WO2010023728A1 - 圧電振動子の製造方法、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計 - Google Patents

圧電振動子の製造方法、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計 Download PDF

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由美 山口
一義 須釜
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セイコーインスツル株式会社
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    • Y10T29/42Piezoelectric device making

Definitions

  • the present invention relates to a surface mount type (SMD) piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece is sealed in a cavity formed between two bonded substrates, a manufacturing method thereof, an oscillator having a piezoelectric vibrator,
  • SMD surface mount type
  • the present invention relates to electronic devices and radio clocks.
  • a piezoelectric vibrator using crystal or the like is used as a timing source such as a time source or a control signal, a reference signal source, or the like in a mobile phone or a portable information terminal.
  • a timing source such as a time source or a control signal, a reference signal source, or the like in a mobile phone or a portable information terminal.
  • Various types of piezoelectric vibrators of this type are known, and one of them is a surface mount type (SMD, Surface Mount Device) piezoelectric vibrator.
  • SMD Surface Mount Device
  • FIG. 18 is a plan view of the piezoelectric vibrator according to the prior art with the lid substrate removed
  • FIG. 19 is a cross-sectional view taken along the line DD of FIG.
  • a package 209 is formed by a base substrate 201 and a lid substrate 202, and the piezoelectric vibrating piece 203 is housed in a cavity C formed inside the package 209. Things have been proposed.
  • the base substrate 201 and the lid substrate 202 are bonded by anodic bonding with a bonding film 207 disposed therebetween.
  • a piezoelectric vibrator having a lower equivalent resistance value (effective resistance value, Re) is desired.
  • a piezoelectric vibrator having a low equivalent resistance value can vibrate the piezoelectric vibrating piece with low power, and thus becomes a piezoelectric vibrator with good energy efficiency.
  • the cavity C in which the piezoelectric vibrating piece 203 is sealed is brought close to a vacuum, and the series is proportional to the equivalent resistance value.
  • a method of reducing the resonance resistance value (R1) is known.
  • the getter material 220 and the gettering are placed on the vibrating arm portion 210 of the piezoelectric vibrating piece 203 positioned in the immediate vicinity of the getter material 220.
  • the amount of the getter material 220 adhering to each of the pair of vibrating arm portions 210 and 210 becomes unbalanced, vibration leakage (vibration of leakage of vibration energy) occurs and the characteristics of the piezoelectric vibrator become unstable. was there. As a result, there is a problem that the yield of the piezoelectric vibrator 200 is lowered.
  • the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and provides a piezoelectric vibrator capable of reducing vibration leakage and improving yield, a manufacturing method thereof, an oscillator, an electronic device, and a radio timepiece. With the goal.
  • the piezoelectric vibrator manufacturing method according to the present invention corresponds to each of the tuning fork-type piezoelectric vibrating piece having a pair of vibrating arms, a package housing the piezoelectric vibrating pieces, and the pair of vibrating arms.
  • the method includes a gettering step of irradiating the laser at a symmetrical position via a central axis of the pair of vibrating arms in the pair of adjustment films. It is characterized by that.
  • the piezoelectric vibrator according to the present invention includes a tuning fork-type piezoelectric vibrating piece provided with a pair of vibrating arm portions, a package housing the piezoelectric vibrating piece, and the vibration corresponding to each of the pair of vibrating arm portions.
  • a pair of adjustment films formed along the longitudinal direction of the arm, and improving the degree of vacuum in the package by irradiating the adjustment film with a laser to evaporate a part of the adjustment film
  • the laser irradiation traces are formed at symmetrical positions via the central axes of the pair of vibrating arms in the pair of adjustment films.
  • a part of the adjustment film is evaporated by irradiating a laser at a symmetrical position via the central axis of the pair of vibrating arms in the pair of adjustment films.
  • the adjustment film deposited on the side surfaces of the pair of vibrating arms can be made substantially uniform.
  • the vibration characteristics of the vibrating arms change depending on the gettering position in the longitudinal direction of the vibrating arms, but the vibration characteristics of the pair of vibrating arms are matched by gettering to a symmetrical position via the central axis. Can do. Therefore, stable vibration characteristics can be obtained even after the gettering step, and vibration leakage can be reduced. As a result, the yield can be improved.
  • the oscillator according to the present invention is characterized in that the above-described piezoelectric vibrator is electrically connected to an integrated circuit as an oscillator. Furthermore, an electronic device according to the present invention is characterized in that the above-described piezoelectric vibrator is electrically connected to a time measuring unit.
  • the radio timepiece according to the present invention is characterized in that the piezoelectric vibrator described above is electrically connected to the filter unit.
  • the oscillator, the electronic device, and the radio timepiece according to the present invention since the piezoelectric vibrator that can reduce the vibration leakage and improve the yield is used, the oscillator, the electronic device, and the radio timepiece having stable vibration characteristics are provided. Can be provided.
  • the vibration characteristics of the vibrating arms change depending on the gettering position in the longitudinal direction of the vibrating arms, but the vibration characteristics of the pair of vibrating arms are matched by gettering to a symmetrical position via the central axis. Can do. Therefore, stable vibration characteristics can be obtained even after the gettering step, and vibration leakage can be reduced. As a result, the yield can be improved.
  • FIG. 1 is an external perspective view showing an embodiment of a piezoelectric vibrator according to the present invention.
  • FIG. 2 is an internal configuration diagram of the piezoelectric vibrator shown in FIG. 1, and is a view of the piezoelectric vibrator as viewed from above with the lid substrate removed.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the piezoelectric vibrator taken along line AA shown in FIG.
  • FIG. 4 is an exploded perspective view of the piezoelectric vibrator shown in FIG.
  • FIG. 5 is a top view of the piezoelectric vibrating piece constituting the piezoelectric vibrator shown in FIG. 6 is a bottom view of the piezoelectric vibrating piece shown in FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line BB shown in FIG. FIG.
  • FIG. 8 is a flowchart showing a flow of manufacturing the piezoelectric vibrator shown in FIG.
  • FIG. 9 is a diagram showing one step in manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 8, in which a plurality of recesses and bonding films are formed on the lid substrate wafer that is the base of the lid substrate.
  • FIG. 10 is a diagram showing one process in manufacturing a piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 8, in which a getter material, a through electrode, a lead-out electrode, and a bond are formed on a base substrate wafer that is a base substrate. It is a figure which shows the state in which the film
  • FIG. 10 is a diagram showing one process in manufacturing a piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 8, in which a getter material, a through electrode, a lead-out electrode, and a bond are formed on a base substrate wafer that is a base substrate. It
  • FIG. 11 is an overall view of the base substrate wafer in the state shown in FIG.
  • FIG. 12 is a diagram showing one process when the piezoelectric vibrator is manufactured according to the flowchart shown in FIG. 8, and the base substrate wafer, the lid substrate wafer, It is a disassembled perspective view of the wafer body by which anodic bonding was carried out.
  • FIG. 13 is a diagram showing a step in manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 8, and shows a state in which the getter material on the proximal end side of the vibrating arm portion is heated and evaporated. It is.
  • FIG. 14 is an enlarged view of a portion E in FIG.
  • FIG. 15 is a configuration diagram showing an embodiment of an oscillator according to the present invention.
  • FIG. 16 is a configuration diagram showing an embodiment of an electronic apparatus according to the invention.
  • FIG. 17 is a block diagram showing an embodiment of a radio timepiece according to the present invention.
  • FIG. 18 is a plan view of a state in which a lid substrate of a piezoelectric vibrator according to the prior art is removed.
  • FIG. 19 is a cross-sectional view taken along the line DD of FIG.
  • Piezoelectric vibrator 2 Base substrate (package) 3 Lid board (package) 4 Piezoelectric vibrating piece 10 Vibrating arm portion 11 Vibrating arm portion 34 Getter material (adjustment film) 40 Base substrate wafer (package) 41 Laser irradiation trace (irradiation trace) 50 Lid substrate wafer (package) DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Oscillator 101 Oscillator integrated circuit 110 Portable information device (electronic device) 113 Timekeeping Unit of Electronic Equipment 130 Radio Clock 131 Radio Frequency Filter Filter L Center shaft
  • the piezoelectric vibrator 1 is formed in a box shape in which a base substrate 2 and a lid substrate 3 are laminated in two layers, and the piezoelectric vibrating reed 4 is placed in an internal cavity C.
  • This is a housed surface mount type piezoelectric vibrator.
  • the excitation electrode 15, the extraction electrodes 19 and 20, the mount electrodes 16 and 17, and the weight metal film 21, which will be described later, are omitted for easy understanding of the drawing.
  • the piezoelectric vibrating piece 4 is a tuning fork type vibrating piece formed from a piezoelectric material such as quartz crystal, lithium tantalate or lithium niobate, and when a predetermined voltage is applied. It vibrates.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 includes a pair of vibrating arm portions 10 and 11 arranged in parallel, a base portion 12 that integrally fixes the base end sides of the pair of vibrating arm portions 10 and 11, and a pair of vibrating arm portions.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 of the present embodiment includes groove portions 18 formed on both main surfaces of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 along the longitudinal direction of the vibrating arm portions 10 and 11, respectively. .
  • the groove portion 18 is formed from the proximal end side of the vibrating arm portions 10 and 11 to the vicinity of the middle.
  • the excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 is an electrode that vibrates the pair of vibrating arm portions 10 and 11 at a predetermined resonance frequency in a direction approaching or separating from each other. Patterned on the outer surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 while being electrically separated from each other. Specifically, as shown in FIG. 7, the first excitation electrode 13 is mainly formed on the groove portion 18 of one vibration arm portion 10 and on both side surfaces of the other vibration arm portion 11. The excitation electrode 14 is mainly formed on both side surfaces of one vibration arm portion 10 and on the groove portion 18 of the other vibration arm portion 11.
  • the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 are mounted on the main surfaces of the base portion 12 via the extraction electrodes 19 and 20, respectively, on the main electrodes 12 and 17. Is electrically connected. A voltage is applied to the piezoelectric vibrating reed 4 via the mount electrodes 16 and 17.
