JP2005095904A - レーザ加工装置及び電子機器の製造方法 - Google Patents

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良彦 山内
Naoki Sugao
直樹 菅生
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Abstract

【課題】
レーザ加工における加工レーザ光の利用効率を向上する。
【解決手段】
レーザ加工装置100は、物体109の加工状態を、TVカメラ・ユニット103で撮像する。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、中心領域がレーザ光を全反射し、その周辺領域はハーフミラーとして機能する。照明用ハーフミラー108は、中心領域がレーザ光を全透過し、その周辺領域はハーフミラーとして機能する。中心領域によって、レーザ・リペア・ヘッド101からのレーザ光が効率的に物体109に照射される。一方、周辺領域によって、物体109からの照明光が、TVカメラ・ユニット103に導かれる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、レーザ加工装置及び電子機器の製造方法に関する。
近赤外光による熱加工や紫外域の光による光化学加工など、顕微鏡を利用したレーザ光による加工処理は、様々な技術分野において広く行われている。例えば、半導体マスクや液晶ディスプレイ用カラーフィルタの製造工程において、製造歩留まりを向上させるため、これらのリペア処理が行われている。レーザ加工装置の一つとして、顕微鏡観察、レーザリペア、及びTV観察を行うことができるレーザリペア付顕微鏡が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。本レーザ加工装置は、接眼光学系、TVカメラ・ユニット及び加工用レーザ・ヘッドを有している。さらに、これらの光路の交差部に、光路切り換えプリズムを有している。光路切り換えプリズムからの光は、結像レンズ及び対物レンズを通って、対象物にいたる。
この光路切り換えプリズムは、結像レンズの光軸を接眼光学系の方向とTVカメラ・ユニットの方向に2分割するプリズムと、結像レンズの光軸をレーザ・ヘッドの方向とTVカメラ・ユニットの方向に分割するプリズムを有しており、これらプリズムを光路に対して切り換えて挿入できるようになっている。一方の対物レンズを挿入することによって、レーザレーザ・ヘッドからのレーザ光が対象物にいたる。さらに、対象物からの観察像は、プリズムを透過され、TVカメラ・ユニットの撮像面に結像され、モニター上に対象物の像及び可変スリットのスリット像を写し出し、この状態で、レーザ加工の範囲を設定することで、レーザ・ヘッドからのレーザ光により対象物の所望部分の修正を行う。
一方、顕微鏡観察とTV観察を同時に行いたい場合は、他方のプリズムが光路に入るように切り換える。すると、対象物からの観察像は、プリズムにより偏向され接眼レンズで結像される。同時に、対象物からの観察像は、プリズムを透過され、TVカメラ・ユニットの撮像面にも結像され、モニターに対象物の像を写し出し、TV観察も可能としている。光路切り換えプリズムのプリズムを光路上で切り換えることで、レーザリペアとTV観察、あるいは、顕微鏡観察とTV観察を同時に行うことができる。
他のレーザ加工装置の例として、図7は、液晶ディスプレイ用カラーフィルタのリペアなどに適用可能な典型的なレーザ加工装置の光学構成を模式的に示している。レーザ加工装置700は、レーザ光によって物体を加工すると同時に、TVカメラを使用することによって、被加工物体をリアルタイムに観察することができる。図7において、701はTVカメラ・ユニット、702はレーザ・リペア・ヘッド、703は照明用光源、704は全反射ミラー、705はカメラ用ハーフミラー、706は照明用ハーフミラー、707は対物レンズ、708は物体、709は物体が載置されるステージである。
レーザ・リペア・ヘッド702からの加工レーザ光は、全反射ミラー704によって全反射され、カメラ用ハーフミラー705に入射する。カメラ用ハーフミラー705によって約半分の加工レーザ光が反射され、反射光が照明用ハーフミラー706に入射する。約半分の加工レーザ光が照明用ハーフミラー706を透過し、対物レンズ707によって物体708に集光される。これによって、物体708の必要な箇所がリペア処理される。
一方、照明用光源703からの照明光は、照明用ハーフミラー706に入射し、入射光の約半分が反射され、対物レンズ707によって物体708に集光される。物体708から反射された照明光は、対物レンズ707、照明用ハーフミラー706及びカメラ用ハーフミラー705を通過して、TVカメラ・ユニット701に受光される。照明用ハーフミラー706及びカメラ用ハーフミラー705のそれぞれにおいて、照明光の光量が約50%に減衰される。TVカメラ・ユニット701は受光した光に応じて画像信号を生成する。
特開平8−290280号公報
