WO2007094507A1 - Cr-Cu合金、その製造方法、半導体用放熱板および半導体用放熱部品 - Google Patents

Cr-Cu合金、その製造方法、半導体用放熱板および半導体用放熱部品 Download PDF

Info

Publication number
WO2007094507A1
WO2007094507A1 PCT/JP2007/053128 JP2007053128W WO2007094507A1 WO 2007094507 A1 WO2007094507 A1 WO 2007094507A1 JP 2007053128 W JP2007053128 W JP 2007053128W WO 2007094507 A1 WO2007094507 A1 WO 2007094507A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
alloy
less
powder
mass
phase
Prior art date
Application number
PCT/JP2007/053128
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hoshiaki Terao
Hiroki Ota
Hideaki Kobiki
Satoshi Uenosono
Original Assignee
Jfe Precision Corporation
Jfe Steel Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jfe Precision Corporation, Jfe Steel Corporation filed Critical Jfe Precision Corporation
Priority to US12/278,003 priority Critical patent/US8557015B2/en
Priority to CN2007800055962A priority patent/CN101384739B/zh
Priority to EP07714628A priority patent/EP1985718A4/en
Publication of WO2007094507A1 publication Critical patent/WO2007094507A1/ja

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3736—Metallic materials
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C27/00—Alloys based on rhenium or a refractory metal not mentioned in groups C22C14/00 or C22C16/00
    • C22C27/06—Alloys based on chromium
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C1/00—Making non-ferrous alloys
    • C22C1/04—Making non-ferrous alloys by powder metallurgy
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C1/00—Making non-ferrous alloys
    • C22C1/04—Making non-ferrous alloys by powder metallurgy
    • C22C1/0425—Copper-based alloys
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C1/00—Making non-ferrous alloys
    • C22C1/04—Making non-ferrous alloys by powder metallurgy
    • C22C1/0433—Nickel- or cobalt-based alloys
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C30/00—Alloys containing less than 50% by weight of each constituent
    • C22C30/02—Alloys containing less than 50% by weight of each constituent containing copper
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C47/00—Making alloys containing metallic or non-metallic fibres or filaments
    • C22C47/14—Making alloys containing metallic or non-metallic fibres or filaments by powder metallurgy, i.e. by processing mixtures of metal powder and fibres or filaments
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C49/00—Alloys containing metallic or non-metallic fibres or filaments
    • C22C49/02—Alloys containing metallic or non-metallic fibres or filaments characterised by the matrix material
    • C22C49/10—Refractory metals
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C9/00—Alloys based on copper
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • C22F1/08—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of copper or alloys based thereon
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • C22F1/11—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of chromium or alloys based thereon
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814—Conductive parts
    • H01L21/4871—Bases, plates or heatsinks
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21B—ROLLING OF METAL
    • B21B3/00—Rolling materials of special alloys so far as the composition of the alloy requires or permits special rolling methods or sequences ; Rolling of aluminium, copper, zinc or other non-ferrous metals
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22—CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
    • B22F3/24—After-treatment of workpieces or articles
    • B22F2003/248—Thermal after-treatment
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22—CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F2998/00—Supplementary information concerning processes or compositions relating to powder metallurgy
    • B22F2998/10—Processes characterised by the sequence of their steps
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Definitions

