WO2006062152A1 - 中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法 - Google Patents

中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2006062152A1
WO2006062152A1 PCT/JP2005/022535 JP2005022535W WO2006062152A1 WO 2006062152 A1 WO2006062152 A1 WO 2006062152A1 JP 2005022535 W JP2005022535 W JP 2005022535W WO 2006062152 A1 WO2006062152 A1 WO 2006062152A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
wiring
inspection
connection member
sheet member
sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2005/022535
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiroyasu Sotoma
Toshio Kazama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Priority to CN2005800423113A priority Critical patent/CN101073014B/zh
Priority to KR1020077012780A priority patent/KR101166861B1/ko
Priority to TW094143325A priority patent/TWI278633B/zh
Publication of WO2006062152A1 publication Critical patent/WO2006062152A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester

Definitions

  • Relay connection member Inspection device, and method of manufacturing relay connection member
  • the present invention relates to a plurality of terminals formed on the inspection object at the time of an inspection of a predetermined inspection object and the other end of a plurality of probes that contact one end, and an inspection signal used for the inspection.
  • the present invention relates to a relay connection member that electrically connects to an inspection circuit that outputs, an inspection device using the relay connection member, and a method of manufacturing the relay connection member.
  • an inspection apparatus for performing an electrical property inspection on an electronic component such as a liquid crystal panel.
  • an inspection apparatus for example, as shown in FIG. 5, a plurality of probes 102 provided corresponding to the terminals 101a included in the inspection object 101 which is an electronic component, and a probe holder 103 which holds a plurality of probes.
  • an inspection circuit 105 for outputting a predetermined inspection signal, and a relay connection member 104 for electrically connecting the probe and the inspection circuit.
  • the inspection signal output from the inspection circuit 105 passes through the wiring structure 106 and the probe 102 formed on the sheet member 107 provided in the relay connection member 104.
  • the response signal is input to the inspection circuit 105 via the probe 102 and the wiring structure 106 after processing the circuit in the electronic component and processing the circuit in the electronic component (see, for example, Patent Document 1).
  • a dedicated electronic circuit may be used.
  • the electronic circuit actually used when the electronic component is mounted on a product is used. It is preferable to use a circuit.
  • a TAB Tunnel Automated Bonding
  • the electronic circuit used at the product level is used as the inspection circuit 105. The reason why the electronic circuit used at the product level is used as the inspection circuit 105 is that it is close to the actual usage condition, it is preferable to perform the inspection under the conditions, and the inspection by separately producing an electronic circuit dedicated to the inspection This is to avoid an increase in cost.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-222299 Disclosure of the invention
  • connection between the probe 102 and the wiring structure 106 in the relay connection member 104 is formed separately from the wiring structure 106 which is not realized by fixing with solder or the like. This is realized by the probe 102 physically contacting the wiring structure 106 while applying a predetermined load. For this reason, when the probe 102 is in contact with the wiring structure 106 in a misaligned state or when the probe 102 is displaced after contacting the wiring structure 106, it is caused by the friction force generated between the probe 102 and the probe 102.
  • the shape of the wiring structure 106 changes, and new problems such as an electrical short circuit between adjacent wiring structures occur.
  • the conventional inspection apparatus has a problem with respect to the electrical connection between the relay connection member 104 and the inspection circuit 105.
  • the electrical connection via the probe 102 is realized with the terminal 101a of the inspection object 101 and the wiring structure 106 facing each other.
  • the arrangement pattern of the plurality of terminals 101a is inverted in the wiring structure 106 for the same reason as that reflected in the mirror. Therefore, the inspection circuit 105 is electrically connected to the relay connection member 104 whose arrangement pattern is reversed.
  • the relay connecting member 104 and the inspection circuit 105 need to be connected in a so-called “ ⁇ ” shape. Since the connection mode to be applied is a structure that is physically unreasonable, there will be a new problem such as disconnection in the wiring structure 106 etc. in a portion where the physical strength is low.
  • the present invention has been made in view of the above, and is capable of sufficiently securing the electrical connection with the inspection target and the internal electrical connection while corresponding to the narrowing of the terminals provided in the inspection target.
  • An object is to realize an inspection device, a relay connection member constituting the inspection device, and a method of manufacturing the relay connection member.
  • the relay connection member according to claim 1 has a plurality of terminals and one end formed on the inspection object at the time of inspection of the predetermined inspection object.
  • a relay connection member for electrically connecting the other end of the plurality of probes in contact with an inspection circuit that outputs an inspection signal used for the inspection, and the other end of the plurality of probes at each one end A first connection member having a plurality of first wiring structures formed on the surface, the other ends being located on different layers and having the other end exposed over a predetermined length or more at one end
  • a second connection member in which a plurality of second wiring structures that are in contact with the other end of the first wiring structure exposed on the surface by a predetermined length and are electrically connected to the inspection circuit at the other end are formed on the same layer.
  • the interval between the first wiring structures on the same layer is widened, so that the space between the probe and the first wiring structure is increased.
  • the first connection member that can sufficiently secure the electrical continuity of the first connection member and the second wiring structure that electrically connects the first connection member and the inspection circuit are formed on the same surface to electrically connect the inspection circuit.
  • the first connection member is formed of an insulating member, and one or more first wiring structures are formed on an upper surface thereof.
  • the first wiring structures adjacent to each other are formed on different sheet members.
  • the inspection apparatus according to claim 3 is an inspection apparatus that performs an inspection by inputting and outputting an electrical signal to a predetermined inspection object through a plurality of terminals provided in the inspection object.
  • a plurality of probes each having one end in contact with each of the plurality of terminals formed on the inspection object; a probe holder that houses the plurality of probes at positions corresponding to the terminals; and A plurality of first wiring structures that are electrically connected to the other ends of the plurality of probes, the adjacent ones are located on different layers, and the other ends are exposed to the surface over a predetermined length.
  • a plurality of second wiring structures that are in contact with the other end of the first wiring structure exposed on the surface by a predetermined length at one end and electrically connected to the inspection circuit at the other end in the same layer.
  • a second connecting member formed on the front and the front An inspection circuit that is electrically connected to the second connection member and outputs at least an inspection signal to the second connection member is provided.
  • the method for manufacturing a relay connection member according to claim 4 includes a plurality of probes that come into contact with a plurality of terminals formed on the inspection object when the predetermined inspection object is inspected, and the inspection described above. This is a method of manufacturing a relay connection member that electrically connects to an inspection circuit that outputs an inspection signal used in the process, and extends from one end to near the center on the surface of a single sheet member.
  • the sheet member has a first region in which only the first wiring is formed and a second region in which only the second wiring is formed, with respect to a direction in which the first wiring and the second wiring extend.
  • a sheet dividing step of forming the first sheet member, the second sheet member, and the third sheet member by dividing the first sheet member, the second sheet member, and the third sheet member, and the first wiring and the second sheet member.
  • the predetermined first wiring and second wiring are continuously formed over the first to third regions on the single sheet member. There is no need to form a wiring pattern separately for each of the first, second and third sheet members, and the possibility of misalignment between the wirings after separation is suppressed. An excellent relay connection member can be manufactured.
  • the method for manufacturing a relay connection member according to claim 5 is characterized in that, in the above invention, before the laminating step, at least one of the first sheet member and the second sheet member is provided. On the other hand, it further includes a label forming step for forming an alignment mark used for alignment with the other, and in the laminating step, the alignment sheet is used to connect the first sheet member and the second sheet member. It is characterized by stacking while aligning the gaps.
  • the relay connection member and the inspection apparatus increase the interval between the first wiring structures on the same layer by forming the adjacent first wiring structures on different layers, and the probe and the first wiring. Inspection is performed by forming on the same surface a first connection member that can sufficiently ensure electrical continuity with the structure, and a second wiring structure that electrically connects the first connection member and the inspection circuit. By providing the second connection member that can sufficiently secure electrical connection to the circuit, there is an effect that electrical continuity between the probe and the inspection circuit can be sufficiently secured.
  • the predetermined first wiring and the second wiring are continuously formed over the first to third regions on a single sheet member. Therefore, it is not necessary to form a wiring pattern separately for each of the first, second, and third sheet members, and the possibility of positional deviation between the wirings after separation is suppressed, thereby preventing electrical conduction. It is possible to produce an excellent relay connection member.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of an inspection apparatus according to an embodiment.
  • FIG. 2 shows the details of the structure of the vicinity of the probe of the first connecting member that constitutes the inspection device It is a schematic diagram shown in FIG.
  • FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a connection mode among a first connection member, a second connection member, and an inspection circuit that constitute an inspection apparatus.
  • FIG. 4 is a schematic view for explaining a method of manufacturing a relay connecting member constituting the inspection apparatus.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional inspection apparatus.
  • FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an overall configuration of an inspection apparatus according to an embodiment.
  • the inspection apparatus according to the present embodiment includes a probe 2 that is in contact with a terminal 2 of the inspection object 1 and one end, a probe holder 4 that holds the probe 3 in a predetermined position, and a probe.
  • An inspection circuit 5 that outputs at least an inspection signal to the inspection object 1 via the probe 3 and a relay connection member 6 for electrically connecting the probe 3 and the inspection circuit 5 are provided.
  • the probe 3 contacts the terminal 2 provided on the inspection object 1 at one end, and contacts the first wiring structure 11, 12 (described later) at the other end. It is for electrically connecting between.