上記のように、照明光と加工レーザ光の光路をハーフミラーによって重ねあわせる、あるいは、これらの光路を分離することによって、レーザ光源と観察系を備える加工装置を形成することができる。しかし、加工装置700のように、ハーフミラーを使用してレーザ光の一部を反射、もしくは一部を透過すると、物体へ照射されるレーザ光量は大きく減衰される。
図7の例において、レーザ・リペア・ヘッド702からのレーザ光は、カメラ用ハーフミラー705によって約50%の光量が反射される。さらに、反射光のうちの50%の光量が、照明用ハーフミラー706を透過する。その結果、物体708に照射される加工レーザ光量は、レーザ・リペア・ヘッド702からの出力の25%に減衰されてしまう。このため、より大きなパワーのレーザが必要とされる。従って、本発明の一つの目的は、レーザ加工における加工レーザ光の利用効率を向上することである。本発明の他の目的は、物体の観察が可能なレーザ加工装置において、観察像の必要な品質を維持しつつ加工レーザ光の利用効率を向上することである。
以下に本発明に関する課題を解決するための手段を開示する。以下の記載において、理解の容易化のために、発明を実施するための最良の形態において開示された要素が例示されているが、本発明は例示された要素に限定されるものではないことはもちろんである。また、以下の記載において、一つの要素から他の要素が光を受光する場合、直接に受光するほか、他の光学手段を介して受光する場合も含むものである。
本発明の第1の態様は、レーザ光によって物体を加工するレーザ加工装置であって、前記物体を加工するための加工レーザ光を出力するレーザ光源と、前記物体の状態に関する情報を得るための照明光を発光する照明用光源と、入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域を有する光学手段(例えば、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー603)と、を備え、前記光学手段は、前記分離領域よりも高い反射率で加工レーザ光を反射する反射領域を、前記分離領域の内側に有している。この構成を有することによって、物体の状態に関する情報を得ると共に、加工レーザ光の利用効率を向上することができる。
前記光学手段の反射領域によって反射された加工レーザ光を受光する第2の光学手段(例えば、照明用ハーフミラー108)をさらに備え、前記第2の光学手段は、入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域と、前記分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い透過率で前記加工レーザ光を前記物体に向けて透過する透過領域とを有していることができる。あるいは、前記光学手段の反射領域によって反射された加工レーザ光を受光する第2の光学手段(例えば、第2カメラ用ハーフミラー602)をさらに備え、前記第2の光学手段は、入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域と、前記分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い反射率で前記加工レーザ光を前記物体に向けて反射する反射領域とを有していることができる。これによって、加工レーザ光をより効率的に利用することが可能となる。
前記反射領域は前記加工レーザ光の波長を選択的に反射するダイクロイックミラーで構成されていることができる。これによって、照明光をより効率的に利用することができる。
本発明の第2の態様は、レーザ光によって物体を加工するレーザ加工装置であって、物体を加工するための加工レーザ光を出力するレーザ光源と、物体の状態に関する情報を得るための照明光を発光する照明用光源と、入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域を有している光学手段(例えば、照明用ハーフミラー108)と、を備え、前記光学手段は、前記分離領域よりも高い透過率で前記加工レーザ光を透過する透過領域を、前記分離領域の内側に有している。この構成を有することによって、物体の状態に関する情報を得ると共に、加工レーザ光の利用効率を向上することができる。
上記第1もしくは第2態様において、前記光学手段は無限遠系内に配置されていることが好ましい。これによって、照明光による観察像品質の低下を抑制することができる。あるいは、前記レーザ加工装置は、前記レーザ光源からの複数の波長の光を使用して前記物体の加工を行うことができる。
あるいは、前記分離領域によって分離された照明光の一方は物体に照射され、他の一方は物体の状態を撮像する撮像手段に受光されることができる。
本発明の第3の態様は、電子機器の製造方法であって、物体をステージに配置するステップと、光学手段の分離領域において照明光の一部を反射するステップと、前記光学手段の分離領域において照明光の一部を透過するステップと、前記光学手段の分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い反射率で加工レーザ光を反射するステップと、前記反射された加工レーザ光を前記物体に照射し、前記物体を加工するステップと、物体の状態に関する情報を得るため、前記反射するステップにおいて反射された光、もしくは、前記透過するステップにおいて透過された光の一方を受光するステップを有する。この構成を有することによって、物体の状態に関する情報を得ると共に、加工レーザ光の利用効率を向上することができる。