  • the present invention is used to quickly dissipate heat generated from a heating element such as a semiconductor element mounted on an electronic device, and is a semiconductor heat sink (that is, a heat sink that requires low thermal expansion coefficient and high thermal conductivity).
  • a heating element such as a semiconductor element mounted on an electronic device
  • a semiconductor heat sink that is, a heat sink that requires low thermal expansion coefficient and high thermal conductivity.
  • the heat sink for semiconductor and the heat radiating component for semiconductor are collectively referred to as a heat radiating material.
  • a semiconductor element is either directly soldered to a heat-dissipating material, or soldered or brazed on a substrate (so-called DBA substrate) in which an A1 electrode is directly bonded to aluminum nitride (A1 N), for example. It is fixed on the material in the same way.
  • DBA substrate a substrate
  • A1 N aluminum nitride
  • heat close to this as the heat radiating material to be joined It is required to have an expansion coefficient.
  • Currently used heat-dissipating materials include W—Cu-based composites with a coefficient of thermal expansion of 6–9 X 10 ” 6 K— 1 , and Mo—Cu-based composites with a coefficient of thermal expansion of 7–14 mm. 1 ( ⁇ 6 ⁇ — 1 .
  • D ⁇ ⁇ Adhesive heat dissipation material with a fixed substrate is usually bonded to heat dissipation fins (consisting of Al, Cu, etc.) via solder, solder, or conductive grease. Yes.
  • heat dissipation materials are required to have high thermal conductivity, but it is difficult to achieve both at the same time. Sodame, many composite materials are used that combine materials with low thermal expansion and materials with high thermal conductivity.
  • Japanese Patent Publication No. 5-38457 proposes a metal-metal composite material such as W_Cu and Mo-Cu.
  • W and Mo are technologies that utilize the characteristics of low thermal expansion, while Cu has high thermal conductivity.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-212651 discloses a ceramic so-metal composite material such as Si C—Al and Cu 2 O_Cu.
  • the coefficient of thermal expansion is limited to the law of mixture, or rule of mixture (described later), that is, the volume average of the coefficient of thermal expansion of each material.
  • W-Cu materials and Mo-Cu materials W and Mo are rare metals and are subject to speculation, so the raw materials are expensive and there is a problem in stable supply. is necessary.
  • the Si C—A1 material is difficult to machine and reduce, and the Cu 20— Cu material also requires hot metal processing. For this reason, it is difficult to obtain a thin plate material by an inexpensive method, and further improvement is required.
  • Non-Patent Document 1 discloses a technique for achieving both a low thermal expansion coefficient and a high thermal conductivity in a metal-single metal composite material such as Cr-Cu, Nb-Cu, etc. ing.
  • Cu alloy containing 2-50% by mass of Cr After melting (smelting and casting method), it is hot-worked to obtain a substantially spherical phase based on the primary crystal Cr in the ingot structure.
  • a technique for setting the aspect ratio of the Cr phase to 10 or more is disclosed. According to this technology, it is said that it is possible to obtain a coefficient of thermal expansion lower than expected from the compound law.
  • Non-Patent Document 1 does not disclose an example containing Cr exceeding 30 mass% in the examples of JP-A 2000-239762.
  • Non-Patent Document 2 discloses a technique for uniformly producing a Cr—Cu alloy containing 30 mass% or more of Cr by melting and cold working. That is, a sintered powder of mixed powder of Cr and Cu is used as a consumable electrode, which is fabricated by an expensive arc melting method (melting fabrication method using arc discharge) and further ductility at room temperature. This is a method of manufacturing a round bar by extrusion so that insufficient Cr is easily deformed.
  • the extrusion method uses the fact that the hydrostatic pressure from the Cu matrix acts on Cr, making it easy to process. This technology has economic problems and is not suitable for the production of thin plate-like materials such as heat dissipation materials.
  • the inventors have disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-330583, fine particles having a major axis of 100 nm or less from the Cr matrix by aging heat treatment.
  • a technology to improve the coefficient of thermal expansion by precipitating the Cr phase is disclosed.
  • the powder metallurgy method uses Cr powder and sinters or infiltrates with Cu to form an alloy / composite, and similarly performs an aging heat treatment to precipitate a particulate Cr phase from the Cr matrix. I am trying.
  • Non-Patent Document 1 Development of Cu-Cr double phase alloys (Furukawa Electric Times, No. 107 (January 2001)! 53-57)
  • Non-Patent Document 2 Siemens Forsch. -Ber. Bd, 17 (1988) NO 3 Disclosure of Invention
  • the prior art does not sufficiently solve the problem of obtaining a thin plate shape, a low thermal expansion coefficient and a high thermal conductivity.
  • the techniques described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-239762 and Non-Patent Document 1 have limitations in workability and high Cr, and the method of Non-Patent Document 2 is extremely expensive even if it can be processed.
  • this technology which achieves a low coefficient of thermal expansion only by controlling the precipitation state of fine precipitates, Depending on the conditions of soldering and soldering work between the thermal material and the DBA substrate, etc. For example, when it is left for a long time at a temperature higher than the aging temperature, the precipitates may change, the characteristics of the heat dissipation material may change, and a low coefficient of thermal expansion may not be obtained stably. is there.
  • the present invention solves the above problems and has a low thermal expansion coefficient in the in-plane directions, high thermal conductivity, and excellent workability even after soldering. — To provide a Cu alloy and its manufacturing method, and to provide a semiconductor heat sink and a semiconductor heat sink using the Cr-Cu alloy.
  • the present invention provides various shapes required for heat-dissipating materials (that is, heat-dissipating plates for semiconductors, heat-dissipating parts for semiconductors), in particular, plate-shaped products or materials for press molding.
  • powder as a heat dissipation material
  • the material for heat dissipation is economically manufactured for a heat dissipation material having a composition in which it is not easy to manufacture a homogeneous material by the conventional melting method.
  • the present invention by adopting a new process in which cold rolling is performed on an infiltrated compact obtained by infiltrating Cu into a sintered compact of Cr powder (sintered compact), A material with a further reduced expansion coefficient is produced.
  • the inventors adopt a powder metallurgical method in which the Cr content can be adjusted over a wide range, and after sintering Cr alone or a mixture of Cr and Cu powders, Cu Developed technology for infiltration.
  • Cr and Cu powders are mixed and sintered at a high temperature that substantially melts Cu, the state is the same as infiltration, so a separate infiltration process for Cu is always necessary. is not.
  • sintering Cr powder and infiltrating Cu it is possible to easily produce a Cr-Cu alloy in which Cr of more than 30% by mass and 80% by mass or less is uniformly distributed.
  • heat treatment for homogenization and aging heat treatment for homogenization and aging
  • ⁇ After performing at 1050 ° C, apply cold reduction of 10% or more, and further heat treatment for softening and aging (hereinafter referred to as soft ⁇ (heat treatment for annealing ing and aging ))
  • soft ⁇ heat treatment for annealing ing and aging
  • the coefficient of thermal expansion can be further reduced significantly.
  • the shape is It is not suitable for the required high-mix low-volume production.
  • the Cr-Cu alloy of the present invention can be easily processed into plate shapes with various thicknesses, and can be applied to stamping by press working. Can also be supported.
  • the present invention has been completed based on the above findings. That is, the present invention is as follows.
  • Cr-Cu alloy obtained by powder metallurgy using Cr powder, with Cr content of more than 30% by mass and less than 80% by mass, and consisting of Cu matrix and flat Cr phase.
  • An average aspect ratio of the flat Cr phase is 1.0 and less than 100.
  • the Cr particle size of the powder is 10 m or more, 2 5 0 / ⁇ or less, the upper ⁇ manufacturing method of Cr- Cu alloy according to (6).
  • the Cr—Cu alloy of the present invention is a so-called Cr—Cu composite material composed of a flat Cr phase and a Cu phase containing a slight amount of Cr (ie, a Cu matrix).
  • FIG. 1 is an example of a cross-sectional structure diagram of the Cr—Cu alloy of the present invention. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • Cr is an important element for achieving a reduction in the coefficient of thermal expansion in the Cr_Cu alloy of the present invention.
  • the heat dissipation material i.e. for semiconductors radiator plate for semiconductor heat radiating component
  • low coefficient of thermal expansion about 13 ⁇ 1 ( ⁇ 6 ⁇ one 1 below) is not obtained.
  • Cr will be more than 30% by mass and not more than 80% by mass, preferably 40% by mass Or more, preferably 70% by mass or less, more preferably 45% by mass or more, and 65% by mass or less, more preferably more than 50% by mass and 65% by mass or less. .
  • the balance is preferably Cu and inevitable impurities. Inevitable impurities are not in the normal range (for example, about 1% or less in total). As main impurities, for example, 0.0 3111 & 33% or less of 3, 0.0 2 !! 1 & 33% or less of 1 3 or 0.3 mass% or less of Fe may be included. However, since the gas components (0, N and C) are preferably limited to the following ranges at the stage of the raw material Cr-Cu alloy (infiltrated) before rolling, the Cr-Cu alloy of the present invention is also substantially The same impurity range.
  • the present inventors have determined the contents of impurities, particularly 0, N, and C, contained in the material Cr-Cu alloy (infiltrated). It has been found that cold workability is remarkably improved by keeping it low. In other words, by adjusting the O content to 0.08 mass% or less, the N content to 0.05 mass% or less, and the C content to 0,05 mass% or less, as-sintered or infiltrated. It was found that cracking did not occur even when a large reduction of 30% or more was applied in this state. More preferably, the O content 0.03 mass% or less, N content is 0.02 mass. /. Hereinafter, by reducing the C content to 0.
  • the powder used preferably has a purity of 99% by mass or more.
  • 0, N, and C have a great influence.
  • the O content is 0.15 mass% or less
  • the N content is 0.1 mass% or less
  • the C content is 0.5. It is preferable to be 1 mass% or less. More preferably, the O content is 0.08 mass% or less, the N content is 0.03 mass% or less, and the C content is 0.03 mass% or less.
  • the particle size of the Cr powder is preferably set to a particle size of 250 xm or less (based on JIS standard Z2510) from the viewpoint of uniformity of the obtained alloy.
  • a more preferable particle size is 10 ⁇ m or more.
  • the particle size of 250 ⁇ m or less means that particles having an aperture of 250 ⁇ m that do not pass through the sieve are removed by sieving using the sieve specified in JIS.
  • a particle size of 10 ⁇ m or more is also passed through a sieve with an aperture of 10 / im. This means that the removed particles have been removed.
  • An even more preferable particle size range is 30 to 200 / x m, and a most preferable range is 50 to 200 ⁇ m.
  • the ideal aspect ratio of Cr powder is close to 1.0, but it can be used without any problem as long as it is within the range of 1.0 to 2.0. A more preferable range is 1.0 to 1.5. A more preferred range is 1.0 to 1.2.
  • the aspect ratio of the Cr powder is an average of the individual ratios of the Cr powder. Specifically, for example, the Cr powder dispersed on the paper surface. The ratio of the major axis to the minor axis of each powder is obtained by observing the above and is the average value, which is different from the aspect ratio of the infiltrated material and rolled material obtained from Eq. (2).
  • Cu to be infiltrated into the sintered body obtained by sintering Cr powder is an industrially manufactured metal Cu plate such as tough pitch copper, phosphorus deoxidized copper, oxygen-free copper, etc., or electrolytic copper powder, atomic It is preferable to use Cu powder such as copper powder.
  • the impurities in Cu diffuse into Cr, the cold rollability deteriorates, so the amount of Cu impurities must be kept low.
  • the average aspect ratio of the flat Cr phase is more than 1.0 and less than 100.
  • the average aspect ratio exceeds 1.0, preferably 1.4 or more, so that the soldering temperature is aging heat treatment described in JP-A-2005-330583. It was found that a low coefficient of thermal expansion can be maintained stably even after heating to a temperature higher than the temperature.
  • obtaining a high aspect ratio of 100 or more by rolling imposes a heavy burden on the number of rolling and the like, and it becomes difficult to obtain a good thin plate shape required for heat dissipation materials.
  • the average aspect ratio is more preferably 2.0 or more. Further, regarding the upper limit side, the more preferable average aspect ratio is 30 or less, more preferably 15 or less, and most preferably less than 10.
  • the aspect ratio of the Cr phase is the cross section after cold rolling of the infiltrant (cross section including the rolling direction and the rolling direction. Any cross section including the thickness direction of the infiltrant) using an optical microscope. It is obtained by observation and is calculated by the following equation (2).
  • the average aspect ratio is obtained as the average of the calculated aspect ratios. Specifically, for example, it can be obtained from an arbitrary visual field observed with an optical microscope of 50 to 100 times, and is obtained by measuring the Cr phase that is entirely contained in the observed visual field. Also, if it appears that multiple Cr phases are formed together, it is decomposed into multiple Cr phases, and is determined from the aspect ratio of each Cr phase after decomposition.
  • L major axis and L 2 minor axis, but when deformed by rolling, it is substantially the same as the above definition.
  • the aspect ratio shall be determined from similar observation results on any cross section including the thickness direction.
  • the number of flat Cr phases in the thickness direction is preferably 200 pieces / mm or less. If the number of Cr phases in the thickness direction exceeds 200 /, the thermal conductivity in the plate thickness direction will decrease significantly, and sufficient heat dissipation performance as a heat dissipation component will not be obtained. Preferably, it is 100 pieces / mm or less. From the viewpoint of the uniformity of the alloy, the number of Cr phases in the thickness direction is preferably 10 / mm or more.
  • the Cr—Cu alloy of the present invention has a fine particulate Cr phase precipitated in the matrix (which contributes to further lowering of the thermal expansion coefficient. .
  • the particulate Cr phase to be precipitated has a major axis of lOO nm or less and an aspect ratio of less than 10 and has a density of 20 // m 2 or more. Fine Cr phases whose dimensions and aspect ratios are outside the above range do not contribute much to the reduction of thermal expansion coefficient. .
  • the number of particulate Cr phases here is determined by the following method. In other words, scanning electron microscope (SEM) observation with a low acceleration voltage of 1 to 5 kV is performed at a magnification of 10,000 to 300,000 times, and the density (number ⁇ ⁇ 2 ) is calculated from the number of Cr phases visible in the field of view. .
  • the samples used for observation should be observed after performing etching as follows. That is, in 80 ml of distilled water, 10 g of potassium dichromate, 5 ml of sulfuric acid (96%) and 1 to 2 drops of hydrochloric acid (37%) were dissolved and mixed at room temperature for 3 to 15 seconds. Subsequent washing with water and drying makes it possible to observe the fine Cr phase. '
