WO2012124472A1 - レーザ照射装置及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法 - Google Patents

レーザ照射装置及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法 Download PDF

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一也 大滝
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株式会社ブイ・テクノロジー
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    • G02F1/133509—Filters, e.g. light shielding masks

Definitions

  • the present invention relates to a laser irradiation apparatus capable of irradiating an irradiation object by selecting a wavelength from a plurality of laser beams having different wavelengths according to the irradiation purpose, and in particular, the apparatus can be miniaturized and the wavelength can be reduced.
  • the present invention relates to a laser irradiation apparatus capable of extracting laser light having the shortest wavelength from the mixed laser light with high wavelength purity and a method for correcting a bright spot of a liquid crystal display panel using the same.
  • a conventional laser irradiation apparatus of this type includes a first laser generator that generates a first laser beam having a short wavelength and a second laser generator that generates a second laser beam having a longer wavelength than the first laser beam. And irradiating a liquid crystal cell with a bright spot defect of the liquid crystal display panel with a first laser beam, peeling the color filter of the liquid crystal cell from the substrate to form a gap therebetween, and then supplying the second laser beam to the liquid crystal cell It is possible to change the physical properties of the color filter of the liquid crystal cell so that the light transmittance is lowered (for example, see Patent Document 1).
  • a single laser generator generates harmonics from the fundamental wave to obtain a plurality of laser beams having different wavelengths, and then separates the laser beams of the plurality of wavelengths using, for example, a dichroic mirror.
  • the separated laser beams having a plurality of wavelengths are passed through a plurality of optical paths, and each optical path is opened and closed to extract a laser beam having a specific wavelength. In this case, a plurality of optical paths are provided to spread laterally. Therefore, downsizing of the device has not been easy.
  • the present invention addresses such problems, enables the downsizing of the apparatus, and uses a laser irradiation apparatus capable of extracting the shortest wavelength laser light with high wavelength purity from the mixed laser light of a plurality of wavelengths.
  • An object of the present invention is to provide a bright spot correction method for a liquid crystal display panel.
  • a laser irradiation apparatus is a laser irradiation apparatus which can irradiate an irradiation object by selecting a wavelength from a plurality of laser beams having different wavelengths according to the irradiation purpose.
  • a slit having a width corresponding to the diffraction limit of at least the shortest wavelength laser light among the multiple wavelength laser lights on the optical path of the mixed light composed of the multiple wavelength laser lights, and the laser light that has passed through the slits
  • an objective lens for condensing the light onto the irradiation object.
  • the mixed light of a plurality of laser beams having different wavelengths is allowed to pass through a slit having a width corresponding to the diffraction limit of the laser beam having the shortest wavelength, and the irradiation purpose of the laser light having the plurality of wavelengths is determined according to the irradiation purpose. Then, the wavelength is selected, and the selected laser light is condensed on the irradiation object by the objective lens.
  • the slit includes a first slit having a width corresponding to a diffraction limit of the laser beam having the shortest wavelength and a second slit having a width wider than the first slit, and is formed side by side on the optical path of the mixed light. It is desirable that a light shielding means for opening and closing at least a path of the laser beam passing through the second slit is further provided so that the wavelength of the laser beam irradiated on the irradiation object can be selected.
  • the first slit is formed in the center of the optical path of the mixed light, and the second slit is formed on both sides of the first slit in parallel with the first slit.
  • At least the first slit is formed in a plurality in parallel.
  • the bright spot correction method for a liquid crystal display panel according to the present invention is a bright spot correction method for a liquid crystal display panel that corrects a bright spot defect of a liquid crystal cell using first and second laser beams having different wavelengths.
  • the first slit having a width corresponding to the diffraction limit of the first laser beam having a short wavelength is selectively passed.
  • the first and second slits are formed in parallel on the optical path of the mixed light, and the liquid crystal display panel is configured by opening and closing a path of laser light passing through the second slit by a light shielding unit. It is desirable to be able to select the wavelength of the laser light that is irradiated onto the surface.
  • At least the first slit is formed in a plurality in parallel with the center of the optical path of the laser beam, and the second slit is formed on both sides of the plurality of first slits. Is desirable.
  • laser light having a required wavelength can be selected and extracted from the mixed light of laser beams having a plurality of wavelengths traveling on the same optical path in accordance with the purpose of irradiation, thereby reducing the size of the apparatus. be able to.
  • the mixed light is passed through the slit having a width corresponding to the diffraction limit of the shortest wavelength laser light, the shortest wavelength laser light can be extracted from the mixed light with high wavelength purity. Therefore, unlike the prior art, laser processing can be performed while eliminating the thermal influence on the peripheral part of the laser irradiation region by the laser light having a long wavelength remaining in the extracted laser light having the shortest wavelength.
  • the depth of focus can be made shallower than that of the laser beam having a long wavelength, and the integrated thermal energy in the periphery of the laser irradiation region can be reduced. Therefore, the laser processing of the thin film can be performed stably.
  • the laser beam having the shortest wavelength with the smallest thermal energy can be extracted with high wavelength purity from the first slit, and from the second slit, the wavelength is equal to or less than the wavelength having the second slit width as a diffraction limit.
  • the laser beam including the laser beam having the shortest wavelength can be extracted. Therefore, laser processing can be performed by limiting the thermal influence by the shortest wavelength laser light extracted by selectively passing through the first slit, and the multiple wavelength laser light having passed through the second slit. Of these, laser processing can be performed using laser light having the longest wavelength with the largest thermal energy.