本発明の第4の態様は、電子機器の製造方法であって、物体をステージに配置するステップと、光学手段の分離領域において照明光の一部を反射するステップと、前記光学手段の分離領域において照明光の一部を透過するステップと、前記光学手段の分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い透過率で加工レーザ光を透過するステップと、前記透過された加工レーザ光を前記物体に照射し、前記物体を加工するステップと、物体の状態に関する情報を得るため、前記反射するステップにおいて反射された光、もしくは、前記透過するステップにおいて透過された光の一方を受光するステップを有する。この構成を有することによって、物体の状態に関する情報を得ると共に、加工レーザ光の利用効率を向上することができる。
本発明によれば、レーザ加工における加工レーザ光の利用効率を向上することができる。
以下に、本発明を適用可能な実施の形態が説明される。以下の説明は、本発明の実施形態を説明するものであり、本発明が以下の実施形態に限定されるものではない。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、当業者であれば、以下の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。
実施の形態1.
図1は、本発明の一例である、レーザ加工装置の概略構成を模式的に示す構成図である。レーザ加工装置100は、例えば、液晶ディスプレイ用カラーフィルタのリペア処理に利用することができる。以下、リペア処理を例として、レーザ加工装置100について説明する。レーザ加工装置100は、レーザ光によって物体をリペア処理する他、物体の状態をリアルタイムに観察することができる撮像系を備えている。これによって、加工レーザ光とリペア部の位置合わせ、あるいは、リペア状態の確認などを行うことができる。
図1において、101はレーザ・リペア・ヘッド、102は全反射ミラーである。レーザ・リペア・ヘッド101は、例えば、YAGレーザを使用することができる。YAGレーザは、複数の波長の光を出力することができ、典型的には、基本波(1064nm)、第二高調波(532nm)、あるいは第三高調波(355nm)が利用される。例えば、液晶ディスプレイ用カラーフィルタのリペア処理においては、これらの波長から、ブラックマトリックス、カラーフィルタ層などのリペア対象に応じて、適切な波長が選択される。例として、樹脂ブラックマトリックスには第三高調波(355nm)を使用し、所定色のカラーフィルタ層に第二高調波(532nm)を使用することができる。
103は物体の状態を撮像するTVカメラ・ユニットである。TVカメラ・ユニットは、例えば、CCDを使用することによって、物体のリペア部の状態を撮像することができる。TVカメラ・ユニットからの動画像データを表示装置によって表示することによって、リペア部をリアルタイムに観察することができる。104は物体を観察し、物体の状態に関する情報を得るために使用される照明用光源である。TVカメラ・ユニット103による高品質の撮像画像を得るため、好ましくは、照明用光源104は可視光全域の光を出力する。照明用光源104好ましい一例として、キセノンランプを使用することができる。
105は対物レンズ、106は対物レンズとの間で無限遠系を形成する結像レンズである。尚、本明細書において、レンズとは、一枚の単一レンズ及び複数のレンズから構成されるレンズを含む。107は、TVカメラ・ユニット103によって受光される照明光を透過するTVカメラ・ユニット用ハーフミラーである。108は、照明用光源104からの照明光の一部を反射し、一部を透過する照明用ハーフミラーである。ハーフミラー107、108は、入射した一部の照明光を反射し、他の一部の照明光を透過する。109はリペア処理される物体、110は物体109が載置されるステージである。ステージ110は、光軸方向(Z方向)、および、光軸方向と垂直なステージ平面内方向(X−Y方向)に移動することができる。これにより、物体109の必要なリペア部に加工レーザ光を照射することができる。
図2は、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107及び照明用ハーフミラー108の概略構成を示す平面図である。図2(a)に示すように、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、所定面積を有する中心領域201及び中心領域201の周囲を囲むように形成された周辺領域202を備えている。周辺領域202は、入射光の一部を透過し、一部を反射する、入射光の分離機能を有している。中心領域201は、周辺領域202とは、異なる光の透過率もしくは反射率を有している。具体的には、中心領域201の反射率は周辺領域202の反射率よりも大きい。これによって、リペア・レーザ・ヘッド101からの加工レーザ光が中心領域201に入射することによって、加工レーザ光を効率的に反射すると同時に、物体からの照明光を主に周辺領域202において透過することによって、TVカメラ・ユニットによる撮像を可能とすることができる。