  • the particulate Cr phase can be formed by precipitating Cr from the Cu matrix by heat treatment before and after rolling.
  • the method for producing the Cr_Cu alloy of the present invention includes:
  • (a) Cr powder is used as a raw material for Cr, and this is sintered and then infiltrated with Cu (or mixed with Cr and Cu powder and then shaped and sintered. Infiltrate Cu), to distribute a large amount of Cr uniformly,
  • porous body When manufacturing Cu alloys, Cr powder used as a raw material alone or mixed with Cu powder, and then filled into a mold and pressed as needed, and the material or compact is sintered as it is filled Cu is infiltrated into the sintered body (collectively referred to as porous body) obtained in this way.
  • natural filling gravity filling
  • Sintering and infiltration can also be performed in one step.
  • porous body refers to an object having a void enough to be infiltrated according to the usual usage in the field of infiltration technology.
  • a preferable porosity is about 15 to 65% by volume obtained by a mercury reduction method (based on JIS R 1655).
  • pressure molding molding is performed while adjusting the pressure according to the target values of the composition of raw materials used, filling properties, and density.
  • Cr powder it is indispensable to separately infiltrate Cu. If Cr powder and Cu powder are mixed and used and sintered at a high temperature (the temperature at which Cu is sufficiently softened or melted), it may not be necessary to perform the infiltration process again. It is also possible to perform sintering and infiltration at the same time.
  • sintering / infiltration processes Processes where sintering and infiltration are performed individually or simultaneously are collectively referred to as sintering / infiltration processes.
  • sintering / infiltration processes Processes where sintering and infiltration are performed individually or simultaneously are collectively referred to as sintering / infiltration processes.
  • the atmosphere is preferably a hydrogen atmosphere or a vacuum. ;
  • the infiltration a conventionally known technique may be used.
  • the upper surface and Bruno or lower surface of the porous body is arranged a plate or powder pure Cu, 2 0 ⁇ 1 2 0 at a temperature in the range of 1100 to 1300 ° C (preferably in the range of 1150 to 1250 ° C) Hold for minutes.
  • the atmosphere is preferably a hydrogen atmosphere or a vacuum.
  • infiltration in vacuum is preferable from the viewpoint of improving workability after infiltration.
  • the cooling rate after infiltrating Cu into the sintered body sintered with sinter affects the thermal expansion coefficient of the infiltrated body. Specifically, a cooling rate of 600 ° C./min or less is preferable because a larger reduction in the coefficient of thermal expansion can be achieved.
  • the cause of the change in the coefficient of thermal expansion according to the cooling rate is not clear, but when Cr dissolved in Cu Matritas during sintering or infiltration precipitates by heat treatment, it depends on the cooling rate. This is thought to be due to the change in shape. ' (Homogenization aging heat treatment)
  • the temperature is preferably in the range of 300 to 1050 ° C. If the temperature of homogenization aging heat treatment is less than 300 ° C, homogenization and aging effects cannot be obtained. On the other hand, if it exceeds 1050 ° C, the infiltrated Cu may melt and flow out.
  • the holding time is preferably 30 minutes or more. A more preferable temperature is 400 to 900 ° C.
  • aging here refers to precipitation of particulate Cr. That is, when Cu is infiltrated into a Cr sintered body (including the case of high-temperature sintering of Cr powder and Cu powder), Cr is dissolved in 0.1 to 2.0 mass% in Cu. The Cr dissolved in the Cu matrix is deposited in the Cu by heat treatment to precipitate particulate Cr with a major axis of 100 ⁇ m (nanometer) or less and an aspect ratio of less than 10. This Cr phase precipitation makes it possible to further reduce the coefficient of thermal expansion.
  • the atmosphere is preferably a vacuum.
  • the Cr-Cu alloy is machined (for example, cutting with a milling machine, grinding with a grindstone, etc.) to remove the Cu remaining on the infiltrated oxide layer or surface. Remove and cold roll.
  • the coefficient of thermal expansion can be reduced by applying cold reduction. In particular, the coefficient of thermal expansion can be reduced even at a normal reduction with a relatively low reduction rate of 10 to 90%.
  • Cr and Cu powder metallurgy products have poor workability and easily crack when cold-rolled.
  • the inventors have found that if the contents of 0, N, and C are reduced, the workability in the cold is remarkably improved. In other words, by reducing the O content in the infiltrate to 0.08 mass% or less, the N content to 0.05 mass% or less, and the C content to 0.05 mass% or less, the reduction of 30 % or more is achieved. Cr-Cu infiltrate cracks when adding Found to decrease in width. Furthermore, by setting the O content in the infiltrated to 0.03 mass% or less, the N content to 0.02 mass% or less, and the C content to 0.01 mass% or less, 60 It has been found that cracking of the Cr—Cu infiltrate can be suppressed when a reduction of more than% is applied.
  • the rolling reduction is preferably 30% or more, and more preferably 50% or more.
  • the average aspect ratio of the Cr phase that can be predicted from the rolling reduction is 1.4 when the rolling reduction is 30%, and 2.0 when the rolling reduction is 50%.
  • this value often does not pass and is often larger than the predicted value.
  • the inventors calculated the average aspect ratio actually measured from many experimental results and found that it was 10 to 24 when the rolling reduction was 80%. This value was larger than the predicted value (5.0) according to the above and smaller than the square of the predicted value (2 5). Thus in practice, for example the square of about 1.4 when the reduction ratio 3 0%, the upper limit of the average Asupeku Ratio squared approximately 2.0 when the rolling reduction 50% 3 ⁇ 4 It is thought that there is variation in the range. On the other hand, in order to provide a reduction exceeding 99%, the number of cold rolling passes increases remarkably, and the cold rolling requires a long time, so the production efficiency of the heat radiation material is significantly reduced. Furthermore, the shape of the rolled material becomes worse and the plate thickness accuracy is lowered.
  • a reduction of 99% or less If a reduction of 90% or more is applied, cracks are likely to occur at the end of the infiltrant, leading to a decrease in yield. Therefore, it is preferable to apply a reduction of less than 90%.
  • a more preferable upper limit of the rolling reduction is 80%.
  • the average aspect ratio of the Cr phase is about 1.1 squared. It is estimated that the aspect ratio is • 10 to the second power, and the average aspect ratio is about 100 to the second power at 99% reduction. The reason why the coefficient of thermal expansion in the in-plane direction is significantly lower than the conventional knowledge by cold rolling the infiltrated body is not clear at present,
  • the remaining voids are in close contact, and the effect of preventing a decrease in thermal conductivity is also considered to contribute.
  • it is considered effective to perform rolling in two perpendicular directions (so-called cross rolling).
  • the cold rolling referred to above refers to plate rolling in which the material is rolled into a plate shape at the cylindrical body of the roll.
  • the atmosphere of the softening aging heat treatment is preferably a vacuum.
  • the temperature of the softening aging heat treatment is preferably in the range of 300 to 900 ° C. If the temperature of the softening aging heat treatment is less than 300 ° C, the softening and aging effects cannot be obtained. On the other hand, if it exceeds 900, the infiltrated Cu may melt and flow out.
  • the holding time is preferably 30 minutes or more. A more preferable temperature is 4 0 0 to 8 0 0 ° C.
  • the heat treatment after cold rolling can be omitted.
  • the same effect as the heat treatment after cold rolling can be obtained by heating at the time of joining.
  • the atmosphere is preferably a vacuum. It is also disclosed in JP-A-2005-330583 that fine particulate Cr precipitated by the above-mentioned homogenization aging heat treatment or softening aging heat treatment reduces the thermal expansion coefficient of the Cr-Cu alloy. In this case, the thermal expansion coefficient is further reduced by further adding to the effect of reducing the thermal expansion coefficient by cold rolling.
  • the Cr—Cu alloy of the present invention is used as a semiconductor heat sink and semiconductor heat sink.
  • a desired shape may be formed by cutting or punching.
  • the following treatment may be performed.
  • the Cr-Cu heat sink according to the present invention can be used in a cold-rolled state or a state where it has been further heat-treated.
  • Ni plating, Au plating, kg plating, etc. can be applied to the surface individually or in combination for the purpose of improving corrosion resistance and performance against electric corrosion. By applying various types of Ni plating and Au plating, various solder joints and solder joints can be applied.
  • the low coefficient of thermal expansion is maintained up to a high temperature exceeding 800 ° C, so that the present invention material is suitable for use in joint welding in which the joining temperature is higher than 750 ° C. Can be applied very advantageously.
  • Cr powder (particle size 50-2200 / ⁇ ⁇ ) is naturally filled or pressure-molded, sintered in vacuum or hydrogen atmosphere, and porosity 25-55 vol% (after infiltrating Cu)
  • a sintered body (70 mm ⁇ 70 mm ⁇ 10 mm) was prepared which corresponds to 70 to 40% by mass in terms of Cr content.
  • the sintering temperature was 1200-1500 ° C.
  • a Cu plate was placed on the upper surface of the obtained sintered body, heated to 1200 ° C in vacuum to dissolve Cu, and infiltrated into the sintered body to obtain an infiltrated body. .
  • a Cu plate is placed on the upper surface of the compact that has been pressure-molded after mixing Cr powder and Cu powder, and heated to 1200 ° C in a vacuum to dissolve Cu, and sintering and infiltration are performed simultaneously. The infiltrate was obtained.
  • the Cr—Cu alloy sheet was cold-rolled and reduced to a thickness of 2.5 mm.
  • the aspect ratio of the Cr phase estimated from the rolling reduction is in the range of about 3.6 to 13.
  • the average coefficient of thermal expansion was measured in the range of room temperature to 200 ° C.
  • the coefficient of thermal expansion was measured with a vertical thermal dilatometer DL-7000 manufactured by Vacuum Riko using a specimen with a length of 20 mm. From the change in length of the specimen at each temperature, the average coefficient of thermal expansion was calculated. Calculated. A sample of the cross section in the rolling direction (T W is the longitudinal direction of the alloy plate) was taken, and the aspect ratio of the flat Cr phase was investigated.
  • the coefficient of thermal expansion is the average of room temperature to 200 ° C Even in the case of an infiltrate without cold rolling (T ⁇ W: the average aspect ratio of the Cr phase at the expected infiltrate cross-section 1.0) Precipitation of fine Cr in the interior gives a coefficient of thermal expansion smaller than expected from the German et al. Compound law.
  • the same composition material produced by the method of the present invention has a lower coefficient of thermal expansion than T to W, and has excellent characteristics as a heat dissipation material.
  • the Cr content must be increased in order to reduce the coefficient of thermal expansion, and the force that will inevitably lead to a decrease in thermal conductivity. It is possible to achieve thermal conductivity at the same time.
  • the thermal conductivity of the invention examples Opi T and U of A to Q was measured by the laser flash method.
  • Cr-Cu alloy plates with the same components as A to Q Oppi T were prepared and cold-rolled.
  • the rolling reduction of cold rolling was the same as that of each alloy sheet in Table 1, but the thickness of the Cr-Cu alloy sheet before rolling was changed to 2 mm or 0.8 mm after cold rolling, respectively.
  • T and U were not cold-rolled and reduced to the final thickness by cutting and grinding).
  • a specimen was taken from the two-thick Cr-Cu alloy plate obtained in this way, and the thermal conductivity in the thickness direction was measured by the laser flash method.
  • Test specimens were collected from the alloy plates, and the thermal conductivity in the in-plane direction was measured by a substrate measurement method using laser brushing.
  • the thermal conductivity in the thickness direction was about 150 WZ m ⁇ K
  • the thermal conductivity in the in-plane direction was about 200 W / m ⁇ K
  • the thermal conductivity in the in-plane direction and the thickness direction was 3 ⁇ 4 1 80 WZ m ⁇ K.
  • U which has not been heat-treated before and after rolling, has a thermal conductivity of about 140 W / m-K in both the in-plane direction and thickness direction. Met.
  • the electronic component cooling body was subjected to a thermal shock test (heating temperature: 40 ° C, 120 ° C, holding time: 5 minutes).
  • a thermal shock test heat treating temperature: 40 ° C, 120 ° C, holding time: 5 minutes.
  • a WINTEC LT20 liquid tank type thermal shock tester manufactured by Enomoto Kasei Co., Ltd. was used. After the test was completed, the presence or absence of cracks was investigated by ultrasonic flaw detection.
  • the Cr—Cu alloy of the present invention has a low thermal expansion coefficient and a high thermal conductivity. It is a suitable material for semiconductor heat sinks and semiconductor heat sink parts.
  • Example 2 The same Cr powder as in Example 1 was naturally filled and sintered in a vacuum or in a hydrogen atmosphere, and the porosity was 45% by volume (corresponding to 50% by mass when converted to the Cr content after Cu infiltration).
  • a sintered body 70 ⁇ 70 ⁇ 10 mm was produced.
  • the sintering temperature was 1200 to 1500 ° C.
  • a Cu plate was placed on the upper surface of the obtained sintered body, heated to 1200 ° C in vacuum to dissolve Cu, and infiltrated into the sintered body to obtain an infiltrated body.
  • a Cu plate is placed on the upper surface of the compact that has been pressed and mixed after mixing Cr powder and Cu powder, and heated to 1200 ° C in a vacuum to melt the Cu, thereby sintering and melting. Immersion was performed at the same time to obtain an infiltrated body.
  • Example 2 The same Cr powder as in Example 1 is naturally filled and sintered in vacuum to achieve a porosity of 50% by volume (corresponding to 45% by mass when converted to the Cr content after Cu infiltration)
  • the body ( 70 x 70 x 10mni) was produced.
  • Sintering temperature was 1 2 00 ⁇ 1500 ° C.
  • a Cu plate was placed on the upper surface of the obtained sintered body, heated to 1200 ° C in vacuum to dissolve Cu, and infiltrated into the sintered body to obtain an infiltrated body. This infiltrated was divided into five parts, Nos. 1 to 5, and some of them were heat-treated ('heating temperature 600 ° C, holding time 1 hour).
  • FIG. 1 An example of an observation surface using an optical microscope is shown in Fig. 1 (No. 1: 1/2 part in the thickness direction, without etching treatment). It can be seen that there is a flat Cr phase in the Cu matrix (particulate Cu phase cannot be discriminated with an optical microscope. Black dots are residual abrasive).
  • the measured aspect ratios were about 10 for No. 1 and 2, about 3.5 for No. 3 and 4, and 1.0 for No. 5. Expected aspect ratios under 50% and 73% pressure are 2.0 to 4.0 and 3.7 to 13.7, so the measured aspect ratio is within the estimated range. Met.
  • the number of flat Cr phases in the thickness direction was about 30 / mm for No. 1 and 2, and about 20 / mm for No. 3 and 4. ,
  • No. 1 and No. 3 had a granular fine particle with a major axis of 100 / zm or less and an aspect ratio of less than 10 (average of about 5). It was confirmed that approximately 30 to 50 ⁇ m 2 of Cr phases were precipitated in the Cu matrix.
  • the thermal expansion coefficient is small, the thermal conductivity is large, and the processability is excellent.
  • a Cr—Cu alloy can be manufactured, and further, the semiconductor heat sink and the semiconductor using the Cr—Cu alloy Can manufacture heat dissipation parts.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Powder Metallurgy (AREA)

