WO2006070612A1 - 画像表示装置 - Google Patents

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WO2006070612A1
WO2006070612A1 PCT/JP2005/023065 JP2005023065W WO2006070612A1 WO 2006070612 A1 WO2006070612 A1 WO 2006070612A1 JP 2005023065 W JP2005023065 W JP 2005023065W WO 2006070612 A1 WO2006070612 A1 WO 2006070612A1
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WO
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layer
divided
voltage
metal back
resistance
Prior art date
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PCT/JP2005/023065
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hirotaka Murata
Keiji Suzuki
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Toshiba
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kabushiki Kaisha Toshiba filed Critical Kabushiki Kaisha Toshiba
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Priority to US11/768,245 priority patent/US7626325B2/en

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/10Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
    • H01J31/12Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen
    • H01J31/123Flat display tubes
    • H01J31/125Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection
    • H01J31/127Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection using large area or array sources, i.e. essentially a source for each pixel group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2329/00Electron emission display panels, e.g. field emission display panels
    • H01J2329/18Luminescent screens
    • H01J2329/28Luminescent screens with protective, conductive or reflective layers

Definitions

  • the present invention relates to an image display device, and more particularly to a flat-type image display device using electron-emitting devices.
  • FED field-emission display
  • SEDs surface-conduction electron-emission displays
  • the FED has: a front substrate and a rear substrate that are arranged to face each other with a narrow gap of about 2 mm to 2 mm, and these substrates are joined to each other at peripheral portions via rectangular frame-shaped side walls. By doing so, a vacuum envelope is configured.
  • the inside of the vacuum vessel the degree of vacuum is maintained in the 10- 4 Pa extent following a high vacuum.
  • a plurality of spacers are provided between the two substrates.
  • a phosphor screen including red, blue, and green phosphor layers is formed on the inner surface of the front substrate, and a plurality of electron-emitting devices that emit electrons that emit light by exciting the phosphor on the inner surface of the rear substrate. Is provided. On the back substrate, a large number of scanning lines and signal lines are formed in a matrix and connected to each electron-emitting device. An anode voltage is applied to the phosphor screen, and the electron beam emitted from the electron-emitting device is accelerated by the anode voltage and collides with the phosphor screen, whereby the phosphor emits light and an image is displayed.
  • the FED configured as described above, in order to obtain practical display characteristics, a phosphor similar to a normal cathode ray tube is used, and an aluminum thin film called a metal back is formed on the phosphor. It is necessary to use the phosphor screen on which the is formed. In this case, the anode applied to the phosphor screen It is desirable that the load voltage be at least several kV, preferably 10 kV or higher.
  • the gap between the front substrate and the rear substrate cannot be increased so much from the viewpoint of the characteristics of the spacer, and is set to about 1 to 2 mm. Therefore, in FED, it is inevitable that a strong electric field is formed in the gap between the front substrate and the rear substrate, and discharge between the two substrates becomes a problem.
  • discharge damage If no measures are taken for suppressing discharge damage, the discharge will cause destruction and deterioration of the electron-emitting device, the fluorescent screen, the driver IC, and the drive circuit. These are collectively referred to as discharge damage. In situations where discharge damage occurs, in order to put FED into practical use, it is necessary to ensure that no discharge occurs over a long period of time. However, it is very difficult to achieve this.
  • a measure for reducing the discharge current is important so that even if a discharge occurs, discharge damage does not occur or can be suppressed to a negligible level.
  • a technique for dividing the metal back is known.
  • a getter layer may be formed on the metal back to maintain a vacuum. In this case, it is necessary to divide the getter. After that, the term "metal back" or "divided metal back" is used for convenience.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 10-326583 discloses a basic configuration for one-dimensional division.
  • Patent Document 1 Example 9
  • Patent Document 2 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-243893
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. 2004-158232
  • Patent Documents 1 and 3 disclose a configuration in which a resistance layer is provided between the divided metal backs.
  • Patent Document 2 discloses a configuration in which each divided metal back is connected to a power supply line via a resistance layer.
  • the split metal bar Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2000-251797 also discloses providing a resistance layer between the hooks.
  • a getter film may be formed over the metal back to maintain the degree of vacuum in the envelope.
  • two-dimensional cutting for example, it is possible to apply a technique for dividing a getter film using surface irregularities as disclosed in JP-A-2003-068237 and JP-A-2004-335346. It is.
  • An important electrical parameter in the two-dimensional divided structure is the resistance Rx, Ry between the divided metal backs in the X direction and the Y direction.
  • the X direction and Y direction correspond to the major axis direction and minor axis direction assuming a typical landscape screen FED, but the general definition will be described later.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a high-performance and low-cost image display device that reduces the discharge current.
  • the discharge current reduction performance of two-dimensional division is complicatedly associated with various factors such as brightness, definition, life, reliability, mass productivity, and cost of the display device. For this reason, if the discharge current reduction performance can be enhanced as much as possible under various restrictions, a higher performance and lower cost image display device can be realized.
  • an image display device covers a phosphor layer, a resistance layer provided between the phosphor layers, the phosphor layer, and at least a part of the resistance layer.
  • the gap is divided by a gap Gx
  • the second direction Y the direction of the image display, is divided by a gap Gy.
  • Rx (V) as a function of voltage V [V]
  • Ry (V) as a function of voltage V [V].
  • Rx (100) / Rx (l) ⁇ Ry (100) / Ry (l).
  • An image display device covers a phosphor layer, a resistance layer provided between the phosphor layers, the phosphor layer, and at least a part of the resistance layer.
  • the first direction X which is perpendicular to the scanning direction of the image display, it is divided by the gap Gx
  • the second direction Y which is the scanning direction of the image display, the divided methanol back divided by the gap Gy.
  • a high voltage application that applies a high voltage to the layer, the divided getter layer divided in the first direction X by a gap Gxg, and divided in the second direction Y by a gap Gyg, and the divided metal back layer Means, and a back substrate provided opposite to the front substrate and provided with a plurality of electron-emitting devices, and the resistance between the divided getters between the gaps Gxg is set to a voltage V [V ] As a function of Rxg (V) and the gap Gyg When the Ryg (V) to chromatography resistance between as a function of voltage V [V], a Rxg (100) / Rxg (l) ⁇ Ryg (100) / Ryg (l).