周辺領域202は、入射光を分離する典型的なハーフミラーとしての機能を備えており、入射した光のうち、実質的に50%の光が反射され、50%の光が透過する。中心領域201は、周辺領域202よりも反射率が高く(透過率が小さい)、好ましくは、90%以上の反射率を備えている。全反射を行う典型的なフルミラーは、約90−95%の反射率を備えており、中心領域201はそれに相当する反射率を有していることが好ましい。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、ガラス基板上にアルミニウムなどの金属膜を蒸着することによって形成することができる。蒸着膜厚を選択することによって、中心領域201及び周辺領域202の反射率を所望の値に設定することができる。
中心領域201の反射率を周辺領域202の反射率よりも大きなものとするため、中心領域201の蒸着膜厚は周辺領域202よりも厚く形成される。あるいは、中心領域201と周辺領域202との間において異なる反射材料を使用することによって、中心領域201の反射率を大きくすることができる。中心領域201の寸法は、リペア・レーザ・ヘッド101からのレーザ光束の断面と実質的の同一、もしくは、わずかにそれよりも大きいことが好ましい。レーザ光を効率的に反射するため、レーザ光束に対して中心領域201の寸法がマージンを有することが好ましいが、観察に使用される画像の品質低下を考慮して、TVカメラ・ユニット103による照明光の受光量が大きく減少しないように中心領域201の寸法が設定される。例えば、中心領域201は約3mm角の矩形とすることができる。
図1に示された例において、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、周辺領域202に反射層を形成しない全透過領域とすることができる。これぬいよって、周辺領域202において、実質的に全ての照明光が透過することができ、照明光のTVカメラ・ユニット103による受光量を増加させることができる。尚、この場合、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、ハーフミラーとしては機能しない。
照明用ハーフミラー108は、図2(b)に示すように、所定面積を有する中心領域203及び中心領域の周囲を囲むように形成された周辺領域204を備えている。周辺領域204は、入射光の一部を透過し、一部を反射する、入射光の分離機能を有している。中心領域203は、周辺領域204とは、異なる光の透過率もしくは反射率を有している。具体的には、中心領域203の透過率は周辺領域204の透過率よりも大きい。これによって、リペア・レーザ・ヘッド101からのレーザ光が中心領域203に入射することによって、加工レーザ光が物体109に向けて効率的に透過し、さらに、照明用光源104からの照明光を物体109に向けて効率的に反射することができる。
中心領域203は周辺領域204よりも透過率が高く(反射率が小さい)、好ましくは、約90%以上の透過率を備えている。透過率を高めることによって、リペア・レーザ・ヘッド101からの加工レーザ光をより効率的に利用することができる。中心領域203のガラス基板上に蒸着膜を形成しないことによって、全透過領域とすることができる。周辺領域204は、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107と同様に、入射した光のうち、実質的に50%の光を反射し、50%の光を透過する、通常のハーフミラーの分離機能を有することが好ましい。
レーザ加工装置100の動作時における、光線状態について図1を参照して説明する。リペア・レーザ・ヘッド101から出力された加工レーザ光は、反射ミラー102によって反射され、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107に入射する。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の中心領域201において反射された加工レーザ光は結像レンズ106に入射する。加工レーザ光は結像レンズ106によって平行光とされ、照明用ハーフミラー108に入射する。照明用ハーフミラー108の中心領域203を透過したレーザ光は、対物レンズ105によって物体109上に集光され、リペア処理を行う。
照明用光源104からの照明光は、照明用ハーフミラー108に入射する。入射光の一部が照明用ハーフミラー108に反射され、対物レンズ105に入射する。対物レンズ105に入射した照明光は、物体109上に集光される。照明光は物体109によって反射され、対物レンズ105に再び入射する。照明光は対物レンズ105によって拡大され、平行光として対物レンズ105から出射する。光の一部は照明用ハーフミラー108を透過し、結像レンズ106に入射する。結像レンズ106からの光はTVカメラ・ユニット用ハーフミラー107に入射し、主に周辺領域202を透過する。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の透過光はTVカメラ・ユニット203によって受光され、物体109の状態を示す動画像データが生成される。
ハーフミラー107、108における光線状態について図3を参照して説明する。図3(a)は、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107における、加工レーザ光301および照明光302の光線状態を説明するための図である。また、図3(b)は、照明用ハーフミラー108における、加工レーザ光301および照明光302の光線状態を説明するための図である。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107を結像レンズ106の近傍に配置する場合、図3(a)に示すように、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107における加工レーザ光301と照明光302は、実質的に平行光と考えることができる。
図3(a)において、加工レーザ光301はTVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の中心領域201に入射する。レーザ光はビーム径が小さく、集光性が高いため、実質的に全ての加工レーザ光301を、中心領域201に入射することができる。中心領域201に入射した加工レーザ光301は、例えば、約90%以上の高反射率において物体109方向に反射される。一方、物体109によって反射された照明光302は、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の中心領域201及び周辺領域202に入射する。
照明光302は、中心領域201あるいはレーザ加工光301と比較して、光束断面積が大きいため、その多くの部分がTVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の周辺領域202に入射する。周辺領域202は、入射光を空間的に分離する分離領域として機能し、例えば、約50%の照明光302が周辺領域202を透過して、TVカメラ・ユニット103に入射し、約50%の照明光302が反射される。
図3(b)に示すように、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107と同様に、照明用ハーフミラー108において、実質的に全ての加工レーザ光301を中心領域203に入射することができる。照明用ハーフミラー108の中心領域203は、例えば反射層が形成されていない場合、全透過領域として、約90%以上の加工レーザ光301を透過することができる。照明用光源104からの照明光302は、照明用ハーフミラー108の中心領域203及び周辺領域204に入射する。
照明光302の多くは周辺領域204に入射し、例えば、周辺領域204に入射した約50%の照明光302が対物レンズ105方向に反射される。さらに、物体109によって反射された照明光302は、対物レンズ105によって平行光とされた後、照明用ハーフミラー108に入射する。照明光302の多くは周辺領域204に入射し、約50%の照明光302が透過し、一部の照明光302光は中心領域203を透過する。
ここで、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107の中心領域の反射率と照明用ハーフミラー108の中心領域の透過率が、それぞれ90%である場合、物体109に照射される加工レーザ光の光量は約80%となる。これは、従来のハーフミラーを使用した加工装置における、50%×50%=25%と比較して、本形態の加工レーザ光の照射光量が3倍以上であることを示している。一方、照明光は加工レーザ光よりも光束断面積が大きく、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107もしくは照明用ハーフミラー108の周辺領域において、透過もしくは反射される。これによって、TVカメラ・ユニット103による撮像のための十分な光量を得ることができる。
本形態のレーザ加工装置は、特に、複数の異なる波長の光を使用してレーザ光加工を行う加工装置に好適である。カメラを使用して物体の加工状態を観察するため、撮像光と加工レーザ光の光路と重複させる場合、光学素子を使用してこれらの光を分離する構成が必要とされる。光を分離する手段としては、本形態において説明されたようにハーフミラーを使用する構成他に、ダイクロイックミラーを使用することができる。しかし、可視光を透過し、加工に使用される複数の波長の光を選択的に反射するダイクロイックミラーを構成することは一般に困難である。従って、本例のように、YAG基本波(1064nm)、第二高調波(532nm)、及び第三高調波(355nm)を使用するリペア装置などに、本形態の光学系は特に有用である。
あるいは、加工レーザ光が可視光の波長域に含まれる光を使用する場合に、本形態のレーザ加工装置は好適である。使用される加工レーザ光が可視光である場合、ダイクロイックミラーによって撮像光の一部が反射されるため、画像の一部の色が他の色と比較して欠落する。従って、本形態のハーフミラーを使用することによって、観察のための画像品質を維持しつつ、加工レーザ光の照射光量を増加させることができる。