  • the irradiation area on the irradiation object of the laser light that has passed through the second slit can be widened, and the efficiency of laser processing can be improved.
  • the irradiation area on the irradiation object of the laser beam of the shortest wavelength which passed the 1st slit is enlarged, and the efficiency of the laser processing which limited the thermal influence is improved. be able to.
  • the mixing is performed.
  • the first laser beam having the shortest wavelength can be extracted from the light with high wavelength purity. Therefore, unlike the prior art, laser processing can be performed while eliminating the thermal influence on the periphery of the laser irradiation region by the second laser light having a long wavelength remaining in the extracted first laser light.
  • the first laser beam with the shortest wavelength can make the depth of focus shallower than the second laser beam with a longer wavelength, and the integrated thermal energy at the periphery of the laser irradiation region can be reduced. Therefore, the color filter can be peeled stably.
  • the cutting process of the black matrix can be performed by the second laser beam having a large thermal energy among the first and second laser beams that have passed through the second slit.
  • the irradiation area of the 1st laser beam and 2nd laser beam which irradiate to a liquid crystal display panel can each be enlarged. Therefore, the color filter peeling process using the first laser beam and the black matrix cutting process using the second laser beam can be performed efficiently. As a result, the tact of correcting the bright spot defect of the liquid crystal display panel can be shortened and the throughput can be increased.
  • FIG. 5 is a side view of FIG. 4.
  • the said bright spot correction method it is a top view explaining the step which scrapes a black matrix and generates black dust. It is a top view explaining the step which disperse
  • FIG. 1 is a front view showing an embodiment of a laser irradiation apparatus according to the present invention.
  • This laser irradiation apparatus is configured to select a wavelength from a plurality of laser beams having different wavelengths according to the irradiation purpose, and to irradiate an irradiation target.
  • a laser oscillator 1, a slit 2, and a light shielding means 3 are provided.
  • an objective lens 4 an objective lens 4.
  • the laser oscillator 1 generates laser light having a plurality of wavelengths, and is, for example, a solid YAG laser or an excimer laser.
  • a third harmonic 355 nm second laser beam is generated and the mixed light is output.
  • a beam expander that expands the beam diameter to such an extent that it can sufficiently cover the formation area of the slit 2 provided in the mask 5 described later is provided.
  • a slit 2 is provided on the optical path of the laser beam L.
  • the slit 2 selectively outputs at least the first laser beam from the mixed light of the first and second laser beams and has a width corresponding to the diffraction limit of the first laser beam. It is an elongated opening and is formed in a light shielding film attached to a transparent substrate to form a mask 5.
  • the slit 2 has a first slit 2A having a width corresponding to the diffraction limit of the first laser beam (266 nm) and a second slit having a width corresponding to the diffraction limit of the second laser beam (355 nm).
  • the first and second slits 2A and 2B are arranged side by side on the optical path of the laser beam L. In this case, of course, the width of the first slit 2A is narrower than the width of the second slit 2B.
  • a plurality of first slits 2A are formed in parallel at the center of the laser light irradiation area on the mask 5 (in the circle shown in FIG. 2), A plurality of second slits 2B are formed on both sides of the plurality of first slits 2A in parallel.
  • the second slit 2B may be wider than the width corresponding to the diffraction limit of the second laser beam (355 nm).
  • the light shielding means 3 is provided on the laser beam L emission side of the mask 5.
  • the light shielding means 3 opens and closes the passage of the laser light L passing through the second slit 2B provided in the mask 5, and as shown in FIG. 2, four strip-shaped light shielding plates 6A, 6B, 6C and 6D are arranged in a square frame shape so that an opening 7 is formed in the center, and each light shielding plate 6A to 6D can move in the short axis direction (X-axis and Y-axis directions shown in the figure). It has become.
  • FIG. 1 shows a case where the light shielding means 3 is provided on the laser beam L emission side of the mask 5, it may be provided on the laser beam L incidence side of the mask 5.
  • an objective lens 4 is provided so as to face the irradiation object Ob.
  • the objective lens 4 collects the first and second laser beams that have passed through the first and second slits 2A and 2B of the mask 5 on the irradiation object Ob, and is attached to the revolver 8.
  • one of the plurality of objective lenses 4 can be selected and used according to the irradiation purpose of the laser beam L. For example, for the purpose of peeling (lifting off) the thin film from the substrate using the first laser beam of 266 nm, it is preferable to select and use the objective lens 4 with a UV of 20 times or 50 times.
  • the black matrix made of an organic material of a liquid crystal display panel is cut using the laser beam 2, it is preferable to select and use the objective lens 4 with NUV 20 times or 50 times. At this time, the imaging position of the objective lens 4 and the position of the mask 5 are conjugated with each other.
  • reference numeral 9 denotes a stage on which the irradiation object Ob is placed, and an opening 10 is formed corresponding to an observation area on the irradiation object Ob so that back-lighting light described later can pass.
  • Reference numeral 11 denotes a CCD camera for observing the laser processing region on the irradiation object Ob and observing the laser processing state.
  • reference numeral 12 denotes a back illumination light source for illuminating, for example, a liquid crystal display panel as the irradiation object Ob from the back surface side to detect a liquid crystal cell having a bright spot defect.
  • Reference numeral 13 denotes an epi-illumination light source that, for example, illuminates the liquid crystal display panel from the front side so that the correction state of the liquid crystal cell having a bright spot defect can be observed.
