with a reduced density (lots) frequently occur, and further, problems such as target cracking and defective sintering occur. There were not a few.
  • Patent Document 1 discloses that a gallium oxide powder having a sharp particle size distribution is obtained by advancing neutralization under specific conditions in the neutralization method in the presence of oxalic acid, and by using the powder, It is described that a high-density target can be obtained.
  • oxalic acid is designated as a non-medicinal deleterious substance by the Poisonous and Deleterious Substances Control Law, and it is not preferable to use it for industrial production.
  • Non-Patent Document 1 discloses that ⁇ -type Ga 2 O 3 can be obtained by sintering crystalline ⁇ -GaOOH at 400 to 600 ° C. However, since a method of neutralizing gallium chloride with sodium hydroxide is adopted, chlorine and sodium will remain in the raw material powder, and will also remain in the sintered body produced using this. .
  • Patent Document 2 metal gallium is dissolved in nitric acid to obtain an aqueous gallium nitrate solution, which is neutralized with aqueous ammonia, and the resulting precipitate is filtered, washed, dried, and then roasted at 600 ° C.
  • the manufacture of gallium oxide powder is described.
  • neutralization conditions are not optimized, a large amount of fine powder of 1 ⁇ m or less and coarse particles of about 100 ⁇ m or less are generated.
  • Patent Document 3 discloses a method for producing gallium oxide by an electrolytic method. This method requires cooling the electrolyte to keep the gallium anode as a solid. For this reason, much electric power is required for cooling of electrolyte solution. In addition, even when the electrolyte is cooled, heat is always generated by energization, so the temperature of the electrode and its vicinity rises locally due to this heat generation, so that the gallium anode melts and falls, and there is a risk of falling into an unelectrolyzed state Is big. For this reason, there is a problem that stable operation is difficult and unsuitable for mass production.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and its purpose is suitable for manufacturing a sputtering target necessary for forming a transparent semiconductor IGZO film or a GZO film by sputtering at high density.
  • Another object of the present invention is to efficiently and easily produce and provide gallium oxide powder and gallium hydroxide therefor.
  • IGZO targets and GZO targets we have earnestly investigated the causes of density reduction, target cracking and sintering failure, and the frequency of occurrence of these problems is the inevitable impurity chlorine. Since the content of sodium is related to the content of sodium, it was necessary to reduce these.
  • the amount and balance of ions in the bath are different between the initial stage and the final stage, the powder properties become unstable, and NOx is not dissolved during nitric acid leaching.
  • the environmental load is extremely large due to the generation of a large amount and the neutralized solution is a high concentration nitrogen-based wastewater.
  • the electrolytic method the bath pH is kept constant, and stable leaching is possible by electrolysis, and hydroxide precipitation is possible. Therefore, the powder properties are uniform, sinterability is improved, and electrolytic leaching is improved.
  • a method for producing gallium hydroxide characterized in that liquid metal gallium is used as an anode and gallium hydroxide is crystallized by electrolysis in an aqueous ammonium nitrate solution.
  • Electrolysis of gallium hydroxide according to the above (1) characterized in that electrolysis is performed at an electrolyte solution temperature of 30 to 60 ° C., a pH of 4 to 7 and an electrolyte solution concentration of 0.5 to 2 mol / L. Production method.
  • a method for producing a gallium oxide powder wherein the gallium hydroxide produced in (1) or (2) is dried and roasted to obtain a gallium oxide powder.
  • the chlorine content is 10 wtppm or less
  • the sodium content is 10 wtppm or less
  • the average particle size is 0.5 ⁇ m to 3 ⁇ m
  • the particle size distribution is 0.1 to 10 ⁇ m
  • the BET specific surface area is 5 to 20 m 2 / g.
  • a gallium oxide sputtering target comprising the gallium oxide sintered body of (5) above.
  • the conventional method for producing gallium oxide powder by the neutralization method that is, the amount and balance of ions in the bath are different between the initial stage and the final stage, the powder properties become unstable, and NOx is not dissolved during nitric acid leaching. Due to the generation of a large amount and the neutralized solution is a high concentration nitrogen-based wastewater, it has the effect of eliminating the problem of an extremely large environmental load.
  • the disadvantages of the conventional electrolysis method are that the electrolyte solution needs to be cooled to keep the gallium anode solid, energy is required for cooling the electrolyte solution, and the temperature of the electrode and its vicinity increases.
  • the present invention provides a new electrolysis method that eliminates the risk of the gallium anode melting and falling off. As a result, stable operation is possible and the mass productivity can be improved.
  • gallium oxide powder suitable for manufacturing a sputtering target necessary for forming a transparent semiconductor IGZO film or GZO film by a sputtering method at a high density, and gallium hydroxide therefor can be efficiently and easily manufactured. It has an excellent effect that it can be provided. Moreover, in the production of an IGZO target and a GZO target, there is an effect that it is possible to suppress the density from being reduced, or the target from being cracked or poorly sintered.