一方、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107において、中心領域201を、レーザ光波長の光を反射するダイクロイックミラーで形成することが可能である。特に、上記に説明したように、加工レーザ光の波長が可視光域外にある場合、あるいは、加工レーザ光として単一波長又は波長差の小さい複数の波長の光を使用する場合に好適である。この場合、ダイクロイックミラーは、使用される加工レーザ光の波長の光を選択的に反射する。また、ダイクロイックミラーは、可視光全域にわたる照明光を透過することによって、観察のための画像品質を向上することができる。
尚、本形態においては、リペア装置を例としてレーザ加工装置を説明したが、本発明は欠陥修正限らず、樹脂にレーザ光を照射して加工する装置など、レーザ光をエネルギーとして照射する様々な加工装置に適用することができる。リペア装置を含め、電子機器の製造に本発明を適用することができる。電子機器の製造工程においては、例えば、ステージ110に設置された電子機器の部品が本発明の加工装置によって加工処理される。本形態のレーザ加工装置に、例えば、物体の高さ方向における情報を取得することができる共焦点光学系など、他の光学系を追加することが可能である。また、反射照明系の他、透過照明系を使用する加工装置に本発明を適用することが可能である。
また、TVカメラ・ユニット103とレーザ・リペア・ヘッド101の位置を入れ替えることができる。この場合において、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、照明用ハーフミラー108と同一の構成を有する。つまり、中心領域が高透過率領域として形成される。これによって、レーザ・リペア・ヘッド101が物体109の直上に配置された場合に、レーザ光を効率的に利用することができる。また、TVカメラ・ユニット103に代えて、物体の状態に関する情報を得るため、他の構成の撮像装置や、接眼系などの他の受光手段を使用することができる。
実施の形態2.
図4は、本発明の好ましい他の形態に係る、レーザ加工装置400の概略構成を模式的に示す構成図である。図4において、図1と同様の要素については同一の符号が付されている。また、これらについての説明は、必要ない場合は省略される。レーザ加工装置400において、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、結像レンズ106と対物レンズ105との間に配置されている。また、図4において、401はリペア・レーザ・ヘッドからの加工レーザ光を平行光として出射する結像レンズである。
TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107、あるいは、照明用ハーフミラー108のように、中心領域と周辺領域の間において透過率もしくは反射率の異なるハーフミラーは、本形態において示されるように、レーザ加工装置における無限遠系内に配置されることが好ましい。図5に示すように、対物レンズ105と結像レンズ106の間は無限遠系となっており、加工レーザ光および照明光は系内を平行光となって伝播する。このように、無限遠系内においては像が結ばれることがないため、撮像に使用される観察用光の光路上に物体が挿入されることによってコントラストの低下が起きるが、撮像画像に影が形成されることがない。
TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107、及び、照明用ハーフミラー108を通過した照明光は、中心領域に対応する部分と周辺領域に対応する部分の間において、無限遠系内において異なる光量を有している。これによって、TVカメラ・ユニットによって撮像される画像のコントラスト低下が起こるが、中心領域に対応する影が撮像画像内に実質的に観察されることがない。これによって、加工レーザ光の照射光量を増加させることができると同時に、観察画像の必要な画像品質を維持することができる。
図1においては、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107は、結像レンズ106とTVカメラ・ユニット103の間に配置されている。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107が無限遠系内に配置されていないことから、図4に示されたレーザ加工装置400と比較して、画像品質の低下が考えられる。しかし、結像レンズ106近傍においては、光が平行光に極めて近い状態にあるので、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107を結像レンズ106近傍に配置することによって、画像内の影の形成による実質的な画像品質の低下を防止することができる。好ましくは、結像レンズ106とTVカメラ・ユニット用ハーフミラー107との間に他の光学素子を配置することなく、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107を結像レンズ106に近づけて配置することが好ましい。
実施の形態3.