  • reference numeral 14 denotes polarization observation means that is inserted in the optical path of the epi-illumination light source 13 and facilitates observation of the color filter peeling state in the liquid crystal cell having the bright spot defect, for example.
  • Reference numeral 15 denotes a dichroic mirror that is inserted on the optical path of the laser oscillator 1 so that the surface of the irradiation object Ob can be observed by the CCD camera 11 and transmits visible light and reflects visible light. This is a dichroic mirror that is inserted on the optical path of the laser oscillator 1 to guide the illumination light emitted from the epi-illumination light source 13 to the irradiation object Ob and transmits visible light and reflects visible light.
  • step S1 the laser oscillator 1 is set to such an extent that the power of the laser oscillator 1 can peel off a blue color filter 20B (to be described later) with a first laser beam (266 nm) to be described later.
  • a first laser beam of 266 nm that is the fourth harmonic and a second laser beam of 355 nm that is the third harmonic are generated from the wave, and the mixed light thereof is output on the same optical path. Further, the mixed light is expanded to such an extent that the beam diameter can sufficiently cover the formation region of the slit 2 provided in the mask 5 by the beam expander.
  • step S2 the mixed light output from the laser oscillator 1 forms a first slit 2A at the center of the irradiation region, and is arranged in parallel with the first slit 2A and second slits on both sides thereof.
  • the mask 5 on which 2B is formed is irradiated.
  • the light shielding plates 6A and 6B move in the directions of arrows A and B shown in FIG. 2 along the X axis and block the path of the laser light L passing through the second slit 2B. It is in.
  • the first slit 2A is formed to have a width corresponding to the diffraction limit of the first laser beam (266 nm), the first laser is included in the mixed light applied to the mask 5.
  • the light (266 nm) can pass through the first slit 2A, but the fundamental wave (1064 nm) laser light and the second laser light (355 nm) having a longer wavelength than the first laser light are transmitted through the first slit. 2A cannot be transmitted.
  • the second slit 2B is formed to have a width corresponding to the diffraction limit of the second laser beam (355 nm), the first laser beam (266 nm) in the mixed light irradiated to the mask 5.
  • the second laser beam (355 nm) can pass through the second slit 2B, but the fundamental beam (1064 nm) having a longer wavelength than the second laser beam cannot pass through.
  • step S2 since the passage of the laser light L passing through the second slit 2B is closed by the light shielding means 3 as described above, the laser light L transmitted through each slit 2 of the mask 5 is Among them, the first laser light and the second laser light transmitted through the second slit 2B are blocked by the light shielding means 3, and the first laser light L transmitted through the first slit 2A as shown in FIG. Only 1 passes through the objective lens 4 and irradiates the liquid crystal cell 18B corresponding to, for example, blue (B) of the bright spot defect of the liquid crystal display panel 17 which is the irradiation object Ob.
  • reference numeral 18R is a liquid crystal cell corresponding to red (R)
  • reference numeral 18G is a liquid crystal cell corresponding to green (G).
  • the first laser beam L 1, as shown in FIG. 5, passes through the transparent counter electrode substrate 19, the liquid crystal cells of the luminance point defect eg a blue color filter 20B and the blue color filter 20B is to be The light is condensed in the vicinity of the interface with the counter electrode substrate 19 attached.
  • the vicinity of the interface of the blue color filter 20B is thermally decomposed and the blue color filter 20B is peeled off from the counter electrode substrate 19, and a gap 21 is formed between the blue color filter 20B and the counter electrode substrate 19.
  • reference numeral 20R is a red color filter
  • reference numeral 20G is a green color filter.
  • stage 9 is relatively moved within the plane parallel to the XY plane relative to the objective lens 4, as shown by the arrows in FIG. 4, a liquid crystal cell 18B of the first bright spot defective laser light L 1 Let it scan. In this way, as shown in FIG. 5, the entire blue color filter 20B of the liquid crystal cell 18B is peeled off from the counter electrode substrate 19.
  • step S3 with increasing extent capable of cutting the power of the laser oscillator 1 and the second black matrix 22 below the laser beam L 2, the light shielding plate 6A shading means 3, and 6B in X-axis Along the direction of arrows C and D shown in FIG. 2 to open the path of the laser light L passing through the second slit 2B and passing through the second slit 2B as shown in FIG. the light L 2 is irradiated on the black matrix 22 made of an organic material near the liquid crystal cell 18B of the luminance point defect. Then, while moving the stage 9 relative to the objective lens 4 in a plane parallel to the XY plane, a part of the black matrix 22 is scraped to generate black dust 23.
  • the first and second slits 2A, the first laser beam L 1 passing through 2B is also irradiated on the black matrix 22, the first laser beam L 1 is compared with the laser light L 2 of the second Since the thermal energy is small, the first laser light L 1 does not contribute to scraping the black matrix 22.
  • step S4 in a state in which the black matrix 22 the power of the laser oscillator 1 by the second laser beam L 2 is lowered to the extent not scraped, parallel to the XY plane of the stage 9 with respect to the objective lens 4
  • the first laser beam L 1 transmitted through the first slit 2A and the first and second laser beams L 1 and L 2 transmitted through the second slit 2B are scanned by relatively moving in the plane. 7, the black dust 23 is moved from the black matrix 22 toward the liquid crystal cell 20 ⁇ / b> B, and is dispersed substantially uniformly in the gap 21.
  • the light transmittance of the liquid crystal cell 20B having a bright spot defect is lowered, thereby making the bright spot inconspicuous.
