WO2012157904A1 - 신규한 화합물 반도체 및 그 활용 - Google Patents

신규한 화합물 반도체 및 그 활용 Download PDF

Info

Publication number
WO2012157904A1
WO2012157904A1 PCT/KR2012/003726 KR2012003726W WO2012157904A1 WO 2012157904 A1 WO2012157904 A1 WO 2012157904A1 KR 2012003726 W KR2012003726 W KR 2012003726W WO 2012157904 A1 WO2012157904 A1 WO 2012157904A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
compound semiconductor
present
heat treatment
thermoelectric conversion
formula
Prior art date
Application number
PCT/KR2012/003726
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
박철희
김태훈
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Priority to EP12785158.2A priority Critical patent/EP2708497B1/en
Priority to JP2013550436A priority patent/JP5774131B2/ja
Priority to CN201280014424.2A priority patent/CN103459310B/zh
Priority to US13/616,926 priority patent/US8747704B2/en
Publication of WO2012157904A1 publication Critical patent/WO2012157904A1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F11/00Compounds containing elements of Groups 6 or 16 of the Periodic Table
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B19/00Selenium; Tellurium; Compounds thereof
    • C01B19/002Compounds containing, besides selenium or tellurium, more than one other element, with -O- and -OH not being considered as anions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G51/00Compounds of cobalt
    • C01G51/006Compounds containing, besides cobalt, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G53/00Compounds of nickel
    • C01G53/006Compounds containing, besides nickel, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G55/00Compounds of ruthenium, rhodium, palladium, osmium, iridium, or platinum
    • C01G55/002Compounds containing, besides ruthenium, rhodium, palladium, osmium, iridium, or platinum, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F15/00Compounds containing elements of Groups 8, 9, 10 or 18 of the Periodic Table
    • C07F15/06Cobalt compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F5/00Compounds containing elements of Groups 3 or 13 of the Periodic Table
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07FACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
    • C07F9/00Compounds containing elements of Groups 5 or 15 of the Periodic Table
    • C07F9/90Antimony compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02565Oxide semiconducting materials not being Group 12/16 materials, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02568Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02614Transformation of metal, e.g. oxidation, nitridation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/853Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising arsenic, antimony or bismuth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/50Solid solutions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/32Thermal properties
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/40Electric properties