図6は、本発明の好ましい他の形態に係るレーザ加工装置600の概略構成を模式的に示す構成図である。図6において、図1もしくは図4と同様の要素については同一の符号が付されている。また、これらについての説明は、必要ない場合は省略される。レーザ加工装置600において、601は第2のカメラである。例えば、第2のカメラ601としてCCDカメラを使用し、共焦点系を構成することができる。
602は第2カメラ用ハーフミラー、603はTVカメラ・ユニット用ハーフミラーであって、これらは、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー107と実質的に同様の構造を有している。尚、本例において、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー603は照明光を分離する必要がないため、周辺領域を実質的な全透過領域として形成することができる。604は全反射ミラーである。605、606は結像レンズであって、結像レンズ605、606のそれぞれと対物レンズ105との間は無限遠系となっている。
加工処理における光線状態について説明する。レーザ・リペア・ヘッド101からの加工レーザ光は結像レンズ605を透過し、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー603の中心領域において実質的に全反射される。反射された加工レーザ光は第2カメラ用ハーフミラー602の中心領域に入射する。第2カメラ用ハーフミラー602の中心領域で実質的に全反射された加工レーザ光は、照明用ハーフミラー108の中心領域を透過し、対物レンズ105により物体109上に集光される。これによって、物体109の所望部がリペア処理される。
一方、物体109によって反射され、照明用ハーフミラー108を透過した照明光は、第2カメラ用ハーフミラー602に入射する。第2カメラ用ハーフミラー602の周辺領域を、約半分の照明光が透過する。結像レンズ106を透過した照明光は、第2のカメラによって受光され、物体の測定などの観察に利用される。一方、第2カメラ用ハーフミラー602の周辺領域において約半分の照明光が反射され、入射照明光が分離される。この反射光は、TVカメラ・ユニット用ハーフミラー603に入射する。TVカメラ・ユニット用ハーフミラー603の周辺領域に入射した照明光の約半分の光が、周辺領域を透過し、全反射ミラー604に反射されて後、TVカメラ・ユニット103によって受光される。
本形態のように、レーザ加工ユニットの他に、複数の観察系を備える加工装置において、本発明によれば、観察像の品質を一定以上に維持しつつ、加工レーザ光の利用効率を上げることができる。尚、本形態の光学系において、いくつかの要素の配置を変更することが可能である。例えば、照明用ハーフミラー108を、第2カメラ用ハーフミラー602と第2カメラ601との間に配置することができる。この場合、照明用ハーフミラー108は通常のハーフミラー構成とすることができる。
第1の実施の形態に係るレーザ加工装置の構成を模式的に示す、構成図である。 第1の実施の形態に係るレーザ加工装置において使用されるハーフミラー構成を模式的に示す平面図である。 第1の実施の形態のハーフミラーにおける光線状態を示す図である。 第2の実施の形態に係るレーザ加工装置の構成を模式的に示す、構成図である。 第2の実施の形態に係るレーザ加工装置における、無限遠系の光線状態を示す図である。 第3の実施の形態に係るレーザ加工装置の構成を模式的に示す、構成図である。 背景技術としての加工装置の構成を示す構成図である。
符号の説明
100 レーザ加工装置、101 レーザ・リペア・ヘッド、102 反射ミラー、
103 TVカメラ・ユニット、104 照明用光源、105 対物レンズ、
106 結像レンズ、107 TVカメラ・ユニット用ハーフミラー、
108 照明用ハーフミラー、109 物体、110 ステージ、201 中心領域、
202 周辺領域、203 中心領域、204 周辺領域、301 加工レーザ光、
302 照明光、401 結像レンズ、600 レーザ加工装置、
601 第2のカメラ、602 第2カメラ用ハーフミラー、
603 TVカメラ・ユニット用ハーフミラー、604 全反射ミラー、
605、606 結像レンズ、701 TVカメラ・ユニット、
702 レーザ・リペア・ヘッド、703 照明用光源、704 全反射ミラー、
705 ハーフミラー、706 ハーフミラー、707 対物レンズ、708 物体、
709 ステージ

Claims (10)

  1. レーザ光によって物体を加工するレーザ加工装置であって、
    前記物体を加工するための加工レーザ光を出力するレーザ光源と、
    前記物体の状態に関する情報を得るための照明光を発光する照明用光源と、
    入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域を有する光学手段と、を備え、