Abstract

Cuマトリックスと偏平したCr相からなる粉末冶金で得られたCr−Cu合金において、Cr−Cu合金中のCr含有量を30質量％超え80質量％以下とし、偏平したCr相の平均アスペクト比を1.0超え100未満とすることにより、面内の方向の熱膨張率が小さく、かつ熱伝導率が大きく、しかも加工性に優れたCr−Cu合金とその製造方法を提供し、さらに、そのCr−Cu合金を用いた半導体用放熱板と半導体用放熱部品を提供する。

Description

Cr一 Cu合金、 その製造方法、 半導体用放熱板および半導体用放熱部品 技術分野 .
本発明は、電子機器に搭載された半導体素子等の発熱体から発生する熱を 速やかに放散させるために用いられ、低い熱膨張率と高い熱伝導率を要求さ れる半導体用放熱板 （すなわちヒ明ー トシンク材 （heat sink materials) ま たはヒートスプレッダー材 (heat sp糸reader materials) や半導体用放熱部 田 1
品 {iieat release/liberation components (or thermal management parts) for semiconductors, or dissipation devices)、 ならぴにその素材となる Cr—Cu合金おょぴその製造方法に関するものである。
なお、ここでは半導体用放熱板と半導体用放熱部品を総称して放熱用材料 と記す。 背景技術 ；
半導体素子等の電子部品を搭載した電子機器を作動させる際には、電子回 路への通電に伴い電子部品が発熱する。 電子機器の高出力化に伴い、 作動時 の発熱量はますます増加する傾向にある力 、温度が上昇し過ぎると半導体素 子の特性が変化し、電子機器の動作が不安定になる問題が生じる。 また長時 間にわたって使用することによって過剰な高温に曝されると、電子部品の接 合材 （たとえばハンダ等） や絶縁材 （たとえば合成樹脂等） が変質して、 電 子機器の故障の原因になる。 そのため、電子部品から発熱する熱を速やかに 放散させる必要がある。 そこで、放熱用材料を介して熱を放散させる技術が 種々検討されている。
半導体素子は、放熱用材料に直接、あるいはたとえば窒化アルミニウム（A1 N) に A1電極をダイレク トボンディングした基板 （いわゆる D B A基板） 上 にハンダ付け （soldering) あるいはロウ付け （brazing) された後、 放熱用 材料の上に同様の方法により固定される。 その際、 D B A基板の熱膨張率は 5〜 7 X 10— 6 K—1であるため、接合される放熱用材料としてはこれに近い熱 膨張率を有することが要求される。現在使用されている放熱用材料としては、 W— Cu系複合材料の熱膨張率が 6〜 9 X 10" 6 K— 1であり、Mo— Cu系複合材料 の熱膨張率が 7〜14 Χ 1(Γ 6 Κ— 1である。このよう'に接合される相手材に近い 熱膨張率を有することにより、半導体素子の発熱によって発生する熱応力の 影響を小さく抑えることができる。
なお、 D Β Α基板が固定された接着放熱用材料は通常、 さらに放熱用のフ イン （Al、 Cuなどで構成される） にハンダ . ロウ、 あるいは導電性グリスな どを介して接合されている。 放熱用材料は、熱膨張が少ないことに加えて、熱伝導率が大きいことが要 求されるが、 両者を同時に達成することは難しい。 そめだめ、 熱膨張率の小 さい材料と熱伝導率の大きい材料を組み合わせた複合材料が多く用いら ている。
このような例として、 たとえば特公平 5 - 38457号公報には、 W _ Cu， Mo— Cu等の金属一金属系複合材料が提案されている。 W , Moは熱膨張率が低く、 他方、 Cuは熱伝導率が高いという特性を利用する技術である。
また特開 2002- 212651号公報には、 Si C— Al , Cu 2 O _ Cu等のセラミック スー金属系の複合材料が開示されている。
これらの技術は、 一般に熱膨張率が複合則 （law of mixture, or, rule of mixtures) (後述） すなわち各材料の熱膨張率の体積平均程度に留まる。 ま た、 W— Cu材， Mo— Cu材の場合 W， M oは希少金属で投機対象ともなるため 原料が高価で安定供給性に問題があり、材料の性質上基本的に熱間加工が必 要である。 Si C—A1材は機械加工、 圧下が困難であり、 Cu 2 0— Cu材も熱閬 加工が必要である。そのため安価な方法で薄板状の素材を得ることが困難で あり、 さらなる.改善が求められている。 特開 2000- 239762号公報おょぴ非特許文献 1には Cr一 Cu， Nb— Cu等の金属 一金属系複合材料において、低熱膨張率と高熱伝導率を共に達成するための 技術が開示されている。上記文献には、 2〜50質量％の Crを含有する Cu合金 を溶製 '铸造した （溶解鍚造法 （melt ing and cast ing method) という） 後、 熱間加工して、铸塊組織の初晶 Crに基づく略球状の 相を得、 さらに冷間加 ェを施して （例えば特開 2000- 239762号公報 〔0014〕 段落）、 前記 Cr相のァス ぺク ト比を 10以上とする技術が開示されている。そして、この技術によれば、 複合則から予想されるより も低い熱膨張率を得ることが可能になるとされ ている。
しかしながら、この方法ではァスぺク ト比を 1 0 0以上としてやつと複合 則より 1 0 %程度の熱膨張率低下が得られる程度である （前記 〔0014〕）。 凝 固の際の 1次析出相である Cr相.（略球状） のァスぺク ト比を 1 0 0以上とす るだけでも、 例えば冷間圧延で約 90 %以上の圧下を必要とする。 他方、 溶解鍚造法では Cr含有量が増加すると、 融点が高くなる上、 凝固偏 析により均質な合金製造が困難である。 したがって実際には、 30質量％を超. える Crを含有する素材を溶解鍀造し、冷間加工して充分な熱膨張率低下を得 るだけのァスぺク ト比を達成することは非現実的である。 実際.、非特許文献 1ゃ特開 2000-239762号公報の実施例には、 30質量％を超える Crを含有する 例は開示されていない。
さらに溶解鍚造された合金を均質化するためには、高温長時間の均質化熱 処理に加えて、 熱間鍛造や熱間圧延工程が必要となる。 その結果、 製造コス トの上昇を招き、しかも製品として提供できる放熱用材料の寸法が制限され るという問題がある。 非特許文献 2には、 30質量％以上の Crを含む Cr一 Cu合金を溶解と冷間加工 によって均一に製造する技術が開示されている。 すなわち、 Crと Cuの混合粉 末を焼結したものを消耗電極 ( consumabl e electrode) として用い、 高価な アーク溶解法 （アーク放電を用いた溶解铸造法） で鎳造し、 さらに室温での 延性が不十分な Crが変形し易いように押出し法によって丸棒を製造する方 法である。押出し法は、 Crに対して Cuマトリ ックスからの静水圧が働くため、 加工が容易となることを利用したものである。この技術では経済性に問題が あり、 かつ放熱材料のような薄い板状の材料の製造には適していない。 また発明者らは、 Cr _ Cu材を放熱用材料に適用する技術と して、 特開 2005- 330583号公報に、 時効熱処理によつて Crマトリ ックス中から長径 100 n m以下の微細な粒子状の Cr相を析出させて熱膨張率を改善する技術を開 示している。 中でも粉末冶金法では、 Cr粉末を使用し、 Cuと焼結あるいは溶 浸を行なって合金化 ·複合化し、 同様に時効熱処理を行なって Crマトリ ック ス中から粒子状の Cr相の析出を図っている。
〔非特許文献 1〕 Cu-Cr複相合金の開発 （古河電気工業時報、 107号（2001 年 1月）、！） 53〜57)
〔非特許文献 2〕 Siemens Forsch. -Ber. Bd, 17 ( 1988) NO 3 発明の開示
〔発明が解決しようとする課題〕
以上述べたように、従来の技術は薄い板状でかつ低熱膨張率かつ髙熱伝導 率を得るという課題を充分解決していない。 例えば特開 2000 - 239762号公報 および非特許文献 1に記載の技術は加工性および高 Cr化に限界があり、非特 許文献 2の方法は加工ができても極めてコストが掛かる。
また、 特開 2005- 330583号公報の方法は比較的優れているものの、 薄板状 への加工性に課題を残す。さらにこの技術では Cr相の析出は 3次元でランダ ムであり、 どの方向に対しても膨張率は一定である。 一方、 半導体用放熱材 料では、一般的に薄板形状が多く、半導体と接合した場合に両者の熱膨張率 の差を少なくする必要のある方向は板の面方向であることから、発明者らの 見解によればさらに改善の余地がある。
また、微細析出物の析出状態を制御することのみにより低熱膨張率を実現 しているこの技術では、 ¾熱用材料と D B A基板等との間のハンダ付け ·口 ゥ付け作業の条件によっては、たとえば時効温度以上の高温下で長時間置か れる場合には、析出物が変化してしまう恐れがあり、放熱用材料の特性が変 化し、 低い熱膨張率が安定して得られない可能性がある。 本発明は上記のような問題を解消し、ハンダ付け等の後でもとくに面内方 向 （in- plane directions) に熱膨張率が小さく、 かつ熱伝導率が大きく、 しかも加工性に優れた Cr— Cu合金とその製造方法を提供し、 さらに、 その Cr 一 Cu合金を用いた半導体用放熱板と半導体用放熱部品を提供することを目 的とする。
つまり本発明は、 放熱用材料 （すなわち半導体用放熱板， 半導体用放熱部 品） に要求される種々の形状、特に板状の製品あるいはプレス成形用の素材 を提供するものであり、 Crの原料として粉末を使用することによって、従来 の溶解法では均質な材料の製造が容易ではない組成の放熱用材料に対して 経済的に放熱用材科を製造するものである。 さらに本発明では、 Cr粉末の焼 結体 ( sintered compact) に Cuを溶浸 ( infiltration) させた溶浸体 (infiltrated compact) に冷間圧延を施すという新規の工程を採用するこ とによって、 熱膨張率をさらに低減した材料を製造するものである。
〔課題を解決するための手段〕
Cr_Cu合金の熱膨張率は、 下記の（1)式で表わされる複合則に従うことが 知られている （特開 2000-239762号公報参照）。
alloy = « CrX V Cr+ α Cu X ( 1一 V Cr) . . . (1) a alloy： Cr_Cu合金の熱膨張率 aCT ： Crの熱膨張率 Cu ： Cuの熱膨張率
VCr ： Crの体積分率
ただし， 実際には （ 1 ) 式のような単純な相加平均には従わず、 （ 1 ) 式 から予測されるより大きな値になるとするモデルが多く提案されている。た とえば Ge進 nらのモデル力 S知られている (R. M. German et al.： Int. J. Powder Metall. , vol 30(1994), p205)。 公表されている純 Crの熱膨張率の' データはばらつきが大きく、 Cr-Cu合金の熱膨張率を正確に予測するのは難 しいが、 （1)式に従う と仮定した場合、 放熱用材料と,して好適な低熱膨張率 (たとえば 13 X 10— e K—1) を得るためには、 Crを概ね 30質量％以上含有させ る必要がある。このような多量の Crを含有する Cr一 Cu合金を製造する際には、 従来の溶解法ではアーク溶解等の特殊な方法を探用する必要があり、製造コ ス トの上昇は避けられない。
.これに対して発明者らは、 Crの含有量を広範囲にわたって調整可能な粉末 冶金法 （powder metal lurgy) を採用し、 Cr単独あるいは Crと Cuの粉末を混 合し焼結した後、 Cuを溶浸する技術を開発した。 なお、 Crと Cuの粉末を混合 して、 実質的に Cuが溶融するような高温で焼結した場合には、溶浸と同様の 状態となるので、別途 Cuを溶浸する工程は必ずしも必要ではない。 Cr粉末を 焼結し、 Cuを溶浸させることにより、 30質量％超え 80質量％以下の Crを均一 に分布させた Cr一 Cu合金を容易に製造することが可能となる。 従来、 このような溶浸体は冷間圧延加工が困難であるが、 発明者らは、 こ れに注意深く冷間圧延加工を施すことを試み、その結果、冷間で 10%以上の 圧下を付与し、 特開 2000-239762号公報等が効果的であるとする範囲よりは るかに低いァスぺク ト比の Cr相を形成することによって、複合則から予想さ れるよりも顕著に小さい熱膨張率を得られることを見出した。 発明者らは、 また、 このような溶浸体に熱処理を施すことによって、 さら に安定的に小さい熱膨張率を得ることが可能であるという知見を得た。つま り、 Cr焼結体に Cuを溶浸して得られる溶浸体に必要により均質化およぴ時効 のための熱処理 （以下、 均質化時効熱処理 （heat treatment for homogenization and aging) という） を 300〜： 1050°Cで行なった後、 冷間で 10%以上の圧下を付与し、 さらに軟質化おょぴ時効のための熱処理 （以下、 軟質■(匕時効熱処理 ( heat treatment for anneal ing and aging) という) を 300〜900°Cで行なうことによって、熱膨張率のさらに大幅な低減を達成でき ることを見出した。 焼結したままの素材や溶浸したままの素材を用いる方法は、様々な形状が 要求される多品種少量生産には適していない。これに対して本発明の Cr— Cu 合金は、様々な厚さの板形状の加工が容易であり、 プレス加工による打ち抜 きにも適用できるので、多量の生産のみならず多品種少量生産にも対応でき る。
