WO2006090580A1 - シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置 - Google Patents

シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2006090580A1
WO2006090580A1 PCT/JP2006/302088 JP2006302088W WO2006090580A1 WO 2006090580 A1 WO2006090580 A1 WO 2006090580A1 JP 2006302088 W JP2006302088 W JP 2006302088W WO 2006090580 A1 WO2006090580 A1 WO 2006090580A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
sheet body
stage
positioning
intake
hole
Prior art date
Application number
PCT/JP2006/302088
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Kazuhiro Terada
Takashi Koizumi
Original Assignee
Fujifilm Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corporation filed Critical Fujifilm Corporation
Publication of WO2006090580A1 publication Critical patent/WO2006090580A1/ja

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70791Large workpieces, e.g. glass substrates for flat panel displays or solar panels
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

Definitions

  • the present invention relates to a sheet body positioning and holding method and mechanism for positioning and holding a sheet body at a predetermined position of a stage, and a drawing apparatus using the same.
  • an exposure apparatus that manufactures a multilayer printed wiring board such as a liquid crystal display or a plasma display by controlling a laser beam according to a desired image pattern and exposing and scanning a sheet made of a photosensitive material.
  • a multilayer printed wiring board such as a liquid crystal display or a plasma display by controlling a laser beam according to a desired image pattern and exposing and scanning a sheet made of a photosensitive material.
  • a general object of the present invention is to provide a sheet body positioning and holding method and mechanism capable of easily and quickly performing a process of attaching and detaching a sheet body to and from a stage, and a drawing apparatus using the same.
  • a main object of the present invention is to provide a sheet body positioning and holding method and mechanism that can be attached to and detached from a stage without damaging the sheet body, and a drawing apparatus using the same.
  • Another object of the present invention is to provide a sheet body positioning and holding method and mechanism capable of positioning a sheet body with respect to a stage with high accuracy, and a drawing apparatus using the same.
  • FIG. 1 is an external perspective view of an exposure apparatus according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic block diagram of an exposure head in the exposure apparatus of the present embodiment.
  • FIG. 3 is an exploded structural view of an exposure stage in the exposure apparatus of the present embodiment.
  • FIG. 4 is an explanatory view of an intake / exhaust structure of an exposure stage in the exposure apparatus of the present embodiment.
  • FIG. 1 shows an exposure apparatus 10 that performs an exposure process on a printed wiring board or the like that is a drawing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • the exposure apparatus 10 includes a surface plate 14 with extremely small deformation supported by a plurality of legs 12, and an exposure stage 18 reciprocates in the direction of the arrow via two guide rails 16 on the surface plate 14. Installed as possible.
  • a rectangular substrate F (sheet body) coated with a photosensitive material is sucked and held.
  • a gate-shaped column 20 is installed so as to straddle the guide rail 16.
  • Cameras 22a and 22b for detecting alignment marks recorded on the substrate F are fixed to one side of the column 20, and a plurality of exposures for exposing and recording images on the substrate F are fixed to the other side.
  • the scanner 26 in which the heads 24a to 24j are positioned and held is fixed. Note that the exposure heads 24a to 24j are arranged in a staggered manner in two rows in a direction perpendicular to the scanning direction of the substrate F (the moving direction of the exposure stage 18).
  • FIG. 2 shows the configuration of each exposure head 24a-24j.
  • laser beams L output from a plurality of semiconductor lasers constituting the light source unit 28 are combined with the exposure heads 24a to 24j. Waves are introduced through the optical fiber 30.
  • a rod lens 32, a reflection mirror 34, and a digital 'micromirror' device (DMD) 36 are arranged in order at the exit end of the optical fiber 30 into which the laser beam L is introduced.
  • DMD digital 'micromirror' device
  • the DMD 36 is configured by oscillating a number of microphone aperture mirrors arranged in a lattice on an SRAM cell (memory cell), and on the surface of each micro mirror. A material with high reflectivity, such as aluminum, is deposited.
  • SRAM cell memory cell
  • first imaging optical lenses 44 and 46 which are magnifying optical systems, corresponding to each micromirror of the DMD 36.
  • a microlens array 48 provided with lenses and second imaging optical lenses 50 and 52 which are zoom optical systems are arranged in this order.
  • microaperture arrays 54 and 56 are provided for removing stray light and adjusting the laser beam L to a predetermined diameter.
  • FIG. 3 is a block diagram of the exposure stage 18 that positions and holds the substrate F.
  • the exposure stage 18 includes a base 58 that moves along the guide rail 16 and a support plate 60 that is screwed onto the base 58 and supports the substrate F.
  • a large number of holes 62 are formed in the upper surface portion of the support plate 60 so as to be arranged vertically and horizontally. Further, a screw hole 66 is formed in the peripheral edge portion of the support plate 60 and in a predetermined portion inside thereof in order to screw the support plate 60 to the base 58.
  • recessed portions 70a and 70b divided into a plurality of regions by a convex partition 68 so as to substantially correspond to each size of the substrate F positioned and held on the support plate 60. It is formed.
  • An intake hole 72 that communicates with the hole 62 of the support plate 60 is formed in the recess 70a.
  • exhaust holes 74 communicating with the holes 62 of the support plate 60 are formed in the recesses 70b between the partitions 68 formed in the central portion of the base 58 and the predetermined front and rear portions.
  • a screw hole 75 is formed at a portion corresponding to the screw hole 66 of the support plate 60.
  • FIG. 4 shows a partial sectional view of the exposure stage 18 on which the substrate F is mounted.
  • the intake hole 72 formed in the recess 70 a and the exhaust hole 74 formed in the recess 70 b are isolated by the partition 68.
  • a vacuum suction source 78 (fluid suction source) is connected to the suction hole 72 via a solenoid valve 76.
  • a compressed air supply source 82 (fluid supply source) is connected to the exhaust hole 74 via an electromagnetic valve 80.
  • the solenoid valves 76 and 80 are controlled by the valve control unit 84.
  • the exposure apparatus 10 of the present embodiment is basically configured as described above, and the operation thereof will be described next.
  • the solenoid control unit 84 sets the solenoid valve 76 communicating with the intake hole 72 of the base 58 to the OFF state, while setting the solenoid valve 80 connected to the exhaust hole 74 of the base 58 to the ON state. Then, compressed air is supplied to the exhaust hole 74 from the compressed air supply source 82 via the solenoid valve 80. The compressed air supplied to the exhaust hole 74 is discharged from the hole 62 of the support plate 60 to the upper part. In this state, the substrate F is placed on the basis of a positioning member (not shown) disposed on the support plate 60. It is preferable that the amount of compressed air discharged from the hole 62 is set to such an extent that the substrate F to be placed does not float.
  • the valve control unit 84 sets the electromagnetic valve 80 communicating with the exhaust hole 74 to an OFF state.
