WO2013005285A1 - 吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置 - Google Patents

吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置 Download PDF

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WO2013005285A1
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temperature
electronic devices
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adsorber
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徳康 安曽
敏夫 眞鍋
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富士通株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a control method, an information processing system, and a control device for an adsorption heat pump.
  • An object of the present invention is to provide an adsorption heat pump control method, an information processing system, and a control apparatus that can efficiently operate an adsorption heat pump even if the temperature of a heat source that supplies heat used for adsorbent regeneration is large.
  • a control method for an adsorption heat pump that joins the heat medium discharged from a plurality of electronic devices and supplies the heat medium to the adsorption heat pump, the method being provided to the plurality of electronic devices
  • a flow rate adjustment unit that can individually adjust the flow rate of the heat medium, a temperature sensor that individually detects the temperature of the heat medium discharged from the plurality of electronic devices, and a control unit are provided, and the output of the temperature sensor
  • the control unit controls the flow rate adjustment unit so that the temperatures of the heat medium discharged from the plurality of electronic devices are the same.
  • a transfer pump that transfers a heat medium, a branch portion that branches a flow path of the heat medium transferred from the transfer pump, and a flow path branched by the branch portion ,
  • a plurality of electronic devices each having a heat medium flow path through which the heat medium flows, and a heat medium merged at the merge part
  • An adsorption heat pump supplied to the plurality of electronic devices, a flow rate adjusting unit capable of individually adjusting a flow rate of the heat medium supplied to the plurality of electronic devices, and a temperature of the heat medium discharged from the plurality of electronic devices individually
  • a control unit that inputs a signal from the temperature sensor and controls the flow rate adjustment unit so that the temperature of the heat medium discharged from the plurality of electronic devices is the same.
  • a transfer pump that transfers a heat medium, a branch portion that branches a flow path of the heat medium transferred from the transfer pump, and a flow branched by the branch portion.
  • a plurality of electronic devices each having a heat medium flow path through which the heat medium flows, and a heat merged at the merge part
  • a control device for an electronic device system having individually detected temperature sensors, wherein the flow rate is set so that the temperature of the heat medium discharged from the plurality of electronic devices is the same by inputting a signal from the temperature sensor Control to control the adjustment unit Location is provided.
  • the adsorption heat pump can be operated efficiently even if the temperature change of the heat source supplying the heat used for the regeneration of the adsorbent is large.
  • FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an example of an adsorption heat pump.
  • FIG. 2 is a schematic diagram for explaining a control method of the adsorption heat pump according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating a process of adjusting the flow rate of the cooling water passing through the electronic device according to the temperature of the heat medium discharged from the electronic device.
  • FIG. 4 is a flowchart illustrating a process of switching between the adsorption process and the regeneration process in accordance with the temperature of the heat medium (hot water) supplied to the adsorber.
  • FIG. 5 is a graph showing the change over time in the temperature of the heat medium on the inlet side and the outlet side of the adsorber.
  • FIG. 6 is a figure showing the outline of the control method of the adsorption heat pump concerning an embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a problem when the flow rate of the heat medium flowing into the electronic device is the same.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a problem when the adsorption process and the regeneration process are switched when the junction temperature of the CPU reaches the upper limit value.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the outline of the apparatus used in the experiment.
  • FIG. 10 is a diagram showing the results of examining the conditions under which the CPU junction temperature Tj does not exceed the upper limit value (75 ° C.), assuming that the load factor of the CPU of the server is 100%.
  • FIG. 11 is a diagram summarizing the experimental conditions of cases 1 to 3.
  • FIG. 11 is a diagram summarizing the experimental conditions of cases 1 to 3.
  • FIG. 12 is a diagram showing the change over time of the temperature of the heat medium on the inlet side and the outlet side of the adsorber in case 1.
  • FIG. 13 is a diagram showing the change over time in the temperature of the cooling water on the inlet side and the outlet side of the cooling water coil piping of the evaporator.
  • 14 (a) to 14 (c) are graphs showing changes over time in the surface temperatures of the CPU and the heater in case 1.
  • FIG. FIG. 15 is a diagram illustrating the change over time in the temperature of the heat medium on the heat medium discharge side of the server and the simulated server.
  • FIG. 16 is a diagram showing a cold heat generation result under each condition of cases 1 to 3.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of an adsorption heat pump.
  • the adsorption heat pump 10 includes an evaporator 11, a condenser 12 disposed above the evaporator 11, and an adsorber 13 a disposed in parallel between the evaporator 11 and the condenser 12. , 13b.
  • the space in the adsorption heat pump 10 is decompressed to about 1/100 atm, for example.
  • the evaporator 11 is provided with a cooling water coil pipe 11a through which the cooling water passes and a spray nozzle (not shown) for spraying a liquid refrigerant (for example, water) toward the cooling water coil pipe 11a.
  • a liquid refrigerant for example, water
  • a heat transfer pipe 14 and an adsorbent (desiccant) 15 are provided in each of the adsorbers 13a and 13b.
  • An on-off valve 16 a is disposed between the adsorber 13 a and the evaporator 11
  • an on-off valve 16 b is disposed between the adsorber 13 b and the evaporator 11.
  • the adsorbent 15 for example, activated carbon, silica gel or zeolite is used.
  • the condenser 12 is provided with a cooling water coil pipe 12a through which cooling water passes.
  • An on-off valve 17a is disposed between the condenser 12 and the adsorber 13a, and an on-off valve 17b is disposed between the condenser 12 and the adsorber 13b.
  • the on-off valve 16a between the evaporator 11 and the adsorber 13a and the on-off valve 17b between the adsorber 13b and the condenser 12 are both open. Further, it is assumed that the on-off valve 16b between the evaporator 11 and the adsorber 13b and the on-off valve 17a between the adsorber 13a and the condenser 12 are both closed.
  • cooling water is supplied to the heat transfer pipe 14 of one adsorber 13a, and hot water heated by heat discharged from the electronic device is supplied to the heat transfer pipe 14 of the other adsorber 13b. To do. Furthermore, water is used as the refrigerant sprayed into the evaporator 11.
  • the water vapor (gaseous refrigerant) generated in the evaporator 11 enters the adsorber 13a through the open on-off valve 16a. And it cools with the cooling water which passes the inside of the heat-transfer piping 14, returns to a liquid, and is adsorbed by the adsorbent 15 of the adsorber 13a.
  • the regeneration process for regenerating (drying) the adsorbent 15 is performed in the other adsorber 13b. That is, in the adsorber 13 b, the refrigerant (water) adsorbed by the adsorbent 15 is heated by hot water passing through the heat transfer pipe 14 to become gas (water vapor) and is detached from the adsorbent 15. The refrigerant separated from the adsorbent 15 enters the condenser 12 through the open / close valve 17b.
  • Cooling water is supplied to the cooling water coil pipe 12 a in the condenser 12.
  • cooling water discharged from the adsorber 13a may be used.
  • the water vapor (gaseous refrigerant) that has entered the condenser 12 from the adsorber 13b is condensed around the cooling water coil pipe 12a to become a liquid. This liquid is transferred to the evaporator 11 by a pump (not shown) and sprayed toward the cooling water coil pipe 11a.
  • the adsorbers 13a and 13b perform an adsorption process and a regeneration process at regular intervals. That is, the on-off valves 16a, 16b, 17a, and 17b repeat opening and closing at regular intervals, and cooling water and hot water are alternately supplied to the heat transfer pipes 14 of the adsorbers 13a and 13b at regular intervals. In this way, the adsorption heat pump 10 operates continuously.
  • the temperature of the hot water greatly varies depending on the operating state of the electronic equipment. For this reason, as described above, in the method of simply switching between the adsorption process and the regeneration process at regular time intervals, the adsorbent 15 is shifted to the adsorption process before it can be sufficiently regenerated, or conversely, the regeneration of the adsorbent 15 is completed. However, it may not be possible to move to the adsorption process. As a result, the operating efficiency of the adsorption heat pump 10 decreases.