捕足であるが、本発明の Cr— Cu合金では、溶浸体を製造する段階で空隙が 残留する惧れが'ある力 S、冷間圧延を行なうことによって空隙が押し潰されて 密着する。 その結果、 空隙の存在に起因する熱伝導率の低下を防止できる。 本発明は、以上の知見に基づき完成されたものである。すなわち本発明は、 下記のとおりである。
( 1 ) Cr粉末を用いた粉末冶金で得られた Cr一 Cu合金であって、 Cr含有量 が 30質量％超え 80質量％以下であり、 かつ、 Cuマトリ ックスと偏平した Cr 相とからなり、前記偏平した Cr相の平均ァスぺク ト比が 1.0超え 100未満であ ることを特徴とする Cr一 Cu合金。
( 2) 前記 Cr粉末の粒度 （particle size) が 10/z m以上、 250 μπι以下であ る、 上記 （ 1 ) に記載の Cr一 Cu合金。
( 3 ) Cuマトリックス中に、 長径が 100 n m以下でァスぺク ト比が 10未満 の粒子状である、微細な第 2の Cr相が析出し、第 2の Cr相の密度が 20個/ μ m2以上であることを特徴とする上記 （ 1 ) または （2) に記載の Cr— Cu合 金。
なお、前記扁平した Cr相が厚さ方向 1 mmあたり 2 0 0個以下存在するこ とが好ましい。
(4) 上記 （ 1 ) 〜 （3 ) のいずれかに記載の Cr_Cu合金を使用した半導 体用放熱板あるいは半導体用放熱部品。
( 5 ) Cr含有量が 30質量％超え 80質量％以下であり、残部が Cuおよび不可 避的不純物からなり、 かつ、 Cuマトリックスと Cr相とを有する素材 Cr一 合金に、冷間圧延で 10%以上の圧下を加えることにより、前記 Cr相の平均ァ スぺク ト比を 1.0超え 100未満とするステップを有 I1ることを特徴とする Cr 一 Cu合金の製造方法。
( 6 ) Cr粉末を原料として前記素材 Cr一 Cu合金を製造するステップをさら に有することを特徴とする、 上記 （ 5 ) の Cr一 Cu合金の製造方法。
( 7) 前記 Cr粉末の粒度が 10 m以上、 250/ πι以下である、 上^ ( 6 ) に 記載の Cr— Cu合金の製造方法。
ここで、 素材 Cr一 Cu合金としては、 例えば下記 （8 ) 〜 （I2) の発明にお ける溶浸体が挙げられる。
( 8 ) Cr粉末を焼結して多孔質体 （porous compact) とし、 多孔質体に Cu を溶浸して、 Cr含有量を 30質量％超え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼 結 ·溶浸ェ程 ^sintering and infiltrating process; と、 目リ記溶浸体に冷 間圧延で 10%以上の圧下を加えて圧延材を得る圧延工程とを有する Cr一 Cu 合金の製造方法。
( 9) (i) Cr粉末と Cu粉末とを混合し成形して焼結し、 さらに Cuを溶浸 して、 Cr含有量を 30質量％超え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼結 ·溶浸 工程、 あるいは、 （ii) Cr粉末と Cu粉末とを混合し成形して焼转し、 Cr含有 量を 30質量％超え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼結 ·溶浸工程、 のいず れかの焼結 .溶浸工程を有し、 さらに、 前記溶浸体に冷間圧延で 10%以上の 圧下を加えて圧延材を得る圧延工程を有する Cr— Cu合金の製造方法。
(10)前記圧延材を 300〜900°Cの温度範囲で加熱する熱処理工程をさらに 有する上記 （8 ) または （9 ) に記載の Cr一 Cu合金の製造方法。
(11) 前記焼結 ·溶浸工程で得た溶浸体を 300〜1050°Cの温度範囲で加熱 する工程を、 前記圧延工程の前に有する、 上記 （8 ) 〜 （10) のいずれかに 記載の Cr一 Cu合金の製造方法。
(12) 前記 Cr粉末の粒度が 10 m以上、 以下である、 上記 （8 ) 〜 (11) のいずれかに記载の Cr_Cu合金の製造方法。 なお本発明の Cr— Cu合金は、偏平な Cr相と、わずかに Crを含有する Cu相（す なわち Cuマ トリ ックス） とからなる、 いわゆる Cr一 Cu複合材料である。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の Cr一 Cu合金の断面組織図の一例である。 発明を実施するための最良の形態
<Cr- Cu合金 >
(合金組成）
まず、 本発明の Cr-Cu合金における Cr含有量の限定理由を説明する。
Crは、本発明の Cr_Cu合金において、熱膨張率の低減を達成するための重- 要な元素である。 Cr含有量が 30質量％以下では、 放熱用材料 （すなわち半導 体用放熱板， 半導体用放熱部品） に要求される低熱膨張率 （約 13Χ1(Γ6Κ一1 以下） が得られない。 一方、 80質量％を超えると、 熱伝導率が低下し、 放熱 用材料として十分な放熱効果が得られない。したがって、 Crは 30質量％超え、 80質量％以下とする。 好ましくは 40質量％以上であり、 また好ましくは 70 質量％以下である。 より好ましくは 45質量％以上であり、 また 65質量％以下 である。 一層好ましくは、 50質量％超えであり、 また 65質量％以下である。
' 残部は Cuおよび不可避的不純物とすることが好ましい。不可避的不純物は 通常の範囲 （例えば合計で約 1 %以下） で問題ない。 主な不純物としては、 例えば 0. 0 3111 & 3 3 %以下の 3、 0. 0 2 !!1 & 3 3 %以下の13、 0. 3 m a s s %以下の F eを含んでも問題ない。 ただし、 とくにガス成分 （0、 Nおよび C) については圧延前の素材 Cr- Cu合金 （溶浸体） の段階で下記の 範囲に限定することが好ましいので、本発明の Cr一 Cu合金も実質的に同じ不 純物範囲となる。
本発明者らは冷間圧延における加工性を改善すべく鋭意検討を行つた結 果、 素材 Cr-Cu合金 （溶浸体） 中に含まれる不純物、 特に 0、 N、 および C の含有量を低く抑えることにより、冷間での加工性が著しく向上することを 見出した。 すなわち， O含有量を 0. 0 8 m a s s %以下、 N含有量を 0. 0 5 m a s s %以下、 C含有量を 0 , 0 5 m a s s %以下とすることに より、焼結まま、 あるいは溶浸ままの状態で 3 0 %以上の大きな圧下を加え ても割れが生じなくなることを見出した。 さらに好まじくは、 O含有量を 0 . 0 3 m a s s %以下、 N含有量を 0 . 0 2 m a s s。/。以下、 C含有量を 0 . Q 1 m a s s %以下と低減することにより、 6 0 %以上といった、 より 大きな圧下を加えても割れのない良好な圧延材を得ることができる。これら 不純物の低減は、母相である C uの加工性を改善するばか.りでなく、 C r相 の加工性をも改善しているようである力 、詳細な機構については調査中であ る。
なお、 より低い熱膨張率が必要な場合など、 Crの一部または全てを Moおよ ぴノまたは Wに置き換えることも可能である。
本発明の Cr-Cu合金の構造上の特徴については、 まず原料の説明を行った 後で説明する。
(原料）
本発明においては、 Crの原料を Cr粉末として粉末冶金技術を適用すること が好ましい。 すなわち、 Cr粉末を単独で （あるいは Cu粉末と混合して） 焼結 し、 さらに Cuを溶浸させることによって、 30質量％を超える Cr ^均一に分布 させた Cr—Cu合金の製造が可能になる。
使用する 粉末は、 純度 99質量％以上のものが好ましい。 また、 Cr粉末中 の不純物は、溶浸体の加工性向上の観点から、可能な限り低減することが好 ましい。特に 0， N， Cは多大な影響を及ぼし，大きな加工を行う場合には， O含有量を 0 . 1 5 m a s s %以下、 N含有量を 0 . 1 m a s s %以下、 C 含有量を 0 . 1 m a s s %以下とすることが好ましい。 より好ましくは、 O 含有量を 0 . 0 8 m a s s %以下、 N含有量を 0 . 0 3 m a s s %以下、 C 含有量を 0 . 0 3 m a s s %以下である。
Cr粉末の粒径は得られる合金の一様性の観点から粒度 250 x m以下（ J I S 規格 Z2510に準拠） とすることが好ましい。 ただし、 粒度が小さくなると Cr 粉末の表面積が増大して酸化し易くなり、低圧下で熱膨張率の低減を達成す ることが困難になる。 したがって、 より好ましい粒度は 10 μ m以上である。 ここで、粒度 250 μ m以下とは、前記 JIS規定の篩を用いた篩い分けにより、 目開き （aperture, or, opening) 250 μ mの篩を通竭しない粒子を除去した ことを意味する。 また粒度 10 μ m以上とは、 同じく 目開き 10 /i mの篩を通過 した粒子を除去したことを意味する。
より一層好ましい粒度範囲は 30~ 200 /x mで、最も好ましい範囲は 50〜200 μ mでめる。
なお、 理想的な Cr粉末のアスペク ト比は 1. 0に近いものであるが、 1 . 0 ~ 2 . 0の範囲内であれば、 問題なく使用できる。 より好ましい範囲は 1 . 0〜 1 . 5である。 さらに好ましい範囲は 1 . 0 ~ 1 . 2である。 ここでい う C r粉末のァスぺク ト比とは、 C r粉末の個々のァスぺク ト比を平均した 値であり、具体的には，例えば紙面上にばらまいた C r粉末を上から観察し、 個々の粉末の長径と短径の比を求め、 平均した値であって、 （2 ) 式から求 まる溶浸体や圧延材のァスぺク ト比とは異なる。
Cr粉末を焼結して得た焼結体に溶浸させる Cuは、工業的に製造されるタフ ピッチ銅， りん脱酸銅， 無酸素銅等の金属 Cu板、 あるいは電解銅粉， アトマ ィズ銅粉等の Cu粉末を使用するのが好ましい。 Cu中の不純物が Crに拡散する と冷間圧延性が低下するので、 Cuの不純物量は低く抑える必要がある。
(合金の構造）
本発明の Cr- Cu合金においては、 原料の Cr粉末に由来する、 偏平した Cr相 が、 （^マ ト リ ックス （溶浸された Cuに由来する） の中に存在する。
前記偏平した Cr相の平均ァスぺク ト比は、 1. 0超え 100未満とする。発明者 らが検討した結果、平均ァスぺク ト比を 1. 0超え、好ましくは 1. 4以上とする ことにより、 ハンダ付け接合の温度ゃ特開 2005 - 330583号公報に記載の時効 熱処理温度以上の高温まで加熱した後も低い熱膨張率が安定して保たれる ようになることが分かった。 しかし圧延により 100以上の高ァスぺク ト比を 得ることは圧延回数などの点で負担が大きいうえ，放熱用材料に要求される 良好な薄板形状とするのが困難になるため、 100未満とする。
平均アスペク ト比は 2. 0以上がさらに好ましい。 また、 上限側に関して、 より好ましい平均ァスぺク ト比は 3 0以下であり、さらに好ましくは 1 5以 下、 最も好ましくは 1 0未満である。' Cr相のァスぺク ト比は溶浸体を冷間圧延した後の断面（圧延方向および圧 下方向を含む断面。溶浸体では厚さ方向を含む任意の断面。） を光学顕微鏡で 観察して求められ、 下記の（2)式で算出される。 平均ァスぺク ト比は、 算出 されたァスぺク ト比の平均値として求められる。具体的には、 たとえば 5 0 〜 1 0 0倍の光学顕微鏡で観察した任意の視野から求めることができ、観察 した視野に全体が入っている C r相について測定することで求められる。ま た、複数の C r相が合体して形成されているように見える場合には、複数の C r相に分解し、 分解した後の各 C r相のァスぺク ト比から求める。
アスペク ト比 = L L 2 · · · (2) .
L！ ：溶浸体を冷間圧延した後 （=圧延材） の断面の圧延方向の最大長さ L 2：溶浸体を冷間圧延した後 （=圧延材） の断面の圧下方向の最大長さ なお、 一般的な定義では L 長径、 L 2 =短径であるが、 圧延加工により 変形している場合、 上記定義と実質的に同じである。