  • the electromagnetic valve 76 communicating with the suction hole 72 is set to the on state, and air is sucked from the suction hole 72 by the vacuum suction source 78.
  • the substrate F is sucked and held at a predetermined position of the support plate 60 by the air sucked from the hole 62.
  • the exposure stage 18 moves in one direction along the guide rail 16 of the surface plate 14.
  • the cameras 22a and 22b are placed at predetermined positions on the substrate F.
  • the read alignment mark position data is used as position correction data for the substrate F.
  • the exposure stage 18 moves in the other direction, and the scanner 26 starts image exposure processing on the substrate F.
  • the laser beam L output from the light source unit 28 is introduced into the exposure heads 24 a to 24 j via the optical fiber 30.
  • the introduced laser beam L is incident on the DMD 36 through the reflecting mirror 34 as well as the rod lens 32 force.
  • the drawing data is corrected by the position correction data and supplied to the DMD 36, and each micromirror constituting the DMD 36 is controlled on and off.
  • the laser beam L selectively reflected in a desired direction by each micromirror 40 constituting the DMD 36 is expanded by the first imaging optical lenses 44 and 46, and then the microaperture array 54, the microlens array 48, and the microlens It is adjusted to a predetermined diameter via the aperture array 56, and then adjusted to a predetermined magnification by the second imaging optical lenses 50 and 52 and guided to the substrate F.
  • the exposure stage 18 moves along the surface plate 14, and a desired two-dimensional image is provided on the substrate F by a plurality of exposure heads 24a to 24j arranged in a direction orthogonal to the moving direction of the exposure stage 18. Is recorded by exposure.
  • the substrate F is removed from the exposure stage 18. That is, the solenoid control unit 84 sets the solenoid valve 76 communicating with the intake hole 72 of the base 58 to the OFF state again, while setting the solenoid valve 80 communicating with the exhaust hole 74 of the base 58 to the ON state. Then, compressed air is supplied to the exhaust hole 74 from the compressed air supply source 82 via the solenoid valve 80. The compressed air supplied to the exhaust holes 74 is supplied to the back surface of the substrate F from the holes 62 of the support plate 60. As a result, since the suction state of the substrate F held on the support plate 60 is released, the substrate F can be easily detached from the support plate 60.
  • the valve control unit 84 connects the vacuum suction source 78 only to the intake hole 72 or the exhaust hole 74 in a range corresponding to the size of the substrate F placed on the support plate 60, or By selectively turning on and off the solenoid valve 76 and the solenoid valve 80 so as to connect the compressed air supply source 82, the adsorption and detachment processing of the substrate F can be performed with the minimum necessary energy. Also, an intake hole 72 for sucking the substrate F and an exhaust hole for peeling the substrate F For example, even if dust is sucked together with air from the intake hole 72, the situation where dust is led out from the intake hole 72 to the substrate F side at the time of exhausting does not occur. Therefore, it is possible to maintain the substrate F in a good state where there is no possibility that the substrate F is damaged by the movement of dust accompanying air suction and exhaust.
  • the above-described exposure apparatus 10 is, for example, a dry film resist (DFR) exposure process in a printed wiring board (PWB) manufacturing process and a liquid crystal display (LCD) manufacturing process. It can be suitably used for applications such as color filter formation, DFR exposure in TFT manufacturing processes, and DFR exposure in plasma “display” panel (PDP) manufacturing processes.
  • the present invention is not limited to the exposure apparatus, and can be similarly applied to, for example, a drawing apparatus provided with an ink jet recording head.

Abstract

 シート体を損傷することなく、ステージに対するシート体の着脱処理を容易且つ迅速に行う。露光ステージ18に基板Fを位置決め固定する場合、排気孔74より所定量の空気を排出させた状態で基板Fを支持プレート60上に載置し、次いで、吸気孔72より空気を吸引させて基板Fを吸着する。また、露光ステージ18から基板Fを剥離する場合、排気孔74より所定量の空気を排出させて吸着状態を解除する。

Description

明 細 書
シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置 技術分野
[0001] 本発明は、ステージの所定位置にシート体を位置決め保持するシート体位置決め 保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置に関する。
背景技術
[0002] 例えば、所望の画像パターンに従ってレーザビームを制御し、感光材料からなるシ 一ト体を露光走査することにより、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ等のフィル タゃ多層プリント配線基板を製造する露光装置が開発されている (特開 2004— 621 55号公報参照)。
[0003] このような露光装置では、シート体の所定位置に画像を記録するため、シート体を 露光ステージに高精度に位置決め保持させる必要がある。特に、カラー液晶ディス プレイのカラーフィルタや多層プリント配線基板のように、同一のシート体の着脱を繰 り返しながら所定のパターンを所定位置に重ねて露光記録しなければならないもの においては、パターン間の位置ずれを回避するため、シート体の位置決め精度を確 保することが極めて重要である。
[0004] この場合、露光ステージにシート体を位置決め保持する方法としては、露光ステー ジに多数の吸気孔を形成し、載置されたシート体を吸気孔を介して吸着保持するの が一般的である。
発明の開示
[0005] ところで、露光ステージに吸着保持されたシート体を剥離するには、露光ステージと シート体との間の真空状態を破壊しなければならないが、吸着状態を解除して力も真 空が破壊されるまでにかなりの時間を要するため、シート体の取り外し作業に時間が 力かってしまうおそれがある。また、多層プリント配線基板のように、シート体の両面に 露光記録を行う必要があるワークの場合、作業者等によるシート体の着脱のタイミン グと、露光ステージによるシート体の吸着保持及び吸着解除のタイミングとが合わな いと、シート体を損傷してしまうおそれがある。 [0006] 本発明の一般的な目的は、ステージに対するシート体の着脱処理を容易且つ迅速 に行うことができるシート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装 置を提供することにある。
[0007] 本発明の主たる目的は、ステージに対して、シート体を損傷することなく着脱するこ とができるシート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置を提 供することにある。
[0008] 本発明の他の目的は、ステージに対してシート体を高精度に位置決めすることにで きるシート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置を提供する ことにある。
図面の簡単な説明
[0009] [図 1]本実施形態の露光装置の外観斜視図である。
[図 2]本実施形態の露光装置における露光ヘッドの概略構成図である。
[図 3]本実施形態の露光装置における露光ステージの分解構成図である。
[図 4]本実施形態の露光装置における露光ステージの吸排気構造の説明図である。 発明を実施するための最良の形態
[0010] 図 1は、本発明の実施形態に係る描画装置であるプリント配線基板等の露光処理 を行う露光装置 10を示す。露光装置 10は、複数の脚部 12によって支持された変形 の極めて小さい定盤 14を備え、この定盤 14上には、 2本のガイドレール 16を介して 露光ステージ 18が矢印方向に往復移動可能に設置される。露光ステージ 18には、 感光材料が塗布された矩形状の基板 F (シート体)が吸着保持される。
