WO2012060414A1

WO2012060414A1 - 高電圧試験装置

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Publication number: WO2012060414A1
Application number: PCT/JP2011/075303
Authority: WO
Inventors: 和之大岩; 大亮八木
Original assignee: 矢崎総業株式会社
Priority date: 2010-11-02
Filing date: 2011-11-02
Publication date: 2012-05-10
Also published as: EP2642306A1; EP2642306B1; US20130241571A1; CN103201643A; EP2642306A4; JP2012098174A; CN103201643B; JP5795470B2

Abstract

　コンデンサを内蔵した同軸ケーブルを試験する場合であっても、コンデンサを破壊することなくケーブル全体の試験を簡単な操作で可能にする。　芯線（１１ａ）と絶縁されたシールド導体（１１ｂ）とで構成される同軸ケーブル（１１）を検査対象とし高電圧を印加して電気絶縁状態に関する試験を行う高電圧試験装置であって、高電圧を出力する試験機の出力の２つの出力電極（３１、３２）を、検査対象の前記同軸ケーブルの中心導体およびシールド導体とそれぞれ接続する高電圧試験用治具（２０）を有し、前記ケーブル接続部が、前記同軸ケーブルの芯線（１１ａ）の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡する芯線短絡部（Ｐ１）と、前記同軸ケーブルのシールド導体（１１ｂ）の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡するシールド線短絡部（Ｐ２）と、を備える。

Description

高電圧試験装置

　本発明は、同軸状ケーブルを検査対象とし、前記同軸状ケーブルの中心導体（芯線）とシールド導体との間に高電圧を印加して電気絶縁状態に関する試験を行う高電圧試験装置に関する。

　例えば、ラジオやテレビ等の無線装置の入力とアンテナとを接続する場合には、一般的に同軸ケーブルが用いられる。この種の同軸ケーブルは、太さが一定の中心導体と所定の絶縁材料を間に挟んで前記中心導体の周囲を囲むように筒状に配置されたシールド導体とで構成される。車載ラジオ受信機等の入力とアンテナ等を接続する場合にもこのような同軸ケーブルが用いられる。

　また、例えば特許文献１に記載されているように、同軸ケーブルの中心導体の一部分にコンデンサが挿入されている場合もある。

　一方、使用者は、この種の同軸ケーブルのような電線を様々な用途で使用する場合には、電線の安全性や品質を保証するために電気的な検査を実施する必要がある。具体的には、使用者は、同軸ケーブルの中心導体とシールド導体との間の絶縁性が確保されていることを確認する。そして、使用者は、これらの間に直流の高電圧（例えば１０００Ｖ）を印加して絶縁抵抗を測定したり、商用交流電源と同等の周波数（例えば５０Ｈｚ）の交流電圧（例えば振幅が１０００Ｖ）を印加して耐圧に問題がないことを確認する。

　また、例えば特許文献２においては、配電盤における電線の電気絶縁物の劣化を監視するための絶縁監視装置が開示されている。すなわち、絶縁劣化によって発生する部分放電に伴い放射される電磁波を配電盤内に配置したアンテナを用いて検出し、これを監視する技術が開示されている。

日本国特開２００１－２０２８３６号公報日本国特開２００５－２６５６８４号公報

　例えば一般的な同軸ケーブルの絶縁抵抗を測定する場合には、絶縁抵抗試験機の２つの電極を検査対象の同軸ケーブルの中心導体およびシールド導体と接続し、これらの電極に所定の電圧を印加することで簡単に試験を行うことができる。

　しかしながら、前述のように中心導体の一部分にコンデンサが挿入されている同軸ケーブルを試験する場合には様々な問題が発生する可能性がある。すなわち、同軸ケーブルの長さ方向の一端と他端の間がコンデンサによって直流的には分離されているので、同軸ケーブルの一端の中心導体およびシールド導体に絶縁抵抗試験機の２つの電極を接続しただけでは、同軸ケーブルの一端からコンデンサの一端までの範囲だけしか試験することができない。従って、同軸ケーブルの一端側の試験が終了した後で、絶縁抵抗試験機の２つの電極を同じ同軸ケーブルの他端の中心導体およびシールド導体に繋ぎ替えて再び試験を行うことになる。