    前記光学手段は、前記分離領域よりも高い反射率で加工レーザ光を反射する反射領域を、前記分離領域の内側に有している、レーザ加工装置。
  2. 前記光学手段の反射領域によって反射された加工レーザ光を受光する第2の光学手段をさらに備え、
    前記第2の光学手段は、
    入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域と、
    前記分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い透過率で前記加工レーザ光を前記物体に向けて透過する透過領域と、を有している、
    請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 前記光学手段の反射領域によって反射された加工レーザ光を受光する第2の光学手段をさらに備え、
    前記第2の光学手段は、
    入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域と、
    前記分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い反射率で前記加工レーザ光を前記物体に向けて反射する反射領域と、を有している、
    請求項1に記載のレーザ加工装置。
  4. レーザ光によって物体を加工するレーザ加工装置であって、
    前記物体を加工するための加工レーザ光を出力するレーザ光源と、
    前記物体の状態に関する情報を得るための照明光を発光する照明用光源と、
    入射照明光の一部を反射し他の一部を透過することによって、前記入射照明光を空間的に分離する分離領域を有している光学手段と、を備え、
    前記光学手段は、前記分離領域よりも高い透過率で前記加工レーザ光を透過する透過領域を、前記分離領域の内側に有している、レーザ加工装置。
  5. 前記光学手段は無限遠系内に配置されている、請求項1又は4に記載のレーザ加工装置。
  6. 前記反射領域は前記加工レーザ光の波長を選択的に反射するダイクロイックミラーで構成されている、請求項1に記載のレーザ加工装置。
  7. 前記レーザ加工装置は、前記レーザ光源からの複数の波長の光を使用して前記物体の加工を行う、請求項1又は4に記載のレーザ加工装置。
  8. 前記分離領域によって分離された照明光の一方は物体に照射され、他の一方は物体の状態を撮像する撮像手段に受光される、請求項1又は4に記載のレーザ加工装置。
  9. 電子機器の製造方法であって、
    物体をステージに配置するステップと、
    光学手段の分離領域において照明光の一部を反射するステップと、
    前記光学手段の分離領域において照明光の一部を透過するステップと、
    前記光学手段の分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い反射率で加工レーザ光を反射するステップと、
    前記反射された加工レーザ光を前記物体に照射し、前記物体を加工するステップと、
    物体の状態に関する情報を得るため、前記反射するステップにおいて反射された光、もしくは、前記透過するステップにおいて透過された光の一方を受光するステップと、
    を有する電子機器の製造方法。
  10. 電子機器の製造方法であって、
    物体をステージに配置するステップと、
    光学手段の分離領域において照明光の一部を反射するステップと、
    前記光学手段の分離領域において照明光の一部を透過するステップと、
    前記光学手段の分離領域の内側に形成され、前記分離領域よりも高い透過率で加工レーザ光を透過するステップと、
    前記透過された加工レーザ光を前記物体に照射し、前記物体を加工するステップと、
    物体の状態に関する情報を得るため、前記反射するステップにおいて反射された光、もしくは、前記透過するステップにおいて透過された光の一方を受光するステップと、
    を有する電子機器の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006326629A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Hoya Candeo Optronics株式会社 レーザー加工装置およびそれを用いたレーザー加工方法
CN101844276A (zh) * 2010-03-05 2010-09-29 中国电子科技集团公司第四十五研究所 紫外激光加工光学传导装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006326629A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Hoya Candeo Optronics株式会社 レーザー加工装置およびそれを用いたレーザー加工方法
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