[0011] 定盤 14の中央部には、ガイドレール 16を跨ぐようにして門型のコラム 20が設置され る。このコラム 20の一方の側部には、基板 Fに記録されたアラインメントマークを検出 するカメラ 22a、 22bが固定され、他方の側部には、基板 Fに対して画像を露光記録 する複数の露光ヘッド 24a〜24jが位置決め保持されたスキャナ 26が固定される。な お、露光ヘッド 24a〜24jは、基板 Fの走査方向(露光ステージ 18の移動方向)と直 交する方向に 2列で千鳥状に配列される。
[0012] 図 2は、各露光ヘッド 24a〜24jの構成を示す。露光ヘッド 24a〜24jには、例えば 、光源ユニット 28を構成する複数の半導体レーザから出力されたレーザビーム Lが合 波され光ファイバ 30を介して導入される。レーザビーム Lが導入された光ファイバ 30 の出射端には、ロッドレンズ 32、反射ミラー 34、及びデジタル 'マイクロミラー'デバィ ス(DMD) 36が順に配列される。
[0013] ここで、 DMD36は、 SRAMセル (メモリセル)の上に格子状に配列された多数のマ イク口ミラーを揺動可能な状態で配置したものであり、各マイクロミラーの表面には、ァ ルミ-ゥム等の反射率の高 、材料が蒸着されて 、る。 SRAMセルに DMD制御ュ- ット 42から描画データに従ったデジタル信号が書き込まれると、その信号に応じて各 マイクロミラーが所定方向に傾斜し、その傾斜状態に従ってレーザビーム Lのオンォ フ状態が実現される。
[0014] オンオフ状態が制御された DMD36によって反射されたレーザビーム Lの射出方 向には、拡大光学系である第 1結像光学レンズ 44、 46、 DMD36の各マイクロミラー に対応して多数のレンズを配設したマイクロレンズアレー 48、ズーム光学系である第 2結像光学レンズ 50、 52が順に配列される。なお、マイクロレンズアレー 48の前後に は、迷光を除去するとともに、レーザビーム Lを所定の径に調整するためのマイクロア パーチヤアレー 54、 56が配設される。
[0015] 図 3は、基板 Fを位置決め保持する露光ステージ 18の構成図である。露光ステージ 18は、ガイドレール 16に沿って移動する基台 58と、基台 58上にねじ止めされ、基板 Fを支持する支持プレート 60とから構成される。
[0016] 支持プレート 60の上面部には、多数の孔部 62が縦横に配列して形成される。また 、支持プレート 60の周縁部及び内部の所定部位には、支持プレート 60を基台 58に ねじ止めするためにねじ孔 66が形成される。
[0017] 基台 58の上面部には、支持プレート 60に位置決め保持される基板 Fの各サイズに 略対応するように、凸状のパーティション 68によって複数の領域に区分けされた凹部 70a, 70bが形成される。凹部 70aには、支持プレート 60の孔部 62に連通する吸気 孔 72が形成される。また、基台 58の中央部及び前後の所定部位に形成されるパー テイシヨン 68の間の凹部 70bには、支持プレート 60の孔部 62に連通する排気孔 74 が形成される。さらに、支持プレート 60のねじ孔 66に対応する部位には、ねじ孔 75 が形成される。 [0018] 図 4は、基板 Fが装着された露光ステージ 18の一部断面図を示す。凹部 70aに形 成される吸気孔 72と、凹部 70bに形成される排気孔 74とは、パーティション 68によつ て隔絶される。吸気孔 72には、電磁弁 76を介して真空吸引源 78 (流体吸引源)が接 続される。また、排気孔 74には、電磁弁 80を介して圧縮空気供給源 82 (流体供給源 )が接続される。なお、電磁弁 76、 80は、バルブ制御ユニット 84によって制御される
[0019] 本実施形態の露光装置 10は、基本的には以上のように構成されるものであり、次 に、その動作について説明する。
[0020] 先ず、露光ステージ 18に基板 Fを載置する場合について説明する。
[0021] ノ レブ制御ユニット 84は、基台 58の吸気孔 72に連通する電磁弁 76をオフ状態に 設定する一方、基台 58の排気孔 74に連通する電磁弁 80をオン状態に設定し、排気 孔 74に圧縮空気供給源 82から電磁弁 80を介して圧縮空気を供給する。排気孔 74 に供給された圧縮空気は、支持プレート 60の孔部 62から上部に排出される。この状 態において、支持プレート 60上に配設された図示しない位置決め部材を基準として 基板 Fを載置する。なお、孔部 62から排出される圧縮空気の量は、載置する基板 F が浮き上がらない程度に設定しておくと好適である。この場合、位置決め作業を行う 際に、圧縮空気を支持プレート 60を介して供給することにより、支持プレート 60と基 板 Fとの間の摩擦力が低減し、基板 Fを支持プレート 60に摺接させて裏面を損傷し てしまう事態を回避することができる。
