WO2010073324A1 - 磁気記憶媒体及び磁気記録装置 - Google Patents

磁気記憶媒体及び磁気記録装置 Download PDF

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WO2010073324A1
WO2010073324A1 PCT/JP2008/073484 JP2008073484W WO2010073324A1 WO 2010073324 A1 WO2010073324 A1 WO 2010073324A1 JP 2008073484 W JP2008073484 W JP 2008073484W WO 2010073324 A1 WO2010073324 A1 WO 2010073324A1
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WO
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layer
magnetic
magnetic recording
recording layer
nonmagnetic
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PCT/JP2008/073484
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English (en)
French (fr)
Inventor
雄太 豊田
良一 向井
利夫 杉本
Original Assignee
昭和電工株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
    • G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
    • G11B5/66—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent the record carriers consisting of several layers
    • G11B5/676—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent the record carriers consisting of several layers having magnetic layers separated by a nonmagnetic layer, e.g. antiferromagnetic layer, Cu layer or coupling layer
    • G11B5/678—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent the record carriers consisting of several layers having magnetic layers separated by a nonmagnetic layer, e.g. antiferromagnetic layer, Cu layer or coupling layer having three or more magnetic layers

Definitions

  • the present invention relates to a magnetic storage medium and a magnetic recording apparatus, and more particularly to a magnetic storage medium and a magnetic recording apparatus that can obtain good write characteristics while maintaining thermal stability of magnetization with a simple structure.
  • ESM Exchange Spring Media
  • the ESM is a magnetic storage medium having a magnetic recording layer formed of an alloy made of at least one element and changing the magnetic anisotropy Ku in the thickness direction of the magnetic recording layer. It has been demonstrated that such an ESM can provide good write characteristics and a high recording density while maintaining the thermal stability of magnetization.
  • Non-Patent Document 1 in order to realize a structure in which the magnetic anisotropy is changed in the film thickness direction in a magnetic recording layer formed of an alloy composed of at least one element, Since complicated processing is required, there has been a problem that its manufacture is difficult.
  • the disclosed technology has been made in order to solve the problems caused by the above-described conventional technology. With a simple structure, it is possible to obtain good writing characteristics while maintaining thermal stability of magnetization, and high recording performance. It is an object of the present invention to provide a magnetic storage medium and a magnetic recording apparatus capable of realizing a higher density.
  • a magnetic storage medium disclosed in the present application in one embodiment, is formed by stacking a substrate and a plurality of magnetic layers and nonmagnetic layers alternately formed on the substrate.
  • the multilayer magnetic recording layer is configured to change the anisotropic magnetic field of the multilayer magnetic recording layer so as to increase toward the lower layer of the multilayer structure.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the magnetic storage medium according to this embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing details of the configuration of each experimental example.
  • FIG. 3A is a diagram illustrating details of the configuration of each comparative example.
  • FIG. 3B is a diagram illustrating details of the configuration of each comparative example.
  • FIG. 4 is a diagram showing the results of obtaining the anisotropic magnetic field (Hk) and the thermal stability (KuV / kBT) of each experimental example and each comparative example.
  • FIG. 5 is an explanatory diagram showing a configuration of a magnetic recording apparatus including the magnetic storage medium according to the present embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of a magnetic storage medium according to the present embodiment.
  • the magnetic storage medium 1 according to this example includes a backing layer 12, an underlayer 14, a magnetic recording layer 16, a protective layer 18, and a lubricating layer 20 on a substrate 10. , Have a sequentially stacked structure.
  • the magnetic recording layer 16 is a multilayer magnetic recording layer having a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately laminated, and its anisotropic magnetic field. Hk increases toward the lower layer of the laminated structure.
  • the substrate 10 is a substantially disk-like member in appearance and is made of, for example, a nonmagnetic material such as glass and aluminum alloy.
  • a nonmagnetic material such as glass and aluminum alloy.
  • an Ni alloy plated Al alloy substrate, chemically strengthened glass, crystallized glass, a thermally oxidized Si substrate, a plastic substrate, or the like can be used as the substrate 10.
  • the backing layer 12 is laminated on the substrate 10 and is formed to return a magnetic flux from a magnetic head (not shown) operating during recording to the magnetic head.
  • the backing layer 12 of this embodiment has a laminated structure of two or more layers in order to control the magnetic domain of the backing layer 12 itself.
  • the backing layer 12 has a structure in which a lower soft magnetic layer 12a, a nonmagnetic dividing layer 12b, and an upper soft magnetic layer 12c are sequentially stacked from the substrate 10 side.
  • an amorphous or microcrystalline soft magnetic material is used from the viewpoint of reducing noise reduction from the backing layer 12.
  • soft magnetic materials such as FeCoTaZr, CoZrNb, CoNbTa, FeCoZrNb, FeCoB, FeCoCrB, NiFeSiB, FeAlSi, FeTaC, FeHfC, and NiFe are used.
  • the nonmagnetic dividing layer 12b a nonmagnetic material mainly composed of a metal such as Cu or Ru or an alloy thereof is used.
  • the film thickness of the nonmagnetic dividing layer 12b is such that the easy magnetization axes of the lower soft magnetic layer 12a and the upper soft magnetic layer 12c sandwiching the nonmagnetic dividing layer 12b are parallel to the substrate surface and are different from each other by 180 °. Have been selected. This is for suppressing the occurrence of spike noise by suppressing the occurrence of domain walls in the backing layer 12.
  • the underlayer 14 is laminated on the backing layer 12 and is formed to control the crystal orientation and crystal grain size of the magnetic recording layer 16 formed on the underlayer 14.
  • a nonmagnetic material such as Pt, Pd, or Ir is used.
  • the magnetic recording layer 16 is a multilayer magnetic recording layer that is stacked on the underlayer 14 and has a stacked structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately stacked.
  • the magnetic layer 16a is made of a material mainly composed of one of Co and Fe, or an alloy thereof
  • the nonmagnetic layer 16b is made of any one of Pt, Pd, and Ir, or a material thereof.
  • a material mainly composed of an alloy is used.
  • the protective layer 18 is formed on the magnetic recording layer 16, and is formed of a material having high hardness such as a material mainly composed of carbon.
  • the lubricating layer 20 is formed of a lubricant such as perfluoropolyether or fluorine alcohol, for example.
  • the magnetic recording layer 16 is a multilayer magnetic recording layer having a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately laminated. It becomes larger toward the lower layer of the above laminated structure. This makes it easy to reverse the magnetization of the upper layer side of the magnetic recording layer 16, while making it difficult to reverse the magnetization of the lower layer side of the magnetic recording layer 16. That is, in this embodiment, magnetic recording is performed while maintaining thermal stability of magnetization on the upper layer side of the magnetic recording layer 16 by a simple structure of a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately stacked. Good write characteristics can be obtained on the lower layer side of the layer 16.
  • a method for manufacturing the magnetic storage medium 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
  • a substantially disc-shaped substrate 10 is prepared.
  • the backing layer 12, the underlayer 14, and the magnetic recording layer 16 are sequentially formed on the substrate 10.
  • the film formation of the backing layer 12, the underlayer 14, and the magnetic recording layer 16 is performed by executing a DC sputtering method. That is, after the substrate 10 is placed in the chamber of the DC magnetron sputtering apparatus and the inside of the chamber is evacuated, the materials for forming the backing layer 12, the underlayer 14, and the magnetic recording layer 16 are sputtered to obtain the substrate 10 On top, the backing layer 12, the underlayer 14, and the magnetic recording layer 16 are formed to a predetermined thickness.
  • the formation of the backing layer 12, the underlayer 14, and the magnetic recording layer 16 is not limited to the DC sputtering method, and may be performed by performing an RF sputtering method, a pulsed DC sputtering method, or a CVD method.
  • the magnetic recording layer 16 when the magnetic recording layer 16 is formed, a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately stacked is used, and the anisotropic magnetic field Hk of the magnetic recording layer 16 has the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer. It forms so that it may become large toward the lower layer of the laminated structure comprised by 16b.
  • the anisotropic magnetic field Hk of the magnetic recording layer 16 is constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b by satisfying any of the following relationships (1) to (4).
  • the magnetic recording layer 16 is formed so as to increase toward the lower layer of the laminated structure.
  • the thickness of the nonmagnetic layer 16b laminated nth from the substrate 10 side in the laminated structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b is set to tnon (n), and the substrate 10 in the laminated structure
  • the film thickness of the (n + 1) th laminated nonmagnetic layer 16b from the side is tnon (n + 1), tnon (n) ⁇ tnon (n + 1)
  • the thickness of the magnetic layer 16a laminated nth from the substrate 10 side in the laminated structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b is tmag (n), and the substrate 10 side in the laminated structure
  • the film thickness of the nonmagnetic layer 16b laminated from the nth to tnon (n) is tnon (n)
  • the film thickness of the magnetic layer 16a laminated n + 1 from the substrate 10 side in the laminated structure is tmag (n + 1)
  • the film thickness of the nonmagnetic layer 16b laminated n + 1 from the substrate 10 side in the laminated structure is tnon (n + 1)
  • the lattice constant of the nth magnetic layer 16a laminated from the substrate 10 side in the laminated structure composed of the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b is amag (n), and the substrate 10 side in the laminated structure.
  • the lattice constant of the n-th nonmagnetic layer 16b stacked from the substrate 10 side within the stack structure is anon (n), and the lattice constant of the n + 1-th stacked magnetic layer 16a from the substrate 10 side is amag (n + 1)
  • the lattice constant of the nonmagnetic layer 16b stacked n + 1 from the substrate 10 side in the stacked structure is amag (n + 1), amag (n) ⁇ anon (n) ⁇ amag (n + 1) ⁇ anon (n + 1) Or amag (n) ⁇ anon (n) ⁇ amag (n + 1) ⁇ anon (n + 1)
  • the magnetic recording layer 16 is a multilayer magnetic recording layer having a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately laminated.
  • the magnetic field increases toward the lower layer of the laminated structure. This makes it easy to reverse the magnetization of the upper layer side of the magnetic recording layer 16, while making it difficult to reverse the magnetization of the lower layer side of the magnetic recording layer 16. That is, in this embodiment, a simple structure of a stacked structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately stacked has a good write characteristic while maintaining the thermal stability of magnetization in the magnetic recording layer 16. Obtainable.
  • a protective layer 18 is formed on the magnetic recording layer 16.
  • the protective layer 18 is formed by performing a CVD method.
  • the lubricating layer 20 is formed on the protective layer 18.
  • the lubricating layer 20 is formed by applying a liquid lubricant to a predetermined thickness. In this way, the magnetic storage medium 1 of this embodiment is completed.
  • FIG. 2 is a diagram showing details of the configuration of each experimental example
  • FIGS. 3-1 and 3-2 are diagrams showing details of the configuration of each comparative example.
  • a glass substrate is prepared as the substrate 10, and a backing layer 12 having a thickness of 50.5 nm made of a laminated film in which FeCoTaZr, Ru, and FeCoTaZr are laminated in this order from below on the substrate 10, and a thickness of 5 nm made of a Pt film.
  • the underlayer 14, the magnetic recording layer 16, the protective layer 18 having a thickness of 4 nm made of a C film, and the lubricating layer 20 having a thickness of 1 nm made of perfluoropolyether were sequentially formed, and the magnetic storage medium according to Experimental Example 1 A model body was prepared.
  • a multilayer magnetic recording layer (Pt / Co) 10 having a laminated structure in which a magnetic layer 16a made of a Co film and a nonmagnetic layer 16b made of a Pt film were alternately laminated was formed as the magnetic recording layer 16.
  • the magnetic recording layer 16 has a non-magnetic layer 16b thickness of tnon (n) stacked from the substrate 10 side in the stacked structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b.
  • the nonmagnetic layer 16b stacked n + 1 from the substrate 10 side is tnon (n + 1)
  • the nonmagnetic layer 16b is formed to satisfy the relationship of tnon (n) ⁇ tnon (n + 1). That is, as shown in FIG. 2, in the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the thickness of the magnetic layer 16a made of the Co film is fixed to 0.4 nm, while the thickness of the nonmagnetic layer 16b made of the Pt film is set to be 0.4 nm. Then, the thickness was sequentially decreased so that 1.0 nm> 0.8 nm> 0.6 nm> 0.4 nm> 0.2 nm toward the upper layer of the stacked structure.
  • Example 2 A model body of the magnetic storage medium according to Experimental Example 2 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16.
  • the magnetic recording layer 16 has a thickness tmag (n) of the magnetic layer 16a laminated nth from the substrate 10 side in the laminated structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b.
  • the film thickness of the nonmagnetic layer 16b laminated nth from the substrate 10 side in the laminated structure is tnon (n), and the film of the magnetic layer 16a laminated n + 1 from the substrate 10 side in the laminated structure.
  • the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is directed toward the upper layer of the laminated structure.
  • the magnetic recording layer 16 is formed by combining a combination of forming materials of the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b that are in close contact with each other in the stacked structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b. It was formed so as to change in the stacking direction. That is, as shown in FIG. 2, the magnetic recording layer 16 includes a multilayer magnetic recording layer (Pt / Co) 3 , a multilayer magnetic recording layer (Pd / Co) 4 , and a multilayer magnetic recording layer (Ir / Co) 3 as a substrate. It is formed by laminating in this order from the 10 side.
  • the film thickness of the magnetic layer 16a and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b were constant at 0.4 nm and 0.8 nm, respectively.
  • Example 4 Except for the underlayer 14 and the magnetic recording layer 16, the structure of the magnetic storage medium according to Experimental Example 4 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1. Specifically, the underlayer 14 was formed of a Pd film. Further, the magnetic recording layer 16 has a lattice constant of amag (n) of the nth magnetic layer 16a laminated from the substrate 10 side in the laminated structure constituted by the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b, and the laminated structure.
  • the lattice constant of the n-th non-magnetic layer 16b laminated from the substrate 10 side is anon (n)
  • the lattice constant of the n + 1-th magnetic layer 16a laminated from the substrate 10 side in the laminated structure is amag. (N + 1), where amag (n) ⁇ anon (n) ⁇ amag (n + 1) ⁇ when the lattice constant of the (n + 1) th nonmagnetic layer 16b laminated from the substrate 10 side in the laminated structure is amag (n + 1). It was formed so as to satisfy the relationship of anon (n + 1). That is, as shown in FIG.
  • Comparative Example 1 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 1 was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3A, in the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness of the magnetic layer 16a made of Co film and the film thickness of the non-magnetic layer 16b made of Pt film are set to 0 respectively. Fixed at 4 nm and 1.0 nm. In the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is constant at 0.25 (1.0 nm / 0.4 nm). is there.
  • Comparative Example 2 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 2 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3A, the lowermost nonmagnetic layer 16b in the laminated structure of the magnetic recording layer 16 is formed of a Pd film, and the Co film is formed in the laminated structure of the magnetic recording layer 16. The film thickness of the magnetic layer 16a made of and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of the Pd film and the Pt film were fixed at 0.4 nm and 0.8 nm, respectively. In the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the thickness ratio defined by the thickness of the nonmagnetic layer 16b / the thickness of the magnetic layer 16a is constant at 2 (0.8 nm / 0.4 nm).
  • FIG. 3A A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 3 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3A, the lowermost nonmagnetic layer 16b in the laminated structure of the magnetic recording layer 16 is formed of a Pd film, and the Co film is formed in the laminated structure of the magnetic recording layer 16.
  • the film thickness of the magnetic layer 16a made of and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of the Pd film and the Pt film were fixed at 0.4 nm and 0.6 nm, respectively.
  • the thickness ratio defined by the thickness of the nonmagnetic layer 16b / the thickness of the magnetic layer 16a is constant at 1.5 (0.6 nm / 0.4 nm). is there.
  • FIG. 3A A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 4 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3A, the lowermost nonmagnetic layer 16b in the laminated structure of the magnetic recording layer 16 is formed of a Pd film, and the Co film is formed in the laminated structure of the magnetic recording layer 16.
  • the film thickness of the magnetic layer 16a made of and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of the Pd film and the Pt film were fixed at 0.4 nm and 0.4 nm, respectively.
  • the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is constant at 1 (0.4 nm / 0.4 nm).
  • FIG. 3A A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 5 was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3A, the lowermost nonmagnetic layer 16b in the laminated structure of the magnetic recording layer 16 is formed of a Pd film, and the Co film is formed in the laminated structure of the magnetic recording layer 16.
  • the film thickness of the magnetic layer 16a made of and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of the Pd film and the Pt film were fixed to 0.4 nm and 0.2 nm, respectively.
  • the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is constant at 0.5 (0.2 nm / 0.4 nm). is there.
  • FIG. 3B A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 6 was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3B, in the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness of the magnetic layer 16a made of a Co film and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of a Pt film are each 1 Fixed at 2 nm and 0.2 nm. In the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is constant at 6 (1.2 nm / 0.2 nm).
  • Comparative Example 7 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 7 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the configuration of the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3B, in the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness of the magnetic layer 16a made of Co film and the film thickness of the non-magnetic layer 16b made of Pt film are set to 0 respectively. Fixed at 6 nm and 0.4 nm. In the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the film thickness ratio defined by the film thickness of the nonmagnetic layer 16b / the film thickness of the magnetic layer 16a is constant at 0.67 (0.4 nm / 0.6 nm). is there.
  • FIG. 8 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 8 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the foundation layer 14 and the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3B, the underlayer 14 was formed of a Pd film. Further, as the magnetic recording layer 16, a multilayer magnetic recording layer (Pd / Co) 10 having a laminated structure in which a magnetic layer 16a made of a Co film and a nonmagnetic layer 16b made of a Pd film were alternately laminated was formed. The film thickness of the magnetic layer 16a made of Co film and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b made of Pd film were fixed at 0.4 nm and 0.8 nm, respectively. In the laminated structure of the magnetic recording layer 16, the thickness ratio defined by the thickness of the nonmagnetic layer 16b / the thickness of the magnetic layer 16a is constant at 2 (0.8 nm / 0.4 nm).
  • Comparative Example 9 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 9 was manufactured in the same manner as in Experimental Example 1 except for the foundation layer 14 and the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3B, the underlayer 14 was formed of an Ir film. As the magnetic recording layer 16, a multilayer magnetic recording layer (Ir / Co) 10 having a laminated structure in which a magnetic layer 16a made of a Co film and a nonmagnetic layer 16b made of an Ir film were alternately laminated was formed. The film thickness of the magnetic layer 16a and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b were constant at 0.4 nm and 0.8 nm, respectively.
  • Comparative Example 10 A model body of the magnetic storage medium according to Comparative Example 10 was fabricated in the same manner as in Experimental Example 1 except for the foundation layer 14 and the magnetic recording layer 16. Specifically, as shown in FIG. 3B, the underlayer 14 was formed of a Pd film. Further, as the magnetic recording layer 16, a multilayer magnetic recording layer having a laminated structure in which a magnetic layer 16a made of a Co film and a nonmagnetic layer 16b made of a PdCr40 film in which 40% of Cr is added to Pd are alternately laminated ( PdCr40 / Co) 10 was formed. The film thickness of the magnetic layer 16a and the film thickness of the nonmagnetic layer 16b were constant at 0.4 nm and 0.8 nm, respectively.
  • FIG. 4 is a diagram showing the results of obtaining the anisotropic magnetic field (Hk) and thermal stability (KuV / kBT) of each experimental example and each comparative example.
  • Hk anisotropic magnetic field
  • KuV / kBT thermal stability
  • the film thickness of the magnetic layer 16a is fixed to a constant value, while the film thickness of the nonmagnetic layer 16b is set to the upper layer of the laminated structure.
  • the effect of maintaining the thermal stability (KuV / kBT) of the magnetization while suppressing an excessive increase in the anisotropic magnetic field (Hk) that is a magnetic field necessary for the magnetization reversal is obtained.
  • the experimental example 1 can obtain better writing characteristics while maintaining the thermal stability of the magnetization in the magnetic recording layer 16 than the comparative examples 1 to 5.
  • the magnetic recording layer 16 is a multilayer magnetic recording layer having a stacked structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately stacked.
  • the anisotropic magnetic field increases toward the lower layer of the laminated structure. For this reason, without using a complicated structure like the conventional ESM, while maintaining a thermal stability of magnetization by a simple structure of a laminated structure in which a plurality of magnetic layers 16a and nonmagnetic layers 16b are alternately laminated, Good writing characteristics can be obtained. As a result, the magnetic characteristics of the magnetic storage medium are improved, and magnetic information can be recorded at a higher density.
  • FIG. 5 is an explanatory diagram showing the configuration of the magnetic recording apparatus provided with the magnetic storage medium according to the present embodiment.
  • the magnetic recording apparatus 2 includes a disk-shaped magnetic disk 21, a magnetic head 22 that reads and writes magnetic information from and to the magnetic disk 21, and an arm that holds the magnetic head 22. 23 and an actuator 24 that drives and controls the arm 23 in the radial direction of the magnetic disk 21.
  • the magnetic disk 21 the magnetic storage medium 1 having the structure already described in this embodiment is employed.
  • the magnetic recording apparatus 2 configured as described above uses the magnetic storage medium 1 having the structure already described in the present embodiment, magnetic information can be recorded at a higher density than in the past.
  • the nonmagnetic layer 16 b and the magnetic layer 16 b and the magnetic layer 16 a are reduced in order of decreasing the film thickness ratio toward the upper layer of the magnetic recording layer 16.
  • the film thickness of both of the layers 16a is changed, the film thickness of either the magnetic layer 16a or the nonmagnetic layer 16b may be changed.
  • the magnetic recording layer 16 is formed so as to satisfy the relationship of amag (n) ⁇ anon (n) ⁇ amag (n + 1) ⁇ anon (n + 1).
  • the nonmagnetic layer 16b may be formed so as to satisfy the relationship of amag (n) ⁇ anon (n) ⁇ amag (n + 1) ⁇ anon (n + 1).
  • the lattice constant of the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b is increased so that the anisotropic magnetic field of the magnetic recording layer 16 increases toward the lower layer of the laminated structure composed of the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b. What is necessary is just to set a difference.
  • the lattice constant of the nonmagnetic layer 16b is changed by adding Cr to the nonmagnetic layer 16b made of the Pd film, but the lattice constant of the magnetic layer 16a is changed. It is also possible to change the lattice constants of both the magnetic layer 16a and the nonmagnetic layer 16b.

Abstract

　簡易な構造により、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得て、高記録密度化を実現することを課題とする。この課題を解決するため、磁気記録層は、磁性層と非磁性層とを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層であり、その異方性磁界を、上記積層構造の下層に向けて大きくなるように変化させることとした。これにより、簡易な構造で磁気記録層における上層側を磁化反転し易くする一方、磁気記録層における下層側を磁化反転し難くして、磁気記録層における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができ、高記録密度化を実現することができる。

Description

磁気記憶媒体及び磁気記録装置
　この発明は、磁気記憶媒体及び磁気記録装置に関し、特に、簡易な構造により、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができる磁気記憶媒体及び磁気記録装置に関する。
　近年、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ　Ｄｉｓｃ　Ｄｒｉｖｅ）等の磁気記録装置は、コンピュータのみならず、映像記録機器や携帯型音楽再生装置等にも使用されるようになり、記録装置として一層の大容量化が求められている。これに伴って、磁気記録装置に備えられた磁気記憶媒体の高記録密度化の要求が高まっている。かかる高記録密度化を実現するためには、一般に、磁気記録層を構成する磁性粒子を微細化する必要がある。
　ところが、高記録密度化した磁気記憶媒体では、磁気記録層を構成する磁性粒子を微細化するに連れて、熱安定性の低下が問題となる。すなわち、磁性粒子に一旦記録された磁化が、熱揺らぎによって経時的に消失してしまう問題が発生する。この問題の対策として、磁気異方性Ｋｕの大きな材料を磁気記録層に使用することも考えられるが、磁気異方性Ｋｕを増加すると、異方性磁界Ｈｋ（＝２Ｋｕ／Ｍｓ、Ｍｓは、飽和磁化）も増加するため、磁気ヘッドからの書き込み磁界による磁化反転が困難となり、書き込み特性が悪化してしまう。
　そこで、高記録密度化と熱安定性の維持とを両立させるための技術として、ＥＳＭ（
Ｅｘｃｈａｎｇｅ　Ｓｐｒｉｎｇ　Ｍｅｄｉａ）と呼ばれる磁気記憶媒体が提案されている（非特許文献１参照）。ＥＳＭは、少なくとも１つ以上の元素からなる合金で形成された磁気記録層を有し、この磁気記録層の膜厚方向に磁気異方性Ｋｕを変化させた磁気記憶媒体である。かかるＥＳＭによれば、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性が得られ、高記録密度化を図ることができることが実証されている。
Exchange-spring　behavior　in　epitaxial　hard/soft　magnetic　bilayers,　Phys.　Rev.　B　vol.58,　pp.12193　(1998)
　しかしながら、非特許文献１に記載されたＥＳＭでは、少なくとも１つ以上の元素からなる合金で形成された磁気記録層内で膜厚方向に磁気異方性を変化させた構造を実現するために、複雑な処理を必要とすることから、その製造が困難であるという問題があった。
　開示の技術は、上述した従来技術による問題点を解消するためになされたものであり、簡易な構造により、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができ、高記録密度化を実現することができる磁気記憶媒体及び磁気記録装置を提供することを目的とする。
　上述した課題を解決し、目的を達成するため、本願の開示する磁気記憶媒体は、一つの態様において、基板と、当該基板の上方に形成され、磁性層と非磁性層とを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層とを備え、前記多層磁気記録層は、当該多層磁気記録層の異方性磁界を、前記積層構造の下層に向けて大きくなるように変化させている。
　簡易な構造により、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができ、高記録密度化を実現することができるという効果を奏する。
図１は、本実施例に係る磁気記憶媒体の構成を示す概略的な断面図である。 図２は、各実験例の構成の詳細を示す図である。 図３－１は、各比較例の構成の詳細を示す図である。 図３－２は、各比較例の構成の詳細を示す図である。 図４は、各実験例及び各比較例の異方性磁界（Ｈｋ）及び磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を求めた結果を示す図である。 図５は、本実施例に係る磁気記憶媒体を備えた磁気記録装置の構成を示す説明図である。
符号の説明
１　　　　磁気記憶媒体
２　　　　磁気記録装置
１０　　　基板
１６　　　磁気記録層（多層磁気記録層）
１６ａ　　磁性層
１６ｂ　　非磁性層
２１　　　磁気ディスク（磁気記憶媒体）
２２　　　磁気ヘッド
　以下に、本願の開示する磁気記憶媒体及び磁気記録装置の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
　図１は、本実施例に係る磁気記憶媒体の構成を示す概略的な断面図である。図１に示すように、本実施例に係る磁気記憶媒体１は、基板１０の上に、裏打ち層１２と、下地層１４と、磁気記録層１６と、保護層１８と、潤滑層２０とを、順次積層した構造を有している。
　特に、本実施例に係る磁気記憶媒体１では、磁気記録層１６が、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層であり、その異方性磁界Ｈｋは、上記積層構造の下層に向けて大きくなっている。以下、磁気記憶媒体１を構成する各部の構成について詳細に説明する。
　基板１０は、外観視で略円盤状の部材であり、例えば、ガラス及びアルミニウム合金等の非磁性な材料により形成されている。具体的には、基板１０としては、ＮｉＰメッキを施したＡｌ合金基板や化学強化ガラス、結晶化ガラス、熱酸化Ｓｉ基板、プラスチック基板等を用いることができる。
　裏打ち層１２は、基板１０上に積層されており、記録時に稼動する磁気ヘッド（図示せず）からの磁束を当該磁気ヘッドに還流させるために形成される。本実施例の裏打ち層１２は、当該裏打ち層１２自体の磁区制御を行うために２層以上の積層構造を有している。具体的には、裏打ち層１２は、基板１０側から、下層側軟磁性層１２ａと、非磁性分断層１２ｂと、上層側軟磁性層１２ｃとを順次積層した構造を有している。
　下層側軟磁性層１２ａ及び上層側軟磁性層１２ｃとしては、裏打ち層１２からのノイズ低減を低減する観点から、アモルファス若しくは微結晶構造の軟磁性材料が用いられる。具体的には、ＦｅＣｏＴａＺｒ、ＣｏＺｒＮｂ、ＣｏＮｂＴａ、ＦｅＣｏＺｒＮｂ、ＦｅＣｏＢ、ＦｅＣｏＣｒＢ、ＮｉＦｅＳｉＢ、ＦｅＡｌＳｉ、ＦｅＴａＣ、ＦｅＨｆＣ、ＮｉＦｅ等の軟磁性材料が用いられている。
　非磁性分断層１２ｂとしては、Ｃｕ、Ｒｕ等の金属又はその合金を主体とする非磁性材料が用いられる。非磁性分断層１２ｂの膜厚は、この非磁性分断層１２ｂを挟み込んでいる下層側軟磁性層１２ａ及び上層側軟磁性層１２ｃの磁化容易軸が基板面と平行で互いに１８０°異なる方向を向くように選択されている。これは、裏打ち層１２内の磁壁の発生を抑制して、スパイクノイズの発生を抑制するためである。
　下地層１４は、裏打ち層１２上に積層されており、当該下地層１４上に形成される磁気記録層１６の結晶配向性や結晶粒径を制御するために形成される。下地層１４としては、例えば、Ｐｔ、Ｐｄ、Ｉｒ等の非磁性材料が用いられる。
　磁気記録層１６は、下地層１４上に積層されており、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層である。磁性層１６ａとしては、Ｃｏ、Ｆｅのいずれかの金属、又はその合金を主成分とする材料が用いられており、非磁性層１６ｂとしては、Ｐｔ、Ｐｄ、Ｉｒのいずれかの金属、又はその合金を主成分とする材料が用いられる。
　保護層１８は、磁気記録層１６上に形成されており、例えば、カーボンを主体とした材料等の硬度の高い材料により形成されている。潤滑層２０は、例えば、パーフルオロポリエーテル、フッ素アルコール等の潤滑剤により形成されている。
　本実施例に係る磁気記憶媒体１では、磁気記録層１６は、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層であり、その異方性磁界は、上記積層構造の下層に向けて大きくなっている。これにより、磁気記録層１６における上層側を磁化反転し易くする一方、磁気記録層１６における下層側を磁化反転し難くしている。すなわち、本実施例では、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造という簡易な構造により、磁気記録層１６における上層側で磁化の熱安定性を維持しつつ、磁気記録層１６における下層側で良好な書き込み特性を得ることができるようにしている。
　次に、図１を参照して、本実施例に係る磁気記憶媒体１の製造方法について説明する。本実施例に係る磁気記憶媒体１の製造方法では、まず、略円盤状の基板１０を用意する。そして、この基板１０の上に、裏打ち層１２、下地層１４、磁気記録層１６を順次成膜する。
　これら裏打ち層１２、下地層１４、磁気記録層１６の成膜は、ＤＣスパッタ法を実行することにより行われる。すなわち、基板１０をＤＣマグネトロンスパッタ装置のチャンバ内に配置して、チャンバ内を真空排気した後、裏打ち層１２、下地層１４、磁気記録層１６を形成するそれぞれの材料をスパッタリングして、基板１０上に、裏打ち層１２、下地層１４、磁気記録層１６を所定の厚さに形成する。なお、裏打ち層１２、下地層１４、磁気記録層１６の成膜は、ＤＣスパッタ法に限らず、ＲＦスパッタ法、パルスＤＣスパッタ法、ＣＶＤ法を実行することにより行われてもよい。
　ここで、磁気記録層１６の形成に際しては、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を、磁気記録層１６の異方性磁界Ｈｋが、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造の下層に向けて大きくなるように形成する。
　すなわち、本実施例では、以下の（１）～（４）のいずれかの関係を満たすことにより、磁気記録層１６の異方性磁界Ｈｋが、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造の下層に向けて大きくなるように、磁気記録層１６を形成している。
（１）磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、
　ｔｎｏｎ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）
（２）磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された磁性層１６ａの膜厚をｔｍａｇ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層１６ａの膜厚をｔｍａｇ（ｎ＋１）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、
　ｔｎｏｎ（ｎ）／ｔｍａｇ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）／ｔｍａｇ（ｎ＋１）
（３）磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で互いに密着する磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとの形成材料の組み合わせを、当該積層構造の積層方向に変化させる。
（４）磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された磁性層１６ａの格子定数をａｍａｇ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの格子定数をａｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層１６ａの格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）とすると、
　ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≧ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）
若しくは、
　ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≦ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）
　このように、本実施例の磁気記憶媒体１では、磁気記録層１６は、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層であり、その異方性磁界は、上記積層構造の下層に向けて大きくなっている。これにより、磁気記録層１６における上層側を磁化反転し易くする一方、磁気記録層１６における下層側を磁化反転し難くしている。すなわち、本実施例では、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造という簡易な構造により、磁気記録層１６における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができる。
　次いで、磁気記録層１６の上に、保護層１８を成膜する。保護層１８の成膜は、例えば、ＣＶＤ法を実行することにより行われる。次いで、保護層１８の上に潤滑層２０を成膜する。潤滑層２０の成膜は、液体潤滑剤を所定の厚さに塗布して形成される。このようにして、本実施例の磁気記憶媒体１が完成する。
　次に、本実施例に係る磁気記憶媒体１の効果について、実験例と比較例とを比較して説明する。図２は、各実験例の構成の詳細を示す図であり、図３－１及び図３－２は、各比較例の構成の詳細を示す図である。
　［実験例１］
　基板１０としてガラス基板を用意し、この基板１０の上に、ＦｅＣｏＴａＺｒ、Ｒｕ及びＦｅＣｏＴａＺｒを下からこの順で積層した積層膜よりなる膜厚５０．５ｎｍの裏打ち層１２、Ｐｔ膜よりなる膜厚５ｎｍの下地層１４、磁気記録層１６、Ｃ膜よりなる膜厚４ｎｍの保護層１８、パーフルオロポリエーテルからなる膜厚１ｎｍの潤滑層２０を順次成膜し、実験例１に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。
　このとき、磁気記録層１６として、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａと、Ｐｔ膜からなる非磁性層１６ｂとを交互に積層した積層構造を有する多層磁気記録層（Ｐｔ／Ｃｏ）１０を形成した。また、磁気記録層１６は、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、ｔｎｏｎ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）の関係を満たすように形成した。すなわち、図２に示すように、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚を０．４ｎｍに固定する一方、Ｐｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、当該積層構造の上層に向けて、１．０ｎｍ＞０．８ｎｍ＞０．６ｎｍ＞０．４ｎｍ＞０．２ｎｍとなるように順次薄くした。
　［実験例２］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、実験例２に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、磁気記録層１６は、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された磁性層１６ａの膜厚をｔｍａｇ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層１６ａの膜厚をｔｍａｇ（ｎ＋１）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、ｔｎｏｎ（ｎ）／ｔｍａｇ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）／ｔｍａｇ（ｎ＋１）の関係を満たすように形成した。すなわち、図２に示すように、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率を、当該積層構造の上層に向けて、６（＝１．２ｎｍ／０．２ｎｍ）＞３．３（＝１．０ｎｍ／０．３ｎｍ）＞２（＝０．８ｎｍ／０．４ｎｍ）＞１．２（＝０．６ｎｍ／０．５ｎｍ）＞０．６７（＝０．４ｎｍ／０．６ｎｍ）となるように順次小さくした。
　［実験例３］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、実験例３に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、磁気記録層１６は、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で互いに密着する磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとの形成材料の組み合わせを、当該積層構造の積層方向に変化させるようにして形成された。すなわち、図２に示すように、磁気記録層１６は、多層磁気記録層（Ｐｔ／Ｃｏ）３、多層磁気記録層（Ｐｄ／Ｃｏ）４、多層磁気記録層（Ｉｒ／Ｃｏ）３を、基板１０側からこの順番で積層して形成されている。なお、磁性層１６ａの膜厚及び非磁性層１６ｂの膜厚は、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍで一定とした。
　［実験例４］
　下地層１４及び磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、実験例４に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、下地層１４をＰｄ膜により形成した。また、磁気記録層１６は、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された磁性層１６ａの格子定数をａｍａｇ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ番目に積層された非磁性層１６ｂの格子定数をａｎｏｎ（ｎ）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層１６ａの格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）、当該積層構造内で基板１０側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層１６ｂの格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）とすると、ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≧ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）の関係を満たすように形成された。すなわち、図２に示すように、Ｐｄ膜よりなる非磁性層１６ｂに対して、基板１０に近い側から順にＣｒをそれぞれ０％（Ｐｄ）、２０％（ＰｄＣｒ２０）及び４０％（ＰｄＣｒ４０）添加することで、磁気記録層１６の積層構造の上層に向けて、当該非磁性層１６ｂとＣｏ膜よりなる磁性層１６ａとの格子定数の差を順次小さくした。なお、磁性層１６ａの膜厚及び非磁性層１６ｂの膜厚は、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍで一定とした。
　［比較例１］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例１に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－１に示すように、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び１．０ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、０．２５（１．０ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例２］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例２に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－１に示すように、磁気記録層１６の積層構造における最下層の非磁性層１６ｂをＰｄ膜により形成し、かつ、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｄ膜とＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、２（０．８ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例３］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例３に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－１に示すように、磁気記録層１６の積層構造における最下層の非磁性層１６ｂをＰｄ膜により形成し、かつ、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｄ膜とＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び０．６ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、１．５（０．６ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例４］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例４に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－１に示すように、磁気記録層１６の積層構造における最下層の非磁性層１６ｂをＰｄ膜により形成し、かつ、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｄ膜とＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び０．４ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、１（０．４ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例５］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例５に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－１に示すように、磁気記録層１６の積層構造における最下層の非磁性層１６ｂをＰｄ膜により形成し、かつ、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｄ膜とＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び０．２ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、０．５（０．２ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例６］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例６に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－２に示すように、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ１．２ｎｍ及び０．２ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、６（１．２ｎｍ／０．２ｎｍ）で一定である。
　［比較例７］
　磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例７に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－２に示すように、磁気記録層１６の積層構造内で、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｔ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．６ｎｍ及び０．４ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、０．６７（０．４ｎｍ／０．６ｎｍ）で一定である。
　［比較例８］
　下地層１４及び磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例８に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－２に示すように、下地層１４をＰｄ膜により形成した。また、磁気記録層１６として、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａと、Ｐｄ膜からなる非磁性層１６ｂとを交互に積層した積層構造を有する多層磁気記録層（Ｐｄ／Ｃｏ）１０を形成した。また、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａの膜厚及びＰｄ膜からなる非磁性層１６ｂの膜厚を、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍに固定した。なお、磁気記録層１６の積層構造内で、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率は、２（０．８ｎｍ／０．４ｎｍ）で一定である。
　［比較例９］
　下地層１４及び磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例９に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－２に示すように、下地層１４をＩｒ膜により形成した。また、磁気記録層１６として、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａと、Ｉｒ膜からなる非磁性層１６ｂとを交互に積層した積層構造を有する多層磁気記録層（Ｉｒ／Ｃｏ）１０を形成した。また、磁性層１６ａの膜厚及び非磁性層１６ｂの膜厚は、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍで一定とした。
　［比較例１０］
　下地層１４及び磁気記録層１６以外の構成は、実験例１と同様にして、比較例１０に係る磁気記憶媒体のモデル体を作製した。具体的には、図３－２に示すように、下地層１４をＰｄ膜により形成した。また、磁気記録層１６として、Ｃｏ膜からなる磁性層１６ａと、Ｐｄに対してＣｒを４０％添加したＰｄＣｒ４０膜からなる非磁性層１６ｂとを交互に積層した積層構造を有する多層磁気記録層（ＰｄＣｒ４０／Ｃｏ）１０を形成した。なお、磁性層１６ａの膜厚及び非磁性層１６ｂの膜厚は、それぞれ０．４ｎｍ及び０．８ｎｍで一定とした。
　図４は、各実験例及び各比較例の異方性磁界（Ｈｋ）及び磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を求めた結果を示す図である。なお、異方性磁界をＨｋ、磁性粒子１個の体積をＶ、ボルツマン定数をｋＢ、絶対温度をＴとすると、磁化の熱安定性は、ＫｕＶ／ｋＢＴで表されるものとする。
　図４に示すように、実験例１と比較例１～５とを比較すると、磁性層１６ａの膜厚を一定値に固定する一方、非磁性層１６ｂの膜厚を、当該積層構造の上層に向けて順次薄くすることで、磁化反転に必要な磁界である異方性磁界（Ｈｋ）の過度な増加を抑制しつつ磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を維持する効果が得られている。これは、比較例１～５よりも実験例１の方が、磁気記録層１６における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができることを意味している。
　また、実験例２と比較例２、６及び７とを比較すると、非磁性層１６ｂの膜厚／磁性層１６ａの膜厚で定義される膜厚比率を、磁気記録層１６の積層構造の上層に向けて順次小さくすることで、異方性磁界（Ｈｋ）の過度な増加を抑制しつつ磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を維持する効果が得られている。これは、比較例２、６及び７よりも実験例２の方が、磁気記録層１６における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができることを意味している。
　また、実験例３と比較例２、８及び９とを比較すると、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂの積層構造内で互いに密着する磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとの形成材料の組み合わせを、当該積層構造の積層方向に変化させることで、異方性磁界（Ｈｋ）の過度な増加を抑制しつつ磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を維持する効果が得られている。これは、比較例２、８及び９よりも実験例３の方が、磁気記録層１６における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができることを意味している。
　また、実験例４と比較例２及び１０とを比較すると、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂの積層構造の上層に向けて、非磁性層１６ｂと磁性層１６ａとの格子定数の差を順次小さくすることで、異方性磁界（Ｈｋ）の過度な増加を抑制しつつ磁化の熱安定性（ＫｕＶ／ｋＢＴ）を維持する効果が得られている。これは、比較例２及び１０よりも実験例４の方が、磁気記録層１６における磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができることを意味している。
　以上説明してきたように、本実施例に係る磁気記憶媒体１では、磁気記録層１６は、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層であり、その異方性磁界は、上記積層構造の下層に向けて大きくなっている。このため、従来のＥＳＭのような複雑な構造を用いることなく、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとを交互に複数積層した積層構造という簡易な構造により、磁化の熱安定性を維持しつつ、良好な書き込み特性を得ることができる。その結果、磁気記憶媒体の磁気特性が改善され、磁気情報をより一層高密度に記録することが可能となる。
　（磁気記録装置）
　図５は、本実施例に係る磁気記憶媒体を備えた磁気記録装置の構成を示す説明図である。図５に示すように、磁気記録装置２は、その筐体内に、円盤状の磁気ディスク２１と、磁気ディスク２１に対して磁気情報の読み書きを行う磁気ヘッド２２と、磁気ヘッド２２を保持するアーム２３と、アーム２３を磁気ディスク２１の半径方向に駆動制御するアクチュエータ２４とを有し、磁気ディスク２１として、本実施例で既に説明した構造の磁気記憶媒体１を採用している。
　このように構成された磁気記録装置２は、本実施例で既に説明した構造の磁気記憶媒体１を使用しているので、従来に比べて磁気情報をより一層高密度に記録することができる。
　さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、上記特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施例にて実施されてもよいものである。
　例えば、上述した実施例の実験例２では、非磁性層１６ｂ及び磁性層１６ａの膜厚比率を、磁気記録層１６の積層構造の上層に向けて順次小さくするために、非磁性層１６ｂ及び磁性層１６ａの両者の膜厚を変化させたが、磁性層１６ａ又は非磁性層１６ｂのいずれか一方の膜厚を変化させてもよい。
　また、上述した実施例の実験例４では、磁気記録層１６を、ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≧ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）の関係を満たすように形成したが、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂの形成材料の組み合わせに応じて、ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≦ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）の関係を満たすように形成してもよい。要するに、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂにより構成される積層構造の下層に向けて、磁気記録層１６の異方性磁界が大きくなるように、磁性層１６ａと非磁性層１６ｂとの格子定数の差が設定されればよい。
　また、上述した実施例の実験例４では、Ｐｄ膜よりなる非磁性層１６ｂに対してＣｒを添加することで非磁性層１６ｂの格子定数を変化させたが、磁性層１６ａの格子定数を変化させてもよく、また、磁性層１６ａ及び非磁性層１６ｂの両者の格子定数を変化させてもよい。

Claims (6)

  1. 　基板と、当該基板の上方に形成され、磁性層と非磁性層とを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層とを備え、
    　前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする磁気記憶媒体。
  2. 　前記積層構造内で前記基板側から第ｎ番目に積層された非磁性層の膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層の膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、
    　ｔｎｏｎ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）
    の関係を満たすことにより、前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする請求項１に記載の磁気記憶媒体。
  3. 　前記積層構造内で前記基板側から第ｎ番目に積層された磁性層の膜厚をｔｍａｇ（ｎ）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ番目に積層された非磁性層の膜厚をｔｎｏｎ（ｎ）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層の膜厚をｔｍａｇ（ｎ＋１）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層の膜厚をｔｎｏｎ（ｎ＋１）とすると、
    　ｔｎｏｎ（ｎ）／ｔｍａｇ（ｎ）≧ｔｎｏｎ（ｎ＋１）／ｔｍａｇ（ｎ＋１）
    の関係を満たすことにより、前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする請求項１に記載の磁気記憶媒体。
  4. 　前記積層構造内で互いに密着する磁性層と非磁性層との形成材料の組み合わせを、前記積層構造の積層方向に変化させることにより、前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする請求項１に記載の磁気記憶媒体。
  5. 　前記積層構造内で前記基板側から第ｎ番目に積層された磁性層の格子定数をａｍａｇ（ｎ）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ番目に積層された非磁性層の格子定数をａｎｏｎ（ｎ）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ＋１番目に積層された磁性層の格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）、前記積層構造内で前記基板側から第ｎ＋１番目に積層された非磁性層の格子定数をａｍａｇ（ｎ＋１）とすると、
    　ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≧ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）
    若しくは、
    　ａｍａｇ（ｎ）－ａｎｏｎ（ｎ）≦ａｍａｇ（ｎ＋１）－ａｎｏｎ（ｎ＋１）
    の関係を満たすことにより、前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする請求項１に記載の磁気記憶媒体。
  6. 　基板と、当該基板の上方に形成され、磁性層と非磁性層とを交互に複数積層した積層構造を有する多層磁気記録層とを備えた磁気記憶媒体と、
    　前記磁気記憶媒体に対して磁気情報の読み書きを行う磁気ヘッドとを備え、
    　前記多層磁気記録層の異方性磁界は、前記積層構造の下層に向けて大きくなることを特徴とする磁気記録装置。
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