WO2008010339A1 - Scintillator panel and radiation detector - Google Patents

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light
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scintillator
scintillator layer
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Shunsuke Wakamatsu
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Canon Electron Tubes and Devices Co Ltd
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Toshiba Corp
Toshiba Electron Tubes and Devices Co Ltd
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    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2002Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
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    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KHANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens

Definitions

  • the present invention relates to a scintillator panel that converts radiation into visible light, and a radiation detector using the scintillator panel.
  • a flat detector using an active matrix By detecting the irradiated X-rays with this flat panel detector, an X-ray image or a real-time X-ray image is output as a digital signal.
  • X-rays are converted into visible light, that is, fluorescence by a scintillator layer, and this fluorescence is converted into a photoelectric conversion element such as an amorphous silicon (a-Si) photodiode or a CCD (Charge Coupled Device). The image is acquired by converting it into signal charge.
  • a-Si amorphous silicon
  • CCD Charge Coupled Device
  • the scintillator layer is generally made of cesium iodide (Csl): sodium (Na), cesium iodide (Csl): thallium (T1), sodium iodide (Nal), or acid sulfate. Gadrom (Gd OS) is used. Grooves are formed in the scintillator layer by dicing etc.
  • the resolution characteristics can be improved.
  • a radiation detector disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-356679 (page 3-4, Fig. 1) is known.
  • the configuration of this radiation detector will be described.
  • a reflective metal thin film is provided on a support substrate such as glass or amorphous carbon.
  • a protective film is provided so as to cover the entire reflective metal thin film.
  • a scintillator layer is provided on this protective film.
  • An organic film is provided so as to cover the scintillator layer.
  • a radiation detector is configured by combining a photoelectric conversion element with the scintillator panel having the support substrate, the reflective metal thin film, the protective film, the scintillator layer, and the organic film.
  • an X-ray detector disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2005-283483 (page 46, FIG. 1) is known. The configuration of this X-ray detector is described. A columnar scintillator layer is provided on the surface of the photoelectric conversion element. A protective film is formed on the surface of the scintillator layer. Is provided. In this protective film, light reflecting member particles for reflecting the fluorescence converted by the scintillator layer are dispersed. An X-ray detector includes the photoelectric conversion element, a scintillator layer, a protective film, and the like.
  • a protective film in which light reflecting member particles are dispersed is provided on the surface of a scintillator layer. This prevents the deterioration of resolution characteristics due to the protective film.
  • the surface of the scintillator layer is not flat but uneven, and a protective film enters between the columnar structures of the scintillator layer. For this reason, the visible light incident on the protective film is scattered, and as a result, there is a problem that the resolution characteristic is deteriorated.
  • the present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a scintillator panel with improved resolution characteristics and a radiation detector using the scintillator panel.
  • a scintillator panel includes:
  • a light-reflecting material-dispersed film that is provided in a planar shape on the support substrate and in which light-reflecting material particles that reflect visible light are dispersed;
  • a scintillator layer provided on the light-reflecting material dispersion film for converting incident radiation into visible light
  • a support substrate that transmits radiation, and light reflecting material particles that are provided in a plane on the support substrate and reflect visible light are dispersed !, a light reflecting material dispersion film, and the light reflecting material dispersion film
  • a photoelectric conversion element provided on a surface opposite to the support substrate of the scintillator panel and converting visible light converted by the scintillator layer into an electrical signal;
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a radiation detector showing a first exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a graph showing the relationship between the film thickness of the light reflecting material dispersion film and the resolution characteristics in the radiation detector.
  • FIG. 3 is a table showing the refractive indexes of the material of the scintillator layer and the material of the light reflector dispersion film in the radiation detector.
  • FIG. 4 is a graph showing the relationship between T X F / D and reflectance in the radiation detector.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a radiation detector showing a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of a comparative example.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of Example 2.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view of Example 3.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view of Example 4.
  • FIG. 10 is a table showing the luminance and CTF of the comparative example and each example.
  • 1 to 4 show a first embodiment.
  • the radiation detector 11 includes a scintillator panel 12 and a photoelectric conversion element 13.
  • the scintillator panel 12 has a support substrate 16 formed by curing, for example, carbon fiber that transmits radiation with a resin, and a light-reflecting material dispersion film 17 is planar on the surface of the support substrate 16. Is formed.
  • the light reflecting material dispersion film 17 is formed of an organic material such as paraxylylene, for example. In this light reflecting material dispersion film 17, light reflecting material particles 18 which are inorganic substances are dispersed. Has been. Therefore, the light reflecting material dispersion film 17 also has a function as a light reflecting film.
  • a scintillator layer 19 that converts incident radiation into visible light is formed on the planar surface of the light reflecting material dispersion film 17.
  • the scintillator layer 19 has a columnar structure, and a plurality of grooves 20 are formed between the columnar structures.
  • the light reflecting material dispersion film 17 is provided so as to be separated from between the columnar structures of the scintillator layer 19.
  • Csl cesium iodide
  • T1 thallium
  • Na sodium iodide
  • a columnar structure is formed in the scintillator layer 19 by vacuum deposition.
  • the columnar structure is formed in the scintillator layer 19 by using various methods such as applying the mixed material on the light reflecting material dispersion film 17, baking and curing, and dicing with a dicer.
  • the mixed material is made from oxysulfur gadolinium (Gd O S) phosphor particles and binder resin.