　また、絶縁抵抗試験や耐圧試験を実施する場合には、一般的には１０００Ｖ程度の高電圧を印加することになる。同軸ケーブルに内蔵されているコンデンサ自体の耐圧はせいぜい５０Ｖ程度であるのが一般的である。このため、作業員が試験の際に誤った接続操作を行った場合や、同軸ケーブル自体の絶縁特性に問題があるような場合には、同軸ケーブルのコンデンサが過大な電圧の印加によって破壊される可能性もある。

　本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、コンデンサを内蔵した同軸ケーブルを試験する場合であっても、コンデンサを破壊することなく、ケーブル全体の試験を簡単な操作で可能にする高電圧試験装置を提供することにある。

　前述した目的を達成するために、本発明に係る高電圧試験装置は、下記（１）～（４）を特徴としている。
（１）　中心導体と所定の絶縁材料を間に挟んで前記中心導体の周囲を囲むように配置されたシールド導体とで構成される同軸状ケーブルを検査対象とし、前記同軸状ケーブルの中心導体とシールド導体との間に高電圧を印加して電気絶縁状態に関する試験を行う高電圧試験装置であって、
　高電圧を出力する試験機の出力の２つの電極を、検査対象の前記同軸状ケーブルの中心導体およびシールド導体とそれぞれ接続するケーブル接続部を有し、
　前記ケーブル接続部が、前記同軸状ケーブルの中心導体の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡する芯線短絡部と、前記同軸状ケーブルのシールド導体の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡するシールド線短絡部と、を更に備えること。
（２）　上記（１）に記載の高電圧試験装置であって、
　前記試験機の出力と前記ケーブル接続部の入力との間に接続され、少なくとも１つの抵抗器および少なくとも１つのコンデンサを含む時定数回路を更に備えること。
（３）　上記（２）に記載の高電圧試験装置であって、
　前記時定数回路は、異常な高電圧を吸収するサージ除去回路を備えること。
（４）　上記（１）に記載の高電圧試験装置であって、
　前記ケーブル接続部が、検査対象の前記同軸状ケーブルの長さ方向の一端側および他端側に設けられた２つのコネクタとそれぞれ接続するための、２つ以上の同軸状コネクタを備えること。

　上記（１）の構成の高電圧試験装置によれば、検査対象の前記同軸状ケーブルにコンデンサが内蔵されている場合であっても、前記コンデンサの端子間に高電圧が印加されるのを防止することが可能である。しかも、試験用の電圧が前記芯線短絡部を介して前記同軸状ケーブルの両端に同時に印加される。従って、２回に分けて試験を行わなくても、１回の試験で前記同軸状ケーブルの全体を試験することができる。また、検査対象の前記同軸状ケーブルの長さが比較的長い場合であっても、前記コンデンサの端子間に印加される電圧が増大するのを抑制することが可能になる。
　上記（２）の構成の高電圧試験装置によれば、前記試験機から検査対象の前記同軸状ケーブルに印加される高電圧の変化速度を緩やかにすることができる。これにより、前記同軸状ケーブルの内部のインダクタ成分の影響が緩和される。従って、検査対象の前記同軸状ケーブルの長さが比較的長い場合であっても、前記コンデンサの端子間に印加される電圧が増大するのを抑制することが可能になる。
　上記（３）の構成の高電圧試験装置によれば、何らかの原因によって一時的に異常な高電圧が印加された場合に、それを前記サージ除去回路が吸収する。従って、前記コンデンサの端子間に印加される電圧が増大するのを抑制することが可能になる。
　上記（４）の構成の高電圧試験装置によれば、検査対象の前記同軸状ケーブルの両端を前記ケーブル接続部の２つの同軸状コネクタに装着するだけで安全に試験を行うことができる。すなわち、誤操作等によって前記同軸状ケーブルの内部のコンデンサに過大な電圧が印加されるのを防止できる。

　以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。

図１は、実施形態の高電圧試験装置を用いてアンテナ用ワイヤハーネスを試験する時の接続状態を示す結線図である。図２は、図１に示した電気回路の等価回路を示す電気回路図である。図３は、検査対象のアンテナ用ワイヤハーネスの構成例を示す正面図である。図４は、図１及び図３に示したアンテナ用ワイヤハーネスに試験用の電圧を印加する時に影響を及ぼす各部の回路要素の接続状態を表す模式図である。図５は、試験用の直流電圧を印加した直後のアンテナ用ワイヤハーネスの等価回路を表す電気回路図である。図６は、試験用の直流電圧を印加してから十分に時間が経過した後のアンテナ用ワイヤハーネスの等価回路を表す電気回路図である。図７は、高電圧試験用治具に時定数回路がない場合の電圧の波形を示す波形図である。図８は、高電圧試験用治具に時定数回路がある場合の電圧の波形を示す波形図である。図９は、実際の試験状態でアンテナ用ワイヤハーネス内部のコンデンサの端子間に現れた電圧波形の例を表す波形図である。図１０は、変形例の高電圧試験装置を用いてアンテナ用ワイヤハーネスを試験する時の接続状態を示す結線図である。

　本発明の高電圧試験装置に関する具体的な実施の形態について、各図を参照しながら以下に説明する。

　本実施形態の高電圧試験装置を用いてアンテナ用ワイヤハーネスを試験する時の接続状態の具体例が図１に示されている。また、本実施形態においては、代表例として、図３に示すようなアンテナ用ワイヤハーネス１０を検査対象として用いる場合を想定している。

　このアンテナ用ワイヤハーネス１０は、図３に示すように所定のラジオユニット（車載ラジオ受信機の入力）Ｘとアンテナアンプ（車載アンテナからの高周波信号を増幅する増幅器）Ｙとの間を接続するために利用される。また、図３に示すようにある程度の長さ（例えば１．６ｍ）を有する同軸ケーブル（１．５Ｃ２Ｖ）１１と、その一端１１Ａ及び他端１１Ｂにそれぞれ接続されたハーネス側コネクタ１２、１３を有している。更に、ハーネス側コネクタ１２の内側にはコンデンサ１４が内蔵されている。

　具体的には、ハーネス側コネクタ１２は日本自動車技術会規格（ＪＡＳＯ）に適合したＪＡＳＯプラグである。また、ハーネス側コネクタ１３は同軸用の高周波コネクタ（ＨＦＣ）である。

　同軸ケーブル１１は、中心部に太さが一定の導電体である芯線１１ａを有しており、その外周は所定の電気絶縁材料で覆われている。更に、この電気絶縁材料の外側に、芯線１１ａを囲むように円筒状に形成されたシールド導体１１ｂが配置されている。つまり、芯線１１ａとシールド導体１１ｂとが同軸状に配置され、これらの間が電気絶縁材料により絶縁されている。また、シールド導体１１ｂの外側は適当な外皮（絶縁体）により覆われている。

　ハーネス側コネクタ１２に内蔵されているコンデンサ１４は、同軸ケーブル１１が接続されるアンテナシステム（例えば図３では、ラジオユニットＸやアンテナアンプＹがこのアンテナシステムに相当する。）の信号源とマッチングさせるためのものであり、マッチング用補正コンデンサとして機能する。すなわち、図３に示すように、コンデンサ１４の一端は同軸ケーブル１１の一端１１Ａで芯線１１ａと接続され、コンデンサ１４の他端はハーネス側コネクタ１２の中心の電極１２ａと接続されている。この構成のように、アンテナシステムの信号源とマッチングさせるための機能がアンテナ用ワイヤハーネス１０に備わっている。

　また、ハーネス側コネクタ１２の外周の電極１２ｂは、同軸ケーブル１１の一端１１Ａでシールド導体１１ｂと接続されている。ハーネス側コネクタ１３の中心の電極１３ａは同軸ケーブル１１の他端１１Ｂで芯線１１ａと接続され、外周の電極１３ｂは同軸ケーブル１１の他端１１Ｂでシールド導体１１ｂと接続されている。

　図３に示したアンテナ用ワイヤハーネス１０を検査対象として試験する際には、これを図１に示すように高電圧試験用治具（高電圧試験装置）２０と接続する。すなわち、同軸ケーブル１１が可撓性を有するのでアンテナ用ワイヤハーネス１０をＵ字状に折り曲げて、その一端側のハーネス側コネクタ（プラグ）１２を試験機側コネクタ（ジャック）２１と機械的に及び電気的に接続し、他端側のハーネス側コネクタ（メス）１３を試験機側コネクタ（オス）２２と機械的に及び電気的に接続する。

　図１に示す高電圧試験用治具２０は、試験機側コネクタ２１、２２、および治具回路２３を備えている。試験機側コネクタ２１と試験機側コネクタ２２とは互いに近接した位置に配置されている。また、試験機側コネクタ２１の中心側電極２１ａは、芯線短絡部Ｐ１で試験機側コネクタ２２の中心側電極２２ａと接続され、試験機側コネクタ２１の外周側電極２１ｂは、シールド線短絡部Ｐ２で試験機側コネクタ２２の外周側電極２２ｂと接続されている。