  • the excitation electrode 15, the mount electrodes 16 and 17, and the extraction electrodes 19 and 20 described above are made of a conductive film such as chromium (Cr), nickel (Ni), aluminum (Al), or titanium (Ti). It is formed.
  • a weight metal film 21 is coated on the tip side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 in order to adjust (frequency adjustment) the vibration state of itself within a predetermined frequency range. Yes.
  • the weight metal film 21 is divided into a coarse adjustment film 21a used when the frequency is roughly adjusted and a fine adjustment film 21b used when the frequency is finely adjusted. By adjusting the frequency using the coarse adjustment film 21a and the fine adjustment film 21b, the frequency of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be kept within the range of the nominal frequency of the device.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 configured as described above is bump-bonded to the upper surface of the base substrate 2 using bumps B such as gold as shown in FIGS. More specifically, bump bonding is performed with a pair of mount electrodes 16 and 17 in contact with two bumps B formed on routing electrodes 36 and 37 (described later) patterned on the upper surface of the base substrate 2. ing. As a result, the piezoelectric vibrating reed 4 is supported in a state of floating from the upper surface of the base substrate 2 and the mount electrodes 16 and 17 and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected to each other. Note that the bonding method of the piezoelectric vibrating reed 4 is not limited to bump bonding.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 may be joined with a conductive adhesive.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 can be lifted from the upper surface of the base substrate 2, and a minimum vibration gap necessary for vibration can be secured naturally. Therefore, it is preferable to perform bump bonding.
  • the lid substrate 3 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda-lime glass, and is formed in a plate shape as shown in FIGS.
  • a rectangular recess 3 a in which the piezoelectric vibrating reed 4 is accommodated is formed on the bonding surface side to which the base substrate 2 is bonded.
  • the recess 3 a is a cavity recess that serves as a cavity C that accommodates the piezoelectric vibrating reed 4 when the substrates 2 and 3 are overlapped.
  • the lid substrate 3 is anodically bonded to the base substrate 2 with the recess 3a facing the base substrate 2 side. Note that the method of bonding the base substrate 2 and the lid substrate 3 is not limited to anodic bonding. However, anodic bonding is preferable because both substrates 2 and 3 can be firmly bonded.
  • the base substrate 2 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda lime glass, like the lid substrate 3, and has a size that can be superimposed on the lid substrate 3 as shown in FIGS. It is formed in a plate shape.
  • the base substrate 2 is formed with a pair of through holes 30 and 31 penetrating the base substrate 2. At this time, the pair of through holes 30 and 31 are formed so as to be accommodated in the cavity C. More specifically, in the through holes 30 and 31 of the present embodiment, one through hole 30 is located on the base 12 side of the mounted piezoelectric vibrating reed 4, and the other through hole is on the tip side of the vibrating arm portions 10 and 11. It is formed so that the hole 31 is located.
  • the pair of through holes 30 and 31 are formed with a pair of through electrodes 32 and 33 formed so as to fill the through holes 30 and 31. As shown in FIG. 3, these through-electrodes 32 and 33 completely close the through-holes 30 and 31 to maintain airtightness in the cavity C, and also lead to external electrodes 38 and 39 to be described later and lead-out electrodes 36 and 37. It plays a role of conducting.
  • the upper surface side of the base substrate 2 (the bonding surface side to which the lid substrate 3 is bonded) is irradiated with a laser to improve the degree of vacuum in the cavity C (adjustment).
  • a film) 34, a bonding film 35 for anodic bonding, and a pair of routing electrodes 36 and 37 are patterned. Note that the bonding film 35 and the pair of routing electrodes 36 and 37 are formed of a conductive material (for example, aluminum).
  • the getter material 34 extends from the proximal end side to the distal end side along the longitudinal direction of the vibrating arm portions 10 and 11 in a state adjacent to the vicinity of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 when viewed in plan. Further, it is made of aluminum or the like. More specifically, the getter material 34 is disposed on the outer surface side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 and through the central axis L of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 as shown in FIGS. Are formed in symmetrical positions.
  • the bonding film 35 is formed along the periphery of the base substrate 2 so as to surround the periphery of the recess 3 a formed in the lid substrate 3.
  • the pair of lead-out electrodes 36 and 37 electrically connect one of the through electrodes 32 and 33 of the pair of through electrodes 32 and 33 to one of the mount electrodes 16 of the piezoelectric vibrating reed 4 and the other through electrode. 33 and the other mount electrode 17 of the piezoelectric vibrating reed 4 are patterned so as to be electrically connected. More specifically, the one lead-out electrode 36 is formed directly above the one through electrode 32 so as to be positioned directly below the base 12 of the piezoelectric vibrating piece 4. The other routing electrode 37 is routed from the position adjacent to the one routing electrode 36 along the vibrating arm portions 10 and 11 to the distal end side of the vibrating arm portions 10 and 11, and then the other through electrode 33. It is formed so that it may be located just above.
  • Bumps B are formed on the pair of routing electrodes 36 and 37, and the piezoelectric vibrating reed 4 is mounted using the bumps B.
  • one mount electrode 16 of the piezoelectric vibrating reed 4 is electrically connected to one through electrode 32 through one routing electrode 36, and the other mount electrode 17 is passed through the other routing electrode 37 to the other penetration electrode.
  • the electrode 33 is electrically connected.
  • external electrodes 38 and 39 that are electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33 are formed on the lower surface of the base substrate 2. . That is, one external electrode 38 is electrically connected to the first excitation electrode 13 of the piezoelectric vibrating reed 4 via one through electrode 32 and one routing electrode 36. The other external electrode 39 is electrically connected to the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4 via the other through electrode 33 and the other routing electrode 37.
  • a predetermined drive voltage is applied to the external electrodes 38 and 39 formed on the base substrate 2.
  • a current can flow through the excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4, and is predetermined in a direction in which the pair of vibrating arm portions 10 and 11 are approached and separated.
  • Can be vibrated at a frequency of The vibration of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be used as a time source, a control signal timing source, a reference signal source, and the like.
  • piezoelectric vibrator manufacturing method Next, a plurality of the piezoelectric vibrators 1 described above are manufactured at once using a base substrate wafer (base substrate) 40 and a lid substrate wafer (lid substrate) 50 with reference to the flowchart shown in FIG. The manufacturing method will be described below.
  • a plurality of piezoelectric vibrators 1 are manufactured at a time using a wafer-like substrate, but the present invention is not limited to this. It is also possible to process only one product and manufacture only one at a time.
  • the piezoelectric vibrating reed manufacturing step is performed to manufacture the piezoelectric vibrating reed 4 shown in FIGS. 5 to 7 (S10). Specifically, a quartz Lambert rough is first sliced at a predetermined angle to obtain a wafer having a constant thickness. Subsequently, the wafer is lapped and roughly processed, and then the work-affected layer is removed by etching, and then mirror polishing such as polishing is performed to obtain a wafer having a predetermined thickness.
  • the wafer is patterned with the outer shape of the piezoelectric vibrating reed 4 by a photolithography technique, and a metal film is formed and patterned, so that the excitation electrode 15, Lead electrodes 19 and 20, mount electrodes 16 and 17, and weight metal film 21 are formed. Thereby, the some piezoelectric vibrating piece 4 is producible.
  • the resonance frequency is coarsely adjusted. This is done by irradiating the coarse adjustment film 21a of the weight metal film 21 with laser light to evaporate a part thereof and changing the weight. Note that fine adjustment for adjusting the resonance frequency with higher accuracy is performed after mounting. This will be described later.
  • a first wafer manufacturing process is performed in which a lid substrate wafer 50 to be the lid substrate 3 later is manufactured up to a state immediately before anodic bonding (S20).
  • a disk-shaped lid substrate wafer 50 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like (S21).
  • a recess forming step is performed in which a plurality of cavity recesses 3a are formed in the matrix direction by etching or the like on the bonding surface of the lid substrate wafer 50 (S22). At this point, the first wafer manufacturing process is completed.
  • a second wafer manufacturing process is performed in which the base substrate wafer 40 to be the base substrate 2 is manufactured up to the state immediately before anodic bonding (S30).
  • a disk-shaped base substrate wafer 40 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like (S31).
  • a through electrode forming step of forming a plurality of pairs of through electrodes 32 and 33 on the base substrate wafer 40 is performed (S32). Specifically, first, a plurality of a pair of through holes 30 and 31 are formed by a method such as sandblasting or press working. A pair of through electrodes 32 and 33 are formed in the plurality of pairs of through holes 30 and 31. The pair of through-holes 32 and 33 seals the pair of through holes 30 and 31 and ensures electrical conductivity between the upper surface side and the lower surface side of the base substrate wafer 40.
  • the getter material 34 extends from the proximal end side to the distal end side along the longitudinal direction of the vibrating arm portions 10 and 11 in a state adjacent to the vicinity of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 when viewed in plan. And formed on the outer surface side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 and at symmetrical positions via the central axis L (see FIG. 2) of the pair of vibrating arm portions 10 and 11.
  • a conductive material is patterned on the upper surface of the base substrate wafer 40 to perform a bonding film forming step of forming the bonding film 35 (S34), and each pair of through electrodes
  • the dotted line M shown in FIG.10 and FIG.11 has shown the cutting line cut
  • the adjustment film formation step (S33), the bonding film formation step (S34), and the lead-out electrode formation step (S35) are in the process order.
  • the order is not limited, and all the processes may be performed simultaneously. I do not care. Regardless of the order of steps, the same effects can be obtained. Therefore, the process order may be changed as necessary.
  • a bonding process for bonding the base substrate wafer 40 and the lid substrate wafer 50 is performed (S40). This bonding process will be described in detail.
  • a mounting process is performed in which the produced plurality of piezoelectric vibrating reeds 4 are bonded to the upper surface of the base substrate wafer 40 via the routing electrodes 36 and 37, respectively (S41).
  • bumps B such as gold are formed on the pair of lead-out electrodes 36 and 37, respectively.
  • the piezoelectric vibrating piece 4 is pressed against the bump B while heating the bump B to a predetermined temperature.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is mechanically supported by the bumps B, and the mount electrodes 16 and 17 and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected. Therefore, at this time, the pair of excitation electrodes 15 of the piezoelectric vibrating reed 4 are in a conductive state with respect to the pair of through electrodes 32 and 33, respectively. Since the piezoelectric vibrating reed 4 is bump-bonded, it is supported in a state where it floats from the upper surface of the base substrate wafer 40.
  • an overlaying process for overlaying the lid substrate wafer 50 on the base substrate wafer 40 is performed (S42). Specifically, both wafers 40 and 50 are aligned at the correct positions while using a reference mark (not shown) as an index. As a result, the mounted piezoelectric vibrating reed 4 is housed in a cavity C surrounded by the recess 3 a formed in the base substrate wafer 40 and the wafers 40 and 50.
  • the two superposed wafers 40 and 50 are put into an anodic bonding apparatus (not shown), and a predetermined voltage is applied in a predetermined temperature atmosphere to perform anodic bonding (S43). Specifically, a predetermined voltage is applied between the bonding film 35 and the lid substrate wafer 50. As a result, an electrochemical reaction occurs at the interface between the bonding film 35 and the lid substrate wafer 50, and the two are firmly bonded and anodically bonded. Thereby, the piezoelectric vibrating reed 4 can be sealed in the cavity C, and the wafer body 60 shown in FIG. 12 in which the base substrate wafer 40 and the lid substrate wafer 50 are bonded can be obtained. In FIG.
  • a conductive material is patterned on the lower surface of the base substrate wafer 40, and a pair of external electrodes 38 and 39 electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33, respectively.
  • a plurality of external electrode forming steps are performed (S50). Through this step, the piezoelectric vibrating reed 4 sealed in the cavity C can be operated using the external electrodes 38 and 39.
  • the getter material 34 is irradiated with laser light to evaporate, and the degree of vacuum in the cavity C is kept at a certain level.
  • the gettering process adjusted as described above is performed (S60).
  • a certain level means a state in which the series resonance resistance value does not vary greatly even if the degree of vacuum is further improved. Thereby, an appropriate series resonance resistance value can be ensured.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is vibrated by applying a voltage to a pair of external electrodes 38 and 39 formed on the lower surface of the base substrate wafer 40. Then, laser light is irradiated through the base substrate wafer 40 (from the side on which the external electrodes 38 and 39 are formed) while measuring the series resonance resistance value, and the getter material 34 is heated and evaporated. Thereby, an appropriate series resonance resistance value can be ensured.
  • the base substrate wafer 40 is moved in a state where the laser light source device is fixed, and the desired position of the getter material 34 is irradiated with the laser light.
  • the getter material 34 is used to adjust the frequency within the approximate range near the target value while measuring the frequency.
  • the method for adjusting the frequency during the gettering step will be described.
  • the getter material 34 is arranged on the outer surface side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 when viewed in plan, and the pair of vibrating arm portions 10 and 10. 11 are formed at symmetrical positions via a central axis L (see FIG. 2). Therefore, when the getter material 34 is heated and evaporated, the getter material 34 is locally deposited on the side surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 located near the heating position.
  • the frequency tends to increase if the position where the getter material 34 is deposited is on the proximal end side of the vibrating arm portions 10 and 11, and the frequency tends to decrease if the position is on the distal end side. Therefore, the frequency can be increased or decreased by changing the heating position of the getter material 34. Therefore, by determining the heating position of the getter material 34 according to the difference between the approximate range and the actually measured frequency, and locally evaporating the getter material 34 evaporated on the side surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11, The vibration characteristics of the vibrating arm portions 10 and 11 can be changed. That is, simultaneously with the gettering, the frequencies of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be adjusted within an approximate range near the target value.
  • the getter material 34 on the base end side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 (for example, the range indicated by the one-dot chain line in FIG. 13) is heated. That's fine. Thereby, a frequency can be raised and a frequency can be brought close to an approximate range.
  • an appropriate series resonance resistance value can be secured, and the frequency can be driven in advance so as to be within the approximate range. Note that the degree of vacuum in the cavity C is not affected by the heating position of the getter material 34.
  • the getter material 34 when the getter material 34 is irradiated with laser light, a pair of getter materials 34 and 34 formed to correspond to the pair of vibrating arm portions 10 and 11 respectively,
  • the laser beam is irradiated to a symmetrical position via the central axis L of the vibrating arm portions 10 and 11.
  • a laser irradiation mark 41 remains on the getter material 34, the getter material 34 in that portion evaporates, and the pair of vibrating arm portions 10, 11 is vapor-deposited on the outer side surfaces 10a and 11a.
  • the position and amount of the getter material 34 deposited on the side surfaces 10a and 11a can be made substantially uniform by irradiating the laser beam to a symmetrical position via the central axis L. Therefore, the piezoelectric vibrator 1 formed in this way can obtain stable vibration characteristics and can reduce vibration leakage.
  • the frequency of the piezoelectric vibrating piece 4 can be finely adjusted so as to be within a predetermined range of the nominal frequency.
  • a cutting process is performed in which the bonded wafer body 60 is cut along the cutting line M shown in FIG.
  • the piezoelectric vibration piece 4 is sealed in the cavity C formed between the base substrate 2 and the lid substrate 3 that are anodically bonded to each other, and the two-layer structure surface mount type piezoelectric vibration shown in FIG. A plurality of children 1 can be manufactured at a time.
  • the order of the gettering step (S60) and the fine adjustment step (S70) may be performed.
  • fine adjustment can be performed in the state of the wafer body 60, so that the plurality of piezoelectric vibrators 1 can be made more efficient. Can be fine tuned. Therefore, it is preferable because throughput can be improved.
  • an internal electrical characteristic inspection is performed (S90). That is, the resonance frequency, resonance resistance value, drive level characteristic (excitation power dependency of the resonance frequency and resonance resistance value) and the like of the piezoelectric vibrating piece 4 are measured and checked. In addition, the insulation resistance characteristics and the like are also checked. Finally, an appearance inspection of the piezoelectric vibrator 1 is performed to finally check dimensions, quality, and the like. This completes the manufacture of the piezoelectric vibrator 1.
  • a pair of getter materials 34, 34 are irradiated with laser light at symmetrical positions via the central axis L to evaporate a part of the getter material 34.
  • the getter material 34 deposited on the side surfaces 10a and 11a of the vibrating arm portions 10 and 11 can be made substantially uniform.
  • the vibration characteristics of the vibrating arms 10 and 11 change depending on the gettering position in the longitudinal direction of the vibrating arms 10 and 11, a pair of vibrating arms is obtained by gettering to a symmetrical position via the central axis L.
  • the vibration characteristics of 10 and 11 can be matched. Therefore, stable vibration characteristics can be obtained even after the gettering step, and vibration leakage can be reduced. As a result, the yield can be improved.
  • the oscillator 100 is configured such that the piezoelectric vibrator 1 is an oscillator electrically connected to the integrated circuit 101.
  • the oscillator 100 includes a substrate 103 on which an electronic component 102 such as a capacitor is mounted. On the substrate 103, the integrated circuit 101 for the oscillator is mounted, and the piezoelectric vibrator 1 is mounted in the vicinity of the integrated circuit 101.
  • the electronic component 102, the integrated circuit 101, and the piezoelectric vibrator 1 are electrically connected by a wiring pattern (not shown). Each component is molded with a resin (not shown).
  • the piezoelectric vibrating reed 4 in the piezoelectric vibrator 1 vibrates. This vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the piezoelectric vibrating piece 4 and input to the integrated circuit 101 as an electric signal.
  • the input electrical signal is subjected to various processes by the integrated circuit 101 and is output as a frequency signal.
  • the piezoelectric vibrator 1 functions as an oscillator.
  • an RTC real-time clock
  • a function for controlling the time, providing a time, a calendar, and the like can be added.
  • the quality is improved by finely adjusting the frequency with higher accuracy while reducing the load accumulation due to heating, and the gettering and fine adjustment are efficiently performed. Since the piezoelectric vibrator 1 having stable vibration characteristics is provided, the oscillator 100 itself can improve the operation reliability and improve the quality. In addition to this, it is possible to obtain a highly accurate frequency signal that is stable over a long period of time.
  • a portable information device 110 having the above-described piezoelectric vibrator 1 will be described as an example of the electronic device.
  • the portable information device 110 of the present embodiment is represented by, for example, a mobile phone, and is a development and improvement of a wrist watch in the prior art. The appearance is similar to that of a wristwatch, and a liquid crystal display is arranged in a portion corresponding to a dial so that the current time and the like can be displayed on this screen.
  • the portable information device 110 includes the piezoelectric vibrator 1 and a power supply unit 111 for supplying power.
  • the power supply unit 111 is made of, for example, a lithium secondary battery.
  • the power supply unit 111 includes a control unit 112 that performs various controls, a clock unit 113 that counts time, a communication unit 114 that communicates with the outside, a display unit 115 that displays various types of information, A voltage detection unit 116 that detects the voltage of the functional unit is connected in parallel.
  • the power unit 111 supplies power to each functional unit.
  • the control unit 112 controls each function unit to control operation of the entire system such as transmission and reception of voice data, measurement and display of the current time, and the like.
  • the control unit 112 includes a ROM in which a program is written in advance, a CPU that reads and executes the program written in the ROM, and a RAM that is used as a work area for the CPU.
  • the clock unit 113 includes an integrated circuit including an oscillation circuit, a register circuit, a counter circuit, an interface circuit, and the like, and the piezoelectric vibrator 1.
  • the piezoelectric vibrator 1 When a voltage is applied to the piezoelectric vibrator 1, the piezoelectric vibrating reed 4 vibrates, and the vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the crystal and is input to the oscillation circuit as an electric signal.
  • the output of the oscillation circuit is binarized and counted by a register circuit and a counter circuit. Then, signals are transmitted to and received from the control unit 112 via the interface circuit, and the current time, current date, calendar information, or the like is displayed on the display unit 115.
  • the communication unit 114 has functions similar to those of a conventional mobile phone, and includes a radio unit 117, a voice processing unit 118, a switching unit 119, an amplification unit 120, a voice input / output unit 121, a telephone number input unit 122, and a ring tone generation unit. 123 and a call control memory unit 124.
  • the wireless unit 117 exchanges various data such as audio data with the base station via the antenna 125.
  • the audio processing unit 118 encodes and decodes the audio signal input from the radio unit 117 or the amplification unit 120.
  • the amplifying unit 120 amplifies the signal input from the audio processing unit 118 or the audio input / output unit 121 to a predetermined level.
  • the voice input / output unit 121 includes a speaker, a microphone, and the like, and amplifies a ringtone and a received voice or collects a voice.
  • the ring tone generator 123 generates a ring tone in response to a call from the base station.
  • the switching unit 119 switches the amplifying unit 120 connected to the voice processing unit 118 to the ringing tone generating unit 123 only when an incoming call is received, so that the ringing tone generated in the ringing tone generating unit 123 is transmitted via the amplifying unit 120.
  • the call control memory unit 124 stores a program related to incoming / outgoing call control of communication.
  • the telephone number input unit 122 includes, for example, a number key from 0 to 9 and other keys. By pressing these number keys and the like, a telephone number of a call destination is input.
  • the voltage detection unit 116 detects the voltage drop and notifies the control unit 112 of the voltage drop.
  • the predetermined voltage value at this time is a value set in advance as a minimum voltage necessary for stably operating the communication unit 114, and is, for example, about 3V.
  • the control unit 112 prohibits the operations of the radio unit 117, the voice processing unit 118, the switching unit 119, and the ring tone generation unit 123. In particular, it is essential to stop the operation of the wireless unit 117 with high power consumption. Further, the display unit 115 displays that the communication unit 114 has become unusable due to insufficient battery power.
  • the operation of the communication unit 114 can be prohibited by the voltage detection unit 116 and the control unit 112, and that effect can be displayed on the display unit 115.
  • This display may be a text message, but as a more intuitive display, a x (X) mark may be attached to the telephone icon displayed at the top of the display surface of the display unit 115.
  • the function of the communication part 114 can be stopped more reliably by providing the power supply cutoff part 126 that can selectively cut off the power of the part related to the function of the communication part 114.
  • the quality is improved by finely adjusting the frequency with higher accuracy while reducing the accumulation of load due to heating, and gettering and fine adjustment are performed. Since the piezoelectric vibrator 1 having stable vibration characteristics is provided by performing efficiently, the portable information device 110 itself can similarly improve the reliability of operation and improve the quality. In addition to this, it is possible to display highly accurate clock information that is stable over a long period of time.
  • the radio timepiece 130 of this embodiment includes the piezoelectric vibrator 1 that is electrically connected to the filter unit 131.
  • the radio timepiece 130 receives a standard radio wave including timepiece information and is accurate. It is a clock with a function of automatically correcting and displaying the correct time.
  • transmitting stations that transmit standard radio waves in Fukushima Prefecture (40 kHz) and Saga Prefecture (60 kHz), each transmitting standard radio waves.
  • Long waves such as 40 kHz or 60 kHz have the property of propagating the surface of the earth and the property of propagating while reflecting the ionosphere and the surface of the earth, so the propagation range is wide, and the above two transmitting stations cover all of Japan. is doing.
  • the antenna 132 receives a long standard wave of 40 kHz or 60 kHz.
  • the long-wave standard radio wave is obtained by subjecting time information called a time code to AM modulation on a 40 kHz or 60 kHz carrier wave.
  • the received long standard wave is amplified by the amplifier 133 and filtered and tuned by the filter unit 131 having the plurality of piezoelectric vibrators 1.
  • the piezoelectric vibrator 1 according to this embodiment includes crystal vibrator portions 138 and 139 having resonance frequencies of 40 kHz and 60 kHz that are the same as the carrier frequency.
  • the filtered signal having a predetermined frequency is detected and demodulated by the detection and rectification circuit 134. Subsequently, the time code is taken out via the waveform shaping circuit 135 and counted by the CPU 136.
  • the CPU 136 reads information such as the current year, accumulated date, day of the week, and time. The read information is reflected in the RTC 137, and accurate time information is displayed. Since the carrier wave is 40 kHz or 60 kHz, the crystal vibrator units 138 and 139 are preferably vibrators having the tuning fork type structure described above.
  • the frequency of the long standard radio wave is different overseas.
  • a standard radio wave of 77.5 KHz is used. Therefore, when the radio timepiece 130 that can be used overseas is incorporated in a portable device, the piezoelectric vibrator 1 having a frequency different from that in Japan is required.
  • the quality is improved by finely adjusting the frequency with higher accuracy while reducing load accumulation due to heating, and the gettering and fine adjustment are efficiently performed. Since the piezoelectric vibrator 1 having stable vibration characteristics is provided by performing it frequently, the radio-controlled timepiece 130 itself can improve the reliability of operation and improve the quality. In addition to this, it is possible to count time stably and with high accuracy over a long period of time.
  • the piezoelectric vibrator 1 is the surface mount type piezoelectric vibrator 1 of the two-layer structure type, but is not limited thereto, and may be a piezoelectric vibrator of the three-layer structure type. That is, a piezoelectric vibrator plate having a frame-like portion surrounding the piezoelectric vibrating piece 4 is used, the piezoelectric vibrator plate is mounted on the upper surface of the base substrate 2, and then the base substrate 2 and the lid substrate 3 are attached to the piezoelectric substrate.
  • a piezoelectric vibrator may be formed by bonding via a vibrator plate and sealing the piezoelectric vibrating piece 4 in the cavity.
  • the fine adjustment process is performed by forming the fine adjustment film 21b as the weight metal film 21 and heating the fine adjustment film 21b.
  • the excitation electrode 15 is formed on the tip side of the pair of vibrating arms 10 and 11 so as to extend to the vicinity of the coarse adjustment film 21a, and a part of the excitation electrode 15 is heated to perform a fine adjustment step. It doesn't matter. That is, in this case, a part of the excitation electrode 15 functions as the weight metal film 21.
  • the getter material 34 is formed on the base substrate 2 as an example.
  • the getter material 34 may be formed on at least one of the base substrate 2 and the lid substrate 3. That is, it may be formed on the lid substrate 3 or may be formed on both the substrates 2 and 3.
  • the grooved piezoelectric vibrating piece 4 in which the groove portions 18 are formed on both surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 has been described as an example.
  • the piezoelectric vibrating piece may be used.
  • the groove portion 18 when a predetermined voltage is applied to the pair of excitation electrodes 15, the electric field efficiency between the pair of excitation electrodes 15 can be increased. Can be further improved. That is, the CI value (Crystal Impedance) can be further lowered, and the piezoelectric vibrating piece 4 can be further improved in performance. In this respect, it is preferable to form the groove 18.
  • the pair of through electrodes 33 and 34 is formed, but the present invention is not limited to this.
  • the piezoelectric vibrator 1 is manufactured using a wafer, by forming the through electrodes 33 and 34, the individual piezoelectric vibrating reeds 4 can be vibrated in a wafer shape.
  • a gettering process and a fine tuning process can be performed. Therefore, it is preferable to form the through electrodes 33 and 34.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is bump-bonded.
  • the present invention is not limited to bump bonding.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 may be joined with a conductive adhesive.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 can be lifted from the upper surface of the base substrate 2, and a minimum vibration gap necessary for vibration can be secured naturally. Therefore, it is preferable to perform bump bonding.
  • the base substrate wafer 40 is moved while the laser light source device is fixed, and laser light is irradiated to a desired position of the getter material 34.
  • the getter material 34 may be irradiated with laser light while the wafer 40 is fixed and the laser light source device is moved.
  • the method for manufacturing a piezoelectric vibrator according to the present invention can be applied to a surface mount type (SMD) piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece is sealed in a cavity formed between two bonded substrates.
  • SMD surface mount type

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Abstract

 本発明の圧電振動子の製造方法は、一対の振動腕部を備えた音叉型の圧電振動片と、前記圧電振動片を収容するパッケージと、前記一対の振動腕部のそれぞれに対応して、前記振動腕部の長手方向に沿って形成された一対の調整膜と、を備え、前記調整膜にレーザを照射して前記調整膜の一部を蒸発させることにより前記パッケージ内の真空度を一定レベル以上に調整することが可能な圧電振動子の製造方法において、前記一対の調整膜における前記一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置に前記レーザを照射するゲッタリング工程を有する。

Description

圧電振動子の製造方法、圧電振動子、発振器、電子機器および電波時計
 本発明は、接合された2枚の基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された表面実装型(SMD)の圧電振動子およびその製造方法、圧電振動子を有する発振器、電子機器および電波時計に関するものである。
 近年、携帯電話や携帯情報端末には、時刻源や制御信号などのタイミング源、リファレンス信号源などとして水晶などを利用した圧電振動子が用いられている。この種の圧電振動子は、様々なものが知られているが、その一つとして、表面実装型(SMD、Surface Mount Device)の圧電振動子が知られている。
 図18は従来技術に係る圧電振動子のリッド基板を取り外した状態の平面図であり、図19は図18のD-D線に沿う断面図である。図19に示すように、表面実装型の圧電振動子200として、ベース基板201とリッド基板202とでパッケージ209を形成し、パッケージ209の内部に形成されたキャビティCに圧電振動片203を収納したものが提案されている。ベース基板201とリッド基板202とは、両者間に接合膜207を配置して陽極接合により接合されている。
 一般に圧電振動子は、等価抵抗値(実効抵抗値、Re)がより低く抑えられたものが望まれている。等価抵抗値が低い圧電振動子は、低電力で圧電振動片を振動させることが可能であるため、エネルギー効率の良い圧電振動子になる。
 等価抵抗値を抑えるための一般的な方法の一つとして、図18に示すように圧電振動片203の封止されているキャビティC内を真空に近づけて、等価抵抗値と比例関係にある直列共振抵抗値(R1)を低下させる方法が知られている。キャビティC内を真空に近づける方法として、キャビティC内にアルミニウムなどのゲッター材220を封止し、外部よりレーザを照射してゲッター材220を活性化させる方法(ゲッタリング)が知られている(例えば、特許文献1および2参照)。この方法によれば、活性化状態になったゲッター材220によって、陽極接合の際に発生する酸素を吸収することができるため、キャビティC内を真空に近づけることができる。
特開2006-86585号公報 特表2007-511102号公報
 ところで、図18に示す音叉型圧電振動片203を搭載した圧電振動子200をゲッタリングすると、ゲッター材220の直近に位置している圧電振動片203の振動腕部210にゲッター材220およびゲッタリングによる生成物が付着する。このとき、一対の振動腕部210,210それぞれに付着するゲッター材220の量がアンバランスになると、振動漏れ(振動エネルギーの漏洩)が発生し、圧電振動子の特性が不安定になるという問題があった。その結果、圧電振動子200の歩留まりが低下するという問題があった。
 そこで、本発明は、上述の事情に鑑みてなされたものであり、振動漏れを軽減し、歩留まりを向上することができる圧電振動子およびその製造方法、発振器、電子機器、電波時計を提供することを目的とする。
 上記の課題を解決するために、本発明は以下の手段を提供する。
 本発明に係る圧電振動子の製造方法は、一対の振動腕部を備えた音叉型の圧電振動片と、前記圧電振動片を収容するパッケージと、前記一対の振動腕部のそれぞれに対応して、前記振動腕部の長手方向に沿って形成された一対の調整膜と、を備え、前記調整膜にレーザを照射して前記調整膜の一部を蒸発させることにより前記パッケージ内の真空度を一定レベル以上に調整することが可能な圧電振動子の製造方法において、前記一対の調整膜における前記一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置に前記レーザを照射するゲッタリング工程を有することを特徴としている。
 本発明に係る圧電振動子は、一対の振動腕部を備えた音叉型の圧電振動片と、前記圧電振動片を収容するパッケージと、前記一対の振動腕部のそれぞれに対応して、前記振動腕部の長手方向に沿って形成された一対の調整膜と、を備え、前記調整膜にレーザを照射して前記調整膜の一部を蒸発させることにより前記パッケージ内の真空度を向上させることが可能な圧電振動子において、前記一対の調整膜における前記一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置に前記レーザの照射痕が形成されていることを特徴としている。
 本発明に係る圧電振動子および圧電振動子の製造方法によれば、一対の調整膜における一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置にレーザを照射して調整膜の一部を蒸発させることにより、一対の振動腕部の側面に蒸着する調整膜を略均一にすることができる。特に、振動腕部の長手方向におけるゲッタリング位置によって振動腕部の振動特性は変化するが、中心軸を介して対称な位置にゲッタリングすることで一対の振動腕部の振動特性を一致させることができる。したがって、ゲッタリング工程後も安定した振動特性が得られ、振動漏れを軽減することができる。結果として、歩留まりを向上することができる。
 また、本発明に係る発振器は、上述した圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴としている。
 さらに、本発明に係る電子機器は、上述した圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴としている。
 そして、本発明に係る電波時計は、上述した圧電振動子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴としている。
 本発明に係る発振器、電子機器および電波時計においては、振動漏れを軽減し、歩留まりを向上することができる圧電振動子を用いているため、安定した振動特性を有する発振器、電子機器および電波時計を提供することができる。
 本発明に係る圧電振動子の製造方法によれば、一対の調整膜における一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置にレーザを照射して調整膜の一部を蒸発させることにより、一対の振動腕部の側面に蒸着する調整膜を略均一にすることができる。特に、振動腕部の長手方向におけるゲッタリング位置によって振動腕部の振動特性は変化するが、中心軸を介して対称な位置にゲッタリングすることで一対の振動腕部の振動特性を一致させることができる。したがって、ゲッタリング工程後も安定した振動特性が得られ、振動漏れを軽減することができる。結果として、歩留まりを向上することができる。
図1は、本発明に係る圧電振動子の実施形態を示す外観斜視図である。 図2は、図1に示す圧電振動子の内部構成図であって、リッド基板を取り外した状態で圧電振動子を上方から見た図である。 図3は、図2に示すA-A線に沿った圧電振動子の断面図である。 図4は、図1に示す圧電振動子の分解斜視図である。 図5は、図1に示す圧電振動子を構成する圧電振動片の上面図である。 図6は、図5に示す圧電振動片の下面図である。 図7は、図5に示す断面矢視B-B図である。 図8は、図1に示す圧電振動子を製造する際の流れを示すフローチャートである。 図9は、図8に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、リッド基板の元となるリッド基板用ウエハに複数の凹部及び接合膜を形成した状態を示す図である。 図10は、図8に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、ベース基板の元となるベース基板用ウエハにゲッター材、貫通電極、引き回し電極及び接合膜を形成した状態を示す図である。 図11は、図10に示す状態のベース基板用ウエハの全体図である。 図12は、図8に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、圧電振動片をキャビティ内に収容した状態でベース基板用ウエハとリッド基板用ウエハとが陽極接合されたウエハ体の分解斜視図である。 図13は、図8に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、振動腕部の基端側のゲッター材を加熱して蒸発させた状態を示す図である。 図14は、図13のE部拡大図である。 図15は、本発明に係る発振器の一実施形態を示す構成図である。 図16は、本発明に係る電子機器の一実施形態を示す構成図である。 図17は、本発明に係る電波時計の一実施形態を示す構成図である。 図18は、従来技術に係る圧電振動子のリッド基板を取り外した状態の平面図である。 図19は、図18のD-D線に沿う断面図である。
符号の説明
 1 圧電振動子
 2 ベース基板(パッケージ)
 3 リッド基板(パッケージ)
 4 圧電振動片
10 振動腕部
11 振動腕部
34 ゲッター材(調整膜)
40 ベース基板用ウエハ(パッケージ)
41 レーザ照射痕(照射痕)
50 リッド基板用ウエハ(パッケージ)
100 発振器
101 発振器の集積回路
110 携帯情報機器(電子機器)
113 電子機器の計時部
130 電波時計
131 電波時計のフィルタ部
 L 中心軸
 本発明に係る圧電振動子の実施形態を、図1~図17を用いて説明する。
 図1~図4に示すように、圧電振動子1は、ベース基板2とリッド基板3とで2層に積層された箱状に形成されており、内部のキャビティC内に圧電振動片4が収容された表面実装型の圧電振動子である。なお、図4においては、図面を見易くするために後述する励振電極15、引き出し電極19、20、マウント電極16、17、重り金属膜21の図示を省略している。
 図5~図7に示すように、圧電振動片4は、水晶、タンタル酸リチウムやニオブ酸リチウム等の圧電材料から形成された音叉型の振動片であり、所定の電圧が印加されたときに振動するものである。この圧電振動片4は、平行に配置された一対の振動腕部10、11と、前記一対の振動腕部10、11の基端側を一体的に固定する基部12と、一対の振動腕部10、11の外表面上に形成されて一対の振動腕部10、11を振動させる第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15と、第1の励振電極13及び第2の励振電極14に電気的に接続されたマウント電極16、17とを有している。また、本実施形態の圧電振動片4は、一対の振動腕部10、11の両主面上に、前記振動腕部10、11の長手方向に沿ってそれぞれ形成された溝部18を備えている。この溝部18は、振動腕部10、11の基端側から略中間付近まで形成されている。
 第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15は、一対の振動腕部10、11を互いに接近又は離間する方向に所定の共振周波数で振動させる電極であり、一対の振動腕部10、11の外表面に、それぞれ電気的に切り離された状態でパターニングされて形成されている。具体的には、図7に示すように、第1の励振電極13が、一方の振動腕部10の溝部18上と他方の振動腕部11の両側面上とに主に形成され、第2の励振電極14が、一方の振動腕部10の両側面上と他方の振動腕部11の溝部18上とに主に形成されている。
 また、第1の励振電極13及び第2の励振電極14は、図5及び図6に示すように、基部12の両主面上において、それぞれ引き出し電極19、20を介してマウント電極16、17に電気的に接続されている。そして圧電振動片4は、このマウント電極16、17を介して電圧が印加されるようになっている。なお、上述した励振電極15、マウント電極16、17及び引き出し電極19、20は、例えば、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、アルミニウム(Al)やチタン(Ti)等の導電性膜の被膜により形成されたものである。
 また、一対の振動腕部10、11の先端側には、自身の振動状態を所定の周波数の範囲内で振動するように調整(周波数調整)を行うために、重り金属膜21が被膜されている。なお、この重り金属膜21は、周波数を粗く調整する際に使用される粗調膜21aと、微小に調整する際に使用される微調膜21bとに分かれている。これら粗調膜21a及び微調膜21bを利用して周波数調整を行うことで、一対の振動腕部10、11の周波数をデバイスの公称周波数の範囲内に収めることができる。
 このように構成された圧電振動片4は、図3及び図4に示すように、金等のバンプBを利用して、ベース基板2の上面にバンプ接合されている。より具体的には、ベース基板2の上面にパターニングされた後述する引き回し電極36、37上に形成された2つのバンプB上に、一対のマウント電極16、17がそれぞれ接触した状態でバンプ接合されている。これにより、圧電振動片4は、ベース基板2の上面から浮いた状態で支持されると共に、マウント電極16、17と引き回し電極36、37とがそれぞれ電気的に接続された状態となっている。なお、圧電振動片4の接合方法はバンプ接合に限定されるものではない。例えば、導電性接着剤により圧電振動片4を接合しても構わない。但し、バンプ接合することで、圧電振動片4をベース基板2の上面から浮かすことができ、振動に必要な最低限の振動ギャップを自然と確保することができる。よって、バンプ接合することが好ましい。
 上記リッド基板3は、ガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明の絶縁基板であり、図1、図3及び図4に示すように、板状に形成されている。そして、ベース基板2が接合される接合面側には、圧電振動片4が収まる矩形状の凹部3aが形成されている。この凹部3aは、両基板2、3が重ね合わされたときに、圧電振動片4を収容するキャビティCとなるキャビティ用の凹部である。そして、リッド基板3は、この凹部3aをベース基板2側に対向させた状態で前記ベース基板2に対して陽極接合されている。なお、ベース基板2とリッド基板3との接合方法は、陽極接合に限られたものではない。但し、陽極接合することで、両基板2、3を強固に接合できるので好ましい。
 上記ベース基板2は、リッド基板3と同様にガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明な絶縁基板であり、図1~図4に示すように、リッド基板3に対して重ね合わせ可能な大きさで板状に形成されている。このベース基板2には、前記ベース基板2を貫通する一対のスルーホール30、31が形成されている。この際、一対のスルーホール30、31は、キャビティC内に収まるように形成されている。より詳しく説明すると、本実施形態のスルーホール30、31は、マウントされた圧電振動片4の基部12側に一方のスルーホール30が位置し、振動腕部10、11の先端側に他方のスルーホール31が位置するように形成されている。そして、これら一対のスルーホール30、31には、前記スルーホール30、31を埋めるように形成された一対の貫通電極32、33が形成されている。これら貫通電極32、33は、図3に示すように、スルーホール30、31を完全に塞いでキャビティC内の気密を維持していると共に、後述する外部電極38、39と引き回し電極36、37とを導通させる役割を担っている。
 ベース基板2の上面側(リッド基板3が接合される接合面側)には、図1~図4に示すように、レーザ照射されることでキャビティC内の真空度を向上させるゲッター材(調整膜)34と、陽極接合用の接合膜35と、一対の引き回し電極36、37とがパターニングされている。なお、接合膜35及び一対の引き回し電極36、37は、導電性材料(例えば、アルミニウム)で形成されている。
 ゲッター材34は、平面視したときに一対の振動腕部10、11の近傍に隣接した状態で、前記振動腕部10、11の長手方向に沿って基端側から先端側まで延在するように、アルミニウム等で形成されている。より具体的には、ゲッター材34は、図2及び図4に示すように一対の振動腕部10、11の外側面側で、かつ、一対の振動腕部10、11の中心軸Lを介して対称な位置に形成されている。
 また、接合膜35は、リッド基板3に形成された凹部3aの周囲を囲むようにベース基板2の周縁に沿って形成されている。
 また、一対の引き回し電極36、37は、一対の貫通電極32、33のうち、一方の貫通電極32と圧電振動片4の一方のマウント電極16とを電気的に接続すると共に、他方の貫通電極33と圧電振動片4の他方のマウント電極17とを電気的に接続するようにパターニングされている。より詳しく説明すると、一方の引き回し電極36は、圧電振動片4の基部12の真下に位置するように一方の貫通電極32の真上に形成されている。また、他方の引き回し電極37は、一方の引き回し電極36に隣接した位置から、振動腕部10、11に沿って前記振動腕部10、11の先端側に引き回しされた後、他方の貫通電極33の真上に位置するように形成されている。
 そして、これら一対の引き回し電極36、37上にそれぞれバンプBが形成されており、前記バンプBを利用して圧電振動片4がマウントされている。これにより、圧電振動片4の一方のマウント電極16が、一方の引き回し電極36を介して一方の貫通電極32に導通し、他方のマウント電極17が、他方の引き回し電極37を介して他方の貫通電極33に導通するようになっている。
 また、ベース基板2の下面には、図1、図3及び図4に示すように、一対の貫通電極32、33に対してそれぞれ電気的に接続される外部電極38、39が形成されている。つまり、一方の外部電極38は、一方の貫通電極32及び一方の引き回し電極36を介して圧電振動片4の第1の励振電極13に電気的に接続されている。また、他方の外部電極39は、他方の貫通電極33及び他方の引き回し電極37を介して、圧電振動片4の第2の励振電極14に電気的に接続されている。
 このように構成された圧電振動子1を作動させる場合には、ベース基板2に形成された外部電極38、39に対して、所定の駆動電圧を印加する。これにより、圧電振動片4の第1の励振電極13及び第2の励振電極14からなる励振電極15に電流を流すことができ、一対の振動腕部10、11を接近・離間させる方向に所定の周波数で振動させることができる。そして、この一対の振動腕部10、11の振動を利用して、時刻源、制御信号のタイミング源やリファレンス信号源等として利用することができる。
(圧電振動子の製造方法)
 次に、上述した圧電振動子1を、図8に示すフローチャートを参照しながら、ベース基板用ウエハ(ベース基板)40とリッド基板用ウエハ(リッド基板)50とを利用して一度に複数製造する製造方法について以下に説明する。なお、本実施形態では、ウエハ状の基板を利用して圧電振動子1を一度に複数製造するが、これに限られたものではなく、予めベース基板2及びリッド基板3の外形に寸法を合わせたものを加工して、一度に一つのみ製造する等しても構わない。
 初めに、圧電振動片作製工程を行って図5~図7に示す圧電振動片4を作製する(S10)。具体的には、まず水晶のランバート原石を所定の角度でスライスして一定の厚みのウエハとする。続いて、このウエハをラッピングして粗加工した後、加工変質層をエッチングで取り除き、その後ポリッシュ等の鏡面研磨加工を行って、所定の厚みのウエハとする。続いて、ウエハに洗浄等の適切な処理を施した後、前記ウエハをフォトリソグラフィ技術によって圧電振動片4の外形形状でパターニングすると共に、金属膜の成膜及びパターニングを行って、励振電極15、引き出し電極19、20、マウント電極16、17、重り金属膜21を形成する。これにより、複数の圧電振動片4を作製することができる。
 また、圧電振動片4を作製した後、共振周波数の粗調を行っておく。これは、重り金属膜21の粗調膜21aにレーザ光を照射して一部を蒸発させ、重量を変化させることで行う。なお、共振周波数をより高精度に調整する微調に関しては、マウント後に行う。これについては、後に説明する。
 次に、後にリッド基板3となるリッド基板用ウエハ50を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第1のウエハ作製工程を行う(S20)。まず、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のリッド基板用ウエハ50を形成する(S21)。次いで、図9に示すように、リッド基板用ウエハ50の接合面に、エッチング等により行列方向にキャビティ用の凹部3aを複数形成する凹部形成工程を行う(S22)。この時点で、第1のウエハ作製工程が終了する。
 次に、上記工程と同時或いは前後のタイミングで、後にベース基板2となるベース基板用ウエハ40を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第2のウエハ作製工程を行う(S30)。まず、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のベース基板用ウエハ40を形成する(S31)。
 次いで、ベース基板用ウエハ40に、一対の貫通電極32、33を複数形成する貫通電極形成工程を行う(S32)。具体的には、まず、一対のスルーホール30、31を、サンドブラスト法やプレス加工等の方法で複数形成する。そして、これら複数の一対のスルーホール30、31内に、一対の貫通電極32、33を形成する。この一対の貫通電極32、33により、一対のスルーホール30、31を封止すると共に、ベース基板用ウエハ40の上面側と下面側との間の電気導通性が確保される。
 次に、ベース基板用ウエハ40の上面にアルミニウム等をパターニングして、ベース基板用ウエハ40にゲッター材34を形成する調整膜形成工程を行う(S33)。この際、ゲッター材34を、平面視したときに一対の振動腕部10、11の近傍に隣接した状態で、前記振動腕部10、11の長手方向に沿って基端側から先端側まで延在すると共に、一対の振動腕部10、11の外側面側で、かつ、一対の振動腕部10、11の中心軸L(図2参照)を介して対称な位置に形成する。
 そして、図10及び図11に示すように、ベース基板用ウエハ40の上面に導電性材料をパターニングして、接合膜35を形成する接合膜形成工程を行う(S34)と共に、各一対の貫通電極32、33にそれぞれ電気的に接続された引き回し電極36、37を複数形成する引き回し電極形成工程を行う(S35)。なお、図10及び図11に示す点線Mは、後に行う切断工程で切断する切断線を図示している。これらの工程を行うことで、第2のウエハ作成工程が終了する。
 なお、図8では、調整膜形成工程(S33)、接合膜形成工程(S34)、引き回し電極形成工程(S35)を工程順序としているが、順序に制約はなく、また全工程を同時に行っても構わない。いずれの工程順序であっても、同一の作用効果を奏することができる。よって、必要に応じて適宜、工程順序を変更して構わない。
 次に、ベース基板用ウエハ40とリッド基板用ウエハ50とを接合する接合工程を行う(S40)。この接合工程について詳しく説明すると、初めに、作製した複数の圧電振動片4を、それぞれ引き回し電極36、37を介してベース基板用ウエハ40の上面に接合するマウント工程を行う(S41)。まず、一対の引き回し電極36、37上にそれぞれ金等のバンプBを形成する。そして、圧電振動片4の基部12をバンプB上に載置した後、バンプBを所定温度に加熱しながら圧電振動片4をバンプBに押し付ける。これにより、圧電振動片4は、バンプBに機械的に支持されると共に、マウント電極16、17と引き回し電極36、37とが電気的に接続された状態となる。よって、この時点で圧電振動片4の一対の励振電極15は、一対の貫通電極32、33に対してそれぞれ導通した状態となる。なお、圧電振動片4はバンプ接合されるため、ベース基板用ウエハ40の上面から浮いた状態で支持される。
 圧電振動片4のマウントが終了した後、ベース基板用ウエハ40に対してリッド基板用ウエハ50を重ね合わせる重ね合わせ工程を行う(S42)。具体的には、図示しない基準マーク等を指標としながら、両ウエハ40、50を正しい位置にアライメントする。これにより、マウントされた圧電振動片4が、ベース基板用ウエハ40に形成された凹部3aと両ウエハ40、50とで囲まれるキャビティC内に収容された状態となる。
 重ね合わせ工程後、重ね合わせた2枚のウエハ40、50を図示しない陽極接合装置に入れ、所定の温度雰囲気で所定の電圧を印加して陽極接合する(S43)。具体的には、接合膜35とリッド基板用ウエハ50との間に所定の電圧を印加する。すると、接合膜35とリッド基板用ウエハ50との界面に電気化学的な反応が生じ、両者がそれぞれ強固に密着して陽極接合される。これにより、圧電振動片4をキャビティC内に封止することができ、ベース基板用ウエハ40とリッド基板用ウエハ50とが接合した図12に示すウエハ体60を得ることができる。なお、図12においては、図面を見易くするために、ウエハ体60を分解した状態を図示しており、ベース基板用ウエハ40から接合膜35の図示を省略している。なお、図12に示す点線Mは、後に行う切断工程で切断する切断線を図示している。この陽極接合を行うことで、接合工程が終了する。
 そして、上述した陽極接合が終了した後、ベース基板用ウエハ40の下面に導電性材料をパターニングして、一対の貫通電極32、33にそれぞれ電気的に接続された一対の外部電極38、39を複数形成する外部電極形成工程を行う(S50)。この工程により、外部電極38、39を利用してキャビティC内に封止された圧電振動片4を作動させることができる。
 次に、キャビティC内に封止された圧電振動片4を振動させて直列共振抵抗値を計測しながら、ゲッター材34にレーザ光を照射して蒸発させ、キャビティC内の真空度を一定レベル以上に調整するゲッタリング工程を行う(S60)。ここで、一定レベルとは、それ以上真空度を向上させても、直列共振抵抗値に大きな変動がない状態を意味する。これにより、適正な直列共振抵抗値を確保することができる。
 具体的に説明すると、ベース基板用ウエハ40の下面に形成された一対の外部電極38、39に電圧を印加して圧電振動片4を振動させる。そして、直列共振抵抗値を計測しながらベース基板用ウエハ40を通して(外部電極38、39が形成されている面側から)レーザ光を照射し、ゲッター材34を加熱して蒸発させる。これにより、適正の直列共振抵抗値を確保することができる。なお、レーザ光をゲッター材34に照射する際は、レーザ光源装置を固定した状態で、ベース基板用ウエハ40を移動させて、ゲッター材34の所望の位置にレーザ光を照射する。
 また、ゲッタリング工程では、キャビティC内の真空度を調整すると同時に、ゲッター材34を利用して、周波数を計測しながら前記周波数を目標値近傍の近似範囲内に調整する。このゲッタリング工程時の周波数の調整方法について説明すると、初めに、ゲッター材34は、平面視したときに一対の振動腕部10、11の外側面側で、かつ、一対の振動腕部10、11の中心軸L(図2参照)を介して対称な位置に形成されている。したがって、ゲッター材34を加熱して蒸発させると、加熱位置の近傍に位置する振動腕部10、11の側面に局所的に蒸着する。この際、ゲッター材34が蒸着した位置が、振動腕部10、11の基端側であれば周波数は高くなる傾向にあり、先端側であれば周波数は低くなる傾向にある。よって、ゲッター材34の加熱位置を変更することで、周波数を増減させることができる。したがって、近似範囲と実際に計測した周波数との差に応じてゲッター材34の加熱位置を決定すると共に、振動腕部10、11の側面に蒸発したゲッター材34を局所的に蒸着させることで、振動腕部10、11の振動特性を変化させることができる。つまり、ゲッタリングと同時に、一対の振動腕部10、11の周波数を目標値近傍の近似範囲内に調整することができる。
 例えば、周波数が近似範囲より低い場合は、図13に示すように、一対の振動腕部10、11の基端側(例えば、図13において1点鎖線で示す範囲)のゲッター材34を加熱すればよい。これにより、周波数を高め、周波数を近似範囲に近づけることができる。このように、ゲッタリング工程を行うことで、適正の直列共振抵抗値を確保することができると共に、周波数を近似範囲内に収まるように予め追い込んでおくことができる。なお、キャビティC内の真空度に関しては、ゲッター材34の加熱位置に左右されることがない。
 さらに、本実施形態では、ゲッター材34に対してレーザ光を照射する際に、一対の振動腕部10、11のそれぞれに対応するように形成された一対のゲッター材34、34において、一対の振動腕部10、11の中心軸Lを介して対称な位置にレーザ光を照射するようにした。具体的には、ゲッター材34にレーザ光を照射すると、図14に示すように、ゲッター材34にレーザ照射痕41が残り、その部分のゲッター材34が蒸発し、一対の振動腕部10、11の外側の側面10a、11aに蒸着する。本実施形態のように、レーザ光を中心軸Lを介して対称な位置に照射することにより、側面10a、11aに蒸着するゲッター材34の位置および量を略均一にすることができる。したがって、このように形成された圧電振動子1は、安定した振動特性が得られ、振動漏れを軽減することができる。
 次に、引き続き周波数を計測しながら重り金属膜21の微調膜21bをレーザ等で加熱して、近似範囲内の周波数を微調して目標値に近づける微調工程を行う(S70)。これにより、圧電振動片4の周波数を、公称周波数の所定範囲内に収まるように微調整することができる。
 周波数の微調が終了後、接合されたウエハ体60を図12に示す切断線Mに沿って切断して小片化する切断工程を行う(S80)。その結果、互いに陽極接合されたベース基板2とリッド基板3との間に形成されたキャビティC内に圧電振動片4が封止された、図1に示す2層構造式表面実装型の圧電振動子1を一度に複数製造することができる。
 なお、切断工程(S80)を行って個々の圧電振動子1に小片化した後に、ゲッタリング工程(S60)及び微調工程(S70)を行う工程順序でも構わない。但し、上述したように、ゲッタリング工程(S60)及び微調工程(S70)を先に行うことで、ウエハ体60の状態で微調を行うことができるため、複数の圧電振動子1をより効率良く微調することができる。よって、スループットの向上化を図ることができるので好ましい。
 その後、内部の電気特性検査を行う(S90)。即ち、圧電振動片4の共振周波数、共振抵抗値、ドライブレベル特性(共振周波数及び共振抵抗値の励振電力依存性)等を測定してチェックする。また、絶縁抵抗特性等を併せてチェックする。そして、最後に圧電振動子1の外観検査を行って、寸法や品質等を最終的にチェックする。これをもって圧電振動子1の製造が終了する。
 本実施形態によれば、ゲッタリング工程において、一対のゲッター材34、34における中心軸Lを介して対称な位置にレーザ光を照射してゲッター材34の一部を蒸発させることにより、一対の振動腕部10、11の側面10a、11aに蒸着するゲッター材34を略均一にすることができる。特に、振動腕部10、11の長手方向におけるゲッタリング位置によって振動腕部10、11の振動特性は変化するが、中心軸Lを介して対称な位置にゲッタリングすることで一対の振動腕部10、11の振動特性を一致させることができる。したがって、ゲッタリング工程後も安定した振動特性が得られ、振動漏れを軽減することができる。結果として、歩留まりを向上することができる。
(発振器)
 次に、本発明に係る発振器の一実施形態について、図15を用いて説明する。
 本実施形態の発振器100は、図15に示すように、圧電振動子1を、集積回路101に電気的に接続された発振子として構成したものである。この発振器100は、コンデンサ等の電子部品102が実装された基板103を備えている。基板103には、発振器用の上記集積回路101が実装されており、この集積回路101の近傍に、圧電振動子1が実装されている。これら電子部品102、集積回路101及び圧電振動子1は、図示しない配線パターンによってそれぞれ電気的に接続されている。なお、各構成部品は、図示しない樹脂によりモールドされている。
 このように構成された発振器100において、圧電振動子1に電圧を印加すると、前記圧電振動子1内の圧電振動片4が振動する。この振動は、圧電振動片4が有する圧電特性により電気信号に変換されて、集積回路101に電気信号として入力される。入力された電気信号は、集積回路101によって各種処理がなされ、周波数信号として出力される。これにより、圧電振動子1が発振子として機能する。
 また、集積回路101の構成を、例えば、RTC(リアルタイムクロック)モジュール等を要求に応じて選択的に設定することで、時計用単機能発振器等の他、当該機器や外部機器の動作日や時刻を制御したり、時刻やカレンダー等を提供したりする機能を付加することができる。
 上述したように、本実施形態の発振器100によれば、加熱による負荷の蓄積を軽減しながら、より高精度に周波数の微調を行うことで高品質化されたと共に、ゲッタリング及び微調を効率よく行うことで安定した振動特性を有する圧電振動子1を備えているため、発振器100自体も同様に作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定した高精度な周波数信号を得ることができる。
(電子機器)
 次に、本発明に係る電子機器の一実施形態について、図16を用いて説明する。なお、電子機器として、上述した圧電振動子1を有する携帯情報機器110を例にして説明する。本実施形態の携帯情報機器110は、例えば、携帯電話に代表されるものであり、従来技術における腕時計を発展、改良したものである。外観は腕時計に類似し、文字盤に相当する部分に液晶ディスプレイを配し、この画面上に現在の時刻等を表示させることができるものである。また、通信機として利用する場合には、手首から外し、バンドの内側部分に内蔵されたスピーカ及びマイクロフォンによって、従来技術の携帯電話と同様の通信を行うことが可能である。しかしながら、従来の携帯電話と比較して、格段に小型化及び軽量化されている。
 次に、本実施形態の携帯情報機器110の構成について説明する。この携帯情報機器110は、図16に示すように、圧電振動子1と、電力を供給するための電源部111とを備えている。電源部111は、例えば、リチウム二次電池からなっている。この電源部111には、各種制御を行う制御部112と、時刻等のカウントを行う計時部113と、外部との通信を行う通信部114と、各種情報を表示する表示部115と、それぞれの機能部の電圧を検出する電圧検出部116とが並列に接続されている。そして、電源部111によって、各機能部に電力が供給されるようになっている。
 制御部112は、各機能部を制御して音声データの送信及び受信、現在時刻の計測や表示等、システム全体の動作制御を行う。また、制御部112は、予めプログラムが書き込まれたROMと、前記ROMに書き込まれたプログラムを読み出して実行するCPUと、前記CPUのワークエリアとして使用されるRAM等とを備えている。
 計時部113は、発振回路、レジスタ回路、カウンタ回路及びインターフェース回路等を内蔵する集積回路と、圧電振動子1とを備えている。圧電振動子1に電圧を印加すると圧電振動片4が振動し、前記振動が水晶の有する圧電特性により電気信号に変換されて、発振回路に電気信号として入力される。発振回路の出力は二値化され、レジスタ回路とカウンタ回路とにより計数される。そして、インターフェース回路を介して、制御部112と信号の送受信が行われ、表示部115に、現在時刻や現在日付或いはカレンダー情報等が表示される。
 通信部114は、従来の携帯電話と同様の機能を有し、無線部117、音声処理部118、切替部119、増幅部120、音声入出力部121、電話番号入力部122、着信音発生部123及び呼制御メモリ部124を備えている。
 無線部117は、音声データ等の各種データを、アンテナ125を介して基地局と送受信のやりとりを行う。音声処理部118は、無線部117又は増幅部120から入力された音声信号を符号化及び複号化する。増幅部120は、音声処理部118又は音声入出力部121から入力された信号を、所定のレベルまで増幅する。音声入出力部121は、スピーカやマイクロフォン等からなり、着信音や受話音声を拡声したり、音声を集音したりする。
 また、着信音発生部123は、基地局からの呼び出しに応じて着信音を生成する。切替部119は、着信時に限って、音声処理部118に接続されている増幅部120を着信音発生部123に切り替えることによって、着信音発生部123において生成された着信音が増幅部120を介して音声入出力部121に出力される。なお、呼制御メモリ部124は、通信の発着呼制御に係るプログラムを格納する。また、電話番号入力部122は、例えば、0から9の番号キー及びその他のキーを備えており、これら番号キー等を押下することにより、通話先の電話番号等が入力される。
 電圧検出部116は、電源部111によって制御部112等の各機能部に対して加えられている電圧が、所定の値を下回った場合に、その電圧降下を検出して制御部112に通知する。このときの所定の電圧値は、通信部114を安定して動作させるために必要な最低限の電圧として予め設定されている値であり、例えば、3V程度となる。電圧検出部116から電圧降下の通知を受けた制御部112は、無線部117、音声処理部118、切替部119及び着信音発生部123の動作を禁止する。特に、消費電力の大きな無線部117の動作停止は、必須となる。更に、表示部115に、通信部114が電池残量の不足により使用不能になった旨が表示される。
 即ち、電圧検出部116と制御部112とによって、通信部114の動作を禁止し、その旨を表示部115に表示することができる。この表示は、文字メッセージであっても良いが、より直感的な表示として、表示部115の表示面の上部に表示された電話アイコンに、×(バツ)印を付けるようにしても良い。なお、通信部114の機能に係る部分の電源を、選択的に遮断することができる電源遮断部126を備えることで、通信部114の機能をより確実に停止することができる。
 上述したように、本実施形態の携帯情報機器110によれば、加熱による負荷の蓄積を軽減しながら、より高精度に周波数の微調を行うことで高品質化されたと共に、ゲッタリング及び微調を効率よく行うことで安定した振動特性を有する圧電振動子1を備えているため、携帯情報機器110自体も同様に作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定した高精度な時計情報を表示することができる。
(電波時計)
 次に、本発明に係る電波時計の一実施形態について、図17を用いて説明する。
 本実施形態の電波時計130は、図17に示すように、フィルタ部131に電気的に接続された圧電振動子1を備えたものであり、時計情報を含む標準の電波を受信して、正確な時刻に自動修正して表示する機能を備えた時計である。
 日本国内には、福島県(40kHz)と佐賀県(60kHz)とに、標準の電波を送信する送信所(送信局)があり、それぞれ標準電波を送信している。40kHz若しくは60kHzのような長波は、地表を伝播する性質と、電離層と地表とを反射しながら伝播する性質とを併せもつため、伝播範囲が広く、上述した2つの送信所で日本国内を全て網羅している。
 以下、電波時計130の機能的構成について詳細に説明する。
 アンテナ132は、40kHz若しくは60kHzの長波の標準電波を受信する。長波の標準電波は、タイムコードと呼ばれる時刻情報を、40kHz若しくは60kHzの搬送波にAM変調をかけたものである。受信された長波の標準電波は、アンプ133によって増幅され、複数の圧電振動子1を有するフィルタ部131によって濾波、同調される。本実施形態における圧電振動子1は、上記搬送周波数と同一の40kHz及び60kHzの共振周波数を有する水晶振動子部138、139をそれぞれ備えている。
 更に、濾波された所定周波数の信号は、検波、整流回路134により検波復調される。続いて、波形整形回路135を介してタイムコードが取り出され、CPU136でカウントされる。CPU136では、現在の年、積算日、曜日、時刻等の情報を読み取る。読み取られた情報は、RTC137に反映され、正確な時刻情報が表示される。搬送波は、40kHz若しくは60kHzであるから、水晶振動子部138、139は、上述した音叉型の構造を持つ振動子が好適である。
 なお、上述の説明は、日本国内の例で示したが、長波の標準電波の周波数は、海外では異なっている。例えば、ドイツでは77.5KHzの標準電波が用いられている。従って、海外でも対応可能な電波時計130を携帯機器に組み込む場合には、さらに日本の場合とは異なる周波数の圧電振動子1を必要とする。
 上述したように、本実施形態の電波時計130によれば、加熱による負荷の蓄積を軽減しながら、より高精度に周波数の微調を行うことで高品質化されたと共に、ゲッタリング及び微調を効率よく行うことで安定した振動特性を有する圧電振動子1を備えているため、電波時計130自体も同様に作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定して高精度に時刻をカウントすることができる。
 なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
 例えば、上記実施形態では、圧電振動子1を2層構造タイプの表面実装型の圧電振動子1としたが、これ限られず、3層構造タイプの圧電振動子でも構わない。つまり、圧電振動片4の周囲を囲む枠状部を有する圧電振動子板を利用し、前記圧電振動子板をベース基板2の上面にマウントした後、ベース基板2とリッド基板3とを前記圧電振動子板を介して接合して、圧電振動片4をキャビティ内に封止することで圧電振動子としても構わない。
 また、上記実施形態では、重り金属膜21として微調膜21bを形成し、微調膜21bを加熱することで微調工程を行ったが、これに限らない。例えば、励振電極15を一対の振動腕部10、11の先端側に、粗調膜21aの近傍まで延在するように形成し、前記励振電極15の一部を加熱して、微調工程を行っても構わない。即ち、この場合は、励振電極15の一部が重り金属膜21として機能する。
 また、上記実施形態では、ゲッター材34をベース基板2に形成する場合を例に挙げたが、ベース基板2とリッド基板3とのうち少なくともいずれか一方の基板に形成すればよい。つまり、リッド基板3に形成されていても構わないし、両基板2、3に形成されていても構わない。
 また、上記実施形態では、圧電振動片4の一例として振動腕部10、11の両面に溝部18が形成された溝付きの圧電振動片4を例に挙げて説明したが、溝部18がないタイプの圧電振動片でも構わない。但し、溝部18を形成することで、一対の励振電極15に所定の電圧を印加させたときに、一対の励振電極15間における電界効率を上げることができるため、振動損失をより抑えて振動特性をさらに向上することができる。つまり、CI値(Crystal Impedance)をさらに低くすることができ、圧電振動片4の更なる高性能化を図ることができる。この点において、溝部18を形成する方が好ましい。
 また、上記実施形態では、一対の貫通電極33、34を形成したが、これに限定されるものではない。但し、ウエハを利用して圧電振動子1を製造する場合には、貫通電極33、34を形成することで、ウエハ状で個々の圧電振動片4を振動させることができるため、小片化する前にゲッタリング工程及び微調工程を行うことができる。よって、貫通電極33、34を形成することが好ましい。
 また、上記実施形態では、圧電振動片4をバンプ接合したが、バンプ接合に限定されるものではない。例えば、導電性接着剤により圧電振動片4を接合しても構わない。但し、バンプ接合することで、圧電振動片4をベース基板2の上面から浮かすことができ、振動に必要な最低限の振動ギャップを自然と確保することができる。よって、バンプ接合することが好ましい。
 また、上記実施形態では、レーザ光源装置を固定した状態で、ベース基板用ウエハ40を移動させて、ゲッター材34の所望の位置にレーザ光を照射する場合の説明をしたが、逆にベース基板用ウエハ40を固定して、レーザ光源装置を移動させながらゲッター材34にレーザ光を照射してもよい。
 本発明に係る圧電振動子の製造方法は、接合された2枚の基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された表面実装型(SMD)の圧電振動子に適用できる。
 

Claims (5)

  1.  一対の振動腕部を備えた音叉型の圧電振動片と、
     前記圧電振動片を収容するパッケージと、
     前記一対の振動腕部のそれぞれに対応して、前記振動腕部の長手方向に沿って形成された一対の調整膜と、を備え、
     前記調整膜にレーザを照射して前記調整膜の一部を蒸発させることにより前記パッケージ内の真空度を一定レベル以上に調整することが可能な圧電振動子の製造方法において、
     前記一対の調整膜における前記一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置に前記レーザを照射するゲッタリング工程を有することを特徴とする圧電振動子の製造方法。
  2.  一対の振動腕部を備えた音叉型の圧電振動片と、
     前記圧電振動片を収容するパッケージと、
     前記一対の振動腕部のそれぞれに対応して、前記振動腕部の長手方向に沿って形成された一対の調整膜と、を備え、
     前記調整膜にレーザを照射して前記調整膜の一部を蒸発させることにより前記パッケージ内の真空度を向上させることが可能な圧電振動子において、
     前記一対の調整膜における前記一対の振動腕部の中心軸を介して対称な位置に前記レーザの照射痕が形成されていることを特徴とする圧電振動子。
  3.  請求項2に記載の圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴とする発振器。
  4.  請求項2に記載の圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴とする電子機器。
  5.  請求項2に記載の圧電振動子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴とする電波時計。
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