  • FIG. 2 is a schematic diagram for explaining a control method of the adsorption heat pump according to the embodiment. This embodiment will also be described with reference to FIG.
  • the adsorption heat pump 10 includes an evaporator 11, a condenser 12, and adsorbers 13a and 13b.
  • a cooling water coil pipe 11 a is disposed in the evaporator 11, and a cooling water coil pipe 12 a is disposed in the condenser 12.
  • a heat transfer pipe 14 and an adsorbent 15 are arranged in the adsorbers 13a and 13b, respectively.
  • the cooling water coil pipe 11 a of the evaporator 11 of the adsorption heat pump 10 is connected to the evaporator cooling water flow path 21.
  • the evaporator cooling water flow path 21 is provided with a cooling water storage tank 31 in which cooling water is stored, and a pump 32 that circulates the cooling water between the cooling water storage tank 31 and the evaporator 11.
  • the cooling water stored in the cooling water storage tank 31 is used, for example, for cooling an indoor air conditioner, an electronic device, a power source, or the like.
  • the cooling water coil pipe 12 a of the condenser 12 is connected to the condenser cooling water flow path 22.
  • the condenser cooling water flow path 22 is provided with a chiller unit 33 that circulates the cooling water with the condenser 12 while maintaining the temperature of the cooling water at a predetermined temperature.
  • the adsorber cooling water flow path 34 is a flow path for supplying cooling water to the adsorbers 13a and 13b.
  • the adsorber cooling water flow path 34 is provided with a chiller unit 35 that transfers the cooling water while keeping the temperature of the cooling water constant.
  • the adsorber cooling water flow path 34 is provided with switching valves 36a and 36b. These switching valves 36a and 36b operate in response to a signal from the control unit 30 and switch the flow path so that the cooling water returns to the chiller unit 35 through one of the adsorbers 13a and 13b.
  • the electronic device cooling water channel 37 is a channel that cools the electronic devices 41a, 41b, and 41c and supplies the adsorbers 13a and 13b with cooling water (hot water) whose temperature has increased.
  • the electronic device cooling water flow path 37 is provided with a pump 38 and switching valves 39a and 39b.
  • the cooling water passing through the electronic device cooling water flow path 37 is also referred to as a heat medium.
  • a liquid other than water may be used as the heat medium.
  • the heat medium discharged from the pump 38 is branched by the branching portion 40a, passes through a plurality (three in FIG. 2) of electronic devices 41a, 41b, and 41c, and cools the electronic devices 41a, 41b, and 41c. Then, the heat medium (hot water) whose temperature has increased by cooling the electronic devices 41a, 41b, and 41c is discharged from the electronic devices 41a, 41b, and 41c, and merges at the junction 40b.
  • each of the electronic devices 41a, 41b, and 41c is equipped with one or more CPUs (Central Processing Unit), each of which is equipped with a cold plate, and the inside of the cold plate is heated. It is assumed that the medium passes.
  • the CPU is an example of a semiconductor component, and other semiconductor components or other electronic components may be cooled with a heat medium.
  • the switching valves 39a and 39b operate in response to a signal from the control unit 30 and switch the flow path so that the heat medium joined at the joining unit 40b returns to the pump 38 through one of the adsorbers 13a and 13b.
  • the switching valves 36a and 36b of the adsorber cooling water flow path 34 and the switching valves 39a and 39b of the electronic device cooling water flow path 37 are driven exclusively. That is, when the adsorber 13a is connected to the adsorber cooling water channel 34, the adsorber 13b is connected to the electronic device cooling water channel 37, and when the adsorber 13b is connected to the electronic device cooling water channel 37, the adsorber. 13 b is connected to the adsorber cooling water flow path 34.
  • control part 30 also performs switching of the on-off valves 16a, 16b, 17a, and 17b in the adsorption heat pump 10 simultaneously with switching of the switching valves 36a, 36b, 39a, and 39b.
  • the cooling water passing through the condenser 12 is cooled by the chiller unit 33, but the cooling water discharged from the adsorber (adsorber 13 a or 13 b) that is performing the adsorption process is the condenser 12. You may make it return to the chiller unit 35 through.
  • Temperature sensors 42a, 42b, 42c, flow control valves (proportional control valves) 43a, 43b, 43c, and flow meters 44a, 44b, 44c are provided on the heat medium inlet side of the electronic devices 41a, 41b, 41c, respectively. It has been.
  • a pump capable of adjusting the flow rate may be arranged.
  • the temperature measurement value of the heat medium by the temperature sensors 42a, 42b, and 42c and the flow rate measurement value of the heat medium by the flow meters 44a, 44b, and 44c are transmitted to the control unit 30. Further, the opening degree of the flow rate adjusting valves 43a, 43b, and 43c is changed by a signal from the control unit 30. A heat medium having a flow rate according to the opening degree of the flow rate adjusting valves 43a, 43b, and 43c flows through the electronic devices 41a, 41b, and 41c.
  • Temperature sensors 45a, 45b, and 45c are disposed on the heat medium outlet side of the electronic devices 41a, 41b, and 41c, respectively. Temperature measurement values obtained by these temperature sensors 45 a, 45 b, 45 c are also transmitted to the control unit 30.
  • the CPUs in the electronic devices 41a, 41b, and 41c have temperature sensors 46a, 46b, and 46c that detect junction temperatures, and the measured values of the junction temperatures by the temperature sensors 46a, 46b, and 46c are also included. It is transmitted to the control unit 30.
  • a temperature sensor may be mounted on the surface of the CPU.
  • temperature sensors 47a and 47b for detecting the temperature of the heat medium supplied to the heat transfer pipe 14 are provided at the inlets of the heat transfer pipe 14 of the adsorbers 13a and 13b. Temperature values measured by these temperature sensors 47 a and 47 b are also transmitted to the control unit 30.
  • the control unit 30 is exemplified in FIG. 3 and FIG. 4 according to the temperature of the heat medium (hot water) discharged from each electronic device 41a, 41b, 41c and the temperature of the heat medium supplied to the adsorbers 13a, 13b. Perform processing simultaneously.
  • the heat medium hot water
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating a process for adjusting the flow rate of the cooling water passing through each electronic device 41a, 41b, 41c according to the temperature of the heat medium discharged from each electronic device 41a, 41b, 41c.
  • the adsorber 13a is connected to the electronic device cooling water flow path 37 via the switching valves 39a and 39b, and the adsorber 13b is connected to the adsorber cooling water flow path 34 via the switching valves 36a and 36b.
  • step S11 the control unit 30 acquires the temperature of the heat medium discharged from the electronic devices 41a, 41b, and 41c, that is, the temperature measurement value by the temperature sensors 45a, 45b, and 45c.
  • step S12 the control unit 30 determines whether or not the temperature of the heat medium discharged from each electronic device 41a, 41b, 41c is the same.
  • the process returns to step S11 and continues.
  • step S12 determines in step S12 that the temperatures of the heat medium discharged from the electronic devices 41a, 41b, and 41c are not the same
  • the process proceeds to step S13.
  • step S13 the control unit 30 adjusts the opening degree of the flow rate adjusting valves 43a, 43b, and 43c so that the temperature of the heat medium discharged from each electronic device 41a, 41b, and 41c becomes the same.
  • the control unit 30 when adjusting the opening degree of the flow rate adjusting valves 43a, 43b, and 43c, the control unit 30 sets the flow rate adjusting valve based on the heat medium flow rate in the electronic device having the highest temperature of the discharged heat medium. The opening degree of 43a, 43b, 43c is determined.
  • the temperature of the heat medium discharged from the electronic device 41a is higher than the temperature of the heat medium discharged from the other electronic devices 41b, 41c when the flow rate adjusting valves 43a, 43b, 43c have the same opening degree.
  • the control unit 30 opens the flow rate adjustment valves 43b and 43c so that the temperature of the heat medium discharged from the other electronic devices 41b and 41c is the same as the temperature of the heat medium discharged from the electronic device 41a. Adjust the degree.