  • the groove 20 is filled with dry nitrogen.
  • the groove 20 may be filled with dry air, and the groove 20 can be in a vacuum state.
  • the light-reflecting material particles 18 have a low X-ray absorption such as titanium dioxide (TiO 2).
  • n n.
  • T thickness of the light reflecting material dispersion film 17
  • F volume filling density of the light reflecting material particles 18
  • D average particle diameter
  • a moisture-proof organic film 21 as an organic film is formed so as to cover the entire scintillator panel 12 including the support substrate 16, the light reflecting material dispersion film 17 and the scintillator layer 19.
  • the moisture-proof organic film 21 is moisture-proof for the scintillator layer 19, and is an organic film having excellent moisture resistance, such as a paraxylylene thin film, and has a property of transmitting visible light converted by the scintillator layer 19. Yes.
  • the moisture-proof organic film 21 has a structure that does not penetrate into the groove 20 of the scintillator layer 19. That is, the moisture-proof organic film 21 is provided outside the columnar structure of the scintillator layer 19.
  • the photoelectric conversion element 13 includes a TFT array substrate 25. On the TFT array substrate 25, a plurality of pixels 24 having photodiodes are formed in a matrix. This photoelectric The surface of the conversion element 13 on which the pixels are formed is bonded to the surface side of the scintillator panel 12 on the scintillator layer 19 side. Here, the surface on the scintillator layer 19 side is also the surface on the opposite side of the support substrate 16 of the scintillator panel 12. In the photoelectric conversion element 13, the visible light converted by the scintillator panel 12 is converted into an electric signal by the photodiode of each pixel 24.
  • the resolution characteristic of the radiation detector 11 having the scintillator layer 19 depends on the resolution characteristic (CTF: Contrast Transfer FunctionCMTF: Modulation Transfer Function) of the scintillator layer 19.
  • the resolution characteristic of visible light (fluorescence) converted by the scintillator layer 19 up to the photoelectric conversion element 13 is ⁇
  • the resolution characteristic of the scintillator layer 19 is ⁇
  • the light reflecting material dispersion film 17 is
  • the resolution of visible light reaching the photoelectric conversion element 13 is obtained by multiplying the resolution characteristic of the scintillator layer 19 by the resolution characteristic of the light reflecting material dispersion film 17.
  • the resolution characteristic of visible light reaching the photoelectric conversion element is about half that of the scintillator layer.
  • the resolution characteristics of the light-reflecting material dispersion film in FIG. 2 are the same as when the light from the incident surface force point light source of the light-reflecting material dispersion film is incident, reflected by the metal film, and emitted to the incident surface.
  • the incident surface is one end surface of the light reflecting material dispersion film
  • the metal film is provided on one surface of the light reflecting material dispersion film.
  • the light reflecting material particles 18 that reflect the visible light converted by the scintillator layer 19 are dispersed in the light reflecting material dispersion film 17.
  • the resolution characteristic of the radiation detector 11 can be made equal to the resolution characteristic of the scintillator layer 19. The resolution characteristics of the radiation detector of the first embodiment are improved and are higher than those of the conventional radiation detector.
  • the fluorescence generated in the columnar structure of the scintillator layer 19 is repeatedly reflected on the side wall of the columnar structure of the scintillator layer 19 and reaches the photoelectric conversion element 13. For this reason, the diffusion of visible light depends on the reflectance R1 at the side wall of the columnar structure of the scintillator layer 19.
  • the refractive index of the material forming the scintillator layer 19 is n
  • the columnar crystal side of the scintillator layer 19 is
  • FIG. 3 shows the refractive indexes of various materials.
  • the materials that make up the scintillator layer 19 include cesium iodide: thallium, sodium iodide: thallium, and oxysulfur gallium.
  • the refractive index n of these materials is about 1.8 to 2.4. It is. on the other hand,
  • the refractive index n of these materials is about 1.4 to 1.6.
  • the reflectance R1 is improved as compared with the conventional configuration, and the resolution characteristic of the radiation detector 11 can be further improved.
  • the reflection of visible light by the light reflecting material dispersion film 17 is caused by the boundary between the scintillator layer 19 and the light reflecting material particles 18, and the light reflection. It occurs at two locations, the material dispersion film 17 (the boundary between the organic material of the light reflection material dispersion film 17 and the light reflection material particles 18).
  • the refractive index of the light reflecting material particles 18 is n
  • the refractive index of the organic material of the light reflecting material dispersion film 17 is n.
  • is the scintillator layer r s r s r b r b
  • the probability that reflection occurs at the boundary between the light reflecting material particles 19 and the light reflecting material particles 18, and ⁇ indicates the probability that reflection occurs at the boundary between the light reflecting material particles 18 and the organic material of the light reflecting material dispersion film 17.
  • the reflectance R2 of the light reflector dispersion film 17 is the difference in refractive index between the light reflector particles 18 and the organic material of the light reflector dispersion film 17 when visible light enters the light reflector dispersion film 17. This is largely due to the reflection effect caused by. Therefore, in order to improve the reflectance R2 of the light reflecting material dispersion film 17 according to the fifth equation, the difference between the refractive index ⁇ and the refractive index ⁇ and the difference between the refractive index ⁇ and the refractive index ⁇ are larger. Yes. Further, as shown in FIG. 3, the refractive index n is about 1 ⁇ 8 to 2 ⁇ 4, and the refractive index ⁇ is about 1 ⁇ 4.
