WO2007090537A3 - Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop - Google Patents

Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop Download PDF

Info

Publication number
WO2007090537A3
WO2007090537A3 PCT/EP2007/000759 EP2007000759W WO2007090537A3 WO 2007090537 A3 WO2007090537 A3 WO 2007090537A3 EP 2007000759 W EP2007000759 W EP 2007000759W WO 2007090537 A3 WO2007090537 A3 WO 2007090537A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
particle
focusing
scanning microscope
optical scanning
auxiliary device
Prior art date
Application number
PCT/EP2007/000759
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO2007090537A2 (de
Inventor
Michael Albiez
Original Assignee
Zeiss Carl Nts Gmbh
Michael Albiez
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zeiss Carl Nts Gmbh, Michael Albiez filed Critical Zeiss Carl Nts Gmbh
Priority to JP2008552732A priority Critical patent/JP2009525571A/ja
Priority to EP07703114A priority patent/EP1979926A2/de
Publication of WO2007090537A2 publication Critical patent/WO2007090537A2/de
Publication of WO2007090537A3 publication Critical patent/WO2007090537A3/de
Priority to US12/222,087 priority patent/US7888643B2/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/21Means for adjusting the focus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/22Optical or photographic arrangements associated with the tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/21Focus adjustment
    • H01J2237/216Automatic focusing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/248Components associated with the control of the tube
    • H01J2237/2482Optical means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Fokussier- und Positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches Rastermikroskop, ein teilchenoptisches Rastermikroskop mit einer entsprechenden Positionierhilfe, sowie ein Verfahren zur Fokussierung und Positionierung eines Objekts in einem teilchenoptischen Rastermikroskop. Die Fokussier- und Positionierhilfseinrichtung umfasst eine Beleuchtungseinrichtung, die einen kollimierten oder fokussierten Lichtstrahl unter einem Winkel (a) zur teilchenoptischen Strahlachse erzeugt (7), der die teilchenoptische Strahlachse an einer vordefinierten Position schneidet, eine für die Wellenlänge des Lichtstrahls sensitive Kamera (21), mit der ein Bild eines auf dem Objekttisch (11) positionierten Objekts unter einem zweiten Winkel (b) relativ zur teilchenoptischen Strahlachse aufgenommen wird, ein Display (26), und eine Steuerungseinrichtung (27) für die Erzeugung eines mit der Kamera aufgenommenen Bildes auf dem Display zusammen mit einer Markierung, die die Lage der teilchenoptischen Strahlachse in dem Bild anzeigt.
PCT/EP2007/000759 2006-02-03 2007-01-30 Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop WO2007090537A2 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008552732A JP2009525571A (ja) 2006-02-03 2007-01-30 粒子光学式走査顕微鏡のための焦点合わせおよび位置決め補助装置
EP07703114A EP1979926A2 (de) 2006-02-03 2007-01-30 Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop
US12/222,087 US7888643B2 (en) 2006-02-03 2008-08-01 Focusing and positioning device for a particle-optical raster microscope

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006004950.0 2006-02-03
DE102006004950 2006-02-03

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US12/222,087 Continuation US7888643B2 (en) 2006-02-03 2008-08-01 Focusing and positioning device for a particle-optical raster microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2007090537A2 WO2007090537A2 (de) 2007-08-16
WO2007090537A3 true WO2007090537A3 (de) 2008-02-14

Family

ID=38294142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2007/000759 WO2007090537A2 (de) 2006-02-03 2007-01-30 Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7888643B2 (de)
EP (1) EP1979926A2 (de)
JP (1) JP2009525571A (de)
WO (1) WO2007090537A2 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008001812B4 (de) * 2008-05-15 2013-05-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Positioniereinrichtung für ein Teilchenstrahlgerät
GB2484197A (en) * 2010-09-29 2012-04-04 Zeiss Carl Nts Gmbh Particle beam microscope and method of operating the particle microscope
US8487252B2 (en) 2010-09-29 2013-07-16 Carl Zeiss Nts Gmbh Particle beam microscope and method for operating the particle beam microscope
US8227752B1 (en) 2011-02-17 2012-07-24 Carl Zeiss Nts Gmbh Method of operating a scanning electron microscope
JP6659290B2 (ja) 2015-09-30 2020-03-04 株式会社日立ハイテクサイエンス 試料位置合わせ方法および荷電粒子ビーム装置
DE102017201706A1 (de) * 2017-02-02 2018-08-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Abbildungseinrichtung zur Abbildung eines Objekts und zur Abbildung einer Baueinheit in einem Teilchenstrahlgerät
US11545334B2 (en) 2018-08-02 2023-01-03 Hitachi High-Tech Corporation Charged particle beam device
WO2020183596A1 (ja) * 2019-03-12 2020-09-17 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5025165A (en) * 1990-03-26 1991-06-18 At&T Bell Laboratories Method for producing a semiconductor device using an electron beam exposure tool and apparatus for producing the device
EP0849765A2 (de) * 1996-12-19 1998-06-24 Schlumberger Technologies, Inc. Ladungsträgerstrahlgerät mit einem optischen Mikroskop
US20030006372A1 (en) * 2001-06-19 2003-01-09 Seiko Instruments, Inc. Automatic focusing system for scanning electron microscope equipped with laser defect detection function
US20030025087A1 (en) * 2001-08-01 2003-02-06 Aspex, Llc Apparatus for correlating an optical image and a SEM image and method of use thereof
US20040211919A1 (en) * 1998-02-27 2004-10-28 Maki Tanaka Convergent charged particle beam apparatus and inspection method using same