  • FIG. 4 is a flowchart for explaining a process of switching between the adsorption process and the regeneration process in accordance with the temperature of the heat medium (hot water) supplied to the adsorbers 13a and 13b.
  • step S21 the control unit 30 acquires the temperature of the heat medium supplied to the adsorber 13a performing the regeneration process from the temperature sensor 47a.
  • step S22 the control unit 30 acquires the junction temperature of each CPU, that is, the temperature measurement value by the temperature sensors 46a, 46b, and 46c.
  • step S23 the control unit 30 predicts the time (hereinafter referred to as “target arrival time”) for the temperature of the heat medium supplied to the adsorber 13a to reach a preset target temperature.
  • the target temperature is a temperature required to regenerate the adsorbent 15 and is set according to the type of the adsorbent 15.
  • a database is used for predicting the target arrival time.
  • This database is created including the relationship between the CPU load factor, CPU junction temperature (or surface temperature), heat medium flow rate and heat medium temperature, and target arrival time, as will be described in an experimental example described later. Has been.
  • the control unit 30 extracts the CPU having the highest load factor among the load factors of the CPUs mounted on the electronic devices 41a, 41b, and 41c. Then, referring to the database, the target arrival time is predicted from the load factor of the CPU.
  • step S24 the control unit 30 makes the temperature of the heat medium supplied to the adsorber 13a reach the target temperature at the target arrival time, and the junction temperatures of all the CPUs exceed the above-described upper limit value.
  • the discharge amount (total flow rate of the heat medium) of the pump 38 is adjusted so as not to be present.
  • the aforementioned database is referred to for adjusting the discharge amount of the pump 38.
  • step S25 the control unit 30 determines whether or not the temperature of the heat medium supplied to the adsorber 13a has reached the target temperature. If the determination is negative, the process returns to step S21 to continue the process.
  • step S25 if it is determined in step S25 that the target temperature has been reached, the process proceeds to step S26.
  • the control unit 30 drives the on-off valves 16a, 16b, 17a, 17b and the switching valves 36a, 36b, 39a, 39b to switch between the adsorption process and the regeneration process. Then, it returns to step S21 and repeats the above-mentioned process.
  • junction temperature and surface temperature of the CPU can be estimated from the flow rate and temperature of the heat medium by using the database, the flow rate of the heat medium in each flow path is not directly measured.
  • the adsorption process and the regeneration process can be switched by measuring the temperature.
  • FIG. 5 is a diagram showing the change over time in the temperature of the heat medium on the inlet side (IN) and the outlet side (OUT) of the adsorbers 13a and 13b, with time on the horizontal axis and temperature on the vertical axis. .
  • the electronic devices 41a to 41d Is supplied with a relatively low temperature heat medium (cooling water).
  • This heat medium is gradually heated by the CPU (heat source) in the electronic devices 41a to 41d while circulating between the electronic devices 41a to 41d and the adsorption heat pump 10 (adsorber 13a or adsorber 13b). Rises. When the temperature of the heat medium reaches the target temperature (55 ° C. in this example), the regeneration process and the adsorption process are switched.
  • FIG. 6 is a diagram showing an outline of the control method of the adsorption heat pump according to the present embodiment.
  • four electronic devices 41a to 41d are arranged in the electronic device cooling flow path 37, and flow rate adjusting valves 43a to 43d are respectively provided on the heat medium inlet side of these electronic devices 41a to 41d. It is assumed that it is arranged.
  • the junction temperature Tj of the CPU is equal to or lower than the upper limit value (75 ° C. in this example), and the temperature of the heat medium (warm water) on the heat medium outlet side of the electronic devices 41a to 41d is the same.
  • the opening degree of each of the flow rate adjusting valves 43a to 41d and the flow rate of the pump 38 are adjusted.
  • the power consumption of the electronic device 41a is 150W
  • the power consumption of the electronic device 41b is 100W
  • the power consumption of the electronic device 41c is 50W
  • the power consumption of the electronic device 41d is 0W.
  • the power consumption of each of the electronic devices 41a to 41d is related to the CPU load factor, and the power consumption increases as the CPU load factor increases.
  • Each of the electronic devices 41a to 41d generates heat proportional to the power consumption.
  • the flow rate of the heat medium flowing to the electronic device 41a is 1.0 L (liter) / min
  • the flow rate of the heat medium flowing to the electronic device 41b is 0.6 L / min
  • the flow rate of the heat medium flowing to the electronic device 41c is 0.3 L.
  • the flow rate of the heat medium flowing through the electronic device 41d is 0 L / min.
  • the temperature of the heat medium discharged from each operating electronic device is made the same by reducing the flow rate of the cooling water in the electronic device with less power consumption.
  • a decrease in the temperature of the heat medium supplied to the adsorption heat pump 10 can be suppressed.
  • the discharge amount of the pump 38 is adjusted so that the junction temperature of each CPU does not exceed the upper limit value, it is possible to avoid a malfunction or failure of the CPU.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a problem when the flow rate of the heat medium flowing into the electronic devices 41a to 41d is the same.
  • the adsorption process and the regeneration process are switched.
  • the temperature of the heat medium discharged from each of the electronic devices 41a to 41d is the operating state of the electronic devices 41a to 41d.
  • Dependent In this case, if switching between the adsorption process and the regeneration process is not performed until the temperature of the heat medium supplied to the adsorption heat pump 10 reaches 55 ° C., an electronic apparatus having a high CPU load factor (in the example of FIG. 7, an electronic apparatus is used). In 41a), the junction temperature of the CPU may exceed the upper limit (75 ° C.).
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a problem when the adsorption process and the regeneration process are switched when the junction temperature of the CPU reaches the upper limit value.
  • the flow rate of the heat medium flowing into each of the electronic devices 41a to 41d is the same (1.0 L / min, and at least one of the plurality of CPUs has an upper junction temperature value (75 ° C.).
  • the adsorption process and the regeneration process are switched, and in this case, the adsorption process and the regeneration process may be switched before the temperature of the heat medium supplied to the adsorption heat pump 10 is sufficiently increased.
  • the temperature of the heat medium supplied to the adsorption heat pump 10 when the junction temperature Tj of the CPU of the electronic device 41a reaches 75 ° C. is 53.9 ° C. At this temperature, the adsorbent in the adsorbers 13a and 13b may not be sufficiently regenerated (dried).
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the outline of the apparatus used in the experiment.
  • the same components as those in FIG. A chiller unit 51 is arranged in the evaporator cooling water flow path 21 instead of the cooling water storage tank and the pump 32 illustrated in FIG.
  • the set temperature T L of the chiller unit 51 was 18 ° C.
  • the set temperature T M of the chiller units 33 and 35 was 25 ° C.
  • one server 53 (RX300 S6 manufactured by Fujitsu Limited) and two simulated servers 54 were used as electronic devices.
  • the server 53 is equipped with two CPUs 55 fitted with cold plates, and the heat medium is discharged out of the server 53 through the cold plates in order.
  • Temperature sensors 61 for measuring the temperature of the heat medium are disposed on the heat medium inlet side and the outlet side of the cold plate attached to the CPU 55, respectively.
  • a temperature sensor 62 that measures the surface temperature of the CPU 55 is disposed between the CPU 55 and the cold plate.
  • the simulated server 54 On the other hand, in the simulated server 54, three ceramic heaters 56 (MS-1000 manufactured by Sakaguchi Electric Heat Co., Ltd.) were arranged in place of the CPU, and cold plates were also attached to these heaters 56. The heat medium is discharged out of the simulation server 54 through the cold plates in order.
  • the simulated server 54 is also provided with a temperature sensor 61 that measures the temperature of the heat medium on the heat medium inlet side and the outlet side of the cold plate attached to each heater 56, and a temperature sensor 63 that measures the temperature of the heater 56. .
  • the size of the adsorption heat pump 10 used in the experiment is 450 mm ⁇ 200 mm ⁇ 500 mm, and the inside is reduced to about 1/100 atm.
  • a heat exchanger having a size of 120 mm ⁇ 240 mm ⁇ 30 mm was disposed in the evaporator 11, the condenser 12, and the adsorbers 13 a and 13 b of the adsorption heat pump 10. Fins are provided at a pitch of 1 mm in pipes (cooling water pipes or heat transfer pipes) in these heat exchangers.
  • the heat exchangers of the adsorbers 13a and 13b are filled with activated carbon (manufactured by Kureha Corporation) having a particle diameter of 400 ⁇ m as an adsorbent.
  • the adsorption heat pump 10 is filled with 400 g of water as a refrigerant.
  • CPU 1 is a CPU disposed upstream in the heat medium flow direction
  • CPU 2 is a CPU disposed downstream in the heat medium flow direction.
  • the junction temperature Tj of the CPU 2 exceeds the upper limit value, and when the flow rate of the heat medium is 1.3 L / min or more, the junction temperature Tj of the CPUs 1 and 2 is reached. Does not reach the upper limit.
  • the temperature of the heat medium (warm water) discharged from the server 53 becomes the target temperature (55 ° C.) when the junction temperature Tj of the CPU 2 reaches the upper limit value.
  • the temperature difference ⁇ T of the heat medium between the heat medium inlet side and the outlet side of the server 53 was 1.9 ° C.
  • the surface temperature of the CPU 2 was 61 ° C.
  • the time from the start of flow until the junction temperature of the CPU 2 reaches the upper limit was about 1300 seconds.
  • the flow rate of the heat medium flowing through each simulation server 54 was controlled so that the temperature difference ⁇ T of the heat medium between the heat medium inlet side and the outlet side of the simulation server 54 became 1.9 ° C.
  • the total output of the ceramic heater 56 was set to 460 W (case 1), 360 W (case 2), or 270 W (case 3), and the adsorption heat pump 10 was operated. The conditions at this time are collectively shown in FIG.
  • FIG. 12 shows changes over time in the temperature of the heat medium on the inlet side (IN) and the outlet side (OUT) of the adsorbers 13a and 13b in case 1.
  • FIG. 13 shows changes with time of the temperature of the cooling water on the inlet side (IN) and the outlet side (OUT) of the cooling water coil pipe 11a of the evaporator 11.
  • FIG. 13 shows that a temperature difference always occurs between the inlet side (IN) and the outlet side (OUT) of the cooling water coil pipe 11a of the evaporator 11 during the regeneration process. This means that a cold output is continuously obtained.
  • FIGS. 14 (a) to 14 (c) show changes over time in the surface temperatures of the CPU and the heater in case 1.
  • the heater 1 is a heater arranged on the upstream side in the heat medium flow direction among the three heaters mounted on the simulation server 54 (simulation servers 1 and 2).
  • the heater 2 is a heater arranged in the center, and the heater 3 is a heater arranged on the downstream side.
  • the surface temperature of the heat source (CPU or heater) can be maintained at 61 ° C. or lower in both the server and the simulated servers 1 and 2.
  • FIG. 15 is a diagram showing the change over time in the temperature of the heat medium on the heat medium discharge side of the server and the simulated server. As shown in FIG. 15, the heat medium temperature on the heat medium discharge side of the server and the simulated server changes in the same manner.
  • FIG. 16 is a diagram showing the results of cold heat generation under the conditions of cases 1 to 3 described above. As shown in FIG. 16, even if the output of the heat source changes, a cold output is obtained under all conditions, and even if the output of the server (electronic device) fluctuates, the upper limit value of the junction temperature is not exceeded. A stable cold output was obtained. In all cases 1 to 3, the coefficient of performance (COP) was as good as 0.57 to 0.59.
  • a similar experiment may be performed by changing the CPU load factor, and the optimum condition may be stored in the control unit 30 as a database for each CPU load factor.
  • the adsorption heat pump 10 can be operated more efficiently according to the change in the CPU load factor.

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Abstract

【課題】吸着剤の再生に使用する熱を供給する熱源の温度変化が大きくても吸着式ヒートポンプを効率的に稼動できる吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置を提供する。 【解決手段】電子機器41a~41cに供給される熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部43a~43cと、電子機器41a~41cから排出される熱媒体の温度を個別に検出する温度センサ45a~45cと、制御部30とを設ける。制御部30は、温度センサ45a~45cの出力に基づいて、電子機器41a~41cから排出される熱媒体の温度が同じになるように、流量調整部43a~43cを制御する。

Description

吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置
 本発明は、吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置に関する。
 近年、高度情報化社会の到来にともなって計算機で多量のデータが扱われるようになり、データセンター等の施設において多数の計算機を同一室内に設置して一括管理することが多くなっている。例えば、データセンターでは、計算機室内に多数のラック(サーバラック)を設置し、各ラックにそれぞれ複数の計算機(サーバ)を収納している。そして、それらの計算機の稼動状態に応じて各計算機にジョブを有機的に配分し、大量のジョブを効率的に処理している。
 計算機の稼動にともなって計算機から多量の熱が発生する。計算機内の温度が高くなると誤動作や故障の原因となるため、計算機を冷却することが重要になる。そのため、通常データセンターでは、計算機で発生した熱をファン(送風機)によりラックの外に排出するとともに、空調機(エアコン)を使用して室内の温度を調整している。
 ところで、データセンターの全消費電力のうちの約4割が空調設備で消費されているといわれている。そこで、例えば計算機から排出される熱を吸着式ヒートポンプ(Adsorption Heat Pump:AHP)で回収して再利用することが提案されている。
特開2006-147924号公報 特開2009-224406号公報
 吸着剤の再生に使用する熱を供給する熱源の温度変化が大きくても吸着式ヒートポンプを効率的に稼動できる吸着式ヒートポンプの制御方法、情報処理システム及び制御装置を提供することを目的とする。
 開示の技術の一観点によれば、複数の電子機器から排出される熱媒体を合流させて吸着式ヒートポンプに供給する吸着式ヒートポンプの制御方法であって、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサと、制御部とを設け、前記温度センサの出力に基づいて、前記制御部が前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じになるように前記流量調整部を制御する吸着式ヒートポンプの制御方法が提供される。
 開示の技術の他の一観点によれば、熱媒体を移送する移送ポンプと、前記移送ポンプから移送された前記熱媒体の流路を分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された流路が合流する合流部と、前記分岐部と前記合流部との間にそれぞれ配置されて前記熱媒体が通流する熱媒体流路を備えた複数の電子機器と、前記合流部で合流した熱媒体が供給される吸着式ヒートポンプと、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサと、前記温度センサから信号を入力し、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じとなるように前記流量調整部を制御する制御部とを有する情報処理システムが提供される。
 開示の技術の更に他の一観点によれば、熱媒体を移送する移送ポンプと、前記移送ポンプから移送された前記熱媒体の流路を分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された流路が合流する合流部と、前記分岐部と前記合流部との間にそれぞれ配置されて前記熱媒体が通流する熱媒体流路を備えた複数の電子機器と、前記合流部で合流した熱媒体が供給される吸着式ヒートポンプと、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサとを有する電子機器システムの制御装置であって、前記温度センサから信号を入力し、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じとなるように前記流量調整部を制御する制御装置が提供される。
 上記一観点によれば、吸着剤の再生に使用する熱を供給する熱源の温度変化が大きくても、吸着式ヒートポンプを効率的に稼動させることができる。
図1は、吸着式ヒートポンプの一例を表した模式図である。 図2は、実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法を説明する模式図である。 図3は、電子機器から排出される熱媒体の温度に応じて電子機器を通る冷却水の流量を調整する処理を説明するフローチャートである。 図4は、吸着器に供給される熱媒体(温水)の温度に応じて吸着工程と再生工程とを切替える処理を説明するフローチャートである。 図5は、吸着器の入口側及び出口側における熱媒体の温度の経時変化を表した図である。 図6は、実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法の概要を表した図である。 図7は、電子機器に流入する熱媒体の流量が同じ場合の問題点を説明する図である。 図8は、CPUのジャンクション温度が上限値に到達したときに吸着工程と再生工程とを切替える場合の問題点を説明する図である。 図9は、実験に用いた装置の概要を説明する図である。 図10は、サーバのCPUの負荷率を100%として、CPUのジャンクション温度Tjが上限値(75℃)を超えない条件を調べた結果を表した図である。 図11は、ケース1~3の実験条件をまとめて表した図である。 図12は、ケース1のときの吸着器の入口側及び出口側における熱媒体の温度の経時変化を表した図である。 図13は、蒸発器の冷却水コイル配管の入口側及び出口側における冷却水の温度の経時変化を表した図である。 図14(a)~(c)は、ケース1のときのCPU及びヒータの表面温度の経時変化を表した図である。 図15は、サーバ及び模擬サーバの熱媒体排出側における熱媒体の温度の経時変化を表した図である。 図16は、ケース1~3の各条件における冷熱生成結果を表した図である。
 以下、実施形態について説明する前に、実施形態の理解を容易にするための予備的事項について説明する。
 図1は、吸着式ヒートポンプの一例を表した模式図である。
 図1のように、吸着式ヒートポンプ10は、蒸発器11と、蒸発器11の上方に配置された凝縮器12と、蒸発器11と凝縮器12との間に並列に配置された吸着器13a,13bとを有する。吸着式ヒートポンプ10内の空間は、例えば1/100気圧程度に減圧されている。
 蒸発器11には、冷却水が通る冷却水コイル配管11aと、冷却水コイル配管11aに向けて液状の冷媒(例えば水)をスプレーするスプレーノズル(図示せず)とが設けられている。
 吸着器13a,13b内には、それぞれ伝熱配管14と吸着剤(デシカント)15とが設けられている。また、吸着器13aと蒸発器11との間には開閉弁16aが配置されており、吸着器13bと蒸発器11との間には開閉弁16bが配置されている。なお、吸着剤15には、例えば活性炭、シリカゲル又はゼオライトなどが使用される。
 凝縮器12には、冷却水が通る冷却水コイル配管12aが設けられている。凝縮器12と吸着器13aとの間には開閉弁17aが配置されており、凝縮器12と吸着器13bとの間には開閉弁17bが配置されている。
 以下、上述の吸着式ヒートポンプ10の動作について説明する。
 ここでは、初期状態において、蒸発器11と吸着器13aとの間の開閉弁16a及び吸着器13bと凝縮器12との間の開閉弁17bがいずれも開状態であるとする。また、蒸発器11と吸着器13bとの間の開閉弁16b及び吸着器13aと凝縮器12との間の開閉弁17aがいずれも閉状態であるとする。
 更に、一方の吸着器13aの伝熱配管14には冷却水が供給され、他方の吸着器13bの伝熱配管14には電子機器から排出された熱により温められた温水が供給されるものとする。更にまた、蒸発器11内にスプレーする冷媒として、水を使用するものとする。
 蒸発器11の冷却水コイル配管11aに水(液状の冷媒)をスプレーすると、蒸発器11内が減圧されているため、冷却水コイル配管11aの周囲で水が容易に蒸発して、冷却水コイル配管11aから潜熱を奪う。これにより、冷却水コイル配管11a内を通る水の温度が下がり、冷却水コイル配管11aから低温の冷却水が排出される。この冷却水は、例えば室内の空調や電子機器又は電源等の冷却に使用される。
 蒸発器11で発生した水蒸気(気体状の冷媒)は、開状態の開閉弁16aを通って吸着器13a内に入る。そして、伝熱配管14内を通る冷却水により冷却されて液体に戻り、吸着器13aの吸着剤15に吸着される。
 一方の吸着器13aで冷媒(水蒸気)を吸着剤15で吸着する吸着工程を実施している間、他方の吸着器13bでは吸着剤15を再生(乾燥)する再生工程を実施する。すなわち、吸着器13bでは、吸着剤15に吸着されていた冷媒(水)が伝熱配管14内を通る温水により加熱されて気体(水蒸気)になり、吸着剤15から離脱する。この吸着剤15から離脱した冷媒は、開状態の開閉弁17bを通って凝縮器12内に入る。
 凝縮器12内の冷却水コイル配管12aには冷却水が供給される。この冷却水として、吸着器13aから排出される冷却水を使用してもよい。吸着器13bから凝縮器12内に進入した水蒸気(気体状の冷媒)は、冷却水コイル配管12aの周囲で凝縮して液体となる。この液体は、ポンプ(図示せず)により蒸発器11に移送され、冷却水コイル配管11aに向けてスプレーされる。
 吸着器13a,13bは、一定時間毎に吸着工程と再生工程とを実施する。すなわち、開閉弁16a,16b,17a,17bは一定時間毎に開閉を繰り返し、吸着器13a,13bの各伝熱配管14には一定時間毎に冷却水と温水とが交互に供給される。このようにして、吸着式ヒートポンプ10が連続的に稼動する。
 ところで、計算機等の電子機器を冷却した後の冷却水を温水として吸着器13a,13bに供給する場合、電子機器の稼動状態に応じて温水の温度が大きく変動する。このため、上述したように単に一定時間毎に吸着工程と再生工程とを切替える方式では、吸着剤15が十分再生できないうちに吸着工程に移行したり、逆に吸着剤15の再生が完了しているのに吸着工程に移行できないことがある。その結果、吸着式ヒートポンプ10の稼働効率が低下する。
 以下の実施形態では、温水(熱媒体)を供給する熱源の温度変化が大きくても効率的に稼動できる吸着式ヒートポンプの制御方法について説明する。
 (実施形態)
 図2は、実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法を説明する模式図である。なお、本実施形態においても、図1を参照して説明する。
 吸着式ヒートポンプ10は、図1のように、蒸発器11と、凝縮器12と、吸着器13a,13bとを有する。蒸発器11には冷却水コイル配管11aが配置されており、凝縮器12には冷却水コイル配管12aが配置されている。また、吸着器13a,13bには、それぞれ伝熱配管14と吸着剤15とが配置されている。
 図2のように、吸着式ヒートポンプ10の蒸発器11の冷却水コイル配管11aは、蒸発器冷却水流路21に接続されている。この蒸発器冷却水流路21には、冷却水が貯留される冷却水貯留タンク31と、冷却水貯留タンク31と蒸発器11との間で冷却水を循環させるポンプ32とが設けられている。冷却水貯留タンク31に貯留された冷却水は、例えば室内の空調や電子機器又は電源等の冷却に使用される。
 凝縮器12の冷却水コイル配管12aは、凝縮器冷却水流路22に接続されている。この凝縮器冷却水流路22には、冷却水の温度を所定温度に維持しつつ凝縮器12との間で冷却水を循環させるチラーユニット33が設けられている。
 吸着器冷却水流路34は、吸着器13a,13bに冷却水を供給する流路である。この吸着器冷却水流路34には、冷却水の温度を一定に維持しつつ冷却水を移送するチラーユニット35が設けられている。
 また、吸着器冷却水流路34には切替バルブ36a,36bが設けられている。これらの切替バルブ36a,36bは、制御部30からの信号に応じて稼動し、冷却水が吸着器13a,13bのいずれか一方を通りチラーユニット35に戻るように流路を切替える。
 電子機器冷却水流路37は、電子機器41a,41b,41cを冷却し、それにより温度が上昇した冷却水(温水)を吸着器13a,13bに供給する流路である。この電子機器冷却水流路37には、ポンプ38と、切替バルブ39a,39bとが設けられている。
 以下、説明の便宜上、電子機器冷却水流路37を通る冷却水を、熱媒体ともいう。なお、熱媒体として、水以外の液体を使用してもよい。
 ポンプ38から吐出された熱媒体は、分岐部40aで分岐されて複数(図2では3台)の電子機器41a,41b,41c内を通り、各電子機器41a,41b,41cを冷却する。そして、電子機器41a,41b,41cを冷却することにより温度が上昇した熱媒体(温水)は、電子機器41a,41b,41cから排出されて合流部40bで合流する。
 本実施形態では、電子機器41a,41b,41cがいずれも計算機(情報処理装置)であるとする。また、本実施形態では、電子機器41a,41b,41cにそれぞれ1又は複数のCPU(Central Processing Unit)が搭載され、それらのCPUにはいずれもコールドプレートが装着されていて、コールドプレート内を熱媒体が通るものとする。CPUは半導体部品の一例であり、他の半導体部品又はその他の電子部品を熱媒体で冷却するようにしてもよい。
 切替バルブ39a,39bは、制御部30からの信号に応じて稼動し、合流部40bで合流した熱媒体が吸着器13a,13bのいずれか一方を通りポンプ38に戻るように流路を切替える。
 吸着器冷却水流路34の切替バルブ36a,36bと電子機器冷却水流路37の切替バルブ39a,39bとは排他的に駆動される。すなわち、吸着器13aが吸着器冷却水流路34に接続されているときには吸着器13bが電子機器冷却水流路37に接続され、吸着器13bが電子機器冷却水流路37に接続されているときには吸着器13bが吸着器冷却水流路34に接続される。
 なお、制御部30は、切替バルブ36a,36b,39a,39bの切替えと同時に、吸着式ヒートポンプ10内の開閉弁16a,16b,17a,17bの切替えも行う。
 また、本実施形態では、凝縮器12を通る冷却水をチラーユニット33により冷却しているが、吸着工程を実施中の吸着器(吸着器13a又は13b)から排出された冷却水が凝縮器12を通りチラーユニット35に戻るようにしてもよい。
 電子機器41a,41b,41cの熱媒体入口側には、それぞれ温度センサ42a,42b,42cと、流量調整弁(比例制御弁)43a,43b,43cと、流量計44a,44b,44cとが設けられている。なお、流量調整弁43a,43b,43cに替えて、流量調整可能なポンプを配置してもよい。
 温度センサ42a,42b,42cによる熱媒体の温度測定値、及び流量計44a,44b,44cによる熱媒体の流量測定値は制御部30に伝達される。また、流量調整弁43a,43b,43cは制御部30からの信号により開度が変化する。各電子機器41a,41b,41cには、流量調整弁43a,43b,43cの開度に応じた流量の熱媒体が通流する。
 電子機器41a,41b,41cの熱媒体出口側には、それぞれ温度センサ45a,45b,45cが配置されている。これらの温度センサ45a,45b,45cによる温度測定値も、制御部30に伝達される。
 また、各電子機器41a,41b,41c内のCPUには、ジャンクション温度を検出する温度センサ46a,46b,46cが内蔵されており、それらの温度センサ46a,46b,46cによるジャンクション温度の測定値も制御部30に伝達される。なお、CPUに内蔵された温度センサ46a,46b,46cに替えて、CPUの表面に温度センサを装着してもよい。
 更に、本実施形態では、吸着器13a,13bの伝熱配管14の入口部に、伝熱配管14に供給される熱媒体の温度を検出する温度センサ47a,47bが設けられている。これらの温度センサ47a,47bによる温度測定値も、制御部30に伝達される。
 以下、本実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法について説明する。
 制御部30は、各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体(温水)の温度や吸着器13a,13bに供給される熱媒体の温度に応じて、図3,図4に例示する処理を同時に実行する。
 図3は、各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度に応じて各電子機器41a,41b,41cを通る冷却水の流量を調整する処理を説明するフローチャートである。
 初期状態において、吸着器13aが切替バルブ39a,39bを介して電子機器冷却水流路37に接続され、吸着器13bが切替バルブ36a,36bを介して吸着器冷却水流路34に接続されているものとする。
 まず、ステップS11において、制御部30は、電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度、すなわち温度センサ45a,45b,45cによる温度測定値を取得する。
 その後、ステップS12に移行し、制御部30は、各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度が同じか否かを判定する。各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度が同じ場合は、ステップS11に戻って処理を続行する。
 一方、ステップS12において制御部30が各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度が同じでないと判定した場合は、ステップS13に移行する。ステップS13において、制御部30は、各電子機器41a,41b,41cから排出される熱媒体の温度が同じとなるように、流量調整弁43a,43b,43cの開度を調整する。
 本実施形態では、流量調整弁43a,43b,43cの開度を調整する際に、制御部30は、排出される熱媒体の温度が最も高い電子機器における熱媒体流量を基準にして流量調整弁43a,43b,43cの開度を決定する。
 例えば、流量調整弁43a,43b,43cの開度を同じにしたときに、電子機器41aから排出される熱媒体の温度が他の電子機器41b,41cから排出される熱媒体の温度よりも高いとする。この場合、制御部30は、他の電子機器41b,41cから排出される熱媒体の温度が電子機器41aから排出される熱媒体の温度と同じになるように、流量調整弁43b,43cの開度を調整する。
 このようにして各流量調整弁43a,43b,43cの開度を調整した後、ステップS11に戻り、制御部30は上述の処理を繰り返す。
 図4は、吸着器13a,13bに供給される熱媒体(温水)の温度に応じて吸着工程と再生工程とを切替える処理を説明するフローチャートである。
 まず、ステップS21において、制御部30は、再生工程を実施している吸着器13aに供給される熱媒体の温度を温度センサ47aから取得する。
 次に、制御部30は、ステップS22において、各CPUのジャンクション温度、すなわち温度センサ46a,46b,46cによる温度測定値を取得する。
 次に、ステップS23に移行し、制御部30は、吸着器13aに供給される熱媒体の温度が予め設定された目標温度に到達する時間(以下、「目標到達時間」という)を予測する。なお、目標温度は吸着剤15を再生するのに必要な温度であり、吸着剤15の種類に応じて設定される。
 本実施形態では、目標到達時間の予測にデータベースが使用される。このデータベースは、後述の実験例で説明するように、CPUの負荷率、CPUのジャンクション温度(又は表面温度)、熱媒体の流量及び熱媒体の温度と、目標到達時間との関係を含んで作製されている。例えば、制御部30は、各電子機器41a,41b,41cに搭載されたCPUの負荷率のうち最も負荷率が高いCPUを抽出する。そして、データベースを参照し、そのCPUの負荷率から目標到達時間を予測する。
 次に、ステップS24に移行し、制御部30は、吸着器13aに供給される熱媒体の温度が目標到達時間に目標温度となるように、且つ全CPUのジャンクション温度が前述の上限値を超えないように、ポンプ38の吐出量(熱媒体の全流量)を調整する。ポンプ38の吐出量の調整には、前述のデータベースが参照される。
 次に、ステップS25に移行し、制御部30は吸着器13aに供給される熱媒体の温度が目標温度に到達したか否かを判定する。そして、判定が否の場合はステップS21に戻って処理を続行する。
 一方、ステップS25において目標温度に到達したと判定した場合は、ステップS26に移行する。そして、ステップS26において、制御部30は、吸着工程と再生工程とを切替えるべく、開閉弁16a,16b,17a,17bと切替バルブ36a,36b,39a,39bとを駆動する。その後、ステップS21に戻って、上述の処理を繰り返す。
 なお、データベースを使用することにより、熱媒体の流量及び温度からCPUのジャンクション温度や表面温度を推測できるため、CPUのジャンクション温度や表面温度を直接計測することなく、各流路の熱媒体の流量及び温度を計測することで、吸着工程と再生工程とを切替えることも可能である。
 図5は、横軸に時間をとり、縦軸に温度をとって、吸着器13a,13bの入口側(IN)及び出口側(OUT)における熱媒体の温度の経時変化を表した図である。
 吸着工程から再生工程に切り替わった瞬間には、吸着器(吸着器13a又は13b)の伝熱配管14内にチラーユニット35から供給された低温の冷却水が残っているため、電子機器41a~41dには比較的低温の熱媒体(冷却水)が供給される。
 この熱媒体は、電子機器41a~41dと吸着式ヒートポンプ10(吸着器13a又は吸着器13b)との間を循環するうちに電子機器41a~41d内のCPU(熱源)により温められて徐々に温度が上昇する。そして、熱媒体の温度が目標温度(この例では55℃)になると、再生工程と吸着工程とが切り替わる。
 図6は、本実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法の概要を表した図である。なお、ここでは説明の便宜上、電子機器冷却流路37内に4台の電子機器41a~41dが配置され、それらの電子機器41a~41dの熱媒体入口側にはそれぞれ流量調整弁43a~43dが配置されているものとする。
 本実施形態では、CPUのジャンクション温度Tjが上限値(この例では75℃)以下であり、且つ電子機器41a~41dの熱媒体出口側における熱媒体(温水)の温度が同じになるように、各流量調整弁43a~41dの開度とポンプ38の流量とを調整する。
 ここでは、図6のように、電子機器41aの電力消費量が150W、電子機器41bの電力消費量が100W、電子機器41cの電力消費量が50W、電子機器41dの電力消費量が0Wであるとする。各電子機器41a~41dの電力消費量はCPU負荷率に関係し、CPU負荷率が高いほど電力消費量が多くなる。各電子機器41a~41dは、電力消費量に比例した熱を発生する。
 また、電子機器41aに流れる熱媒体の流量が1.0L(リットル)/min、電子機器41bに流れる熱媒体の流量が0.6L/min、電子機器41cに流れる熱媒体の流量が0.3L/min、電子機器41dに流れる熱媒体の流量が0L/minであるとする。
 なお、本実施形態では、図6に例示するように、稼動していない電子機器(この例では電子機器41d)がある場合は、その電子機器の入口側と出口側とで冷却水の温度が同じになるため、流量調整弁の開度は徐々に減少して最終的に閉状態となる。
 この図6に例示するように、本実施形態では、電力消費量が少ない電子機器ほど冷却水の流量を少なくして稼動中の各電子機器から排出される熱媒体の温度を同一とするので、吸着式ヒートポンプ10に供給される熱媒体の温度の低下を抑制できる。また、本実施形態では、各CPUのジャンクション温度が上限値を超えないようにポンプ38の吐出量を調整するので、CPUの誤動作や故障を回避することができる。
 図7は、電子機器41a~41dに流入する熱媒体の流量が同じ場合の問題点を説明する図である。ここでは、図6の場合と同様に、吸着式ヒートポンプ10に供給される熱媒体の温度が55℃に到達したときに、吸着工程と再生工程とを切替えるものとする。
 この図7に例示するように、各電子機器41a~41dに流入する熱媒体の流量が同じ場合、各電子機器41a~41dから排出される熱媒体の温度は電子機器41a~41dの稼動状態に依存する。この場合、吸着式ヒートポンプ10に供給される熱媒体の温度が55℃になるまで吸着工程と再生工程との切替えを行わないとすると、CPU負荷率が高い電子機器(図7の例では電子機器41a)ではCPUのジャンクション温度が上限値(75℃)を超えてしまうことがある。
 図8は、CPUのジャンクション温度が上限値に到達したときに吸着工程と再生工程とを切替える場合の問題点を説明する図である。
 この図8の例では、各電子機器41a~41dに流入する熱媒体の流量が同じ(1.0L/minであり、複数のCPUのうちの少なくとも1つがジャンクション温度の上限値(75℃)に到達したときに、吸着工程と再生工程を切替えている。この場合、吸着式ヒートポンプ10に供給する熱媒体の温度が十分上昇しないうちに吸着工程と再生工程とが切り替わることがある。
 例えば図8の例では電子機器41aのCPUのジャンクション温度Tjが75℃に到達したときの吸着式ヒートポンプ10に供給される熱媒体の温度は53.9℃である。この温度では、吸着器13a,13b内の吸着剤を十分に再生(乾燥)できないことがある。
 (実験例)
 以下、実施形態に係る吸着式ヒートポンプの制御方法の効果を実験により確認した結果について説明する。
 図9は、実験に用いた装置の概要を説明する図である。この図9において、図2と同一物には同一符号を付している。蒸発器冷却水流路21には、図2に例示した冷却水貯留タンク及びポンプ32に替えて、チラーユニット51を配置している。チラーユニット51の設定温度TLは18℃、チラーユニット33,35の設定温度TMは25℃とした。
 また、実験では、電子機器として、1台のサーバ53(富士通株式会社製RX300 S6)と、2台の模擬サーバ54とを使用した。サーバ53はコールドプレートを装着した2基のCPU55を搭載しており、熱媒体はそれらのコールドプレートを順番に通ってサーバ53の外に排出される。CPU55に装着したコールドプレートの熱媒体入口側及び出口側には、それぞれ熱媒体の温度を測定する温度センサ61を配置した。また、CPU55とコールドプレートとの間には、CPU55の表面温度を測定する温度センサ62を配置した。
 一方、模擬サーバ54には、CPUの替わりに3基のセラミックヒータ56(坂口電熱株式会社製MS-1000)を配置し、それらのヒータ56にもコールドプレートを装着した。熱媒体は、それらのコールドプレートを順番に通って模擬サーバ54の外に排出される。
 また、模擬サーバ54にも、各ヒータ56に装着したコールドプレートの熱媒体入口側及び出口側における熱媒体温度を測定する温度センサ61と、ヒータ56の温度を測定する温度センサ63とを配置した。
 実験に使用した吸着式ヒートポンプ10のサイズは450mm×200mm×500mmであり、その内部は1/100気圧程度に減圧されている。
 吸着式ヒートポンプ10の蒸発器11、凝縮器12及び吸着器13a,13b内には、サイズが120mm×240mm×30mmの熱交換器を配置した。それらの熱交換器内の配管(冷却水配管又は伝熱配管)にはフィンが1mmのピッチで設けられている。吸着器13a,13bの熱交換器には、吸着剤として粒径が400μmの活性炭(株式会社クレハ製)が充填されている。また、吸着式ヒートポンプ10内には、冷媒として400gの水が充填されている。
 このような装置を使用し、サーバ53のCPU55の負荷率を100%として、CPU55のジャンクション温度Tjが上限値(75℃)を超えない条件を調べた。その結果を図10に示す。なお、図10において、CPU1は熱媒体通流方向の上流側に配置されたCPUであり、CPU2は熱媒体通流方向の下流側に配置されたCPUである。
 図10からわかるように、熱媒体の流量が0.7L/minではCPU2のジャンクション温度Tjが上限値を超えてしまい、熱媒体の流量が1.3L/min以上ではCPU1,2のジャンクション温度Tjが上限値まで到達しない。
 熱媒体の流量を1.0L/minとすると、CPU2のジャンクション温度Tjが上限値に到達したときに、サーバ53から排出される熱媒体(温水)の温度が目標温度(55℃)となった。このときのサーバ53の熱媒体入口側と出口側とにおける熱媒体の温度差ΔTは1.9℃、CPU2の表面温度は61℃であった。また、通流開始からCPU2のジャンクション温度が上限値に到達するまでの時間は、約1300秒であった。
 この結果を基に、模擬サーバ54の熱媒体入口側と出口側とにおける熱媒体の温度差ΔTが1.9℃になるように、各模擬サーバ54に流れる熱媒体の流量を制御した。そして、セラミックヒータ56の総出力を460W(ケース1)、360W(ケース2)又は270W(ケース3)にして、吸着式ヒートポンプ10を稼働した。このときの条件を、図11にまとめて示す。
 その結果、ケース1~3の全てにおいて同様の温度履歴が得られた。図12に、ケース1のときの吸着器13a,13bの入口側(IN)及び出口側(OUT)における熱媒体の温度の経時変化を示す。また、図13に、蒸発器11の冷却水コイル配管11aの入口側(IN)及び出口側(OUT)における冷却水の温度の経時変化を示す。
 図12からわかるように、吸着工程から再生工程に移行する場合、再生工程に移行した直後の吸着器内にはチラーユニット35から供給された冷却水が残っている。このため、吸着工程から再生工程に移行した直後には吸着器を通る熱媒体の温度は一旦下がるが、その後CPUの発熱により温度が徐々に上昇する。そして、吸着器に流入する熱媒体の温度が目標温度(55℃)に到達すると、再生工程を実施していた吸着器は吸着工程に移行し、吸着工程を実施していた吸着器が再生工程に移行する。