  • the refractive index n and the refractive index n are
  • the reflectance R2 of the light reflecting material dispersion film 17 shows a stable value with high reflectivity, and radiation The luminance characteristics of the detector 11 can be further improved.
  • the light reflecting material dispersion film 17 in which the light reflecting material particles 18 are dispersed can be formed on the support substrate 16 in a flat surface, and the scintillator layer 19 is formed on the light reflecting material dispersion film 17. Yes. For this reason, the visible light converted by the scintillator layer 19 incident on the planar light reflecting material dispersion film 17 can be prevented from being scattered, and the resolution characteristics can be improved.
  • FIG. 5 shows a second embodiment. Note that the same configurations and operations as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • a moisture-proof inorganic film 28 as an inorganic film is formed so as to cover the entire scintillator panel 12 including the support substrate 16, the light reflecting material dispersion film 17 and the scintillator layer 19.
  • the moisture-proof inorganic film 28 prevents the scintillator layer 19 from moisture.
  • the moisture-proof inorganic film 28 is, for example, silicon dioxide It is an organic film having excellent moisture resistance, such as a film, and has a characteristic of transmitting visible light converted by the scintillator layer 19.
  • the moisture-proof inorganic film 28 has a structure that does not penetrate into the groove 20 of the scintillator layer 19. That is, the moisture-proof inorganic film 28 is provided outside the columnar structure of the scintillator layer 19.
  • the light reflecting material particles 18 may be formed by selecting other various materials instead of the inorganic materials.
  • Example 2 Example 2 shown in FIG. 7, Example 3 shown in FIG. 8, and Example 4 shown in FIG.
  • an aluminum (A1) film is formed as a light reflecting film 41 on a support substrate 16 obtained by curing carbon fibers with a resin by a sputtering method.
  • a paraxylene thin film is formed as a protective film 17 on the light reflecting film 41.
  • a cesium iodide: thallium film having a thickness of 500 m is formed as a scintillator layer 19 on the protective film 17.
  • a para-xylene thin film is formed as the moisture-proof organic film 21 so as to cover the entire scintillator layer 19 and the support substrate 16.
  • the moisture-proof organic film 21 is formed, the moisture-proof organic film completely penetrates between the columnar structures of the scintillator layer 19.
  • Example 1 shown in FIG. 1 a light-reflecting material dispersion film 17 having a thickness of 200 m is formed on a support substrate 16 obtained by curing carbon fibers with a resin.
  • the light-reflecting material dispersion film 17 is formed on the support substrate 16 by binding with titanium dioxide as the inorganic substance of the light-reflecting material particles 18 with a resin.
  • a cesium oxalate: thallium film having a thickness of 500 m is formed as a scintillator layer 19.
  • a paraxylene thin film is formed as the moisture-proof organic film 21 so as to cover the entire scintillator layer 19 and the support substrate 16.
  • the moisture-proof organic film 21 When the moisture-proof organic film 21 is formed, the moisture-proof organic film does not penetrate between the columnar structures of the scintillator layer 19.
  • the refractive index of cesium iodide: thallium is about 1.8
  • the refractive index of titanium dioxide is
  • Example 1 satisfies the first formula. Further, the volume filling density of the titanium dioxide-titanium particles in the light reflecting material dispersion film 17 is 70%, and the average particle size is m. Gatsutsu Thus, Example 1 satisfies the second formula.
  • Example 2 shown in FIG. 7 a light-reflecting material dispersion film 17, a scintillator layer 19 and a moisture-proof organic film 21 made of the same material as in Example 1 are formed.
  • the moisture-proof organic film 21 penetrates completely between the columnar structures of the scintillator layer 19.
  • Example 3 shown in FIG. 8 the light reflecting material particles 18 of Example 1 are silicon dioxide silicon dioxide particles.
  • Example 3 The other conditions in Example 3 are the same as in Example 1.
  • Cesium iodide Thallium has a refractive index of about 1.8, and silicon dioxide has a refractive index of 1.5. For this reason, Example 3 does not satisfy the first equation.
  • the light reflecting material dispersion film 17 of Example 4 shown in FIG. 9 is formed thinner than the light reflecting material dispersion film 17 of Example 1, and has a thickness of 20 m.
  • the volume filling density of the titanium dioxide dioxide particles that are the light reflecting material particles 18 in the light reflecting material dispersion film 17 is 40% of Example 1 and is set low.
  • the conditions of Example 4 are the same as those of Example 1. This Example 4 does not satisfy the second formula.
  • Example 2 the comparative example and Example 2 are compared.
  • the CTF indicating the resolution characteristics is improved compared to the comparative example. Therefore, it was shown that the resolution characteristics can be improved by providing the light reflecting material dispersion film 17 with the function of the light reflecting film.
  • Example 1 and Example 2 are compared.
  • the CTF indicating the resolution characteristics is improved over Example 2. Therefore, it was shown that the resolution characteristics can be further improved by not allowing the moisture-proof organic film 21 to penetrate between the columnar structures of the scintillator layer 19.
  • Example 1 and Example 3 are compared.
  • the reflectance of the light reflecting material dispersion film 17 is lowered, and the luminance characteristics are deteriorated as compared with Example 1. Therefore, satisfying the first equation showed the effect of improving the luminance characteristics.
  • Example 1 and Example 4 are compared.
  • the reflectance of the light reflecting material dispersion film 17 is reduced, and the luminance characteristics are deteriorated as compared with Example 1. Therefore, the effect of improving the luminance characteristics by satisfying the second equation was shown.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, but in an implementation stage. It is possible to modify the components without departing from the scope of the invention. Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the above embodiments. For example, some constituent elements such as all the constituent elements shown in the embodiment may be deleted. Furthermore, the constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.
  • the light reflecting material particles are dispersed on the support substrate, and the light reflecting material dispersion film can be formed in a planar shape, and the scintillator layer is formed on the planar light reflecting material dispersion film. Therefore, the visible light converted by the scintillator layer incident on the planar light reflecting material dispersion film can be prevented from being scattered, and the resolution characteristics can be improved.

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Description

明 細 書
シンチレ一タパネルおよび放射線検出器
技術分野
[0001] 本発明は、放射線を可視光に変換するシンチレ一タパネル、およびこのシンチレ一 タパネルを用いた放射線検出器に関する。 背景技術
[0002] 新世代の X線診断用検出器として、アクティブマトリクスを用いた平面検出器が開発 されている。この平面検出器において、照射された X線を検出することにより、 X線撮 影像、あるいはリアルタイムの X線画像がデジタル信号として出力される。そして、こ の平面検出器では、 X線をシンチレータ層により可視光すなわち蛍光に変換させ、こ の蛍光をアモルファスシリコン(a— Si)フォトダイオード、あるいは CCD (Charge Coup led Device)などの光電変換素子で信号電荷に変換することで画像を取得して 、る。
[0003] シンチレータ層は、材料として、一般的にヨウ化セシウム(Csl):ナトリウム(Na)、ョ ゥ化セシウム (Csl):タリウム (T1)、ヨウ化ナトリウム (Nal)、あるいは酸硫ィ匕ガドリ-ゥ ム(Gd O S)などが用いられている。ダイシングなどによりシンチレータ層に溝を形成
2 2
したり、柱状構造が形成されるように材料を堆積してシンチレ一タ層を形成したりする ことで、解像度特性を向上させることができる。
[0004] 例えば、特開 2000— 356679号公報 (第 3— 4頁、図 1)に開示された放射線検出 器が知られている。この放射線検出器の構成について述べる。ガラスやアモルファス カーボンなどの支持基板上に反射性金属薄膜が設けられている。さらにこの反射性 金属薄膜の全体を覆うよう保護膜が設けられている。この保護膜上にシンチレータ層 が設けられている。このシンチレ一タ層を覆うよう有機膜が設けられている。上記支持 基板、反射性金属薄膜、保護膜、シンチレータ層および有機膜を有したシンチレ一 タパネルに光電変換素子を組み合わせて放射線検出器が構成されている。
[0005] また、特開 2005— 283483号公報(第 4 6頁、図 1)に開示された X線検出器が 知られている。この X線検出器の構成について述べる。光電変換素子の表面に柱状 構造のシンチレータ層が設けられている。このシンチレータ層の表面上に保護膜が 設けられている。この保護膜にはシンチレータ層により変換した蛍光を反射させる光 反射部材粒子が分散されている。 X線検出器は、上記光電変換素子、シンチレータ 層および保護膜等を有して構成されて!、る。
発明の開示
[0006] 上記したように、特開 2000— 356679号公報のような放射線検出器では、反射性 金属薄膜とシンチレータ層との間に保護膜が形成されている。これにより、シンチレ ータ層の影響による反射性金属薄膜の変質を防止でき、反射性金属薄膜の反射膜 としての機能の劣化を防止することができる。しかしながら、保護膜に入射した可視光 が散乱して、解像度特性に劣化が生じる問題点を有している。
[0007] また、特開 2005— 283483号公報のような放射線検出器では、シンチレータ層の 表面上に光反射部材粒子を分散させた保護膜が設けられている。これにより、保護 膜による解像度特性の劣化の防止を図っている。し力しながら、シンチレータ層の表 面は平面状ではなく凹凸状であり、さらに保護膜がシンチレータ層の柱状構造間に 入り込んでいる。このため、保護膜に入射した可視光が散乱しやすぐその結果、解 像度特性に劣化が生じる問題点を有している。
[0008] 本発明は、このような点に鑑みなされたもので、解像度特性を向上させたシンチレ 一タパネルおよびこのシンチレ一タパネルを用いた放射線検出器を提供することを 目的とする。
[0009] 上記課題を解決するため、本発明の態様に係るシンチレ一タパネルは、
放射線を透過する支持基板と、
前記支持基板上に平面状に設けられ、可視光を反射させる光反射材粒子が分散 されて ヽる光反射材分散膜と、
前記光反射材分散膜上に設けられ、入射される放射線を可視光に変換するシンチ レータ層と、
を具備したことを特徴として!/、る。
[0010] また、本発明の他の態様に係る放射線検出器は、
放射線を透過する支持基板と、前記支持基板上に平面状に設けられ、可視光を反 射させる光反射材粒子が分散されて!、る光反射材分散膜と、前記光反射材分散膜 上に設けられ、入射される放射線を可視光に変換するシンチレータ層と、を具備した シンチレ一タパネルと、
前記シンチレ一タパネルの支持基板と反対側の表面に設けられ、前記シンチレ一 タ層により変換された可視光を電気信号に変換する光電変換素子と、
を備えたことを特徴として!/ヽる。
図面の簡単な説明
[0011] [図 1]図 1は、本発明の第 1の実施の形態を示す放射線検出器の断面図である。
[図 2]図 2は、上記放射線検出器における光反射材分散膜の膜厚と解像度特性との 関係を示すグラフである。
[図 3]図 3は、上記放射線検出器におけるシンチレータ層の材料および光反射材分 散膜の材料の屈折率を示す表である。
[図 4]図 4は、上記放射線検出器における T X F /Dと反射率との関係を示すグラフ である。
[図 5]図 5は、本発明の第 2の実施の形態を示す放射線検出器の断面図である。
[図 6]図 6は、比較例の断面図である。
[図 7]図 7は、実施例 2の断面図である。
[図 8]図 8は、実施例 3の断面図である。
[図 9]図 9は、実施例 4の断面図である。
[図 10]図 10は、比較例および各実施例の輝度と CTFとを示す表である。
発明を実施するための最良の形態
[0012] 以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
[0013] 図 1ないし図 4に第 1の実施の形態を示す。
[0014] 図 1に示すように、放射線検出器 11は、シンチレ一タパネル 12と光電変換素子 13と を備えている。
[0015] シンチレ一タパネル 12は、放射線が透過する例えば炭素繊維を榭脂で硬化して形 成された支持基板 16を有し、この支持基板 16の表面に光反射材分散膜 17が平面状 に形成されている。この光反射材分散膜 17は、例えばパラキシリレン等の有機材料で 形成されている。この光反射材分散膜 17には、無機物である光反射材粒子 18が分散 されている。したがって、この光反射材分散膜 17は光反射膜としての機能も有してい る。
[0016] 光反射材分散膜 17の平面状の表面には、入射する放射線を可視光に変換するシ ンチレータ層 19が形成されている。このシンチレータ層 19は柱状構造を有し、柱状構 造間に複数の溝部 20が形成されている。光反射材分散膜 17は、シンチレータ層 19の 柱状構造間から外れて設けられて ヽる。
[0017] 例えばヨウ化セシウム(Csl):タリウム (T1)、あるいはヨウ化ナトリウム(Nal):タリウム
(T1)により真空蒸着法でシンチレータ層 19に柱状構造が形成されている。あるいは、 混合材を光反射材分散膜 17上に塗布して焼成および硬化し、ダイサによりダイシン グするなど、各種方法を用いることにより、シンチレータ層 19に柱状構造が形成され ている。なお、混合材は、酸硫ィ匕ガドリニウム (Gd O S)蛍光体粒子をバインダ榭脂
2 2
と混合してなる。溝部 20には乾燥窒素が封入されている。なお、乾燥窒素の他に、溝 部 20に乾燥大気が封入されても良ぐまた、溝部 20を真空状態にすることも可能であ る。
[0018] 光反射材粒子 18は、例えば二酸化チタン (TiO )などの、低 X線吸収率を有する物
2
質である。光反射材粒子 18の屈折率を n、シンチレータ層 19の屈折率を nとしたとき r s
、第 1式として n >nの関係を有している。さらに、光反射材分散膜 17の膜厚を T、光 反射材粒子 18の体積充填密度を F、平均粒径を Dとしたとき、第 2式として T, F Z D > 10の関係を有している。
[0019] 支持基板 16、光反射材分散膜 17およびシンチレータ層 19を含むシンチレータパネ ル 12全体を覆って有機膜としての防湿有機膜 21が形成されている。この防湿有機膜 21はシンチレータ層 19を防湿するもので、例えばパラキシリレン薄膜等の防湿性に優 れた有機膜であるとともに、シンチレータ層 19により変換された可視光を透過する特 性を有している。この防湿有機膜 21は、シンチレータ層 19の溝部 20に浸透していな い構造となっている。すなわち、防湿有機膜 21は、シンチレータ層 19の柱状構造から 外れて設けられている。
[0020] また、光電変換素子 13は、 TFTアレイ基板 25を備えて 、る。 TFTアレイ基板 25には 、フォトダイオードを有する複数の画素 24がマトリクス状に形成されている。この光電 変換素子 13の画素が形成された側の表面は、シンチレ一タパネル 12のシンチレータ 層 19側の表面側に貼り合わされている。ここで、シンチレータ層 19側の表面は、シン チレ一タパネル 12の支持基板 16と反対側の表面でもある。そして、この光電変換素 子 13において、シンチレ一タパネル 12により変換された可視光は、各画素 24のフォト ダイオードで電気信号に変換される。
[0021] 次に、第 1の実施形態の作用を説明する。
[0022] シンチレータ層 19を有する放射線検出器 11の解像度特性は、シンチレータ層 19の 解像度特性(CTF : Contrast Transfer Functionゝ MTF: Modulation Transfer Functio n)に依存する。
[0023] 光電変換素子 13に達するまでの、シンチレータ層 19により変換された可視光 (蛍光 )の解像度特性を δ、シンチレータ層 19の解像度特性を δ 、光反射材分散膜 17に
s
おける蛍光の拡散による解像度特性を δ とする。すると、第 3式として δ = δ X δ
b s b が成立つ。すなわち、光電変換素子 13に達する可視光の解像度は、シンチレータ層 19の解像度特性に光反射材分散膜 17の解像度特性を乗算して求められる。
[0024] 図 2に示す光反射材分散膜の解像度特性を示すように、例えば、光反射材分散膜 の膜厚 tが従来の最小膜厚である場合、すなわち t= 50 mとした場合でも、 δ = 5
b
0%となる。このため、光電変換素子に達する可視光の解像度特性は、シンチレータ 層の解像度特性の約半分となってしまう。なお、図 2の光反射材分散膜の解像度特 性は、光反射材分散膜の入射面力 点光源の光が入射し、この光が金属膜で反射 して入射面に出てくる際の MTF (21pZmm)を表している。ここで、入射面は光反射 材分散膜の一端面であり、金属膜は光反射材分散膜の片面に設けられている。
[0025] このため、上記第 1の実施の形態では、シンチレータ層 19により変換された可視光 を反射させる光反射材粒子 18が光反射材分散膜 17内に分散されている。光反射材 分散膜 17に光反射膜としての機能を与えることで光反射材分散膜 17での光の拡散を 防止することができるため、解像度特性の劣化を防止することができる。放射線検出 器 11の解像度特性をシンチレータ層 19の解像度特性と等しくできる。第 1の実施の形 態の放射線検出器の解像度特性は向上され、従来の放射線検出器と比較して高い [0026] また、シンチレータ層 19の柱状構造内で発生した蛍光は、シンチレータ層 19の柱状 構造の側壁で繰り返し反射されて光電変換素子 13に到達する。このため、この可視 光の拡散は、シンチレータ層 19の柱状構造の側壁での反射率 R1に依存する。シン チレータ層 19を形成する材料の屈折率を nとし、シンチレータ層 19の柱状結晶の側
s
壁に接触する素材の屈折率を nとする。すると、反射率 R1は、第 4式として Rl = (n
m s n ) Z (n +n )で表される。
m s m
[0027] さらに、放射線検出器 11の解像度特性を向上させるためには、シンチレータ層 19内 で可視光の拡散を抑制する必要があるので、シンチレータ層 19の柱状構造の側壁で の反射率 R1を向上させなければならない。したがって、第 4式により、放射線検出器 11の解像度特性を向上させるためには、屈折率 nと屈折率 n との差が大きぐかつ n
s m
>nの関係が成立つことが望ましい。
s m
[0028] ここで、図 3は、各種材料の屈折率を示している。例えば、シンチレータ層 19を構成 する材料として、ヨウ化セシウム:タリウム、ヨウ化ナトリウム:タリウムおよび酸硫ィ匕ガド リュウムが挙げられる力 これらの材料の屈折率 nは、約 1. 8乃至 2. 4である。一方、
s
光反射材分散膜 17や防湿有機膜 21を構成する材料として、アクリル、ポリカーボネー トおよびパラキシリレンが挙げられる力 これらの材料の屈折率 n は、約 1. 4乃至 1. 6である。
[0029] したがって、従来の防湿有機膜の構造では、この防湿有機膜がシンチレータ層の 柱状構造間の溝部に完全に浸透しているため、屈折率 n
sと屈折率 n
mとの差が比較 的小さい。これに対して、上記第 1の実施の形態では、シンチレータ層 19の柱状構造 間の溝部 20の一部を除く略全域に、乾燥窒素、あるいは乾燥大気を封入したり、溝 部 20の一部を除く略全域を真空としたりする。このため、図 3に示すように、屈折率 n
s と屈折率 nとの差が大きくなる。このため、第 4式により、反射率 R1は従来の構成より も向上し、放射線検出器 11の解像度特性をより向上できる。
[0030] また、光反射材分散膜 17内に可視光が進入した場合、光反射材分散膜 17での可 視光の反射は、シンチレータ層 19および光反射材粒子 18の境界と、光反射材分散 膜 17 (光反射材分散膜 17の有機材料および光反射材粒子 18の境界)との 2箇所でそ れぞれ発生する。 [0031] 光反射材粒子 18の屈折率を nとし、光反射材分散膜 17の有機材料の屈折率を nと
r b する。すると、光反射材分散膜 17での可視光の反射率 R2は、第 5式として R2 = a (n -n ) / (n +n ) + j8 (n -n ) / (n +n )で表される。ここで、 αはシンチレータ層 r s r s r b r b
19と光反射材粒子 18との境界で反射が発生する確率を示し、 βは光反射材粒子 18 と光反射材分散膜 17の有機材料との境界で反射が発生する確率を示している。
[0032] そして、 aと βの関係において、 α < βとなることが多い。このため、光反射材分散 膜 17の反射率 R2は、可視光が光反射材分散膜 17に進入した際の光反射材粒子 18 と光反射材分散膜 17の有機材料との屈折率の差による反射効果に大きく起因してい る。このため、第 5式により、光反射材分散膜 17の反射率 R2を向上させるためには、 屈折率 ηおよび屈折率 ηの差、並びに屈折率 ηおよび屈折率 ηの差が大きいほどよ r s r b い。さらに、図 3に示すように、屈折率 nは約 1 · 8乃至 2· 4であり、屈折率 ηは約 1 · 4
s b
乃至 1. 6である。このため、上記第 1の実施の形態のように、屈折率 nと屈折率 nと
r s の関係が第 1式の関係を満たしている。これにより、シンチレータ層 19と光反射材粒 子 18との境界で反射効果を得ることができるとともに、光反射材粒子 18と光反射材分 散膜 17の有機材料との境界での反射効果を向上できる。そして、屈折率 nと屈折率 nとの差が大きいほど、光反射材分散膜 17での反射効果が顕著となる。
s
[0033] さらに、図 4に示すように、光反射材粒子 18が第 2式の関係を満たすことで、光反射 材分散膜 17の反射率 R2が高反射率で安定した値を示し、放射線検出器 11の輝度 特性をより向上できる。
[0034] また、支持基板 16上に光反射材粒子 18が分散されている光反射材分散膜 17を平 面状に形成でき、この光反射材分散膜 17上にシンチレータ層 19を形成している。こ のため、平面状の光反射材分散膜 17に入射するシンチレータ層 19で変換された可 視光が散乱するのを防止でき、解像度特性を向上できる。
[0035] 次に、図 5に第 2の実施の形態を示す。なお、第 1の実施の形態と同様の構成およ び作用につ 、ては、同一符号を付してその説明を省略する。
[0036] 支持基板 16、光反射材分散膜 17およびシンチレータ層 19を含むシンチレータパネ ル 12全体を覆って無機膜としての防湿無機膜 28が形成されて 、る。この防湿無機膜 28はシンチレータ層 19を防湿するものである。防湿無機膜 28は、例えば二酸化珪素 膜等の防湿性に優れた有機膜であるとともに、シンチレータ層 19により変換された可 視光を透過する特性を有している。この防湿無機膜 28は、シンチレータ層 19の溝部 2 0に浸透していない構造となっている。すなわち、防湿無機膜 28は、シンチレータ層 1 9の柱状構造間から外れて設けられて 、る。
[0037] なお、上記各実施の形態において、光反射材粒子 18は、無機物に代えて、他の様 々なものを選択して形成されても良 、。
[0038] 次に、実施例について説明する。
[0039] 従来技術に対応する図 6に示す比較例、上記第 1の実施の形態に対応した実施例
1、図 7に示す実施例 2、図 8に示す実施例 3、図 9に示す実施例 4についてそれぞれ 検討する。
[0040] 比較例については、第 1の実施の形態と同じ構成には同じ符号付す。比較例の放 射線検出器の構成を説明する。図 6に示すように、炭素繊維を榭脂で硬化した支持 基板 16上に、光反射膜 41としてアルミニウム (A1)膜がスパッタリング法により形成され ている。この光反射膜 41の上部に保護膜 17としてパラキシレン薄膜が形成されている 。そして、この保護膜 17の上部に、シンチレータ層 19として膜厚 500 mのヨウ化セシ ゥム:タリウム膜が形成されて 、る。防湿有機膜 21としてパラキシレン薄膜がシンチレ ータ層 19や支持基板 16の全体を覆うように形成されて!、る。防湿有機膜 21を形成す る際、防湿有機膜は、シンチレータ層 19の柱状構造間に完全に浸透している。
[0041] 図 1に示す実施例 1では、炭素繊維を榭脂で硬化した支持基板 16上に、膜厚 200 mの光反射材分散膜 17が形成されている。光反射材分散膜 17は、支持基板 16上 に、光反射材粒子 18の無機物として二酸ィ匕チタン粒子を用いて榭脂で結着させて形 成されている。この光反射材分散膜 17上にシンチレータ層 19として膜厚 500 mのョ ゥ化セシウム:タリウム膜が形成されている。防湿有機膜 21としてパラキシレン薄膜が シンチレータ層 19および支持基板 16の全体を覆うように形成されて!ヽる。防湿有機膜 21を形成する際、防湿有機膜は、シンチレータ層 19の柱状構造間に浸透していない 。ここで、ヨウ化セシウム:タリウムの屈折率は約 1. 8であり、二酸化チタンの屈折率は
2. 2である。このため、実施例 1は第 1式を満たしている。また、光反射材分散膜 17中 の二酸ィ匕チタンの粒子の体積充填密度は 70%、平均粒径は: mである。したがつ て、実施例 1は第 2式を満たす。
[0042] 図 7に示す実施例 2では、実施例 1と同様の材質の光反射材分散膜 17、シンチレ一 タ層 19および防湿有機膜 21が形成される。防湿有機膜 21はシンチレータ層 19の柱 状構造間に完全に浸透して 、る。
[0043] 図 8に示す実施例 3では、実施例 1の光反射材粒子 18は二酸ィ匕珪素粒子である。
実施例 3において、その他の条件は実施例 1と同様である。そして、ヨウ化セシウム: タリウムの屈折率は約 1. 8であり、二酸化珪素の屈折率は 1. 5である。このため、こ の実施例 3は第 1式を満たさない。
[0044] 図 9に示す実施例 4の光反射材分散膜 17は、実施例 1の光反射材分散膜 17より薄 く形成され、 20 mの膜厚を有している。実施例 4において、光反射材分散膜 17中 の光反射材粒子 18である二酸ィ匕チタン粒子の体積充填密度は実施例 1の 40%であ り、低く設定されている。上記した他、実施例 4の条件は実施例 1と同様である。そし て、この実施例 4は第 2式を満たさない。
[0045] そして、比較例および各実施例の輝度と CTFを、それぞれ測定した結果を図 10に 示し、この図 10を参照しながら、各例について検討する。
[0046] まず、比較例と実施例 2とを比較する。実施例 2では解像度特性を示す CTFが比 較例より向上している。したがって、光反射材分散膜 17に光反射膜の機能を持たせ ることで、解像度特性を向上できることが示された。
[0047] 続 ヽて、実施例 1と実施例 2とを比較する。実施例 1では解像度特性示す CTFが実 施例 2より向上している。したがって、防湿有機膜 21をシンチレータ層 19の柱状構造 間に浸透させな 、ことで、解像度特性をより向上できることが示された。
[0048] また、実施例 1と実施例 3とを比較する。実施例 3では、光反射材分散膜 17の反射 率が低下し、輝度特性が実施例 1よりも劣化している。したがって、第 1式を満たすこ とで、輝度特性を向上できる効果が示された。
[0049] さらに、実施例 1と実施例 4とを比較する。実施例 4では、光反射材分散膜 17の反射 率が低下し、輝度特性が実施例 1よりも劣化している。したがって、第 2式を満たすこ とで、輝度特性を向上できる効果が示された。
[0050] なお、この発明は上記実施の形態そのままに限定されるものではなぐ実施段階で はその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体ィ匕可能である。また、上記 実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の 発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素カゝら幾つかの構成要素 を削除してもよい。さら〖こ、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても よい。
産業上の利用可能性
本発明によれば、支持基板上に光反射材粒子が分散されて!、る光反射材分散膜 を平面状に形成でき、この平面状の光反射材分散膜上にシンチレ一タ層を形成して いるため、平面状の光反射材分散膜に入射するシンチレータ層で変換された可視光 が散乱するのを防止でき、解像度特性を向上できる。

Claims

請求の範囲
[1] 放射線を透過する支持基板と、
前記支持基板上に平面状に設けられ、可視光を反射させる光反射材粒子が分散 されて ヽる光反射材分散膜と、
前記光反射材分散膜上に設けられ、入射される放射線を可視光に変換するシンチ レータ層と、
を具備したことを特徴とするシンチレ一タパネル。
[2] 前記シンチレータ層は、柱状構造を有し、
前記光反射材分散膜は、前記シンチレータ層の柱状構造間力 外れて設けられて いる
ことを特徴とする請求項 1に記載のシンチレ一タパネル。
[3] 前記シンチレータ層は、このシンチレータ層により変換された可視光を透過させる 有機膜および無機膜の ヽずれか一方で覆われて 、る
ことを特徴とする請求項 1に記載のシンチレ一タパネル。
[4] 前記シンチレータ層は、このシンチレータ層により変換された可視光を透過させる 有機膜および無機膜の ヽずれか一方で覆われて 、る
ことを特徴とする請求項 2に記載のシンチレ一タパネル。
[5] 前記シンチレータ層は、柱状構造を有し、
前記有機膜および無機膜の!、ずれか一方は、前記シンチレータ層の柱状構造間 から外れて設けられている
ことを特徴とする請求項 3に記載のシンチレ一タパネル。
[6] 前記有機膜および無機膜の!、ずれか一方は、前記シンチレータ層の柱状構造間 から外れて設けられている
ことを特徴とする請求項 4に記載のシンチレ一タパネル。
[7] 前記有機膜および無機膜の!ヽずれか一方は、前記支持基板の表面の一部を覆つ ている
ことを特徴とする請求項 3に記載のシンチレ一タパネル。
[8] 前記有機膜および無機膜の!ヽずれか一方は、前記支持基板の表面の一部を覆つ ている
ことを特徴とする請求項 4に記載のシンチレ一タパネル。
[9] 前記有機膜および無機膜の!ヽずれか一方は、前記支持基板の表面の一部を覆つ ている
ことを特徴とする請求項 5に記載のシンチレ一タパネル。
[10] 前記有機膜および無機膜の!ヽずれか一方は、前記支持基板の表面の一部を覆つ ている
ことを特徴とする請求項 6に記載のシンチレ一タパネル。
[11] 前記有機膜および無機膜のいずれか一方は、前記支持基板の全体を覆っている ことを特徴とする請求項 3に記載のシンチレ一タパネル。
[12] 前記有機膜および無機膜の ヽずれか一方は、前記支持基板の全体を覆って ヽる ことを特徴とする請求項 4に記載のシンチレ一タパネル。
[13] 前記有機膜および無機膜の ヽずれか一方は、前記支持基板の全体を覆って ヽる ことを特徴とする請求項 5に記載のシンチレ一タパネル。
[14] 前記有機膜および無機膜の!ヽずれか一方は、前記支持基板の全体を覆って ヽる ことを特徴とする請求項 6に記載のシンチレ一タパネル。
[15] 前記光反射材粒子の屈折率を nとし、シンチレータ層の屈折率を nとすると、 n >n の関係を有する
s
ことを特徴とする請求項 1に記載のシンチレ一タパネル。
[16] 前記光反射材分散膜の膜厚を Tとし、光反射材粒子の体積充填密度を Fとし、光 反射材粒子の平均粒径を Dとすると、 T X F /D > 10の関係を有する
ことを特徴とする請求項 1に記載のシンチレ一タパネル。
[17] 放射線を透過する支持基板と、前記支持基板上に平面状に設けられ、可視光を反 射させる光反射材粒子が分散されて!、る光反射材分散膜と、前記光反射材分散膜 上に設けられ、入射される放射線を可視光に変換するシンチレータ層と、を具備した シンチレ一タパネルと、
前記シンチレ一タパネルの支持基板と反対側の表面に設けられ、前記シンチレ一 タ層により変換された可視光を電気信号に変換する光電変換素子と、 を備えたことを特徴とする放射線検出器。
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