なお、圧延を行わない溶浸体については、厚さ方向を含む任意の断面にお ける同様の観察結果からァスぺク ト比を求めるものとする。 · 上記の扁平した Cr相の厚さ方向 （圧下方向） の数は 2 0 0個/ m m以下と することが'好ましい。 厚さ方向の Cr相の数が 200個/ を超えると、板厚方向 の熱伝導率が著しく低下し，放熱部品としての十分な放熱性能が得られない。 好ましくは 100個/ mm以下である。 なお、 合金の一様性の観点から、 厚さ方向 の Cr相の数は 1 0個/ mm以上とすることが望ましい。 . また、 本発明の Cr - Cu合金は、 前記扁平した Cr相の他に、 （^マ ト リ ックス 中に微細な粒子状 Cr相が析出しており、さらなる熱膨張率低下に寄与してい る。 .
析出させる粒子状 Cr相は、 長径が lOO n m以下で、 アスペク ト比が 10未満 のものの密度が 20個/ /! m 2以上であることが熱膨張率低減の観点から好 ましい。 これらの寸法およびァスぺク ト比が上記範囲を外れた微細 Cr相は、 '熱膨張率低減にあまり寄与していない。 . ここでいう粒子状 Cr相の数は、以下の方法で決定される。すなわち 1 ~ 5 kVの低加速電圧による走査型電子顕微鏡（S E M )観察を 1万倍〜 30万倍程 度で行ない、 視野中に見える Cr相の数から密度 (個 μ τη 2 ) を算出する。 観察に用いるサンプルは、以下のような方法でェツチングを行な てから観 察を実施する。 すなわち、 蒸留水 80mlに対し、 2クロム酸カリ ウム 10 g， 硫 酸 （96 % ) 5 ml , 塩酸 （3 7 % ) 1〜 2滴を溶解混合した溶液中に、 室温で 3〜15秒浸漬後、水洗おょぴ乾燥を行なうことで、微細な Cr相の観察が可能 となる。 '
上記粒子状 Cr相は、圧延前後の熱処理により Cuマトリ ックス中から Crを析 出させることで形成できる。
<製造方法 > .
次に、 本発明の Cr— Cu合金の製造方法について説明する。
本発明の Cr _ Cu合金の製造方法は、
(a) Cr粉末を Crの原料として使用し、これを焼結した後で Cu 溶浸する（あ るいは、 Crと Cuの粉末を混合して成形、 焼結し、 これに必要に応じて Cuを溶 浸する、） ことによって、 多量の Crを均一に分布させる、
(b) (a)により得られた素材 Cr-Cu合金 （溶浸体） を冷間圧延し、 さらに必 要に応じ熱処理と組み合わせることによって、溶浸のままの状態に比べて熱 膨張率を低減させる
という点に特徴がある。
(溶浸体の製造）
Cr一 Cu合金を製造するにあたって、原料となる Cr粉末を単独で、 あるいは Cu粉末と混合した後、型に充填して必要に応じて加圧成形し、 その充填まま 材または成形体を焼結して得られた焼結体（多孔質体と総称する） に Cuを溶 浸させる。 便宜上、 加圧成形しない自然充填 （gravi ty f i l l i ng) も、 本発 明では成形と呼ぶものとする。 なお、焼結と溶浸を 1工程で行うこともでき る。 ただし、 混合粉を用い、 さらに十分な加圧を行い、 C uを溶浸する必要 が無いものについては、 実際には多孔質体ではない。 すなわち、 本発明にお いて、 「多孔質体」 の語は、 溶浸技術の分野における通常の用法に従い、 溶 浸が可能な程度の空隙を有する物体を指す。好ましい空隙率としては水銀圧 下法 （JIS R 1655準拠） により得られる値で 15~ 65体積％程度である。 加圧成形を行なう成形工程では、使用する原料の組成、充填性や密度の目 標値に応じて圧力を調整しながら成形する。 Cr粉末を単独で使用する場合は、 別途 Cuの溶浸処理を行なうことが不可欠である。 Cr粉末と Cu粉末を混合して 使用し、 かつ高温 （Cuが十分軟質化または溶融する温度） で焼結を施した場 合は、 改めて溶浸工程を施す必要はない場合もある。 なお、 焼結と溶浸を同 時に行なうことも可能である。
焼結および溶浸を個別にあるいは同時に行なう工程を、焼結 ·溶浸工程と 総称する。 ' 焼結の条件は、 1000〜1600°Cの範囲内（望ましくは 1050〜1450°Cの範囲内） の温度で 30〜300分保持することが好ましい。 雰囲気は水素雰囲気または真 空が好ましい。 ；
溶浸は従来から知られている技術を使用すればよい。たとえば多孔質体の 上面およびノまたは下面に純 Cuの板や粉末を配置させ、 1100〜1300°Cの範囲 内 （望ましくは 1150〜1250°Cの範囲内） の温度で 20〜120分保持する。 雰囲 気は水素雰囲気または真空が好ましい。 ただし、溶浸した後の加工性向上の 観点から真空中で溶浸するのが好ましい。 なお本発明者らの研究によれば、 Crと Cuの混合粉を用いて焼結と同時に溶 浸した後の冷却速度、あるいは Cr粉末を焼結した多孔質体または Crと Cuの混 合粉を焼結した焼結体に C uを溶浸した後の冷却速度は、溶浸体の熱膨張率に 影響を及ぼすことが判明した。 具体的には、 冷却速度が 600°C /分以下であ ることが、より大きな熱膨張率の低減を達成できるので好ましい。現状では、 冷却速度に応じて熱膨張率が変化する原因は明らかではないが、焼結中ある いは溶浸中に Cuマトリッタスに固溶した Crが熱処理によって析出する際に、 冷却速度に応じて形態が変化するためと考えられる。 ' (均質化時効熱処理）
溶浸体に冷間圧延を行なう前に、 必要に応じて均質化時効熱処理を施す。 その温度は 300 ~ 1050°Cの範囲内が好ましい。 均質化時効熱処理の温度が 300°C未満では、 均質化や時効の効果が得られない。 一方、 1050°Cを超える と、溶浸した Cuが溶解して流れ出す惧れがある。 保持時間は 30分以上が好ま しい。 より好ましい温度は、 4 0 0〜 9 0 0 °Cである。
なお、 ここでいう時効とは、 粒子状 Crの析出を指す。 すなわち、 Crの焼結 体に Cuを溶浸させると （Cr粉末と Cu粉末の高温焼結の場合も含む）、 Crが Cu 中に 0. 1〜2. 0質量％固溶する。 その Cuマトリ ッタスに固溶した Crを、熱処理 によって Cu中に長径 100 η m (ナノメートル） 以下， アスペク ト比 10未満の 粒子状の Crを析出させる。この Cr相の析出により熱膨張率を一層低減するこ とが可能となる。 雰囲気は真空が好ましい。
(冷間圧延）
溶浸した後、 あるいはさらに熱処理を施した後で、 Cr— Cu合金に機械加工 (たとえばフライス盤による切削加工， 砥石による研削加工等） を行ない、 溶浸体の酸化層や表面に残留する Cuを除去して冷間圧延を行なう。冷間で圧 下を付与することによって、熱膨張率を低減できる。特に 10〜90 %という比 較的圧下率が小さい通常の圧下であっても熱膨張率を低減できる。 従来、 Crと Cuの粉末冶金製品は、 加工性が悪く、 冷間圧延を施すと容易に 割れが発生することが知られている。本発明の Cr _ Cu溶浸体において、冷間 圧延ができるほどに加工性が改善した理由は、現在までのところ明らかでは ないが、最適な焼結， 溶浸条件を選択することによって溶浸体中のガス成分 を低減できたこと等が原因であると考えられる。
すなわち、 発明者らは、 0， N， Cの含有量を低減すれば、 冷間での加工 性が著しく向上するという知見を得た。 すなわち、 溶浸体中の O含有量を 0. 08質量％以下， N含有量を 0. 05質量％以下， C含有量を 0. 05質量％以下と することによって、30 %以上の圧下を加えたときの Cr— Cu溶浸体の割れが大 幅に減少することを見出した。 さらに、溶浸体中の〇含有量を 0. 03質量％以 下， N含有量を 0. 02質量'％以下， C含有量を 0. 01質量％以下とすることによ つて、60 %以上の圧下を加えたときの Cr— Cu溶浸体の割れを抑制できること を見出した。 本発明では、上記したように溶浸体あるいは溶浸後に均質化時効熱処理を 施した後、容易に冷間圧延が可能となる。溶浸体にさらに冷間圧延を行なつ て Cr相の方向性を付与し、 Cr相のァスぺク ト比を調整することによって、熱 膨張率を一層低減することが可能となる。ただし、その効果を得るためには、 冷間圧延にて 10%以上の圧下を付与する必要がある。 その結果、 1. 0を超え る平均ァスぺク ト比を有する Cr相が生成する。 なお、原料である Cr粉末のァ スぺク ト比が 1. 0でない場合は、 平均ァスぺク ト比が概ね粉末のァスぺク ト 比 + 0. 1以上となるものと考えられる。 なお、 圧下を付与することは、 Cuマ トリ ックス中の粒子状の微細 Cr析出物に方向性を持たせる効果も持ってい ると考えられる。 このことも、圧延面内での熱膨張率を低下させることに寄 与しているものと考えられる。 ；
発明者らが検討した結果、圧下率の増加とともに、低い熱膨張率が高温ま で安定に保たれるようになることが分かった。 このため、 特に 800°Cを超え る高温まで加熱される口ゥ付け接合を行なう場合には、圧下率を多く設定す ることが好ましい。高温での熱膨張率の安定性という観点から圧下率は 30% 以上が好ましく、.より好ましい範囲は 50%以上である。圧下率から予測でき る Cr相の平均アスペク ト比は、 圧下率 30%のときが 1. 4、 圧下率 50%のとき が 2. 0となる。 ただし、 圧延後の平均アスペク ト比を実測すると、 この値通 りならないことも多く、 しばしば予測値より大きい値となる。発明者らが多 くの実験結果から実測される平均のァスぺク ト比を求めたところ、圧下率 8 0 %の場合で、 1 0 ~ 2 4であった。 この値は， 上記に従う予測値（5 . 0 ) より大きく、 予測値の 2乗 （2 5 ) より小さい範囲であった。 このため実際 には、 たとえば圧下率30%のときに 1. 4の 2乗程度、圧下率 50 %のときに 2. 0 の 2乗程度の平均ァスぺク ト比を上限とする ¾囲でばらつきを持つと考え られる。 一方、 99 %を超える圧下を付与するためには、冷間圧延のパス数が顕著に 増大し、冷間圧延に長時間を要するので、放熱用材料の生産効率が著しく低 下する。 さらには、 圧延材の形状が悪くなり、 板厚精度が低下する。 したが つて、 99%以下の圧下を付与することが好ましい。 また 90 %以上の圧下を付 与すると溶浸体の端部に割れが生じ易くなり、歩留りの低下を招く。 したが つて、 90 %未満の圧下を付与することがー層好ましい。 より好ましい圧下率 の上限は 80 %である。
溶浸体に 10%の圧下を付与する冷間圧延を行なつた場合には、 Cr相の平均 ァスぺク ト比は 1. 1の 2乗程度となり、 90 %の圧下では平均ァスぺク ト比は •10の 2乗程度、 99 %の圧下では平均ァスぺク ト比は 100の 2乗程度となるも のと見積もられる。 溶浸体に冷間圧延を行なうことによって面内方向の熱膨張率が従来の知 見以上に顕著に低減する原因は、 現状では明らかではないが、
•冷間圧延という従来髙 Crの Cu合金に適用されなかった加工形態による、 3次元的な Cr相の形状の影響 ：
-適正な粒度分布をもつ粉末を用いた粉末冶金法によつてのみ可能な Cr 相の寸法 ·個数密度あるいは均質性
などが関与している可能性が考えられる。
また、 溶浸体に圧下を付与することによって、 残留する空隙が密着し、 熱 伝導率の低下を防止する効果も寄与していると思われる。 なお、冷間圧延材の面内異方性を減ずるためには、垂直な 2方向への圧延 (いわゆるクロス圧延） を行なうことも有効であると考えられる。
なお、 上に言う冷間圧延は、 ロールの円筒胴部で素材を板状に圧延する、 板圧延を指す。 '
(軟質化時効熱処理）
冷間圧延後の Cr - Cu合金に対し、 さらに軟質化時効熱処理を施すことによ つて、 軟質化の他に時効 （粒子状 Cu析出） を促進し、'熱膨張率を一層低減し 熱伝導率を向上させることができる。
軟質化時効熱処理の雰囲気は、真空が好ましい。軟質化時効熱処理の温度 は 300〜900°Cの範囲内が好ましい。 軟質化時効熱処理の温度が 300°C未満で は、 軟質化や時効の効果が得られない。 一方、 900 を超えると、，溶浸した Cuが溶解して流れ出す惧れがある。保持時間は 30分以上が好ましい。 より好 ましい温度は、 4 0 0 ~ 8 0 0 °Cである。
なお、 たとえば高い強度や剛性が必要な部材として用いる場合に.は、冷間 圧延後の熱処理を省略することも可能である。 また、 たとえば口ゥ付け接合 により組立てを行なう場合では、接合時の加熱により、冷間圧延後の熱処理 と同様の効果を得ることができる。 雰囲気は真空が好ましい。 上記の均質化時効熱処理あるいは軟質化時効熱処理により析出した微細 な粒子状 Crが Cr - Cu合金の熱膨張率を低下させることは特開 2005-330583号 公報にも開示されているが、本発明においては、冷間圧延による熱膨張率低 減効果にさらに上乗せして、 さらに熱膨張率を低下させる。 このように冷間 圧延と析出のための熱処理を組み合わせることによって相乗的な効果が発 生する理由は現状では明らかではないが、焼結中あるいは溶浸中に Cuマトリ ッタスに固溶した Crが熱処理によって析出するに際し、析出前または析出後 に施される冷間圧延によってその析出物が有利な方向に配向し、面内方向の 熱膨張率をとくに効果的に低減していること力 、一つの可能性として考えら れる。 この相乗効果を得るためには 10 %以上の圧下が必要である。 好ましくは 30 %以上である。 一方、 99 %を超える圧下は前記のように生産性等に悪影響 を及ぼすので、 99%以下の圧下を付与することが好ましい。 また、 溶浸体の 端部の割れを回避する観点からは、 90%未満の圧下を付与することが一層好 ましい。
<用途 > '
なお、 本発明の Cr-Cu合金を半導体用放熱板および半導体用放熱部品とす るには、切削加工や打ち抜き加工などにより、所望の形状に加工すればよい。 また、 好適な特性を得るために、 下記の処理を施しても良い。 ， 本発明による Cr一 Cu放熱板は、冷延ままの状態、 あるいはさらに熱処理を 施した状態で使用することができる。また必要に応じて耐食性お ぴ電食に 対する性能を向上させる目的で、 表面にさらに Niめっき， Auめっき， kgめつ き等を単独あるいは組み合わせて施すこともできる。 各種の Niめっきや Au めっきを施すことで、各種のはんだ接合や口ゥ付け接合の適用が可能になる。 圧延法を適用した本発明材では、 低い熱膨張率が 800°Cを超える高温まで 保たれるので、 接合温度が 750°C以上と高くなる口ゥ付け接合を行なう用途 に対し、 本発明材は非常に有利に適用できる。 '
〔実施例〕
(実施例 1)
Cr粉末 （粒度 5 0〜2 0 0 /χ πι ) を自然充填あるいは加圧成形し、 真空中 あるいは水素雰囲気中で焼結して、気孔率 25〜55体積％ ( Cuを溶浸した後の Cr含有量に換算すると 7 0〜 4 0質量％に相当する） となる焼結体 （70mm X 70mm X 10mm) を作製した。 焼結温度は 1200〜 1500°Cとした。 得られた焼結 体の上面に Cu板を载置し、真空中で 1200°Cに加熱して Cuを溶解し、焼結体に 溶浸させて溶浸体を得た。 .
また、 Cr粉末と Cu粉末を混合した後で加圧成形した成形体の上面に Cu板を 載置し、真空中で 1200°Cに加熱して Cuを溶解し、焼結と溶浸を同時に行ない、 溶浸体を得た。
これらの溶浸体の一部には熱処理 （加熱温度 600°C， 保持時間 1時間） を 施した。
次いでフライス盤を用いて、この Cr一 Cu合金の表面に残留する Cuを除去し て厚さ 9 mmの Cr—Cu合金板とした。この Cr— Cu合金板の冷間圧延を行なって、 厚さ 2. 5mmまで圧下した。 圧下率から見積もられる Cr相のァスぺク ト比は約 3. 6〜 1 3の範囲である。
これらの Cr一 Cu合金板に、熱膨張率を調整するための熱処理（加熱温度 450 900°C， 保持時間 1時間） を施した。
さらに、 室温〜 200°Cの範囲で平均熱膨張率 （圧延方向） を測定した。 熱 膨張率は、 長さ 2 0 m mの試験片を用い， 真空理工製縦型熱膨張計 DL- 7000 型により測定した. 各温度での試験片の長さの変化から， 平均熱膨張率を算 出した。 また、 圧延方向 （T Wは合金版長手方向） 断面のサンプルを採取 し、 扁平した Cr相のァスぺク ト比を調査した。
その結果を表 1に示す。
表 1
Figure imgf000022_0001
*熱膨張率は室温〜 200°Cの平均値 冷間圧延を行なわない溶浸のままのもの （ T ~W：予想される溶浸体断面 での C r相の平均ァスぺク ト比 1. 0) でも、 熱処理によつて Cuマトリ ックス 中に微細な Crが析出することで、 Germanらの複合則から予想されるよりも小 さい熱膨張率が得られる。本発明の方法で製造した同一組成材では、 T 〜W よりも熱膨張率がさらに低い値となっており、放熱用材料として優れた特性 を有している。 つまり、既知の技術では熱膨張率を小さくするために Cr含有 量を増加しなければならず、 必然的に熱伝導率の低下を招く ことになる力 本発明によれば低い熱膨張率と高い熱伝導率を同時に達成することが可能 である。 なお、走査型電子顕微鏡観察を用いた前述の調査法により、 A〜Wのうち、 Uを除く全合金では、 長径が 100 /i m以下でァスぺク ト比が 10未満の粒子状 の微細 C r相が、 C uマ ト リ ックス中に 2 5 〜 1 0 0個/ / z m 2析出してい ることを確認した。 '
また、 A〜 Qの発明例おょぴ T ， Uについてレーザーフラッシュ法にて熱 伝導率を測定した。 レーザーフラッシュ法を採用するにあたって、 A〜 Qお ょぴ Tと同一成分の Cr一 Cu合金板を作製し、冷間圧延を施した。 冷間圧延の 圧下率は表 1の各合金板と同じとしたが、圧延前の Cr一 Cu合金板の厚さを変 え、 冷間圧延後はそれぞれ 2 mm厚または 0. 8mm厚となるようにした （T 、 U は冷間圧延せず最終板厚まで切削おょぴ研削加工により減厚した）。 このよ うにして得られた 2 腿厚の Cr一 Cu合金板から試験片を採取して、その厚さ方 向の熱伝導率をレーザーフラッシュ法で測定し、 0. 8mm厚の Cr一 Cu合金板か ら試験片を採取して、その面内の方向の熱伝導率をレーザーブラッシュによ る基板測定法で測定した。 その結果、 厚さ方向の熱伝導率は約 150WZ m · K , 面内の方向の熱伝導率は約 200W/ m · Kであり、 いずれの方向も良好 な熱伝導率を有することを確認した。 なお、 Tでは， 面内方向， 厚さ方向と も熱伝導率は¾ 1 8 0 WZ m · Kであった。 また， 圧延前後での熱処理を施 していない Uでは， 面内方向， 厚さ方向とも熱伝導率は約 1 4 0 W/ m - K で'あった。
これらとは別に、 半導体用放熱体として、 半導体素子にハンダ付けして、 接合の^況を調査した。発明例の溶浸体を 5 mm厚まで減厚加工した後、冷間 圧延を行ない作製した Cr— Cu合金板 （厚さ 0. 8mm) を 10mm X 5 mm X 0. 8mmの大 きさにプレス加工し、さらに 3 μ mの厚みの電解二ッケルめっきを施した後、 Auめつぎ 2 /z mを施した。 また、 メタライズし、 Ni + Auめっき処理した面を 有する 5 mm X 3 mm X 1 mmの大きさのアルミナ板を準備し、 Cr _ Cu合金板とァ ルミナ板をハンダ付け (使用したハンダ ： Sn— 3質量0 /o Ag—0. 5質量0 /o Cu) した。 その結果、 接合部分に問題は認められなかった。
これによつて各種業務無線機， アマチュア無線機をはじめ、 GSM/AMP方式 自動車電話， 広帯域 （broad band) ,無線インターネッ ト接続モジュール等に 用いられるシリ コン半導体、 GaAs半導体による高周波デバイス用台座（chip late) , ベース、 プレート用あるいは髙輝度 LED用台座に用いることが可能 であることが確かめられた。 次に、 発明例 Eの Cr一 Cu合金板 （厚さ 2. 5mm ) を 50 X 100mm X 2. 5inm の 大きさに加工し、 厚さ 5 mの Niめっきを施した。 この Cr— Cu合金板に D B A基板と半導体素子を、 到達温度が 245 °Cとなる リフ ロー処理 （reflow treatment) によつてハンダ付け (使用したハンダ： Sn— 3質量0 /0 Ag— 0. 5 質量％( 11) した。
この電子部品冷却体の熱衝撃試験 （加熱温度：一 40°C , 120で， 保持時間 ： 5分） を行なった。 熱衝撃試験は WINTEC LT20型液槽式熱衝擊試験器 （楠本 化成株式会社製） を使用した。 試験が終了した後、 超音波探傷によってクラ ックの有無を調査した。
発明例の電子部品冷却体は、 3000サイクル終了後、接合界面における剥離 やクラックは認められなかった。
これによつてィンパーター等のパワーデバイス半導体の放熱板として使 用できることが確かめられた。 以上に説明した通り、本発明の Cr— Cu合金は、低熱膨張率と高熱伝導率を 併せ持ち、 半導体用放熱板や半導体用放熱部品に好適な材料である。
(実施例 2 )
実施例 1 と同じ Cr粉末を自然充填し、真空中あるいは水素雰囲気中で焼結 して、気孔率 45体積％ ( Cuを溶浸した後の Cr含有量に換算すると 50質量％に 相当する） .となる焼結体 （70 X 70 X 10mm) を作製した。 焼結温度は 1200 ~ 1500°Cとした。得られた焼結体の上面に Cu板を载置し、真空中で 1200°Cに加 熱して Cuを溶解し、 焼結体に溶浸させて溶浸体を得た。
また、 C r粉末と C u粉末を混合した後で加圧成形した成形体の上面に C u板を 载置し、真空中で 1200°Cに加熱して Cuを溶解し、焼結と溶浸を同時に行ない、 溶浸体を得た。
これらの溶浸体に熱処理 （加熱温度 600°C， 保持時間 1時間） を施した。 次いでフライス盤を用いて、この Cr _ Cu合金の表面に残留する Cuを除去して 厚さ 9 mmの Cr一 Cu合金板とした。得られた Cr— Cu合金板の冷間圧延を行なつ て、 厚さ 5 mmあるいは 2. 5讓まで圧下した。 圧下率は、 それぞれ 44%， 72 % に相当する。 冷間圧延の後で Cr一 Cu合金板の表面を目視で観察して、割れの 有無を調査した。 その結果を表 2に示す。
表 2
Figure imgf000025_0001
表 2から明らかなように、発明例では割れが認められなかったのに対して 比較例では耳割れが発生した。 ' (実施例 3 )
実施例 1 と同じ Cr粉末を自然充填し、真空中で焼結して、気孔率 50体積％ ( Cuを溶浸した後の Cr含有量に換算すると 45質量％に相当する）となる焼結 体 （70 X 70 X 10mni) を作製した。 焼結温度は 1200〜1500°Cとした。 得られた 焼結体の上面に Cu板を载置し、真空中で 1200°Cに加熱して Cuを溶解し、焼結 体に溶浸させて溶浸体を得た。 この溶浸体を No. 1〜 5の 5つに分け、 その 一部に熱処理 （'加熱温度 600°C， 保持時間 1時間） を施した。
次いでフライス盤を用いて、この Cr— Cu合金の表面に残留する Cuを除去し て厚さ 1. 6〜 6 mmの Cr— Cu合金板とした。 一部にはさらに冷間圧延を行なつ て、 厚さ 1. 6龍まで圧下した。 その後、 実施例 1 と同様に室温〜 200°Cの範囲 で平均熱膨張率 （圧延方向） を測定した。 各サンプルの処理条件は、 下記のとおりである
No. 熱処理 切削後厚み 冷間圧延 熱膨張率
1 あり D mm あり 9 . 7 X 10一6 K—1
2 なし 6 mm あり 1 0 . 1 X 10— 6 K _1
3 あり 3. 2mm あり 9 . 8 X 10"6 Κ _1
4 なし ύ . 2mm あり 1 0 . 3 X 10"6 Κ_1
5 なし 1. 6 mm なし 1 2 . 5 X IO^K—1 なお、 No. 1 と 2の冷間圧下率は約 73%、 3と 4の冷間圧下率は 50%に相 当する。 上記結果からわかるように、 熱処理を施さずとも、 50 % (No. 4 ) あるいは 73 % (No. 2 ) の冷間圧延により、 圧延を施さない合金 （No. 5 ) に 比べ、 熱膨張率が 1 8〜 1 9 %改善 （低減） されている。 さらに熱処理を施 すと、 改善量は約 2 2 %にも達する。 なお、 冷間圧延の後で圧延方向 （No. 5は合金版長手方向） 断面のサンプ ルを採取し、光学顕微鏡で観察するとともに、扁平した Cr相のァスぺク ト比 および厚み方向の個数を調査した。光学顕微鏡による観察面の一例^図 1に 示す （No. 1 ：厚さ方向 1 / 2部， ェツチング処理無し）。 C uマ ト リ ックス 中に偏平した C r相が存在することがわかる（粒子状 C u相は光学顕微鏡で は判別できない。 黒い点は残留研磨剤である）。 実測されたアスペク ト比は No. 1および 2が約 1 0、 No. 3および 4が約 3 . 5 , No. 5は 1. 0であった。 50 %および 73 %圧下で予想されるァスぺク ト比は 2. 0〜4 . 0および 3. 7〜 1 3 . 7であるから、 実測のァスぺク ト比は見積もりの範囲内であった。 扁平 した Cr相の厚み方向の個数は、 No. 1および 2が約 3 0個/ mm、 No. 3および 4が約 2 0個/ mmであった。 ，
次に、 走査型電子顕微鏡観察を用いた前述の調査法により、 No. 1および 3のみに、 長径が 100 /z m以下でアスペク ト比が 10未満 （平均で約 5 ) の粒 子状の微細 C r相が、 C uマトリックス中に約 3 0〜 5 0個 μ m 2析出し ていることを確認した。 産業上の利用の可能性
本発明によれば、 熱膨張率が小さく、 かつ熱伝導率が大きく、 しかも加工 性に優れた. Cr— Cu合金を製造でき、 さらに、 その Cr— Cu合金を用いた半導体 用放熱板と半導体用放熱部品を製造できる。