  • FIG. 2 is an SEM image of Ga (OH) 3 particles crystallized in the solution of Example 1.
  • FIG. 4 is a SEM image of Ga (OH) 3 particles crystallized in the solution of Comparative Example 1.
  • a typical application of gallium oxide is a sputtering target.
  • high purity is required to improve film properties and sintering properties after sputtering.
  • hydrochloric acid, sodium hydroxide, or the like it is difficult to clean impurities, and nitric acid leaching ammonia neutralization is mainly known as a production method for high purity.
  • the neutralization method the amount and balance of ions in the bath are different between the initial and final stages of the reaction, and the powder properties may be unstable.
  • the environmental load is extremely large due to the large amount of NOx generated during leaching of nitric acid and the post-neutralization liquid being a high concentration nitrogen-based wastewater.
  • the pH of the bath is kept constant, and stable leaching is possible by electrolysis and hydroxide precipitation is possible, so that the properties of the powder become uniform and the sinterability is improved. NOx gas is not generated in electrolytic leaching.
  • the electrolytic solution can be used repeatedly, the amount of waste water itself can be reduced and the concentration of nitrogen in waste water can be reduced.
  • Patent Document 3 discloses a method for producing gallium oxide by electrolysis. As described above, it is necessary to cool the electrolyte and keep the gallium anode as a solid, and energy is required for cooling the electrolyte. And Further, since the temperature of the electrode and the vicinity thereof increases due to heat generation during electrolysis, there is a risk that the gallium anode melts and falls off, so that stable operation is difficult and unsuitable for mass production.
  • the present invention employs an electrolysis method, but the gallium hydroxide production method of the present invention is a method of crystallizing gallium hydroxide by electrolysis in an aqueous ammonium nitrate solution using liquid metal gallium as an anode. is there. That is, the anode does not use a solid, but uses liquid gallium as the anode.
  • FIG. 1 An example of the method for producing gallium hydroxide by electrolysis according to the present invention is shown in FIG.
  • liquid metal gallium 1 exists in the lower part of the electrolytic cell, and this liquid gallium 1 serves as an anode.
  • Reference numeral 2 denotes a current-carrying metal.
  • Reference numeral 3 denotes a cathode.
  • Gallium hydroxide 6 is crystallized in the electrolytic solution (ammonium nitrate aqueous solution) 5 by electrolysis.
  • Reference numeral 4 denotes an insulating portion.
  • the energizing metal 2 is made of a material that does not dissolve in gallium and has good wettability with liquid metal gallium, but is not particularly limited as long as it has these properties.
  • gallium hydroxide is prepared in advance and baked to obtain gallium oxide. Therefore, high purity is achieved in the manufacturing process of gallium hydroxide.
  • the gallium hydroxide it is preferable to perform electrolysis at an electrolyte temperature of 30 to 60 ° C., a pH of 4 to 7, and an electrolyte concentration of 0.5 to 2 mol / L. Usually manufactured in this range. If the liquid temperature is too low, gallium solidifies, making stable production difficult. In addition, if liquid gallium exists within a range that does not hinder electrolysis, no particular problem will occur even if it is partially solidified in the electrolytic cell.
  • the amount of chemicals consumed is increased because the electrolyte and ammonia are largely volatilized.
  • the temperature is higher than necessary, the heating equipment for maintaining the liquid temperature is increased in size or the material of the equipment is limited. Therefore, the liquid temperature of the electrolytic solution is desirable. If the pH is too high, particles aggregate and the sinterability deteriorates. If the pH is too low, gallium hydroxide will be chemically dissolved and the yield will be reduced, so the above range is preferred.
  • the electrolytic solution concentration As for the electrolytic solution concentration, if the concentration is too high, the particles agglomerate and the sinterability deteriorates. If the concentration is too low, the pH fluctuation due to electrolysis tends to increase. Nitric acid and aqueous ammonia are added to cope with this pH fluctuation, but at this time, it becomes easy to add more than necessary, so the pH becomes unstable. For this reason, it is a preferable condition to set it as said range. However, depending on the amount and conditions to manufacture, it may be outside this range, and some changes are allowed.
  • the crystallized Ga (OH) 3 particles are subjected to solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this is baked at 400 ° C. or higher for 1 to 10 hours to obtain gallium oxide (Ga 2 O 3 ) powder.
  • the upper limit of the roasting temperature is not limited by changes in physical properties, but is preferably set to 1200 ° C. or less from the viewpoint of the material and life of the equipment.
  • the chlorine content is 10 wtppm or less
  • the sodium content is 10 wtppm or less
  • the average particle size is 0.5 ⁇ m to 3 ⁇ m
  • the particle size distribution is 0.1 to 10 ⁇ m
  • the BET specific surface area is 5 to 20 m 2 / g.
  • a certain gallium oxide powder can be manufactured.
  • gallium oxide powder When the content of chlorine and sodium exceeds 10 wtppm, the BET specific surface area of the gallium oxide (Ga 2 O 3 ) powder becomes low, which is not preferable. On the other hand, since chlorine and sodium are inevitable impurities, they cannot be completely removed, but it is preferable to reduce them as much as possible.
  • An average particle diameter of 0.5 ⁇ m to 3 ⁇ m, a particle size distribution of 0.1 to 10 ⁇ m, and a BET specific surface area of 5 to 20 m 2 / g are conditions that can improve the sinterability and are preferable. It is in the form of gallium oxide powder. In the present invention, gallium oxide powder having these preferable conditions can be produced.
  • the gallium oxide powder of the present invention can have an ⁇ -type or ⁇ -type crystal structure.
  • gallium oxide has ⁇ -type, ⁇ -type, and ⁇ -type crystal structures.
  • ⁇ -type or ⁇ -type gallium oxide powder which is usually mass-productive is used, but powders of other crystal structures can also be used.
  • the phase structure of the ( ⁇ , ⁇ ) gallium oxide powder can be arbitrarily obtained by adjusting the roasting temperature. When gallium oxide powder having these phase structures is sintered, it is usually transformed into a ⁇ phase.
  • a gallium oxide sintered body can be produced using the gallium oxide powder described above as a raw material, and a gallium oxide sputtering target comprising this gallium oxide sintered body, for example, an In—Ga—Zn—O (IGZO) -based oxidation It is useful as a sintered product target and a Ga—Zn—O (GZO) -based oxide sintered product target.
  • IGZO In—Ga—Zn—O
  • the oxide sintered body sputtering target of the present invention has a chlorine content of 10 wtppm or less, a sodium content of 10 wtppm or less, an average particle size of 0.5 ⁇ m to 3 ⁇ m, and a particle size distribution of 0.1 to
  • a gallium oxide powder having a BET specific surface area of 10 ⁇ m, a BET specific surface area of 5 to 20 m 2 / g, and a crystal structure of ⁇ -type is used as a raw material. There is no generation of cracks and poor sintering due to gallium, and a high-density sputtering target can be easily manufactured.
  • the oxide sintered sputtering target of the present invention can be applied to all targets containing the gallium oxide as a target component. Therefore, it will be easily understood that there are no particular restrictions on other components and contents.
  • Example 1 Liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. At this time, the temperature of the electrolytic solution was 30 ° C., the pH was 6, and the concentration of the electrolytic solution was 1.0 mol / L. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained.
  • An SEM image of the crystallized particles is shown in FIG. As shown in FIG. 2, finely dispersed particles were obtained.
  • this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH).
  • this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 12.58 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 0.83 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were in the ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Example 2 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution.
  • the temperature of the electrolytic solution at this time was 40 ° C.
  • the pH was 4, and the concentration of the electrolytic solution was 1.0 mol / L.
  • the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained. Similar to Example 1, finely dispersed particles were obtained. Next, this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 10.72 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 0.86 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were in the ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Example 3 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. The temperature of the electrolytic solution at this time was 40 ° C., the pH was 7, and the concentration of the electrolytic solution was 1.0 mol / L. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained. Similar to Example 1, finely dispersed particles were obtained. Next, this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 8.73 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 1.06 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were in the ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Example 4 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. The temperature of the electrolytic solution at this time was 40 ° C., the pH was 6, and the concentration of the electrolytic solution was 0.5 mol / L. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained. Similar to Example 1, finely dispersed particles were obtained. Next, this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 10.46 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 0.91 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were in the ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Example 5 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. The temperature of the electrolytic solution at this time was 50 ° C., the pH was 6, and the concentration of the electrolytic solution was 2.0 mol / L. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained. Similar to Example 1, finely dispersed particles were obtained. Next, this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 7.85 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 1.41 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were in the ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Example 6 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. The temperature of the electrolytic solution at this time was 40 ° C., the pH was 5, and the concentration of the electrolytic solution was 1.0 mol / L. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained. Similar to Example 1, finely dispersed particles were obtained. Next, this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH). Next, this dried powder was baked at about 500 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as high as 19.83 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 0.55 ⁇ m, which was within the range of the present invention.
  • the crystals of the roasted powder were ⁇ phase ( ⁇ type).
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained.
  • An SEM image of the crystallized particles is shown in FIG. As shown in FIG. 3, agglomerated particles were obtained.
  • this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH).
  • this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was as low as 1.02 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 32.92 ⁇ m, which was greatly deviated from the scope of the present invention.
  • Example 2 In the same manner as in Example 1, liquid metal gallium having a purity of 4N was placed in an electrolytic cell as shown in FIG. 1, and electrolysis was performed using an aqueous ammonium nitrate solution as the electrolytic solution. At this time, the temperature of the electrolytic solution was 30 ° C., the pH was 9, and the concentration of the electrolytic solution was 2.0 mol / L. The pH in this case is outside the conditions of the present application. As another condition, the DSE as current-carrying material to the anode, using a Ti cathode, and a current density of 10A / dm 2.
  • Ga (OH) 3 crystallized in the solution was obtained.
  • the crystallized particles were agglomerated as in Comparative Example 1.
  • this Ga (OH) 3 was subjected to suction filtration for solid-liquid separation, and then dried at about 120 ° C. to obtain GaO (OH).
  • this dried powder was roasted at about 1000 ° C. for 4 hours to produce a gallium oxide powder.
  • the chlorine and sodium contents in the gallium oxide powder were below the detection limit, that is, less than 10 wtppm.
  • the BET specific surface area was 3.77 m 2 / g, and the average particle size obtained from the particle size distribution was 10.39 ⁇ m, which deviated from the present invention.
  • the present invention uses a liquid metal gallium as an anode and gallium hydroxide produced by crystallizing gallium hydroxide by electrolysis in an aqueous ammonia nitrate solution, and using this powder as a starting material, the target has a high density. It is possible to prevent cracking and sintering failure during the manufacturing process of the target, further suppress the generation of nodules during sputtering, suppress abnormal discharge, and enable stable sputtering. Has an excellent effect.
  • the gallium oxide powder produced according to the present invention is particularly useful for producing an In—Ga—Zn—O (IGZO) -based or Ga—Zn—O (GZO) -based sputtering target. Is expensive.
  • Anode liquid metallic gallium
  • Metal for energization to the anode 3 Cathode 4: Insulating part 5: Electrolytic solution (ammonium nitrate aqueous solution) 6: Gallium hydroxide

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Abstract

　液体の金属ガリウムをアノードとし、硝酸アンモニウム水溶液中で電解することにより水酸化ガリウムを晶出させることを特徴とする水酸化ガリウムの製造方法。水酸化ガリウムを乾燥及び焙焼して酸化ガリウム粉末とすることを特徴とする酸化ガリウム粉末の製造方法。製造が容易であり、低コストで製造できる水酸化ガリウム、酸化ガリウム粉末及び該粉末から製造された焼結体並びにスパッタリングターゲットに関し、ターゲットの製造工程において割れや焼結不良の発生がなく、高密度のターゲットの製造に適用できる技術を提供する。

Description

[規則37.2に基づきISAが決定した発明の名称]　水酸化ガリウムの製造方法、酸化ガリウム粉末の製造方法、酸化ガリウム粉末、該酸化ガリウムの焼結体及び該焼結体からなるスパッタリングターゲット
　本発明は、スパッタリングターゲットの製造原料として使用される酸化ガリウム粉末、同酸化ガリウム粉末の原料となる水酸化ガリウム粉末の製造方法並びに酸化ガリウムを用いた焼結体及び焼結体スパッタリングターゲットに関する。
 近年、透明酸化物半導体を用いた薄膜トランジスタの開発が行われており、透明酸化物半導体は、低温成膜可能、高移動度等の観点から注目されている。中でも、インジウム、ガリウム、亜鉛、酸素を構成元素とするＩｎ－Ｇａ－Ｚｎ－Ｏ（以下、「ＩＧＺＯ」と記載する。）系材料や、ガリウム、亜鉛、酸素を構成元素とするＧａ－Ｚｎ－Ｏ（以下、「ＧＺＯ」と記載する。）系材料が、有望視されている。
 ＩＧＺＯ膜やＧＺＯ膜の作製方法としては、量産性に優れているスパッタリング法が、最も適切であり、そのためには、ＩＧＺＯターゲットやＧＺＯターゲットは、高密度である必要がある。しかしながら、実際に高密度ＩＧＺＯターゲットやＧＺＯターゲットを製造した場合、その密度が低下した製品（ロット）が多発したり、さらには、ターゲットの割れや焼結不良が発生したりするトラブルに直面することが少なからずあった。
 このような問題を解決するべく、主原料の酸化ガリウム粉の性状を改善・改良する取り組みが以前より行われている。例えば、特許文献１には、中和法において、シュウ酸の存在下、特定の条件で中和を進行させることにより、粒度分布のシャープな酸化ガリウム粉末が得られ、当該粉末を用いることにより、高密度のターゲットが得られることが記載されている。しかしながら、シュウ酸は毒物及び劇物取締法により医薬用外劇物に指定されており、工業生産用として用いることは好ましくない。
 非特許文献１には、結晶性のα－ＧａＯＯＨを４００～６００℃で焼結すると、α型のＧａ２Ｏ３が得られることが開示されている。しかしながら、塩化ガリウムを水酸化ナトリウムで中和する方法を採用しているため、塩素とナトリウムが原料粉中に残留することとなり、これを用いて製造した焼結体中にも残存することとなる。
　特許文献２には、金属ガリウムを硝酸に溶解して、硝酸ガリウム水溶液を得て、これをアンモニア水で中和し、生じた沈殿物を濾過、洗浄、乾燥後、６００℃で焙焼して、酸化ガリウム粉末を製造することが記載されている。
 しかしながら、中和条件が最適化されていないため、１μｍ以下の微粉末や１００μｍ弱程度の粗大粒が多量に発生してしまう。
 特許文献３には、電解法による酸化ガリウムの製造方法が開示されている。この方法では、電解液を冷却してガリウムアノードを固体として保つ必要がある。このため、電解液の冷却に多大な電力を必要とする。また、電解液を冷却した場合でも、常時通電により発熱するので、この発熱によって電極及びその近傍の温度は局所的に上昇するため、ガリウムアノードが融解脱落して、電解不能な状態に陥る危険性が大きい。このため、安定操業が難しく、量産に不向きであるという問題がある。
特開平１１－３２２３３５号公報 特許第４１７８４８５号公報 特開平１０－２７３３１８号公報
Taichi Sato et al. Thermochimica Acta 53, p.281-288 (1982)
 本発明は、このような状況を鑑みつつなされたものであって、その目的は透明半導体ＩＧＺＯ膜やＧＺＯ膜をスパッタ法で成膜するのに必要なスパッタリングターゲットを高密度で製造するのに適した酸化ガリウム粉末、そのための水酸化ガリウムを効率よく容易に製造し、提供することである。また、ＩＧＺＯターゲットやＧＺＯターゲットの生産において、密度が低下したり、ターゲットの割れや焼結不良が発生したりする原因を鋭意究明したところ、これらの問題の発生頻度が、不可避的不純物である塩素の含有量とナトリウムの含有量に関連があるため、これらを低減させる必要があった。
 また、従来技術である中和法による酸化ガリウム粉末の製造方法では、反応初期と終期で、浴中のイオンの量、バランスが異なり、粉の性状が不安定となって、硝酸浸出時にＮＯｘが多量に発生することと、中和後液が高濃度の窒素系廃水であることによって、環境負荷が極めて大きいという問題があった。
 一方、電解法であれば、浴のｐＨを一定にして、電解により安定した浸出をし、水酸化物析出が可能であるため、粉の性状も均一となり、焼結性が向上し、電解浸出においてＮＯｘガスは発生しないこと、電解液は繰り返し使用できるために廃水量自体の減量および廃水中窒素の低濃度化が可能である。
 しかしながら、従来の電解法では、電解液を冷却してガリウムアノードを固体として保つ必要があり、電解液の冷却にエネルギーを必要とする。また、電解の際の発熱によって電極及びその近傍の温度が上昇するため、ガリウムアノードが融解脱落する危険性があるため、安定操業が難しく、量産に不向きであるという問題があった。
 かかる知見を基礎として、以下の発明を提供する。
（１）液体の金属ガリウムをアノードとし、硝酸アンモニア水溶液中で電解することにより水酸化ガリウムを晶出させることを特徴とする水酸化ガリウムの製造方法。　
（２）電解液の液温を３０～６０°Ｃ、ｐＨを４～７、電解液濃度を０．５～２ｍｏｌ／Ｌとして電解することを特徴とする上記（１）記載の水酸化ガリウムの製造方法。
（３）上記（１）又は（２）で製造した水酸化ガリウムを乾燥及び焙焼して酸化ガリウム粉末とすることを特徴とする酸化ガリウム粉末の製造方法。
（４）塩素含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下、ナトリウム含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下であって、平均粒径が０．５μｍ～３μｍ、粒度分布が０．１～１０μｍ、ＢＥＴ比表面積が５～２０ｍ２／ｇであることを特徴とする上記（３）記載の製造法により得られた酸化ガリウム粉末。　
（５）上記（４）記載の酸化ガリウム粉末を原料として作製された酸化ガリウム焼結体。
（６）上記（５）の酸化ガリウム焼結体からなる酸化ガリウムスパッタリングターゲット。
 従来技術である中和法による酸化ガリウム粉末の製造方法の欠点、すなわち反応初期と終期で、浴中のイオンの量、バランスが異なり、粉の性状が不安定となって、硝酸浸出時にＮＯｘが多量に発生することと、中和後液が高濃度の窒素系廃水であることによって、環境負荷が極めて大きいという問題を解消する効果を有する。
 また、従来の電解法での欠点、すなわち電解液を冷却してガリウムアノードを固体として保つ必要性と電解液の冷却にエネルギーを必要とすること、さらに電極及びその近傍の温度が上昇することによるガリウムアノードが融解脱落する危険性を排除した、新しい電解法を提供するものである。これによって、安定操業が可能であり、量産性を向上させることができる効果を有する。
 また、ターゲットの割れや焼結不良が発生する原因となる不純物の塩素の含有量とナトリウムの含有量を低減させることを可能とした。
 これによって、透明半導体ＩＧＺＯ膜やＧＺＯ膜をスパッタ法で成膜するのに必要なスパッタリングターゲットを高密度で製造するのに適した酸化ガリウム粉末、そのための水酸化ガリウムを効率よく容易に製造し、提供することができるという優れた効果を有する。また、ＩＧＺＯターゲットやＧＺＯターゲットの生産において、密度が低下したり、ターゲットの割れや焼結不良が発生したりすることを抑制できる効果がある。
本発明の電解による水酸化ガリウムの製造方法の一例を示す模式図である。 実施例１の溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３粒子のＳＥＭ画像である。 比較例１の溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３粒子のＳＥＭ画像である。
 酸化ガリウムの代表的な用途として、スパッタリングターゲットがある。ターゲットとして使用するためには、スパッタリング後の膜特性および焼結性向上のために、高純度化が必要である。
 塩酸や水酸化ナトリウム等を使用した場合には、不純物の洗浄が困難であることから、高純度化のための製法としては、主に硝酸浸出アンモニア中和法が知られている。
 しかし、中和法では反応初期と終期で、浴中のイオンの量、バランスが異なり、粉の性状が不安定となっている可能性がある。また、硝酸浸出時にＮＯｘが多量に発生することと、中和後液が高濃度の窒素系廃水であることによって、環境負荷が極めて大きいという問題がある。
 一方、電解法であれば浴のｐＨを一定にして、電解により安定した浸出をし、水酸化物析出が可能であるため、粉の性状も均一となり、焼結性が向上する。電解浸出においてＮＯｘガスは発生しない。また、電解液は繰り返し使用できるために廃水量自体の減量および廃水中窒素の低濃度化が可能であるという特徴を有する。
 前記特許文献３には、電解法による酸化ガリウムの製造方法が開示されているが、上記の通り、電解液を冷却してガリウムアノードを固体として保つ必要があり、電解液の冷却にエネルギーを必要とする。また、電解の際の発熱によって電極及びその近傍の温度が上昇するため、ガリウムアノードが融解脱落する危険性があるため、安定操業が難しく、量産に不向きであるという問題がある。
 本願発明は、電解法を採用するのであるが、本発明の水酸化ガリウムの製造方法は、液体の金属ガリウムをアノードとし、硝酸アンモニア水溶液中で電解することにより水酸化ガリウムを晶出させる方法である。すなわち、アノードは固体を使用するのではなく、液体のガリウムをアノードとして使用するものである。
 本願発明の電解による水酸化ガリウムの製造方法の一例を、図１に示す。この図１に示すように、電解槽の下部に、液体の金属ガリウム１が存在し、この液体ガリウム１がアノードとなる。符号２は通電用金属である。符号３はカソードを示す。
 電解により、電解液（硝酸アンモニウム水溶液）５中に、水酸化ガリウム６が晶出する。符号４は絶縁部である。なお、通電用金属２は、ガリウムと固溶せず、液体の金属ガリウムとの濡れ性が良い材料を用いるが、これらの性質を持つものであれば、特に制限はない。
 この結果、電解液を冷却してガリウムアノードを固体として保つ必要がなくなり、またガリウムアノードが融解脱落する危険性がなく、安定操業ができるという利点がある。これは、従来技術には開示されていない斬新な発想と言える。また、中和法を採用していないので、焼結性に問題はなく、また環境負荷（窒素系廃水、ＮＯｘの発生）がないという点で優れた方法である。
 すなわち、電解法においては、ＮＯｘガスは発生せず、電解液は繰り返し使用できるので、廃水量の減量化が可能であり、廃水中の窒素の低濃度化が達成できる。
 なお、酸化ガリウムを製造するには、予め水酸化ガリウムを作製し、それを焙焼して酸化ガリウムとする手法が採られる。したがって、水酸化ガリウムの製造工程で、高純度化を図る。
 上記水酸化ガリウムの製造に際しては、電解液の液温を３０～６０°Ｃ、ｐＨを４～７、電解液濃度を０．５～２ｍｏｌ／Ｌとして電解することが好ましい条件である。通常この範囲で製造する。
 前記液温が低すぎるとガリウムが凝固するので安定した製造が難しくなる。なお、電解に支障が起こらない範囲で液状のガリウムが存在していれば、電解槽の中で一部凝固していても特に問題は生じない。
 一方、高すぎると電解液及びアンモニアの揮発が多いため、薬品の消費量が増加するので好ましくないと言える。また、必要以上に温度が高いと、液温の維持のための加熱設備が大型化したり、設備の材質が限られたりするので、上記の電解液の液温が望ましい。　ｐＨについては、高すぎると粒子が凝集して焼結性が悪化する。また、ｐＨが低すぎると水酸化ガリウムが化学溶解してしまうため、収率が下がるので、上記の範囲とするのが良い。
 電解液濃度については、高すぎると粒子が凝集して焼結性が悪化し、低すぎると電解によるｐＨ変動が大きくなり易くなる。このｐＨ変動に対応するために硝酸及びアンモニア水を添加するが、このとき必要量以上に添加してしまい易くなるので、ｐＨが安定しなくなる。このため、上記の範囲とするのが好ましい条件である。
 しかし、製造する量や条件によっては、この範囲外であっても良く、多少の変更は許容される。
　次に、晶出したＧａ（ＯＨ）３粒子を固液分離した後、１２０°Ｃ程度で乾燥してＧａＯ（ＯＨ）とする。次に、これを４００°Ｃ以上で、１～１０時間、焙焼して酸化ガリウム（Ｇａ２Ｏ３）粉末を得る。焙焼温度の上限は、物性の変化による制限はないが、設備の材質や寿命等の観点から１２００°Ｃ以下とするのが望ましい。
 これによって、塩素含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下、ナトリウム含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下であって、平均粒径が０．５μｍ～３μｍ、粒度分布が０．１～１０μｍ、ＢＥＴ比表面積が５～２０ｍ２／ｇである酸化ガリウム粉末を製造することが可能となる。不純物による密度低下への影響を避けるためには、純度４Ｎ以上の原料を用いることが望ましい。なお、この純度には、不可避的に含有される不純物は除かれる。
 塩素とナトリウムの含有量が１０ｗｔｐｐｍを超えると、酸化ガリウム（Ｇａ２Ｏ３）粉末のＢＥＴ比表面積が低くなるため、好ましくない。一方、塩素とナトリウムは不可避的不純物であるため、完全に除去することはできないが、それらを極力低減することが好ましい。平均粒径が０．５μｍ～３μｍ、粒度分布が０．１～１０μｍ、ＢＥＴ比表面積が５～２０ｍ２／ｇとすることは、いずれも焼結性を向上させることができる条件であり、好ましい酸化ガリウム粉末の形態である。本発明では、この好ましい条件を持つ酸化ガリウム粉末の製造が可能である。
 また、本発明の酸化ガリウム粉末は、α型又はβ型の結晶構造とすることができる。酸化ガリウムには、α型又はβ型のほかに、γ型、δ型、ε型の結晶構造がある。
 酸化ガリウム粉末を使用して焼結する際には、通常量産性の良いα型又はβ型の酸化ガリウム粉末を使用するが、他の結晶構造の粉末でも使用可能である。前記（α、β）の酸化ガリウム粉末の相構造は、焙焼温度を調製することにより、任意に得ることができる。なお、これらの相構造をもつ酸化ガリウム粉末の焼結に際し、通常β相に変態する。
 以上に説明した酸化ガリウム粉末を原料として酸化ガリウム焼結体を作製することができ、この酸化ガリウム焼結体からなる酸化ガリウムスパッタリングターゲット、例えば、Ｉｎ－Ｇａ－Ｚｎ－Ｏ（ＩＧＺＯ）系の酸化物焼結体ターゲット、Ｇａ－Ｚｎ－Ｏ（ＧＺＯ）系の酸化物焼結体ターゲットとして有用である。