  • the probe 3 is formed of a stretchable conductive member partially including an elastic member such as a panel, and contacts the contact target such as the terminal 2 while applying a predetermined pressing force. Therefore, it has a function of electrically conducting with the contact object.
  • a plurality of terminals 2 formed on the inspection object 1 are provided, and the inspection apparatus according to the present embodiment includes a plurality of probes 3 corresponding to the plurality of terminals 2.
  • the probe holder 4 is for holding a plurality of probes 3 at predetermined positions.
  • the probe 3 is for electrical conduction by making contact with each of the plurality of terminals 2 formed on the inspection object 1, and the probe holder 4 is determined in advance so that the conduction state is good. It has a function to hold a plurality of probes 3 so that they are located at different locations.
  • the probe holder 4 is, for example, a plate-like body. The probe 3 is held in the through-hole formed in the formed and powerful plate-like body so that both ends slightly protrude from the surface of the plate-like body.
  • the inspection circuit 5 is for outputting an inspection signal necessary for inspection to the inspection object 1 when inspecting the electrical characteristics of the inspection object 1.
  • the inspection circuit 5 is configured by a TAB or the like, and, for example, includes an IC chip 5a including an electronic circuit that generates an inspection signal, and electrically connects the IC chip 5a and the relay connection member 6. It has a structure with a wiring structure 7 for this purpose.
  • the inspection circuit 5 may be manufactured separately with an electronic circuit dedicated to inspection, but in this embodiment, when the inspection object 1 is mounted as a part of the product, the inspection object 1 However, the circuit that inputs and outputs the operation signal etc. will be used as it is.
  • the inspection object 1 is a liquid crystal panel
  • a driver circuit that inputs a pixel signal or the like to the liquid crystal panel when a display is manufactured using the liquid crystal panel is used as the inspection circuit 5.
  • the relay connection member 6 As shown in FIG. 1, the relay connection member 6 is used to electrically connect the first connection member 8 for electrical connection with the probe 3 and between the first connection member 8 and the inspection circuit 5.
  • the second connecting member 9 and the reinforcing member 10 for preventing the first connecting member 8 from warping or the like.
  • the first connection member 8 includes first wiring structures 11 and 12 that are electrically connected to the corresponding probes 3 at the other ends and are formed on different layers. Specifically, as shown in FIG. 1, the first connection member 8 has a configuration in which sheet members 13 and 14 are sequentially laminated, and the first wiring structure 11 is formed on the respective surfaces of the sheet members 13 and 14. The first wiring structures 11 and 12 are formed on different layers by pre-forming them.
  • the sheet members 13, 14 are formed of a sheet-like insulating member having a thin film thickness and high flexibility. Specifically, the sheet members 13 and 14 are formed using, for example, polyimide or the like used as a base material for FPC (Flexible Printed Circuit). As shown in FIG. 1, the sheet member 13 located in the lower layer of the laminated structure is formed by the first wiring structure 11 to be formed. In order to be able to be electrically connected to the lobe 3 or the like, the first wiring structures 11 and 12 have a configuration that extends more than the sheet member 14 in the extending direction, and the first wiring structures 11 and 12 extend to the portion that extends beyond the sheet member 14. 1 Wiring structure 11 has a stretched structure.
  • the first wiring structures 11 and 12 serve as a conduction path between the probe 3 and a second wiring structure 16 (described later) formed on the second connection member 9. Specifically, a plurality of first wiring structures 11 and 12 are formed corresponding to the probe 3, and the first wiring structure 11 and the first wiring structure 12 are formed on different layers. . Of the adjacent first wiring structures, one is the first wiring structure 11 and the other is the first wiring structure 12. That is, the adjacent first wiring structures are formed on different layers.
  • the first wiring structure 11 is positioned below the first wiring structure 12, but the sheet member 13 as a base material has a portion that extends more than the sheet member 14, and extends to such a portion. As a result, the vicinity of the end portion is exposed on the surface.
  • the second connection member 9 is for electrically connecting the first wiring structures 11, 12 constituting the first connection member 8 and the inspection circuit 5.
  • the second connection member 9 has a structure in which a plurality of second wiring structures 16 are formed on the sheet member 15, and the second wiring structure 16 and the first wiring structures 11 and 12 and the inspection circuit 5 is electrically connected.
  • the plurality of second wiring structures 16 each have a structure formed on the same sheet member 15, that is, on the same layer.
  • the reinforcing member 10 is for reinforcing the first connecting member 8.
  • one end portion of the first connecting member 8 has a configuration in which the first wiring structures 11 and 12 are electrically connected to the probe 3 by contacting the probe 3.
  • a predetermined pressing force acts between the first connecting member 8 and the first connecting member 8.
  • the sheet members 13 and 14 that function as the base material of the first connection member 8 are formed by a sheet-like member having a high flexibility, the sheet member is resistant to the pressing force supplied from the probe 3.
  • the members 13 and 14 are warped, the probe 3 and the first wiring structures 11 and 12 are not in close contact with each other, and there is a possibility that the conduction state between the two is deteriorated.
  • FIG. 2 is a plan view showing a part of the end portion of the first connection member 8 on the side in contact with the probe 3.
  • FIG. 2 schematically shows a planar structure of the first connecting member 8 as viewed from the probe 3 side, and the portion that cannot be directly seen! / Is indicated by a broken line.
  • the first wiring structure l la to l Id formed on the sheet member 13 and the first wiring structures 12a to 12d formed on the sheet member 14 are planar structures. Have alternating structures. Specifically, when the first connection member 8 is viewed from the probe 3 side force, the first wiring structure 11a ⁇ 12a ⁇ ib ⁇ 12b ⁇ is arranged, and the probe 3 side force is also The first wiring structures adjacent to each other are formed so as to be located on different layers (sheet member 13 or sheet member 14). By adopting a powerful structure, as shown in FIG. 2, the distance between the first wiring structures formed on the same layer is almost 2 as compared with the case where the first wiring structure is formed on a single layer. Double the value.
  • connection pads 18a to 18a having a width wider than that of the first wiring structure in the direction perpendicular to the extending direction. 18d and connection pads 19a to 19d are formed respectively. These connection pads 18a to 18d and connection pads 19a to 19d are each formed in a so-called staggered state. Specifically, for example, in the case of the connection pads 18a to 18d, the connection pads 18a and 18c are formed at the same position with respect to the extending direction of the first wiring structure 11, while the connection pads 18b and 18d are It is formed at a position different from the connection pad 18a and the like. That is, the connection pads 18a to 18d and the connection pads 19a to 19d are formed so that positions in the extending direction of the first wiring structure are different between adjacent connection pads.
  • FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a connection mode among the first connection member 8, the second connection member 9, and the inspection circuit 5. Refer to Figure 3 below. One connection mode will be described.
  • connection mode between the first connection member 8 and the second connection member 9 will be described.
  • the electrical connection between the first connecting member 8 and the second connecting member 9 is performed by specifically connecting the ends of the first wiring structures 11 and 12 provided in the first connecting member 8 and the second connecting member 9. This is realized by fixing the positional relationship between the first connection member 8 and the second connection member 9 in a state where the end of the second wiring structure 16 provided in the contact is in contact.
  • the first wiring structures 11 and 12 and The part where the second wiring structure 16 contacts each other is the predetermined wiring length d
  • the 1 connecting member 8 has a structure in which the sheet member 13 extends more than the sheet member 14 on the side connected to the second connecting member 9.
  • the first wiring structure 11 is formed using the sheet member 13 as a base material and is formed in the lower layer of the sheet member 14. Therefore, in order to connect to the second wiring structure 16, the range of the wiring length d is on the surface of the first connecting member 8.
  • a structure in which the material 13 is stretched more than the sheet member 14 is adopted.
  • the entire first wiring structure 12 has a structure exposed on the surface of the first connection member 8, but even if a structure that is covered with a protective layer or the like is adopted, (1) As with wiring structure (11), the wiring length (d) is exposed at the end on the side connected to the second connecting member (9).
  • the second wiring structure 16 provided in the second connection member 9 is a region in contact with the first wiring structures 11 and 12, and has a wiring length d of approximately 2 Double the wiring length
  • the first connecting member 8 has the first arrangement located on the lower layer side.
  • the sheet member 13 is extended more than the sheet member 14.
  • the sheet member 14 functions as a base material of the first wiring structure 12
  • the first wiring structure 11 formed on the sheet member 13 is formed on the sheet member 14 as shown in FIG. It is almost equal to the wiring length d on the second connecting member 9 side than the formed first wiring structure 12.
  • the plurality of second wiring structures 16 are Each needs to be in contact with either the first wiring structure 11 or 12, and in order to be able to contact either of them, the wiring length required for contact d
  • the first connection member 8 and the second connection member 9 are used. Are electrically connected to each other.
  • the first wiring structures 11 and 12 and the second wiring structure 16 are in the direction and in alignment (in the example of FIG. 3, the second connection member 9 is positioned vertically above the first connection member 8 in the drawing).
  • the end of the first connecting member 8 and the end of the second connecting member 9 are overlapped, and the positional relationship between the two is fixed by using, for example, ACF (Anisotropic Conductive Film) Is done.
  • the alternate long and short dash line regions connected by the double-sided arrows in FIG. Done That is, for example, the one-dot chain line region S of the first wiring structure 11a is the second wiring structure 11a.
  • the line structure 11a and the second wiring structure 16a are in contact with each other within the range of the wiring length d.
  • the one-dot chain line region S of the first wiring structure 12a is fixed in contact with the one-dot chain line region S of the second wiring structure 16b.
  • the one-dot chain line region S of the first wiring structure l ib is the one-dot chain line region lib of the second wiring structure 16c.
  • 16c 12b Structure Fixed in contact with the dash-dot line region S of 16d. In this way, the first connection
  • connection mode between the second connection member 9 and the inspection circuit 5 will be described.
  • the electrical connection between the second connection member 9 and the inspection circuit 5 is made by the end of the second wiring structure 16 provided in the second connection member 9 and the end of the wiring structure 7 provided in the inspection circuit 5. This is realized by contact with.
  • the second wiring structure 16 has a wiring length d as a contact area at the end in contact with the inspection circuit 5.