[0022] 次に、基板 Fが支持プレート 60上の所定位置に載置されたことを確認した後、バル ブ制御ユニット 84は、排気孔 74に連通する電磁弁 80をオフ状態に設定する一方、 吸気孔 72に連通する電磁弁 76をオン状態に設定し、真空吸引源 78により吸気孔 7 2から空気を吸引する。このとき、基板 Fは、孔部 62から吸引される空気によって支持 プレート 60の所定位置に吸着保持される。
[0023] 以上のようにして基板 Fを露光ステージ 18に位置決め保持させた後、露光処理が 開始される。
[0024] 露光ステージ 18は、定盤 14のガイドレール 16に沿って一方の方向に移動する。露 光ステージ 18がコラム 20間を通過する際、カメラ 22a、 22bが基板 Fの所定位置に記 録されて!/ヽるァライメントマークを読み取る。読み取られたァライメントマークの位置デ ータは、基板 Fの位置補正データとして利用される。
[0025] 位置補正データが算出された後、露光ステージ 18は、他方の方向に移動し、スキ ャナ 26により基板 Fに対する画像の露光処理が開始される。
[0026] すなわち、光源ユニット 28から出力されたレーザビーム Lは、光ファイバ 30を介して 各露光ヘッド 24a〜24jに導入される。導入されたレーザビーム Lは、ロッドレンズ 32 力も反射ミラー 34を介して DMD36に入射する。
[0027] 一方、描画データは、前記位置補正データにより補正されて DMD36に供給され、 DMD36を構成する各マイクロミラーがオンオフ制御される。 DMD36を構成する各 マイクロミラー 40により所望の方向に選択的に反射されたレーザビーム Lは、第 1結 像光学レンズ 44、 46によって拡大された後、マイクロアパーチャアレー 54、マイクロ レンズアレー 48及びマイクロアパーチャアレー 56を介して所定の径に調整され、次 いで、第 2結像光学レンズ 50、 52により所定の倍率に調整されて基板 Fに導かれる。 この場合、露光ステージ 18は、定盤 14に沿って移動し、基板 Fには、露光ステージ 1 8の移動方向と直交する方向に配列される複数の露光ヘッド 24a〜24jにより所望の 二次元画像が露光記録される。
[0028] 露光記録処理が終了すると、基板 Fが露光ステージ 18から取り外される。すなわち 、ノ レブ制御ユニット 84は、再び、基台 58の吸気孔 72に連通する電磁弁 76をオフ 状態に設定する一方、基台 58の排気孔 74に連通する電磁弁 80をオン状態に設定 し、排気孔 74に圧縮空気供給源 82から電磁弁 80を介して圧縮空気を供給する。排 気孔 74に供給された圧縮空気は、支持プレート 60の孔部 62から基板 Fの裏面に供 給される。この結果、支持プレート 60に吸着保持されていた基板 Fの吸着状態が解 除されるため、基板 Fを支持プレート 60から容易に離脱させることができる。
[0029] なお、バルブ制御ユニット 84は、支持プレート 60に載置される基板 Fのサイズに対 応する範囲の吸気孔 72又は排気孔 74に対してのみ真空吸引源 78を接続し、又は、 圧縮空気供給源 82を接続するよう、電磁弁 76、電磁弁 80を選択的にオンオフ制御 することにより、必要最小限のエネルギで基板 Fの吸着、離脱処理を遂行することが できる。また、基板 Fを吸引するための吸気孔 72と、基板 Fを剥離するための排気孔 74とが独立に構成されているため、例えば、吸気孔 72から空気とともに塵埃を吸引 したとしても、排気時に吸気孔 72から塵埃が基板 F側に導出されてしまう事態が生じ ることはない。従って、空気の吸引、排気に伴う塵埃の移動によって基板 Fが損傷す るおそれがなぐ基板 Fを良好な状態に維持することができる。
上述した露光装置 10は、例えば、プリント配線基板(PWB : Printed Wiring Bo ard)の製造工程におけるドライ ·フィルム ·レジスト(DFR: Dry Film Resist)の露 光、液晶表示装置 (LCD)の製造工程におけるカラーフィルタの形成、 TFTの製造 工程における DFRの露光、プラズマ 'ディスプレイ 'パネル(PDP)の製造工程におけ る DFRの露光等の用途に好適に用いることができる。また、本発明では、露光装置 に限らず、たとえばインクジェット記録ヘッドを備えた描画装置にも同様して適用する ことが可能である。

Claims

請求の範囲
[1] ステージ(18)の所定位置にシート体 (F)を位置決め保持するシート体位置決め保 持機構において、
前記ステージ(18)は、
前記シート体 (F)に対応した所定個所に形成される複数の吸気孔 (72)と、 前記シート体 (F)に対応した所定個所に形成される複数の排気孔 (74)とを備え、 前記吸気孔(72)を介した吸気作用により前記シート体 (F)を前記ステージ(18)に 吸着保持する一方、前記排気孔 (74)を介した排気作用により前記シート体 (F)の吸 着状態を解除することを特徴とするシート体位置決め保持機構。
[2] 請求項 1記載の機構にお!、て、
前記ステージ(18)は、
前記吸気孔(72)及び前記排気孔(74)が形成され、パーティション (68)によって 前記吸気孔 (72)及び前記排気孔 (74)が相互に隔絶されて構成される基台(58)と 前記吸気孔(72)及び前記排気孔(74)に連通する多数の孔部(62)を有し、前記 基台(58)上に装着されて前記シート体 (F)を支持する支持プレート (60)と、 力 構成されることを特徴とするシート体位置決め保持機構。
[3] 請求項 2記載の機構にお 、て、
前記吸気孔(72)及び前記排気孔(74)は、凸部からなる前記パーティション (68) によって隔絶された複数の凹部(70a、 70b)に配設されることを特徴とするシート体 位置決め保持機構。
[4] 請求項 1記載の機構において、
前記吸気孔(72)には、流体吸引源(78)が接続され、前記排気孔(74)には、流体 供給源 (82)が接続されることを特徴とするシート体位置決め保持機構。
[5] 請求項 4記載の機構にぉ ヽて、
前記吸気孔(72)と前記流体吸引源(78)との間、及び、前記排気孔(74)と前記流 体供給源 (82)との間には、流体通路をオンオフする切替手段 (76、 80)が配設され ることを特徴とするシート体位置決め保持機構。
[6] ステージ(18)の所定位置にシート体 (F)を位置決め保持するシート体位置決め保 持方法において、
前記ステージ(18)に形成された排気孔 (74)を介して気体を排気させた状態で、 前記ステージ(18)の所定位置に前記シート体 (F)を載置するステップと、
前記ステージ(18)に前記シート体 (F)が載置された後、前記ステージ(18)に形成 された吸気孔(72)を介して吸気し、前記シート体 (F)を前記ステージ(18)に吸着保 持させるステップと、
カゝらなることを特徴とするシート体位置決め保持方法。
[7] 請求項 6記載の方法において、
前記排気孔(74)を介して気体を排気させることにより、前記ステージ(18)に吸着 保持された前記シート体 (F)の吸着状態を解除するステップを有することを特徴とす るシート体位置決め保持方法。
[8] ステージ(18)の所定位置に位置決め保持されたシート体 (F)に対して描画を行う 描画装置において、
前記ステージ(18)は、
前記シート体 (F)に対応した所定個所に形成される複数の吸気孔 (72)と、 前記シート体 (F)に対応した所定個所に形成される複数の排気孔 (74)とを備え、 前記吸気孔(72)を介した吸気作用により前記シート体 (F)を前記ステージ(18)に 吸着保持する一方、前記排気孔 (74)を介した排気作用により前記シート体 (F)の吸 着状態を解除することを特徴とする描画装置。
[9] 請求項 8記載の描画装置において、
前記ステージ(18)は、前記シート体 (F)を吸着保持した状態で一方向に移動可能 に構成され、前記一方向と直交する方向に前記シート体 (F)を走査して描画する描 画ヘッド (26)を備えることを特徴とする描画装置。
PCT/JP2006/302088 2005-02-24 2006-02-07 シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置 WO2006090580A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005-049646 2005-02-24
JP2005049646A JP2006235238A (ja) 2005-02-24 2005-02-24 シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006090580A1 true WO2006090580A1 (ja) 2006-08-31

Family

ID=36927222

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2006/302088 WO2006090580A1 (ja) 2005-02-24 2006-02-07 シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2006235238A (ja)
WO (1) WO2006090580A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006235238A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5292980B2 (ja) * 2008-08-05 2013-09-18 ウシオ電機株式会社 ワークステージおよびこのワークステージを使った露光装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61258239A (ja) * 1985-05-10 1986-11-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd シ−ト材の吸着保持装置
JPH01125549U (ja) * 1988-02-22 1989-08-28
JPH03101119A (ja) * 1989-09-14 1991-04-25 Hitachi Electron Eng Co Ltd 基板チャック機構
JPH06123924A (ja) * 1992-10-12 1994-05-06 Nikon Corp 基板ホルダ
JPH07287310A (ja) * 1994-04-15 1995-10-31 Fuji Photo Film Co Ltd 感光材料吸着装置
JP2003015309A (ja) * 2001-06-29 2003-01-17 Pentax Corp 多重露光描画方法及び多重露光描画装置
JP2003337426A (ja) * 2002-05-20 2003-11-28 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置
JP2005003799A (ja) * 2003-06-10 2005-01-06 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性板状部材吸着機構及び画像記録装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01125549A (ja) * 1987-11-10 1989-05-18 Mitsubishi Electric Corp 内燃機関の排気ガス還流制御弁
JP2006235238A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61258239A (ja) * 1985-05-10 1986-11-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd シ−ト材の吸着保持装置
JPH01125549U (ja) * 1988-02-22 1989-08-28
JPH03101119A (ja) * 1989-09-14 1991-04-25 Hitachi Electron Eng Co Ltd 基板チャック機構
JPH06123924A (ja) * 1992-10-12 1994-05-06 Nikon Corp 基板ホルダ
JPH07287310A (ja) * 1994-04-15 1995-10-31 Fuji Photo Film Co Ltd 感光材料吸着装置
JP2003015309A (ja) * 2001-06-29 2003-01-17 Pentax Corp 多重露光描画方法及び多重露光描画装置
JP2003337426A (ja) * 2002-05-20 2003-11-28 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置
JP2005003799A (ja) * 2003-06-10 2005-01-06 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性板状部材吸着機構及び画像記録装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006235238A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006235238A (ja) 2006-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5877005B2 (ja) 基板処理装置、基板保持装置、および、基板保持方法
KR101689049B1 (ko) 패턴형성장치, 패턴형성방법 및 디바이스 제조방법
WO2006100842A1 (ja) シート体保持機構及びそれを用いた描画装置
JPH0786157A (ja) 画像投射装置および方法
JPH10116760A (ja) 露光装置及び基板保持装置
TWI564986B (zh) 物體之搬出方法、物體之更換方法、物體保持裝置、曝光裝置、平面顯示器之製造方法、及元件製造方法
JP5682106B2 (ja) 基板処理方法、及び基板処理装置
JP5934542B2 (ja) 基板保持装置、および、基板処理装置
JP2003332411A (ja) 基板保持装置及び露光装置
KR100748445B1 (ko) 리소그래피 패터닝 디바이스용 안전 메커니즘
JP2006232477A (ja) シート体位置決め治具及びそれを用いた描画装置
JP5424803B2 (ja) 露光装置
WO2006090580A1 (ja) シート体位置決め保持方法及び機構並びにそれを用いた描画装置
JP2007220987A (ja) 平面板の保持体
JP4086651B2 (ja) 露光装置及び基板保持装置
JP5741927B2 (ja) 物体搬出方法、物体交換方法、物体保持装置、物体交換システム、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
TW201835965A (zh) 電子束裝置及曝光方法、以及元件製造方法
JP2007214336A (ja) 保持装置、保持方法、ステージ装置、露光装置、デバイスの製造方法
JP4382054B2 (ja) リソグラフィ装置、およびフラットパネルディスプレイハンドラを使用するデバイス製造方法
JP2012238776A (ja) 物体交換システム、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び物体交換方法
JP6347285B2 (ja) 物体処理装置、露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
JP6015984B2 (ja) 物体搬出方法、物体交換方法、物体保持装置、物体交換システム、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
WO2006101086A1 (ja) 露光装置、露光方法及びマイクロデバイスの製造方法
JP6186678B2 (ja) 物体交換方法、物体交換システム、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
JP6631655B2 (ja) 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法及びデバイスの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 06713231

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWW Wipo information: withdrawn in national office

Ref document number: 6713231

Country of ref document: EP