 本発明の酸化物焼結体スパッタリングターゲットは、上記の通り、塩素含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下、ナトリウム含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下であって、平均粒径が０．５μｍ～３μｍ、粒度分布が０．１～１０μｍ、ＢＥＴ比表面積が５～２０ｍ２／ｇであり、結晶構造がα型である酸化ガリウム粉末を原料とするものであるが、この酸化ガリウム粉末を用いることにより、ターゲットの製造工程において、酸化ガリウムに起因する割れや焼結不良の発生がなく、高密度スパッタリングターゲットを容易に製造することができる。
 本発明の酸化物焼結体スパッタリングターゲットは、前記酸化ガリウムをターゲット成分として含有する全てのターゲットに適用できる。したがって、他の成分、含有量については、特に制限はないことが容易に理解できるであろう。
　以下、実施例および比較例に基づいて説明する。なお、本実施例はあくまで一例であり、この例によって何ら制限されるものではない。すなわち、本発明は特許請求の範囲によってのみ制限されるものであり、本発明に含まれる実施例以外の種々の変形を包含するものである。
　下記に示す実施例及び比較例において、各種の測定や評価が必要となるが、その条件を以下に示す。
（粒度分布の測定）
 粒度分布の測定は、粒度分布測定装置(日機装株式会社製、Microtrac MT3000)を用いて行った。
（比表面積の測定）
 比表面積（ＢＥＴ）の測定は、自動表面積計ベータソープ(日機装株式会社製、MODEL-4200)で行なった。
（実施例１）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を３０°Ｃ、ｐＨを６、電解液の濃度を１．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。この晶出した粒子のＳＥＭ画像を図２に示す。この図２に示すように、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は１２．５８ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は０．８３μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はβ相（β型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２５ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、表１に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
（実施例２）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を４０°Ｃ、ｐＨを４、電解液の濃度を１．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。実施例１と同様に、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は１０．７２ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は０．８６μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はβ相（β型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２５ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（実施例３）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を４０°Ｃ、ｐＨを７、電解液の濃度を１．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。実施例１と同様に、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は８．７３ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は１．０６μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はβ相（β型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２６ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（実施例４）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を４０°Ｃ、ｐＨを６、電解液の濃度を０．５ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。実施例１と同様に、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は１０．４６ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は０．９１μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はβ相（β型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２７ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（実施例５）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を５０°Ｃ、ｐＨを６、電解液の濃度を２．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。実施例１と同様に、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は７．８５ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は１．