  • One area is secured, and the wiring length d is secured in the wiring structure 7 as well.
  • the region T and the dot-and-dash region T at the end of the wiring structure 7d are in contact with each other.
  • FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a manufacturing method of the first connection member 8 and the second connection member 9 constituting the relay connection member.
  • a predetermined wiring pattern is formed on a single sheet member 21.
  • the sheet member 21 includes a central region 21a (corresponding to the third region in the claims) located at the center, an end region 21b (corresponding to the first region in the claims) located at both ends, Wiring is formed in the central region 21a and the end regions 21b and 21c so as to have a different pattern in each of the region 21c (corresponding to the second region in the claims).
  • first wirings 22a to 22h are formed from the central region 21a to the end region 21b, and second wirings are formed from the central region 21a to the end region 21c.
  • 23a to 23i are formed.
  • the first wirings 22a to 22h and the second wirings 23a to 23i have a configuration in which each extends substantially in parallel, while the first wiring and the second wiring are alternately arranged in the central region 21a.
  • the first wiring 22h, the second wiring 23i are arranged in this order.
  • a pattern is formed.
  • pads 24a to 24h are respectively provided corresponding to the first wirings 22a to 22h and the second wirings 23a to 23i. And pads 25a to 25i are formed.
  • alignment alignment 26 (which functions as an example of an alignment mark in the claims) is formed on the end region 2 lc.
  • the sheet member 21 is divided into three pieces, that is, a central region 21a and end regions 21b and 21c along the broken line shown in FIG.
  • the three pieces of the divided center region 21a and end region 21b and 21c function as examples of the third sheet member, the first sheet member, and the second sheet member in the claims.
  • the central region 2 la and the end regions 21b and 21c on which the predetermined wiring pattern is formed constitute the sheet member 15, the sheet member 13 and the sheet member 14 included in the relay connecting member 6, and are formed on each region.
  • the wiring patterns thus formed constitute the second wiring structure 16, the first wiring structure 12, and the first wiring structure 11, respectively, as is clear when FIG. 4 is compared with FIG.
  • the portions remaining on the central region 21a constitute the second wiring structure 16 and remain in the end region 21b.
  • Each portion constitutes the first wiring structure 12, and the portion remaining in the end region 21 c constitutes the first wiring structure 11.
  • the pad 24 and the pad 25 constitute the connection pad 19 and the connection node 18, respectively.
  • the end regions 21b and 21c corresponding to the sheet member 14 and the sheet member 13 are sequentially laminated and fixed.
  • the end regions 21b and 21c are accurately aligned by the alignment 26 described above in the step of applying power.
  • the alignment 26 indicates the position of the end of the end region 21b on the central region 21a side (the end on the side indicated by the broken line in FIG. 4).
  • the central region 21a forms the second connection member 9 together with the first wirings 22a to 22h and the second wirings 23a to 23i formed on the surface.
  • the central area 2 la is connected to the structure in which the end areas 21 b and 21 c are stacked, so that the wiring structures are electrically connected to each other, that is, are connected so as to satisfy the connection relationship shown in FIG. Member 6 is completed.
  • the inspection apparatus according to the present embodiment has an advantage that the first wiring structures 11 and 12 adjacent to each other in the first connection member 8 are formed on different layers. As shown in FIG.
  • first wiring structures 11 and 12 adjacent to each other are formed on different layers (that is, the sheet members 13 and 14), a plurality of the first wiring structures 11 and 12 are formed on the same layer.
  • the arrangement interval of the first wiring structure 11 and the plurality of first wiring structures 12 can be increased to twice the arrangement interval of the probes 3. For this reason, as shown in FIG. 2, it is possible to increase the area of the connection pads 18 and 19 for contact with the end of the probe 3, and alignment between the probe 3 and the connection pads 18 and 19 is possible. This makes it possible to easily perform the above-described process and to suppress the deformation of the wiring structure (connection pad) due to the frictional force with the probe 3.
  • connection pad 18b is formed at a position different from the connection pads 18a and 18c with respect to the extending direction of the first wiring structure (longitudinal direction in FIG. 2). Even if it is extended with respect to (lateral direction in FIG. 2), it does not short-circuit with the connection pads 18a and 18c.
  • connection pad 18b can be extended in a direction perpendicular to the extending direction as long as it is not short-circuited with the first wiring structures 11a and 11c located in the vicinity. This also applies to the other connection pads 18a, 19a, etc., and adjacent pads on the same layer are arranged at different positions, so that connection pads with a larger area can be realized. is there.
  • the first connection member 8 has the structure in which the first wiring structures 11, 12 are formed on different layers, and more specifically, the first wiring Between structures 11 and 12, there is a sea The member 14 is interposed. Therefore, in order to electrically connect the first wiring structure 11 located in the lower layer to the other, it is necessary to adopt a structure in which the first wiring structure 11 is exposed in the vicinity of the end portion.
  • the electrical connection portion (the chain line area S in FIG. 3) and the electrical connection portion in the first wiring structure 12 formed in the upper layer (in FIG. 3)
  • the position is different from the one-dot chain line region s) with respect to the extending direction of the wiring structure. others
  • the member that is electrically connected to the first connecting member 8 is approximately twice as long as the wiring length d that is normally required to electrically connect to both the first wiring structures 11 and 12.
  • Wiring length d is approximately twice as long as the wiring length d that is normally required to electrically connect to both the first wiring structures 11 and 12.
  • the inspection circuit 5 to be connected to the relay connection member 6 has a wiring length d as the length of the electrical connection portion (the one-dot chain line region T of the wiring structure 7), and does not have a cover. Is normal
  • the inspection circuit 5 is obtained by diverting what is used as a driver circuit or the like when mounting the inspection object 1, the electrical connection portion provided in the inspection circuit 5 is the surface of the inspection object 1. Only the length (for example, the wiring length d) necessary for electrical connection with the terminal 2 formed above (that is, on the same layer) is provided. Therefore, the first connection
  • inspection circuit 5 use a dedicated circuit for inspection where the electrical connection part is the wiring length d
  • the relay connection member 6 and the inspection circuit 5 are connected.
  • a good conduction state is realized. That is, in the second connection member 9, there is no limit on the wiring length, and it is not possible to secure the wiring length d in the second wiring structure 16 on the side connected to the first connection member 8.
  • the second connecting member 9 has an advantage that sufficient electrical continuity with the inspection circuit 5 can be secured.
  • the relay connection member 6 is newly provided with the second connection member 9 in the present embodiment, there is an advantage that an inspection apparatus having a structure that is physically reasonable can be realized.
  • the conventional inspection apparatus has a structure in which the relay connection member 104 is formed by a single connection member. Therefore, in the conventional inspection apparatus, in order to maintain the correspondence between the plurality of wiring structures 105a formed on the inspection circuit 105 and the plurality of terminals 101a formed on the inspection object 101, FIG. It is necessary to connect the relay connection member 104 and the inspection circuit 105 in the shape of a " ⁇ " as shown in Fig. 3, resulting in a structure that is physically unreasonable, weak in strength, partly broken, etc. There was a problem.
  • the relay connection member 6 has a structure including a plurality of connection members (first connection member 8 and second connection member 9), thereby solving such a problem. ing. That is, the arrangement pattern of the terminals 2 in the direction perpendicular to the paper surface in FIG. 1 is reversed by passing through the first connection member 8 arranged with the first wiring structures 11 and 12 facing the terminal 2. . Thereafter, the second wiring member 16 is reversed again by passing through the second connecting member 9 disposed in a state where the second wiring structure 16 is opposed to the first wiring structures 11 and 12, and coincides with the original arrangement pattern.
  • the inspection circuit 5 can bring the wiring structure 7 into contact with the second wiring structure 16 in the same manner as when contacting with the plurality of terminals 2 provided in the inspection object 1. Instead, the second connection member 9 and the inspection circuit 5 can be connected by a normal connection mode. As a result, the inspection apparatus according to the present embodiment can realize a structure that is physically unreasonable, and has the advantage of being able to reduce the probability of occurrence of defects such as disconnection.
  • the inspection apparatus can manufacture the relay connection member 6 using a single sheet member 21 as shown in FIG.
  • the second wiring structure 16 formed on the sheet member 15 constituting the relay connecting member 6 is composed of the sheet member.
  • the first wiring structures 11 and 12 formed on the 13 and 14 are alternately connected.
  • the first wiring 22 and the second wiring 23 are alternately arranged on the central region 21a (the sheet member 15 is configured after separation), and the end region 21c (the sheet member after separation is formed). 13) is formed by extending the second wiring 23, and the end region 21b (the sheet member 14 after separation) is formed by extending the first wiring 22 to form the first wiring.
  • the structures 11 and 12 and the second wiring structure 16 can be easily realized. For this reason, it is possible to form a wiring pattern by using a simple pattern mask for forming a wiring pattern on the sheet member 21 without having to prepare three patterns for each region. is there.
  • the first wiring 22 maintains continuity between the central region 21a and the end region 21b
  • the second wiring 23 includes the central region 21a and the end region 21c.
  • the first wiring structure 11 formed on the surface of the sheet member 13
  • the second wiring formed on the surface of the structure 12 and the sheet member 15 does not cause adverse effects such as a gap between adjacent wiring structures between the first structure 16 and the second connection member 9.
  • the configuration of the first connection member 8 has a structure in which sheet members 13 and 14 each having a predetermined wiring pattern formed on the surface are laminated. It is not necessary to limit to a structure in which TAB, FPC, etc. are laminated. Any structure in which adjacent first wiring structures are formed on different layers can be used as the first connection member. Further, the number of layers in which the first wiring structure is formed is not limited to two, and the first wiring structure can be formed on an arbitrary number of layers as long as there are a plurality of layers.
  • the relay connection member and the inspection apparatus using the relay connection member according to the present invention are provided.
  • the method of manufacturing the intermediate connection member is used for the inspection, and the other ends of the plurality of probes that contact one end with a plurality of terminals formed on the inspection object when inspecting a predetermined inspection object. This is useful when electrically connecting to an inspection circuit that outputs an inspection signal, and is particularly suitable when performing an electrical characteristic inspection on an electronic component such as a liquid crystal panel.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

 検査対象の端子の狭小化に対応しつつ、検査対象との電気的接続および内部における電気的接続を充分確保可能な検査装置を実現する。  プローブ3と、プローブ3を保持するプローブホルダ4と、プローブ3を介して検査対象1に対して検査信号を出力する検査回路5と、プローブ3と検査回路5とを電気的に接続する中継接続部材6とを備える。中継接続部材6は、プローブ3と電気的に接続し、隣接するもの同士が異なる層上に形成された第1配線構造11、12を備えた第1接続部材8と、検査回路5に備わる配線構造7と電気的に接続され、同一層上に形成された第2配線構造16を備えた第2接続部材9とを有する。中継接続部材6は、プローブ3との接続に適した第1接続部材8と、検査回路5との接続に適した第2接続部材9とを備えることによって、両者に対する良好な電気的導通を実現できる。

Description

明 細 書
中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、所定の検査対象に対する検査の際に前記検査対象上に形成された複 数の端子と一端が接触する複数のプローブの他端と、前記検査に使用される検査信 号を出力する検査回路との間を電気的に接続する中継接続部材、中継接続部材を 用いた検査装置および中継接続部材の製造方法に関するものである。
背景技術
[0002] 従来、液晶パネル等の電子部品に対して電気特性検査を行うための検査装置が 知られている。このような検査装置としては、例えば、図 5に示すように、電子部品たる 検査対象 101に備わる端子 101aに対応して多数設けられた複数のプローブ 102と 、複数のプローブを保持するプローブホルダ 103と、所定の検査信号の出力等を行 う検査回路 105と、プローブと検査回路との間を電気的に接続するための中継接続 部材 104とによって形成される。力かる構成を採用することによって、検査の際には、 検査回路 105より出力された検査信号は、中継接続部材 104に備わるシート部材 10 7上に形成された配線構造 106およびプローブ 102を経由して検査対象 101たる電 子部品に入力し、電子部品内の回路の処理を経て応答信号がプローブ 102および 配線構造 106を経由して検査回路 105に入力される(例えば、特許文献 1参照)。
[0003] 検査回路 105としては、専用の電子回路を用いることとしても良いが、例えば電子 部品の動作試験を行う等の場合には、電子部品を製品に実装した際に実際に使用 される電子回路を用いることが好ましい。例えば、液晶パネルの検査を行う検査装置 においては、検査回路 105として実装時に用いられるドライバ ICを備えた TAB(Tape Automated Bonding)を使用するのが一般的である。検査回路 105として製品レべ ルで使用される電子回路を用いる理由は、実際の使用状況に近 、条件下で検査を 行うことが好ましいことと、別途検査専用の電子回路を作製することによる検査コスト の上昇を回避するためである。
[0004] 特許文献 1 :特開平 8— 222299号公報 発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] し力しながら、従来の検査装置では、中継接続部材 104とプローブ 102の電気的 接続および中継接続部材 104と検査回路 105の電気的接続に不具合が生じる可能 性が否定できないという課題を有する。以下、力かる課題について説明する。
[0006] 液晶パネル等の電子部品は近年小型化の傾向が顕著であり、かかる傾向に鑑み て検査の際に検査信号の入出力が行われる複数の端子についても、小型化および 隣接する端子間の間隔が狭小化するという傾向が見られる。力かる傾向に対応して、 検査装置においてもプローブ 102の配置間隔の狭小化および中継接続部材 104中 に形成する複数の配線構造 106の間隔を狭小化する必要性が生じる。このため、従 来の検査装置では、特に、プローブ 102と中継接続部材 104中に形成した配線構造 106との間で電気的接続を行うためには、プローブ 102と中継接続部材 104との間 できわめて正確な位置あわせを行う必要があり、検査装置の作製を困難なものとして いた。
[0007] また、従来の検査装置では、プローブ 102と中継接続部材 104中の配線構造 106 との接続は、ハンダ等で固定することによって実現するのではなぐ配線構造 106と 別体に形成されたプローブ 102が、配線構造 106に対して所定の荷重を印加しつつ 物理的に接触することによって実現する。このため、位置ずれした状態でプローブ 10 2が配線構造 106に接触した場合または配線構造 106に接触した後にプローブ 102 が位置ずれした場合には、プローブ 102との間に生じる摩擦力に起因して配線構造 106の形状が変化し、隣接する配線構造間で電気的に短絡を生じる等の新たな問 題が発生する。
[0008] さらに、従来の検査装置は、中継接続部材 104と検査回路 105との間の電気的接 続に関しても問題を有する。図 5に示すように、検査対象 101に備わる端子 101aと配 線構造 106とは向かい合った状態でプローブ 102を介した電気的接続を実現してお り、この結果、図 5における紙面垂直方向に関する複数の端子 101aの配列パターン は、鏡に映したのと同様の理由で配線構造 106において反転することとなる。このた め、検査回路 105は、配列パターンが反転した中継接続部材 104に対して電気的に 接続する必要が生じることとなり、図 5に示すように、中継接続部材 104と検査回路 1 05とは、いわゆる「く」の字状に接続する必要性が生じることとなる。力かる接続態様 は物理的に無理が生じた構造であることから、例えば物理的な強度が低い部分にお いて配線構造 106等に断線が生じるなどの問題が新たに生じることとなる。
[0009] 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、検査対象に備わる端子の狭小化 に対応しつつ、検査対象との電気的接続および内部における電気的接続を充分確 保可能な検査装置、検査装置を構成する中継接続部材および中継接続部材の製造 方法を実現することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0010] 上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項 1にかかる中継接続部材 は、所定の検査対象に対する検査の際に前記検査対象上に形成された複数の端子 と一端が接触する複数のプローブの他端と、前記検査に使用される検査信号を出力 する検査回路との間を電気的に接続する中継接続部材であって、それぞれの一端 において複数の前記プローブの他端と電気的に接続し、隣接するもの同士が異なる 層上に位置し、他端が所定長以上に渡って表面に露出した複数の第 1配線構造が 形成された第 1接続部材と、一端において所定長だけ表面に露出した前記第 1配線 構造の他端と接触し、他端において前記検査回路と電気的に接続する複数の第 2配 線構造が同一層上に形成された第 2接続部材と、を備えたことを特徴とする。
[0011] この請求項 1の発明によれば、隣接する第 1配線構造を異なる層上に形成すること によって同一層上における第 1配線構造の間隔を広げ、プローブと第 1配線構造との 間の電気的導通を充分に確保可能な第 1接続部材と、第 1接続部材と検査回路とを 電気的に接続する第 2配線構造を同一面上に形成することによって検査回路に対す る電気的接続を充分に確保可能な第 2接続部材とを備えたことによって、プローブと 検査回路との間の電気的導通を充分に確保することが可能である。
[0012] また、請求項 2にかかる中継接続部材は、上記の発明において、前記第 1接続部 材は、絶縁部材によって形成され、上面に 1以上の前記第 1配線構造が形成された シート部材を複数積層した構造を有し、隣り合う前記第 1配線構造は、互いに異なる シート部材上に形成されたことを特徴とする。 [0013] また、請求項 3にかかる検査装置は、所定の検査対象に対して該検査対象に備わ る複数の端子を介して電気信号を入出力することによって検査を行う検査装置であ つて、前記検査対象上に形成された複数の前記端子のそれぞれと一端が接触する 複数のプローブと、複数の前記プローブを前記端子に対応した位置に収容するプロ ーブホルダと、それぞれの一端にお!、て複数の前記プローブの他端と電気的に接続 し、隣接するもの同士が異なる層上に位置し、他端が所定長以上に渡って表面に露 出した複数の第 1配線構造が形成された第 1接続部材と、一端において所定長だけ 表面に露出した前記第 1配線構造の他端と接触し、他端において前記検査回路と電 気的に接続する複数の第 2配線構造が同一層上に形成された第 2接続部材と、前記 第 2接続部材と電気的に接続され、前記第 2接続部材に対して少なくとも検査信号を 出力する検査回路と、を備えたことを特徴とする。
[0014] また、請求項 4にかかる中継接続部材の製造方法は、所定の検査対象に対する検 查の際に前記検査対象上に形成された複数の端子と接触する複数のプローブと、前 記検査に使用される検査信号を出力する検査回路との間を電気的に接続する中継 接続部材の製造方法であって、単一のシート部材の表面上に、一方の端部から中央 付近まで延伸した複数の第 1配線と、他方の端部から中央付近まで延伸し、かつ中 央付近にて隣接する前記第 1配線間に位置するよう形成された第 2配線とを形成す る配線形成工程と、前記シート部材を、前記第 1配線および前記第 2配線が延伸する 方向に関して、前記第 1配線のみが形成された第 1領域と、前記第 2配線のみが形 成された第 2領域と、前記第 1配線および前記第 2配線の双方が形成された第 3領域 とに分割することによって第 1シート部材、第 2シート部材および第 3シート部材を形 成するシート分割工程と、前記第 1シート部材および前記第 2シート部材を、前記第 1 配線と前記第 2配線との配列パターンが、前記第 3シート部材における配列パターン とほぼ同一になるよう積層する積層工程と、前記第 1シート部材および前記第 2シート 部材の積層構造における前記第 1配線および前記第 2配線の端部を、前記第 3シー ト部材における前記第 1配線および前記第 2配線の端部と電気的に接続した状態で 前記第 1、第 2および第 3シート部材の相互間の位置関係を固定する固定工程と、を 含むことを特徴とする。 [0015] この請求項 4の発明によれば、単一のシート部材上に所定の第 1配線および第 2配 線を第 1〜第 3領域に渡って連続的に形成することとしたため、第 1、第 2および第 3 シート部材のそれぞれに対して別個独立に配線パターンを形成する必要がなぐか つ分離した後に配線間で位置ずれが生じるおそれが抑制されることとなり、電気的導 通に優れた中継接続部材を製造することができる。
[0016] また、請求項 5にかかる中継接続部材の製造方法は、上記の発明にお 、て、前記 積層工程前において、前記第 1シート部材および前記第 2シート部材の少なくともい ずれか一方に対して、他方との位置あわせに利用する位置あわせ標識を形成する標 識形成工程をさらに含み、前記積層工程において、前記位置あわせ標識を用いて 前記第 1シート部材と前記第 2シート部材との間の位置あわせを行いつつ積層するこ とを特徴とする。
発明の効果
[0017] 本発明にかかる中継接続部材および検査装置は、隣接する第 1配線構造を異なる 層上に形成することによって同一層上における第 1配線構造の間隔を広げ、プロ一 ブと第 1配線構造との間の電気的導通を充分に確保可能な第 1接続部材と、第 1接 続部材と検査回路とを電気的に接続する第 2配線構造を同一面上に形成することに よって検査回路に対する電気的接続を充分に確保可能な第 2接続部材とを備えたこ とによって、プローブと検査回路との間の電気的導通を充分に確保できるという効果 を奏する。
[0018] また、本発明にかかる中継接続部材の製造方法は、単一のシート部材上に所定の 第 1配線および第 2配線を第 1〜第 3領域に渡って連続的に形成することとしたため、 第 1、第 2および第 3シート部材のそれぞれに対して別個独立に配線パターンを形成 する必要がなぐかつ分離した後に配線間で位置ずれが生じるおそれが抑制される こととなり、電気的導通に優れた中継接続部材を製造することができるという効果を奏 する。
図面の簡単な説明
[0019] [図 1]図 1は、実施の形態にかかる検査装置の全体構成を示す模式図である。
[図 2]図 2は、検査装置を構成する第 1接続部材のプローブ近傍部分の構造を詳細 に示す模式図である。
[図 3]図 3は、検査装置を構成する第 1接続部材、第 2接続部材および検査回路の相 互間における接続態様を説明するための模式図である。
[図 4]図 4は、検査装置を構成する中継接続部材の製造方法を説明するための模式 図である。
[図 5]図 5は、従来の検査装置の構成を示す模式図である。
符号の説明
1、 101 検査対象
2、 101a 端子
3、 102 プローブ
4、 103 プローブホノレダ
5、 105 検査回路
5a ICチップ
6、 104 中継接続部材
7、 7a〜7d、 105a, 106 配線構造
8 第 1接続部材
9 第 2接続部材
10 補強部材
11、 l la〜l ld 第 1配線構造
12、 12a〜12d 第 1配線構造
13、 14、 15、 21、 107 シート部材
16、 16a〜16d 第 2配線構造
18a〜18d、 19a〜19d 接続パッド
21a 中央領域
21b、 21c 端部領域
22a〜22h 第 1配線
23a〜23i 第 2配線
24a〜24h、 25a〜25i パッド 26 ァライメント
S、S 、S 、S 、S 、S 、S 、S 、S 、S 、S 、T、T 、T 、T 、T 、T
11 11a lib 12 12a 12b 16a 16b 16c 16d 7 7a 7b 7c 7d 16a
、T 、T 、T 一点鎖線領域
16b 16c 16d
発明を実施するための最良の形態
[0021] 以下に、本発明にかかる検査装置および検査装置を構成する中継接続部材を実 施するための最良の形態 (以下、「実施の形態」と称する)を、図面を参照しつつ詳細 に説明する。なお、図面は模式的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、それぞ れの部分の厚みの比率などは現実のものとは異なることに留意すべきであり、図面の 相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもち ろんである。
[0022] 図 1は、実施の形態にかかる検査装置の全体構成を示す模式図である。図 1に示 すように、本実施の形態にかかる検査装置は、検査対象 1に備わる端子 2と一端が接 触するプローブ 3と、プローブ 3を所定の位置に保持するプローブホルダ 4と、プロ一 ブ 3を介して検査対象 1に対して少なくとも検査信号を出力する検査回路 5と、プロ一 ブ 3と検査回路 5とを電気的に接続するための中継接続部材 6とを備える。
[0023] プローブ 3は、検査の際に一端において検査対象 1に備わる端子 2と接触し、他端 において第 1配線構造 11, 12 (後述)と接触することにより、検査回路 5と検査対象 1 との間を電気的に接続するためのものである。具体的には、プローブ 3は、パネ等の 弾性部材を一部に備えた伸縮自在の導電性部材によって形成され、端子 2等の接 触対象に対して所定の押圧力を印加しつつ接触することによって、接触対象と電気 的に導通する機能を有する。なお、本実施の形態において検査対象 1上に形成され る端子 2は複数設けられることとし、本実施の形態にかかる検査装置は、複数の端子 2に対応して、複数のプローブ 3を備える。
[0024] プローブホルダ 4は、複数のプローブ 3を所定の位置に保持するためのものである。
すなわち、プローブ 3は、検査対象 1上に形成された複数の端子 2とそれぞれ接触す ることによって電気的に導通するためのものであり、プローブホルダ 4は、導通状態が 良好となるようあらかじめ定めた場所に位置するよう、複数のプローブ 3を保持する機 能を有する。具体的な保持態様としては、プローブホルダ 4は例えば板状体によって 形成され、力かる板状体に形成された貫通口内に、両端が板状体の表面から若干突 出するようプローブ 3を保持することとする。
[0025] 検査回路 5は、検査対象 1の電気的特性の検査を行う際に、検査に必要な検査信 号を検査対象 1に対して出力するためのものである。具体的には、検査回路 5は、 T AB等によって構成され、例えば検査信号を生成する電子回路を含む ICチップ 5aを 搭載すると共に、 ICチップ 5aと中継接続部材 6とを電気的に接続するための配線構 造 7を備えた構造を有する。なお、検査回路 5として、検査専用の電子回路を備えた ものを別途作製することとしても良いが、本実施の形態では、検査対象 1が製品の一 部として実装された際に、検査対象 1に対して動作信号等の入出力を行う回路をそ のまま流用することとする。すなわち、例えば検査対象 1が液晶パネルの場合には、 液晶パネルを用いてディスプレイを作製した場合に液晶パネルに対して画素信号等 を入力するドライバ回路を検査回路 5として使用する。このように既存の電子回路を 流用することによって、現実の動作に即した検査が可能であると共に、検査装置の製 造コストを低減することが可能である。
[0026] 次に、中継接続部材 6について説明する。図 1にも示すように、中継接続部材 6は、 プローブ 3と電気的に接続するための第 1接続部材 8と、第 1接続部材 8と検査回路 5 との間を電気的に接続するための第 2接続部材 9と、第 1接続部材 8の反り等を防止 するための補強部材 10とによって構成される。
[0027] 第 1接続部材 8は、他端においてそれぞれ対応するプローブ 3と電気的に接続する と共に、互いに異なる層上に形成された第 1配線構造 11、 12を備える。具体的には 、図 1にも示すように、第 1接続部材 8は、シート部材 13、 14を順次積層した構成を有 し、シート部材 13、 14のそれぞれの表面上に第 1配線構造 11、 12をあら力じめ形成 しておくことにより、第 1配線構造 11、 12が異なる層上に形成された構造を実現する
[0028] シート部材 13、 14は、膜厚が薄く柔軟性に富んだシート状の絶縁部材によって形 成される。具体的には、シート部材 13、 14は、例えば FPC (Flexible Printed Circui t)の基材として用いられるポリイミド等を材料として形成される。なお、図 1にも示すよ うに、積層構造の下層に位置するシート部材 13は、形成される第 1配線構造 11がプ ローブ 3等と電気的に接続することを可能とするために、第 1配線構造 11、 12の延伸 方向に関してシート部材 14よりも延伸した構成を有し、シート部材 14よりも延伸した 部分まで第 1配線構造 11を延伸させた構造を有する。
[0029] 第 1配線構造 11、 12は、プローブ 3と第 2接続部材 9上に形成される第 2配線構造 16 (後述)との間の導通経路としての機能を果たすものである。具体的には、第 1配 線構造 11および 12は、プローブ 3に対応して複数個ずつ形成されており、第 1配線 構造 11と第 1配線構造 12とは異なる層上に形成されている。隣接する第 1配線構造 のうち、一方は第 1配線構造 11であり、他方は第 1配線構造 12である。すなわち、隣 接する第 1配線構造は、異なる層上に位置するよう形成されている。なお、第 1配線 構造 11は、第 1配線構造 12に対して下層に位置するが、基材たるシート部材 13が シート部材 14よりも延伸した部分を有することに対応して、かかる部分まで延伸して 形成されることによって端部近傍が表面上に露出した構造を有する。
[0030] 第 2接続部材 9は、第 1接続部材 8を構成する第 1配線構造 11、 12と検査回路 5と を電気的に接続するためのものである。具体的には、第 2接続部材 9は、シート部材 1 5上に複数の第 2配線構造 16が形成された構造を有し、第 2配線構造 16によって第 1配線構造 11、 12と検査回路 5とを電気的に接続する機能を有する。また、複数の 第 2配線構造 16は、それぞれが同一のシート部材 15上、すなわち同一層上に形成 された構造を有する。
[0031] 補強部材 10は、第 1接続部材 8を補強するためのものである。上述したように第 1接 続部材 8の一方の端部は、第 1配線構造 11、 12がプローブ 3と接触することによって プローブ 3に対して電気的に導通する構成を有することから、プローブ 3と第 1接続部 材 8との間には所定の押圧力が作用することとなる。一方で、第 1接続部材 8の基材と して機能するシート部材 13、 14は柔軟性に富んだシート状の部材によって形成され ることから、プローブ 3から供給される押圧力に対してシート部材 13、 14が反ることに よってプローブ 3と第 1配線構造 11、 12とが密着せず、両者の間の導通状態が悪ィ匕 するおそれがある。このため、本実施の形態では、補強部材 10を新たに備えることに よって第 1接続部材 8を補強し、第 1配線構造 11、 12の端部とプローブ 3との間にお ける良好な電気的導通を実現する。 [0032] 次に、第 1接続部材 8を構成する第 1配線構造 11、 12のうち、プローブ 3と接触する 側の端部の構造について詳細に説明する。図 2は、第 1接続部材 8のうちプローブ 3 と接触する側の端部の一部について示す平面図である。なお、図 2は、第 1接続部材 8をプローブ 3側から見た平面構造を模式的に示したものであり、直接目視できな!/、 部分は破線にて示している。なお、図 2等では、複数存在する第 1配線構造 11、 12 等について、互いを区別するために必要に応じて a、 b等の添え字を付すこととする。 また、第 1配線構造 11、 12の個数については、図 2等の例に限定して解釈する必要 がないことはもちろんである。
[0033] 図 2に示すように、シート部材 13上に形成される第 1配線構造 l la〜l Idと、シート 部材 14上に形成される第 1配線構造 12a〜12dとは、平面構造としては互いに交互 に配置された構造を有する。具体的には、第 1接続部材 8をプローブ 3側力 眺めた 際には、第 1配線構造 11aゝ 12aゝ l ibゝ 12bゝ…のように配列されることとなり、プロ ーブ 3側力も見て隣接する第 1配線構造は、互いに異なる層(シート部材 13またはシ 一ト部材 14)上に位置するよう形成されたこととなる。力かる構造を採用することにより 、図 2にも示すように、単一層上に第 1配線構造を形成した場合と比較して、同一層 上に形成される第 1配線構造の間隔はほぼ 2倍の値となる。
[0034] また、第 1配線構造 l la〜l ldおよび第 1配線構造 12a〜12dの端部には、延伸方 向と垂直な方向に第 1配線構造よりも広い幅を有する接続パッド 18a〜18dおよび接 続パッド 19a〜 19dがそれぞれ形成されて!、る。これらの接続パッド 18a〜 18dおよ び接続パッド 19a〜19dは、それぞれがいわゆる千鳥配置の状態で形成されている 。具体的には、例えば接続パッド 18a〜18dの場合、第 1配線構造 11の延伸方向に 関して、接続パッド 18a、 18cは同一の位置に形成される一方で、接続パッド 18b、 1 8dは、接続パッド 18a等と異なる位置に形成されている。すなわち、接続パッド 18a 〜18dおよび接続パッド 19a〜19dは、第 1配線構造の延伸方向に関する位置が、 それぞれ隣接する接続パッド間で異なるよう形成されている。
[0035] 次に、第 1接続部材 8、第 2接続部材 9および検査回路 5の相互間における電気的 な接続関係について説明する。図 3は、第 1接続部材 8、第 2接続部材 9および検査 回路 5の相互間の接続態様を説明するための模式図である。以下、図 3を参照しつ つ接続態様に関して説明する。
[0036] まず、第 1接続部材 8と第 2接続部材 9との間の接続態様について説明する。第 1接 続部材 8と第 2接続部材 9との間の電気的接続は、具体的には第 1接続部材 8に備わ る第 1配線構造 11、 12の端部と第 2接続部材 9に備わる第 2配線構造 16の端部とが 接触した状態で第 1接続部材 8と第 2接続部材 9の間の位置関係が固定されることに よって実現される。なお、第 1配線構造 11、 12と第 2配線構造 16との間の電気的な 接触抵抗を実用上問題ない程度にまで抑制する観点から、本実施の形態では第 1 配線構造 11、 12と第 2配線構造 16とが互いに接触する部分を、所定の配線長 dだ
1 け確保する必要があるものとする。
[0037] 第 1配線構造 11にお 、て力かる配線長 dを確保するために、本実施の形態では第
1
1接続部材 8に関して、第 2接続部材 9と接続する側においてシート部材 13がシート 部材 14よりも延伸した構造を有する。上述したように、第 1配線構造 11は、シート部 材 13を基材として形成され、シート部材 14の下層に形成されることとなる。このため、 第 2配線構造 16と接続するためには配線長 dの範囲が第 1接続部材 8の表面上に
1
露出した構造とする必要があり、力かる配線長 dを確保するために基材たるシート部
1
材 13をシート部材 14よりも延伸させた構造を採用する。なお、本実施の形態では第 1配線構造 12は全体が第 1接続部材 8の表面上に露出した構造を有するが、仮に保 護層等によって被覆する構造を採用した場合であっても、第 1配線構造 11の場合と 同様に第 2接続部材 9と接続する側の端部において配線長 dだけ露出した構造とす
1
ることが好ましい。
[0038] このような構造の第 1接続部材 8に対して、第 2接続部材 9に備わる第 2配線構造 16 は、第 1配線構造 11、 12と接触する領域として、配線長 dのほぼ 2倍にあたる配線長
1
dの範囲が必要となる。上述したように、第 1接続部材 8は、下層側に位置する第 1配
2
線構造 11を表面に露出させるためにシート部材 13をシート部材 14よりも延伸させた 構造を有する。ここで、シート部材 14は、第 1配線構造 12の基材として機能すること から、図 3に示すように、シート部材 13上に形成された第 1配線構造 11は、シート部 材 14上に形成された第 1配線構造 12よりも第 2接続部材 9側に配線長 dにほぼ等し
1 い長さだけ延伸した構造を有することとなる。そして、複数の第 2配線構造 16は、そ れぞれが第 1配線構造 11、 12のいずれか一方と接触する必要があり、いずれに対し ても接触可能な構造とするためには、接触に要する配線長 d
2として d
1のほぼ 2倍の値 が必要となる。
[0039] このように、接続用の領域が所定の配線長だけ確保された第 1配線構造 11、 12お よび第 2配線構造 16を用いることによって、第 1接続部材 8と第 2接続部材 9とが電気 的に接続されることとなる。すなわち、第 1配線構造 11、 12と第 2配線構造 16とが向 力 、合う状態(図 3の例では第 2接続部材 9が第 1接続部材 8に対して紙面垂直上方 に位置することとなる)で第 1接続部材 8の端部と第 2接続部材 9の端部とが重ね合わ され、例えば ACF (Anisotropic Conductive Film :異方性導電性接着剤)を用いる ことによって両者の位置関係が固定される。
[0040] より具体的には、第 1接続部材 8と第 2接続部材 9とが互いに固定された状態では、 図 3において両側矢印によって連結された一点鎖線領域同士が接触し、電気的導通 が行われる。すなわち、例えば第 1配線構造 11aの一点鎖線領域 S は、第 2配線構
11a
造 16aの一点鎖線領域 S と接触した状態で固定され、力かる接触状態により第 1配
16a
線構造 11aと第 2配線構造 16aとの間が配線長 dの範囲で接触し、電気的な接触抵
1
抗を充分に低減した、良好な電気的導通を実現している。また、第 1配線構造 12aの 一点鎖線領域 S は、第 2配線構造 16bの一点鎖線領域 S と接触した状態で固定
12a 16b され、第 1配線構造 l ibの一点鎖線領域 S は、第 2配線構造 16cの一点鎖線領域 lib
S と接触した状態で固定され、第 1配線構造 12bの一点鎖線領域 S は、第 2配線
16c 12b 構造 16dの一点鎖線領域 S と接触した状態で固定される。このようにして、第 1接続
16d
部材 8に形成されたすベての第 1配線構造と、第 2接続部材 9に形成されたすベての 第 2配線構造とは、それぞれ対応する領域間で良好な電気的導通を実現して!/ヽる。
[0041] 次に、第 2接続部材 9と検査回路 5との間の接続態様について説明する。第 2接続 部材 9と検査回路 5との間の電気的接続は、具体的には第 2接続部材 9に備わる第 2 配線構造 16の端部と、検査回路 5に備わる配線構造 7の端部とが接触することによつ て実現される。
[0042] 第 2配線構造 16の端部と配線構造 7の端部とを接触させる場合にも、電気的な接 触抵抗を低減するために配線長 dの領域に渡って接触させることとする。このため、 第 2配線構造 16は、検査回路 5と接触する側の端部にて接触領域として配線長 dの
1 領域が確保され、配線構造 7においても同様に配線長 dの領域が確保されている。
1
そして、カゝかる確保された領域同士が接触するように第 2接続部材 9と検査回路 5との 間の位置関係力ACF等によって固定され、電気的な導通が実現される。具体的に は、第 2配線構造 16aの端部にある一点鎖線領域 T と配線構造 7aの端部にある一
16a
点鎖線領域 T 、第 2配線構造 16bの端部にある一点鎖線領域 T と配線構造 7bの
7a 16b
端部にある一点鎖線領域 T 、第 2配線構造 16cの端部にある一点鎖線領域 Τ と配
7b 16c 線構造 7cの端部にある一点鎖線領域 T 、第 2配線構造 16dの端部にある一点鎖線
7c
領域 T と配線構造 7dの端部にある一点鎖線領域 T 、がそれぞれ接触することによ
16d 7d
り、第 2接続部材 9と検査回路 5との電気的な接続が実現される。
[0043] 次に、本実施の形態に力かる検査装置の製造方法の一例について説明する。以 下では、検査装置を構成する部材のうち、第 1接続部材 8および第 2接続部材 9によ つて構成される中継接続部材 6の製造方法にっ ヽて説明することとする。
[0044] 図 4は、中継接続部材を構成する第 1接続部材 8および第 2接続部材 9の製造方法 を説明するための模式図である。図 4に示すように、まず単一のシート部材 21上に、 所定の配線パターンを形成する。シート部材 21は、中央に位置する中央領域 21a ( 特許請求の範囲における第 3領域に対応)と、両端部に位置する端部領域 21b (特 許請求の範囲における第 1領域に対応)、端部領域 21c (特許請求の範囲における 第 2領域に対応)とによって構成されており、中央領域 21aおよび端部領域 21b、 21 cのそれぞれにおいて異なるパターンとなるよう配線が形成される。
[0045] 具体的には、シート部材 21上には、中央領域 21aから端部領域 21bに渡って第 1 配線 22a〜22hが形成され、中央領域 21aから端部領域 21cに渡って第 2配線 23a 〜23iが形成される。第 1配線 22a〜22hおよび第 2配線 23a〜23iは、それぞれが ほぼ平行に延伸した構成を有する一方で、中央領域 21aにて第 1配線と第 2配線と が交互に配列するよう形成される。具体的には、図 4に示すように第 2配線 23a、第 1 配線 22a、第 2配線 23b、第 1配線 22b、… ·、第 1配線 22h、第 2配線 23iの順に配 列するよう配線パターンが形成される。また、シート部材 21の端部近傍には、第 1配 線 22a〜22hおよび第 2配線 23a〜23iのそれぞれに対応して、パッド 24a〜24hお よびパッド 25a〜25iが形成される。また、後述する位置あわせの際の便宜のため、 図 4の例では端部領域 2 lc上に位置あわせ用のァライメント 26 (特許請求の範囲に おける位置あわせ標識の一例として機能する)が形成される。
[0046] その後、シート部材 21を、図 4に示す破線に沿って中央領域 21a、端部領域 21b、 21cの三片に分割する。分割した中央領域 21a、端部領域 21bおよび 21cの三片は 、それぞれ特許請求の範囲における第 3シート部材、第 1シート部材および第 2シート 部材の一例として機能するものである。所定の配線パターンが形成された中央領域 2 la、端部領域 21b、 21cは、中継接続部材 6に備わるシート部材 15、シート部材 13 およびシート部材 14をそれぞれ構成することとなり、各領域上に形成された配線バタ ーンは、図 4を図 3と対比すれば明らかなように、それぞれ第 2配線構造 16、第 1配線 構造 12、第 1配線構造 11を構成することとなる。すなわち、形成された第 1配線 22a 〜22hおよび第 2配線 23a〜23iのうち、中央領域 21a上に残存する部分は、それぞ れ第 2配線構造 16を構成し、端部領域 21bに残存する部分は、それぞれ第 1配線構 造 12を構成し、端部領域 21cに残存する部分は、それぞれ第 1配線構造 11を構成 することとなる。また、パッド 24およびパッド 25はそれぞれ接続パッド 19および接続 ノ ッド 18を構成することとなる。
[0047] そして、第 1接続部材 8を形成すべくシート部材 14およびシート部材 13に対応した 端部領域 21b、 21cを順次積層し、固定する。なお、力かる工程において、上述した ァライメント 26によって端部領域 21b、 21cの位置あわせを正確に行うことが好ましい 。例えば、図 4に示す例では、ァライメント 26は、端部領域 21bの中央領域 21a側の 端部(図 4において、破線部にて示した側の端部)の位置を示しており、ァライメント 2 6の位置に端部領域 21bの端部が一致するように積層 ·固定することによって、端部 領域 21b、 21c間の位置関係を正確にあわせることが可能である。
[0048] その一方で、中央領域 21aは、表面上に形成された第 1配線 22a〜22hと第 2配線 23a〜23iと共に第 2接続部材 9を形成する。そのため、中央領域 2 laを端部領域 21 b、 21cを積層した構造に対して、配線構造同士が電気的に接続するよう、すなわち 図 3に示した接続関係を満たすよう固着することによって中継接続部材 6が完成する [0049] 次に、本実施の形態にかかる検査装置の利点について説明する。まず、本実施の 形態にかかる検査装置は、第 1接続部材 8において、互いに隣接する第 1配線構造 1 1、 12が異なる層上に形成されたことによる利点を有する。図 2にも示したように、互 いに隣接する第 1配線構造 11、 12が異なる層(すなわち、シート部材 13、 14)上に 形成されたことにより、同一層上に形成された複数の第 1配線構造 11および複数の 第 1配線構造 12配置間隔をプローブ 3の配置間隔の 2倍に広げることが可能である。 このため、図 2に示すようにプローブ 3との端部と接触するための接続パッド 18、 19の 面積を広くすることが可能であり、プローブ 3と接続パッド 18、 19との間の位置あわせ を容易に行うことが可能となると共に、プローブ 3との間の摩擦力に起因した配線構 造 (接続パッド)の変形を抑制することが可能であると 、う利点を有する。
[0050] また、本実施の形態では、それぞれシート部材 13上に形成された複数の接続パッ ド 18と、それぞれシート部材 14上に形成された複数の接続パッド 19に関して、隣接 するもの同士が、第 1配線構造の延伸方向に関して異なる位置に配置された構造を 有する。カゝかる構造を採用することによって、接続パッド 18、 19のそれぞれに関して さらに面積を大きくすることが可能である。すなわち、例えば図 2において、接続パッ ド 18bは、第 1配線構造の延伸方向(図 2における縦方向)に関して、接続パッド 18a 、 18cと異なる位置に形成されることから、延伸方向と垂直な方向(図 2における横方 向)に関して延伸しても接続パッド 18a、 18cと短絡することはない。このため、接続パ ッド 18bに関しては近傍に位置する第 1配線構造 l la、 11cと短絡しない限りにおい て延伸方向と垂直な方向に延伸させることが可能となる。このことは他の接続パッド 1 8a、 19a等でも同様であって、同一層上にて隣接するもの同士が異なる位置に配置 されることで、さらに広い面積の接続パッドを実現することが可能である。
[0051] さらに、本実施の形態では、中継接続部材 6にて第 2接続部材 9を新たに設けた構 造を採用することにより、検査回路 5と中継接続部材 6との間で良好な電気的導通を 実現することが可能であるという利点を有する。以下、力かる利点について詳細に説 明する。
[0052] 上述したように、本実施の形態では第 1接続部材 8にて第 1配線構造 11、 12が異な る層上に形成された構造を有し、より具体的には、第 1配線構造 11、 12間には、シー ト部材 14が介在することとなる。従って、下層に位置する第 1配線構造 11を他と電気 的に導通するためには、端部近傍にて第 1配線構造 11を露出した構造を採用する 必要があり、第 1配線構造 11における電気的接続部分(図 3における一点鎖線領域 S )と、上層に形成された第 1配線構造 12における電気的接続部分(図 3における
11
一点鎖線領域 s )とは配線構造の延伸方向に関して位置がずれることとなる。このた
12
め、第 1接続部材 8と電気的に接続する部材は、第 1配線構造 11、 12の双方と電気 的に接続するために、通常必要とされる配線長 dのほぼ 2倍の長さたる配線長 dを電
1 2 気的接続部分として確保する必要がある。
[0053] これに対して、中継接続部材 6の接続対象たる検査回路 5は、電気的接続部分 (配 線構造 7の一点鎖線領域 T )の長さとして配線長 d程度しカゝ備えないのが通常であ
7 1
る。上述したように、検査回路 5は検査対象 1を実装する際にドライバ回路等として用 いられるものを流用したものであることから、検査回路 5に備わる電気的接続部分は、 検査対象 1の表面上 (すなわち、同一層上)に形成された端子 2と電気的に接続する ために必要な長さ(例えば、配線長 d )のみを有することとなる。従って、第 1接続部
1
材 8と検査回路 5とを直接的に接続した場合には、第 1接続部材 8と検査回路 5との間 で充分な導通状態を得ることが困難であるという問題が新たに生じることとなる。検査 回路 5として、電気的接続部分が配線長 dとなる検査専用の回路を用いることとして
2
も良いが、カゝかる構成を採用した場合には、実装時の動作に即した検査を行うことが 困難になることおよび検査装置の製造コストが上昇するという別の問題が新たに生じ ることとなり、根本的な問題の解決とはならない。
[0054] そこで、本実施の形態では、第 1接続部材 8と検査回路 5との間に第 2接続部材 9を 介在させた構成を採用することにより、中継接続部材 6と検査回路 5との間で良好な 導通状態を実現している。すなわち、第 2接続部材 9においては、配線長に制限が無 ぐ第 1接続部材 8と接続する側にて第 2配線構造 16にて配線長 dを確保することは
2
容易であるため、異なる層上に形成された第 1配線構造 11、 12のいずれに対しても 良好な導通状態を実現することが可能である。また、上述したように複数の第 2配線 構造 16は、すべてが単一のシート部材 15上に形成されていることから、検査回路 5 に備わる配線構造 7との間の電気的な接続には配線長 dで足りることとなり、既存の 検査回路 5を流用しても充分な導通を確保することが可能であることとなる。このよう に、第 1接続部材 8のみならず第 2接続部材 9も備えることによって、中継接続部材 6 は、第 1接続部材 8の作用によってプローブ 3に対して充分な導通を確保することが 可能であり、第 2接続部材 9の作用によって検査回路 5に対して充分な導通を確保す ることができるという利点を有することとなる。
[0055] また、本実施の形態において中継接続部材 6が第 2接続部材 9を新たに備えたこと によって、物理的に無理のない構造の検査装置を実現できるという利点を有する。図 5に示したように、従来の検査装置では、中継接続部材 104が単一の接続部材によ つて形成された構造を有する。このため、従来の検査装置では、検査回路 105上に 形成された複数の配線構造 105aと検査対象 101上に形成された複数の端子 101a との間の対応関係を維持するためには、図 5に示すように中継接続部材 104と検査 回路 105とを「く」の字状に接続する必要があり、物理的に無理が生じた構造となり、 強度の弱 、部分にぉ 、て断線が生じる等の問題があった。
[0056] これに対して、本実施の形態では、中継接続部材 6は、複数の接続部材 (第 1接続 部材 8、第 2接続部材 9)を備えた構造を有することによりかかる問題を解決している。 すなわち、図 1における紙面垂直方向に関する端子 2の配列パターンは、端子 2に対 して第 1配線構造 11、 12が対向した状態で配置された第 1接続部材 8を経由するこ とによって反転する。その後、第 1配線構造 11、 12に対して第 2配線構造 16が対向 した状態で配置された第 2接続部材 9を経由することによって再び反転し、元の配列 ノターンと一致することとなる。この結果、検査回路 5は、検査対象 1に備わる複数の 端子 2と接触させた場合と同様に配線構造 7を第 2配線構造 16と接触させることが可 能となり、「く」の字状ではなく通常の接続態様によって第 2接続部材 9と検査回路 5と を接続することが可能となる。この結果、本実施の形態に力かる検査装置は、物理的 に無理のな 、構造を実現することができ、断線等の不具合の発生確率を低減できる t 、う利点を有することとなる。
[0057] さらに、本実施の形態にかかる検査装置は、図 4に示したように中継接続部材 6を 単一のシート部材 21を用いて製造することが可能である。また、上述したように中継 接続部材 6を構成するシート部材 15上に形成される第 2配線構造 16は、シート部材 13、 14上に形成される第 1配線構造 11、 12と交互に接続する構成を有する。従って 、シート部材 21上において、中央領域 21a (分離後にシート部材 15を構成)上に第 1 配線 22と第 2配線 23を交互に配列するよう形成し、端部領域 21c (分離後にシート部 材 13を構成)にはそのうちの第 2配線 23を延伸させ、端部領域 21b (分離後にシート 部材 14を構成)には第 1配線 22を延伸させた配線構造を形成することによって、第 1 配線構造 11、 12および第 2配線構造 16を容易に実現することが可能である。このた め、シート部材 21上に配線パターンを形成するためのマスクは、領域毎に 3通りのも のを用意する必要はなぐ単純なパターンのマスクを用いて配線パターンを形成する ことが可能である。
[0058] また、図 4からも明らかなように、第 1配線 22は中央領域 21aと端部領域 21bとで連 続性を保持し、第 2配線 23は中央領域 21aと端部領域 21cとで連続性を保持する。 従って、シート部材 21を分離することによって形成されるシート部材 13〜15におい て、シート部材 13の表面上に形成された第 1配線構造 11、シート部材 14の表面上 に形成された第 1配線構造 12、およびシート部材 15の表面上に形成された第 2配線 構造 16の相互間で隣接する配線構造の間隔がずれる等の弊害が生じることはなぐ 第 1接続部材 8と第 2接続部材 9とを接続した際に、いずれの配線構造に関しても良 好な導通状態を確保することが可能であるという利点を有する。
[0059] 以上、実施の形態を用いて本発明を説明したが、実施の形態はあくまで一具体例 であって、本発明を実施の形態に限定して解釈するべきではなぐ当業者であれば 様々な実施例、変形例に想到することが可能である。例えば、本実施の形態では第 1接続部材 8の構成として、それぞれ所定の配線パターンが表面上に形成されたシ 一ト部材 13、 14を積層した構造を有するが、第 1接続部材 8としては TAB、 FPC等 を積層した構造に限定する必要はなぐ隣接した第 1配線構造が互いに異なる層上 に形成された構造であれば第 1接続部材として使用することが可能である。また、第 1 配線構造が形成される層の数についても、 2層に限定する必要はなぐ複数であれ ば任意の数の層上に第 1配線構造を形成することが可能である。
産業上の利用可能性
[0060] 以上のように、本発明にかかる中継接続部材、中継接続部材を用いた検査装置お よび中 «接続部材の製造方法は、所定の検査対象に対する検査の際に前記検査対 象上に形成された複数の端子と一端が接触する複数のプローブの他端と、前記検査 に使用される検査信号を出力する検査回路との間を電気的に接続する際に有用で あり、特に、液晶パネル等の電子部品に対して電気特性検査を行う際に好適である。

Claims

請求の範囲
[1] 所定の検査対象に対する検査の際に前記検査対象上に形成された複数の端子と 一端が接触する複数のプローブの他端と、前記検査に使用される検査信号を出力 する検査回路との間を電気的に接続する中継接続部材であって、
それぞれの一端において複数の前記プローブの他端と電気的に接続し、隣接する もの同士が異なる層上に位置し、他端が所定長以上に渡って表面に露出した複数 の第 1配線構造が形成された第 1接続部材と、
一端において所定長だけ表面に露出した前記第 1配線構造の他端と接触し、他端 において前記検査回路と電気的に接続する複数の第 2配線構造が同一層上に形成 された第 2接続部材と、
を備えたことを特徴とする中継接続部材。
[2] 前記第 1接続部材は、絶縁部材によって形成され、上面に 1以上の前記第 1配線構 造が形成されたシート部材を複数積層した構造を有し、隣り合う前記第 1配線構造は 、互いに異なるシート部材上に形成されたことを特徴とする請求項 1に記載の中継接 続部材。
[3] 所定の検査対象に対して該検査対象に備わる複数の端子を介して電気信号を入 出力することによって検査を行う検査装置であって、
前記検査対象上に形成された複数の前記端子のそれぞれと一端が接触する複数 のプローブと、
複数の前記プローブを前記端子に対応した位置に収容するプローブホルダと、 それぞれの一端において複数の前記プローブの他端と電気的に接続し、隣接する もの同士が異なる層上に位置し、他端が所定長以上に渡って表面に露出した複数 の第 1配線構造が形成された第 1接続部材と、
一端において所定長だけ表面に露出した前記第 1配線構造の他端と接触し、他端 において前記検査回路と電気的に接続する複数の第 2配線構造が同一層上に形成 された第 2接続部材と、
前記第 2接続部材と電気的に接続され、前記第 2接続部材に対して少なくとも検査 信号を出力する検査回路と、 を備えたことを特徴とする検査装置。
[4] 所定の検査対象に対する検査の際に前記検査対象上に形成された複数の端子と 接触する複数のプローブと、前記検査に使用される検査信号を出力する検査回路と の間を電気的に接続する中継接続部材の製造方法であって、
単一のシート部材の表面上に、一方の端部から中央付近まで延伸した複数の第 1 配線と、他方の端部から中央付近まで延伸し、かつ中央付近にて隣接する前記第 1 配線間に位置するよう形成された第 2配線とを形成する配線形成工程と、
前記シート部材を、前記第 1配線および前記第 2配線が延伸する方向に関して、前 記第 1配線のみが形成された第 1領域と、前記第 2配線のみが形成された第 2領域と 、前記第 1配線および前記第 2配線の双方が形成された第 3領域とに分割することに よって第 1シート部材、第 2シート部材および第 3シート部材を形成するシート分割ェ 程と、
前記第 1シート部材および前記第 2シート部材を、前記第 1配線と前記第 2配線との 配列パターン力 S、前記第 3シート部材における配列パターンとほぼ同一になるよう積 層する積層工程と、
前記第 1シート部材および前記第 2シート部材の積層構造における前記第 1配線お よび前記第 2配線の端部を、前記第 3シート部材における前記第 1配線および前記 第 2配線の端部と電気的に接続した状態で前記第 1、第 2および第 3シート部材の相 互間の位置関係を固定する固定工程と、
を含むことを特徴とする中継接続部材の製造方法。
[5] 前記積層工程前において、前記第 1シート部材および前記第 2シート部材の少なく とも!/、ずれか一方に対して、他方との位置あわせに利用する位置あわせ標識を形成 する標識形成工程をさらに含み、
前記積層工程にお!ヽて、前記位置あわせ標識を用いて前記第 1シート部材と前記 第 2シート部材との間の位置あわせを行いつつ積層することを特徴とする請求項 4に 記載の中継接続部材の製造方法。
PCT/JP2005/022535 2004-12-08 2005-12-08 中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法 Ceased WO2006062152A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2005800423113A CN101073014B (zh) 2004-12-08 2005-12-08 中继连接构件、检查装置以及中继连接构件的制造方法
KR1020077012780A KR101166861B1 (ko) 2004-12-08 2005-12-08 중계 접속부재, 검사장치 및 중계 접속부재의 제조방법
TW094143325A TWI278633B (en) 2004-12-08 2005-12-08 Relay connection member, inspection device and method of manufacturing relay connection member

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004355855A JP4767528B2 (ja) 2004-12-08 2004-12-08 中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法
JP2004-355855 2004-12-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006062152A1 true WO2006062152A1 (ja) 2006-06-15

Family

ID=36577975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2005/022535 Ceased WO2006062152A1 (ja) 2004-12-08 2005-12-08 中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP4767528B2 (ja)
KR (1) KR101166861B1 (ja)
CN (1) CN101073014B (ja)
TW (1) TWI278633B (ja)
WO (1) WO2006062152A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010054487A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Isao Kimoto プローバ装置
JP2012233723A (ja) * 2011-04-28 2012-11-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置及びプローブユニット

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04184264A (ja) * 1990-11-20 1992-07-01 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル用プローバ
JPH08315879A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Nippon Maikuronikusu:Kk 多極端子板およびプローブ装置
JPH09184853A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Nippon Maikuronikusu:Kk プローブユニット
JP2000266779A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Toshiba Corp マルチプローブユニット

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04184264A (ja) * 1990-11-20 1992-07-01 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル用プローバ
JPH08315879A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Nippon Maikuronikusu:Kk 多極端子板およびプローブ装置
JPH09184853A (ja) * 1995-12-28 1997-07-15 Nippon Maikuronikusu:Kk プローブユニット
JP2000266779A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Toshiba Corp マルチプローブユニット

Also Published As

Publication number Publication date
TWI278633B (en) 2007-04-11
KR20070085822A (ko) 2007-08-27
JP4767528B2 (ja) 2011-09-07
TW200634312A (en) 2006-10-01
KR101166861B1 (ko) 2012-07-19
JP2006162478A (ja) 2006-06-22
CN101073014B (zh) 2010-05-26
CN101073014A (zh) 2007-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US12016116B2 (en) Display device and an inspection method of a display device
US9341648B2 (en) Probe card and manufacturing method thereof
KR101334795B1 (ko) 전기신호 접속용 좌표 변환장치
JP2006350064A (ja) 表示装置および位置ずれ検査方法
JP2003157020A (ja) フレキシブル基板の実装方法および表示装置
JPH08262471A (ja) 電気回路基板及びそれを備えた表示装置
JP3645172B2 (ja) 半導体集積回路装置搭載用基板
WO2006062152A1 (ja) 中継接続部材、検査装置および中継接続部材の製造方法
JP2001056477A (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
CN100434925C (zh) 液晶面板用检查装置
CN101925254B (zh) 柔性印刷基板以及使用柔性印刷基板的计算机
JP2514236B2 (ja) 表示装置
JP2003090856A (ja) 配線基板の実装検査方法
US12332278B2 (en) Probe card
KR102911858B1 (ko) 전기적 접속 장치
JP3098782U (ja) フレキシブルプリント基板
JPH0915289A (ja) 多層プリント配線板の検査装置
JP3287455B2 (ja) 電気的接続装置
JP2003158354A (ja) 配線基板の実装検査方法
JP4848588B2 (ja) 液晶表示モジュール
JP2002280676A (ja) 液晶セルの駆動回路基板用のプリント配線板
JP2007335421A (ja) 回路基板の接続構造及び回路基板の製造方法
JPH11185850A (ja) 回路基板の接続構造、及びその接続状態判断方法
JP2002158419A (ja) フレキシブル配線基板及びそれを用いた電気・電子機器
JP3696418B2 (ja) 電気部品検査用ソケット

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS KE KG KM KN KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV LY MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020077012780

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200580042311.3

Country of ref document: CN

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 05814708

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1