Kochfeld mit wenigstens einem Temperatursensor
Die Erfindung betrifft ein Kochfeld mit wenigstens einem Temperatursensor nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 .
Aus der EP 1 378 807 B1 ist es bekannt, die Temperatur eines metallischen Kochgefäßes mit einem Temperatursensor zu erfassen. Das Kochfeld ist ein Induktionskochfeld und der Temperatursensor misst temperaturabhängige Schwingkreisparameter wie beispielsweise die Frequenz, den Phasenwinkel, die Dämpfung oder einen Leitwert eines Schwingkrei- ses, der einen Heizinduktor des Kochfelds umfasst. Die Schwingkreisparameter werden durch die von dem Kochgeschirrelement erzeugte Gegeninduktion beeinflusst. Die Temperaturabhängigkeit der Materialeigenschaften des Kochgeschirrelements überträgt sich auf eine Temperaturabhängigkeit der Schwingkreisparameter. Eine Steuereinheit ermittelt aus diesen Schwingkreisparametern die Temperatur des Kochgeschirrelements.
Schwierigkeiten bereitet die Kalibrierung einer solchen Temperaturmessung, die stark von den magnetischen Eigenschaften des Kochgeschirrelements abhängt. In dem Dokument EP 1 378 807 B1 wird vorgeschlagen, charakteristische Abschnitte des Temperaturverlaufs, wie beispielsweise das Erreichen eines Siedepunkts, zum Kalibrieren der Tempera- turmessung zu verwenden.
Ferner ist es bekannt, zur Bestimmung der Kochgeschirrtemperatur Infrarotsensoren zu verwenden. Die Intensität der von einem Infrarotsensor aufgenommenen und von einem Kochtopf abgestrahlten Wärmestrahlung wächst mit der Temperatur des Kochtopfs. Der- artige Infrarotsensoren liefern daher ein von der Temperatur des Kochgeschirrelements abhängiges Signal. Der absolute Wert des Signals hängt jedoch maßgeblich von der Emissivität der Oberfläche des Kochgeschirrs ab. Schwarze Körper strahlen Wärme bekanntlich stärker ab als beispielsweise metallisch glänzende Körper. Zum Bestimmen des Absolutwerts der Temperatur ist daher entweder eine normierte Oberfläche der Kochge- schirrelemente oder ein aufwendiger Kalibrierungsvorgang für jedes Kochgeschirrelement notwendig.
Aus der EP 658 067 A1 ist ein Kochfeld mit Temperaturfühlern oder Temperatursensoren bekannt. Eine indirekte Temperaturmessung erfolgt über eine auf der Glaskeramik- Kochfläche aufgebrachte Leiterbahn, welche den spezifischen Widerstand der Glaskeramik messen kann und die Temperaturabhängigkeit des spezifischen Widerstands ausnut- zen kann.
Durch die Messung der Temperatur der Glaskeramik wird mittelbar die Temperatur des Kochgeschirrelements gemessen. Die mittelbare Messung der Kochgeschirrtemperatur über in oder unter der Glaskeramikabdeckplatte angebrachte NTC-Elemente hat den Nachteil einer vergleichsweise langen Reaktionszeit. Insbesondere in Induktionskochfeldern, in denen die Wärme nicht durch die Glaskeramikplatte übertragen wird, erwärmt sich die Glaskeramikplatte nur durch den Wärmekontakt mit dem induktiv beheizten Kochgeschirrelement. Der Temperaturverlauf der Glaskeramikplatte und damit der von mit der Glaskeramikplatte in Kontakt stehenden Temperatursensoren erfasste Temperaturverlauf ist daher gegenüber dem Temperaturverlauf des Kochgeschirrelements stark verzögert. Eine präzise Regelung der Kochgeschirrtemperatur setzt jedoch eine schnelle Rückmeldung über die tatsächliche Kochgeschirrtemperatur voraus.
Andererseits ermöglicht die magnetische oder optische Erfassung der Kochgeschirrtemperatur zwar schnelle Reaktionszeiten, gleichzeitig ist die Messung aufgrund der für jedes Kochgeschirrelement unterschiedlichen Materialeigenschaften ungenau und/oder erfordert eine aufwendige Kalibrierung.
Der Erfindung liegt insbesondere die Aufgabe zugrunde, ein Kochfeld mit einer Sensoranordnung auszustatten, die eine Regelung der Kochgeschirrtemperatur mit geringer Verzögerung erlaubt. Die Aufgabe wird insbesondere durch ein Kochfeld mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung geht insbesondere aus von einem Kochfeld mit einer Abdeckplatte, wenigstens einem Temperatursensor zum Messen der Temperatur eines Kochgeschirrelements an der Abdeckplatte und mit einer Steuereinheit zum Bestimmen der Temperatur des Kochgeschirrelements.
Es wird vorgeschlagen, das Kochfeld mit wenigstens einem weiteren Sensor zum Messen wenigstens einer temperaturabhängigen Kenngröße des Kochgeschirrelements auszustatten. Durch die Verwendung eines präzisen Temperatursensors, beispielsweise eines NTC-Elements oder eines Thermoelements mit langsamer Reaktionszeit zusammen mit einem Sensor mit extrem schneller Reaktionszeit können die Nachteile beider Messmethoden ausgeglichen werden, so dass eine Temperaturmessung ermöglicht werden kann, die sowohl präzise als auch verzögerungsarm ist.
Der Temperatursensor kann die Temperatur des Kochgeschirrelements unmittelbar, bei- spielsweise durch direkten Wärmekontakt, oder mittelbar, beispielsweise durch die Messung der Temperatur einer Kochfeld-Abdeckplatte, messen.
Eine besonders gut reproduzierbare und schnelle Messung der Temperatur des Kochgeschirrelements kann realisiert werden, wenn der weitere Sensor zum Messen wenigstens einer magnetischen Materialeigenschaft des Kochgeschirrelements ausgebildet ist. Der Sensor bzw. die Steuereinheit, die die Sensorsignale auswertet, kann die Temperaturabhängigkeit der Suszeptibilität oder des spezifischen Widerstands des metallischen, ferro- magnetischen Materials des Kochgeschirrelements ausnutzen. In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist der weitere Sensor ein Infrarotsensor zum Messen von Infrarotstrahlung, die von einer Wand des Kochgeschirrelements abgestrahlt wird. Der Infrarotsensor kann beispielsweise in einen über eine Kochfläche hinausragenden Turm integriert sein, der insbesondere auch versenkbar ausgestaltet sein kann. Das Kochgeschirrelement kann einen Oberflächenbereich mit be- kannten Emissionseigenschaften umfassen. Dazu kann ein Aufkleber aufgebracht werden.
Ferner kann der Temperatursensor als NTC-Element ausgestaltet sein, das in unmittelbarem Wärmekontakt mit der Unterseite der Kochfeld-Abdeckplatte zum Aufstellen des
Kochgeschirrelements steht. Ferner ist es denkbar, das NTC-Element in eine Bohrung der Abdeckplatte einzulassen und/oder mit einem in eine solche Bohrung integrierten Metallelement zu versehen, das eine bessere Wärmeleitung zwischen dem Boden des Kochgeschirrelements und dem Temperatursensor ermöglicht.
Wegen der verzögerten und teilweise auch unvollständigen Wärmeübertragung zwischen dem Kochgeschirrelement und der Abdeckplatte kommen die Vorteile der Erfindung insbesondere dann zum Tragen, wenn das Kochfeld ein Induktionskochfeld ist. Während in Strahlungskochfeldern der Temperaturverlauf des Topfbodens gegenüber dem Tempera- turverlauf des unter dem Topfboden angeordneten Bereichs der Abdeckplatte verzögert sein kann, kehrt sich diese Verzögerung in Induktionskochfeldern um, da die Wärme im Topfboden selbst und nicht unterhalb der Abdeckplatte erzeugt wird.
In Induktionskochfeldern kann vorteilhaft ein Heizinduktor zum induktiven Heizen des Kochgeschirrelements als der weitere Sensor zum Messen der magnetischen Eigenschaften des Kochgeschirrelements genutzt werden. Die Induktivität bzw. eine Impedanz des Heizinduktors wird durch die Materialeigenschaften des von dem Heizinduktor beheizten Kochgeschirrelements beeinflusst, da der Heizinduktor und das Kochgeschirrelement ein wechselwirkendes Gesamtsystem bilden. Bisher war es bekannt, die Materialeigenschaf- ten des Kochgeschirrelements aus Schwingkreisparametern eines den Heizinduktor und das Kochgeschirrelement umfassenden Schwingkreises herzuleiten, um beispielsweise die Leistungsaufnahme des Kochgeschirrelements zu berechnen. Die Temperaturabhängigkeit dieser Materialeigenschaften wurde in solchen Fällen jedoch nicht berücksichtigt. Selbstverständlich ist es denkbar, einen separaten induktiven Sensor zusätzlich zu dem Heizinduktor vorzusehen, um die magnetischen Materialeigenschaften des Kochgeschirrelements zu bestimmen.
Die Messung der magnetischen Materialeigenschaften kann insbesondere in einer Phase erfolgen, in welcher eine Amplitude des Heizstroms kleiner als ein vorgegebener Schwellenwert ist. Dadurch können nichtlineare Effekte in der Messung der Materialeigenschaften vermieden werden. Geeignete Phasen finden sich in einer Umgebung eines Nulldurchgangs einer Versorgungsspannung des Kochfelds, da dort die Amplitude des Heiz-
Stroms ohnehin sehr klein ist. Ein geeignetes Zeitfenster kann beispielsweise den Zeitraum 1 ms vor und/oder nach dem Nulldurchgang der Versorgungsspannung umfassen.
Ferner wird vorgeschlagen, dass die Steuereinheit den Heizbetrieb zum Messen der magnetischen Materialeigenschaft des Kochgeschirrelements während wenigstens einer Halbwelle einer Versorgungsspannung unterbricht. Bei einer Versorgungsspannung von 50 Hz beträgt die Dauer einer Halbwelle 10 ms, was zum Messen der magnetischen Eigenschaften ausreichend ist. Als geeignete magnetische Eigenschaften können beispielsweise die Suszeptibilität, ein spezifischer Widerstand und/oder eine Magnetisierbarkeit des ferromagnetischen Bodens des Kochgeschirrelements gemessen werden.
Weitere Vorteile ergeben sich aus der folgenden Figurenbeschreibung. In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Die Zeichnung, die Beschreibung und die Ansprüche enthalten zahlreiche Merkmale in Kombination. Der Fachmann wird die Merkmale zweckmäßigerweise auch einzeln betrachten und zu sinnvollen weiteren Kombinationen zusammenfassen. Es zeigen:
Fig ein Kochfeld mit einem Heizinduktor, einem Temperatursensor und
einem Kochgeschirrelement in einer schematischen Darstellung,
Fig 2 ein Schaltbild eines Kochfelds nach einer alternativen Ausgestaltung der Erfindung mit einem von dem Heizinduktor getrennten magnetischen Sensor,
Fig 3 die zeitlichen Verläufe einer Heizleistung, eines Signals des magnetischen Sensors und eines Signals des Temperatursensors sowie der tatsächlichen Temperatur des Kochgeschirrelements in einer Anordnung nach Fig. 1 oder 2,
Fig 4 ein Kochfeld mit einem Infrarot-Sensor,
Fig. 5 zeigt schematisch einen Temperatur- und Leistungsverlauf des
Kochgeschirrrelements während eines Garvorgangs mit vorgelagerter Erkennung der Topfparameter,
Fig. 6 illustriert Zeitfenster zur magnetischen Temperaturbestimmung des
Kochgeschirrelements während eines Heizvorgangs, und
Fig. 7 zeigt ein Zeitfenster zur magnetischen Bestimmung der Kochgeschirrtemperatur nach einer alternativen Ausgestaltung der Erfindung. Fig. 1 zeigt ein Induktionskochfeld mit einer Heizspule 10 und einem im Zentrum der Heizspule 10 angeordneten Temperatursensor 12, das an der Unterseite einer Abdeckplatte 14 des Kochfelds anliegt. Die Abdeckplatte 14 ist aus Glas oder Glaskeramik hergestellt. Zwischen dem als NTC-Element ausgebildeten Temperatursensor 12 und der Abdeckplatte 14 wird ein gut wärmeleitender Kontakt hergestellt, beispielsweise durch eine Wärmeleitpaste.
Die Heizspule 10 wird durch eine Leistungselektronik-Baugruppe 16 betrieben, die ihrerseits von einer Steuereinheit 18 gesteuert wird. Die Steuereinheit 18 steuert hier nicht explizit dargestellte Wechselrichter der Leistungselektronik-Baugruppe 16 derart, dass zum Beheizen eines im Bereich der Heizspule 10 auf die Abdeckplatte 14 aufgestellten Kochgeschirrelements 20 ein hochfrequenter Wechselstrom mit einer Amplitude von 100 bis 200 V und einer Frequenz in einer Größenordnung von 40 bis 100 KHz die Heizspule 10 durchfließt. Die Heizspule 10 erzeugt ein ent- sprechend hochfrequentes Wechselmagnetfeld, wenn sie von dem hochfrequenten Heizstrom durchflössen wird. Das Wechselmagnetfeld induziert Wirbelströme in dem Boden des Kochgeschirrelements 20, so dass sich dieser erwärmt. Die in dem Boden des Kochgeschirrelements 20 erzeugte Wärme überträgt sich von dem Kochgeschirrelement 20 auf die Abdeckplatte 14, deren Temperatur dann von dem Temperatursensor 12 gemessen werden kann. Die Temperatur der Abdeckplatte 14 gleicht sich in dem von dem Kochgeschirrelement 20 überdeckten Bereich nach einer gewissen Reaktionszeit an die Temperatur des Kochgeschirrelements 20 an.
Die induktive Kopplung zwischen dem Kochgeschirrelement 20 und der Heizspule 10 führt dazu, dass die Impedanz des von der Heizspule 10 und dem Kochgeschirrelement 20 gebildeten Gesamtsystems von der Impedanz der isoliert betriebenen Heizspule 10 ohne aufgestelltes Kochgeschirrelement 20 abweicht. Die Impedanz der Heizspule 10 wird ins- besondere durch die Gegeninduktivität des Kochgeschirrelements 20 und durch die Verlustströme im Boden des Kochgeschirrelements 20 beeinflusst. Da die letztgenannten Größen temperaturabhängig sind, zeigt auch die Impedanz des aus der Heizspule 10 und dem Kochgeschirrelement 20 bestehenden Gesamtsystems eine Temperaturabhängigkeit.
Die Temperaturabhängigkeit in dem für Kochvorgänge interessanten Bereich von 0 °C bis 100 ° C lässt sich in guter Näherung linear approximieren. Gleiches gilt für den effektiven Widerstand des Gesamtsystems. Näherungsweise kann der Widerstand R und die Induktivität L durch die folgenden Formeln beschrieben werden:
R = Ro + A x (T - To)
L = L0 + K x (T - To)
Dabei ist Ro der Widerstand bei einer Referenztemperatur To, und l_o ist die Induktivität der Referenztemperatur To. Die Konstanten A und K sind Proportionalitätskonstanten.
Der Widerstand R und die Induktivität des Gesamtsystems können aus dem Real- und Imaginärteil der Impedanz bestimmt werden, die ihrerseits aus dem Vergleich der Eingangs- und Ausgangsströme des Systems bestimmt werden kann.
Sind die Parameter in den oben genannten Gleichungen bekannt, lässt sich damit aus den Messwerten R, L die Temperatur bestimmen.
Durch eine derartige Temperaturbestimmung kann praktisch verzögerungsfrei und unmit- telbar die Temperatur des Bodens des Kochgeschirrelements 20 bestimmt werden.
In dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel misst die Steuereinheit 18 durch die Messung der Impedanz, die beispielsweise auch durch die Messung der Resonanzfrequenz erfolgen kann, die magnetischen Materialeigenschaften des Kochgeschirrele- ments 20 mittels der Heizspule 10, die als magnetischer Sensor 10 verwendet wird. Dazu
erzeugt die Steuereinheit 18 Messströme mit geringer Amplitude in der Heizspule 10. Die Amplitude kann beispielsweise weniger als 10 V betragen, um nichtlineare Effekte zu vermeiden. Die Steuereinheit 18 bestimmt die Temperatur des Kochgeschirrelements 20 abhängig von sowohl der von dem Temperatursensor 12 gemessenen Temperatur des Kochgeschirrelements 20 als auch abhängig von den von dem Sensor 10, bzw. der Heizspule gemessenen magnetischen Materialeigenschaften des Kochgeschirrelements 20. Der von dem Temperatursensor 12 erfasste Messwert wird insbesondere abhängig von dem aus den Materialeigenschaften des Kochgeschirrelements 20 berechneten Temperaturwert korrigiert.
Die Steuereinheit 18 kann beispielsweise schnelle Änderungen der Temperatur des Kochgeschirrelements 20 detektieren und zu dem von dem Temperatursensor 12 erfass- ten Messwert Differenzwerte addieren bzw. von dem Temperaturwert einen Differenzwert abziehen, um der verzögerten Reaktionszeit des Temperatursensors 12 Rechnung zu tragen. Auch wenn die Parameter der oben angegebenen Gleichungen nicht vollständig bekannt sind, so dass die Absolutwerte der Temperatur allein aus den Messwerten des magnetischen Sensors 10 nicht ermittelt werden können, kann so die Temperatur in einer sehr präzisen und reaktionsschnellen Weise abgeschätzt werden. Die Parameter der linearen Abhängigkeit der magnetischen Eigenschaften von der Temperatur können in stationären Phasen des Heizbetriebs ermittelt werden, in denen der magnetische Sensor 10 eine über längere Zeit konstante Temperatur des Kochgeschirrelements 20 gemessen hat, so dass von einem abgeschlossenen Angleichen der vom dem Temperatursensor 12 gemessenen Messtemperatur an die tatsächliche Temperatur des Kochgeschirrelements 20 ausgegangen werden kann.
Fig. 2 zeigt ein alternatives Ausführungsbeispiel der Erfindung mit einem von der Heizspule 10 getrennten magnetischen Sensor 22 in der Form einer Messspule. Der Sensor 22 wird über einen Mess-Schaltkreis 24 ausgelesen, der die Messwerte, beispielsweise die Impedanz, an die Steuereinheit 18 überträgt.
Fig. 3 zeigt schematisch den Verlauf einer Heizleistung 26 einer Heizspule 10 gemäß Fig. 1 als durchgehende Linie, einer von einem magnetischen Sensor 10 bzw. 22 erfass- ten Impedanz 28, einer tatsächlichen Temperatur 30 des Kochgeschirrelements 20 und
einer von dem Temperatursensor 12 gemessenen Temperatur 32. Es ist erkennbar, dass die Impedanz 28 sehr viel schneller auf die tatsächliche Temperatur 30 des Kochgeschirrelements 20 reagiert, während die von dem Temperatursensor 12 erfasste Temperatur sich erst mit starker Verzögerung an die tatsächliche Temperatur 30 angleicht. Die von der Heizspule 10 bzw. dem separaten Sensor 22 erfasste Impedanz 28 liefert daher wertvolle Informationen über den kurzfristigen Verlauf der Temperatur des Kochgeschirrelements 20. Die von dem magnetischen Sensor 10 bzw. 22 bestimmte Temperatur kann insbesondere zum Regeln eines Heizbetriebs des Kochfelds verwendet werden. Das Kochgeschirrelement 20 kann dadurch sicher auf einer konstanten Temperatur gehalten werden. Regelschwingungen können vermieden werden.
Ferner ist es möglich, aus einem extrem schnellen Anstieg der Temperatur des Kochgeschirrelements 20 zu schließen, dass dieses wahrscheinlich leer ist, so dass der Heizbetrieb eingestellt werden kann, um Schäden zu vermeiden. Durch die unabhängige Be- Stimmung der Temperatur des Kochgeschirrelements 20 und der Abdeckplatte 14 kann ferner ein zwischen dem Kochgeschirrelement 20 und dem Temperatursensor 12 in dem Material der Abdeckplatte 14 anliegender Temperaturgradient bestimmt werden und gegebenenfalls durch eine Notabschaltung beschränkt werden. Fig. 4 zeigt eine weitere alternative Ausgestaltung der Erfindung, in welcher der Sensor 22 als Infrarot-Sensor ausgebildet ist, der in einem versenkbaren Turm 38 angeordnet ist und der unmittelbar die Temperatur einer Wand des Kochgeschirrelements 20 messen kann. Fig. 5 zeigt schematisch den Verlauf der tatsächlichen Temperatur 30, mit der von dem Temperatursensor 12 gemessenen Temperatur 32, der aus der Impedanz bestimmten Temperatur 28, der Heizleistung 26 sowie eine Solltemperatur.
In einer kurzen Anfangsphase wird ein kurzer Leistungspuls erzeugt, der die Temperatur scharf ansteigen lässt. Die von dem Temperatursensor 12 gemessene Temperatur 32 folgt der tatsächlichen Temperatur stark verzögert. Aus der Verzögerungszeit und der steigenden Kurve können die dynamischen Parameter des Kochgeschirrelements 20 bestimmt werden. Sind diese Parameter bekannt, kann die Höhe und Dauer eines zweiten Leistungspulses berechnet werden, die zum Erreichen der Solltemperatur 34 notwendig ist. In Fig. 1 startet dieser zweite Puls bei ca. 180 Sekunden und dauert über ca. 50 Se-
künden an. Es ist erkennbar, dass die tatsächliche Temperatur 30 sich sehr schnell der Solltemperatur 34 nähert, während die von dem Temperatursensor gemessene Temperatur 32 wiederum stark verzögert folgt. Die von dem Sensor 10 bzw. 22 gemessene Temperatur 28 kann dazu benutzt werden, die tatsächliche Temperatur auf den nach dem Puls erreichte Temperatur zu regeln, die ungefähr der Solltemperatur entspricht. Korrekturen können abhängig von der von dem Temperatursensor erfassten Temperatur 32 vorgenommen werden.
Fig. 6 zeigt schematisch den Verlauf des Heizstroms in der Heizspule 10 über der Zeit. Die sinusoidale Einhüllende hat eine Frequenz von 50 Hz und entspricht der gleichgerichteten Netzfrequenz, wie von den Wechselrichtern der Leistungselektronikbaugruppe 16 zur Erzeugung der Heizströme genutzt wird. In den Nulldurchgängen dieser Einhüllenden ist die Amplitude des Heizstroms hinreichend klein, um eine zuverlässige Impedanzmessung vorzunehmen. Diese Zeitfenster 36 können daher zur Impedanzmessung benutzt werden.
Falls diese Zeitfenster zu kurz sind, kann in dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 7 ein hinreichend großes Zeitfenster dadurch erzeugt werden, dass der Heizstrom unterbrochen wird. Beispielsweise kann der Heizstrom während einer Halbwelle der Versorgungsspannung unterbrochen werden, so dass ein Zeitfenster 36 mit der Länge von ca. 20 ms entsteht. In diesem Zeitfenster 36 kann eine zuverlässige Impedanzmessung vorgenommen werden.
Bezugszeichen
10 Heizspule
12 Temperatursensor
14 Abdeckplatte
16 Leistungselektronik-
Baugruppe
18 Steuereinheit
20 Kochgeschirrelement
22 magnetischer Sensor
24 Mess-Schaltkreis
26 Heizleistung
28 Impedanz
30 Tatsächliche Temperatur
32 vom Temperatursensor gemessene Temperatur
34 Solltemperatur
36 Zeitfenster
38 Turm