４１μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はβ相（β型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２５ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（実施例６）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を４０°Ｃ、ｐＨを５、電解液の濃度を１．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。実施例１と同様に、微細に分散した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約５００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は１９．８３ｍ２／ｇと高く、粒度分布から求めた平均粒径は０．５５μｍと本発明の範囲内であった。焙焼粉の結晶はα相（α型）であった。
 また、得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．２６ｇ／ｃｍ３と高密度であった。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性がよく、焼結作業において混合及び粉砕が容易となることによる効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（比較例１）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を３０°Ｃ、ｐＨを６、電解液の濃度を４．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。この電解液の濃度は、本願の条件を外れるものである。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。この晶出した粒子のＳＥＭ画像を図３に示す。この図３に示すように、凝集した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は１．０２ｍ２／ｇと低くなり、粒度分布から求めた平均粒径は３２．９２μｍと、本発明の範囲から大きく逸脱していた。
 得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．０５ｇ／ｃｍ３と密度が低下した。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性が悪く、焼結作業において混合及び粉砕が充分でなくなった効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
（比較例２）
 純度４Ｎの液体金属ガリウムを、実施例１と同様に、図１に示すような電解槽に入れ、電解液には硝酸アンモニウム水溶液を使用して電解を行った。このときの電解液の温度を３０°Ｃ、ｐＨを９、電解液の濃度を２．０ｍｏｌ／Ｌ、とした。この場合のｐＨは、本願の条件を外れるものである。
 この他の条件として、アノードへの通電用材料としてＤＳＥを、カソードにＴｉを使用し、電流密度１０Ａ／ｄｍ２とした。
 これにより、溶液中に晶出したＧａ（ＯＨ）３を得た。この晶出した粒子は、比較例１と同様に凝集した粒子が得られた。次に、このＧａ（ＯＨ）３を吸引濾過して固液分離し、その後、約１２０°Ｃで乾燥し、ＧａＯ（ＯＨ）を得た。次に、この乾燥粉を約１０００°Ｃ、４時間で焙焼し、酸化ガリウム粉末を製造した。
 その結果、酸化ガリウム粉末中の塩素及びナトリウムの含有量は、検出限界以下、すなわち、１０ｗｔｐｐｍ未満であった。また、ＢＥＴ比表面積は３．７７ｍ２／ｇとなり、粒度分布から求めた平均粒径は１０．３９μｍと、本発明から逸脱していた。
 得られた酸化ガリウム粉末を製造原料として、ＩＧＺＯ焼結体ターゲットの（１１１）組成を製造し、密度を測定したところ、アルキメデス密度６．１３ｇ／ｃｍ３と密度が低下した。これは、得られた酸化ガリウムは粉砕性が悪く、焼結作業において混合及び粉砕が充分でなくなった効果と考えられる。以上の結果を、同様に表１に示す。
　本発明は、液体の金属ガリウムをアノードとし、硝酸アンモニア水溶液中で電解することにより水酸化ガリウムを晶出させることにより製造した水酸化ガリウムを出発材料として、この粉末を用いることによりターゲットを高密度化することができ、ターゲットの製造工程中の割れや焼結不良を防止すると共に、さらにスパッタリング中のノジュールの発生を最小限に押さえ、異常放電を抑制し、かつ安定したスパッタリングが可能であるという優れた効果を有する。
 本発明により製造した酸化ガリウム粉末は、特に、Ｉｎ－Ｇａ－Ｚｎ－Ｏ（ＩＧＺＯ）系やＧａ－Ｚｎ－Ｏ（ＧＺＯ）系のスパッタリングターゲットを製造するために有用であり、産業上の利用価値は高い。
１：アノード（液体の金属ガリウム）
２：アノードへの通電用金属
３：カソード
４：絶縁部
５：電解液（硝酸アンモニウム水溶液）
６：水酸化ガリウム
 

Claims (6)

  1. 　液体の金属ガリウムをアノードとし、硝酸アンモニア水溶液中で電解することにより水酸化ガリウムを晶出させることを特徴とする水酸化ガリウムの製造方法。　
  2. 　電解液の液温を３０～６０°Ｃ、ｐＨを４～７、電解液濃度を０．５～２ｍｏｌ／Ｌとして電解することを特徴とする請求項１記載の水酸化ガリウムの製造方法。
  3. 　請求項１又は２で製造した水酸化ガリウムを乾燥及び焙焼して酸化ガリウム粉末とすることを特徴とする酸化ガリウム粉末の製造方法。
  4. 　塩素含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下、ナトリウム含有量が１０ｗｔｐｐｍ以下であって、平均粒径が０．５μｍ～３μｍ、粒度分布が０．１～１０μｍ、ＢＥＴ比表面積が５～２０ｍ２／ｇであることを特徴とする請求項３記載の製造法により得られた酸化ガリウム粉末。　
  5. 　請求項４記載の酸化ガリウム粉末を原料として作製された酸化ガリウム焼結体。
  6. 　前記請求項５の酸化ガリウム焼結体からなる酸化ガリウムスパッタリングターゲット。
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