WO2011162139A1 - 自動分析装置および自動分析方法 - Google Patents

自動分析装置および自動分析方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2011162139A1
WO2011162139A1 PCT/JP2011/063663 JP2011063663W WO2011162139A1 WO 2011162139 A1 WO2011162139 A1 WO 2011162139A1 JP 2011063663 W JP2011063663 W JP 2011063663W WO 2011162139 A1 WO2011162139 A1 WO 2011162139A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
detection element
detection
calculated
measurement signals
signal
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/063663
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
田村　太久夫
正樹 芝
足立　作一郎
Original Assignee
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社日立ハイテクノロジーズ filed Critical 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Priority to CN201180030850.0A priority Critical patent/CN103003684B/zh
Priority to US13/702,196 priority patent/US20130132022A1/en
Priority to EP11798025.0A priority patent/EP2587251B1/en
Publication of WO2011162139A1 publication Critical patent/WO2011162139A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
    • G01N15/0211—Investigating a scatter or diffraction pattern
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions

Definitions

  • the present invention relates to an automatic analyzer that irradiates a measurement target with light and measures light scattered by the measurement target.
  • an analyzer that analyzes the amount of components contained in a sample, it measures the amount of light transmitted through a single or multiple wavelengths obtained by irradiating light from a light source to a sample or a reaction mixture in which a sample and a reagent are mixed.
  • An automatic analyzer that calculates the component amount from the relationship between absorbance and concentration according to Lambert-Beer's law is widely used.
  • the automatic analyzer is equipped with a system for measuring the amount of transmitted light
  • two types of reactions are used for reaction of the reaction solution: a color reaction between the substrate and the enzyme and an agglutination reaction between the antigen and the antibody.
  • the former is biochemical analysis, and test items include LDH (lactate dehydrogenase), ALP (alkaline phosphatase), and AST (aspartate oxoglutarate aminoton rafenase).
  • test items include CRP (C-reactive protein), IgG (immunoglobulin), RF (rheumatoid factor) and the like.
  • CRP C-reactive protein
  • IgG immunoglobulin
  • RF rheumatoid factor
  • the measurement substance measured by the latter immunoassay is required to have low blood concentration and high sensitivity.
  • the reaction solution is irradiated with light and scattered into latex agglomerates. Higher sensitivity has been achieved with the latex immunoaggregation method in which the amount of components contained in a sample is quantified by measuring the amount of light transmitted without being transmitted.
  • Patent Document 1 a system that separates transmitted light and scattered light using a diaphragm and simultaneously measures absorbance and scattered light (see Patent Document 1), and reflected scattered light in a large aggregate formed as a result of agglutination.
  • Patent Document 2 Configuration to improve accuracy on the high concentration side by measurement (see Patent Document 2), measure the average light quantity of forward scattered light and back scattered light using integrating spheres before and after the reaction vessel, and change turbidity due to cell position shift
  • Patent Document 3 A method of correcting the above (see Patent Document 3) and the like are disclosed.
  • the scattered light fluctuates due to the presence of particles in the solution, such as the inherent Brownian motion of the particle or the convection of the solution, and similarly affects the measured value as a noise component. End up.
  • An object of the present invention is to realize an automatic analyzer and method capable of improving the S / N ratio characteristics of a received light signal by reducing the influence of scattered light of noise components other than the measurement target in an automatic analyzer using scattered light. It is to be.
  • the present invention is configured as follows.
  • Light that has passed through the reaction vessel is detected by a plurality of light detection elements installed at different angles with respect to the light source, and reference data is calculated based on detection signals of one detection element selected from the plurality of detection elements. Calculating a variation rate of the detection signal of the selected one detection element with respect to the calculated reference data, and correcting a detection signal of the detection element different from the selected one detection device based on the calculated variation rate, The sample is analyzed based on the corrected detection signal.
  • an automatic analyzer using scattered light it is possible to realize an automatic analyzer and method capable of reducing the influence of scattered light of noise components other than the measurement object and improving the S / N ratio characteristics of the received light signal.
  • FIG. 1 is an overall configuration diagram of an automatic analyzer to which an embodiment of the present invention is applied. It is explanatory drawing of the detection system in one Example of this invention. It is explanatory drawing of the modification of the detection system in one Example of this invention. It is a graph which shows the measurement result of the detection system in one example of the present invention. It is a graph which shows the measurement result of the detection system in one example of the present invention. It is a correlation graph of the data acquired at a plurality of angles in one example of the present invention. It is a flowchart of the data processing in one Example of this invention. It is the graph which showed the result of the arithmetic processing in one Example of this invention. It is a functional block diagram of the arithmetic processing part in one Example of this invention. It is a figure which shows an example of the display screen (parameter selection means) in one Example of this invention.
  • FIG. 1 is an overall schematic configuration diagram of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention.
  • a reaction disk 1 capable of intermittent rotation has a number of reaction vessels 2 made of a light-transmitting material arranged in a circle.
  • the reaction vessel 2 on the reaction disk 1 is maintained at a predetermined temperature (for example, 37 ° C.) by the thermostat 3.
  • a fluid is accommodated in the thermostat 3, and the temperature of the fluid is adjusted by the thermostat 4.
  • a large number of specimen containers 6 containing biological samples such as blood or urine are arranged on the sample disk 5.
  • a pipette nozzle 8 attached to the movable arm 7 sucks a predetermined amount of sample from the sample container 6 located at the suction position of the sample disk 5, and sucks the sucked sample into the reaction container 2 at the discharge position on the reaction disk 1. To discharge.
  • a plurality of reagent bottles 10A and 10B with labels displaying reagent identification information such as barcodes are arranged on the reagent disks arranged in the reagent cold storages 9A and 9B, respectively.
  • These reagent bottles 10A and 10B contain reagent solutions corresponding to analysis items that can be analyzed by the automatic analyzer.
  • the barcode readers 34A and 34B attached to the reagent coolers 9A and 9B read the barcodes displayed on the outer walls of the reagent bottles 10A and 10B at the time of reagent registration.
  • the reagent information read by the bar code readers 34A and 34B is registered in the memory 11 described later together with the position on the reagent disk.
  • each reagent dispensing mechanism 12A, 12B sucks the reagent solution from the reagent bottles 10A, 10B corresponding to the inspection item positioned at the reagent receiving position on the reaction disk 1, and enters the corresponding reaction container 2. Discharge.
  • the mixture of the sample and the reagent accommodated in the reaction vessel 2 is stirred by the stirring mechanisms 13A and 13B.
  • the rows of reaction vessels 2 are rotationally moved so as to pass through a photometric position sandwiched between the light source 14 and the scattered photometer 15.
  • the scattered photometer 15 may be provided with a multi-wavelength absorptiometer on the optical axis, and concentration calculation may be performed using both scattered light and transmitted light. The arrangement of detectors in the scattered photometer 15 will be described later with reference to FIG.
  • reaction liquid of the sample and the reagent in each reaction vessel 2 is measured each time it crosses in front of the detector 15 during the rotation operation of the reaction disk 1.
  • the analog signal measured for each sample is input to the A / D converter 16.
  • the reaction container cleaning mechanism 17 disposed in the vicinity of the reaction disk 1 cleans the inside of the used reaction container 2 to allow repeated use of the reaction container.
  • a computer 18 is connected to a sample dispensing control unit 20, a reagent dispensing control unit 21, and an A / D converter 16 via an interface 19.
  • the computer 18 sends a command to the sample dispensing control unit 20 to control the sample dispensing operation.
  • the computer 18 also sends a command to the reagent dispensing control unit 21 to control the reagent dispensing operation.
  • the photometric value supplied from the detector 15 and converted into a digital signal by the A / D converter 16 is taken into the computer 18.
  • the interface 19 includes a printer 22 for printing analysis results and the like, an external output medium 23 such as a memory 11 and FD as a storage device, a keyboard 24 for inputting operation commands and the like, and a CRT display 25 for screen display. Is connected.
  • a screen display device a liquid crystal display or the like can be employed in addition to the CRT display.
  • the memory 11 is configured by, for example, a hard disk memory or an external memory. The memory 11 stores information such as the password of each operator, the display level of each screen, analysis parameters, analysis item request contents, calibration results, and analysis results.
  • Analysis parameters relating to items that can be analyzed by the automatic analyzer are input in advance via an information input device such as the keyboard 24 and stored in the memory 11.
  • the operator selects an inspection item requested for each sample using an operation function screen described later.
  • the pipette nozzle 8 dispenses a predetermined amount of sample from the specimen container 6 to the reaction container 2 in accordance with the analysis parameters.
  • the reaction container 2 that has received the sample is transferred by the rotation of the reaction disk 1 and stops at the reagent receiving position.
  • the pipette nozzle 8 of the reagent dispensing mechanism 12A, 12B dispenses a predetermined amount of reagent solution into the reaction vessel 2 according to the analysis parameter of the corresponding inspection item.
  • the dispensing order of the sample and the reagent may be reversed from this example, and the reagent may precede the sample.
  • the sample and the reagent are stirred and mixed by the stirring mechanisms 13A and 13B.
  • the scattered light of the reaction solution is measured by the scattering photometer 15.
  • the measured scattered light is converted into a numerical value proportional to the amount of light by the A / D converter 16 and taken into the computer 18 via the interface 19.
  • concentration data is converted into concentration data based on a calibration curve measured in advance by an analysis method designated for each inspection item. Component concentration data as an analysis result of each inspection item is output to the screen of the printer 22 or CRT 25.
  • the operator sets various parameters necessary for analytical measurement and registers the sample via the operation screen of the CRT 25. Further, the operator confirms the analysis result after measurement on the operation screen on the CRT 25.
  • FIG. 2 is an explanatory diagram of the light source 14 (201) / reaction vessel 2 (202) / scattering photometer 15 (204, 205, 206).
  • the light emitted from the light source 201 is incident on the reaction vessel 202 into which the measurement object 203 is dispensed.
  • Light incident in the reaction vessel 202 collides with the measurement object 203 and is scattered.
  • the scattered light has a detector (detection element) 204 disposed at a position that forms an angle of ⁇ 1 with the transmitted light, and a detector (detection element) 205 includes a position that forms an angle of ⁇ 2 with the transmitted light. Be placed.
  • a detector (detection element) 206 is arranged at a position that forms an angle of ⁇ 3 with the transmitted light.
  • the detectors 204 to 206 are arranged in series along the Z-axis direction (the vertical direction in FIG. 2) with respect to the incident light from the light source 201, but the X-axis direction (the left-right method in FIG. 2), Y You may arrange
  • a single detector composed of a plurality of photodetecting elements arranged on a straight line can be used.
  • the detectors 204 to 206 do not have to be arranged discretely, and may be one detector 301 (shown in FIG. 3) capable of resolving two-dimensional position information.
  • the detector 301 has a plurality of detection elements, and can have a two-dimensional arrangement configuration installed at different angles with respect to the light source. In this case, a plurality of detection elements may be arranged two-dimensionally on two straight lines orthogonal to each other.
  • FIGS. 4A and 4B are graphs showing an example of a change in the reaction process of the determination signal received by the detectors 204 to 206 between the sample and the reagent.
  • the vertical axis indicates the measurement signal value that increases in proportion to the amount of light
  • the horizontal axis indicates the measurement point (number of measurements).
  • the reaction vessel 202 is arranged on the circumference of the reaction disk 1, passes in front of the detectors 204 to 206 at regular intervals, and the progress of the reaction from the start to the end of the measurement is plural over time. It is plotted once.
  • FIG. 4A shows a signal change process of the detector 204
  • FIG. 4B shows a signal change process of the detector 205. Since the amount of scattered light varies depending on the angle from the transmitted light, the amount of light also varies depending on the detector that receives the light. In the example shown in FIG. 2, the amount of light that is the measurement signal value of the detector 204 arranged at the angle ⁇ 1 is The light quantity is smaller than the measurement signal value of the detector 205 arranged at the angle ⁇ 2.
  • FIG. 5 is a graph showing the correlation between the light reception signal of the detector 204 and the light reception signal of the detector 205.
  • a linear regression curve (straight line) is calculated by a least square method as a regression curve of signals from the detectors 204 and 205.
  • FIG. 6 is an operation flowchart
  • FIG. 7 is a graph showing data corrected using an algorithm
  • FIG. 8 is an internal functional block diagram of a computer 18 for executing the algorithm.
  • step (b) in FIG. 6 data is acquired at a plurality of angles by a plurality of detectors 204 to 206 (step (b) in FIG. 6). Then, the detection data selection unit 18a selects a measurement signal acquired by one of the detectors as a reference signal (steps (c) and (d) in FIG. 6).
  • the approximate expression selection unit 18b1 of the first selection data processing unit 18b selects an approximate expression to be applied, and the approximate expression calculation unit 18b2 calculates the approximate expression using the selected approximate expression (step of FIG. 6).
  • E a virtual baseline is derived for the reference signal. This virtual baseline is implemented by polynomial approximation.
  • the measurement signal of the detector 204 angle ⁇ 1
  • 16 measurements are implemented with progress of reaction time.
  • the average values of the first point and the second point in the measurement point in FIG. 4A are derived, and further the average values of the fifteenth point and the sixteenth point are derived.
  • a straight line obtained by connecting the two values with a linear expression is used as a normalized polynomial, that is, a virtual baseline.
  • This virtual baseline is an ideal response curve (straight line) free from accidental noise and particle fluctuations, and then the fluctuation rate of the reference signal is obtained by the fluctuation rate calculator 18b3 (step (f) in FIG. )).
  • a value obtained by dividing the measurement signal value at each measurement point by the baseline value (reference data) is obtained.
  • the main signal to be used for density calculation is corrected.
  • an example of correcting the measurement signal of the detector 205 is shown. Specifically, the measurement signal of the detector 205 (angle ⁇ 2) is held by the second selection data processing unit 18c, and is divided by the variation rate of the reference signal by the data correction unit 18d (step in FIG. 6). (G)).
  • FIG. 7 shows data corrected using the above algorithm.
  • density calculation is performed by the density calculation processing unit 18e using the corrected signal data (step (h) in FIG. 6), and the result is output to the CRT 25 and the like by the result output unit 18f (FIG. 6).
  • FIG. 9 is a diagram showing an example of an analysis setting screen by the CRT 25.
  • either the polynomial approximation or the two-point linear approximation can be selected as the approximate expression selection item.
  • an approximation order can be selected, and when two-point linear approximation is selected, a set point that is a section to be calculated can be set. Even when polynomial approximation is selected, a set point that is a section to be calculated can be set.
  • the normalized polynomial that is, the mathematical formula for deriving the virtual baseline may be determined by the least square method in addition to the example described above.
  • the normalization polynomial is derived using the first point, the second point, the fifteenth point, and the sixteenth point, but this selection is arbitrarily determined. Is possible. It should be noted here that when performing polynomial approximation, it is desirable that there are at least five measurement points in consideration of the accuracy of the approximate expression.
  • Each parameter setting is configured on the automatic analyzer setting screen. Note that the analysis conditions need not be set from the apparatus setting screen. If the conditions are fixed, values stored in advance in the storage area of the apparatus may be used.
  • the baseline is calculated using the measurement signal of the detector 204 among the three detectors 204 to 206, and the measurement signal of the detector 205 is corrected using the calculated baseline.
  • which detector of the detectors 204 to 206 is used for calculating the baseline, and which detector's measurement signal is corrected using the calculated baseline is: A detector with an appropriate angle is selected according to the measurement item (select which of the plurality of detection elements is used as a detection element used for calculating the approximate expression or a detection element used for correction based on the variation rate). ).
  • scattered light from a sample is detected at at least two different scattering angles, and a baseline is calculated using any one scattered light measurement signal value.
  • the scattering side constant signal value with a scattering angle different from the scattering angle used for the baseline calculation is corrected, and the concentration of the sample is calculated using the corrected scattered light. Therefore, in an automatic analyzer using scattered light, an automatic analyzer and method capable of reducing the influence of scattered light of noise components other than the measurement object and improving the S / N ratio characteristics of the received light signal can be realized. .
  • concentration calculation processing unit 18f ... result output unit, 19 ... interface, 25 ... CRT (selection means), 201 ... Light source, 202 ... reaction vessel, 03 ... the object to be measured, 204 to 206,301 ... detector, 207 ... bubbles and scratches

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

　測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置が実現される。複数の検出器（２０４～２０６）で複数の角度でデータを取得する。検出データ選択部（１８ａ）により、その中の一つの検出器によって取得した信号を基準信号として選択する。第１選択データ処理部（１８ｂ）の近似式選択部（１８ｂ１）で適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部（１８ｂ２）により近似式が計算される。変動率計算部（１８ｂ３）により基準信号の変動率が求められる。検出器（２０５）の信号は第２選択データ処理部（１８ｃ）により保持され、データ補正部（１８ｄ）により基準信号の変動率で除されることによって行われる。補正した信号データを用いて濃度演算処理部（１８ｅ）により濃度演算が行われ、結果出力部（１８ｆ）によりＣＲＴ等に結果が出力される。

Description

自動分析装置および自動分析方法
　本発明は、測定対象に光を照射して測定対象にて散乱する光を測定する自動分析装置に関する。
　サンプルに含まれる成分量を分析する分析装置として、光源からの光を、サンプル、又はサンプルと試薬とが混合した反応液に照射して得られる単一又は複数の波長の透過光量を測定し吸光度を算出して、Lambert-Beerの法則に従い、吸光度と濃度の関係から成分量を割り出す自動分析装置が広く用いられている。
　これらの自動分析装置においては、回転と停止を繰り返すセルディスクに、反応液を保持する多数のセルが円周状に並べられ、セルディスク回転中に、予め配置された透過光測定部により、一定の時間間隔で吸光度の経時変化が測定される。
　自動分析装置は透過光量を測定するシステムを備える一方、反応液の反応には、基質と酵素との呈色反応と、抗原と抗体との凝集反応の大きく２種類の反応が用いられている。前者は生化学分析であり、検査項目としてＬＤＨ（乳酸脱水素酵素）、ＡＬＰ（アルカリホスファターゼ）、ＡＳＴ（アスパラギン酸オキソグルタル酸アミノトンラフェナーゼ）などがある。
　後者は免疫分析であり、検査項目としてＣＲＰ（Ｃ反応性蛋白）、ＩｇＧ（免疫グロブリン）、ＲＦ（リウマトイド因子）などがある。後者の免疫分析で測定される測定物質は血中濃度が低く高感度が要求される。これまでも、ラテックス粒子の表面に抗体を感作（結合）させた試薬を用い、サンプル中に含まれる成分を認識し凝集させる際に、反応液に光を投光し、ラテックス凝集塊に散乱されずに透過した光量を測定することでサンプル中に含まれる成分量を定量するラテックス免疫凝集法での高感度化が図られてきた。
　さらに装置としては、透過光量を測定するのではなく、散乱光量を測定することによる高感度化も試みられている。例えば、ダイアフラムを用いて透過光と散乱光とを分離し、吸光度と散乱光を同時に測定するシステム（特許文献１参照）や、凝集反応が進んだ結果形成される大きな凝集塊での反射散乱光計測による高濃度側での精度を高める構成（特許文献２参照）、反応容器前後に積分球を用いて前方散乱光と後方散乱光のそれぞれの平均光量を測定し、セル位置ずれによる濁度変化を補正する方法（特許文献３参照）等が開示されている。
特開２００１－１４１６５４号公報 特開２００８－８７９４号公報 特開平１０－３３２５８２号公報
　ところで、散乱光を用いた自動分析装置の場合、測定対象物によって起こる光の散乱と同様に、気泡や異物が測定光路中に存在した場合や反応容器に付いた傷等も散乱光成分として現れ、ノイズ成分として測定値に影響を与える。
　また、ラテックス粒子反応を用いた反応では、粒子固有のブラウン運動、あるいは溶液の対流等、溶液中の粒子が介在することによって、散乱光が揺らぎ、同様にノイズ成分として測定値に影響を与えてしまう。
　ノイズの影響を低減するため、検出器からの出力を一定時間積分することによりＳ／Ｎ比特性を改善する方法があるが、積分時間は測定対象の時間的変化により制約があるだけでなく、反応容器内に気泡などの異物が偶発的に付着した場合はＳ／Ｎ比特性の改善効果を望めない。
　気泡や異物、反応容器の傷による散乱光や、粒子ゆらぎによって起こる散乱光と、測定対象物の反応によって起こる散乱光とを分離する場合、気泡等による散乱光は、偶発的あるいはランダムに発生するため、これらによる散乱光を事前に予測することや、事象が発生した後に成分を切り分けることは困難である。
　本発明の目的は、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することである。
　上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成される。
　反応容器を通過した光を、光源に対し異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の検出信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の検出信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の検出信号を補正し、補正した検出信号に基づいて、上記試料を分析する。
　散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成図である。 本発明の一実施例における検出系の説明図である。 本発明の一実施例における検出系の変形例の説明図である。 本発明の一実施例における検出系の測定結果を示すグラフである。 本発明の一実施例における検出系の測定結果を示すグラフである。 本発明の一実施例における複数の角度で取得したデータの相関グラフである。 本発明の一実施例におけるデータ処理のフローチャートである。 本発明の一実施例における演算処理の結果を示したグラフである。 本発明の一実施例における演算処理部の機能ブロック図である。 本発明の一実施例における表示画面（パラメータ選択手段）の一例を示す図である。
　以下、本発明の実施例について添付図面を参照して説明する。
　最初に、図１を用いて、本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成について説明する。図１は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体概略構成図である。
　図１において、間欠回転可能な反応ディスク１には、透光性材料からなる多数の反応容器２が円周状に配列されている。反応ディスク１上の反応容器２は、恒温槽３によって所定の温度（例えば３７°Ｃ）に維持される。恒温槽３内には流体が収容され、この流体は恒温維持装置４により温度調整される。
　サンプルディスク５上には、血液又は尿のような生体サンプルを収容した多数の検体容器６が配置される。可動アーム７に取り付けられたピペットノズル８は、サンプルディスク５の吸入位置に位置した検体容器６から所定量のサンプルを吸入し、吸入したサンプルを反応ディスク１上の吐出位置にある反応容器２内に吐出する。
　試薬保冷庫９Ａ、９Ｂ内にそれぞれ配置されている試薬ディスク上には、バーコードのような試薬識別情報を表示したラベルが貼られた複数の試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂ　が配置される。これらの試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂには、自動分析装置によって分析され得る分析項目に対応する試薬液が収容されている。
　各試薬保冷庫９Ａ、９Ｂに付属されたバーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂは、試薬登録時に、各試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂの外壁に表示されているバーコードを読み取る。バーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂにより読み取られた試薬情報は、試薬ディスク上のポジションと共に後述するメモリ１１に登録される。
　各試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂにおける試薬用ピペットノズルは、反応ディスク１上の試薬受け入れ位置に位置付けられる検査項目に応じた試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂから試薬液を吸入し、該当する反応容器２内へ吐出する。
　反応容器２内に収容されたサンプルと試薬の混合物は、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより撹拌される。反応容器２の列は、光源１４と散乱光度計１５とによって挟まれた測光位置を通るように回転移動される。散乱光度計１５は、光軸上に多波長吸光光度計を備えても良く、散乱光と透過光との両方を使って濃度演算を行っても良い。なお、散乱光度計１５内の検出器の配置については図２を使って後述する。
　各反応容器２内におけるサンプルと試薬との反応液は、反応ディスク１の回転動作中に検出器１５の前を横切る度に測光される。サンプル毎に測定されたアナログ信号は、Ａ／Ｄ変換器１６に入力される。反応ディスク１の近傍に配置されている反応容器洗浄機構１７は、使用済みの反応容器２の内部を洗浄することにより、反応容器の繰り返しの使用を可能にする。
　次に、図１の自動分析装置における制御系及び信号処理系について簡単に説明する。コンピュータ（演算処理部）１８は、インターフェース１９を介して、サンプル分注制御部２０、試薬分注制御部２１、Ａ／Ｄ変換器１６に接続されている。コンピュータ１８は、サンプル分注制御部２０に対して指令を送り、サンプルの分注動作を制御する。また、コンピュータ１８は、試薬分注制御部２１に対して指令を送り、試薬の分注動作を制御する。
　検出器１５から供給され、Ａ／Ｄ変換器１６によってディジタル信号に変換された測光値は、コンピュータ１８に取り込まれる。
　インターフェース１９には、分析結果等を印字するためのプリンタ２２、記憶装置であるメモリ１１やＦＤ等の外部出力メディア２３、操作指令等を入力するためのキーボード２４、画面表示するためのＣＲＴディスプレイ２５が接続されている。画面表示装置としては、ＣＲＴディスプレイの他に液晶ディスプレイなどを採用できる。メモリ１１は、例えばハードディスクメモリ又は外部メモリにより構成される。メモリ１１には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
　次に、図１に示した自動分析装置におけるサンプルの分析動作を説明する。
　自動分析装置によって分析可能な項目に関する分析パラメータは、予めキーボード２４のような情報入力装置を介して入力されておリ、メモリ１１に記憶されている。操作者は、後述する操作機能画面を用いて各サンプルに依頼されている検査項目を選択する。
　この際に、患者ＩＤなどの情報もキーボード２４から入力される。各サンプルに対して指示された検査項目を分析するために、ピペットノズル８は、分析パラメータにしたがって、検体容器６から反応容器２へ所定量のサンプルを分注する。
　サンプルを受け入れた反応容器２は、反応ディスク１の回転によって移送され、試薬受け入れ位置に停止する。試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂのピペットノズル８は、該当する検査項目の分析パラメータにしたがって、反応容器２に所定量の試薬液を分注する。サンプルと試薬の分注順序は、この例とは逆に、サンプルより試薬が先であってもよい。
　その後、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより、サンプルと試薬との撹拌が行われ、混合される。この反応容器２が、測光位置を横切る時、散乱光度計１５により反応液の散乱光が測光される。測光された散乱光は、Ａ／Ｄ変換器１６により光量に比例した数値に変換され、インターフェース１９を経由して、コンピュータ１８に取り込まれる。この変換された数値を用い、検査項目毎に指定された分析法により予め測定しておいた検量線に基づき、濃度データに変換される。各検査項目の分析結果としての成分濃度データは、プリンタ２２やＣＲＴ２５の画面に出力される。
　以上の測定動作が実行される前に、操作者は、分析測定に必要な種々のパラメータの設定や試料の登録を、ＣＲＴ２５の操作画面を介して行う。また、操作者は、測定後の分析結果をＣＲＴ２５上の操作画面により確認する。
　次に、図２を用いて図１中の光源１４および散乱光度計１５の構成の詳細を説明する。
　図２は光源１４（２０１）／反応容器２（２０２）／散乱光度計１５（２０４、２０５、２０６）の説明図である。
　図２において、光源２０１から発せられた光は、測定対象物２０３が分注された反応容器２０２に入射される。反応容器２０２内で入射した光は測定対象物２０３に衝突し散乱される。散乱した光は、図２の例では、透過光とθ１の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０４が配置され、透過光とθ２の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０５が配置される。また、透過光とθ３の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０６が配置されている。
　検出器２０４～２０６は、光源２０１からの入射光に対して、Ｚ軸方向（図２の上下方向）に沿って直列に配しているが、Ｘ軸方向（図２の左右方法）、Ｙ軸方向（図２の紙面表側から裏側に向かう方向）に配置しても良い。
　また、直線上に配置された複数の光検出素子からなる一つの検出器とすることもできる。
　さらに、検出器２０４～２０６は、離散的に配置する必要は無く、２次元的な位置情報を分解することが可能な一つの検出器３０１（図３に示す）であっても良い。ここで、検出器３０１は複数の検出素子を有し、光源に対して異なる角度で設置された２次元的な配置構成とすることができる。この場合、互いに直交する２つの直線上に２次元的に複数の検出素子を配列してもよい。
　反応容器２０２から検出器２０４～２０６までの途中経路に気泡や傷２０７があった場合には、検出器２０４～２０６で受光する光は影響を受けることとなる。
　次に、図４Ａ及び図４Ｂは検出器２０４～２０６で受光した判定信号の試料と試薬との反応過程における変化の１例を示すグラフである。図４Ａ、図４Ｂにおいて、縦軸は、光量に比例して増大する測定信号値を示し、横軸は測定点（測定回数）を示している。反応過程は、反応容器２０２が、反応ディスク１の円周上に配置され、検出器２０４～２０６の前を一定時間毎に通過し、測定開始から終了までの反応の進み具合を経時的に複数回プロットしたものである。
　図４Ａは、検出器２０４の信号変化の過程を示し、図４Ｂは検出器２０５の信号変化の過程を示している。散乱光量は、透過光からの角度によって異なるため、受光する検出器によって光量も変化するが、図２に示した例では、角度θ１に配置された検出器２０４の測定信号値である光量が、角度θ２に配置された検出器２０５の測定信号値である光量より小さくなっている。
　また、測定開始から終了までの反応に関して、単純な直線、あるいは曲線では近似できない程度のノイズ成分が重なっている。前述したように、これらのノイズ成分は、測定光路中に存在する異物や気泡によって偶発的に発生することや、粒子固有のブラウン運動、溶液の対流が影響していることが、これまで発明者らが検証を重ねてきた結果、明らかになってきた。
　図５は、検出器２０４の受光信号と検出器２０５の受光信号との間の相関を示すグラフである。図５に示した例では、検出器２０４と２０５との信号の回帰曲線として１次の回帰曲線（直線）を最小二乗法で算出している。
　図５に示した回帰曲線（直線）から、両者の信号は非常によい相関を持っており、両者の信号を用いて演算処理することによって、効果的にノイズ低減が図れることが明らかとなった。
　次に、図６、図７、図８を参照して、複数の検出器で受光した信号成分を用いてノイズを除去するアルゴリズムについて説明する。図６は動作フローチャートであり、図７は、アルゴリズムを用いて補正したデータを示すグラフ、図８は、アルゴリズムを実行するためのコンピュータ１８の内部機能ブロック図である。
　まず、複数の検出器２０４～２０６で複数の角度でデータを取得する（図６のステップ（ｂ））。そして、検出データ選択部１８ａにより、その中の一つの検出器によって取得した測定信号を基準信号として選択する（図６のステップ（ｃ）、（ｄ））。
　次に、第１選択データ処理部１８ｂの近似式選択部１８ｂ１において、適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部１８ｂ２により近似式が計算される（図６のステップ（ｅ））。この近似式により、基準信号に対して仮想のベースラインが導かれる。この仮想のベースラインは多項式近似によって実施する。なお、本発明の一実施例では、検出器２０４（角度θ１）の測定信号を基準信号とした例を示す。また、本発明の一実施例では、反応の時間経過に伴い、１６回の測定を実施している。
　近似式の計算は、図４の（ａ）中の、測定ポイント第１の点及び第２の点の平均値を導き、さらに第１５の点及び、第１６の点の平均値を導く。そして、両値を一次式で結んだ直線を規格化多項式、すなわち仮想のベースラインとする。この仮想のベースラインを、偶発的なノイズや粒子ゆらぎのない理想的な反応曲線（直線）とし、次に、変動率計算部１８ｂ３により基準信号の変動率が求められる（図６のステップ（ｆ））。
　具体的には、各測定点の測定信号値をベースラインの値（基準データ）で除した値を求める。この基準信号の変動率を用いて、濃度計算に用いたい主信号の補正を実施する。本発明の一実施例では検出器２０５（角度θ２）の測定信号を補正する例を示す。具体的には検出器２０５（角度θ２）の測定信号は第２選択データ処理部１８ｃにより保持され、データ補正部１８ｄにより、基準信号の変動率で除されることによって行われる（図６のステップ（ｇ））。
　上述したように、図７は上記アルゴリズムを用いて補正したデータを示す。最後に、この補正した信号データを用いて、濃度演算処理部１８ｅにより濃度演算が行われ（図６のステップ（ｈ））、結果出力部１８ｆにより、ＣＲＴ２５等に結果が出力されて終了する（図６のステップ（ｉ））。
　近似式の選択、多項式の近似次数、分析に使用する設定ポイント、ベースラインを設定するための検出器（サブ検出器）及びデータを補正する検出器（メイン検出器）の設定は、ＣＲＴ２５の表示画面（選択手段）を用いて行われる。
　図９は、ＣＲＴ２５による分析設定画面の一例を示す図である。図９に示した例においては、近似式選択項目として、多項式近似か、２点間直線近似かのいずれかを選択することができる。また、多項式近似を選択した場合は、近似次数を選択でき、２点間直線近似を選択した場合は、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。多項式近似を選択した場合も、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。
　なお、規格化多項式、すなわち仮想のベースラインを導くための数式は、上述した例の他、最小二乗法により決定してもよい。
　また、本発明の一実施例においては、第１点目、第２点目、第１５点目、第１６点目をそれぞれ用いて規格化多項式を導出したが、この選択は任意に決定することが可能である。ここで注意が必要なのは、多項式近似をする場合、近似式の精度を考慮し、少なくとも５点以上の測定点があることが望ましい。
　それぞれのパラメータ設定に関しては、自動分析装置の設定画面上からそれぞれ設定する構成としている。なお分析条件の設定は、装置の設定画面から必ずしも設定する必要は無く、固定の条件であれば予め装置の記憶領域に記憶させた値を使っても良い。
　また、上述した例においては、３つの検出器２０４～２０６のうちの、検出器２０４の測定信号を用いてベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、検出器２０５の測定信号を補正する例であるが、検出器２０４～２０６のうちのいずれの検出器の測定信号をベースライン算出用に用いるか、算出したベースラインを用いていずれの検出器の測定信号を補正するかは、測定項目によって適切な角度の検出器が選択される（複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する）。
　以上のように、本発明の一実施例によれば、試料からの散乱光を少なくとも２つの互いに異なる散乱角度で検出し、いずれか一つの散乱光測定信号値を用いて、ベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、ベースライン算出に用いた散乱角度とは異なる散乱角度の散乱側定信号値を補正し、補正した散乱光を用いて、試料の濃度演算を行うように構成したので、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
　１・・・反応ディスク、２・・・反応容器、３・・・恒温槽、４・・・恒温維持装置、５・・・サンプルディスク、６・・・検体容器、７・・・可動アーム、８・・・ピペットノズル、９Ａ、９Ｂ・・・試薬保冷庫、１１・・・メモリ、１２Ａ、１２Ｂ・・・試薬用ピペットノズル、１５・・・フォトダイオード、１８・・・コンピュータ、１８ａ・・・検出データ選択部、１８ｂ・・・第１選択データ処理部、１８ｂ１・・・近似式選択部、１８ｂ２・・・近似式計算部、１８ｂ３・・・変動率計算部、１８ｃ・・・第２選択データ処理部、１８ｄ・・・データ補正部、１８ｅ・・・濃度演算処理部、１８ｆ・・・結果出力部、１９・・・インターフェース、２５・・・ＣＲＴ（選択手段）、２０１・・・光源、２０２・・・反応容器、２０３・・・測定対象物、２０４～２０６、３０１・・・検出器、２０７・・・気泡や傷

Claims (22)

  1. 　光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を光検出手段により検出し、検出した光に基づいて演算処理部が上記反応容器内の試料を分析する自動分析装置において、
    　上記検出手段は、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子を有し、上記演算処理部は、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
  2. 　請求項１に記載の自動分析装置において、
    　上記検出素子の複数の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記演算処理部は、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
  3. 　請求項２に記載の自動分析装置において、上記検出素子の複数の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析装置。
  4. 　請求項１に記載の自動分析装置において、上記検出手段の複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析装置。
  5. 　請求項２に記載の自動分析装置において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、上記演算処理部は、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析装置。
  6. 　請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析装置。
  7. 　請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析装置。
  8. 　請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
  9. 　請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式を演算する区間を選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
  10. 　請求項５に記載の自動分析装置において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
  11. 　請求項８に記載の自動分析装置において、上記選択手段は、選択項目を表示する表示画面であることを特徴とする自動分析装置。
  12. 　光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を検出し、検出した光に基づいて上記反応容器内の試料を分析する自動分析方法において、
    　上記反応容器を通過した光を、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測地信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
  13. 　請求項１２に記載の自動分析方法において、
    　上記複数の検出素子の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
  14. 　請求項１３に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析方法。
  15. 　請求項１２に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析方法。
  16. 　請求項１３に記載の自動分析方法において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析方法。
  17. 　請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析方法。
  18. 　請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析方法。
  19. 　請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択することを特徴とする自動分析方法。
  20. 　請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式を演算する区間を選択することを特徴とする自動分析方法。
  21. 　請求項１６に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択することを特徴とする自動分析方法。
  22. 　請求項１９に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択は、選択項目を表示する表示画面により行われることを特徴とする自動分析方法。
PCT/JP2011/063663 2010-06-23 2011-06-15 自動分析装置および自動分析方法 WO2011162139A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201180030850.0A CN103003684B (zh) 2010-06-23 2011-06-15 自动分析装置及自动分析方法
US13/702,196 US20130132022A1 (en) 2010-06-23 2011-06-15 Automatic analyzer and automatic analysis method
EP11798025.0A EP2587251B1 (en) 2010-06-23 2011-06-15 Automated analysis device and automated analysis method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-142259 2010-06-23
JP2010142259A JP5216051B2 (ja) 2010-06-23 2010-06-23 自動分析装置および自動分析方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2011162139A1 true WO2011162139A1 (ja) 2011-12-29

Family

ID=45371332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/063663 WO2011162139A1 (ja) 2010-06-23 2011-06-15 自動分析装置および自動分析方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20130132022A1 (ja)
EP (1) EP2587251B1 (ja)
JP (1) JP5216051B2 (ja)
CN (1) CN103003684B (ja)
WO (1) WO2011162139A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013099486A1 (ja) * 2011-12-26 2013-07-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および測定値異常検出方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5948173B2 (ja) * 2012-07-20 2016-07-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析方法
JP5952180B2 (ja) * 2012-12-19 2016-07-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法
JP6110710B2 (ja) * 2013-04-02 2017-04-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置及び自動分析装置
EP2837937A1 (en) * 2013-08-15 2015-02-18 Roche Diagniostics GmbH Method for the detection of the prozone effect of photometric assays
JP6567873B2 (ja) * 2015-05-22 2019-08-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6757964B2 (ja) * 2015-10-06 2020-09-23 独立行政法人国立高等専門学校機構 結晶化分析装置及び結晶化分析方法
CN108700603B (zh) * 2016-03-16 2021-09-28 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP6896459B2 (ja) * 2017-03-07 2021-06-30 株式会社日立ハイテク 自動分析装置及び自動分析方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63103940A (ja) * 1986-10-22 1988-05-09 Central Res Inst Of Electric Power Ind 流れの可視化情報検出方法
JPH04503106A (ja) * 1989-01-26 1992-06-04 セラダイン，インコーポレイテッド 定量免疫検定システム
JPH10332582A (ja) 1997-05-28 1998-12-18 Kyowa Medex Co Ltd 濁度測定装置
JPH11503236A (ja) * 1995-04-06 1999-03-23 アルファ・ラヴァル・アグリ・アクチボラゲット 流体中の粒子の定量決定方法及びその装置
JP2000230901A (ja) * 1999-02-09 2000-08-22 Mitsubishi Chemicals Corp 光学ユニット
JP2001141654A (ja) 1999-10-08 2001-05-25 Dade Behring Marburg Gmbh 分光光度・比濁検出ユニット
JP2001249134A (ja) * 1999-12-28 2001-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法
JP2002250692A (ja) * 2001-02-22 2002-09-06 Fellow Kogyo Co Ltd 混入物を含む油水の油分濃度測定装置および測定方法
JP2008008794A (ja) 2006-06-29 2008-01-17 Olympus Corp 分析装置

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5138523B2 (ja) * 1971-09-20 1976-10-22
JPS5925460B2 (ja) * 1978-05-19 1984-06-18 株式会社日立製作所 ネフェロメトリック・イムノアッセイ法及び装置
US4616928A (en) * 1984-06-20 1986-10-14 Kidde, Inc. Photoelectric smoke detector with adjustable background signal
JPS61173138A (ja) * 1985-01-28 1986-08-04 Olympus Optical Co Ltd 光強度ゆらぎによる免疫反応測定方法
KR920005116A (ko) * 1990-08-31 1992-03-28 정용문 광검출신호의 잡음제거장치
US5449233A (en) * 1992-06-16 1995-09-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Temperature distribution measuring apparatus using an optical fiber
JP3027061B2 (ja) * 1992-12-24 2000-03-27 日本電子株式会社 反応測定方法
US5662105A (en) * 1995-05-17 1997-09-02 Spacelabs Medical, Inc. System and method for the extractment of physiological signals
US7425309B2 (en) * 2000-01-31 2008-09-16 Emory University Immunological assay system and method
JP3814190B2 (ja) * 2001-11-09 2006-08-23 株式会社堀場製作所 粒径分布測定装置
US6798508B2 (en) * 2002-08-23 2004-09-28 Coulter International Corp. Fiber optic apparatus for detecting light scatter to differentiate blood cells and the like
JP3991267B2 (ja) * 2002-10-08 2007-10-17 アークレイ株式会社 分析装置およびこれの製造方法
US7274437B2 (en) * 2003-02-19 2007-09-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Laser detection and ranging apparatus
US6784990B1 (en) * 2003-04-04 2004-08-31 Pacific Scientific Instruments Company Particle detection system implemented with a mirrored optical system
JP4117253B2 (ja) * 2004-01-23 2008-07-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP4616567B2 (ja) * 2004-03-11 2011-01-19 株式会社堀場製作所 測定方法、解析方法、測定装置、解析装置、エリプソメータ及びコンピュータプログラム
EP2333561A3 (en) * 2005-03-10 2014-06-11 Gen-Probe Incorporated System for performing multi-formatted assays
JP2006337125A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置，自動分析装置を用いた分析方法
US7518723B2 (en) * 2005-09-19 2009-04-14 Jmar Technologies, Inc. Systems and methods for detecting radiation, biotoxin, chemical, and biological warfare agents using a multiple angle light scattering (MALS) instrument
EP1939607A1 (en) * 2005-09-27 2008-07-02 Olympus Corporation Optical signal analyzing apparatus and optical signal analyzing method
JP4829716B2 (ja) * 2006-08-18 2011-12-07 シスメックス株式会社 血液凝固分析装置
ATE473628T1 (de) * 2008-02-13 2010-07-15 Inve Technologies Nv Verfahren zur behandlung von artemiazysten
JP4654256B2 (ja) * 2008-02-28 2011-03-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
DE102008018592A1 (de) * 2008-04-11 2009-10-15 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Verfahren und Vorrichtung zur Trübungsmessung
JP5341440B2 (ja) * 2008-09-10 2013-11-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 検査装置
JP5124498B2 (ja) * 2009-01-30 2013-01-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5667989B2 (ja) * 2009-12-04 2015-02-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 血液凝固分析装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63103940A (ja) * 1986-10-22 1988-05-09 Central Res Inst Of Electric Power Ind 流れの可視化情報検出方法
JPH04503106A (ja) * 1989-01-26 1992-06-04 セラダイン，インコーポレイテッド 定量免疫検定システム
JPH11503236A (ja) * 1995-04-06 1999-03-23 アルファ・ラヴァル・アグリ・アクチボラゲット 流体中の粒子の定量決定方法及びその装置
JPH10332582A (ja) 1997-05-28 1998-12-18 Kyowa Medex Co Ltd 濁度測定装置
JP2000230901A (ja) * 1999-02-09 2000-08-22 Mitsubishi Chemicals Corp 光学ユニット
JP2001141654A (ja) 1999-10-08 2001-05-25 Dade Behring Marburg Gmbh 分光光度・比濁検出ユニット
JP2001249134A (ja) * 1999-12-28 2001-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd タンパク質濃度計測用試薬、これを用いたタンパク質濃度計測方法および尿検査方法
JP2002250692A (ja) * 2001-02-22 2002-09-06 Fellow Kogyo Co Ltd 混入物を含む油水の油分濃度測定装置および測定方法
JP2008008794A (ja) 2006-06-29 2008-01-17 Olympus Corp 分析装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013099486A1 (ja) * 2011-12-26 2013-07-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および測定値異常検出方法
US9506942B2 (en) 2011-12-26 2016-11-29 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer and method for detecting measurement value abnormalities

Also Published As

Publication number Publication date
CN103003684B (zh) 2016-01-20
CN103003684A (zh) 2013-03-27
JP2012007921A (ja) 2012-01-12
EP2587251B1 (en) 2019-10-23
EP2587251A4 (en) 2017-04-05
EP2587251A1 (en) 2013-05-01
JP5216051B2 (ja) 2013-06-19
US20130132022A1 (en) 2013-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5216051B2 (ja) 自動分析装置および自動分析方法
JP6013796B2 (ja) 自動分析装置及び試料測定方法
JP5296015B2 (ja) 自動分析装置
JP5897323B2 (ja) 自動分析装置および測定値異常検出方法
US11971425B2 (en) Automatic analysis device and automatic analysis method
JP5984290B2 (ja) 自動分析装置
JP5481402B2 (ja) 自動分析装置
JP5661124B2 (ja) 自動分析装置
EP2988111B1 (en) Analyzer and automatic analyzer
JP5952180B2 (ja) 自動分析装置、プログラムおよび記録媒体ならびに検体の自動分析方法
JP6313960B2 (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201180030850.0

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11798025

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011798025

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13702196

Country of ref document: US