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2498767A1 (fr) * 1981-01-23 1982-07-30 Cameca Micro-analyseur a sonde electronique comportant un systeme d'observation a double grandissement
JPH077653B2 (ja) 1987-04-11 1995-01-30 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡による観察装置
JPH0754684B2 (ja) * 1987-08-28 1995-06-07 株式会社日立製作所 電子顕微鏡
JPH03141544A (ja) 1989-10-26 1991-06-17 Brother Ind Ltd レーザ変位計を備えた走査型電子顕微鏡
US5216235A (en) * 1992-04-24 1993-06-01 Amray, Inc. Opto-mechanical automatic focusing system and method
JP2875940B2 (ja) * 1993-08-26 1999-03-31 株式会社日立製作所 試料の高さ計測手段を備えた電子ビーム装置
JP3216474B2 (ja) * 1995-03-30 2001-10-09 株式会社日立製作所 走査型電子顕微鏡
JPH11250847A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Hitachi Ltd 収束荷電粒子線装置およびそれを用いた検査方法
JP2000180391A (ja) 1998-12-11 2000-06-30 Sony Corp 電子顕微鏡および欠陥形状確認方法
JP2000228166A (ja) * 1999-02-05 2000-08-15 Horon:Kk 試料観察装置
JP2001077004A (ja) * 1999-09-03 2001-03-23 Hitachi Ltd 露光装置および電子線露光装置
US7196782B2 (en) * 2000-09-20 2007-03-27 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for determining a thin film characteristic and an electrical property of a specimen
JP2004053550A (ja) 2002-07-24 2004-02-19 Suruga Seiki Kk 半導体デバイス検査装置
JP4004490B2 (ja) * 2004-07-22 2007-11-07 株式会社トプコン 走査型電子顕微鏡装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5025165A (en) * 1990-03-26 1991-06-18 At&T Bell Laboratories Method for producing a semiconductor device using an electron beam exposure tool and apparatus for producing the device
EP0849765A2 (de) * 1996-12-19 1998-06-24 Schlumberger Technologies, Inc. Ladungsträgerstrahlgerät mit einem optischen Mikroskop
US20040211919A1 (en) * 1998-02-27 2004-10-28 Maki Tanaka Convergent charged particle beam apparatus and inspection method using same
US20030006372A1 (en) * 2001-06-19 2003-01-09 Seiko Instruments, Inc. Automatic focusing system for scanning electron microscope equipped with laser defect detection function
US20030025087A1 (en) * 2001-08-01 2003-02-06 Aspex, Llc Apparatus for correlating an optical image and a SEM image and method of use thereof

Also Published As

Publication number Publication date
EP1979926A2 (de) 2008-10-15
WO2007090537A2 (de) 2007-08-16
US7888643B2 (en) 2011-02-15
JP2009525571A (ja) 2009-07-09
US20080315120A1 (en) 2008-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007090537A3 (de) Fokussier- und positionierhilfseinrichtung für ein teilchenoptisches rastermikroskop
EP1950613A3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Laserzeichnung
US8785810B2 (en) Laser optical system, repair apparatus and method using the same
WO2007079397A3 (en) Autofocus method and system for an automated microscope
WO2001067154A3 (en) A microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus
WO2008003788A3 (de) Ophthalmoskop
ATE405860T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur verminderung von speckle
WO2006133291A3 (en) Transmission ion miscroscope
WO2008027316A3 (en) Auto-focusing method for an automatic data collection device
TW200628868A (en) Image inspection system for correcting focal position in autofocusing
EP1862838A3 (de) Laserscan-Mikroskop und mikroskopisches Überwachungsverfahren
WO2006117172A3 (de) Einrichtung und verfahren zur reproduzierbaren einstellung der pinholeöffnung und pinholelage in laserscanmikroskopen
EP1586931A3 (de) Konfokales Spaltmikroskop und Verfahren
EP1792739A3 (de) Bilderzeugungsvorrichtung mit verbesserter Verbinderanordnung für eine optische Abtasteinheit
TW200735249A (en) Visual inspection apparatus
JP5527274B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
EP1353213A3 (de) Lichtquelleneinheit und damit versehenes optisches Abtastgerät
KR20150121334A (ko) 멀티 모달 레이저 가공 장치
US8248603B2 (en) Focus apparatus of image measuring system
JP2009206354A (ja) 電子部品実装機の画像認識装置及び画像認識方法
JP2008107130A (ja) レーザー墨出し器用レーザーヘッド
TW200702871A (en) Control apparatus, control method, computer program product, and camera
WO2008010120A3 (en) Employing beam scanning for optical detection
US20100220292A1 (en) Vision measuring system and assistant focusing system thereof
EP2028518A4 (de) Mikroskop

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007703114

Country of ref document: EP

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 07703114

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A2

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2008552732

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE