WO2009078415A1 - Appareil d'examen aux rayons x et procédé - Google Patents

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Kazuhito Koizumi
Tatsuro Wakamatsu
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Abstract

Cette invention concerne un appareil d'examen aux rayons X permettant un examen rapide et simple et en plus, un examen de près instantané, si nécessaire. L'appareil d'examen aux rayons X comprend une source de rayons X ayant une région d'irradiation en forme de cône, un mécanisme de retenue pour retenir une pièce à examiner et une caméra à rayons X ayant une surface d'imagerie plate. L'appareil d'examen aux rayons X comprend, en plus, un mécanisme dans lequel la surface de référence de la pièce à examiner et la surface d'imagerie sont parallèles, l'axe optique des rayons X irradiés à partir de la source de rayons X est incliné par rapport à la surface de référence de la pièce à examiner, les rayons X tombent à l'oblique sur la surface d'imagerie, et soit la pièce à examiner, soit la source de rayons X et la caméra à rayons X sont mises en rotation autour de l'axe central de l'appareil sur un cercle tandis que la relation de configuration entre la source de rayons X, le mécanisme de retenue, et la caméra à rayons X est conservée. L'appareil d'examen aux rayons X comprend, en outre, un mécanisme de rotation de la surface d'imagerie pour mettre la surface d'imagerie en rotation autour de son centre (axe central de la surface d'imagerie) ou pour régler librement la surface d'imagerie selon un angle de capture souhaité auquel les données de projection sont acquises. Le mécanisme de rotation de la surface d'imagerie peut fonctionner tout en maintenant constamment la surface d'imagerie sous une orientation prédéterminée par rapport à son axe central.
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