  • step S4 the light shielding means 3 is used.
  • a black dust 23 may be moved using only the first laser beam L 1 passing through the first slit 2A by.
  • the first slit 2A and the second slit 2B are formed side by side on the optical path of the laser light L, and the optical path of the laser light L passing through the second slit 2B is opened and closed by the light shielding means 3.
  • the present invention is not limited to this, and the first slit 2A and the second slit 2B, which are formed sufficiently apart from each other, are not provided, and the first slit 2A and the second slit 2B are moved and switched to each other. Also good.
  • the cross-sectional elongated shape formed in the metal plate It may be a through hole.
  • the blue color filter 20B of the liquid crystal display panel 17 is peeled off using the diffraction limited light of the first slit 2A has been described.
  • the present invention is not limited to this and the semiconductor substrate or the like is not limited thereto. It can also be used for lift-off of thin films in the manufacturing process.
  • the present invention is not limited to this, and the laser irradiation apparatus includes a plurality of different wavelengths. Any wavelength may be used as long as it is intended to irradiate the irradiation object by selecting the wavelength from the laser beam according to the irradiation purpose.

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Abstract

　本発明は、波長の異なる複数のレーザ光Ｌからその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物Ｏｂに照射し得るようにしたレーザ照射装置であって、上記複数波長のレーザ光Ｌから成る混合光の光路上に、複数波長のレーザ光Ｌのうち、少なくとも最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅のスリット２と、このスリット２を通過したレーザ光を照射対象物Ｏｂ上に集光する対物レンズ４と、を備えたものである。

Description

レーザ照射装置及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法
　本発明は、波長の異なる複数のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物に照射し得るようにしたレーザ照射装置に関し、特に装置の小型化が可能で、且つ複数波長の混合レーザ光から最短波長のレーザ光を高い波長純度で取り出し得るレーザ照射装置及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法に係るものである。
　従来のこの種のレーザ照射装置は、波長の短い第１レーザ光を発生する第１レーザ発生器と、第１レーザ光よりも波長の長い第２レーザ光を発生する第２レーザ発生器とを備え、第１レーザ光を液晶表示パネルの輝点欠陥の液晶セルに照射し、該液晶セルのカラーフィルタを基板から剥離させて両者間に隙間を形成した後、第２レーザ光を上記液晶セルに照射して該液晶セルのカラーフィルタの物性を光透過性が低下するように変化させることができるようになっていた（例えば、特許文献１参照）。
特開２００８－１６５１６４号公報
　しかし、このような従来のレーザ照射装置においては、波長の異なるレーザ光を発生する２台のレーザ発生器を備え、それぞれオン・オフ切り換えて特定波長のレーザ光を取り出すようになっていたので、装置を小型化することが困難であった。
　これに対して、１つのレーザ発生器により、その基本波から高調波を生成させて波長の異なる複数のレーザ光を得た後、この複数波長のレーザ光を例えばダイクロイックミラーを使用して波長分離し、分離された複数波長のレーザ光をそれぞれ複数の光路に通すと共に、各光路を開閉して特定波長のレーザ光を取り出すことも考えられるが、この場合、複数の光路が横に広がって設けられるため、装置の小型化が容易でなかった。
　また、同一光路を進む複数波長の混合レーザ光からフィルタを使用して特定波長のレーザ光を取り出すこともできるが、フィルタの特性上、例えば２６６ｎｍのレーザ光を波長が接近した３５５ｎｍのレーザ光と分離して高い波長純度で取り出すことは困難である。したがって、例えば２６６ｎｍのレーザ光を使用して、液晶表示パネルの輝点欠陥を修正するために該輝点欠陥の液晶セルのカラーフィルタを基板から剥離させようとした場合、上記フィルタで除去できずに残存する３５５ｎｍのレーザ光により上記液晶セルの周辺部分に熱的影響が及ぶ危険性がある。
　そこで、本発明は、このような問題点に対処し、装置の小型化が可能で、且つ複数波長の混合レーザ光から最短波長のレーザ光を高い波長純度で取り出し得るレーザ照射装置及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法を提供することを目的とする。
　上記目的を達成するために、本発明によるレーザ照射装置は、波長の異なる複数のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物に照射し得るようにしたレーザ照射装置であって、前記複数波長のレーザ光から成る混合光の光路上に、前記複数波長のレーザ光のうち、少なくとも最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅のスリットと、前記スリットを通過したレーザ光を前記照射対象物上に集光する対物レンズと、を備えたものである。
　このような構成により、波長の異なる複数のレーザ光の混合光を、少なくとも最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅のスリットを通過させて、上記複数波長のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択し、該選択されたレーザ光を対物レンズにより照射対象物上に集光する。
　好ましくは、前記スリットは、前記最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅の第１のスリット及びそれよりも幅広の第２のスリットから成り、前記混合光の光路上に並べて形成されており、少なくとも前記第２のスリットを通過するレーザ光の通路を開閉する遮光手段をさらに設けて、前記照射対象物に照射するレーザ光の波長を選択し得るようにするのが望ましい。
　より好ましくは、前記第１のスリットは前記混合光の光路中央部に形成され、前記第２のスリットは、前記第１のスリットに平行に並べてその両側に形成されているのが望ましい。
　さらに好ましくは、少なくとも前記第１のスリットは、平行に並べて複数形成されているのが望ましい。
　また、本発明による液晶表示パネルの輝点修正方法は、波長の異なる第１及び第２のレーザ光を用いて液晶セルの輝点欠陥を修正する液晶表示パネルの輝点修正方法であって、前記第１及び第２のレーザ光の混合光を同一の光路に出力させた状態で、波長の短い前記第１のレーザ光の回折限界に相当する幅の第１のスリットを選択的に通過した前記第１のレーザ光により、前記輝点欠陥の液晶セルのカラーフィルタを基板から剥離させて両者間に隙間を形成する段階と、前記第１のスリットよりも幅広の第２のスリットを通過した波長の長い前記第２のレーザ光により、前記輝点欠陥の液晶セル周辺のブラックマトリクスを削って黒色粉塵を発生させる段階と、前記第１のスリットを通過した前記第１のレーザ光、又は少なくとも前記第２のスリットを通過した前記第１及び第２のレーザ光により、前記黒色粉塵を移動させて前記隙間に分散させる段階と、を行うものである。
　好ましくは、前記第１及び第２のスリットは、前記混合光の光路上に平行に並べて形成され、前記第２のスリットを通過するレーザ光の通路を遮光手段により開閉して、前記液晶表示パネルに照射するレーザ光の波長を選択し得るようにするのが望ましい。
　より好ましくは、少なくとも前記第１のスリットは、前記レーザ光の光路中央部に平行に並べて複数本形成され、該複数本の第１のスリットの両側に前記第２のスリットを形成したものであるのが望ましい。
　請求項１に係る発明によれば、同一光路を進む複数波長のレーザ光の混合光からその照射目的に応じて必要な波長のレーザ光を選択して取り出すことができ、装置の小型化を図ることができる。また、最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅のスリットに上記混合光を通しているので、上記混合光から最短波長のレーザ光を高い波長純度で取り出すことができる。したがって、従来技術と違って、取り出した最短波長のレーザ光中に残存する波長の長いレーザ光によるレーザ照射領域周辺部への熱的影響を排除してレーザ加工を行うことができる。さらに、最短波長のレーザ光を使用することにより、波長の長いレーザ光よりも焦点深度を浅くすることができ、レーザ照射領域周辺部の積算熱エネルギーを小さくすることができる。したがって、薄膜のレーザ加工を安定して行なうことができる。
　また、請求項２に係る発明によれば、遮光手段を開閉操作するだけで、混合光から２種類の波長のレーザ光を照射目的に応じて取り出すことができる。この場合、第１のスリットからは、熱エネルギーの最も小さい最短波長のレーザ光を高い波長純度で取り出すことができ、第２のスリットからは、該第２のスリット幅を回折限界とする波長以下の、上記最短波長のレーザ光を含むレーザ光を取り出すことができる。したがって、上記第１のスリットを選択的に通過させて取り出した最短波長のレーザ光により熱的影響を制限してレーザ加工を行なわせることができ、第２のスリットを通過した複数波長のレーザ光のうち、熱エネルギーの最も大きい最長波長のレーザ光を用いてレーザ加工を行うことができる。
　さらに、請求項３に係る発明によれば、第２のスリットを通過したレーザ光の照射対象物上の照射面積を広くして、レーザ加工の効率を向上させることができる。
　そして、請求項４に係る発明によれば、第１のスリットを通過した最短波長のレーザ光の照射対象物上における照射面積を広くして、熱的影響を制限したレーザ加工の効率を向上することができる。
　また、請求項５に係る液晶表示パネルの輝点修正方法の発明によれば、最短波長の第１のレーザ光の回折限界に相当する幅の第１のスリットに混合光を通しているので、上記混合光から最短波長の第１のレーザ光を高い波長純度で取り出すことができる。したがって、従来技術と違って、取り出した第１のレーザ光中に残存する波長の長い第２のレーザ光によるレーザ照射領域周辺部への熱的影響を排除してレーザ加工を行うことができる。さらに、最短波長の第１のレーザ光により、波長の長い第２のレーザ光よりも焦点深度を浅くすることができ、レーザ照射領域周辺部の積算熱エネルギーを小さくすることができる。したがって、カラーフィルタの剥離加工を安定して行なうことができる。一方、ブラックマトリクスの切削加工は、第２のスリットを通過した第１及び第２のレーザ光のうち、熱エネルギーの大きい第２のレーザ光により行うことができる。
　さらに、請求項６に係る発明によれば、遮光手段を開閉操作するだけで、混合光から２種類の波長のレーザ光を照射目的に応じて取り出すことができる。
　そして、請求項７に係る発明によれば、液晶表示パネルに照射する第１のレーザ光及び第２のレーザ光の照射面積をそれぞれ広くすることができる。したがって、第１のレーザ光によるカラーフィルタの剥離加工、及び第２のレーザ光によるブラックマトリクスの切削加工を効率よく行なうことができる。これにより、液晶表示パネルの輝点欠陥の修正作業のタクトを短縮して、スループットを上げることができる。
本発明によるレーザ照射装置の実施形態を示す正面図である。 上記実施形態におけるスリットと遮光手段との配置関係を示す平面透視図である。 本発明による液晶表示パネルの輝点修正方法を示すフローチャートである。 上記輝点修正方法において、カラーフィルタを剥離させて隙間を形成する段階を説明する平面図である。 図４の側面図である。 上記輝点修正方法において、ブラックマトリクスを削って黒色粉塵を発生させる段階を説明する平面図である。 上記輝点修正方法において、黒色粉塵を上記隙間に分散させる段階を説明する平面図である。
　以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図１は本発明によるレーザ照射装置の実施形態を示す正面図である。このレーザ照射装置は、波長の異なる複数のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物に照射し得るようにしたもので、レーザ発振器１と、スリット２と、遮光手段３と、対物レンズ４とを備えて構成されている。
　上記レーザ発振器１は、複数波長のレーザ光を発生するもので、例えば固体ＹＡＧレーザやエキシマレーザ等であり、１０６４ｎｍの基本波からその第４高調波である２６６ｎｍの第１のレーザ光、及び第３高調波の３５５ｎｍの第２のレーザ光を生成して、その混合光を出力するようになっている。そして、ビーム径を後述のマスク５に設けられたスリット２の形成領域を十分にカバーし得る程度に拡大するビームエキスパンダを備えている。
　上記レーザ光Ｌの光路上には、スリット２が設けられている。このスリット２は、上記第１及び第２のレーザ光の混合光から少なくとも第１のレーザ光を選択的に分離して出力するもので、第１のレーザ光の回折限界に相当する幅を有する細長状の開口であり、透明基板に被着された遮光膜に形成されてマスク５の形態を成している。
　詳細には、上記スリット２は、第１のレーザ光（２６６ｎｍ）の回折限界に相当する幅の第１のスリット２Ａと、第２のレーザ光（３５５ｎｍ）の回折限界に相当する幅の第２のスリット２Ｂとから成り、該第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂをレーザ光Ｌの光路上に横に並べて設けたものである。この場合、当然ながら第１のスリット２Ａの幅の方が第２のスリット２Ｂの幅よりも狭い。
　より詳細には、図２に示すように、上記マスク５上のレーザ光照射領域内（同図に示す円内）の中央部に、平行に並べて複数の第１のスリット２Ａが形成され、該複数の第１のスリット２Ａに平行に並べてその両側に複数の第２のスリット２Ｂが形成されている。これにより、照射対象物Ｏｂ上に照射する第１及び第２のレーザ光の照射面積を広くして、レーザ加工の効率向上を図っている。
　なお、１０６４ｎｍの基本波が事前に除去される場合には、第２のスリット２Ｂは、第２のレーザ光（３５５ｎｍ）の回折限界に相当する幅よりも幅広であってもよい。
　上記マスク５のレーザ光Ｌの射出側には、遮光手段３が設けられている。この遮光手段３は、マスク５に設けられた第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路を開閉するものであり、図２に示すように短冊状の４枚の遮光板６Ａ，６Ｂ，６Ｃ，６Ｄを中央部に開口７が形成されるように四角形の枠状に配置し、各遮光板６Ａ～６Ｄがそれぞれその短軸方向（同図に示すＸ軸、Ｙ軸方向）に移動可能になっている。この場合、上記遮光板６Ａ，６Ｂによって第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路が開閉され、遮光板６Ｃ，６Ｄによって照射対象物Ｏｂ上に照射されるレーザ光Ｌの長軸の長さが調整される。なお、図１においては、遮光手段３をマスク５のレーザ光Ｌの射出側に設けた場合について示しているが、マスク５のレーザ光Ｌの入射側に設けてもよい。
　上記レーザ光Ｌの光路上には、照射対象物Ｏｂに対向して対物レンズ４が設けられている。この対物レンズ４は、上記マスク５の第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂを通過した第１及び第２のレーザ光を照射対象物Ｏｂ上に集光するものであり、レボルバ８に取り付けられて、レーザ光Ｌの照射目的に応じて複数の対物レンズ４から１つを選択して使用できるようになっている。例えば、２６６ｎｍの第１のレーザ光を使用して基板から薄膜を剥離（リフトオフ）させる目的の場合には、ＵＶ２０倍又は５０倍の対物レンズ４を選択して使用するのがよく、３５５ｎｍの第２のレーザ光を使用して例えば液晶表示パネルの有機物質から成るブラックマトリクスを削る際には、ＮＵＶ２０倍又は５０倍の対物レンズ４を選択して使用するのがよい。このとき、対物レンズ４の結像位置と上記マスク５の位置とは、互いに共役の関係を成している。
　なお、図１において、符号９は、照射対象物Ｏｂを載置するステージであり、後述の背面照明光が通過できるように照射対象物Ｏｂ上の観察領域に対応して開口１０が形成されている。また、符号１１は、照射対象物Ｏｂ上のレーザ加工領域を観察したり、レーザ加工状態を観察したりするためのＣＣＤカメラである。さらに、符号１２は、照射対象物Ｏｂとしての例えば液晶表示パネルを裏面側から照明して輝点欠陥の液晶セルを検出するための背面照明光源である。また、符号１３は、例えば液晶表示パネルを表面側から照明して輝点欠陥の液晶セルの修正状態を観察できるようにする落射照明光源である。さらに、符号１４は、落射照明光源１３の光路に挿入され、例えば上記輝点欠陥の液晶セルにおけるカラーフィルタの剥離状態の観察を容易にする偏光観察手段である。そして、符号１５は、ＣＣＤカメラ１１により照射対象物Ｏｂ表面を観察可能にするためにレーザ発振器１の光路上に挿入された、紫外線を透過し可視光を反射するダイクロイックミラーであり、符号１６は、落射照明光源１３から発した照明光を照射対象物Ｏｂに導くためにレーザ発振器１の光路上に挿入された、紫外線を透過し可視光を反射するダイクロイックミラーである。
　次に、このように構成されたレーザ照射装置の動作及びそれを使用した液晶表示パネルの輝点修正方法について、図３のフローチャートを参照して説明する。ここでは、液晶表示パネルの輝点欠陥の液晶セルが既に検出されている場合について説明する。
　先ず、ステップＳ１においては、レーザ発振器１のパワーが後述の第１のレーザ光（２６６ｎｍ）によって後述の青色カラーフィルタ２０Ｂを剥離し得る程度に設定された状態で、レーザ発振器１によって、１０６４ｎｍの基本波からその第４高調波である２６６ｎｍの第１のレーザ光、及び第３高調波の３５５ｎｍの第２のレーザ光を生成し、それらの混合光を同一の光路上に出力する。さらに、混合光は、ビーム径がビームエキスパンダによってマスク５に設けられたスリット２の形成領域を十分にカバーし得る程度に拡大される。
　次に、ステップＳ２においては、レーザ発振器１から出力された混合光は、照射領域中央部に第１のスリット２Ａを形成し、該第１のスリット２Ａに平行に並べてその両側に第２のスリット２Ｂを形成したマスク５に照射する。このとき、遮光手段３は、その遮光板６Ａ，６ＢがＸ軸に沿って図２に示す矢印Ａ，Ｂ方向に移動し、第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路を遮断した状態にある。
　本実施形態においては、第１のスリット２Ａは、第１のレーザ光（２６６ｎｍ）の回折限界に相当する幅に形成されているため、マスク５に照射する混合光の中で、第１のレーザ光（２６６ｎｍ）は第１のスリット２Ａを透過することができるが、第１のレーザ光よりも波長の長い基本波（１０６４ｎｍ）のレーザ光及び第２のレーザ光（３５５ｎｍ）は第１のスリット２Ａを透過することができない。
　一方、第２のスリット２Ｂは、第２のレーザ光（３５５ｎｍ）の回折限界に相当する幅に形成されているため、マスク５に照射する混合光の中で、第１のレーザ光（２６６ｎｍ）及び第２のレーザ光（３５５ｎｍ）は第２のスリット２Ｂを透過することができるが、第２のレーザ光よりも波長の長い基本波（１０６４ｎｍ）のレーザ光は透過することができない。
　したがって、ステップＳ２においては、上述したように遮光手段３によって第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路が閉じられた状態にあるため、マスク５の各スリット２を透過したレーザ光Ｌのうち、第２のスリット２Ｂを透過した第１のレーザ光及び第２のレーザ光は、遮光手段３によって遮断され、図４に示すように第１のスリット２Ａを透過した第１のレーザ光Ｌ１のみが対物レンズ４を通って照射対象物Ｏｂである液晶表示パネル１７の輝点欠陥の例えば青（Ｂ）に対応した液晶セル１８Ｂ上に照射する。なお、同図において、符号１８Ｒは赤（Ｒ）に対応した液晶セルであり、符号１８Ｇは緑（Ｇ）に対応した液晶セルである。
　この場合、第１のレーザ光Ｌ１は、図５に示すように、透明な対向電極基板１９を透過した後、輝点欠陥の液晶セルの例えば青色カラーフィルタ２０Ｂと該青色カラーフィルタ２０Ｂが被着された対向電極基板１９との界面近傍に集光される。これにより、青色カラーフィルタ２０Ｂの上記界面近傍部が熱分解して青色カラーフィルタ２０Ｂが対向電極基板１９から剥がれ、青色カラーフィルタ２０Ｂと対向電極基板１９との間に隙間２１が形成される。なお、同図において、符号２０Ｒは赤色カラーフィルタであり、符号２０Ｇは緑色カラーフィルタである。
　さらに、ステージ９を対物レンズ４に対してＸＹ平面に平行な面内を相対移動させて、図４に矢印で示すように、第１のレーザ光Ｌ１を輝点欠陥の液晶セル１８Ｂ内を走査させる。このようにして、図５に示すように、上記液晶セル１８Ｂの青色カラーフィルタ２０Ｂ全体を対向電極基板１９から剥離させる。
　次に、ステップＳ３においては、レーザ発振器１のパワーを第２のレーザ光Ｌ２により後述のブラックマトリクス２２を削ることができる程度まで上げると共に、遮光手段３の遮光板６Ａ，６ＢをＸ軸に沿って、図２に示す矢印Ｃ，Ｄ方向に移動して第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路を開き、図６に示すように第２のスリット２Ｂを透過した第２のレーザ光Ｌ２を上記輝点欠陥の液晶セル１８Ｂ周辺の有機物質から成るブラックマトリクス２２上に照射させる。そして、ステージ９を対物レンズ４に対してＸＹ平面に平行な面内を相対移動させながら、ブラックマトリクス２２の一部を削って黒色粉塵２３を発生させる。この場合、第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂを通過する第１のレーザ光Ｌ１もブラックマトリクス２２上に照射するが、第１のレーザ光Ｌ１は第２のレーザ光Ｌ２に比べて熱エネルギーが小さいため、第１のレーザ光Ｌ１はブラックマトリクス２２を削ることに寄与しない。
　続いて、ステップＳ４においては、レーザ発振器１のパワーを第２のレーザ光Ｌ２によってブラックマトリクス２２が削られない程度まで下げた状態で、ステージ９を対物レンズ４に対してＸＹ平面に平行な面内を相対移動させて、第１のスリット２Ａを透過した第１のレーザ光Ｌ１及び第２のスリット２Ｂを透過した第１及び第２のレーザ光Ｌ１，Ｌ２を走査し、図７に示すように上記黒色粉塵２３をブラックマトリクス２２上から上記液晶セル２０Ｂ側に移動させて上記隙間２１内に略均等に分散させる。これにより、輝点欠陥の液晶セル２０Ｂの光透過率を低下させて、輝点を目立たなくする。
　なお、上記実施形態においては、第１及び第２のレーザ光Ｌ１，Ｌ２により黒色粉塵２３を移動させる場合について説明したが、本発明はこれに限られず、ステップＳ４においては、遮光手段３により第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの通路を閉じた状態で、第１のスリット２Ａを透過する第１のレーザ光Ｌ１のみを使用して黒色粉塵２３を移動させてもよい。
　また、上記実施形態においては、第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂがそれぞれ複数本のスリット２で形成されている場合について説明したが、本発明はこれに限られず、第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂは、それぞれ１本であってもよい。
　さらに、上記実施形態においては、第１のスリット２Ａ及び第２のスリット２Ｂをレーザ光Ｌの光路上に並べて形成し、遮光手段３により第２のスリット２Ｂを通過するレーザ光Ｌの光路を開閉する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、遮光手段３を設けず、十分に離して形成した第１のスリット２Ａと第２のスリット２Ｂとを相互に移動して切り換えるようにしてもよい。
　また、上記実施形態においては、第１及び第２のスリット２Ａ，２Ｂがマスク５に形成された開口である場合について説明したが、本発明はこれに限られず、金属板に形成した横断面細長状の貫通孔であってもよい。
　さらに、上記実施形態においては、第１のスリット２Ａの回折限界光を使用して液晶表示パネル１７の青色カラーフィルタ２０Ｂを剥離する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、半導体基板等の製造プロセスにおける薄膜のリフトオフにも使用することができる。
　そして、以上の説明においては、本発明のレーザ照射装置を使用して液晶表示パネルの輝点欠陥修正方法について述べたが、本発明はこれに限られず、レーザ照射装置は、波長の異なる複数のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物に照射しようとするものであれば、如何なるものであってもよい。
　１…レーザ発振器
　２…スリット
　２Ａ…第１のスリット
　２Ｂ…第２のスリット
　３…遮光手段
　４…対物レンズ
　１７…液晶表示パネル
　１８Ａ，１８Ｂ，１８Ｇ…液晶セル
　１９…対向電極基板（基板）
　２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｇ…カラーフィルタ
　２１…隙間
　２２…ブラックマトリクス
　２３…黒色粉塵
　Ｏｂ…照射対象物
　Ｌ…レーザ光
　Ｌ１…第１のレーザ光
　Ｌ２…第２のレーザ光

Claims (7)

  1. 　波長の異なる複数のレーザ光からその照射目的に応じて波長を選択して照射対象物に照射し得るようにしたレーザ照射装置であって、
    　前記複数波長のレーザ光から成る混合光の光路上に、
    　前記複数波長のレーザ光のうち、少なくとも最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅のスリットと、
    　前記スリットを通過したレーザ光を前記照射対象物上に集光する対物レンズと、
    を備えたことを特徴とするレーザ照射装置。
  2. 　前記スリットは、前記最短波長のレーザ光の回折限界に相当する幅の第１のスリット及びそれよりも幅広の第２のスリットから成り、前記混合光の光路上に並べて形成されており、
    　少なくとも前記第２のスリットを通過するレーザ光の通路を開閉する遮光手段をさらに設けて、前記照射対象物に照射するレーザ光の波長を選択し得るようにしたことを特徴とする請求項１記載のレーザ照射装置。
  3. 　前記第１のスリットは前記混合光の光路中央部に形成され、
    　前記第２のスリットは、前記第１のスリットに平行に並べてその両側に形成されていることを特徴とする請求項２記載のレーザ照射装置。
  4. 　少なくとも前記第１のスリットは、平行に並べて複数形成されていることを特徴とする請求項２又は３記載のレーザ照射装置。
  5. 　波長の異なる第１及び第２のレーザ光を用いて液晶セルの輝点欠陥を修正する液晶表示パネルの輝点修正方法であって、
    　前記第１及び第２のレーザ光の混合光を同一の光路に出力させた状態で、
    　波長の短い前記第１のレーザ光の回折限界に相当する幅の第１のスリットを選択的に通過した前記第１のレーザ光により、前記輝点欠陥の液晶セルのカラーフィルタを基板から剥離させて両者間に隙間を形成する段階と、
    　前記第１のスリットよりも幅広の第２のスリットを通過した波長の長い前記第２のレーザ光により、前記輝点欠陥の液晶セル周辺のブラックマトリクスを削って黒色粉塵を発生させる段階と、
    　前記第１のスリットを通過した前記第１のレーザ光、又は少なくとも前記第２のスリットを通過した前記第１及び第２のレーザ光により、前記黒色粉塵を移動させて前記隙間に分散させる段階と、
    を行うことを特徴とする液晶表示パネルの輝点修正方法。
  6. 　前記第１及び第２のスリットは、前記混合光の光路上に平行に並べて形成され、
    　前記第２のスリットを通過するレーザ光の通路を遮光手段により開閉して、前記液晶表示パネルに照射するレーザ光の波長を選択し得るようにしたことを特徴とする請求項５記載の液晶表示パネルの輝点修正方法。
  7. 　少なくとも前記第１のスリットは、前記レーザ光の光路中央部に平行に並べて複数本形成され、該複数本の第１のスリットの両側に前記第２のスリットを形成したことを特徴とする請求項６記載の液晶表示パネルの輝点修正方法。
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