Definitions

  • the present invention relates to a novel compound semiconductor material that can be used for solar cells, thermoelectric materials and the like, a method for producing the same, and a use thereof.
  • Compound A semiconductor is a compound which acts as a semiconductor by combining two or more elements rather than a single element such as silicon or germanium.
  • Various kinds of such compound semiconductors are currently developed and used in various fields.
  • a compound semiconductor may be used in a thermoelectric conversion element using a Peltier effect, a light emitting element such as a light emitting diode or a laser diode using the photoelectric conversion effect, and a solar cell.
  • thermoelectric conversion element may be applied to thermoelectric conversion power generation, thermoelectric conversion cooling, etc.
  • thermoelectric conversion power generation uses a thermoelectric power generated by providing a temperature difference to the thermoelectric conversion element, and converts thermal energy into electrical energy. to be.
  • thermoelectric conversion element The energy conversion efficiency of such a thermoelectric conversion element depends on ZT, which is a figure of merit value of the thermoelectric conversion material.
  • ZT is determined according to Seebeck coefficient, electrical conductivity and thermal conductivity, and more specifically, is proportional to the square of the Seebeck coefficient and electrical conductivity and inversely proportional to the thermal conductivity. Therefore, in order to increase the energy conversion efficiency of the thermoelectric conversion element, it is necessary to develop a thermoelectric conversion material having a high Seebeck coefficient or high electrical conductivity or low thermal conductivity.
  • the solar cell is a tandem solar cell in which two or more layers of a silicon solar cell mainly using a single element of silicon, a compound semiconductor solar cell using a compound semiconductor, and a solar cell having different bandgap energy are stacked. And the like.
  • compound semiconductor solar cells use compound semiconductors in the light absorption layer that absorbs sunlight to generate electron-hole pairs.
  • group III-V compound semiconductors such as GaAs, InP, GaAlAs, GaInAs, CdS, CdTe, Group II-VI compound semiconductors, such as ZnS, the group I-III-VI compound semiconductor represented by CuInSe 2 , etc. can be used.
  • the light absorbing layer of the solar cell is required to be excellent in long-term electrical and optical stability, high in photoelectric conversion efficiency, and to easily control band gap energy or conductivity by changing composition or doping.
  • requirements such as manufacturing cost and yield must also be satisfied.
  • many conventional compound semiconductors do not meet all of these requirements together.
  • thermoelectric conversion materials such as thermoelectric conversion materials, solar cells, etc. of thermoelectric conversion elements
  • thermoelectrics using the same It aims at providing a conversion element, a solar cell, etc.
  • the present inventors have succeeded in synthesizing the compound semiconductor represented by the following formula (1) after repeated studies on the compound semiconductor, and the compound is a thermoelectric conversion material of a thermoelectric conversion element, a light absorbing layer of a solar cell, It was confirmed that it can be used to complete the present invention.
  • Q is at least one selected from the group consisting of O, S, Se, and Te, and 0 ⁇ x ⁇ 0.5, 0 ⁇ a ⁇ 1, and 0 ⁇ z ⁇ 4.
  • Q in Formula 1 is Te.
  • x is 0 ⁇ x ⁇ 0.4.
  • x is 0 ⁇ x ⁇ 0.25.
  • 0 is 0 ⁇ a ⁇ 0.5.
  • z is 0 ⁇ z ⁇ 4.
  • z is 0 ⁇ z ⁇ 2.5.
  • z in Formula 1 is 0 ⁇ z ⁇ 1.5.
  • the compound semiconductor manufacturing method according to the present invention for achieving the above object comprises the steps of mixing In, Co and Sb; And a method for producing a compound semiconductor represented by the formula (1) comprising the step of heat-treating the mixture formed in the mixing step.
  • the mixture formed in the mixing step further includes any one selected from the group consisting of O, S, Se, and Te or two or more elements thereof or oxides thereof.
  • the heat treatment temperature is 400 °C to 800 °C.
  • the heat treatment step may include two or more heat treatment steps.
  • thermoelectric conversion element according to the present invention for achieving the above object includes the compound semiconductor described above.
  • the solar cell according to the present invention for achieving the above object includes the compound semiconductor described above.
  • a novel compound semiconductor material is provided.
  • such a novel compound semiconductor can be used as another material in place of or in addition to the conventional compound semiconductor.
  • thermoelectric conversion performance of the compound semiconductor is good, it can be usefully used in the thermoelectric conversion element.
  • the compound semiconductor according to the present invention can be used as a thermoelectric conversion material of the thermoelectric conversion element.
  • a compound semiconductor may be used in a solar cell.
  • the compound semiconductor according to the present invention can be used as a light absorption layer of a solar cell.
  • the compound semiconductor may be used in an IR window, an infrared sensor, a magnetic element, a memory, etc. for selectively passing infrared rays.
  • the present invention provides a novel compound semiconductor represented by the following formula (1).
  • Q is at least one selected from the group consisting of O, S, Se, and Te, and 0 ⁇ x ⁇ 0.5, 0 ⁇ a ⁇ 1, and 0 ⁇ z ⁇ 4.
  • Q is Te.
  • x may be 0 ⁇ x ⁇ 0.4.
  • x is 0 ⁇ x ⁇ 0.25.
  • a may be 0 ⁇ a ⁇ 0.5.
  • z in Formula 1 is 0 ⁇ z ⁇ 4.
  • z may be 0 ⁇ z ⁇ 2.5.
  • z in Formula 1 may be 0 ⁇ z ⁇ 1.5.
  • the compound semiconductor represented by Formula 1 may include a part of the secondary phase, the amount may vary depending on the heat treatment conditions.
  • the compound semiconductor according to the present invention can be prepared, including forming a mixture comprising In, Co, and Sb and heat-treating the mixture.
  • the mixture may include any one selected from the group consisting of O, S, Se, and Te or two or more elements thereof or oxides thereof.
  • each raw material mixed in the mixture forming step may be in powder form, but the present invention is not necessarily limited to the specific type of such mixed raw material.
  • the heat treatment step may be performed while flowing a gas such as Ar, He, N 2 , which contains a part of hydrogen or does not include hydrogen, in a vacuum.
  • the heat treatment temperature may be 400 °C to 800 °C.
  • the heat treatment temperature may be 450 °C to 700 °C. More preferably, the heat treatment temperature may be 500 °C to 650 °C.
  • the heat treatment step may include two or more heat treatment steps.
  • the mixture formed in the step of forming the mixture that is, mixing the raw materials, may be subjected to a first heat treatment at a first temperature, and then to a second heat treatment at a second temperature.
  • some heat treatment steps of the plurality of heat treatment steps may be performed in the mixture forming step of mixing the raw materials.
  • the heat treatment step may include three heat treatment steps of a first heat treatment step, a second heat treatment step, and a third heat treatment (sintering) step.
  • the first heat treatment step may be performed at a temperature range of 400 ° C. to 600 ° C.
  • the second heat treatment step and the third heat treatment step may be performed at a temperature range of 600 ° C. to 800 ° C.
  • FIG. the first heat treatment step may be performed during the mixture formation step of mixing the raw materials, and the second heat treatment step and the third heat treatment step may be sequentially performed thereafter.
  • thermoelectric conversion element according to the present invention may include the compound semiconductor described above. That is, the compound semiconductor according to the present invention can be used as a thermoelectric conversion material of the thermoelectric conversion element.
  • the compound semiconductor according to the present invention has a large ZT which is a figure of merit of a thermoelectric conversion material.
  • the Seebeck coefficient and electrical conductivity are high, and the thermal conductivity is low, so the thermoelectric conversion performance is excellent. Therefore, the compound semiconductor according to the present invention can be usefully used in a thermoelectric conversion element in place of or in addition to a conventional thermoelectric conversion material.
  • the solar cell according to the present invention may include the compound semiconductor described above. That is, the compound semiconductor according to the present invention can be used as a light absorbing layer of solar cells, in particular solar cells.
  • the solar cell can be manufactured in a structure in which a front transparent electrode, a buffer layer, a light absorbing layer, a back electrode, a substrate, and the like are sequentially stacked from the side where sunlight is incident.
  • the bottommost substrate may be made of glass, and the back electrode formed on the entire surface may be formed by depositing a metal such as Mo.
  • the light absorbing layer may be formed by stacking the compound semiconductor according to the present invention on the back electrode by an electron beam deposition method, a sol-gel method, or a pulsed laser deposition (PLD) method.
  • PLD pulsed laser deposition
  • the buffer layer may be formed of a material such as CdS (Chemical Bath Deposition). It can be formed by depositing in the manner of.
  • a front transparent electrode may be formed on the buffer layer by a layered film of ZnO or ZnO and ITO by sputtering or the like.
  • the solar cell according to the present invention may be variously modified.
  • stacked the solar cell using the compound semiconductor which concerns on this invention as a light absorption layer can be manufactured.
  • stacked in this way can use the solar cell using silicon or another known compound semiconductor.
  • the band gap of the compound semiconductor of the present invention by changing the band gap of the compound semiconductor of the present invention, a plurality of solar cells using compound semiconductors having different band gaps as light absorbing layers can be laminated.
  • the band gap of the compound semiconductor according to the present invention can be controlled by changing the composition ratio of the constituent elements constituting the compound, in particular Te.
  • the compound semiconductor according to the present invention may be applied to an infrared window (IR window) or an infrared sensor for selectively passing infrared rays.
  • IR window infrared window
  • infrared sensor for selectively passing infrared rays.
  • Co, Sb and Te were prepared as reagents, and these were mixed well using mortar to prepare a mixture of In 0.25 Co 3.88 Sb 11 Te in the form of pellets.
  • the mixed materials were put in a silica tube and vacuum sealed and heated at 650 ° C. for 36 hours, but the temperature rise time was 1 hour 30 minutes to obtain In 0.25 Co 3.88 Sb 11 Te powder.
  • sample thus synthesized were molded into cylinders of 4 mm in diameter and 15 mm in length, and pressurized to 200 MPa using CIP. The resultant was then placed in a quartz tube and vacuum sintered for 12 hours.
  • the electrical conductivity ( ⁇ ) of the sample was measured at predetermined temperature intervals using ZEM-3 (Ulvac-Rico, Inc), and the results are shown in FIG. 1 as an example.
  • the power factor value (PF) is calculated using the respective measured values, and the result is used as an example. 2 is shown.
  • PF may be expressed as S 2 ⁇ .
  • Co, Sb was prepared as a reagent, and these were mixed well using mortar to prepare a mixture of In 0.25 Co 4 Sb 12 composition in pellet form.
  • the mixed material was heated at 675 ° C. for 36 hours while flowing H 2 (1.94%) and N 2 gas, and the temperature rising time was 1 hour 30 minutes.
  • the electrical conductivity ( ⁇ ) of the sample was measured at predetermined temperature intervals using ZEM-3 (Ulvac-Rico, Inc), and the result is shown in FIG. 1 as a comparative example.
  • the power factor value (PF) is calculated using the respective measured values, and the result is shown in FIG. Shown.
  • the compound semiconductor of the embodiment according to the present invention represented by In 0.25 Co 3.88 Sb 11 Te is compared with the compound semiconductor of the comparative example represented by In 0.25 Co 4 Sb 12 . It can be seen that the electrical conductivity is greatly high over.
  • the compound semiconductor of the comparative example shows a form in which the power factor value gradually decreases with increasing temperature
  • the compound semiconductor of the embodiment according to the present invention As the temperature increases, the power factor value is gradually increasing.
  • the power factor value is relatively high in the high temperature region of about 550K or more, compared to the compound semiconductor of the comparative example.
  • the compound semiconductor according to the present invention has a higher electrical conductivity than the compound semiconductor of the comparative example, and particularly has a high power factor value in the high temperature region. Therefore, the compound semiconductor according to the embodiment of the present invention can be said to have excellent thermoelectric conversion performance, and thus can be very usefully used as a thermoelectric conversion material.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 태양 전지, 열전 재료 등의 용도로 사용될 수 있는 신규한 화합물 반도체 및 그 활용을 개시한다. 본 발명에 따른 화합물 반도체는, 다음의 화학식 1과 같이 표시될 수 있다. <화학식 1> InxCo4-aSb12-zQz 상기 화학식 1에서, Q는 O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 어느 하나 이상이고, 0<x≤0.5, 0<a≤1 및 0≤z≤4이다.

Description

신규한 화합물 반도체 및 그 활용
본 발명은 태양 전지, 열전 재료 등의 용도로 사용될 수 있는 신규한 화합물 반도체 물질 및 그 제조방법과, 이를 이용한 용도에 관한 것이다.
본 출원은 2011년 5월 13일자로 출원된 한국 특허출원번호 제10-2011-0045348호, 2011년 5월 13일자로 출원된 한국 특허출원번호 제10-2011-0045349호, 2011년 5월 25일자로 출원된 한국 특허출원번호 제10-2011-0049609호 및 2012년 5월 11일자로 출원된 한국 특허출원번호 제10-2012-0050260호에 대한 우선권주장출원으로서, 해당 출원의 명세서 및 도면에 개시된 모든 내용은 인용에 의해 본 출원에 원용된다.
화합물 반도체는 실리콘이나 게르마늄과 같은 단일 원소가 아닌 2종 이상의 원소가 결합되어 반도체로서 동작하는 화합물이다. 이러한 화합물 반도체는 현재 다양한 종류가 개발되어 다양한 분야에서 사용되고 있다. 대표적으로, 펠티어 효과(Peltier Effect)를 이용한 열전 변환 소자, 광전 변환 효과를 이용한 발광 다이오드나 레이저 다이오드 등의 발광 소자와 태양 전지 등에 화합물 반도체가 이용될 수 있다.
이 중 열전 변환 소자는 열전 변환 발전이나 열전 변환 냉각 등에 적용될 수 있는데, 이 중 열전 변환 발전은 열전 변환 소자에 온도차를 둠으로써 발생하는 열기전력을 이용하여, 열 에너지를 전기 에너지로 변환시키는 발전 형태이다.
이러한 열전 변환 소자의 에너지 변환 효율은 열전 변환 재료의 성능 지수 값인 ZT에 의존한다. 여기서, ZT는 제벡(Seebeck) 계수, 전기 전도도 및 열 전도도 등에 따라 결정되는데, 보다 구체적으로는 제벡 계수의 제곱 및 전기 전도도에 비례하며, 열 전도도에 반비례한다. 따라서, 열전 변환 소자의 에너지 변환 효율을 높이기 위하여, 제백 계수 또는 전기 전도도가 높거나 열 전도도가 낮은 열전 변환 재료의 개발이 필요하다.
한편, 태양 전지는 자연에 존재하는 태양광 이외에 별도의 에너지원을 필요로 하지 않는다는 점에서 친환경적이므로, 미래의 대체 에너지원으로 활발히 연구되고 있다. 태양 전지는, 주로 실리콘의 단일 원소를 이용하는 실리콘 태양 전지와, 화합물 반도체를 이용하는 화합물 반도체 태양 전지, 그리고 서로 다른 밴드갭 에너지(bandgap energy)를 갖는 태양 전지를 둘 이상 적층한 적층형(tandem) 태양 전지 등으로 구별될 수 있다.
이 중 화합물 반도체 태양 전지는, 태양광을 흡수하여 전자-정공 쌍을 생성하는 광흡수층에 화합물 반도체를 사용하는데, 특히 GaAs, InP, GaAlAs, GaInAs 등의 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체, CdS, CdTe, ZnS 등의 Ⅱ-Ⅵ족 화합물 반도체, CuInSe2로 대표되는 Ⅰ-Ⅲ-Ⅵ족 화합물 반도체 등을 사용할 수 있다.
태양 전지의 광흡수층은, 장기적인 전기, 광학적 안정성이 우수하고, 광전 변환 효율이 높으며, 조성의 변화나 도핑에 의해 밴드갭 에너지나 도전형을 조절하기가 용이할 것 등이 요구된다. 또한, 실용화를 위해서는 제조 비용이나 수율 등의 요건도 만족해야 한다. 그러나, 종래의 여러 화합물 반도체들은 이러한 요건들을 모두 함께 만족시키지는 못하고 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 열전 변환 소자의 열전 변환 재료, 태양 전지 등과 같이 다양한 용도로 활용될 수 있는 신규한 화합물 반도체 물질과 그 제조 방법, 및 이를 이용한 열전 변환 소자나 태양 전지 등을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명자는 화합물 반도체에 관한 거듭된 연구 끝에 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 반도체를 합성하는데 성공하고, 이 화합물이 열전 변환 소자의 열전 변환 재료나 태양 전지의 광 흡수층 등에 사용될 수 있음을 확인하여 본 발명을 완성하였다.
<화학식 1>
InxCo4-aSb12-zQz
상기 화학식 1에서, Q는 O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 어느 하나 이상이고, 0<x≤0.5, 0<a≤1 및 0≤z≤4이다.
바람직하게는, 상기 화학식 1에서 Q는 Te이다.
또한 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 x는, 0<x≤0.4이다.
더욱 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 x는, 0<x≤0.25이다.
또한 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 a는, 0<a≤0.5이다.
또한 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤4이다.
더욱 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤2.5이다.
가장 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤1.5이다.
또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 화합물 반도체 제조 방법은, In, Co 및 Sb를 혼합하는 단계; 및 상기 혼합 단계에서 형성된 혼합물을 열처리하는 단계를 포함하는 상기 화학식 1로 표시되는 화합물 반도체를 제조하는 방법이다.
바람직하게는, 상기 혼합 단계에서 형성되는 혼합물은, O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 원소 또는 그 산화물을 더 포함한다.
바람직하게는, 상기 화합물 반도체 제조 방법에서, 열처리 온도는 400℃ 내지 800℃이다.
또한 바람직하게는, 상기 열처리 단계는, 둘 이상의 열처리 단계를 포함할 수 있다.
또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 열전 변환 소자는, 상술한 화합물 반도체를 포함한다.
또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 태양 전지는, 상술한 화합물 반도체를 포함한다.
본 발명에 의하면, 신규한 화합물 반도체 물질이 제공된다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 이러한 신규한 화합물 반도체는 종래의 화합물 반도체를 대체하거나 종래의 화합물 반도체에 더하여 또 다른 하나의 소재로서 사용될 수 있다.
더욱이, 본 발명의 일 측면에 의하면, 화합물 반도체의 열전 변환 성능이 양호하여 열전 변환 소자에 유용하게 이용될 수 있다. 특히, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 열전 변환 소자의 열전 변환 재료로 이용될 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 측면에 의하면, 화합물 반도체가 태양 전지에 이용될 수 있다. 특히, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 태양 전지의 광흡수층으로 이용될 수 있다.
뿐만 아니라, 본 발명의 또 다른 측면에 의하면, 화합물 반도체가 적외선을 선택적으로 통과시키는 적외선 윈도우(IR window)나 적외선 센서, 마그네틱 소자, 메모리 등에도 이용될 수 있다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술하는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은, 본 발명에 따라 제조한 실시예 및 비교예의 화합물 반도체의 온도 변화에 따른 전기 전도도 값을 도시한 그래프이다.
도 2는, 본 발명에 따라 제조한 실시예 및 비교예의 화합물 반도체의 온도 변화에 따른 파워 팩터 값을 도시한 그래프이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상에 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
본 발명은 다음과 같은 화학식 1로 표시되는 신규한 화합물 반도체를 제공한다.
<화학식 1>
InxCo4-aSb12-zQz
상기 화학식 1에서, Q는 O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 어느 하나 이상이고, 0<x≤0.5, 0<a≤1 및 0≤z≤4이다.
바람직하게는, 상기 화학식 1에서 Q는 Te인 것이 좋다.
또한 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 x는, 0<x≤0.4인 것이 좋다.
더욱 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 x는, 0<x≤0.25인 것이 좋다.
또한 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 a는, 0<a≤0.5인 것이 좋다.
바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤4이다.
더욱 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤2.5인 것이 좋다.
가장 바람직하게는, 상기 화학식 1에서 z는, 0<z≤1.5인 것이 좋다.
한편, 상기 화학식 1로 표시되는 화합물 반도체에는, 2차상이 일부 포함될 수 있으며, 그 양은 열처리 조건에 따라 달라질 수 있다.
본 발명에 따른 화합물 반도체는, In, Co 및 Sb를 포함하는 혼합물을 형성하는 단계 및 이러한 혼합물을 열처리하는 단계를 포함하여 제조될 수 있다.
바람직하게는, 상기 혼합물 형성 단계에서 혼합물은, O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 원소 또는 그 산화물을 포함할 수 있다.
한편, 상기 혼합물 형성 단계에서 혼합되는 각 원료는 분말 형태일 수 있으나, 본 발명이 반드시 이러한 혼합 원료의 특정 형태에 의해 제한되는 것은 아니다.
또한 바람직하게는, 상기 열처리 단계는, 진공 중 또는 수소를 일부 포함하고 있거나 수소를 포함하지 않는 Ar, He, N2 등의 기체를 흘리면서 수행될 수 있다.
이때, 열처리 온도는 400℃ 내지 800℃일 수 있다. 바람직하게는, 상기 열처리 온도는 450℃ 내지 700℃일 수 있다. 더욱 바람직하게는, 상기 열처리 온도는 500℃ 내지 650℃일 수 있다.
한편, 상기 열처리 단계는, 둘 이상의 열처리 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 혼합물을 형성하는 단계, 즉 원료를 혼합하는 단계에서 형성된 혼합물에 대하여, 제1 온도에서 1차 열처리를 수행한 후, 제2 온도에서 2차 열처리를 수행할 수도 있다.
이 경우, 상기 복수의 열처리 단계 중 일부 열처리 단계는, 원료를 혼합하는 상기 혼합물 형성 단계에서 수행될 수 있다.
예를 들어, 상기 열처리 단계는, 1차 열처리 단계, 2차 열처리 단계 및 3차 열처리(소결) 단계의 3개의 열처리 단계를 포함할 수 있다. 그리고, 1차 열처리 단계는 400℃ 내지 600℃의 온도 범위에서 수행될 수 있고, 2차 열처리 단계 및 3차 열처리 단계는 600℃ 내지 800℃의 온도 범위에서 수행될 수 있다. 이때, 1차 열처리 단계는 원료가 혼합되는 혼합물 형성 단계 중에 수행되고, 2차 열처리 단계 및 3차 열처리 단계는 그 이후에 순차적으로 수행될 수 있다.
본 발명에 따른 열전 변환 소자는, 상술한 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 열전 변환 소자의 열전 변환 재료로 이용될 수 있다. 특히, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 열전 변환 재료의 성능 지수값인 ZT가 크다. 또한, 제백 계수 및 전기 전도도가 크고, 열 전도도가 낮아 열전 변환 성능이 우수하다. 따라서, 본 발명에 따른 화합물 반도체는, 종래의 열전 변환 재료를 대체하거나 종래의 화합물 반도체에 더하여 열전 변환 소자에 유용하게 이용될 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 태양 전지는, 상술한 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 태양 전지, 특히 태양 전지의 광 흡수층으로 이용될 수 있다.
태양 전지는, 태양광이 입사되는 쪽에서부터 순차적으로, 전면 투명 전극, 버퍼층, 광 흡수층, 배면 전극 및 기판 등이 적층된 구조로 제조할 수 있다. 가장 아래에 위치하는 기판은 유리로 이루어질 수 있으며, 그 위에 전면적으로 형성되는 배면 전극은 Mo 등의 금속을 증착함으로써 형성될 수 있다.
이어서, 배면 전극 상부에 본 발명에 따른 화합물 반도체를 전자빔 증착법, 졸-겔(sol-gel)법, PLD(Pulsed Laser Deposition) 등의 방법으로 적층함으로써 상기 광 흡수층을 형성할 수 있다. 이러한 광 흡수층의 상부에는, 전면 투명 전극으로 사용되는 ZnO층과 광 흡수층 간의 격자 상수 차이 및 밴드갭 차이를 완충하는 버퍼층이 존재할 수 있는데, 이러한 버퍼층은 CdS 등의 재료를 CBD(Chemical Bath Deposition) 등의 방법으로 증착함으로써 형성될 수 있다. 다음으로, 버퍼층 위에 ZnO나 ZnO 및 ITO의 적층막으로 전면 투명 전극이 스퍼터링 등의 방법으로 형성될 수 있다.
본 발명에 따른 태양 전지는 다양한 변형이 가능할 수 있다. 예를 들어, 본 발명에 따른 화합물 반도체를 광 흡수층으로 사용한 태양 전지를 적층한 적층형 태양 전지를 제조할 수 있다. 그리고, 이와 같이 적층된 다른 태양 전지는 실리콘이나 다른 알려진 화합물 반도체를 이용한 태양 전지를 사용할 수 있다.
또한, 본 발명의 화합물 반도체의 밴드 갭을 변화시킴으로써 서로 다른 밴드갭을 가지는 화합물 반도체를 광 흡수층으로 사용하는 복수의 태양 전지를 적층할 수도 있다. 본 발명에 따른 화합물 반도체의 밴드 갭은 이 화합물을 이루는 구성 원소, 특히 Te의 조성비를 변화시킴으로써 조절이 가능할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 화합물 반도체는 적외선을 선택적으로 통과시키는 적외선 윈도우(IR window)나 적외선 센서 등에도 적용될 수 있다.
이하, 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위해 실시예 및 비교예를 들어 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 본 발명에 따른 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예에 한정되는 것으로 해석되어져서는 안 된다. 본 발명의 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다.
실시예
시약으로 In, Co, Sb 및 Te를 준비하고, 이들을 몰타르(mortar)를 이용하여 잘 혼합하여 In0.25Co3.88Sb11Te 조성의 혼합물을 펠렛 형태로 제작하였다. 이와 같이 혼합된 재료는 실리카 튜브(silica tube) 안에 넣고 진공 밀봉하여 650℃에서 36시간 가열하되 승온 시간은 1시간 30분으로 하여, In0.25Co3.88Sb11Te 분말을 얻었다.
이와 같이 합성된 실시예 시료 중 일부를 직경 4 mm, 길이 15 mm의 원기둥으로 성형하고, CIP를 사용하여 200MPa로 압력을 가하였다. 이어서, 얻어진 결과물을 석영관에 넣고 12시간 동안 진공 소결하였다.
소결한 원기둥에 대해서는 ZEM-3(Ulvac-Rico, Inc)를 사용하여 소정 온도 간격으로 시료의 전기 전도도(σ)를 측정하였고, 그 결과를 실시예로서 도 1에 도시하였다. 또한, ZEM-3(Ulvac-Rico, Inc)를 사용하여 제백 계수(S)를 측정한 후, 이상 측정된 각각의 값들을 이용하여 power factor 값(PF)을 계산하고, 그 결과를 실시예로서 도 2에 도시하였다. 여기서, PF는 S2σ로 표현될 수 있다.
비교예
시약으로 In, Co, Sb를 준비하고, 이들을 몰타르(mortar)를 이용하여 잘 혼합하여 In0.25Co4Sb12 조성의 혼합물을 펠렛 형태로 제작하였다. 이와 같이 혼합된 재료는 H2(1.94%) 및 N2 가스를 흘리면서 675℃에서 36시간 가열하였으며, 이때 승온 시간은 1시간 30분으로 하였다.
이와 같이 합성된 비교예 시료 중 일부를 직경 4 mm, 길이 15 mm의 원기둥으로 성형하고, CIP를 사용하여 200MPa로 압력을 가하였다. 이어서, 얻어진 결과물을 석영관에 넣고 12시간 동안 진공 소결하였다.
소결한 원기둥에 대해서는 ZEM-3(Ulvac-Rico, Inc)를 사용하여 소정 온도 간격으로 시료의 전기 전도도(σ)를 측정하였고, 그 결과를 비교예로서 도 1에 도시하였다. 또한, ZEM-3(Ulvac-Rico, Inc)를 사용하여 제백 계수를 측정한 후, 이상 측정된 각각의 값들을 이용하여 power factor 값(PF)을 계산하고, 그 결과를 비교예로서 도 2에 도시하였다.
우선, 도 1의 결과를 참조하면, In0.25Co3.88Sb11Te로 표시되는 본 발명에 따른 실시예의 화합물 반도체는, In0.25Co4Sb12로 표시되는 비교예의 화합물 반도체에 비해, 전체 온도 측정 구간에 걸쳐서 전기 전도도가 크게 높다는 것을 알 수 있다.
또한, 도 2의 결과를 참조하여 각 시료에 대한 파워 팩터값을 살펴보면, 비교예의 화합물 반도체는 온도가 증가함에 따라 파워 팩터값이 점차 떨어지는 형태를 보이고 있는 반면, 본 발명에 따른 실시예의 화합물 반도체는 온도의 증가에 따라 파워 팩터값이 점점 높아지고 있는 형태를 보이고 있다. 특히, 본 발명에 따른 실시예의 화합물 반도체의 경우, 비교예의 화합물 반도체에 비해 대략 550K 이상의 고온 영역에서 파워 팩터값이 상대적으로 크게 높다는 것을 알 수 있다.
이상의 결과를 종합하면, 본 발명에 따른 화합물 반도체는, 비교예의 화합물 반도체에 비해 전기 전도도가 높고, 특히, 고온 영역에서 파워 팩터값이 높다는 것을 알 수 있다. 그러므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 화합물 반도체는 열전 변환 성능이 뛰어나다고 할 수 있으며, 이에 열전 변환 재료로서 매우 유용하게 이용될 수 있다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.

Claims (10)

  1. 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 반도체.
    <화학식 1>
    InxCo4-aSb12-zQz
    상기 화학식 1에서, Q는 O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 적어도 어느 하나 이상이고, 0<x≤0.5, 0<a≤1 및 0≤z≤4이다.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 화학식 1의 x는, 0<x≤0.4인 것을 특징으로 하는 화합물 반도체.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 화학식 1의 a는, 0<a≤0.5인 것을 특징으로 하는 화합물 반도체.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 화학식 1의 z는, 0<z≤4인 것을 특징으로 하는 화합물 반도체.
  5. In, Co 및 Sb를 포함하는 혼합물을 형성하는 단계; 및
    상기 혼합물을 열처리하는 단계
    를 포함하는 제1항의 화합물 반도체의 제조 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 혼합물은, O, S, Se 및 Te로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 또는 이들 중 2종 이상의 원소 또는 그 산화물을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화합물 반도체의 제조 방법.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 열처리 단계는, 400℃ 내지 800℃에서 수행되는 것을 특징으로 하는 화합물 반도체의 제조 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 열처리 단계는, 둘 이상의 열처리 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화합물 반도체의 제조 방법.
  9. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 따른 화합물 반도체를 포함하는 열전 변환 소자.
  10. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 따른 화합물 반도체를 포함하는 태양 전지.
PCT/KR2012/003726 2011-05-13 2012-05-11 신규한 화합물 반도체 및 그 활용 WO2012157904A1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP12785158.2A EP2708497B1 (en) 2011-05-13 2012-05-11 Novel compound semiconductor and usage for same
JP2013550436A JP5774131B2 (ja) 2011-05-13 2012-05-11 新規な化合物半導体及びその活用
CN201280014424.2A CN103459310B (zh) 2011-05-13 2012-05-11 化合物半导体及其应用
US13/616,926 US8747704B2 (en) 2011-05-13 2012-09-14 Compound semiconductors and their application

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20110045348 2011-05-13
KR20110045349 2011-05-13
KR10-2011-0045348 2011-05-13
KR10-2011-0045349 2011-05-13
KR10-2011-0049609 2011-05-25
KR20110049609 2011-05-25
KR10-2012-0050260 2012-05-11
KR1020120050260A KR101446165B1 (ko) 2011-05-13 2012-05-11 신규한 화합물 반도체 및 그 활용

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US13/616,926 Continuation US8747704B2 (en) 2011-05-13 2012-09-14 Compound semiconductors and their application

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2012157904A1 true WO2012157904A1 (ko) 2012-11-22

Family

ID=47177143

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2012/003726 WO2012157904A1 (ko) 2011-05-13 2012-05-11 신규한 화합물 반도체 및 그 활용

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8747704B2 (ko)
EP (1) EP2708497B1 (ko)
JP (1) JP5774131B2 (ko)
KR (2) KR101431771B1 (ko)
CN (1) CN103459310B (ko)
TW (1) TWI469924B (ko)
WO (1) WO2012157904A1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103258949A (zh) * 2013-05-13 2013-08-21 中国科学院福建物质结构研究所 Ag1-xCuSe热电材料及其制备和用途
US11072530B2 (en) 2016-12-28 2021-07-27 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11127891B2 (en) 2017-03-09 2021-09-21 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11162159B2 (en) 2017-03-15 2021-11-02 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11724944B2 (en) 2017-03-15 2023-08-15 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103534201B (zh) * 2011-05-13 2016-10-19 Lg化学株式会社 新的化合物半导体及其用途
EP2708505B1 (en) * 2011-05-13 2017-08-23 LG Chem, Ltd. Novel compound semiconductor and usage for same
KR102122570B1 (ko) 2017-08-28 2020-06-12 주식회사 엘지화학 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
CN111847508B (zh) * 2019-04-24 2022-11-18 上海电机学院 一种In基半导体材料及制备方法和应用

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060125789A (ko) * 2003-12-08 2006-12-06 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 고성능 열전 물질 인듐-코발트-안티몬의 제조 방법
KR20070015543A (ko) * 2004-04-14 2007-02-05 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 고성능 열전 물질 및 그의 제조 방법
KR20090026665A (ko) * 2007-09-10 2009-03-13 충주대학교 산학협력단 CoSb3 스커테루다이트계 열전재료 및 그 제조방법
KR20110016113A (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 충주대학교 산학협력단 In-Co-Ni-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법
KR20110016115A (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 충주대학교 산학협력단 In-Co-Fe-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6069312A (en) * 1994-01-28 2000-05-30 California Institute Of Technology Thermoelectric materials with filled skutterudite structure for thermoelectric devices
JP2003173826A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Mitsubishi Paper Mills Ltd 半導体電極の作製方法、並びにそれを用いた光電変換素子
CA2538522C (en) * 2003-09-12 2014-01-07 Board Of Trustees Operating Michigan State University Silver-containing thermoelectric compounds
JP2005116746A (ja) * 2003-10-07 2005-04-28 Toshiba Corp 熱電変換材料及びこれを用いた熱電変換素子
US7648552B2 (en) * 2004-07-23 2010-01-19 Gm Global Technology Operations, Inc. Filled skutterudites for advanced thermoelectric applications
JP4875708B2 (ja) * 2005-10-17 2012-02-15 エージェンシー フォー サイエンス,テクノロジー アンド リサーチ 新規な相変化磁性材料
CA2637618C (en) * 2006-02-16 2015-03-31 Brigham Young University Preparation of uniform nanoparticles of ultra-high purity metal oxides, mixed metal oxides, metals, and metal alloys
WO2009093455A1 (ja) 2008-01-23 2009-07-30 Furukawa Co., Ltd. 熱電変換材料および熱電変換モジュール
JP2009253301A (ja) * 2008-04-04 2009-10-29 Samsung Electronics Co Ltd ジカルコゲナイド熱電材料
EP2319082B1 (en) * 2008-08-29 2017-11-15 LG Chem, Ltd. New compound semiconductor and producing method thereof, and solar cell and thermoelectric conversion element using the same
CN101397612B (zh) * 2008-10-21 2011-05-25 同济大学 一种方钴矿基热电块体材料的制备方法
JP2012527523A (ja) * 2009-05-21 2012-11-08 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 銅スズ硫化物および銅亜鉛スズ硫化物インク組成物
EP2708505B1 (en) * 2011-05-13 2017-08-23 LG Chem, Ltd. Novel compound semiconductor and usage for same
CN103534201B (zh) * 2011-05-13 2016-10-19 Lg化学株式会社 新的化合物半导体及其用途

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060125789A (ko) * 2003-12-08 2006-12-06 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 고성능 열전 물질 인듐-코발트-안티몬의 제조 방법
KR20070015543A (ko) * 2004-04-14 2007-02-05 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 고성능 열전 물질 및 그의 제조 방법
KR20090026665A (ko) * 2007-09-10 2009-03-13 충주대학교 산학협력단 CoSb3 스커테루다이트계 열전재료 및 그 제조방법
KR20110016113A (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 충주대학교 산학협력단 In-Co-Ni-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법
KR20110016115A (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 충주대학교 산학협력단 In-Co-Fe-Sb 계 스커테루다이트 열전재료 및 그 제조방법

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2708497A4 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103258949A (zh) * 2013-05-13 2013-08-21 中国科学院福建物质结构研究所 Ag1-xCuSe热电材料及其制备和用途
CN103258949B (zh) * 2013-05-13 2017-10-24 中国科学院福建物质结构研究所 Ag1‑xCuSe热电材料及其制备和用途
US11072530B2 (en) 2016-12-28 2021-07-27 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11127891B2 (en) 2017-03-09 2021-09-21 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11162159B2 (en) 2017-03-15 2021-11-02 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof
US11724944B2 (en) 2017-03-15 2023-08-15 Lg Chem, Ltd. Compound semiconductor and use thereof

Also Published As

Publication number Publication date
EP2708497A4 (en) 2015-03-18
TWI469924B (zh) 2015-01-21
KR101446165B1 (ko) 2014-10-01
EP2708497A1 (en) 2014-03-19
JP2014509292A (ja) 2014-04-17
CN103459310A (zh) 2013-12-18
CN103459310B (zh) 2016-01-20
US20130009116A1 (en) 2013-01-10
KR101431771B1 (ko) 2014-08-19
KR20120127320A (ko) 2012-11-21
JP5774131B2 (ja) 2015-09-02
EP2708497B1 (en) 2017-10-04
TW201311565A (zh) 2013-03-16
US8747704B2 (en) 2014-06-10
KR20120127303A (ko) 2012-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2012157904A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157913A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157917A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2015050420A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2015080527A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2015046810A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012148197A2 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157914A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157910A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157905A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157915A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157911A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157909A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012157907A1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
WO2012148198A2 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
JP6775841B2 (ja) 新規な化合物半導体およびその活用
KR101372523B1 (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
US11127891B2 (en) Compound semiconductor and use thereof
KR20120127322A (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용
KR20140145817A (ko) 신규한 화합물 반도체 및 그 활용

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 12785158

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2012785158

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2012785158

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2013550436

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE