WO2008041769A1 - Liquid material vaporizer - Google Patents

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WO2008041769A1
WO2008041769A1 PCT/JP2007/069610 JP2007069610W WO2008041769A1 WO 2008041769 A1 WO2008041769 A1 WO 2008041769A1 JP 2007069610 W JP2007069610 W JP 2007069610W WO 2008041769 A1 WO2008041769 A1 WO 2008041769A1
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vaporization
raw material
block body
vaporizer
nozzle
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PCT/JP2007/069610
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English (en)
French (fr)
Inventor
Ichiro Nishikawa
Takeshi Kawano
Original Assignee
Horiba Stec, Co., Ltd.
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4486Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by producing an aerosol and subsequent evaporation of the droplets or particles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01BBOILING; BOILING APPARATUS ; EVAPORATION; EVAPORATION APPARATUS
    • B01B1/00Boiling; Boiling apparatus for physical or chemical purposes ; Evaporation in general
    • B01B1/005Evaporation for physical or chemical purposes; Evaporation apparatus therefor, e.g. evaporation of liquids for gas phase reactions
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01BBOILING; BOILING APPARATUS ; EVAPORATION; EVAPORATION APPARATUS
    • B01B1/00Boiling; Boiling apparatus for physical or chemical purposes ; Evaporation in general
    • B01B1/06Preventing bumping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J7/00Apparatus for generating gases
    • B01J7/02Apparatus for generating gases by wet methods

Definitions

  • the present invention relates to a vaporizer for vaporizing various liquid raw materials used in, for example, a semiconductor manufacturing process.
  • a conventional vaporizer of this type discharges a gas-liquid mixture composed of a liquid raw material and a carrier gas used for film formation or the like from a nozzle and depressurizes it, and heats it in a heating path provided downstream of the nozzle.
  • the liquid raw material is vaporized (Patent Document 1).
  • such a liquid raw material has a low vapor pressure and thus needs to be heated to a high temperature for vaporization.
  • it since it is easily decomposed by heat, it is exposed to a high temperature for vaporization. , Part of the raw material deteriorates into residue, which can cause clogging and particle generation at the nozzle
  • the conventional vaporizer has a single nozzle structure, if the nozzle is clogged, it is impossible to continuously vaporize and the operation may be stopped. In particular, in the semiconductor manufacturing process, it is not preferable that such an operation stop occurs.
  • FIG. 14 As a slightly improved version, a structure as shown in FIG. 14 is also known.
  • a structure in which a plurality of heating paths are provided so as to correspond to a plurality of nozzles is described.
  • the heating path and the nozzle are discontinuous and there is a space between them, each nozzle is still Depending on the power and the overlapping of the sprays, the density of the sprays will be different, and to the extent that they are different, eventually the same problems as described above may occur.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2003-163168
  • the present invention has been made paying attention to such a problem, and the main purpose of the present invention is to prevent deterioration of raw materials and to form residues by making the structure vaporizable even if the heating temperature is reduced. It is intended to provide a vaporizer that can reduce the risk of blockage and reduce the risk of blockage, and can easily increase the vaporization flow rate.
  • a vaporizer includes an introduction port for introducing a raw material in a liquid phase or a gas-liquid mixed phase state, and a vaporization section provided downstream of the introduction port to vaporize the raw material. And a deriving port for deriving the raw material vaporized in the vaporizing section, wherein the vaporizing section comprises a nozzle for spraying the raw material and a heating path continuously provided downstream of the nozzle.
  • a plurality of vaporization sections are provided in parallel between the introduction port and the discharge port, and each vaporization section is configured such that the raw material flows independently of each other! /! It is characterized by that.
  • the sprays from the respective nozzles flow only to the corresponding heating paths and The density due to the overlap is not formed, and the spray has a substantially uniform concentration. Since vaporization by heating is performed for sprays with such a uniform concentration, the amount of heating is reduced compared to the case where vaporization is performed by setting the temperature according to the density of the dark and light portions and parts. Therefore, vaporization at a low temperature can be performed efficiently.
  • the improvement in vaporization efficiency according to the present invention can be said from another viewpoint. That is, when comparing the one having a plurality of heating paths as in the present invention and the one having only one heating path as in the prior art, the total cross-sectional areas of the nozzles are equal to each other (equal flow rate). In this case, the one with multiple heating paths requires less vaporization per piece, and more efficiently transfers heat with a large contact area with the fluid flowing inside. Evaporation can be done efficiently.
  • the diameter of the conventional one is large, it is difficult for heat to be transmitted to the center, and it is necessary to set a higher temperature according to the vaporization in the center. Therefore, it can be said that vaporization can be efficiently performed at a low temperature because the heating path can be made narrower and the temperature distribution is less likely to occur.
  • each of the vaporization sections is referred to as a single first block body (hereinafter referred to as a common block body).
  • vaporization is performed in each heating path by applying heat to the first block body! /, Which is preferred! /.
  • a diversion flow path for diverting the raw material from the introduction port to each vaporization section is formed.
  • a second block body (hereinafter sometimes referred to as a diverting block body) is further provided, and the second block body is preferably disposed in front of the first block body.
  • vaporization can be performed at a temperature lower than that in the prior art, and residue generation and nozzle clogging due to thermal decomposition of the raw material can be suppressed. Conversely, if the temperature is set to the same temperature as in the past, more raw material can be flowed, that is, a large flow rate can be generated.
  • FIG. 1 is a structural longitudinal sectional view schematically showing the structure of a vaporizer according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a central longitudinal sectional view of a first block body in the same embodiment.
  • FIG. 3 is an end view of one of the first block bodies in the same embodiment.
  • FIG. 4 is another end view of the first block body in the same embodiment.
  • FIG. 5 is a central longitudinal sectional view of a second block body in the same embodiment.
  • FIG. 6 is an end view of one of the second block bodies in the same embodiment.
  • FIG. 7 is another end view of the second block body in the same embodiment.
  • FIG. 8 is a detailed view of the main part in FIG.
  • FIG. 9 is a schematic diagram showing a performance experiment system for a vaporizer according to the embodiment.
  • FIG. 10 is an experimental result showing the performance of the vaporizer according to the embodiment when the performance experiment system shown in FIG. 9 is used.
  • FIG. 11 An experimental result showing the performance of the vaporizer according to the embodiment when the performance experiment system shown in Fig. 9 is used.
  • FIG. 12 Results of experiments conducted by replacing the vaporizer of the performance experiment system shown in Fig. 9 with a conventional vaporizer with a single valve and a single flow path.
  • FIG. 13 is a simulation result comparing the temperature distribution inside the heating path between the conventional vaporizer having a single valve and a single flow path and the vaporizer according to the present embodiment.
  • FIG. 14 is a schematic diagram showing an example of another conventional vaporizer.
  • the vaporizer A according to the present embodiment constitutes a part of a semiconductor manufacturing system (not shown), for example, and is connected to a vacuum chamber for film formation (not shown) for forming a semiconductor element.
  • the raw material is supplied in a gas phase state.
  • this material mixes the above-mentioned raw material in a liquid phase (hereinafter also referred to as a liquid raw material) LM and a carrier gas CG to produce a gas-liquid mixture GL.
  • a liquid raw material hereinafter also referred to as a liquid raw material
  • a carrier gas CG to produce a gas-liquid mixture GL.
  • the gas-liquid mixing mechanism 1 and the liquid raw material LM contained in the gas-liquid mixture GL are vaporized to form a gas phase (hereinafter also referred to as raw material gas), and the raw material gas GS is externally combined with the carrier gas CG. That is, a vaporizing main body mechanism 2 that leads out to a vacuum chamber is provided.
  • the gas-liquid mixing mechanism 1 includes a gas-liquid mixing mechanism 1.
  • a chamber 13 is formed, and the liquid raw material introduction path la and the carrier gas introduction path lb communicate with the gas-liquid mixing chamber 13.
  • the liquid raw material LM and the carrier gas CG are mixed as described above.
  • the gas-liquid mixture GL generated in this way is led out from a lead-out path lc that also communicates with the gas-liquid mixing chamber 13. Note that only the carrier gas CG may be introduced at all times or at a predetermined time, and the residue generated in the vaporization section including the outlet passage lc and / or the nozzle may be purged.
  • the gas-liquid mixing mechanism 1 further includes a flow rate control unit 12, and has a function of maintaining the flow rate of the liquid raw material LM at a predetermined constant flow rate.
  • the flow rate control unit 12 drives the valve body 120 supported by the diaphragm 121 by the piezoelectric actuator 122, and controls the opening degree of the valve disposed in the liquid material introduction path la or the like to control the flow rate. It is what you do.
  • the vaporization main body mechanism 2 vaporizes the introduction port P1 for introducing the gas-liquid mixture GL and the liquid material LM contained in the gas-liquid mixture GL provided downstream of the introduction port P1. Vaporizing section 3 and a deriving port P2 for deriving the raw material gas GS vaporized there!
  • a plurality of the vaporizers 3 are arranged in parallel between the introduction port P1 and the outlet port P2 (here, for example, 4 This is provided so that the vaporizers 3 circulate the raw materials without interfering with each other independently.
  • Each of the vaporizers 3 includes a nozzle 31 for spraying the liquid raw material LM contained in the gas-liquid mixture GL under reduced pressure, and a heating path 32 provided continuously downstream of the nozzle 31. They are road-like and have the same shape. “Consecutively providing” means that the nozzle and the heating path are continuously covered by the continuous inner peripheral surface, and the raw material LM injected from the nozzle 31 is transferred to another heating path 32. This means that it is configured to be introduced into the corresponding heating path 32 without any contamination.
  • each of these vaporization sections 3 is formed in a single first block body (common block body) 4.
  • the first block body 4 has, for example, a cylindrical shape made of a metal excellent in both corrosion resistance and thermal conductivity.
  • the first block body 4 is provided so as to penetrate from the one end surface 4a to the other end surface 4b in parallel with the central axis of the block body 4. It is
  • the nozzle 31 is formed by narrowing the flow path diameter of the vaporizing section 3.
  • the first block body 4 is provided with one or a plurality of holes parallel to the vaporizing section 3 here, and a long cartridge heater HI that fits into the holes is attached to the first block body 4. It is inserted almost from end to end (see Fig. 1 etc.).
  • the flow path downstream from the nozzle 31 is configured to function as a heating path 32 that applies heat to the fluid passing therethrough.
  • Cartridge heater H1 generally has a large amount of heat generation and can be heated sufficiently.
  • Cartridge heater HI is embedded in common block body 4. As a result, heat can be transferred efficiently.
  • a cylindrical heater may be fitted around the side of the first block body 4, or a face plate heater may be wound around the side of the first block body 4.
  • the gas-liquid mixture GL led out from the lead-out path lc of the gas-liquid mixing mechanism 1 is replaced with each of the vaporizing sections 3 described above.
  • the second block body (diversion block body) 5 is attached to the front stage of the first block body 4, that is, one end face 4a thereof.
  • the second block body 5 has a columnar shape smaller in diameter than the first block body 4, and an introduction port P1 connected to the lead-out path lc is formed at the center of one end face 5a. ing. Then, a plurality (four in this case) of the diversion flow paths 6 that form a straight line from the introduction port P1 penetrates slightly toward the other end face 5b of the second block body 5.
  • the other end opening of each branch channel 6 is set at a position corresponding to the tip opening of each vaporizing section 3, and the other end surface 5b of the second block body 5 is connected to one end surface 4a of the first block body 4.
  • Each branch flow path 6 and each vaporization section 3 are configured to communicate with each other by attaching the shafts together.
  • first block body and the second block body need to be made of a material excellent in heat resistance and corrosion resistance here, because of the characteristics of the fluid flowing inside.
  • the second block body 5 is configured to protrude from the one end surface 4a of the first block body 4 in a state of being attached to the first block body 4, and is protruded from the second block body 5.
  • a preheating block H2 is installed around the side of the part. This preheating block H2 is made of, for example, aluminum in the form of a ring, receives heat from the first block body 4, and The gas-liquid mixture GL that passes is configured to be preheated.
  • the reason why the second block body 5 is provided separately from the first block body 4 is mainly because of the advantage that the diversion flow path 6 from the introduction port P1 to each vaporization section 3 can be easily configured. It is.
  • the same material can be used for the diverter block body 5 and the first block body 4! /, And another material can be used! /,
  • the cross-sectional areas of the nozzles are equal to each other (equal flow rate).
  • the number of vaporizations per pipe is less in the plurality of heating paths, vaporization can be efficiently performed at a lower temperature from this point.
  • multiple heating paths can efficiently transfer heat with a large contact area to the fluid flowing inside, and the conventional one has a larger diameter, so heat is heated at the center.
  • it is necessary to set a higher temperature according to the vaporization in the center of the heat it is possible to make one heating path narrower and less likely to cause a temperature distribution. But it can be mentioned.
  • vaporization can be performed at a lower temperature than in the past, and residue generation and clogging of the nozzle 3 due to thermal decomposition of the raw material can be suppressed. Conversely, if the temperature is set to the same level as before, more raw material can be flowed, that is, a large flow rate can be generated.
  • an experimental liquid raw material having a vapor pressure equivalent to the raw material for forming the semiconductor element is introduced into the liquid raw material introduction path la of the vaporizer, and nitrogen gas is introduced into the carrier gas introduction path lb. Let's introduce it.
  • the raw material is allowed to flow for 1 minute, and then the raw material is stopped for 30 seconds! /, The cycle is repeated! /, Downstream of the vaporizer
  • the gas flow rate was measured over time with the gas flow meter GMFM installed in the instrument.
  • the flow rate of the raw material is 0.25 [g / min] in the first cycle.
  • the flow rate of the raw material is increased by 0.25 [g / min], and the raw material flow rate is 1.25 [g / min].
  • the cycle was repeated until min. The flow measurement results at that time are shown in Figs.
  • the gas flow rate downstream of the vaporizer is reduced if the raw material is completely vaporized.
  • the measured waveform is a rectangular wave with a flat top.
  • the gas flow rate will vary by the amount of the raw material that is not vaporized, and the measured shape of the gas flow rate will have a jagged and unstable shape, especially at the upper side.
  • FIG. 10 and FIG. 12 showing the experimental results of the vaporizer of this embodiment and the conventional vaporizer when the vaporizer is set to 140 ° C. will be compared.
  • the measurement waveform is almost completely disturbed.
  • the measured waveform is stable up to 0.5 [g / min], and the waveform is disturbed beyond that. It can be seen that vaporization is not performed properly.
  • the vaporizer according to the present embodiment has the effect of being able to flow a larger flow rate than the conventional one at the same temperature.
  • Fig. 11 shows the experimental results when the vaporization section is lowered to 120 ° C in the vaporization apparatus of the present embodiment. According to this, the same results as in the conventional vaporization apparatus of 0.5 [ It can be seen that the measured waveform is stable up to [g / min]. That is, it is understood that the vaporizer according to the present embodiment can lower the temperature than the conventional one if the same flow rate is allowed to flow.
  • FIG. 13 shows the internal temperature distribution of the vaporization section by simulation.
  • the low-temperature region extends until it reaches the downstream, whereas in the present embodiment, only the temperature in a part of the upstream is low, and other regions are As a result, it is clearly understood that it is kept at high temperature and has excellent vaporization efficiency.