Claims

請求の範囲
1. Cr粉末を用いた粉末冶金で得られた Cr— Cu合金であって
Cr含有量が 30質量％超え 80質量％以下であり、 かつ、
Cuマトリ ックスと偏平した Cr相と力 らなり、
前記偏平した Cr相の平均ァスぺク ト比が 1.0超え 100未満である Cr— Cu合 金。
2. 前記 Cr粉末の粒度が ΙΟμπι以上、 250 m以下である、 請求項 1に記载 の Cr_Cu合金。
3. 前記 Cuマトリ ックス中に、 長径が lOOnm以下でアスペク ト比が 10未 満の粒子状である、微細な第 2の Cr相が析出し、前記第 2の Cr相の密度が 20 個/ m2以上である請求項 1に記載の Cr_Cu合金。
4. 前記 Cuマ ト リ ックス中に、 長径が 100η m以下でアスペク ト比が 10未 満の粒子状である、微細な第 2の Cr相が析出し、前記第 2の Cr相の密度が 20 個// m2以上である請求項 2に記載の Cr一 Cu合金。 .
5. 前記扁平した Cr相が厚さ方向 1 mmあたり 2 0 0個以下存在する、請 求項 1〜 4のいずれかに記載の Cr一 Cu合金。
6. 請求項 1〜 5のいずれかに記載の Cr— Cu合金を使用した半導体用放熱 板。
7. 請求項 1 ~ 5のいずれかに記載の Cr— Cu合金を使用した半導体用放熱 部品。
8. Cr含有量が 30質量％超え 80質量％以下であり、残部が Cuおよび不可避 的不純物からなり、 かつ、 Cuマト リ ックスと Cr相とを有する素材 Cr一 Cu合金 に、 '
冷間圧延で 10%以上の圧下を加えることにより、前記 Cr相の平均ァスぺク ト比を 1. 0超え 100未満とするステップを有する、 Cr— Cu合金の製造方法。
9 . Cr粉末を原料として前記素材 Cr一 合金を製造するステップをさらに 有する、.請求項 8に記載の Cr一 Cu合金の製造方法。 ·
10. 前記 Cr粉末の粒度が 10 μ m以上、 250 m以下である、 請求項 9に記载 の Cr一 Cu合金の製造方法。
11. Cr粉末を焼結して多孔質体とし、 前記多孔質体に Cuを溶浸して、 Cr 含有量を 30質量％超え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼結 ·溶浸工程と、
• 前記溶浸体に冷間圧延で 10 %以上の圧下を加えて圧延材を得る圧延工程 とを有する Cr一 Cu合金の製造方法。
12. 前記圧延材を 300〜900°Cの温度範囲で加熱する熱処理工程をさらに有 する請求項 11に記載の Cr一 Ci合金の製造方法。
13. 前記焼結 ·溶浸工程で得た溶浸体を 300〜1050°Cの温度範囲で加熱す る工程を、前記圧延工程の前に有する請求項 11に記載の Cr一 Cu合金の製造方 法。
14. 前記 Cr粉末の粒度が 10 m以上、 250 /z m以下である、 請求項 11〜13の いずれかに記載の Cr一 Cu合金の製造方法。 ，
15. (i) Cr粉末と Cu粉末とを混合し成形して焼結し、さらに Cuを溶浸して、 Cr含有量を 30質量％超え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼結■溶浸工程、 あるいは、
(i i) Cr粉末と Cu粉末とを混合し成形して焼結し、 Cr含有量を 30質量％超 え 80質量％以下とした溶浸体を得る焼結 ·溶浸工程、 のいずれかの焼結 '溶浸工程を有し、 さらに、
前記溶浸体に冷間圧延で 10 %以上の圧下を加えて圧延材を得る圧延工程 とを有する Cr— Cu合金の製造方法。
16. 前記圧延材を 300〜900°Cの温度範囲で加熱する熱処理工程をさらに有 する請求項 15に記載の Cr— Cu合金の製造方法。 .
17. 前記焼結 ·溶浸工程で得た溶浸体を 300〜1050°Cの温度範囲で加熱す る工程を、前記圧延工程の前に有する請求項 15に記載の Cr一 Cu合金の製造方 法。
18. 前記 Cr粉末の粒度が 10 / m以上、 以下である、 請求項 15〜17の いずれかに記載の Cr一 Cu合金の製造方法。
PCT/JP2007/053128 2006-02-15 2007-02-14 Cr-Cu合金、その製造方法、半導体用放熱板および半導体用放熱部品 WO2007094507A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/278,003 US8557015B2 (en) 2006-02-15 2007-02-14 Cr-Cu alloy, method for producing the same, heat-release plate for semiconductor, and heat-release component for semiconductor
CN2007800055962A CN101384739B (zh) 2006-02-15 2007-02-14 Cr-Cu合金、其制造方法、半导体用散热板和半导体用散热部件
EP07714628A EP1985718A4 (en) 2006-02-15 2007-02-14 CR-Cu ALLOY, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME, THERMAL DISSIPATOR FOR SEMICONDUCTOR, AND THERMAL DISSIPATOR COMPONENT FOR SEMICONDUCTOR

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006-038054 2006-02-15
JP2006038054 2006-02-15
JP2006-211605 2006-08-03
JP2006211605 2006-08-03

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2007094507A1 true WO2007094507A1 (ja) 2007-08-23

Family

ID=38371676

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2007/053128 WO2007094507A1 (ja) 2006-02-15 2007-02-14 Cr-Cu合金、その製造方法、半導体用放熱板および半導体用放熱部品

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8557015B2 (ja)
EP (2) EP1985718A4 (ja)
KR (1) KR101037884B1 (ja)
CN (1) CN101384739B (ja)
WO (1) WO2007094507A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009008457A1 (ja) * 2007-07-09 2009-01-15 Jfe Precision Corporation 電子部品用放熱部品、電子部品用ケース、電子部品用キャリアおよび電子部品用パッケージ
JP2009149967A (ja) * 2007-11-30 2009-07-09 Jfe Seimitsu Kk Ｃｒ−Ｃｕ合金板およびそれを用いた電子機器用放熱板と電子機器用放熱部品
JP2009149966A (ja) * 2007-11-30 2009-07-09 Jfe Steel Corp Ｃｒ−Ｃｕ合金板の製造方法
JP2016065281A (ja) * 2014-09-25 2016-04-28 株式会社明電舎 電極材料の製造方法及び電極材料
CN108746644A (zh) * 2018-03-20 2018-11-06 陕西中天火箭技术股份有限公司 一种铜铬触头材料的制备方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2485257B1 (en) 2009-10-01 2016-06-22 JFE Precision Corporation Heat sink for electronic device, and process for production thereof
CN102145977B (zh) 2011-03-16 2013-09-11 华为技术有限公司 粉末材料、制造通信设备的方法以及通信设备
CN102214852B (zh) 2011-03-16 2014-06-04 华为技术有限公司 制造谐振管的方法、谐振管和滤波器
CN103170616B (zh) * 2011-12-21 2015-07-22 北京有色金属研究总院 一种钼铜合金箔片及其制备方法
CN113106292B (zh) * 2021-03-24 2022-07-01 北京天宜上佳高新材料股份有限公司 一种耐高温的连接层底料及其制备方法和应用
CN115505867B (zh) * 2022-10-25 2024-04-05 北京酷捷科技有限公司 一种氢气还原的不锈钢铬铜合金的制备方法和应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09324230A (ja) * 1996-06-06 1997-12-16 Furukawa Electric Co Ltd:The 高導電線材
JP2005330583A (ja) * 2004-04-15 2005-12-02 Jfe Seimitsu Kk Ｃｕ−Ｃｒ合金及びＣｕ−Ｃｒ合金の製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2727805B2 (ja) 1991-08-03 1998-03-18 富士通株式会社 微小重力環境における液体の保持方法とその装置
US6271585B1 (en) * 1997-07-08 2001-08-07 Tokyo Tungsten Co., Ltd. Heat sink substrate consisting essentially of copper and molybdenum and method of manufacturing the same
JP4346142B2 (ja) 1999-02-24 2009-10-21 古河電気工業株式会社 低熱膨張係数高熱伝導性銅合金および前記銅合金が用いられた電気電子機器部品
WO2001080313A1 (en) * 2000-04-14 2001-10-25 Allied Material Corporation Material of heat-dissipating plate on which semiconductor is mounted, method for fabricating the same, and ceramic package produced by using the same
DE10010723B4 (de) * 2000-03-04 2005-04-07 Metalor Technologies International Sa Verfahren zum Herstellen eines Kontaktwerkstoff-Halbzeuges für Kontaktstücke für Vakuumschaltgeräte sowie Kontaktwerkstoff-Halbzeuge und Kontaktstücke für Vakuumschaltgeräte
JP2002212651A (ja) 2001-01-09 2002-07-31 Hitachi Cable Ltd 銅複合材料
WO2004038049A1 (ja) * 2002-10-28 2004-05-06 A.L.M.T.Corp. 複合材料、その製造方法およびそれを用いた部材
JP4302579B2 (ja) * 2004-06-03 2009-07-29 日鉱金属株式会社 高強度高導電性電子機器用銅合金
JP4495566B2 (ja) 2004-10-13 2010-07-07 株式会社津田ペイブトンテクニック 舗装用ブロック
EP1873272B1 (en) * 2005-04-15 2015-06-10 Jfe Precision Corporation Alloy material for dissipating heat from semiconductor device and method for production thereof

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09324230A (ja) * 1996-06-06 1997-12-16 Furukawa Electric Co Ltd:The 高導電線材
JP2005330583A (ja) * 2004-04-15 2005-12-02 Jfe Seimitsu Kk Ｃｕ−Ｃｒ合金及びＣｕ−Ｃｒ合金の製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1985718A4 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009008457A1 (ja) * 2007-07-09 2009-01-15 Jfe Precision Corporation 電子部品用放熱部品、電子部品用ケース、電子部品用キャリアおよび電子部品用パッケージ
JP2009149967A (ja) * 2007-11-30 2009-07-09 Jfe Seimitsu Kk Ｃｒ−Ｃｕ合金板およびそれを用いた電子機器用放熱板と電子機器用放熱部品
JP2009149966A (ja) * 2007-11-30 2009-07-09 Jfe Steel Corp Ｃｒ−Ｃｕ合金板の製造方法
JP2016065281A (ja) * 2014-09-25 2016-04-28 株式会社明電舎 電極材料の製造方法及び電極材料
CN108746644A (zh) * 2018-03-20 2018-11-06 陕西中天火箭技术股份有限公司 一种铜铬触头材料的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2439295A2 (en) 2012-04-11
KR20080087889A (ko) 2008-10-01
CN101384739A (zh) 2009-03-11
US20090034203A1 (en) 2009-02-05
KR101037884B1 (ko) 2011-05-30
CN101384739B (zh) 2011-01-19
EP1985718A4 (en) 2009-09-16
US8557015B2 (en) 2013-10-15
EP1985718A1 (en) 2008-10-29
EP2439295A3 (en) 2014-01-22
EP2439295B1 (en) 2016-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007094507A1 (ja) Cr-Cu合金、その製造方法、半導体用放熱板および半導体用放熱部品
JP4213134B2 (ja) Ｃｕ−Ｃｒ合金及びＣｕ−Ｃｒ合金の製造方法
EP1873272B1 (en) Alloy material for dissipating heat from semiconductor device and method for production thereof
WO2011040044A1 (ja) 電子機器用放熱板およびその製造方法
TW201813462A (zh) 陶瓷電路基板、及陶瓷電路基板的製造方法
CN106489197B (zh) 接合体、自带散热器的功率模块用基板、散热器、接合体的制造方法、自带散热器的功率模块用基板的制造方法及散热器的制造方法
JP5531329B2 (ja) 半導体用放熱部品を基体とするパッケージ
JP5030633B2 (ja) Ｃｒ−Ｃｕ合金板、半導体用放熱板及び半導体用放熱部品
JP6083634B2 (ja) 放熱基板及び該放熱基板の製造方法
JP4138844B2 (ja) Ｃｒ−Ｃｕ合金およびその製造方法ならびに半導体用放熱板と半導体用放熱部品
JP6595740B1 (ja) 金属−炭化珪素質複合体及びその製造方法
JP2010126791A (ja) 放熱材料およびそれを用いた半導体用放熱板と半導体用放熱部品、並びに放熱材料の製造方法
JP5286507B2 (ja) Ｃｒ−Ｃｕ合金板の製造方法
JP5211314B2 (ja) Ｃｒ−Ｃｕ合金板およびそれを用いた電子機器用放熱板と電子機器用放熱部品
JP5476111B2 (ja) 電子機器用通電部材用Ｃｒ−Ｃｕ合金とＣｒ−Ｃｕ合金の製造方法、ならびにそのＣｒ−Ｃｕ合金を用いたリードフレーム又はバスバーとその製造方法
JP2016111328A (ja) 放熱基板と、それを使用した半導体パッケージと半導体モジュール
JP2017098574A (ja) 放熱基板及び該放熱基板の製造方法
JP2002206126A (ja) 低熱膨張性銅複合材の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007714628

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 12278003

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020087020079

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200780005596.2

Country of ref document: CN

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE