WO2010058441A1 - Équipement de test, procédé de test et programme - Google Patents

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WO2010058441A1 PCT/JP2008/003395 JP2008003395W WO2010058441A1 WO 2010058441 A1 WO2010058441 A1 WO 2010058441A1 JP 2008003395 W JP2008003395 W JP 2008003395W WO 2010058441 A1 WO2010058441 A1 WO 2010058441A1
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Abstract

L'invention concerne un équipement de test comportant une unité de commande de phase servant à modifier séquentiellement les phases relatives des données d’entrée / sortie d’un dispositif en cours de test et d'un signal d’échantillonnage prédéterminé dans une direction unique prédéterminée ; une unité de comparaison de valeurs prévues servant à déterminer un nombre prédéterminé de fois à chaque phase relative si une valeur obtenue en échantillonnant les données d’entrée / sortie à l’aide du signal d’échantillonnage correspond ou non à une valeur prévue prédéterminée ; une unité de détection de phase servant à détecter une première phase relative où un état d’échec évolue vers un état de validation et une deuxième phase relative où l’état de validation évolue vers l’état d’échec, l’état d’échec indiquant qu’au moins un des résultats de détermination du nombre prédéterminé de fois présente un désaccord et l’état de validation indiquant que tous les résultats de détermination du nombre prédéterminé de fois présentent une concordance ; une unité d’ajustement de phase servant à ajuster, sur la base des première et deuxième phases relatives détectées par l’unité de détection de phase, la phase d’un signal de test appliqué au dispositif en cours de test ; et une unité de test servant à tester le dispositif en cours de test à l’aide du signal de test dont la phase a été ajustée par l’unité d’ajustement de phase. Il en résulte une réduction du temps nécessaire pour l’apprentissage du minutage.
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