 図13から、再生工程を実施している間、蒸発器11の冷却水コイル配管11aの入口側(IN)及び出口側(OUT)で温度差が常に生じていることがわかる。これは、連続的に冷熱出力が得られていることを意味している。
 図14(a)~(c)に、ケース1のときのCPU及びヒータの表面温度の経時変化を示す。図14(b),(c)において、ヒータ1は模擬サーバ54(模擬サーバ1,2)に搭載された3基のヒータのうち熱媒体通流方向の上流側に配置されたヒータであり、ヒータ2は中央に配置されたヒータ、ヒータ3は下流側に配置されたヒータである。
 これらの図14(a)~(c)から、サーバ及び模擬サーバ1,2のいずれにおいても、熱源(CPU又はヒータ)の表面温度が61℃又はそれ以下に維持できていることがわかる。
 図15は、サーバ及び模擬サーバの熱媒体排出側における熱媒体の温度の経時変化を表した図である。この図15に示すように、サーバ及び模擬サーバの熱媒体排出側の熱媒体温度は、同じように変化している。
 図16は、上述のケース1~3の各条件における冷熱生成結果を表した図である。この図16に示すように、熱源の出力が変わっても、すべての条件で冷熱出力が得られており、サーバ(電子機器)の出力が変動した場合でも、ジャンクション温度の上限値を超えることなく安定して冷熱出力を得ることができた。また、ケース1~3のいずれにおいても、成績係数(COP)は0.57~0.59と良好であった。
 上述の実験結果から、図10の流量が1.0L/minの条件、すなわちΔT=1.9℃となる条件で運転すれば、電子機器から排出される温水の温度が目標温度になる時間と、CPUジャンクション温度Tjが上限値になる時間とが同じになることがわかる。このときの条件を前述したデータベースとして制御部30に記憶し、電子機器の熱媒体入口側と出口側との温度差がΔ1.9℃となるように流量調整弁43a,43b,43cの開度やポンプ38の流量を調整する。これにより、吸着式ヒートポンプ10を効率的に運転することができる。
 また、例えばCPU負荷率を変えて同様の実験を行い、CPU負荷率毎に最適条件をデータベース化して制御部30に記憶してもよい。この場合、更にCPU負荷率のデータが制御部30に入力されるようにしておけば、CPU負荷率の変化に応じて吸着式ヒートポンプ10をより一層効率的に運転することができる。
                                                                                

Claims (17)

  1.  複数の電子機器から排出される熱媒体を合流させて吸着式ヒートポンプに供給する吸着式ヒートポンプの制御方法であって、
     前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサと、制御部とを設け、
     前記温度センサの出力に基づいて、前記制御部が前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じになるように前記流量調整部を制御することを特徴とする吸着式ヒートポンプの制御方法。
  2.  前記吸着式ヒートポンプは、液体の冷媒を気体に替える蒸発器と、前記気体の冷媒を吸着する吸着剤が配置された第1の吸着器及び第2の吸着器とを有し、
     前記制御部は、前記吸着式ヒートポンプに供給される前記熱媒体の温度が予め設定された目標温度になるたびに切替バルブを制御して、前記熱媒体を前記第1の吸着器及び前記第2の吸着器に交互に通流させることを特徴とする請求項1に記載の吸着式ヒートポンプの制御方法。
  3.  前記制御部は、前記電子機器に搭載された半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が予め設定された上限値を超えないように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項2に記載の吸着式ヒートポンプの制御方法。
  4.  前記制御部は、前記半導体部品の負荷率に応じて前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項3に記載の吸着式ヒートポンプの制御方法。
  5.  前記制御部は、前記ヒートポンプに供給される前記熱媒体の温度が前記目標温度に到達するときに前記半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が前記上限値に到達するように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項3に記載の吸着式ヒートポンプの制御方法。
  6.  熱媒体を移送する移送ポンプと、
     前記移送ポンプから移送された前記熱媒体の流路を分岐する分岐部と、
     前記分岐部で分岐された流路が合流する合流部と、
     前記分岐部と前記合流部との間にそれぞれ配置されて前記熱媒体が通流する熱媒体流路を備えた複数の電子機器と、
     前記合流部で合流した熱媒体が供給される吸着式ヒートポンプと、
     前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、
     前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサと、
     前記温度センサから信号を入力し、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じとなるように前記流量調整部を制御する制御部と
     を有することを特徴とする情報処理システム。
  7.  前記吸着式ヒートポンプは、
     液体の冷媒を気体に替える蒸発器と、
     前記気体の冷媒を吸着する吸着剤が配置された第1の吸着器及び第2の吸着器とを有し、
     前記制御部は、前記合流部で合流した前記熱媒体が予め設定された目標温度になるたびに切替バルブを制御して前記熱媒体を前記第1の吸着器及び前記第2の吸着器に交互に通流させることを特徴とする請求項6に記載の情報処理システム。
  8.  前記制御部は、前記電子機器に搭載された半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が予め設定された上限値を超えないように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項7に記載の情報処理システム。
  9.  前記制御部は、前記半導体部品の負荷率に応じて前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項8に記載の情報処理システム。
  10.  前記制御部は、前記合流部で合流した前記熱媒体が予め設定された目標温度に到達するときに前記半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が前記上限値に到達するように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項8に記載の情報処理システム。
  11.  前記制御部は、前記半導体部品の負荷率のデータと、前記電子機器を通流する前記熱媒体の流量のデータと、前記電子機器の熱媒体入口側及び出口側における熱媒体の温度差のデータとを含むデータベースを記憶していることを特徴とする請求項8に記載の情報処理システム。
  12.  熱媒体を移送する移送ポンプと、
     前記移送ポンプから移送された前記熱媒体の流路を分岐する分岐部と、
     前記分岐部で分岐された流路が合流する合流部と、
     前記分岐部と前記合流部との間にそれぞれ配置されて前記熱媒体が通流する熱媒体流路を備えた複数の電子機器と、
     前記合流部で合流した熱媒体が供給される吸着式ヒートポンプと、
     前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の流量を個別に調整可能な流量調整部と、
     前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度を個別に検出する温度センサとを有する情報処理システムの制御装置であって、
     前記温度センサから信号を入力し、前記複数の電子機器から排出される前記熱媒体の温度が同じとなるように前記流量調整部を制御することを特徴とする制御装置。
  13.  前記合流部で合流した前記熱媒体が予め設定された目標温度になるたびに切替バルブを制御して前記熱媒体を前記吸着式ヒートポンプ内の第1の吸着器及び第2の吸着器に交互に通流させることを特徴とする請求項12に記載の制御装置。
  14.  前記電子機器に搭載された半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が予め設定された上限値を超えないように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項13に記載の制御装置。
  15.  前記半導体部品の負荷率に応じて前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項14に記載の制御装置。
  16.  前記合流部で合流した前記熱媒体が予め設定された目標温度に到達するときに前記半導体部品のジャンクション温度又は表面温度が前記上限値に到達するように、前記複数の電子機器に供給される前記熱媒体の総流量を制御することを特徴とする請求項14に記載の制御装置。
  17.  前記半導体部品の負荷率のデータと、前記電子機器を通流する前記熱媒体の流量のデータと、前記電子機器の熱媒体入口側及び出口側における熱媒体の温度差のデータとを含むデータベースを記憶していることを特徴とする請求項14に記載の制御装置。
                                                                                    
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