  • FIG. 1 is a perspective view showing an FED according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a sectional view of the FED taken along line II II in FIG.
  • FIG. 3 is a plan view showing a phosphor screen of a front substrate in the FED.
  • FIG. 4 is an enlarged plan view showing the phosphor screen and the resistance adjustment layer of the FED.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the phosphor screen and the like along line VV in FIG.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of the phosphor screen and the like along line VI-VI in FIG.
  • FIG. 7 is a plan view showing the front substrate of the FED and its equivalent circuit.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view showing a phosphor screen and the like of an FED according to a second embodiment of the present invention.
  • the FED includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of a rectangular glass plate, and these substrates are arranged to face each other with a gap of 1 to 2 mm.
  • Front substrate 11 and rear substrate 12 the peripheral edge portions through a rectangular frame-shaped side wall 13 is joined, flat rectangular vacuum envelope whose inside is maintained at a high vacuum of about 10- 4 Pa 10 is composed.
  • the side wall 13 is sealed to the peripheral portion of the front substrate 11 and the peripheral portion of the back substrate 12 by, for example, a sealing material 23 such as low melting point glass or low melting point metal, and these substrates are bonded to each other.
  • a phosphor screen 15 is formed on the inner surface of the front substrate 11.
  • the phosphor screen 15 includes phosphor layers R, G, and B that emit red, green, and blue light and a matrix-shaped light shielding layer 17.
  • a metal back layer 20 having aluminum as a main component and functioning as an anode electrode is formed on the phosphor screen 15.
  • a getter film 22 is formed on the metal back layer 20.
  • a predetermined anode voltage is applied to the metal back layer 20. The detailed structure of the phosphor screen will be described later.
  • each electron-emitting device 18 is arranged IJ in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to the pixels.
  • Each electron-emitting device 18 includes an electron-emitting portion (not shown) and a pair of device electrodes for applying a voltage to the electron-emitting portion.
  • a large number of wirings 21 for driving the electron-emitting devices 18 are provided in a matrix shape, and the end portions are drawn out of the vacuum envelope 10.
  • a large number of plate-like spacers 14 are arranged between the back substrate 12 and the front substrate 11 in order to support the atmospheric pressure acting on these substrates.
  • Each of the spacers 14 extends in the longitudinal direction of the rear substrate 12 and is disposed at a predetermined interval in the width direction of the rear substrate.
  • the spacer is not limited to a plate shape, but may be a columnar spacer.
  • an anode voltage is applied to the phosphor layers R, G, B via the metal back layer 20, and the electron beam emitted from the electron emitter 18 is anodeed. It is accelerated by voltage and collides with the fluorescent layer. As a result, the corresponding phosphor layers R, G, B are excited to emit light and display a color image.
  • the phosphor screen 15 has a number of rectangular phosphor layers R, G, and B that emit red, blue, and green light.
  • the phosphor layers R, G, and B In the case of an FED having a horizontally long screen, if the major axis direction is the first direction X and the minor axis direction is the second direction Y, the phosphor layers R, G, and B have a predetermined gap in the first direction X. In the second direction, phosphor layers of the same color are arranged with a predetermined gap.
  • the phosphor layers R, G, and B are formed by well-known screen printing or photolithography.
  • the light shielding layer 17 has a rectangular frame portion 17a extending along the peripheral edge portion of the front substrate 11, and a matrix portion 17b extending in a matrix between the phosphor layers R, G, and B inside the rectangular frame portion. is doing.
  • a resistance adjustment layer 30 is formed on the light shielding layer 17.
  • the resistance adjustment layer 30 is adjacent to the plurality of first resistance adjustment layers 31V extending in the second direction Y between the phosphor layers adjacent to each other in the first direction X, respectively.
  • a plurality of second resistance adjustment layers 31H extending in the first direction X between the phosphor layers. ing. Since the phosphor layers are arranged in the first direction X along R, G, and B, the first resistance adjustment layer 31V is much narrower than the second resistance adjustment layer 31H.
  • the width of the first resistance adjustment layer 3 IV is 40 ⁇ m
  • the width of the second resistance adjustment layer 31H is 300 ⁇ m.
  • a thin film dividing layer 32 is formed on the resistance adjustment layer 30.
  • the thin film dividing layer 32 is formed on the vertical line portion 33V formed on the first resistance adjustment layer 31V of the resistance adjustment layer 30 and on the second resistance adjustment layer 31H of the resistance adjustment layer 30, respectively. It has a horizontal line 33H.
  • the thin film dividing fault 32 is formed including particles and a binder dispersed at an appropriate density so that the surface is uneven.
  • the thin film formed on the thin film dividing layer 32 by vapor deposition or the like is divided by the unevenness of the thin film dividing layer.
  • the thin film dividing fault 32 is formed slightly narrower than the light shielding layer 17, and as a numerical example, the horizontal line 33H has a width of 260 xm and the vertical line 33V has a width of 20 ⁇ m. ing.
  • a smoothing process using a lacquer or the like is performed to form a phosphor layer.
  • This smoothing film is burned off by firing after the metal back layer 20 is formed.
  • This smoothing process is basically a well-known one such as CRT. In the region of the thin film dividing fault 32, the conditions are controlled so that the smoothing action is lost.
  • the metal back layer 20 is formed over the phosphor layers R, G, B and the thin film dividing layer 32 by a thin film forming process such as vapor deposition.
  • the metal back layer 20 is divided in the first direction X and the second direction Y by the thin film dividing fault 32 to form a divided metal back layer 20a.
  • the divided metal back layer 20a is positioned so as to overlap the phosphor layers R, G, and B, respectively.
  • the gap between the adjacent divided metal back layers 20a is almost the same as the width of the horizontal line 33H and the vertical line 33V of the thin film dividing fault 32, and the first direction X is 20 / im and the second direction.
  • Y is 260 xm.
  • a getter film 22 is further formed on the metal back layer 20.
  • the getter film 22 is formed on the phosphor screen in order to secure a degree of vacuum over a long period of time.
  • the getter film 22 loses its action when exposed to the atmosphere. To prevent this
  • the getter film 22 is formed by a thin film process such as vapor deposition when the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed in a vacuum. Even after the metal back layer 20 is formed, the thin film dividing fault 32 is not lost, so the getter film 22 is also divided into the same pattern as the metal back layer 20. Thus, the divided getter film 22a is formed. Since the getter film 22 is generally divided by a force formed of a conductive metal, the divided metal back layer 20a is electrically connected to each other even if the getter film 22 is formed on the metal back layer 20. can avoid.
  • the major axis direction is the X direction and the minor axis direction is the Y direction.
  • a plurality of running lines extending in the X direction and a plurality of modulation lines extending in the Y direction are formed in a matrix form, and so-called simple matrix driving is performed by these running lines and modulation lines. That is, for example, a scanning signal is applied to the scanning line while sequentially shifting in the Y direction over 1Z60 seconds, and the modulation signal related to the pixel corresponding to the scanning line is applied to the modulation wiring during the period when the scanning signal is applied. Apply to.
  • the present embodiment refers to X and Y. Therefore, the direction perpendicular to the general scanning direction is the X direction and the scanning direction is the Y direction.
  • FIG. 7 shows an equivalent circuit of the front substrate 11.
  • the divided metal back layers 20a arranged in the first direction X are connected by the first resistance adjustment layer 31V. Between the divided metal back layer 20a adjacent to the first direction X, a resistor Rx and a capacitor Cx are formed. The divided metal back layers 20a arranged in the second direction Y are connected by the second resistance adjustment layer 31H. Between the separated metal back layer 20a adjacent to the second direction Y, a resistor Ry and a capacitor Cy are formed.
  • a common electrode 40 extending along each side of the front substrate 11 is formed outside the phosphor screen 15.
  • the divided metal back layer 20a arranged in the second direction Y on the outermost peripheral side is electrically connected to the common electrode 40 via the connection resistance R2x extending in the first direction X.
  • the divided metal back layers 20a arranged in the first direction X on the outermost peripheral side are electrically connected to the common electrode 40 via connection resistors R2y extending in the second direction Y, respectively.
  • the common electrode 40 is connected to an external high voltage power source through a high voltage supply means (not shown). It is.
  • Rx and Ry affect the discharge current with almost the same weight.
  • the voltage applied to Rx and Ry gradually increases and reaches, for example, about several hundred volts to several kV, so the values at high pressures of Rx and Ry are particularly important.
  • the degree of inductive coupling due to capacitances Cx and Cy affects the current increases, and the degree of influence on the discharge current decreases.
  • Ry contributes more to power supply.
  • the voltage applied to Rx and Ry is at most on the order of IV.
  • the voltage at the dividing section increases with a link with the discharge current, and is therefore related to the value at high voltage.
  • the contribution of Cx and Cy is powerful with the discharge current.
  • the desired direction is as follows. From the aspect of power supply, it is advantageous to make Ry as low as possible and Rx as high as possible due to the above-mentioned difference in power supply efficiency. From the viewpoint of suppressing the discharge current, it is advantageous to increase both Rx and Ry. From the standpoint of reducing the voltage between the split metal bucks, it is advantageous to make Rx and Ry as low as possible. However, since the gap between the split metal backs in the X direction is smaller than the gap between the split metal backs in the Y direction, Rx is required to be lower. This trade-off determines the discharge current reduction performance.
  • Rx is kept high at low pressure, so that the increase in discharge current is suppressed at the initial stage, and then Rx is decreased, and the current increase is suppressed and the fragmentation continues.
  • the part generated voltage can be suppressed. Therefore, it is advantageous that Rx (V) is a moderate decreasing function.
  • Rx (V) is substantially determined by the first resistance adjustment layer 31V
  • Ry is substantially determined by the second resistance adjustment layer 31H.
  • the first resistance adjustment layer 31V is formed as a thick film resistor by printing a material containing a binder such as frit glass using resistive metal oxide fine particles as a base material.
  • a thin film resistor is used to particularly increase Ky, but in general, even when a thick film resistor is used, the voltage dependency is the composition ratio of the resistance material used and the binder. Both of them may be formed by thick film resistors.
  • the discharge current reduction performance can be improved more than before, It can also handle stricter allowable current specifications. As a result, it is possible to obtain a display device capable of improving the performance such as brightness, resolution, and life and reducing the cost.
  • the first resistance adjustment layer and the second resistance adjustment layer are formed by the light shielding layer 17 itself.
  • the first and second resistance adjustment layers are made of a material with low reflectivity that is close to the black color required for the light shielding layer while optimizing the resistance as in the first embodiment. Used. This makes it possible to simplify processes, improve yields, and reduce costs.
  • the resistance adjustment layer 30 is a force formed in a matrix shape corresponding to the matrix portion of the light shielding layer 17.
  • the second resistance adjustment layer 31H is provided for every two lines of the pixel. May be.
  • the first resistance adjustment layer 31v can be formed for each pixel when three R, G, and B are combined into one pixel. With such a configuration, the number of divisions of the metal back layer can be reduced, which is advantageous in terms of manufacturing yield. Needless to say, you can select a variety of splitting pitches as long as you can meet your goals.
  • Rx and Ry are formed by the metal back dividing gaps Gx and Gy which are not the same as the getter dividing gaps Gx g and Gyg. Strictly speaking, Rx and Ry are somewhat affected by the thin film dividing material that is formed only by the resistance adjusting material. Therefore, when a getter film is provided, the resistance value after the getter film formation is Rx , Ry.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments as they are, but can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.
  • the gap between the divided metal back layers is not limited to the one formed by removing a part of the metal back layer, and is divided by the thin film dividing layer as described above. It also includes gaps and gaps formed by increasing the resistance value by altering part of the metal back layer by treatment such as oxidation.
  • the dimensions, materials, and the like of each component can be variously selected as needed without being limited to the numerical values and materials shown in the above-described embodiment.
  • the present invention by defining the voltage dependency of the resistance between the divided metal backs, it is possible to improve the discharge current reduction performance more than before, and to display an image that can cope with stricter allowable current specifications.
  • An apparatus can be provided.
  • the performance of the image display device such as brightness, resolution, and life, can be improved, and low cost can be achieved.

Landscapes

  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

 画像表示装置は、前面基板11および前面基板に対向して設けられ複数の電子放出素子を配置した背面基板を備えている。前面基板は、蛍光体層と、蛍光体層の間に設けられた抵抗層と、蛍光体層および少なくとも抵抗層の一部を覆っているとともに、画像表示の走査方向と直交する方向である第1方向XにはギャップGxで複数に分断され、画像表示の走査方向である第2方向YにはギャップGyで複数に分断された分断メタルバック層と、分断メタルバック層に電圧を印加する電圧印加部と、を有している。ギャップGxの両側に位置した前記分断メタルバック間の抵抗を電圧V[V]の関数としてRx(V)、前記ギャップGyの両側に位置した分断メタルバック間の抵抗を電圧V[V]の関数としてRy(V)としたとき、Rx(100)/Rx(1)<Ry(100)/Ry(1)である。

Description

明 細 書
画像表示装置
技術分野
[0001] 本発明は、画像表示装置に係り、特に、電子放出素子を用いた平面型の画像表示 装置に関する。
背景技術
[0002] 近年、次世代の画像表示装置として、電子放出素子を多数並べ、蛍光面と対向配 置させた平面型画像表示装置の開発が進められている。電子放出素子には様々な 種類がある力^、ずれも基本的には電界放出を用いてレ、る。これらの電子放出素子を 用いた表示装置は、一般に、フィールド'ェミッション 'ディスプレイ(以下、 FEDと称 する)と呼ばれている。 FEDの内、表面伝導型電子放出素子を用いた表示装置は、 表面伝導型電子放出ディスプレイ(以下、 SEDと称する)とも呼ばれている力 本願 におレ、ては SEDも含む総称として FEDとレ、う用語を用いる。
[0003] FEDは、:!〜 2mm程度の狭いギャップを置いて対向配置された前面基板および背 面基板を有し、これらの基板は、矩形枠状の側壁を介して周縁部同士を互いに接合 することにより真空外囲器を構成している。真空容器の内部は、真空度が 10— 4Pa程 度以下の高真空に維持されている。背面基板および前面基板に加わる大気圧荷重 を支えるために、両基板間には複数のスぺーサが設けられている。
[0004] 前面基板の内面には赤、青、緑の蛍光体層を含む蛍光面が形成され、背面基板 の内面には、蛍光体を励起して発光させる電子を放出する多数の電子放出素子が 設けられている。背面基板上には、多数の走査線および信号線がマトリックス状に形 成され、各電子放出素子に接続されている。蛍光面にはアノード電圧が印加され、 電子放出素子から出た電子ビームがアノード電圧により加速されて蛍光面に衝突す ることにより、蛍光体が発光し映像が表示される。
[0005] 上記のように構成された FEDにおいて、実用的な表示特性を得るためには、通常 の陰極線管と同様の蛍光体を用い、更に、蛍光体の上にメタルバックと呼ばれるアル ミ薄膜を形成した蛍光面を用いることが必要となる。この場合、蛍光面に印加するァノ ード電圧は最低でも数 kV、できれば 10kV以上にすることが望まれる。
[0006] しかし、前面基板と背面基板との間のギャップは、解像度ゃスぺーサの特性などの 観点からあまり大きくすることはできず、 1〜 2mm程度に設定される。したがって、 FE Dでは、前面基板と背面基板との小さレ、ギャップに強電界が形成されることが避けら れず、両基板間の放電が問題となる。
[0007] 放電ダメージ抑制に関して何の対策も導入しないと、放電により電子放出素子、蛍 光面、ドライバ IC、駆動回路の破壊や劣化が引き起こされる。これらをまとめて放電ダ メージと呼ぶことにする。放電ダメージが起こる状況では、 FEDを実用化するために は、長期間に渡り、放電が絶対に発生しないようにしなければならなレ、。しかし、これ を実現するのは非常に難しレ、。
[0008] そこで、万が一放電が起きても放電ダメージが発生しないか無視できるレベルに抑 制できるように、放電電流を低減する対策が重要となる。このための技術として、メタ ルバックを分断する技術が知られている。 FEDの構成によってはメタルバックの上に 真空度維持のためのゲッター層を形成することもある。この場合はゲッターも分断す ることが必要だ力 以後、ゲッターの分断をも適宜含むものとして、便宜的にメタルバ ック分断や分断メタルバックとレ、う用語を用いる。
[0009] メタルバック分断には大きく分けて、 1方向のみに分断し短冊状の分断メタルバック にする 1次元分断と、 2方向に分割し、アイランド状の分断メタルバックにする 2次元分 断とがある。 2次元分断では 1次元分断よりも放電電流を小さくすることが可能である 。例えば、特開平 10— 326583号公報(以下、特許文献 1と称する)には、 1次元分 断の基本構成が開示されている。また、特許文献 1 (実施例 9)、特開 2001— 24389 3号公報 (以下、特許文献 2と称する)、特開 2004— 158232号公報 (以下、特許文 献 3と称する)には、 2次元分断について開示されている。
[0010] メタルバックを分断した場合、ビーム電流の経路を確保し輝度低下を許容レベルに することと、放電時に分断したギャップ間に発生する電位差による放電を防ぐようにす ること力 S必要である。これに関し、特許文献 1、特許文献 3では、分断メタルバック間に 抵抗層を設ける構成が開示されている。特許文献 2には、分断メタルバックをそれぞ れ抵抗層を介して給電ラインに接続する構成が開示されている。なお、分断メタルバ ック間に抵抗層を設けることに関しては、特開 2000— 251797号公報にも開示がさ れている。
[0011] 上記構成の FEDでは、外囲器内の真空度維持のため、メタルバックに重ねてゲッ ター膜を形成することがある。 2次元分断においても、例えば、特開 2003— 068237 号公報、特開 2004— 335346号公報に開示されているような表面の凹凸を利用し てゲッタ一膜を分断する技術を適用することが可能である。
[0012] 従来技術のメタルバックを分断する構成においては、以下の 3つの課題が挙げられ る。 (1)放電電流を許容電流以下にすること。 (2)分断されたメタルバック間に形成さ れたギャップが抵抗として働き、この抵抗にビーム電流が流れることでアノード電圧が 低下する。この低下に伴う輝度低下を許容レベル以下にすること。 (3)放電時に分割 されたメタルバック間のギャップに発生する電圧による放電が起こらないようにするこ と。
[0013] なお、例えば特許文献 2に記載された分断メタルバックを個々に給電線に接続する 構成は、放電電流を減らす観点からは限界があると考えられる。以後は、特許文献 1 および特許文献 3に示されているような分断メタルバック間に抵抗層を設ける構成を 前提として従来技術の課題について説明する。
[0014] 2次元分断構造において重要な電気的パラメータは、 X方向および Y方向の分断メ タルバック間の抵抗 Rx, Ryである。ここで、 X方向、 Y方向は典型的な横長画面の F EDを想定すると長軸方向、短軸方向に対応するが、一般的な定義については後述 する。
[0015] 上記の課題(1)の観点からは、 Rx, Ryを高くする方が有利である。一方、課題(2) と(3)の観点からは、 Rx, Ryを低くする方が有利である。このように課題(1)と課題(2 )、(3)とが、トレードオフの関係にあるため、放電電流の低減には限界がある。
[0016] このため、従来以上に放電電流低減性能を高めることができる技術が望まれていた
発明の開示
[0017] 本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、放電電流 の低減を図り、高性能、低コストの画像表示装置を提供することにある。 [0018] 2次元分断の放電電流低減性能は、表示装置の輝度、精細度、寿命、信頼性、量 産性、コストなどさまざまな因子と複雑に結びついている。このため、諸制約の中で、 できる限り放電電流低減性能を高めることができれば、より高性能、低コストの画像表 示装置を実現することができる。
[0019] ところ力 本発明者らがさまざまに検討したところ、単純に Rx, Ryの値を最適化す るだけでは、要求仕様によっては、放電電流低減性能が十分とはいえない場合があ る。
[0020] そこで、本発明の形態に係る画像表示装置は、蛍光体層と、前記蛍光体層の間に 設けられた抵抗層と、前記蛍光体層および少なくとも前記抵抗層の一部を覆っており 、画像表示の走查方向と直交する方向である第 1の方向 Xにはギャップ Gxで分断さ れ、画像表示の走查方向である第 2の方向 Yにはギャップ Gyで分断された分断メタ ルバック層と、前記分断メタルバック層に高圧を印加する高圧印加手段と、を有する 前面基板と、前記前面基板に対向して設けられ、複数の電子放出素子を配置した背 面基板と、を備え、前記ギャップ Gx間の前記分断メタルバック間抵抗を電圧 V[V]の 関数として Rx (V)、前記ギャップ Gy間のメタルバック間抵抗を電圧 V[V]の関数とし て Ry (V)としたとき、 Rx (100) /Rx (l)く Ry (100) /Ry (l)である。
[0021] この発明の他の形態に係る画像表示装置は、蛍光体層と、前記蛍光体層の間に設 けられた抵抗層と、前記蛍光体層および少なくとも前記抵抗層の一部を覆っており、 画像表示の走査方向と直交する方向である第 1の方向 Xにはギャップ Gxで分断され 、画像表示の走査方向である第 2の方向 Yにはギャップ Gyで分断された分断メタノレ バック層と、前記第 1の方向 Xにはギャップ Gxgで分断され、前記第 2の方向 Yにはギ ヤップ Gygで分断された分断ゲッター層と、前記分断メタルバック層に高圧を印加す る高圧印加手段と、を有する前面基板と、前記前面基板に対向して設けられ、複数 の電子放出素子を配置した背面基板と、を具備し、前記ギャップ Gxg間の前記分断 ゲッター間抵抗を電圧 V[V]の関数として Rxg (V)、前記ギャップ Gyg間のゲッター 間抵抗を電圧 V[V]の関数として Ryg (V)としたとき、 Rxg (100) /Rxg (l) <Ryg ( 100) /Ryg (l)である。
図面の簡単な説明 [0022] [図 1]図 1は、この発明の第 1の実施形態に係る FEDを示す斜視図である。
[図 2]図 2は、図 1の線 II IIに沿った上記 FEDの断面図である。
[図 3]図 3は、上記 FEDにおける前面基板の蛍光面を示す平面図である。
[図 4]図 4は、前記 FEDの蛍光面および抵抗調整層部分を拡大して示す平面図であ る。
[図 5]図 5は、図 4の線 V—Vに沿った蛍光面等の断面図である。
[図 6]図 6は、図 4の線 VI— VIに沿った上記蛍光面等の断面図である。
[図 7]図 7は、前記 FEDの前面基板およびその等価回路を示す平面図である。
[図 8]図 8は、この発明の第 2の実施形態に係る FEDの蛍光面等を示す断面図であ る。
発明を実施するための最良の形態
[0023] 以下、図面を参照しながら、この発明を適用した FEDの実施形態について詳細 に説明する。
図 1および図 2に示すように、 FEDは、それぞれ矩形状のガラス板からなる前面基 板 11、および背面基板 12を備え、これらの基板は l〜2mmのギャップを置いて対向 配置されている。前面基板 11および背面基板 12は、矩形枠状の側壁 13を介して周 縁部同士が接合され、内部が 10— 4Pa程度以下の高真空に維持された偏平な矩形 状の真空外囲器 10を構成している。側壁 13は、例えば、低融点ガラス、低融点金属 等の封着材 23により、前面基板 11の周縁部および背面基板 12の周縁部に封着さ れ、これらの基板同士を接合している。
[0024] 前面基板 11の内面には蛍光面 15が形成されている。この蛍光面 15は、赤、緑、青 に発光する蛍光体層 R、 G、 Bとマトリックス状の遮光層 17とを有している。蛍光面 15 上には、例えば、アルミニウムを主成分としアノード電極として機能するメタルバック層 20が形成されている。更に、メタルバック層 20に重ねてゲッター膜 22が形成されて いる。表示動作時、メタルバック層 20には所定のアノード電圧が印加される。蛍光面 の詳細な構造は後述する。
[0025] 背面基板 12の内面には、蛍光面 15の蛍光体層 R、 G、 Bを励起する電子放出源と して、それぞれ電子ビームを放出する多数の表面伝導型の電子放出素子 18が設け られている。これらの電子放出素子 18は、画素に対応して複数列および複数行に配 歹 IJされている。各電子放出素子 18は、図示しない電子放出部、この電子放出部に電 圧を印加する一対の素子電極等で構成されている。背面基板 12の内面上には、電 子放出素子 18を駆動する多数本の配線 21がマトリックス状に設けられ、その端部は 真空外囲器 10の外部に引出されている。
[0026] 背面基板 12および前面基板 11の間には、これらの基板に作用する大気圧を支持 するため、多数の板状のスぺーサ 14が配置されている。これらのスぺーサ 14はそれ ぞれ背面基板 12の長手方向に延びてレ、るとともに、背面基板の幅方向に所定の間 隔を置いて配設されている。スぺーサは、板状に限らず、柱状のスぺーサとしてもよ レ、。
[0027] FEDにおレ、て、画像を表示する場合、メタルバック層 20を介して蛍光体層 R、 G、 B にアノード電圧を印加し、電子放出素子 18から放出された電子ビームをアノード電 圧により加速して蛍光層へ衝突させる。これにより、対応する蛍光体層 R、 G、 Bが励 起されて発光し、カラー画像を表示する。
[0028] 次に、前面基板 11の構成について詳細に説明する。図 3に示すように、蛍光面 15 は、赤、青、緑に発光する多数の矩形状の蛍光体層 R、 G、 Bを有している。横長画 面を有した FEDの場合、長軸方向を第 1方向 X、短軸方向を第 2方向 Yとすると、蛍 光体層 R、 G、 Bは、第 1方向 Xに所定のギャップをおいて繰り返し配列され、第 2方 向には同一色の蛍光体層が所定のギャップをおいて配列されている。蛍光体層 R、 G、 Bは、周知のスクリーン印刷やフォトリソグラフィ一により形成される。遮光層 17は 、前面基板 11の周縁部に沿って延びた矩形枠部 17a、および矩形枠部の内側で蛍 光体層 R、 G、 Bの間をマトリックス状に延びたマトリックス部 17bを有している。
[0029] 以後、寸法の目安のため、画素(3色の蛍光体層 R、 G、 Bをまとめたもの)がピッチ 6 00 μ mの正方形画素である場合を例にとり適宜数値を示す。
図 4ないし図 6に示すように、遮光層 17の上には、抵抗調整層 30が形成されている 。抵抗調整層 30は、マトリックス部 17bの領域においては、それぞれ第 1方向 Xに隣 合う蛍光体層間を第 2方向 Yに延びた複数の第 1抵抗調整層 31Vと、それぞれ第 2 方向に隣合う蛍光体層間を第 1方向 Xに延びた複数の第 2抵抗調整層 31Hとを有し ている。蛍光体層は第 1方向 Xに R、 G、 Bと並んでいるため、第 1抵抗調整層 31Vは 、第 2抵抗調整層 31Hよりもはるかに幅が狭くなつている。例えば、第 1抵抗調整層 3 IVの幅は 40 μ m、第 2抵抗調整層 31Hの幅は 300 μ mである。
[0030] 抵抗調整層 30の上には、薄膜分断層 32が形成されている。薄膜分断層 32は、そ れぞれ抵抗調整層 30の第 1抵抗調整層 31V上に形成された縦線部 33V、およびそ れぞれ抵抗調整層 30の第 2抵抗調整層 31H上に形成された横線部 33Hを有して いる。薄膜分断層 32は、表面が凸凹になるように適切な密度で分散された粒子とバ インダとを含んで形成されている。蒸着などにより薄膜分断層 32上に形成される薄膜 は、薄膜分断層の凹凸によって分断される。薄膜分断層 32は、遮光層 17よりも少し 細めに形成されており、数値例を示すと、薄膜分断層の横線部 33Hの幅は 260 x m 、縦線部 33Vの幅は 20 μ mとなっている。
[0031] 薄膜分断層 32の形成後、蛍光体層を形成するためにラッカーなどによる平滑化処 理が行われる。この平滑化のための膜は、メタルバック層 20が形成された後には、焼 成により焼失する。この平滑化処理は基本的には CRTなどで周知のものである。な お、薄膜分断層 32の領域では、平滑化作用が失われるように、条件が制御される。
[0032] 平滑化処理の後、蒸着等の薄膜形成プロセスにより、蛍光体層 R、 G、 Bおよび薄 膜分断層 32に重ねてメタルバック層 20が形成される。メタルバック層 20は、薄膜分 断層 32により第 1方向 Xおよび第 2方向 Yに分断され、分断メタルバック層 20aが形 成される。分断メタルバック層 20aは、それぞれ蛍光体層 R、 G、 Bに重なって位置し ている。この場合、隣合う分断メタルバック層 20a間のギャップは薄膜分断層 32の横 線部 33Hおよび縦線部 33Vの幅とほぼ同じであり、第 1方向 Xには 20 /i m、第 2方 向 Yには 260 x mとなる。
[0033] メタルバック層 20の上にさらに、ゲッター膜 22が形成されている。 FEDにおいて、 ゲッター膜 22は、長期に渡り真空度を確保するため蛍光面上に形成されている。一 般にゲッター膜 22は大気に暴露されると作用が失われてしまう。これを防止するため
、ゲッター膜 22は、前面基板 11と背面基板 12とを真空中で封着する際に蒸着等の 薄膜プロセスにより形成する。メタルバック層 20の形成後も薄膜分断層 32の分断作 用は失われていないため、ゲッター膜 22もメタルバック層 20と同様のパターンに分断 されて分断ゲッター膜 22aが形成される。ゲッター膜 22は一般に導電性の金属で形 成されている力 分断されているため、メタルバック層 20上にゲッター膜 22を形成し ても、分断メタルバック層 20aが互いに導通してしまうことを避けられる。
[0034] 上記製法により、それぞれ X方向、 Y方向に Gxg = 20 z m、 Gyg = 260 z mのギヤ ップで分断された分断ゲッター膜 22aが形成される。
[0035] ここで、本実施形態における X、 Yの定義について説明をしておく。まず、一般的な 横長画面の FEDを想定し、長軸方向を X方向、短軸方向を Y方向として説明をする 。典型的な構成において、 X方向に延びる複数の走查配線と Y方向に延びる複数の 変調配線とがマトリックス状に形成され、これらの走查配線および変調配線によりいわ ゆる単純マトリックス駆動を行う。すなわち、走查配線に例えば 1Z60秒かけて順々 に Y方向にシフトしながら走査信号を印加し、走査信号が印加されている期間にその 走查配線に対応する画素に関する変調信号を、変調配線に印加する。前面基板に おける給電 (ビーム電流の供給)を考えると、 X方向から給電しょうとすると、同じタイミ ングで走査配線に対応する大量の画素に電流を供給しなければならないため、効率 が悪い。このため、 Y方向から給電する方が給電効率の面では有利になる。このよう な技術背景と関連して、本実施形態では X, Yに言及している。したがって、一般な 走査方向と直交する方向を X方向、走査方向を Y方向とする。
[0036] 図 7に、前面基板 11の等価回路を示す。第 1方向 Xに並んだ分断メタルバック層 20 aは、第 1抵抗調整層 31Vにより接続されている。第 1方向 Xに隣合う分断メタルバッ ク層 20a間には抵抗 Rxと容量 Cxが形成されている。第 2方向 Yに並んだ分断メタル バック層 20aは、第 2抵抗調整層 31Hにより接続されている。第 2方向 Yに隣合う分 断メタルバック層 20a間には抵抗 Ryと容量 Cyが形成されている。
[0037] 蛍光面 15の外側には、前面基板 11の各辺に沿って延びた共通電極 40が形成さ れている。分断メタルバック層 20aの内、最も外周側で第 2方向 Yに並んだ分断メタル バック層 20aは、第 1方向 Xに延びた接続抵抗 R2xを介して共通電極 40に電気的に 接続されている。最も外周側で第 1方向 Xに並んだ分断メタルバック層 20aは、それ ぞれ第 2方向 Yに延びた接続抵抗 R2yを介して共通電極 40に電気的に接続されて いる。共通電極 40は、図示しない高圧供給手段を介して外部の高圧電源に接続さ れている。
[0038] 本実施形態においては、抵抗値の電圧依存性に注目している。本発明者らが調べ た限りでは、一般的に抵抗材は電圧により抵抗値が変化する特性を有していた。また 、その変化の仕方は抵抗材によって異なっていた。そこで、この依存性を表現するた め、例えば Rxを電圧 Vの関数として、 Rx (V)と表現することにする。 R (V)は一般に Vの減少関数となるようである。
[0039] 本発明者らは、上述の放電電流低減、給電 (輝度低下抑制)、分断メタルバック間 放電抑制(分断部発生電圧低減)に関して検討したところ、 Ry (V)を Rx (V)よりおだ やかな関数にすることが有効であることを見出した。これについて以下詳細に説明を する。
[0040] 放電電流には Rxと Ryがほぼ同じ重みで影響を与える。放電時には Rx, Ryに印加 される電圧が徐々に増大し例えば数百 V〜数 kV程度にまで達するので、特に Rx, R yの高圧での値が重要となる。 Rx, Ryが大きくなると、容量 Cx, Cyによる誘導性の結 合が電流に影響を与える度合いが大きくなるので、放電電流への影響の度合いは小 さくなつていく。これに対し、上述のように給電に関しては Ryの方が寄与が大きい。放 電が起きていない通常の動作状態において、 Rx, Ryに印加される電圧はせいぜい IVのオーダーである。一方、分断部電圧はほぼ放電電流とリンクして増大していくの で、やはり高圧での値と関連している。ただし、分断部電圧は電流が急激に増大した 後に変化が緩やかになってからの値なので、 Cx, Cyの寄与について放電電流とは ]¾レ、力ある。
[0041] 電圧依存性を考えない場合、望まれる方向は以下のようになる。給電の面からは、 上述の給電効率の違レ、から Ryをできるだけ低くし、 Rxをできるだけ高くすることが有 利である。放電電流抑制の面からは、 Rxも Ryも高くすることが有利である。分断メタ ルバック間の電圧低減の面からは、 Rx, Ryもできるだけ低くすることが有利である。 しかし、 X方向の分断メタルバック間のギャップの方が Y方向の分断メタルバック間の ギャップより小さいため、 Rxの方がより低くすることが求められる。このトレードオフが 放電電流低減性能を決めてしまう。
[0042] そこで、電圧依存性を考慮すると、以下のようなことがレ、える。 Ryは給電の面からは 低くなる傾向があるので、 Ry (V)が Vにより低下する度合いが大きいと、電流増大へ の影響が大きい。一方、 Ryが低くなつた分だけ Rxは高くすることが望まれる力 S、 Rxが 高い分 Cxの寄与が出てくる。そのため、 Rx力 により低下する度合いは大きくても電 流増大への寄与は小さくなる。このことから、 Ry (V)を Rx (V)よりゆるやかな関数とす ることが有利である。
[0043] 分断部電圧のことを考慮すると、 Rxは低圧では高めにしておくことで、放電電流の 増大を初期段階で抑制し、その後 Rxが低下することで電流増大を抑え気味にしつ つ分断部発生電圧を抑制することができる。そのため、 Rx (V)は適度な減少関数で あることが有利である。
[0044] ここで、関数の変化を表現するための指標について説明をする。給電の際に Rx, R yに印加される電圧はせいぜレ、 IVのオーダーであることから IVでの抵抗値に注目 する。放電の際には、最低でも 100Vの電圧が印加されることから 100Vの抵抗値に 注目する。これらの比をとつて、
Kx = Rx (100) /Rx ( l )
Ky = Ry (100) /Ry ( l )
という指標を定義する。 Ry (V)の方が Rx (V)よりゆるやかな関数ということは、上述の 技術内容を考慮すると、一般的には
Kx<Ky
と表現することができる。
[0045] 本実施形態では、 Rx (V)は第 1抵抗調整層 31Vにより、 Ryは第 2抵抗調整層 31H によりほぼ決定される。第 1抵抗調整層 31Vは、抵抗性の金属酸化物の微粒子を母 材としフリットガラス等のバインダを含有した材料を印刷することにより厚膜抵抗として 形成されている。第 2抵抗調整層 31Hは、抵抗性の金属酸化物を蒸着、スパッタリン グして形成された薄膜抵抗により構成されている。このような構成とすることで、 Kx = 0. 3、 Ky = 0. 9程度としている。一般的には、 Kx、 Kyはこのような値に限らず、上 記関係が成り立つ値に設定されていれば効果が期待できる。
[0046] 本発明者らは、従来構成の FEDを試作し、検査したところ、 Kx = 0. 3、 Ky=0. 2 となっていた。そこで、試作 FEDと本実施形態に係る FEDとを比較したところ、実施 形態に係る FEDの方が、放電電流を 0. 4倍にできることがわかった。
[0047] 上記実施形態では、 Kyをとりわけ大きくするため、薄膜抵抗を利用したが、一般に は、厚膜抵抗を用いた場合でも、電圧依存性は、使用する抵抗材ゃバインダとの組 成比によりさまざまに変化するので、両方を厚膜抵抗で形成してもよい。
[0048] 以上のように構成された本実施形態に係る FEDによれば、分断メタルバック層間の 抵抗の電圧依存性を規定することにより、放電電流低減性能を従来以上に高めるこ とができ、より厳しい許容電流仕様にも対応できる。これにより、輝度、解像度、寿命 などの性能を高め、また、ローコスト化を図ることが可能な表示装置を得ることができ る
次に、この発明の第 2の実施形態に係る FEDについて説明する。第 2の実施形態 において、第 1の実施形態と、同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な 説明を省略する。
[0049] 図 8に示すように、第 2の実施形態に係る FEDによれば、遮光層 17自体により第 1 抵抗調整層および第 2抵抗調整層を形成している。これを実現するために、第 1およ び第 2抵抗調整層には、第 1の実施形態と同様に抵抗を適正化しつつ、更に、遮光 層に求められる黒色に近く低反射率の材料を用いている。これにより、プロセスの簡 易化、歩留まりの向上、コストダウンを図ることが可能になる。
[0050] 前述した実施形態においては、抵抗調整層 30は、遮光層 17のマトリックス部に対 応したマトリックス状に形成していた力 例えば、第 2抵抗調整層 31Hは画素の 2ライ ンごと設けてもよい。第 1抵抗調整層 31vは、 R、 G、 Bを 3つまとめて 1画素とした場合 に、この画素ごとに形成する構成としても良レ、。このような構成とすることで、メタルバ ック層の分断数を減らすことができ、製造歩留まりの面などで有利となる。分断のピッ チは、 目標を満たせる範囲でさまざまに選択できることはいうまでもない。
[0051] 上記実施形態においては、ゲッター膜を形成する構成の FEDを想定しているが、 ゲッター膜を形成しない構成の FEDもありうる。この場合は、 Rx, Ryを形成するのは 、ゲッターの分断ギャップ Gxg, Gygではなぐメタルバックの分断ギャップ Gx, Gyと なる。なお、 Rx, Ryは厳密には抵抗調整材だけでなぐ薄膜分断材によっても多少 影響を受ける。そのため、ゲッター膜を設ける場合、ゲッター膜形成後の抵抗値が Rx , Ryとなる。
[0052] 本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなぐ実施段階ではその要 旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開 示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる 。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい 。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
[0053] 本明細書中において、分断メタルバック層間のギャップとは、メタルバック層の一部 が除去されることで形成されるもののみに限られず、上述のように薄膜分断層により 分断されたギャップや、メタルバック層の一部を酸化等の処理により変質させて、抵 抗値を高めることで形成されるギャップをも含むものである。各構成要素の寸法、材 料等は、上述の実施形態で示した数値、材料に限定されることなぐ必要に応じて種 々選択可能である。
産業上の利用可能性
[0054] 本発明によれば、分断メタルバック間の抵抗の電圧依存性を規定することにより、 放電電流低減性能を従来以上に高めることができ、より厳しい許容電流仕様にも対 応できる画像表示装置を提供することができる。これに伴い、画像表示装置の輝度、 解像度、寿命などの性能を高め、また、ローコストィ匕を図ることが可能になる。

Claims

請求の範囲
[1] 複数の蛍光体層と、前記蛍光体層の間に設けられた抵抗層と、前記蛍光体層およ び少なくとも前記抵抗層の一部を覆っているとともに、画像表示の走查方向と直交す る方向である第 1方向 Xにはギャップ Gxで複数に分断され、画像表示の走查方向で ある第 2方向 Yにはギャップ Gyで複数に分断された分断メタルバック層と、前記分断 メタルバック層に電圧を印加する電圧印加手段と、を有する前面基板と、
前記前面基板に対向して設けられ、複数の電子放出素子が配置された背面基板と を備え、
前記ギャップ Gxの両側に位置した前記分断メタルバック間の抵抗を電圧 V[V]の 関数として Rx (V)、前記ギャップ Gyの両側に位置した分断メタルバック間の抵抗を 電圧 V [V]の関数として Ry (V)としたとき、 Rx ( 100) /Rx ( 1 )く Ry ( 100) /Ry ( 1 ) である画像表示装置。
[2] 前記複数の蛍光体層は、前記第 1方向 Xおよび第 2方向 Yにそれぞれ所定のピッ チで並んで設けられ、
前記前面基板は、前記蛍光体層の周囲に形成された遮光層と、前記遮光層に重 ねて設けられた薄膜分断層と、を有している請求項 1に記載の画像表示装置。
[3] 複数の蛍光体層と、前記蛍光体層の間に設けられた抵抗層と、前記蛍光体層およ び少なくとも前記抵抗層の一部を覆っているとともに、画像表示の走查方向と直交す る方向である第 1方向 Xにはギャップ Gxで複数に分断され、画像表示の走查方向で ある第 2方向 Yにはギャップ Gyで複数に分断された分断メタルバック層と、前記第 1 方向 Xにはギャップ Gxgで分断され、前記第 2方向 Yにはギャップ Gygで分断された 分断ゲッター層と、前記分断メタルバック層に電圧を印加する電圧印加手段と、を有 する 面基板と、
前記前面基板に対向して設けられ、複数の電子放出素子が配置された背面基板と 、を具備し、
前記ギャップ Gxgの両側に位置した前記分断ゲッター層間の抵抗を電圧 V[V]の 関数として Rxg (V)、前記ギャップ Gygの両側に位置した前記分断ゲッター層間の抵 抗を電圧 V[V]の関数として Ryg (V)としたとき、 Rxg (100) /Rxg (1) < Ryg (100) /Ryg (1)である画像表示装置。
前記複数の蛍光体層は、前記第 1方向 Xおよび第 2方向 Yにそれぞれ所定のピッ チで並んで設けられ、
前記前面基板は、前記蛍光体層の周囲に形成された遮光層と、前記遮光層に重 ねて設けられ前記メタルバック層およびゲッター膜の少なくとも一方を分断した薄膜 分断層と、を有している請求項 3に記載の画像表示装置。
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