　芯線短絡部Ｐ１は、治具回路２３を介して端子２４と接続され、シールド線短絡部Ｐ２は治具回路２３を介して端子２５と接続されている。治具回路２３の端子２４および２５は、それぞれ絶縁抵抗／耐圧試験機３０の出力電極３１および３２と接続されている。

　絶縁抵抗／耐圧試験機３０は、直流高電圧を用いた絶縁抵抗試験と、交流高電圧を用いた耐電圧試験を行う機能を備えている。すなわち、出力電極３１、３２の間に直流の高電圧（例えば１０００Ｖ）を印加した状態で検査対象の絶縁抵抗を測定することができる。また、出力電極３１、３２の間に低周波交流（例えば５０Ｈｚ）の高電圧（例えば１０００Ｖ）を印加した状態で検査対象に絶縁破壊が生じるか否かを識別することができる。

　図１に示した電気回路の主要部の等価回路が図２に示されている。高電圧試験用治具２０の治具回路２３は、図２に示すように時定数回路２３ａおよびサージ除去回路２３ｂを備えている。

　時定数回路２３ａは、絶縁抵抗／耐圧試験機３０が出力する直流電圧のオンオフを切り替える際の波形の立ち上がり及び立ち下がりを緩やかにするために設けてある。なお、図２に示す構成例では２個の抵抗器と３個のコンデンサを備えているが、１個の抵抗器と１個のコンデンサだけで時定数回路２３ａを構成してもよい。

　サージ除去回路２３ｂは、システム全体を保護するために設けてある。すなわち、サージ除去回路２３ｂは、何らかの原因によって一時的に異常に高い電圧（サージ電圧）が印加された場合に回路各部が破壊されないようにサージ電圧を除去する。この構成例では、互いに逆方向の極性で直列に接続した２個のダイオードでサージ除去回路２３ｂを構成してある。なお、サージ除去回路２３ｂは万一の保護用であるので、省略することもできる。

　図１及び図３に示したアンテナ用ワイヤハーネス１０に試験用の電圧を印加する時にアンテナ用ワイヤハーネス１０に影響を及ぼす各部の主要な回路要素の想定される接続状態が図４に示されている。図４に示す各回路要素の実体は次の通りである。
Ｃ１：ハーネス側コネクタ１２内部のコンデンサ１４に相当する静電容量
Ｒ　：芯線１１ａとシールド導体１１ｂの間の絶縁抵抗
Ｃ２：芯線１１ａとシールド導体１１ｂの間の浮遊容量
Ｌ　：芯線１１ａ等に存在するインダクタ成分
　従って、アンテナ用ワイヤハーネス１０の等価回路については、図２に示すようにＣ１、Ｃ２、Ｌの各成分を含んでいる。

　図１に示すように、芯線短絡部Ｐ１で試験機側コネクタ２１の中心側電極２１ａと試験機側コネクタ２２の中心側電極２２ａとを短絡することにより、コンデンサ１４の一端と他端との間を電気的に接続する。従って、定常状態ではコンデンサ１４の両端の間の電圧は０Ｖになる。しかし、試験の際に絶縁抵抗／耐圧試験機３０の出力から直流電圧を印加する場合であっても、オンオフの切り替わりの際に高電圧の立ち上がりおよび立ち下がりが発生する。このため、この時の交流成分に対して図２に示すＣ１、Ｃ２、Ｌの各成分の影響が現れ、コンデンサ１４の両端の間に高電圧が現れる可能性がある。特に、同軸ケーブル１１の長さが長い場合には、Ｃ１、Ｃ２、Ｌの各成分の影響が大きくなる可能性がある。

　試験用の直流電圧を印加した直後のアンテナ用ワイヤハーネス１０の等価回路は図５に示すように表される。すなわち、直流電圧を印加した直後には、インダクタ成分Ｌによって短い間（例えば８ｎｓ）だけ逆起電力が発生し、この影響でコンデンサ１４（Ｃ１）の両端に次式で表される電圧Ｖｃ１が現れる。
Ｖｃ１＝（印加電圧）×Ｃ２／（Ｃ１＋Ｃ２）　　・・・（１）

　また、試験用の直流電圧を印加してから十分に時間が経過した後のアンテナ用ワイヤハーネス１０の等価回路は図６に示すように表される。すなわち、直流電圧が印加されてから十分な時間が経過すると、インダクタ成分Ｌの逆起電力の影響が無くなるので、コンデンサ１４（Ｃ１）の両端は芯線短絡部Ｐ１で短絡された状態になり、コンデンサ１４（Ｃ１）の両端は同電位になる。

　つまり、高電圧試験用治具２０を用いて芯線短絡部Ｐ１でアンテナ用ワイヤハーネス１０の一端と他端とを短絡した場合であっても、前記第（１）式の電圧がコンデンサ１４に一時的に印加される。この電圧の大きさがコンデンサ１４の耐圧（例えば５０Ｖ）を超える場合にはコンデンサ１４が破壊される可能性がある。

　高電圧試験用治具２０に時定数回路２３ａがない場合の電圧の波形が図７に示されている。すなわち、アンテナ用ワイヤハーネス１０に印加される入力電圧Ｖｉｎ（Ａ点－Ｄ点間の電圧）が図７に示す波形のように急激に変化する時には、過渡状態の期間Ｔ１中にコンデンサ１４（Ｃ１）の両端に電圧Ｖｃ１が現れる。図７に示す例では、入力電圧Ｖｉｎとして５Ｖの変化を与えた時に、最大で３．８Ｖの振幅の電圧Ｖｃ１が観測された。従って、仮に１０００Ｖを入力電圧Ｖｉｎとして印加する場合には、７６０Ｖの高電圧がコンデンサ１４（Ｃ１）の両端に印加され、コンデンサ１４が絶縁破壊される。

　一方、高電圧試験用治具２０に時定数回路２３ａがある場合の電圧の波形が図８に示されている。すなわち、アンテナ用ワイヤハーネス１０に印加される入力電圧Ｖｉｎ（Ａ点－Ｄ点間の電圧）は時定数回路２３ａの影響で図８に示す波形のように立ち上がり及び立ち下がりがなだらかになっている。その結果、過渡状態の期間中でもコンデンサ１４（Ｃ１）の両端に現れる電圧Ｖｃ１はノイズレベル程度まで小さくなっている。

　実際の試験状態でアンテナ用ワイヤハーネス１０内部のコンデンサ１４（Ｃ１）の端子間に現れた電圧波形の例が図９に示されている。図９に示す例では、前記入力電圧Ｖｉｎとして直流５００Ｖを印加した時の過渡状態におけるコンデンサ１４（Ｃ１）の両端に現れる電圧Ｖｃ１が示されている。この例では、電圧Ｖｃ１の振幅の最大値が４．６８Ｖなのでコンデンサ１４の一般的な耐圧（例えば５０Ｖ）を考慮すれば全く問題はない。

　つまり、アンテナ用ワイヤハーネス１０の絶縁抵抗試験の際に、絶縁抵抗／耐圧試験機３０が出力する直流高電圧（例えば１０００Ｖ）を急激にオンオフする場合であっても、高電圧試験用治具２０に時定数回路２３ａを搭載することで、過渡状態において耐圧を超える高電圧がコンデンサ１４の端子間に印加されるのを防止することができる。なお、絶縁抵抗／耐圧試験機３０の出力する電圧の変化が緩やかな場合や、同軸ケーブル１１の長さが比較的短い場合のようにインダクタ成分Ｌの影響が小さい場合には、時定数回路２３ａがなくても問題が生じない可能性もある。

（変形例）
　変形例の高電圧試験装置を用いてアンテナ用ワイヤハーネス４０を試験する時の接続状態が図１０に示されている。図１０に示す例では、検査対象として用いるアンテナ用ワイヤハーネス４０は、２本の同軸ケーブル４１および４３と、ハーネス側コネクタ４２、４４、および４５を備えている。すなわち、同軸ケーブル４１の一端および同軸ケーブル４３の一端が共通のハーネス側コネクタ４５に接続され、同軸ケーブル４１の他端がハーネス側コネクタ４２と接続され、同軸ケーブル４３の他端がハーネス側コネクタ４４と接続されている。

　ハーネス側コネクタ４２はＪＡＳＯプラグ、ハーネス側コネクタ４５は高周波コネクタ（ＨＦＣ）、ハーネス側コネクタ４４はＪＡＳＯミニプラグである。ハーネス側コネクタ４２の内部には、コンデンサ４６が内蔵されている。

　図１０に示す高電圧試験用治具（高電圧試験装置）２０Ｂは、１回の試験だけでアンテナ用ワイヤハーネス４０の全体について検査できるように構成してある。すなわち、高電圧試験用治具２０Ｂは試験機側コネクタ５１、５２、及び５３を有している。また、試験機側コネクタ５１と試験機側コネクタ５２と試験機側コネクタ５３とは互いに近接した位置に配置されている。図１０に示すように、試験機側コネクタ５１はハーネス側コネクタ４２と接続され、試験機側コネクタ５２はハーネス側コネクタ４４と接続され、試験機側コネクタ５３はハーネス側コネクタ４５と接続される。

　また、芯線短絡部Ｐ３で試験機側コネクタ５１の中心側電極と、試験機側コネクタ５２の中心側電極と、試験機側コネクタ５３の中心側電極とが電気的に共通に接続されている。また、シールド線短絡部Ｐ４で、試験機側コネクタ５１の外周側電極と、試験機側コネクタ５２の外周側電極と、試験機側コネクタ５３の外周側電極とが電気的に共通に接続されている。

　従って、図１０に示すように接続した状態で、絶縁抵抗／耐圧試験機３０の出力から電圧を出力すれば、同軸ケーブル４１の全体および同軸ケーブル４３の全体に電圧を印加することができ、１回の作業だけでアンテナ用ワイヤハーネス４０の全体の試験を完了できる。

　以上のように、本発明の高電圧試験装置は、例えば車両に搭載するアンテナケーブルなどの絶縁抵抗試験や耐圧試験を行う場合に利用することができ、特に検査対象のケーブルがコンデンサを内蔵している場合であっても、１回の作業だけでケーブル全体の試験を完了することができ、作業性の改善に役立つ。しかも、コネクタを接続するだけで試験を開始できるので誤った接続操作によってコンデンサに過大な電圧が印加されるのを防止することができる。また、時定数回路を搭載することにより、一時的な過渡状態でコンデンサに過大な電圧が印加されるのを防止することもできる。

　本発明を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。

　なお、本出願は、２０１０年１１月２日出願の日本特許出願（特願２０１０－２４６４７４）に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。

　本発明によれば、コンデンサを内蔵した同軸ケーブルを試験する場合であっても、ケーブル全体の試験を、コンデンサを破壊することなく簡単な操作で行うことが可能になる。

　１０　アンテナ用ワイヤハーネス
　１１　同軸ケーブル
　１１ａ　芯線
　１１ｂ　シールド導体
　１２，１３　ハーネス側コネクタ
　１４　コンデンサ
　２０，２０Ｂ　高電圧試験用治具（高電圧試験装置）
　２１，２２　試験機側コネクタ
　２３　治具回路
　２３ａ　時定数回路
　２３ｂ　サージ除去回路
　２４，２５　端子
　３０　絶縁抵抗／耐圧試験機
　３１，３２　出力電極
　４０　アンテナ用ワイヤハーネス
　４１，４３　同軸ケーブル
　４２，４４，４５　ハーネス側コネクタ
　４６　コンデンサ
　５１，５２，５３　試験機側コネクタ
　Ｐ１，Ｐ３　芯線短絡部
　Ｐ２，Ｐ４　シールド線短絡部
　Ｘ　ラジオユニット
　Ｙ　アンテナアンプ

Claims

　中心導体と所定の絶縁材料を間に挟んで前記中心導体の周囲を囲むように配置されたシールド導体とで構成される同軸状ケーブルを検査対象とし、前記同軸状ケーブルの中心導体とシールド導体との間に高電圧を印加して電気絶縁状態に関する試験を行う高電圧試験装置であって、
　高電圧を出力する試験機の出力の２つの電極を、検査対象の前記同軸状ケーブルの中心導体およびシールド導体とそれぞれ接続するケーブル接続部を有し、
　前記ケーブル接続部が、前記同軸状ケーブルの中心導体の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡する芯線短絡部と、前記同軸状ケーブルのシールド導体の長さ方向の一端と他端との間を電気的に短絡するシールド線短絡部と、を更に備える高電圧試験装置。
　前記試験機の出力と前記ケーブル接続部の入力との間に接続され、少なくとも１つの抵抗器および少なくとも１つのコンデンサを含む時定数回路を更に備える請求項１に記載の高電圧試験装置。
　前記時定数回路は、異常な高電圧を吸収するサージ除去回路を備える請求項２に記載の高電圧試験装置。
　前記ケーブル接続部が、検査対象の前記同軸状ケーブルの長さ方向の一端側および他端側に設けられた２つのコネクタとそれぞれ接続するための、２つ以上の同軸状コネクタを備える請求項１に記載の高電圧試験装置。