WO2010125028A2 - Optoelektronischer halbleiterkörper mit einem reflektierenden schichtsystem - Google Patents

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WO2010125028A2
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Vincent Grolier
Michael Schmal
Korbinian Perzlmaier
Franz Eberhard
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Osram Opto Semiconductors Gmbh
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Definitions

  • the present application relates to an optoelectronic semiconductor body with a reflective layer system.
  • the semiconductor body has an active semiconductor layer sequence.
  • the active semiconductor layer sequence expediently contains an n-type layer, a p-type layer and an active layer between the n-type and the p-type layer.
  • the active layer preferably has a pn junction, a double heterostructure, a single quantum well structure or a multiple quantum well structure for generating radiation.
  • the active semiconductor layer sequence is preferably provided for emitting electromagnetic radiation, in particular in the infrared, visible and / or ultraviolet spectral range. Alternatively or in addition For example, the active semiconductor layer sequence can also be provided for receiving electromagnetic radiation.
  • the active semiconductor layer sequence is preferably an epitaxial layer sequence which is epitaxially deposited, for example, on a growth substrate, wherein the growth substrate may subsequently be removed or heavily thinned.
  • the optoelectronic semiconductor body has a reflective layer system.
  • the reflective layer system includes a first radiation-transmissive layer adjacent to the active semiconductor layer sequence.
  • the first radiation-transmissive layer contains a dielectric material, in particular silicon dioxide (SiO 2).
  • a "radiation-transmissive layer” is a layer which consists of a material composition which is at least partially permeable, and in particular transparent, to electromagnetic radiation for the emission or reception of which the active semiconductor layer sequence is provided.
  • the first radiation-transmissive layer contains a distributed Bragg reflector (DBR, Distributed Bragg Reflector), which contains, for example, a plurality of layer pairs each having a SiC ⁇ layer and a TiC ⁇ layer.
  • DBR distributed Bragg reflector
  • the reflective layer system contains a metal layer which follows the first radiation-permeable layer in the direction away from the semiconductor layer sequence.
  • the metal layer is arranged on the side of the first radiation-transmissive layer which is remote from the semiconductor layer sequence.
  • a second radiation-transmissive layer is arranged between the first radiation-transmissive layer and the metal layer.
  • the second radiation-transmissive layer contains an adhesion-improving material or consists of the adhesion-promoting material.
  • the metal layer is applied directly to the adhesion-improving material of the second radiation-transmissive layer.
  • the adhesion-promoting material is different from the first dielectric material. It is selected such that the adhesion of the metal layer is improved compared to adhesion to the first dielectric material.
  • Improved adhesion is in particular when a tensile force and / or a shear force necessary to release the metal layer from the adhesion-promoting material is greater than the corresponding tensile force or shearing force necessary to form a corresponding metal layer directly is applied to the first dielectric material to dissolve therefrom.
  • Such a reflective layer system is advantageous in order to achieve a high reflectivity.
  • light beams which extend in the semiconductor layer sequence at a shallow angle to the reflective layer system are totally reflected at the interface between the semiconductor layer sequence and the first radiation-transmissive layer.
  • Light beams, which do not fulfill the reflection conditions for the total reflection and penetrate into the first radiation-transmissive layer are for example reflected back by means of the metal layer in the direction of the semiconductor layer sequence. In this way, a high reflectivity over a wide angle range can be achieved.
  • the second radiation-permeable layer by means of which a particularly good adhesion of the metallic layer can be achieved, this danger is reduced.
  • the proportion of defective and / or unusable components can be kept particularly low in this way with advantage.
  • the adhesion-promoting material is a second dielectric material.
  • the second dielectric material is expediently different from the first dielectric material.
  • the second dielectric material is different from silicon dioxide. Silicon dioxide is a dielectric material with particularly unfavorable adhesion properties for the metal layer.
  • the adhesion-promoting material in particular the second dielectric material, is a nitrogen-containing compound, for example aluminum nitride (AlN), a silicon nitride (Si x N y ) such as Si 3 N 4 or tantalum nitride (TaN).
  • AlN aluminum nitride
  • Si x N y silicon nitride
  • TaN tantalum nitride
  • the adhesion of metal layers to nitrogen-containing compounds, in particular Si3Nzi is particularly improved over adhesion to other dielectric materials, such as silicon dioxide.
  • the adhesion-promoting material is a Transparent Conducting Oxide (TCO).
  • TCO Transparent Conducting Oxide
  • the transparent conductive oxide is indium tungsten nitride (IWO), indium zinc oxide (IZO) or zinc oxide (ZnO).
  • IWO indium tungsten nitride
  • IZO indium zinc oxide
  • ZnO zinc oxide
  • ITO indium tin oxide
  • ITO Indium Tin Oxide
  • the adhesion properties of zinc oxide are advantageously further improved over these other transparent conductive oxides.
  • the second radiation-transmissive layer has a layer thickness of 100 nm or less. Preferably, it has a layer thickness of ten nanometers or less. With such a layer thickness, the absorption losses due to the second radiation-permeable layer are advantageously particularly small. Such a small layer thickness is particularly advantageous in the case of transparent conductive oxides as adhesion-improving material, since they are comparatively highly absorbent.
  • the second radiation-transmissive layer has a layer system of alternatingly high and low refractive index layer pairs.
  • a layer system represents, for example, a distributed Bragg reflector.
  • Distributed Bragg reflectors of this type are known in principle to a person skilled in the art and will therefore not be explained in greater detail here.
  • the present distributed Bragg reflector comprises a pair of layers, a plurality of pairs of layers or each layer pair a layer consisting of the adhesion-improving material, in particular of a silicon nitride such as Si3N4 or zinc oxide.
  • the second layer of the layer pair or the layer pairs consists for example of silicon dioxide. It is important that the distributed Bragg reflector ends on the side facing away from the semiconductor layer sequence side with a layer of the adhesion-improving material to which the metal layer is then applied directly.
  • the metal layer has a multilayer structure.
  • the multilayer structure has an adhesion-promoting layer facing the semiconductor layer sequence, which is applied directly to the adhesion-improving material of the second radiation-transmissive layer. In the direction away from the semiconductor layer sequence, the adhesion-promoting layer follows a reflector layer.
  • the primer layer contains at least one of the metals from the group formed by Ti, Ta, Al, Pt, Pd, Cr and Ni.
  • it consists of one of these metals or of an alloy of these metals.
  • the primer layer has a thickness of 50 nanometers or less, more preferably one nanometer or less.
  • the metal layer preferably contains one of the following metals or consists of one of these metals: Al, Ag, Au.
  • these metal (s) are / are contained in the reflector layer.
  • the reflector layer preferably adjoins the adhesion-promoting layer on the side facing away from the semiconductor layer sequence.
  • Figure 1 a schematic cross section through a semiconductor body according to a first embodiment
  • Figure 2 a schematic cross section through a semiconductor body according to a second embodiment.
  • FIG. 1 shows an optoelectronic semiconductor body 1 according to a first exemplary embodiment.
  • the semiconductor body has an active semiconductor layer sequence 10.
  • the active semiconductor layer sequence 10 is epitaxially grown, for example, on a growth substrate (not shown in the figures). The growth substrate may be removed or heavily thinned.
  • the active semiconductor layer sequence 10 contains an n-type layer 11, an active layer 12, which contains, for example, a multiple quantum well structure for generating radiation, and a p-type layer 13. The order of the n-type layer and the p-type layer 11, 13 can also be reversed.
  • the reflective layer system 20 On a first main surface 101 of the semiconductor layer sequence 10, a reflective layer system 20 is applied.
  • the reflective layer system 20 consists of a first radiation-transmissive layer 21, a second radiation-transmissive layer 22 and a metal layer 23.
  • the second radiation-transmissive layer 22 is applied on a first main surface 211 of the first radiation-transmissive layer 21, the second radiation-transmissive layer 22 is applied. With the second main surface 212, which lies opposite the first main surface 211, the first radiation-permeable layer 21 adjoins the first main surface 101 of the semiconductor layer sequence 10. On a first main surface 221 of the second radiation-transmissive layer 22, the metal layer 23 is applied. The second main surface 222 of the second radiation-transmissive layer facing the first main surface 221 adjoins the first main surface 211 of the first radiation-transmissive layer 21.
  • the first radiation-permeable layer 21 consists for example of silicon dioxide (SiO 2) •
  • the second radiation ⁇ permeable layer 22 is present in the silicon nitride Si3N4 and has a thickness D of 10 nm or less.
  • the second radiation-transmissive layer 22 is made of the transparent conductive oxide ZnO.
  • the metal layer 23, which has a main surface 232 adjacent to the second radiation-transmissive layer 22, consists of an adhesion-promoting layer 23A and a reflector layer 23B.
  • the adhesion-promoting layer 23A is applied directly to the adhesion-improving material-that is to say to the silicon nitride in the present case or to the zinc oxide of the second radiation-transmissive layer 22 in the variant of this exemplary embodiment.
  • the adhesion promoting layer 23A is made of, for example, chromium (Cr) and / or titanium (Ti).
  • the reflector layer 23B which in the present case consists of silver (Ag), is applied directly to the adhesion-promoting layer.
  • FIG. 2 shows a second exemplary embodiment of an optoelectronic semiconductor body.
  • the optoelectronic semiconductor body 1 according to the second embodiment differs from that of the first embodiment in that the second radiation-transmissive layer 22 is formed as a distributed Bragg reflector (DBR).
  • DBR distributed Bragg reflector
  • the second radiation-transmissive layer in this embodiment consists of layer pairs 22A, 22B of alternatingly high and low refractive index layers.
  • the first layers 22A of the layer pairs are made of silicon dioxide having a refractive index n of about n-1.45
  • the second layers 22B of the layer pairs are made of silicon nitride having a refractive index n of about n-2.
  • the DBR has, for example, at least five, in particular at least ten such layer pairs 22A, 22B.
  • the DBR ends with a silicon nitride layer 22B, to which the metal layer 23 is applied directly.

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Abstract

Es wird ein optoelektronischer Halbleiterkörper (1) mit einer aktiven Halbleiterschichtenfolge (10) und einem reflektierenden Schichtsystem (20) angegeben. Das reflektierende Schichtsystem (20) weist eine an die Halbleiterschichtenfolge (10) angrenzende erste strahlungsdurchlässige Schicht (21) und eine Metallschicht (23) an der von der Halbleiterschichtenfolge (10) abgewandten Seite der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21) auf. Die erste strahlungsdurchlässige Schicht (21) enthält ein erstes dielektrisches Material. Zwischen der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21) und der Metallschicht (23) ist eine zweite strahlungsdurchlässige Schicht (22) angeordnet, die ein haftverbesserndes Material enthält. Die Metallschicht (23) ist unmittelbar auf das haftverbessernde Material aufgebracht. Das haftverbessernde Material ist von dem ersten dielektrischen Material verschieden und derart ausgewählt, dass die Haftung der Metallschicht (23) im Vergleich zur Haftung auf dem ersten dielektrischen Material verbessert ist.

Description

Beschreibung
Optoelektronischer Halbleiterkörper mit einem reflektierenden SchichtSystem
Die vorliegende Anmeldung betrifft einen optoelektronischen Halbleiterkörper mit einem reflektierenden Schichtsystem.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Anmeldung einen optoelektronischen Halbleiterkörper mit einem reflektierenden Schichtsystem, das eine strahlungsdurchlässige Schicht und eine Metallschicht enthält, anzugeben, bei dem die Gefahr einer Delamination der Metallschicht verringert ist.
Diese Aufgabe wird durch den optoelektronischen Halbleiterkörper mit den Merkmalen von Patentanspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des Halbleiterkörpers sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben, deren Offenbarungsgehalt hiermit ausdrücklich in die Beschreibung mit aufgenommen wird.
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterkörper angegeben. Der Halbleiterkörper weist eine aktive Halbleiterschichtenfolge auf. Die aktive Halbleiterschichtenfolge enthält zweckmäßigerweise eine n-leitende Schicht, eine p-leitende Schicht und eine aktive Schicht zwischen der n-leitenden und der p- leitenden Schicht. Die aktive Schicht weist vorzugsweise einen pn-Übergang, eine Doppelheterostruktur, eine EinfachquantentopfStruktur oder eine Mehrfachquantentopfstruktur zur Strahlungserzeugung auf. Die aktive Halbleiterschichtenfolge ist vorzugsweise zur Emission elektromagnetischer Strahlung - insbesondere im infraroten, sichtbaren und/oder ultravioletten Spektralbereich - vorgesehen. Alternativ oder zusätzlich kann die aktive Halbleiterschichtenfolge auch zum Empfang elektromagnetischer Strahlung vorgesehen sein. Die aktive Halbleiterschichtenfolge ist bevorzugt eine epitaktische Schichtenfolge, die beispielsweise auf einem Aufwachssubstrat epitaktisch abgeschieden ist, wobei das Aufwachssubstrat nachfolgend entfernt oder stark gedünnt sein kann.
Zusätzlich weist der optoelektronische Halbleiterkörper ein reflektierendes Schichtsystem auf. Das reflektierende Schichtsystem enthält eine erste strahlungsdurchlässige Schicht, die an die aktive Halbleiterschichtenfolge angrenzt. Bei einer bevorzugten Ausführungsform enthält die erste strahlungsdurchlässige Schicht ein dielektrisches Material, insbesondere Siliziumdioxid (Siθ2) .
Als "strahlungsdurchlässige Schicht" wird im vorliegenden Zusammenhang eine Schicht bezeichnet, welche aus einer Materialzusammensetzung besteht, die für elektromagnetische Strahlung, zu deren Emission oder Empfang die aktive Halbleiterschichtenfolge vorgesehen ist, zumindest teilweise durchlässig, und insbesondere transparent, ist. Bei einer Ausgestaltung enthält die erste strahlungsdurchlässige Schicht einen verteilten Bragg-Reflektor (DBR, Distributed Bragg Reflector) , der beispielsweise mehrere Schichtpaare mit je einer SiC^-Schicht und einer TiC^-Schicht enthält.
Zudem enthält das reflektierende Schichtsystem eine Metallschicht, die der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht in Richtung von der Halbleiterschichtenfolge weg nachfolgt. Anders ausgedrückt ist die Metallschicht an der von der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht angeordnet. Zwischen der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht und der Metallschicht ist eine zweite strahlungsdurchlässige Schicht angeordnet. Die zweite strahlungsdurchlässige Schicht enthält ein haftverbesserndes Material oder besteht aus dem haftverbessernden Material. Die Metallschicht ist unmittelbar auf das haftverbessernde Material der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht aufgebracht. Das haftverbessernde Material ist von dem ersten dielektrischen Material verschieden. Es ist derart ausgewählt, dass die Haftung der Metallschicht im Vergleich zur Haftung auf dem ersten dielektrischen Material verbessert ist.
Eine verbesserte Haftung liegt insbesondere vor, wenn eine Zugkraft und/oder eine Scherkraft, die notwendig ist, um die Metallschicht von dem haftverbessernden Material zu lösen, größer ist als die entsprechende Zugkraft beziehungsweise Scherkraft, die notwendig ist, um eine entsprechende Metallschicht, die unmittelbar auf das erste dielektrische Material aufgebracht ist, von diesem zu lösen.
Ein solches reflektierendes Schichtsystem ist vorteilhaft, um eine hohe Reflektivität zu erzielen. Beispielsweise werden Lichtstrahlen, die in der Halbleiterschichtenfolge unter einem flachen Winkel zu dem reflektierenden Schichtsystem hin verlaufen an der Grenzfläche zwischen der Halbleiterschichtenfolge und der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht total reflektiert. Lichtstrahlen, welche die Reflexionsbedingungen für die Totalreflexion nicht erfüllen und in die erste strahlungsdurchlässige Schicht eindringen, werden beispielsweise mittels der Metallschicht in Richtung der Halbleiterschichtenfolge zurückreflektiert. Auf diese Weise kann eine hohe Reflektivität über einen großen Winkelbereich erzielt werden . Ist die Haftung der Metallschicht an der transparenten Schicht des reflektierenden Schichtsystems, welche ihr in Richtung zur Halbleiterschichtenfolge hin vorausgeht, unzureichend, besteht die Gefahr, dass - beispielsweise durch eine zumindest stellenweise Delamination der Metallschicht - das Bauteil unbrauchbar wird.
Mit der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht, mittels welcher eine besonders gute Haftung der metallischen Schicht erzielt werden kann, ist diese Gefahr reduziert. Insbesondere bei einer Massenproduktion solcher Bauteile kann auf diese Weise der Anteil mangelhafter und/oder unbrauchbarer Bauteile mit Vorteil besonders gering gehalten werden.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform handelt es sich bei dem haftverbessernden Material um ein zweites dielektrisches Material. Das zweite dielektrische Material ist zweckmäßigerweise vom ersten dielektrischen Material verschieden. Insbesondere ist das zweite dielektrische Material von Siliziumdioxid verschieden. Siliziumdioxid ist ein dielektrisches Material mit besonders unvorteilhaften Haftungseigenschaften für die Metallschicht.
Vorzugsweise handelt es sich bei dem haftverbessernden Material, insbesondere bei dem zweiten dielektrischen Material, um eine stickstoffhaltige Verbindung, beispielsweise um Aluminiumnitrid (AlN), ein Siliziumnitrid (SixNy) wie Si3N4 oder Tantalnitrid (TaN) . Die Erfinder haben festgestellt, dass mittels einer zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht, die eine stickstoffhaltige Verbindung als haftverbesserndes Material enthält, eine besonders gute Haftung der Metallschicht erzielt wird. Die Haftung von Metallschichten auf stickstoffhaltigen Verbindungen, insbesondere auf Si3Nzi, ist insbesondere gegenüber der Haftung auf anderen dielektrischen Materialien, etwa auf Siliziumdioxid, verbessert.
Bei einer alternativen Ausführungsform handelt es sich bei dem haftverbessernden Material um ein transparentes leitfähiges Oxid (TCO, Transparent Conducting Oxide) . Vorzugsweise ist das transparente leitfähige Oxid Indiumwolframnitrid (IWO), Indioumzinkoxid(IZO) oder Zinkoxid (ZnO) . Die Erfinder haben festgestellt, dass beispielsweise mittels Zinkoxid eine besonders gute Haftung der Metallschicht erzielt wird. Auch andere transparente leitfähige Oxide wie Indiumzinnoxid (ITO, Indium Tin Oxide) haben eine gegenüber Siliziumdioxid verbesserte Haftung. Die Haftungseigenschaften von Zinkoxid sind jedoch gegenüber diesen anderen transparenten leitfähigen Oxiden mit Vorteil noch weiter verbessert.
Die zweite strahlungsdurchlässige Schicht hat bei einer Ausgestaltung eine Schichtdicke von 100 nm oder weniger. Vorzugsweise hat sie eine Schichtdicke von zehn Nanometern oder weniger. Bei einer derartigen Schichtdicke sind die Absorptionsverluste durch die zweite strahlungsdurchlässige Schicht mit Vorteil besonders klein. Eine solch geringe Schichtdicke ist besonders bei transparenten leitfähigen Oxiden als haftverbesserndem Material vorteilhaft, da diese vergleichsweise stark absorbierend sind.
Bei einer anderen Ausführungsform weist die zweite strahlungsdurchlässige Schicht ein Schichtsystem aus Schichtpaaren mit alternierend hohem und niedrigem Brechungsindex auf. Ein solches Schichtsystem stellt beispielsweise einen verteilten Bragg-Reflektor dar. Solche verteilten Bragg-Reflektoren sind dem Fachmann im Prinzip bekannt und werden daher an dieser Stelle nicht näher erläutert. Bei dem vorliegenden verteilten Bragg-Reflektor enthält ein Schichtpaar, eine Mehrzahl von Schichtpaaren oder jedes Schichtpaar eine Schicht, die aus dem haftverbessernden Material, insbesondere aus einem Siliziumnitrid wie Si3N4 oder Zinkoxid, besteht. Die zweite Schicht des Schichtpaars beziehungsweise der Schichtpaare besteht beispielsweise aus Siliziumdioxid. Wichtig ist dabei, dass der verteilte Bragg-Reflektor an der von der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite mit einer Schicht aus dem haftverbessernden Material endet, auf welche die Metallschicht dann unmittelbar aufgebracht ist.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung weist die Metallschicht eine Mehrschichtstruktur auf. Die Mehrschichtstruktur hat eine der Halbleiterschichtenfolge zugewandte Haftvermittlungsschicht, die unmittelbar auf das haftverbessernde Material der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht aufgebracht ist. In Richtung von der Halbleiterschichtenfolge weg folgt der Haftvermittlungsschicht eine Reflektorschicht nach.
Die Haftvermittlungsschicht enthält mindestens eines der Metalle aus der Gruppe, die gebildet wird von Ti, Ta, Al, Pt, Pd, Cr und Ni. Beispielsweise besteht sie aus einem dieser Metalle oder aus einer Legierung dieser Metalle. Vorzugsweise hat die Haftvermittlungsschicht eine Dicke von 50 Nanometern oder weniger, besonders bevorzugt von einem Nanometer oder weniger .
Die Metallschicht enthält vorzugsweise eines der folgenden Metalle oder besteht aus einem dieser Metalle: Al, Ag, Au. Vorzugsweise ist/sind diese (s) Metall (e) in der Reflektorschicht enthalten. Die Reflektorschicht grenzt vorzugsweise auf der von der Halbleiterschichtenfolge abgewandten Seite an die Haftvermittlungsschicht an. Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen ergeben sich aus den folgenden, in Zusammenhang mit den Figuren 1 und 2 beschriebenen exemplarischen Ausführungsbeispielen .
Es zeigen:
Figur 1, einen schematischen Querschnitt durch einen Halbleiterkörper gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel, und
Figur 2, einen schematischen Querschnitt durch einen Halbleiterkörper gemäße einem zweiten Ausführungsbeispiel .
In den Figuren und den Ausführungsbeispielen sind ähnliche oder ähnlich wirkende Bestandteile mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Die Figuren und die Größenverhältnisse der in den Figuren dargestellten Elemente - insbesondere Schichten - sind nicht als maßstabsgetreu zu verstehen. Vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis und/oder zur besseren Darstellbarkeit übertrieben groß - zum Beispiel übertrieben dick - dargestellt sein.
Figur 1 zeigt einen optoelektronischen Halbleiterkörper 1 gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel. Der Halbleiterkörper weist eine aktive Halbleiterschichtenfolge 10 auf. Die aktive Halbleiterschichtenfolge 10 ist beispielsweise auf einem Aufwachssubstrat (in den Figuren nicht gezeigt) epitaktisch aufgewachsen. Das Aufwachssubstrat kann entfernt oder stark gedünnt sein. Die aktive Halbleiterschichtenfolge 10 enthält eine n-leiten- de Schicht 11, eine aktive Schicht 12, die beispielsweise eine Mehrfachquantentopfstruktur zur Strahlungserzeugung enthält, und eine p-leitende Schicht 13. Die Reihenfolge der n- leitenden Schicht und der p-leitenden Schicht 11, 13 kann dabei auch vertauscht sein.
Auf einer ersten Hauptfläche 101 der Halbleiterschichtenfolge 10 ist ein reflektierendes Schichtsystem 20 aufgebracht. Vorliegend besteht das reflektierende Schichtsystem 20 aus einer ersten strahlungsdurchlässigen Schicht 21, einer zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht 22 und einer Metallschicht 23.
Auf eine erste Hauptfläche 211 der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht 21 ist die zweite strahlungsdurchlässige Schicht 22 aufgebracht. Mit der zweiten Hauptfläche 212, welche der ersten Hauptfläche 211 gegenüber liegt, grenzt die erste strahlungsdurchlässige Schicht 21 an die erste Hauptfläche 101 der Halbleiterschichtenfolge 10 an. Auf eine erste Hauptfläche 221 der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht 22 ist die Metallschicht 23 aufgebracht. Die der ersten Hauptfläche 221 gegenüberliegende zweite Hauptfläche 222 der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht grenzt an die erste Hauptfläche 211 der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht 21 an .
Die erste strahlungsdurchlässige Schicht 21 besteht beispielsweise aus Siliziumdioxid (Siθ2) • Die zweite strahlungs¬ durchlässige Schicht 22 besteht vorliegend aus dem Siliziumnitrid Si3N4 und hat eine Schichtdicke D von 10 nm oder weniger. Bei einer Variante dieses Ausführungsbeispiels besteht die zweite strahlungsdurchlässige Schicht 22 aus dem transparenten leitfähigen Oxid ZnO. Vorliegend besteht die Metallschicht 23, die mit einer Hauptfläche 232 an die zweite strahlungsdurchlässige Schicht 22 angrenzt, aus einer Haftvermittlungsschicht 23A und einer Reflektorschicht 23B. Die Haftvermittlungsschicht 23A ist unmittelbar auf das haftverbessernde Material - das heißt vorliegend auf das Siliziumnitrid beziehungsweise bei der Variante dieses Ausführungsbeispiels auf das Zinkoxid der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht 22 - aufgebracht.
Die Haftvermittlungsschicht 23A besteht beispielsweise aus Chrom (Cr) und/oder Titan (Ti) . Auf die Haftvermittlungsschicht ist direkt die Reflektorschicht 23B aufgebracht, die vorliegend aus Silber (Ag) besteht.
Figur 2 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel eines optoelektronischen Halbleiterkörpers. Der optoelektronische Halbleiterkörper 1 gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel unterscheidet sich darin von demjenigen des ersten Ausführungsbeispiels, dass die zweite strahlungsdurchlässige Schicht 22 als verteilter Bragg-Reflektor (DBR) ausgebildet ist .
Die zweite strahlungsdurchlässige Schicht besteht bei diesem Ausführungsbeispiel aus Schichtpaaren 22A, 22B von Schichten mit alternierend hohem und niedrigem Brechungsindex. Beispielsweise bestehen die ersten Schichten 22A der Schichtpaare aus Siliziumdioxid, das einen Brechungsindex n von etwa n ~ 1,45 hat und die zweiten Schichten 22B der Schichtpaare bestehen aus Siliziumnitrid, das einen Brechungsindex n von etwa n ~ 2 hat. Der DBR weist beispielsweise mindestens fünf, insbesondere mindestens zehn solcher Schichtpaare 22A, 22B auf . An der von der Halbleiterschichtenfolge abgewandten ersten Hauptfläche 221 der zweiten strahlungsdurchlässigen Schicht 22 endet der DBR mit einer Siliziumnitridschicht 22B, auf welche die Metallschicht 23 unmittelbar aufgebracht ist.
Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele auf diese beschränkt. Vielmehr umfasst sie jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen in den Ausführungsbeispielen und Patentansprüchen, auch wenn diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.
Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung 102009019524.6, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.

Claims

Patentansprüche
1. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) mit einer aktiven Halbleiterschichtenfolge (10) und einem reflektierenden Schichtsystem (20), das eine an die Halbleiterschichtenfolge (10) angrenzende erste strahlungsdurchlässige Schicht (21), die ein erstes dielektrisches Material enthält, und eine Metallschicht
(23), die an der von der Halbleiterschichtenfolge (10) abgewandten Seite der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21) angeordnet ist, aufweist, wobei zwischen der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21] und der Metallschicht (23) eine zweite strahlungsdurchlässige Schicht (22) angeordnet ist, die ein haftverbesserndes Material enthält, auf welches die Metallschicht (23) unmittelbar aufgebracht ist, und das haftverbessernde Material von dem ersten dielektrischen Material verschieden ist und derart ausgewählt ist, dass die Haftung der Metallschicht (23) auf dem haftverbessernden Material im Vergleich zur Haftung auf dem ersten dielektrischen Material verbessert ist.
2. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch
1, wobei das haftverbessernde Material ein zweites dielektrisches Material, ausgenommen Siliziumdioxid, ist .
3. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch
2, wobei das haftverbessernde Material eine stickstoffhaltige Verbindung ist.
4. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch 3, wobei die stickstoffhaltige Verbindung ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus AlN, SixNy, Si3Nzi, TaN.
5. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch 1, wobei das haftverbessernde Material ein transparentes leitfähiges Oxid ist.
6. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch 5, wobei das haftverbessernde Material Indiumwolframnitrid, Indiumzinkoxid oder Zinkoxid ist.
7. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die zweite strahlungsdurchlässige Schicht (22) eine Schichtdicke (D) von
10 nm oder weniger hat.
8. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die zweite strahlungsdurchlässige Schicht (22) ein Schichtsystem aus Schichtpaaren (22A, 22B) mit alternierend hohem und niedrigem Brechungsindex enthält, wobei eine Schicht (22B) jedes Schichtpaars aus dem haftverbessernden Material besteht.
9. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das erste dielektrische Material Siliziumdioxid ist.
10. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Metallschicht (23) eine Mehrschichtstruktur aufweist, die eine der Halbleiterschichtenfolge (10) zugewandte Haftvermittlungsschicht (23A) , die unmittelbar auf das haftverbessernde Material aufgebracht ist, und eine Reflektorschicht (23B) an der von der Halbleiterschichtenfolge (10) abgewandten Seite der Haftvermittlungsschicht (23A) enthält .
11. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß Anspruch 10, wobei die Haftvermittlungsschicht (23A) mindestens eines der folgenden Metalle enthält oder aus einem dieser Metalle besteht: Ti, Ta, Al, Pt, Pd, Cr, Ni.
12. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der Ansprüche 10 oder 11, wobei die Haftvermittlungsschicht
(23A) eine Schichtdicke von 1 nm oder weniger hat.
13. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Metallschicht (23) mindestens eines der folgenden Metalle enthält oder aus einem dieser Metalle besteht: Al, Ag, Au.
14. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) gemäß einem der Ansprüche 10 bis 12, wobei die Reflektorschicht (23B) mindestens eines der folgenden Metalle enthält oder aus einem dieser Metalle besteht: Al, Ag, Au.
15. Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) mit einer aktiven Halbleiterschichtenfolge (10) und einem reflektierenden Schichtsystem (20), das eine an die Halbleiterschichtenfolge (10) angrenzende erste strahlungsdurchlässige Schicht (21), die ein erstes dielektrisches Material enthält, und eine Metallschicht (23), die an der von der Halbleiterschichtenfolge (10) abgewandten Seite der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21) angeordnet ist, aufweist, wobei zwischen der ersten strahlungsdurchlässigen Schicht (21) und der Metallschicht (23) eine zweite strahlungsdurchlässige Schicht (22) angeordnet ist, die ein haftverbesserndes Material enthält, auf welches die Metallschicht (23) unmittelbar aufgebracht ist, und das haftverbessernde Material von dem ersten dielektrischen Material verschieden ist, das erste dielektrische Material Siliziumdioxid ist, das haftverbessernde Material eine stickstoffhaltige Verbindung ist, die stickstoffhaltige Verbindung ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus AlN, SixNy, Si3Nzi, TaN, und die Metallschicht (23) eine Mehrschichtstruktur aufweist, die eine der Halbleiterschichtenfolge (10) zugewandte Haftvermittlungsschicht (23A) , die unmittelbar auf das haftverbessernde Material aufgebracht ist, und eine Reflektorschicht (23B) an der von der Halbleiterschichtenfolge (10) abgewandten Seite der Haftvermittlungsschicht (23A) enthält.
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