  • the present invention is not limited to the above embodiment.
  • the number of vaporizers is not limited to four, but may be two or nine as long as the design allows.
  • the nozzle diameter For example, if the same vaporization amount as that of a conventional single nozzle is expected, two nozzles are about 0.7 times the number of single nozzles and four. If so, it should be about 0.5 times that of a single nozzle and about 0.33 times that of a single nozzle! /.
  • the cross-sectional area (diameter) of the heating path also contributes to the vaporization efficiency. If the total cross-sectional area of the plurality of heating paths according to the present invention is made smaller than the cross-sectional area of the conventional single heating path, when the same flow rate is supplied, the flow rate of the heating path according to the present invention of course has a small cross-sectional area. Get faster. Although there is a disadvantage that the amount of heat applied from the heater is reduced when the flow rate is increased, if the effect of reducing the amount of applied heat is reduced to a certain limit, the atomization of the nozzle from the nozzle by increasing the flow rate and the pressure reduction are reduced. The effect becomes dominant, and it is possible to improve the vaporization efficiency.
  • the vaporization portion is formed rotationally symmetrically on the same circle as seen in the cross section so that the distance from the heater to each vaporization portion becomes equal. It is preferred that A heater may be provided at an equal distance corresponding to each vaporization unit (for example, if there are four vaporization units and four heaters). The heating conditions for each vaporizer Since they are as equal as possible, heating unevenness can be suppressed and vaporization can be efficiently performed at a low temperature.
  • the first block body may have various shapes such as a rectangular parallelepiped and a prism that need not be cylindrical. The same applies to the second block body. Further, the first block body and the second block body may be integrated.
  • the vaporizing section may be configured in pipes separated from each other. In this case, it is necessary to heat each pipe.
  • the filler is preferably made of titanium. This is because titanium is excellent in thermal conductivity.
  • the shape of the filler is more preferably a force static mixer, for example, a ball-shaped one. In this way, even if the pressure is low, the heat loss is not only reduced but also the pressure loss is reduced, so that it can be vaporized more suitably.
  • this vaporization apparatus is used not only for a semiconductor manufacturing process that handles a high-k material made of a low vapor pressure material, but also for general purposes such as vaporizing a liquid material in addition to a semiconductor manufacturing process. Of course you can.
  • vaporization is possible even when the heating temperature is reduced, and it is possible to prevent the deterioration of raw materials and the reduction of residues, and to expect a reduction in the risk of clogging, and to easily increase the vaporization flow rate.
  • An apparatus can be provided.

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Description

明 細 書
液体材料気化装置
技術分野
[0001] 本発明は、例えば半導体製造プロセスで用いる各種の液体原料等を気化するため の気化装置に関するものである。
背景技術
[0002] 従来のこの種の気化装置は、成膜等に用いる液体原料とキャリアガスとからなる気 液混合体をノズルから放出して減圧するとともに、ノズルの下流に設けた加熱路で加 熱して、前記液体原料を気化するような構成を有する(特許文献 1)。
[0003] しかしながら、最近の半導体素子の high-kプロセス用原料としてよく用いられる液体 材料の中には、低蒸気圧でかつ熱分解しやすいという性質のものがあり、その結果 以下のような不具合が従来に増して生じるようになってきている。
[0004] すなわち、このような液体原料は、低蒸気圧であることから気化のために高温にす る必要があるが、その一方で熱分解しやすいため、気化のための高温にさらされると 、原料の一部が劣化して残渣となり、ノズルでの閉塞やパーティクル発生が生じ得る
[0005] さらに、従来の気化装置は、単体ノズル構造であるため、ノズルでの閉塞が発生す ると、継続しての気化発生が不可能となり、動作がほぼ停止するという不具合が生じ 得る。特に半導体製造プロセスでは、このような動作停止が生じることは好ましいもの ではない。
[0006] 力、といって、例えば、単純にノズルを複数化すると、各ノズルから出た噴霧同士が重 なるところと重ならなレ、ところとで濃度の違レ、が生じ、その濃度の高レ、部分を完全に 気化させるような高い温度設定にせざるを得なくなる。その結果、原料の熱分解が生 じやすくなる。
[0007] これを若干改良したものとして、図 14のような構造のものも知られている。ここでは、 複数のノズルに対応するように、加熱路が複数本設けられた構造が記載されている。 し力、しながら、加熱路とノズルとは不連続でその間に空間があるため、やはり各ノズル 力、ら出た噴霧の重なり具合の違いによる噴霧の濃淡が生じ、程度の違いこそあれ、 結局前述同様の不具合が生じ得る。
特許文献 1 :特開 2003— 163168号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0008] 本発明は、このような課題に着目してなされたものであって、その主たる目的は、加 熱温度を低減しても気化が可能な構造にすることで原料劣化の防止及び残渣の低 減を図るとともに、閉塞リスクの低減を期待でき、し力、も気化流量の増大化が容易な 気化装置を提供することにある。
課題を解決するための手段
[0009] すなわち、本発明に係る気化装置は、液相又は気液混合相状態にある原料を導入 するための導入ポートと、その導入ポートの下流に設けられて前記原料を気化する 気化部と、この気化部で気化した原料を導出する導出ポートとを備えてなるものであ つて、前記気化部が、前記原料を噴霧するノズルとそのノズルの下流に連続して設け た加熱路とからなる流路状のものであり、その気化部を、前記導入ポートと導出ポート との間に並列に複数設けて、各気化部を互いに独立して前記原料が流通するように 構成して!/ヽることを特徴とする。
[0010] このようなものであれば、複数の気化部が互いに干渉することなく独立して原料を 流すので、それぞれのノズルから出た噴霧は、対応する加熱路にのみ流れて噴霧同 士の重なりによる濃淡が形成されず、ほぼ均一な濃度の噴霧となる。そしてこのような 均一な濃度の噴霧に対して加熱による気化が行われるので、濃淡の濃レ、部分にあわ せて温度を設定し気化を行わざるを得ないものと比べて、加熱量を低減させ、低い温 度での気化を効率よく行うことができる。
[0011] 本発明による気化効率向上は別の観点からも言える。すなわち本発明のように複 数の加熱路を有したものと、従来のように 1本の加熱路のみを有したものとを比較した 場合、ノズルの総断面積が互いに等しい(等流量)とすると、複数の加熱路を有したも ののほうが、 1本あたりの気化量が少なくて済むうえ、内部を流れる流体への接触面 積が大きぐ熱を効率的に伝えられるので、低い温度で気化を効率よく行うことができ る。また、従来のものでは径が大きくなるので中心部に熱が伝わりにくぐその中心部 での気化にあわせた高めの温度設定をしなければならないところ、本発明のもので は、 1本 1本の加熱路を細くでき、温度分布を生じにくくできるので、この点からも低い 温度で気化を効率よく行うことができると言える。
[0012] そしてその結果、本発明によれば、原料の熱分解による残渣発生やノズルの目詰 まりを抑制できるし、逆に言えば、従来と同じような温度に設定するのであれば、より 多くの原料を流すことができる、すなわち大流量発生が可能になる。
[0013] さらに、仮に 1つのノズルが詰まっても他のノズルから原料は流れるため、動作が完 全に停止するというリスクを低減できる。そのためには気化部をより多く設けることが望 ましい。
[0014] 気化部における加熱構造ゃ流路構造を簡単化するとともに、効率よい加熱ができる ようにするには、前記各気化部を単一の第 1ブロック体(以下、共通ブロック体と称す る場合もある)に形成し、その第 1ブロック体に熱を与えることによって各加熱路での 気化が行われるようにして!/、るものが好まし!/、。
[0015] 導入ポートから各気化部へ原料を分流させるための流路をより簡単に作成できるよ うにするには、前記導入ポートからの原料を各気化部に分流させるための分流路が 形成された第 2ブロック体(以下、分流ブロック体と称する場合もある)をさらに設け、 その第 2ブロック体を前記第 1ブロック体の前段に配設するようにしているものが好適 である。
発明の効果
[0016] このように本発明によれば、従来に比して低い温度での気化を行うことができるよう になり、原料の熱分解による残渣発生やノズルの目詰まりを抑制できる。また逆に言 うと、従来と同じような温度に設定するのであれば、より多くの原料を流すことができる 、すなわち大流量発生が可能になる。
さらに、仮に 1つのノズルが詰まっても他のノズルから原料は流れるため、動作が完 全に停止するとレ、うリスクを低減できる。
図面の簡単な説明
[0017] [図 1]本発明の一実施形態に係る気化装置の構造を模式的に示す構造縦断面図。 [図 2]同実施形態における第 1ブロック体の中央縦断面図。
[図 3]同実施形態における第 1ブロック体の一方の端面図。
[図 4]同実施形態における第 1ブロック体の他方の端面図。
[図 5]同実施形態における第 2ブロック体の中央縦断面図。
[図 6]同実施形態における第 2ブロック体の一方の端面図。
[図 7]同実施形態における第 2ブロック体の他方の端面図。
[図 8]図 1における要部詳細図。
[図 9]同実施形態にかかる気化装置の性能実験システムを示す模式図。
[図 10]図 9に示す性能実験システムを用いたときの、同実施形態にかかる気化装置 の性能を示す実験結果。
[図 11]図 9に示す性能実験システムを用いたときの、同実施形態にかかる気化装置 の性能を示す実験結果。
[図 12]図 9に示す性能実験システムの気化装置を、単一バルブ、単一流路を有した 従来の気化装置に置き換えて実験した実験結果。
[図 13]単一バルブ、単一流路を有した従来の気化装置と、本実施形態に係る気化装 置との、加熱路内部の温度分布をそれぞれ比較したシミュレーション結果。
[図 14]従来の他の気化装置の一例を示す概要図。
発明を実施するための最良の形態
[0018] 以下、本発明の一実施形態を、図面を参照して説明する。
[0019] 本実施形態に係る気化装置 Aは、例えば半導体製造システム(図示しない)の一部 を構成するもので、成膜用の真空チャンバ(図示しない)に接続されて半導体素子形 成のための原料を気相状態で供給する機能を有する。
[0020] 具体的にこのものは、図 1に示すように、液相状態にある前記原料 (以下、液体原 料とも言う) LMとキャリアガス CGとを混合して気液混合体 GLを生成する気液混合機 構 1と、この気液混合体 GLに含まれる液体原料 LMを気化して気相状態(以下、原 料ガスとも言う)にし、その原料ガス GSを前記キャリアガス CGとともに外部、すなわち 真空チャンバへ導出する気化本体機構 2と、を備えて!/、る。
[0021] まず気液混合機構 1から簡単に説明しておくと、この気液混合機構 1には、気液混 合室 13が形成されており、この気液混合室 13に、液体原料導入路 la及びキャリアガ ス導入路 lbが連通されている。そしてこの気液混合室 13で、前述したように液体原 料 LMとキャリアガス CGとが混合される。このようにして生成された気液混合体 GLは 、この気液混合室 13にやはり連通している導出路 lcから導出される。なお、キャリア ガス CGのみを、常時ないし所定時期に導入し、導出路 lc及び/又はノズルを含め た気化部に発生した残渣をパージするように構成してもよい。
[0022] この気液混合機構 1は、さらに流量制御部 12をも具備しており、液体原料 LMの流 量を予め定められた一定流量に維持する機能を有する。この流量制御部 12は、例え ばダイヤフラム 121で支持された弁体 120をピエゾァクチユエータ 122で駆動し、液 体原料導入路 la等に配置されたバルブの開度をコントロールして流量制御を行うも のである。
[0023] 一方、気化本体機構 2は、気液混合体 GLを導入するための導入ポート P1と、その 導入ポート P1の下流に設けられて気液混合体 GLに含まれる液体原料 LMを気化す る気化部 3と、そこで気化した原料ガス GSを導出する導出ポート P2とを備えて!/、る。
[0024] しかしてこの実施形態では、図 2〜図 4、図 8にも示すように、前記気化部 3を、前記 導入ポート P1と導出ポート P2との間に並列に複数 (ここでは例えば 4本)設け、各気 化部 3が互いに独立して干渉することなく原料を流通させるように構成している。
[0025] 気化部 3はそれぞれ、気液混合体 GLに含まれる液体原料 LMを減圧噴霧するノズ ル 31とそのノズル 31の下流に連続して設けられた加熱路 32とからなる 1本の流路状 のものであり、互いに等しい形状をなす。なお、「連続して設ける」とは、ノズルと加熱 路とが、連続した内周面によって途切れなく覆われているということであり、ノズル 31 から噴射された原料 LMが、他の加熱路 32に一切混入することなぐ対応する加熱 路 32に全て導入されるように構成されているということである。そしてこの実施形態で は、それら各気化部 3を、単一の第 1ブロック体(共通ブロック体) 4に形成するようにし ている。
[0026] この第 1ブロック体 4は、例えば、耐腐食性及び熱伝導性の双方に優れた金属を素 材とする円柱状をなすもので、前記 4本の気化部 3は、当該第 1ブロック体 4の中心軸 に平行に、この第 1ブロック体 4の一端面 4aから他端面 4bに亘つて貫通するように設 けられている。
[0027] ノズル 31は、気化部 3の流路径を絞ることで形成してある。また、前記第 1ブロック 体 4には、ここでは、気化部 3に平行に 1又は複数の孔を設け、その孔に嵌合する長 尺状のカートリッジヒータ HIを、当該第 1ブロック体 4のほぼ端から端に亘つて挿入す るようにしている(図 1等参照)。このことにより、ノズル 31より下流の流路がそこを通過 する流体に熱を与える加熱路 32として機能するように構成してある。かかる構成の利 点としては、加工しやすい、径方向にコンパクト化を図りやすい、カートリッジヒータ H 1は一般的に発熱量が大きいため十分な加熱を行える、カートリッジヒータ HIが共通 ブロック体 4に埋設されるため効率的に熱を伝達できる、とレ、つた点が挙げられる。な お、その他に、例えば筒状のヒータを前記第 1ブロック体 4の側周囲に外嵌させたり、 面板状のヒータを前記第 1ブロック体 4の側周囲に巻き付けたりしてもよい。
[0028] さらにこの実施形態では、図 5〜図 7、図 8にも示すように、前記気液混合機構 1の 導出路 lcから導出される気液混合体 GLを、前述した各気化部 3に分流させるため、 第 2ブロック体(分流ブロック体) 5を、前記第 1ブロック体 4の前段、つまりその一端面 4aに取り付けている。
[0029] この第 2ブロック体 5は、前記第 1ブロック体 4より小径の円柱状をなすもので、その 一端面 5aの中央部に、前記導出路 lcと接続される導入ポート P1が形成されている。 そして、この導入ポート P1から直線状をなす複数本 (ここでは 4本)の分流路 6が、当 該第 2ブロック体 5の他端面 5bに向かってやや斜めに貫通している。各分流路 6の他 端開口は、前記各気化部 3の先端開口とそれぞれ対応する位置に設定してあり、第 1ブロック体 4の一端面 4aに第 2ブロック体 5の他端面 5bを、軸を合わせて取り付ける ことにより、各分流路 6と各気化部 3とがそれぞれ連通するように構成してある。
[0030] なお、第 1ブロック体及び第 2ブロック体は、内部を流れる流体の特性上、ここでは 耐熱性、耐腐食性に優れた材料で構成する必要がある。
[0031] また、この第 2ブロック体 5は、第 1ブロック体 4に取り付けた状態で当該第 1ブロック 体 4の一端面 4aから突出するように構成してあり、第 2ブロック体 5における突出部分 の側周囲にさらに予熱用ブロック H2を取り付けている。この予熱用ブロック H2は、リ ング状をなす例えばアルミ製のもので、第 1ブロック体 4からの熱を受け取って、ここを 通過する気液混合体 GLを予熱できるように構成してある。
[0032] なお、第 2ブロック体 5を第 1ブロック体 4とは別体で設けているのは、主として、導入 ポート P1から各気化部 3への分流路 6を簡単に構成できるという利点からである。分 流ブロック体 5と第 1ブロック体 4とは同一素材を用いてもよ!/、し別素材を用いてもよ!/、
[0033] しかして、このような構成であれば、各ノズル 31から出た噴霧は対応する各加熱路 32にのみ流れるので、噴霧同士が重なり合って濃淡を作ることなぐほぼ均一な濃度 の噴霧となる。そしてこのような均一な濃度の噴霧に対して気化を行うので、濃淡の 濃レヽ部分にあわせて温度を設定し気化を行わざるを得な!/、ものと比べて、加熱量を 低減させ、低!/、温度で気化を効率よく行うことができる。
[0034] また、この装置 Aのように複数の加熱路 3のものと、従来のように 1本の加熱路のも のとを比較した場合、ノズルの断面積が互いに等しい(等流量)とすると、複数の加熱 路のほうが、 1本あたりの気化量が少なくて済むため、この点からも低い温度で気化を 効率よく行うことができる。その他に考えられる要因としては、複数の加熱路のほうが 内部を流れる流体等への接触面積が大きぐ熱を効率的に伝えられるといったことや 、従来のものでは径が大きくなるので中心部に熱が伝わりにくぐその中心部での気 化にあわせた高めの温度設定をしなければならないところ、複数にすれば 1本 1本の 加熱路を細くでき、温度分布が生じにくいから低めの温度設定でもよい、といったこと が挙げられる。
[0035] つまり、従来に比して低い温度での気化を行うことができるようになり、原料の熱分 解による残渣発生やノズル 3の目詰まりを抑制できる。また逆に言うと、従来と同じよう な温度に設定するのであれば、より多くの原料を流すことができる、すなわち大流量 発生が可能になる。
[0036] さらに、仮に 1つのノズル 3が詰まっても他のノズル 3から原料は流れるため、動作が 完全に停止するとレ、うリスクを低減できる。
[0037] 次に、本実施形態の気化装置 Aによる、より具体的な効果を、単一のノズル及び単 一の加熱路を有した従来の気化装置との比較において行った実験の結果により説 明する。 [0038] この実験では、図 9に示すシステムを用いた。この図中、符号 MVは気化装置を示 し、本実施形態の気化装置又は従来の気化装置が、ここに配置される。また、符号 P は圧力センサ、 MFCは質量流量制御装置、 LMFMは液体流量計、 GMFMはガス 流量計をそれぞれ示して!/、る。
[0039] そして、半導体素子形成のための原料と同等の蒸気圧を有した実験用液体原料を 、気化装置の液体原料導入路 laに導入するとともに、キャリアガス導入路 lbには、 窒素ガスを導入するようにしてレ、る。
[0040] このときの実験での諸元は以下のとおりである。
原料流量: 0.25, 0.5, 0.75, 1.0, 1.25 [g/min]
キャリアガス: 1 [SLM]
気化装置における流量制御部の温度: 60 [°C]
•気化装置における気化部の温度: 120又は 140 [°C]
•気化装置より下流側(二次側)の配管温度: 140 [°C]
'背圧: 5 [Torr]。
[0041] そして、上記諸元の下、キャリアガスを流し続けた状態で、原料を 1分間流し、その 後 30秒間原料を止めると!/、うサイクルを繰り返し行!/、、気化装置の下流に設けたガス 流量計 GMFMで、ガス流量を経時測定した。原料の流量は、最初のサイクルでは 0 . 25[g/min]であり、サイクル毎に、当該原料の流量を 0. 25[g/min]ずつ増加させ、 原料流量が 1. 25[g/min]となるまでサイクルを繰り返した。そのときの流量測定結果 を図 10〜図 12に示す。
[0042] ところで、気化装置には、ある一定流量の液体原料が定期的に導入されるわけであ るから、原料の気化が完全に行われていれば、気化装置の下流でのガス流量が安 定し、その測定波形は、上辺が平らな矩形波状になる。ところ力 気化がうまく行われ ていなければ、気化されない原料の分だけガス流量に変動が生じ、ガス流量の測定 波形における、特に上辺部分がぎざぎざとした不安定な形状となる。
[0043] そこで、気化部を 140°Cにしたときの、本実施形態の気化装置と従来の気化装置と による実験結果を示す図 10と図 12とを比較してみる。図 10から明らかなように、本実 施形態の気化装置では、流量を 1. 25 [g/min]まで上げても、測定波形にほとんど乱 れがないのに対し、図 12に示すように、従来の気化装置では、測定波形が安定して いるのは、 0. 5[g/min]までであって、それ以上では波形が乱れており、気化が適切 に行われていないことがわかる。すなわち、同じ温度であれば、本実施形態に係る気 化装置の方が、従来のものよりも大流量を流せるとレ、う効果を奏するのがわかる。
[0044] また、図 11は、本実施形態の気化装置において、気化部を 120°Cまで下げたとき の実験結果であるが、これによれば、従来の気化装置と同じぐ 0. 5[g/min]まで測定 波形が安定していることがわかる。すなわち、同じ流量を流すのであれば、本実施形 態に係る気化装置の方が、従来のものよりも温度を下げることができるのがわかる。
[0045] さらに、図 13に、シミュレーションによる気化部の内部温度分布を示す。従来の気 化装置における気化部は、下流に到るまで温度の低い領域が広がっているのに対し 、本実施形態のものは、上流の一部のみが温度が低いだけで、その他の領域は高温 に保たれており、気化効率において優れていることがこの結果力もも明らかにわかる
[0046] なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。例えば、気化部は 4本に限 られず、 2本、 9本など、設計の許す範囲で何本でも良い。ここでノズル径の具体例を 挙げておくと、例えば従来の単体ノズルのものと同じ気化量を期待するのであれば、 2本のものだと単体ノズルの約 0. 7倍、 4本のものだと単体ノズルの約 0. 5倍、 9本の ものだと単体ノズルの約 0. 33倍にすればよ!/、。
[0047] 加熱路の断面積 (径)も、気化効率に寄与する。従来の単体加熱路の断面積よりも 本発明に係る複数加熱路の総断面積を小さくすれば、同じ流量を供給した場合に、 当然に断面積の小さい本発明の加熱路の方力 流速が速くなる。流速が速くなると、 ヒータから与えられる熱量が低減する不利はあるものの、それによる付与熱量の低減 効果が顕著になる一定限度までであれば、流速増大によるノズルからの噴霧の微細 化や、圧力低減効果が優勢になって、気化効率の向上を図ることが可能となる。
[0048] また、ヒータが第 1ブロック体の周囲に巻かれているものでは、ヒータから各気化部 への距離が等しくなるように、気化部が横断面でみて同一円上に回転対称に形成さ れているものが好ましい。各気化部に対応させて等距離にそれぞれヒータを設ける( 例えば、気化部が 4つなら、ヒータも 4つ)ようにしてもよい。各気化部への加熱条件が 可及的に等しくなるため、加熱ムラを抑制でき、低い温度で気化を効率よく行うことが でさるカゝらである。
[0049] 第 1ブロック体は、円柱状である必要はなぐ直方体や角柱など種々の形状が考え られる。第 2ブロック体も同様である。また、第 1ブロック体と第 2ブロック体を一体構造 にしてもよい。
[0050] さらに言えば、これらブロック体を必ずしも設ける必要はなぐ互いに分離させた配 管内に気化部を構成してもよい。この場合、配管ごとに加熱する必要がある。
[0051] また、加熱路内に充填材をいれることで、圧力が低くても熱が伝わりやすくなり、さら に好適に気化できる。充填材はチタンでできていることが好ましい。チタンは熱伝導 性に優れるためである。また、充填材の形状としては、例えばボール状のものが挙げ られる力 スタティックミキサーであることがより好ましい。こうすることで、圧力が低くて も熱が伝わりやすいだけでなぐ圧力損失も小さくなるためさらに好適に気化できる。
[0052] さらに、ノズルより下流の、例えば加熱路の出口近傍にフィルターを取り付けること で、気液混合体のうち気化しきれなかった液体原料を除去できる。
[0053] また、この気化装置を、低蒸気圧材料からなる high-k材料等を取り扱う半導体製造 プロセスのみならず、ひいては半導体製造プロセス以外にも、液体原料を気化するよ うな用途一般に用いることができるのはもちろんである。
[0054] その他、各部の具体的構成についても上記実施形態に限られるものではなぐ本 発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。
産業上の利用可能性
[0055] 本発明により、加熱温度を低減しても気化が可能となり、原料劣化の防止及び残渣 の低減を促進できるとともに、閉塞リスクの低減を期待でき、しかも気化流量の増大化 が容易な気化装置を提供することが可能になる。

Claims

請求の範囲
[1] 液相又は気液混合相状態にある原料を導入するための導入ポートと、その導入ポ ートの下流に設けられて前記原料を気化する気化部と、この気化部で気化した原料 を導出する導出ポートとを備えてなるものであって、
前記気化部を、前記原料を噴霧するノズルとそのノズルの下流に連続して設けた 加熱路とからなる流路状のものとするとともに、複数の気化部を、前記導入ポートと導 出ポートとの間に並列に設け、なおかつ、各気化部を互いに独立して前記原料が流 れるように構成して!/、ることを特徴とする気化装置。
[2] 前記各気化部を形成した単一の第 1ブロック体を設け、その第 1ブロック体に熱を与 えることによって前記各加熱路での気化促進が行われるように構成している請求項 1 記載の気化装置。
[3] 前記導入ポートからの原料を各気化部に分流させるための分流路が形成された第 2ブロック体をさらに設け、その第 2ブロック体を前記第 1ブロック体の前段に配設する ようにして!/、る請求項 2記載の気化装置。
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